JP5231919B2 - 被覆線及び膜抵抗器 - Google Patents

被覆線及び膜抵抗器 Download PDF

Info

Publication number
JP5231919B2
JP5231919B2 JP2008250289A JP2008250289A JP5231919B2 JP 5231919 B2 JP5231919 B2 JP 5231919B2 JP 2008250289 A JP2008250289 A JP 2008250289A JP 2008250289 A JP2008250289 A JP 2008250289A JP 5231919 B2 JP5231919 B2 JP 5231919B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resistor
silver
glass
film
wire
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2008250289A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009088529A (ja
Inventor
ジンケヴィッチ マツヴェイ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Heraeus Nexensos GmbH
Original Assignee
Heraeus Sensor Technology GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Heraeus Sensor Technology GmbH filed Critical Heraeus Sensor Technology GmbH
Publication of JP2009088529A publication Critical patent/JP2009088529A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5231919B2 publication Critical patent/JP5231919B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C17/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C7/00Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K7/00Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
    • G01K7/16Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements
    • G01K7/18Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a linear resistance, e.g. platinum resistance thermometer
    • G01K7/183Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a linear resistance, e.g. platinum resistance thermometer characterised by the use of the resistive element
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01BCABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
    • H01B1/00Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
    • H01B1/02Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors mainly consisting of metals or alloys
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01BCABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
    • H01B3/00Insulators or insulating bodies characterised by the insulating materials; Selection of materials for their insulating or dielectric properties
    • H01B3/002Inhomogeneous material in general
    • H01B3/004Inhomogeneous material in general with conductive additives or conductive layers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C17/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors
    • H01C17/28Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors adapted for applying terminals
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49082Resistor making
    • Y10T29/49087Resistor making with envelope or housing
    • Y10T29/49098Applying terminal

