JP4921579B2 - インプリントテンプレートを形成する方法 - Google Patents

インプリントテンプレートを形成する方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4921579B2
JP4921579B2 JP2010211473A JP2010211473A JP4921579B2 JP 4921579 B2 JP4921579 B2 JP 4921579B2 JP 2010211473 A JP2010211473 A JP 2010211473A JP 2010211473 A JP2010211473 A JP 2010211473A JP 4921579 B2 JP4921579 B2 JP 4921579B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
release layer
etching
inorganic release
imprintable medium
hard mask
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2010211473A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2011073444A (ja
Inventor
ウイスター,サンダー,フレデリック
Original Assignee
エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. filed Critical エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ.
Publication of JP2011073444A publication Critical patent/JP2011073444A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4921579B2 publication Critical patent/JP4921579B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/0002Lithographic processes using patterning methods other than those involving the exposure to radiation, e.g. by stamping
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C43/00Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor
    • B29C43/02Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor of articles of definite length, i.e. discrete articles
    • B29C43/021Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor of articles of definite length, i.e. discrete articles characterised by the shape of the surface
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y10/00Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y40/00Manufacture or treatment of nanostructures

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Shaping Of Tube Ends By Bending Or Straightening (AREA)

Description

[0001] 本発明は、インプリントリソグラフィでの使用に好適なインプリントテンプレートを形成する方法と、インプリントリソグラフィでの使用に好適なインプリントテンプレートに関する。
[0002] リソグラフィ分野では、所与の基板領域上のフィーチャの密度を増大するために、リソグラフィパターン内のフィーチャのサイズを低減するという従来からの要望がある。フォトリソグラフィ分野では、小さいフィーチャへの努力によってコスト高ではあるが液浸リソグラフィ及び極端紫外線(EUV)リソグラフィなどの技術が開発されてきた。
[0003] ますます関心が寄せられている潜在的にコスト高でない小さいフィーチャ(例えば、ナノメートルサイズのフィーチャ又はサブミクロンサイズのフィーチャ)を得る方法が、一般に「スタンプ」(多くの場合、インプリントテンプレート又はインプリントリソグラフィテンプレートと呼ばれる)を用いて基板上にパターンを転写するいわゆるインプリントリソグラフィである。インプリントリソグラフィの利点は、フィーチャの解像度が、例えば、放射源の放射波長又は投影システムの開口数によって制限されないということである。逆に、解像度は、主としてインプリントテンプレート上のパターンの密度によって制限される。
[0004] インプリントリソグラフィは、パターン形成する基板の表面上のインプリント可能な媒体のパターン形成工程を含む。パターン形成は、インプリント可能な媒体がパターン形成された表面の凹部に流入し、パターン形成された表面上の突起によって脇に押しのけられるように、インプリントテンプレートのパターン形成された表面とインプリント可能な媒体の層とを貼り合わせる(例えば、インプリントテンプレートをインプリント可能な媒体に近づけるか、又はインプリント可能な媒体をインプリントテンプレートに近づけるか、あるいはその両方を互いに近づけることで)ステップを含んでいてもよい。凹部は、インプリントテンプレートのパターン形成された表面のパターンフィーチャを画定する。通常、パターン形成された表面とインプリント可能な媒体とが貼り合わされた時にインプリント可能な媒体は流動可能である。インプリント可能な媒体のパターニングに続けて、例えば、インプリント可能な媒体を化学線に当てることで、インプリント可能な媒体は、好適には非流動又は凍結状態(すなわち、固定状態)にされる。次に、インプリントテンプレートのパターン形成された表面とパターン形成されたインプリント可能な媒体は分離される。次に、通常、基板とパターン形成されたインプリント可能な媒体は、さらに処理されて基板のパターン形成又は別のパターン形成が実行される。インプリント可能な媒体は、通常、パターン形成する基板の表面上に液滴の形態で提供されるが、代わりに、スピンコーティングなどを用いて提供してもよい。
[0005] 電子ビーム(eビーム)書込みを用いてインプリントテンプレートを形成することが慣例になっている。この方法から発生する問題の1つとして、eビーム書込みを用いたインプリントテンプレート形成は遅く、及び/又は高価になる場合がある。
