JP4653588B2 - 露光装置および露光方法 - Google Patents

露光装置および露光方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4653588B2
JP4653588B2 JP2005234540A JP2005234540A JP4653588B2 JP 4653588 B2 JP4653588 B2 JP 4653588B2 JP 2005234540 A JP2005234540 A JP 2005234540A JP 2005234540 A JP2005234540 A JP 2005234540A JP 4653588 B2 JP4653588 B2 JP 4653588B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
temperature
humidity
substrate
exposure
unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2005234540A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2007047687A (ja
Inventor
亮 森田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Orc Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Orc Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Orc Manufacturing Co Ltd filed Critical Orc Manufacturing Co Ltd
Priority to JP2005234540A priority Critical patent/JP4653588B2/ja
Priority to TW095109573A priority patent/TW200707116A/zh
Priority to CNB2006101154619A priority patent/CN100451842C/zh
Publication of JP2007047687A publication Critical patent/JP2007047687A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4653588B2 publication Critical patent/JP4653588B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Description

本発明は、プリント基板あるいは液晶用基板等の基板に、マスクフィルムを介して所定パターンを形成するために露光処理を行う露光装置および露光方法に関するものである。
一般に、プリント基板等の基板およびマスクフィルムは、露光装置の露光部内の温度・湿度等、環境条件によって、その寸法精度が大きく影響されることが知られている。プリント回路技術便覧第2版に記載の「表2.5.3」各種樹脂による積層板(基板)の特性によれば、代表的な基板の一種であるBTレジンでは、XY方向に1〜1.5×10-5cm/cm/℃、Z方向に4〜5×10-5cm/cm/℃となる温度特性を示すとされている。また、同1046ページには、マスクフィルムの温度特性は、1×10-3%/℃、湿度特性は1.4×10-3%/℃と記載されている。すなわち、基板もマスクフィルムも環境に非常に影響され易い特性であることが判る。
このような基板およびマスクフィルムを用いて行う露光工程において、露光直前の整合作業および露光作業時に、マスクフィルムもしくは基板相互の温度、湿度条件が異なると、基板およびマスクフィルムに形成された位置決めマークの位置精度、露光するパターンの位置精度等が変化して、高精度なパターン形成ができないことが問題となっている。
そのため、従来の露光装置では、環境条件に合わせた寸法精度を有するマスクフィルムをその都度取り換えるか、あるいは、露光装置以外の場所において、マスクフィルムと基板を整合するために長時間かけて収斂させる等、双方を同じ条件内に順応させて総合精度をあわせた後に、露光装置により露光工程に移るように取り扱っていた。したがって、露光装置で取り扱う前段階あるいは露光装置内において、環境条件の変化を調整しなかったり、条件の整合作業を割愛すると、基板に転写されたパターンの形状が変化したり、精度が劣化したりすると共に、生産性があがらないという問題があった。
ところで、基材の表面にレジストインクを塗布された基板は、レジストインクを加熱して乾燥した後に露光装置へ投入される。この投入にいたる搬送工程は、ある程度温度・湿度を制御した室内で行われている。また、基板を露光する露光装置は、概略気温23℃、湿度55%前後の空調された環境に設置されているが、当該露光装置にはその構成機構部品に紫外線ランプ、光学系、搬送機構、真空吸着機構、表裏反転機構等、各種の熱源を保有(装備)しているので、露光装置内部の環境、特に温度と湿度条件が非常に不安定であることが多い。さらに、露光作業中は、基板の搬送位置、マスクフィルムの取り付け状態や、表面の清浄度を確認するために、作業者が露光装置の監視扉を開閉する等で、露光装置外部の大気が露光装置内部に流れ込む場合があり、その結果露光装置の内部の環境は非常に不安定であることになる。
一方、基板を作成してから実施の露光装置が設置される場所に運送する運送経路で高温、多湿の環境を経由する場合に、運送経路における環境の影響で基準位置が変化している可能性のある基板では、簡単に整合できない恐れもある。特に連続して露光作業が継続すると、高生産性を追求する余り、露光部内の環境を制御する能力以上に露光のエネルギーが短時間に付与されてしまうので、露光部内の温度がある程度高温、多湿の環境になっている可能性があり、最終的な回路の転写に不良が発生するとか、生産が止まってしまうという事態になる恐れもある。
そこで、従来、特許文献1、または、特許文献2に記載された露光装置により、露光部において、基板とマスク(ガラス素材)の温度が実質的に同一になるように制御した露光装置が提案されている。さらに、特許文献3には、基板およびマスクフィルム(フォトマスク)の位置ずれ量をCCDカメラで検出し、その位置ずれ量から温度/湿度制御装置においてマスクフィルムを伸縮させる温度および/または湿度条件を求め、求められた温度および/または湿度条件を空気調整装置によりマスクフィルムに与える構成が提案されている。
特許第3214494号公報(段落番号0011〜0032) 特許第3286994号公報(段落番号0011〜0032) 特開平6−258848号公報(段落番号0018〜0033、図1)
しかしながら、特許文献1または特許文献2に記載されている露光装置の構成は、プリアライメント部の温度と露光部の温度は実質的に同一に制御されるものの、対象となるマスクがガラス素材についての調整を行う構成であるため、湿度についてはなんら考慮されていない。そのため、従来の露光装置では、プリアライメント部の湿度と露光部の湿度の相違により、露光部におけるマスクフィルムと基板の厳密な位置合せが困難で、厳密に位置合せ作業をするためには、湿度が同じような条件になるまで待たねばならないが、湿度の条件が整うまで、一回ごとの位置合せ作業を待っていたのでは、露光効率の面から現実的でない欠点がある。つまり、露光装置は、マスクフィルムを使用する構成において、プリアライメント部と露光部の温度ばかりでなく、湿度も同一条件に制御されていない構成では、マスクフィルムと基板の位置合せを迅速に行うことができず、生産性を阻害する要因がある。
また、特許文献3に記載された露光装置の構成では、露光部のみでの温度/湿度制御を行っているため、温度湿度の影響を受けやすいマスクフィルムと、マスクフィルムと異なる温度湿度の影響を受ける基板との調整に時間がかかるため、やはりマスクフィルムと基板の位置合せ作業に時間がかかってしまった。そして、特許文献3の構成では、確かに湿度と温度を露光部において調整して対応することはできるが、各基板との対応においてマスクフィルムの調整を行っているため、基板の伸縮状態あるいはマスクフィルムの伸縮状態に、その都度合わせて調整することになり、調整作業を行った単位ごとに基板とマスクフィルムの精度が異なってしまうことを回避できなかった。
さらに、プリアライメント部の構成において、基板を吸着して搬送するハンドラや予備位置決め機構等の各構成が可動するため、適正な位置で温度および湿度の検出を行う必要があるが、前記した各特許文献にはプリアライメント部での構成が全く記載されていない。なお、プリアライメント部および露光部において、基板あるいはマスクフィルムに温度および湿度の供給を行う場合に、各構成が可動する位置において、効率および塵埃等を考慮する必要があり、特許文献1または特許文献2のように露光ステージ以外で新たに設置した位置で温度の調整を行うものでは対応できなかった。
