JP2000114628A - 画像形成装置、及び複写機 - Google Patents
画像形成装置、及び複写機Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 半導体レーザ光源が発生するレーザ光により
画像を形成する画像形成装置において、半導体レーザ光
源の光量を調整する手段が、仮にレーザ光源を破壊する
ような電流を、レーザ光源に流そうとした場合に、いつ
でもレーザ光源に流れる電流を規制して、レーザ光源を
破壊から守る。 【解決手段】 自動光量制御期間には、半導体レーザ光
源が発生するレーザ光量を検出し、検出された光量が設
定光量を上回った場合に電流源回路を働かせなくして、
それ以外の期間には、半導体レーザを流れる電流を検出
して、検出された光量が自動光量制御期間に検出された
電流を一定割合以上上回った場合に電流源回路を働かせ
なくする。
画像を形成する画像形成装置において、半導体レーザ光
源の光量を調整する手段が、仮にレーザ光源を破壊する
ような電流を、レーザ光源に流そうとした場合に、いつ
でもレーザ光源に流れる電流を規制して、レーザ光源を
破壊から守る。 【解決手段】 自動光量制御期間には、半導体レーザ光
源が発生するレーザ光量を検出し、検出された光量が設
定光量を上回った場合に電流源回路を働かせなくして、
それ以外の期間には、半導体レーザを流れる電流を検出
して、検出された光量が自動光量制御期間に検出された
電流を一定割合以上上回った場合に電流源回路を働かせ
なくする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はレーザの発する光に
より画像を形成する画像形成装置、及びこの画像形成装
置を載置する複写機に関するものである。
より画像を形成する画像形成装置、及びこの画像形成装
置を載置する複写機に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】本願出願人は、複数のレーザ光源の発す
るレーザ光により画像を形成する画像形成装置におい
て、レーザ光源の数より少ない光量検出手段を用い、時
分割でレーザ光源の発するレーザ光の光量を一定に制御
する手段を備えることを特徴とする画像形成装置として
特開平７−１９９０９６号公報に開示の発明をしてい
る。
るレーザ光により画像を形成する画像形成装置におい
て、レーザ光源の数より少ない光量検出手段を用い、時
分割でレーザ光源の発するレーザ光の光量を一定に制御
する手段を備えることを特徴とする画像形成装置として
特開平７−１９９０９６号公報に開示の発明をしてい
る。
【０００３】
【発明が解決しようとしている課題】この発明において
は、レーザ光源の発するレーザ光の光量が一定になるよ
うに制御するために、レーザ光源に流す電流を制御する
が、この制御においては、流すべき電流値がレーザ光源
を破壊する領域にまで達してしまう場合に、これを制限
する方法が無い。流すべき電流値が増大してしまう原因
としては、制御系にある回路の誤動作、破壊などが考え
られる。このような場合に、制御系は、レーザ光源に流
すべき電流を高く設定してしまい、この結果、レーザ光
源が破壊されてしまうことがあり得る。
は、レーザ光源の発するレーザ光の光量が一定になるよ
うに制御するために、レーザ光源に流す電流を制御する
が、この制御においては、流すべき電流値がレーザ光源
を破壊する領域にまで達してしまう場合に、これを制限
する方法が無い。流すべき電流値が増大してしまう原因
としては、制御系にある回路の誤動作、破壊などが考え
られる。このような場合に、制御系は、レーザ光源に流
すべき電流を高く設定してしまい、この結果、レーザ光
源が破壊されてしまうことがあり得る。
【０００４】従って、本発明の課題は、レーザ光源の光
量を調整する手段が、仮にレーザ光源を破壊するような
電流を、レーザ光源に流そうとした場合に、いつでもレ
ーザ光源に流れる電流を規制して、レーザ光源を破壊か
ら守ろうということである。
量を調整する手段が、仮にレーザ光源を破壊するような
電流を、レーザ光源に流そうとした場合に、いつでもレ
ーザ光源に流れる電流を規制して、レーザ光源を破壊か
ら守ろうということである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明による画像形成装
置は、光源の放射する光により感光体上に画像データを
書込み可視像化する手段を備え、前記画像データより被
転写紙上に画像形成する画像形成装置において、前記光
源の放射する光量を検出して光量検出値を出力する光量
検出手段と、前記光量検出値をサンプルホルドするサン
プルホルド手段と、前記光源が光を放射していて且つ該
光が前記感光体を書き込んでいない制御期間に前記光量
検出値と基準値との差に応じて前記光量を負帰還制御す
る光量制御手段と、前記光量検出値と所定値とを比較し
て、前記サンプルホルド手段がサンプル状態の時のみ第
１の有効比較出力を出力する第１の比較手段と、前記光
源に流れる電流を検出して電流検出値を出力する電流検
出手段と、前記光量制御手段が前記制御期間の前記電流
検出値の割増値を保持する電流検出値保持手段と、前記
検出値保持手段による保持された前記割増値と現在の前
記電流検出値とを比較して、前記サンプルホルド手段が
ホルド状態の時のみ第２の有効比較出力を出力する第２
の比較手段と、前記第１又は第２の有効比較出力に応じ
て前記光源に流れる電流を遮断する電流遮断手段とを備