[0006] 一態様によれば、無機剥離層とインプリント可能な媒体の層とを有する基板を用いてインプリントテンプレートを形成する方法であって、マスタインプリントテンプレートを用いてインプリント可能な媒体にパターンをインプリントするステップと、インプリント可能な媒体を固化させるステップと、インプリント可能な媒体と無機剥離層とをエッチングして無機剥離層内にパターンを形成するステップとを含む方法が提供される。
[0007] 一態様によれば、基板と無機剥離層とを備えるインプリントテンプレートであって、無機剥離層内にパターンが存在し、エッチングを用いて無機剥離層内にパターンが形成されるインプリントテンプレート。
[0008] 以下、添付の図面を参照しながら、本発明の特定の実施形態について説明する。
[0009]ホットインプリントリソグラフィの例の略図である。 [0009]UVインプリントリソグラフィの例の略図である。 [0010]本発明のある実施形態によるインプリントテンプレートを形成する方法の概略図である。
[0011] インプリントリソグラフィの方法の例を図1a〜図1bに概略的に示す。
[0012] 図1aは、いわゆるホットインプリントリソグラフィ(又はホットエンボス)の一例を示す。典型的なホットインプリント工程では、テンプレート2が、基板6の表面に提供された熱硬化性又は熱可塑性のインプリント可能な媒体4内にインプリントされる。インプリント可能な媒体4は、例えば樹脂であってもよい。インプリント可能な媒体は、例えばスピンコーティングし、基板表面に、又は図示の例のように、基板6の平坦化及び転写層8に焼成してもよい。熱硬化性ポリマー樹脂を使用する場合、樹脂はテンプレートに接触すると、テンプレート上に形成されたパターンフィーチャ内に流入する程度に十分に流動可能な状態になるような温度に加熱される。次に、樹脂の温度は、上昇して樹脂を熱硬化(架橋結合)させ、樹脂は固体化し所望のパターンを不可逆的に採用する。次に、テンプレート2を除去してパターン形成された樹脂を冷却することができる。熱可塑性ポリマー樹脂の層を使用するホットインプリントリソグラフィでは、熱可塑性樹脂が加熱されてテンプレート2によるインプリントの直前に自由に流動可能な状態になる。場合によって、熱可塑性樹脂を樹脂のガラス転移温度より大幅に高い温度まで上昇させる必要がある。テンプレートは流動性樹脂に押しつけられ、次にガラス転移温度より下の温度まで冷却され、その間、テンプレート2が所定位置でパターンを硬化させる。その後、テンプレートは除去される。パターンは、インプリント可能な媒体の残りの層から浮き彫りになったフィーチャからなり、次に、残りの層は、適切なエッチング工程によって除去され、パターンフィーチャだけが後に残される。ホットインプリントリソグラフィ工程で使用される熱可塑性ポリマー樹脂の例は、ポリ(メチルメタクリレート)、ポリスチレン、ポリ(ベンジルメタクリレート)、又はポリ(シクロヘキシルメタクリレート)である。ホットインプリントの詳細情報については、例えば、米国特許第4,731,155号及び米国特許第5,772,905号を参照されたい。
[0013] 図1bは、紫外線(UV)放射を透過する透明な又は半透明のテンプレートとインプリント可能な媒体としてのUV硬化性液体(本明細書では「UV」という用語が便宜上使用されているが、インプリント可能な媒体を硬化させる任意の適切な化学線を含むものと解釈すべきである)の使用を含むUVインプリントリソグラフィの一例を示す。UV硬化性液体は、多くの場合、ホットインプリントリソグラフィで使用される熱硬化性又は熱可塑性樹脂よりも粘性が低く、したがって、はるかに速く移動してテンプレートのパターンフィーチャを充填することができる。図1aの工程と同様の方法で石英テンプレート10が、UV硬化性樹脂12に当てられる。しかし、ホットインプリントの場合と異なり、熱又は温度サイクリングを用いるのではなく、石英テンプレート10を通してインプリント可能な媒体12上に印加されるUV放射14でインプリント可能な媒体12を硬化させることでパターンは固まる。テンプレート10を除去した後で、インプリント可能な媒体12はエッチングされる。UVインプリントリソグラフィによって基板をパターン形成する特定の方法は、いわゆるステップアンドフラッシュインプリントリソグラフィ(SFIL)である。SFILは、従来、IC製造で使用されている光ステッパと類似の方法で基板を細かいステップでパターン形成するために使用することができる。UVインプリントの詳細情報については、例えば、米国特許出願公開第2004−0124566号、米国特許第6,334,960号、PCT特許出願公開WO02/067055号、及び「Mold−assisted nanolithography:A process for reliable pattern replication」、J.Vac.Sci.Technol.B14(6),1996年11月/12月と題されたJ.Haisma氏の論文を参照されたい。
[0014] また、上記インプリント技術の組合せも可能である。例えば、インプリント可能な媒体の加熱及びUV硬化の組合せを記述する米国特許出願公開第2005−0274693号を参照されたい。
[0015] 図2は、本発明のある実施形態によるインプリントテンプレートを形成する方法を概略的に示す。
[0016] 図2aを参照すると、石英基板20は、無機剥離層21(例えば、シリコン窒化物)を備える。無機剥離層21は、例えば、化学蒸着、物理蒸着、又は原子層堆積によって塗布することができる。無機剥離層21上にハードマスク22(例えば、Cr)が提供される。ハードマスク22上に接着層23(例えば、ヘキサメチルジシラザン(HDMS)が提供される。
[0017] 図2bを参照すると、接着層23上にインプリント可能な媒体24の層が提供される。次に、インプリントテンプレート25がインプリント可能な媒体24の層に接触する。以後、インプリントテンプレート25をマスタインプリントテンプレート25と呼ぶ。インプリント可能な媒体24は、マスタインプリントテンプレート25の最下面に提供されたパターンの凹部内に流入する。次に、インプリント可能な媒体24は、例えばインプリント可能な媒体を化学線に当てることで硬化する。あるいは、例えばインプリント可能な媒体を加熱又は冷却することでインプリント可能な媒体24を固化させることもできる。
[0018] 図2cを参照すると、マスタインプリントテンプレートは、インプリント可能な媒体24から離れる。図2cから分かるように、インプリント可能な媒体24は、マスタインプリントテンプレートによって形成されたパターンを保持している。
[0019] 図2dを参照すると、インプリント可能な媒体24と接着層23がエッチングされる。ブレークスルーエッチングと呼ばれるエッチングは、インプリント可能な媒体24と接着層23とを貫通してエッチングを行うが、望ましくはハードマスク22に達したところで終了する。このエッチングは、例えば適当なガス(例を後述する)を用いるドライエッチングであってもよい。このエッチングは異方性であり、例えば、図2dの実質的に垂直方向にだけ施されるエッチングである。エッチングの結果、マスタインプリントテンプレート25によって形成されるパターンに対応するパターンがインプリント可能な媒体24と接着層23内に残される。
