JP2896782B2 - パルス方式の光波距離計 - Google Patents

パルス方式の光波距離計

Info

Publication number
JP2896782B2
JP2896782B2 JP63335282A JP33528288A JP2896782B2 JP 2896782 B2 JP2896782 B2 JP 2896782B2 JP 63335282 A JP63335282 A JP 63335282A JP 33528288 A JP33528288 A JP 33528288A JP 2896782 B2 JP2896782 B2 JP 2896782B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
pulse
signal
optical path
pulsed
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP63335282A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH02181689A (ja
Inventor
政裕 大石
文夫 大友
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TOPUKON KK
Original Assignee
TOPUKON KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by TOPUKON KK filed Critical TOPUKON KK
Priority to JP63335282A priority Critical patent/JP2896782B2/ja
Priority to US07/453,904 priority patent/US5054911A/en
Publication of JPH02181689A publication Critical patent/JPH02181689A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2896782B2 publication Critical patent/JP2896782B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/481—Constructional features, e.g. arrangements of optical elements
    • G01S7/4818—Constructional features, e.g. arrangements of optical elements using optical fibres
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/026—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by measuring distance between sensor and object
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
    • G01S17/06—Systems determining position data of a target
    • G01S17/08—Systems determining position data of a target for measuring distance only
    • G01S17/10—Systems determining position data of a target for measuring distance only using transmission of interrupted, pulse-modulated waves
    • G01S17/14—Systems determining position data of a target for measuring distance only using transmission of interrupted, pulse-modulated waves wherein a voltage or current pulse is initiated and terminated in accordance with the pulse transmission and echo reception respectively, e.g. using counters

