JP2006040761A - 荷電粒子線装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 荷電粒子線装置において試料を観察する際に、試料を対物レンズや対物レンズ周辺の検出器と接触させ、試料または電子レンズを傷つけたり、検出器を破損させたりすることがある。
【解決手段】 電子線を発生させる電子銃1と、電子銃1により発生させた一次電子線2を細く絞るための集束レンズ系3と、対物レンズ4と、試料5を載せ試料5を移動させることができる移動機構を有する試料ステージ6と、対物レンズ4がその中に設けられるとともに観察時に試料5および試料ステージ6を収容し、その近傍を高真空に保つための真空容器7と、試料ステージ6を真空容器7から引き出すための機構8と、を含む荷電粒子線装置において、真空容器7に設けられた試料ステージ引き出し用の開口部Oに対物レンズ4を試料5の引き出し方向、すなわち、水平方向に投影させた対物レンズ4の水平投影形状を有する干渉検出用部材9が設けられている。
【選択図】 図1
【解決手段】 電子線を発生させる電子銃1と、電子銃1により発生させた一次電子線2を細く絞るための集束レンズ系3と、対物レンズ4と、試料5を載せ試料5を移動させることができる移動機構を有する試料ステージ6と、対物レンズ4がその中に設けられるとともに観察時に試料5および試料ステージ6を収容し、その近傍を高真空に保つための真空容器7と、試料ステージ6を真空容器7から引き出すための機構8と、を含む荷電粒子線装置において、真空容器7に設けられた試料ステージ引き出し用の開口部Oに対物レンズ4を試料5の引き出し方向、すなわち、水平方向に投影させた対物レンズ4の水平投影形状を有する干渉検出用部材9が設けられている。
【選択図】 図1
Description
本発明は、試料上において電子線等の荷電粒子を2次元的に走査し、この走査に伴って試料より発生する情報を検出器にて検出し、その検出信号に基づいて試料像を表示するようにした走査型電子顕微鏡装置などの荷電粒子線装置に関し、特に、対物レンズや対物レンズ周辺に配置される検出器と装置内に保持される観察試料との干渉を事前に識別することができ、試料の移動範囲を容易に確認できる走査電子顕微鏡などの荷電粒子線装置に関する。
走査電子顕微鏡により観察する試料は、像を観察する時には試料微動装置にセットした状態で真空容器内に保持され、水平、上下、傾斜、回転などの試料移動を行うことにより試料観察に適した位置に配置できるようになっている。通常、像観察時には真空容器内を直接見ることができないため、試料移動の際などにおける操作ミスにより、試料を対物レンズや対物レンズ周辺に配置される検出器と接触させてしまい、試料又は電子レンズなどを損傷させたり、検出器を破損させたりする場合があった。
また、半導体などの平面観察と断面観察を速やかに行いたいときに、対物レンズや他の部材と試料が干渉しないように、試料ステージの傾斜機構を用いなくても、0度から90度まで傾斜できるホールダを有する荷電粒子線装置が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
しかし、特許文献1のようなホールダを有する場合でも、真空容器から試料ステージを引き出して試料を装着するタイプの装置では、試料交換をする際に、対物レンズや周辺の検出器等の構造物と試料とが干渉しないことを注意深く確認しながら試料を装着した試料ステージを真空容器内に挿入している。特に、試料に厚みがある場合には、予め定められた試料ステージの試料交換位置(傾けない位置)においても挿入時に対物レンズなどと干渉してしまう可能性があり、試料ステージ挿入時の目視による確認が必要になる。
試料を傾斜させた場合における対物レンズ等との干渉に関する対策としては、例えば、真空容器にCCDカメラを取り付け、CCDカメラによる観察により干渉のチェックを行う手法が提案されている。しかしながら、CCDカメラによる観察に基づいて干渉をチェックする方法では、真空封止や照明等特別な装置が必要になりコストも高くなる。また、真空容器への取り付け位置は他の検出器や構成部品との兼ね合いで、干渉をチェックするに最適な場所に配置できるとは限らない。その他の技術としては、真空容器に鉛ガラス等によるのぞき窓を設ける手法もあるが、この手法では、像を観察する際には遮光を行わなければならないなどの使い勝手が悪く普及していない。
本発明の目的は、試料が、対物レンズや対物レンズ周辺の検出器と接触することにより、試料又は電子レンズを傷つけたり、検出器を破損させたりしないようにする仕組みであって干渉の確認がしやすい仕組みを低コストで実現することである。