本発明は、前記した問題点に鑑み創案されたものであり、基板とマスクフィルムの精度が温度および湿度の調整作業ごとに異なることなく、輸送経路の影響および露光装置内部の環境の変化に対応して調整でき、また、プリアライメント部を備える露光装置であっても、温度および湿度の検出ならびに供給を適切な位置において行うことができる露光装置および露光方法を提供することを課題とする。
前記課題を解決するために、本発明に係る露光装置は、マスクフィルムを保持する焼枠に対向する位置に設置した露光テーブルで搬送された基板を露光処理する露光部と、この露光部の直前に配置され前記基板の端面を押動する押動ピン移動部により予備位置決めを行うプリアライメント部と、を備える露光装置において、温度調整手段と、湿度調整手段と、基板温度湿度検出手段と、マスク温度湿度検出手段と、温度湿度制御手段と、を備える構成とした(請求項1)。
このように構成した露光装置では、基板がプリアライメントに投入されると押動ピン移動部を介して基板の端面が押動されて予備位置決め作業が行われると共に、基板温度湿度検出手段により基板表面側に対応する温度および湿度が検出され、検出された値が温度湿度制御手段に送られる。また、露光部では、マスクフィルムの表面側の温度および湿度がマスク温度湿度検出手段により検出され、検出された値が温度湿度制御手段に送られる。そして、露光装置の温度湿度制御手段では、予め設定された基準温度の値および基準湿度の値(記憶手段に記憶している基準値)と、送られてきた温度および湿度の値と、により露光部のマスクフィルムあるいはプリアライメント部の基板に基準温度および基準湿度になるように、温度調整手段および湿度調整手段を制御する。そのため、基板およびマスクフィルムは、常に基準温度および基準湿度に近づくように、温度湿度制御手段を介して、温度調整手段および湿度調整手段により調整されることになる。
また、前記露光装置において、前記温度調整手段は、プリアライメント部の予備位置決めを行う位置と、露光部の前記露光テーブルの基板を載置する位置とに配置されて前記基板の下面に当接する当接板と、この当接板に当接して設けられ、設定した温度に当該当接板を温度調節する冷媒の配管路と、この配管路を流通する冷媒の温度を調節する冷媒温度調節手段と、を備え、前記プリアライメント部の当接板は、基板を所定位置まで搬入する送りローラに対応して形成された貫通穴を、前記送りローラに挿通させた状態と、当該当接板の板表面を、前記送りローラの上端より上昇させた状態となるように、当該基板を昇降移動させる昇降機構を介して支持される構成とした(請求項2)。
このように構成した露光装置では、基板がプリアライメントの送りローラにより送られ所定位置で停止すると、昇降機構が作動して当接板を送りローラの上端より上昇させることで、当該当接板が基板を送りローラから受け取って載置する状態となり、基板と当接板とが面接触する状態となる。一方、露光部では、基板がハンドラ等により搬送されてきて露光テーブルに載置されると、その載置面が当接板として基板と面接触する状態となる。そして、当接板は、冷媒温度調節部により温度が調節された冷媒を流通させる配管路により温度調節されて基板を基準温度になるようにしている。
さらに、前記露光装置において、前記湿度調整手段は、前記プリアライメント部または前記露光部から隔てて設けられ、設定される湿度を空気に含ませる湿潤室と、この湿潤室の湿度および温度を検出する湿潤室温度湿度検出手段と、この湿潤室温度湿度検出手段で検出した温度および湿度に基づいて前記湿潤室内の温度および湿度を調節する湿潤室調節部と、この湿潤室調節部により調節された湿度を含んだ湿度調節空気を送風するための送風手段と、この送風手段により送風される前記湿度調節空気を前記プリアライメント部および前記露光部に送る送風流路と、を備える構成とした(請求項3)。
このように構成した露光装置は、プリアライメント部あるいは露光部とは異なる場所にある湿潤室において、設定される湿度を含む空気である湿度調節空気が湿度室調節部により調節される。そして、露光装置は、調節した湿度調節空気を送風手段により送風流路を介してプリアライメント部あるいは露光部に送風している。
そして、前記露光装置において、前記湿潤室と前記アライメント部の間、および、前記湿潤室と前記露光部の間には、循環流路を備え、前記循環流路は、前記湿潤室から前記アライメント部および前記露光部に連通する前記送風流路と、前記アライメント部から湿潤室および前記露光部から湿潤室に連通する回収流路とを有し、前記送風流路は、その送風口を、前記露光部において前記マスクフィルムの上方側に設置すると共に、前記プリアライメント部において前記基板の上方側に設置し、前記回収流路は、前記プリアライメント部の床面側および前記露光部の床面側に設けた排気口と、この排気口から前記湿潤室にフィルタを介して循環させる循環路と、前記排気口から前記循環路中の所定位置に設けた排気ファンと、を備える構成とした(請求項4)。
このように構成した露光装置は、湿潤室内で調節した湿度調節空気を、送風手段により送風流路を介して送風口から送風することで、基板またはマスクフィルムの上方側から供給して、当該基板または当該マスクフィルムの少なくとも一方の温度湿度を調整している。また、アライメント部または露光部に供給される湿度調節空気は、基板またはマスクフィルムの上方側から供給され、床面側の排気口からフィルタ、循環路を介して湿潤室に循環され、プリアライメント部および露光部において空気の流れが、常に、基板またはマスクフィルムの上から下に向かって形成される。
また、前記露光装置において、前記温度湿度制御手段は、前記湿潤室温度湿度検出手段で検出した温度および湿度と、前記温度湿度検出手段により検出したプリアライメント部および露光部の温度および湿度と、前記基板ならびに前記マスクフィルムの基準温度および基準湿度と、に基づいて、前記湿潤室の送風手段および湿潤室調節部を制御する構成とした(請求項5)。
このように構成した露光装置は、湿潤室と、プリアライメント部および露光部と、における温度および湿度の状態を調節して、マスクフィルムおよび基板の基準温度および基準湿度に調整することができる。
さらに、前記露光装置において、前記基板温度湿度検出手段は、前記プリアライメント部において、前記基板の端面を押動する前記押動ピン移動部に温度および湿度を検出するセンサを配置するとともに、前記露光テーブルの基板に当接する位置に当該基板の温度を検出するセンサを配置し、前記マスク温度湿度検出手段は、前記露光部において、マスクフィルムを保持する焼枠に温度および湿度を検出するセンサを配置するとともに、前記マスクフィルムに透光板を介して当接して当該マスクフィルムの温度を検出するセンサを配置する構成とした(請求項6)。
このように構成した露光装置は、基板またはマスクフィルムに近い位置にセンサがあることによりにより、基板またはマスクフィルムの表面側に影響する温度あるいは湿度を検出することができる。
また、露光方法としては、マスクフィルムを保持する焼枠に対向する位置に設置した露光テーブルで搬送された基板を露光処理する露光部と、この露光部の直前に配置され前記基板の端面を押動する押動ピン移動部により予備位置決めを行うプリアライメント部と、を備える露光装置を用いて、前記基板を露光する露光方法において、前記プリアライメント部に位置する前記基板の表面側に対応する温度および湿度を検出すると共に、前記露光部における前記マスクフィルムの表面側に対応する温度および湿度を検出するステップと、検出した前記基板の表面側に対応する温度と湿度および前記マスクフィルムの表面側に対応する温度と湿度と、予め設定された基準温度および基準湿度との差分を算出するステップと、算出した差分に基づいて、前記プリアライメント部および前記露光部の温度を調整すると共に、前記プリアライメント部および前記露光部の少なくとも一方の湿度を調整するステップと、前記プリアライメント部および前記露光部の温度および湿度が、調整した温度および湿度の条件になった後に、前記プリアライメント部の基板を前記露光部に搬送して前記露光部において露光処理を行うステップと、を含むこととした(請求項7)。
このような手順による露光方法では、基板またはマスクフィルムの基準温度および基準湿度になるように調整した後に、基板とマスクフィルムの位置合せ作業(整合作業)および露光作業の両作業(露光処理)を行うことで、基板またはマスクフィルムのいずれかに統一した状態で基板にマスクフィルムのパターンの形成を行うことができる。
本発明に係る露光装置および露光方法では、以下に示すように優れた効果を奏するものである。