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 本発明は光パルスの反射往復時間を測定し、装置本体
と目標物との間の距離を算出するための光波距離計に係
わり、特に、ドリフトの影響を除去することのできるパ
ルス方式の光波距離計に関するものである。
「従来の技術」 従来のパルス方式の光波距離計は、光パルスが光波距
離計本体からコーナーキューブまでを往復する時間を測
定し、該装置本体とコーナーキューブ間の距離を計測し
ていた。ところが、光の速度が極めて高速であるため、
直接往復時間を測定するには高度の技術が必要であっ
た。そこで、光波距離計本体内部に参照用光路を設け、
内部の電気信号による基準から受光までの時間を、内部
参照用光路と外部測距光路のそれぞれについて計測し、
外部測距光路による測定値から、内部参照光路による測
定値を減ずることにより、反射往復時間を決定し、前記
装置本体とコーナーキューブまでの距離を測定してい
た。即ち、内部参照光路による測定値を減ずることによ
り、光波距離計の内部で生じる不安定要素を除去する様
に構成されていた。そして、この光路の切り替えには、
機械的な光路切り替え手段である光チョッパーが採用さ
れていた。（例えば、本出願人による特願昭63−161893
号） 「発明が解決しようとする課題」 しかしながら、上記従来型のパルス方式の光波距離計
では、外部測距光路の測定と内部測距光路の測定には、
電気的な基準信号から実際に発光素子が光パルスを発光
するまでの時間が含まれていた。この基準信号から発光
までの時間には、 （Ａ）基準信号発生から発光素子ドライブ回路までの遅
延時間及びドリフト （Ｂ）発光素子ドライブ回路の遅延時間及びドリフト （Ｃ）発光素子の応答時間及びドリフト 等の要素が考えられる。これらの要素は、外部測距光路
での測定値から内部参照光路での測定値を減ずることに
より減少させることが可能である。しかしながら従来の
光波距離計では、機械的な光路切り替え手段であるチョ
ッパーを採用していたので、切り替え時間を要し、切り
替え回数が増加すると測定時間も増加してしまうという
問題点があった。また、チョッパーの切り替え周波数
は、数Hzに設定する必要があり、内部測距光路と外部測
距光路との測定に時間差が生じ、前記ドリフトの影響を
少なくすることができないという問題点があった。
「課題を解決するための手段」 本発明は上記課題に鑑み案出されたもので、内部光路
と外部光路とを有する光波距離計において、パルス的に
発光する光源部と、前記光源部からのパルス光を測定対
象物を経由して受光部に導く外部光路と、前記光源部か
らの光を測定対象物を経由させずに受光部に導く内部光
路と、内部光路を経由した第１パルス光及び外部光路を
経由した第２パルス光とを受光し、１つの出力信号を形
成する受光部と、前記受光部の出力信号のうち互いに近
接にある第１パルス光信号と第２パルス光信号との時間
差に基づき、距離を算出するための算出部とを有し、前
記外部光路中に、前記第１パルス光と前記第２パルス光
とが分離できる程度の遅延を第２パルス光に与えるため
の遅延手段を設けたことを特徴としている。
また本発明の受光部は、前記光源部から発光して内部
光路及び外部光路を経由した両方の光を常に受光して１
つの出力信号を形成し、前記算出部は、前記第１パルス
光信号及び前記第２パルス光信号の時間差に基づき距離
を算出する請求項１記載のパルス方式の光波距離計。
そして本発明は、内部光路と外部光路とを有する光波
距離計において、周期的にパルスを発光する光源部と、
前記光源部からのパルス光を測定対象物を経由して受光
部に導く外部光路と、前記光源部からの光を測定対象物
を経由させずに受光部に導く内部光路と、内部光路を経
由した第１パルス光及び外部光路を経由した第２パルス
光とを受光し、前記第１パルス光に対応した第１パルス
光信号と前記第２パルス光に対応した第２パルス光信号
とを形成する受光部と、前記第１パルス光信号に応じて
第１周期信号を、前記第２信号に応じて第２周期信号を
一部分ずつ交互に形成する周期信号形成部と、前記第１
周期信号と前記第２周期信号との位相差に基づき、距離
を算出する算出部とを有し、前記外部光路中に、前記第
１パルス光と前記第２パルス光とが分離できる程度の遅
延を第２パルス光に与えるための遅延手段を設けたこと
を特徴としている。
更に本発明は、前記光源部の発光周期と僅かに異なる
周期の基準信号を形成する基準信号形成部とを有し、前
記周期信号形成部は、前記第１パルス光信号のタイミン
グで前記基準信号をサンプリングして第１周期信号を形
成し、前記第２パルス光信号のタイミングで前記基準信
号をサンプリングして第２周期信号を形成する構成にす
ることもできる。
そして本発明の周期信号形成部は、前記第１パルス光
信号を受けこれと同期した第１周期信号を、前記第２パ
ルス光信号を受けこれと同期した第２周期信号を形成す
る構成にすることもできる。
また本発明の遅延手段は、光ファイバーにより形成す
る構成にすることもできる。
「発明の実施の形態」 以上の様に構成された本発明は、内部光路と外部光路
とを有する光波距離計であって、光源部がパルス的に発
光し、外部光路が、光源部からのパルス光を測定対象物
を経由して受光部に導き、内部光路が、光源部からの光
を測定対象物を経由させずに受光部に導き、受光部が、
内部光路を経由した第１パルス光及び外部光路を経由し
た第２パルス光とを受光して１つの出力信号を形成し、
算出部が、受光部の出力信号のうち互いに近傍にある第
１パルス光信号と第２パルス光信号との時間差に基づ
き、距離を算出する様になっており、遅延手段が、外部
光路中に、第１パルス光と第２パルス光とが分離できる
程度の遅延を第２パルス光に与える様になっている。
また本発明の受光部が、光源部から発光して内部光路
及び外部光路を経由した両方の光を常に受光して１つの
出力信号を形成し、算出部が、第１パルス光信号及び第
２パルス光信号の時間差に基づき距離を算出することも
できる。
そして本発明は、光源部が周期的にパルスを発光し、
外部光路が、光源部からのパルス光を測定対象物を経由
して受光部に導き、内部光路が、光源部からの光を測定
対象物を経由させずに受光部に導き、受光部が、内部光
路を経由した第１パルス光及び外部光路を経由した第２
パルス光とを受光し、第１パルス光に対応した第１パル
ス光信号と第２パルス光に対応した第２パルス光信号と
を形成し、算出部が、第１パルス光信号に応じて第１周
期信号を、第２パルス光信号に応じて第２周期信号を一
部分ずつ交互に形成する周期信号形成部と、第１周期信
号と第２周期信号との位相差に基づき、距離を算出する
様になっており、遅延手段が、外部光路中に、第１パル
ス光と第２パルス光とが分離できる程度の遅延を第２パ
ルス光に与える様になっている。
更に本発明は、基準信号形成部が、光源部の発光周期
と僅かに異なる周期の基準信号を形成し、周期信号形成
部は、第１パルス光信号のタイミングで基準信号をサン
プリングして第１周期信号を形成し、第２パルス光信号
のタイミングで基準信号をサンプリングして第２周期信
号を形成することもできる。
そして本発明の周期信号形成部は、第１パルス光信号
を受けこれと同期した第１周期信号を形成し、第２パル
ス光信号を受けこれと同期した第２周期信号を形成する
こともできる。
また本発明の遅延手段は、光ファイバーにより形成す
ることもできる。
「実施例」 本発明の実施例を図面に基いて説明すると、第１図
