JP7067321B2 - 検査結果提示装置、検査結果提示方法及び検査結果提示プログラム - Google Patents

検査結果提示装置、検査結果提示方法及び検査結果提示プログラム Download PDF

Info

Publication number
JP7067321B2
JP7067321B2 JP2018124963A JP2018124963A JP7067321B2 JP 7067321 B2 JP7067321 B2 JP 7067321B2 JP 2018124963 A JP2018124963 A JP 2018124963A JP 2018124963 A JP2018124963 A JP 2018124963A JP 7067321 B2 JP7067321 B2 JP 7067321B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspection result
feature amount
inspected
defect
result information
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2018124963A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2020003412A (ja
Inventor
裕貴 荻野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Omron Corp filed Critical Omron Corp
Priority to JP2018124963A priority Critical patent/JP7067321B2/ja
Priority to TW108111548A priority patent/TWI695980B/zh
Priority to KR1020190037682A priority patent/KR102179948B1/ko
Priority to CN201910258396.2A priority patent/CN110658199A/zh
Publication of JP2020003412A publication Critical patent/JP2020003412A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7067321B2 publication Critical patent/JP7067321B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/956Inspecting patterns on the surface of objects
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/0002Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004Industrial image inspection
    • G06T7/001Industrial image inspection using an image reference approach
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/60Analysis of geometric attributes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N2021/1765Method using an image detector and processing of image signal