えることを特徴とする。
置は、光源の放射する光により感光体上に画像データを
書込み可視像化する手段を備え、前記画像データより被
転写紙上に画像形成する画像形成装置において、前記光
源の放射する光量を検出して光量検出値を出力する光量
検出手段と、前記光量検出値をサンプルホルドするサン
プルホルド手段と、前記光源が光を放射していて且つ該
光が前記感光体を書き込んでいない制御期間に前記光量
検出値と基準値との差に応じて前記光量を負帰還制御す
る光量制御手段と、前記光量検出値と所定値とを比較し
て、前記サンプルホルド手段がサンプル状態の時のみ第
１の有効比較出力を出力する第１の比較手段と、前記光
源に流れる電流を検出して電流検出値を出力する電流検
出手段と、前記光量制御手段が前記制御期間の前記電流
検出値の割増値を保持する電流検出値保持手段と、前記
検出値保持手段による保持された前記割増値と現在の前
記電流検出値とを比較して、前記サンプルホルド手段が
ホルド状態の時のみ第２の有効比較出力を出力する第２
の比較手段と、前記第１又は第２の有効比較出力に応じ
て前記光源に流れる電流を遮断する電流遮断手段とを備
えることを特徴とする。
【０００６】本発明による画像形成装置は、前記光源、
前記サンプルホルド手段、前記光量制御手段、前記第１
の比較手段、前記電流検出手段、前記電流検出値保持手
段、前記第２の比較手段、電流遮断手段は複数組あり、
前記光量検出手段の個数が前記の光源の個数よりも少な
く、前記光量検出手段が時分割で利用されることを特徴
とする。
前記サンプルホルド手段、前記光量制御手段、前記第１
の比較手段、前記電流検出手段、前記電流検出値保持手
段、前記第２の比較手段、電流遮断手段は複数組あり、
前記光量検出手段の個数が前記の光源の個数よりも少な
く、前記光量検出手段が時分割で利用されることを特徴
とする。
【０００７】本発明による複写機は、上記の画像形成装
置を備えることを特徴とする。
置を備えることを特徴とする。
【０００８】
【発明の実施の形態】［実施形態１］以下、図面に示す
実施形態に基づいて本発明を説明する。図３は、本発明
による画像形成装置を載置する複写機の一例を示した装
置全体の概念的断面図である。基本的な動作について図
３を用いて説明する。１つの原稿給紙装置上に積載され
た原稿は、１枚づつ順次、原稿台ガラス面２の上に搬送
される。原稿が搬送されると、スキャナー部分の光源で
あるランプ３が点灯し、かつスキャナーユニット４が移
動して原稿を照射する。原稿の反射光はミラー５，６，
７を介して集光レンズ８を通過し、その後イメージセン
サー部９に入力される。イメージセンサー部９に入力さ
れた画像信号は、直接、あるいは、一旦図示しない画像
メモリに記憶されてから、読み出される。露光制御部１
０は、後述するように２つの半導体レーザを持ってい
て、各々の半導体レーザを上記画像信号に応じて駆動
し、画像信号に応じて変調された２つのレーザビームを
同時に直線状に感光体ドラム１１を走査することによっ
て感光体ドラム１１上に潜像が形成される。露光制御部
１０が、感光体ドラム１１が回転している間にこの様な
動作を繰り返し行うことによって感光ドラム上に１頁分
の潜像が形成される。露光によって感光体上に作られた
潜像は、トナーを含む現像器１２、あるいは現像器１３
によって現像される。潜像とタイミングを合わせて被転
写紙積載部１４、あるいは被転写紙積載部１５より被転
写紙が搬送され、転写部１６に於いて、現像されたトナ
ー像が被転写紙に転写される。被転写紙に転写されたト
ナー像は定着部１７にて被転写紙に定着された後、排紙
部１８より装置外部に排出される。
実施形態に基づいて本発明を説明する。図３は、本発明
による画像形成装置を載置する複写機の一例を示した装
置全体の概念的断面図である。基本的な動作について図
３を用いて説明する。１つの原稿給紙装置上に積載され
た原稿は、１枚づつ順次、原稿台ガラス面２の上に搬送
される。原稿が搬送されると、スキャナー部分の光源で
あるランプ３が点灯し、かつスキャナーユニット４が移
動して原稿を照射する。原稿の反射光はミラー５，６，
７を介して集光レンズ８を通過し、その後イメージセン
サー部９に入力される。イメージセンサー部９に入力さ
れた画像信号は、直接、あるいは、一旦図示しない画像
メモリに記憶されてから、読み出される。露光制御部１
０は、後述するように２つの半導体レーザを持ってい
て、各々の半導体レーザを上記画像信号に応じて駆動
し、画像信号に応じて変調された２つのレーザビームを
同時に直線状に感光体ドラム１１を走査することによっ
て感光体ドラム１１上に潜像が形成される。露光制御部
１０が、感光体ドラム１１が回転している間にこの様な
動作を繰り返し行うことによって感光ドラム上に１頁分
の潜像が形成される。露光によって感光体上に作られた
潜像は、トナーを含む現像器１２、あるいは現像器１３
によって現像される。潜像とタイミングを合わせて被転
写紙積載部１４、あるいは被転写紙積載部１５より被転
写紙が搬送され、転写部１６に於いて、現像されたトナ
ー像が被転写紙に転写される。被転写紙に転写されたト
ナー像は定着部１７にて被転写紙に定着された後、排紙
部１８より装置外部に排出される。
【０００９】図４は、図３の露光制御部１０の主要部の
概念的構成を示している。図において３１は２つの光源
を有するツインレーザ、例えば半導体ツインレーザであ
る。ツインレーザ３１の内部には、各々の半導体レーザ
