JP4755005B2 - X線管および非破壊検査装置 - Google Patents

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Description

本発明は、X線をX線出射窓から取り出すX線管及び非破壊検査装置に関するものである。
X線は物体に対して透過性の良い電磁波であり、物体の内部構造の非破壊・非接触観察に多用されている。X線管は、電子銃から出射された電子をターゲットに入射させてX線を発生するのが、通例である。X線管は、特許文献1に記載のように電子銃が、陽極となるターゲットを収容する管状部材に取り付けられている。電子銃から出射された電子は、ターゲットに入射し、ターゲットからX線が発生する。X線は、ターゲットを収容する管状部材の管軸線上に設けられたX線出射窓を透過し、外部の試料に照射される。試料を透過したX線は、拡大透視画像として各種X線画像撮像装置で撮像される
米国特許第5,077,771号明細書
ところで、X線の拡大透視画像を用いた非破壊検査は、各種電子回路基板に実装される部品の接合状態を確認する手法として有効である。そして、回路基板の小型化に伴い、実装される部品が高密度化しているため、より拡大率の高い拡大透視画像の撮像が望まれている。また、このような回路基板に実装される半田ボールの接合状態を確認するには、半田ボールに対して所定の角度傾いた位置から撮像した拡大透視画像の方が、半田ボールを立体的に見ることができて適している。このような斜めの位置から撮像する拡大透視画像は、X線管に対して相対的に回路基板を傾けて撮像するか、X線画像撮像装置をX線管の真上からずらして撮像することによって得られるが、拡大透視画像の拡大率を高めるには後者の方が適している。
しかしながら、X線画像撮像装置をX線管の真上からずらして撮像するためには、X線管から照射するX線の照射角度を大きくしなければならず、従来のX線管でX線の照射角度を大きくするためには、X線出射窓の径を大きくする必要があり、X線出射窓の径が大きくなると、必要以上のX線がX線管から照射されてしまう。すると、不必要なX線の漏洩を防止する設備がさらに必要になってコストの上昇につながり易かった。
本発明は、試料に対してX線を斜めから照射して得られる拡大透視画像の拡大率を高めると共に不必要なX線の漏洩を防止できるX線管及び非破壊検査装置を提供することを目的とする。
以上の課題を解決するため、本発明は、管状の陽極収容部内に配置された陽極のターゲットに、電子銃から出射された電子を入射させてX線を発生させ、そのX線をX線出射窓から取り出すX線管において、陽極は、陽極収容部の管軸線に沿って配置され、陽極収容部の端部に設けられた封塞部には、一のX線出射窓が設けられており、一のX線出射窓は、陽極収容部の管軸線に交わるように配置されると共に、陽極収容部の管軸線に対して偏心して設けられていることを特徴とする。
このX線管では、陽極収容部の管軸線に対して偏心して設けられているX線出射窓からX線が取り出される。そのため、試料となる回路基板などを傾けなくても、試料に対してX線を斜めから照射でき、試料に対して斜めから撮像した拡大透視画像の拡大率を高めることができる。また、このX線管では、陽極収容部の管軸線に対してX線出射窓を偏心させることで、X線カメラ等のX線画像撮像装置による斜め観察を最適化し、X線出射窓を斜め観察に必要十分な大きさにすればよいので、X線出射窓は小さくてもすみ、必要以上のX線の漏洩を防止できる。さらに、X線出射窓が小さくなると、X線出射窓の強度を上げる必要が少なくなってX線出射窓を薄くでき、X線の透過効率を向上させることができるので、鮮明な拡大透視画像の撮像が可能になる。さらに、X線出射窓が小さくて薄いと、X線出射窓の窓材に異物が混入する割合が低くなり、歩留まりが良くなって製造コストを軽減できる。
また、電子銃は、陽極収容部の管軸線の周囲に設けられた周壁に取り付けられ、X線出射窓は、管軸線に対して電子銃側に偏心していると好適である。このように、X線出射窓を電子銃側に偏心させると、照射線量の大きなX線をX線出射窓から取り出すことができ、鮮明な拡大透視画像の撮像が容易になる。
また、電子銃は、陽極収容部に固定された管状の電子銃収容部に収容され、電子銃収容部の管軸線は、陽極収容部の管軸線に直交し、X線出射窓は、陽極収容部の管軸線と電子銃収容部の管軸線とを含む面からずれた位置に中心を有すると好適である。このように、陽極収容部の管軸線と電子銃収容部の管軸線とを含む面からずれた位置にX線出射窓の中心があると、例えば、試料となる回路基板をX線出射窓に近づけるように傾けても、電子銃収容部が邪魔になり難い。そのため、試料となる回路基板をX線出射窓に近づけ易くなり、拡大透視画像の拡大率を向上させることが容易になる。
また、電子銃は、陽極収容部に固定された管状の電子銃収容部に収容され、電子銃収容部の管軸線と陽極収容部の管軸線とは交差し、且つ電子銃収容部の管軸線と陽極収容部の管軸線とで形成された陽極側の挟角は鋭角であり、X線出射窓は、陽極収容部の管軸線と電子銃収容部の管軸線とを含む面上に中心を有すると好適である。このように、陽極収容部の管軸線と電子銃収容部の管軸線との間の挟角が鋭角になるようにすると、例えば、試料となる回路基板をX線出射窓に近づけるように傾けても、電子銃収容部が陽極収容部に対して傾いているために邪魔になり難い。そのため、試料となる回路基板をX線出射窓に近づけ易くなり、拡大透視画像の拡大率を向上させることが容易になる。