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

本発明は、被検査物の外観検査結果をユーザに提示する検査結果提示装置、検査結果提示方法及び検査結果提示プログラムに関する。
製品が正常に製造されているか否か等を判定するために、製品表面のカメラによる撮影結果から製品表面の各所の特徴量(通常、輝度値)を求め、求めた特徴量と幾つかの閾値とを比較することで欠陥を検出する装置(以下、外観検査装置と表記する)が用いられている。
欠陥の上記検出手順から明らかなように、既存の外観検査装置では、閾値が適切な値となっていなかった場合、誤った検査結果が得られてしまうが、既存の外観検査装置は、欠陥の総数や欠陥のサイズ別の数を出力する機能しか有していない(例えば、特許文献1参照)。そのため、閾値が適切な値となっていなかった場合、既存の外観検査装置では、各欠陥の特徴量を順々にチェックしてチェック結果から適切な閾値を決定するといった煩雑な作業を行わなければならなかった。
特開2003-98111号公報
本発明は、上記現状に鑑みてなされたものであり、欠陥判定用の1つ以上の閾値をより容易に決定できる環境を実現できる技術を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明の一観点に係る検査結果提示装置は、被検査物の被検査面の画像データに基づき、前記被検査面の各位置における所定の特徴量を求め、求めた各位置における前記特徴量と1つ以上の閾値とを比較することで前記被検査面に存在する各欠陥の第1方向位置及び前記特徴量を特定し、特定した各欠陥の前記第1方向位置及び前記特徴量と前記1つ以上の閾値とを含む検査結果情報を生成する検査結果情報生成処理により生成された前記検査結果情報を取得する取得部と、前記取得部により取得された前記検査結果情報に基づき、各欠陥の前記第1方向位置と前記特徴量との関係、及び、前記1つ以上の閾値を示すグラフを生成してユーザに提示するグラフ生成部とを備える。
すなわち、本発明の上記観点に係る検査結果提示装置は、その表示内容から、欠陥ごとに特徴量と閾値の関係性が分かるグラフをユーザに提示する構成を有する。従って、検査結果提示装置によれば、特徴量が閾値に近い各欠陥が実際に欠陥であるか否かを判定するだけで、適正値を調整することが可能となる。
グラフ生成部がユーザに提示するグラフは、各欠陥の第1方向位置と特徴量との関係、及び、1つ以上の閾値を示すものであれば良い。従って、グラフ生成部は、各欠陥の前記第1方向位置と前記特徴量との関係と、前記1つ以上の閾値と、前記被検査面の前記欠陥以外の領域である地合領域の前記特徴量の前記第1方向位置依存性とを示すグラフを生成してユーザに提示しても良い。
また、特徴量が閾値に近い各欠陥が実際に欠陥であるか否かの判定を容易に行えるようにするために、検査結果提示装置に、『前記検査結果情報は、前記画像データを含み、前記検査結果情報に含まれる前記画像データに基づき、前記ユーザにより前記グラフから選択された欠陥の拡大した画像をユーザに提示する拡大画像提示部をさらに備える』構成を採用しておいても良い。
また、グラフ生成部に、複数の前記検査結果情報のそれぞれについて前記グラフを生成し、生成した複数の前記グラフを同時にユーザに提示する機能を付与しておいても良く、検査結果提示装置に、『前記取得部により取得された前記検査結果情報に基づき、前記被検査面に存在する欠陥の個数を前記特徴量別に示した頻度ヒストグラムを生成してユーザに提示するヒストグラム生成部』を付加しておいても良い。
また、特徴量が閾値に近い各欠陥が実際に欠陥であるか否かの判定を容易に行えるようにするために、検査結果提示装置に、『前記検査結果情報は、前記画像データを含み、前記検査結果情報に含まれる前記画像データに基づき、前記ユーザにより前記グラフから選択された欠陥の拡大した画像をユーザに提示する拡大画像提示部をさらに備える』構成を採用しておいても良い。
検査結果提示装置は、『前記被検査物がシート状の部材であり、前記被検査物の前記被検査面の前記画像データが、カメラと前記被検査物とを前記第1方向に相対的に移動させることにより得られるデータである』装置であっても良い。
また、本発明の一観点に係る検査結果提示方法は、被検査物の被検査面の画像データに基づき、前記被検査面の各位置における所定の特徴量を求め、求めた各位置における前記特徴量と1つ以上の閾値とを比較することで前記被検査面に存在する各欠陥の第1方向位置及び前記特徴量を特定し、特定した各欠陥の前記第1方向位置及び前記特徴量と前記1つ以上の閾値とを含む検査結果情報を生成する検査結果情報生成処理により生成された前記検査結果情報を取得する取得ステップと、前記取得ステップにより取得された前記検査結果情報に基づき、各欠陥の前記第1方向位置と前記特徴量との関係、及び、前記閾値を示すグラフを生成してユーザに提示するグラフ生成ステップと、を含む。
また、本発明の一観点に係る検査結果提示プログラムは、コンピュータに、被検査物の被検査面の画像データに基づき、前記被検査面の各位置における所定の特徴量を求め、求めた各位置における前記特徴量と1つ以上の閾値とを比較することで前記被検査面に存在する各欠陥の第1方向位置及び前記特徴量を特定し、特定した各欠陥の前記第1方向位置及び前記特徴量と前記閾値とを含む検査結果情報を生成する検査結果情報生成処理により生成された前記検査結果情報を取得する取得ステップと、前記取得ステップにより取得された前記検査結果情報に基づき、各欠陥の前記第1方向位置と前記特徴量との関係、及び、前記1つ以上の閾値を示すグラフを生成してユーザに提示するグラフ生成ステップと、を実行させる。
また、本発明の一観点に係る検査結果提示装置は、被検査物の被検査面の画像データに基づき、前記被検査面の各位置における所定の特徴量を求め、求めた各位置における前記特徴量と1つ以上の閾値とを比較することで前記被検査面に存在する各欠陥の第1方向位置及び前記特徴量を特定し、特定した各欠陥の前記第1方向位置及び前記特徴量と前記閾値とを含む検査結果情報を生成する検査結果情報生成部と、前記検査結果情報生成部により生成された前記検査結果情報に基づき、各欠陥の前記第1方向位置と前記特徴量との関係、及び、前記閾値を示すグラフを生成してユーザに提示するグラフ生成部と、を備える。
これらの技術を用いても、欠陥判定用の1つ以上の閾値をより容易に決定できる環境を実現することができる。
本発明によれば、欠陥判定用の1つ以上の閾値をより容易に決定できる環境を実現することができる。
図1は、本発明の一実施形態に係る検査結果提示装置の概略構成及び使用形態の説明図である。 図2は、第1表示処理による検査結果の表示例の説明図である。 図3は、頻度ヒストグラム付き第1表示処理による検査結果の表示例の説明図である。 図4は、第2表示処理による検査結果の表示例の説明図である。 図5は、第2表示処理による検査結果の表示例の説明図である。 図6は、第2表示処理による検査結果の表示例の説明図である。 図7は、頻度ヒストグラム付き第2表示処理による検査結果の表示例の説明図である。 図8は、拡大表示処理により表示される拡大表示ウィンドウの説明図である。 図9は、欠陥種別ヒストグラム表示処理により表示される情報の説明図である。 図10は、カメラ別輝度グラフ表示処理により表示される情報の説明図である。 図11は、実施形態に係る検査結果提示装置の変形例の説明図である。