本発明は、荷電粒子源と、該荷電粒子源から発生する荷電粒子線を収束させる対物レンズと、試料を載せるための試料ステージと、該試料ステージ及びその近傍を真空に保つための真空容器と、前記試料ステージを前記真空容器から引き出して試料の交換を行うために設けられた前記試料ステージを移動するための移動機構と、を備えた荷電粒子線装置であって、さらに、前記試料近傍の部品を前記試料ステージの移動方向に投影させた形状を有する干渉検出用部材を試料交換のために前記試料ステージを移動経路の途中に設けたことを特徴とする荷電粒子線装置が提供される。これにより、試料と干渉用部材との間における干渉の様子をみることにより、試料と干渉しやすい部品と実際に観測する状態で干渉するか否かの判定が容易になる。
本発明により、対物レンズや検出器などの部品と観察試料との干渉の発生の有無を簡単に検出し識別することができる。この際の追加のコストも少ない。また、試料に関して、上下移動や傾斜移動を行う際の可動範囲を容易に確認することができる。
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。図1は、本実施の形態による荷電粒子線装置の一例である走査型電子顕微鏡装置を示す図である。図1に示すように、本実施の形態による走査型電子顕微鏡は、荷電粒子である電子線を発生させる電子銃1と、電子銃1により発生させた一次電子線2を細く絞るための集束レンズ系3と、対物レンズ4と、載置した試料5を、水平、上下および傾斜方向に移動させることができる移動機構を有する試料ステージ6と、対物レンズ4がその中に設けられるとともに観察時に試料5および試料ステージ6を収容し、その近傍を高真空に保つための真空容器7と、試料ステージ6を真空容器7から引き出し、試料交換を行うための引き出し機構8と、を含む。さらに、真空容器7内を真空引きする図示しない真空ポンプが設けられている。
本実施の形態による走査型電子顕微鏡は、図1に示す走査形電子顕微鏡において、真空容器7に設けられた試料ステージ引き出し用の開口部Oに上記対物レンズ4を試料5の引きだし方向、すなわち、図1に示す場合には水平方向に投影させた対物レンズ4の水平投影形状を有する干渉検出用部材9を設けたことを特徴とする。図1においては、干渉検出用部材9を側面(矢印Aの方向を法線とする面内方向)から見ている。尚、破線で示した検出器DTについては後述する。以下においては、検出器DTの配置を考慮せずに説明を行う。
図1の矢印A側からみた真空容器開口部付近を図2に示す。図2に示すように、干渉検出用部材9は、対物レンズ4(図では干渉検出用部材9の影になっているため見えない。)を開口部O面に対して試料の引きだし方向(この場合には水平方向)に投影させた形状を有することが明らかになる。
以下、対物レンズ4と試料5との干渉の有無を確認する手順について説明する。図3及び図5,6も参照しつつ説明を行う。試料5を装着する場合には、真空容器7の容器内を大気圧にし、試料ステージ6を引き出す。次に、試料5を試料ステージ6に取り付ける。その後、試料ステージ引き出し機構8により、試料5が載置された試料ステージ6を引きだし方向にスライドさせ、真空容器7内に挿入する。この際、試料5の位置を上記干渉検出用部材9の下側に移動させて一旦停止させる。この位置で停めやすいように、例えば試料ステージ引きだし機構にマーカを付けることもできるし、第1の停止位置として一時停止が可能なような機構を設けておいても良い。
図3は、試料5を上記干渉検出用部材9の下側で停止させた状態を上方より見た図である。
その位置において、上下移動機構10により試料5を上下方向に動かしたり、試料傾斜機構11により傾斜させたりすることにより、試料の移動可能な範囲を確認することができる。厚み(高さ)のある試料や幅のある大きな試料などを観察する場合、対物レンズ下面および周囲面と試料が干渉し、ぶつかってしまうことがある。また、試料の高さが傾斜軸よりも高かった場合、試料の最大傾斜角度は試料の上下位置によっても変わるため、試料を真空容器中で観察しながら傾斜させる場合には、細心の注意を必要とする。
図5及び図6は、試料5と干渉検出用部材9との位置関係を示す図であり、(a)が水平状態、(b)が傾斜させた状態における位置関係を示す図である。符号107は、試料を傾斜させる場合の傾斜軸を示す。108は、試料の位置を示し、特に試料の観察したい部位を通り、一次電子線2に直角な面を示す。
図5(a)は試料5が水平の状態(傾いていない状態)において、対物レンズ4を水平投影した干渉検出用部材9と試料5との干渉を確認している時の状態を示す。この状態で、試料ステージ6の上下移動機構により試料面108を移動し観察したい条件(位置)で、干渉しないかどうかを確認することができる。また、図5(b)は、さらに試料を傾斜させた場合を示す図である。試料の大きさ(特に幅)によって、試料と干渉検出用部材との干渉、すなわち、試料5を挿入した場合における試料と対物レンズとの干渉が起こる可能性があることがわかる。
図6は、凹凸のある試料の場合を示す図である。図6(b)に示すように、面108よりも出ている部位(凸部)があるため平らな試料の場合よりも、試料傾斜角度をあさくしなければならないこともわかる。干渉検出用部材9は、このように、対物レンズ4と試料5との干渉を検出する目安として有用であることがわかる。
