JP5623301B2 - 磁性粒子およびその製造方法、ならびに磁気記録媒体 - Google Patents
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Description
更に本発明は、上記磁性粒子を含む塗布型磁気記録媒体に関するものである。
六方晶フェライト磁性体を炭化水素ガスを含有する還元性雰囲気中で加熱処理すると、六方晶フェライト磁性体の還元に伴い炭化水素が酸化されることにより生成した炭素または炭化物(本発明において、これらをまとめて「炭素成分という」)が磁性体表面に堆積すると考えられる。これら炭素成分が磁性体表面に存在することにより、六方晶フェライト磁性体は内部までは還元されない。この結果、上記還元性雰囲気中で加熱処理した後には、六方晶フェライトをコアとし、その還元物をシェルとするコア/シェル構造が形成されると考えられる。このコア部分とシェル部分は交換結合しているのではないかと推察され、シェル部分が先に外部磁場の変化に対応しスピンの向きが変わり、これによりシェル部分と交換結合したコア部分のスピンの向きを変えることができるため、結果的に磁性粒子としてのスイッチング磁界を下げる(保磁力を下げる)ことができると考えられる。ただし粒子内部までは還元されていないため六方晶フェライトの結晶構造に起因する高い熱的安定性は維持することができる。これにより、高い熱的安定性と優れた記録性を兼ね備えた磁性粒子が得られると、本願発明者は推察している。
これに対し本願発明者が検討したところ、炭化水素ガスを含有しない還元性雰囲気(例えば一酸化炭素含有雰囲気や上記特許文献1に記載されている水素雰囲気)では、還元処理による磁性体の保磁力低下が著しく、高記録密度に適した保磁力を有する磁性体を得ることは困難であった。これは、水素あるいは一酸化炭素は六方晶フェライト磁性体を還元すると自己は酸化され、それぞれ水、二酸化炭素となり系外に出ることから、六方晶フェライト表面に分解生成物を形成し、還元を抑制することがないためと考えている。
本発明は、以上の知見に基づき完成された。
[1]X線回折分析によりα−Feおよびグラファイトが検出され、かつ120kA/m以上230kA/m未満の保磁力を有する六方晶フェライト磁性体からなる磁性粒子。
[2]X線回折分析により0.2〜1.0質量%のα−Feが検出される[1]に記載の磁性粒子。
[3]磁化の時間減衰の傾きが0.005(1/ln(s))以下となる熱的安定性を有する、[1]または[2]に記載の磁性粒子。
[4]下記減磁率Aと減磁率Bとの差(B−A)が0.0001〜0.001の範囲となる熱的安定性を有する、[1]〜[3]のいずれかに記載の磁性粒子。
減磁率A:温度300Kで外部磁場40,000Oe(≒3184kA/m)で磁化を飽和させ、その後、外部磁場を−600Oe(≒−48kA/m)にし、減磁界が600Oe(≒48kA/m)になった時を時間の基準として測定される減磁率。
減磁率B:上記減磁率Aを測定した磁性粒子を昇温速度5℃/分で320Kまで昇温し、該温度で10分間保持した後、降温速度5℃/分で300Kまで降温した後、上記減磁率測定と同じ方法で測定した減磁率。
[5]磁気記録用磁性粉として使用される、[1]〜[4]のいずれかに記載の磁性粒子。
[6]炭化水素ガスを含有する還元性雰囲気中で六方晶フェライト磁性体に加熱処理を施すことにより、[1]〜[5]のいずれかに記載の磁性粒子を得ることを特徴とする磁性粒子の製造方法。
[7]前記還元性雰囲気は、炭化水素ガスと不活性ガスとの混合ガス雰囲気である[6]に記載の磁性粒子の製造方法。
[8]前記炭化水素ガスは、メタンおよびエタンからなる群から選ばれる少なくとも一種である[6]または[7]に記載の磁性粒子の製造方法。
[9]前記六方晶フェライト磁性体として、230kA/m以上の保磁力を有する六方晶フェライト磁性体を使用する[6]〜[8]のいずれかに記載の磁性粒子の製造方法。
