JP2000280522A - 画像形成装置 - Google Patents
画像形成装置Info
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- JP2000280522A JP2000280522A JP11086839A JP8683999A JP2000280522A JP 2000280522 A JP2000280522 A JP 2000280522A JP 11086839 A JP11086839 A JP 11086839A JP 8683999 A JP8683999 A JP 8683999A JP 2000280522 A JP2000280522 A JP 2000280522A
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- laser light
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 レーザの発光が不可能になった時点で始めて
レーザの劣化がわかり、この時点でレーザを交換するに
は準備期間を含めてかなりの時間を必要とし、すぐには
交換できない。 【解決手段】 レーザ光源４２の電流を検出する手段
（Ｒ，６５）と、検出された電流と予め設定された基準
電流を比較する手段６５とを備え、検出された電流が基
準電流以上になった時にレーザ光源４２が劣化したこと
を報知する。
レーザの劣化がわかり、この時点でレーザを交換するに
は準備期間を含めてかなりの時間を必要とし、すぐには
交換できない。 【解決手段】 レーザ光源４２の電流を検出する手段
（Ｒ，６５）と、検出された電流と予め設定された基準
電流を比較する手段６５とを備え、検出された電流が基
準電流以上になった時にレーザ光源４２が劣化したこと
を報知する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、複写機、プリン
タ、ファクシミリ等の画像形成装置、特に、記録用レー
ザ光源の劣化の検出方法に関するものである。
タ、ファクシミリ等の画像形成装置、特に、記録用レー
ザ光源の劣化の検出方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図４は従来例の画像形成装置のレーザ駆
動回路を含むレーザ制御装置を示すブロック図である。
まず、図中４４は半導体レーザ４２とそのレーザ光の一
部を検出するＰＤセンサ４１が一体に構成されたレーザ
チップである。また、４５はパルス電流源、４６はオフ
セット電流源、４７はバイアス電流源、５８は画像処理
部、５９は画像処理部５８を含むシステム全体を制御す
るシステムコントローラである。このようなレーザ制御
装置においては、半導体レーザ４２の光をＰＤセンサ４
１で検出し、センサ４１の検出信号に基づいて半導体レ
ーザ４２の光量を一定にする制御を行っている。これ
は、ＡＰＣ（オートパワーコントロール）と呼ばれ、例
えば、レーザビームの主走査方向への走査の１ライン毎
に行っている（ラインＡＰＣという）。
動回路を含むレーザ制御装置を示すブロック図である。
まず、図中４４は半導体レーザ４２とそのレーザ光の一
部を検出するＰＤセンサ４１が一体に構成されたレーザ
チップである。また、４５はパルス電流源、４６はオフ
セット電流源、４７はバイアス電流源、５８は画像処理
部、５９は画像処理部５８を含むシステム全体を制御す
るシステムコントローラである。このようなレーザ制御
装置においては、半導体レーザ４２の光をＰＤセンサ４
１で検出し、センサ４１の検出信号に基づいて半導体レ
ーザ４２の光量を一定にする制御を行っている。これ
は、ＡＰＣ（オートパワーコントロール）と呼ばれ、例
えば、レーザビームの主走査方向への走査の１ライン毎
に行っている（ラインＡＰＣという）。
【０００３】図５はこのラインＡＰＣを行う場合のタイ
ムチャート、図６はレーザ４２の発光特性を示してい
る。図５（ａ）は画像処理部５８から出力されるＤＡＴ
Ａ信号、図５（ｃ）はＢＩＡＳ信号である。まず、画像
処理部５８は主走査方向の１ラインの走査に先立って図