また、上記封塞部には、陽極収容部の管軸線に対して偏心して設けられたX線出射窓と、陽極収容部の管軸線上に中心を有するX線中央出射窓とが設けられていると好適である。このようにすると、試料に対する斜めからの撮像に加え、X線中央出射窓によって真上からの撮像も可能になる。そして、真上から撮像した拡大透視画像に基づいて再検査を要すると推察される試料に対してのみ斜めから撮像するような検査方法に適用することも容易になり、検査方法のバリエーションが広がり、より効果的な検査方法を選択することができる。
また、本発明は、管状の陽極収容部内に配置された陽極のターゲットに、電子銃から出射された電子を入射させてX線を発生させ、そのX線をX線出射窓から取り出すX線管と、X線管から取り出されて試料を透過したX線を撮像するX線画像撮像装置とを有する非破壊検査装置において、ターゲットは、陽極収容部の管軸線上に配置され、陽極収容部の端部に設けられた封塞部には、一のX線出射窓が設けられており、一のX線出射窓は、陽極収容部の管軸線に交わるように配置されると共に、陽極収容部の管軸線に対して偏心して設けられていることを特徴とする。
この非破壊検査装置では、陽極収容部の管軸線に対して偏心して設けられているX線出射窓からX線が取り出され、試料を透過したX線がX線画像撮像装置で撮像される。そのため、試料となる回路基板などを傾けなくても、試料に対してX線を斜めから照射でき、試料に対して斜めから撮像した拡大透視画像の拡大率を高めることができる。また、この非破壊検査装置では、陽極収容部の管軸線に対してX線出射窓を偏心させることでX線の照射角度を大きくしているため、X線出射窓は小さくてもすみ、試料を斜めから撮像する際に必要となる以上のX線の漏洩を防止できる。さらに、X線出射窓が小さくなると、X線出射窓の強度を補う必要が少なくなってX線出射窓を薄くすることができ、X線の透過効率を向上させることができて鮮明な拡大透視画像の撮像が可能になる。さらに、X線出射窓が小さくて薄いと、X線出射窓の窓材に異物混入する割合が低くなり、歩留まりが良くなって製造コストを軽減できる。
試料に対してX線を斜めから照射して得られる拡大透視画像の拡大率を高めると共に不必要なX線の漏洩を防止する。
以下、図面を参照して本発明に係るX線管の実施の形態について説明をする。
図1〜図4に示すように、X線管1Aは、密封型のX線管である。X線管1Aは、ガラスからなる略円筒状のバルブ2を有する。バルブ2の管軸線C1方向における一端は、開口を閉鎖するように縮径され、管軸線C1上に延在する円柱状の銅製陽極本体部3の基端部3aは、その一部をバルブ2から露出させた状態でバルブ2の一端に固定されている。バルブ2の他端には、金属製のリング部材4が融着されている。以下、バルブ2の管軸線C1方向における一端側を「下」、他端側を「上」として説明する。
リング部材4の上端にはフランジ4aが形成され、フランジ4aは略円筒状のヘッド部5の下端に当接されて溶接される。ヘッド部5はステンレス製であり、ヘッド部5の下端には、リング部材4のフランジ4aが溶接される環状の平坦部5aが設けられている。平坦部5aの内側には、リング部材4に嵌め合わされる環状の凸状部5bが設けられ、凸状部5bの内側には、バルブ2内に差し込まれる円筒部5cが設けられている。リング部材4がヘッド部5に溶接されて、ヘッド部5にバルブ2が固定されると、共通の管軸線C1を有する管状の真空外囲器本体6となる。
ヘッド部5の内部には、陽極本体部3の先端部3bが配置される。この先端部3bには、後述する電子銃17の側に対面するように、陽極本体部3を斜めにカットした傾斜面3cが形成されている。傾斜面3cには、タングステンからなる円板状のターゲット9が埋設されている。ターゲット9の電子入射面は、傾斜面3cと略平行になっている。陽極本体部3とターゲット9とからなる陽極8は、陽極収容部としての真空外囲器本体6に収容されている。
管軸線C1を中心としてヘッド部5には周壁が設けられ、この周壁にはフランジ部5dが設けられている。フランジ部5dよりも上端側において、周壁には、管軸線C1方向に延在する平面部5eが形成され、平面部5eには円形の貫通孔5fが形成されている。平面部5eには、管状の電子銃収容部10の一方の端部が溶接される。この一方の端部には、縮径して突き出た円筒状の嵌合部10aが設けられており、この嵌合部10aがヘッド部5の貫通孔5fに嵌め込まれ、電子銃収容部10はヘッド部5に位置決めされる。ヘッド部5内の陽極8側の嵌合部10aの先端には、円形のアパーチャ10bが形成されている。アパーチャ10bの中心は電子銃収容部10の管軸線C2上にあり、電子銃収容部10の管軸線C2は真空外囲器本体6の管軸線C1に直交する。真空外囲器本体6のヘッド部5に電子銃収容部10が溶接され、真空外囲器本体6と電子銃収容部10とで真空外囲器11が構成される。なお、ヘッド部5の周壁には、真空外囲器11内を真空にするための排気孔5hが形成され、排気管5jは、排気孔5hに差し込まれて周壁に固定されている。