[0020] 図2eを参照すると、次に第2のエッチングが実行される。ハードマスクエッチングと呼ばれるこの第2のエッチングで、インプリント可能な媒体24と接着層23に覆われていないハードマスク22の部分がエッチングされる。こうして、マスタインプリントテンプレート25によって形成されたパターンがハードマスク22内にエッチングされる。ハードマスク22を貫通するエッチングは、ハードマスクを通って無機剥離層21へ達する。このエッチングで無機剥離層21へのエッチングも可能であり、それによって、無機剥離層内にパターンが形成される。このエッチングは、例えば適当なガス(例を後述する)を用いるドライエッチングであってもよい。このエッチングは異方性であり、例えば、図2eの実質的に垂直方向にだけ施されるエッチングである。
[0021] 図2fを参照すると、第3のエッチングが実行される。この第3のエッチングで、ハードマスク22に覆われていない無機剥離層21の部分がエッチングされる。このエッチングは、無機剥離層21を貫通せず、無機剥離層の途中までを部分的にエッチングする。このエッチングは、例えば適当なガス(例を後述する)を用いるドライエッチングであってもよい。このエッチングは異方性であり、例えば、図2fの実質的に垂直方向にだけ施されるエッチングである。エッチングの結果、図2fから分かるように、無機剥離層21内にパターンがエッチングされる。無機剥離層21内に形成されたパターンは、インプリント可能な媒体24内のマスタインプリントテンプレート25によって形成されたパターンに対応する。
[0022] 図2fに関連して説明したエッチングを実行する前にインプリント可能な媒体24を除去してもよい。これは、例えば、ドライエッチング又はウェットエッチングを用いて実行することができる。
[0023] 図2gを参照すると、第4のエッチングが実行される。この第4のエッチングで、ハードマスク22と、接着層23とインプリント可能な媒体24の残りの部分がすべて除去される。このエッチングは、例えば適当な液体(例を後述する)を用いるウェットエッチングであってもよい。このエッチングは等方性であってもよい。このエッチングは、例えば、ハードマスク22を溶解してハードマスクを除去し、それによって接着層23とインプリント可能な媒体24の残りの部分をすべて除去することができる。
[0024] 図2gから分かるように、本発明の実施形態の方法は、パターンを有する石英インプリントテンプレート30を提供する。石英インプリントテンプレート30は、パターニングされない石英基板20と、パターニングされる無機剥離層21とを含む。これは、石英自体がパターニングされ、無機剥離層がパターン上に実質的に一定の厚さを備えた層として提供される従来の石英インプリントテンプレートとは異なる。
[0025] 無機剥離層21内に形成されるパターンは、マスタインプリントテンプレート25のパターンの反転像である。したがって、無機剥離層21内に所望のパターンを提供するために、マスタインプリントテンプレート25上に所望のパターンの反転像を提供してもよい。代替構成では、材料層(例えば、インプリント可能な媒体)の1つ以上を配置して、パターンの凹部がエッチングされない反転エッチング工程(反転SFIL、反転トーンエッチング、又はSFIL−Rとして知られる工程)を支援することができる。これがなされた場合、マスタインプリントテンプレート上のパターンを所望のパターンの反転像ではなく所望のパターンに対応させることができる。
[0026] この方法は、同じマスタインプリントテンプレート25を用いて複数回繰り返すことができるため、複数のインプリントテンプレートを形成することができる。同じパターンを有する複数のマスタインプリントテンプレート25を提供してもよい。
[0027] 本発明のこの実施形態は、無機剥離層21を備えた複数のインプリントテンプレート30を形成する方法を提供する。この方法では、インプリントテンプレートを形成する多くの従来技術の方法に見られるように、eビーム書込みを用いてインプリントテンプレート30を形成する必要はない。この方法では、マスタインプリントテンプレート25を用いてインプリントテンプレート30のためのパターンが提供される。マスタインプリントテンプレート25は、任意の好適な方法を用いて形成することができる。例えば、マスタインプリントテンプレート25は、eビーム書込みを用いて形成することができる。これは比較的遅く高価な工程ではあるが、一旦マスタインプリントテンプレート25が形成されると、マスタインプリントテンプレートを用いて多数のインプリントテンプレート30を形成することができる。したがって、本発明のこの実施形態によって、無機剥離層を備えた多数のインプリントテンプレートを比較的低いコストで(eビーム書込みを用いて各々のインプリントテンプレートに書き込む方法と比較して)作成することができる。例えば、複数のインプリントテンプレートを用いて並列のインプリントを実行することが望まれる場合、これは有用である。予備のインプリントテンプレートのストックを提供することが望めれば有用である。
[0028] 本発明のこの実施形態は、パターニングされた無機剥離層21を備えたインプリントテンプレート30を提供する。パターニングされた無機剥離層を提供することは、有機剥離層を提供することよりも有利である。これは、有機剥離層の方が使用中に損傷しやすく、時間と共に摩耗する傾向があるからである。無機剥離層21は、有機剥離層よりも損傷を受けにくく、はるかに寿命が長いはずである。無機剥離層の1つ又は複数の利点は、例えば、Houle他、J.Vac.Sci.Tech.B 2008 26 1301、及びProc.of SPIE 2008 Vol.6921に記載されている。
[0029] 本発明の実施形態は、インプリントテンプレートのパターニングの前に無機剥離層21を提供する(インプリントテンプレートのパターニング後に無機剥離層を提供するのではなく)ので有利である。無機剥離層は平坦な表面上に提供されるので、無機剥離層がパターニングされた表面上に提供された場合よりも低い有孔率と低い欠陥とを無機剥離層に提供することが場合によって可能である。
[0030] 図2dに関連して上述したブレークスルーエッチングは、インプリント可能な媒体24と接着層23とを貫通してエッチングを行うが、ハードマスク22に達したところで終了する。代替実施形態では、ブレークスルーエッチングはハードマスク22を貫通してもよい。したがって、図2d及び図2eに関連して説明したエッチングを単一のエッチングとして組み合わせることができる。
[0031] 図2fに関連して説明したエッチングは、無機剥離層21内にエッチングを行う。場合によっては、このエッチングを図2eに関連して説明したハードマスク22内へのエッチングと組み合わせることができる。場合によっては、図2d、図2e及び図2fに関連して説明したエッチングを単一のエッチングとして組み合わせることができる。
[0032] 接着層23は、インプリント可能な媒体24の保持を支援するように意図されている。例えば、接着層23は、マスタインプリントテンプレート25がインプリント可能な媒体から除去された時にインプリント可能な媒体24が確実に所定位置にあることを支援することができる。場合によっては、ハードマスク22へのインプリント可能な媒体24の接着は接着層23が必要ない程度に十分に強力であってもよい。
[0033] 接着層23は、例えば、ハードマスク22上にスピンコーティングされたポリマーであってもよく、又は、例えば、ハードマスク上に単一層として塗布されるHDMSであってもよい。