５（ｃ）のように時刻ｔ1 〜ｔ2 間でＢＩＡＳ信号をハ
イレベルとし、レーザ４２のバイアスＡＰＣを行う。即
ち、この時、図６のようにバイアス電流源４７からレー
ザ４２にバイアス電流ＩB が供給されており、この状態
でスイッチ５６をオンし、一定のオフセット電流Ｉ
offsetをレーザ４２に供給してバイアス電流源４７のＡ
ＰＣを行う。オフセット電流を供給するのは図６に示す
ようにレーザ発光領域でＡＰＣを行うためである。
ムチャート、図６はレーザ４２の発光特性を示してい
る。図５（ａ）は画像処理部５８から出力されるＤＡＴ
Ａ信号、図５（ｃ）はＢＩＡＳ信号である。まず、画像
処理部５８は主走査方向の１ラインの走査に先立って図
５（ｃ）のように時刻ｔ1 〜ｔ2 間でＢＩＡＳ信号をハ
イレベルとし、レーザ４２のバイアスＡＰＣを行う。即
ち、この時、図６のようにバイアス電流源４７からレー
ザ４２にバイアス電流ＩB が供給されており、この状態
でスイッチ５６をオンし、一定のオフセット電流Ｉ
offsetをレーザ４２に供給してバイアス電流源４７のＡ
ＰＣを行う。オフセット電流を供給するのは図６に示す
ようにレーザ発光領域でＡＰＣを行うためである。
【０００４】また、バイアス電流は装置の待機時にレー
ザに電流を流す場合があり、バイアスＡＰＣはこのバイ
アス電流を設定するためのものである。この時のＡＰＣ
について説明すると、レーザ４２に前述のように２つの
電流源４６，４７から電流を供給し、レーザ４２を点灯
する。レーザ４２のレーザ光の一部はＰＤセンサ４１で
検出され、ＰＤセンサ４１の光電流はＩ／Ｖ回路（電流
電圧変換器）４９で電圧信号に変換される。一方、画像
処理部５８は図５（ｄ）に示すようにＢＩＡＳ信号に同
期してＢ−Ｓ／Ｈをローレベルとし、Ｓ／Ｈ（サンプル
／ホールド）回路５０によりＩ／Ｖ回路４９の信号をサ
ンプル／ホールドする。
ザに電流を流す場合があり、バイアスＡＰＣはこのバイ
アス電流を設定するためのものである。この時のＡＰＣ
について説明すると、レーザ４２に前述のように２つの
電流源４６，４７から電流を供給し、レーザ４２を点灯
する。レーザ４２のレーザ光の一部はＰＤセンサ４１で
検出され、ＰＤセンサ４１の光電流はＩ／Ｖ回路（電流
電圧変換器）４９で電圧信号に変換される。一方、画像
処理部５８は図５（ｄ）に示すようにＢＩＡＳ信号に同
期してＢ−Ｓ／Ｈをローレベルとし、Ｓ／Ｈ（サンプル
／ホールド）回路５０によりＩ／Ｖ回路４９の信号をサ
ンプル／ホールドする。
【０００５】Ｓ／Ｈ回路５０でホールドされた信号は差
動増幅器５４で電子ＶＲ（ボリューム）５２の基準電圧
Ｒｅｆ２と比較され、その差に応じた信号をバイアス電
流源４７に出力する。バイアス電流源４７のバイアス電
流は差動増幅器５４の出力信号により制御され、バイア
ス電流源４７のバイアス電流は電子ＶＲ５２から与えら
れた基準電圧に相当する目標光量となるように制御され
る。バイアスＡＰＣを完了すると、画像処理部５８は図
５（ｃ），（ｄ）のようにＢＩＡＳ信号をローレベル、
Ｂ−Ｓ／Ｈ信号をハイレベルとし、スイッチ５６をオフ
して電流源４６のオフセット電流を遮断する。この時、
Ｓ／Ｈ回路５０の出力は固定され、図６に示すようにバ
イアス電流源４７からＡＰＣにより設定されたバイアス
電流ＩBがレーザ４２に供給される。
動増幅器５４で電子ＶＲ（ボリューム）５２の基準電圧
Ｒｅｆ２と比較され、その差に応じた信号をバイアス電
流源４７に出力する。バイアス電流源４７のバイアス電
流は差動増幅器５４の出力信号により制御され、バイア
ス電流源４７のバイアス電流は電子ＶＲ５２から与えら
れた基準電圧に相当する目標光量となるように制御され
る。バイアスＡＰＣを完了すると、画像処理部５８は図
５（ｃ），（ｄ）のようにＢＩＡＳ信号をローレベル、
Ｂ−Ｓ／Ｈ信号をハイレベルとし、スイッチ５６をオフ
して電流源４６のオフセット電流を遮断する。この時、
Ｓ／Ｈ回路５０の出力は固定され、図６に示すようにバ
イアス電流源４７からＡＰＣにより設定されたバイアス
電流ＩBがレーザ４２に供給される。
【０００６】次いで、画像処理部５８は図５（ａ），
（ｂ）のように時刻ｔ3 〜ｔ4 間でＤＡＴＡ信号をハイ
