JP5008654B2 - 測定装置、測定方法、試験装置、試験方法、及び電子デバイス - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims description 120
- 238000010998 test method Methods 0.000 title claims description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 title description 11
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 239
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 38
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 14
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 13
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 9
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims description 7
- 240000007320 Pinus strobus Species 0.000 description 164
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 25
- 230000006870 function Effects 0.000 description 21
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 20
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 14
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 11
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 5
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- BNPSSFBOAGDEEL-UHFFFAOYSA-N albuterol sulfate Chemical compound OS(O)(=O)=O.CC(C)(C)NCC(O)C1=CC=C(O)C(CO)=C1.CC(C)(C)NCC(O)C1=CC=C(O)C(CO)=C1 BNPSSFBOAGDEEL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 1
- 238000010348 incorporation Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
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- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31708—Analysis of signal quality
- G01R31/31709—Jitter measurements; Jitter generators
Landscapes
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
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Description
出願番号 11/362,536 出願日 2006年2月27日
測定装置10は、図1から図16に関連して説明した測定装置10と同様の構成を有してよい。例えば、測定装置10は、コンパレータ20及びキャプチャメモリ40を有してよい。この場合、コンパレータ20には、図1から図16に関連して説明したストローブ信号が与えられる。当該ストローブ信号は、外部から与えられてよく、電子デバイス400の内部で生成してもよい。
Claims (27)
- 被測定信号を測定する測定装置であって、
順次与えられるストローブ信号のタイミングにおいて、前記被測定信号の電圧値と、与えられる参照電圧値とを順次比較するコンパレータと、
略等時間間隔に配置されたストローブ信号を順次生成するストローブタイミング発生器と、
前記コンパレータの比較結果を格納するキャプチャメモリと、
前記キャプチャメモリが格納した前記比較結果に基づいて、前記被測定信号のジッタを算出するデジタル信号処理部と
を備える測定装置。 - 前記キャプチャメモリが格納する前記比較結果に基づいて、前記被測定信号のそれぞれの電圧値を、その絶対値がn(但しnは実数)より小さい範囲のデジタル値に変換したデジタル信号を生成するデジタル信号変換部を更に備え、
前記デジタル信号処理部は、前記デジタル信号に基づいて、前記被測定信号のジッタを算出する
請求項1に記載の測定装置。 - 前記コンパレータは、前記被測定信号の電圧値が前記参照電圧値より大きいか否かにより、それぞれ異なる比較結果を出力する
請求項1又は2に記載の測定装置。 - 前記デジタル信号変換部は、前記被測定信号の電圧値が前記参照電圧値より大きいことを示す比較結果をデジタル値1に変換し、前記被測定信号の電圧値が前記参照電圧値以下であることを示す比較結果をデジタル値0に変換する
請求項3に記載の測定装置。 - 前記コンパレータは、第1の前記参照電圧と、前記第1の参照電圧より電圧値が低い第2の前記参照電圧が与えられ、前記被測定信号の電圧値が前記第1の参照電圧より大きいか、前記被測定信号の電圧値が前記第1の参照電圧以下であり且つ前記第2の参照電圧より大きいか、又は前記被測定信号の電圧値が前記第2の参照電圧以下であるかによりそれぞれ異なる比較結果を出力する
請求項1又は2に記載の測定装置。 - 前記デジタル信号変換部は、前記被測定信号の電圧値が前記第1の参照電圧値より大きいことを示す前記比較結果をデジタル値1に変換し、前記被測定信号の電圧値が前記第1の参照電圧値以下であり且つ前記第2の参照電圧より大きいことを示す前記比較結果をデジタル値0に変換し、前記被測定信号の電圧値が前記第2の参照電圧値以下であることを示す前記比較結果をデジタル値−1に変換する
請求項5に記載の測定装置。 - 前記コンパレータは、3種類以上の異なる前記参照電圧が与えられ、前記被測定信号の電圧値が、隣接する2つの前記参照電圧により規定されるそれぞれの電圧範囲のいずれに属するかにより、それぞれ異なる比較結果を出力する