[10]前記加熱処理により、加熱処理前の六方晶フェライト磁性体よりも低い保磁力を有する磁性粒子を得る、[6]〜[9]のいずれかに記載の磁性粒子の製造方法。
[11]前記加熱処理により、120kA/m以上230kA/m未満の保磁力を有する磁性粒子を得る、[6]〜[10]のいずれかに記載の磁性粒子の製造方法。
[12]前記加熱処理を、200〜400℃の範囲の温度で行う[6]〜[11]のいずれかに記載の磁性粒子の製造方法。
[13]非磁性支持体上に強磁性粉末と結合剤とを含有する磁性層を有する磁気記録媒体であって、
前記強磁性粉末が[1]〜[5]のいずれかに記載の磁性粒子であることを特徴とする磁気記録媒体。
炭化水素ガスを含有する還元性雰囲気中で六方晶フェライト磁性体に加熱処理を施すことにより得られた磁性粒子;および、
炭化水素ガスを含有する還元性雰囲気中で六方晶フェライト磁性体に加熱処理を施すことを特徴とする磁性粒子の製造方法、
に関する。前述のように、本発明によれば、六方晶フェライト磁性体に対して炭化水素ガスを含有する還元性雰囲気中で加熱処理(以下、当該処理を「還元処理」ともいう)を施すことにより、六方晶フェライト磁性体の熱的安定性を維持しつつ、その記録性を改善することができる。
以下、本発明について更に詳細に説明する。
炭化水素ガスを含有する還元性雰囲気中で加熱処理を施される六方晶フェライト磁性体は、例えば、バリウムフェライト、ストロンチウムフェライト、鉛フェライト、カルシウムフェライトの各置換体、Co置換体等であることができる。具体的には、マグネートプランバイト型のバリウムフェライトおよびストロンチウムフェライト、スピネルで粒子表面を被覆したマグネートプランバイト型フェライト、更に一部スピネル相を含有したマグネートプランバイト型のバリウムフェライトおよびストロンチウムフェライト等が挙げられ、その他、所定の原子以外にAl、Si、S、Sc、Ti、V、Cr、Cu、Y、Mo、Rh、Pd、Ag、Sn、Sb、Te、Ba、Ta、W、Re、Au、Hg、Pb、Bi、La、Ce、Pr、Nd、P、Co、Mn、Zn、Ni、Sr、B、Ge、Nbなどの原子を含んでもかまわない。一般にはCo−Zn、Co−Ti、Co−Ti−Zr、Co−Ti−Zn、Ni−Ti−Zn、Nb−Zn−Co、Sb−Zn−Co、Nb−Zn等の元素を添加したものを使用できる。原料・製法によっては特有の不純物を含有するものもあるが、本発明ではそれらも使用できる。
本発明では上記六方晶フェライト磁性体に対して、炭化水素ガスを含有する還元性雰囲気中で加熱処理(還元処理)を施す。上記炭化水素としては、飽和炭化水素であっても不飽和炭化水素であってもよく特に限定されるものではない。具体例としては、メタン、エタン、プロパン、ブタン等の飽和炭化水素、エチレン、アセチレン等の不飽和炭化水素を挙げることができる。取り扱いの容易性の観点からは、メタンおよびエタンが好ましい。
また、炭化水素ガスを含有する還元性雰囲気中で加熱処理を施した後、炭化水素ガス以外の還元性ガス(例えば水素、一酸化炭素等)を含有する雰囲気中で加熱処理を施すことも好ましい対応である。これは、炭化水素で還元を続けると表面に形成される炭素成分の厚みが厚くなり、粒子体積を大きくしてしまうからである。この点から、炭素成分の形成を穏やかに進行させたい場合には前記還元性雰囲気は炭化水素ガスと他のガスとの混合雰囲気であることが好ましい。ここで炭化水素ガスと共存するガスとしては、還元を穏やかに進行させる観点から、不活性ガス(窒素ガス、アルゴンガス等)が好ましい。即ち、前記還元性雰囲気は、炭化水素ガスと不活性ガスとの混合ガス雰囲気であることが好ましい。
上記磁性粒子の詳細については、前述の磁性粒子およびその製造方法の説明を参照できる。また、本発明の磁性粒子が有することが望ましい熱的安定性の詳細については、実施例に基づき後述する。