は、本実施例である光波距離計の光学系を示すものであ
り、第２図は受光手段で受信された信号を示すものであ
る。
第１図に示す様に、本実施例の光波距離計は、レーザ
ダイオード１と、レンズ２、３、４と、ビームスプリッ
タ５と、内部光路用光ファイバー６と、受光素子７と、
遅延用光ファイバー８と、プリズム９と、レンズ10とか
ら構成されている。そして、コーナキューブ11は、光波
距離計本体から離れた位置に配置される目標物であり、
光パルスを反射する機能を有している。
レーザダイオード１は、パルスレーザダイオードであ
って、比較的大きなピークパワーを持ち、デューティ比
が0.01％程度のパルス波を発生させることができる。ビ
ームスプリッタ５は光束を分割させるものである。受光
素子７はレーザダイオード１から発射されたパルス光線
を受光できる素子であれば足りる。遅延用光ファイバー
８は、光信号の遅延手段の１つである。なお、この遅延
用光ファイバー８は、GIファイバを採用することが望ま
しい。
以上の様に構成された本光学系において、レーザダイ
オード１から発射された光パルスは、レンズ２によって
平行光束とされ、ビームスプリッタ５によって２つの光
束に分割される。このビームスプリッタ５によって反射
された光束は、レンズ３によって集光され、内部光路用
光ファイバ６を進行する。即ち、光パルスが、内部光路
用光ファイバ６を経由して受光素子７で受光される内部
参照光路が構成される。そして、光パルスが受光素子７
で電気信号に変換される。一方、ビームスプリッタ５を
透過する光束は、レンズ４によって集光され、遅延用光
ファイバ８を進行する。この遅延用光ファイバ８で遅延
された光束は、プリズム９で反射され、レンズ10を通過
して光波距離計本体から発射される。そして、測定位置
に配置されたコーナキューブ11で反射された光パルス
が、レンズ10を通過し、プリズム９で反射されて受光素
子７で受光される外部測距光路が構成される。そして、
光パルスが受光素子７で電気信号に変換される。
本実施例では、外部測距光路に遅延用光ファイバ８が
挿入されているので、この遅延用光ファイバ８によって
光パルスが遅延される時間を、光パルス幅より長く設定
することにより、内部参照光パルスと外部測距光パルス
を受光素子７上で時間的に分離することができる。第２
図に示す様に、２つのパルス時間差tmは、 tm＝tL＋tF−tS ・・・・（１） ここで、tL:光パルスが、光波距離計本体からコーナ
ーキューブ11を往復する時間 tF:光パルスが、外部測距光路のうち、本体
内部を通過する時間 tS:光パルスが、内部参照光路を通過する時
間 と表すことができる。
tF、tSは既知の値であるので、 tL＝tm−tF＋tS ・・・・（２） となり、光波距離計本体とコーナーキューブ11との距離
Ｌは、 Ｌ＝（1/2）×tL×Ｃ ・・・・（３） ここで、Ｃは光速である。
として求めることができる。
即ち、第２図に示す様に、内部の電気信号を基準に測
定することなく、内部参照光路の光パルス（ａ）を基準
信号として用いることができる。
次に、内部参照光路の光パルス（ａ）を基準とした光
測距を具体的な数値を用いて説明する。ここで、光パル
スの幅を50nsecとすると、内部参照光路の光パルスを分
離するための遅延時間は100nsec程度あればよい。従っ
て、本体内部の外部測距光路のうち遅延用光ファイバ８
を除いた部分の長さと、内部参照光路の長さを無視する
と、遅延用光ファイバ８の長さιは次の様になる。
ι＝Ｃ×100nsec×（1/n） ＝３×108×100×10-9×（1/1.5） ＝20m C:光速 n:ファイバーの屈折率 となる。そして、測距距離の増加に伴い、内部参照光路
の光パルスと外部測距光路の光パルスの受信時間の差は
大きくなる。例えば、測距距離を10キロメートルとする
と、時間差tmは、 tm＝（10km/C）×２＋100nsec ≒66.7μsec となる。
この結果、内部参照光路の光パルス（ａ）と外部測距
光路の光パルス（ｂ）の受信の切り替えを、約66.7μse
cで行うのと同等となる。これは、通常の機械的チョッ
パによる数Hzの切り替え周波数と比較すれば、本実施例
は1000倍程度高速な切り替えが実現できる。従って、受
光素子７、アンプ等における受光系のドリフトの影響も
軽減することができる。また、測距距離が長くなるに伴
い、受光系ドリフト軽減の効果は薄れるが、光波距離計
における実用的な測距距離範囲は、数10Km程度であるの
で、十分ドリフト軽減効果を得ることができる。
次に、本実施例の電気系の構成例を第３図に基いて説
明する。なお、パルス方式の光波距離計に関する電気系
の基本的原理説明は、本出願人より出願された２件の特
許出願に詳述されている。（特願昭63−161893号、特願
昭63−161894号） （第１の構成例） 第３図に示す実施例は、遅延用ファイバー８による遅
延時間が、ADコンバータの変換時間より長い場合の構成
例である。本実施例は、水晶発信器100と第１の分周器1
10と第２の分周器120とシンセサイザー130とレーザダイ
オード１とレーザダイオードドライバー140とAPD71とア
ンプ160とパルス検出器170とカウンタ180とバンドパス
フィルタ190とサンプルホールド（S/H）200とADコンバ
ータ300と加算器400とメモリ500とCPU600とから構成さ
れている。
水晶発振器100は、基準信号発生手段の１つであり、1
5MHzの基準信号を発生させている。この基準信号は、第
１の分周器110で1/10000に分周され、更に第２の分周器
120で1/100に分周されて、15Hzが得られる。そして、こ
の15Hzの信号をシンセサイザー130が101倍に逓倍して約
1515Hzの信号を得るようになっている。なお、第１の分
周器110、第２の分周器120、シンセサイザ130の出力信
号は、２値化の信号である。そして、ドライバ140は、
シンセサイザー130の出力信号に従って、レーザダイオ
ード１をパルス的に駆動する。従って、レーザダイオー
ド１は、周期が1/1.515KHzのパルス状の光線を発射す
る。またシンセサイザ130の出力は、カウンタ180とCPU6
00へ送られる。この出力はカウンタ180に対して、カウ
ンタのリセット信号として働き、CPU600に対しては受信
パルスの識別信号として働く様になっている。即ち、シ
ンセサイザ130から一定時間後に受信された受信パルス
が、内部参照光路を経由した受信パルスとして判別さ
れ、その後受信されるパルスが、遅延用ファイバーを経
由した外部測距光パルスとして判別することができる。
レーザーダイオード１から発射された光パルスは、第１
図に示す光学系を通過し、APD71で受光される。このAPD
71は受光素子７の１つであり、pn接合に深いバイアスを
加えてナダレ増倍を誘起させ、利得を得ることのできる
ダイオードである。APD71は、第１図に示す内部参照光
路を通った光パルスと、外部測距光路を通った光パルス
が１組となった第２図の様な光パルスを受光する。APD7
1により光パルスは、電気信号に変換され、アンプ160で
適度に増幅され、パルス検出器170で波形整形されて、
電気的に取扱易い電気信号に加工される。なお、パルス
検出器170から出力された信号は、カウンタ180のスター
ト及びストップ信号として働くことになる。即ち、第２
図に示す内部参照光パルス（ａ）のタイミングがスター
ト信号となり、外部測距光パルス（ｂ）のタイミングが
