TWI608230B - 圖像產生裝置、缺陷檢查裝置及缺陷檢查方法 - Google Patents

圖像產生裝置、缺陷檢查裝置及缺陷檢查方法 Download PDF

Info

Publication number
TWI608230B
TWI608230B TW103103284A TW103103284A TWI608230B TW I608230 B TWI608230 B TW I608230B TW 103103284 A TW103103284 A TW 103103284A TW 103103284 A TW103103284 A TW 103103284A TW I608230 B TWI608230 B TW I608230B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
image
pixel
defect
sheet
processed
Prior art date
Application number
TW103103284A
Other languages
English (en)
Chinese (zh)
Other versions
TW201435334A (zh
Inventor
尾崎麻耶
Original Assignee
住友化學股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 住友化學股份有限公司 filed Critical 住友化學股份有限公司
Publication of TW201435334A publication Critical patent/TW201435334A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI608230B publication Critical patent/TWI608230B/zh

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/0002Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004Industrial image inspection
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G01N2021/8854Grading and classifying of flaws
    • G01N2021/8861Determining coordinates of flaws
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/30Subject of image; Context of image processing
    • G06T2207/30108Industrial image inspection
    • G06T2207/30124Fabrics; Textile; Paper

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
TW103103284A 2013-01-30 2014-01-28 圖像產生裝置、缺陷檢查裝置及缺陷檢查方法 TWI608230B (zh)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013015641 2013-01-30

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201435334A TW201435334A (zh) 2014-09-16
TWI608230B true TWI608230B (zh) 2017-12-11

Family

ID=51262469

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW103103284A TWI608230B (zh) 2013-01-30 2014-01-28 圖像產生裝置、缺陷檢查裝置及缺陷檢查方法

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JP6191627B2 (ko)
KR (1) KR102168143B1 (ko)
CN (1) CN104956210B (ko)
TW (1) TWI608230B (ko)
WO (1) WO2014119772A1 (ko)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017049974A (ja) * 2015-09-04 2017-03-09 キヤノン株式会社 識別器生成装置、良否判定方法、およびプログラム
WO2017043270A1 (ja) * 2015-09-09 2017-03-16 住友電装株式会社 端子付電線の検査方法及び端子付電線検査装置
JP2017215277A (ja) * 2016-06-02 2017-12-07 住友化学株式会社 欠陥検査システム、フィルム製造装置及び欠陥検査方法
JP6358351B1 (ja) * 2017-03-21 2018-07-18 Jfeスチール株式会社 表面欠陥検査方法及び表面欠陥検査装置
JP6676573B2 (ja) * 2017-03-29 2020-04-08 Ckd株式会社 検査装置及び巻回装置
JP6970549B2 (ja) * 2017-07-24 2021-11-24 住友化学株式会社 欠陥検査システム及び欠陥検査方法
JP6970550B2 (ja) * 2017-07-24 2021-11-24 住友化学株式会社 欠陥検査システム及び欠陥検査方法
JP6828652B2 (ja) * 2017-10-13 2021-02-10 王子ホールディングス株式会社 衛生用紙の製造方法及び欠陥検査装置
JP7067321B2 (ja) * 2018-06-29 2022-05-16 オムロン株式会社 検査結果提示装置、検査結果提示方法及び検査結果提示プログラム
CN109030499B (zh) * 2018-07-27 2021-08-24 江苏理工学院 一种适用于目标缺陷连续在线检测防止缺陷数目重复计数的装置及方法
JP7007324B2 (ja) * 2019-04-25 2022-01-24 ファナック株式会社 画像処理装置、画像処理方法、及びロボットシステム
CN111047561A (zh) * 2019-11-22 2020-04-21 国网江西省电力有限公司电力科学研究院 一种复合绝缘子伞裙龟裂纹的识别方法
CN111044522B (zh) * 2019-12-14 2022-03-11 中国科学院深圳先进技术研究院 缺陷检测方法、装置及终端设备
CN111692998B (zh) * 2020-06-11 2022-02-11 西格迈股份有限公司 一种活塞杆表面粗糙度检测系统
JP7141772B1 (ja) 2021-12-02 2022-09-26 株式会社岩崎電機製作所 画像検査装置、画像検査方法、および、画像検査プログラム