レベル、Ｔ−Ｓ／Ｈ信号をローレベルとしてトータルＡ
ＰＣを行う。即ち、スイッチ５７をオンし、パルス電流
源４５からレーザ４２に電流を供給し、レーザ４２の光
量をＰＤセンサ４１で検出する。ＰＤセンサ４１の電流
はＩ／Ｖ回路４９で電圧信号に変換され、Ｓ／Ｈ回路５
１によりＩ／Ｖ回路４９の出力信号をサンプル／ホール
ドする。Ｓ／Ｈ回路５１の出力信号は差動増幅器５５で
電子ＶＲ５２の基準電圧Ｒｅｆ１と比較され、その差に
応じた信号をパルス電流源４５に出力する。
（ｂ）のように時刻ｔ3 〜ｔ4 間でＤＡＴＡ信号をハイ
レベル、Ｔ−Ｓ／Ｈ信号をローレベルとしてトータルＡ
ＰＣを行う。即ち、スイッチ５７をオンし、パルス電流
源４５からレーザ４２に電流を供給し、レーザ４２の光
量をＰＤセンサ４１で検出する。ＰＤセンサ４１の電流
はＩ／Ｖ回路４９で電圧信号に変換され、Ｓ／Ｈ回路５
１によりＩ／Ｖ回路４９の出力信号をサンプル／ホール
ドする。Ｓ／Ｈ回路５１の出力信号は差動増幅器５５で
電子ＶＲ５２の基準電圧Ｒｅｆ１と比較され、その差に
応じた信号をパルス電流源４５に出力する。
【０００７】パルス電流源４５の電流は差動増幅器５５
の出力信号により制御され、パルス電流源４５の電流は
電子ＶＲ５２の基準電圧に相当する目標光量となるよう
に制御される。このようにしてトータルＡＰＣを行い、
レーザ４２に図６に示すようにバイアスＡＰＣによる電
流ＩB ，トータルＡＰＣによる電流ＩT が供給され、レ
ーザ４２のレーザ光量は目標値ＰOPに制御される。トー
タルＡＰＣを完了すると、画像処理部５８は図５
（ａ），（ｂ）のようにＤＡＴＡ信号をローレベル、Ｔ
−Ｓ／Ｈ信号をハイレベルとし、スイッチ５７をオフし
てパルス電流源４５の電流を遮断する。この時、Ｓ／Ｈ
回路５１の出力は固定され、パルス電流源４５はトータ
ルＡＰＣによるトータル電流ＩT を保持している。
の出力信号により制御され、パルス電流源４５の電流は
電子ＶＲ５２の基準電圧に相当する目標光量となるよう
に制御される。このようにしてトータルＡＰＣを行い、
レーザ４２に図６に示すようにバイアスＡＰＣによる電
流ＩB ，トータルＡＰＣによる電流ＩT が供給され、レ
ーザ４２のレーザ光量は目標値ＰOPに制御される。トー
タルＡＰＣを完了すると、画像処理部５８は図５
（ａ），（ｂ）のようにＤＡＴＡ信号をローレベル、Ｔ
−Ｓ／Ｈ信号をハイレベルとし、スイッチ５７をオフし
てパルス電流源４５の電流を遮断する。この時、Ｓ／Ｈ
回路５１の出力は固定され、パルス電流源４５はトータ
ルＡＰＣによるトータル電流ＩT を保持している。
【０００８】次いで、画像処理部５８は図５（ａ）のよ
うに時刻ｔ5 で再度ＤＡＴＡ信号をハイレベルとし、ス
イッチ５７をオンしてパルス電流源４５からレーザ４２
に電流を供給する。即ち、レーザ４２のＢＤ発光を行
い、図示しない回転多面鏡からの反射光をＢＤセンサ
（図示せず）により検出し、得られたＢＤ信号を用いて
主走査方向の書き出しのタイミングを決定する。以下、
画像データに応じてスイッチ５７を駆動し、光変調され
たレーザ光を主走査方向に走査することにより、感光体
上に１ラインの書き込みを行う。一方、ＡＰＣと平行し
て時刻ｔ3 〜ｔ4 間においてコンパレータ５３はＩ／Ｖ
回路４９の出力信号と基準電圧Ｖref1を比較し、レーザ
４２の光量を監視している。
うに時刻ｔ5 で再度ＤＡＴＡ信号をハイレベルとし、ス
イッチ５７をオンしてパルス電流源４５からレーザ４２
に電流を供給する。即ち、レーザ４２のＢＤ発光を行
い、図示しない回転多面鏡からの反射光をＢＤセンサ
（図示せず）により検出し、得られたＢＤ信号を用いて
主走査方向の書き出しのタイミングを決定する。以下、
画像データに応じてスイッチ５７を駆動し、光変調され
たレーザ光を主走査方向に走査することにより、感光体
上に１ラインの書き込みを行う。一方、ＡＰＣと平行し
て時刻ｔ3 〜ｔ4 間においてコンパレータ５３はＩ／Ｖ
回路４９の出力信号と基準電圧Ｖref1を比較し、レーザ
４２の光量を監視している。
【０００９】もし、Ｉ／Ｖ回路４９の出力が基準電圧よ
りも大きいと、コンパレータ５３から画像処理部５８に
リミット信号が出力され、システムコントローラ５９は