以上のように、本実施の形態による走査型電子顕微鏡においては、試料挿入時に干渉検出用部材9に干渉しない範囲で試料5を傾斜させておき、そのまま真空容器中に挿入することにより、容易に所望の傾斜を得ることも可能となる。最大傾斜角度でも干渉しないことがわかれば、試料5を挿入し干渉を気にせずに自由に傾斜させて観察を行うことが可能になる。
上記干渉検出用部材9は、真空容器7内の開口部Oに固定しても良いし、取り外せるように構成しても良い。固定構造とする場合には、試料ステージ12を真空容器7内に挿入した際にも試料ステージ12と干渉しないような配置とするのが好ましい。着脱可能とする場合には、試料ステージ12の挿入時に取外すことにより試料ステージ12との干渉はなくなるが、試料ステージ12を挿入する毎に干渉検出用部材9の着脱作業が必要となる。もちろん、干渉検出用部材9を進退自在に構成させても良い。
また、干渉検出用部材9は、対物レンズ4の水平投影形状よりも一回り大きくすることもできる。このようにすると、試料5と対物レンズ4との干渉に関するマージンを取っておくことができる。例えば、干渉検出用部材9の底辺の位置を、対物レンズ4の下面よりも1mm程度低い位置となるような大きさにしたり、干渉検出用部材9の左右の側辺を、対物レンズ4の側部よりも各1mm程度広げた位置にしたりすることにより、干渉検出用部材9を用いて確認しておけば、若干の誤差が生じても実際の観察時には干渉が起こらないようにすることができ、試料や対物レンズをより安全に保護できるという利点がある。
尚、図2に示すように、本実施の形態による走査型電子顕微鏡に設けられる干渉検出用部材9は、電子線2を試料の引きだし方向(この場合は水平方向)に投影したマーカ2’を有している。このように、干渉検出用部材9に、電子線通路の投影位置を示すマーカ2’を設け、試料ステージ6の水平移動機構12および上下移動機構10、試料傾斜機構11により、マーカ2’の線を下方に延ばした仮想線の下側に観察したい試料5の部位を移動して際に、その目安とすることができる。このようにすれば、実際の観察開始の直後から所望の観察視野を観察することができる。また、多少のずれがあった場合にも、近傍に観察視野があることがわかっているため、操作者は観察を行いやすいという利点がある。また、このマーカ2’にはもう1つの利点がある。この利点について、図7を用いて説明する。図7は、試料面108と傾斜軸107が一致しない状態で、試料を試料ステージに載置した場合の例である。図7(a),(b)は、傾斜軸107よりも低い位置に試料面108がある場合を示している。
図7(a)は、前述のマーカ2’の線を下方に延ばした仮想線の下側に観察したい部位109を移動した状態である。これを、図7(b)に示すように傾斜させると、観察したい部位109が、前述仮想線から外れた位置109’になることがわかる。つまり、そのまま真空容器中に挿入し実際に観察した場合、試料を傾斜したときに観察視野がかわってしまう。そこで、図5(a)に示すように、傾斜軸107と、観察したい軸の試料面108が一致するように、試料を試料ステージに載置することにより、視野のずれを気にせずに試料を傾斜させて観察を行うことが可能となる。
次に、本発明の第2の実施の形態による走査型電子顕微鏡について図面を参照しつつ説明を行う。本実施の形態による走査型電子顕微鏡において、干渉検出用部材9が、開口部Oではなく試料ステージ12に設けられている。図4は、本実施の形態による走査型電子顕微鏡の構成例を示す図であり、図1に対応する図である。
図4中の構成要素のうち符号1から8までは、第1の実施の形態と同じ構成である。図4に示すように、本実施の形態による走査型電子顕微鏡は、試料ステージ6に対物レンズ4を試料5の引きだし方向(この場合は水平方向)に投影させた形状を有する干渉検出用部材9と、試料5の上部に干渉検出用部材9を引きだし方向(水平)に移動させることができる機構14と、を設けたことを特徴としている。以下、本実施の形態による走査型電子顕微鏡を用い対物レンズ4と観察試料5との干渉を確認する手順について説明を行う。
真空容器7内を大気圧にし、試料ステージ6を引き出し、試料5を試料ステージ6に取り付ける手順は、第1の実施の形態の場合と同様である。その後に、本実施の形態においては、干渉検出用部材9を、載置した試料5の上部に位置するようになるまで水平移動機構14により移動させる。試料5を移動させた後は、第1の実施の形態の場合と同様に、その位置で、試料5を上下移動機構10により上下方向に動かしたり、試料傾斜機構11により傾斜させたりすることにより、試料5が対物レンズ4と干渉せずに移動可能な範囲を確認することができる。
