JP6069113B2 - サンプリング波形測定装置およびサンプリング波形測定方法 - Google Patents
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Description
ここで、Nは整数である。
fb =fin−Nfs ……(2′)
fb=fin・fs ・Δt=fin/S ……(3′)
となる。ここで、Sはサンプリング周期をΔtで除した値であり、サンプリングによる時間軸拡大の倍率を表している。式(3′)より、基本ビート周波数fb はサンプル値y(i)の繰返し周波数に等しいことが分かる。
Δt=fb /(fin・fs ) ……(4′)
より求められ、サンプル値y(i)に対応する時間軸値X(i)は、
X(i)={i・Δt+(π+φ)/(2πfin)}mod(1/fin)
……(5′)
より求めることができる。ここで、X(i)は秒単位の時間軸値であり、φは基本ビート周波数成分の位相である。
ここで、記号mod は剰余演算を表す。
被測定信号をサンプリング周波数(fs)でサンプリングするサンプリング部(21)と、
前記サンプリング部でサンプリングされた被測定信号をデジタルのサンプル値の信号列に変換するA/D変換部(22)と、
当該装置の動作初期時に、所定個数の前記サンプル値の信号列から、前記被測定信号の繰返し周波数またはビットレートと、前記サンプリング周波数の整数倍との間のビート周波数(fb 0 )、または、該ビート周波数の前記サンプリング周波数に対する相対値(fb 0 /fs)を算出して、初期ビート周波数(fb0 またはfb 0 /fs)として出力するビート周波数演算部(23)と、
前記初期ビート周波数を設定値として受け、該初期ビート周波数を初期周波数とする正弦波を出力する数値制御発振器(26)、該数値制御発振器から出力される正弦波と前記サンプル値の信号列とを乗算する乗算器(27)、該乗算器の出力信号の低周波成分を出力する低域通過フィルタ(28)、該低域通過フィルタが出力する前記低周波成分の位相を出力する位相検波器(29)、および該位相検波器が出力する位相(φ)に所定の帰還係数(k)を乗算し、該乗算結果(k・φ)により、前記数値制御発振器が出力する正弦波の周波数を負帰還制御する帰還手段(30)とからなる位相ロックループ部(25)と、
前記数値制御発振器が出力する正弦波の周波数と前記位相検波器が出力する位相(φ)から、前記サンプル値それぞれの時間軸値を算出する時間軸算出部(40)とを備え、
前記時間軸算出部で算出された時間軸値と前記サンプル値から前記被測定信号の波形を得ることを特徴としている。
前記ビート周波数演算部が、前記サンプル値の前記初期ビート周波数の成分の位相を初期位相(φ0)として出力し、
該初期位相に応じて前記位相ロックループ部の前記数値制御発振器が出力する正弦波の位相の初期値が設定されることを特徴とする。
前記ビート周波数演算部が、前記サンプル値の前記初期ビート周波数の成分の振幅を初期振幅(a0)として出力し、
該初期振幅に応じて前記位相ロックループ部の前記低域通過フィルタの振幅の初期値が設定されることを特徴とする。
前記位相検波器が出力する位相に対する前記帰還係数(k)および前記低域通過フィルタの遮断周波数の少なくとも一方を可変することで、前記位相ロックループ部の閉ループ帯域を可変する閉ループ帯域可変手段(33)を有していることを特徴とする。
前記位相ロックループ部の前記低域通過フィルタが出力する前記低周波成分の振幅が所定値以下になった場合または前記位相検波器が出力する前記位相が所定範囲を超えた場合に、前記位相ロックループ部の同期外れが発生したことを前記ビート周波数演算部に通知して、新たな前記初期ビート周波数を算出させる同期外れ検出手段(34)を有し、
前記同期外れ検出手段からの通知を受けた前記ビート周波数演算部が新たに算出した前記初期ビート周波数を前記位相ロックループ部に設定し直し、前記位相ロックループ部の同期を回復させることを特徴とする。