図1に、本発明の一実施形態に係る検査結果提示装置10の概略構成及び使用形態を示す。
本実施形態に係る検査結果提示装置10は、1台以上(図1では、1台)の外観検査装置20と接続されて使用される装置である。
《外観検査装置20》
外観検査装置20は、搬送ローラ31等からなる搬送機構により搬送されるシート状の被検査物30の外観検査を行う装置である。図示してあるように、外観検査装置20は、被検査物30の所定領域に光を照射するための光源21と、当該光源21から照射されて被検査物30の被検査面(図1におけるカメラ22側の面)で反射した光が入射されるよう配置されたカメラ22と、信号処理装置25とを備える。なお、本実施形態に係る外観検査装置20のカメラ22は、カラーラインセンサと光学系とを組み合わせたものである。
外観検査装置20は、検査結果情報生成処理を行う検査結果情報生成部26と、検査結果情報生成処理により生成される検査結果情報を、削除が指示されるまで記憶しておくための記憶部27とを備えた装置である。通常、外観検査装置20の検査結果情報生成部26、記憶部27は、それぞれ、プロセッサ(CPU、マイクロコントローラ)を中心としたユニット(信号処理用のハードウェア)、ハードディスクドライブ等の不揮発性記憶装置で実現される。
外観検査装置20の検査結果情報生成部26が行う検査結果情報生成処理は、以下の処
理が組み合わせされた処理である。なお、以下の説明において、位置("被検査面の各位
置"、"各領域の中心位置"等)とは、カメラ22から入力される画像データの解像度単位
での位置のことである。また、検査結果情報生成処理の開始前に、検査結果情報生成部26には、検査結果情報生成処理の処理対象となる被検査物30の識別情報(製品名、ロット番号等)が入力される。
・カメラ22から入力される、被検査物30の被検査面の画像データに基づき、被検査面の各位置の輝度値を求める処理
・求めた各位置の輝度値に基づき、被検査物30の被検査面から、輝度値が明側検出閾値(詳細は後述)以上となっている領域である明側欠陥を探索し、探索された明側欠陥毎に、その範囲、中心位置及び中心位置輝度値を含む明側欠陥情報を生成する明側欠陥情報生成処理
・求めた各位置の輝度値に基づき、被検査物30の被検査面から、輝度値が暗側検出閾値(詳細は後述)以下となっている領域である暗側欠陥を探索し、探索された暗側欠陥毎に、その範囲、中心位置及び中心位置輝度値を含む暗側欠陥情報を生成する明側欠陥情報生成処理
・各欠陥情報生成処理にて生成された及び暗側及び明側欠陥情報と被検査物30の被検査面の画像データとを含む検査結果情報を、検査結果情報の生成に用いた明側検出閾値及び明側検出閾値と外観検査装置20の装置識別情報と被検査物30の識別情報と被検査面の画像データの生成日時とを含む検査結果識別情報に対応づけた形で記憶部27に記憶(保存)する処理
明側検出閾値、暗側検出閾値は、外観検査装置20の実際の運用前に、被検査物30の標準的な幾つかのサンプル(以下、閾値決定用サンプルと表記する)の外観を外観検査装置20により検査することにより定められる値である。外観検査装置20は、記憶部27に、各閾値決定用サンプルに関する検査結果情報及び検査結果識別情報が記憶された状態で運用が開始される装置となっている。なお、閾値決定用サンプルに関する検査結果識別情報には、自情報が、閾値決定用サンプルに関するものであることを示す情報が含まれている。
また、外観検査装置20は、被検査物30の搬送方向と直交する直線状に配置された複数台のカメラ22を接続することも可能な装置として構成されている。そのように配置された複数台のカメラ22が接続されている場合、外観検査装置20(検査結果情報生成部26)は、各カメラ22から出力された画像データが、検査結果情報中の画像データのどの部分のデータであるかを示す情報を含む検査結果識別情報を記憶部27に記憶する。
《検査結果提示装置10》
検査結果提示装置10は、コンピュータ本体10a、入力装置10b、ディスプレイ10cを備えたコンピュータ(デスクトップPC、ラップトップPC等)に、当該コンピュータを、図1に示してあるような構成の装置、すなわち、取得部11、地合輝度情報算出部12、指示応答部13及び記憶部15を備えた装置として動作させるための検査結果提示プログラムをインストールした装置である。
取得部11は、検査結果提示装置10に接続されている各外観検査装置20から、各検査結果情報と各検査結果情報に対応づけられている検査結果識別情報とを取得して記憶部15に記憶するユニットである。
地合輝度情報算出部12は、記憶部15内の各検査結果情報に基づき、地合領域の輝度値の平均値と標準偏差σの搬送方向位置依存性を示す地合輝度情報を算出して、記憶部15内の各検査結果情報に追加するユニットである。なお、地合領域とは、暗側欠陥でも明
側欠陥でもない被検査面の領域(換言すれば、正常な領域)のことである。
本実施形態に係る地合輝度情報算出部12は、検査結果情報に含まれる、被検査物30の搬送方向に垂直な方向の1ライン分の画像データから、暗側欠陥及び明側欠陥に関する各画素値を除去し、残りの画素値から輝度値の平均値と標準偏差σとを算出する処理を、輝度値の平均値等の算出対象となる部分が略等間隔となるように繰り返すことで、上記地合輝度情報を算出するユニットである。ただし、地合輝度情報は、地合領域の輝度値の搬送方向位置依存性を示す情報であれば良い。従って、地合輝度情報は、地合領域の輝度値の平均値の搬送方向位置依存性を示す情報であっても、地合領域の輝度値の標準偏差σの搬送方向位置依存性を示す情報であっても、地合領域の輝度値の代表値(例えば、ランダムに選択した輝度値や、輝度値の最頻値)の搬送方向位置依存性を示す情報であっても良い。
指示応答部13は、入力装置10bに対する操作を通じてユーザから各種の指示を受け付けて、受け付けた指示に応じた処理を行うユニットである。
指示応答部13が実行可能な処理には、第1表示処理、頻度ヒスグラム付き第1表示処理、第2頻度ヒスグラム付き第2表示処理、拡大画像表示処理、閾値算出・設定処理、欠陥種別ヒストグラム表示処理、カメラ別輝度グラフ表示処理等がある。
第1表示処理は、ユーザにより、装置識別情報の指定を伴う第1表示処理の実行指示操作がなされたときに、指示応答部13が実行する処理である。
第1表示処理を開始した指示応答部13は、まず、ユーザにより指定された装置識別情報(以下、指定装置識別情報と表記する)を含む閾値決定用サンプルに関する検査結果識別情報と、指定装置識別情報を含む検査対象サンプルに関する最新の検査結果識別情報とを記憶部15から検索する。なお、検査対象サンプルとは、閾値決定用サンプルではない被検査物30のことである。