Description

本発明は、膜抵抗器、その製造方法並びにニッケルからなる膜抵抗器のための新規の接続線に関する。本発明の範囲内での膜抵抗器は、基板の電気的に絶縁された表面上の抵抗パターンであって、該抵抗パターンがガラスカバーで覆われており、かつ接続線と電気的に接続されており、該接続線が前記ガラスカバーから突出しているものを含む。
特に、接続線は、ガラスカバーで機械的に固定されている。ガラス被覆は、ガラスペーストを施与し、それを下地に焼き付けることによって行われる。個別の作成は、大量生産のためには費用がかかる。複数の膜抵抗器を1つの共通の基板上で一緒にガラス被覆する場合には、引き続き該膜抵抗器は鋸引きによって分離することができる。
Heraeus社のパンフレット"セラミック製及びガラス製測定抵抗/膜抵抗器/試験抵抗温度計(Keramik− und Glas−Messwiderstaende/Schicht−Widerstaende/Pruef−Widerstandsthermometer)"(PTM−W2)によれば、ニッケル製の白金被覆された接続脚を有する膜抵抗器は公知である。係る膜抵抗器は、400℃〜1000℃の高温使用のために設計されている。
Heraeus社のパンフレット"セラミック製及びガラス製測定抵抗/膜抵抗器/試験抵抗温度計"(PTM−W2)
本発明の課題は、大量生産のために更に単純化された方法を提供することにある。特に、白金外被が意図する保護特性を保持して、接続線のろう付けが単純化されることが望ましい。
前記課題は、白金測定抵抗を電気的に絶縁された基板上に有し、かつ該測定抵抗と接続された接続線を有し、前記接続線が外装されたニッケルコアを有する膜抵抗器であって、前記外被が、銀もしくは銀とガラスもしくはセラミックとの混合物からなることを特徴とする膜抵抗器によって解決される。
以下のものが好ましい実施態様である。
前記の膜抵抗器であって、銀外被もしくは銀相又はニッケルコアが、少なくとも99質量%の純度を有することを特徴とする膜抵抗器。
前記の膜抵抗器であって、ニッケルコアが直径100μm〜400μmを有し、かつ銀外被が0.2〜5μmの厚さであることを特徴とする膜抵抗器。
前記の膜抵抗器であって、該膜抵抗器が、外装された接続線を有し、該接続線の外被が、その導電性に関して、かつその機械的特性に関して、コア材料の拡散により脅かされないことを特徴とする膜抵抗器。
前記の膜抵抗器であって、測定抵抗と接続線が、その測定抵抗に固定された端部の領域でガラスもしくはガラスセラミックで被覆されていることを特徴とする膜抵抗器。
基板の電気的に絶縁された表面と、その上に配置された導体路と、該導体路と接続された2つの接続線と、前記導体路及び該導体路と接続された線材端部をシールするガラスカバーとを有する、特に前記の膜抵抗器であって、接続線が、ニッケルからなるコアと銀外被とを有することを特徴とする膜抵抗器。
基板の電気的に絶縁された表面上の少なくとも1つの抵抗パターンと、該抵抗パターンを覆っているガラスカバーと、該ガラスカバーから突出している接続線とからなり、前記接続線が前記抵抗パターンと導電接続されている膜抵抗器の製造方法において、複数の一緒にろう付けされた膜抵抗器を破断によって分離することを特徴とする方法。
前記の測定抵抗とそれに接続された被覆線とを有する膜抵抗器の製造方法において、前記被覆線を、熱圧着によって抵抗層の接点表面と導電接続させることを特徴とする方法。
膜抵抗器とニッケルベースの線材とを接続するための方法において、測定抵抗から突出する線材を軟ろうでろう付けすることを特徴とする方法。
前記の方法において、被覆線を融剤なくして軟ろうでろう付けすることを特徴とする方法。
本発明によれば、銀もしくは銀合金からなる線材は測定抵抗を損ねるが、ニッケルコアからなる薄い銀外被を有する線材はそれを損ねないことが判明した。また、銀外被は、膜抵抗器のその測定抵抗と反対の端部での固定のために軟ろうの使用を可能にする。好ましい実施態様においては、本発明によれば、銀外装されたニッケル線は、熱圧着によって接続ボード(パッド)上で測定抵抗と接続される。それに引き続き、場合によりその上にガラスペーストを施与する薄膜技術においてガラス被覆が行われる。そのガラスペーストは、多孔質体に焼結される。引き続き、測定抵抗は、ガラスペーストの破断を通じて、特に規定破断箇所で分離される。
好ましくは、該線材は、加熱された線材の周りにガラス層が形成するように加熱される。線材の被覆、特に薄膜被覆も、線材と測定電極及びエナメル(Glasur)との結合強度を高めるために適している。
前記被覆のためには、特に効果的に、不揮発性の有機成分、例えばセラミックもしくは金属、特にガラスが適している。
