JP5620938B2 - 積層セラミックコンデンサ - Google Patents

Description

本発明は、複数の内部電極層が誘電体層を介して積層された構造を有するコンデンサ本体を備えた積層セラミックコンデンサに関する。

この種の積層セラミックコンデンサは、積層方向で隣接する内部電極層の対向部分間に生じる電界によって該内部電極層の間に介在する誘電体層に電歪効果による機械歪みが生じ、該機械歪みによる振動が積層セラミックコンデンサに発生する。因みに、積層セラミックコンデンサを回路基板に実装した状態で生じる所謂音鳴きの原因が前記振動にあることは広く知られている。

前記振動（前記音鳴き）を抑制する好適な方法としては、（１）前記誘電体層を低誘電率材料で形成して前記機械歪みを抑える方法、（２）前記内部電極層を２分割したような形状としてその中間に存する誘電体層のみで形成された部分によって前記機械歪みを抑える方法（後記特許文献１を参照）、が知られている。

しかしながら、前記方法（１）によって大きな静電容量を確保するには内部電極層及び誘電体層の層数増加を避けることができないため、近年における小型化及び大容量化のニーズを満足することは難しい。また、前記方法（２）によって大きな静電容量を確保するには積層セラミックコンデンサのサイズ増加を避けることができないため、近年における小型化及び大容量化のニーズを満足することは難しい。

特開２００４−１９３３５２号公報

本発明の目的は、小型化及び大容量化のニーズを満足しつつ音鳴きの原因となる振動を効果的に抑制できる積層セラミックコンデンサを提供することにある。

前記目的を達成するため、複数の内部電極層が誘電体層を介して積層された構造を有するコンデンサ本体を備えた積層セラミックコンデンサであって、前記複数の内部電極層のうち少なくとも積層方向中央に存する少なくとも１層の内部電極層は、連続電極部と該連続電極部と電気的に連続していない孤立電極部が共存する第１の孤立電極部所有部分をその中央部分に有している、ことを特徴とする。

本発明によれば、第１の孤立電極部所有部分には孤立電極部が存するため、積層方向で隣接する内部電極層（少なくとも一方が第１の孤立電極部所有部分を有する内部電極層）の対向部分間に生じる電界は、両方が第１の孤立電極部所有部分を有しない場合に比べて小さくなり、これにより該内部電極層の間に介在する誘電体層に電歪効果による機械歪みが低減し、該機械歪みの低減により積層セラミックコンデンサに発生する振動が効果的に抑制される。依って、積層セラミックコンデンサを回路基板に実装した場合でも、該積層セラミックコンデンサに発生する振動を抑制することによって該振動を原因とした音鳴きを効果的に抑制できる。

また、積層方向で隣接する内部電極層（少なくとも一方が第１の孤立電極部所有部分を有する内部電極層）の一方の第１の孤立電極部所有部分の孤立電極部が他方とどの様な態様で向き合っても該孤立電極部と他方との間に直列容量を形成できるので、該直列容量によって両者の間に形成される容量を補填して、積層セラミックコンデンサの静電容量の低下を効果的に抑制できる。

