JP5428642B2 - 半導体レーザ駆動装置、及び半導体レーザ駆動装置を用いた画像形成装置 - Google Patents

半導体レーザ駆動装置、及び半導体レーザ駆動装置を用いた画像形成装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5428642B2
JP5428642B2 JP2009192353A JP2009192353A JP5428642B2 JP 5428642 B2 JP5428642 B2 JP 5428642B2 JP 2009192353 A JP2009192353 A JP 2009192353A JP 2009192353 A JP2009192353 A JP 2009192353A JP 5428642 B2 JP5428642 B2 JP 5428642B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor laser
current
driving device
laser driving
drive
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2009192353A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2011044604A (ja
Inventor
智彦 釜谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to JP2009192353A priority Critical patent/JP5428642B2/ja
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to KR1020127001410A priority patent/KR101371112B1/ko
Priority to CA2770058A priority patent/CA2770058C/en
Priority to CN201080036559XA priority patent/CN102549857A/zh
Priority to EP10809814.6A priority patent/EP2467907B1/en
Priority to PCT/JP2010/062286 priority patent/WO2011021469A1/en
Priority to US13/386,463 priority patent/US8804784B2/en
Publication of JP2011044604A publication Critical patent/JP2011044604A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5428642B2 publication Critical patent/JP5428642B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/068Stabilisation of laser output parameters
    • H01S5/06825Protecting the laser, e.g. during switch-on/off, detection of malfunctioning or degradation
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G15/00Apparatus for electrographic processes using a charge pattern
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06KGRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K15/00Arrangements for producing a permanent visual presentation of the output data, e.g. computer output printers
    • G06K15/02Arrangements for producing a permanent visual presentation of the output data, e.g. computer output printers using printers
    • G06K15/12Arrangements for producing a permanent visual presentation of the output data, e.g. computer output printers using printers by photographic printing, e.g. by laser printers
    • G06K15/1204Arrangements for producing a permanent visual presentation of the output data, e.g. computer output printers using printers by photographic printing, e.g. by laser printers involving the fast moving of an optical beam in the main scanning direction
    • G06K15/1209Intensity control of the optical beam
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/10Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Description