のレーザ光の１部の光量を検出する光量検出手段として
のフォトダイオード５８（図１）が設けられ、フォトダ
イオード５８の検出信号を用いて各半導体レーザの光量
を一定にする制御が行われる（以下、この制御をＡＰＣ
と記す）。ツインレーザ３１から発せられたレーザビー
ムはコリメータレンズ３５、及び、絞り３２により、ほ
ぼ平行光にされて、所定のビーム径で回転多面鏡３３に
入射する。
概念的構成を示している。図において３１は２つの光源
を有するツインレーザ、例えば半導体ツインレーザであ
る。ツインレーザ３１の内部には、各々の半導体レーザ
のレーザ光の１部の光量を検出する光量検出手段として
のフォトダイオード５８（図１）が設けられ、フォトダ
イオード５８の検出信号を用いて各半導体レーザの光量
を一定にする制御が行われる（以下、この制御をＡＰＣ
と記す）。ツインレーザ３１から発せられたレーザビー
ムはコリメータレンズ３５、及び、絞り３２により、ほ
ぼ平行光にされて、所定のビーム径で回転多面鏡３３に
入射する。
【００１０】回転多面鏡３３は、曲線矢印の様な方向に
等角速度の回転を行っており、この回転に伴って、入射
したツインレーザ３１の光ビームが連続的に角度を変え
る偏向ビームとなって反射される。偏向ビームとなった
光はｆ−θレンズ３４により集光作用を受ける。一方、
ｆ−θレンズ３４が同時に走査の時間的な直線性を保証
するような歪曲収差の補正を行う為に、光ビームは、像
担持体としての感光体１１上を図の直線矢印の方向に等
速で結合走査する。なお、３６は回転多面鏡３３からの
反射光を検出するビームディテクト（以下、ＢＤと記
す）センサーであり、ＢＤセンサー３６の検出信号（Ｂ
Ｄ信号）は回転多面鏡３３の回転とデータの書き込みの
同期をとる為の同期信号として用いられる。
等角速度の回転を行っており、この回転に伴って、入射
したツインレーザ３１の光ビームが連続的に角度を変え
る偏向ビームとなって反射される。偏向ビームとなった
光はｆ−θレンズ３４により集光作用を受ける。一方、
ｆ−θレンズ３４が同時に走査の時間的な直線性を保証
するような歪曲収差の補正を行う為に、光ビームは、像
担持体としての感光体１１上を図の直線矢印の方向に等
速で結合走査する。なお、３６は回転多面鏡３３からの
反射光を検出するビームディテクト（以下、ＢＤと記
す）センサーであり、ＢＤセンサー３６の検出信号（Ｂ
Ｄ信号）は回転多面鏡３３の回転とデータの書き込みの
同期をとる為の同期信号として用いられる。
【００１１】ここで本発明の構成について図１を用いて
説明する。これ以降の説明では、半導体レーザ５９側の
回路については括弧無しで、半導体レーザ６０側の回路
については括弧を付けて説明をする。
説明する。これ以降の説明では、半導体レーザ５９側の
回路については括弧無しで、半導体レーザ６０側の回路
については括弧を付けて説明をする。
【００１２】図１は本実施形態のツインレーザを制御す
る制御回路の構成を示したブロック図である。図１にお
いて、システムコントローラ６８は図３の装置の各部を
制御する制御回路、画像処理部６９は図３のイメージセ
ンサー部９で読み取られた画像信号を処理する回路であ
る。画像処理部６９は、イメージセンサー部９（図３）
からの画像信号をＢＤ信号に同期して２ラインずつレー
ザ駆動回路に供給したり、あるいは後述するように２つ
の半導体レーザのＡＰＣ制御を行うための信号を出力す
る。制御信号発生部７４（７５）は各々２つの半導体レ
ーザのＡＰＣ制御の引き込みに必要なタイミングを生成
する回路である。破線で囲まれた３１は図４に示したツ
インレーザであり、半導体レーザ５９（６０）とこれら
の半導体レーザ光の１部を検出するフォトダイオード５
８からなっている。フォトダイオード５８は、半導体レ
ーザ５９の発するレーザ光の一部と半導体レーザ６０の
発するレーザ光の一部とを同等に受光する。半導体レー
ザ５９のみが発光しているときには半導体レーザ５９の
光量センサとして働き、半導体レーザ６０のみが発光し
ているときには半導体レーザ６０の光量センサとして働
く。３６は図４に示したＢＤセンサーであり、同期信号
の検出に用いる。
る制御回路の構成を示したブロック図である。図１にお
いて、システムコントローラ６８は図３の装置の各部を
制御する制御回路、画像処理部６９は図３のイメージセ
ンサー部９で読み取られた画像信号を処理する回路であ
る。画像処理部６９は、イメージセンサー部９（図３）
からの画像信号をＢＤ信号に同期して２ラインずつレー
ザ駆動回路に供給したり、あるいは後述するように２つ
の半導体レーザのＡＰＣ制御を行うための信号を出力す
る。制御信号発生部７４（７５）は各々２つの半導体レ
ーザのＡＰＣ制御の引き込みに必要なタイミングを生成
する回路である。破線で囲まれた３１は図４に示したツ
インレーザであり、半導体レーザ５９（６０）とこれら
の半導体レーザ光の１部を検出するフォトダイオード５
８からなっている。フォトダイオード５８は、半導体レ
ーザ５９の発するレーザ光の一部と半導体レーザ６０の
発するレーザ光の一部とを同等に受光する。半導体レー
ザ５９のみが発光しているときには半導体レーザ５９の
光量センサとして働き、半導体レーザ６０のみが発光し
ているときには半導体レーザ６０の光量センサとして働
く。３６は図４に示したＢＤセンサーであり、同期信号
の検出に用いる。
【００１３】また、バイアス電流源５１（５４）、トー
タル電流源５２（５５）は半導体レーザ５９、６０の制
御に用いられる電流源である。
