JP4985082B2 - 塗布膜形成装置、塗布膜形成装置の使用方法及び記憶媒体 - Google Patents

塗布膜形成装置、塗布膜形成装置の使用方法及び記憶媒体 Download PDF

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Description

本発明は、基板の表面に薬液を塗布した後、当該基板の裏面にノズルから洗浄液を供給する技術に関する。
半導体ウエハ(以下「ウエハ」という)等の基板にレジスト液や絶縁膜の前駆物質を含む薬液を塗布する液処理は、一般にウエハを高速回転させてこのウエハ表面に薬液を展伸させるスピンコーティングにより行われる。しかし、このような液処理では、薬液がウエハの周端部のベベル部及び裏面の周縁部まで回りこみ、ベベル部などに付着した薬液が乾燥してパーティクルとなり搬送アームを汚染する等の不具合を生じることがある。
このため図13(a)に示すようにウエハWの表面周縁部上方にエッジ洗浄ノズル101を位置させて、このノズル101から溶剤を吐出することにより、ウエハW表面周縁部及びベベル部に付着した例えばレジストを洗浄したり、また図13(b)に示すようにウエハWの下方側に裏面洗浄ノズル102を設けてここからウエハWの裏面周縁部に溶剤を吐出してウエハW裏面を洗浄したりすることが従来から行われている。ここで100はレジスト膜である。
ところで半導体デバイスの製造工程においては、ウエハWのデバイス形成領域をできるだけ周縁まで広げようとする傾向にあるが、図13(a)のようにエッジ洗浄ノズル101を用いると、ウエハWのベベル部から数mm内側に寄った領域のレジスト膜100が除去されてしまうので、ベベル部近くまで即ちウエハの周端近くまでレジスト膜100を残すことができなくなってしまう。また最近では露光時にウエハ上に水を存在させる液浸露光が検討されており、この手法を採用するにあたって、液浸露光時にレジスト膜100を保護するための撥水性の保護膜を形成する場合がある。この保護膜の形成も薬液処理で行うことから不要な部位の保護膜を除去する必要があるが、保護膜はウエハの周端まで形成しなければならないことから、エッジ洗浄ノズル101を使用しにくい状況にある。更にまたコスト面などの事情からエッジ洗浄ノズル101の設置を避けたいという要請もある。
一方図13(b)に示す裏面洗浄ノズル102を用いた場合には、裏面側から供給した洗浄液をウエハW上面側のベベル部まで回りこませて確実に洗浄することが困難であるという問題がある。例えば、ウエハWの下方側にはウエハWの裏面の周縁部に沿って内カップが設けられており、スピンコーティングの際に飛散した塗布液のミストを排気路へ案内するようになっているため、裏面洗浄ノズル102はこのうちカップの内側に位置させなければならない。このため裏面洗浄ノズル102からの溶剤の供給位置がベベル部よりもかなり内側によってしまい、溶剤をベベル部まで行き渡らせることが難しくなる。
またレジスト膜100の塗布に際しレジスト膜100の密着性を高めるため予めウエハWに疎水化処理を施すことが行われるが、この処理に使用したガスの一部が裏面側に回り込んでウエハW裏面の周縁部を疎水化してしまうことがある。このような状態のウエハWに、既述のようにベベル部よりもかなり内側に設けられた裏面洗浄ノズル102を使って洗浄液を供給しても、疎水化処理された領域にて洗浄液が撥ね返されてしまい、ベベル部の洗浄が更に困難となる問題も確認されている。
これら図13(a)、図13(b)を用いて説明した問題を解消する手法として、例えば既述の内カップに孔を空けて洗浄液の供給ノズルとし、ウエハW裏面側のベベル部近傍の位置から洗浄液を供給する手法も考えられる。しかしながら、この内カップは例えば内面に付着したレジスト液を洗浄する等のメンテナンスのため、例えば週一回、定期的に塗布膜形成装置から取り外さなければならない。このような内カップに洗浄液の供給ノズルを設けると、例えば洗浄液配管の取り外しや接続作業が必要となり、メンテナンス作業の煩雑化につながり好ましくない。
ここで特許文献1や特許文献2にはスピンチャック上のウエハWに裏面側より洗浄液を供給して、ウエハW表面に塗布された塗布膜の周縁部を除去する技術が記載されている。しかしながら特許文献1に記載されている技術には、ウエハW裏面側に設けられた内カップがベベル部洗浄時の障害になるといった問題については全く触れられておらず、この問題を解決する手段についての示唆もない。また、特許文献2に記載されている技術においては、後述する実施の形態に係る塗布膜形成装置とは内カップに相当する部材の形状が異なっており、内カップ取り外し時のメンテナンス性低下を解消する技術として採用することはできない。
特開平8−264412号公報:第0031段落、図2 特開2003−45788号公報:第0031段落、図7
本発明はこのような事情に基づいて行われたものであり、その目的は基板周端部の洗浄能力が高く、且つメンテナンスの容易な塗布膜形成装置、塗布膜形成装置の使用方法及び当該方法を記憶した記憶媒体を提供することにある。
本発明に係る塗布膜形成装置は、基板をスピンチャックに保持し、薬液を基板表面に供給して塗布膜を形成する塗布膜形成装置において、
前記スピンチャックを囲むように着脱自在に設けられた外カップと、
前記スピンチャックに保持された基板の下方領域を囲むように着脱自在に設けられた内カップと、
前記基板の周端部を洗浄するための洗浄液を供給口から基板の裏面周縁部に向かって、当該裏面周縁部よりも中央部側から斜め上方に向けて供給する洗浄ノズルと、
前記内カップの上部における内周面から外周面に亘って切り欠かれ、前記供給孔が内カップの外周面側に位置するように前記洗浄ノズルが嵌合するノズル装着用の切り欠き部と、
前記洗浄ノズルに接続された洗浄液供給管と、を備え、
前記洗浄ノズルは、前記洗浄液供給管が接続された状態で前記切り欠き部に着脱できるように構成されていることを特徴とする。
ここで前記洗浄ノズルは、前記切り欠き部に装着されたときに内カップの一部を構成するように、内カップの外面の形状に対応した形状に形成されていることが好ましく、前記内カップの上縁に、斜め上方外側に向かって延びだすミスト流入防止用の突片を内カップの周方向に沿って形成する場合には、前記洗浄ノズルの一部は、前記突片の一部として機能させるようにするとよい。また、前記内カップの上部の縦断面形状を山型に形成されると共にその山型部分の頂部から前記突片が延び出すように構成する場合には、前記洗浄ノズルは、前記山型部分の外側の傾斜面の一部と前記突片の一部として夫々機能する上向き傾斜面部と下向き傾斜面部とを備え、これら傾斜面部の間から洗浄液が吐出するように構成するとよい。
