JP5507053B2 - 距離測定装置 - Google Patents
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Description
図1は、本発明の実施の第1の形態に係る距離測定装置10の電気的構成を示すブロック図である。この距離測定装置10は、大略的に、対を成す発光装置20と受光装置30とを備えて構成され、それぞれのタイミング信号発生回路25,35で発生されたタイミング信号が駆動回路26,36に与えられて駆動信号が作成され、LEDアレイなどの発光素子27およびCCDアレイセンサなどの受光素子37に与えられて、発光装置20からは予め定めるタイミングで変調光信号が測定対象物15に放射され、受光装置30では前記測定対象物15による反射光を予め定める複数の期間に分割して受光し、評価演算回路38が、各期間の受光量から発光と受光との時間差(Time of Flight)を求め、前記測定対象物15までの距離を測定するものである。
図2は、本発明の実施の第2の形態に係る距離測定装置11の電気的構成を示すブロック図である。この距離測定装置11は、前述の距離測定装置10に類似し、対応する部分には同一の参照符号を付して示し、その説明を省略する。注目すべきは、この距離測定装置11では、前記遅延時間調整回路28が、発光装置21側から受光装置31側に置換えられていることである。したがって、前記遅延時間調整回路28の入力極性は、前記図1とは逆極性とされる。
図3は、本発明の実施の第3の形態に係る距離測定装置12の電気的構成を示すブロック図である。この距離測定装置12は、前述の距離測定装置11に類似し、対応する部分には同一の参照符号を付して示し、その説明を省略する。注目すべきは、本実施の形態では、受光装置32において、タイミング信号発生回路45が、発振回路42と、その発振信号を分周する分周回路43と、分周信号から前記タイミング信号を生成するタイミング信号生成回路44とを備えて構成され、それに対応して前記固定遅延回路39を、前記発振信号に同期して(高速の発振信号をクロック信号として)、予め定める固定の時間だけ遅延させて前記タイミング信号として前記遅延時間調整回路28に入力する同期型遅延回路49で構成することである。前記同期型遅延回路49は、フリップフロップやラッチ回路およびこれらによって構成されるレジスタ等の能動素子から成る。対で用いられる発光装置21は、前記距離測定装置11と同一である。本実施の形態でも、タイミング信号発生回路25がタイミング信号発生回路45と同じ構成であれば、前記距離測定装置10のように、同期型遅延回路49が発光装置21側に設けられてもよい。
図4は、本発明の実施の第4の形態に係る距離測定装置13の電気的構成を示すブロック図である。この距離測定装置13は、前述の距離測定装置12に類似し、対応する部分には同一の参照符号を付して示し、その説明を省略する。注目すべきは、本実施の形態では、受光装置33において、前記タイミング信号発生回路45と遅延時間調整回路28との間に介在される同期型遅延回路59が、複数段縦続接続されるシフトレジスタまたはフリップフロップ(図4では3段の遅延回路51〜53で示す)と、各段の入出力に設けられる取出し部の内、いずれか1つからの出力を取出して前記遅延時間調整回路28に与える選択回路54とを備えて構成されることである。たとえば、該距離測定装置13の出荷調整時において、前記フィードバックループの固定遅延量(DC成分)が測定され、その測定結果が図示しない制御回路に入力され、実使用時には前記制御回路から前記測定結果に対応した選択信号が前記選択回路54に与えられて前記固定遅延量(DC成分)に対応した遅延時間が選択される。或いは、前記測定結果に対応して、前記選択回路54に接続されているディップスイッチなどが切換えられて、前記選択信号とされる。なお、前記固定遅延量(DC成分)は不変を前提としているが、経年に応じて適宜選択信号で切換えて、校正を行うようにしてもよい。
図5は、本発明の実施の第5の形態に係る距離測定装置14の電気的構成を示すブロック図である。この距離測定装置11で前述の距離測定装置10に類似し、対応する部分には同一の参照符号を付して示し、その説明を省略する。注目すべきは、この距離測定装置14では、固定遅延回路29が、受光装置34側から発光装置24側に置換えられていることである。したがって、発光装置24側は発光素子27に関する構成が単体(1チャネル)であるのに対して、受光装置34側は前述のように受光素子に関する構成が、たとえば6〜12チャネルであり、前記固定遅延回路29および遅延時間調整回路28を発光装置24側に設けることで、制御回路や信号線を簡略化することができる。なお、相対的に遅延の大きい発光装置24側に前記固定遅延回路29および遅延時間調整回路28を設けると、その発光装置24側の前記タイミング信号を1または複数の周期遅れでフィードバック制御を行うことになるが、前記タイミング信号は周期信号で問題はない。
15 測定対象物
19 位相比較回路
20,21,24 発光装置
25,35,45 タイミング信号発生回路
26,36 駆動回路
27 発光素子
28 遅延時間調整回路
