JP5713357B2 - X線応力測定方法とその装置 - Google Patents
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Description
このようなX線応力測定方法として、2θ−sin 2 Ψ法と呼ばれる方法がある。以下、この2θ−sin 2 Ψ法について簡単に説明する。
本発明は、さらに加えて試料の深さ方向における応力勾配についても、迅速な測定を実現することを目的とする。
各X線源からの入射X線に対応して試料からそれぞれ円錐状に放射される各回折X線のデバイリングに着目し、当該デバイリングにおける各X線源からの入射X線の光軸を含む赤道面との交点に現れる回折X線の情報と、デバイリングにおける赤道面との交点の近傍に現れる回折X線の情報と、に基づき試料内の内部応力を求めることを特徴とする。
同図(a)に示すように、試料にX線R0を照射すると、X線が試料内の結晶格子で回折して、入射X線R0の光軸を中心としてその周囲に回折X線が円錐状に放射される。この回折X線の放射軌跡である円錐の底面に相当する円形の外縁線DRをデバイリング(Debye ring)と呼んでいる。この円錐状に放射される回折X線を、例えば平板状のイメージングプレートで受けると、イメージングプレート上には入射X線を中心とする同芯円状のデバイリングDRによる回折線模様が得られる。
なお、X線源から出射されるX線(入射X線)の光軸を含み、上記ω軸に直交する仮想平面を赤道面と呼んでいる。本発明では、この赤道面に沿って複数台のX線源を配置し、各X線源から出射されるX線(入射X線)の光軸がともに同一の赤道面上を進むように設定してある。
試料を配置する試料台と、
試料に対してX線を照射する複数台のX線源と、
試料内の結晶格子面で回折してきた回折X線を検出するX線検出手段と、
これら試料台、X線源およびX線検出手段を搭載する装置本体と、
X線検出手段により検出された回折X線の情報に基づき試料内の内部応力を求める解析手段と、を備え、
複数台のX線源は、試料の表面上に設定した所定の入射点に向けて、それぞれ異なる入射角度でX線を入射させるように設定してあり、
X線検出手段は、試料から出射してくる複数の回折X線を一括して検出できる機能を有しており、
解析手段は、各X線源からの入射X線に対応して試料からそれぞれ円錐状に放射される回折X線のデバイリングに着目し、当該デバイリングにおける各X線源からの入射X線の光軸を含む赤道面との交点に現れる回折X線の情報と、デバイリングにおける赤道面との交点の近傍に現れる回折X線の情報と、に基づき試料内の内部応力を求める構成としたことを特徴とする。
すなわち、試料内部への入射X線の到達深さは、X線の入射角度及び波長と試料によって変わってくる。そこで、本発明では、複数台のX線源から出射される各X線に関し、入射角度の設定と波長の選定とにより試料内部への入射X線の到達深さを調整し、異なる深さにおける回折X線の情報をまとめて得ることで、試料の深さ方向の応力勾配を求めるために必要な情報の取得に要する測定回数(走査回数)を格段に減らすことができ、迅速な測定を実現することが可能となる。
このように、複数台のX線源から出射される各X線の光軸がなす相対角度を適宜変更することで、試料から出射してくる回折X線の方向を適宜調整し、回折X線の重なりを回避して無駄なく有効に回折X線の情報を得ることが可能となる。
なお、本発明に係るX線応力測定方法は、2θ−sin 2 Ψ法以外の解析手法により試料の内部応力を求めてもよいことは勿論である。
イメージングプレートは、検出できるX線の波長依存性がなく、これを試料の周囲へ円弧面状に配置することで、いろいろな方向に出射してくる回折X線を一括して検出できるので、迅速な測定を実現するための重要な構成要素である。
さらに、本発明によれば、試料の深さ方向における応力勾配や残留オーステナイトの深さ方向の分布についても、迅速な測定を実現することが可能となる。