また前記洗浄ノズルを、前記切り欠き部に装着した状態の装着位置と、当該切り欠き部より取り外して前記内カップの内周縁よりも内側に退避させた退避位置と、の間で移動させるための移動機構を更に備えてもよい。更には、前記移動機構は、前記洗浄ノズルを回転動作及びスライド動作のうちの少なくとも一方により退避させるように構成されていることが好ましい。
次に他の発明に係る塗布膜形成装置の使用方法は、スピンチャックを囲むように着脱自在に設けられた外カップと、前記スピンチャックに保持された基板の下方領域を囲むように着脱自在に設けられた内カップと、を備えた塗布膜形成装置を使用する方法において、
前記基板の裏面周縁部に向かって、当該裏面周縁部よりも中央部側から斜め上方に向けて洗浄液を供給孔から供給するために、洗浄液供給管が接続された洗浄ノズルを、前記内カップの上部における内周面から外周面に亘って切り欠かれ、前記供給孔が内カップの外周面側に位置するように設けられたノズル装着用の切り欠き部に嵌合して装着する工程と、
基板をスピンチャックに保持し、薬液を基板上に供給して塗布膜を形成する工程と、
前記スピンチャックを回転させながら前記洗浄ノズルから洗浄液を基板の裏面周縁部に供給することにより前記基板の周端部を洗浄する工程と、
前記洗浄ノズルを洗浄液供給管が接続されたまま内カップから取り外す工程と、
次いで前記内カップを取り外す工程と、を含むことを特徴とする。

ここで前記洗浄ノズルは、前記切り欠き部に装着されたときに内カップの一部を構成するように、内カップの外面の形状に対応した形状に形成されていることを特徴とする。また前記内カップの上縁に、斜め上方外側に向かって延びだすミスト流入防止用の突片を内カップの周方向に沿って形成する場合には、前記洗浄ノズルの一部は、前記突片の一部として機能するようにするとよい。この他、前記内カップの上部の縦断面形状が山型に形成すると共にその山型部分の頂部から前記突片が延び出すように構成する場合には、前記洗浄ノズルは、前記山型部分の外側の傾斜面の一部と前記突片の一部として夫々機能する上向き傾斜面部と下向き傾斜面部とを備え、これら傾斜面部の間から洗浄液が吐出するように構成することが好ましい。更には、洗浄ノズルを洗浄液供給管が接続されたまま内カップから取り外す工程は、前記洗浄ノズルを、前記内カップの切り欠き部に装着した位置から内カップの内周縁よりも内側位置まで、移動機構による回転動作及びスライド動作の少なくとも一方により退避させる工程であるとよい。
次いで本発明に係る記憶媒体は、外カップの中に設けられたスピンチャックと、このスピンチャックに保持された基板の下方領域を囲むように設けられた内カップとを備えた塗布膜形成装置に用いられるコンピュータプログラムを格納した記憶媒体であって、
前記コンピュータプログラムは、上述の塗布膜形成装置の使用方法を実施するようにステップ群が組まれていることを特徴とする。
本発明に係る塗布膜形成装置によれば、スピンチャックに保持された基板の下方領域を囲むように設けられた内カップに切り欠き部を備え、この切り欠き部に嵌合させて洗浄ノズルを着脱することができるので、基板周端部の近傍位置より洗浄液を供給することが可能になる。この結果、基板裏面の中央側のみから洗浄液を供給する従来の手法に比べて基板の周端部の洗浄能力が向上し、搬送アーム汚染等の不具合発生をより確実に抑制することができる。
またこの洗浄ノズルは内カップから取り外すことができるので、内カップ洗浄等のメンテナンス時には、この洗浄ノズルを予め取り外しておくことにより内カップ等の着脱が容易となる。
本発明に係る塗布膜形成装置をウエハWに対して塗布液(薬液)であるレジスト液をスピンコーティングにより塗布する塗布ユニットに適用した実施の形態について図1、図2を参照しながら説明する。図1は塗布膜形成装置1の縦断面図であり、図2は当該塗布膜形成装置1に設けられた内カップ34の外観構成を示す斜視図である。
図1に示すように塗布膜形成装置1は、処理対象のウエハWの裏面側中央部を吸引吸着して水平に保持するスピンチャック11と、ウエハW表面にレジスト液を供給する供給ノズル14と、ウエハW表面から飛散したレジスト液のミスト等の飛散を抑えるためのカップ体3とを備えている。これらの機器は、例えば清浄空気のダウンフローが形成された図示しない筐体内に収められている。
スピンチャック11は、軸部12を介して駆動機構(スピンチャックモータ)13に接続されており、ウエハWを保持した状態で上面から見て例えば時計回りに回転自在且つ昇降自在に構成されている。ウエハWは外部の搬送アームにより塗布膜形成装置1に搬送され、スピンチャック11の側方に設けられた図示しない昇降ピンとの協同作用によってスピンチャック11上へ受け渡すことができるようになっている。
供給ノズル14は、ウエハWの表面の例えば中央部と対向し、図示しない供給ユニットから送液されてきたレジスト液をウエハW表面に供給する役割を果たす。供給ノズル14は、レジスト液の供給を行わない期間中はウエハWの上方位置より退避して、搬送アーム等によるウエハWの搬入出動作と干渉しないように構成されている。
カップ体3は、スピンコーティング等の際にウエハWを回転させることによってウエハWより飛散したミストが飛び散るのを抑え、塗布膜形成装置1外にミストやドレインを排出する役割を果たす。カップ体3は、ドーナツ型の二重円筒構造を備えた外カップ31と、この外カップ31の内側の円筒上に設置される内カップ34とから構成されている。図1に示すように、外カップ31はスピンチャック11を囲むように設けられており、その側周面上端側は内側に傾斜し、この傾斜部の先端にはカップ体3内へ取り込まれる気流の流れ方向を整えるための規制部材31bが設けられている。一方、外カップ31の底部側には凹部状の液受け部31aが形成されており、その底面にはレジスト液のドレインを排出するためのドレインポート32と、カップ体3内を通流した気流を排気するための例えば2つの排気ポート33とが設けられている。これらのポート32、33は各々ドレイン管15、排気管16に接続され、レジスト液のドレインや、ミストを含む気流が塗布膜形成装置1から排出されるようになっている。ここで排気ポート33は、外カップ31内の上方に延伸されており、外カップ31から排気管16へのドレインの溢流を防ぐための溢流防止壁33aを構成している。