請求項1又は2に記載の測定装置。 - 前記ストローブタイミング発生器は、前記測定装置の動作周期とは独立して、略等時間間隔に配置された前記ストローブ信号を生成する
請求項1に記載の測定装置。 - 前記ストローブタイミング発生器は、前記測定装置の動作周期毎に1つの前記ストローブ信号を生成する
請求項1に記載の測定装置。 - 前記ストローブタイミング発生器は、前記測定装置の動作周期毎に、複数の前記ストローブ信号を生成する
請求項1に記載の測定装置。 - 前記デジタル信号処理部は、
前記デジタル信号の測定すべき周波数成分を通過させる帯域制限部と、
前記帯域制限部が出力する前記デジタル信号の位相雑音を算出する位相歪推定部と
を有する請求項2に記載の測定装置。 - 前記帯域制限部は、前記デジタル信号を解析信号に変換し、
前記位相歪推定部は、前記解析信号に基づいて、前記被測定信号の瞬時位相を示す瞬時位相信号を生成する瞬時位相推定部と、
前記瞬時位相信号の線形成分を除去し、前記被測定信号の位相雑音を算出する線形位相除去部と
を有する請求項11に記載の測定装置。 - 前記位相歪推定部は、
前記帯域制限部が出力する前記デジタル信号に基づいて、前記被測定信号のゼロクロスタイミング系列を推定するゼロクロスタイミング推定部と、
前記ゼロクロスタイミング系列の線形成分を除去し、前記被測定信号の位相雑音を算出する線形位相除去部と
を有する請求項11に記載の測定装置。 - 前記被測定信号の測定すべき周波数成分を通過させ、前記コンパレータに入力するフィルタを更に備える
請求項1に記載の測定装置。 - 前記フィルタは、前記被測定信号の周波数成分のうち、前記被測定信号のキャリア周波数を含まない周波数帯域の周波数成分を通過させる
請求項11から13のいずれかに記載の測定装置。 - 前記測定装置は、並列に設けられた複数の前記コンパレータを備え、
前記測定装置は、前記被測定信号を前記複数のコンパレータのそれぞれに並列に入力する入力部を更に備え、
前記ストローブタイミング発生器は、それぞれの前記コンパレータに対して、位相の異なる前記ストローブ信号を入力し、
前記キャプチャメモリは、前記複数のコンパレータにおける前記比較結果を、対応する前記ストローブ信号の位相に応じて整列して格納する
請求項1に記載の測定装置。 - 前記ストローブタイミング発生器は、前記コンパレータに対して入力する前記ストローブ信号を、前記被測定信号に同期したトリガ信号の位相を基準として生成する
請求項1に記載の測定装置。 - 前記被測定信号に基づいて、前記被測定信号に同期した再生クロックを生成し、前記再生クロックを前記トリガ信号として前記ストローブタイミング発生器に入力するクロック再生器を更に備える
請求項17に記載の測定装置。 - 前記ストローブタイミング発生器は、それぞれの前記コンパレータに対して、前記トリガ信号に対する位相が異なる複数の前記ストローブ信号を順次入力し、
前記キャプチャメモリは、前記コンパレータがそれぞれの前記ストローブ信号に応じて出力する前記比較結果を、対応する前記ストローブ信号の位相に応じて整列して格納する
請求項17又は18に記載の測定装置。 - 被試験デバイスを試験する試験装置であって、
前記被試験デバイスが出力する被測定信号のジッタを測定する測定装置と、
前記測定装置が測定したジッタに基づいて、前記被試験デバイスの良否を判定するジッタ判定部と
を備え、
前記測定装置は、
順次与えられるストローブ信号のタイミングにおいて、前記被測定信号の電圧値と、与えられる参照電圧値とを順次比較するコンパレータと、
略等時間間隔に配置されたストローブ信号を順次生成するストローブタイミング発生器と、
前記コンパレータの比較結果を格納するキャプチャメモリと、
前記キャプチャメモリが格納した前記比較結果に基づいて、前記被測定信号のジッタを算出するデジタル信号処理部と
を有する試験装置。 - 前記キャプチャメモリが格納した前記比較結果により定まる前記被測定信号のデータパターンが、予め定められた期待値パターンと一致するか否かを判定するロジック判定部を更に備える
請求項20に記載の試験装置。 - 所定の周期を有する被測定信号を測定する測定方法であって、
順次与えられるストローブ信号のタイミングにおいて、前記被測定信号の電圧値と、与えられる参照電圧値とを順次比較する比較段階と、
略等時間間隔に配置されたストローブ信号を順次生成するストローブタイミング発生器段階と、
前記コンパレータの比較結果を格納する格納段階と、
前記キャプチャメモリが格納した前記比較結果に基づいて、前記被測定信号のジッタを算出するデジタル信号処理段階と
を備える測定方法。 - 被試験デバイスを試験する試験方法であって、
前記被試験デバイスが出力する被測定信号のジッタを測定する測定段階と、
前記測定段階において測定したジッタに基づいて、前記被試験デバイスの良否を判定するジッタ判定段階と
を備え、
前記測定段階は、
順次与えられるストローブ信号のタイミングにおいて、前記被測定信号の電圧値と、与えられる参照電圧値とを順次比較する比較段階と、
略等時間間隔に配置されたストローブ信号を順次生成するストローブタイミング発生段階と、
前記コンパレータの比較結果を格納する格納段階と、
前記キャプチャメモリが格納した前記比較結果に基づいて、前記被測定信号のジッタを算出するデジタル信号処理段階と
を有する試験方法。 - 所定の周期を有する被測定信号を測定する測定装置であって、
順次与えられるストローブ信号のタイミングにおいて、前記被測定信号の電圧値と、与えられる第1の参照電圧値及び第2の参照電圧とを順次比較し、3値の比較結果を出力するコンパレータと、
前記コンパレータの比較結果を格納するキャプチャメモリと、
前記キャプチャメモリが格納した前記比較結果に基づいて、前記被測定信号のジッタを算出するデジタル信号処理部と
を備える測定装置。 - 前記デジタル信号処理部は、
前記比較結果を解析信号に変換するヒルベルト変換対生成部と、
前記解析信号に基づいて、前記被測定信号の瞬時位相を示す瞬時位相信号を生成する瞬時位相推定部と、
前記瞬時位相信号の線形成分を除去し、前記被測定信号の位相雑音を示す線形位相除去部と
を有する請求項24に記載の測定装置。 - 被測定信号を出力する電子デバイスであって、
前記被測定信号を生成する動作回路と、
前記被測定信号を測定する測定装置と
を備え、
前記測定装置は、
順次与えられるストローブ信号のタイミングにおいて、前記被測定信号の電圧値と、与えられる参照電圧値とを順次比較するコンパレータと、
前記コンパレータの比較結果を格納するキャプチャメモリと
を有する電子デバイス。 - 略等時間間隔に配置されたストローブ信号を順次生成するストローブタイミング発生器を更に備える
