JPWO2008149990A1 - 位相測定装置、スキュー測定装置、位相測定方法、およびスキュー測定方法 - Google Patents
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Abstract
Description
米国特許出願第11/758,676号 出願日 2007年6月6日
"Jitter Analysis Clock Solutions", Wavecrest Corp., 1998.
Claims (31)
- 被測定信号の位相を測定する位相測定装置であって、
前記被測定信号を、与えられるサンプリングクロックのタイミングでサンプリングするサンプリング部と、
前記サンプリング部に入力される前記被測定信号及び前記サンプリングクロックの少なくとも一方にジッタを印加するジッタ印加部と、
前記サンプリング部におけるサンプリング結果に基づいて、前記被測定信号の位相を算出する位相算出部と
を備える位相測定装置。 - 前記ジッタ印加部は、前記被測定信号又は前記サンプリングクロックのエッジの位相を遅らせるジッタ成分の分布と、進ませるジッタ成分の分布とが略対称となる前記ジッタを印加する
請求項1に記載の位相測定装置。 - 前記ジッタ印加部は、前記被測定信号又は前記サンプリングクロックのエッジの位相を遅らせる成分のジッタ波形と、進ませる成分のジッタ波形とが略対称となる前記ジッタを印加する
請求項2に記載の位相測定装置。 - 前記ジッタ印加部は、前記遅らせる成分のジッタ波形と、前記進ませる成分のジッタ波形とが交互にあらわれる前記ジッタを印加する
請求項3に記載の位相測定装置。 - 前記ジッタ印加部は、前記被測定信号又は前記サンプリングクロックのエッジを時間方向に変調する振幅が、前記サンプリングクロックの周期より大きい前記ジッタを印加する
請求項2に記載の位相測定装置。 - 前記位相算出部は、前記被測定信号の位相として、前記被測定信号の各サイクルにおけるエッジ位置の平均値を算出する
請求項1に記載の位相測定装置。 - 前記位相算出部は、
前記サンプリング部におけるサンプリング結果に基づいて、前記被測定信号の解析信号を算出する解析信号算出部と、
前記解析信号に基づいて、前記被測定信号の瞬時位相を算出する瞬時位相算出部と、
前記被測定信号の瞬時位相に基づいて、前記被測定信号の初期位相角を算出する初期位相算出部と
を有する請求項1に記載の位相測定装置。 - 前記位相算出部は、前記サンプリング部におけるサンプリング結果をフーリエ変換した複素スペクトル信号を算出し、前記複素スペクトル信号における前記被測定信号のキャリア周波数成分を抽出し、前記被測定信号のキャリア周波数成分の位相角を算出する
請求項1に記載の位相測定装置。 - 前記サンプリングクロックおよび前記被測定信号の周波数の組み合わせを、予め定められた複数種類から選択する選択部と、
選択部の選択結果に応じて、前記サンプリングクロックおよび前記被測定信号の少なくとも一方の周波数を制御する制御部と
を更に備え、
前記選択部は、前記サンプリングクロックおよび前記被測定信号のエッジ位置が一致してから、次に前記サンプリングクロックおよび前記被測定信号のエッジ位置が一致するまでの、前記サンプリングクロックのエッジ数が最も多くなる前記周波数の組み合わせを選択する
請求項1に記載の位相測定装置。 - 前記選択部は、複数種類の前記周波数の組み合わせのうち、前記サンプリングクロックの周波数を、前記サンプリングクロックおよび前記被測定信号の周波数の最大公約数で除算して得られるサンプリング周波数除算値が最も大きくなる組み合わせを選択する
請求項9に記載の位相測定装置。 - 前記位相算出部は、前記サンプリング部が出力するサンプリングデータのうち、前記サンプリング周波数除算値の整数倍に応じたデータ数のデータに基づいて、前記被測定信号の位相を算出する
請求項10に記載の位相測定装置。 - 前記位相算出部は、前記サンプリング部が出力するサンプリングデータのうち、前記被測定信号の周波数を前記最大公約数で除算して得られる被測定周波数除算値で、前記サンプリング周波数除算値を除算した値の整数倍に応じたデータ数のデータに基づいて、前記被測定信号の位相を算出する
請求項10に記載の位相測定装置。 - 前記選択部は、複数種類の前記周波数の組み合わせのうち、前記サンプリングクロックおよび前記被測定信号の周波数の最小公倍数を、前記被測定信号の周波数で除算した値が最も大きくなる組み合わせを選択する
請求項9に記載の位相測定装置。 - 略同一周期を有する第1及び第2の被測定信号間のスキューを測定するスキュー測定装置であって、
前記第1の被測定信号及び前記第2の被測定信号を、与えられるサンプリングクロックのタイミングでサンプリングする第1のサンプリング部及び第2のサンプリング部と、