本発明によれば、ニッケルコアと銀外被を有する接続線が提供される。本発明による銀外被を有する接続線は、その外被により直接的にろう付けすることができ、その際、接点箇所は、銀とニッケルとの間の合金結合による接続線の品質損失を受けない。それにより、高品質の膜抵抗器の作製は、決定的に単純化される。
ニッケルベースのコアを有する被覆線では、本発明によれば、軟ろうによるろう付けに際して、特に被覆線が銀ベースの外被を有する場合には、そのコアと外被とを別個の相として保持したままにする。
銀外被は、不活性材料、例えばガラス、特に石英ガラスもしくはセラミック、特に酸化アルミニウムで薄められていてよい。好ましくは、銀外被もしくはその銀相は、少なくとも99質量%の純度を有する。同様に、コアは不活性材料で薄められていてよい。好ましくは、ニッケルコアもしくはニッケル相は、少なくとも99質量%の純度を有する。
銀又は銀とガラスとの混合物もしくは銀とセラミックとの混合物からなる外被の場合に、本発明によれば、そのコア材料は、軟ろうでのろう付けに際して、別個の相として保持されたままとなる。銀は測定抵抗を決して被毒することがないので、銀外被は、ニッケルコアよりも著しく、特に少なくとも1オーダーだけ、好ましくは少なくとも2オーダーだけ薄く構成される。
直径100〜400μmを有するニッケルコアと、0.2〜20μm厚の、特に1〜5μm厚の銀外被が、本発明による寸法である。その製造のためには、100μm〜400μm厚のニッケル線材を銀で電気メッキすることができる。特に、ニッケル線材上に0.5〜1μmの外被厚で銀が電気メッキされる。
本発明による被覆線を有する膜抵抗器の製造に際して、該被覆線と膜抵抗器−素材(Rohling)のパッドとを結合させる場合に、外被とコアとは別個の相として留まる。
白金測定抵抗を電気的に絶縁された基板上に有し、かつ該測定抵抗と接続された被覆線を接続線として有し、前記被覆線が外装されたニッケルコアを有する膜抵抗器は、本発明によれば、銀又は銀とガラスとの混合物もしくは銀とセラミックとの混合物からなる外被で構成されるか、又はその外側でガラスもしくはセラミック又はその混合物中に構成される。特に、接続線の外被は、接点領域において、測定抵抗との熱圧着にもかかわらず、接続線のコアに対する相として保持されたままとなる。このためには、銀外被もしくは銀相又はニッケルコアは、有利には少なくとも99質量%の純度を有する。それにより、膜抵抗器は、外装された接続線であって、その外被がその導電性に関して、かつその機械的特性に関して、コア材料の拡散によって脅かされないものを有する。
高価な実施形態においては、測定抵抗と接続線は、その測定抵抗に固定される端部の領域においてガラスもしくはガラスセラミックで被覆されている。
基板の電気的に絶縁された表面と、その電気的に絶縁された表面上に配置された導体路と、該導体路と接続された2つのニッケル線材と、前記導体路及び該導体路と接続された線材端部をシールするガラスカバーとを含む膜抵抗器は、本発明によれば、特に白金もしくは銀からなる薄いガラス被覆もしくは金属被覆を前記線材上に有し、かつその上に厚く施与されたガラス成分を有する。
特に、そのエナメルは、前記線材の金属表面上に薄く直接的に配置された第一の成分を有し、かつその上に厚く施与された主成分を有する。
ニッケル線材上のニッケル酸化物層厚は、有利には1μmより薄く、特に100nmよりも薄い。
特に安定な実施形態においては、電気的に絶縁された基板上に配置された導体路と接続されている接続線上に、金属成分もしくはガラス製分が薄く施与され、その上にガラスペーストが厚く施与され、そして焼き付けられる。
また、接続線を、ガラスを有する媒体中で、前記接続線の周りにガラス相が形成されるまで加熱することも可能である。
本発明によれば、複数の一緒にろう付けされた膜抵抗器を破断によって分離することが可能である。そのことは、基板の電気的に絶縁された表面上の少なくとも1つの抵抗パターンからなり、被覆された抵抗パターンを有し、かつガラスで歪み緩和された接続線を有し、該接続線が前記抵抗パターンと導電接続されている膜抵抗器の製造を単純化する。
好ましい一実施形態においては、接点箇所で固定された銀線材をガラスで、特に薄膜技術において外装させる。本発明によれば、次いで、まず、ガラスで外装された線材を、ガラスペーストの施与と焼き付けによって歪み緩和する。前記の技術では、接続線の歪み緩和のためのガラスの使用で知られる気泡形成が回避される。
特に簡単な実施形態においては、ニッケル線材には、本発明によれば、ガラス外被が設けられている。そのガラス外被は、該線材を腐食から保護し、そしてガラスペーストによる歪み緩和のための無気泡固定化を可能にする。ガラス層が薄いため、ろう付け箇所の酸化物層は、より簡単に開裂もしくは破断される。後のろう付け箇所自体は、サーメット混合物に匹敵し、そのろう付け箇所の範囲において、種々の膨張率のために生ずる応力に対して、古典的に外部ガラス滴(Glastropfen)で歪み緩和された金属製ろう化合物よりも抵抗性がある。
