JP5353911B2 - 電子部品及び基板モジュール - Google Patents
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Description
本発明の第2の形態に係る電子部品は、複数の誘電体層が積層されてなる直方体状の積層体と、それぞれが異なる前記誘電体層上に設けられている長方形状の複数の第1の容量導体と、前記各第1の容量導体に接続され、かつ、前記積層体の第1の端面に引き出されている複数の第1の引き出し導体と、前記各第1の容量導体に接続され、かつ、前記積層体の第1の側面に引き出されている第3の引き出し導体であって、前記第1の引き出し導体と接触していない複数の第3の引き出し導体と、それぞれが異なる前記誘電体層上に設けられている長方形状の複数の第2の容量導体と、前記各第2の容量導体に接続され、かつ、前記積層体の第2の端面に引き出されている複数の第2の引き出し導体と、前記各第2の容量導体に接続され、かつ、前記第1の側面に引き出されている第4の引き出し導体であって、前記第2の引き出し導体と接触していない複数の第4の引き出し導体と、前記誘電体層上に設けられ、かつ、前記第1の容量導体及び前記第2の容量導体と前記誘電体層を介して対向している第3の容量導体と、前記第1の端面、前記第1の側面及び前記積層体の底面に跨って設けられ、かつ、前記複数の第1の引き出し導体及び前記複数の第3の引き出し導体に接続されている第1の外部電極と、前記第2の端面、前記第1の側面及び前記底面に跨って設けられ、かつ、前記複数の第2の引き出し導体及び前記複数の第4の引き出し導体に接続されている第2の外部電極と、を備えており、前記第3の引き出し導体は、前記各第1の容量導体に2つずつ設けられており、前記2つの第3の引き出し導体の内の前記第1の端面に近い方の前記第3の引き出し導体は、該第1の端面に接しておらず、前記第4の引き出し導体は、前記各第2の容量導体に2つずつ設けられており、前記2つの第4の引き出し導体の内の前記第2の端面に近い方の前記第4の引き出し導体は、該第2の端面に接しておらず、前記2つの第3の引き出し導体の内の前記第1の端面から遠い方の前記第3の引き出し導体は、前記第1の端面から前記第2の端面へと延びる前記第1の容量導体の辺における前記第2の端面側の端部に接続されており、前記2つの第4の引き出し導体の内の前記第2の端面から遠い方の前記第4の引き出し導体は、前記第1の端面から前記第2の端面へと延びる前記第2の容量導体の辺における前記第1の端面側の端部に接続されており、前記2つの第3の引き出し導体の内の前記第1の端面から遠い方の前記第3の引き出し導体と前記2つの第4の引き出し導体の内の前記第2の端面から遠い方の前記第4の引き出し導体との距離は、該2つの第3の引き出し導体の内の該第1の端面から遠い方の該第3の引き出し導体と該第1の端面との距離、及び、該2つの第4の引き出し導体の内の該第2の端面から遠い方の該第4の引き出し導体と該第2の端面との距離よりも短いこと、を特徴とする。
(電子部品の構成)
まず、第1の実施形態に係る電子部品の構成について図面を参照しながら説明する。図1は、第1の実施形態に係る電子部品10の外観斜視図である。図2は、図1の電子部品10の積層体11の分解斜視図である。図3は、図1の電子部品の内部平面図である。以下では、積層体11の積層方向をz軸方向と定義する。積層体11をz軸方向から平面視したときに、積層体11の長辺が延在している方向をx軸方向と定義する。積層体11をz軸方向から平面視したときに、積層体11の短辺が延在している方向をy軸方向と定義する。
次に、電子部品10の製造方法について説明する。なお、図面は、図1ないし図3を援用する。
次に、電子部品10を備えている基板モジュール40について図面を参照しながら説明する。図4(a)は、基板モジュール40の断面構造図であり、図4(b)は、基板モジュール40をz軸方向の正方向側から平面視した図である。図5は、図4の基板モジュール40の等価回路図である。
以上の電子部品10によれば、以下に説明するように、高周波帯域における挿入損失を低減できる。図6は、比較例に係る電子部品110の外観斜視図である。図7は、比較例に係る電子部品110の積層体111の分解斜視図である。比較例に係る電子部品110は、電子部品10において引き出し導体22〜25及び側面S5,S6上の外部電極12を取り除いたものである。そこで、電子部品110において電子部品10と同じ構成については、電子部品10の構成の参照符号に100を足した参照符号を付した。
本願発明者は、電子部品10が奏する効果をより明確にするために、以下に説明する実験を行った。具体的には、図1及び図2に示す電子部品10のサンプル(以下、第1のサンプル、第3のサンプル、第5のサンプル、第7のサンプル)及び図6及び図7に示す電子部品110(第2のサンプル、第4のサンプル、第6のサンプル、第8のサンプル)を作製した。そして、各サンプルを図4に示すように回路基板上に実装し、ネットワークアナライザ(アジレント社製8722D)を用いて、第1のサンプルないし第8のサンプルのESL、入力ポートP1と出力ポートP2との間の挿入損失(S21)を測定した。まず、各サンプルの条件について説明する。