本発明は、半導体レーザ駆動装置、及び該半導体レーザ駆動装置を用いた画像形成装置に関する。
半導体レーザ(以下、LDと称する。)は他の半導体部品と比較して寿命が短いため、LDの発光制御において、経時劣化を検出してアラームを発し、よってLDに故障が生じる前に交換することが一般的に行われている。
また、LDの劣化を経時的に確認するために、LDに流れる電流を常時モニタする、という方法が採られることもある。例えば、半導体レーザ駆動装置組み立てライン等において、各工程で電流モニタを実施すると、LD劣化の不良が発生した場合にどの工程で発生したのかが即座に明らかになる。これにより、LD劣化の不良の発生を早期に解決できる。
LD劣化検出の従来技術として、例えば、特許文献1の画像形成装置のように、LDと直列に抵抗器Rを接続して電流/電圧変換された電圧を監視する構成が挙げられる。また、特許文献2の光送信器では、LD電流をカレントミラー回路によって生成するのであるが、カレントミラー入力側において抵抗若しくはトランジスタを挿入し、挿入した素子間に流れた電流によりサージ電流を抑制している。更に、特許文献3の画像形成装置でも同様に、LD接続端子に劣化検出回路を挿入して劣化検出を行っている。
しかしながら、特許文献1の画像形成装置のように、LDと直列に抵抗器Rを挿入すると、LDへの出力電流ラインに抵抗負荷及び寄生容量成分等が付き、このことは高速で動作させるLD駆動装置には不利となる。特許文献2の光送信器もカレントミラー入力側に抵抗負荷及び寄生容量成分等が付く。特許文献3の画像形成装置においても、同様にLD出力ラインに負荷を挿入することになる。
また、特許文献1乃至3に共通して、駆動装置のメイン回路に負荷が挿入されるため、負荷の値を容易には操作することができない。例えば、負荷が半導体回路として組み込まれた場合、抵抗のバラつきや素子のバラつき等を踏まえると、そのままでは電流モニタ/検出精度は低くなる。検出精度を高めるためには、制御コントローラ等で電気的で複雑な微調整が必要となり手間がかかることが多い。
本発明は、このような状況に鑑みて為されたものであり、LD出力メイン回路への負荷の挿入を極力抑え、且つ、複雑な外部微調整を必要としない電流モニタ及び過電流検出を行うことのできる半導体レーザ駆動装置を、提供することを目的とする。更に、その半導体レーザ駆動装置を用いた画像形成装置を提供することを目的とする。
本発明は、上記の目的を達成するために為されたものである。本発明に係る半導体レーザ駆動装置は、駆動電流により半導体レーザを駆動する半導体レーザ駆動装置であって、
前記駆動電流の1/αの駆動モニタ電流を出力する駆動電流モニタ端子と、
前記駆動電流モニタ端子に接続され前記駆動モニタ電流を電流/電圧変換する抵抗と、
前記駆動電流モニタ端子が基準電圧に達したことを検出する検出手段と、
前記駆動電流モニタ端子に前記電流電圧変換用抵抗が接続されていないことを検知する抵抗未接続検知手段と
を備え、
前記抵抗未接続検知手段が、前記駆動電流モニタ端子に前記電流電圧変換用抵抗が接続されていないことを検知すると、前記検出手段により前記駆動電流モニタ端子が基準電圧に達しても検出結果が外部へ報知されない
前記抵抗未接続検知手段が、前記駆動電流モニタ端子に前記電流電圧変換用抵抗が接続されていないことを検知すると、前記抵抗未接続検知手段は、スタンバイ状態に成ってもよい。
更に、前記検出手段においてモニタ端子が基準電圧に達したことを検出した際に、直ちに半導体レーザ駆動を停止若しくは減少させる停止手段を備えてもよい。
更に、前記検出手段の結果を外部に報知する報知手段を備えてもよい。
前記検出手段の基準電圧が外部から設定されてもよい。
本発明に係る画像形成装置は、以上のような半導体レーザ駆動装置を用いる画像形成装置である。
本発明を利用することにより、LD出力メイン回路への負荷の挿入を極力抑え、且つ、複雑な外部微調整を必要としない電流モニタ及び過電流検出を行うことのできる半導体レーザ駆動装置を構築することができる。更に、その半導体レーザ駆動装置を用いた画像形成装置を構築することができる。
本発明の第1の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置の概略のブロック図(一部回路図)である。 本発明の第2の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置の概略のブロック図(一部回路図)である。 本発明の第3の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置の概略のブロック図(一部回路図)である。 本発明の第4の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置の概略のブロック図(一部回路図)である。 本発明の第5の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置の概略のブロック図(一部回路図)である。 本発明の第6の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置の概略のブロック図(一部回路図)である。
以下、図面を参照して、本発明に係る好適な実施形態を説明する。
[第1の実施形態]
図1は、本発明の第1の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置2aの概略のブロック図(一部回路図)である。