真空容器7内を大気圧にし、試料ステージ6を引き出し、試料5を試料ステージ6に取り付ける手順は、第1の実施の形態の場合と同様である。その後に、本実施の形態においては、干渉検出用部材9を、載置した試料5の上部に位置するようになるまで水平移動機構14により移動させる。試料5を移動させた後は、第1の実施の形態の場合と同様に、その位置で、試料5を上下移動機構10により上下方向に動かしたり、試料傾斜機構11により傾斜させたりすることにより、試料5が対物レンズ4と干渉せずに移動可能な範囲を確認することができる。
本実施の形態による構成例によれば、通常は干渉検出用部材9の存在を意識する必要がなく、干渉の有無の検出が必要な場合のみ干渉検出用部材9を引き出して干渉チェックを行うことが可能である。干渉検出用部材9を引っ込めておけば、試料5を試料ステージ6に取り付ける際の作業において干渉検出用部材9が邪魔にならない。
次に、本発明の第3の実施の形態による走査型電子顕微鏡装置について図面を参照しつつ説明を行う。上記第1及び第2の実施の形態による走査型電子顕微鏡装置においては、試料と対物レンズとの干渉を確認する技術について説明した。本実施の形態による走査型電子顕微鏡装置においては、図1〜図3に示すように、対物レンズ4の近傍に配置されるX線分析装置用検出器DTと試料5との干渉を防止するための第2の干渉検出用部材19を有する。干渉検出用部材19の形状は、検出器DTの外観形状を試料の引きだし方向(この場合は水平方向)に投影させた形状にする。或いは、検出器と対物レンズとの両方を含めた投影とすればよい。
以上、本実施の形態による走査型電子顕微鏡によれば、検出器と試料との干渉に関する検出を事前に行うことができるため、試料を取り付ける際、試料を観測する際の参考にすることができる。
尚、対物レンズや検出器などの近傍に配置される他の構造物についても本実施の形態による技術を適用することができる。
尚、対物レンズや検出器などの近傍に配置される他の構造物についても本実施の形態による技術を適用することができる。
本発明は、電子顕微鏡装置を含む他の荷電粒子線装置に適用可能である。
1…電子銃、2…電子銃から発生した一次電子線、3…集束レンズ、4…対物レンズ、5…試料、6…試料ステージ、7…真空容器、8…真空容器から試料ステージを引き出すための引き出し機構、9…干渉検出用部材、10…上下移動機構、11…試料傾斜機構、12…水平移動機構、13…干渉検出用部材の電子線通路の投影位置を示すマーカ、19…干渉検出用部材、DT…X線分析装置用検出器。
Claims (6)
- 荷電粒子源と、該荷電粒子源から発生する荷電粒子線を収束させる対物レンズと、試料を載せるための試料ステージと、該試料ステージ及びその近傍を真空に保つための真空容器と、前記試料ステージを前記真空容器から引き出して試料の交換を行うために設けられた前記試料ステージを移動するための移動機構と、を備えた荷電粒子線装置であって、
さらに、前記試料近傍の部品を前記試料ステージの移動方向に投影させた形状を有する干渉検出用部材を試料交換のために前記試料ステージを移動経路の途中に設けたことを特徴とする荷電粒子線装置。 - 荷電粒子源と、該荷電粒子源から発生する荷電粒子線を収束させる対物レンズと、試料を載せるための試料ステージと、該試料ステージ及びその近傍を真空に保つための真空容器と、前記試料ステージを前記真空容器から引き出して試料の交換を行うために前記真空容器に設けられた開口部及び試料ステージの引き出し機構と、を備えた荷電粒子線装置であって、
前記開口部に前記対物レンズを前記試料ステージの引きだし方向に投影させた形状を有する干渉検出用部材を設けたことを特徴とする荷電粒子線装置。 - 荷電粒子源と、該荷電粒子源から発生する荷電粒子線を収束させる対物レンズと、試料を載せるための試料ステージと、該試料ステージ及びその近傍を真空に保つための真空容器と、前記試料ステージを前記真空容器から引き出して試料の交換を行うために前記真空容器に設けられた開口部及び試料ステージの引き出し機構と、を備えた荷電粒子線装置であって、
試料ステージに前記対物レンズを前記試料ステージの引きだし方向に投影させた形状を有する干渉検出用部材を設けたことを特徴とする荷電粒子線装置。 - 荷電粒子源と、該荷電粒子源から発生する荷電粒子線を収束させる対物レンズと、試料を載せるための試料ステージと、該試料ステージ及びその近傍を真空に保つための真空容器と、一次電子線の照射により発生した試料情報を得るための検出器と、前記試料ステージを前記真空容器から引き出して試料の交換を行うために前記真空容器に設けられた開口部及び試料ステージの引き出し機構と、を備えた荷電粒子線装置であって、
前記開口部に、前記検出器又は該検出器及び前記対物レンズの両方を、前記試料ステージの引きだし方向に投影させた形状を有する干渉検出用部材を設けたことを特徴とする荷電粒子線装置。 - 荷電粒子源と、該荷電粒子源から発生する荷電粒子線を収束させる対物レンズと、試料を載せるための試料ステージと、該試料ステージ及びその近傍を真空に保つための真空容器と、一次電子線の照射により発生した試料情報を得るための検出器と、前記試料ステージを前記真空容器から引き出して試料の交換を行うために前記真空容器に設けられた開口部及び試料ステージの引き出し機構と、を備えた荷電粒子線装置であって、前記試料ステージに、前記検出器又は該検出器及び前記対物レンズの両方を、前記試料ステージの引きだし方向に投影させた形状を有する干渉検出用部材を設けたことを特徴とする荷電粒子線装置。