タル電流源５２（５５）は半導体レーザ５９、６０の制
御に用いられる電流源である。
【００１４】スイッチ５３（５６）は画像領域（図２）
で画像信号に応じてオン／オフするスイッチである。ス
イッチ５３（５６）はＨＩＧＨレベル信号が入力される
とオフになり、半導体レーザ５９（６０）はトータル電
流源５２（５５）から供給されるトータル電流によって
点灯する。また、スイッチ５３（５６）は画像処理部６
９の出力端子ＤＡＴＡ１（ＤＡＴＡ２）からＬＯＷレベ
ル信号が入力されるとオンし、この時トータル電流源５
２（５５）のトータル電流はバイアス電流源５１（５
４）に供給されて、半導体レーザ５９（６０）に供給さ
れる電流がレーザ発振するための電流に満たなくなるの
で、半導体レーザ５９（６０）は消灯する。この様にス
イッチ５３（５６）を画像信号に応じて制御することに
よって半導体レーザ５９（６０）を駆動し、感光ドラム
１１に光書き込みを行う。
で画像信号に応じてオン／オフするスイッチである。ス
イッチ５３（５６）はＨＩＧＨレベル信号が入力される
とオフになり、半導体レーザ５９（６０）はトータル電
流源５２（５５）から供給されるトータル電流によって
点灯する。また、スイッチ５３（５６）は画像処理部６
９の出力端子ＤＡＴＡ１（ＤＡＴＡ２）からＬＯＷレベ
ル信号が入力されるとオンし、この時トータル電流源５
２（５５）のトータル電流はバイアス電流源５１（５
４）に供給されて、半導体レーザ５９（６０）に供給さ
れる電流がレーザ発振するための電流に満たなくなるの
で、半導体レーザ５９（６０）は消灯する。この様にス
イッチ５３（５６）を画像信号に応じて制御することに
よって半導体レーザ５９（６０）を駆動し、感光ドラム
１１に光書き込みを行う。
【００１５】スイッチ７１（７２）はコンパレータ回路
８７（９７）の出力とコンパレータ回路８２（９２）の
出力との論理和によってオン／オフがコントロールされ
るスイッチである。なお、この論理和は論理和回路８４
（９４）で作成される。論理和回路８４（９４）の出力
電圧レベルがＨＩＧＨとなったときにスイッチ７１（７
２）は開き、トータル電流源５２（５５）は遮断され動
作しなくなる。
８７（９７）の出力とコンパレータ回路８２（９２）の
出力との論理和によってオン／オフがコントロールされ
るスイッチである。なお、この論理和は論理和回路８４
（９４）で作成される。論理和回路８４（９４）の出力
電圧レベルがＨＩＧＨとなったときにスイッチ７１（７
２）は開き、トータル電流源５２（５５）は遮断され動
作しなくなる。
【００１６】１水平走査毎に行われるレーザダイオード
５９（６０）の通常のラインＡＰＣ制御においては、非
画像領域の制御期間Ｔ１（図２）（Ｔ２（図２））でス
イッチ５３（５６）をオフにし、スイッチ５６（５３）
をオンにしてレーザ５９（６０）のみを点灯させる。ま
た、これに同期してサンプルホルド回路６２（６５）を
スルー状態とする。なお、通常はサンプルホルド回路の
状態はサンプル状態かホルド状態をとるが、本実施形態
においては、サンプル期間に、サンプルホルド回路を通
る信号の電圧レベルが変動し、この変動を伴うＡＰＣに
主眼をおいているので、サンプル状態という言葉の代わ
りにスルー状態という言葉を用いる。この時レーザ５９
（６０）のみのレーザ光の一部がフォトダイオード５８
（５８）で検出され、その信号は電流電圧変換器（Ｉ／
Ｖ）６１（６１）にて電圧信号に変換される。この変換
後の信号はサンプルホルド回路６２（６５）をスルー状
態で通り、オペレーショナルアンプ６４（６７）に供給
される。オペレーショナルアンプ６４（６７）ではサン
プルホルド回路６２（６５）の出力信号と基準電圧発生
器６３（６６）の基準電圧を比較し、その差信号に応じ
てトータル電流源５２（５５）の電流を制御する。即
ち、基準電圧発生器６３（６６）で基準電圧として設定
されている目標光量となるようにトータル電流源５２
（５５）の電流を制御することによってレーザ５９（６
０）の光量が所望の光量となるようにＡＰＣ制御が行わ
れる。
５９（６０）の通常のラインＡＰＣ制御においては、非
画像領域の制御期間Ｔ１（図２）（Ｔ２（図２））でス
イッチ５３（５６）をオフにし、スイッチ５６（５３）
をオンにしてレーザ５９（６０）のみを点灯させる。ま
た、これに同期してサンプルホルド回路６２（６５）を
スルー状態とする。なお、通常はサンプルホルド回路の
状態はサンプル状態かホルド状態をとるが、本実施形態
においては、サンプル期間に、サンプルホルド回路を通
る信号の電圧レベルが変動し、この変動を伴うＡＰＣに
主眼をおいているので、サンプル状態という言葉の代わ
りにスルー状態という言葉を用いる。この時レーザ５９
（６０）のみのレーザ光の一部がフォトダイオード５８
（５８）で検出され、その信号は電流電圧変換器（Ｉ／
Ｖ）６１（６１）にて電圧信号に変換される。この変換
後の信号はサンプルホルド回路６２（６５）をスルー状
態で通り、オペレーショナルアンプ６４（６７）に供給
される。オペレーショナルアンプ６４（６７）ではサン
プルホルド回路６２（６５）の出力信号と基準電圧発生
器６３（６６）の基準電圧を比較し、その差信号に応じ
てトータル電流源５２（５５）の電流を制御する。即
ち、基準電圧発生器６３（６６）で基準電圧として設定
されている目標光量となるようにトータル電流源５２
（５５）の電流を制御することによってレーザ５９（６
０）の光量が所望の光量となるようにＡＰＣ制御が行わ