リミット信号に応じて一時レーザ４２を消灯した後、レ
ーザ４２を点灯する。これはＡＰＣ時にレーザ４２の異
常発光を検出し、レーザ４２の劣化や破壊を防ぐために
行う。図７はこのリミット動作を示している。時刻ｔ6
でＩ／Ｖ回路４９の出力が基準電圧を越えたとすると、
コンパレータ５３の出力はハイレベルとなり、システム
コントローラ５９はレーザ４２を消灯する。そして、一
定時間後の時刻ｔ7 で再度レーザ４２を点灯し、異常が
なければそのまま点灯する。
りも大きいと、コンパレータ５３から画像処理部５８に
リミット信号が出力され、システムコントローラ５９は
リミット信号に応じて一時レーザ４２を消灯した後、レ
ーザ４２を点灯する。これはＡＰＣ時にレーザ４２の異
常発光を検出し、レーザ４２の劣化や破壊を防ぐために
行う。図７はこのリミット動作を示している。時刻ｔ6
でＩ／Ｖ回路４９の出力が基準電圧を越えたとすると、
コンパレータ５３の出力はハイレベルとなり、システム
コントローラ５９はレーザ４２を消灯する。そして、一
定時間後の時刻ｔ7 で再度レーザ４２を点灯し、異常が
なければそのまま点灯する。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】図８は半導体レーザの
劣化特性を示す図である。実線はレーザの劣化前、破線
は劣化後の特性を示している。レーザはしきい値電流Ｉ
th以下の電流ではダイオード発光し、しきい値電流を越
えるとレーザ発光する。経年変化等によりレーザが劣化
すると、しきい値電流が増大し、傾きも劣化前ηと劣化
後η′の比較で明らかなように小さくなる。そのため、
同じ光量Ｐを得るには、劣化前の電流ＩOPに対し劣化後
は電流ＩOP′を必要とし、より大きな駆動電流を供給す
る必要がある。更に、劣化が進むと、レーザの電流は絶
対最大定格Ｉmax を越えてしまい、破壊に至る。
劣化特性を示す図である。実線はレーザの劣化前、破線
は劣化後の特性を示している。レーザはしきい値電流Ｉ
th以下の電流ではダイオード発光し、しきい値電流を越
えるとレーザ発光する。経年変化等によりレーザが劣化
すると、しきい値電流が増大し、傾きも劣化前ηと劣化
後η′の比較で明らかなように小さくなる。そのため、
同じ光量Ｐを得るには、劣化前の電流ＩOPに対し劣化後
は電流ＩOP′を必要とし、より大きな駆動電流を供給す
る必要がある。更に、劣化が進むと、レーザの電流は絶
対最大定格Ｉmax を越えてしまい、破壊に至る。
【００１１】しかしながら、従来の技術においては、前
述のようにレーザの光量のみモニターしているので、レ
ーザの発光が不可能になった時点で始めてレーザの劣化
がわかるようになっていた。従って、この時点でレーザ
を交換するには、複雑な光学調整が必要であるため、準
備期間を含めてかなりの時間を必要とし、すぐにはレー
ザの交換を完了しないので、装置を使えない期間が発生
し、サービスが低下するという問題があった。
述のようにレーザの光量のみモニターしているので、レ
ーザの発光が不可能になった時点で始めてレーザの劣化
がわかるようになっていた。従って、この時点でレーザ
を交換するには、複雑な光学調整が必要であるため、準
備期間を含めてかなりの時間を必要とし、すぐにはレー
ザの交換を完了しないので、装置を使えない期間が発生
し、サービスが低下するという問題があった。
【００１２】本発明は、上記従来の問題点に鑑み、レー
ザ光源の劣化を検出し、レーザ光源の劣化を報知するこ
とにより、レーザ光源を交換するための準備期間を確保
し、長時間を待つことなくレーザ光源の交換を行うこと
が可能な画像形成装置を提供することを目的とする。
ザ光源の劣化を検出し、レーザ光源の劣化を報知するこ
とにより、レーザ光源を交換するための準備期間を確保
し、長時間を待つことなくレーザ光源の交換を行うこと
が可能な画像形成装置を提供することを目的とする。
【００１３】
【課題を解決するための手段】本発明の目的は、レーザ
光源の光量を所定の光量に制御する光量制御回路を備
え、前記レーザ光源を画像信号に応じて駆動し、前記レ
ーザ光源からの変調されたレーザ光を像担持体上に導光
することにより、前記像担持体上に潜像を形成する画像