図1に示す半導体レーザ駆動装置2aは、駆動電流を、スイッチ素子M1、M2により構成されるカレントミラー回路により電流増幅して、負荷(LD)4に流し込む出力駆動電流としている。また、駆動モニタ電流も、同様にして、スイッチ素子M1、M3により構成されるカレントミラー回路から出力されるが、駆動モニタ電流の電流量は、出力駆動電流の1/αとされている。ここで、αが小さければ小さい程、スイッチ素子M1、M2により構成されるカレントミラー回路における負荷(LD)4の装置全体に対する影響が小さくなり、メイン駆動電流出力によるLD4のスピード劣化は鈍化し得る。
駆動モニタ電流がモニタ端子8から出力され、モニタ端子8に抵抗10が接続されることにより、駆動モニタ電流は電圧変換される。このモニタ端子の電圧を画像制御コントローラ回路16等でモニタして駆動電流の経時変化を観測することにより、負荷(LD)4が劣化したことがリアルタイム或いは断続的に確認され得ることになる。
また、モニタ端子8には、過電流検出手段12として電圧比較回路14が接続されている。過電流検出手段12は、電圧比較回路14において、変換後の駆動モニタ電圧と基準電圧とを比較し、その比較結果を出力する。即ち、過電流検出手段12は、変換後の駆動モニタ電圧が基準電圧を超えた場合、過電流が生じたと見なして“エラー値”(ここでは、High値)を出力する。
従って、外部の抵抗10の抵抗値を、半導体レーザ駆動装置2a毎に最適値に設定すれば、過電流検出レベルが簡易に設定され得ることになる。
図1に示す半導体レーザ駆動装置2aのように、出力駆動電流の1/α(α≧1)のモニタ電流を、出力駆動電流とは別系統でモニタ端子8に出力することで、駆動出力メイン回路への負荷(LD)4の影響を極力抑えることができる。さらに、前記モニタ端子8に外部の抵抗10を接続することで電流/電圧変換が可能となり、これにより精度の良い駆動電流モニタ電圧を得ることができる。
更に、前記モニタ端子8の電圧が所定のレベルを超えたことを検出する検出手段12を設けることにより、半導体レーザ駆動装置2aは過電流を検出できる。ここで、抵抗10の抵抗値を直接設定すれば、抵抗値により個別に駆動電流モニタ電圧の範囲を設定することができ、更に過電流検出レベルを設定することができる。
[第2の実施形態]
図2は、本発明の第2の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置2bの概略のブロック図(一部回路図)である。第2の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置2bは、第1の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置2aと略同様のものである。従って、同一部位には同一符号を付して説明を省略し、両者の差異を中心に説明する。
図2に示す第2の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置2bでは、第1の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置2a(図1参照)に加えて、過電流検出手段12の検出結果を外部に報知する外部報知端子8が設けられている。
外部報知端子8に過電流の検出が報知され、更に画像制御コントローラ16等に伝えられることで、負荷(LD)4の駆動に必要以上の電流が流れていることが直ちに検知されることになり、画像制御コントローラ16は負荷駆動制御停止命令の発信等何らかの対処を取ることが可能となる。
[第3の実施形態]
図3は、本発明の第3の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置2cの概略のブロック図(一部回路図)である。第3の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置2cは、第2の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置2bと略同様のものである。従って、同一部位には同一符号を付して説明を省略し、両者の差異を中心に説明する。
図3に示す第3の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置2cでは、第2の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置2b(図2参照)に加えて、過電流検出手段12が過電流を検出すると負荷(LD)4駆動を停止させる停止手段20が駆動装置内部に設けられている。図3に示すように、停止手段20は、過電流検出手段12が“High”を出力するときにスイッチオフとなるように動作する。
第2の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置2b(図2参照)では、外部報知端子8に過電流の検出が報知されると、負荷駆動制御停止等の対処が為されることが可能となるが、それに加えて第3の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置2cでは、瞬間的に過電流が流れた場合に、負荷(LD)4の劣化を防止することが可能となる。
つまり、第3の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置2cは、モニタ端子8の電圧があるレベルを超えたことを検出すると直ちに、出力駆動電流を停止或いは減少させることで、負荷の劣化を防ぐことを可能とする。
[第4の実施形態]
図4は、本発明の第4の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置2dの概略のブロック図(一部回路図)である。第4の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置2dは、第3の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置2cと略同様のものである。従って、同一部位には同一符号を付して説明を省略し、両者の差異を中心に説明する。
図4に示す第4の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置2dでは、第3の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置2c(図3参照)に加えて、モニタ端子8に対して抵抗未接続検出回路が設けられる。ここで、抵抗未接続検出回路は通常、プルアップ(Pull−Up)検出手段22である。つまり、(モニタ端子8に抵抗10が接続されない状態である)モニタ端子8が使用されない状態(場合)では、当該プルアップ検出手段22がオープン(Open)、若しくは、プルアップ(Pull−Up)を示すようにし、このとき過電流検出手段14が過電流を検出しても検出結果が無効化されるようにする。
なお、図4に示すように、プルアップ検出手段22は、モニタ端子8が使用されないプルアップ(Pull−Up)時には“Low”を示し、モニタ端子8が使用される通常時には“High”を示すものとされている。従って、過電流検出手段12の近傍に設けられるAND回路24により、プルアップ検出手段22が“High”を出力し且つ過電流検出手段12が“High”を出力するときに、過電流の検出が、外部報知端子8に報知され同時に画像制御コントローラ16に伝えられ、更に、負荷(LD)4駆動を停止させる停止手段20が動作する。
第4の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置2dでは、モニタ端子8が使用されないときには過電流検出手段12は正常値を出力する。このことにより、過電流検出手段12による誤検出に基づく(装置の)誤動作を防止する。
[第5の実施形態]
図5は、本発明の第5の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置2eの概略のブロック図(一部回路図)である。第5の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置2eは、第4の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置2dと略同様のものである。従って、同一部位には同一符号を付して説明を省略し、両者の差異を中心に説明する。
図5に示す第5の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置2eでは、第4の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置2d(図4参照)に加えて、プルアップ検出手段22の出力する“モニタ端子8に抵抗10が未接続状態であるか否かを示す信号”が、過電流検出手段12に通知される経路が設けられる。
過電流検出手段12は、プルアップ検出手段22から“モニタ端子8に抵抗10が未接続状態であることを示す信号”を受けているときは、スタンバイ状態(即ち、低消費電力状態)に成る。このことにより、装置全体での消費電力が抑えられる。
つまり、第5の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置2eは、抵抗10未接続であることを検出すると過電流検出手段12を停止させることで抵抗未接続時に誤検出を防止すると共に、装置の消費電流を抑えることを可能とする。
[第6の実施形態]
図6は、本発明の第6の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置2fの概略のブロック図(一部回路図)である。第6の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置2fは、第2の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置2b(図2参照)と略同様のものである。従って、同一部位には同一符号を付して説明を省略し、両者の差異を中心に説明する。
図6に示す第6の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置2fでは、第2の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置2b(図2参照)に加えて、基準電圧設定用端子26が設けられる。過電流検出手段12における基準電圧は、基準電圧設定端子26を介して外部から設定されることになる。図6に示すように、画像制御コントローラ16が、基準電圧設定端子26を介して基準電圧を設定するような構成であってもよい。
本発明の第6の実施形態に係る半導体レーザ駆動装置2fでは、基準電圧を外部からコントロールすることで、過電流検出精度をより向上させることができる。
[その他の実施形態]
画像形成装置において以上の半導体レーザ駆動装置を用いることにより、画像形成装置は、LD出力メイン回路への負荷の挿入を極力抑え、且つ、複雑な外部微調整を必要としない電流モニタ及び過電流検出を行うことができる。
2a、2b、2c、2d、2e、2f・・・半導体レーザ駆動装置、4・・・負荷(LD)、8・・・モニタ端子、10・・・モニタ電流/電圧変換用抵抗、12・・・過電流検出手段、14・・・電圧比較回路、16・・・画像制御コントローラ、18・・・外部報知端子、20・・・停止手段、22・・・プルアップ検出手段、24・・・AND回路、26・・・基準電圧設定端子。
特開2000−280522公報 特開平9−289493号公報 特開平8−295048号公報