そして、指示応答部13は、検索された各検査結果識別情報に対応づけられて記憶部15に記憶されている各検査結果情報に基づき、図2に示したような画像情報をディスプレイ10cに表示する。なお、この図2の左側、中央部、右側に示してあるグラフ(以下、輝度グラフと表記する)は、それぞれ、カットサンプルテスト("サンプルテスト")、ロールサンプルテスト("ロールテスト")、検査対象サンプル("運用")の検査結果情報に基づき表示されるグラフである。
すなわち、指示応答部13は、検査対象サンプルの検査結果情報については、当該検査結果情報に含まれる明側欠陥情報、暗側欠陥情報、地合輝度情報に基づき、図2の右側に示してあるような、輝度値を縦軸とし、搬送方向位置(図では、時間・距離)を横軸としたグラフであって、各明側欠陥を示すポイント41bと、各暗側欠陥を示すポイント41dと、地合領域内の各部の輝度値の平均値を示すポイント43と、ポイント43を近似する近似曲線44と、2本の3σ曲線45と、明側検出閾値を示すライン51bと、暗側検出閾値を示すライン51bとが示された輝度グラフを、ディスプレイ10cに表示する。
さらに、指示応答部13は、各検査対象サンプルの検査結果情報についても、同様の輝度グラフをディスプレイ10cに表示する。
頻度ヒスグラム付き第1表示処理は、第1表示処理と同じ輝度グラフがディスプレイ10cに表示される処理である。ただし、頻度ヒスグラム付き第1表示処理では、図3に示してあるように、各検査結果情報の内容を表す頻度ヒストグラムもディスプレイ10cに
表示される。なお、この際、表示される各頻度ヒストグラムにも、輝度グラフと同様に、明側検出閾値を示すライン52bと暗側検出閾値を示すライン52bとが示される。
第2表示処理は、ユーザにより、記憶部15内の2つ以上の検査結果識別情報を指定を伴う第2表示処理の実行指示操作がなされたときに、指示応答部13が実行する処理である。
ユーザにより2つの検査結果識別情報が指定された場合、第2表示処理では、一方の検査結果識別情報に対応づけられて記憶部15に記憶されている検査結果情報の内容を示す輝度グラフと他方の検査結果識別情報に対応づけられて記憶部15に記憶されている検査結果情報の内容を示す輝度グラフとがディスプレイ10cに表示される。具体的には、例えば、ロットAの検査結果識別情報とロットBの検査結果識別情報とがユーザにより指定された場合、第2表示処理では、図4に示したように、ロットAに関する輝度グラフとロットBに関する輝度グラフとがディスプレイ10cに表示される。また、製品Aの検査結果識別情報と製品Bの検査結果識別情報とがユーザにより指定された場合、第2表示処理では、図5に示したように、製品Aに関する輝度グラフと製品Bに関する輝度グラフとがディスプレイ10cに表示される。
ユーザによりN(≧3)個の検査結果識別情報が指定された場合、第2表示処理では、図6に示したように、タブ操作によりN種の輝度グラフの中から表示する輝度グラフを選択可能な輝度グラフ用GUIウィジェット61が2個ディスプレイ10cに表示される。
頻度ヒスグラム付き第2表示処理は、頻度ヒスグラム付き第1表示処理(図3参照)と同様に、頻度ヒスグラムもディスプレイ10cに表示されることになる処理である。なお、ユーザによりN(≧3)個の検査結果識別情報が指定された場合、頻度ヒスグラム付き第2表示処理では、図7に示してあるように、タブ操作によりN種の頻度ヒスグラムの中から表示する頻度ヒスグラムを選択可能な頻度ヒスグラム用GUIウィジェット62が2個ディスプレイ10cに表示される。
拡大画像表示処理は、表示中の輝度グラフ上の1つのポイント41(41b又は41d)を選択する操作がなされたときに、指示応答部13が実行する処理である。この拡大画像表示処理時、指示応答部13は、或るポイント41が選択された輝度グラフの元となった検査結果情報中の画像データから、当該ポイント41を中心とした所定サイズの画像データを抽出する。そして、指示応答部13は、図8に示したような拡大表示ウィンドウ、すなわち、抽出した画像データを拡大表示した画像55と、地合領域の、選択されたポイント41と搬送方向位置が一致している部分の頻度ヒストグラムとを含む拡大表示ウィンドウを輝度グラフ上に表示する。
そして、指示応答部13は、拡大表示ウィンドウに対して所定の除外操作がなされた場合には、拡大表示を行ったポイント41を、欠陥とすべきではないことを記憶してから、拡大表示ウィンドウをディスプレイ10c上から消去する。
閾値算出・設定処理は、所定の操作がなされたときに、指示応答部13が開始する処理である。閾値算出・設定処理時、指示応答部13は、まず、ユーザに提示する推奨閾値(暗側検出閾値及び明側検出閾値の奨値)を算出するための推奨閾値算出処理を行う。この推奨閾値算出処理としては、具体的な内容の異なる様々なものを採用することが出来る。例えば、推奨閾値算出処理は、欠陥とすべきではないことを記憶している各ポイント41の部分も地合領域であると見なして、地合領域の輝度値の平均値及び標準偏差σを算出し、平均値±k・σ(kは予め定められている定数)を推奨閾値として算出する処理であっても良い。また、推奨閾値算出処理は、欠陥とすべきではないことを記憶している各ポイ
ント41が欠陥として特定されない暗側検出閾値及び明側検出閾値を推奨閾値として算出する処理であっても良い。
推奨閾値算出処理を終えた指示応答部13は、表示中の輝度グラフ上に算出した各推奨閾値を表示する。そして、指示応答部13は、ユーザにより各閾値の設定を指示する操作がなされた場合には、算出した各閾値を外観検査装置20に設定してから、閾値算出・設定処理を終了する。
また、指示応答部13は、ユーザにより各閾値のマニュアル設定を指示する操作がなされた場合には、暗側検出閾値及び明側検出閾値をユーザに入力させるためのダイアログボックスをディスプレイ10c上に表示する。そして、指示応答部13は、ダイアログボックスに入力された暗側検出閾値及び明側検出閾値を外観検査装置20に設定してから、閾値算出・設定処理を終了する。
以上、説明したように、検査結果提示装置10の指示応答部13は、輝度値が、各検出閾値(暗側検出閾値、明側検出閾値)に近い各欠陥が分かるグラフ(輝度グラフ、頻度グラフ)をユーザに提示する機能を有している。そのため、検査結果提示装置10のユーザは、拡大表示処理等を利用することにより、輝度値が各検出閾値に近い欠陥が実際に欠陥であるか否かを判定するだけで、閾値が適正値であるか否かを判定することが出来る。そして、その結果として、検査結果提示装置10によれば、各検出閾値の適正値への調整作業を容易なものとすることが出来る。
以下、指示応答部13について幾つかの事項を補足する。
指示応答部13は、上記した各種処理に加えて、欠陥種別ヒストグラム表示処理及びカメラ別輝度グラフ表示処理も実行可能なようにプログラミングされている。
欠陥種別ヒストグラム表示処理は、装置識別情報の指定を伴う欠陥種別ヒストグラム表示処理の実行指示操作がなされたときに、指示応答部13が実行する、以下の内容の処理である。