下記表1記載のバリウムフェライト(以下、「BaFe」と記載する。)を反応炉内で、表2記載の還元性雰囲気ガス気流中で加熱処理した。還元処理中、反応炉のガス流入口から還元性雰囲気ガス気流を常時流入させつつ排気口から反応後のガスを排出した。還元性雰囲気ガスとして混合ガスを用いる場合には、炉にガスを供給する前に、表2記載の濃度になるよう混合調整した。反応炉としては、アルバック理工製ゴールドイメージ炉(P810C)を用い、昇温速度150℃/minで表2に示す加熱処理温度まで昇温し、該温度で表2に示す時間加熱処理を行い、その後、降温速度20℃/minで炉内を室温まで冷却し、還元処理後の磁性粒子を窒素ガス気流中で炉から取り出した(CO含有雰囲気およびH2中で還元処理を行った磁性粒子は空気に触れると粒子全体が急速酸化する場合があることから、全試料を同一条件下で取り出すこととした)。炉から取り出した磁性粒子は、上記した急速酸化を防ぐため窒素雰囲気下でアクリル容器に封入して、下記方法で評価した。
(1)比表面積SBET
表1記載のSBETの測定は、窒素吸着法により行った。
(2)粒子サイズ(TEM観察による平均板径、平均板厚、平均粒子体積)の評価
表1記載の粒子サイズの測定は、HITACHI製の透過型電子顕微鏡(印加電圧200kV)により行った。
(3)磁気特性
原料BaFeおよび実施例1〜3、比較例1〜3で作製した磁性粒子の磁気特性を、玉川製作所製超電導振動式磁力計(VSM)を使用し、印加磁場3184kA/m(40kOe)の条件で評価した。結果を表2に示す。
(4)磁化の時間減衰の傾き、活性化体積
原料BaFeおよび実施例1〜3、比較例1で作製した磁性粒子について、超電導電磁石式振動試料型磁力計(玉川製作所製TM−VSM1450−SM型)を用いて、次の手順で、磁気記録媒体の保存時に受ける反磁界相当の反磁界400Oe(≒32kA/m)と600Oe(≒48kA/m)の磁化の時間減衰の傾き、反磁界500Oe(≒40kA/m)での活性化体積を求めた。各測定において、サンプルとしては磁性粉体0.1gを測定ホルダーに圧密したものを用いた。なお、比較例2、3で作製した磁性粒子は、下記表2に示すように保磁力が著しく低く他の磁性粒子と対等に比較することができないため測定対象から除外した。
(i)磁化の時間減衰の傾き
熱揺らぎ磁気余効の場合、磁化の時間減衰においてΔM/(lnt1−lnt2)は一定となる。磁化は磁場によっても変化することから、磁場一定にした後の磁化を時間毎に測定することによって磁化の時間減衰の傾きを求めた。
具体的には、サンプルに40kOe(≒3200kA/m)の外部磁場をかけ、直流消磁した後、磁石を電流値制御とし目標の反磁界を発生させる電流を供給し、目標の反磁界に外部磁場を漸近させた。これは、外部磁場が変動することにより安定化処理がなされ、磁化の時間減衰が見かけ小さくなることを防ぐためである。
磁場が目標値に達した時間を零とし、1分毎に磁化を25分間測定し、磁化の時間減衰の傾きΔM/(lnt1−lnt2)を求めた。結果を表2に示す。なお、表2にはΔM/(lnt1−lnt2)を40kOeの外部磁場における磁化で割り規格化した値を示す。
(ii)活性化体積
200Oe(≒16kA/m)だけ異なる反磁界H1(400Oe)とH2(600Oe)において、それぞれの反磁界で上記(i)と同様の手順で目標の反磁界に達したときから25分後の磁化を求めた。この磁化をそれぞれMBとMEとすると全磁化率Xtot=(MB−ME)/ΔH=(MB−ME)/200となる。
次に可逆磁化率Xrevは、H2から外部磁場を200Oeだけ増加させたときの磁化MFを求め、Xrev=(MF−ME)/ΔH=(MF−ME)/200により求めた。
不可逆磁化率(Xirr)はXirr=Xtot−Xrevにより求めた。