要するに、本発明によれば、小型化及び大容量化のニーズを満足しつつ音鳴きの原因となる振動を効果的に抑制できることから、所期の目的を的確に達成できる。

本発明の前記目的とそれ以外の目的と、構成特徴と、作用効果は、以下の説明と添付図面によって明らかとなる。

図１（Ａ）は、第１実施形態に係る積層セラミックコンデンサを幅方向中央で切断した縦断面図；図２（Ｂ）は、同積層セラミックコンデンサの図１（Ａ）のＢ−Ｂ線に沿う縦断面図である。 図２（Ａ）は、図１（Ａ）及び図１（Ｂ）に示した内部電極層のうち第１の孤立電極部所有部分を有する内部電極層の上面図；図２（Ｂ）は、図１（Ａ）及び図１（Ｂ）に示した内部電極層のうち第１の孤立電極部所有部分を有し、且つ、図２（Ａ）に示した内部電極層と誘電体層を介して向き合う内部電極層の上面図；図２（Ｃ）は、図２（Ａ）及び図２（Ｂ）に示した第１の孤立電極部所有部分の拡大図である。 図３（Ａ）及び図３（Ｂ）は、第１の孤立電極部所有部分の孤立電極部によって実現される静電容量の低下抑制の説明図である。 図４（Ａ）及び図４（Ｂ）は、図１（Ａ）及び図１（Ｂ）に示した積層セラミックコンデンサの変形例を示す図１（Ａ）及び図１（Ｂ）対応の縦断面図である。 図５（Ａ）は、第２実施形態に係る積層セラミックコンデンサを幅方向中央で切断した縦断面図；図５（Ｂ）は、同積層セラミックコンデンサの図５（Ａ）のＢ−Ｂ線に沿う縦断面図である。 図６（Ａ）は、図５（Ａ）及び図５（Ｂ）に示した内部電極層のうち第１の孤立電極部所有部分及び第２の孤立電極部所有部分を有する内部電極層の上面図；図６（Ｂ）は、図５（Ａ）及び図５（Ｂ）に示した内部電極層のうち第１の孤立電極部所有部分及び第２の孤立電極部所有部分を有し、且つ、図６（Ａ）に示した内部電極層と誘電体層を介して向き合う内部電極層の上面図；図６（Ｃ）は、図２（Ａ）及び図２（Ｂ）に示した第２の孤立電極部所有部分の拡大図である。 図７（Ａ）及び図７（Ｂ）は、図６（Ａ）及び図６（Ｂ）に示した第２の孤立電極部所有部分の形成方法の説明図である。 図８（Ａ）及び図８（Ｂ）は、図６（Ａ）及び図６（Ｂ）に示した内部電極層の変形例を示す図６（Ａ）及び図６（Ｂ）対応の上面図である。 図９（Ａ）及び図９（Ｂ）は、図６（Ａ）及び図６（Ｂ）に示した内部電極層の他の変形例を示す図６（Ａ）及び図６（Ｂ）対応の上面図である。 図１０（Ａ）及び図１０（Ｂ）は、図６（Ａ）及び図６（Ｂ）に示した内部電極層のさらに他の変形例を示す図６（Ａ）及び図６（Ｂ）対応の上面図である。 図１１は、図１０（Ａ）及び図１０（Ｂ）に示した内部電極層を有する積層セラミックコンデンサの図５（Ｂ）対応の縦断面図である。 図１２（Ａ）及び図１２（Ｂ）は、図６（Ａ）及び図６（Ｂ）に示した内部電極層の他の変形例を示す図６（Ａ）及び図６（Ｂ）対応の上面図である。 図１３（Ａ）及び図１３（Ｂ）は、図５（Ａ）及び図５（Ｂ）に示した積層セラミックコンデンサの変形例を示す図５（Ａ）及び図５（Ｂ）対応の縦断面図である。

《第１実施形態》
〈積層セラミックコンデンサ１０-1の構造〉
先ず、積層セラミックコンデンサ１０-1の構造について説明する。図１（Ａ）及び図１（Ｂ）に示した積層セラミックコンデンサ１０-1は、長さ、幅及び高さの基準寸法が長さ＞幅＝高さの関係、或いは、長さ＞幅＞高さの関係を有する略直方体形状のコンデンサ本体１１と、該コンデンサ本体１１の長さ方向両端部に設けられた１対の外部電極１２を備えている。

コンデンサ本体１１は２６層の内部電極層１３が誘電体層１４を介して積層された構造を有しており、高さ方向の上側と下側には誘電体層１４のみが積層されたマージン（符号無し）が存する。小型化及び大容量化に対応した実際の積層セラミックコンデンサにおける内部電極層の実際上の層数は１００以上に及ぶが、図面との関係もあるため、以下、２６層の内部電極層１３に準じて構造等を便宜的に説明する（後述の第２実施形態についても同様）。

各内部電極１３は、ニッケル、銅、パラジウム、銀等の金属から成り、各々の厚さは１μｍ前後で概ね同一の略矩形状輪郭を有している。２６層の内部電極層１３のうち上から奇数番目の内部電極層１３の左辺は左側の外部電極１２に電気的に接続され、且つ、上から偶数番目の内部電極層１３の右辺は右側の外部電極１２に電気的に接続されている。

各誘電体層１４と上側マージンと下側マージンは、チタン酸バリウム、チタン酸ストロンチウム、チタン酸カルシウム、チタン酸マグネシウム、ジルコン酸カルシウム、チタン酸ジルコン酸カルシウム、ジルコン酸バリウム、酸化チタン等の強誘電体から成り、各誘電体層１４の厚さは１μｍ前後で上側マージン及び下側マージンの厚さは４０μｍ前後である。

図１に示したように、２６層の内部電極層１３のうち積層方向中央に存する１４層の内部電極層１３は、後述する第１の孤立電極部所有部分１３ａをその中央部分に有している。図２（Ａ）は第１の孤立電極部所有部分１３ａを有する１４層の内部電極層１３のうち図１において上から奇数番目の内部電極層１３の上面を示してあり、図２（Ｂ）は同１４層の内部電極層１３のうち図１において上から偶数番目の内部電極層１３の上面を示してある。

図１に２点鎖線で示したＴＤＡ１は前段落中の「積層方向中央」に対応する３次元領域を示すものであって、該３次元領域は、積層方向で隣接する内部電極層１３の対向部分の長さをＬ１とし幅をＷ１とし２６層の内部電極層１３が存する高さをＨ１としたとき、長さＬ１からＬ２及びＬ３を減じた寸法と幅Ｗ１からＷ２及びＷ３を減じた寸法と高さＨ１からＨ２及びＨ３を減じた寸法によって概ね特定されている。また、前段落中の「その中央部分」は、長さＬ１からＬ２及びＬ３を減じた寸法と幅Ｗ１からＷ２及びＷ３を減じた寸法によって概ね特定されている。因みに、好ましいＬ２及びＬ３の寸法は長さＬ１の３０〜５０％の範囲内であり、好ましいＷ２及びＷ３の寸法は幅Ｗ１の５〜５０％の範囲内であり、好ましいＨ２及びＨ３の寸法は高さＨ１の５〜５０％の範囲内である。

第１の孤立電極部所有部分１３ａは、図２（Ｃ）に示したように、種々大きさの複数の貫通孔ＴＨを有するものの電気的には連続している連続電極部ＣＥＰと、該連続電極部ＣＥＰと電気的に連続していない少なくとも１つの孤立電極部ＩＥＰが共存する部分を言う。この図２（Ｃ）は試作品の第１の孤立電極部所有部分１３ａを走査型電子顕微鏡（Ｓｃａｎｎｉｎｇ Ｅｌｅｃｔｒｏｎ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ）で観察して得た画像（倍率は１０００倍）に基づいており、観察結果によれば、孤立電極部ＩＥＰの存在位置は大きめの貫通孔ＴＨの内側であり、孤立電極部ＩＥＰの形状及び大きさは様々である。

〈積層セラミックコンデンサ１０-1の好ましい製法例〉
次に、前記積層セラミックコンデンサ１０-1の好ましい製法例について説明する。製法に際しては、ニッケル粉末とターピネオール（溶剤）と残留カーボンを形成し易いエチルセルロース（バインダ）と分散剤等の各種添加剤を含む内部電極用ペーストと、チタン酸バリウム粉末とエタノール（溶剤）とポリビニルブチラール（バインダ）と分散剤等の各種添加剤を含む誘電体層用スラリーを用意する。そして、誘電体層用スラリーを所定厚さで塗工し乾燥して誘電体グリーンシートを作製すると共に、該誘電体グリーンシート上に取り数に対応した数の略矩形輪郭の内部電極用ペースト層をマトリクス配列で印刷し乾燥して内部電極パターン付き誘電体グリーンシートを作製する。そして、所定数の誘電体グリーンシートと所定数の内部電極パターン付き誘電体グリーンシートと所定数の誘電体グリーンシートが並ぶように順に積層し相互圧着させて未焼成積層体を作製する。そして、未焼成積層体を格子状に切断して、コンデンサ本体１１に対応した未焼成チップを作製する。そして、多数の未焼成チップを焼成炉に投入し、前記ニッケル粉末及び前記チタン酸バリウム粉末に対応した所定温度プロファイルで焼成（脱バインダ処理と焼成処理を含む）を行う。そして、焼成済みチップの長さ方向両端部に内部電極用ペーストと略同一組成の外部電極用ペーストを塗布し焼付け処理を施して１対の外部電極を作製する。