欠陥種別ヒストグラム表示処理を開始した指示応答部13は、まず、ユーザにより指定された装置識別情報を含む検査結果識別情報を記憶部15から検索する。次いで、指示応答部13は、検索された各検査結果識別情報に対応づけられて記憶部15に記憶されている各検査結果情報に基づき、各検査対象(ロット)の暗側欠陥数及び暗側欠陥数を特定する。そして、指示応答部13は、各欠陥数の特定結果に基づき、図9に示したような画像情報、すなわち、各検査対象の明側欠陥数を検査日時順に示したヒストグラム及び各検査対象の暗側欠陥数を検査日時順に示したヒストグラムを、ディスプレイ10cに表示する。
なお、欠陥種別ヒストグラム表示処理によるヒストグラムの表示を高速に行えるようにするために、外観検査装置20からの検査結果情報及び検査結果識別情報の取得時に、暗側欠陥数及び暗側欠陥数が算出されて、算出結果が検査結果識別情報に対応づけられて記憶部15に記憶されるようにしておいても良い。
この欠陥種別ヒストグラム表示処理によりディスプレイ10cに表示される情報を、被検査物30の製造プロセスに関する情報(原料の追加・削減、装置の交換、機器のメンテナンス時期など)を参照して解析すれば、製造プロセスに潜在する問題を特定することが出来る。
カメラ別輝度グラフ表示処理は、複数台のカメラ22が接続された外観検査装置20の装置識別情報と、当該外観検査装置20により検査された被検査物30の識別情報の指定を伴うカメラ別輝度グラフ表示処理の実行指示操作がなされたときに、指示応答部13が実行する処理である。
このカメラ別輝度グラフ表示処理時、指示応答部13は、まず、ユーザにより指定された装置識別情報及び被検査物30の識別情報を含む検査結果識別情報を記憶部15から検索する。次いで、指示応答部13は、検索した検査結果識別情報と、検査結果識別情報に対応づけられて記憶部15に記憶されている検査結果識別情報とに基づき、カメラ22毎の輝度グラフ(“カメラ1”からの画像データに基づく輝度グラフ、“カメラ2”からの画像データに基づく輝度グラフ等)を生成して、図10に示したような形でディスプレイ10cに表示する。このカメラ別輝度グラフ表示処理によれば、異常状態となっているカメラ22を簡単に特定することが可能となる。
《変形例》
上記した実施形態に係る検査結果提示装置10は、各種の変形を行えるものである。例えば、第1表示処理を、図11に示したような画像情報を表示する処理に変形しても良い。すなわち、第1表示処理を、各検査対象サンプル(図では、ロットA、B、C)についての輝度グラフがタブ表示される処理に変形しても良い。各表示処理を、表示中の或る輝度グラフ(以下、注目輝度グラフと表記する)に対して所定の操作(例えば、輝度グラフを右クリックする操作)がなされたときに、被検査物30の識別情報等を選択するためのリストボックスを表示し、注目輝度グラフを、当該リストボックスで選択された識別情報等で識別される被検査物30の検査結果に関する輝度グラフに変更する処理に変形しても良い。
検査結果提示装置10を、輝度グラフの表示に必要とされる情報(地合領域の各部の輝度値の平均値及び標準偏差σ)を予め算出しない装置に変形しても良い。すなわち、検査結果提示装置10を、或る輝度グラフの表示が指示されたときに、当該輝度グラフの表示に必要とされる情報を算出し、算出した情報を利用して輝度グラフを表示する装置に変形しても良い。また、検査結果提示装置10が表示する輝度グラフは、各欠陥の第1方向位置と輝度値との関係と、欠陥であるか否かの判定に使用された1つ以上の閾値とを示すものでありさえすれば良い。なお、第1方向位置とは、被検査物30の被検査面に対して定められた直交座標系における一方の座標値のことである。従って、輝度グラフを、ポイント43、近似曲線44、3σ曲線45のいずれか又は全てが示されないグラフとしておいても良い。
また、被検査物30が、暗側又は明側欠陥が全く(又は殆ど)発生しないものである場合には、当然、輝度グラフを、暗側又は明側欠陥に関する情報が示されないものとすることが出来る。
検査結果提示装置10を、輝度値以外の特徴量(色相、彩度、明度等)に基づき、欠陥被検査物30の被検査面に存在する各欠陥を特定する外観検査装置20が出力する検査結果情報を処理する装置に変形しても良い。また、検査結果提示装置10を、Webブラウズ機能を有する機器(PC,スマートフォン等)から利用できる装置(つまり、各種グラフが表示されるWebウェブページを、Webブラウズ機能を有する機器に提供可能な装置)に変形しても良い。
検査結果提示装置10を、外観検査装置20としても動作可能な装置に変形しても良い。なお、検査結果提示装置10を、外観検査装置20としても動作可能な装置に変形する場合には、検査結果提示装置10に、輝度グラフ等をリアルタイムで表示する機能(被検
査物30のカメラ22からの画像データを取り込みながら、輝度グラフ内にポイント41b、41d、43を追加していく機能)を付与しておいても良い。また、上記技術を、シート状ではない被検査物30の検査に利用しても良い。
《付記》
1. 被検査物(30)の被検査面の画像データに基づき、前記被検査面の各位置における所定の特徴量を求め、求めた各位置における前記特徴量と1つ以上の閾値とを比較することで前記被検査面に存在する各欠陥の第1方向位置及び前記特徴量を特定し、特定した各欠陥の前記第1方向位置及び前記特徴量と前記1つ以上の閾値とを含む検査結果情報を生成する検査結果情報生成処理により生成された前記検査結果情報を取得する取得部(11)と、
前記取得部(11)により取得された前記検査結果情報に基づき、各欠陥の前記第1方向位置と前記特徴量との関係、及び、前記1つ以上の閾値を示すグラフを生成してユーザに提示するグラフ生成部(12、13)と、
を備えることを特徴とする検査結果提示装置(10)。
2. 被検査物(30)の被検査面の画像データに基づき、前記被検査面の各位置における所定の特徴量を求め、求めた各位置における前記特徴量と1つ以上の閾値とを比較することで前記被検査面に存在する各欠陥の第1方向位置及び前記特徴量を特定し、特定した各欠陥の前記第1方向位置及び前記特徴量と前記閾値とを含む検査結果情報を生成する検査結果情報生成部(11、12、26)と、
前記検査結果情報生成部により生成された前記検査結果情報に基づき、各欠陥の前記第1方向位置と前記特徴量との関係、及び、前記閾値を示すグラフを生成してユーザに提示するグラフ生成部(13)と、
を備えることを特徴とする検査結果提示装置。
10 検査結果提示装置
10a コンピュータ本体
10b 入力装置
10c ディスプレイ
11 取得部
12 地合輝度情報算出部
13 指示応答部
15、27 記憶部
20 外観検査装置
21 光源
22 カメラ
25 信号処理装置
26 検査結果情報生成部
30 被検査物
31 搬送ローラ
44 近似曲線
45 3σ曲線
61 輝度グラフ用GUIウィジェット
62 頻度ヒスグラム用GUIウィジェット