ストップ信号となる。カウンター180は、スタート信号
からストップ信号の間、水晶発振器100の150MHzのクロ
ックをカウントし、この結果をCPU600に送出する。この
カウントデータは、既知の遅延用ファイバー８の長さを
減じて、粗測定用データとして用いられる。また、パル
ス検出器170の出力は、サンプルホールド200とADコンバ
ータ300にも送出される。まず、第２図に示す内部参照
光パルス（ａ）のタイミングの信号によって、サンプル
ホールドが行われる。即ち、サンプルホールド200が、
バンドパスフィルタ190で正弦波にされた水晶発振器100
の出力信号を、パルス検出器170の出力信号のタイミン
グでホールドする様になっている。そして、ADコンバー
タ300は、サンプルホールド200の出力信号をAD変換する
様に構成されている。また、AD変換が終了すると、ADコ
ンバータ300は、CPU600に対して変換終了信号を出力す
る様になっている。そして、AD変換された信号は、予め
決定されたメモリ500のアドレスに記憶される。続い
て、第２図に示される外部測距光パルス（ｂ）のタイミ
ングの信号で、バンドパスフィルタ190の出力信号はサ
ンプルホールド等が行われる。即ち、内部参照光パルス
（ａ）のタイミングの信号の場合と同様に、サンプルホ
ールド、AD変換が行われ、AD変換されたデータはメモリ
500に記憶される。ここで、AD変換された信号が記憶さ
れるメモリアドレスは、例えば内部参照光パルスについ
て１番地〜Ｎ番地、外部測距光パルスについてＮ＋１番
地〜2N番地と定めることもできる。
以上の動作を、光パルスがｆ＝1515Hzの周波数で発射
される度に繰り返される。なお、内部参照光パルス
（ａ）のタイミングと、外部測距光パルス（ｂ）のタイ
ミングの間で、サンプルホールド、AD変換、メモリ記憶
の動作が行われなければならない。従って、次のような
条件を満足する必要がある。
tF−tS＞tAD＋ｔS/H＋tmemory （５） tAD:AD変換に要する時間 ｔS/H：サンプルホールドICのセトリングタイム tmemory:データをメモリに記憶させるための時間 また、受信されるパルスの組（内部参照光パルスと外
部測距光パルス）と、バンドパスフィルタ190の出力信
号の位相差は、毎回１周期のＮ分の１（N:整数、なお、
本実施例では、Ｎ＝101）となる。従って、Ｎ＝101回で
１周期分の測定となるが、２周期目以降は、得られたデ
ータを加算器400により前回のデータと加算され、１周
期目と同一のアドレスに格納することにより、最終的に
は平均化される。
次に第４図に基いて、受信されるパルスの組を基準と
した時に、各パルスの組と、バンドパスフィルタ190の
出力信号の位置関係を説明する。ここで、位相変化を明
瞭に示すために、Ｎ＝25、50、75、101の時の信号を、
Ｎ＝１と比較できる様に描いてある。また第５図では、
各パルスの組のうち、内部参照光パルス（ａ）のタイミ
ングでサンプルホールドされた信号をＮ＝１から101ま
で表したものであり、同様に、外部測距光パルス（ｂ）
でサンプルホールドされた信号も描いている。従って、
第５図上の点は、AD変換された信号のメモリ500上のデ
ータに相当し、横軸はメモリ500のアドレスに相当す
る。ここで、１周期は の信号となる。
次に、第４図の内部参照光パルス（ａ）信号と、外部
測距光パルス（ｂ）信号との時間差tmは、 ここで、n :整数 tc:水晶発振器100のクロック時間 φ:tc1周期とした時の端数時間を位相で表し
たもの と表すことができる。この時、第（７）式のφと第５図
のθは等しくなる。即ち、第４図での位相差を に拡大したことになる。従って、メモリ500上のデータ
から第５図のθを計算することにより、tmを内挿するこ
とができる。この様にして得られた距離データから、遅
延用光ファイバ８等の長さに相当する長さを減じたもの
を、精密測定値とし、粗測定と組み合わせることにより
求める測距値を得ることができる。
（第２の構成例） 第６図に基いて、遅延用光ファイバー８での遅延時間
が短く、 tF−tS＜tAD＋ｔS/H＋tmemory ・・（９） の条件を満たす場合の構成例を説明する。この実施例の
構成は、第（５）式を満足する場合の実施例である第３
図の構成に、タイミング回路150とゲート155が付加され
ている。従って、他の構成の動作は第３図と同様である
ので、タイミング回路150とゲート155の動作を中心に説
明する。遅延用光ファイバー８の遅延時間が、ADコンバ
ータ300の変換時間より短いので、内部参照光パルス
（ａ）と外部測距光パルス（ｂ）の全てについて、サン
プルホールド、AD変換を行うことはできない。そこで、
以下の様な計測を行う必要がある。シンセサイダー130
の出力信号は、タイミング回路150及びカウンタ180、CP
U600に送出される。この出力信号は、CPU600に対して受
信パルスの識別信号として働き、カウンタ180に対して
はリセット信号として働き、タイミング回路150に対し
てはトリガー信号として作用する。第７図に示す様に、
タイミング回路150の出力信号は、内部参照光パルス
（ａ）と外部測距光パルス（ｂ）による受信信号に対し
てゲート155が交互に開く様な信号を出力する様になっ
ている。即ち、Ｎ＝１の場合には、内部参照光パルス
（ａ）に対してゲート155が開き、Ｎ＝２の場合には、
外部測距光パルス（ｂ）に対してゲート155が開き、Ｎ
＝３の場合には、内部参照光パルス（ａ）に対してゲー
ト155が開く様になっている。即ち、ゲート155は、タイ
ミング回路150の信号により、電気信号がHIGHの間、パ
ルス検出器170の出力をサンプルホールド200、ADコンバ
ータ300に送出する。従って、サンプルホールド200は、
バンドパスフィルタ190の出力信号を、内部参照光パル
ス（ａ）、外部測距光パルス（ｂ）のタイミングに対し
て交互にサンプルホールドする様になっている。即ち、
Ｎ＝１では内部参照光パルス（ａ）のタイミングで、Ｎ
＝２では外部測距光パルス（ｂ）のタイミングで、そし
て、Ｎ＝３では内部測距光パルス（ａ）のタイミングで
サンプルホールドされる。
そして、ADコンバータ300が、サンプルホールド200の
出力をAD変換し、予め指定されたメモリ500のアドレス
上に記憶される。２周期目以降のデータは、加算器400
で加算され、１周期目と対応する同一メモリアドレスに
記憶される様になっている。
次に、第８図に基いてメモリ500上のデータに関して
説明する。第８図の縦軸はメモリ500上のデータであ
り、横軸はメモリ500上のアドレスを表すものである。
第５図と比較すると、Ｎ＝101回のパルスの発射に対し
て、得られるデータは50となっており、約半分になって
いる。これは、ゲート155を交互に開くように構成した
からである。なお、その他の処理は第３図の構成例と同
様である。この様に内部参照光パルス（ａ）と外部測距
パルス（ｂ）を交互にサンプルホールドしても、このパ
ルスは互いに近傍にあり、ドリフトの変化が極めて小さ
く、これに基づいて得られる測定値に与える影響は極め
て小さい。
（第３の構成例） ここで第９図に基いて、遅延用光ファイバ８による遅
延時間が短く、 tF−tS＜tAD＋ｔS/H＋tmemory ・・（９） の条件の場合において、パルスの発射に対して有効にデ
ータを取得することのできる構成例を説明する。この構
成例は、第２の構成例である第６図に、第１、第２のサ