〔X線応力測定装置の構成〕
まず、図4及び図5を参照して、本発明の実施形態に係るX線応力測定装置について説明する。図4は本実施形態に係るX線応力測定装置を模式的に示す斜視図である。図5(a)は図4に示す装置の平面図、同図(b)は同装置に用いたイメージングプレートを平面状に展開したときの正面図である。
ここで、各X線源21、22から出射されるX線(入射X線)の光軸は、試料1の表面でω軸と交わるように調整してある。この交点が試料1の表面におけるX線の入射点となる。各X線源21、22から出射されるX線の試料表面上の入射点は同一である。
そして、試料表面におけるX線の入射点を通り、ω軸に直交する仮想平面H上を、各X線源21、22から出射されるX線の光軸が進むように各X線源21、22を配置してある。したがって、当該仮想平面Hは赤道面となる。
各X線源21、22は、試料表面上の入射点に向けて、それぞれ異なる入射角度でX線を入射させるように、各々の設置位置が調整してある。
また、各X線源21、22は、測定内容に応じて、同じ波長のX線を出射するもの、あるいは異なる波長のX線を出射するもののいずれかを選択して搭載する。
なお、読取装置40とコンピュータ50は、試料台10、X線源21、22及びイメージングプレート30を搭載する装置本体とは別のユニットになっている。イメージングプレート30は、測定終了後に装置本体から取り外され、別ユニットの読取装置40によって回折X線情報の読取り走査にかけられる。
次に、本発明に係るX線応力測定方法による試料の内部応力測定に関する実施例について、図6乃至図10を参照して説明する。
本実施例では、同一波長のX線を出射する2台のX線源21、22を用いて、既述した2θ−sin 2 Ψ法により試料1の内部応力を求めた。具体的には、α鉄を試料1として、図6に示すように、Crターゲットから放射されるKαのX線(Cr−Kα)を出射する2台のX線源21、22を、オフセット角を25゜に設定して(すなわち、25°の角度を隔てて)配置し、各X線源21、22から異なる入射角度で試料1にX線を照射した。
次に、本発明に係るX線応力測定方法による試料の深さ方向の応力勾配測定に関する実施例について、図11乃至図18を参照して説明する。
本実施例では、異なる波長のX線を出射する2台のX線源21、22を用いて、既述した2θ−sin 2 Ψ法により試料1の内部応力を求めることで、試料1の深さ方向の応力勾配を解析する。
これらの図からわかるように、試料1に対するX線の侵入深さは、X線が回折してくる格子面と、入射X線の波長と、入射角Ψ0とによって決まる。(なお、図12では、入射角Ψ0をsin2Ψに換算して表示してある。)そこで、図11及び図12を参照して、目標とする試料1の深さ地点からの回折X線の情報が得られる格子面、入射X線の波長及びX線の入射角Ψ0(sin2Ψ)を決定する。
本実施例では、図14に示すように、イメージングプレート30に記録された回折X線のうち、Cr−Kαの入射X線に対して(211)格子面から回折してきた回折X線の情報、Co−Kαの入射X線に対して(211)格子面から回折してきた回折X線の情報、及びCo−Kαの入射X線に対して(220)格子面から回折してきた回折X線の情報を利用して、2θ−sin 2 Ψ法により試料1の内部応力を求める。
図15(a)は、入射角Ψ0=11.8°でX線を照射したときに、イメージングプレート30に記録された赤道線上の回折X線から求めた2θと、Ψ角から換算したsin2Ψの値とに基づき、2θ−sin 2 Ψ線図へプロットした図である。なお、(211)格子面に入射角Ψ0=11.8°で入射したとき、Ψ角は0°となるので、同図(a)では1点のみをプロットしている。
α鉄の試料1に対して、入射角Ψ0=11.8°でCr−KαのX線を入射したときは、深さは5.85μm付近にある(211)格子面から回折X線が現れる。