Claims (7)

  1. 被検査物の被検査面の画像データに基づき、前記被検査面の各位置における所定の特徴量を求め、求めた各位置における前記特徴量と1つ以上の閾値とを比較することで前記被検査面に存在する各欠陥の第1方向位置及び前記特徴量を特定し、特定した各欠陥の前記第1方向位置及び前記特徴量と前記1つ以上の閾値と前記画像データとを含む検査結果情報を生成する検査結果情報生成処理により生成された前記検査結果情報を取得する取得部と、
    前記取得部により取得された前記検査結果情報に基づき、各欠陥の前記第1方向位置と前記特徴量との関係、及び、前記1つ以上の閾値を示すグラフを生成してユーザに提示するグラフ生成部と、
    前記検査結果情報に含まれる前記画像データに基づき、前記ユーザにより前記グラフから選択された欠陥の拡大した画像をユーザに提示する拡大画像提示部と、
    前記1つ以上の閾値は、前記各欠陥を基に算出されるものであり、前記拡大した画像に対して所定の除外操作が行われると、前記選択された欠陥を前記各欠陥から除外して前記1つ以上の閾値を再算出する算出部と、
    を備えることを特徴とする検査結果提示装置。
  2. 前記グラフ生成部は、各欠陥の前記第1方向位置と前記特徴量との関係と、前記1つ以上の閾値と、前記被検査面の前記欠陥以外の領域である地合領域の前記特徴量の前記第1方向位置依存性とを示すグラフを生成してユーザに提示する、
    ことを特徴とする請求項1に記載の検査結果提示装置。
  3. 前記取得部により取得された前記検査結果情報に基づき、前記被検査面に存在する欠陥の個数を前記特徴量別に示した頻度ヒストグラムを生成してユーザに提示するヒストグラム生成部を、さらに備える、
    ことを特徴とする請求項1または2に記載の検査結果提示装置。
  4. 前記被検査物がシート状の部材であり、
    前記被検査物の前記被検査面の前記画像データが、カメラと前記被検査物とを前記第1方向に相対的に移動させることにより得られるデータである、
    ことを特徴とする請求項1からのいずれか一項に記載の検査結果提示装置。
  5. 被検査物の被検査面の画像データに基づき、前記被検査面の各位置における所定の特徴量を求め、求めた各位置における前記特徴量と1つ以上の閾値とを比較することで前記被検査面に存在する各欠陥の第1方向位置及び前記特徴量を特定し、特定した各欠陥の前記第1方向位置及び前記特徴量と前記1つ以上の閾値と前記画像データとを含む検査結果情報を生成する検査結果情報生成処理により生成された前記検査結果情報を取得する取得ステップと、
    前記取得ステップにより取得された前記検査結果情報に基づき、各欠陥の前記第1方向位置と前記特徴量との関係、及び、前記1つ以上の閾値を示すグラフを生成してユーザに提示するグラフ生成ステップと、
    前記検査結果情報に含まれる前記画像データに基づき、前記ユーザにより前記グラフから選択された欠陥の拡大した画像をユーザに提示する拡大画像提示ステップと、
    前記1つ以上の閾値は、前記各欠陥を基に算出されるものであり、前記拡大した画像に対して所定の除外操作が行われると、前記選択された欠陥を前記各欠陥から除外して前記1つ以上の閾値を再算出する算出ステップと、
    を含むことを特徴とする検査結果提示方法。
  6. コンピュータに、
    被検査物の被検査面の画像データに基づき、前記被検査面の各位置における所定の特徴量を求め、求めた各位置における前記特徴量と1つ以上の閾値とを比較することで前記被検査面に存在する各欠陥の第1方向位置及び前記特徴量を特定し、特定した各欠陥の前記第1方向位置及び前記特徴量と前記1つ以上の閾値と前記画像データとを含む検査結果情報を生成する検査結果情報生成処理により生成された前記検査結果情報を取得する取得ステップと、
    前記取得ステップにより取得された前記検査結果情報に基づき、各欠陥の前記第1方向位置と前記特徴量との関係、及び、前記1つ以上の閾値を示すグラフを生成してユーザに提示するグラフ生成ステップと、
    前記検査結果情報に含まれる前記画像データに基づき、前記ユーザにより前記グラフから選択された欠陥の拡大した画像をユーザに提示する拡大画像提示ステップと、
    前記1つ以上の閾値は、前記各欠陥を基に算出されるものであり、前記拡大した画像に対して所定の除外操作が行われると、前記選択された欠陥を前記各欠陥から除外して前記1つ以上の閾値を再算出する算出ステップと、
    を実行させることを特徴とする検査結果提示プログラム。
  7. 被検査物の被検査面の画像データに基づき、前記被検査面の各位置における所定の特徴量を求め、求めた各位置における前記特徴量と1つ以上の閾値とを比較することで前記被検査面に存在する各欠陥の第1方向位置及び前記特徴量を特定し、特定した各欠陥の前記第1方向位置及び前記特徴量と前記1つ以上の閾値と前記画像データとを含む検査結果情報を生成する検査結果情報生成部と、
    前記検査結果情報生成部により生成された前記検査結果情報に基づき、各欠陥の前記第1方向位置と前記特徴量との関係、及び、前記1つ以上の閾値を示すグラフを生成してユーザに提示するグラフ生成部と、
    前記検査結果情報に含まれる前記画像データに基づき、前記ユーザにより前記グラフから選択された欠陥の拡大した画像をユーザに提示する拡大画像提示部と、
    前記1つ以上の閾値は、前記各欠陥を基に算出されるものであり、前記拡大した画像に対して所定の除外操作が行われると、前記選択された欠陥を前記各欠陥から除外して前記1つ以上の閾値を再算出する算出部と、
    を備えることを特徴とする検査結果提示装置。
JP2018124963A 2018-06-29 2018-06-29 検査結果提示装置、検査結果提示方法及び検査結果提示プログラム Active JP7067321B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018124963A JP7067321B2 (ja) 2018-06-29 2018-06-29 検査結果提示装置、検査結果提示方法及び検査結果提示プログラム
TW108111548A TWI695980B (zh) 2018-06-29 2019-04-01 檢查結果提示裝置、檢查結果提示方法以及非暫態電腦可讀取儲存媒體
KR1020190037682A KR102179948B1 (ko) 2018-06-29 2019-04-01 검사 결과 제시 장치, 검사 결과 제시 방법 및 검사 결과 제시 프로그램
CN201910258396.2A CN110658199A (zh) 2018-06-29 2019-04-01 检查结果提示装置、检查结果提示方法及存储介质

