JP2518064B2 - レ―ザ測距装置 - Google Patents
レ―ザ測距装置Info
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- JP2518064B2 JP2518064B2 JP1281287A JP28128789A JP2518064B2 JP 2518064 B2 JP2518064 B2 JP 2518064B2 JP 1281287 A JP1281287 A JP 1281287A JP 28128789 A JP28128789 A JP 28128789A JP 2518064 B2 JP2518064 B2 JP 2518064B2
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- JP
- Japan
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- circuit
- clock
- semiconductor laser
- generation circuit
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明はレーザ測距装置に関し、特にパルスレーザ光
を用いた測距装置に関する。
を用いた測距装置に関する。
［従来の技術］ 従来、この種のレーザ測距装置は、強いピークパワー
を持つパルスレーザ光を発生させ、それを目標に照射し
て目標からの反射光を検出し、レーザを照射した時と反
射光が戻ってくるまでの時間をカウンタを用いて計測し
ている。
を持つパルスレーザ光を発生させ、それを目標に照射し
て目標からの反射光を検出し、レーザを照射した時と反
射光が戻ってくるまでの時間をカウンタを用いて計測し
ている。
［発明が解決しようとする課題］ 上述した従来のレーザ測距装置は、駆動信号からのパ
ルスレーザ光の立ち上がり時間の不安定性によるカウン
タのワンクロック誤差および測定用のクロック周波数に
より制限され、距離分解能が5m程度しかとれないという
欠点がある。
ルスレーザ光の立ち上がり時間の不安定性によるカウン
タのワンクロック誤差および測定用のクロック周波数に
より制限され、距離分解能が5m程度しかとれないという
欠点がある。
［課題を解決するための手段］ 本発明のレーザ測距装置は、パルスレーザ光を発振す
る半導体レーザと、半導体レーザの駆動信号を発生する
パルス発生回路と、半導体レーザから送出されて目標に
より反射されたパルスレーザ光を検出する光検出回路
と、クロックを発生するクロック発生回路と、クロック
発生回路からのクロックをカウントして表示するカウン
タ表示器と、光検出回路からの検出信号の入力によりク
ロックのカウンタ表示器への入力を制御するゲート回路
とを備えたレーザ測距装置において、パルス発生回路と
半導体レーザとの間に駆動信号に任意の遅延を与える可
変ディレイ回路を設けたことを特徴とする。
る半導体レーザと、半導体レーザの駆動信号を発生する
パルス発生回路と、半導体レーザから送出されて目標に
より反射されたパルスレーザ光を検出する光検出回路
と、クロックを発生するクロック発生回路と、クロック
発生回路からのクロックをカウントして表示するカウン
タ表示器と、光検出回路からの検出信号の入力によりク
ロックのカウンタ表示器への入力を制御するゲート回路
とを備えたレーザ測距装置において、パルス発生回路と
半導体レーザとの間に駆動信号に任意の遅延を与える可
変ディレイ回路を設けたことを特徴とする。
［実施例］ 本発明について図面を参照して説明する。
第１図は本発明の一実施例のブロック図である。パル
ス発生回路１より可変ディレイ回路２にディレイ値を出
力した後、トリガ信号を出力する。可変ディレイ回路２
からの出力は駆動回路４に入り、半導体レーザ５を駆動
してパルスレーザ光を発生させる。
ス発生回路１より可変ディレイ回路２にディレイ値を出
力した後、トリガ信号を出力する。可変ディレイ回路２
からの出力は駆動回路４に入り、半導体レーザ５を駆動
してパルスレーザ光を発生させる。
パルスレーザ光は送光光学系６を透して目標７に照射
される。そして、目標７から反射されたパルスレーザ光
は受光光学系８とを透して光検出回路９に入力される。
される。そして、目標７から反射されたパルスレーザ光
は受光光学系８とを透して光検出回路９に入力される。
パルス発生回路１からのトリガ信号は半導体レーザ５
におけるパルスレーザ光の立ち上がり時間を見込んだ一
定の遅延を生じさせる固定ディレイ回路３を通してゲー
ト回路10に入力され、この入力によってクロック発生器
11のクロック出力をカウンタ表示部12に通過させる。
におけるパルスレーザ光の立ち上がり時間を見込んだ一
定の遅延を生じさせる固定ディレイ回路３を通してゲー
ト回路10に入力され、この入力によってクロック発生器
11のクロック出力をカウンタ表示部12に通過させる。
次に、光検出回路９からの出力がゲート回路10に入る
と、クロック発生器11のクロック出力はカウンタ表示器
12へ通過しなくなる。従ってゲート回路10に固定ディレ
イ回路３の出力が入力されてから光検出回路９の出力が
入力されるまでの間のカウント値がカウンタ表示器12に
表示される。
と、クロック発生器11のクロック出力はカウンタ表示器
12へ通過しなくなる。従ってゲート回路10に固定ディレ
イ回路３の出力が入力されてから光検出回路９の出力が
入力されるまでの間のカウント値がカウンタ表示器12に
表示される。
第２図は本発明の一実施例の動作を示すタイミングチ
ャートである。
ャートである。
同図（ａ）はクロック発生回路11の出力信号であり、
同図（ｂ）は固定ディレイ回路３の出力信号である。同
図（ｃ）〜（ｌ）はカウンタ表示器12へ入力されるゲー