露光装置は、基板の表面側およびマスクフィルムの表面側に対応する温度および湿度を検出し、基板およびマスクフィルムの基準温度および基準湿度になるように、プリアライメント部あるいは露光部の温度または湿度を調整しているため、処理ロット単位においてばらつきがなく、かつ、高精度のパターンを基板に形成することができる。併せて、露光装置の稼働率を高めることができる。
露光装置は、プリアライメント部および露光部において、温度調整手段の当接板が基板に面接触して温度を調整することができるため、基板を基準温度に迅速に近づけることができる。また、プリアライメント部および露光部に当接板を設置しているため、ハンドラ等の搬送手段により搬送されても、一度調整した基板の温度の変化を最小限に抑えることができる。
露光装置は、湿潤室で湿度を調節した湿度調節空気をプリアライメント部あるいは露光部に送風手段および送風流路により供給しているため、基板およびマスクフィルムの基準湿度および基準温度に迅速かつ的確に近づけた状態で露光処理することができる。
露光装置は、基板またはマスクフィルムに供給する湿度調節空気を基板またはマスクフィルムの上方から送風して床面側の排気口から排気し湿潤室に循環している。そのため、露光装置は、各部内において空気の流れが上から下に向かうことになり粉塵の影響を最小限に抑えることができる。また、プリアライメント部および湿潤室と、露光部および湿潤室とを湿度調節空気を循環させることにより、当該露光装置を設置しているクリーンルームの環境に影響を与えることを最小限にすることができる。
露光装置は、基板およびマスクフィルムに近接あるいは当接した位置にセンサを配置して温度または湿度を検出しているため、基板またはマスクフィルムの表面側に実質的に近い温度および湿度を検出して、基準温度および基準湿度に調整することができる。そのため、露光装置は、高精度のパターンを基板に形成することができる。
露光方法は、基板およびマスクフィルムの基準温度および基準湿度に近づけるまで、実際のアライメント部および露光部の温度あるいは湿度の差分から算出した値に基づいて、プリアライメント部あるいは露光部の温度または湿度を調整しているため、基板またはマスクフィルムの基準温度あるいは基準湿度の少なくとも一方に統一した状態で、高精度のパターンを基板に形成することができる。
以下、本発明に係る露光装置および露光方法を実施するための最良の形態について図面を参照して説明する。
図1は露光装置の全体を模式的に示すブロック図、図2は露光装置の構成を模式的に示す模式図、図3はプリアライメント部を示す一部を切欠いた状態の斜視図、図4は露光装置の予備位置決め機構を露光部側から示す正面図、図5は露光装置のアライメント部および露光部において基板に面接触して冷媒による温度調整を行う温度調整手段を示すと共に、基板温度湿度検出手段ならびにマスク温度湿度検出手段を示す模式図である。
図1および図2に示すように、露光装置1は、プリアライメント部10と、第1露光部20と、反転部30と、第2露光部40と、搬出部50と、温度湿度調整部60と、制御部80と、を備えている。なお、図2では、温度湿度調整部60および制御部80は、便宜上、露光装置1の左端側および右端側に隣り合うように記載されているが、プリアライメント部10に基板Wの搬入あるいは搬出部50からの基板Wの搬出が邪魔にならない位置に実際は設置されている。また、露光装置1は、ここでは、基板Wの両面を順次露光する両面露光装置を一例として説明するが、もちろん片面露光装置の構成であっても構わない。
プリアライメント部10は、基板Wを搬入して基板Wを露光部20で位置決めし易いように予備位置決め作業を行うための処理機構である。このプリアライメント部10は、図2ないし図4に示すように、基板Wを受け取る搬入ロール11と、基板Wを所定位置まで送る送りローラ12と、この送りローラ12の駆動機構13と、送りローラ12から基板Wを受け取り基板Wの予備位置決め作業を行う予備位置決め機構14と、基板Wを載置する当接板14aを昇降自在に支持する昇降機構15と、基板Wの表面側に対応する温度および湿度を検出する基板温度湿度検出手段16と、湿度が調節された湿度調節空気の供給部17、送風口18および排気口19とを備えている。
図3に示すように、送りローラ12は、搬入ロール11から搬入された基板Wを受け取り、所定位置まで搬送するものであり、所定間隔に配置された回転軸に所定間隔でローラが支持されている。なお、送りローラ12は、駆動機構13により駆動することなく、従動するだけのものも設置されている。
駆動機構13は、駆動モータからの回転を、駆動ベルト等を介して回転軸を回転させるものである。
予備位置決め機構14は、基板Wの端面を押動して所定位置に基板Wを予備位置決めするものである。この予備位置決め機構14は、基板Wを載置する当接板14a上の基板Wの端面を押動する押動ピン移動部14bと、当接板14aに形成した空気孔14cから空気の噴出(および吸引)を行うエア機構14dとを備えている。そして、当接板14aに形成された空気孔14cは、載置される基板Wが基板投入方向に空気の噴出で送られるように(図7(c)参照)、傾斜して形成されている。
図3および図4に示すように、押動ピン移動部14bは、基板投入方向に対向する位置で、基板Wの端面合せの基準位置と、基板Wの基板投入方向に対して左右となる位置の3箇所に配置されている。この押動ピン移動部14bは、基板Wの端面を押動する押動ピン14b1と、この押動ピン14b1を設置する本体部14b2と、この本体部14b2に設けられた脚部14b3(駆動ベルト用),14b4(案内バー用)と、この脚部14b3,14b4に対応して接続されるガイド部14b5(駆動ベルト),14b6(案内バー)と、このガイド部14b5,14b5を、介在駆動部14b7を介して一つの駆動源により駆動させる駆動部14b8とを備えている。
また、押動ピン移動部14bは、基準位置に配置されているものは、移動させても、移動させなくてもよく、基板Wの予備位置決めの基準位置に押動ピン14b1を配置させていると共に、基板温度湿度検出手段16を取付けている。なお、図4に示すように、送りローラ12、押動ピン移動部14bおよびエア機構14d、昇降機構15等は、アライメント制御部A1により制御されて動作する。
図5に示すように、当接板14aは、予備位置決めを行う位置で、後記する温度調整手段61Aの冷媒を流通する配管路63がその内部または裏面に直接または間接的に当接した状態で設置され、かつ、昇降機構15により支持されている。この当接板14aは、送りローラ12に対応する位置に形成した貫通穴14a1と、押動ピン移動部14bの押動ピン14b1が挿通できる位置に形成された切欠き長孔14a2と、すでに説明した空気孔14cおよび後記する配管路63を備えている。
当接板14aは、基板Wを載置したときに面接触して温度調整手段61Aから送られる冷媒により基板Wの温度の調節を行うと共に、送りローラ12から基板Wを受け取り載置して、予備位置決め作業を行うときに用いられ、さらに、基板Wをハンドラ2に受け渡すときに用いられる。なお、当接板14aは、基板Wと当接する位置に基板Wの温度を検出する基板温度検出手段(16a)を設ける構成としても構わない。さらに、当接板14aは、昇降機構15に支持さており、ここでは少なくとも3段階の位置となるように昇降移動する。
つまり、基板Wを送りローラ12により所定位置に送っているときには、当接板14aの移動下端となるように、昇降機構15は、当接板14aの板表面が送りローラ12の上端より下となる位置にすることと、また、送りローラ12上の基板Wを受け取り板表面が送りローラ12の上端より上となる位置にすること、あるいは、予備位置決めした基板Wをハンドラ2に受け渡すときに移動上端となる位置にすることの3段階の位置に、当接板14aを昇降移動させる。この昇降機構15は、当接板14aを昇降移動させるための昇降駆動部15aと、この昇降駆動部15aに接続される介在板15bと、この介在板15bと当接板14aを接続する接続ピン15cとを備えている。なお、この昇降機構15は、当接板14aを昇降移動できるものであれば、その構成を限定されるものではない。
図3ないし図5に示すように、基板温度湿度検出手段16は、基板Wの表面側に対応する温度および湿度を検出するものであり、一般的に使用される温度センサあるいは湿度センサまたは温度湿度センサを用いている。この基板温度湿度検出手段16は、基板Wの裏面あるいは端面の近傍になるように、押動ピン移動部14bに設置されている。なお、基板Wに当接して基板Wの温度を検出する基板温度検出手段(16a)を有する場合、当接板14aの表面側で基板Wと当接する位置に、基板温度検出手段(16a)が設置されることになり、一般的に使用される温度センサが用いられる。基板温度湿度検出手段16により検出された温度および湿度(基板温度検出手段16aにより検出された温度)は、後記する制御部80(図1参照)に出力される。