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006337167A (ja) * 2005-06-01 2006-12-14 Fast:Kk 周期性ノイズ下での低コントラスト欠陥検査方法、繰返しパターン下での低コントラスト欠陥検査方法
CN102224412A (zh) * 2008-11-21 2011-10-19 住友化学株式会社 成形片材的缺陷检查装置
WO2012035852A1 (ja) * 2010-09-15 2012-03-22 株式会社日立ハイテクノロジーズ 欠陥検査方法及びその装置

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3247823B2 (ja) * 1995-06-26 2002-01-21 株式会社日立製作所 欠陥検査方法およびその装置並びに薄膜磁気ヘッド用の素子の製造方法
JPH09159622A (ja) * 1995-12-05 1997-06-20 Kawasaki Steel Corp 表面欠陥検査装置
JP2003098106A (ja) * 2001-09-27 2003-04-03 Dainippon Printing Co Ltd 印刷欠陥表示方法および装置
JP5006551B2 (ja) * 2006-02-14 2012-08-22 住友化学株式会社 欠陥検査装置及び欠陥検査方法
JP5415709B2 (ja) * 2008-03-31 2014-02-12 住友化学株式会社 偏光フィルムの仕分けシステム
JP4726983B2 (ja) * 2009-10-30 2011-07-20 住友化学株式会社 欠陥検査システム、並びに、それに用いる、欠陥検査用撮影装置、欠陥検査用画像処理装置、欠陥検査用画像処理プログラム、記録媒体、および欠陥検査用画像処理方法
JP2011163852A (ja) * 2010-02-08 2011-08-25 Kobe Steel Ltd 外観検査装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006337167A (ja) * 2005-06-01 2006-12-14 Fast:Kk 周期性ノイズ下での低コントラスト欠陥検査方法、繰返しパターン下での低コントラスト欠陥検査方法
CN102224412A (zh) * 2008-11-21 2011-10-19 住友化学株式会社 成形片材的缺陷检查装置
WO2012035852A1 (ja) * 2010-09-15 2012-03-22 株式会社日立ハイテクノロジーズ 欠陥検査方法及びその装置

Also Published As

Publication number Publication date
KR20150114464A (ko) 2015-10-12
CN104956210A (zh) 2015-09-30
WO2014119772A1 (ja) 2014-08-07
JP6191627B2 (ja) 2017-09-06
CN104956210B (zh) 2017-04-19
JPWO2014119772A1 (ja) 2017-01-26
KR102168143B1 (ko) 2020-10-20
TW201435334A (zh) 2014-09-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI608230B (zh) 圖像產生裝置、缺陷檢查裝置及缺陷檢查方法
JP6191622B2 (ja) 画像生成装置、欠陥検査装置および欠陥検査方法
TWI588472B (zh) Defect inspection device and defect inspection method
JP5619348B2 (ja) 成形シートの欠陥検査装置
JP4726983B2 (ja) 欠陥検査システム、並びに、それに用いる、欠陥検査用撮影装置、欠陥検査用画像処理装置、欠陥検査用画像処理プログラム、記録媒体、および欠陥検査用画像処理方法
JP5006551B2 (ja) 欠陥検査装置及び欠陥検査方法
JP2013140050A (ja) 欠陥検査装置および欠陥検査方法
TWI797145B (zh) 缺陷檢查系統及缺陷檢查方法
JP6191623B2 (ja) 画像生成装置、欠陥検査装置および欠陥検査方法
JP7298333B2 (ja) 外観検査管理システム、外観検査管理装置、外観検査管理方法及びプログラム
JP2021004748A (ja) 外観検査管理システム、外観検査管理装置、外観検査管理方法及びプログラム
JP2013003062A (ja) 画像生成装置および欠陥検査装置
JP2011145305A (ja) 欠陥検査システム、並びに、それに用いる、欠陥検査用撮影装置、欠陥検査用画像処理装置、欠陥検査用画像処理プログラム、記録媒体、および欠陥検査用画像処理方法