れる。
【００１７】一方、画像領域においては、制御期間の電
流電圧変換器（Ｉ／Ｖ）６１の出力信号がサンプルホル
ド回路６２（６５）にホルドされており、オペレーショ
ナルアンプ６４（６７）でホルドされた信号と基準電圧
発生部６３（６６）で発生する基準電圧によって半導体
レーザ５９（６０）の光量が一定値に制御され続ける。
流電圧変換器（Ｉ／Ｖ）６１の出力信号がサンプルホル
ド回路６２（６５）にホルドされており、オペレーショ
ナルアンプ６４（６７）でホルドされた信号と基準電圧
発生部６３（６６）で発生する基準電圧によって半導体
レーザ５９（６０）の光量が一定値に制御され続ける。
【００１８】次に、本実施形態の半導体レーザの保護に
ついて説明する。
ついて説明する。
【００１９】第１の比較手段のコンパレータ８２（９
２）の（＋）側の入力端子にはサンプルホルド回路６２
（６５）の出力が接続されている。サンプルホルド回路
６２（６５）が制御期間Ｔ１（図２）（Ｔ２（図２））
においてスルー状態の時に、コンパレータ回路８２（９
２）に入力しているサンプルホルド信号の電圧レベルが
ＨＩＧＨであり、コンパレータ回路８２（９２）は動作
可能（ＨＩＧＨレベルを出力でき得る状態）となる。従
って、コンパレータ回路８２（９２）は制御期間Ｔ１
（Ｔ２）においてスルー状態であるときのみ比較動作可
能な回路である。半導体レーザ５９（６０）がこれ以上
の光では破壊してしまう恐れがある光量に対応するリミ
ット電圧がリミット電圧保持回路８３（９３）にて設定
されている。このリミット電圧保持回路８３（９３）が
出力するリミット電圧はコンパレータ回路８２（９２）
の（−）側の入力端子に接続されている。コンパレータ
回路８２（９２）は、サンプルホルド回路６２（６５）
がスルー状態である制御期間Ｔ１（Ｔ２）においての
み、サンプルホルド回路６２（６５）の出力とリミット
電圧保持回路８３（９３）が出力するリミット電圧と比
較を行う。この時にリミット電圧保持回路８３（９３）
が出力するリミット電圧よりサンプルホルド回路６２
（６５）の出力が高くなった場合に、コンパレータ回路
８２（９２）の出力電圧レベルはＨＩＧＨになり、これ
が論理和回路８４（９４）に入力され、トータル電流源
５２（５５）のスイッチ７１（７２）がオフになり、半
導体レーザ５９（６０）に供給される電流は遮断され
る。即ち、トータル電流源５２（５５）が出力するトー
タル電流を調整している期間Ｔ１（Ｔ２）においてレー
ザの光量が破壊領域に達しそうな場合に、レーザの点灯
は中断される。なお、コンパレータ回路８２（９２）の
出力電圧レベルは、期間Ｔ１項（Ｔ２）以外の期間では
ずっとＬＯＷに保持される。
２）の（＋）側の入力端子にはサンプルホルド回路６２
（６５）の出力が接続されている。サンプルホルド回路
６２（６５）が制御期間Ｔ１（図２）（Ｔ２（図２））
においてスルー状態の時に、コンパレータ回路８２（９
２）に入力しているサンプルホルド信号の電圧レベルが
ＨＩＧＨであり、コンパレータ回路８２（９２）は動作
可能（ＨＩＧＨレベルを出力でき得る状態）となる。従
って、コンパレータ回路８２（９２）は制御期間Ｔ１
（Ｔ２）においてスルー状態であるときのみ比較動作可
能な回路である。半導体レーザ５９（６０）がこれ以上
の光では破壊してしまう恐れがある光量に対応するリミ
ット電圧がリミット電圧保持回路８３（９３）にて設定
されている。このリミット電圧保持回路８３（９３）が
出力するリミット電圧はコンパレータ回路８２（９２）
の（−）側の入力端子に接続されている。コンパレータ
回路８２（９２）は、サンプルホルド回路６２（６５）
がスルー状態である制御期間Ｔ１（Ｔ２）においての
み、サンプルホルド回路６２（６５）の出力とリミット
電圧保持回路８３（９３）が出力するリミット電圧と比
較を行う。この時にリミット電圧保持回路８３（９３）
が出力するリミット電圧よりサンプルホルド回路６２
（６５）の出力が高くなった場合に、コンパレータ回路
８２（９２）の出力電圧レベルはＨＩＧＨになり、これ
が論理和回路８４（９４）に入力され、トータル電流源
５２（５５）のスイッチ７１（７２）がオフになり、半
導体レーザ５９（６０）に供給される電流は遮断され
る。即ち、トータル電流源５２（５５）が出力するトー
タル電流を調整している期間Ｔ１（Ｔ２）においてレー
ザの光量が破壊領域に達しそうな場合に、レーザの点灯
は中断される。なお、コンパレータ回路８２（９２）の
出力電圧レベルは、期間Ｔ１項（Ｔ２）以外の期間では
ずっとＬＯＷに保持される。
【００２０】次に、サンプルホルド回路６２（６５）が
ホルド中の時の説明を行う。ホルド中には、上述のコン
パレータ８２（９２）の動作は禁止されている。８５
（９５）は差動増幅器であり、レーザ５９（６０）に流
れる電流を入力端子間の抵抗の両端の電圧により検出す
る。差動増幅器８５（９５）によって検出された半導体
レーザ５９（６０）に流れている電流に対応した差動増
幅器８５（９５）の出力が、１．２倍のゲインを持つサ
ンプルホルド回路８６（９６）に入力される。差動増幅
器８５（９５）の出力はコンパレータ回路８７（９７）
にも入力される。１．２倍のゲインを持つサンプルホル
ド回路８６（９６）は、サンプルホルド回路６２（６
５）と同期してサンプルホルドを行うので、ＡＰＣ制御
によって決定した半導体レーザ５９（６０）に流れる電
流量に対応した差動増幅器８５（９５）の出力電圧の
１．２倍の電圧をホルドする。コンパレータ８７（９