ンプルホールド201、202と第１、第２のADコンバータ30
1、302と切り替え器260とが付加されている。この実施
例は、パルス検出器170から出力された内部参照光パル
ス（ａ）信号と外部測距光パルス（ｂ）信号は、シンセ
サイザ130からの信号により動作するタイミング回路160
により切り替えられる。例えばＮ＝１の時、内部参照光
パルス（ａ）信号が、第１のサンプルホールド201を介
して第１のADコンバータ301に送られ、外部測距光パル
ス（ｂ）信号が、第２のサンプルホールド202を介して
第２のADコンバータ302に送られたとすると、まず、第
１のサンプルホールド201は、内部参照光パルス（ａ）
信号のタイミングでバンドパスフィルタ190の出力信号
をサンプルホールドする。そして、第１のサンプルホー
ルド201の出力信号は、第１のADコンバータ301に出力さ
れ、AD変換される。この時、切り替え器260は、第１のA
Dコンバータ301の出力であるAD変換データ信号とAD変換
終了信号が選択されており、AD変換終了信号はCPU600に
送出され、AD変換データ信号はメモリ500に送信する様
に構成されてる。そして、このデータ信号は、あらかじ
め指定されたアドレスに格納される。次に、切り替え器
260は、第２のADコンバータ302を選択する。この時、外
部測距光パルス（ｂ）信号が受信されており、第２のAD
コンバータ302がAD変換を終了していれば、そのデータ
はメモリ500上のあらかじめ指定されたアドレスに格納
される。また、この時、外部測距光パルス（ｂ）信号が
受光されていない時には、第２のADコンバータ302がAD
変換を完了するのを待ち、AD変換終了信号が発信された
後、データはメモリ500上のあらかじめ指定されたアド
レスに格納される。次の光パルスの組であるＮ＝２の時
には、内部参照光パルス（ａ）信号が、第２のサンプル
ホールド202を介して第２のADコンバータ302に送出され
る。そして、外部測距光パルス光パルス（ｂ）信号が、
第１のサンプルホールド201を介して第１のADコンバー
タ301に送出される。従って、受光された光パルス信号
に対して、第１のサンプルホールド201、第１のADコン
バータ301の組合せと、第２のサンプルホールド202、第
２のADコンバータ302の組合せを交互に選択することに
より、第１、２のサンプルホールド201、202と第１、第
２のADコンバータ301、302が有する電気的特性上のバラ
ツキによる誤差及びドリフトを除去することができる。
なお、メモリ500に蓄えられたデータは第１の構成例
（第３図）と同様に取り扱われる。
（第４の構成例） 次に、受信パルスによりPLL（フェーズロックルー
プ）を構成することにより、パルスの時間間隔を測定す
る実施例を第10図に基いて説明する。このPLLを採用し
た光波距離計の原理は本出願人によって出願された遅延
時間測定装置（特願昭63−161894号）に詳述されてい
る。
この構成例は第１の構成例に、概算用水晶発振器101
と第１、第２、第３の分周器111、112、113と第１、第
２のミキサー211、212と第１、第２のローパスフィルタ
221、222と第１、第２のコンパレータ231、232と第１、
第２の位相検出器241、242と第１、第２のVCO251、252
と切り替え器260と位相比較器270等とが付加されてい
る。ここで、第１、第２のVCOは電圧制御発振器であ
る。従って、第１の位相検出回路241と第１のローパス
フィルタ221と第１のVCO251と第２の分周器112とで第１
のPLLが構成されることになる。同様に、第２の位相検
出回路242と第２のローパスフィルタ222と第２のVCO252
と第３の分周器113とで第２のPLLが構成されることにな
る。
水晶発振器100からの15MHzの信号が第１の分周器111
に送出され、第１の分周器111の出力信号である3KHzが
レーザダイオードドライバ140に送られる。分周器111の
出力は、カウンタ180及びCPU600へも送られ、カウンタ1
80に対してはカウンタのリセット信号として働き、CPU6
00に対しては受信パルスの識別信号として作用する様に
なっている。レーザダイオードドライバ140は、第１の
分周器111の出力信号のタイミングでレーザダイオード
１を駆動する。このレーザダイオード１はパルスレーザ
ダイオードであり、発射された光パルスは、第１図の光
学系を通過しAPD71で受光される。APD71では、内部参照
光パルス（ａ）と外部測距光パルス（ｂ）が第２図に示
されるタイミングで受光される。そして、アンプ160で
適度に増幅され、パルス検出器170で波形整形される。
パルス検出器170の出力信号は、内部参照光パルス
（ａ）がスタート信号になり、外部測距光パルス（ｂ）
がストップ信号となる様になっており、これらの信号に
より、カウンタ180が作動する。スタート信号からスト
ップ信号までの間、概算測定用水晶発振器101のクロッ
クをカウントする様になっており、この概算測定用デー
タをCPU600に送信する様になっている。そして、パルス
検出器170の出力は、切り替え器260で分離され第１のPL
Lと第２のPLLの２つのPLL回路に出力される様になって
いる。
１回目の測定として、内部参照光パルス（ａ）のタイ
ミングのパルスが、第１の位相検出器241、第１のロー
パスフィルタ221、第１のVCO251、第２の分周器112から
構成される第１のPLLに入力される。そして、外部測距
光パルス（ｂ）のタイミングのパルスが、第２の位相検
出器242、第２のローパスフィルタ222、第２のVCO252、
第３の分周器113から構成されている第２のPLLに入力さ
れる。第１のPLLは、内部参照光パルス（ａ）信号に対
して同期がかかる様に動作し、第１のVCO251の出力は、
第１のミキサー211により、水晶発振器100からの信号と
混合検波される。そして、検波後の出力信号は、第１の
バンドパスフィルタ51で基本波が切り出され、第１のコ
ンパレータ231により、3KHzの矩形波にされる。第２のP
LLは、第２のVCO252、第２のミキサー212、第２のバン
ドパスフィルタ52、第２のコンパレータ232が、外部測
距光パルス（ｂ）に対して、第１のPLLと同様に動作
し、第２のコンパレータ232が、3KHzの矩形波を出力す
る様になっている。
第１のPLLに接続されたコンパレータ231と、第２のPL
Lに接続されたコンパレータ232との位相差は、内部参照
光パルス（ａ）信号と外部測距光パルス（ｂ）信号との
時間差に対応する。位相比較器270は、この位相差を水
晶発振器100のクロックでカウントし、そのデータをCPU
600に送出する様になっている。そして、CPU600では、
カウンタ180による粗測定値と、位相比較器からの精密
測定値とを合成し、遅延用光ファイバ８等による遅延分
を減じた測定値を演算する。
２回目の測定は、内部参照光パルス（ａ）のタイミン
グのパルスが、第２のPLLに送出され、外部測距光パル
ス（ｂ）のタイミングのパルスが、第１のPLLに入力さ
れる。以下は、第１回目の測定と同様の測定が行われ
る。従って、測距データは、１回目の測定と２回目の測
定を平均したものとなる。この様にPLL回路を交互に切
り替えることにより、PLL、ミキサー、バンドパスフィ
ルタ、コンパレータ等の電気的特性のバラツキによる誤
差、及びドリフトを相殺することができる。
次に、温度変化等に対する考慮に関して、若干説明す
る。遅延用光ファイバ８に温度補償用サーミスタ700を
取り付けた実施例を第11図に基づいて説明する。ここ
で、光ファイバに用いられる石英、ガラス、アクリルの
熱膨張係数は、以下の様である。
石英 5.5×10-7/℃ ガラス 100×10-7/℃ アクリル ８×10-5/℃ 以上の様に、遅延用光ファイバ８が長い場合には、温
度変化により遅延用光ファイバ８の長さが変化する可能
性がある。この場合には、測定データに影響を与えるの
で、サーミスタ700で得られた温度データを使用して、
遅延用光ファイバ８の長さの変化を計算し、データの値
の補償を行うことができる。
次に、複数の内部参照光路を設けることにより、遅延
用光ファイバ８の温度特性を補償する実施例を第12図に
基づいて説明する。
第１の内部参照光路810は、前述の様に、光波距離計
の内部に発生した電気的ドリフトを除去する目的で設け
られている。第２の内部参照光路820は、遅延用光ファ
イバ８の温度特性を補償するためのものである。レーザ
ダイオード１から発射された光パルスは、レンズ21によ
って平行光束とされ、ビームスプリッタ51により２つの
光束に分けられる。一方の光束は、レンズ31により内部
光路用光ファイバ61へ集光され、レンズ32によって平行
光束とされ、ビームスプリッタ52で反射され、レンズ22
によりAPD71で受光される様になっており、この光路が
第１内部参照光路810となる。他方の光路は、レンズ41
により遅延用光ファイバ８に集光される光路であり、こ
の遅延用光ファイバ８内で光パルスが遅延される。そし
て、遅延用光ファイバ８から出た光パルスは、チョッパ
830により、２つの光路に切り替えられる。即ち、チョ
ッパ830後の光路の一方は、内部のミラー840により反射
され、内部光路用光ファイバ62に集光され、更に、レン
ズ42で平行光束となり、ビームスプリッタ52を通過した
後、レンズ22により集光されてAPD71に至る光路であ
り、第２の内部参照光路820を構成する。他方の光路
は、プリズム９で反射され、レンズ10をから光波距離計
本体外部へ発射され、コーナーキューブ11で反射された
後、再びレンズ10を通過し、プリズム９で反射され、更
に、内部光路用光ファイバ62に入射し、レンズ42、ビー
ムスプリッタ52、レンズ22を通過し、APD71に至る光路
であり、外部測距光路850を構成する。
測定は、まず、チョッパ830が、第２の内部参照光路8
20を選択した状態で行われる。APD71は、まず、第１の
内部参照光路810の光パルスが受信され、次に、第２の
内部参照光路820の光パルスが受信される。この状態で
得られた測定値をL1とする。次に、チョッパ830が外部
参照光路850を選択した状態で測定を行う。この状態で
得られた測定値をL2とすれば、光波距離計本体からコー
ナーキューブ11までの距離Ｌは、 Ｌ＝L2−L1 と表すことができる。
なお、遅延用光ファイバ８の温度による変化は、時間
に対して緩やかであり、機械的チョッパの切り替え周波
数（数Hz程度）で十分に除去が可能である。
以上の様に構成された本実施例は、内部参照光パルス
（ａ）を基準信号として用いるので、従来の光波距離計
の様に内部電気信号を基準に測定する必要がない。従っ
て、この内部基準信号から発光素子ドライブ回路の遅延
時間によるドリフト、発光素子のドライブ回路の遅延時
間によるドリフト、発光素子の応答時間のドリフト等に
よる影響を根本的に取り除くことができる。この場合に
は遅延用光ファイバ８を、内部参照光路又は外部測距光
路の何れか一方に挿入すればよい。
なお、遅延用光ファイバ８を外部測距光路に挿入した
場合には、光波距離計本体とコーナキューブ11とが近接
し、外部測距光路が短くなった場合でも、内部参照光路
の光パルスと、外部測距光路の光パルスが重なることが
ないという効果がある。
ここで本明細書における第１パルス光は、内部光路を
経由する光パルスであり、本実施例の内部参照光パルス
に該当するものである。また、第２パルス光は、外部光
路を経由する光パルスであり、本実施例の外部測距光パ
ルスに該当するものである。
更に、第１パルス光信号は、第１パルス光を受光部で
電気信号に変換されたものであり、本実施例の内部参照
光パルス（ａ）信号に該当するものである。また、第２
パルス光信号は、第２パルス光を受光部で電気信号に変
換されたものであり、本実施例の外部測距光パルス
（ｂ）信号に該当するものである。
「効果」 以上の様に構成された本発明は、内部光路と外部光路
とを有する光波距離計において、パルス的に発光する光
源部と、前記光源部からのパルス光を測定対象物を経由
して受光部に導く外部光路と、前記光源部からの光を測
定対象物を経由させずに受光部に導く内部光路と、内部
光路を経由した第１パルス光及び外部光路を経由した第
２パルス光とを受光し、１つの出力信号を形成する受光
部と、前記受光部の出力信号のうち互いに近接にある第
１パルス光信号と第２パルス光信号との時間差に基づ
き、距離を算出するための算出部とを有し、前記外部光
路中に、前記第１パルス光信号と前記第２パルス光信号
とが分離できる程度の遅延を第２パルス光に与えるため
の遅延手段を設けたので、第１パルス光と第２パルス光
とを分離可能とし、より近距離の測定も可能となるとい
う卓越した効果がある。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の実施例を示すもので、第１図は本実施例の
光波距離計の構成を示す図であり、第２図は内部参照光
パルスと外部測距光パルスを説明する図、第３図は第１
の構成例の構成を示す図、第４図はパルスの組とバンド
パスフィルタの出力信号の位置関係を示す図、第５図は
光パルスでサンプルホールドされた信号を表す図、第６
図は第２の構成例の構成を示す図、第７図はタイミング
回路とゲートの関係を示す図、第８図は第２の構成例に
おけるメモリ上のデータを表す図、第９図は第３の構成
例の構成を示す図、第10図は第４の構成例の構成を説明
する図、第11図は温度補償用サーミスタを取り付けた光
波距離計を説明する図であり、第12図は複数の内部参照
光路を設けることにより、温度補償を行う光波距離計の
実施例である。 １……レーザーダイオード、２……レンズ ３……レンズ、４……レンズ ５……ビームスプリッタ ６……内部参照光路用光ファイバ、 ７……受光素子、８……遅延用光ファイバ ９……プリズム、10……レンズ 11……コーナーキューブ 100……水晶発振器 110……第１の分周器 120……第２の分周器 130……シンセサイザー 170……パルス検出器 190……バンドパスフィルタ 200……サンプルホールド 300……ADコンバータ 400……加算器 500……メモリ 600……CPU
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭59−60271（ＪＰ，Ａ) 特開 昭57−12379（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−85489（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−63885（ＪＰ，Ａ) 特公 昭63−21877（ＪＰ，Ｂ２) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01S 7/00 - 17/95 G04F 10/04