形成装置において、前記レーザ光源の電流を検出する手
段と、検出された電流と予め設定された基準値を比較す
る手段とを備え、前記検出手段により検出された電流が
前記基準値以上になった時に前記レーザ光源が劣化した
ことを報知することを特徴とする画像形成装置によって
達成される。
光源の光量を所定の光量に制御する光量制御回路を備
え、前記レーザ光源を画像信号に応じて駆動し、前記レ
ーザ光源からの変調されたレーザ光を像担持体上に導光
することにより、前記像担持体上に潜像を形成する画像
形成装置において、前記レーザ光源の電流を検出する手
段と、検出された電流と予め設定された基準値を比較す
る手段とを備え、前記検出手段により検出された電流が
前記基準値以上になった時に前記レーザ光源が劣化した
ことを報知することを特徴とする画像形成装置によって
達成される。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。図１は本発明の画像
形成装置の一実施形態の全体構成を示す図である。図１
において、まず、１は原稿給紙装置、２は原稿台ガラス
である。原稿給紙装置１から原稿台ガラス２上に原稿が
給送されると、ランプ３が点灯し、且つ、スキャナーユ
ニット４がスキャンして原稿を照明する。原稿からの反
射光はミラー５、６、７、レンズ８を経由してイメージ
センサ部９に導かれ、イメージセンサ部９により画像情
報として読み取られる。イメージセンサ部９で読み取ら
れた画像信号は一時画像メモリ（図示せず）に蓄積さ
れ、その後、再度読み出されて露光制御部１０に供給さ
れる。
て図面を参照して詳細に説明する。図１は本発明の画像
形成装置の一実施形態の全体構成を示す図である。図１
において、まず、１は原稿給紙装置、２は原稿台ガラス
である。原稿給紙装置１から原稿台ガラス２上に原稿が
給送されると、ランプ３が点灯し、且つ、スキャナーユ
ニット４がスキャンして原稿を照明する。原稿からの反
射光はミラー５、６、７、レンズ８を経由してイメージ
センサ部９に導かれ、イメージセンサ部９により画像情
報として読み取られる。イメージセンサ部９で読み取ら
れた画像信号は一時画像メモリ（図示せず）に蓄積さ
れ、その後、再度読み出されて露光制御部１０に供給さ
れる。
【００１５】露光制御部１０では、詳しく後述するよう
に画像信号に応じて半導体レーザを駆動し、画像信号に
応じて変調されたレーザ光を感光体１１の主走査方向に
走査し、感光体１１上に原稿の潜像を形成していく。こ
の潜像は現像器１２（または１３）により現像され、感
光体１１上にトナー像が形成される。一方、潜像の形成
動作とタイミングを合わせて用紙カセット１４（または
１５）から用紙が給送され、転写器１６により感光体１
１上のトナー像は用紙に転写される。この用紙は定着器
１７に搬送され、定着器１７にてトナー像は用紙に定着
され、その後、排紙部１８から機外に排出される。
に画像信号に応じて半導体レーザを駆動し、画像信号に
応じて変調されたレーザ光を感光体１１の主走査方向に
走査し、感光体１１上に原稿の潜像を形成していく。こ
の潜像は現像器１２（または１３）により現像され、感
光体１１上にトナー像が形成される。一方、潜像の形成
動作とタイミングを合わせて用紙カセット１４（または
１５）から用紙が給送され、転写器１６により感光体１
１上のトナー像は用紙に転写される。この用紙は定着器
１７に搬送され、定着器１７にてトナー像は用紙に定着
され、その後、排紙部１８から機外に排出される。
【００１６】図２は露光制御部１０の構成を示す平面図
である。図２において、まず、４４は半導体レーザ４２
とＰＤセンサ４１から成るレーザチップである。レーザ
４２は画像信号に応じて駆動され、レーザ４２から発し
たレーザ光はコリメータレンズ３５、絞り３２によりほ
ぼ平行光とされ、所定のビーム径で回転多面鏡３３に入
射する。回転多面鏡３３は矢印方向に等角速度で回転し
ていて、この回転に伴い入射したレーザ光は連続的に角
度を変える偏光ビームとなって反射される。この反射ビ
ームはｆ−θレンズ３４により集光作用、歪曲収差の補
正が行われ、感光体１１の矢印６で示す主走査方向に等
速で走査し、感光体１１上に１ラインの潜像が形成され
