JP6174013B2 - 保持体、結晶成長方法および結晶成長装置 - Google Patents
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- 239000013078 crystal Substances 0.000 title claims description 253
- 238000002109 crystal growth method Methods 0.000 title claims description 10
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 27
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims description 26
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims description 20
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims description 20
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 20
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 20
- 230000001629 suppression Effects 0.000 claims description 20
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 claims description 19
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 14
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 13
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 13
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 13
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 claims description 10
- 230000000452 restraining effect Effects 0.000 claims description 8
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 15
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 15
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 10
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 8
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 8
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 description 5
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 4
- 230000005499 meniscus Effects 0.000 description 4
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 3
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 3
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 3
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 3
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 3
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N magnesium oxide Inorganic materials [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 description 2
- AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N magnesium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Mg+2] AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);zirconium(4+) Chemical compound [O-2].[O-2].[Zr+4] RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 229910001928 zirconium oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000005672 electromagnetic field Effects 0.000 description 1
- 230000005674 electromagnetic induction Effects 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 238000011049 filling Methods 0.000 description 1
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 1
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- -1 or the like Chemical compound 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 238000005092 sublimation method Methods 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 238000009834 vaporization Methods 0.000 description 1
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 description 1
Images
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-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B15/00—Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
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- C30—CRYSTAL GROWTH
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- C30B19/00—Liquid-phase epitaxial-layer growth
- C30B19/06—Reaction chambers; Boats for supporting the melt; Substrate holders
- C30B19/068—Substrate holders
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B29/00—Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