図2に示すように、供給部17は、後記する湿潤室65内で調節された湿度調節空気をプリアライメント部10内に送風口18を介して供給するためのものであり、フィルタ等を備えている。また、送風口18は、当接板14a上に待機しているハンドラ2の側方でハンドラ2の移動の妨げにならない位置に配置されている。さらに、プリアライメント部10内の空気を排気する排気口19は、送りローラ12等を設置している床面側に設けられ、フィルタ(図示せず)および排気ファン74を介してプリアライメント部10内の空気を排気するものである。
つぎに、露光部20,40の構成を説明する。図2に示すように、露光部20,40は、基板Wの整合作業(位置決め作業)および露光作業(整合作業および露光作業を合わせて露光処理という)を行う処理機構である。なお、露光部20,40は同等の構成であるため、ここでは露光部20について説明を行う。
露光部20は、ハンドラ2によりプリアライメント部10から搬送された基板Wを載置する露光テーブル21と、この露光テーブル21の上方に配置されたマスクフィルムMを保持する焼枠22と、この焼枠22の上方に配置された反射ミラー等の反射光学系を介して基板Wに紫外線を含む光を照射するための光源部23と、マスクフィルムの表面側に対応する温度および湿度を検出するマスク温度湿度検出手段24と、供給部25と、光源部23の側方に配置された送風口26と、露光テーブル21を設置した床面側に配置された排気口27と、整合作業に使用されるCCDカメラ(撮像手段)21D(図5参照)を備えている。
図5に示すように、露光テーブル21は、基板Wを載置したときに、基板Wと当接する位置に当接板21aが設置されていると共に、当接板21aの近接した所定位置に基板Wに直接当接して温度を測定する基板温度検出手段21bが設置されている。また、露光テーブル21は、基板Wの位置決め作業を行うためのCCDカメラ21Dを含む整合機構21cと、基板WとマスクフィルムMとを当接させるための昇降移動部21dとを備えている。さらに、露光テーブル21の当接板21aの裏面側には、温度調整手段61Aの冷媒温度調節部61により温度の調節された冷媒を循環させる配管路64が、直接または間接的に当接した状態で設けられている。また、露光テーブル21は、基板Wを吸着保持する吸着孔(図示せず)、マスクフィルムMと基板Wが真空密着するときの真空機構等(図示せず)を備えている。
マスクフィルムMを保持する焼枠22は、中央が開口する額縁形状に形成された枠体22aと、この枠体22aの開口部分に支持される透光板22bとを備えており、透光板22bにマスクフィルムMを着脱自在に取付けている。また、焼枠22の枠体22aには、マスク温度湿度検出手段24が設置されると共に、透光板22bには、マスク温度検出手段24aが設置されている。
光源部23は、基板Wに所定波長の紫外線を含む光を照射するためのもので、紫外線ランプ、フライアイレンズ、反射鏡、放物面反射鏡等(図示せず)の構成部材を有する一般的な光学系を備えるものであり、基板Wに平行光を照射できるものであれば、その構成部材の数、配置について特に限定されるものではない。
図2ないし図5に示すように、マスク温度湿度検出手段24は、マスクフィルムMの表面側に対応する温度および湿度を検出するものであり、一般的に使用される温度センサおよび湿度センサまたは温度湿度センサを用いている。このマスク温度湿度検出手段24は、マスクフィルムMになるべく近い位置となるように枠体22aに設置されている。また、マスクフィルムMに当接する透光板22bに設置されマスクフィルムMの温度を検出するマスク温度検出手段24aは、一般的に使用される温度センサである。
なお、マスク温度湿度検出手段24およびマスク温度検出手段24aは、照射光に対して直接影響のないように設置されている。
マスク温度湿度検出手段24により検出された温度および湿度と、マスク温度検出手段24aにより検出された温度は、後記する制御部80(図1参照)に出力される。
図2に示すように、供給部25は、湿潤室65内で調節された湿度調節空気を露光部20内に送風口26を介して供給するためのものであり、フィルタ等(図示せず)を備えている。また、送風口26は、焼枠22上に配置された光源部23の側方に配置されている。さらに、露光部20内の空気を排気する排気口27は、露光テーブル21等を設置している床面側に設けられ、フィルタ(図示せず)および排気ファン74を介して露光部20内の空気を排気するものである。
図2に示すように、反転部30は、ハンドラ2から受け取った基板Wを保持し、基板Wの表裏を反転する処理機構であり、基板Wの表裏が反転することができれば、特にその構成を限定されるものではない。
また、搬出部50は、露光処理が終了した基板Wを装置外に搬出するものであり、特にその構成を限定されるものではない。
図1および図2に示すように、温度湿度調整部60は、プリアライメント部10および露光部20,40の温度および湿度を調整するものであり、温度調整手段61Aの冷媒温度調節部61と、湿度調整手段65Aの湿潤室65と、この湿潤室65内の湿度および温度を検出する湿潤室温度湿度検出手段66と、この湿潤室温度湿度検出手段66で検出した温度および湿度に基づいて湿潤室65内の温度および湿度を調節する湿潤室調節部67と、この湿潤室調節部67により調節された湿度を含んだ湿度調節空気を、プリアライメント部10および露光部20,40に送風する送風手段68と、を備えている。
なお、ここでは、湿度調整手段65Aは、湿潤室65と、湿潤室温度湿度検出手段66と、湿潤室調節部67と、送風手段68と、送風流路70Aとを備えている。また、温度調整手段61Aは、冷媒温度調節部61と、配管62を介して設けた配管路63,64(図5参照)と、配管路63に直接または間接的に当接して設けた当接板14aと、配管路64に直接または間接的に当接して設けた当接板21aとを備えている。
図2および図5に示すように、冷媒温度調節部61は、プリアライメント部10の当接板14a、および、露光部20(40)の当接板21a(41a)に配管62および配管路63、64を介して循環させる冷媒の温度を調節するものである。この冷媒温度調節部61は、後記する制御部80から制御されて冷媒の流速と冷媒の温度を調節できるように構成されている。なお、図5に示すように、冷媒温度調節部61から当接板14a,21a,41aの直下の配管路63,64までを接続する配管62の所定位置には、冷媒流量調整バルブ62a〜62eが適宜設置されており、制御部80を介して流量調整するときに用いられる。なお、当接板14a,21a,41a、配管路63,64および冷媒温度調節部61は、ここでは、基板Wの温度を調整する温度調整手段としている。
図2に示すように、湿潤室65には、所定の温度で所定の湿度を含む空気である湿度調節空気を発生させる湿潤室調節部67と、この湿潤室調節部67により発生させた湿度調節空気の温度および湿度を検出する湿潤室温度湿度検出手段66と、湿潤室調節部67により発生させた湿度調節空気をプリアライメント部10あるいは露光部20,40に送風するための送風手段68とが設置されている。
湿潤室温度湿度検出手段66は、湿潤室65内の温度および湿度を検出して、その検出した値を後記する制御部80に出力するものである。
湿潤室調節部67は、空気中に水分を蒸発させた水蒸気を放出すると共に、湿潤室65内の温度を調節するものである。この湿潤室調節部67は、湿潤室温度湿度検出手段66で検出された温度および湿度に基づいて、後記する制御部80により制御されて所定の湿度を含む所定の温度の空気である湿度調節空気を発生させることができるものであれば、その構成を限定されるものではい。
送風手段68は、湿潤室調節部67で発生させた湿度調節空気をプリアライメント部10あるいは露光部20,40に送るためのものであり、ここでは、送風ファンを使用している。
図2および図6に示すように、湿潤室65の湿度調節空気は、循環流路70を用いてプリアライメント部10または露光部20,40に送られる。
循環流路70は、湿潤室65とプリアライメント部10の間、および、湿潤室65と露光部20,40の間に設けた送風流路70Aと、プリアライメント部10と湿潤室65の間、および、露光部20,40と湿潤室65の間に設けた回収流路70Bとを備えている。
送風流路70Aは、湿潤室65の送風手段68により送風した湿度調節空気の送風開口部71と、この送風開口部71に向かって送風された湿度調節空気を各流路に分岐する分岐部72と、この分岐部72により分岐される送風路73,73,73と、各送風路73を介して送られてくる湿度調節空気を、プリアライメント部10に供給する供給部17、および、露光部20,40に供給する供給部25,45と、供給部17から供給される湿度調節空気をプリアライメント部10において基板Wに送風する送風口18と、供給部25,45から露光部20,40のマスクフィルムMに送風する送風口26,46と、を備えている。なお、分岐部72あるいは、各供給部17,25,45には、送風流量を調整する風量調整機構(図示せず)が設けられている。風量調整機構は、例えば、送風路の送風面積を調整できる弁あるいはシャッタである。