また図1、図2に示すように、スピンチャック11の下方側にはスピンチャック11の軸部12を取り囲んで円形板18を設けてあり、この円形板18の周囲にはリング状に内カップ34が配置されている。内カップ34の上部は断面形状が山型に形成されていて、前記山型部分の頂部、即ち内カップ34の上縁からは、斜め上方外側に向かって突片36が延び出している。この突片36は、スピンチャック11上に保持されたウエハWの裏面をカップ体3内部の空間から遮って、カップ体3を流れるミストのウエハW裏面側への流入を抑える役割を果たす。ここでスピンチャック11上にウエハWが保持された状態において、内カップ34はウエハWの下方領域を囲むように設けられ、ウエハWの裏面と突片36の先端部との距離は、例えば1.0〜1.5mmとなるように構成されている。また山型に形成された突片36の上面には、図2に示すように内カップ34の直径方向に相対向する2箇所に切り欠き部37が設けられており、この切り欠き部37内に後述する洗浄ノズル21を装着することができるようになっている。
この内カップ34の外端面には、図1に示すように外カップ31の液受け部31aに進入するように下方に伸びる端板35が設けられており、ウエハWから飛散したレジスト液の一部はドレインとして内カップ34及び端板35の表面を伝って液受け部31aに案内されるようになっている。なお円形板18は、ドーナツ型のカップ体3の内側に嵌挿可能な例えば円筒形状の支持部材18aにより支持されており、この支持部材18aの内部には既述のスピンチャック11を支える軸部12やスピンチャックモータ13等が格納されている。
またドレイン管15や排気管16は既述の筐体を構成する底板17上に固定されており、各ポート32、33は対応する配管15、16に嵌入可能な形状となっている。洗浄作業等、カップ体3のメンテナンス時には、これらドレインポート32や排気ポート33を配管15、16から取り外すことでカップ体3全体をスピンチャック11よりも上方に持ち上げて、塗布膜形成装置1内から取り出すことができる。即ち、外カップ31と内カップ34とは、塗布膜形成装置1に対して着脱自在に構成されている。
更に本実施の形態に係る塗布膜形成装置1は、ウエハWの周端部であるベベル部に付着しているレジスト液を除去して搬送アーム等の汚染を防止するためのベベル洗浄機構2を備えている。ベベル洗浄機構2は、図2に示すように、ウエハWの裏面周縁部に、例えば溶剤からなる洗浄液を供給する洗浄ノズル21と、この洗浄ノズル21を移動させるアーム部22と、アーム部22を支えると共にこのアーム部22の走行路をなす基台23とから構成され、アーム部22と基台23とは連結部材24によって連結されている。基台23は、細長いブロック状に構成され、その上面には、アーム部22の走行路をなすレール23aが形成されている。レール23aの長手方向両側面には、図4(a)に示すように細長いスリット23bが形成されておりこのスリット23b内を連結部材24の連結軸24aが走行するスライド動作をできるようになっている。
アーム部22は既述の基台23と同様に細長いブロック状に構成され、その内部には空洞が形成されていると共に、当該空洞の下面側が開放されていてレール23a全体をその空洞内に収納することができる。このアーム部22の先端部上面には洗浄ノズル21が固定されている一方で、基端部は連結部材24を介して基台23と連結されている。連結部材24はU字型の押さえ部材24bと連結軸24aとから構成されており、図4(a)に示すように連結軸24aをスリット23bに貫通させ、基台23の上面を覆うように配置した押さえ部材24bの両側面に、連結軸24aの両端部を固定してある。
この押さえ部材24bの内側にアーム部22の基端部を固定し、連結軸24aをスリット23bに沿って左右に移動可能、且つ連結軸24aを回転可能とすることにより、アーム部22は、図4(a)、図4(b)に示すように左右方向に移動自在であって、連結軸24aを回転軸として先端側を上下に回動自在な移動機構として構成される。
次に、図3に基づいて洗浄ノズル21の構成を説明する。図3(a)は洗浄ノズル21の側面図であり、図3(b)は正面図、図3(c)は内カップ34の切り欠き部37に洗浄ノズル21を装着した状態における斜視図である。以下、ベベル洗浄機構2の説明においては内カップ34から見て外側の方向を手前側として説明する。
洗浄ノズル21は、図3(a)、図3(b)に示すように上面に山形の傾斜面部42、45を備えた小型のブロックであって、後方傾斜面部45が前方まで延び出すことによりノズル突片41が形成されている。そして図3(c)に示すように内カップ34の切り欠き部37に嵌合させて、既述の洗浄液供給管52が接続された状態で装着できるようになっている。洗浄ノズル21は、装着された状態において内カップ34の一部を構成するように、内カップ34の形状に対応した形状に形成されており、ノズル突片41は内カップ34の突片36の一部として機能する。
ここで図3(a)に示した山型の手前側の傾斜面を上向き斜面部42、ノズル突片41の下方側の傾斜面を下向き斜面部43と呼ぶと、これら上向き斜面部42、下向き斜面部43は夫々内カップ34の外側の傾斜面及び内カップ34の突片36の一部として機能する。そして、これらの傾斜面部42、43の間である上向き斜面部42の中央部には、図3(b)に示すように供給孔44が設けられており、正面から見て左上方、即ちスピンチャック11の回転方向に向けて洗浄液を噴射することができる。なお、例えば噴射された洗浄液の軌道とノズル突片41とが干渉する場合には、干渉する位置にあるノズル突片41に切り欠きを設けてもよい。
洗浄ノズル21の供給孔44は、図1に示すように洗浄液供給管52を介して洗浄液タンク51と接続されており、洗浄液は、例えば窒素ガス等の不活性ガスを供給することによって洗浄液タンク51から押し出され、洗浄液供給管52上に介設された流量コントローラ53にて流量調整されて供給孔44へと供給されるようになっている。なおアーム部22が移動、回動する円形板18の上面側においては、洗浄液供給管52は例えば可撓性のチューブ等により構成され、アーム部22の動作の障害とならないように十分な余裕を持たせてある。また図示の便宜上、図2以降においては洗浄液供給管52の記載を適宜省略してある。