- C30B29/10—Inorganic compounds or compositions
- C30B29/36—Carbides
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B35/00—Apparatus not otherwise provided for, specially adapted for the growth, production or after-treatment of single crystals or of a homogeneous polycrystalline material with defined structure
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B9/00—Single-crystal growth from melt solutions using molten solvents
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T117/00—Single-crystal, oriented-crystal, and epitaxy growth processes; non-coating apparatus therefor
- Y10T117/10—Apparatus
- Y10T117/1024—Apparatus for crystallization from liquid or supercritical state
- Y10T117/1032—Seed pulling
- Y10T117/106—Seed pulling including sealing means details
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Description
下面に前記種結晶を保持する保持部材と、
該保持部材の下面に保持された、該下面よりも大きい上面を持つ、炭化珪素からなる前記種結晶と、
前記保持部材の側面に固定されるとともに、平面視して前記側面から前記種結晶の外周よりも外側に連続する下面を有する抑制部材であって、前記種結晶を坩堝内の溶液に接触させた状態で、前記坩堝の内面との間に隙間をあけて離間した側面を有し、溶液の上部の空間を閉鎖しない抑制部材とを有する。
該坩堝の前記開口部から前記内部に出し入れ可能な、下面に該下面よりも大きい上面を持つ種結晶を保持する保持部材と、
該保持部材の側面に固定されるとともに、平面視して前記側面から前記種結晶の外周よりも外側に連続する下面を有する抑制部材であって、前記種結晶を坩堝内の溶液に接触させた状態で、前記坩堝の内面との間に隙間をあけて離間した側面を有し、溶液の上部の空間を閉鎖しない抑制部材とを有する。
保持体1は、種結晶2、保持部材3および抑制部材8によって主に構成されている。保持体1は、図18に示すような、結晶成長装置4に取り付けて用いられるものである。
抑制部材8は、図5に示すように、保持部材3の側面3Bから下方向(D1方向)に傾いていてもよい。具体的には、抑制部材8が、種結晶2の上面2Aに対して傾斜している。保持部材3の側面3Bと抑制部材8との傾斜角度αは、例えば90°よりも小さくなるように設定することができる。抑制部材8を下方向に傾斜させることによって、蒸気9を種結晶2の上面2Aおよび側面2C側に反射させやすくすることができる。その結果、種結晶2の上面2Aおよび側面2C付近に成長する雑晶をさらに抑制することができ、下面2Bに成長させる結晶を大型化または長尺化することができる。
抑制部材8は、図6に示すように、保持部材3の側面3Bから外周へ向かう途中に、下方向に屈曲した屈曲部8aを有していてもよい。ここで、以下の説明において、抑制部材8のうち、屈曲部8aよりも外周側に位置する抑制部材8を屈曲領域8a’と称する。
図8に示すように、抑制部材8の屈曲領域8a’は、その端部が溶液6に浸かるように配置されていてもよい。具体的には、保持体1は、抑制部材8の一部が90°に屈曲した屈曲領域8a’の端部が、上下方向において種結晶2の下面2Bよりも下方に位置するように配置されていてもよい。
さらに、図9に示すように、坩堝5に第2抑制部材50が設けられていてもよい。第2抑制部材50は、坩堝5と一体的に設けられていてもよいし、別途坩堝5に取り付けられていてもよい。第2抑制部材50は、例えば、抑制部材8と同じ材料から選択することができる。
本実施形態に係る保持体100は、図10に示すように、第1実施形態の保持部材3と比較して、保持部材30が、第1保持部30aおよび第2保持部30bで構成されている点で相違する。
第2保持部30bは、図13(a)に示すように、種結晶2の上面から露出した下面30bAの露出部分30bCが、種結晶2を間接的に保持する下面30bAの保持部分30bDから上方に向かって傾斜していてもよい。露出部分30bCの傾斜は、保持部分30bDに対して、例えば1°以上10°以下となるように設定される。
第2保持部30bは、図15に示すように、種結晶2の上面から露出した下面30bAの露出部分30bCの上方に位置する空洞300を有していてもよい。空洞300は、図15に示すように、軸部材30baおよびシールド部材30bbによって構成することができる。本実施形態では、軸部材30baとして柱状のものを用いることができ、シールド部材30bbとして、例えば坩堝5のような碗状のものを用いることができる。
さらに、図17に示すように、空洞300に第2保持部30bよりも熱伝導率の低い材料、より具体的には断熱材料350が充填されていてもよい。断熱材料350は、空洞300のすべてを充填している必要はなく、空洞300内に一部空間があってもよい。さらに好ましくは、断熱材料350には、空気よりも熱伝導率の低い材料を用いるとよい。このような断熱材料350が空洞300に充填されていることによって、コイル13のRFエネルギーが空洞300内の断熱材料350でさらに減衰されることとなり、軸部材30baの温度が上昇することを抑制することができる。
次に、本発明の結晶成長方法を説明する。本発明の結晶成長方法は、第1準備工程、第2準備工程および成長工程を有している。
第1準備工程では、上端に開口部5aを有し、炭素を含む珪素の溶液6を内部に収容した結晶成長用の坩堝5を準備する。また、上述の保持体1を準備する。
次に、下述するような結晶成長装置4において、保持体1を坩堝5の開口部5aから内部に入れて、抑制部材8を種結晶2とともに内部に位置させながら、種結晶2の下面2Bを溶液6に接触させてから保持体1を引き上げる。これによって、種結晶2の下面2Bに溶液6から炭化珪素の結晶を成長させることができる。
次に、本発明の実施形態に係る結晶成長装置4を、図18を参照しつつ説明する。坩堝5は、坩堝容器10の内部に配置されている。坩堝容器10は、坩堝5を保持する機能を担っている。この坩堝容器10と坩堝5との間には、保温材11が配置されている。この保温材11は、坩堝5の周囲を囲んでいる。保温材11は、坩堝5からの放熱を抑制し、坩堝5の温度を安定して保つことに寄与している。
Claims (12)
- 上端に開口部を有する坩堝の内部に収容された炭素を含む珪素の溶液に種結晶の下面を接触させて該下面に結晶を成長させる溶液成長法に用いられる保持体であって、
下面に前記種結晶を保持する保持部材と、
該保持部材の下面に保持された、該下面よりも大きい上面を持つ、炭化珪素からなる前記種結晶と、
前記保持部材の側面に固定されるとともに、平面視して前記側面から前記種結晶の外周よりも外側に連続する下面を有する抑制部材であって、前記種結晶を坩堝内の溶液に接触させた状態で、前記坩堝の内面との間に隙間をあけて離間した側面を有し、溶液の上部の空間を閉鎖しない抑制部材とを有する保持体。 - 前記抑制部材は、前記保持部材の側面から下方向に傾いている請求項1に記載の保持体。
- 前記保持部材および前記抑制部材は炭素からなるとともに、前記保持部材に前記抑制部材が炭素を含む接着材で固定されている請求項1または2に記載の保持体。
- 前記抑制部材は、前記保持部材の側面から外周へ向かう途中に、下方向に屈曲した屈曲部を有する請求項1〜3のいずれかに記載の保持体。