電子銃収容部10の他方の端部に設けられた開口を塞ぐように、電子銃収容部10には、ステム基板10cが固定されている。ステム基板10cには複数のステムピン12が固定され、電子銃収容部10内において、ステムピン12には電子銃17が通電可能に固定されている。つまり、電子銃17は、ステムピン12を介して電子銃収容部10に固定され、その電子銃収容部10は、ヘッド部5の周壁に固定されている。電子銃17のヒータ(図示せず)が加熱されると電子が発生し、その電子がアパーチャ10bを通過してヘッド部5内に出射される。
ヘッド部5内では、陽極8のターゲット9が管軸線C1上となるように配置され、ターゲット9が埋設された傾斜面3cがアパーチャ10bに対向するように配置されているので、アパーチャ10bから出射された電子は、ターゲット9に入射し、ターゲット9からX線が発生する。
さらに、ヘッド部5の上端部には、封塞部5gが一体成形されており、この封塞部5gには、ターゲット9の電子入射面に対面し、且つ管軸線C1と交わるようにして、Be材からなる円形のX線出射窓18が設けられている。X線出射窓18の厚みは、0.15mm程度である。ターゲット9で発生したX線は、X線出射窓16を透過して外部に取り出される。
図3及び図4に示すように、真空外囲器本体6の管軸線C1と電子銃収容部10の管軸線C2とを含む基準面A1上に、X線出射窓18の中心18aが配置されている。また、X線出射窓18の中心18aは、管軸線C1に対して電子銃17側に偏心している。なお、「管軸線に対して電子銃側」とは、管軸線C1を通って基準面A1に直交する面A2よりも電子銃17側を意味する。
次に、X線管1Aが組み込まれた非破壊検査装置19について図5を参照して説明する。非破壊検査装置19はX線撮像装置であるX線カメラ20を備えている。このX線カメラ20とX線管1AのX線出射窓18との間には、試料となる回路基板Bが配置され、回路基板Bは、試料用マニピュレータ21によって水平方向に移動可能に保持されている。試料用マニピュレータ21は試料移動用駆動回路22に接続され、試料移動用駆動回路22はCPU、RAM、ROMなどを備えて構成される制御ユニット23に接続されている。試料移動用駆動回路22は、制御ユニット23から入力される信号に応じて試料用マニピュレータ21を駆動制御し、X線管1Aから出射されるX線が透過可能な位置に回路基板Bを移動させる。
X線カメラ20は、回路基板Bに対して所定距離離間して配置され、X線カメラ用マニピュレータ24によってX線管の移動に追従する。X線カメラ用マニピュレータ24は、X線カメラ移動用駆動回路25に接続され、X線カメラ移動用駆動回路25は制御ユニット23に接続されている。X線カメラ移動用駆動回路25は、制御ユニット23から入力される信号に応じてX線カメラ用マニピュレータ24を駆動制御し、回路基板Bの拡大透視画像が撮像可能な位置となるようにX線カメラ20を移動させる。
X線カメラ20には、回路基板Bを透過したX線に対して所定の画像処理を施して映像信号として出力する画像処理装置26が接続され、この画像処理装置26はモニタ装置27に接続されている。モニタ装置27には、X線カメラ20の出力としての回路基板Bの拡大透視画像を映し出すディスプレイ27aが設けられている。
さらに、モニタ装置27に設けられた操作部27bの操作に基づいて、試料用マニピュレータ21を駆動させて回路基板Bを所望位置に移動させるための信号が、制御ユニット23に出力され、さらに、X線カメラ用マニピュレータ24を駆動させて回路基板Bの所望位置の拡大透視画像をX線カメラ20に撮像させるための信号が、制御ユニット23に出力される。
制御ユニット23はX線管コントローラ28に接続され、X線管コントローラ28はX線管1Aの電子銃17に接続されている。また、X線管コントローラ28は高圧電源7にも接続されており、高圧電源7に対し、X線管1Aの陽極8に所望の電圧を印加する指令を与える。このようにX線管コントローラ28は、制御ユニット23からの制御信号に基づいて、X線管1Aで発生するX線を制御している。
次に、非破壊検査装置19の動作について説明する。操作部27bを操作して非破壊検査を開始すると、制御ユニット23からの制御信号に基づいて、X線カメラ用マニピュレータ24及び試料用マニピュレータ21を駆動制御してX線カメラ20及び回路基板Bを所定位置に移動させる。また、非破壊検査を開始する前に、予め制御ユニット23からの制御信号に基づいて、X線管コントローラ28を作動させて、X線管1Aの動作準備をしておく。そして、非破壊検査開始時には、制御ユニット23からの制御信号に基づいて、X線管コントローラ28を作動させて、電子銃17から出射された電子が、ヘッド部5内の電界によってターゲット9に適切に入射することによりX線が発生する。このX線はX線出射窓18から取り出され、回路基板Bに照射される。
図3に示すように、X線出射窓18は、ターゲット9が配置された真空外囲器本体6の管軸線C1に対し、電子銃17側に偏心している。そのため、X線出射窓18から取り出されるX線は、電子銃17側で照射範囲が広くなる。例えば、電子銃17側のX線照射角度αは、45°〜75°の範囲内が好ましい。