[0034] ハードマスク22は、無機剥離層21よりもエッチング速度が遅い(又は無機剥離層のエッチング中に全くエッチングを行わない)材料から形成されてもよい。したがって、ハードマスク22によって、ハードマスク22が存在しなかった場合と比較して深さが大きい無機剥離層21内に複数のフィーチャを形成することができる。したがって、本発明の実施形態ではハードマスクを省略できるが、これによって無機剥離層21内に形成されるフィーチャの深さが制限されることがある。
[0035] ハードマスク22は、例えば、Crから形成されてもよく、その場合、図2eに関連して言及したハードマスクエッチングは、例えば、酸素/塩素プラズマ(O/Cl)を使用することができる。ハードマスク22は、例えば、Moから形成されてもよく、その場合、ハードマスクエッチングは、例えば、CF/Oプラズマを使用することができる。ハードマスク22は、例えば、WSiから形成されてもよく、その場合、ハードマスクエッチングは、例えば、フッ素ベースであってもよい。ハードマスク22は、例えば、Wから形成されてもよく、その場合、ハードマスクエッチングは、例えば、SF又はSF/Oを使用することができる。ハードマスク22は、例えば、Alから形成されてもよく、この場合、ハードマスクエッチングは、例えば、塩素ベースであってもよい。ハードマスク22は、例えば、Tiから形成されてもよく、その場合、ハードマスクエッチングは、例えば、Ar/CHFを使用することができる。
[0036] ハードマスク22を溶解するためにウェットエッチング液が使用される場合、ウェットエッチング液はハードマスクを形成するために使用される材料によって変わる。ハードマスクが、例えば、Crから形成される場合、ウェットエッチングは、例えば、HCl又は酢酸/セリンアンモニウム硝酸塩の混合物を使用することができる。ハードマスクが、例えば、Wから形成される場合、ウェットエッチングは、例えば、フェリシアニドと亜リン酸の混合物を使用することができる。ハードマスクが、例えば、Alから形成される場合、ウェットエッチングは、例えば、HPOHNOと酢酸の混合物を使用することができる。ハードマスクが、例えば、Tiから形成される場合、ウェットエッチングは、例えば、HFとHSOを使用することができる
[0037] 無機剥離層は、化学的に不活性であってもよい。無機剥離層は、機械的に不活性であってもよい。無機剥離層は、セラミック(例えば、金属酸化物又は金属窒化物)から形成することができる。
[0038] 無機剥離層21は、例えば、SiNから形成されてもよく、その場合、図2fに関連して言及した無機剥離層のエッチングは、例えば、SF又はSF/Oを使用することができる。無機剥離層21は、例えば、AlNから形成されてもよく、その場合、無機剥離層のエッチングは、例えば、BCl/Cl/Arを使用することができる。無機剥離層21は、例えば、TiNから形成されてもよく、その場合、無機剥離層のエッチングは、例えば、Ar/CHF、Ar/Cl、Ar/BClを使用することができる。無機剥離層21は、例えば、TiO、AlO、又はTaOから形成されてもよく、その場合、無機剥離層のエッチングは、例えば、CFを使用することができる。無機剥離層21は、例えば、GaNから形成されてもよく、その場合、無機剥離層のエッチングは、例えば、Ar/BCl/Clを使用することができる。
[0039] 上記の例で、基板20は石英から形成される。しかし、基板は、任意の好適な材料から形成されてもよい。例えば、基板は、溶融シリカ、ガラス、YAG又はCaFから形成されてもよい。
[0040] マスタインプリントテンプレート25は、例えば、石英、溶融シリカ、ガラス、YAG又はCaFから形成されてもよい。マスタインプリントテンプレート25は、無機剥離層を含んでいてもよい。
[0041] インプリント可能な媒体24は、例えば、シリコンを含む材料又はシリコンを含まない材料であってもよい。インプリント可能な媒体は、例えば、SFILレジストであってもよい。
[0042] 本発明のある実施形態は、米国特許出願公開第2008/0011934号に記載の方法とは1つ又は複数の点で異なる。例えば、US2008/0011934号では、パターンがゾル−ゲル内にインプリントされ、次にゾル−ゲルが硬化する。本発明のある実施形態は、パターンをインプリント可能な媒体内にインプリントし、次にパターンを無機剥離層内にエッチングする。ゾル−ゲルは、硬化時に寸法が変化しやすく、これは、例えば、ゾル−ゲル内に形成されたパターン上の2点間の距離が所望の距離と異なるということを意味する場合がある。無機剥離層21はエッチング時点で固体であるため、この問題は本発明のある実施形態によって回避することができる。
[0043] ゾル−ゲル層内にパターンを形成するためにUS2008/0011934号で使用されるパターンはPDMSであってもよい。PDMSパターンの不要な寸法変化が起こる可能性がある。この問題は、マスタインプリントテンプレートが石英(又は例えばPDMSより寸法変化を起こしにくい何か別の材料)から形成される本発明のある実施形態によって回避することができる。
[0044] ゾル−ゲル内への有機化合物の拡散によって引き起こされる膨張によって、ゾル−ゲル層内に形成されたパターンの寸法変化が起こる場合がある。この問題は、マスタインプリントテンプレートが石英(又は何か別の無機材料)及び/又は無機剥離層(又はゾル−ゲルと比較して有機化合物の拡散による膨張を起こしにくいその他の材料)の使用から形成される本発明のある実施形態によって回避することができる。
[0045] ゾル−ゲルを用いてインプリントテンプレートを形成する方法の別の問題は、ゾル−ゲルが極めて柔軟であるということである。これとは対照的に、本発明のある実施形態を用いて形成されるインプリントテンプレートは、ゾル−ゲルよりも柔軟でない。したがって、本発明のある実施形態を用いて形成されるインプリントテンプレートを用いてより高精度のパターニングを達成することができる。
[0046] 本発明のある実施形態を用いて形成されるインプリントテンプレートは、例えば、電子デバイス及び集積回路などのデバイスの製造に使用することができる。本発明のある実施形態を用いて形成されるインプリントテンプレートは、例えば、集積光システム、磁気ドメインメモリ用誘導及び検出パターン、フラットパネルディスプレイ、液晶ディスプレイ(LCD)、薄膜磁気ヘッド、有機発光ダイオードなどの製造に使用することができる。
[0047] 上述し図示した実施形態は、その性質が例示的なものであって制限するものではない。好ましい実施形態だけが図示され説明されており、特許請求の範囲に記載する本発明の範囲を逸脱することなく、すべての変更及び修正は保護されることが望ましいことを理解されたい。説明内の「好適な」、「好適には」、「好ましい」又は「より好ましい」などの用語の使用は、そのように記載された特徴が望ましいことを示すが、必ずしも必要ではなく、そのような特徴を有さない実施形態も添付の特許請求の範囲に定義する本発明の範囲内に含まれることを理解されたい。特許請求の範囲に関して、「ある」、「少なくとも1つの」、又は「少なくとも一部」などの用語は、添付の特許請求の範囲で、特に断りのない限り、特許請求の範囲をそのような特徴に限定する意図がない特徴に先行するものである。「少なくとも一部」及び/又は「一部」といった言語が使用される場合には、その要素は、特に断りのない限り、一部及び/又は要素全体を含むことができる。