- 請求項1から請求項5のまでのいずれか1項に記載の荷電粒子線装置において、前記干渉検出用部材に、前記荷電粒子線の出射経路を前記引きだし方向に投影する位置を表示するマーカを設けたことを特徴とする荷電粒子線装置。
Priority Applications (1)
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008218342A (ja) * | 2007-03-07 | 2008-09-18 | Hitachi High-Technologies Corp | 電子顕微鏡 |
JP2012018817A (ja) * | 2010-07-08 | 2012-01-26 | Keyence Corp | 拡大観察装置及び拡大観察方法、拡大観察用プログラム並びにコンピュータで読み取り可能な記録媒体 |
JP5464537B1 (ja) * | 2013-09-12 | 2014-04-09 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 荷電粒子線装置 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59146145A (ja) * | 1983-02-09 | 1984-08-21 | Akashi Seisakusho Co Ltd | 試料移動装置 |
JPS61277143A (ja) * | 1985-05-31 | 1986-12-08 | Akashi Seisakusho Co Ltd | 電子顕微鏡の試料移動装置 |
JPH076726A (ja) * | 1993-06-17 | 1995-01-10 | Toto Ltd | 反射電子検出装置 |
JPH1173901A (ja) * | 1997-08-28 | 1999-03-16 | Hitachi Sci Syst:Kk | 試料分析装置 |
JP2001338599A (ja) * | 2000-05-29 | 2001-12-07 | Hitachi Ltd | 荷電粒子線装置 |
-
2004
- 2004-07-28 JP JP2004220509A patent/JP2006040761A/ja active Pending
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59146145A (ja) * | 1983-02-09 | 1984-08-21 | Akashi Seisakusho Co Ltd | 試料移動装置 |
JPS61277143A (ja) * | 1985-05-31 | 1986-12-08 | Akashi Seisakusho Co Ltd | 電子顕微鏡の試料移動装置 |
JPH076726A (ja) * | 1993-06-17 | 1995-01-10 | Toto Ltd | 反射電子検出装置 |
JPH1173901A (ja) * | 1997-08-28 | 1999-03-16 | Hitachi Sci Syst:Kk | 試料分析装置 |
JP2001338599A (ja) * | 2000-05-29 | 2001-12-07 | Hitachi Ltd | 荷電粒子線装置 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008218342A (ja) * | 2007-03-07 | 2008-09-18 | Hitachi High-Technologies Corp | 電子顕微鏡 |
JP2012018817A (ja) * | 2010-07-08 | 2012-01-26 | Keyence Corp | 拡大観察装置及び拡大観察方法、拡大観察用プログラム並びにコンピュータで読み取り可能な記録媒体 |
JP5464537B1 (ja) * | 2013-09-12 | 2014-04-09 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 荷電粒子線装置 |
WO2015037277A1 (ja) * | 2013-09-12 | 2015-03-19 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 荷電粒子線装置 |
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