以上の構成を備えたベベル洗浄機構2は図2に示すように、円形板18上面の両端部に例えば2台設けられ、円形板18の中心を通る直線に沿って洗浄ノズル21を外側へ向けた状態で夫々配設されている。そして、アーム部22を手前側に伸ばすことにより内カップ34の切り欠き部37に洗浄ノズル21を装着し、スピンチャック11に保持されたウエハWのベベル部近傍に洗浄ノズル21を位置させることができる(以下、この位置を装着位置という)。一方、アーム部22を後方位置まで退行させると、カップ体3の着脱に際して内カップ34と干渉しない、内カップ34の内周縁よりも内側の位置まで洗浄ノズル21を退避させることができる(以下、この位置を退避位置という)。なお、図1に示した縦断面図では、説明の便宜上ベベル洗浄機構2の設けられた位置と、ベベル洗浄機構2から外れた位置との双方の縦断面を示してあるため、右側のベベル洗浄機構2の記載を省略してある。更に図1においては装着位置、退避位置に夫々位置する洗浄ノズル21を図示する便宜上、洗浄ノズル21に接続された洗浄液供給管52の一部を省略して示してある。
また図1に示すように、塗布膜形成装置1のスピンチャックモータ13やベベル洗浄機構2、洗浄液の流量コントローラ53、また図示しないレジスト液の供給ユニット等は制御部6と接続されている。制御部6は、例えば中央演算処理装置(CPU)と、塗布膜形成装置1に備わる機器の各種作用に関するプログラムとを含むコンピュータからなる。このプログラムには予め決められたスケジュールに基づいて、レジスト液の供給タイミングや供給量、スピンチャック11の回転速度や回転時間、洗浄液の供給タイミングや供給量等に係る制御についてのステップ(命令)群等が組まれている。このプログラムは、例えばハードディスク、コンパクトディスク、マグネットオプティカルディスク、メモリカード等の記憶媒体に格納され、そこからコンピュータにインストールされる。
以上に説明した構成に基づいて本実施の形態に係る塗布膜形成装置1の作用について説明すると、外部の図示しない搬送アームによってスピンチャック11の上方位置まで搬送されたウエハWは、既述の昇降ピンとの協同作用によってスピンチャック11に受け渡される。そして、図5(a)の模式図に示すように、スピンチャック11上に保持されたウエハWの中央部上方位置まで供給ノズル14を移動させた後レジスト液を供給する。
次いで、ウエハW表面にレジスト液を供給しながらウエハWを回転させることにより、図5(a)に示すようにレジスト液をウエハWの径方向に広げるスピンコーティングを行う。そして、レジスト液の供給を停止した後、更にウエハWを回転させて、コーティングしたレジスト液の振り切り乾燥を行う。以上の動作により、図5(b)の拡大図に示すようにウエハW表面に塗布膜であるレジスト膜100が形成される。このとき、スピンコーティングにより形成したレジスト膜100では、背景技術にて述べたようにレジスト液が回り込み、上記拡大図に示すようにウエハWのベベル部及び裏面の周縁部にまでレジスト膜100が形成される。
そこで、図6(a)の模式図に示すように、ウエハWを例えば700rpm程度の回転数で例えば数秒間回転させながら、ベベル部の下方側近傍位置にある洗浄ノズル21から洗浄液を供給することにより当該ベベル部のレジスト膜100を除去する。このとき、洗浄液は図3(b)に示すように、ウエハWの回転方向と同じ方向へ向けて斜め上方へ噴射される。洗浄液をウエハWの回転方向と同じ向きに供給するのは、洗浄液がウエハWに衝突した衝撃で飛び散ってしまうのを抑えるためである。また洗浄液は、例えばウエハWの外周端より4mm内側位置を狙って供給され、ウエハW外周端部に設けられた切り欠き部であるノッチ(切り欠き部の奥行きが2mm程度)における洗浄液の飛び散りを回避している。
こうして図6(b)に示すように洗浄液をウエハWの下方側から供給すると、供給された洗浄液がウエハWベベル部の裏面から側面及び上面にかけての領域に広がり、当該領域のレジスト膜100が除去される。この結果、図6(c)に示すように、ベベル部を除くウエハWの近傍にまで広がったレジスト膜100を得られることが実験的に確認されている。
ここで、洗浄液を裏面側から供給しているにもかかわらずベベル部の側面から上面にかけての領域のレジスト膜100を除去できる理由を考察する。洗浄ノズル21から供給された洗浄液は、噴射圧とウエハWの回転に伴う遠心力との作用によりウエハWのベベル部裏面側の領域を広がる。このとき洗浄液はその領域のレジスト膜100を溶かし、ウエハW表面には洗浄液とレジスト液の混合溶液が形成される。洗浄ノズル21からは連続して洗浄液が供給されるので、供給された洗浄液はこの溶液内を拡散し、溶液との接触界面にあるレジスト膜100を溶かしていく。この結果、洗浄液はベベル部の裏面側から側面、上面側へと回り込んで、その領域のレジスト膜100を除去していく。一方、既述のようにウエハWには回転による遠心力が働いているため、遠心力によってウエハW表面から溶液が飛散してしまうと、洗浄液はそれ以上レジスト膜を除去することができなくなってしまう。以上のように、溶液との接触界面にて洗浄液がレジスト膜100を溶かしていく作用と、遠心力によってこの溶液がウエハW表面から飛散する作用との相反する作用がバランスして、図6(c)に示すようにベベル部の余分な領域が除去されたレジスト膜100を得ることができるものと考えられる。
更にこの後、ウエハWを例えば2000rpmの回転数で例えば5秒間回転させることで洗浄液の振り切り乾燥を行って液処理を完了する。レジスト液の塗布されたウエハWは、搬入時とは逆の順序で搬送アームに受け渡され塗布膜形成装置1から搬出される。
以上に述べた動作においては図7に示すように、ウエハWの振り切り回転により生じたレジスト液や洗浄液のミストをカップ体3外に排出するため、外カップ31と内カップ34との間の空間には下方側へと向かう気流が形成されている。このようなミストを含む気流は、ウエハWの回転動作等によってその一部が巻き込まれてウエハW裏面へ向かおうとする。これに対して本実施の形態においては、内カップ34上部が山型となっており、ウエハWと内カップ34との間の隙間が狭いため、巻き込まれた気流がウエハWの裏面側まで進入しにくい。また山型部分の頂部には斜め上方外側に向かって突片36が延び出しているため、巻き込まれた気流はこの突片36にて外側へと流れ方向を変えられる。この結果、ミストを含んだ気流はこれら山型部分やノズル突片41にて流路を阻害され、図7中に破線で示した矢印のようにウエハW裏面側へと進入することは困難になり、ウエハW裏面へのレジスト液等のミストの付着が大幅に抑制される。
