JP4812138B2 - 冷却装置及びそれを備えた電子機器 - Google Patents
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Description
また上記目的は、前記溝に充填した前記ウィックの上面に開口部を有する仕切り板を設けたことにより達成される。
また上記目的は、前記蒸気凝縮管の内部にスペーサを介して内側蒸気管を設けて、前記蒸気管を流れる蒸気が、前記内側蒸気管を通り前記蒸気凝縮管の端より、前記蒸気凝縮管内に開放され、前記凝縮液戻り管へ流れるようにするとともに、前記蒸気管と前記凝縮液戻り管を結ぶ配水流路を設けたことにより達成される。
図1において、ブレードサーバはCPU3やメモリ19,HDDなどコンピュータとして必要な要素からなる薄型のブレード1と呼ばれるサーバ装置と、ブレードを複数枚搭載し、ブレードへの電力供給とLAN等の外部との情報の入出力を行う装置などからなるシャーシ2と呼ばれるものから構成される。詳細を図示してないが、シャーシ2内には、ブレードサーバ全体を冷却するためのファンを搭載するファンユニット4,LANなど情報の外部との入出力を行うインターフェースとなるI/Oユニット5,電源供給を行う電源ユニット6、さらにはブレードの管理をおこなうシステムユニット7等がブレードと共にバックプレーン8によって電気的に接続されている。これらの構成をとることにより、ブレードサーバは、サーバを高密度に実装できる点や各ユニットごとに着脱が可能で、メンテナンス性に優れることなどが特徴となっている。
図10において、一般に、ブレードサーバにおいて最も発熱量が大きく、放熱が必要となるのはCPU3である。CPU3は、プログラムによって様々な数値計算や情報処理,機器制御などを行うコンピュータにおいて重要な半導体デバイスである。このCPU3の動作保証温度は多くの場合、CPU3の表面温度で規定されている。この動作保証温度はCPUにより異なるが、70〜80℃前後の温度である場合が多い。
図2において、サーマルコネクタ20は、ブレード1挿入時にヒートパイプ12との熱的接続を可能としながら、ブレード1の着脱性を阻害しないものである。具体的な一例としては、ブレード1差し込み時に熱伝導性の良いシートを挟んでヒートパイプ12を締め付け、ブレード1抜き取り時には、この締め付け力が緩和するような機構が考えられる。
図3において、ヒートパイプ12はCPU3に作動流体チャンバ35が取り付けられており、この作動流体チャンバ35内部では作動流体が沸騰することでCPU3の温度を動作保証温度以下に保つ。また、ブレード1のCPU実装面方向に、この作動流体チャンバ35のサイズを大きくすることで、ここでは2つのCPU3を同時に冷却できる構造となっている。なお、本実施例では作動流体として水を用いた。ここではCPU3の熱を受ける受熱面17に、沸騰を促進するポーラス状の構造を採用した。一般に、ポーラス状の面は、平滑面に比べて沸騰が開始する過熱面温度と作動流体の液温との差が小さくてすむことが知られている。2つのCPU3を同時に冷却するために、作動流体液面16は2つの受熱面17に作動流体が浸される高さにしておく必要がある。
図4において、凝縮管内面の面積拡大を図るには、フィン高さHを高くし、フィンピッチpを狭める必要がある。しかしフィン高さHを高くしすぎると、蒸気凝縮管14内の蒸気の流路を狭めることとなり、受熱側から放熱側への圧力損失を大きくし、これにより凝縮液の戻りを悪化させる要因ともなる。そこでフィンピッチpを狭めることが有効で、また本実施例ではフィンピッチpが1mm未満、フィン高さが1mm程度のフィンを使用し、面積拡大率は3.8倍程度とした。しかし、これは同様な微細フィンであれば良く、上記のものに限定されるものではない。またフィン先端27を尖らせることでこの液膜厚さを薄くできることも知られている。