- 前記屈曲部が前記種結晶の外周よりも外側に配置されている請求項4に記載の保持体。
- 上端に開口部を有する坩堝の内部に収容された炭素を含む珪素の溶液に種結晶の下面を接触させて該下面に結晶を成長させる溶液成長法に用いられる保持体であって、
前記種結晶の上面よりも小さい下面で前記種結晶を保持する第1保持部と、前記第1保持部の上面に固定されるとともに、平面視して前記側面から前記種結晶の外周よりも外側に連続する下面を有する第2保持部であって、前記種結晶を坩堝内の溶液に接触させた状態で、該坩堝内で前記溶液からの蒸気の上方への移動を抑制して、該蒸気を、前記第2保持部の下面から前記第1保持部の側面を通って、前記種結晶の上面に導く第2保持部とからなる保持部材と、
前記第1保持部の下面に保持された、該下面よりも大きい上面を持つ、炭化珪素からなる前記種結晶とを有する保持体。 - 前記第2保持部は、下面の一部が前記第1保持部の上面から露出しており、この露出部分の上方に位置する内部に空洞を有する請求項6に記載の保持体。
- 前記空洞に前記第2保持部よりも熱伝導率の低い材料が充填されている請求項7に記載の保持体。
- 上端に開口部を有し、炭素を含む珪素の溶液を内部に収容した結晶成長用の坩堝を準備する第1準備工程と、
請求項1〜5のいずれかに記載の保持体を準備する第2準備工程と、
前記保持体を前記坩堝の前記開口部から前記内部に入れて、前記抑制部材を前記種結晶とともに前記内部に位置させながら、前記種結晶の下面を前記溶液に接触させてから前記保持部材を引き上げることによって、前記種結晶の下面に前記溶液から炭化珪素の結晶を成長させる成長工程と
を有する結晶成長方法。 - 上端に開口部を有し、炭素を含む珪素の溶液を内部に収容する結晶成長用の坩堝と、
該坩堝の前記開口部から前記内部に出し入れ可能な、下面に該下面よりも大きい上面を持つ種結晶を保持する保持部材と、
該保持部材の側面に固定されるとともに、平面視して前記側面から前記種結晶の外周よりも外側に連続する下面を有する抑制部材であって、前記種結晶を坩堝内の溶液に接触させた状態で、前記坩堝の内面との間に隙間をあけて離間した側面を有し、溶液の上部の空間を閉鎖しない抑制部材とを有する結晶成長装置。 - 前記坩堝は、前記坩堝の内面に設けられ、平面視して前記坩堝の内面から内側に連続する下面を有し、且つ開口を有する第2抑制部材を有しており、
前記開口は、前記種結晶の外周よりも大きく、かつ前記抑制部材の外周よりも小さい、請求項10に記載の結晶成長装置。 - 上端に開口部を有し、炭素を含む珪素の溶液を内部に収容した結晶成長用の坩堝を準備 する第1準備工程と、
請求項6〜8のいずれかに記載の保持体を準備する第2準備工程と、
前記保持体を前記坩堝の前記開口部から前記内部に入れて、前記第2保持部を前記種結 晶とともに前記内部に位置させながら、前記種結晶の下面を前記溶液に接触させてから前 記保持部材を引き上げることによって、前記種結晶の下面に前記溶液から炭化珪素の結晶 を成長させる成長工程と
を有する結晶成長方法。
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012100526 | 2012-04-26 | ||
JP2012100526 | 2012-04-26 | ||
JP2012168246 | 2012-07-30 | ||
JP2012168246 | 2012-07-30 | ||
PCT/JP2013/062393 WO2013161999A1 (ja) | 2012-04-26 | 2013-04-26 | 保持体、結晶成長方法および結晶成長装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016045030A Division JP2016130211A (ja) | 2012-04-26 | 2016-03-08 | 保持体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2013161999A1 JPWO2013161999A1 (ja) | 2015-12-24 |
JP6174013B2 true JP6174013B2 (ja) | 2017-08-02 |
Family
ID=49483295
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014512711A Expired - Fee Related JP6174013B2 (ja) | 2012-04-26 | 2013-04-26 | 保持体、結晶成長方法および結晶成長装置 |
JP2016045030A Ceased JP2016130211A (ja) | 2012-04-26 | 2016-03-08 | 保持体 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016045030A Ceased JP2016130211A (ja) | 2012-04-26 | 2016-03-08 | 保持体 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20150068444A1 (ja) |
JP (2) | JP6174013B2 (ja) |
WO (1) | WO2013161999A1 (ja) |
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---|---|---|---|---|
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---|---|---|---|---|
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP5803519B2 (ja) * | 2011-09-29 | 2015-11-04 | トヨタ自動車株式会社 | SiC単結晶の製造方法及び製造装置 |
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-
2013
- 2013-04-26 JP JP2014512711A patent/JP6174013B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2013-04-26 WO PCT/JP2013/062393 patent/WO2013161999A1/ja active Application Filing
- 2013-04-26 US US14/397,179 patent/US20150068444A1/en not_active Abandoned
-
2016
- 2016-03-08 JP JP2016045030A patent/JP2016130211A/ja not_active Ceased
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20190030407A (ko) * | 2017-09-14 | 2019-03-22 | 한국세라믹기술원 | 종자결정의 소형화 또는 박형화를 가능하게 하고 내부 결함 발생을 억제하는 종자결정의 지지구조 및 이로부터 제조되는 단결정 |
KR101966707B1 (ko) * | 2017-09-14 | 2019-04-08 | 한국세라믹기술원 | 종자결정의 소형화 또는 박형화를 가능하게 하고 내부 결함 발생을 억제하는 종자결정의 지지구조 및 이로부터 제조되는 단결정 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPWO2013161999A1 (ja) | 2015-12-24 |
US20150068444A1 (en) | 2015-03-12 |
WO2013161999A1 (ja) | 2013-10-31 |
JP2016130211A (ja) | 2016-07-21 |
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