Claims (6)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】内部光路と外部光路とを有する光波距離計
    において、パルス的に発光する光源部と、前記光源部か
    らのパルス光を測定対象物を経由して受光部に導く外部
    光路と、前記光源部からの光を測定対象物を経由させず
    に受光部に導く内部光路と、内部光路を経由した第１パ
    ルス光及び外部光路を経由した第２パルス光とを受光
    し、１つの出力信号を形成する受光部と、前記受光部の
    出力信号のうち互いに近接にある第１パルス光信号と第
    ２パルス光信号との時間差に基づき、距離を算出するた
    めの算出部とを有し、前記外部光路中に、前記第１パル
    ス光と前記第２パルス光とが分離できる程度の遅延を第
    ２パルス光に与えるための遅延手段を設けたことを特徴
    とするパルス方式の光波距離計。
  2. 【請求項２】前記受光部は、前記光源部から発光して内
    部光路及び外部光路を経由した両方の光を常に受光して
    １つの出力信号を形成し、前記算出部は、前記第１パル
    ス光信号及び前記第２パルス光信号の時間差に基づき距
    離を算出する請求項１記載のパルス方式の光波距離計。
  3. 【請求項３】内部光路と外部光路とを有する光波距離計
    において、周期的にパルスを発光する光源部と、前記光
    源部からのパルス光を測定対象物を経由して受光部に導
    く外部光路と、前記光源部からの光を測定対象物を経由
    させずに受光部に導く内部光路と、内部光路を経由した
    第１パルス光及び外部光路を経由した第２パルス光とを
    受光し、前記第１パルス光に対応した第１パルス光信号
    と前記第２パルス光に対応した第２パルス光信号とを形
    成する受光部と、前記第１パルス光信号に応じて第１周
    期信号を、前記第２パルス光信号に応じて第２周期信号
    を一部分ずつ交互に形成する周期信号形成部と、前記第
    １周期信号と前記第２周期信号との位相差に基づき、距
    離を算出する算出部とを有し、前記外部光路中に、前記
    第１パルス光と前記第２パルス光とが分離できる程度の
    遅延を第２パルス光に与えるための遅延手段を設けたこ
    とを特徴とするパルス方式の光波距離計。
  4. 【請求項４】請求項３記載のパルス方式の光波距離計に
    おいて、更に、前記光源部の発光周期と僅かに異なる周
    期の基準信号を形成する基準信号形成部を有し、前記周
    期信号形成部は、前記第１パルス光信号のタイミングで
    前記基準信号をサンプリングして第１周期信号を形成
    し、前記第２パルス光信号のタイミングで前記基準信号
    をサンプリングして第２周期信号を形成するパルス方式
    の光波距離計。
  5. 【請求項５】前記周期信号形成部は前記第１パルス光信
    号を受けこれと同期した第１周期信号を、前記第２パル
    ス光信号を受けこれと同期した第２周期信号を形成する
    請求項３記載のパルス方式の光波距離計。
  6. 【請求項６】前記遅延手段は、光ファイバーにより形成
    されている請求項１又は３記載のパルス方式の光波距離
    計。
JP63335282A 1988-12-30 1988-12-30 パルス方式の光波距離計 Expired - Lifetime JP2896782B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63335282A JP2896782B2 (ja) 1988-12-30 1988-12-30 パルス方式の光波距離計
US07/453,904 US5054911A (en) 1988-12-30 1989-12-20 Light wave distance measuring instrument of the pulse type

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63335282A JP2896782B2 (ja) 1988-12-30 1988-12-30 パルス方式の光波距離計

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH02181689A JPH02181689A (ja) 1990-07-16
JP2896782B2 true JP2896782B2 (ja) 1999-05-31

Family

ID=18286773

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63335282A Expired - Lifetime JP2896782B2 (ja) 1988-12-30 1988-12-30 パルス方式の光波距離計

Country Status (2)

Country Link
US (1) US5054911A (ja)
JP (1) JP2896782B2 (ja)

Families Citing this family (42)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4002356C2 (de) * 1990-01-26 1996-10-17 Sick Optik Elektronik Erwin Abstandsmeßgerät
US5321490A (en) * 1992-11-23 1994-06-14 Schwartz Electro-Optics, Inc. Active near-field object sensor and method employing object classification techniques
US5319434A (en) * 1992-12-30 1994-06-07 Litton Systems, Inc. Laser rangefinder apparatus with fiber optic interface
JP2941593B2 (ja) * 1993-03-02 1999-08-25 三菱電機株式会社 距離測定装置
JP3120202B2 (ja) * 1993-11-18 2000-12-25 株式会社トプコン パルス方式の光波距離計
FR2730818B1 (fr) * 1995-02-17 1997-04-30 Sopelem Sofretec Telemetre laser a effet larsen comportant notamment une optique unique d'emission et de reception
US5572517A (en) * 1995-02-28 1996-11-05 General Instrument Corporation Configurable hybrid medium access control for cable metropolitan area networks
IL117221A0 (en) * 1995-02-28 1996-06-18 Gen Instrument Corp Configurable hybrid medium access control for cable metropolitan area networks
WO1998023972A1 (fr) * 1996-11-26 1998-06-04 Precilaser Metre a utilisation d'une diode laser pour mesures de precision
DE19704340A1 (de) * 1997-02-05 1998-08-06 Sick Ag Entfernungsmesser
JPH10227857A (ja) * 1997-02-14 1998-08-25 Nikon Corp 光波測距装置
JP4491661B2 (ja) * 1999-11-17 2010-06-30 株式会社トプコン 光波距離計
US6717656B2 (en) * 2000-01-20 2004-04-06 Asian Optical Co. Ltd. Method and apparatus of a laser range detector
EP1150097A1 (de) * 2000-04-26 2001-10-31 Leica Geosystems AG Optischer Entfernungsmesser
WO2002084327A2 (en) * 2001-04-10 2002-10-24 Faro Technologies, Inc. Chopper-stabilized absolute distance meter
WO2003089948A2 (en) * 2002-04-15 2003-10-30 Toolz, Ltd. Constructing a waveform from multiple threshold samples
US6829042B1 (en) * 2002-06-10 2004-12-07 Matsushita Electric Works, Ltd. Distance measuring apparatus and method using a pulsed electromagnetic wave
US8560512B2 (en) * 2002-07-18 2013-10-15 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Finding matching locations, trajectories or attributes while maintaining privacy of non-matching information
US7030365B2 (en) * 2004-04-15 2006-04-18 Eaton Corporation Emitter-detector assembly for a reflex photoelectric object detection system
JP2006133214A (ja) * 2004-10-04 2006-05-25 Topcon Corp 時間差測定装置および測定方法並びに測距装置および測距方法
JP4761751B2 (ja) * 2004-10-06 2011-08-31 株式会社トプコン 距離測定装置
DE102004060619A1 (de) * 2004-12-16 2006-07-06 Hilti Ag Laserdistanzhandmessgerät mit einem Impulsrückmischverfahren
DE102005045993B4 (de) * 2005-07-29 2008-11-13 Gerd Reime Verfahren zur Lichtlaufzeitmessung
US7511800B2 (en) * 2005-11-28 2009-03-31 Robert Bosch Company Limited Distance measurement device with short range optics
US7384819B2 (en) * 2006-04-28 2008-06-10 Freescale Semiconductor, Inc. Method of forming stackable package
JP4260852B2 (ja) * 2006-05-24 2009-04-30 シャープ株式会社 光学式測距装置およびその製造方法
DE102007011417A1 (de) * 2007-03-08 2008-09-11 Siemens Ag Vorrichtung und Verfahren zur Entfernungsbestimmung
KR20100053753A (ko) * 2008-11-13 2010-05-24 주식회사 오투런 중량추 블록 분리장치 및 이를 이용한 운동량 산출장치
JP5683782B2 (ja) * 2008-12-25 2015-03-11 株式会社トプコン 距離測定装置及び距離測定方法
CN102822693B (zh) * 2010-01-06 2014-09-10 美萨影像股份公司 具有分隔像素和存储阵列的解调传感器
DE102012101881B4 (de) * 2012-03-06 2013-11-21 Softing Ag Verfahren zur Bestimmung der Topologie eines seriellen asynchronen Datenbusses
US9470520B2 (en) 2013-03-14 2016-10-18 Apparate International C.V. LiDAR scanner
US10203399B2 (en) 2013-11-12 2019-02-12 Big Sky Financial Corporation Methods and apparatus for array based LiDAR systems with reduced interference
CN106463565B (zh) * 2013-11-22 2018-06-01 优步技术公司 激光雷达扫描仪校准
US9360554B2 (en) 2014-04-11 2016-06-07 Facet Technology Corp. Methods and apparatus for object detection and identification in a multiple detector lidar array
US10036801B2 (en) 2015-03-05 2018-07-31 Big Sky Financial Corporation Methods and apparatus for increased precision and improved range in a multiple detector LiDAR array
US9866816B2 (en) 2016-03-03 2018-01-09 4D Intellectual Properties, Llc Methods and apparatus for an active pulsed 4D camera for image acquisition and analysis
KR20180012059A (ko) * 2016-07-26 2018-02-05 삼성전자주식회사 라이다 장치 및 거리 측정 방법
US10436910B2 (en) * 2016-09-20 2019-10-08 Apple Inc. Line scan depth sensor comparing a time dependent waveform of the signals to an expected waveform
JP2020085815A (ja) * 2018-11-30 2020-06-04 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 時間計測装置
JP7427417B2 (ja) * 2019-10-25 2024-02-05 キヤノン株式会社 光電変換装置、光電変換システム、移動体、光電変換装置の検査方法
CN110954918A (zh) * 2019-12-06 2020-04-03 北京石头世纪科技股份有限公司 脉冲测距装置和方法、以及具有该装置的自动清洁设备

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3752582A (en) * 1971-01-27 1973-08-14 Bendix Corp Optical range and range-rate sensor
US4068952A (en) * 1976-07-23 1978-01-17 Hughes Aircraft Company Range testing system having simulated optical targets
JPS56132580A (en) * 1980-03-10 1981-10-16 Tokyo Optical Co Ltd Light wave rangemeter
JPS5712379A (en) * 1980-06-26 1982-01-22 Nippon Kogaku Kk <Nikon> Phase comparator of optical wave distance measuring device
JPS5838880A (ja) * 1981-08-31 1983-03-07 Tokyo Optical Co Ltd 光波距離計
JPS58174874A (ja) * 1982-04-08 1983-10-13 Tokyo Optical Co Ltd 光波測距方法及びその装置
US4621107A (en) * 1982-08-12 1986-11-04 Lagow Richard J Fluorinated elastomeric materials
JPS5960271A (ja) * 1982-09-29 1984-04-06 Nissan Motor Co Ltd 光レ−ダ装置
DE3540157A1 (de) * 1985-11-13 1987-05-21 Messerschmitt Boelkow Blohm Verfahren und vorrichtung zur entfernungsmessung

Also Published As

Publication number Publication date
JPH02181689A (ja) 1990-07-16
US5054911A (en) 1991-10-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2896782B2 (ja) パルス方式の光波距離計
JP2909742B2 (ja) 遅延時間測定装置
US7339655B2 (en) Electric optical distance wavelength meter
US7777865B2 (en) Time difference measuring device, measuring method, distance measuring device, and distance measuring method
JP4793675B2 (ja) 距離測定装置
JP2016161411A (ja) 光波距離計
JPH11506825A (ja) 光ビーム距離計
GB1235905A (en) Improvements in or relating to distance measurement systems
JP3583906B2 (ja) 光学式距離計
JP2016169985A (ja) 光波距離計
JP3089332B2 (ja) 光波距離計
JP4617434B2 (ja) 距離測定装置
JPH05232232A (ja) 位相測定装置及び距離測定装置
JP3141119B2 (ja) パルス信号検出装置及び光波距離計
JP2020034438A (ja) 光波距離計及び光波距離計測方法
JP3285270B2 (ja) 位置測定装置
JPH05323029A (ja) 光波距離計による測距方法
JP3236941B2 (ja) 光波距離計における測距方法
JPH04214690A (ja) 発振器及びこの発振器を利用した光周波数測定装置
JPH08105971A (ja) マルチパルスによる測距方法とその装置
JP7252783B2 (ja) 距離測定装置
JP6609360B2 (ja) 光波距離計
JPH06289137A (ja) 光学式距離計
JP2903220B2 (ja) 光波距離計における測距方法
JP3284279B2 (ja) 位相測定装置と距離測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080312

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090312

Year of fee payment: 10

EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090312

Year of fee payment: 10