さらに本実施の形態においては、図3(c)、図7に示すように内カップ34の切り欠き部37に嵌合した洗浄ノズル21が既述の山型部分や突片36の一部を構成しているので、内カップ34上部の他の領域と同様にミストを含んだ気流のウエハW裏面側への進入が抑えられる。
次に、カップ体3のメンテナンス時におけるベベル洗浄機構2の作用について説明する。塗布膜形成装置1にてウエハWの液処理を行っていない期間中、例えば当該塗布膜形成装置1を搭載した塗布、現像装置が停止している期間中は、図8に示すように例えば洗浄等のメンテナンスのために塗布膜形成装置1からカップ体3を取り出すことができる。このとき図4(a)に示すように、オペレータはベベル洗浄機構2のアーム部22を上方に回動させて洗浄ノズル21を装着位置から持ち上げ、次いで図4(a)中の破線で示すようにそのままの状態で後方へと退行させる。その後、図4(b)に示すようにアーム部22を下方へと回動させ、同図中に破線で示す退避位置にて洗浄ノズル21を待機させる。
退避位置においては、図8に示すようにベベル洗浄機構2の洗浄ノズル21やアーム部22が内カップ34の内周縁よりも内側に退避して、互いに干渉しない状態となっているので、左右2つのベベル洗浄機構2についての洗浄ノズル21の退避完了後、洗浄液供給管52の取り外し等の煩雑な作業を行うことなく自由にカップ体3を取り外すことができる。そしてカップ体3のメンテナンスが終了して再びカップ体3を塗布膜形成装置1に取り付けた後には、2つのベベル洗浄機構2を既述の退避動作とは反対の順序で作動させて内カップ34に洗浄ノズル21を装着する。なお図2においては、説明の便宜上左側のベベル洗浄機構2は装着位置、右側のベベル洗浄機構2は退避位置に夫々の洗浄ノズル21を移動させた状態で示してあるが、実際にはこれらのベベル洗浄機構2はカップ体3の使用中は装着位置、メンテナンス時には退避位置に同じタイミングで移動させる。
以上に説明した本実施の形態に係る塗布膜形成装置1によれば以下の効果がある。スピンチャック11に保持されたウエハWの下方領域を囲むように設けられた内カップ34に切り欠き部37を備え、この切り欠き部37に嵌合させて洗浄ノズル21を着脱することができるので、ベベル部の近傍位置より洗浄液を供給することが可能になる。この結果、ウエハW裏面の中央側のみから洗浄液を供給する従来の手法に比べてベベル部の洗浄能力が向上し、搬送アーム汚染等の不具合発生をより確実に抑制することができる。なお、実施の形態に係る洗浄ノズル21を使用したベベル部の洗浄と並行して、または当該洗浄と前後して、内カップ34よりも内側の位置に設けた従来の裏面洗浄ノズル102によりウエハWの裏面洗浄を行ってもよいことは勿論である。
また内カップ34の上部が断面形状が山型に形成されていて、前記山型部分の頂部からは、斜め上方外側に向かって突片36が延び出していることにより、レジスト液等のミストを含む気流のウエハW裏面側への進入が抑えられる。更にまた、洗浄ノズル21を装着した状態においては上向き斜面部42、下向き斜面部43は夫々内カップ34の外側の傾斜面及び内カップ34の突片36の一部として機能するので、洗浄ノズル21を装着した部位においてもミストを含む気流の進入を阻止する効果が失われない。この結果、これらの作用においてもウエハW裏面へのレジスト液等の付着を抑え、搬送アーム汚染等の発生を抑制することができる。なお、洗浄ノズル21のサイズは内カップ34の上縁の長さと比較して十分に小さいので、ノズル突片41を備えない構成の洗浄ノズル21を採用する場合であっても、ウエハW裏面へのミストを含む気流の進入は相当程度抑える効果は得ることができる。しかしながら、可能な限り洗浄ノズル21にはノズル突片41を設けることが好ましい。
また洗浄ノズル21は内カップ34から取り外すことができるので、カップ体3洗浄等のメンテナンス時には、この洗浄ノズル21を予め取り外しておくことにより内カップ34を含むカップ体3の着脱が容易となる。特に本実施の形態に係るベベル洗浄機構2は洗浄ノズル21を装着位置と退避位置との間で移動させる移動機構を備えているので、オペレータが洗浄ノズル21の装着や取り外しを行う必要がなく装置の取り扱いは更に容易となる。
ここで図1〜図7に示した実施の形態においては、装着位置と退避位置との間で洗浄ノズル21をスライド動作させる移動機構を備えたベベル洗浄機構2について例示したが、移動手段の構成や、退避位置は上述の実施の形態に中に示したものに限定されない。例えば図9(a)〜図9(c)に示すように、切り欠き部37に洗浄ノズル21を装着した状態のアーム部22を後方へ跳ね上げた後、側方へ横倒しにする回転動作を行うことにより図9(c)に示す退避位置まで洗浄ノズル21を移動させるようにベベル洗浄機構2移動手段を構成しいてもよい。また図10(a)〜図10(c)に示すように洗浄ノズル21を装着した状態のアーム部22全体を平行に上昇させ、然る後アーム部22の基端部を中心にアーム部22を横方向へと回動させてから、アーム部22全体を平行に下降させることにより図10(c)に示す退避位置まで洗浄ノズル21を移動させるようにベベル洗浄機構2の移動手段を構成してもよい。なお、当該ベベル洗浄機構2に駆動機構を設け、オペレータからの指示を受けて装着位置と退避位置との間で自動的に移動させるように構成してもよい。また上述の実施の形態では、周端部にベベル部(傾斜)の形成されたウエハWを例に説明をしたが、周端部にこのような傾斜部を有さないウエハWの洗浄に上述の洗浄機構を適用してもよいことは勿論である。
次に塗布、現像装置に上述した塗布膜形成装置1を適用した一例について簡単に説明する。図11は塗布、現像装置に露光装置が接続されたシステムの平面図であり、図12は同システムの斜視図である。図中S1はキャリアブロックであり、ウエハWが例えば13枚密閉収納されたキャリアC1を搬入出するための載置部121を備えたキャリアステーション120と、このキャリアステーション120から見て前方の壁面に設けられる開閉部122と、開閉部122を介してキャリアC1からウエハWを取り出すためのトランスファーアームCとが設けられている。