図6に示すように、回路基板B上に実装されたICチップTの半田ボール(BGA)Sの接合状態は、X線カメラ20で斜めから観察した方が、充分な確認ができることが一般的に知られている。このような斜めからの観察は、等間隔で並ぶ半田ボールSが互いに重ならない角度で透視する必要がある。従って、回路基板Bを、真空外囲器本体6の管軸線C1に直交するように配置した場合、観察角度βは、半田ボールSの間隔を考慮して、45°〜75°程度が好適である。
X線カメラ20により半田ボールSを斜めから観察した場合、図7(A)に示すように、半田ボールSが立体的に映し出される。この場合、濃淡のコントラストによって半田ボールSの接合箇所Saの半田漏れを鮮明に映し出す。なお、図7(A)における半田ボールSは正常な状態を示し、図7(B)における半田ボールS1は不良状態を示している。一方、図7(C)に示すように、X線カメラ20を真空外囲器本体6の管軸線C1上に配置した場合、半田ボールS,S1の接合箇所が、半田ボールS,S1の影になって見え難い。このように、X線カメラ20による斜め観察は、半田漏れを確実に検出でき、検査精度を高めることができる。
本実施形態に係るX線管1Aには、真空外囲器本体6の管軸線C1に対して偏心しているX線出射窓18が設けられ、このような配置のX線出射窓18からX線を取り出すようにしているため、X線カメラ20による斜め観察が容易になる。その結果、回路基板BをX線出射窓18に近づけることが容易になり、拡大透視画像の拡大率を容易に高めることができる。なお、従来のように、管軸線C1上にX線カメラ20を配置すると、前述したように、立体画像が得られないので、回路基板Bを斜めにする必要があるが、この場合、回路基板BをX線出射窓に近づけ難く、拡大率を高めることが難しい。
さらに、X線管1Aでは、真空外囲器本体6の管軸線C1に対してX線出射窓18を偏心させることでX線カメラ20による斜め観察を最適化し、X線出射窓18を斜め観察に必要十分な大きさにすればよいので、X線出射窓18は小さくてもすみ、必要以上のX線の漏洩を防止できる。さらに、X線出射窓18が小さくなると、X線出射窓18の強度を補う必要が少なくなってX線出射窓18を薄くでき、X線の透過効率を向上させることができて鮮明な拡大透視画像の撮像が可能になる。さらに、X線出射窓18が小さくて薄いと、X線出射窓の窓材に異物が混入する割合が低くなり、歩留まりが良くなって製造コストを軽減できる。なお、X線管1Aでは、X線出射窓18が管軸線C1と交わるようにして配置されているため、回路基板Bに対する斜めからの撮像に加え、X線出射窓18から取り出されたX線によって回路基板Bを真上から撮像することも可能である。
また、X線が取り出されるX線出射窓18は、電子銃17側に偏心しているため、照射線量の大きなX線をX線出射窓18から取り出すことができ、鮮明な拡大透視画像の撮像が容易になる。
[第2実施形態]
図8を参照し、第2実施形態であるX線管1Bについて説明するが、このX線管1Bは、回路基板Bを傾けて半田ボールSの拡大立体画像を得るのに適した構成を有する。図8(A)は、X線管をX線出射窓側から見た平面図であり、同図(B)は、X線管を電子銃収容部側から見た側面図である。なお、第2実施形態に係るX線管1Bにおいて、X線管1Aと同一又は同等の構造については、同一符号を付してその説明を省略する。
図8(A)に示すように、X線出射窓29は円形であり、管軸線C1と交わっている。さらに、X線出射窓29の中心29aは、基準面A1上から外れるように横にずれ、且つ管軸線C1を通って基準面A1に直交する面A2上に配置されている。このようなX線出射窓29を設けると、図8(B)に示すように、X線出射窓29の中心29aが電子銃17側から外れることになり、電子銃収容部10が邪魔になることなく、回路基板BをX線出射窓29に近づけるように傾けることができる。その結果、回路基板BをX線出射窓29に、より近づけることができ、拡大透視画像の拡大率を向上させることができる。なお、X線管1Bでは、X線出射窓29が管軸線C1と交わるようにして配置されているため、回路基板Bに対する斜めからの撮像に加え、X線出射窓29から取り出されたX線によって回路基板Bを真上から撮像することも可能である。
[第3実施形態]
図9〜図11を参照し、第3実施形態であるX線管1Cについて説明するが、このX線管1Cは、回路基板Bを傾けて半田ボールSの拡大立体画像を得るのに適した構成を有する。図9はX線管の断面図であり、図10はX線管をX線出射窓側から見た平面図であり、図11は電子銃収容部近傍を示す側面図である。なお、第3実施形態に係るX線管1Cにおいて、X線管1Aと同一又は同等の構造については、同一符号を付してその説明を省略する。
真空外囲器本体30のヘッド部31は、略円筒状であり、下端部にリング部材4を介してバルブ2が固定されている。バルブ2の下端部は、陽極本体部3の基端部3aを保持している。陽極本体部3の先端部3bはヘッド部31内に配置され、先端部3bに形成された傾斜面3cには、ターゲット9が埋設されている。