図5において、蒸気凝縮管14は水平に挿抜するブレードに合わせて、水平に配置する事が必要である。この水平に置かれた蒸気凝縮管14においてフィン10間に毛細管力で保持された液の排水性を向上させるため、フィン10には管軸方向に対して垂直に近い角度を持たせることで、重力により液が管下側へ流れるようにした。さらに、この管中心の下側にフィン断面が露出するように、管軸方向にほぼ平行な溝11を設け、この溝11に管内面のフィン10間隔よりも素線間隔が小さいウィック9を充填した。
図6において、蒸気凝縮管の下側に設置したウィック9は、凝縮液の戻すための凝縮液戻り管15まで伸ばすことで、ウィック9に吸水された作動流体が凝縮液戻り管15へ流れるようにしている。
図7において、実施例1の構造では蒸気の流れと、ウィック9を流れる凝縮液の流れは対向することになる。蒸気の流れの影響下にあってもウィック9の毛細管力により凝縮液は作動流体チャンバ35(図3に示す)へ戻るが、より最大熱輸送量を向上するためには、この影響を極力小さくすることが望まれる。そこで本実施例では実施例1に示した蒸気凝縮管14において、蒸気凝縮管14内部構造のウィック9上面に仕切り板開口部25を有する仕切り板24を設け、蒸気の流れの影響がウィック9内の凝縮液の流れへ影響しないようにした。
図8において、実施例1に示した蒸気凝縮管14の構造では、蒸気の流れとウィック9を流れる凝縮液の流れは対向することになる。そこで、蒸気凝縮管14の内部にスペーサ34を介して内側蒸気管28を設け、蒸気管13からの蒸気が、この内側蒸気管28を通り、蒸気凝縮管14の端に開放される構造としたものである。これにより内側蒸気管28から開放された蒸気はヒートパイプの先端から、凝縮液戻り管15の方へ流れることとなり、ウィック9を流れる凝縮液の流れと並行となる。このためウィック9を流れる凝縮液の流れは、蒸気の流れにより促進され、凝縮液戻り管15への排水性能が向上し、最大熱輸送量の向上にもつながる。また、これによりフィン間の排水性も向上するので蒸気凝縮管の熱抵抗も低減する。
図9において、内側蒸気管28は、蒸気凝縮管14のフィン先端とは距離を持って配置されており、蒸気はこのフィンと内側蒸気管28との隙間を流れることとなる。作動流体チャンバ35(図3に示す)で沸騰した作動流体の一部は、蒸気ではなく液滴の状態で蒸気管13(図6に示す)を流れることがある。実施例1および実施例2に示す蒸気凝縮管14では、これらの液滴は蒸気凝縮管14へ流れ込むところで、凝縮液戻り管15に落ちるようになっている。しかし課題でも述べたが、内側蒸気管28のような内管を取り付けた構造では、内側蒸気管28と蒸気管13との段差により、蒸気管13を流れてきた液が、この段差に溜まってしまうことや、内側蒸気管28が蒸気管13よりも細い。そのため、この内部に液滴が入った場合には蒸気流れの流動抵抗が著しく大きくなり、受熱側と放熱側の圧力差を大きくし、凝縮液戻りの悪化と最大熱輸送量の低下を招く恐れがある。
図11において、本実施例においては、実施例3で示したような排水流路29をスペーサ34内に設けるのではなく、蒸気管13と凝縮液戻り管15とを接続する新たな配管による排水流路29として設けたものである。
図12において、凝縮液戻り管15には、蒸気凝縮管14で凝縮した作動流体が流れるため、凝縮液戻り管15はヒートパイプ全体の中では比較的温度が低くなる。また近年では、メモリ19の高速化や集積化が進み、それに伴いメモリ19の発熱密度も大きくなっており、放熱性の確保がコンピュータの信頼性確保のためにも必要となっている。本実施例では、この凝縮液戻り管15とメモリ19を、一般の樹脂材よりも熱伝導率が高く、柔軟性があるゴムなどである熱伝導シート(図示せず)を挟んで接続し、メモリ19の熱を凝縮戻り管15へ放熱している。本実施例ではメモリ冷却部18として図示した。このメモリ冷却部18では、柔軟性のある接続部材により、凝縮液戻り管15やメモリ19の寸法誤差や設置誤差などを吸収するものである。
図13において、実施例5で示した構造では、凝縮液戻り管15を用いて冷却される半導体デバイスの発熱量は、凝縮液戻り管15で作動流体を沸騰させない条件とする必要があった。そこで本実施例では、メモリ冷却部18で沸騰した蒸気の気泡が、その浮力により、確実に作動流体チャンバ35に流れるようにしたものである。