７）はホルド中のみ比較動作するコンパレータである。
コンパレータ回路８７（９７）は、ホルド中に前述のＡ
ＰＣ制御によって決定した半導体レーザ５９（６０）に
流れる電流量に対応した差動増幅器８５（９５）の出力
電圧の１．２倍の電圧と、ホルド中に実際に半導体レー
ザ５９（６０）に流入している電流に対応した差動増幅
器８５（９５）の出力電圧とを比較する。実際に流れて
いる電流量がＡＰＣが決定した電流量の１．２倍以上に
なった場合に、コンパレータ回路８７（９７）の出力電
圧レベルはＨＩＧＨになり、これが論理和回路８４（９
４）に入力され、論理和回路８４（９４）の出力電圧レ
ベルがＨＩＧＨになり、これを入力するトータル電流源
５２（５５）のスイッチ７１（７２）がオフになり、半
導体レーザ５９（６０）に供給される電流が遮断され
る。即ち、ホルド中にレーザの光量がＡＰＣで定まる量
の１．２倍の破壊領域に達しそうな場合、レーザ５９
（６０）の点灯は中断される。
ホルド中の時の説明を行う。ホルド中には、上述のコン
パレータ８２（９２）の動作は禁止されている。８５
（９５）は差動増幅器であり、レーザ５９（６０）に流
れる電流を入力端子間の抵抗の両端の電圧により検出す
る。差動増幅器８５（９５）によって検出された半導体
レーザ５９（６０）に流れている電流に対応した差動増
幅器８５（９５）の出力が、１．２倍のゲインを持つサ
ンプルホルド回路８６（９６）に入力される。差動増幅
器８５（９５）の出力はコンパレータ回路８７（９７）
にも入力される。１．２倍のゲインを持つサンプルホル
ド回路８６（９６）は、サンプルホルド回路６２（６
５）と同期してサンプルホルドを行うので、ＡＰＣ制御
によって決定した半導体レーザ５９（６０）に流れる電
流量に対応した差動増幅器８５（９５）の出力電圧の
１．２倍の電圧をホルドする。コンパレータ８７（９
７）はホルド中のみ比較動作するコンパレータである。
コンパレータ回路８７（９７）は、ホルド中に前述のＡ
ＰＣ制御によって決定した半導体レーザ５９（６０）に
流れる電流量に対応した差動増幅器８５（９５）の出力
電圧の１．２倍の電圧と、ホルド中に実際に半導体レー
ザ５９（６０）に流入している電流に対応した差動増幅
器８５（９５）の出力電圧とを比較する。実際に流れて
いる電流量がＡＰＣが決定した電流量の１．２倍以上に
なった場合に、コンパレータ回路８７（９７）の出力電
圧レベルはＨＩＧＨになり、これが論理和回路８４（９
４）に入力され、論理和回路８４（９４）の出力電圧レ
ベルがＨＩＧＨになり、これを入力するトータル電流源
５２（５５）のスイッチ７１（７２）がオフになり、半
導体レーザ５９（６０）に供給される電流が遮断され
る。即ち、ホルド中にレーザの光量がＡＰＣで定まる量
の１．２倍の破壊領域に達しそうな場合、レーザ５９
（６０）の点灯は中断される。
【００２１】なお、本実施形態ではサンプルホルド回路
８６（９６）のゲインを１．２倍としているが、このゲ
インはこの値に限られるものではなく、半導体レーザ５
９（６０）が破壊しないための電流上限値を規定し、且
つ、誤動作が発生しないように定めるものである。
８６（９６）のゲインを１．２倍としているが、このゲ
インはこの値に限られるものではなく、半導体レーザ５
９（６０）が破壊しないための電流上限値を規定し、且
つ、誤動作が発生しないように定めるものである。
【００２２】また、半導体レーザの光量の調整は、図２
に示すように半導体レーザ５９については期間Ｔ１に行
われ、半導体レーザ６０については期間Ｔ２に行われる
ので、フォトダイオード５８と電流電圧変換器（Ｉ／
Ｖ）６１は時分割で利用されることとなり、これらは１
系統あるだけでよい。
に示すように半導体レーザ５９については期間Ｔ１に行
われ、半導体レーザ６０については期間Ｔ２に行われる
ので、フォトダイオード５８と電流電圧変換器（Ｉ／
Ｖ）６１は時分割で利用されることとなり、これらは１
系統あるだけでよい。
【００２３】
【発明の効果】以上説明してきたように、本発明によれ
ば、レーザ光源が発光している如何なる時でも保護回路
を有効に動作させることが可能となり、レーザ光源を破
壊から守ることが可能となる。
ば、レーザ光源が発光している如何なる時でも保護回路
を有効に動作させることが可能となり、レーザ光源を破
壊から守ることが可能となる。
【図１】本発明による実施形態１の構成及び動作説明
図。
図。
【図２】本発明による実施形態１のタイミングチャート
である。
である。
【図３】本発明および従来例における画像形成装置の断
面図。
面図。
【図４】図２の露光制御部内の光学構成図。
１０ 露光制御部 １１ 感光体ドラム ３１ ツインレーザ ３２ 絞り ３３ 回転多面鏡 ３４ ｆ−θレンズ ３５ コリメータレンズ ３６ ビームディテクト（ＢＤ）センサー ６８ システムコントローラ ６９ 画像処理部 ７３〜７５ 制御信号発生部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 伊藤 秋生 東京都大田区下丸子３丁目30番２号 キヤ ノン株式会社内 (72)発明者 田原 久嗣 東京都大田区下丸子３丁目30番２号 キヤ ノン株式会社内 (72)発明者 横山 幸生 東京都大田区下丸子３丁目30番２号 キヤ ノン株式会社内 Ｆターム(参考） 5F072 AB13 GG09 HH02 HH03 HH04 JJ05 YY20
Claims (5)
- 【請求項１】 光源の放射する光により感光体上に画像