Claims (5)

  1. 無機剥離層とインプリント可能な媒体の層とを有する基板を用いてインプリントテンプレートを形成する方法であって、
    基板上に無機剥離層を配置するステップと、
    前記無機剥離層上にハードマスクを配置するステップと、
    前記ハードバスク上に接着層を配置するステップと、
    前記接着層上に前記インプリント可能な媒体の層を配置するステップと、
    マスタインプリントテンプレートを用いて前記インプリント可能な媒体にパターンをインプリントするステップと、
    前記インプリント可能な媒体を固化させるステップと、
    前記インプリント可能な媒体、前記接着層、前記ハードマスク、および前記無機剥離層をエッチングして前記無機剥離層内にパターンを形成するステップと、
    を含む方法。
  2. 前記ハードマスクが、Cr、Mo、WSi、W、Al、Si又はTiのうちの1つから形成される、請求項に記載の方法。
  3. 前記マスタインプリントテンプレートが、石英、溶融シリカ、ガラス、YAG又はCaFから形成される、前記請求項1または2に記載の方法。
  4. 前記基板が、石英、溶融シリカ、ガラス、YAG又はCaFから形成される、前記請求項1〜のいずれか1項に記載の方法。
  5. 前記無機剥離層が、SiN、AlN、TiN、TiO、AlO、TaO、又はGaNのうちの1つから形成される、前記請求項1〜のいずれか1項に記載の方法。
JP2010211473A 2009-09-29 2010-09-22 インプリントテンプレートを形成する方法 Active JP4921579B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US24672509P 2009-09-29 2009-09-29
US61/246,725 2009-09-29

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011073444A JP2011073444A (ja) 2011-04-14
JP4921579B2 true JP4921579B2 (ja) 2012-04-25

Family

ID=43780656

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010211473A Active JP4921579B2 (ja) 2009-09-29 2010-09-22 インプリントテンプレートを形成する方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US9588422B2 (ja)
JP (1) JP4921579B2 (ja)
CN (1) CN102033424B (ja)
NL (1) NL2005263A (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101775163B1 (ko) * 2011-07-28 2017-09-05 엘지이노텍 주식회사 나노 임프린트용 몰드 제조방법 및 이를 이용하여 제조된 나노 임프린트용 몰드
WO2013051735A1 (en) * 2011-10-07 2013-04-11 Fujifilm Corporation Underlay film composition for imprints and method of forming pattern and pattern formation method using the same
JP5767615B2 (ja) * 2011-10-07 2015-08-19 富士フイルム株式会社 インプリント用下層膜組成物およびこれを用いたパターン形成方法
CN102508409B (zh) * 2011-10-27 2014-03-19 无锡英普林纳米科技有限公司 一种紫外光辅助热固化纳米压印技术与材料
JP5874110B2 (ja) * 2011-12-20 2016-03-02 公立大学法人大阪市立大学 パターン形成方法、モールドの回復方法、およびレプリカモールドの製造方法