キャリアブロックS1の奥側には筐体124にて周囲を囲まれる処理ブロックS2が接続されており、処理ブロックS2には手前側から順に加熱・冷却系のユニットを多段化した棚ユニットP1、P2、P3及び液処理ユニットP4、P5と、搬送アームA1、A2とが交互に設けられている。搬送アームA1、A2はこれら各ユニット間のウエハWの受け渡しを行う役割を果たす。搬送アームA1、A2は、キャリアブロックS1から見て前後方向に配置される棚ユニットP1、P2、P3の一面側と、右側の液処理ユニットP4、P5側の一面側と、左側の一面側をなす背面部とで構成される区画壁により囲まれる空間123内に置かれている。
棚ユニットP1、P2、P3は、液処理ユニットP4、P5にて行われる処理の前処理及び後処理を行うための各種ユニットを複数段積層した構成とされている。積層された各種ユニットにはウエハWを加熱(ベーク)する複数の加熱ユニット(PAB)や、ウエハWを冷却する冷却ユニット等が含まれる。
また液処理ユニットP4、P5は、レジスト液や現像液等の薬液収納部の上に下部反射防止膜塗布ユニット133、レジスト塗布ユニット134、ウエハWに現像液を供給して現像処理する現像ユニット131等を複数段、例えば5段に積層して構成されている。ここで、これらの下部反射防止膜塗布ユニット133、レジスト塗布ユニット134、現像ユニット131はウエハWのベベル部に塗布された塗布膜を除去する構造に関し、既述の実施の形態に示した塗布膜形成装置1とほぼ同様に構成されている。
インターフェイスブロックS3は、処理ブロックS2と露光装置S4との間に前後に設けられる第1の搬送室3A及び第2の搬送室3Bにより構成されており、夫々に昇降自在、鉛直軸回りに回転自在かつ進退自在なウエハ搬送機構131A、131Bを備えている。
第1の搬送室3Aには、棚ユニットP6及びバッファカセットCOが設けられている。棚ユニットP6にはウエハ搬送機構131Aとウエハ搬送機構131Bとの間でウエハWの受け渡しを行うための受け渡しステージ(TRS)、露光処理を行ったウエハWを加熱処理する加熱ユニット(PEB)及び冷却プレートを有する高精度温調ユニット等が上下に積層された構成となっている。
続いて、この塗布、現像装置におけるウエハWの流れについて説明する。先ず外部からウエハWの収納されたキャリアC1がキャリアブロックS1に搬入されると、ウエハWは、トランスファーアームC→棚ユニットP1の受け渡しユニット(TRS)→搬送アームA1→下部反射防止膜形成ユニット(BARC)133→搬送アームA1(A2)→加熱ユニット→搬送アームA1(A2)→冷却ユニット→疎水化処理ユニット→搬送アームA1(A2)→冷却ユニット→搬送アームA1(A2)→レジスト塗布ユニット(COT)134→搬送アームA1(A2)→加熱ユニット→搬送アームA1(A2)→冷却ユニット→搬送アームA2→棚ユニットP3の受け渡しユニット(TRS)→ウエハ搬送機構131A→棚ユニットP6の受け渡しユニット(TRS)→ウエハ搬送機構131B→露光装置S4の順に搬送される。
露光処理を受けたウエハWは、ウエハ搬送機構131B→棚ユニットP6の受け渡しステージ(TRS)→ウエハ搬送機構131A→棚ユニットP6の加熱ユニット→ウエハ搬送機構131A→棚ユニットP6の温調ユニット→ウエハ搬送機構131A→棚ユニットP3の受け渡しステージ(TRS)→搬送アームA2→現像ユニット131→搬送アームA1→棚ユニットP1の受け渡しユニット(TRS)→トランスファーアームCの順で搬送され、キャリアC1に戻されて塗布、現像処理が完了する。
なお、レジスト膜表面に保護膜を形成する場合には、P4、P5に示した液処理ユニットの一部を保護膜塗布ユニットとし、レジスト塗布ユニット(COT)134にてレジスト膜を形成し、露光装置S4へと搬送する工程の間に、保護膜塗布ユニットにて保護膜を形成するように構成するとよい。
実施の形態に係る塗布膜形成装置の構成を示す縦断面図である。 上記塗布膜形成装置に装着された内カップの外観構成を示す斜視図である。 上記内カップに装着される洗浄ノズルの外観構成を示す説明図である。 上記洗浄ノズルを備えた洗浄機構の構成及び動作を示す側面図である。 上記塗布膜形成装置の塗布膜形成時の作用を示す説明図である。 上記塗布膜形成装置のベベル洗浄時の作用を示す説明図である。 上記塗布膜形成装置のベベル洗浄時の作用を示す第2の説明図である。 上記塗布膜洗浄装置より内カップを取り外した状態を示す縦断面図である。 上記洗浄機構の変形例を示す斜視図である。 上記洗浄機構の第2の変形例を示す斜視図である。 実施の形態に係る塗布膜形成装置を備えた塗布、現像装置を示す平面図である。 上記塗布、現像装置の外観構成を示す斜視図である。 従来のウエハ周縁部の洗浄法を示す説明図である。
符号の説明
W ウエハ
1 塗布膜形成装置
2 ベベル洗浄機構
3 カップ体
6 制御部
11 スピンチャック
12 軸部
13 スピンチャックモータ
14 供給ノズル
15 ドレイン管
16 排気管
17 底板
18 円形板
18a 支持部材
21 洗浄ノズル
22 アーム部
23 基台
23a レール
23b スリット
24 連結部材
24a 連結軸
24b 押さえ部材
31 外カップ
31a 液受け部
31b 規制部材
32 ドレインポート
33 排気ポート
33a 溢流防止壁
34 内カップ
35 端板
36 突片
37 切り欠き部
41 ノズル突片
42 上向き斜面部
43 下向き斜面部
44 供給孔
45 後方傾斜面部
51 洗浄液タンク
52 洗浄液供給管
53 流量コントローラ
100 レジスト膜
101 エッジ洗浄ノズル
102 裏面洗浄ノズル

Claims (12)

  1. 基板をスピンチャックに保持し、薬液を基板表面に供給して塗布膜を形成する塗布膜形成装置において、
    前記スピンチャックを囲むように着脱自在に設けられた外カップと、
    前記スピンチャックに保持された基板の下方領域を囲むように着脱自在に設けられた内カップと、
    前記基板の周端部を洗浄するための洗浄液を供給孔から基板の裏面周縁部に向かって、当該裏面周縁部よりも中央部側から斜め上方に向けて供給する洗浄ノズルと、