ト回路10の出力であり、可変ディレイ回路２のディレイ
値をロックタイミングＴの10分の１すなわちT/10時間ず
つ変化させた時の波形である。波形（ｃ）〜（ｌ）の実
線は目標７までの距離が例えば100mの時の波形であり、
波線は102.5mの時の波形である。
同図（ｂ）は固定ディレイ回路３の出力信号である。同
図（ｃ）〜（ｌ）はカウンタ表示器12へ入力されるゲー
ト回路10の出力であり、可変ディレイ回路２のディレイ
値をロックタイミングＴの10分の１すなわちT/10時間ず
つ変化させた時の波形である。波形（ｃ）〜（ｌ）の実
線は目標７までの距離が例えば100mの時の波形であり、
波線は102.5mの時の波形である。
また、図中の“・”は光検出回路９からゲート回路10
への入力タイミングを示している。
への入力タイミングを示している。
基本のカウンタ数は従来と同様に5m単位であるが、波
形（ｃ）〜（ｌ）から判るようにディレイ値をT/10時間
ずつ変化させて10回測定し、カウンタ表示器12にて加算
表示することにより0.5m単位で表示することが可能であ
る。
形（ｃ）〜（ｌ）から判るようにディレイ値をT/10時間
ずつ変化させて10回測定し、カウンタ表示器12にて加算
表示することにより0.5m単位で表示することが可能であ
る。
［発明の効果］ 以上説明したように本発明は、可変ディレイ回路を用
いて半導体レーザからのパルスレーザ光の発生時刻を細
かく変化させなから数回連続して測定することにより、
測距用のクロック周波数により制限される距離分解能を
より更に細かい距離分解能が得られるという効果があ
る。
いて半導体レーザからのパルスレーザ光の発生時刻を細
かく変化させなから数回連続して測定することにより、
測距用のクロック周波数により制限される距離分解能を
より更に細かい距離分解能が得られるという効果があ
る。
第１図は本発明のレーザ測距装置の一実施例を示すブロ
ック図、第２図はその動作を示すタイミングチャートで
ある。 １……パルス発生回路、 ２……可変ディレイ回路、 ３……固定ディレイ回路、 ４……駆動回路、 ５……半導体レーザ、 ６……送光光学系、 ７……目標、 ８……受光光学系、 ９……光検出回路、 10……ゲート回路、 11……クロック発生回路、 12……カウンタ表示器。
ック図、第２図はその動作を示すタイミングチャートで
ある。 １……パルス発生回路、 ２……可変ディレイ回路、 ３……固定ディレイ回路、 ４……駆動回路、 ５……半導体レーザ、 ６……送光光学系、 ７……目標、 ８……受光光学系、 ９……光検出回路、 10……ゲート回路、 11……クロック発生回路、 12……カウンタ表示器。
Claims (1)
- 【請求項１】パルスレーザ光を発振する半導体レーザ
と、半導体レーザの駆動信号を発生するパルス発生回路
と、半導体レーザから送出されて目標により反射された
パルスレーザ光を検出する光検出回路と、クロックを発
生するクロック発生回路と、クロック発生回路からのク
ロックをカウントして表示するカウンタ表示器と、光検
出回路からの検出信号の入力によりクロックのカウンタ
表示器への入力を制御するゲート回路とを備えたレーザ
測距装置において、パルス発生回路と半導体レーザとの
間に駆動信号に任意の遅延を与える可変ディレイ回路を
設けたことを特徴とするレーザ測距装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1281287A JP2518064B2 (ja) | 1989-10-27 | 1989-10-27 | レ―ザ測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1281287A JP2518064B2 (ja) | 1989-10-27 | 1989-10-27 | レ―ザ測距装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03142397A JPH03142397A (ja) | 1991-06-18 |
| JP2518064B2 true JP2518064B2 (ja) | 1996-07-24 |
Family
ID=17636968
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1281287A Expired - Lifetime JP2518064B2 (ja) | 1989-10-27 | 1989-10-27 | レ―ザ測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2518064B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002181934A (ja) * | 2000-12-15 | 2002-06-26 | Nikon Corp | 計時装置、計時方法、及び測距装置 |
| JP5507053B2 (ja) * | 2008-03-27 | 2014-05-28 | パナソニック株式会社 | 距離測定装置 |
| JP5552215B2 (ja) * | 2008-03-27 | 2014-07-16 | パナソニック株式会社 | 発光装置およびそれを用いる空間情報検出装置 |
-
1989
- 1989-10-27 JP JP1281287A patent/JP2518064B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03142397A (ja) | 1991-06-18 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
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