前記時間軸算出部で算出された複数の時間軸値から、所定の時間軸値範囲内に前記時間軸値が存在しない欠落領域の有無を検出し、該欠落領域が検出された場合に、前記サンプリング部に対して前記サンプリング周波数の変更を指示するとともに前記ビート周波数演算部に対して新たな前記初期ビート周波数の算出を指示する欠落検出手段(35)を有し、
前記欠落検出手段からの指示によって前記ビート周波数演算部が新たに算出した前記初期ビート周波数を前記位相ロックループ部に設定し直し、前記時間軸値の欠落状態から復帰させることを特徴とする。
前記ビート周波数演算部は、
前記所定個数の前記サンプル値を離散フーリエ変換して離散スペクトルを算出し、該離散スペクトルの強度が最大となる周波数、または、該周波数の前記サンプリング周波数に対する相対値を、前記初期ビート周波数として検出することを特徴とする。
前記ビート周波数演算部は、
前記所定個数の前記サンプル値を離散フーリエ変換して離散スペクトルを算出し、該離散スペクトルの強度が極大となる複数の極大周波数を、前記被測定信号の繰返し周波数またはビットレートと、前記サンプリング周波数の整数倍との間で生じる基本ビート周波数の候補値として検出し、該候補値のうち、前記被測定信号の繰返し周波数またはビットレートの整数倍と、前記サンプリング周波数の整数倍との間で生じる高調波ビート周波数と前記極大周波数との誤差が最も小さくなる候補値、または、該候補値の前記サンプリング周波数に対する相対値を、前記初期ビート周波数と決定して出力することを特徴とする。
また、本発明の請求項9のサンプリング波形測定装置は、請求項1〜8のいずれかに記載のサンプリング波形測定装置において、
前記A/D変換部から出力されるサンプル値の信号列に対して、前記被測定信号のビットレートの周波数成分を発生させる非線形処理を行なう非線形処理部(32)を設け、
前記ビート周波数演算部および前記位相ロックループ部の前記乗算器に対して、前記サンプル値の代わりに前記非線形処理部の出力を与えることを特徴とする。
被測定信号をサンプリング周波数(fs)でサンプリングし、該サンプリングした被測定信号をデジタルのサンプル値の信号列に変換する段階と、
動作初期時に、所定個数の前記サンプル値の信号列から、前記被測定信号の繰返し周波数またはビットレートと、前記サンプリング周波数の整数倍との間のビート周波数(fb 0 )、または、該ビート周波数の前記サンプリング周波数に対する相対値(fb 0 /fs)を算出して、初期ビート周波数(fb0 またはfb 0 /fs)として出力する段階と、
前記初期ビート周波数を設定値とし、該初期ビート周波数を初期周波数とする正弦波を発生させ、該正弦波と前記サンプル値の信号列とを乗算し、該乗算結果から低周波成分を抽出し、該抽出した低周波成分の位相(φ)を検出し、該検出した位相に所定の帰還係数(k)を乗算し、該乗算結果(k・φ)により、前記正弦波の周波数を負帰還制御する位相ロックループの段階と、
前記正弦波の周波数と前記検出した位相(φ)から、前記サンプル値それぞれの時間軸値を算出する段階とを含み、
前記算出した時間軸値と前記サンプル値から前記被測定信号の波形を得ることを特徴としている。
図1は、本発明を適用したサンプリング波形測定装置20の基本構成を示している。
φ=∠F[y(i)・Wsin,a0]
=∠F[ym,a0] ……(2)
fb =fb0−k・φ ……(3)
X(i)=[i・fb/(fs・fin)+(π+φ)/(2πfin)]mod(1/fin)
……(4)
ここで、F[ym,a0]は低域通過フィルタ28を表す関数、ymは低域通過フィルタ28の入力、a0は低域通過フィルタ28の振幅初期値、mod は剰余演算を表す。また、時間軸値X(i)は、秒単位の時間軸値である。
fb /fs =fb0/fs −k′・φ ……(6)
x(i)=[(i・fb/fs)+(π+φ)/(2π)]mod 1 ……(7)