α鉄の試料1に対して、入射角Ψ0=40.0°でCr−KαのX線を入射したときは、深さは5.09μm付近にある(211)格子面から回折X線が現れる。
α鉄の試料1に対して、入射角Ψ0=55.0°でCr−KαのX線を入射したときは、深さは4.10μm付近にある(211)格子面から回折X線が現れる。
このようにして求めた内部応力は、X線の侵入深さ4.10〜5.85μm付近における内部応力である。
図16(a)は入射角Ψ0=36.8°でX線を照射したときに、イメージングプレート30に記録された回折X線の情報に基づき2θ−sin 2 Ψ線図へプロットした図である。α鉄の試料1に対して、入射角Ψ0=36.8°でCo−KαのX線を入射したときは、深さは9.02μm付近にある(211)格子面から回折X線が現れる。
図16(b)は入射角Ψ0=65.0°でX線を照射したときに、イメージングプレート30に記録された回折X線の情報に基づき2θ−sin 2 Ψ線図へプロットした図である。α鉄の試料1に対して、入射角Ψ0=65.0°でCo−KαのX線を入射したときは、深さは6.96μm付近にある(211)格子面から回折X線が現れる。
図16(c)は入射角Ψ0=80.0°でX線を照射したときに、イメージングプレート30に記録された回折X線の情報に基づき2θ−sin 2 Ψ線図へプロットした図である。α鉄の試料1に対して、入射角Ψ0=80.0°でCo−KαのX線を入射したときは、深さは3.50μm付近にある(211)格子面から回折X線が現れる。
このようにして求めた内部応力は、X線の侵入深さ3.50〜9.02μm付近における内部応力である。
図17(a)は入射角Ψ0=36.8°でX線を照射したときに、イメージングプレート30に記録された回折X線の情報に基づき2θ−sin 2 Ψ線図へプロットした図である。α鉄の試料1に対して、入射角Ψ0=36.8°でCo−KαのX線を入射したときは、深さは10.26μm付近にある(200)格子面から回折X線が現れる。
図17(b)は入射角Ψ0=65.0°でX線を照射したときに、イメージングプレート30に記録された回折X線の情報に基づき2θ−sin 2 Ψ線図へプロットした図である。α鉄の試料1に対して、入射角Ψ0=65.0°でCo−KαのX線を入射したときは、深さは7.01μm付近にある(200)格子面から回折X線が現れる。
図17(c)は入射角Ψ0=80.0°でX線を照射したときに、イメージングプレート30に記録された回折X線の情報に基づき2θ−sin 2 Ψ線図へプロットした図である。α鉄の試料1に対して、入射角Ψ0=80.0°でCo−KαのX線を入射したときは、深さは3.45μm付近にある(200)格子面から回折X線が現れる。
このようにして求めた内部応力は、X線の侵入深さ3.45〜10.26μm付近における内部応力である。
次に、本発明に係るX線応力測定方法による残留オーステナイトの深さ方向の分布測定について説明する。
既述したように焼き入れをした鉄鋼材料やステンレス材には、オーステナイト(γ鉄)の組織が残留していることがある。
次いで、イメージングプレート30に記録された回折X線の情報(回折角2θ)から、オーステナイトの格子面から回折してきたものか否かを判別することで、残留オーステナイトの存在を確認することができる。さらに、入射X線の波長と、入射角と、X線が回折する格子面とにより、入射X線の侵入深さが決まるため、当該回折X線の情報から残留オーステナイトの深さ方向の分布状況を把握することができる。
Claims (12)
- 試料に対し、複数台のX線源から複数の異なる入射角度でX線を入射させ、
各X線源からの入射X線に対応して試料からそれぞれ円錐状に放射される各回折X線のデバイリングに着目し、当該デバイリングにおける前記各X線源からの入射X線の光軸を含む赤道面との交点に現れる回折X線の情報と、前記デバイリングにおける前記赤道面との交点の近傍に現れる回折X線の情報と、に基づき前記試料内の内部応力を求めることを特徴とするX線応力測定方法。 - 請求項1のX線応力測定方法において、