ヘッド部31の上端部には封塞部31aが一体形成され、封塞部31aには、管軸線C4と交わるように円形のX線出射窓32が設けられている。図10に示すように、X線出射窓32の中心32aは、真空外囲器本体30の管軸線C4と電子銃収容部10の管軸線C5とを含む基準面A3上にあり、管軸線C4に対して電子銃17側に偏心して設けられている。
図9に示すように、ヘッド部31の周壁には、内側から外側に向けて斜め下方に傾斜するような円形の貫通孔31bが形成され、この貫通孔31bに管状の電子銃収容部33が嵌め込まれ、電子銃収容部33はヘッド部31に溶接されている。電子銃収容部33の先端には、円形のアパーチャ33aが形成されている。アパーチャ33aの中心は、電子銃収容部33の管軸線C5上にあり、電子銃収容部33の管軸線C5は、真空外囲器本体30の管軸線C4と交差する。そして、電子銃収容部33の管軸線C5と真空外囲器本体30の管軸線C4とで形成される陽極8側の挟角θは鋭角になり(つまり、X線出射窓32側の挟角(180°−θ)は鈍角となる)、電子銃収容部33のステム基板33b側がバルブ2側に逃がされている。
本実施形態に係るX線管1Cのように、電子銃収容部33の管軸線C5と真空外囲器本体30の管軸線C4とで形成される陽極8側の挟角βが鋭角になるようにすると、図11に示すように、回路基板BをX線出射窓32に近づけるように電子銃収容部33側に傾けても、電子銃収容部33が真空外囲器本体30に対して傾いているために邪魔になり難い。その結果、回路基板BをX線出射窓32に、より近づけることができ、拡大透視画像の拡大率を向上させることができる。なお、X線管1Cでは、X線出射窓32が管軸線C4と交わるようにして配置されているため、回路基板Bに対する斜めからの撮像に加え、X線出射窓32から取り出されたX線によって回路基板Bを真上から撮像することも可能である。
図12を参照し、第4実施形態に係るX線管1D及び第5実施形態に係るX線管1Eの説明をする。なお、X線管1D及びX線管1Eにおいて、X線管1Aと同一又は同等の構造については、同一符号を付してその説明を省略する。
[第4実施形態]
X線管1Dは、X線管1Aと異なり、X線出射窓35の形状は楕円であり、X線出射窓35の中心35aは、電子銃収容部10に収容された電子銃17側に偏心している。このX線管1Dも、X線管1Aと同様に、回路基板Bに対してX線を斜めから照射して拡大透視画像を撮像でき、その拡大透視画像の拡大率を上げることができる。なお、X線管1DのX線出射窓35は、管軸線C1と交わっており、回路基板Bを真上から撮像することも可能である。
[第5実施形態]
X線管1Eは、X線管1Aと異なり、X線出射窓36の形状は矩形であり、二本の対角線が交差する中心36aは、電子銃収容部10に収容された電子銃17側に偏心している。このX線管1Eも、X線管1Aと同様に、回路基板Bに対してX線を斜めから照射して拡大透視画像を撮像でき、その拡大透視画像の拡大率を上げることができる。なお、X線管1EのX線出射窓36は、管軸線C1と交わっており、回路基板Bを真上から撮像することも可能である。
続いて、図13を参照し、第6〜第8実施形態に係るX線管1F〜1Hの説明をする。なお、X線管1F〜1Hにおいて、X線管1Aと同一又は同等の構造については、同一符号を付してその説明を省略する。
[第6実施形態]
X線管1Fには、管軸線C1から電子銃17側に偏心し、基準面A1上に中心41aを有するX線出射窓41と、真空外囲器本体6の管軸線C1上に中心を有するX線中央出射窓45とが設けられている。このように、X線出射窓41の他に、X線中央出射窓45を設けると、X線カメラ20を、管軸線C1に対して傾けた位置と、管軸線C1上の位置とにそれぞれ設置することができ、回路基板Bに対する斜めからの撮像に加え、X線中央出射窓45から取り出されたX線によって真上からの撮像も可能になる。例えば、真上から撮像した拡大透視画像に基づいて再検査を要すると推察される試料に対してのみを斜めから撮像するような検査方法が可能になり、検査方法のバリエーションを広げることができる。
[第7実施形態]
X線管1Gには、管軸線C1から電子銃17側に偏心し、基準面A1上から外れるように横にずれた中心42aを有するX線出射窓42と、真空外囲器本体6の管軸線C1上に中心を有するX線中央出射窓46とが設けられている。このように、X線出射窓42の他に、X線中央出射窓46を設けると、X線カメラ20を、管軸線C1に対して傾けた位置と、管軸線C1上の位置とにそれぞれ設置することができ、回路基板Bに対する斜めからの撮像に加え、X線中央出射窓46から取り出されたX線によって真上からの撮像も可能になる。さらに、X線出射窓46の中心42aが電子銃17側から外れることになり、電子銃収容部10が邪魔になることなく、回路基板BをX線出射窓42に近づけるように傾けることができる。
[第8実施形態]
また、X線管1Hの封塞部5gには、管軸線C1から電子銃17側に偏心した一対のX線出射窓43,44が設けられている。このX線出射窓43,44は、管軸線C1と電子銃収容部の管軸線C2とを含む基準面A1に対して対称となるように配置されている。さらに、X線管1Hには、真空外囲器本体6の管軸線C1上に中心を有するX線中央出射窓47とが設けられている。このように、2個のX線出射窓43,44を設けると、回路基板Bに対して複数の異なる斜め方向からの拡大透視画像の撮像が可能になり、回路基板Bの検査を行う際に、より好ましい方向からの拡大透視画像の撮像が可能になる。なお、X線出射窓43,44の個数は2個に限定されず、3個以上であってもよい。