データを書込み可視像化する手段を備え、前記可視画像
より被転写紙上に画像形成する画像形成装置において、 前記光源の放射する光量を検出して光量検出値を出力す
る光量検出手段と、 前記光量検出値をサンプルホルドするサンプルホルド手
段と、 前記光源が光を放射していて且つ前記サンプルホルド手
段がサンプル状態である制御期間に前記光量検出値と光
量基準値との差に応じて前記光量を負帰還制御する光量
制御手段と、 前記制御期間に、前記光量検出値と最大許容光量とを比
較して、第１の有効比較出力を出力する第１の比較手段
と、 前記光源に流れる電流を検出して電流検出値を出力する
電流検出手段と、 前記制御期間の前記電流検出値の割増値を保持する電流
検出値保持手段と、 前記制御期間以外の時に、前記割増値と現在の前記電流
検出値とを比較して、第２の有効比較出力を出力する第
２の比較手段と、 前記第１又は第２の有効比較出力に応じて前記光源に流
れる電流を遮断する電流遮断手段とを備えることを特徴
とする画像形成装置。 - 【請求項２】 前記光源と、前記サンプルホルド手段、
前記光量制御手段、前記第１の比較手段、前記電流検出
手段、前記電流検出値保持手段、前記第２の比較手段、
前記電流遮断手段が複数組あり、前記光量検出手段の個
数が該組数よりも少なく、前記光量検出手段が時分割で
利用されることを特徴とする請求項１に記載の画像形成
装置。 - 【請求項３】 光源の放射する光により感光体上に画像
データを書き込み可視像化する手段を備え、前記可視画
像より被転写紙上に画像形成する画像形成装置におい
て、 前記光源の放射する光量を検出する光量検出手段と、 前記光源の放射する光量を前記光量検出手段の出力に応
じて自動制御する光量調整手段と、 前記自動制御期間に光量が設定光量を上回った場合に光
源の電流源回路を働かせなくする第１の保護手段と、 前記自動制御期間外に光源を流れる電流が前記自動制御
期間に定まった電流を一定割合以上上回った場合に電流
源回路を働かせなくする第２の保護手段とを備えること
を特徴とする画像形成装置。 - 【請求項４】 前記光源と、前記光量調整手段、前記第
１の保護手段、前記第２の保護手段が複数組あり、前記
光量検出手段の個数が該組数より少なく、前記光量検出
手段が時分割で利用されることを特徴とする請求項３に
記載の画像形成装置。 - 【請求項５】 請求項１乃至４のいずれか１項に記載の
画像形成装置を備えることを特徴とする複写機。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28259998A JP4148485B2 (ja) | 1998-10-05 | 1998-10-05 | 画像形成装置、及び複写機 |
| US09/411,393 US6347105B1 (en) | 1998-10-05 | 1999-10-04 | Laser control apparatus with a current detecting and interrupting system |
| DE69940092T DE69940092D1 (de) | 1998-10-05 | 1999-10-05 | Lasersteuerungsgerät, Bilderzeugungsgerät und Kopiergerät |
| EP99119711A EP0993089B1 (en) | 1998-10-05 | 1999-10-05 | Laser control apparatus, image forming apparatus and copier |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28259998A JP4148485B2 (ja) | 1998-10-05 | 1998-10-05 | 画像形成装置、及び複写機 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000114628A true JP2000114628A (ja) | 2000-04-21 |
| JP2000114628A5 JP2000114628A5 (ja) | 2005-11-24 |
| JP4148485B2 JP4148485B2 (ja) | 2008-09-10 |
Family
ID=17654611
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28259998A Expired - Fee Related JP4148485B2 (ja) | 1998-10-05 | 1998-10-05 | 画像形成装置、及び複写機 |
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| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6347105B1 (ja) |
| EP (1) | EP0993089B1 (ja) |
| JP (1) | JP4148485B2 (ja) |
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|---|---|---|---|---|
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| JP2003198052A (ja) * | 2001-12-27 | 2003-07-11 | Noritsu Koki Co Ltd | 画像露光装置 |