内部導体及び外部電極の材料:Cu
セラミック層の比誘電率(ε):27
素子厚(内部導体30,31の間隔):122μm
外層厚み(内部導体30a,31aから積層体11の上面S1までの距離及び内部導体30c,31cから積層体11の下面S2までの距離):88μm
以下に、第2の実施形態に係る電子部品10aの構成について図面を参照しながら説明する。図12は、第2の実施形態に係る電子部品10aの内部平面図である。なお、電子部品10aの外観斜視図は、電子部品10の外観斜視図と同じであるので、図1を援用する。
以下に、第3の実施形態に係る電子部品10bの構成について図面を参照しながら説明する。図13は、第3の実施形態に係る電子部品10bの内部平面図である。なお、電子部品10bの外観斜視図は、電子部品10の外観斜視図と同じであるので、図1を援用する。
以下に、第4の実施形態に係る電子部品10cの構成について図面を参照しながら説明する。図14は、第4の実施形態に係る電子部品10cの内部平面図である。なお、電子部品10cの外観斜視図は、電子部品10の外観斜視図と同じであるので、図1を援用する。
以下に、第5の実施形態に係る電子部品10dの構成について図面を参照しながら説明する。図15は、第5の実施形態に係る電子部品10dの内部平面図である。なお、電子部品10dの外観斜視図は、電子部品10の外観斜視図と同じであるので、図1を援用する。
以下に、第6の実施形態に係る電子部品10eの構成について図面を参照しながら説明する。図16は、第6の実施形態に係る電子部品10eの内部平面図である。
(電子部品の構成及び製造方法)
以下に、第7の実施形態に係る電子部品10fについて図面を参照しながら説明する。図17は、第7の実施形態に係る電子部品10fの内部平面図である。
以下に、第8の実施形態に係る電子部品10gについて図面を参照しながら説明する。図18は、第8の実施形態に係る電子部品10gの積層体11の分解斜視図である。図19は、図18の電子部品10gの内部平面図である。なお、電子部品10gの外観斜視図は、電子部品10の外観斜視図と同じであるので、図1を援用する。
次に、電子部品10gが実装された基板モジュール40aについて図面を参照しながら説明する。図20は、基板モジュール40aの断面構造図である。
以上の電子部品10gによれば、電子部品10と同様に、高周波帯域における挿入損失を低減できる。また、電子部品10gでは、電子部品10と同様に、回路基板51への実装の際にショートが発生することを抑制できる。更に、電子部品10gによれば、電子部品10と同様に、低ESL化を図ることができる。更に、電子部品10gでは、電子部品10と同様に、デラミネーションの発生を抑制できる。更に、電子部品10gでは、電子部品10と同様に、積層体11の角において、引き出し電極220,221が露出しないので、電子部品10gの耐湿性が向上する。
以下に、第9の実施形態に係る電子部品10hの構成について図面を参照しながら説明する。図21は、第9の実施形態に係る電子部品10hの内部平面図である。なお、電子部品10hの外観斜視図は、電子部品10の外観斜視図と同じであるので、図1を援用する。
る。
以下に、第10の実施形態に係る電子部品10iの構成について図面を参照しながら説明する。図22は、第10の実施形態に係る電子部品10iの内部平面図である。
以下に、第11の実施形態に係る電子部品10jの構成について図面を参照しながら説明する。図23は、第11の実施形態に係る電子部品10jの外観斜視図である。
以下に、第12の実施形態に係る電子部品10kの構成について図面を参照しながら説明する。図24は、第12の実施形態に係る電子部品10kの外観斜視図である。
本発明に係る電子部品10,10a〜10k及び基板モジュール40,40aは、前記実施形態に示したものに限らず、その要旨の範囲内において変更可能である。
S2 下面
S3,S4 端面
S5,S6 側面
10,10a〜10k 電子部品
11 積層体
12a,12b 外部電極
17a〜17g セラミック層
18a〜18c,19a〜19c,218a〜218c,219a,219b 容量導体
20a〜20c,21a〜21c,22a〜22c,23a〜23c,24a〜24c,25a〜25c,72a〜72c,73a〜73c,74a〜74c,75a〜75c,220a〜220c,221a〜221c,222a〜222c,223a〜223c,224a,224b,225a,225b,272a〜272c,273a〜273c,274a,274b,275a,275b 引き出し導体
30a〜30c,31a〜31c,32a,32b,230a〜230c,231a,231b 内部導体
40,40a 基板モジュール