Family Cites Families (56)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59224320A (ja) * 1983-06-02 1984-12-17 Sanyo Electric Co Ltd 金型の製造方法
US4731155A (en) 1987-04-15 1988-03-15 General Electric Company Process for forming a lithographic mask
US5772905A (en) 1995-11-15 1998-06-30 Regents Of The University Of Minnesota Nanoimprint lithography
US6101846A (en) * 1997-02-06 2000-08-15 Micron Technology, Inc. Differential pressure process for fabricating a flat-panel display face plate with integral spacer support structures
US6334960B1 (en) 1999-03-11 2002-01-01 Board Of Regents, The University Of Texas System Step and flash imprint lithography
KR100335070B1 (ko) * 1999-04-21 2002-05-03 백승준 압축 성형 기법을 이용한 미세 패턴 형성 방법
EP2306242A3 (en) 2000-10-12 2011-11-02 Board of Regents, The University of Texas System Method of forming a pattern on a substrate
JP2003103525A (ja) * 2001-09-27 2003-04-09 Ntt Advanced Technology Corp タンタル金型とその製造方法
US7077992B2 (en) 2002-07-11 2006-07-18 Molecular Imprints, Inc. Step and repeat imprint lithography processes
US7122079B2 (en) * 2004-02-27 2006-10-17 Molecular Imprints, Inc. Composition for an etching mask comprising a silicon-containing material
JP2004311713A (ja) * 2003-04-07 2004-11-04 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置製造用モールド
US7150844B2 (en) * 2003-10-16 2006-12-19 Seagate Technology Llc Dry passivation process for stamper/imprinter family making for patterned recording media
US7365414B2 (en) * 2003-12-01 2008-04-29 Intel Corporation Component packaging apparatus, systems, and methods
JP4257848B2 (ja) * 2003-12-26 2009-04-22 独立行政法人産業技術総合研究所 金型及びその製造方法
US9039401B2 (en) * 2006-02-27 2015-05-26 Microcontinuum, Inc. Formation of pattern replicating tools
JP3819397B2 (ja) * 2004-03-30 2006-09-06 株式会社東芝 インプリント方法
US20050275944A1 (en) * 2004-06-11 2005-12-15 Wang Jian J Optical films and methods of making the same
EP1594001B1 (en) 2004-05-07 2015-12-30 Obducat AB Device and method for imprint lithography
WO2006041645A2 (en) * 2004-10-08 2006-04-20 Dow Corning Corporation Lithography processes using phase change compositions
US7591641B2 (en) * 2005-03-22 2009-09-22 Canon Kabushiki Kaisha Mold and process of production thereof
EP1922364A4 (en) * 2005-08-09 2010-04-21 Univ North Carolina METHODS AND MATERIALS FOR MANUFACTURING MICROFLUIDIC DEVICES
US7419611B2 (en) * 2005-09-02 2008-09-02 International Business Machines Corporation Processes and materials for step and flash imprint lithography
KR100772639B1 (ko) 2005-10-18 2007-11-02 한국기계연구원 다이아몬드상 카본 박막을 이용한 미세 임프린트리소그래피용 스탬프 및 그 제조방법
US20070138699A1 (en) * 2005-12-21 2007-06-21 Asml Netherlands B.V. Imprint lithography
KR20070105040A (ko) * 2006-04-25 2007-10-30 엘지.필립스 엘시디 주식회사 레지스트 조성물, 이를 이용한 레지스트 패턴 형성방법 및이를 이용하여 제조된 어레이 기판
US7998651B2 (en) 2006-05-15 2011-08-16 Asml Netherlands B.V. Imprint lithography
US7341825B2 (en) * 2006-05-25 2008-03-11 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Method for producing high resolution nano-imprinting masters
US7795149B2 (en) * 2006-06-01 2010-09-14 Micron Technology, Inc. Masking techniques and contact imprint reticles for dense semiconductor fabrication
KR100857521B1 (ko) * 2006-06-13 2008-09-08 엘지디스플레이 주식회사 박막트랜지스터 제조용 몰드의 제조방법 및 그 제조장비
KR101284943B1 (ko) * 2006-06-30 2013-07-10 엘지디스플레이 주식회사 몰드의 제조방법
US8318253B2 (en) * 2006-06-30 2012-11-27 Asml Netherlands B.V. Imprint lithography
WO2008022097A2 (en) * 2006-08-15 2008-02-21 Api Nanofabrication And Research Corp. Methods for forming patterned structures
JP2008078617A (ja) * 2006-08-25 2008-04-03 Canon Inc 構造体の製造方法
JP4281773B2 (ja) * 2006-09-25 2009-06-17 ヤマハ株式会社 微細成形モールド及び微細成形モールドの再生方法
EP2087403B1 (en) * 2006-11-01 2012-02-01 Koninklijke Philips Electronics N.V. Imprint method for forming a relief layer and use of it as an etch mask
JP2008126450A (ja) 2006-11-17 2008-06-05 Fuji Electric Device Technology Co Ltd モールド、その製造方法および磁気記録媒体
JP5188192B2 (ja) * 2007-02-20 2013-04-24 キヤノン株式会社 モールド、モールドの製造方法、インプリント装置及びインプリント方法、インプリント方法を用いた構造体の製造方法
JP2008221491A (ja) * 2007-03-09 2008-09-25 Dainippon Printing Co Ltd ナノインプリント用モールドおよびその製造方法
US20080248334A1 (en) * 2007-03-30 2008-10-09 Fujifilm Corporation Mold structure, imprinting method using the same, magnetic recording medium and production method thereof
US20090115094A1 (en) * 2007-05-29 2009-05-07 Chou Stephen Y Methods for making continuous nanochannels
JP4703609B2 (ja) * 2007-06-29 2011-06-15 株式会社東芝 磁気記録媒体の製造方法
KR100843552B1 (ko) * 2007-07-19 2008-07-04 한국전자통신연구원 나노 임프린트 공정을 이용한 나노 전극선 제조 방법
CN101135842B (zh) * 2007-10-25 2011-11-02 复旦大学 一种复制纳米压印模板的方法
JP2009117588A (ja) * 2007-11-06 2009-05-28 Toppan Printing Co Ltd インプリントモールドおよびインプリントモールド製造方法
US8114331B2 (en) 2008-01-02 2012-02-14 International Business Machines Corporation Amorphous oxide release layers for imprint lithography, and method of use
JP2009241275A (ja) * 2008-03-28 2009-10-22 Toshiba Corp 樹脂インプリントスタンパおよびその製造方法
US20100092599A1 (en) * 2008-10-10 2010-04-15 Molecular Imprints, Inc. Complementary Alignment Marks for Imprint Lithography
FR2937895A1 (fr) * 2008-11-04 2010-05-07 Commissariat Energie Atomique Moule presentant une surface nanostructuree pour realiser des pieces polymeres nanostructurees et procede de fabrication d'un tel moule.
JP2010284814A (ja) * 2009-06-09 2010-12-24 Fuji Electric Device Technology Co Ltd スタンパの製造方法
CN101923282B (zh) * 2009-06-09 2012-01-25 清华大学 纳米压印抗蚀剂及采用该纳米压印抗蚀剂的纳米压印方法
JP4829360B2 (ja) * 2010-04-27 2011-12-07 株式会社東芝 スタンパーの製造方法
WO2012137324A1 (ja) * 2011-04-06 2012-10-11 Hoya株式会社 モールド製造用マスクブランクスおよびモールドの製造方法
CN103299396B (zh) * 2011-06-23 2015-11-25 旭化成电子材料株式会社 微细图案形成用积层体及微细图案形成用积层体的制造方法
US8790561B2 (en) * 2011-07-18 2014-07-29 Oracle International Corporation Methods for manufacturing an embosser drum for use in pre-formatting optical tape media
KR20140072121A (ko) * 2011-09-30 2014-06-12 호야 가부시키가이샤 몰드 블랭크, 마스터 몰드, 카피 몰드 및 몰드 블랭크의 제조 방법
US8771572B2 (en) * 2011-10-31 2014-07-08 Oracle International Corporation Methods for manufacturing an embosser drum for use in pre-formatting optical tape media