本発明による膜抵抗器の顕著な安定性は、その破断による分離を可能にする。本発明によれば、それにより、基板プレート上で、複数の膜抵抗器を同時に、特に歪み緩和するガラスペーストを一緒に施与して製造することが可能である。破断のためには、規定破断箇所は、特に基板に切り込みを入れることによって挿入される。引き続いての膜抵抗器の分離のための破断は、今までの鋸引きによる分離に対して大きなプロセス単純化である。
以下に、本発明を図面を引き合いに出して明瞭にする。図1〜5は以下のことを示している:
図1は、ニッケル−銀−被覆線を示している。
図2は、ニッケル−銀−被覆線を有する膜抵抗器素材を示している。
図3は、石英ガラスもしくはAl23からなる薄膜被覆を有する銀外被のニッケル線を有する膜抵抗器素材を示している。
図4は、無気泡の歪み緩和滴で製造された膜抵抗器を示している。
図5は、1つのプレート上で一緒に製造された分離前の複数の膜抵抗器と、破断のための助けとなる規定破断箇所を示している。
図1によるニッケルコア2と銀外被3とを有する被覆線1は、線材もしくは膜抵抗器の製造プロセスの間にも、膜抵抗器の使用の間にも、金属間相の形成による品質悪化を受けない。それというのも、銀とニッケルは互いに金属間相の形成の傾向がないからである。金属間相の形成は、しばしばろう付け箇所で観察される問題であり、それは本発明によれば回避される。問題となるのは、一方で、特に相成長による材料疲労の増大と、他方では、導電性の低下である。本発明による線材では、前記の問題は本発明によれば生じない。前記の問題は、同様に、外被3が付加的にガラスもしくはセラミックを有する場合に生じない。これに関して、本発明による被覆線1は、ニッケルが白金中に拡散し、その場合に白金の良好な特性が損なわれる従来の白金−ニッケル−線材とは異なる。本発明によれば、それと共に、外被の機能は、被覆線をろう付けした場合にも、それを膜抵抗器として使用した場合にも保持されたままとなる。
このことは、本発明による銀外被3もしくは銀−ガラス外被3もしくは銀−セラミック外被3と同様に、それらの組み合わせ、例えば銀−サーメットからなる外被3又は銀でドープされたガラスからなる外被3を有する被覆線1の本発明による実施形態を可能にする。更に好ましいのは、銀ガラスもしくはセラミックからの複合材料からなる外被3と、ガラスセラミックからなる外被3又はガラス、ガラスセラミックもしくはセラミックで外装された銀外被のニッケル線である。
図1に示される被覆線1であって、付加的にガラスもしくはセラミックで外装されており、特に付加的な薄膜6で外装されている被覆線1は、熱圧着後に、ガラスによる無気泡の歪み緩和(Zugentlastung)7を許容する。特に、SiO2薄膜6もしくはAl23薄膜6の施与は、歪み緩和滴の焼き付けに際してのガラス溶融物の起こりうる反応に対して卓越した保護を提供する。
図2においては、図1による被覆線1が、パッド4上で膜抵抗器素材5の測定抵抗にろう付けされている。
図2による高価な一実施形態においては、パッド4上に固定された銀外被のニッケル線1は、ガラスもしくはセラミックによって被覆されて図3による素材5となる。
図2による簡単な一実施形態においては、パッド4にろう付けされたニッケル線1は、ガラスもしくはセラミックによって薄膜技術において外装されて図3による素材5となる。
好ましくは、多数の膜抵抗器素材5を有する基板プレートはガラスもしくはセラミックによって被覆される。その上に、歪み緩和7のためのガラスペーストを施与して図4による膜抵抗素材となり、その際、本発明による方法によれば、接続線での気泡形成は回避される。
膜抵抗器8の製造は、多数の膜抵抗器8のために基板として使用されるプレート上で行われる。膜抵抗器8の製造のための簡単な方法工程は、従って、多くの膜抵抗器8について並行して行うことができる。特に、その際に、ろう付けされた接続線の外装のためのガラスもしくはセラミックによる共通の薄膜施与を一緒に行うことができる。好ましくは、図5による規定破断箇所9が作製され、それにより膜抵抗器8は分離のためにより容易に破断できる。
図1は、ニッケル−銀−被覆線を示している。 図2は、ニッケル−銀−被覆線を有する膜抵抗器素材を示している。 図3は、石英ガラスもしくはAl23からなる薄膜被覆を有する銀外被のニッケル線を有する膜抵抗器素材を示している。 図4は、無気泡の歪み緩和滴で製造された膜抵抗器を示している。 図5は、1つのプレート上で一緒に製造された分離前の複数の膜抵抗器と、破断のための助けとなる規定破断箇所を示している。
符号の説明
1 被覆線、 2 ニッケルコア、 3 銀外被、 4 パッド、 5 膜抵抗器素材、 6 薄膜、 7 歪み緩和、 8 膜抵抗器、 9 規定破断箇所