活性化体積(Vact)はVact=kT/(Ms(ΔM/Xirr(lnt1−lnt2))により求めた。ここで、k:ボルツマン定数、T:温度、Ms:サンプルの飽和磁化、である。
以上の工程により、反磁界500Oeにおける活性化体積を求めた。結果を表2に示す。
(5)炭素成分の存在の確認
実施例1〜3、比較例1、2で作製した磁性粒子について、X線回折装置により表面組成分析を行ったところ、実施例1〜3の磁性粒子ではCuKα線で2θ=26.5°にグラファイトに特徴的なピークが見られた。この結果から、実施例1〜3で作製した磁性粒子は、その表面にグラファイトが付着していることが確認できる。これに対し、比較例1、2で作製した磁性粒子では、上記のグラファイトに特徴的なピークは見られなかった。
(6)α−Feの存在の確認および定量
上記(5)で得たX線回折スペクトルの中で、実施例1〜3、比較例2で作製した磁性粒子のX線回折スペクトルでは、CuKα線で2θ=45°のα−Feのピークが見られた。これに対し比較例1で作製した磁性粒子のX線回折スペクトルでは、上記のα−Feのピークは見られなかった。
そこで、市販のα−Fe標準品と原料BaFe粒子を混合したサンプルを、α−Fe混合量を変えて複数作製し、これらサンプルをX線回折装置により分析してα−FeとBaFeのピーク強度の比較から検量線を作成した。得られた検量線を用いて、上記(5)で得たX線回折スペクトルのα−Feのピーク強度から、各磁性粒子に含まれるα−Fe量を定量した。なお、本発明におけるα−Fe量は、上記方法により算出される値をいうものとする。
得られた定量結果を、上記(5)の分析結果とともに表3に示す。
これに対し、炭化水素ガスを含有する還元性雰囲気ガス気流中で加熱処理を行った実施例1〜3では、得られた磁性粒子の保磁力を記録に適した範囲に制御することができた。また、表3を参照し表2に示す結果について検討すると、X線回折分析によりα−Feおよび炭素成分(グラファイト)の両方が検出される六方晶フェライトが、記録に適した保磁力を有することが確認できる。
磁性粒子の熱的安定性については、前記した方法により測定される磁化の時間減衰の傾きは、磁性粒子の熱的安定性を示す指標である。表2に示したように実施例1〜3の磁性粒子の磁化の時間減衰の傾きが原料BaFeおよび窒素ガスからなる雰囲気中で加熱処理を行った比較例1と同等であったことから、炭化水素ガスを含有する還元性雰囲気中での加熱処理によっても、原料BaFeの高い熱的安定性が損なわれず良好に維持されていることが確認できる。磁気記録媒体の磁性層に含まれる磁性粒子が熱的安定性に劣るものであると、磁性粒子が磁化方向を保とうとするエネルギー(磁気エネルギー)が熱エネルギーに抗することが困難となり、記録された信号が経時的に減衰(磁化減衰)して再生信号の信頼性が低下してしまう。したがって磁気記録媒体の信頼性を高めるためには、記録された信号を大きく減衰させずに保持し得る高い熱的安定性を有する磁性粒子を使用することが求められる。記録の保持性の点からは、上記方法により測定される磁化の時間減衰の傾きが0.005(1/ln(s))以下である磁性粒子が好ましく、0.003(1/ln(s))以下である磁性粒子がより好ましい。上記傾きが小さいほど記録の保持性の点から好ましいため最も好ましい下限値は0.000(1/ln(s))であるが、0.001(1/ln(s))以上であっても、通常の使用環境では実用上十分な記録の保持性を有すると言える。
表2に示す活性化体積は凝集の有無を示す指標であり、仮に凝集を生じているのであれば千の位以上で変化が現れるが、表2に示すように実施例1〜3の活性化体積は原料BaFeおよび窒素ガスからなる雰囲気中で加熱処理を行った比較例1と同等であった。この結果から、炭化水素ガスを含有する還元性雰囲気中での加熱処理によって凝集を生じることがなかったことが確認できる。
測定方法