図14において、蒸気凝縮管14の表面に風が流れる空隙を持った金属板等で構成された、蒸気凝縮管放熱フィン37を設けた。この上記蒸気凝縮管放熱フィン37の材質は熱伝導性の高い材料であれば良く、例えばアルミニウム,銅,グラファイトシート又はこれらと同等の熱伝導率を有する材料であればよい。また形状も板に限らず、上記蒸気凝縮管14よりも放熱面積を拡大できる形状または機構であれば良く、例えばダイカストなどで作られたフィンを有するブロックを用いる方法や、金属製のブロック内に液を循環させる方法や、相変化型の熱拡散デバイスであるヒートパイプやベーパチャンバを用いる方法などが挙げられる。
Claims (8)
- 複数の半導体デバイスを有する電子回路基板を内蔵したブレードと、このブレードの挿抜による電気的及び機械的な着脱を許容するシャーシと、前記ブレード内に実装されたCPUの熱を受熱する受熱部と放熱とを行う蒸気管と蒸気凝縮管と凝縮液戻り管を有するヒートパイプとを備え、
この蒸気凝縮管を円管として前記ブレードの挿抜方向に伸ばした形状とし、
前記蒸気凝縮管の内壁に螺旋状のフィンを設け、このフィンを分断するように前記蒸気凝縮管の長手方向に溝を設け、当該溝は前記蒸気凝縮管の管中心の下側に配置し、上記溝にフィン間隔よりも素線間隔が小さいウィックを充填して、当該ウィックにより前記蒸気凝縮管を流れる凝縮液のうちの前記フィン間に保持される凝縮液を吸収することを特徴とする冷却装置。 - 請求項1記載の冷却装置において、
前記ヒートパイプは前記受熱部が熱源と接する部分に作動流体の液たまり部を有し、この液たまり部内の作動流体液面は前記蒸気凝縮管の前記溝の底面よりも鉛直方向下側に位置し、前記液たまり部の作動流体液面よりも上部で前記蒸気凝縮管を接続し、前記液たまり部の作動流体液面よりも下部で前記凝縮液戻り管を接続したことを特徴とする冷却装置。 - 請求項2記載の冷却装置において、
前記ヒートパイプの前記蒸気凝縮管の下側に前記凝縮液戻り管を鉛直方向に接続したことを特徴とする冷却装置。 - 複数の半導体デバイスを有する電子回路基板を内蔵したブレードと、このブレードの挿抜による電気的及び機械的な着脱を許容するシャーシと、前記ブレード内に実装されたCPUの熱を受熱する受熱部と放熱とを行う蒸気管と蒸気凝縮管と凝縮液戻り管を有するヒートパイプとを備え、
この蒸気凝縮管を円管として前記ブレードの挿抜方向に伸ばした形状とし、
前記蒸気凝縮管の内壁に螺旋方向のフィンを設け、このフィンを分断するように前記蒸気凝縮管の長手方向に溝を設け、当該溝は前記蒸気凝縮管の管中心の下側に配置し、上記溝にフィン間隔よりも素線間隔が小さいウィックを充填して、当該ウィックにより前記蒸気凝縮管を流れる凝縮液のうちの前記フィン間に保持される凝縮液を吸収することを特徴とする電子機器。 - 請求項4記載の電子機器において、
前記ヒートパイプの受熱面の熱源と接する部分はフィン若しくはポーラス状の面を有することを特徴とする電子機器。 - 請求項4記載の電子機器において、
前記ヒートパイプは前記受熱部が熱源と接する部分に作動流体の液たまり部を有し、この液たまり部内の作動流体液面は前記蒸気凝縮管の前記溝の底面よりも鉛直方向下側に位置し、前記液たまり部の作動流体液面よりも上部で前記蒸気凝縮管を接続し、前記液たまり部の作動流体液面よりも下部で前記凝縮液戻り管を接続し、
前記ヒートパイプでCPUを冷却すると同時にCPU以外の半導体デバイスの一部を前記凝縮液戻り管で熱伝導部材を介して冷却することを特徴とする電子機器。 - 請求項1記載の冷却装置において、
前記溝に充填した前記ウィックの上面に開口部を有する仕切り板を設けたことを特徴とする冷却装置。 - 請求項2記載の冷却装置において、
前記蒸気凝縮管の内部にスペーサを介して内側蒸気管を設けて、前記蒸気管を流れる蒸気が、前記内側蒸気管を通り前記蒸気凝縮管の端より、前記蒸気凝縮管内に開放され、前記凝縮液戻り管へ流れるようにするとともに、前記蒸気管と前記凝縮液戻り管を結ぶ配水流路を設けたことを特徴とする冷却装置。
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