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018124963A JP7067321B2 (ja) 2018-06-29 2018-06-29 検査結果提示装置、検査結果提示方法及び検査結果提示プログラム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2020003412A JP2020003412A (ja) 2020-01-09
JP7067321B2 true JP7067321B2 (ja) 2022-05-16

Family

ID=69028499

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018124963A Active JP7067321B2 (ja) 2018-06-29 2018-06-29 検査結果提示装置、検査結果提示方法及び検査結果提示プログラム

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP7067321B2 (ja)
KR (1) KR102179948B1 (ja)
CN (1) CN110658199A (ja)
TW (1) TWI695980B (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7524717B2 (ja) * 2020-10-30 2024-07-30 オムロン株式会社 検査装置

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020109112A1 (en) 2001-02-09 2002-08-15 Guha Sujoy D. Web inspection system
JP2003139714A (ja) 2001-11-06 2003-05-14 Ube Ind Ltd 物体表面状態の評価方法
JP2007078455A (ja) 2005-09-13 2007-03-29 Frontier System Kk シート材検査装置
JP2013098267A (ja) 2011-10-31 2013-05-20 Hitachi High-Technologies Corp 半導体パターン検査装置
JP2014145685A (ja) 2013-01-29 2014-08-14 Canon Inc 検品装置およびその制御方法、印刷システム、並びにプログラム
JP2017166929A (ja) 2016-03-15 2017-09-21 株式会社リコー シート状の被検査体の欠陥検査装置、欠陥検査方法及び欠陥検査システム
JP2017181222A (ja) 2016-03-30 2017-10-05 日新製鋼株式会社 鋼板の表面欠陥検査装置および表面欠陥検査方法

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4857747A (en) * 1988-02-24 1989-08-15 Albany International Corporation Method and apparatus for analyzing the formation of a web of material via generating a formation index
JP3963408B2 (ja) * 1997-11-28 2007-08-22 東海カーボン株式会社 熱延鋼板のスケール検知方法および装置
JP2003098111A (ja) * 2000-09-21 2003-04-03 Hitachi Ltd 欠陥検査方法およびその装置
JP2006118870A (ja) * 2004-10-19 2006-05-11 Olympus Corp 検査条件設定方法及び検査条件設定装置並びにコンピュータプログラム
JP4617970B2 (ja) * 2005-04-01 2011-01-26 ソニー株式会社 欠陥検査装置及び欠陥検査方法
JP2008004863A (ja) * 2006-06-26 2008-01-10 Hitachi High-Technologies Corp 外観検査方法及びその装置
CN101140619A (zh) * 2006-09-05 2008-03-12 大日本网目版制造株式会社 图像处理装置、数据处理装置及参数调整方法
JP4950946B2 (ja) 2007-09-26 2012-06-13 株式会社東芝 欠陥解析装置及び欠陥解析方法
CN101216435A (zh) * 2008-01-03 2008-07-09 东华大学 一种基于多分形特征参数的织物瑕疵自动检测方法
JP2011085521A (ja) * 2009-10-16 2011-04-28 Kaneka Corp シート状物の表面欠陥検査装置
JP5957378B2 (ja) * 2012-12-28 2016-07-27 株式会社日立ハイテクノロジーズ 欠陥観察方法および欠陥観察装置
TWI608230B (zh) * 2013-01-30 2017-12-11 住友化學股份有限公司 圖像產生裝置、缺陷檢查裝置及缺陷檢查方法
JP6314557B2 (ja) * 2014-03-12 2018-04-25 オムロン株式会社 シート検査装置
JP6500518B2 (ja) * 2015-03-10 2019-04-17 オムロン株式会社 シート検査装置
JP6192880B2 (ja) * 2015-05-26 2017-09-06 三菱電機株式会社 検出装置および検出方法
JP6597469B2 (ja) 2016-04-25 2019-10-30 株式会社デンソー 欠陥検査装置
JP2018059772A (ja) * 2016-10-04 2018-04-12 オムロン株式会社 シート検査装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020109112A1 (en) 2001-02-09 2002-08-15 Guha Sujoy D. Web inspection system
JP2003139714A (ja) 2001-11-06 2003-05-14 Ube Ind Ltd 物体表面状態の評価方法
JP2007078455A (ja) 2005-09-13 2007-03-29 Frontier System Kk シート材検査装置
JP2013098267A (ja) 2011-10-31 2013-05-20 Hitachi High-Technologies Corp 半導体パターン検査装置
JP2014145685A (ja) 2013-01-29 2014-08-14 Canon Inc 検品装置およびその制御方法、印刷システム、並びにプログラム
JP2017166929A (ja) 2016-03-15 2017-09-21 株式会社リコー シート状の被検査体の欠陥検査装置、欠陥検査方法及び欠陥検査システム
JP2017181222A (ja) 2016-03-30 2017-10-05 日新製鋼株式会社 鋼板の表面欠陥検査装置および表面欠陥検査方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN110658199A (zh) 2020-01-07
TW202001233A (zh) 2020-01-01
KR20200002590A (ko) 2020-01-08
KR102179948B1 (ko) 2020-11-17
JP2020003412A (ja) 2020-01-09
TWI695980B (zh) 2020-06-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7545977B2 (en) Image processing apparatus for analysis of pattern matching failure
JP6422573B2 (ja) 画像処理装置及び画像処理方法及びプログラム
JP6556266B2 (ja) 欠陥検査装置、方法およびプログラム
JP6707920B2 (ja) 画像処理装置、画像処理方法、およびプログラム
US20200096454A1 (en) Defect detection system for aircraft component and defect detection method for aircraft component
US10860901B2 (en) Detection system, information processing apparatus, evaluation method, and program
US20220067434A1 (en) Training data generation device and training data generation program
CN111738976A (zh) 信息处理装置、用于控制信息处理装置的方法和存储介质
EP3889588A1 (en) Inspection assistance device, inspection assistance method, and inspection assistance program for concrete structure
US20210183037A1 (en) Image processing device, image processing method, and image processing non-transitory computer readable medium
WO2018235266A1 (ja) 検査装置、検査方法及び検査プログラム
JP5995756B2 (ja) 欠陥検出装置、欠陥検出方法および欠陥検出プログラム
JP7067321B2 (ja) 検査結果提示装置、検査結果提示方法及び検査結果提示プログラム
US20140189491A1 (en) Visual cross-browser layout testing method and system therefor
JP2016110625A5 (ja)
JP6786015B1 (ja) 動作分析システムおよび動作分析プログラム
JP2004109105A (ja) 表面欠陥検出における疵種分類境界設定方法、及び欠陥検出方法
JP2010287179A (ja) 画像検査装置、画像検査方法および画像検査プログラム
US20220335254A1 (en) Computer vision inferencing for non-destructive testing
WO2023053728A1 (ja) 表示処理装置、表示処理方法、及び、表示処理プログラム
US20240161271A1 (en) Information processing apparatus, control program, and control method
WO2024135423A1 (ja) 情報処理装置、情報処理方法、プログラムおよび情報処理システム
Lin et al. Evaluation of operability by different gesture input patterns for crack inspection work support system
JP2021179343A (ja) 検査装置、検査方法、及び検査プログラム
JP2023160533A (ja) 画像処理装置、画像処理方法、及びプログラム

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20201215

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20210927

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20211005

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20211206

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20220329

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20220411

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7067321

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150