| US7505691B2 (en) * | 2004-05-21 | 2009-03-17 | Finisar Corporation | Optical emission module |
| JP5428642B2 (ja) * | 2009-08-21 | 2014-02-26 | 株式会社リコー | 半導体レーザ駆動装置、及び半導体レーザ駆動装置を用いた画像形成装置 |
| JP2013008950A (ja) * | 2011-05-23 | 2013-01-10 | Panasonic Corp | 光源装置および画像表示装置 |
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|---|---|---|---|---|
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| JPS58107692A (ja) * | 1981-12-21 | 1983-06-27 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | 半導体レ−ザの保護方法 |
| US4985896A (en) * | 1985-03-29 | 1991-01-15 | Canon Kabushiki Kaisha | Laser driving device |
| US4837787A (en) * | 1986-06-04 | 1989-06-06 | Konishiroku Photo Industry Co., Ltd. | Semiconductor laser device with light emission inhibiting means |
| JPS6381881A (ja) * | 1986-09-25 | 1988-04-12 | Minolta Camera Co Ltd | レ−ザ発振装置 |
| JPS6459879A (en) * | 1987-08-31 | 1989-03-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Semiconductor laser protective circuit |
| JPH02253969A (ja) * | 1989-03-29 | 1990-10-12 | Toshiba Corp | 画像形成装置 |
| US5123023A (en) * | 1990-11-21 | 1992-06-16 | Polaroid Corporation | Laser driver with plural feedback loops |
| US5504517A (en) * | 1991-04-04 | 1996-04-02 | Canon Kabushiki Kaisha | Laser scanner control circuit which is used in image forming apparatus and driver IC for use in such a circuit |
| JP3186290B2 (ja) * | 1993-01-20 | 2001-07-11 | ソニー株式会社 | 符号化方法、符号化装置、復号化装置及び記録媒体 |
| US5414280A (en) * | 1993-12-27 | 1995-05-09 | Xerox Corporation | Current driven voltage sensed laser drive (CDVS LDD) |
| JPH07199096A (ja) | 1993-12-28 | 1995-08-04 | Canon Inc | 画像形成装置 |
| JP3423550B2 (ja) | 1996-12-13 | 2003-07-07 | キヤノン株式会社 | Ａｐｃ制御の引込方法及び画像形成装置 |
| JPH1140875A (ja) * | 1997-07-15 | 1999-02-12 | Canon Inc | レーザ駆動回路、画像形成装置及び複写機 |
| JPH11208017A (ja) | 1998-01-30 | 1999-08-03 | Canon Inc | 発光素子駆動装置 |
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1998
- 1998-10-05 JP JP28259998A patent/JP4148485B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1999
- 1999-10-04 US US09/411,393 patent/US6347105B1/en not_active Expired - Fee Related
- 1999-10-05 DE DE69940092T patent/DE69940092D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1999-10-05 EP EP99119711A patent/EP0993089B1/en not_active Expired - Lifetime
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