請求項26に記載の電子デバイス。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11/362,536 | 2006-02-27 | ||
US11/362,536 US7398169B2 (en) | 2006-02-27 | 2006-02-27 | Measuring apparatus, measuring method, testing apparatus, testing method, and electronics device |
PCT/JP2007/053425 WO2007099878A1 (ja) | 2006-02-27 | 2007-02-23 | 測定装置、測定方法、試験装置、試験方法、及び電子デバイス |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2007099878A1 JPWO2007099878A1 (ja) | 2009-07-16 |
JP5008654B2 true JP5008654B2 (ja) | 2012-08-22 |
Family
ID=38445073
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008502754A Active JP5008654B2 (ja) | 2006-02-27 | 2007-02-23 | 測定装置、測定方法、試験装置、試験方法、及び電子デバイス |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7398169B2 (ja) |
JP (1) | JP5008654B2 (ja) |
DE (1) | DE112007000506T5 (ja) |
TW (1) | TW200734653A (ja) |
WO (1) | WO2007099878A1 (ja) |
Families Citing this family (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7349818B2 (en) * | 2005-11-10 | 2008-03-25 | Teradyne, Inc. | Determining frequency components of jitter |
JP4135953B2 (ja) * | 2005-12-05 | 2008-08-20 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | 波形測定装置及びその測定方法 |
US7398169B2 (en) * | 2006-02-27 | 2008-07-08 | Advantest Corporation | Measuring apparatus, measuring method, testing apparatus, testing method, and electronics device |
US7421355B2 (en) * | 2006-02-27 | 2008-09-02 | Advantest Corporation | Measuring apparatus, measuring method, testing apparatus, testing method, and electronic device |
US7623984B2 (en) * | 2007-03-23 | 2009-11-24 | Advantest Corporation | Test apparatus and electronic device |
JPWO2008136301A1 (ja) * | 2007-04-27 | 2010-07-29 | 株式会社アドバンテスト | 試験装置および試験方法 |
JPWO2009031404A1 (ja) * | 2007-09-04 | 2010-12-09 | 株式会社アドバンテスト | 伝送回路、送信器、受信器、および、試験装置 |
KR101150791B1 (ko) * | 2007-09-11 | 2012-06-13 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | 정보 처리 장치, 정보 처리 방법 및, 프로그램이 기록된 컴퓨터 판독가능 기록매체 |
JP5171442B2 (ja) * | 2008-07-08 | 2013-03-27 | 株式会社アドバンテスト | マルチストローブ回路および試験装置 |
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US20110054827A1 (en) | 2009-08-26 | 2011-03-03 | Advantest Corporation, a Japanese Corporation | Test apparatus and method for modulated signal |
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-
2006
- 2006-02-27 US US11/362,536 patent/US7398169B2/en active Active
-
2007
- 2007-02-23 DE DE112007000506T patent/DE112007000506T5/de not_active Withdrawn
- 2007-02-23 WO PCT/JP2007/053425 patent/WO2007099878A1/ja active Application Filing
- 2007-02-23 JP JP2008502754A patent/JP5008654B2/ja active Active
- 2007-02-27 TW TW096106770A patent/TW200734653A/zh unknown
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2007099878A1 (ja) | 2007-09-07 |
TW200734653A (en) | 2007-09-16 |
US20070203659A1 (en) | 2007-08-30 |
US7398169B2 (en) | 2008-07-08 |
JPWO2007099878A1 (ja) | 2009-07-16 |
DE112007000506T5 (de) | 2008-12-18 |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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