JP5772092B2 - 半導体製造方法および半導体製造装置 - Google Patents
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Description
いずれのウエハにおいても、リング状の補強部の内側が、半導体素子の形成領域となる。
図13を用いてリング状の補強部を有するウエハの作製工程を説明する。研削装置の図示しないカセットにウエハ20をセットする。ウエハ20は、搬送ロボット等により位置合わせがなされた後、チャックテーブル10上に搬送され、チャックテーブルの吸着面12に載置される。チャックテーブル10は、図示しない真空系に接続されており、真空系からの負圧が印加されると吸着面12を介してウエハ20を吸着保持する(図13(a)。吸着面12は、例えば多孔質のセラミックなどで形成される。
図13に示した研削装置では、1種類の研削部133を用いたが、図14の研削装置は、砥粒の大きさが異なる研削部131,132を備えている。
研削工程が完了し、リング状の補強部(リブ構造)が形成されたウエハは、チャックテーブルから取り除かれ、洗浄・乾燥など次の工程に移される。同時に、チャックテーブル上では、チャックテーブルの吸着面をブラシ等により洗浄し、次に研削するウエハ搬送され、吸着保持される。
あるいは、図16(a)に示すように、研削工程が完了し、リング状の補強部が形成されたウエハ22の外周端部を、搬送装置90のアーム91の先端に設けた保持部92で保持(把持)するようにしてもよい。搬送装置90は、保持部92をウエハ22のリング状の補強部に対して接近させたり離間させたりできるように、アーム91が可動する。つまり、保持部92をウエハ22のリング状の補強部から離れた状態からリング状の補強部に徐々に近づけて、リング状の補強部を保持して、ウエハ22を保持する。そして、ウエハ22のリング状の補強部を保持したままアーム91を上昇させることで、ウエハ22をチャックテーブルから脱離させる。このようにすると、ウエハ22の薄化した部分に触れることなく、次の工程へ搬送することができる。
<第1の実施の形態>
図12に示すようなウエハの外周部にリング状の補強部を備えたウエハを形成する工程として、図13,図14に示す方法がある。図12,図13,図14について重複する説明は省略する。
図1(a)では、ウエハ22がチャックテーブル10の吸着面12に吸着されている。吸着面12は、ウエハ22を吸着させる面が平坦に加工された多孔質材である。チャックテーブル10は、給排気路11を介して図示しない真空系に接続されている。真空系から供給される負圧(符号60)が吸着面12に伝達し、ウエハ22を真空吸着し、図12,図13,図14で説明したように、ウエハ22の研削工程が完了した状態を示している。
図1(a)において、搬送装置40が、研削工程の完了したウエハ22の上部で待機する。搬送装置40は、取り上げ装置としての吸着機構30に加えて、押圧装置として、押圧パッド43と押圧パッド支持アーム42と押圧パッドスライド部41とから構成されている。
続いて、図2(b)に進む。陽圧70の印加を停止した後、時刻t4のタイミングで押圧パッドスライド部41のみを上昇させる。支持部32は移動せず、吸着部31は移動しない。押圧パッドスライド部41の上昇により、押圧パッド43による押圧力も減少し、押圧パッド43がウエハ22のリング状の補強部から離れた時点で補強部への押圧力もゼロとなる。
上記の実施形態によれば、ウエハ22のチャックテーブル10への吸着を迅速に解除することができる。図4の時刻t2〜時刻t3は数秒(例えば3秒)程度であり、従来、ウエハに損傷を与えないよう、自然に吸着が解除されるまで10秒程度要していたものが、大幅に時間を短縮できる。そして、ウエハに損傷を与えずに取り上げることができ、次の工程へ迅速に送ることができる。
図6(a)は、図1(a)に示した搬送装置40の弾性部材で形成された押圧パッド43を、弾性変形しにくい押圧材45に変更したものである。押圧材45は、例えば、ポリカーボネート,ポリアミドなどのエンジニアリングプラスチックで成形されたものを用いてもよい。
図6(b)は、図1(a)に示した搬送装置40の弾性部材で形成された押圧パッド43を、内部が中空の押圧チューブ47に変更したものである。押圧チューブ47は、ゴムなどの弾性部材で形成されたリング状チューブであり、内部に空気などが充填されている。図1(b)と同様に、ウエハ22のリング状の補強部へ押し付けることにより、弾性的に変形し、図5(b)に示すように、補強部の形状に倣って変形する。
<第2の実施形態>
次に、図7〜図10を用いて、この発明の第2の実施形態を説明する。