51 回路基板
52 基板本体
54 信号導体
55 グランド電極
56 ビアホール導体
60a,60b はんだ
Claims (7)
- 複数の誘電体層が積層されてなる直方体状の積層体と、
それぞれが異なる前記誘電体層上に設けられている複数の第1の容量導体と、
前記各第1の容量導体に接続され、かつ、前記積層体の第1の端面に引き出されている複数の第1の引き出し導体と、
前記各第1の容量導体に接続され、かつ、前記積層体の第1の側面に引き出されている第3の引き出し導体であって、前記第1の引き出し導体と接触していない複数の第3の引き出し導体と、
それぞれが異なる前記誘電体層上に設けられている複数の第2の容量導体と、
前記各第2の容量導体に接続され、かつ、前記積層体の第2の端面に引き出されている複数の第2の引き出し導体と、
前記各第2の容量導体に接続され、かつ、前記第1の側面に引き出されている第4の引き出し導体であって、前記第2の引き出し導体と接触していない複数の第4の引き出し導体と、
前記誘電体層上に設けられ、かつ、前記第1の容量導体及び前記第2の容量導体と前記誘電体層を介して対向している第3の容量導体と、
前記第1の端面、前記第1の側面及び前記積層体の底面に跨って設けられ、かつ、前記複数の第1の引き出し導体及び前記複数の第3の引き出し導体に接続されている第1の外部電極と、
前記第2の端面、前記第1の側面及び前記底面に跨って設けられ、かつ、前記複数の第2の引き出し導体及び前記複数の第4の引き出し導体に接続されている第2の外部電極と、
を備えており、
前記第3の引き出し導体は、前記各第1の容量導体に2つずつ設けられており、
前記2つの第3の引き出し導体の内の前記第1の端面に近い方の前記第3の引き出し導体は、該第1の端面に接しておらず、
前記第4の引き出し導体は、前記各第2の容量導体に2つずつ設けられており、
前記2つの第4の引き出し導体の内の前記第2の端面に近い方の前記第4の引き出し導体は、該第2の端面に接しておらず、
前記2つの第3の引き出し導体の内の前記第1の端面から遠い方の前記第3の引き出し導体は、前記第1の端面よりも該第1の端面と前記第2の端面との第1の中点の近くに設けられており、
前記2つの第4の引き出し導体の内の前記第2の端面から遠い方の前記第4の引き出し導体は、前記第2の端面よりも前記第1の中点の近くに設けられており、
前記2つの第3の引き出し導体の内の前記第1の端面から遠い方の前記第3の引き出し導体と前記2つの第4の引き出し導体の内の前記第2の端面から遠い方の前記第4の引き出し導体との距離は、該2つの第3の引き出し導体の内の該第1の端面から遠い方の該第3の引き出し導体と該第1の端面との距離、及び、該2つの第4の引き出し導体の内の該第2の端面から遠い方の該第4の引き出し導体と該第2の端面との距離よりも短いこと、
を特徴とする電子部品。 - 複数の誘電体層が積層されてなる直方体状の積層体と、
それぞれが異なる前記誘電体層上に設けられている長方形状の複数の第1の容量導体と、
前記各第1の容量導体に接続され、かつ、前記積層体の第1の端面に引き出されている複数の第1の引き出し導体と、
前記各第1の容量導体に接続され、かつ、前記積層体の第1の側面に引き出されている第3の引き出し導体であって、前記第1の引き出し導体と接触していない複数の第3の引き出し導体と、
それぞれが異なる前記誘電体層上に設けられている長方形状の複数の第2の容量導体と、
前記各第2の容量導体に接続され、かつ、前記積層体の第2の端面に引き出されている複数の第2の引き出し導体と、
前記各第2の容量導体に接続され、かつ、前記第1の側面に引き出されている第4の引き出し導体であって、前記第2の引き出し導体と接触していない複数の第4の引き出し導体と、
前記誘電体層上に設けられ、かつ、前記第1の容量導体及び前記第2の容量導体と前記誘電体層を介して対向している第3の容量導体と、
前記第1の端面、前記第1の側面及び前記積層体の底面に跨って設けられ、かつ、前記複数の第1の引き出し導体及び前記複数の第3の引き出し導体に接続されている第1の外部電極と、
前記第2の端面、前記第1の側面及び前記底面に跨って設けられ、かつ、前記複数の第2の引き出し導体及び前記複数の第4の引き出し導体に接続されている第2の外部電極と、
を備えており、
前記第3の引き出し導体は、前記各第1の容量導体に2つずつ設けられており、
前記2つの第3の引き出し導体の内の前記第1の端面に近い方の前記第3の引き出し導体は、該第1の端面に接しておらず、
前記第4の引き出し導体は、前記各第2の容量導体に2つずつ設けられており、
前記2つの第4の引き出し導体の内の前記第2の端面に近い方の前記第4の引き出し導体は、該第2の端面に接しておらず、
前記2つの第3の引き出し導体の内の前記第1の端面から遠い方の前記第3の引き出し導体は、前記第1の端面から前記第2の端面へと延びる前記第1の容量導体の辺における前記第2の端面側の端部に接続されており、