29,39 固定遅延回路
30,31,32,33,34 受光装置
37 受光素子
38 評価演算回路
40 セレクタ
42 発振回路
43 分周回路
44 タイミング信号生成回路
49,59 同期型遅延回路
51〜53 遅延回路
54 選択回路
Claims (4)
- 発光装置と受光装置とを備えて構成され、少なくとも一方に設けられたタイミング信号発生回路で発生されたタイミング信号がそれぞれの駆動回路に与えられて駆動信号が作成され、その駆動信号が発光素子および受光素子に与えられて、前記発光装置からは予め定めるタイミングで変調光信号が測定対象物に放射され、前記受光装置では前記測定対象物による反射光を予め定める複数の期間に分割して受光し、評価演算回路が、前記各期間の受光量から発光と受光との時間差を求め、前記測定対象物までの距離情報を測定する距離測定装置において、
前記発光装置と前記受光装置との一方の側における前記タイミング信号発生回路と前記駆動回路との間に介在され、前記タイミング信号を予め定める固定の時間だけ遅延させる固定遅延回路と、
前記発光装置と前記受光装置との一方の側のタイミング信号または駆動信号と、他方の側のタイミング信号または駆動信号とが入力され、それら2つの入力信号間の位相差の量に対応したエラー信号を出力する位相比較回路と、
前記発光装置と前記受光装置との一方の側における駆動回路の前段に介在され、前記エラー信号に応答して前記タイミング信号のタイミングを調整し、前記2つの入力信号の位相を同期させる遅延時間調整回路とを備えることを特徴とする距離測定装置。 - 前記タイミング信号発生回路が、発振回路と、その発振信号を分周して前記タイミング信号を生成する分周回路とを備えて成り、
前記固定遅延回路は、前記発振信号を取込み、前記分周回路により生成された前記タイミング信号を、前記発振信号に基づいて前記予め定める固定の時間だけ遅延させる能動素子から成ることを特徴とする請求項1記載の距離測定装置。 - 前記能動素子は複数段縦続接続されて成り、
任意の段に設けられる取出し部の内、いずれか1つからの出力を取出すことにより、前記固定遅延回路による前記タイミング信号の遅延時間を切替可能な選択回路をさらに備えることを特徴とする請求項2記載の距離測定装置。 - 前記固定遅延回路および遅延時間調整回路は、発光装置に設けられることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の距離測定装置。
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---|---|---|---|---|
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US8760631B2 (en) * | 2010-01-27 | 2014-06-24 | Intersil Americas Inc. | Distance sensing by IQ domain differentiation of time of flight (TOF) measurements |
JP5350328B2 (ja) * | 2010-06-10 | 2013-11-27 | 株式会社京三製作所 | 距離センサ及び制御方法 |
JP5350331B2 (ja) * | 2010-06-15 | 2013-11-27 | 株式会社京三製作所 | 距離センサ |
JP5936401B2 (ja) * | 2012-03-21 | 2016-06-22 | 本田技研工業株式会社 | 測距システム |
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JP6059441B2 (ja) * | 2012-03-21 | 2017-01-11 | 本田技研工業株式会社 | 測距システム |
JP5936405B2 (ja) * | 2012-03-23 | 2016-06-22 | 本田技研工業株式会社 | 測距システム |
US10054675B2 (en) * | 2014-10-24 | 2018-08-21 | Analog Devices, Inc. | Active compensation for phase alignment errors in time-of-flight cameras |
JP6609980B2 (ja) * | 2015-04-30 | 2019-11-27 | 株式会社デンソー | 光飛行時間測定装置及び光学的測距装置 |
EP3647884B1 (en) * | 2017-06-30 | 2022-04-13 | SZ DJI Technology Co., Ltd. | Circuit, method and related chip for time measurement, system, and device |
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JP2020094849A (ja) * | 2018-12-11 | 2020-06-18 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 光検出装置及び測距装置 |