回収流路70Bは、プリアライメント部10の床面側に設けられた排気口19、露光部20,40の床面側に設けられた排気口27,47に接続される循環路75,75,75と、この循環路75,75,75の所定位置に設置した排気ファン等の排気手段74,74,74と、この各排気手段74を介して循環路75,75,75により送られてくる空気を合流させ湿潤室65内に供給する循環回収部76と、を備えている。なお、排気口19,27,47には、塵埃等を付着して除去するためのフィルタを設ける構成とすると都合がよい。
図1および図2に示すように、制御部80は、温度湿度取得手段81と、記憶手段83と、温度湿度制御手段82と、を備えている。この制御部80は、タッチパネルあるいはキーボード等の入力手段84と、入力手段84で入力する情報あるいは検出された温度湿度等を表示する液晶画面等の表示手段85が接続されている。
温度湿度取得手段81は、基板温度湿度検出手段16、(基板温度検出手段16a、)マスク温度湿度検出手段24,44、マスク温度検出手段24a,44a、基板温度検出手段21b,41b、湿潤室温度湿度検出手段66で検出された温度あるいは湿度を取得し、温度湿度制御手段82に取得した温度および湿度の情報(値)を出力している。
温度湿度制御手段82は、温度湿度取得手段81から送られてくる温度および湿度と、記憶手段83に記憶して予め設定された基準温度あるいは基準湿度に基づいて、湿潤室調節部67、送風手段68、および、冷媒温度調節部61を制御するものである。
温度湿度制御手段82は、基板WあるいはマスクフィルムMの表面側で検出した検出温度を基準温度に近づけるようにする場合は、検出した検出温度から基準温度を減算(または基準温度−検出温度)して、差分が「0」に近づくように冷媒温度調節部61を介して冷媒の温度を調節するように制御している。すなわち、温度湿度制御手段82は、検出温度がT4で、基準温度がT2であったときには、T4−T2の演算を行い、温度差をなくすように冷媒の温度を冷媒温度調節部61により調節する制御を行う。
温度湿度制御手段82は、冷媒温度調節部61を制御して冷媒の温度を調節する場合、ここでは、冷媒温度を基準温度T2となるように冷媒温度調節部61を介して調節して、検出温度が基準温度T2になるまで温度T2の冷媒を循環させるように制御を行っている。なお、温度湿度制御手段82は、検出温度と基準温度との温度差が、前記と同様にT4−T2がプラスだった場合に、基準温度T2より低いT1の温度とした冷媒を基準温度T2になるまで循環させる制御を行い、検出温度がT2になった時点あるいはなる直前に冷媒温度をT2にするように冷媒温度調節部61を制御しても構わない。また、検出温度が基準温度より低い場合には、基板Wが基準温度になるようにするため、温度湿度制御手段82は、冷媒の温度を上げるように、冷媒温度調節部61を制御する。
温度湿度制御手段82は、マスク温度湿度検出手段22,44と、マスク温度検出手段24a、44aからの検出温度が送られてきたときに、マスク温度検出手段24a、44aの検出温度を優先して使用する。
さらに、温度湿度制御手段82は、基板WあるいはマスクフィルムMの表面側で検出した検出湿度を基準湿度に近づけるようにする場合は、検出した検出湿度から基準湿度を減算(または基準湿度−検出湿度)して、差分が「0」に近づくように湿潤室調節部67および送風手段68を介してプリアライメント部10内あるいは露光部20,40内の湿度を制御している。
すなわち、温度湿度制御手段82は、検出湿度がH2で、基準湿度がH4であったときには、H2−H4の演算を行い、(この場合は加湿)湿度差をなくすように湿潤室65内の湿潤室調節部67により湿潤室65内に所望の湿度調節空気を発生させて(調節して)、送風手段68等によりプリアライメント部10あるいは露光部20,40に送り湿度を調節する制御を行う。
温度湿度制御手段82は、ここでは、湿潤室調節部67を介して湿度を調節する制御を行う場合、湿潤室内の湿度調節空気が基準湿度H4となるように調節して、検出湿度が基準湿度H4になるまで湿度H4の湿度調節空気を送風する。なお、湿度調節空気を送風する場合には、マスクフィルムMまたは基板Wの温度にも影響するため、湿度調節空気の温度も調節した状態(基準温度T2であれば湿度調節空気はT2の温度)で送風する。
また、温度湿度制御手段82は、検出湿度と基準湿度との湿度差が、前記と同様にH2−H4だった場合に、基準湿度H4より高いH5の湿度とした湿度調節空気を基準湿度H4になるまで送風して、検出温度がH4になった時点あるいはなる直前に湿度調節空気をH4にするように湿潤室調節部67および送風手段68を制御するようにしても構わない。同様に、検出湿度が基準湿度より高い場合には、湿度調節空気は、検出湿度より乾燥した状態となるように湿潤室で調節されて、すでに説明したようにして送風される。
なお、温度湿度制御手段82では、送風手段68の制御を行う場合、プリアライメント部10あるいは露光部20,40に送風する送風量を変えるために、送風手段68が送風ファンの構成であれば回転数を制御するとともに、分岐部72あるいは各供給部17,25,45の図示しない風量調整機構を制御し、各送風路73,73,73に送り出す送風流量が適切となるようにしている。そして、送風手段68の送風量が変わったときに、プリアライメント部10あるいは露光部20,40に供給される湿度調節空気の流量が予め分かるように設定されている。
以上説明したような構成である露光装置1では、同じ製品単位で精度が揃うように、ロット単位が異なっても、同じ精度で露光処理できるように、はじめに露光処理する基板WあるいはマスクフィルムMの基準温度および基準湿度に対応させて温度および湿度の調整を行っている。なお、露光処理スピードを考慮すると、はじめに露光処理する基板Wの基準温度および基準湿度に対応させて温度および湿度の調整を行うと都合がよい。
つぎに、露光装置1を用いた露光方法について説明する。なお、ここでは、基板WおよびマスクフィルムMの基準温度および基準湿度は同じ値として説明する。
はじめに、図1に示すように、露光装置1では、制御部80の記憶手段83に、露光処理する基板Wの基準温度および基準湿度、その基板Wに対応するマスクフィルムMの基準温度および基準湿度が入力手段84を介して入力されている。
図3および図7(a)に示すように、露光装置1は、プリアライメント部10に基板Wが投入されると、搬入ロール11がセンサ等により作動して基板Wを送りローラ12に送り込み、基板Wを受け取った送りローラ12により、さらに基板Wを基準位置まで搬送する。
図7(b)に示すように、露光装置1は、基板Wが基準位置に搬送されると、昇降機構15を介して、当接板14aの板表面を、送りローラ12の上端位置より上になるように上昇させ、基板Wを送りローラ12から当接板14aに受取る。
そして図7(c)に示すように、露光装置1は、エア機構14d,押動ピン移動部14bを作動させ、基板Wの端面を押動することで予備位置決め作業が行われる。なお、予備位置決め作業までの一連の動作は、図4に示すように、アライメント制御部A1を介して行われる。
この予備位置決め作業を行っているときに、押動ピン移動部14bに設置された基板温度湿度検出手段16により基板Wの表面側に対応する温度および湿度が検出されて制御部80の温度湿度取得手段81に送られる。
一方、予備位置決め作業が行われているときに、露光部20,40では、マスク温度湿度検出手段24およびマスク温度検出手段24aによりマスクフィルムMの表面側に対応する温度と湿度が検出されて制御部80の温度湿度取得手段81に送られる。
つまり、図8に示すように、プリアライメント部10の基板Wの表面側に対応する温度および湿度と、露光部20,40のマスクフィルムMの表面側に対応する温度および湿度が検出され(ステップS1)制御部80に送られる。
つぎに、検出された温度および湿度が温度湿度取得手段81を介して、温度湿度制御手段82に送られると、温度湿度制御手段82は、予め記憶手段83に記憶させてあった基板Wの基準温度および基準湿度と、マスクフィルムMの基準温度および基準湿度と、検出された基板の検出温度および検出湿度ならびに検出されたマスクフィルムMの基準温度および基準湿度から差分値を演算する。ここでは、温度湿度制御手段82は、基板WおよびマスクフィルムMの検出温度から基準温度を減算して差分値を求め、かつ、基板WおよびマスクフィルムMの検出湿度から基準湿度を減算して差分値を求め、その求めた温度および湿度の差分値が「0」であるかどうか比較している(図8:ステップS2)。