前記2つの第4の引き出し導体の内の前記第2の端面から遠い方の前記第4の引き出し導体は、前記第1の端面から前記第2の端面へと延びる前記第2の容量導体の辺における前記第1の端面側の端部に接続されており、
前記2つの第3の引き出し導体の内の前記第1の端面から遠い方の前記第3の引き出し導体と前記2つの第4の引き出し導体の内の前記第2の端面から遠い方の前記第4の引き出し導体との距離は、該2つの第3の引き出し導体の内の該第1の端面から遠い方の該第3の引き出し導体と該第1の端面との距離、及び、該2つの第4の引き出し導体の内の該第2の端面から遠い方の該第4の引き出し導体と該第2の端面との距離よりも短いこと、
を特徴とする電子部品。 - 複数の誘電体層が積層されてなる直方体状の積層体と、
それぞれが異なる前記誘電体層上に設けられている複数の第1の容量導体と、
前記各第1の容量導体に接続され、かつ、前記積層体の第1の端面に引き出されている複数の第1の引き出し導体と、
前記各第1の容量導体に接続され、かつ、前記積層体の第1の側面に引き出されている第3の引き出し導体であって、前記第1の引き出し導体と接触していない複数の第3の引き出し導体と、
それぞれが異なる前記誘電体層上に設けられ、かつ、前記複数の第1の容量導体と前記誘電体層を介して対向している複数の第2の容量導体と、
前記各第2の容量導体に接続され、かつ、前記積層体の第2の端面に引き出されている複数の第2の引き出し導体と、
前記各第2の容量導体に接続され、かつ、前記第1の側面に引き出されている第4の引き出し導体であって、前記第2の引き出し導体と接触していない複数の第4の引き出し導体と、
前記第1の端面、前記第1の側面及び前記積層体の底面に跨って設けられ、かつ、前記複数の第1の引き出し導体及び前記複数の第3の引き出し導体に接続されている第1の外部電極と、
前記第2の端面、前記第1の側面及び前記底面に跨って設けられ、かつ、前記複数の第2の引き出し導体及び前記複数の第4の引き出し導体に接続されている第2の外部電極と、
を備えており、
前記第3の引き出し導体は、前記各第1の容量導体に2つずつ設けられており、
前記2つの第3の引き出し導体の内の前記第1の端面に近い方の前記第3の引き出し導体は、該第1の端面に接しておらず、
前記第4の引き出し導体は、前記各第2の容量導体に2つずつ設けられており、
前記2つの第4の引き出し導体の内の前記第2の端面に近い方の前記第4の引き出し導体は、該第2の端面に接しておらず、
前記2つの第3の引き出し導体の内の前記第1の端面から遠い方の前記第3の引き出し導体は、前記第1の端面よりも該第1の端面と前記第2の端面との第1の中点の近くに設けられており、
前記2つの第4の引き出し導体の内の前記第2の端面から遠い方の前記第4の引き出し導体は、前記第2の端面よりも前記第1の中点の近くに設けられており、
前記2つの第3の引き出し導体の内の前記第1の端面から遠い方の前記第3の引き出し導体と前記2つの第4の引き出し導体の内の前記第2の端面から遠い方の前記第4の引き出し導体との距離は、該2つの第3の引き出し導体の内の該第1の端面から遠い方の該第3の引き出し導体と該第1の端面との距離、及び、該2つの第4の引き出し導体の内の該第2の端面から遠い方の該第4の引き出し導体と該第2の端面との距離よりも短いこと、
を特徴とする電子部品。 - 前記第1の側面における前記第1の外部電極と前記第2の外部電極の間隔の最小値は、前記底面における該第1の外部電極と該第2の外部電極との間隔の最小値よりも小さいこと、
を特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の電子部品。 - 前記第1の側面において、前記第1の外部電極と前記第2の外部電極との間には、該第1の外部電極の電位及び該第2の外部電極の電位と異なる電位に保たれる外部電極が設けられていないこと、
を特徴とする請求項1ないし請求項4のいずれかに記載の電子部品。 - 前記各第1の容量導体に接続され、かつ、前記積層体の第2の側面に引き出されている複数の第5の引き出し導体と、
前記各第2の容量導体に接続され、かつ、前記第2の側面に引き出されている複数の第6の引き出し導体と、
を更に備えており、
前記第1の外部電極は、前記第1の端面、前記第1の側面、前記第2の側面及び前記底面に跨って設けられ、かつ、前記複数の第5の引き出し導体に接続されており、
前記第2の外部電極は、前記第2の端面、前記第2の側面、前記第2の側面及び前記底面に跨って設けられ、かつ、前記複数の第6の引き出し導体に接続されていること、
を特徴とする請求項1ないし請求項5のいずれかに記載の電子部品。 - 第1のランド及び第2のランドを含んでいる回路基板と、
前記回路基板に実装される請求項1ないし請求項6のいずれかに記載の電子部品と、
を備えており、
前記第1の外部電極は、前記第1のランドに接続され、
前記第2の外部電極は、前記第2のランドに接続されていること、
を特徴とする基板モジュール。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011016824A JP5353911B2 (ja) | 2011-01-28 | 2011-01-28 | 電子部品及び基板モジュール |
CN201210015547XA CN102623179A (zh) | 2011-01-28 | 2012-01-18 | 电子部件以及基板模块 |
US13/359,520 US8576538B2 (en) | 2011-01-28 | 2012-01-27 | Electronic component and substrate module |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011016824A JP5353911B2 (ja) | 2011-01-28 | 2011-01-28 | 電子部品及び基板モジュール |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012156471A JP2012156471A (ja) | 2012-08-16 |
JP5353911B2 true JP5353911B2 (ja) | 2013-11-27 |
Family
ID=46563035
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011016824A Active JP5353911B2 (ja) | 2011-01-28 | 2011-01-28 | 電子部品及び基板モジュール |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8576538B2 (ja) |
JP (1) | JP5353911B2 (ja) |
CN (1) | CN102623179A (ja) |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6107080B2 (ja) * | 2012-11-21 | 2017-04-05 | Tdk株式会社 | 積層コンデンサ |
CN204721322U (zh) * | 2013-01-22 | 2015-10-21 | 株式会社村田制作所 | Lc复合元器件 |
JP5811114B2 (ja) * | 2013-02-28 | 2015-11-11 | 株式会社村田製作所 | 電子部品 |
KR101452126B1 (ko) * | 2013-08-08 | 2014-10-16 | 삼성전기주식회사 | 기판 내장용 적층 세라믹 전자부품 및 적층 세라믹 전자부품 내장형 인쇄회로기판 |
KR101452130B1 (ko) * | 2013-08-30 | 2014-10-16 | 삼성전기주식회사 | 기판 내장용 적층 세라믹 전자부품 및 적층 세라믹 전자부품 내장형 인쇄회로기판 |
JP2015053495A (ja) * | 2014-10-07 | 2015-03-19 | 株式会社村田製作所 | セラミック電子部品およびその製造方法 |
JP2017108057A (ja) | 2015-12-11 | 2017-06-15 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ |
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JP5251834B2 (ja) | 2009-11-05 | 2013-07-31 | Tdk株式会社 | 積層コンデンサ |
-
2011
- 2011-01-28 JP JP2011016824A patent/JP5353911B2/ja active Active
-
2012
- 2012-01-18 CN CN201210015547XA patent/CN102623179A/zh active Pending
- 2012-01-27 US US13/359,520 patent/US8576538B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20120194963A1 (en) | 2012-08-02 |
US8576538B2 (en) | 2013-11-05 |
JP2012156471A (ja) | 2012-08-16 |
CN102623179A (zh) | 2012-08-01 |
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Date | Code | Title | Description |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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