Claims (6)

  1. 駆動電流により半導体レーザを駆動する半導体レーザ駆動装置において、
    前記駆動電流の1/αの駆動モニタ電流を出力する駆動電流モニタ端子と、
    前記駆動電流モニタ端子に接続され前記駆動モニタ電流を電流/電圧変換する抵抗と、
    前記駆動電流モニタ端子が基準電圧に達したことを検出する検出手段と、
    前記駆動電流モニタ端子に前記電流電圧変換用抵抗が接続されていないことを検知する抵抗未接続検知手段と
    を備え、
    前記抵抗未接続検知手段が、前記駆動電流モニタ端子に前記電流電圧変換用抵抗が接続されていないことを検知すると、前記検出手段により前記駆動電流モニタ端子が基準電圧に達しても検出結果が外部へ報知されないことを特徴とする半導体レーザ駆動回路。
  2. 前記抵抗未接続検知手段が、前記駆動電流モニタ端子に前記電流電圧変換用抵抗が接続されていないことを検知すると、前記抵抗未接続検知手段は、スタンバイ状態に成ることを特徴とする請求項1に記載の半導体レーザ駆動回路。
  3. 更に、前記検出手段においてモニタ端子が基準電圧に達したことを検出した際に、直ちに半導体レーザ駆動を停止若しくは減少させる停止手段を備えることを特徴とする請求項1に記載の半導体レーザ駆動装置。
  4. 更に、前記検出手段の結果を外部に報知する報知手段を
    備えたことを特徴とする請求項1に記載の半導体レーザ駆動装置。
  5. 前記検出手段の基準電圧が外部から設定されることを特徴とする請求項1に記載の半導体レーザ駆動装置。
  6. 請求項1乃至5のうちのいずれか一に記載の半導体レーザ駆動装置を用いる画像形成装置
JP2009192353A 2009-08-21 2009-08-21 半導体レーザ駆動装置、及び半導体レーザ駆動装置を用いた画像形成装置 Expired - Fee Related JP5428642B2 (ja)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009192353A JP5428642B2 (ja) 2009-08-21 2009-08-21 半導体レーザ駆動装置、及び半導体レーザ駆動装置を用いた画像形成装置
CA2770058A CA2770058C (en) 2009-08-21 2010-07-14 Semiconductor laser driving device and image forming apparatus having the semiconductor laser driving device
CN201080036559XA CN102549857A (zh) 2009-08-21 2010-07-14 半导体激光器驱动器件以及具有半导体激光器驱动器件的成像装置
EP10809814.6A EP2467907B1 (en) 2009-08-21 2010-07-14 Semiconductor laser driving device and image forming apparatus having the semiconductor laser driving device
KR1020127001410A KR101371112B1 (ko) 2009-08-21 2010-07-14 반도체 레이저 구동 장치 및 그 반도체 레이저 구동 장치를 구비한 화상 형성 장치
PCT/JP2010/062286 WO2011021469A1 (en) 2009-08-21 2010-07-14 Semiconductor laser driving device and image forming apparatus having the semiconductor laser driving device
US13/386,463 US8804784B2 (en) 2009-08-21 2010-07-14 Semiconductor laser driving device and image forming apparatus having the semiconductor laser driving device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009192353A JP5428642B2 (ja) 2009-08-21 2009-08-21 半導体レーザ駆動装置、及び半導体レーザ駆動装置を用いた画像形成装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011044604A JP2011044604A (ja) 2011-03-03
JP5428642B2 true JP5428642B2 (ja) 2014-02-26

Family

ID=43606924

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009192353A Expired - Fee Related JP5428642B2 (ja) 2009-08-21 2009-08-21 半導体レーザ駆動装置、及び半導体レーザ駆動装置を用いた画像形成装置

Country Status (7)

Country Link
US (1) US8804784B2 (ja)
EP (1) EP2467907B1 (ja)
JP (1) JP5428642B2 (ja)
KR (1) KR101371112B1 (ja)
CN (1) CN102549857A (ja)
CA (1) CA2770058C (ja)
WO (1) WO2011021469A1 (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104184044A (zh) * 2014-08-20 2014-12-03 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种高功率半导体激光器系统及其制备方法
JP2017200384A (ja) * 2016-04-28 2017-11-02 エスアイアイ・セミコンダクタ株式会社 Dcdcコンバータ
JP2017200386A (ja) 2016-04-28 2017-11-02 エスアイアイ・セミコンダクタ株式会社 Dcdcコンバータ
JP2020126947A (ja) * 2019-02-05 2020-08-20 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 光源装置および電子機器
JP2020126946A (ja) * 2019-02-05 2020-08-20 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 光源装置および電子機器

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08295048A (ja) 1995-04-26 1996-11-12 Ricoh Co Ltd 画像形成装置
JPH09289493A (ja) 1996-04-23 1997-11-04 Fujitsu Ltd 光送信器
JP4148485B2 (ja) * 1998-10-05 2008-09-10 キヤノン株式会社 画像形成装置、及び複写機
JP2000280522A (ja) * 1999-03-29 2000-10-10 Canon Inc 画像形成装置
JP2004022744A (ja) * 2002-06-14 2004-01-22 Sumitomo Electric Ind Ltd レーザ光発生部制御回路、および、レーザ光発生部制御方法
JP4217490B2 (ja) * 2003-01-17 2009-02-04 株式会社リコー 半導体レーザ駆動装置、光書き込み装置、画像形成装置及び半導体レーザ駆動方法
JP4471597B2 (ja) * 2003-07-08 2010-06-02 株式会社リコー 半導体レーザ駆動装置及び半導体レーザ駆動装置を使用した画像形成装置
US6956408B2 (en) * 2003-10-02 2005-10-18 Infineon Technologies Ag Drive device for a light-emitting component
JP4570862B2 (ja) * 2003-10-27 2010-10-27 株式会社リコー 半導体レーザ駆動回路
JP2006110801A (ja) * 2004-10-13 2006-04-27 Canon Inc レーザ駆動装置
JP2007073543A (ja) 2005-09-02 2007-03-22 Ricoh Co Ltd 半導体レーザ駆動装置及び半導体レーザ駆動装置を有する画像形成装置
US7664150B2 (en) * 2006-01-24 2010-02-16 Nlight Photonics Corporation Diode laser electrical isolation system
JP4836594B2 (ja) 2006-02-10 2011-12-14 株式会社リコー 半導体レーザ駆動装置及び半導体レーザ駆動装置を有する画像形成装置
JP2008283033A (ja) 2007-05-11 2008-11-20 Ricoh Co Ltd 駆動回路及びその駆動回路を有する電子機器
JP5446223B2 (ja) 2008-11-19 2014-03-19 株式会社リコー 半導体レーザ駆動装置及びその半導体レーザ駆動装置を備えた画像形成装置
JP2011198877A (ja) 2010-03-18 2011-10-06 Ricoh Co Ltd 半導体レーザ駆動装置、該半導体レーザ駆動装置を具備する光走査装置および画像形成装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN102549857A (zh) 2012-07-04
US8804784B2 (en) 2014-08-12
EP2467907A1 (en) 2012-06-27
CA2770058C (en) 2015-06-23
WO2011021469A1 (en) 2011-02-24
KR20120025616A (ko) 2012-03-15
KR101371112B1 (ko) 2014-03-10
EP2467907B1 (en) 2020-11-11
US20120134378A1 (en) 2012-05-31
JP2011044604A (ja) 2011-03-03
EP2467907A4 (en) 2014-08-20
CA2770058A1 (en) 2011-02-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5428642B2 (ja) 半導体レーザ駆動装置、及び半導体レーザ駆動装置を用いた画像形成装置
JP2017050804A (ja) 半導体スイッチの保護回路
JP4811026B2 (ja) 電圧センサの異常検出方法、異常検出装置および電圧センサ
JP2009043784A (ja) レーザダイオード駆動回路およびレーザダイオード駆動方法
JP4993777B2 (ja) VoIPアダプタにおけるACアダプタ誤接続防止装置、及び防止方法
JP5446223B2 (ja) 半導体レーザ駆動装置及びその半導体レーザ駆動装置を備えた画像形成装置
JP2013126361A (ja) 車載用電子制御装置
KR101224523B1 (ko) 멀티 드롭 통신 회로의 데이터 라인 이상 감지회로
JP4859094B2 (ja) 電気装置
JP6182329B2 (ja) 半導体装置
JP5433205B2 (ja) 電子機器
TWI632581B (zh) 固態繼電器的監視模組及具有該監視模組的加熱爐
JP2009003406A (ja) 内視鏡装置
JP2008244024A (ja) レーザー出力断警報の保持システム
JP2014164488A (ja) 制御装置、制御方法、及び制御プログラム
JP5393529B2 (ja) 火炎検出装置
KR101601274B1 (ko) 디스플레이장치
JP5478052B2 (ja) 電子機器
KR101172144B1 (ko) 전력 변환 장치
JP2003229490A (ja) 半導体装置とその電源断検査方法
JP2009136082A (ja) 過電流検出方式
CN115903717A (zh) 带断线监测的数字量输出电路、电路板及监测方法
CN118011261A (zh) 一种多路隔离电源的综合故障诊断电路及方法
JP2011186518A (ja) デジタル出力装置
JP2023014595A (ja) 誤差警告モジュール

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120607

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130226

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130426

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20131105

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20131118

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5428642

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees