JP4665759B2 - 光学素子保持装置、鏡筒、露光装置、及びデバイスの製造方法 - Google Patents
光学素子保持装置、鏡筒、露光装置、及びデバイスの製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4665759B2 JP4665759B2 JP2005506808A JP2005506808A JP4665759B2 JP 4665759 B2 JP4665759 B2 JP 4665759B2 JP 2005506808 A JP2005506808 A JP 2005506808A JP 2005506808 A JP2005506808 A JP 2005506808A JP 4665759 B2 JP4665759 B2 JP 4665759B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical element
- displacement
- link
- frame member
- holding device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 330
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 19
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims abstract description 191
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 50
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 24
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 18
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 14
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 13
- 238000001459 lithography Methods 0.000 claims description 6
- 235000013372 meat Nutrition 0.000 claims 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 22
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 16
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 10
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 9
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 238000013461 design Methods 0.000 description 7
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 7
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 5
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 5
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 5
- PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N Fluorine Chemical compound FF PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 4
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 4
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 4
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 4
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 4
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L calcium difluoride Chemical compound [F-].[F-].[Ca+2] WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 3
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 3
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 3
- 239000010436 fluorite Substances 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- 229910052691 Erbium Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000004308 accommodation Effects 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 2
- UYAHIZSMUZPPFV-UHFFFAOYSA-N erbium Chemical compound [Er] UYAHIZSMUZPPFV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 2
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- PQXKHYXIUOZZFA-UHFFFAOYSA-M lithium fluoride Chemical compound [Li+].[F-] PQXKHYXIUOZZFA-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- ORUIBWPALBXDOA-UHFFFAOYSA-L magnesium fluoride Chemical compound [F-].[F-].[Mg+2] ORUIBWPALBXDOA-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 229910001635 magnesium fluoride Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 206010034719 Personality change Diseases 0.000 description 1
- 229910052769 Ytterbium Inorganic materials 0.000 description 1
- LQFSFEIKYIRLTN-UHFFFAOYSA-H aluminum;calcium;lithium;hexafluoride Chemical compound [Li+].[F-].[F-].[F-].[F-].[F-].[F-].[Al+3].[Ca+2] LQFSFEIKYIRLTN-UHFFFAOYSA-H 0.000 description 1
- IEPNMLJMIRCTIV-UHFFFAOYSA-H aluminum;lithium;strontium;hexafluoride Chemical compound [Li+].[F-].[F-].[F-].[F-].[F-].[F-].[Al+3].[Sr+2] IEPNMLJMIRCTIV-UHFFFAOYSA-H 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 1
- 230000002079 cooperative effect Effects 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- 239000005383 fluoride glass Substances 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 239000011553 magnetic fluid Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000003921 oil Substances 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000012858 packaging process Methods 0.000 description 1
- 238000012805 post-processing Methods 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 239000002210 silicon-based material Substances 0.000 description 1
- FVRNDBHWWSPNOM-UHFFFAOYSA-L strontium fluoride Chemical compound [F-].[F-].[Sr+2] FVRNDBHWWSPNOM-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910001637 strontium fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 1
- 238000013519 translation Methods 0.000 description 1
- 238000004506 ultrasonic cleaning Methods 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- NAWDYIZEMPQZHO-UHFFFAOYSA-N ytterbium Chemical compound [Yb] NAWDYIZEMPQZHO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- -1 zirconium-barium-lanthanum-aluminum Chemical compound 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/708—Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
- G03F7/70808—Construction details, e.g. housing, load-lock, seals or windows for passing light in or out of apparatus
- G03F7/70825—Mounting of individual elements, e.g. mounts, holders or supports
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/02—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses
- G02B7/023—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses permitting adjustment
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Epidemiology (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Public Health (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Lens Barrels (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Formation Of Various Coating Films On Cathode Ray Tubes And Lamps (AREA)
- Eyeglasses (AREA)
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
- Mounting And Adjusting Of Optical Elements (AREA)
Description
[図2]図1の光学素子保持装置の斜視図。
[図3]Aは図1の光学素子保持装置の平面図、Bは図3Aの部分拡大図。
[図4]図3の4−4線に沿った断面図。
[図5]図2の枠部材のアームの拡大平面図。
[図6]図5の部分拡大図。
[図7]図5の7−7線に沿った断面図。
[図8]光学素子の光軸と直交する平面における図2の枠部材の断面図。
[図9]図2の各リンク機構の模式的斜視図。
[図10]図9の第1のリンク機構を拡大して示す平面図
[図11]図2のインナリング及びアームの模式的斜視図。
[図12]Aは図2のインナリング及びアームの模式的平面図、Bは図12Aの部分拡大図。
[図13]図2のインナリング及びアームの模式的側面図。
[図14]変更例の変位モジュールの断面図。
[図15]デバイスの製造工程のフローチャート。
[図16]図15の基板処理工程の詳細なフローチャート。
[図17]従来の光学素子保持装置の分解斜視図。
[図18]図17の光学素子保持装置の断面図。
図9及び図10に示すように、アウタリング52の内側には、それぞれ支点ピボット66を介して、6つのレバー54が接続されている。各レバー54は、光学素子37の光軸AXと直交する平面内において、関連する支点ピボット66を支点として回転可能である。各レバー54において、支点ピボット66に連結された一端部には、枠側ピボット59を介して、関連するアーム53a1,53a2,53b1,53b2,53c1,53c2が連結されている。レバー54は、枠側ピボット59が、関連する接平面Pt内で変位するように配置されている。レバー54の長手方向において、支点ピボット66に連結された一端部とは異なる端部(他端部、枠側ピボット59の対角位置)は、レバー54の力点PFである。力点PFに外部から駆動力Fが加えられると、レバー54は支点ピボット66を中心に回転する。
まず、ジャッキアップモジュール97の位置調整ねじ101のレンチ孔にジグを係合する。ジグを操作して、ジャッキアップロッド99の先端がレバー54に当接するまで位置調整ねじ101を回転させる。その後、変位モジュール82における調整ベース板87を枠部材41から取り外す。これにより、変位ロッド84から球面ボス92に加えられていた押圧力が消失し、レバー54の力点PFの駆動変位ΔLが解除される。このため、レバー54は、付勢ばね77の付勢力によりアウタリング52側に回転しようとする。しかしながら、レバー54はジャッキアップロッド99と当接しているため、レバー54はアウタリング52の内周面に当接することなく、所定の位置に配置される。
(1)光学素子保持装置38は、枠部材41と、枠部材41の内側に光学素子37を保持する支持部材42とを備える。枠部材41と支持部材42との間に、枠部材41に対し、支持部材42の姿勢と光学素子37の姿勢を6つの自由度をもって調整可能な姿勢調整機構50が設けられている。光学素子37を鏡筒39内に装着した状態で、光学素子37の姿勢の調整が可能である。また、光学素子37の位置決めを容易かつ精度よく行うことができる。鏡筒モジュール39aを積層して鏡筒39を形成する際にも、枠部材41の締結部40の面精度によらず、光学素子37の光学面を良好な状態に調整することができる。また、枠部材41を鏡筒内に収容する場合には、枠部材41が取着される鏡筒の内周面の形状に関係なく、光学素子37の光学面を良好な状態に保つことができる。光学素子37を鏡筒39内に収容した状態で、各光学素子37の相対位置を細かく調整することができる。従って、光学素子保持装置38は、投影光学系35の光学性能を向上させることができる。
本発明の実施形態は、以下のように変更してもよい。
Claims (25)
- 枠部材と、
前記枠部材の内側に設けられ、光学素子を保持する保持部材と、
前記保持部材に保持された前記光学素子の姿勢を6つの自由度をもって調整する姿勢調整機構と、
前記枠部材の側面に形成された取付孔に収容されると共に、前記姿勢調整機構に当接し、前記枠部材に対して前記姿勢調整機構を介して前記保持部材を変位させる変位部材とを備え、
前記姿勢調整機構は、前記保持部材に回転可能に取り付けられる第1端部を有する第1リンク部と、前記枠部材に回転可能に取り付けられる第1端部及び前記変位部材に係合する第2端部とを有する第2リンク部とを含み、前記第1リンク部は、前記第2リンク部に回転可能に取り付けられる第2端部を有することを特徴とする光学素子保持装置。 - 前記姿勢調整機構は、前記光学素子の姿勢を、前記光学素子の光軸と平行な方向及びその光軸と交差する方向に調整する請求項1に記載の光学素子保持装置。
- 前記枠部材の取付孔と前記変位部材との間に設けられたシール部材とを有する請求項1に記載の光学素子保持装置。
- 前記姿勢調整機構は、6つの第1リンク部と、6つの第2リンク部とを含む請求項1〜請求項3のうちいずれか一項に記載の光学素子保持装置。
- 前記6つの第1リンク部は、各々が2つの第1リンク部からなる第1、第2、及び第3のリンク機構を有し、前記第1、第2、及び第3のリンク機構は、前記光学素子の光軸の周りに等角度間隔をおいて配置されている請求項4に記載の光学素子保持装置。
- 各リンク機構を形成する2つの第1リンク部は、前記光軸に平行でかつ前記光軸を中心とする円の接線を含む第1平面内に配置され、かつ、前記光軸を含みかつ前記第1平面と直交する第2平面に対して互いに略対称である請求項5に記載の光学素子保持装置。
- 前記枠部材と前記保持部材と前記姿勢調整機構の一部とが一つの構造体で一体形成され、
前記一つの構造体は、
前記光学素子の光軸と略直交する第1面と、
前記第1面と略平行な第2面とを含み、少なくとも一つの第1リンク部は、前記第1面に第1凹部を掘り込むことによって形成された第1首部と、前記第2面に第2凹部を掘り込むことによって形成された第2首部とを備え、前記少なくとも一つの第1リンク部は、前記第1首部において前記保持部に連結される請求項1〜請求項6のうちいずれか一項に記載の光学素子保持装置。 - 前記第2リンク部は、前記第2リンク部の厚さ方向に延びる一対の貫通孔と、各貫通孔から延びる一対のスリットとによって区画されるピボットを備え、前記ピボットは前記第2リンク部を前記枠部材に対して回転可能に連結する請求項1〜請求項7のうちいずれか一項に記載の光学素子保持装置。
- 前記変位部材は、前記第2リンク部に当接する当接部と、前記第2リンク部に与える変位量を変更する変更部材とを有する請求項1〜請求項8のうちいずれか一項に記載の光学素子保持装置。
- 前記変更部材は、制御信号に従って前記第2リンク部に与える変位量を変更するアクチュエータを含む請求項9に記載の光学素子保持装置。
- 前記第1面において前記第2首部と対応する位置に形成され、前記第2凹部の開口面積よりも大きな開口面積を有する第1の肉取部と、
前記第2面において前記第1首部と対応する位置に形成され、前記第1凹部の開口面積よりも大きな開口面積を有する第2の肉取部とを更に備える請求項7に記載の光学素子保持装置。 - 前記第2リンク部が前記第1リンク部の第1端部の変位方向を規制する請求項1〜請求項11のうちいずれか一項に記載の光学素子保持装置。
- 更に、前記ピボットとは異なる位置に設けられ、前記第2リンク部と前記枠部材を連結するL字状の第3リンク部を備える請求項8に記載の光学素子保持装置。
- 前記第3リンク部は、
前記第2リンク部と前記第3リンク部との連結部と、前記ピボットとを結ぶ直線の延長線上に配置される第1支持リンクと、
前記その第1支持リンクに対して直交するように配置された第2支持リンクとを含む請求項13に記載の光学素子保持装置。 - 前記変位部材は、前記枠部材から取り外し可能である請求項1〜請求項14のうちいずれか一項に記載の光学素子保持装置。
- 前記変位部材は、前記枠部材の径方向に沿った第1の変位方向に第1の変位量で変位し、
前記姿勢調整機構は、
前記変位部材の変位を受けて、前記第1の変位方向と交差する第2の変位方向に、前記第1の変位量より小さい第2の変位量で前記保持部材を変位させる請求項1〜請求項15のうちいずれか一項に記載の光学素子保持装置。 - 前記変位部材は、前記第2リンク部の第2端部を前記光学素子の径方向に変位させ、前記第2リンク部と前記第1リンク部との連結部は、前記光学素子の接線を含む面と略平行な面内で移動する請求項1〜請求項16のうちいずれか一項に記載の光学素子保持装置。
- 前記保持部材は、前記枠部材の内側に設けられる内側枠部材であり、前記枠部材と前記内側枠部材と前記第1リンク部と第2リンク部とは、一つの構造体に一体形成される請求項1〜請求項6のうちいずれか一項に記載の光学素子保持装置。
- 前記光学素子の光軸に対して略直交する前記枠部材の一面と、前記光軸に対して略直交する前記内側枠部材の一面は、略同一平面内に配置される請求項18に記載の光学素子保持装置。
- 前記第2リンク部と前記枠部材との間に掛け渡され、前記第2リンク部を前記枠部材に向けて付勢する付勢部材と、
前記枠部材の側面のうち、前記変位部材とは異なる位置に取り付けられ、前記付勢部材の付勢力を調整することによって、前記第2リンク部と前記枠部材との接触を制限する請求項1〜請求項19のうちいずれか一項に記載の光学素子保持装置。 - 前記第1リンク部は、前記光学素子の光軸に対して傾斜している請求項1〜請求項20のうちいずれか一項に記載の光学素子保持装置。
- 少なくとも1つの光学素子と、
前記少なくとも1つの光学素子を保持する、請求項1〜請求項21のうちいずれか一項に記載の光学素子保持装置とを備える鏡筒。 - 前記光学素子は、マスク上に形成された所定のパターンの像を基板上に投影する投影光学系を構成する複数の光学素子の一つである請求項22に記載の鏡筒。
- 所定のパターンの像を基板上に露光する露光装置において、
前記所定のパターンの像の形成されたマスクと、
前記像を前記基板上に転写する投影光学系とを備え、前記投影光学系が、少なくとも1つの光学素子と、前記少なくとも1つの光学素子を保持する請求項1〜請求項21のうちいずれか一項に記載の光学素子保持装置とを備える露光装置。 - 請求項24に記載の露光装置を用いた露光を含むリソグラフィ工程を備えるデバイスの製造方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003163023 | 2003-06-06 | ||
JP2003163023 | 2003-06-06 | ||
PCT/JP2004/007947 WO2004109357A1 (ja) | 2003-06-06 | 2004-06-07 | 光学素子保持装置、鏡筒、露光装置、及びデバイスの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2004109357A1 JPWO2004109357A1 (ja) | 2006-07-20 |
JP4665759B2 true JP4665759B2 (ja) | 2011-04-06 |
Family
ID=33508740
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005506808A Expired - Fee Related JP4665759B2 (ja) | 2003-06-06 | 2004-06-07 | 光学素子保持装置、鏡筒、露光装置、及びデバイスの製造方法 |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US20060139775A1 (ja) |
EP (1) | EP1632799B2 (ja) |
JP (1) | JP4665759B2 (ja) |
KR (1) | KR101281357B1 (ja) |
CN (1) | CN100576003C (ja) |
AT (1) | ATE449978T1 (ja) |
DE (1) | DE602004024302D1 (ja) |
HK (1) | HK1084186A1 (ja) |
WO (1) | WO2004109357A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016014881A (ja) * | 2007-07-18 | 2016-01-28 | 株式会社ニコン | 露光装置、露光方法、及びデバイス製造方法 |
Families Citing this family (55)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102004025832A1 (de) * | 2004-05-24 | 2005-12-22 | Carl Zeiss Smt Ag | Optikmodul für ein Objektiv |
WO2005064382A1 (ja) * | 2003-12-25 | 2005-07-14 | Nikon Corporation | 光学素子の保持装置、鏡筒、露光装置、及びデバイスの製造方法 |
JP4655520B2 (ja) * | 2004-06-29 | 2011-03-23 | 株式会社ニコン | 光学素子保持装置、鏡筒及び露光装置並びにデバイスの製造方法 |
JP2007147760A (ja) * | 2005-11-24 | 2007-06-14 | Fujitsu Ten Ltd | レンズ構造および調整治具構造 |
US7886449B2 (en) * | 2007-02-20 | 2011-02-15 | Electro Scientific Industries, Inc. | Flexure guide bearing for short stroke stage |
JP2008242448A (ja) * | 2007-02-28 | 2008-10-09 | Canon Inc | 光学要素保持装置 |
US7612956B2 (en) * | 2007-02-28 | 2009-11-03 | Corning Incorporated | Optical mount pivotable about a single point |
DE102007027200A1 (de) * | 2007-06-13 | 2008-12-18 | Carl Zeiss Smt Ag | Projektionsbelichtungsanlage für die Mikrolithographie |
DE102007047109A1 (de) * | 2007-10-01 | 2009-04-09 | Carl Zeiss Smt Ag | Optisches System, insbesondere Projektionsobjektiv der Mikrolithographie |
JP5588358B2 (ja) * | 2008-02-29 | 2014-09-10 | コーニング インコーポレイテッド | キネマティック光学マウント |
NL1036701A1 (nl) * | 2008-04-15 | 2009-10-19 | Asml Holding Nv | Apparatus for supporting an optical element, and method of making same. |
US8227768B2 (en) * | 2008-06-25 | 2012-07-24 | Axcelis Technologies, Inc. | Low-inertia multi-axis multi-directional mechanically scanned ion implantation system |
DE102009044957A1 (de) * | 2008-09-30 | 2010-04-08 | Carl Zeiss Smt Ag | Stützelemente für ein optisches Element |
CN101770063B (zh) * | 2009-01-07 | 2011-07-27 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 调焦模组制造方法 |
TWI425291B (zh) * | 2009-01-16 | 2014-02-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | 調焦模組及調焦模組的製造方法 |
DE102009005954B4 (de) * | 2009-01-20 | 2010-10-21 | Carl Zeiss Smt Ag | Dämpfungsvorrichtung |
JP2010271457A (ja) * | 2009-05-20 | 2010-12-02 | Canon Inc | 光学素子位置調整機構、光学素子位置調整機構を備えた露光装置及び光学素子位置調整方法 |
DE102009037133B4 (de) * | 2009-07-31 | 2013-01-31 | Carl Zeiss Laser Optics Gmbh | Haltevorrichtung für ein optisches Element |
KR101631958B1 (ko) * | 2010-01-14 | 2016-06-20 | 엘지전자 주식회사 | 입력 장치 및 이를 구비하는 이동 단말기 |
JP5917526B2 (ja) | 2010-09-29 | 2016-05-18 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 光学素子を位置合わせするシステム及びその方法 |
US8941814B2 (en) * | 2011-06-20 | 2015-01-27 | Nikon Corporation | Multiple-blade holding devices |
JP6056770B2 (ja) * | 2011-12-20 | 2017-01-11 | 株式会社ニコン | 基板処理装置、デバイス製造システム、及びデバイス製造方法 |
EP2757571B1 (en) * | 2013-01-17 | 2017-09-20 | IMS Nanofabrication AG | High-voltage insulation device for charged-particle optical apparatus |
JP2015023286A (ja) | 2013-07-17 | 2015-02-02 | アイエムエス ナノファブリケーション アーゲー | 複数のブランキングアレイを有するパターン画定装置 |
DE102014102220B3 (de) * | 2014-02-20 | 2015-04-30 | Jenoptik Optical Systems Gmbh | Verfahren zum Herstellen einer Linsenfassung und eine in einem Tubus radial fixierbare Linsenfassung |
EP2913838B1 (en) | 2014-02-28 | 2018-09-19 | IMS Nanofabrication GmbH | Compensation of defective beamlets in a charged-particle multi-beam exposure tool |
US9443699B2 (en) | 2014-04-25 | 2016-09-13 | Ims Nanofabrication Ag | Multi-beam tool for cutting patterns |
EP3358599B1 (en) | 2014-05-30 | 2021-01-27 | IMS Nanofabrication GmbH | Compensation of dose inhomogeneity using row calibration |
JP6892214B2 (ja) | 2014-07-10 | 2021-06-23 | アイエムエス ナノファブリケーション ゲーエムベーハー | 畳み込みカーネルを使用する粒子ビーム描画機のカスタマイズ化 |
KR20160019809A (ko) * | 2014-08-12 | 2016-02-22 | 현대모비스 주식회사 | 레이져 광학계와 이를 구비한 차량용 램프 |
US9568907B2 (en) | 2014-09-05 | 2017-02-14 | Ims Nanofabrication Ag | Correction of short-range dislocations in a multi-beam writer |
US9214314B1 (en) * | 2015-03-10 | 2015-12-15 | Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | Ion beam manipulator |
US9653263B2 (en) | 2015-03-17 | 2017-05-16 | Ims Nanofabrication Ag | Multi-beam writing of pattern areas of relaxed critical dimension |
EP3096342B1 (en) | 2015-03-18 | 2017-09-20 | IMS Nanofabrication AG | Bi-directional double-pass multi-beam writing |
US10410831B2 (en) | 2015-05-12 | 2019-09-10 | Ims Nanofabrication Gmbh | Multi-beam writing using inclined exposure stripes |
NL2015170B1 (en) * | 2015-07-15 | 2017-02-01 | Suss Microtec Lithography Gmbh | Spacer displacement device for a wafer illumination unit and wafer illumination unit. |
CN106933060B (zh) * | 2015-12-30 | 2018-10-16 | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 | 一种棱镜旋转调节机构和光刻机曝光系统及光刻机 |
US10325756B2 (en) | 2016-06-13 | 2019-06-18 | Ims Nanofabrication Gmbh | Method for compensating pattern placement errors caused by variation of pattern exposure density in a multi-beam writer |
CN106291907B (zh) * | 2016-09-30 | 2018-10-19 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 一种三自由度次镜调整装置 |
CN106291866A (zh) * | 2016-09-30 | 2017-01-04 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 一种适合月基力学及温差的反射镜支撑机构 |
KR20180068228A (ko) | 2016-12-13 | 2018-06-21 | 삼성전자주식회사 | 위치 조정 유닛 및 이를 포함하는 마스크리스 노광 장치 |
US10325757B2 (en) | 2017-01-27 | 2019-06-18 | Ims Nanofabrication Gmbh | Advanced dose-level quantization of multibeam-writers |
US10522329B2 (en) | 2017-08-25 | 2019-12-31 | Ims Nanofabrication Gmbh | Dose-related feature reshaping in an exposure pattern to be exposed in a multi beam writing apparatus |
US11569064B2 (en) | 2017-09-18 | 2023-01-31 | Ims Nanofabrication Gmbh | Method for irradiating a target using restricted placement grids |
US10678018B2 (en) * | 2017-10-23 | 2020-06-09 | Magna Electronics Inc. | Camera for vehicle vision system with replaceable lens |
CN108214952B (zh) * | 2017-12-27 | 2024-05-31 | 青岛高测科技股份有限公司 | 一种全自动分布式多晶硅开方方法 |
US10651010B2 (en) | 2018-01-09 | 2020-05-12 | Ims Nanofabrication Gmbh | Non-linear dose- and blur-dependent edge placement correction |
US10840054B2 (en) | 2018-01-30 | 2020-11-17 | Ims Nanofabrication Gmbh | Charged-particle source and method for cleaning a charged-particle source using back-sputtering |
RU2681668C1 (ru) * | 2018-03-07 | 2019-03-12 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Оренбургский государственный университет" | Устройство ввода излучения шаровых ламп в световод |
DE102018216344A1 (de) | 2018-09-25 | 2020-03-26 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abstützung eines optischen elements |
US11099482B2 (en) | 2019-05-03 | 2021-08-24 | Ims Nanofabrication Gmbh | Adapting the duration of exposure slots in multi-beam writers |
DE102019207826A1 (de) * | 2019-05-28 | 2020-12-03 | Zf Friedrichshafen Ag | Segmentierter Schwingungstilger |
KR20210132599A (ko) | 2020-04-24 | 2021-11-04 | 아이엠에스 나노패브릭케이션 게엠베하 | 대전 입자 소스 |
EP4095882A1 (en) | 2021-05-25 | 2022-11-30 | IMS Nanofabrication GmbH | Pattern data processing for programmable direct-write apparatus |
DE102022214186A1 (de) * | 2022-12-21 | 2024-06-27 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system und projektionsbelichtungsanlage |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002131605A (ja) * | 2000-08-18 | 2002-05-09 | Nikon Corp | 保持装置、光学素子保持装置、鏡筒及び露光装置並びにマイクロデバイスの製造方法 |
JP2002519843A (ja) * | 1998-06-20 | 2002-07-02 | カール・ツアイス・スティフツング・トレーディング・アズ・カール・ツアイス | 光学系、特にマイクロリソグラフィの投影露光装置 |
Family Cites Families (39)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4559717A (en) † | 1984-02-21 | 1985-12-24 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of Commerce | Flexure hinge |
US4733945A (en) † | 1986-01-15 | 1988-03-29 | The Perkin-Elmer Corporation | Precision lens mounting |
US5428482A (en) † | 1991-11-04 | 1995-06-27 | General Signal Corporation | Decoupled mount for optical element and stacked annuli assembly |
US5383168A (en) * | 1993-04-01 | 1995-01-17 | Eastman Kodak Company | Actively athermalized optical head assembly |
US6341006B1 (en) † | 1995-04-07 | 2002-01-22 | Nikon Corporation | Projection exposure apparatus |
JP3894509B2 (ja) * | 1995-08-07 | 2007-03-22 | キヤノン株式会社 | 光学装置、露光装置およびデバイス製造方法 |
US6312859B1 (en) † | 1996-06-20 | 2001-11-06 | Nikon Corporation | Projection exposure method with corrections for image displacement |
JPH1054932A (ja) † | 1996-08-08 | 1998-02-24 | Nikon Corp | 投影光学装置及びそれを装着した投影露光装置 |
JPH10270333A (ja) † | 1997-03-27 | 1998-10-09 | Nikon Corp | 露光装置 |
JPH1114876A (ja) † | 1997-06-19 | 1999-01-22 | Nikon Corp | 光学構造体、その光学構造体を組み込んだ投影露光用光学系及び投影露光装置 |
JPH11274031A (ja) † | 1998-03-20 | 1999-10-08 | Canon Inc | 露光装置およびデバイス製造方法ならびに位置決め装置 |
EP1293831A1 (en) * | 1998-06-08 | 2003-03-19 | Nikon Corporation | Projection exposure apparatus and method |
DE19825716A1 (de) * | 1998-06-09 | 1999-12-16 | Zeiss Carl Fa | Baugruppe aus optischem Element und Fassung |
US5986827A (en) † | 1998-06-17 | 1999-11-16 | The Regents Of The University Of California | Precision tip-tilt-piston actuator that provides exact constraint |
DE19859634A1 (de) * | 1998-12-23 | 2000-06-29 | Zeiss Carl Fa | Optisches System, insbesondere Projektionsbelichtungsanlage der Mikrolithographie |
JP2000206389A (ja) * | 1999-01-18 | 2000-07-28 | Olympus Optical Co Ltd | 光学系位置調整可能な鏡枠 |
DE19901295A1 (de) † | 1999-01-15 | 2000-07-20 | Zeiss Carl Fa | Optische Abbildungsvorrichtung, insbesondere Objektiv, mit wenigstens einem optischen Element |
DE19905779A1 (de) * | 1999-02-12 | 2000-08-17 | Zeiss Carl Fa | Vorrichtung zum Kippen eines Gegenstandes um wenigstens eine Achse, insbesondere eines optischen Elementes |
DE19908554A1 (de) † | 1999-02-27 | 2000-08-31 | Zeiss Carl Fa | Verstellbare Baugruppe |
DE19910947A1 (de) * | 1999-03-12 | 2000-09-14 | Zeiss Carl Fa | Vorrichtung zum Verschieben eines optischen Elementes entlang der optischen Achse |
US6727981B2 (en) * | 1999-07-19 | 2004-04-27 | Nikon Corporation | Illuminating optical apparatus and making method thereof, exposure apparatus and making method thereof, and device manufacturing method |
JP2001035773A (ja) † | 1999-07-19 | 2001-02-09 | Nikon Corp | 照明光学装置及び露光装置 |
US6239924B1 (en) * | 1999-08-31 | 2001-05-29 | Nikon Corporation | Kinematic lens mounting with distributed support and radial flexure |
AU5653699A (en) † | 1999-09-20 | 2001-04-24 | Nikon Corporation | Parallel link mechanism, exposure system and method of manufacturing the same, and method of manufacturing devices |
US6257957B1 (en) * | 1999-12-01 | 2001-07-10 | Gerber Coburn Optical Inc. | Tactile feedback system |
JP4945845B2 (ja) * | 2000-03-31 | 2012-06-06 | 株式会社ニコン | 光学素子保持装置、鏡筒及び露光装置並びにマイクロデバイスの製造方法。 |
WO2001075501A1 (fr) † | 2000-03-31 | 2001-10-11 | Nikon Corporation | Procede et dispositif de soutien d'un element optique, dispositif optique, appareil d'exposition, et procede de fabrication d'un dispositif |
US6400516B1 (en) * | 2000-08-10 | 2002-06-04 | Nikon Corporation | Kinematic optical mounting |
AU2001277758A1 (en) * | 2000-08-18 | 2002-03-04 | Nikon Corporation | Optical element holding device |
WO2002039491A1 (fr) † | 2000-11-10 | 2002-05-16 | Nikon Corporation | Dispositif optique, dispositif d'exposition et leurs procedes de fabrication |
JP2002305140A (ja) * | 2001-04-06 | 2002-10-18 | Nikon Corp | 露光装置及び基板処理システム |
US6674584B2 (en) * | 2001-07-03 | 2004-01-06 | Pts Corporation | Optical surface-mount lens cell |
JP2003029116A (ja) * | 2001-07-13 | 2003-01-29 | Canon Inc | レンズ保持装置、およびレンズ保持装置を組み込んだ投影露光装置 |
US7035056B2 (en) * | 2001-11-07 | 2006-04-25 | Asml Netherlands B.V. | Piezoelectric actuator and a lithographic apparatus and a device manufacturing method |
DE60219871T2 (de) * | 2001-11-07 | 2008-01-17 | Asml Netherlands B.V. | Lithographischer Apparat und Verfahren zur Herstellung einer Vorrichtung |
US20030234916A1 (en) * | 2002-06-21 | 2003-12-25 | Nikon Corporation | Soft supports to reduce deformation of vertically mounted lens or mirror |
WO2004086148A1 (de) * | 2003-03-26 | 2004-10-07 | Carl Zeiss Smt Ag | Vorrichtung zur deformationsarmen austauschbaren lagerung eines optischen elements |
US7477842B2 (en) * | 2004-03-12 | 2009-01-13 | Siimpel, Inc. | Miniature camera |
US7604359B2 (en) * | 2004-05-04 | 2009-10-20 | Carl Zeiss Smt Ag | High positioning reproducible low torque mirror-actuator interface |
-
2004
- 2004-06-07 DE DE602004024302T patent/DE602004024302D1/de not_active Expired - Lifetime
- 2004-06-07 WO PCT/JP2004/007947 patent/WO2004109357A1/ja active Application Filing
- 2004-06-07 CN CN200480020943A patent/CN100576003C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2004-06-07 KR KR1020057023168A patent/KR101281357B1/ko active IP Right Grant
- 2004-06-07 EP EP04745657.9A patent/EP1632799B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2004-06-07 JP JP2005506808A patent/JP4665759B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2004-06-07 AT AT04745657T patent/ATE449978T1/de not_active IP Right Cessation
-
2005
- 2005-12-05 US US11/294,239 patent/US20060139775A1/en not_active Abandoned
-
2006
- 2006-05-25 HK HK06106029.6A patent/HK1084186A1/xx not_active IP Right Cessation
-
2007
- 2007-07-12 US US11/776,942 patent/US7764447B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002519843A (ja) * | 1998-06-20 | 2002-07-02 | カール・ツアイス・スティフツング・トレーディング・アズ・カール・ツアイス | 光学系、特にマイクロリソグラフィの投影露光装置 |
JP2002131605A (ja) * | 2000-08-18 | 2002-05-09 | Nikon Corp | 保持装置、光学素子保持装置、鏡筒及び露光装置並びにマイクロデバイスの製造方法 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016014881A (ja) * | 2007-07-18 | 2016-01-28 | 株式会社ニコン | 露光装置、露光方法、及びデバイス製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7764447B2 (en) | 2010-07-27 |
DE602004024302D1 (de) | 2010-01-07 |
EP1632799A4 (en) | 2006-07-05 |
WO2004109357A1 (ja) | 2004-12-16 |
CN1826547A (zh) | 2006-08-30 |
US20070279768A1 (en) | 2007-12-06 |
EP1632799B2 (en) | 2013-11-20 |
KR20060021339A (ko) | 2006-03-07 |
CN100576003C (zh) | 2009-12-30 |
JPWO2004109357A1 (ja) | 2006-07-20 |
US20060139775A1 (en) | 2006-06-29 |
EP1632799B1 (en) | 2009-11-25 |
EP1632799A1 (en) | 2006-03-08 |
ATE449978T1 (de) | 2009-12-15 |
KR101281357B1 (ko) | 2013-07-02 |
HK1084186A1 (en) | 2006-07-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4665759B2 (ja) | 光学素子保持装置、鏡筒、露光装置、及びデバイスの製造方法 | |
JP4945864B2 (ja) | 保持装置、光学素子保持装置、鏡筒及び露光装置並びにマイクロデバイスの製造方法 | |
US7420752B2 (en) | Holding apparatus | |
US7253975B2 (en) | Retainer, exposure apparatus, and device fabrication method | |
US8498067B2 (en) | Optical element holding apparatus, barrel, exposure apparatus, and manufacturing method for device | |
JP4654915B2 (ja) | 光学素子の保持装置、鏡筒、露光装置、及びデバイスの製造方法 | |
US20080291555A1 (en) | Optical element holding apparatus, barrel, exposure apparatus and device manufacturing method | |
JP2002162549A (ja) | 光学素子保持装置、鏡筒及び露光装置並びにマイクロデバイスの製造方法 | |
JP2003337272A (ja) | 光学系の保持装置、光学素子の位置調整方法、鏡筒及び露光装置並びにデバイスの製造方法 | |
JP2008047622A (ja) | 露光装置、デバイス製造方法及び光学素子の位置を調整する調整方法 | |
JP4586731B2 (ja) | 光学素子保持装置、鏡筒、露光装置、及びデバイスの製造方法 | |
JP2002236242A (ja) | 光学素子保持装置、鏡筒及び露光装置並びにマイクロデバイスの製造方法 | |
JP2005236258A (ja) | 光学装置およびデバイス製造方法 | |
JP4655520B2 (ja) | 光学素子保持装置、鏡筒及び露光装置並びにデバイスの製造方法 | |
JP2005266146A (ja) | 光学素子保持装置、鏡筒及び露光装置並びにデバイスの製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070601 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20091124 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100125 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100413 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100614 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20101214 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20101227 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140121 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4665759 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140121 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |