JP5567396B2 - 磁気ブラシ帯電用のフェライト粒子及びその製造方法 - Google Patents
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Description
平均粒径が約1μmに微粉砕されたAl2O3粉と、Fe2O3と、Mn3O4とを準備した。そして、Al2O3粉をAl換算で5000ppm、Fe2O3と、Mn3O4を8:2(モル比)となるように秤量した。分散剤としてポリカルボン酸アンモニウムを、媒体液中濃度が1%となるように添加した純水中に、秤量したAl2O3とFe2O3、Mn3O4とを分散させ混合物とした。この混合物を湿式ボールミル(メディア径2mm)で粉砕処理し、スラリーを得た。
表面粗さRaは、レーザー顕微鏡(オリンパス社製LEXT OLS3000)により測定した。より詳細には、フェライト粒子において10μm四方の範囲を設定し、当該範囲において高さ測定を行って平均線を求め、この範囲での平均線から測定曲線までの偏差の絶対値を合成し、平均化することで算出した。
フェライトの磁気特性は、VSM(東英工業株式会社製、VSM−P7)を用いて磁化率の測定を行い、印加磁場10kOeにおける飽和磁化σs(emu/g)を測定した。
図1に示した磁気ブラシ帯電装置を用いて感光体ドラムを帯電させ、その表面電位を非接触電圧測定装置(トレック社製)を用いて測定し、感光体ドラムの表面電位の経時変化を調べた。
表面を電解研磨した厚さ2mmの電極としての真鍮板2枚を、距離2mm離して対向するように配置した。電極間にフェライト粒子200mgを装入した後、それぞれの電極の背後に、断面積240mm2の磁石(表面磁束密度が1500ガウスのフェライト磁石)を配置して、電極間にフェライト粒子のブリッジを形成させた。そして、10Vから1000Vまでの直流電圧を電極間に印加し、フェライト粒子に流れる電流値を測定し、フェライト粒子の電気抵抗を算出した。
X線回折装置(リガク製、RINT2000)を用いて測定した。X線源はコバルトを使用し、加速電圧40kV、電流30mAでX線を発生させた。粉末X線の測定条件は走査モード:FT、発散スリット:1/2°、散乱スピード:1/2°、受光スリット:0.15mm、回転速度:5.000rpm、測定角度:10°≦2θ≦90°、測定間隔:0.01°、計数時間:5秒で測定を行った。
焼成温度を1150℃とした以外は、実施例1と同様にして焼成物を得た。得られた焼成物を粉砕処理した後、篩を用いて粗粒及び微粒を除去し、平均粒子径45μmのMnフェライト粒子を得た。
得られたフェライト粒子の表面粗さ、飽和磁化σs、帯電性、X線回折を実施例1と同様にして測定した。結果を表1に示す。
焼成温度を1200℃とした以外は、実施例1と同様にして焼成物を得た。得られた焼成物を粉砕処理した後、篩を用いて粗粒及び微粒を除去し、平均粒子径45μmのMnフェライト粒子を得た。得られたフェライト粒子の電子顕微鏡(SEM)写真を図2に示す。
得られたフェライト粒子の表面粗さ、飽和磁化σs、帯電性、X線回折を実施例1と同様にして測定した。結果を表1に示す。
焼成工程における酸素濃度を1.0%とし、焼成温度を1200℃とした以外は、実施例1と同様にして焼成物を得た。得られた焼成物を粉砕処理した後、篩を用いて粗粒及び微粒を除去し、平均粒子径45μmのMnフェライト粒子を得た。
得られたフェライト粒子の表面粗さ、飽和磁化σs、帯電性、X線回折を実施例1と同様にして測定した。結果を表1に示す。
焼成工程における酸素濃度を1.2%とし、焼成温度を1200℃とした以外は、実施例1と同様にして焼成物を得た。得られた焼成物を粉砕処理した後、篩を用いて粗粒及び微粒を除去し、平均粒子径45μmのMnフェライト粒子を得た。
得られたフェライト粒子の表面粗さ、飽和磁化σs、帯電性、X線回折を実施例1と同様にして測定した。結果を表1に示す。
焼成工程における酸素濃度を1.4%とし、焼成温度を1200℃とした以外は、実施例1と同様にして焼成物を得た。得られた焼成物を粉砕処理した後、篩を用いて粗粒及び微粒を除去し、平均粒子径45μmのMnフェライト粒子を得た。
得られたフェライト粒子の表面粗さ、飽和磁化σs、帯電性、X線回折を実施例1と同様にして測定した。結果を表1に示す。
焼成工程における酸素濃度を2.0%とし、焼成温度を1200℃とした以外は、実施例1と同様にして焼成物を得た。得られた焼成物を粉砕処理した後、篩を用いて粗粒及び微粒を除去し、平均粒子径45μmのMnフェライト粒子を得た。
得られたフェライト粒子の表面粗さ、飽和磁化σs、帯電性、X線回折を実施例1と同様にして測定した。結果を表1に示す。
焼成工程における酸素濃度を2.5%とし、焼成温度を1200℃とした以外は、実施例1と同様にして焼成物を得た。得られた焼成物を粉砕処理した後、篩を用いて粗粒及び微粒を除去し、平均粒子径45μmのMnフェライト粒子を得た。
得られたフェライト粒子の表面粗さ、飽和磁化σs、帯電性、X線回折を実施例1と同様にして測定した。結果を表1に示す。
Al2O3粉を添加せず、焼成工程における焼成温度を1200℃とした以外は、実施例1と同様にして焼成物を得た。得られた焼成物を粉砕処理した後、篩を用いて粗粒及び微粒を除去し、平均粒子径45μmのMnフェライト粒子を得た。
得られたフェライト粒子の表面粗さ、飽和磁化σs、帯電性、X線回折を実施例1と同様にして測定した。結果を表1に示す。
Al2O3粉を添加せず、焼成工程における酸素濃度を0.03%とし、焼成温度を1200℃とした以外は、実施例1と同様にして焼成物を得た。得られた焼成物を粉砕処理した後、篩を用いて粗粒及び微粒を除去し、平均粒子径45μmのMnフェライト粒子を得た。得られたフェライト粒子を酸化処理(大気雰囲気下、450℃×1.5時間)した。
得られたフェライト粒子の表面粗さ、飽和磁化σs、帯電性、X線回折を実施例1と同様にして測定した。結果を表1に示す。また、得られたフェライト粒子の電子顕微鏡写真を図5に、感光体ドラムの表面電位の経時変化を図6にそれぞれ示す。
焼成工程における酸素濃度を0.03%とし、焼成温度を1200℃とした以外は、実施例1と同様にして焼成物を得た。得られた焼成物を粉砕処理した後、篩を用いて粗粒及び微粒を除去し、平均粒子径45μmのMnフェライト粒子を得た。得られたフェライト粒子を酸化処理(大気雰囲気下、450℃×1.5時間)した。
得られたフェライト粒子の表面粗さ、飽和磁化σs、帯電性、X線回折を実施例1と同様にして測定した。結果を表1に示す。
Al2O3粉を添加せず、焼成工程における酸素濃度を0.03%とした以外は、実施例1と同様にして焼成物を得た。得られた焼成物を粉砕処理した後、篩を用いて粗粒及び微粒を除去し、平均粒子径45μmのMnフェライト粒子を得た。
得られたフェライト粒子の表面粗さ、飽和磁化σs、帯電性、X線回折を実施例1と同様にして測定した。結果を表1に示す。
Al2O3粉を添加せず、焼成工程における焼成温度を1150℃とし、酸素濃度を0.03%とした以外は、実施例1と同様にして焼成物を得た。得られた焼成物を粉砕処理した後、篩を用いて粗粒及び微粒を除去し、平均粒子径45μmのMnフェライト粒子を得た。
得られたフェライト粒子の表面粗さ、飽和磁化σs、帯電性、X線回折を実施例1と同様にして測定した。結果を表1に示す。
Al2O3粉を添加せず、焼成工程における焼成温度を1200℃とし、酸素濃度を0.03%とした以外は、実施例1と同様にして焼成物を得た。得られた焼成物を粉砕処理した後、篩を用いて粗粒及び微粒を除去し、平均粒子径45μmのMnフェライト粒子を得た。
得られたフェライト粒子の表面粗さ、飽和磁化σs、帯電性、X線回折を実施例1と同様にして測定した。結果を表1に示す。
2 感光体ドラム
3 電圧印加電源
11 磁気スリーブ
12 マグネットロール
13 磁性粒子
Claims (5)
- 一般式MnxFe3−xO4(但し、0<x≦1)で表される材料を主成分とし、磁気ブラシ帯電に用いられるフェライト粒子であって、
粒子の表面粗さが0.4〜0.6μmの範囲で、飽和磁化が60emu/g以上であり、
X線回折で得られるFe2O3とMnFe2O4とのピーク強度比の、粉砕前と粉砕後の差が絶対値で0.015以下で、
Alが固溶されていることを特徴とするフェライト粒子。 - Alが、Al換算で0.2〜2.0重量%固溶している請求項1記載のフェライト粒子。
- 印加電圧1000Vのときの電気抵抗値が1.0×106〜9.0×108Ωの範囲である請求項1又は2記載のフェライト粒子。
- 一般式MnxFe3−xO4(但し、0≦x≦1)で表わされる組成のフェライト粒子が生成するように成分調整されたFe原料とMn原料、及びAl原料を媒体液中で混合してスラリーを得る工程と、前記スラリーを噴霧乾燥させて造粒物を得る工程と、酸素濃度が1.0〜1.7%の範囲で前記造粒物を焼成して焼成物を得る工程とを有することを特徴とする磁気ブラシ帯電用のフェライト粒子の製造方法。
- Al原料の添加量が、Al換算で0.2〜2.0重量%の範囲である請求項4記載のフェライト粒子の製造方法。
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