そして、露光装置1は、基板Wの温度の差分値が「0」でない場合には、その差分値に基づいて、温度湿度制御手段82の制御により冷媒温度調節部61を介して冷媒の温度および冷媒の流速、流量等を調節して、基板Wの検出温度と基準温度との差分をなくすようにする。また、同様にマスクフィルムMの温度の差分値が「0」でない場合には、その差分値に基づいて、温度湿度制御手段82の制御により湿潤室調節部67を介して、露光部で検出した検出湿度を維持した状態で、温度を調節した湿度調節空気を送風手段68および送風流路70Aを用いてマスクフィルムM側に送風して、マスクフィルムMの温度の差分値が「0」になるように調整する。
また、露光装置1は、基板Wの湿度の差分値が「0」でない場合(温度の差分値0のとき)には、その差分値に基づいて、温度湿度制御手段82の制御により湿潤室調節部67を介して、プリアライメント部10で検出した検出温度を維持した状態で、湿度を調節した湿度調節空気を送風手段68および送風流路70Aを用いて基板W側に送風して、基板Wの湿度の差分値が「0」になるようにする。同様に、マスクフィルムMの湿度の差分値が「0」でない場合(温度の差分値0のとき)には、温度湿度制御手段82の制御により湿潤室調節部67を介して、露光部20、40で検出した検出温度を維持した状態で、湿度を調節した湿度調節空気を送風手段68および送風流路70Aを用いてマスクフィルムMに送風して、マスクフィルムMの湿度の差分値が「0」になるように調整する。
露光装置1は、湿度を調整するときに、温度も調整する場合には、温度を調節した湿度調節空気を送風している。
露光装置1では、このように、プリアライメント部10および露光部20,40温度または湿度を調整(ステップS3)することで、基板WおよびマスクフィルムMの伸縮を調整して条件が整った場合に、ハンドラ等に信号出力(ステップS4)して、つぎの動作を開始し、基板Wを露光部20に搬送し、その後、露光処理(整合作業および露光作業)を行って基板Wの一方面にマスクフィルムMのパターンを形成する。なお、露光部20,40の露光テーブル21、41は、基板Wがない状態であっても冷媒温度調節部61により冷媒の温度、流速、流量の調節が行われ基準温度になるように調整されている。
そして、露光装置1は、温度および湿度の調整が終了して基板Wの一方面の露光処理が終了すると、ハンドラ2により反転部30に基板Wを搬送し、また、プリアライメント部10で予備位置決めされた次の基板Wを露光部20の露光テーブル21に搬送し、露光処理が行われ、連続して基板Wが露光処理される。なお、反転部30に搬送された基板Wは、表裏が反転されて、ハンドラ3により第2露光部(露光部)40に搬送されて、他方面が一方面と同様に露光処理され、ハンドラ3により第2露光部40から搬出部50に搬送されて露光装置1から搬出される。また、プリアライメント部10で待機している基板Wは、その待機しているときに、温度と湿度の調整が行われることになる。
なお、露光装置1は、露光作業を行い光源部23から所定波長の紫外線を含む光が照射されると、露光部20,40内の温度および湿度の条件が、先に調整した条件と異なる状態になる。そのとき、マスク温度湿度検出手段24,44およびマスク温度検出手段24a,44aにより検出される温度および湿度が変化するので、制御部80の温度湿度制御手段82を介して、湿潤室調節部67、送風手段68を制御して変化状況に対応して温度および湿度の調整するように制御を行っている。
また、露光作業を行うワンロット中における基板Wの作業を行っている最中に操作を止めて、当該露光装置1の側面等に形成されている側面扉(図示せず)を開口して内部の状態について検査等を行う場合がある。このような、プリアライメント部10内および露光部20,40内の温度および湿度の環境が変わる状態になっても、温度湿度取得手段81から取得された温度および湿度により、温度湿度制御手段82が湿潤室調節部67、送風手段68、冷媒温度調節部61を制御して、常に、基準温度および基準湿度に近づけるように調整している。
したがって、露光装置1は、一旦、調整した温度および湿度が、露光作業あるいは側面扉の開口等により、異なる値となっても、直ぐに制御部80により制御して適切な温度および湿度を維持することができる。なお、露光部20,40間に設置される反転部30では、露光部20,40内の温度および湿度が調整されることで、その温度湿度の調整された空気が基板Wの搬送経路を伝わって流通しているため、反転部30内の温度および湿度が大きく露光部20,40等に比べて変化することはない。
また、露光装置1では、マスクフィルムMまたは基板Wを構成する素材の関係上、短い時間内において、マスクフィルムMの伸縮の調整に比較して基板Wの伸縮の調整を行うことが難しい。そのため、露光装置1は、一度、マスクフィルムMおよび基板Wの基準温度および基準湿度に調整して、基板Wの伸縮の状態が、供給する温度および湿度では調整しきれないときに、基板Wに対応するように、マスクフィルムMの伸縮長さを湿度調節空気の供給により調整して、露光処理をここでは行うようにしている。
このように、基板Wに対応するように、マスクフィルムMの伸縮状態を調整する場合には、ロット単位のはじめの基板Wを投入したときに、その基板WおよびマスクフィルムMについてすでに説明したように温度および湿度を調整し、基板Wを搬送して露光テーブル21で整合作業を行うときに、基板WおよびマスクフィルムMの位置決めマーク(図示せず)の位置から演算して、基板WおよびマスクフィルムMの伸縮状態を判断することできる。そのため、露光装置1は、基板Wが基準温度および基準湿度の状態における寸法長さが調整しきれていないと判断したときに、湿度調節空気の湿度あるいは温度を基板Wに合うようにさらに調節して供給し、露光部内の湿度および温度を再調整している。
そして、露光装置1では、供給された湿度調節空気は、基板WあるいはマスクフィルムMの上方から床面側に向かって流れて、各排気口19、27,47から排気手段74,74,74により循環路75,75,75、循環回収部76を介して湿潤室65内に循環する。そのため、露光装置1内では、マスクフィルムMおよび基板Wに塵埃が付着し難くなり、また、露光装置1が設置されるクリーンルームの空気および湿度の調整環境に大きな変化を当たることがない。
なお、露光装置において、湿潤室調節部67は、配管内を流れる冷媒の温度を調製して、湿潤室内の湿度を調節する構成であってもよく、また、超音波により水分を水蒸気にする構成のものであっても構わない。そして、湿潤室の温度を調節する機構としては、面状ヒータ等、電気的な構成のものであっても構わない。
本発明に係る露光装置の全体を模式的に示すブロック図である。 本発明に係る露光装置の構成を模式的に示す模式図である。 本発明に係る露光装置のプリアライメント部の状態を示す一部を切欠いた斜視図である。 本発明に係る露光装置の予備位置決め機構を露光部側から示す正面図である。 本発明に係る露光装置のアライメント部および露光部において基板に面接触して冷媒による温度調整を行う温度調整手段を示すと共に、基板温度湿度検出手段ならびにマスク温度湿度検出手段を示す模式図である。 本発明に係る露光装置の循環流路を示す模式図である。 (a)〜(d)は、本発明に係る露光装置においてプリアライメント部の動作を模式的に示す側面図である。 本発明に係る温度および湿度の調整作業を示すフローチャートである。
符号の説明
1 露光装置
2,3 ハンドラ
10 プリアライメント部
11 搬入ロール
12 ローラ
13 駆動機構
14 位置決め機構
14a 当接板
14b 押動ピン移動部
14c 空気孔
14d エア機構
15 昇降機構
15a 昇降駆動部
15b 介在板
15c 接続ピン
16 基板温度湿度検出手段
16a 基板温度検出手段
17 供給部
18 送風口
19 排気口
20 露光部
21 露光テーブル
21D CCDカメラ(撮像手段)
21a 当接板
21b 基板温度検出手段
21c 整合機構
21d 昇降移動部
22 焼枠
22a 枠体
22b 透光板
23 光源部
24 マスク温度湿度検出手段
24a マスク温度検出手段
25 供給部
26 送風口
27 排気口
30 反転部
40 第2露光部
50 搬出部
55 湿度
60 温度湿度調整部
61 冷媒温度調節部
61A 温度調整手段
62 配管
62a 冷媒流量調整バルブ
63、64 配管路
65 湿潤室
65A 湿度調整手段
66 湿潤室温度湿度検出手段
67 湿潤室調節部
68 送風手段(送風ファン)
70 循環流路
70A 送風流路
70B 回収流路
71 送風開口部
72 分岐部
73 送風路
74 排気手段(排気ファン)
75 循環路
76 循環回収部
80 制御部
81 温度湿度取得手段
82 温度湿度制御手段
A1 アライメント制御部
M マスクフィルム
W 基板