WO2020129947A1 (ja) * | 2018-12-18 | 2020-06-25 | パナソニックセミコンダクターソリューションズ株式会社 | Dll回路、時間差増幅回路及び測距撮像装置 |
WO2021181857A1 (ja) * | 2020-03-11 | 2021-09-16 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 遅延補正回路および駆動回路 |
Family Cites Families (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5931070U (ja) * | 1982-08-20 | 1984-02-27 | 富士光機株式会社 | 光波距離計 |
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JP2518064B2 (ja) * | 1989-10-27 | 1996-07-24 | 日本電気株式会社 | レ―ザ測距装置 |
JP2721574B2 (ja) * | 1990-03-15 | 1998-03-04 | 松下電工株式会社 | 光学式変位センサー |
JP2721575B2 (ja) * | 1990-03-15 | 1998-03-04 | 松下電工株式会社 | 光学式変位センサー |
JP2606600Y2 (ja) * | 1993-05-24 | 2000-11-27 | 株式会社ニコン | 光波測距装置 |
JPH09318735A (ja) * | 1996-05-30 | 1997-12-12 | Denso Corp | 距離測定装置 |
JPH09318736A (ja) * | 1996-05-30 | 1997-12-12 | Denso Corp | 距離測定装置 |
JPH1031072A (ja) * | 1996-07-12 | 1998-02-03 | Hamamatsu Photonics Kk | 光測距装置 |
US6052190A (en) * | 1997-09-09 | 2000-04-18 | Utoptics, Inc. | Highly accurate three-dimensional surface digitizing system and methods |
US6055287A (en) * | 1998-05-26 | 2000-04-25 | Mcewan; Thomas E. | Phase-comparator-less delay locked loop |
JP3849324B2 (ja) * | 1998-11-02 | 2006-11-22 | 株式会社デンソー | 距離測定装置 |
JP3654090B2 (ja) * | 1999-10-26 | 2005-06-02 | 松下電工株式会社 | 距離計測方法およびその装置 |
JP4391661B2 (ja) * | 2000-03-28 | 2009-12-24 | Hoya株式会社 | 3次元画像検出装置 |
JP2001275132A (ja) * | 2000-03-28 | 2001-10-05 | Asahi Optical Co Ltd | 3次元画像検出装置と撮像素子駆動回路 |
JP2001349788A (ja) * | 2000-06-12 | 2001-12-21 | Daisei Yagami | パルス光伝播時間計測装置 |
JP2004053250A (ja) * | 2000-12-27 | 2004-02-19 | Nikon Corp | 発光タイミング検出方法、発光タイミング検出装置、及び測距装置 |
JP4200328B2 (ja) * | 2005-04-18 | 2008-12-24 | パナソニック電工株式会社 | 空間情報検出システム |
KR100957084B1 (ko) * | 2006-10-18 | 2010-05-13 | 파나소닉 전공 주식회사 | 공간 정보 검출 장치 |
JP2009038517A (ja) * | 2007-07-31 | 2009-02-19 | Panasonic Electric Works Co Ltd | 駆動回路 |
JP4971744B2 (ja) * | 2006-10-18 | 2012-07-11 | パナソニック株式会社 | 強度変調光を用いた空間情報検出装置 |
JP5552215B2 (ja) * | 2008-03-27 | 2014-07-16 | パナソニック株式会社 | 発光装置およびそれを用いる空間情報検出装置 |
-
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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Publication number | Publication date |
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