前記複数台のX線源からそれぞれ波長の異なるX線を出射して、前記試料の深さ方向の応力勾配を求めることを特徴とするX線応力測定方法。 - 請求項2のX線応力測定方法において、
前記複数台のX線源から出射するX線の波長と、当該X線の試料に対する入射角度とを選定することで、目的とする深さにおける内部応力を求め、
且つ、異なった深さにおける内部応力の測定結果に基づいて、前記試料の深さ方向の応力勾配を求めることを特徴とするX線応力測定方法。 - 請求項1乃至3のいずれか一項に記載のX線応力測定方法において、
さらに、鉄鋼材料を試料として、当該試料内の残留オーステナイトの深さ方向の分布を求めることを特徴とするX線応力測定方法。 - 請求項1乃至4のいずれか一項に記載のX線応力測定方法において、
前記複数台のX線源から出射される各X線の光軸がなす相対角度を変更して、前記試料の内部応力を求めることを特徴とするX線応力測定方法。 - 請求項5のX線応力測定方法において、
前記複数台のX線源からそれぞれ前記試料に照射される各X線の入射角を変更し、
2θ−sin 2 Ψ法により前記試料の内部応力を求めることを特徴とするX線応力測定方法。 - 試料を配置する試料台と、
前記試料に対しX線を照射する複数台のX線源と、
前記試料内の結晶格子面で回折してきた回折X線を検出するX線検出手段と、
これら試料台、X線源およびX線検出手段を搭載する装置本体と、
X線検出手段により検出された回折X線の情報に基づき前記試料内の内部応力を求める解析手段と、を備えたX線応力測定装置であって、
前記複数台のX線源は、前記試料の表面上に設定した所定の入射点に向けて、それぞれ異なる入射角度でX線を入射させるように設定してあり、
前記X線検出手段は、前記試料から出射してくる複数の回折X線を一括して検出できる機能を有しており、
前記解析手段は、前記各X線源からの入射X線に対応して試料からそれぞれ円錐状に放射される回折X線のデバイリングに着目し、当該デバイリングにおける前記各X線源からの入射X線の光軸を含む赤道面との交点に現れる回折X線の情報と、前記デバイリングにおける前記赤道面との交点の近傍に現れる回折X線の情報と、に基づき前記試料内の内部応力を求める構成としたことを特徴とするX線応力測定装置。 - 請求項7のX線応力測定装置において、
前記複数台のX線源は、それぞれ波長の異なるX線を出射する構成としてあり、
前記解析手段は、前記試料の深さ方向の応力勾配を求める機能を有していることを特徴とするX線応力測定装置。 - 請求項8のX線応力測定装置において、
前記解析手段は、鉄鋼材料を試料として、当該試料内の残留オーステナイトの深さ方向の分布を求める機能を有していることを特徴とするX線応力測定装置。 - 請求項7乃至9いずれか一項に記載のX線応力測定装置において、
前記複数台のX線源から出射される各X線の光軸がなす相対角度を変更する角度調整手段を備えることを特徴とするX線応力測定装置。 - 請求項10のX線応力測定装置において、
前記複数台のX線源は、前記装置本体にそれぞれ搭載されており、
さらに、前記入射点を通り前記赤道面と直交する軸を中心に前記試料台を回動させて、前記複数台のX線源からそれぞれ前記試料に照射される各X線の入射角を変更する入射角度変更機構を有し、
前記解析手段は、2θ−sin 2 Ψ法により試料の内部応力を求める機能を有していることを特徴とするX線応力測定装置。 - 請求項11のX線応力測定装置において、
前記X線検出手段は、イメージングプレートによって構成するとともに、前記試料から出射してくる回折X線を捉えることができるよう当該試料の周囲へ円弧面状に配置してあることを特徴とするX線応力測定装置。
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