る。
である。図２において、まず、４４は半導体レーザ４２
とＰＤセンサ４１から成るレーザチップである。レーザ
４２は画像信号に応じて駆動され、レーザ４２から発し
たレーザ光はコリメータレンズ３５、絞り３２によりほ
ぼ平行光とされ、所定のビーム径で回転多面鏡３３に入
射する。回転多面鏡３３は矢印方向に等角速度で回転し
ていて、この回転に伴い入射したレーザ光は連続的に角
度を変える偏光ビームとなって反射される。この反射ビ
ームはｆ−θレンズ３４により集光作用、歪曲収差の補
正が行われ、感光体１１の矢印６で示す主走査方向に等
速で走査し、感光体１１上に１ラインの潜像が形成され
る。
【００１７】以下、回転多面鏡３３の回転により感光体
１１上に順次１ラインづつ潜像が形成される。なお、３
６はＢＤセンサであり、図５で説明したように主走査方
向の走査の開始時にレーザ４２を点灯し、この際に回転
多面鏡３３の反射光を検出し、ＢＤ信号を出力する。こ
のＢＤ信号は主走査方向の書き出し開始位置の同期をと
るのに用いられる。
１１上に順次１ラインづつ潜像が形成される。なお、３
６はＢＤセンサであり、図５で説明したように主走査方
向の走査の開始時にレーザ４２を点灯し、この際に回転
多面鏡３３の反射光を検出し、ＢＤ信号を出力する。こ
のＢＤ信号は主走査方向の書き出し開始位置の同期をと
るのに用いられる。
【００１８】図３はレーザ駆動回路を含むレーザ制御装
置の構成を示すブロック図である。なお、図３では図４
の従来装置と同一部分は同一符号を付して説明を省略す
る。また、図３においても図４、図５で説明したように
１ラインの走査毎にバイアスＡＰＣ、トータルＡＰＣを
行い、レーザ４２の光量を所望の光量に制御するが、こ
のＡＰＣは従来と同様であるので説明は省略する。本実
施形態では、レーザ４２と直列に抵抗器Ｒが接続され、
レーザ４２の電流を検出している。抵抗器１２に流れる
電流は差動増幅器６３により電圧信号として検出され、
コンパレータ６５に出力される。コンパレータ６５はこ
の検出電圧と基準電圧Ｖref2を比較し、検出電圧が基準
電圧以上になるかを監視している。即ち、基準電圧は図
８のＩmに相当する電圧に設定されていて、レーザ４２
の電流がＩm を越えると、レーザ４２が劣化したことを
示す信号を画像処理部５８に出力する。
置の構成を示すブロック図である。なお、図３では図４
の従来装置と同一部分は同一符号を付して説明を省略す
る。また、図３においても図４、図５で説明したように
１ラインの走査毎にバイアスＡＰＣ、トータルＡＰＣを
行い、レーザ４２の光量を所望の光量に制御するが、こ
のＡＰＣは従来と同様であるので説明は省略する。本実
施形態では、レーザ４２と直列に抵抗器Ｒが接続され、
レーザ４２の電流を検出している。抵抗器１２に流れる
電流は差動増幅器６３により電圧信号として検出され、
コンパレータ６５に出力される。コンパレータ６５はこ
の検出電圧と基準電圧Ｖref2を比較し、検出電圧が基準
電圧以上になるかを監視している。即ち、基準電圧は図
８のＩmに相当する電圧に設定されていて、レーザ４２
の電流がＩm を越えると、レーザ４２が劣化したことを
示す信号を画像処理部５８に出力する。
【００１９】つまり、レーザ４２の光量は前述のような
ＡＰＣにより一定の光量に制御されており、例えば、図
８に示すように光量をＰの値に制御すると、レーザ４２
の劣化によりレーザ４２の電流は増加していく。本実施
形態では、レーザ４２の電流が図８の絶対最大定格電流
Ｉmax より手前の電流Ｉm を越えると、レーザ４２が劣
化したと判断し、レーザの劣化を示す信号を出力する。
画像処理部５８ではコンパレータ６５からレーザの劣化
を示す信号が入力されると、システムコントローラ５９
にレーザ劣化信号を出力し、システムコントローラ５９
はこの信号を受けると、表示部６０にレーザ劣化のサー
ビスマンコールを表示し、レーザ４２が劣化したことを
通知する。また、遠隔地から装置の故障診断を行う遠隔
診断システム６１を通してサービスセンタ６２に同様の
レーザ劣化信号を送信し、レーザの交換を促すメッセー
ジを表示する。これにより、サービスマンもしくはサー
ビスセンタ６２では、直ちにレーザ交換のための準備を
行い、レーザが破壊する前に交換を行う。
ＡＰＣにより一定の光量に制御されており、例えば、図
８に示すように光量をＰの値に制御すると、レーザ４２
の劣化によりレーザ４２の電流は増加していく。本実施
形態では、レーザ４２の電流が図８の絶対最大定格電流
Ｉmax より手前の電流Ｉm を越えると、レーザ４２が劣
化したと判断し、レーザの劣化を示す信号を出力する。
画像処理部５８ではコンパレータ６５からレーザの劣化
を示す信号が入力されると、システムコントローラ５９
にレーザ劣化信号を出力し、システムコントローラ５９
はこの信号を受けると、表示部６０にレーザ劣化のサー
ビスマンコールを表示し、レーザ４２が劣化したことを
通知する。また、遠隔地から装置の故障診断を行う遠隔
診断システム６１を通してサービスセンタ６２に同様の
レーザ劣化信号を送信し、レーザの交換を促すメッセー
ジを表示する。これにより、サービスマンもしくはサー
ビスセンタ６２では、直ちにレーザ交換のための準備を
行い、レーザが破壊する前に交換を行う。
【００２０】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、レ
ーザ光源の電流を検出し、レーザ光源の電流が所定値を
越えた時にレーザ光源の劣化を報知しているので、事前
にレーザが破壊する前にレーザ光源の交換のための準備
期間を確保することができる。従って、レーザ光源を交
換するのに待つ時間を必要とせず、装置を使用できない
期間が発生することもないので、サービスの低下を防止
することができる。
ーザ光源の電流を検出し、レーザ光源の電流が所定値を
越えた時にレーザ光源の劣化を報知しているので、事前
にレーザが破壊する前にレーザ光源の交換のための準備
期間を確保することができる。従って、レーザ光源を交
換するのに待つ時間を必要とせず、装置を使用できない
期間が発生することもないので、サービスの低下を防止
することができる。
【図１】本発明の画像形成装置の一実施形態の構成を示
す図である。
す図である。
【図２】図１の露光制御部を示す平面図である。
【図３】図１の実施形態のレーザ制御装置を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図４】従来例の画像形成装置のレーザ制御装置を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図５】図４のレーザ制御装置のＡＰＣのタイミングを
示す図である。
示す図である。
【図６】レーザ光源の発光特性を示す図である。
【図７】従来装置のリミット動作を示す図である。
【図８】レーザ光源の劣化特性を示す図である。
９ イメージセンサ部 １０ 露光制御部 １１ 感光体 ３３ 回転多面鏡 ４１ ＰＤセンサ ４２ 半導体レーザ ４５ パルス電流源 ４７ バイアス電流源 ４９ Ｉ／Ｖ回路 ５０，５１ Ｓ／Ｈ回路 ５３，６５ コンパレータ ５４，５５，６３ 差動増幅器 ５６，５７ スイッチ ５８ 画像処理部 ５９ システムコントローラ ６０ 表示部 ６１ 遠隔診断システム Ｒ 抵抗器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2C362 AA03 AA74 AA75 EA04 2H027 DA01 DE02 DE07 GB01 HB16 ZA07 2H045 AA01 CB41 DA41 5C051 AA02 CA07 DB30 5F072 AB13 JJ02 JJ05 KK30 MM03 SS06 YY15
Claims (3)
- 【請求項１】 レーザ光源の光量を所定の光量に制御す
る光量制御回路を備え、前記レーザ光源を画像信号に応
じて駆動し、前記レーザ光源からの変調されたレーザ光
を像担持体上に導光することにより、前記像担持体上に
潜像を形成する画像形成装置において、前記レーザ光源
の電流を検出する手段と、検出された電流と予め設定さ
れた基準値を比較する手段とを備え、前記検出手段によ
り検出された電流が前記基準値以上になった時に前記レ
ーザ光源が劣化したことを報知することを特徴とする画
像形成装置。 - 【請求項２】 前記レーザ光源が劣化したことを示す情
報を表示部に表示することを特徴とする請求項１に記載
の画像形成装置。 - 【請求項３】 前記レーザ光源が劣化したことを示す情
報を遠隔地から故障診断を行う遠隔診断システムに通知
することを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11086839A JP2000280522A (ja) | 1999-03-29 | 1999-03-29 | 画像形成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11086839A JP2000280522A (ja) | 1999-03-29 | 1999-03-29 | 画像形成装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000280522A true JP2000280522A (ja) | 2000-10-10 |
Family
ID=13897993
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11086839A Pending JP2000280522A (ja) | 1999-03-29 | 1999-03-29 | 画像形成装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000280522A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010123715A (ja) * | 2008-11-19 | 2010-06-03 | Ricoh Co Ltd | 半導体レーザ駆動装置及びその半導体レーザ駆動装置を備えた画像形成装置 |
| CN102549857A (zh) * | 2009-08-21 | 2012-07-04 | 株式会社理光 | 半导体激光器驱动器件以及具有半导体激光器驱动器件的成像装置 |
| US8483250B2 (en) | 2007-12-28 | 2013-07-09 | Ricoh Company, Ltd. | Semiconductor laser driving device and image forming apparatus having the same |
-
1999
- 1999-03-29 JP JP11086839A patent/JP2000280522A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8483250B2 (en) | 2007-12-28 | 2013-07-09 | Ricoh Company, Ltd. | Semiconductor laser driving device and image forming apparatus having the same |
| JP2010123715A (ja) * | 2008-11-19 | 2010-06-03 | Ricoh Co Ltd | 半導体レーザ駆動装置及びその半導体レーザ駆動装置を備えた画像形成装置 |
| CN102549857A (zh) * | 2009-08-21 | 2012-07-04 | 株式会社理光 | 半导体激光器驱动器件以及具有半导体激光器驱动器件的成像装置 |
| KR101371112B1 (ko) * | 2009-08-21 | 2014-03-10 | 가부시키가이샤 리코 | 반도체 레이저 구동 장치 및 그 반도체 레이저 구동 장치를 구비한 화상 형성 장치 |
| US8804784B2 (en) | 2009-08-21 | 2014-08-12 | Ricoh Company, Ltd. | Semiconductor laser driving device and image forming apparatus having the semiconductor laser driving device |
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