前記第1のサンプリング部及び前記第2のサンプリング部に入力される前記第1の被測定信号及び前記第2の被測定信号のそれぞれに対して、前記被測定信号及び前記サンプリングクロックの少なくとも一方にジッタを印加するジッタ印加部と、
前記第1のサンプリング部及び前記第2のサンプリング部におけるサンプリング結果に基づいて、前記第1の被測定信号及び前記第2の被測定信号間のスキューを算出するスキュー算出部と
を備えるスキュー測定装置。 - 前記第1のサンプリング部及び前記第2のサンプリング部は、前記第1の被測定信号及び前記第2の被測定信号を略同時に測定する
請求項14に記載のスキュー測定装置。 - 前記スキュー算出部は、
前記第1のサンプリング部におけるサンプリング結果に基づいて、前記第1の被測定信号の位相を算出する第1の位相算出部と、
前記第2のサンプリング部におけるサンプリング結果に基づいて、前記第2の被測定信号の位相を算出する第2の位相算出部と
を有し、前記第1の位相算出部及び前記第2の位相算出部が算出する位相差に基づいて、前記スキューを算出する
請求項14に記載のスキュー測定装置。 - 前記スキュー算出部は、
前記第1のサンプリング部における第1のサンプリング結果に基づいて、前記第1の被測定信号の第1のタイミングジッタ系列を算出し、前記第2のサンプリング部における第2のサンプリング結果に基づいて、前記第2の被測定信号の第2のタイミングジッタ系列を算出するタイミングジッタ算出部と、
前記第1のタイミングジッタ系列及び前記第2のタイミングジッタ系列の少なくとも一方のタイミングを、前記第1の被測定信号及び前記第2の被測定信号の周期の整数倍のシフト量で順次シフトさせるシフト部と、
前記シフト部におけるそれぞれのシフト量毎に、前記第1のタイミングジッタ系列及び前記第2のタイミングジッタ系列の相関値を算出する相関算出部と、
前記相関算出部の相関が最大となる前記シフト量を検出して、検出した前記シフト量に基づいて、前記第1の被測定信号及び前記第2の被測定信号のスキューのうち、前記第1の被測定信号及び前記第2の被測定信号の周期の整数倍の成分を算出する粗スキュー算出部と、
前記第1の位相算出部及び前記第2の位相算出部がそれぞれ測定した位相の差分に基づいて、前記第1の被測定信号及び前記第2の被測定信号のスキューのうち、前記第1の被測定信号及び前記第2の被測定信号の周期より小さい成分を算出する精スキュー算出部と
を有する請求項16に記載のスキュー測定装置。 - 前記ジッタ印加部は、前記被測定信号又は前記サンプリングクロックのエッジの位相を遅らせるジッタ成分の分布と、進ませるジッタ成分の分布とが略対称となる前記ジッタを印加する
請求項14に記載のスキュー測定装置。 - 前記ジッタ印加部は、前記被測定信号又は前記サンプリングクロックのエッジの位相を遅らせる成分のジッタ波形と、進ませる成分のジッタ波形とが略対称となる前記ジッタを印加する
請求項18に記載のスキュー測定装置。 - 前記ジッタ印加部は、前記遅らせる成分のジッタ波形と、前記進ませる成分のジッタ波形とが交互にあらわれる前記ジッタを印加する
請求項19に記載のスキュー測定装置。 - 前記ジッタ印加部は、前記被測定信号又は前記サンプリングクロックのエッジを時間方向に変調する振幅が、前記サンプリングクロックの周期より大きい前記ジッタを印加する
請求項18に記載のスキュー測定装置。 - 前記位相算出部は、前記被測定信号の位相として、前記被測定信号の各サイクルにおけるエッジ位置の平均値を算出する
請求項16に記載のスキュー測定装置。 - 前記位相算出部は、
前記サンプリング部におけるサンプリング結果に基づいて、前記被測定信号の解析信号を算出する解析信号算出部と、
前記解析信号に基づいて、前記被測定信号の瞬時位相を算出する瞬時位相算出部と、
前記被測定信号の瞬時位相に基づいて、前記被測定信号の初期位相角を算出する初期位相算出部と
を有する請求項16に記載のスキュー測定装置。 - 前記位相算出部は、前記サンプリング部におけるサンプリング結果を離散フーリエ変換した複素スペクトル信号を算出し、前記複素スペクトル信号における前記被測定信号のキャリア周波数成分を抽出し、前記被測定信号のキャリア周波数成分の位相角を算出する
請求項16に記載のスキュー測定装置。 - 対応する前記サンプリングクロックおよび前記被測定信号の周波数の組み合わせを、予め定められた複数種類からそれぞれ選択する選択部と、
選択部の選択結果に応じて、前記サンプリングクロックおよび前記被測定信号の少なくとも一方の周波数を制御する制御部と
を更に備え、
前記選択部は、対応する前記サンプリングクロックおよび前記被測定信号のエッジ位置が一致してから、次に前記サンプリングクロックおよび前記被測定信号のエッジ位置が一致するまでの、前記サンプリングクロックのエッジ数が最も多くなる前記周波数の組み合わせを選択する
請求項14に記載のスキュー測定装置。 - 被測定信号の位相を測定する位相測定方法であって、
前記被測定信号を、与えられるサンプリングクロックのタイミングでサンプリングし、
サンプリングされる前記被測定信号及び前記サンプリングクロックの少なくとも一方に、予めジッタを印加し、
サンプリング結果に基づいて、前記被測定信号の位相を算出する位相測定方法。 - 略同一周期を有する第1及び第2の被測定信号間のスキューを測定するスキュー測定方法であって、
前記第1の被測定信号及び前記第2の被測定信号を、与えられるサンプリングクロックのタイミングでサンプリングし、
サンプリングされる前記第1の被測定信号及び前記第2の被測定信号のそれぞれに対して、前記被測定信号及び前記サンプリングクロックの少なくとも一方に、予めジッタを印加し、
前記第1の被測定信号及び前記第2の被測定信号に対するサンプリング結果に基づいて、前記第1の被測定信号及び前記第2の被測定信号間のスキューを算出するスキュー測定方法。 - 前記サンプリングクロックおよび前記被測定信号の周波数の組み合わせを、予め定められた複数種類からそれぞれ選択して、前記サンプリングクロックおよび前記被測定信号の少なくとも一方の周波数を制御する場合において、
前記サンプリングクロックおよび前記被測定信号のエッジ位置が一致してから、次に前記サンプリングクロックおよび前記被測定信号のエッジ位置が一致するまでの、前記サンプリングクロックのエッジ数が最も多くなる前記周波数の組み合わせを選択する
請求項27に記載のスキュー測定方法。 - 被測定信号の位相を測定する位相測定装置であって、
前記被測定信号を、与えられるサンプリングクロックのタイミングでサンプリングするサンプリング部と、
前記サンプリングクロックおよび前記被測定信号の周波数の組み合わせを、予め定められた複数種類から選択する選択部と、
選択部の選択結果に応じて、前記サンプリングクロックおよび前記被測定信号の少なくとも一方の周波数を制御する制御部と、
前記サンプリング部におけるサンプリング結果に基づいて、前記被測定信号の位相を算出する位相算出部と
を備え、
前記選択部は、前記サンプリングクロックおよび前記被測定信号のエッジ位置が一致してから、次に前記サンプリングクロックおよび前記被測定信号のエッジ位置が一致するまでの、前記サンプリングクロックのエッジ数が最も多くなる前記周波数の組み合わせを選択する位相測定装置。
- 略同一周期を有する第1及び第2の被測定信号間のスキューを測定するスキュー測定装置であって、
前記第1の被測定信号及び前記第2の被測定信号を、与えられるサンプリングクロックのタイミングでサンプリングする第1のサンプリング部及び第2のサンプリング部と、
前記サンプリングクロックおよび前記被測定信号の周波数の組み合わせを、予め定められた複数種類から選択する選択部と、
選択部の選択結果に応じて、前記サンプリングクロックおよび前記被測定信号の少なくとも一方の周波数を制御する制御部と、
前記第1のサンプリング部及び前記第2のサンプリング部におけるサンプリング結果に基づいて、前記第1の被測定信号及び前記第2の被測定信号間のスキューを算出するスキュー算出部と
を備え、
前記選択部は、前記サンプリングクロックおよび前記被測定信号のエッジ位置が一致してから、次に前記サンプリングクロックおよび前記被測定信号のエッジ位置が一致するまでの、前記サンプリングクロックのエッジ数が最も多くなる前記周波数の組み合わせを選択するスキュー測定装置。 - 略同一周期を有する第1及び第2の被測定信号間のスキューを測定するスキュー測定方法であって、
前記第1の被測定信号及び前記第2の被測定信号を、与えられるサンプリングクロックのタイミングでサンプリングし、
前記サンプリングクロックおよび前記被測定信号の周波数の組み合わせを、予め定められた複数種類からそれぞれ選択して、前記サンプリングクロックおよび前記被測定信号の少なくとも一方の周波数を制御する場合において、前記サンプリングクロックおよび前記被測定信号のエッジ位置が一致してから、次に前記サンプリングクロックおよび前記被測定信号のエッジ位置が一致するまでの、前記サンプリングクロックのエッジ数が最も多くなる前記周波数の組み合わせを選択し、
前記第1の被測定信号及び前記第2の被測定信号に対するサンプリング結果に基づいて、前記第1の被測定信号及び前記第2の被測定信号間のスキューを算出するスキュー測定方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11/758,676 | 2007-06-06 | ||
US11/758,676 US7638997B2 (en) | 2007-06-06 | 2007-06-06 | Phase measurement apparatus |
PCT/JP2008/060484 WO2008149990A1 (ja) | 2007-06-06 | 2008-06-06 | 位相測定装置、スキュー測定装置、位相測定方法、およびスキュー測定方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2008149990A1 true JPWO2008149990A1 (ja) | 2010-08-26 |
Family
ID=40093794
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009517915A Ceased JPWO2008149990A1 (ja) | 2007-06-06 | 2008-06-06 | 位相測定装置、スキュー測定装置、位相測定方法、およびスキュー測定方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7638997B2 (ja) |
JP (1) | JPWO2008149990A1 (ja) |
WO (1) | WO2008149990A1 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102072987B (zh) * | 2010-11-13 | 2013-06-12 | 天津大学 | 短区间正弦信号的相位估计法及其实验装置 |
US8248297B1 (en) * | 2011-04-11 | 2012-08-21 | Advanced Testing Technologies, Inc. | Phase noise measurement system and method |
US9164134B2 (en) * | 2012-11-13 | 2015-10-20 | Nvidia Corporation | High-resolution phase detector |
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WO2005074304A1 (en) * | 2004-01-23 | 2005-08-11 | Sunrise Telecom Incorporated | Method and apparatus for measuring jitter |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7127018B2 (en) * | 2001-03-20 | 2006-10-24 | Advantest Corporation | Apparatus for and method of measuring clock skew |
US7590170B2 (en) * | 2004-09-29 | 2009-09-15 | Teradyne, Inc. | Method and apparatus for measuring jitter |
DE112008000680T5 (de) * | 2007-03-13 | 2010-01-14 | Advantest Corp. | Messgerät, Messverfahren, Prüfgerät, elektronische Vorrichtung und Aufzeichnungsmedium |
-
2007
- 2007-06-06 US US11/758,676 patent/US7638997B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2008
- 2008-06-06 WO PCT/JP2008/060484 patent/WO2008149990A1/ja active Application Filing
- 2008-06-06 JP JP2009517915A patent/JPWO2008149990A1/ja not_active Ceased
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20080303509A1 (en) | 2008-12-11 |
WO2008149990A1 (ja) | 2008-12-11 |
US7638997B2 (en) | 2009-12-29 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110420 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130205 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130218 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
A045 | Written measure of dismissal of application [lapsed due to lack of payment] |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A045 Effective date: 20140225 |