Claims (7)

  1. マスクフィルムを保持する焼枠に対向する位置に設置した露光テーブルで搬送された基板を露光処理する露光部と、この露光部の直前に配置され前記基板の端面を押動する押動ピン移動部により予備位置決めを行うプリアライメント部と、を備える露光装置において、
    前記プリアライメント部内において前記基板の表面側、および、前記露光部の露光テーブル上において前記基板の表面側に対して温度の調整を行う温度調整手段と、
    前記プリアライメント部内において前記基板の表面側、および、前記露光部内の前記マスクフィルムの表面側に対して湿度の調整を行う湿度調整手段と、
    前記プリアライメント部の前記基板の表面側に対応する基板表面温度および基板表面湿度を検出する基板温度湿度検出手段と、
    前記露光部内の前記マスクフィルムの表面側に対応するマスク表面温度およびマスク表面湿度を検出するマスク温度湿度検出手段と、
    前記基板温度湿度検出手段および前記マスク温度湿度検出手段で検出した温度および湿度と、予め設定された基準温度および基準湿度に基づいて、前記湿度調整手段および前記温度調整手段で調整する温度および湿度を制御する温度湿度制御手段と、を備えることを特徴とする露光装置。
  2. 前記温度調整手段は、前記プリアライメント部の予備位置決めを行う位置と、前記露光部の前記露光テーブルの基板を載置する位置とに配置されて前記基板の下面に当接する当接板と、この当接板に当接して設けられ、設定した温度に当該当接板を温度調節する冷媒の配管路と、この配管路を流通する冷媒の温度を調節する冷媒温度調節手段と、を備え、
    前記プリアライメント部の当接板は、基板を所定位置まで搬入する送りローラに対応して形成された貫通穴を、前記送りローラに挿通させた状態と、当該当接板の板表面を、前記送りローラの上端より上昇させた状態となるように、当該基板を昇降移動させる昇降機構を介して支持されることを特徴とする請求項1に記載の露光装置。
  3. 前記湿度調整手段は、前記プリアライメント部または前記露光部から隔てて設けられた、設定される湿度を空気に含ませる湿潤室と、この湿潤室の温度および湿度を検出する湿潤室温度湿度検出手段と、この湿潤室温度湿度検出手段で検出した温度および湿度に基づいて前記湿潤室内の温度および湿度を調節する湿潤室調節部と、この湿潤室調節部により調節された湿度を含んだ湿度調節空気を送風するための送風手段と、この送風手段により送風される前記湿度調節空気を前記プリアライメント部および前記露光部に送る送風流路と、を備えることを特徴とする請求項1に記載の露光装置。
  4. 前記湿潤室と前記アライメント部の間、および、前記湿潤室と前記露光部の間には、循環流路を備え、
    前記循環流路は、前記湿潤室から前記アライメント部および前記露光部に連通する前記送風流路と、前記アライメント部から湿潤室および前記露光部から湿潤室に連通する回収流路とを有し、
    前記送風流路は、その送風口を、前記露光部において前記マスクフィルムの上方側に設置すると共に、前記プリアライメント部において前記基板の上方側に設置し、
    前記回収流路は、前記プリアライメント部の床面側および前記露光部の床面側に設けた排気口と、この排気口から前記湿潤室にフィルタを介して循環させる循環路と、前記排気口から前記循環路中の所定位置に設けた排気ファンと、を備えることを特徴とする請求項3に記載の露光装置。
  5. 前記温度湿度制御手段は、前記湿潤室温度湿度検出手段で検出した温度および湿度と、前記温度湿度検出手段により検出したプリアライメント部および露光部の温度および湿度と、前記基板ならびに前記マスクフィルムの基準温度および基準湿度と、に基づいて、前記湿潤室の送風手段および湿潤室調節部を制御することを特徴とする請求項3に記載の露光装置。
  6. 前記基板温度湿度検出手段は、前記プリアライメント部において、前記基板の端面を押動する前記押動ピン移動部に温度および湿度を検出するセンサを配置するとともに、前記露光テーブルの基板に当接する位置に当該基板の温度を検出するセンサを配置し、
    前記マスク温度湿度検出手段は、前記露光部において、マスクフィルムを保持する焼枠に温度および湿度を検出するセンサを配置するとともに、前記マスクフィルムを当接した状態で前記焼枠に支持される透光板に当該マスクフィルムの温度を間接的に検出するセンサを配置することを特徴とする請求項1に記載の露光装置。
  7. マスクフィルムを保持する焼枠に対向する位置に設置した露光テーブルで搬送された基板を露光処理する露光部と、この露光部の直前に配置され前記基板の端面を押動する押動ピン移動部により予備位置決めを行うプリアライメント部と、を備える露光装置を用いて、前記基板を露光する露光方法において、
    前記プリアライメント部に位置する前記基板の表面側に対応する温度および湿度を検出すると共に、前記露光部における前記マスクフィルムの表面側に対応する温度および湿度を検出するステップと、
    検出した前記基板の表面側に対応する温度と湿度および前記マスクフィルムの表面側に対応する温度と湿度と、予め設定された基準温度および基準湿度との差分を算出するステップと、
    算出した差分に基づいて、前記プリアライメント部および前記露光部の温度を調整すると共に、前記プリアライメント部および前記露光部の少なくとも一方の湿度を調整するステップと、
    前記プリアライメント部および前記露光部の温度および湿度が、調整した温度および湿度の条件になった後に、前記プリアライメント部の基板を前記露光部に搬送して前記露光部において露光処理を行うステップと、を含むことを特徴とする露光方法。
JP2005234540A 2005-08-12 2005-08-12 露光装置および露光方法 Expired - Fee Related JP4653588B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005234540A JP4653588B2 (ja) 2005-08-12 2005-08-12 露光装置および露光方法
TW095109573A TW200707116A (en) 2005-08-12 2006-03-21 Exposure device and exposure method
CNB2006101154619A CN100451842C (zh) 2005-08-12 2006-08-10 曝光装置及曝光方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005234540A JP4653588B2 (ja) 2005-08-12 2005-08-12 露光装置および露光方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007047687A JP2007047687A (ja) 2007-02-22
JP4653588B2 true JP4653588B2 (ja) 2011-03-16