[第9実施形態]
図14を参照し、第9実施形態であるX線管1Iについて説明する。このX線管1Iは、第2実施形態に係るX線管1Bとは、X線出射窓50の配置において異なる。図14(A)は、X線管をX線出射窓側から見た平面図であり、同図(B)は、X線管を電子銃収容部側から見た側面図である。なお、第9実施形態に係るX線管1Iにおいて、X線管1Aと同一又は同等の構造については、同一符号を付してその説明を省略する。
図14(A)に示すように、X線出射窓50は円形であり、管軸線C1と交わっている。さらに、X線出射窓50の中心50aは、真空外囲器本体6の管軸線C1を通り、且つ基準面A1に直交する面A2よりも電子銃17側に偏心している。さらに、X線出射窓50の中心50aは、面A2に加え、基準面A1上からも外れるように斜めにずれている。このようなX線出射窓50を設けると、同図(B)に示すように、X線出射窓50の中心50aが電子銃17側から横に外れることになり、電子銃収容部10が邪魔になることなく、回路基板BをX線出射窓50に近づけるように傾けることができる。その結果として、第1実施形態に係るX線管1Aと比較した場合に、回路基板Bを傾ける場合の自由度が高くなり、回路基板BをX線出射窓29に近づけ易くなって、拡大透視画像の拡大率を向上させることができる。また、X線管1Iの陽極本体部3の先端部3b(図3参照)には、電子銃17の側に対面するように傾斜面3cが形成され、傾斜面3cには、ターゲット9が埋設されている。ターゲット9の電子入射面は傾斜面3cに略平行であり、電子入射面で発生するX線を管軸線C1に対して傾斜した方向に取り出す場合には、X線出射窓50が電子銃17側に偏っている方が取り出し易くなる。そして、X線管1Iは、第2実施形態に係るX線管1Bに比較して、X線出射窓50の中心50aが、電子銃17側に偏心しているため、X線管1Bに比較してX線を取り出し易くなっている。なお、X線管1Iでは、X線出射窓50が管軸線C1と交わるようにして配置されているため、回路基板Bに対する斜めからの撮像に加え、X線出射窓50から取り出されたX線によって回路基板Bを真上から撮像することも可能である。
本発明は、前述した実施形態に限定されない。例えば、ターゲット9の材質は、タングステンに限定されず、その他のX線発生用材料であってもよい。また、X線出射窓18の材質もBe材に限定されず、その他のX線が透過しやすい所望の材料であってもよい。また、ターゲット9を陽極8の一部に設ける場合に限定されず、陽極8の全体を所望のX線発生用材料で一体に形成し、陽極8自体がターゲットとなるようにしてもよい。さらに、真空外囲器本体(陽極収容部)6にターゲット9が収容される場合の「収容」とは、ターゲット9の全体を収容している場合に限定されず、例えば、陽極8自体がターゲットになる場合には、ターゲットの一部が真空外囲器本体(陽極収容部)6から露出している状態も含まれる。また、アパーチャ10b,33aの中心は電子銃収容部10,33の管軸線C2,C5上にある場合に限定されず、管軸線C2,C5上以外にあるような配置にしてもよい。また、管状の真空外囲器本体(陽極収容部)6とは、円形の管状に限定されず、矩形、その他の形状であってもよく、また、ストレートに伸びる管状に限定されず、カーブまたは屈曲した管状であってもよい。
本発明に係るX線管の第1実施形態を示す分解斜視図である。 第1実施形態に係るX線管の斜視図である。 第1実施形態に係るX線管の断面図である。 第1実施形態に係るX線管をX線出射窓側から見た平面図である。 第1実施形態に係るX線管が組み込まれた非破壊検査装置を示すブロック図である。 X線カメラとX線管との配置関係を示す図である。 拡大透視画像を示し、(A)は、X線管の真上から撮像した拡大透視画像を示し、(B)は、X線管に対して斜め上方から撮像した拡大透視画像を示す。 本発明に係るX線管の第2実施形態を示し、(A)は、X線出射窓側から見た平面図であり、(B)は、電子銃側から見た背面図である。 本発明に係るX線管の第3実施形態を示す断面図である。 第3実施形態に係るX線管のX線出射窓側から見た平面図である。 第3実施形態に係るX線管のX線出射窓近傍を示す側面図である。 本発明に係るX線管の第4、第5実施形態を示し、(A)は第4実施形態に係るX線管のX線出射窓側から見た平面図、(B)は第5実施形態に係るX線管のX線出射窓側から見た平面図である。 本発明に係るX線管の第6〜第8実施形態を示し、(A)は第6実施形態に係るX線管のX線出射窓側から見た平面図、(B)は第7実施形態に係るX線管のX線出射窓側から見た平面図、(C)は第8実施形態に係るX線管のX線出射窓側から見た平面図である。 本発明に係るX線管の第9実施形態を示し、(A)は、X線出射窓側から見た平面図であり、(B)は、電子銃側から見た背面図である。
符号の説明