この製法例で肝要な点は、前記焼成過程の脱バインダ処理における温度保持時間を短くして未焼成チップの積層方向中央におけるカーボンの残留量を高くし、焼成処理における残留カーボンの燃焼によって局所的な強還元雰囲気を形成して誘電体層の焼結を進行させると共に内部電極層の球状化及び連続性低下を進行させることにある。これにより、焼成済みチップの積層方向中央の複数の内部電極層の中央部分に第１の孤立電極部所有部分１３ａに対応した部分が形成される。

〈積層セラミックコンデンサ１０-1によって得られる作用、効果〉
先に述べたように、積層セラミックコンデンサ１０-1は、２６層の内部電極層１３のうち積層方向中央に存する１４層の内部電極層１３の中央部分に、連続電極部ＣＥＰと該連続電極部ＣＥＰと電気的に連続していない少なくとも１つの孤立電極部ＩＥＰが共存する第１の孤立電極部所有部分１３ａを有している。

つまり、各第１の孤立電極部所有部分１３ａには少なくとも１つの孤立電極部ＩＥＰが存するため、積層方向で隣接する内部電極層１３（少なくとも一方が第１の孤立電極部所有部分１３ａを有する内部電極層１３）の対向部分間に生じる電界は、両方が第１の孤立電極部所有部分１３ａを有しない場合に比べて小さくなり、これにより該内部電極層１３の間に介在する誘電体層に電歪効果による機械歪みが低減し、該機械歪みの低減により積層セラミックコンデンサ１０-1に発生する振動が効果的に抑制される。依って、積層セラミックコンデンサ１０-1を回路基板に実装した場合でも、該積層セラミックコンデンサ１０-1に発生する振動を抑制することによって該振動を原因とした音鳴きを効果的に抑制できる。

また、各第１の孤立電極部所有部分１３ａには少なくとも１つの孤立電極部ＩＥＰが存するため、積層方向で隣接する内部電極層１３（少なくとも一方が第１の孤立電極部所有部分１３ａを有する）にあっては、一方の第１の孤立電極部所有部分１３ａの孤立電極部ＩＥＰが他方の第１の孤立電極部所有部分１３ａの連続電極部ＣＥＰ及び孤立電極部ＩＥＰと向き合う態様や、一方の第１の孤立電極部所有部分１３ａの孤立電極部ＩＥＰが他方の第１の孤立電極部所有部分１３ａの連続電極部ＣＥＰと向き合う態様や、一方の第１の孤立電極部所有部分１３ａの孤立電極部ＩＥＰが他方の第１の孤立電極部所有部分１３ａの孤立電極部ＩＥＰと向き合う態様や、一方の第１の孤立電極部所有部分１３ａの孤立電極部ＩＥＰが第１の孤立電極部所有部分１３ａを有しない内部電極層１３と向き合う態様等が得られる。

つまり、積層方向で隣接する内部電極層１３（少なくとも一方が第１の孤立電極部所有部分１３ａを有する内部電極層１３）の一方の第１の孤立電極部所有部分１３ａの孤立電極部ＩＥＰが他方とどの様な態様で向き合っても該孤立電極部ＩＥＰと他方との間に直列容量を形成できるので、該直列容量によって両者の間に形成される容量を補填して、積層セラミックコンデンサ１０-1の静電容量の低下を効果的に抑制できる。

ここで、図３（Ａ）及び図３（Ｂ）を用いて前段落の静電容量の低下抑制に関して具体的に説明する。図３（Ａ）は、上側の第１の孤立電極部所有部分１３ａの孤立電極部ＩＥＰａが下側の第１の孤立電極部所有部分１３ａの連続電極部ＣＥＰｂ及び孤立電極部ＩＥＰｂと向き合っている状態を示す。同状態では、上側の第１の孤立電極部所有部分１３ａの孤立電極部ＩＥＰａと連続電極部ＣＥＰａとの間に容量Ｃ１が発生し、上側の第１の孤立電極部所有部分１３ａの孤立電極部ＩＥＰａと下側の第１の孤立電極部所有部分１３ａの連続電極部ＣＥＰｂとの間に容量Ｃ２が発生し、上側の第１の孤立電極部所有部分１３ａの孤立電極部ＩＥＰａと下側の第１の孤立電極部所有部分１３ａの孤立電極部ＩＥＰｂとの間に容量Ｃ２’が発生し、下側の第１の孤立電極部所有部分１３ａの孤立電極部ＩＥＰｂと連続電極部ＣＥＰｂとの間に容量Ｃ３が発生する。