    前記内カップの上部における内周面から外周面に亘って切り欠かれ、前記供給孔が内カップの外周面側に位置するように前記洗浄ノズルが嵌合するノズル装着用の切り欠き部と、
    前記洗浄ノズルに接続された洗浄液供給管と、を備え、
    前記洗浄ノズルは、前記洗浄液供給管が接続された状態で前記切り欠き部に着脱できるように構成されていることを特徴とする塗布膜形成装置。
  2. 前記洗浄ノズルは、前記切り欠き部に装着されたときに内カップの一部を構成するように、内カップの外面の形状に対応した形状に形成されていることを特徴とする請求項1に記載の塗布膜形成装置。
  3. 前記内カップの上縁には、斜め上方外側に向かって延びだすミスト流入防止用の突片が内カップの周方向に沿って形成され、
    前記洗浄ノズルの一部は、前記突片の一部として機能することを特徴とする請求項2に記載の塗布膜形成装置。
  4. 前記内カップの上部は、縦断面形状が山型に形成されると共にその山型部分の頂部から前記突片が延び出すように構成され、
    前記洗浄ノズルは、前記山型部分の外側の傾斜面の一部と前記突片の一部として夫々機能する上向き傾斜面部と下向き傾斜面部とを備え、これら傾斜面部の間から洗浄液が吐出するように構成されていることを特徴とする請求項3に記載の塗布膜形成装置。
  5. 前記洗浄ノズルを、前記切り欠き部に装着した状態の装着位置と、当該切り欠き部より取り外して前記内カップの内周縁よりも内側に退避させた退避位置と、の間で移動させるための移動機構を更に備えたことを特徴とする請求項1ないし4のいずれか一つに記載の塗布膜形成装置。
  6. 前記移動機構は、前記洗浄ノズルを回転動作及びスライド動作のうちの少なくとも一方により退避させるように構成されていることを特徴とする請求項5に記載の塗布膜形成装置。
  7. スピンチャックを囲むように着脱自在に設けられた外カップと、前記スピンチャックに保持された基板の下方領域を囲むように着脱自在に設けられた内カップと、を備えた塗布膜形成装置を使用する方法において、
    前記基板の裏面周縁部に向かって、当該裏面周縁部よりも中央部側から斜め上方に向けて洗浄液を供給孔から供給するために、洗浄液供給管が接続された洗浄ノズルを、前記内カップの上部における内周面から外周面に亘って切り欠かれ、前記供給孔が内カップの外周面側に位置するように設けられたノズル装着用の切り欠き部に嵌合して装着する工程と、
    基板をスピンチャックに保持し、薬液を基板上に供給して塗布膜を形成する工程と、
    前記スピンチャックを回転させながら前記洗浄ノズルから洗浄液を基板の裏面周縁部に供給することにより前記基板の周端部を洗浄する工程と、
    前記洗浄ノズルを洗浄液供給管が接続されたまま内カップから取り外す工程と、
    次いで前記内カップを取り外す工程と、を含むことを特徴とする塗布膜形成装置の使用方法。
  8. 前記洗浄ノズルは、前記切り欠き部に装着されたときに内カップの一部を構成するように、内カップの外面の形状に対応した形状に形成されていることを特徴とする請求項7に記載の塗布膜形成装置の使用方法。
  9. 前記内カップの上縁には、斜め上方外側に向かって延びだすミスト流入防止用の突片が内カップの周方向に沿って形成され、
    前記洗浄ノズルの一部は、前記突片の一部として機能することを特徴とする請求項8に記載の塗布膜形成装置の使用方法。
  10. 前記内カップの上部は、縦断面形状が山型に形成されると共にその山型部分の頂部から前記突片が延び出すように構成され、
    前記洗浄ノズルは、前記山型部分の外側の傾斜面の一部と前記突片の一部として夫々機能する上向き傾斜面部と下向き傾斜面部とを備え、これら傾斜面部の間から洗浄液が吐出するように構成されていることを特徴とする請求項9に記載の塗布膜形成装置の使用方法。
  11. 洗浄ノズルを洗浄液供給管が接続されたまま内カップから取り外す工程は、前記洗浄ノズルを、前記内カップの切り欠き部に装着した位置から内カップの内周縁よりも内側位置まで、移動機構による回転動作及びスライド動作の少なくとも一方により退避させる工程であることを特徴とする請求項7ないし10のいずれか一つに記載の塗布膜形成装置の使用方法。
  12. 外カップの中に設けられたスピンチャックと、このスピンチャックに保持された基板の下方領域を囲むように設けられた内カップとを備えた塗布膜形成装置に用いられるコンピュータプログラムを格納した記憶媒体であって、
    前記コンピュータプログラムは、請求項7ないし11のいずれか一つに記載された塗布膜形成装置の使用方法を実施するようにステップ群が組まれていることを特徴とする記憶媒体。
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Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5029486B2 (ja) 2008-05-13 2012-09-19 東京エレクトロン株式会社 塗布装置、塗布方法及び記憶媒体
JP5012651B2 (ja) 2008-05-14 2012-08-29 東京エレクトロン株式会社 塗布装置、塗布方法、塗布、現像装置及び記憶媒体
JP5098964B2 (ja) * 2008-11-13 2012-12-12 東京エレクトロン株式会社 ウエハの洗浄方法及び記憶媒体
JP4816747B2 (ja) 2009-03-04 2011-11-16 東京エレクトロン株式会社 液処理装置及び液処理方法
JP5216713B2 (ja) * 2009-08-03 2013-06-19 東京エレクトロン株式会社 塗布処理装置、塗布処理方法、プログラム及びコンピュータ記憶媒体
JP4743340B1 (ja) 2009-10-28 2011-08-10 セントラル硝子株式会社 保護膜形成用薬液
JP5223886B2 (ja) * 2010-06-18 2013-06-26 東京エレクトロン株式会社 液処理装置、液処理方法及び記憶媒体
CN102489464B (zh) * 2011-11-24 2014-05-21 深圳深爱半导体股份有限公司 匀胶清洗装置及匀胶清洗方法
JP5988438B2 (ja) * 2012-08-02 2016-09-07 東京エレクトロン株式会社 塗布処理方法及び塗布処理装置