1A〜1I…X線管、2…バルブ、5,31…ヘッド部、5e…平面部、5g,31a…封塞部、6,30…真空外囲器本体、8…陽極、9…ターゲット、10,33…電子銃収容部、17…電子銃、18,29,32,35,36,41〜44,50…X線出射窓、19…非破壊検査装置、20…X線カメラ、45〜47…X線中央出射窓、C1,C2,C4,C5…管軸線、θ…挟角、A1,A3…基準面。

Claims (6)

  1. 管状の陽極収容部内に配置された陽極のターゲットに、電子銃から出射された電子を入射させてX線を発生させ、そのX線をX線出射窓から取り出すX線管において、
    前記陽極は、前記陽極収容部の管軸線に沿って配置され、
    前記陽極収容部の端部に設けられた封塞部には、一の前記X線出射窓が設けられており、
    一の前記X線出射窓は、前記陽極収容部の前記管軸線に交わるように配置されると共に、前記陽極収容部の前記管軸線に対して偏心して設けられていることを特徴とするX線管。
  2. 前記電子銃は、前記陽極収容部の前記管軸線の周囲に設けられた周壁に取り付けられ、前記X線出射窓は、前記管軸線に対して前記電子銃側に偏心していることを特徴とする請求項1記載のX線管。
  3. 前記電子銃は、前記陽極収容部に固定された管状の電子銃収容部に収容され、
    前記電子銃収容部の管軸線は、前記陽極収容部の前記管軸線に直交し、
    前記X線出射窓は、前記陽極収容部の前記管軸線と前記電子銃収容部の前記管軸線とを含む面からずれた位置に中心を有することを特徴とする請求項2記載のX線管。
  4. 前記電子銃は、前記陽極収容部に固定された管状の電子銃収容部に収容され、
    前記電子銃収容部の前記管軸線と前記陽極収容部の前記管軸線とは交差し、且つ前記電子銃収容部の前記管軸線と前記陽極収容部の前記管軸線とで形成された前記陽極側の挟角は鋭角であり、
    前記X線出射窓は、前記陽極収容部の前記管軸線と前記電子銃収容部の前記管軸線とを含む面上に中心を有することを特徴とする請求項1記載のX線管。
  5. 前記封塞部には、前記陽極収容部の前記管軸線に対して偏心して設けられた前記X線出射窓と、前記陽極収容部の前記管軸線上に中心を有するX線中央出射窓とが設けられていることを特徴とする請求項1〜のいずれか一項記載のX線管。
  6. 管状の陽極収容部内に配置された陽極のターゲットに、電子銃から出射された電子を入射させてX線を発生させ、そのX線をX線出射窓から取り出すX線管と、前記X線管から取り出されて試料を透過した前記X線を撮像するX線画像撮像装置とを有する非破壊検査装置において、
    前記ターゲットは、前記陽極収容部の管軸線上に配置され、
    前記陽極収容部の端部に設けられた封塞部には、一の前記X線出射窓が設けられており、
    一の前記X線出射窓は、前記陽極収容部の前記管軸線に交わるように配置されると共に、前記陽極収容部の前記管軸線に対して偏心して設けられていることを特徴とする非破壊検査装置。
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Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101289502B1 (ko) * 2005-10-07 2013-07-24 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤 X선관 및 비파괴 검사 장치
JP5791401B2 (ja) * 2011-07-11 2015-10-07 キヤノン株式会社 放射線発生装置及びそれを用いた放射線撮影装置
CN102595754B (zh) * 2012-01-06 2015-05-13 同方威视技术股份有限公司 辐射器件安装箱、油冷循环系统以及x射线发生器
EP2674240A1 (de) * 2012-06-14 2013-12-18 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zum Herstellen einer Schweißverbindung mit Erstellen einer Aufnahme der Schweissverbindung mit gekühlten Röntgenröhren
JP6272043B2 (ja) * 2014-01-16 2018-01-31 キヤノン株式会社 X線発生管及びこれを用いたx線発生装置、x線撮影システム
CN107783201B (zh) * 2017-10-25 2024-04-02 同方威视技术股份有限公司 光机屏蔽罩及安检设备
KR102402639B1 (ko) 2017-11-24 2022-05-26 삼성전자주식회사 전자 장치 및 그의 통신 방법
US10910190B2 (en) 2019-01-10 2021-02-02 Electronics And Telecommunications Research Institute X-ray tube
EP3726205B1 (en) * 2019-04-17 2024-01-03 Bruker Nano GmbH Method for obtaining stereoscopic image information
EP4006950A4 (en) 2019-09-03 2022-11-16 Canon Anelva Corporation X-RAY GENERATOR AND X-RAY IMAGING DEVICE
WO2021199563A1 (ja) * 2020-04-03 2021-10-07 浜松ホトニクス株式会社 X線発生装置
KR20240024613A (ko) 2022-08-17 2024-02-26 주식회사 이레이 조립성이 양호하고, 출사창에 평행한 타겟 면을 가지는 밀봉형 x선 발생 장치

Family Cites Families (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2209963A (en) * 1938-06-18 1940-08-06 California Inst Of Techn X-ray generating device
DE725556C (de) * 1940-03-12 1942-09-24 Aeg Roentgenroehre mit Fokussierungsspule
US2850656A (en) * 1954-09-21 1958-09-02 Machlett Lab Inc X-ray tube structure
JPS5236487A (en) * 1975-09-18 1977-03-19 Rigaku Denki Kk X-ray generator
EP0009946A1 (en) * 1978-10-02 1980-04-16 Pfizer Inc. X-ray tube
DE3426624A1 (de) * 1984-07-19 1986-01-30 Scanray A/S, Kopenhagen Roentgenroehre
JP2610946B2 (ja) * 1988-06-09 1997-05-14 株式会社マックサイエンス X線装置
US5077771A (en) 1989-03-01 1991-12-31 Kevex X-Ray Inc. Hand held high power pulsed precision x-ray source
JP2543732Y2 (ja) * 1990-12-14 1997-08-13 株式会社島津製作所 X線銃
JP3022014B2 (ja) * 1992-01-17 2000-03-15 三菱電機株式会社 光透過型真空分離窓及び軟x線透過窓
JP2713860B2 (ja) * 1994-04-26 1998-02-16 浜松ホトニクス株式会社 X線管装置
JPH097534A (ja) * 1995-06-16 1997-01-10 Rigaku Corp X線発生装置
US5751784A (en) 1996-09-27 1998-05-12 Kevex X-Ray X-ray tube
JP3726257B2 (ja) * 1997-03-07 2005-12-14 理学電機工業株式会社 X線照射装置とこれを用いた蛍光x線分析装置
JPH11144654A (ja) * 1997-11-10 1999-05-28 Kobe Steel Ltd X線発生装置
JP4574755B2 (ja) * 1998-02-06 2010-11-04 浜松ホトニクス株式会社 X線発生装置及び検査システム
JP4772212B2 (ja) * 2001-05-31 2011-09-14 浜松ホトニクス株式会社 X線発生装置
JP4118535B2 (ja) 2001-07-03 2008-07-16 株式会社日立メディコ X線検査装置
JP4068332B2 (ja) * 2001-10-19 2008-03-26 浜松ホトニクス株式会社 X線管、及び、x線管の製造方法
TW200306767A (en) * 2002-04-05 2003-11-16 Hamamatsu Photonics Kk X-ray tube control device and method of controlling X-ray tube
AU2003236267A1 (en) * 2002-04-05 2003-10-20 Hamamatsu Photonics K.K. X-ray tube adjustment apparatus, x-ray tube adjustment system, and x-ray tube adjustment method
JP4322470B2 (ja) * 2002-05-09 2009-09-02 浜松ホトニクス株式会社 X線発生装置
JP4150237B2 (ja) 2002-09-20 2008-09-17 浜松ホトニクス株式会社 X線管
WO2005029531A1 (ja) * 2003-09-16 2005-03-31 Hamamatsu Photonics K.K. X線管
KR101289502B1 (ko) * 2005-10-07 2013-07-24 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤 X선관 및 비파괴 검사 장치

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