容量Ｃ１と容量Ｃ２は図３（Ｂ）の上側に示したような直列容量Ｃｓを形成し、容量Ｃ１と容量Ｃ２’と容量Ｃ３は図３（Ｂ）の下側に示したような直列容量Ｃｓ’を形成する。これら直列容量Ｃｓ及びＣｓ’は上側の第１の孤立電極部所有部分１３ａと下側の第１の孤立電極部所有部分１３ａとの間に形成される容量を補填することになるから、積層セラミックコンデンサ１０-1の静電容量の低下を効果的に抑制できる。

図示を省略したが、上側の第１の孤立電極部所有部分１３ａの孤立電極部ＩＥＰａが下側の第１の孤立電極部所有部分１３ａの連続電極部ＣＥＰｂと向き合う場合でも少なくとも直列容量Ｃｓを形成でき、また、上側の第１の孤立電極部所有部分１３ａの孤立電極部ＩＥＰａが下側の第１の孤立電極部所有部分１３ａの孤立電極部ＩＥＰｂと向き合う場合でも少なくとも直列容量Ｃｓ’が形成でき、さらに、上側の第１の孤立電極部所有部分１３ａの孤立電極部ＩＥＰａが下側の第１の孤立電極部所有部分１３ａを有しない内部電極１３と向き合う場合でも直列容量Ｃｓを形成できるため、これらの場合でも積層セラミックコンデンサ１０-1の静電容量の低下を効果的に抑制できる。

要するに、前記積層セラミックコンデンサ１０-1によれば、小型化及び大容量化のニーズを満足しつつ音鳴きの原因となる振動を効果的に抑制できることから、所期の目的を的確に達成できる。

〈積層セラミックコンデンサ１０-1の変形例〉
先の説明では、２６層の内部電極層１３のうち積層方向中央に存する１４層の内部電極層１３の中央部分に第１の孤立電極部所有部分１３ａを有する積層セラミックコンデンサ１０-1を示したが、積層方向中央に存する１〜１３層の内部電極層１３の中央部分に第１の孤立電極部所有部分１３ａを有する場合や、積層方向中央に存する１５〜２５層の内部電極層１３の中央部分に第１の孤立電極部所有部分１３ａを有する場合や、２６層の内部電極層１３全ての中央部分に第１の孤立電極部所有部分１３ａを有する場合（図４（Ａ）及び図４（Ｂ）を参照）でも、前記同様の作用、効果を得ることができる。

《第２実施形態》
先ず、積層セラミックコンデンサ１０-2の構造について説明する。図５（Ａ）及び図５（Ｂ）に示した積層セラミックコンデンサ１０-2が、第１実施形態に係る積層セラミックコンデンサ１０-1と構造上で異なるところは、図５に示したように、２６層の内部電極層１３のうち積層方向中央に存する１４層の内部電極層１３が、第１の孤立電極部所有部分１３ａをその中央部分に有している他に、後述する第２の孤立電極部所有部分１３ｂをその周辺部分に有している点、にある。

図６（Ａ）は第１の孤立電極部所有部分１３ａ及び第２の孤立電極部所有部分１３ｂを有する１４層の内部電極層１３のうち図５において上から奇数番目の内部電極層１３の上面を示してあり、図６（Ｂ）は同１４層の内部電極層１３のうち図５において上から偶数番目の内部電極層１３の上面を示してある。これら図から分かるように、第２の孤立電極部所有部分１３ｂは、積層方向中央に存する１４層の内部電極層１３の外部電極接続辺を除く３辺部分に設けられている。

前々段落中の「その周辺部分」は、長さＬ１の両側に設定したＬ４及びＬ５の寸法と幅Ｗ１の両側に設定したＷ４及びＷ５の寸法によって概ね特定されている。因みに、好ましいＬ４及びＬ５の寸法は長さＬ１の０．１〜５％の範囲内であり、好ましいＷ４及びＷ５の寸法は幅Ｗ１の０．１〜１０％の範囲内である。

第２の孤立電極部所有部分１３ｂは、図６（Ｃ）に示したように、種々大きさの複数の貫通孔ＴＨを有するものの電気的には連続している連続電極部ＣＥＰと、該連続電極部ＣＥＰと電気的に連続していない少なくとも１つの孤立電極部ＩＥＰが共存する部分を言う。この図６（Ｃ）は試作品の第２の孤立電極部所有部分１３ｂを走査型電子顕微鏡（Ｓｃａｎｎｉｎｇ Ｅｌｅｃｔｒｏｎ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ）で観察して得た画像（倍率は１０００倍）に基づいており、観察結果によれば、孤立電極部ＩＥＰの存在位置は大きめの貫通孔ＴＨの内側又は周縁に形成された大きめの凹み（符号無し）の内側であり、孤立電極部ＩＥＰの形状及び大きさは様々である。

〈積層セラミックコンデンサ１０-2の好ましい製法例〉
次に、前記積層セラミックコンデンサ１０-2の好ましい製法例、特に前記〈積層セラミックコンデンサ１０-1の好ましい製法例〉と異なるところについて説明する。

前記〈積層セラミックコンデンサ１０-1の好ましい製法例〉の「内部電極パターン付き誘電体グリーンシートを作製するステップ」では、図７（Ａ）及び図７（Ｂ）に示したように、誘電体グリーンシートＤＬ上の内部電極パターンＰＬの周辺全体にその厚さが薄くなる部分（以下、薄層部分ＰＬａと言う）を形成する。この薄層部分ＰＬａは外側に向かって徐々に厚さが薄くなるものの他、全体が薄いものや、周縁にかすれが生じているものであっても良い。また、この薄層部分ＰＬａの形成は、内部電極用ペーストの粘度調節や印刷速度調節（例えばスクリーン印刷時のスキージ速度）等によって簡単に実現できる。因みに、図７（Ａ）及び図７（Ｂ）に示したＣＬは、前記〈積層セラミックコンデンサ１０-1の好ましい製法例〉の「未焼成積層体を格子状に切断するステップ」における切断ラインである。

このような薄層部分ＰＬａが内部電極パターンＰＬにあると、前記〈積層セラミックコンデンサ１０-1の好ましい製法例〉の「未焼成チップを焼成するステップ」では、該薄層部分ＰＬａの厚さが薄いが故に焼成処理における球状化及び連続性低下が進行し易く、これにより焼成済みチップの積層方向中央の複数の内部電極層の周辺部分に第２の孤立電極部所有部分１３ｂに対応した部分が形成される。

〈積層セラミックコンデンサ１０-2によって得られる作用、効果〉
先に述べたように、積層セラミックコンデンサ１０-2は、２６層の内部電極層１３のうち積層方向中央に存する１４層の内部電極層１３の中央部分に、連続電極部ＣＥＰと該連続電極部ＣＥＰと電気的に連続していない少なくとも１つの孤立電極部ＩＥＰが共存する第１の孤立電極部所有部分１３ａを有していると共に、該１４層の内部電極層１３の周辺部分に連続電極部ＣＥＰと該連続電極部ＣＥＰと電気的に連続していない少なくとも１つの孤立電極部ＩＥＰが共存する第２の孤立電極部所有部分１３ｂを有している。

つまり、各第１の孤立電極部所有部分１３ａと各第２の孤立電極部所有部分１３ｂには少なくとも１つの孤立電極部ＩＥＰが存するため、積層方向で隣接する内部電極層１３（少なくとも一方が第１の孤立電極部所有部分１３ａを有する内部電極層１３）の対向部分間に生じる電界は、両方が第１の孤立電極部所有部分１３ａ及び第２の孤立電極部所有部分１３ｂを有しない場合に比べて小さくなり、これにより該内部電極層１３の間に介在する誘電体層に電歪効果による機械歪みが低減し、該機械歪みの低減により積層セラミックコンデンサ１０-2に発生する振動が効果的に抑制される。依って、積層セラミックコンデンサ１０-2を回路基板に実装した場合でも、該積層セラミックコンデンサ１０-2に発生する振動を抑制することによって該振動を原因とした音鳴きを効果的に抑制できる。

また、各第１の孤立電極部所有部分１３ａと各第２の孤立電極部所有部分１３ｂには少なくとも１つの孤立電極部ＩＥＰが存するため、積層方向で隣接する内部電極層１３（少なくとも一方が第１の孤立電極部所有部分１３ａを有する）にあっては、前記〈積層セラミックコンデンサ１０-1によって得られる作用、効果〉で述べた態様に併せて、一方の第２の孤立電極部所有部分１３ｂの孤立電極部ＩＥＰが他方の第２の孤立電極部所有部分１３ｂの連続電極部ＣＥＰ及び孤立電極部ＩＥＰと向き合う態様や、一方の第２の孤立電極部所有部分１３ｂの孤立電極部ＩＥＰが他方の第２の孤立電極部所有部分１３ｂの連続電極部ＣＥＰと向き合う態様や、一方の第２の孤立電極部所有部分１３ｂの孤立電極部ＩＥＰが他方の第２の孤立電極部所有部分１３ｂの孤立電極部ＩＥＰと向き合う態様や、一方の第２の孤立電極部所有部分１３ｂの孤立電極部ＩＥＰが第２の孤立電極部所有部分１３ｂを有しない内部電極層１３と向き合う態様等が得られる。

つまり、積層方向で隣接する内部電極層１３（少なくとも一方が第１の孤立電極部所有部分１３ａを有する内部電極層１３）の一方の第１の孤立電極部所有部分１３ａの孤立電極部ＩＥＰが他方とどの様な態様で向き合っても該孤立電極部ＩＥＰと他方との間に直列容量を形成できるので、該直列容量によって両者の間に形成される容量を補填して、積層セラミックコンデンサ１０-2の静電容量の低下を効果的に抑制できると共に、積層方向で隣接する内部電極層１３（少なくとも一方が第２の孤立電極部所有部分１３ｂを有する内部電極層１３）の一方の第２の孤立電極部所有部分１３ｂの孤立電極部ＩＥＰが他方とどの様な態様で向き合っても該孤立電極部ＩＥＰと他方との間に直列容量を形成できるので、該直列容量によって両者の間に形成される容量を補填して、積層セラミックコンデンサ１０-2の静電容量の低下を効果的に抑制できる。後者の静電容量の低下抑制の作用は図３（Ａ）及び図３（Ｂ）を用いて前記〈積層セラミックコンデンサ１０-1によって得られる作用、効果〉で説明したものと基本的に同じであるため、ここでの説明を省略する。

さらに、各内部電極層１３の周縁はエッジ効果により電界の集中が発生し易いため、該内部電極層１３の間に介在する誘電体層１４の周縁及びその外側部分における電歪効果による機械歪みが増加して該誘電体層１４の周縁の外側部分にクラックが発生する恐れがある。しかしながら、第２の孤立電極部所有部分１３ｂを有する内部電極層１３は前記のような直列容量を形成することからエッジ効果による電界の集中が緩和され、これにより誘電体層１４の周縁及びその外側部分における電歪効果による機械歪みを低減して、該誘電体層１４の周縁の外側部分にクラックが発生する恐れを解消できる。

〈積層セラミックコンデンサ１０-2の変形例〉
先の説明では、第２の孤立電極部所有部分１３ｂが、積層方向中央に存する１４層の内部電極層１３の外部電極接続辺を除く３辺部分に設けられている積層セラミックコンデンサ１０-2を示したが、第２の孤立電極部所有部分１３ｂが、積層方向中央に存する１４層の内部電極層１３の外部電極接続辺と隣り合う２辺部分に設けられている場合（図８（Ａ）及び図８（Ｂ）を参照）や、第２の孤立電極部所有部分１３ｂが、積層方向中央に存する１４層の内部電極層１３の外部電極接続辺と隣り合う１辺に設けられている場合（図９（Ａ）及び図９（Ｂ）と図１０（Ａ）及び図１０（Ｂ）を参照）や、第２の孤立電極部所有部分１３ｂが、積層方向中央に存する１４層の内部電極層１３の外部電極接続辺と対向する１辺部分に設けられている場合（図１２（Ａ）及び図１２（Ｂ）を参照）でも、前記同様の作用、効果を得ることができる。

特に、図１０（Ａ）及び図１０（Ｂ）に示したように、内部電極層１３の外部電極接続辺と隣り合う１辺であっても第２の孤立電極部所有部分１３ｂの位置が非対称の２種類の内部電極層１３の場合、図１１に示したように、図中の左右両側において第２の孤立電極部所有部分１３ｂが１層おきに存するような構造とすることもできる。

さらに、先の説明では、２６層の内部電極層１３のうち積層方向中央に存する１４層の内部電極層１３の周辺部分に第２の孤立電極部所有部分１３ｂを有する積層セラミックコンデンサ１０-2を示したが、第１の孤立電極部所有部分１３ａと同様に、積層方向中央に存する１〜１３層の内部電極層１３の周辺部分に第２の孤立電極部所有部分１３ｂを有する場合や、積層方向中央に存する１５〜２５層の内部電極層１３の周辺部分に第２の孤立電極部所有部分１３ｂを有する場合や、２６層の内部電極層１３全ての周辺部分に第２の孤立電極部所有部分１３ｂを有する場合（図１３（Ａ）及び図１３（Ｂ）を参照）でも、前記同様の作用、効果を得ることができる。

１０-1、１０-2…積層セラミックコンデンサ、１１…コンデンサ本体、１２…外部電極、１３…内部電極層、１３ａ…第１の孤立電極部所有部分、１３ｂ…第２の孤立電極部所有部分、ＣＥＰ…連続電極部、ＩＥＰ…孤立電極部、ＴＨ…貫通孔、１４…誘電体層。

Claims (7)

1. 複数の内部電極層が誘電体層を介して積層された構造を有するコンデンサ本体を備えた積層セラミックコンデンサであって、
   前記複数の内部電極層のうち少なくとも積層方向中央に存する少なくとも１層の内部電極層は、連続電極部と該連続電極部と電気的に連続していない孤立電極部が共存する第１の孤立電極部所有部分をその中央部分に有しており、
   前記複数の内部電極層のうち少なくとも積層方向中央に存する少なくとも１層の内部電極層は、連続電極部と該連続電極部と電気的に連続していない孤立電極部が共存する第２の孤立電極部所有部分をその周辺部分のうち少なくとも１辺部分に有している、
   ことを特徴とする積層セラミックコンデンサ。
2. 前記第１の孤立電極部所有部分は、前記複数の内部電極層の全てに設けられている、
   ことを特徴とする請求項１に記載の積層セラミックコンデンサ。
3. 前記第２の孤立電極部所有部分は、前記複数の内部電極層の全てに設けられている、
   ことを特徴とする請求項１又は２に記載の積層セラミックコンデンサ。
4. 前記複数の内部電極層は略矩形輪郭を有しており、前記第２の孤立電極部所有部分は内部電極層の外部電極接続辺を除く３辺部分に設けられている、
   ことを特徴とする請求項１〜３の何れか１項に記載の積層セラミックコンデンサ。
5. 前記複数の内部電極層は略矩形輪郭を有しており、前記第２の孤立電極部所有部分は内部電極層の外部電極接続辺と隣り合う２辺部分に設けられている、
   ことを特徴とする請求項１〜３の何れか１項に記載の積層セラミックコンデンサ。
6. 前記複数の内部電極層は略矩形輪郭を有しており、前記第２の孤立電極部所有部分は内部電極層の外部電極接続辺と隣り合う１辺部分に設けられている、
   ことを特徴とする請求項１〜３の何れか１項に記載の積層セラミックコンデンサ。
7. 前記複数の内部電極層は略矩形輪郭を有しており、前記第２の孤立電極部所有部分は内部電極層の外部電極接続辺と対向する１辺部分に設けられている、
   ことを特徴とする請求項１〜３の何れか１項に記載の積層セラミックコンデンサ。

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