CN103785638A (zh) * 2012-11-01 2014-05-14 沈阳芯源微电子设备有限公司 清洗晶圆背面的喷出装置
JP6022430B2 (ja) * 2012-11-21 2016-11-09 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置
JP6045357B2 (ja) * 2013-01-16 2016-12-14 キヤノン株式会社 薬液層の形成方法
KR101536718B1 (ko) * 2013-01-31 2015-07-15 세메스 주식회사 지지 유닛, 이송 유닛, 기판 처리 장치, 그리고 기판 처리 장치를 이용한 기판 처리 방법
JP6053656B2 (ja) * 2013-10-10 2016-12-27 東京エレクトロン株式会社 液処理装置
CN105993061A (zh) * 2014-02-13 2016-10-05 三菱电机株式会社 半导体装置的制造方法
TWI661477B (zh) 2015-06-18 2019-06-01 日商思可林集團股份有限公司 基板處理裝置
JP6545539B2 (ja) * 2015-06-18 2019-07-17 株式会社Screenホールディングス 基板処理装置
JP6769166B2 (ja) * 2016-08-10 2020-10-14 東京エレクトロン株式会社 液処理装置及び液処理方法
JP6784546B2 (ja) * 2016-09-08 2020-11-11 株式会社Screenホールディングス 基板処理装置
JP6981092B2 (ja) * 2017-08-10 2021-12-15 東京エレクトロン株式会社 液処理装置
EP3594748B1 (en) * 2018-07-09 2021-04-14 C&D Semiconductor Services. Inc Optimal exposure of a bottom surface of a substrate material and/or edges thereof for cleaning in a spin coating device
CN109411402B (zh) * 2018-08-08 2021-03-30 中芯集成电路(宁波)有限公司 湿法清洗设备
KR102099433B1 (ko) * 2018-08-29 2020-04-10 세메스 주식회사 기판 처리 방법 및 기판 처리 장치
KR20210006566A (ko) * 2019-07-08 2021-01-19 세메스 주식회사 기판 처리 장치
JP7232737B2 (ja) * 2019-08-07 2023-03-03 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置
KR102317139B1 (ko) * 2020-05-07 2021-10-26 무진전자 주식회사 기판 세정 장치
JP2022062395A (ja) * 2020-10-08 2022-04-20 東京エレクトロン株式会社 液処理装置及び洗浄方法
CN112718369A (zh) * 2020-12-25 2021-04-30 安徽台信科技有限公司 一种直驱电主轴加工用均匀性抹油设备
KR102548765B1 (ko) * 2020-12-30 2023-06-29 세메스 주식회사 지지 유닛, 기판 처리 장치 및 방법
JP2022124070A (ja) * 2021-02-15 2022-08-25 株式会社Screenホールディングス 基板処理装置、および、筒状ガードの加工方法
JP2023041310A (ja) * 2021-09-13 2023-03-24 株式会社Screenホールディングス 基板処理方法

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0444216Y2 (ja) * 1985-10-07 1992-10-19
KR0167572B1 (ko) * 1991-09-20 1999-02-01 이노우에 아키라 기판도포장치
JPH05234868A (ja) 1992-01-30 1993-09-10 Nec Corp スピン式レジスト塗布装置
JP2635476B2 (ja) * 1992-02-10 1997-07-30 東京エレクトロン株式会社 塗布装置及び塗布方法
US5608943A (en) * 1993-08-23 1997-03-11 Tokyo Electron Limited Apparatus for removing process liquid
JP2948501B2 (ja) 1995-03-20 1999-09-13 日本ファウンドリー株式会社 半導体装置製造工程における塗布液の塗布方法
JPH08318201A (ja) * 1995-05-25 1996-12-03 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板の回転式処理装置
JP3518948B2 (ja) * 1995-08-24 2004-04-12 大日本スクリーン製造株式会社 基板の回転処理装置
JPH10321581A (ja) * 1997-05-20 1998-12-04 Tokyo Electron Ltd 処理装置
TW444921U (en) * 1998-03-18 2001-07-01 United Microelectronics Corp Injection cleaning device of developer machine
JP4040270B2 (ja) 2001-06-25 2008-01-30 東京エレクトロン株式会社 基板の処理装置
JP2003045788A (ja) 2001-08-02 2003-02-14 Tokyo Electron Ltd 基板処理方法及び基板処理装置
JP4757126B2 (ja) * 2005-10-11 2011-08-24 東京エレクトロン株式会社 基板処理方法及び基板処理装置

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