Claims (8)

  1. 白金測定抵抗を電気的に絶縁された基板上に有し、かつ該測定抵抗と熱圧着により接続された接続線を有し、前記接続線が外装されたニッケルコアを有する膜抵抗器であって、前記接続線の外被が、銀又は銀とガラスとの混合物もしくは銀とセラミックとの混合物からなり、かつ前記接続線の外被中の銀が熱圧着後も合金化しない相として保持されることを特徴とする膜抵抗器。
  2. 請求項1に記載の膜抵抗器であって、銀外被もしくは銀相又はニッケルコアが、少なくとも99質量%の純度を有することを特徴とする膜抵抗器。
  3. 請求項1又は2に記載の膜抵抗器であって、ニッケルコアが直径100μm〜400μmを有し、かつ銀外被が0.2〜5μmの厚さであることを特徴とする膜抵抗器。
  4. 請求項1から3までのいずれか1項に記載の膜抵抗器であって、該膜抵抗器が、外装された接続線を有し、該接続線の外被が、その導電性に関して、かつその機械的特性に関して、コア材料の拡散により脅かされないことを特徴とする膜抵抗器。
  5. 請求項1から4までのいずれか1項に記載の膜抵抗器であって、測定抵抗と接続線が、その測定抵抗に固定された端部の領域でガラスもしくはガラスセラミックで被覆されていることを特徴とする膜抵抗器。
  6. 基板の電気的に絶縁された表面と、その上に配置された導体路と、該導体路と接続された2つの接続線と、前記導体路及び該導体路と接続された線材端部をシールするガラスカバーとを有する、請求項1から5までのいずれか1項に記載の膜抵抗器であって、接続線が、ニッケルコアと銀外被とを有することを特徴とする膜抵抗器。
  7. 基板の電気的に絶縁された表面上の少なくとも1つの抵抗パターンと、該抵抗パターンを覆っているガラスカバーと、該ガラスカバーから突出している接続線とからなり、前記接続線が前記抵抗パターンと導電接続されている請求項1から6までのいずれか1項に記載の膜抵抗器の製造方法において、複数の一緒にろう付けされた膜抵抗器を破断によって分離することを特徴とする方法。
  8. 請求項1から6までのいずれか1項に記載の測定抵抗とそれに接続された接続線とを有する膜抵抗器の製造方法において、前記接続線を、熱圧着によって抵抗層の接点表面と導電接続させることを特徴とする方法。
JP2008250289A 2007-09-28 2008-09-29 被覆線及び膜抵抗器 Active JP5231919B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102007046907.3A DE102007046907B4 (de) 2007-09-28 2007-09-28 Schichtwiderstand und Verfahren zu dessen Herstellung
DE102007046907.3 2007-09-28

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009088529A JP2009088529A (ja) 2009-04-23
JP5231919B2 true JP5231919B2 (ja) 2013-07-10

Family

ID=40239595

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008250289A Active JP5231919B2 (ja) 2007-09-28 2008-09-29 被覆線及び膜抵抗器

Country Status (7)

Country Link
US (1) US8138881B2 (ja)
EP (1) EP2043110B1 (ja)
JP (1) JP5231919B2 (ja)
KR (1) KR101494015B1 (ja)
CN (1) CN101399102B (ja)
DE (1) DE102007046907B4 (ja)
ES (1) ES2625267T3 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102009017676B3 (de) * 2009-04-16 2010-08-05 Heraeus Sensor Technology Gmbh Hochtemperatursensor mit Chipdrähten aus Chromoxid bildender Eisenlegierung
DE102011052365B4 (de) * 2011-08-02 2017-02-09 Heraeus Sensor Technology Gmbh Mikrostrukturierter Heißprägestempel
JP2018066592A (ja) * 2016-10-17 2018-04-26 Koa株式会社 白金温度センサ素子
JP6821384B2 (ja) * 2016-10-17 2021-01-27 Koa株式会社 白金温度センサ素子

Family Cites Families (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1479291U (ja) *
AT172532B (de) * 1948-11-15 1952-09-25 Radiofabrik Ingelen Porzellanf Elektrischer Kleinwiderstand
DE1007400B (de) * 1953-09-15 1957-05-02 Philips Nv Stromfuehrender, im Betrieb keiner hohen Temperatur ausgesetzter Leiter
DE1883894U (de) * 1963-03-14 1963-12-05 Telefunken Patent Schichtwiderstand.
DE2217769B2 (de) * 1972-04-13 1974-10-03 Fa. G. Rau, 7530 Pforzheim Metallischer Verbundkörper und Herstellungsverfahren hierzu
DE2354045A1 (de) * 1973-10-29 1975-05-07 Patra Patent Treuhand Metallischer manteldraht
NL7416327A (nl) * 1974-12-16 1976-06-18 Philips Nv Elektrische weerstand.
DE3115656A1 (de) * 1981-04-18 1982-11-18 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart Elektrischer widerstand mit mindestens einer auf einem traeger aufgebrachten widerstandsschicht und verfahren zur herstellung eines elektrischen widerstandes
US4683481A (en) * 1985-12-06 1987-07-28 Hewlett-Packard Company Thermal ink jet common-slotted ink feed printhead
JPS63274796A (ja) 1987-05-06 1988-11-11 Sumitomo Electric Ind Ltd メッキ線材及びその製造方法
US4793182A (en) * 1987-06-02 1988-12-27 Djorup Robert Sonny Constant temperature hygrometer
US5243320A (en) * 1988-02-26 1993-09-07 Gould Inc. Resistive metal layers and method for making same
JPH0287030A (ja) 1988-09-24 1990-03-27 Murata Mfg Co Ltd 白金温度センサ
DE4000301C1 (ja) * 1990-01-08 1991-05-23 Degussa Ag, 6000 Frankfurt, De
JPH0444101A (ja) 1990-06-11 1992-02-13 Fujitsu Ltd オートスライス装置
JPH0444101U (ja) * 1990-08-13 1992-04-15
DE4125980A1 (de) * 1991-08-06 1993-02-11 Heraeus Sensor Gmbh Halbzeug fuer einen elektrischen leiterdraht, anschlussleiter und verfahren zur herstellung des leiterdrahtes sowie dessen verwendung
JP3070989B2 (ja) * 1991-08-07 2000-07-31 日本特殊陶業株式会社 白金抵抗体式温度センサのリード取出部接合構造
DE4126220A1 (de) * 1991-08-08 1993-02-11 Duerrwaechter E Dr Doduco Verfahren zum herstellen von elektrischen kontaktnieten
JPH071185B2 (ja) * 1991-08-21 1995-01-11 日本碍子株式会社 抵抗体素子
JP3070993B2 (ja) 1991-08-27 2000-07-31 日本特殊陶業株式会社 白金抵抗体式温度センサ用ロー付材料
US5349322A (en) * 1992-03-27 1994-09-20 Ngk Insulators, Ltd. Resistors for thermal flowmeters
JP3058305B2 (ja) 1993-02-26 2000-07-04 三菱マテリアル株式会社 サーミスタ及びその製造方法
JPH06290904A (ja) * 1993-03-30 1994-10-18 Taiyo Yuden Co Ltd 金属皮膜抵抗器およびその製造方法
JPH0729706A (ja) * 1993-07-08 1995-01-31 Nippondenso Co Ltd 高温用温度センサ及びその製造方法
JPH07312301A (ja) * 1994-03-24 1995-11-28 Ngk Insulators Ltd 抵抗体素子
DE19540194C1 (de) * 1995-10-30 1997-02-20 Heraeus Sensor Gmbh Widerstandsthermometer aus einem Metall der Platingruppe
JPH10275707A (ja) 1997-03-28 1998-10-13 Kyocera Corp 温度センサー
KR100280330B1 (ko) * 1997-11-19 2001-02-01 조현복 저항기및그제조방법
EP0964230A3 (de) * 1998-06-09 2000-01-26 Heraeus Electro-Nite International N.V. Elektrischer Widerstand mit wenigstens zwei Anschlusskontaktfeldern auf einem Keramik-Substrat sowie Verfahren zu dessen Herstellung
CN1248796A (zh) * 1998-09-23 2000-03-29 王育盛 薄膜电阻器的制作方法
DE10120253A1 (de) * 2000-04-25 2001-11-29 Epcos Ag Elektrisches Bauelement, Verfahren zu dessen Herstellung und dessen Verwendung
JP4566437B2 (ja) 2001-03-26 2010-10-20 コーア株式会社 リード線の接続方法
JP4746768B2 (ja) 2001-06-04 2011-08-10 コーア株式会社 抵抗器およびその製造方法
DE10153217B4 (de) * 2001-10-31 2007-01-18 Heraeus Sensor Technology Gmbh Manteldraht, insbesondere Anschlussdraht für elektrische Temperatursensoren

Also Published As

Publication number Publication date
CN101399102A (zh) 2009-04-01
US20090091418A1 (en) 2009-04-09
EP2043110A3 (de) 2009-09-02
KR101494015B1 (ko) 2015-02-16
DE102007046907A1 (de) 2009-04-23
CN101399102B (zh) 2016-08-24
EP2043110A2 (de) 2009-04-01
JP2009088529A (ja) 2009-04-23
EP2043110B1 (de) 2017-03-15
KR20090033029A (ko) 2009-04-01
DE102007046907B4 (de) 2015-02-26
ES2625267T3 (es) 2017-07-19
US8138881B2 (en) 2012-03-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5287154B2 (ja) 回路保護素子およびその製造方法
JP6475703B2 (ja) 金属/セラミックはんだ接続部を生成する方法
JP5231919B2 (ja) 被覆線及び膜抵抗器
US8420980B2 (en) Ceramic heater, oxygen sensor and hair iron that uses the ceramic heater
CN105181166A (zh) 温度传感器元件
US3939557A (en) Method of making resistance thermometer sensors
JPS625604A (ja) 電気的構造要素及びその製法
JPS6151361B2 (ja)
US20030175020A1 (en) Infrared radiator with a tubular envelope and a metallic reflective layer thereon, and a method for the manufacture thereof
JP2559875B2 (ja) 抵抗体素子
JP6404726B2 (ja) 感温素子及び温度センサ
JP2023503210A (ja) センサセンブリ及びセンサセンブリを製造する方法
JP3826036B2 (ja) 温度測定装置および温度測定装置の接続ワイヤを接続する方法
JP2003506705A (ja) 高温検出器及びその製造方法
JP2007066924A (ja) 薄膜サーミスタ
JPH0552626A (ja) 抵抗体素子
JP4384787B2 (ja) チップ抵抗器
JPH10208906A (ja) 温度センサ
CN114342010A (zh) 传感器元件和用于制造传感器元件的方法
JP3112769B2 (ja) 抵抗体素子及び熱式流量計
JP3084167B2 (ja) 抵抗体素子及び熱式流量計
US20220388903A1 (en) Glass-To-Metal Seal
CN217789917U (zh) 厚膜加热元件
JPH10172806A (ja) 温度センサ及びその製造方法
JPS622683B2 (ja)

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100219

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100226

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20100525

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20100602

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20100628

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20100701

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20100726

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20100729

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20101015

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20101227

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20101228

RD13 Notification of appointment of power of sub attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7433

Effective date: 20120410

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20120410

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20120814

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20120820

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20120918

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20120921

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20121002

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130322

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160329

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5231919

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250