Also Published As

Publication number Publication date
US9588422B2 (en) 2017-03-07
NL2005263A (en) 2011-03-30
CN102033424B (zh) 2013-03-13
CN102033424A (zh) 2011-04-27
JP2011073444A (ja) 2011-04-14
US20110076351A1 (en) 2011-03-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4842216B2 (ja) インプリントリソグラフィ
US7279113B2 (en) Method of forming a compliant template for UV imprinting
JP4625042B2 (ja) インプリントリソグラフィ
JP4514754B2 (ja) 毛管作用によるインプリント技術
JP4630886B2 (ja) インプリントリソグラフィ
JP5119579B2 (ja) インプリント用モールド及びその製造方法
JP2007506281A (ja) 位置合わせマークを有するインプリント・リソグラフィ・テンプレート
JP4921579B2 (ja) インプリントテンプレートを形成する方法
JP2006191089A (ja) インプリント・リソグラフィ
WO2006057745A2 (en) Direct imprinting of etch barriers using step and flash imprint lithography
JP4865356B2 (ja) パターン形成方法
TW201209520A (en) Substrate with adhesive auxiliary layer, manufacturing method of mold and manufacturing method of master mold
JP2008126450A (ja) モールド、その製造方法および磁気記録媒体
TW201140650A (en) Pattern formation method
JP5125655B2 (ja) インプリントモールド
JP5114962B2 (ja) インプリントモールド、これを用いたインプリント評価装置、レジストパターン形成方法及びインプリントモールドの製造方法
JP4867423B2 (ja) インプリント用型部材、インプリント用型部材の製造方法、及びインプリント方法
JP5481000B2 (ja) インプリントリソグラフィ方法
US8454849B2 (en) Imprint lithography
KR100532828B1 (ko) 나노 임프린팅 리소그라피에 사용되는 투명 스탬프 제조방법
JP2011207163A (ja) モールド製造用マスクブランクス、モールド製造用レジスト付きマスクブランクスおよびモールドの製造方法
JP2007035998A (ja) インプリント用モールド
JP5853071B2 (ja) モールド製造用マスクブランクスおよびモールド製造用レジスト付きマスクブランクス
Cui et al. Nanofabrication by Replication
Zhou et al. Nanoimprint Lithography Process

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110913

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111212

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120105

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120202

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4921579

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150210

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250