図7(a)では、ウエハ22がチャックテーブル10の吸着面13,14に吸着されている。吸着面13,14は、ウエハ22を吸着させる面が平坦に加工された多孔質材である。ウエハ22の外周部を吸着する吸着面13は、密度が密な多孔質材であり、給排気路11からの負圧をウエハ22の吸着面に伝えやすい構造となっている。密度が密な多孔質材であるため、吸着面13のウエハ22と接しない(ウエハ22で覆われない)外周部分が、露出していても、ここから、真空系(給排気路11)への外気のリークを最小限に抑えられるようになっている。
チャックテーブル10は、給排気路11を介して図示しない真空系に接続されている。真空系から供給される負圧(符号60)が吸着面13,14に伝達し、ウエハ22を真空吸着し、図12,図13,図14で説明したように、ウエハ22の研削工程が完了した状態を示している。
図7(a)において、搬送装置50が、研削工程の完了したウエハ22の上部で待機する。搬送装置50は、ウエハ22のリング状の補強部を外周側から保持する保持機構としての保持部52、保持部52を支持する支持アーム51を備える。そして、さらに、保持部52とは独立させて上下動作し、ウエハ22の薄化された部分を押圧する内周領域押圧機構としての押圧パッド54と、これを支持する支持部53から構成されている。この例では、押圧パッドには、弾性部材が用いられる。弾性部材は特に限定するものではないが、ウエハ22の薄化された中央部分(内周領域)を押圧するとともに、リング状の補強部の形状に倣って弾性変形可能であることと、後述する吸着面12からのエアー等の吹き上げに抗する程度の剛性を有していることが望ましい。例えば、EVA樹脂などの発泡樹脂や、シリコンゴムなどで形成される。
図7(a)において、保持部52は、ウエハ22の外周よりもさらに外側の位置で待機しており、支持部53に固定された押圧パッド54とは独立して上下動作可能である。図7(a)に示す例では、押圧パッド54も、ウエハ22の上部にて待機している。
上記の実施形態によれば、ウエハ22のチャックテーブル10への吸着を迅速に解除することができる。図10の時刻t2〜時刻t3は数秒(例えば3秒)程度であり、従来、ウエハに損傷を与えないよう、自然に吸着が解除されるまで10秒程度要していたものが、大幅に時間を短縮できる。そして、ウエハに損傷を与えずに取り上げることができ、次の工程へ迅速に送ることができる。
図11(a)は、図7(a)に示した搬送装置50の弾性部材で形成された押圧パッド43を、弾性変形しにくい押圧材55に変更したものである。押圧材55は、例えば、ポリカーボネート,ポリアミドなどのエンジニアリングプラスチックで成形されたものを用いてもよい。
図11(b)は、図7(a)に示した搬送装置50の弾性部材で形成された押圧パッド54を、内部が中空の押圧バルーン57に変更したものである。押圧バルーン57は、ゴムなどの弾性部材で形成され、内部が中空の袋(バルーン)であり、内部に空気などが充填されている。図7(b)と同様に、ウエハ22のリング状の補強部へ押し付けることにより、弾性的に変形し、図11(b)に示すように、補強部の形状に倣って変形する。
11:給排気路
12,13,14:吸着面
20,22,23:ウエハ
30:吸着機構
40,50,80,90:搬送装置
31:吸着部
32:支持部
41:押圧パッドスライド部
42:押圧パッド支持アーム
43:押圧パッド
44:押圧パッド支持板
45:押圧材
46:押圧チューブ支持アーム
47:押圧チューブ
51:支持アーム
52:保持部
53:支持部
54:押圧パッド
55:押圧材
56:押圧バルーン支持部
57:押圧バルーン
70,71:水,エアー,水とエアーを混合したものなどによる陽圧
81:吸着部
82:支持部
91:アーム
92:保持部
110:オリエンテーションフラット
111,121,122,123:リング状の補強部
120:ノッチ
131,132,133:研削部
Claims (15)
- チャックテーブルの吸着面に半導体ウエハのおもて面側を吸着する工程と、
前記半導体ウエハの裏面を、外周部にリング状の補強部が残るように内側領域を凹状に研削する工程と、
前記リング状の補強部が形成された半導体ウエハを保持して、前記チャックテーブルから搬送する搬送工程を有する半導体装置の製造方法において、
前記搬送工程は、
前記リング状の補強部が形成された半導体ウエハを保持する前に、保持する箇所とは別の部分を前記半導体ウエハの裏面からおもて面に向かって押圧する押圧工程と、
前記チャックテーブルに陽圧を供給して、前記半導体ウエハのおもて面側の吸着を解除する吸着解除工程と、
前記押圧工程で前記保持する箇所とは別の部分を前記半導体ウエハの裏面からおもて面に向かって行った押圧を解除する押圧解除工程と、
前記リング状の補強部が形成された半導体ウエハを保持したまま、前記チャックテーブルから取り上げる取り上げ工程と、
からなることを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 請求項1に記載の半導体装置の製造方法において、