図5は、ソフトウエア同期部23の構成例であり、前述した従来のソフトウエア同期部による基本ビート周波数の算出処理を行なう基本ビート周波数算出手段23a、数値制御発振器23b、乗算器23c、平均化手段23d、振幅検出手段23e、位相検出手段23fを含んでいる。
a0=|ya| ……(9)
φ0=∠ya ……(10)
ただし記号Σは、i=0〜n−1までの総和を表す
Wsin =ej{2πΣ[fb(i′)/fs(i′)]+φ0}
となる。ここで、Σは、i′=1〜iまでの総和を表す。
x(i)={Σ[fb(i′)/fs(i′)]+(π+φ)/(2π)}mod 1
となる。ここで、Σは、i′=1〜iまでの総和を表す。
F1(jω)=1/(1+jωτ1) ……(11)
の1次フィルタとすると、位相ロックループ部25の閉ループ伝達関数は、
H(jω)=jω/(2πk+jω−ω2τ1) ……(12)
となる。ここで、τ1は、低域通過フィルタ28の時定数であり、遮断角周波数ω1の逆数である。
F3(jω)=(1+jωτ2)/jωτ1 ……(14)
Claims (10)
- 被測定信号をサンプリング周波数(fs)でサンプリングするサンプリング部(21)と、
前記サンプリング部でサンプリングされた被測定信号をデジタルのサンプル値の信号列に変換するA/D変換部(22)と、
当該装置の動作初期時に、所定個数の前記サンプル値の信号列から、前記被測定信号の繰返し周波数またはビットレートと、前記サンプリング周波数の整数倍との間のビート周波数(fb 0 )、または、該ビート周波数の前記サンプリング周波数に対する相対値(fb 0 /fs)を算出して、初期ビート周波数(fb0 またはfb 0 /fs)として出力するビート周波数演算部(23)と、
前記初期ビート周波数を設定値として受け、該初期ビート周波数を初期周波数とする正弦波を出力する数値制御発振器(26)、該数値制御発振器から出力される正弦波と前記サンプル値の信号列とを乗算する乗算器(27)、該乗算器の出力信号の低周波成分を出力する低域通過フィルタ(28)、該低域通過フィルタが出力する前記低周波成分の位相を出力する位相検波器(29)、および該位相検波器が出力する位相(φ)に所定の帰還係数(k)を乗算し、該乗算結果(k・φ)により、前記数値制御発振器が出力する正弦波の周波数を負帰還制御する帰還手段(30)とからなる位相ロックループ部(25)と、
前記数値制御発振器が出力する正弦波の周波数と前記位相検波器が出力する位相(φ)から、前記サンプル値それぞれの時間軸値を算出する時間軸算出部(40)とを備え、
前記時間軸算出部で算出された時間軸値と前記サンプル値から前記被測定信号の波形を得ることを特徴とするサンプリング波形測定装置。 - 前記ビート周波数演算部が、前記サンプル値の前記初期ビート周波数の成分の位相を初期位相(φ 0 )として出力し、
該初期位相に応じて前記位相ロックループ部の前記数値制御発振器が出力する正弦波の位相の初期値が設定されることを特徴とする請求項1記載のサンプリング波形測定装置。 - 前記ビート周波数演算部が、前記サンプル値の前記初期ビート周波数の成分の振幅を初期振幅(a 0 )として出力し、
該初期振幅に応じて前記位相ロックループ部の前記低域通過フィルタの振幅の初期値が設定されることを特徴とする請求項1または請求項2記載のサンプリング波形測定装置。 - 前記位相検波器が出力する位相に対する前記帰還係数(k)および前記低域通過フィルタの遮断周波数の少なくとも一方を可変することで、前記位相ロックループ部の閉ループ帯域を可変する閉ループ帯域可変手段(33)を有していることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載のサンプリング波形測定装置。
- 前記位相ロックループ部の前記低域通過フィルタが出力する前記低周波成分の振幅が所定値以下になった場合または前記位相検波器が出力する前記位相が所定範囲を超えた場合に、前記位相ロックループ部の同期外れが発生したことを前記ビート周波数演算部に通知して、新たな前記初期ビート周波数を算出させる同期外れ検出手段(34)を有し、