温度300Kで外部磁場40,000Oe(≒3184kA/m)で磁化を飽和させ、その後、外部磁場を−600Oe(≒−48kA/m)にし、減磁界が600Oe(≒48kA/m)になった時を時間(外部磁場を−600Oeにしてから20分後)の基準とし、減磁率A(decay rate A)を評価した。
その後、上記減磁率Aを測定した磁性粒子を昇温速度5℃/分で320Kまで昇温し、該温度(320K)で10分間保持した後、降温速度5℃/分で300Kまで降温した。その後、上記と同様、温度300Kで外部磁場40,000Oe(≒3184kA/m)で磁化を飽和させた後、外部磁場を−600Oe(≒−48kA/m)にし、減磁界が600Oe(≒48kA/m)になった時を時間の基準とし、減磁率B(decay rate B)を評価した。
得られた結果を、表4に示す。表4に示すように、実施例1〜3で得られた磁性粒子は、減磁率の差(B−A)が上記好ましい範囲内であったことから、長期にわたり優れた熱的安定性を有することが確認できる。
(1)磁性層塗布液処方
表5記載の磁性粒子 100部
ポリウレタン樹脂 15部
分岐側鎖含有ポリエステルポリオール/ジフェニルメタンジイソシアネート系
−SO3Na=400eq/ton
α−Al2O3(粒子サイズ0.15μm) 4部
板状アルミナ粉末(平均粒径:50nm) 0.5部
ダイヤモンド粉末(平均粒径:60nm) 0.5部
カーボンブラック(粒子サイズ 20nm) 1部
シクロヘキサノン 110部
メチルエチルケトン 100部
トルエン 100部
ブチルステアレート 2部
ステアリン酸 1部
非磁性無機質粉体 85部
α−酸化鉄
表面処理剤:Al2O3、SiO2
長軸径:0.15μm
タップ密度:0.8
針状比:7
BET比表面積:52m2/g
pH8
DBP吸油量:33g/100g
カーボンブラック 15部
DBP吸油量:120ml/100g
pH:8
BET比表面積:250m2/g
揮発分:1.5%
ポリウレタン樹脂 22部
分岐側鎖含有ポリエステルポリオール/ジフェニルメタンジイソシアネート系
−SO3Na=200eq/ton
フェニルホスホン酸 3部
シクロヘキサノン 140部
メチルエチルケトン 170部
ブチルステアレート 2部
ステアリン酸 1部
カーボンブラック(平均粒径:25nm) 40.5部
カーボンブラック(平均粒径:370nm) 0.5部
硫酸バリウム 4.05部
ニトロセルロース 28部
ポリウレタン樹脂(SO3Na基含有) 20部
シクロヘキサノン 100部
トルエン 100部
メチルエチルケトン 100部
上記処方の磁性層塗布液、非磁性層塗布液、バックコート層塗布液のそれぞれについて、各成分をオープンニーダーで240分間混練した後、ビ−ズミルで分散した(磁性層塗布液は1440分、非磁性層塗布液は720分、バックコート層塗布液は720時間)。得られた分散液に3官能性低分子量ポリイソシアネート化合物(日本ポリウレタン製コロネート3041)をそれぞれ4部加え、更に20分間撹拌混合したあと、0.5μmの平均孔径を有するフィルターを用いて濾過した。その後、磁性層塗布液に対して、日立ハイテク製 冷却遠心分離機 himac CR−21Dで回転数10000rpnmとして30分間、遠心分離処理を行い、凝集物を除去する分級処理を行った。
得られた非磁性層塗布液を乾燥後の厚さが1.5μmになるように、厚さ5μmのPEN支持体(WYKO社製HD2000で測定した平均表面粗さRa=1.5nm)上に塗布した後、100℃で乾燥させて非磁性層を形成した。非磁性層を形成した支持体原反に70℃24時間の熱処理を施した後、上記分級処理後の磁性層塗布液を、乾燥後に20nmの厚さとなるように非磁性層上にウェットオンドライ塗布した後、100℃で乾燥させた。磁性層を設けた面と反対の支持体表面に、バックコート層塗布液を塗布、乾燥させて厚さ0.5μmのバックコート層を形成した。
その後、金属ロールのみから構成される7段のカレンダーで速度100m/min、線圧350kg/cm、温度100℃で表面平滑化処理を行った後、1/2インチ幅にスリットして磁気テ−プを作製した。
磁性粒子として、上記1.(磁性粒子の実施例、比較例)で用いた原料BaFeを使用した点を除き、実施例4、5と同様の方法で磁気テープを得た。
(6−1)保磁力
玉川製作所製超電導振動式磁力計(VSM)を使用し、印加磁場3184kA/m(40kOe)の条件で評価した。
(6−2)電磁変換特性(ORC、SNR)
ドラムテスター(相対速度5m/sec)を用いて、以下の方法で電磁変換特性の測定を行った。
1)ORC
Bs=1.6T Gap長0.2μmのライトヘッドを用い、線記録密度275kFCIの信号を記録し、GMRヘッド(Tw幅 3μm、sh−sh=0.18μm)で再生した。このとき、記録電流を変えながら、出力が最大になる電流を最適記録電流(ORC)とした。
2)SNR
上記1)記載の条件下、上記1)で求めた最適記録電流で信号を記録再生し275kFCIの出力と0〜2×275kFCIの積分ノイズの比を測定した。
Claims (13)
- X線回折分析によりα−Feおよびグラファイトが検出され、かつ120kA/m以上230kA/m未満の保磁力を有する六方晶フェライト磁性体からなる磁性粒子。
- X線回折分析により0.2〜1.0質量%のα−Feが検出される請求項1に記載の磁性粒子。
- 磁化の時間減衰の傾きが0.005(1/ln(s))以下となる熱的安定性を有する、請求項1または2に記載の磁性粒子。
- 下記減磁率Aと減磁率Bとの差(B−A)が0.0001〜0.001の範囲となる熱的安定性を有する、請求項1〜3のいずれか1項に記載の磁性粒子。
減磁率A:温度300Kで外部磁場40,000Oe(≒3184kA/m)で磁化を飽和させ、その後、外部磁場を−600Oe(≒−48kA/m)にし、減磁界が600Oe(≒48kA/m)になった時を時間の基準として測定される減磁率。
減磁率B:上記減磁率Aを測定した磁性粒子を昇温速度5℃/分で320Kまで昇温し、該温度で10分間保持した後、降温速度5℃/分で300Kまで降温した後、上記減磁率測定と同じ方法で測定した減磁率。 - 磁気記録用磁性粉として使用される、請求項1〜4のいずれか1項に記載の磁性粒子。
- 炭化水素ガスを含有する還元性雰囲気中で六方晶フェライト磁性体に加熱処理を施すことにより、請求項1〜5のいずれか1項に記載の磁性粒子を得ることを特徴とする磁性粒子の製造方法。
- 前記還元性雰囲気は、炭化水素ガスと不活性ガスとの混合ガス雰囲気である請求項6に記載の磁性粒子の製造方法。
- 前記炭化水素ガスは、メタンおよびエタンからなる群から選ばれる少なくとも一種である請求項6または7に記載の磁性粒子の製造方法。
- 前記六方晶フェライト磁性体として、230kA/m以上の保磁力を有する六方晶フェライト磁性体を使用する請求項6〜8のいずれか1項に記載の磁性粒子の製造方法。
- 前記加熱処理により、加熱処理前の六方晶フェライト磁性体よりも低い保磁力を有する磁性粒子を得る、請求項6〜9のいずれか1項に記載の磁性粒子の製造方法。
- 前記加熱処理により、120kA/m以上230kA/m未満の保磁力を有する磁性粒子を得る、請求項6〜10のいずれか1項に記載の磁性粒子の製造方法。
- 前記加熱処理を、200〜400℃の範囲の温度で行う請求項6〜11のいずれか1項に記載の磁性粒子の製造方法。
- 非磁性支持体上に強磁性粉末と結合剤とを含有する磁性層を有する磁気記録媒体であって、
前記強磁性粉末が請求項1〜5のいずれか1項に記載の磁性粒子であることを特徴とする磁気記録媒体。
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