前記押圧工程で押圧する部分は、前記吸着解除工程で前記チャックテーブルに陽圧を供給した際に、前記リング状の補強部が形成された半導体ウエハが局所的に変形しやすい部分であることを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 請求項1または2のいずれかに記載の半導体装置の製造方法において、
前記押圧工程は、
前記リング状の補強部を前記半導体ウエハの裏面からおもて面に向かって押圧する補強部押圧工程と、前記凹状の内側領域に、前記半導体ウエハを保持する部材を当接させる工程を含むことを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 請求項3に記載の半導体装置の製造方法において、
前記補強部押圧工程は、
前記リング状の補強部に弾性部材を押し当てて、該弾性部材を前記リング状の補強部の形状に倣って弾性変形させる工程を含むことを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 請求項3に記載の半導体装置の製造方法において、
前記取り上げ工程は、前記押圧解除工程に続いて、前記凹状の内側領域に、前記半導体ウエハを保持するために当接させていた部材に負圧を供給して、前記凹状の内側領域を吸着して行うことを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 請求項1または2のいずれかに記載の半導体装置の製造方法において、
前記押圧工程は、
前記凹状の内側領域を前記半導体ウエハの裏面からおもて面に向かって押圧する内側領域押圧工程と、前記リング状の補強部を外周側から保持する工程を含むことを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 請求項6に記載の半導体装置の製造方法において、
前記内側領域押圧工程は、
前記凹状の内側領域と前記リング状の補強部の内周領域に弾性部材を押し当てて、該弾性部材を前記リング状の補強部の形状に倣って弾性変形させる工程を含むことを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 加工対象の半導体ウエハのおもて面を吸着するチャックテーブルと、
前記半導体ウエハの裏面を、外周部にリング状の補強部が残るように内側領域を凹状に研削する研削装置と、
前記リング状の補強部が形成された半導体ウエハを保持して、前記チャックテーブルから搬送する搬送装置とを有する半導体製造装置において、
前記搬送装置は、
前記リング状の補強部が形成された半導体ウエハを保持する箇所とは別の部分を前記半導体ウエハの裏面からおもて面に向かって押圧する押圧装置と、
前記チャックテーブルに陽圧を供給する陽圧供給装置と、
前記リング状の補強部が形成された半導体ウエハを保持して前記チャックテーブルから取り上げる取り上げ装置と、
からなることを特徴とする半導体製造装置。 - 請求項8に記載の半導体製造装置において、
前記押圧装置は、前記陽圧供給装置によって前記チャックテーブルに陽圧を供給した際に、前記リング状の補強部が形成された半導体ウエハが局所的に変形しやすい部分を押圧するものであることを特徴とする半導体製造装置。 - 請求項8または9のいずれかに記載の半導体製造装置において、
前記押圧装置は、
前記リング状の補強部を前記半導体ウエハの裏面からおもて面に向かって押圧する補強部押圧機構と、前記凹状の内側領域で前記半導体ウエハを保持する保持機構を含むことを特徴とする半導体製造装置。 - 請求項10に記載の半導体製造装置において、
前記補強部押圧機構は、
前記リング状の補強部に接する部分を弾性部材で構成することを特徴とする半導体製造装置。 - 請求項10に記載の半導体製造装置において、
前記保持機構は、前記凹状の内側領域を吸着する吸着機構を含むことを特徴とする半導体製造装置。 - 請求項10に記載の半導体装置において、
前記補強部押圧機構は、該補強部押圧機構を支持するスライド部を有し、該スライド部は、前記保持機構を支持する支持部を軸として動作可能に嵌装することにより、前記、補強部押圧機構と前記保持機構は、互いに独立して上下動作するものであることを特徴とする半導体製造装置。 - 請求項8または9のいずれかに記載の半導体製造装置において、
前記押圧装置は、
前記凹状の内側領域を前記半導体ウエハの裏面からおもて面に向かって押圧する内側領域押圧機構と、前記リング状の補強部を外周側から保持する保持機構を含むことを特徴とする半導体製造装置。 - 請求項14に記載の半導体製造装置において、
前記内側領域押圧機構は、
前記凹状の内側領域と前記リング状の補強部の内周領域に接する部分を弾性部材で構成することを特徴とする半導体製造装置。
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