前記同期外れ検出手段からの通知を受けた前記ビート周波数演算部が新たに算出した前記初期ビート周波数を前記位相ロックループ部に設定し直し、前記位相ロックループ部の同期を回復させることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載のサンプリング波形測定装置。 - 前記時間軸算出部で算出された複数の時間軸値から、所定の時間軸値範囲内に前記時間軸値が存在しない欠落領域の有無を検出し、該欠落領域が検出された場合に、前記サンプリング部に対して前記サンプリング周波数の変更を指示するとともに前記ビート周波数演算部に対して新たな前記初期ビート周波数の算出を指示する欠落検出手段(35)を有し、
前記欠落検出手段からの指示によって前記ビート周波数演算部が新たに算出した前記初期ビート周波数を前記位相ロックループ部に設定し直し、前記時間軸値の欠落状態から復帰させることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載のサンプリング波形測定装置。 - 前記ビート周波数演算部は、
前記所定個数の前記サンプル値を離散フーリエ変換して離散スペクトルを算出し、該離散スペクトルの強度が最大となる周波数、または、該周波数の前記サンプリング周波数に対する相対値を、前記初期ビート周波数として検出することを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載のサンプリング波形測定装置。 - 前記ビート周波数演算部は、
前記所定個数の前記サンプル値を離散フーリエ変換して離散スペクトルを算出し、該離散スペクトルの強度が極大となる複数の極大周波数を、前記被測定信号の繰返し周波数またはビットレートと、前記サンプリング周波数の整数倍との間で生じる基本ビート周波数の候補値として検出し、該候補値のうち、前記被測定信号の繰返し周波数またはビットレートの整数倍と、前記サンプリング周波数の整数倍との間で生じる高調波ビート周波数と前記極大周波数との誤差が最も小さくなる候補値、または、該候補値の前記サンプリング周波数に対する相対値を、前記初期ビート周波数と決定して出力することを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載のサンプリング波形測定装置。 - 前記A/D変換部から出力されるサンプル値の信号列に対して、前記被測定信号のビットレートの周波数成分を発生させる非線形処理を行なう非線形処理部(32)を設け、
前記ビート周波数演算部および前記位相ロックループ部の前記乗算器に対して、前記サンプル値の代わりに前記非線形処理部の出力を与えることを特徴とする請求項1〜8のいずれかに記載のサンプリング波形測定装置。 - 被測定信号をサンプリング周波数(fs)でサンプリングし、該サンプリングした被測定信号をデジタルのサンプル値の信号列に変換する段階と、
動作初期時に、所定個数の前記サンプル値の信号列から、前記被測定信号の繰返し周波数またはビットレートと、前記サンプリング周波数の整数倍との間のビート周波数(fb 0 )、または、該ビート周波数の前記サンプリング周波数に対する相対値(fb 0 /fs)を算出して、初期ビート周波数(fb0 またはfb 0 /fs)として出力する段階と、
前記初期ビート周波数を設定値とし、該初期ビート周波数を初期周波数とする正弦波を発生させ、該正弦波と前記サンプル値の信号列とを乗算し、該乗算結果から低周波成分を抽出し、該抽出した低周波成分の位相(φ)を検出し、該検出した位相に所定の帰還係数(k)を乗算し、該乗算結果(k・φ)により、前記正弦波の周波数を負帰還制御する位相ロックループの段階と、
前記正弦波の周波数と前記検出した位相(φ)から、前記サンプル値それぞれの時間軸値を算出する段階とを含み、
前記算出した時間軸値と前記サンプル値から前記被測定信号の波形を得ることを特徴とするサンプリング波形測定方法。
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