Family

ID=37721711

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005234540A Expired - Fee Related JP4653588B2 (ja) 2005-08-12 2005-08-12 露光装置および露光方法

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP4653588B2 (ja)
CN (1) CN100451842C (ja)
TW (1) TW200707116A (ja)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4922071B2 (ja) * 2007-05-28 2012-04-25 株式会社オーク製作所 露光描画装置
JP4976922B2 (ja) * 2007-05-29 2012-07-18 株式会社オーク製作所 基板搬送装置
US20090128792A1 (en) * 2007-10-19 2009-05-21 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and method
JP5004786B2 (ja) * 2007-12-27 2012-08-22 株式会社オーク製作所 露光装置の反転部
CN103841334B (zh) * 2012-11-27 2017-04-12 原相科技股份有限公司 曝光调整装置、影像均化装置及影像均化方法
JP2016023994A (ja) * 2014-07-17 2016-02-08 セイコーエプソン株式会社 電子部品搬送装置および電子部品検査装置
CN105278259A (zh) * 2015-07-27 2016-01-27 江苏影速光电技术有限公司 单机双台面多工位自动pcb板曝光设备及其曝光方法
WO2019047244A1 (zh) * 2017-09-11 2019-03-14 深圳市柔宇科技有限公司 机械手臂、曝光机前单元和温度控制方法
JP2019075517A (ja) * 2017-10-19 2019-05-16 東京エレクトロン株式会社 処理装置及び拡散路を有する部材
JP7012558B2 (ja) * 2018-02-26 2022-01-28 東京エレクトロン株式会社 検査装置及び検査装置の動作方法
CN112198761B (zh) * 2020-09-07 2023-09-01 中国科学院微电子研究所 载片系统及物料传递方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06258848A (ja) * 1993-03-03 1994-09-16 Sanee Giken Kk 露光方法および装置
JPH0713340A (ja) * 1993-06-25 1995-01-17 Ono Sokki Co Ltd 露光装置
JPH09186071A (ja) * 1996-01-04 1997-07-15 Canon Inc 半導体露光装置
JPH10223520A (ja) * 1997-02-04 1998-08-21 Canon Inc 基板保持装置および露光装置
JP2002075856A (ja) * 2000-06-13 2002-03-15 Canon Inc ロードロックチャンバ及びそれを用いた露光装置
JP2002082446A (ja) * 2000-09-11 2002-03-22 Dainippon Screen Mfg Co Ltd レーザ描画装置

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09115800A (ja) * 1995-10-16 1997-05-02 Nikon Corp 露光装置
US6882403B1 (en) * 1997-04-07 2005-04-19 Nikon Corporation Lithography system and method
US20050175497A1 (en) * 2002-08-29 2005-08-11 Nikon Corporation Temperature control method and apparatus and exposure method and apparatus

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06258848A (ja) * 1993-03-03 1994-09-16 Sanee Giken Kk 露光方法および装置
JPH0713340A (ja) * 1993-06-25 1995-01-17 Ono Sokki Co Ltd 露光装置
JPH09186071A (ja) * 1996-01-04 1997-07-15 Canon Inc 半導体露光装置
JPH10223520A (ja) * 1997-02-04 1998-08-21 Canon Inc 基板保持装置および露光装置
JP2002075856A (ja) * 2000-06-13 2002-03-15 Canon Inc ロードロックチャンバ及びそれを用いた露光装置
JP2002082446A (ja) * 2000-09-11 2002-03-22 Dainippon Screen Mfg Co Ltd レーザ描画装置

Also Published As

Publication number Publication date
TWI356974B (ja) 2012-01-21
JP2007047687A (ja) 2007-02-22
TW200707116A (en) 2007-02-16
CN1912748A (zh) 2007-02-14
CN100451842C (zh) 2009-01-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4653588B2 (ja) 露光装置および露光方法
JP5150949B2 (ja) 近接スキャン露光装置及びその制御方法
TWI500107B (zh) 基板處理裝置及基板處理方法
JP4341978B2 (ja) 基板処理装置
TWI412822B (zh) 基板處理裝置
WO2010150741A1 (ja) インプリントシステム、インプリント方法及びコンピュータ記憶媒体
JP4672538B2 (ja) 加熱処理装置
WO2010090725A1 (en) Automatic substrate transport system
JP2010021396A (ja) 基板処理装置
JP2010064857A (ja) 基板処理装置
JP2008034739A (ja) ロードロック装置、それを備えた基板処理装置および基板処理システム
KR101299898B1 (ko) 기판 냉각 장치
JP2009295950A (ja) スキャン露光装置およびスキャン露光方法
JP3983481B2 (ja) 基板処理装置及び基板処理装置における基板搬送方法
JP2011114055A (ja) 基板処理装置及び基板処理方法及び減圧乾燥装置
KR101237126B1 (ko) 기판 처리 장치
JP2832673B2 (ja) 露光装置およびワークの露光方法
JP3559219B2 (ja) 塗布現像処理システム及び塗布現像処理方法
JP5025546B2 (ja) 基板処理方法及び基板処理装置
JP2008166478A (ja) レジスト液供給装置及び基板処理システム
JP2958637B2 (ja) 真空フレームおよびワークの位置決め方法
JP4436271B2 (ja) 基板露光方法および基板加熱装置ならびに基板露光装置
JP4472647B2 (ja) 加熱処理装置、加熱処理方法、コンピュータ読取可能な記憶媒体
JP4015015B2 (ja) 熱処理装置
JP5057370B2 (ja) 近接スキャン露光装置及びその照度制御方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080414

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20101111

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20101207

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20101217

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 4653588

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131224

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131224

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees