JP4645793B2 - 電極回路保護用シリコーンゴム組成物、電極回路保護材及び電気・電子部品 - Google Patents
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Description
この場合、保護材料としては、従来、炭酸カルシウム等の塩基性無機充填剤や銅粉等の金属粉体の添加(特許文献1,2:特開2003−096301号公報、特願2003−324171号)が提案されているが、かかる従来の保護材料では、金属電極回路を防食し、硫化を防ぐ点で不十分であるという問題があった。
(A)硬化性シリコーンゴム組成物 100質量部
(B)無機イオン交換体 0.1〜50質量部
を必須成分とすることを特徴とする電極回路保護用シリコーンゴム組成物を提供する。また、上記電極回路保護用シリコーンゴム組成物の硬化物からなる電極回路保護材、及び該電極回路保護用シリコーンゴム組成物の硬化物により電極回路が被覆保護された電気・電子部品を提供する。
(a)1分子中に珪素原子と結合するアルケニル基を2個以上含有するオルガノポリシロキサン、
(b)1分子中に2個以上の珪素原子に結合した水素原子(即ち、SiH基)を有するオルガノハイドロジェンポリシロキサン、
(a)成分中の珪素原子と結合するアルケニル基に対して珪素原子に結合した水素
原子がモル比で0.1〜5.0となる量
(c)触媒量の白金族系触媒
からなる付加硬化型シリコーンゴム組成物が挙げられる。
(式中、R1は互いに同一又は異種の炭素数1〜10、好ましくは1〜8の非置換又は置換の一価炭化水素基であり、aは1.5〜2.8、好ましくは1.8〜2.5、より好ましくは1.95〜2.05の範囲の正数ある。)
上記式(2)中、R2は炭素数1〜10の非置換又は置換の一価炭化水素基であり、このR2としては、上記式(1)中のR1と同様の基を挙げることができる。また、bは0.7〜2.1、cは0.001〜1.0で、かつb+cが0.8〜3.0を満足する正数であり、好ましくはbは1.0〜2.0、cは0.01〜1.0、b+cが1.5〜2.5である。
(d)紫外線反応性オルガノポロシロキサン、
(e)光重合開始剤
からなる紫外線硬化型シリコーンゴム組成物が挙げられる。
又は、下記一般式(3b)
で表される少なくとも2個の紫外線反応性基を有するオルガノポリシロキサンが挙げられる。
(f)1分子中に珪素原子と結合するアルケニル基を2個以上含有するオルガノポリシロキサン、
(g)有機過酸化物
からなる有機過酸化物硬化型シリコーンゴム組成物が挙げられる。
R7 dSiO(4-d)/2 (4)
(式中、R7は置換又は非置換の一価炭化水素基を表し、R7の0.0001〜10モル%はアルケニル基であり、かつ80モル%以上はメチル基である。dは1.9〜2.4の正数である。)
で示される1分子中に少なくとも平均2個のアルケニル基を有するオルガノポリシロキサンである。
(h)1分子中に少なくとも2個のシラノール基(即ち、珪素原子結合水酸基)又は珪素原子結合加水分解性基を、好ましくは分子鎖両末端に有するオルガノポリシロキサン、
(i)任意成分として、加水分解性シラン又はその部分加水分解縮合物、
(j)任意成分として、縮合反応触媒
からなる縮合硬化型シリコーンゴム組成物が挙げられる。
なお、この平均粒径は、例えばレーザー光回折法などによる粒度分布測定装置等を用いて、重量平均値(又はメジアン径)などとして求めることができる。
下記式(i)
で示される両末端ビニルジメチルシロキシ基封鎖ジメチルポリシロキサン100部に、下記式(ii)
で示されるオルガノハイドロジェンポリシロキサンを上記ビニル基含有ジメチルポリシロキサン(i)中のビニル基に対するSiH基のモル比が1.5となる量、及び、塩化白金酸のオクチルアルコール変性溶液を0.05部加え、よく撹拌して得たシリコーンゴム組成物100部にIXE500(東亜合成(株)製、アンチモン非含有のビスマス系無機陰イオン交換体)を10部添加して、液状シリコーンゴム組成物を調製した。この組成物を80℃×4時間の条件で硬化させた。
得られた硬化物の物性をJIS K6301に従い、測定した。なお、硬さはスプリング式TypeA型試験機による。その結果を表1に示す。
また、ガラス基板上に銅に銀メッキを施した基板を置き、その上から前記組成物を厚さ0.3mmに塗布し、70℃,1時間で硬化させ、評価サンプルを作成した。この評価サンプルを体積2リットルの密閉容器に入れると共に、この密閉容器に(NH4)2S20gとH2O10gを入れ、H2Sガスを発生させた密閉状態で23℃において表2に示す時間放置し、銅に銀メッキを施した基板の腐食の発生を評価した。結果を表2に示す。
上記両末端ビニルジメチルシロキシ基封鎖ジメチルポリシロキサン(i)100部に、上記オルガノハイドロジェンポリシロキサン(ii)を上記ビニル基含有ジメチルポリシロキサン(i)中のビニル基に対するSiH基のモル比が1.5となる量、及び、塩化白金酸のオクチルアルコール変性溶液を0.05部加え、よく撹拌して得たシリコーンゴム組成物100部にIXE530を20部添加して、液状シリコーンゴム組成物を調製した。この組成物を80℃×4時間の条件で硬化させた。
得られた硬化物の物性と腐食試験を、実施例1と同様に測定した。
下記式(iii)
で示される両末端トリメトキシシロキシ基封鎖ジメチルポリシロキサン100部にチタンキレート触媒(商品名TC−750)0.1部を加え、よく撹拌して得たシリコーンゴム組成物100部にIXE500を5部添加して、液状シリコーンゴム組成物を調製した。
23℃/50%RH,24hrで硬化した以外は実施例1と同様に硬化物の物性と腐食試験を測定した。
上記両末端トリメトキシシロキシ基封鎖ジメチルポリシロキサン(iii)100部にチタンキレート触媒(商品名TC−750)0.1部を加え、よく撹拌して得たシリコーンゴム組成物100部にIXE500を30部添加して、液状シリコーンゴム組成物を調製した。
23℃/50%RH,24hrで硬化した以外は実施例1と同様に硬化物の物性と腐食試験を測定した。
下記式(iv)
この組成物をメタルハライド水銀灯2灯を備えるコンベア炉内(照度:80W/cm2)で2秒間紫外線を照射し(エネルギー量:800mJ)、硬化した以外は実施例1と同様に硬化物の物性と腐食試験を測定した。
実施例1においてIXE530を添加しない以外は同一の液状シリコーンゴム組成物を調製した。この組成物を実施例1と同様に試験した。
実施例3においてIXE530を添加しない以外は同一の液状シリコーンゴム組成物を調製した。この組成物を実施例3と同様に試験した。
実施例5においてIXE530を添加しない以外は同一の液状シリコーンゴム組成物を調製した。この組成物を実施例5と同様に試験した。
Claims (7)
- (A)紫外線硬化型、電子線硬化型、有機化過酸化物硬化型、又は縮合硬化型のオルガノポリシロキサン組成物から選ばれる硬化性シリコーンゴム組成物 100質量部
(B)天然ゼオライト、合成ゼオライト;酸化アルミニウム、酸化マグネシウム;含水酸化チタン、含水酸化ビスマス、含水酸化アンチモン;リン酸ジルコニウム、リン酸チタン;ハイドロタルサイト類;モリブドリン酸アンモニウム;ヘキサシアノ鉄(III)塩、ヘキサシアノ亜鉛から選ばれる無機イオン交換体 0.1〜50質量部
を必須成分とすることを特徴とする電極回路保護用シリコーンゴム組成物。 - 硬化性シリコーンゴム組成物が、
(d)紫外線反応性オルガノポロシロキサン、
(e)光重合開始剤
からなる紫外線硬化型シリコーンゴム組成物である請求項1記載の電極回路保護用シリコーンゴム組成物。 - 硬化性シリコーンゴム組成物が、
(f)1分子中に珪素原子と結合するアルケニル基を2個以上含有するオルガノポリシロキサン、
(g)有機過酸化物
からなる有機過酸化物硬化型シリコーンゴム組成物である請求項1記載の電極回路保護用シリコーンゴム組成物。 - 硬化性シリコーンゴム組成物が、
(h)1分子中に少なくとも2個のシラノール基又は珪素原子結合加水分解性基を有するオルガノポリシロキサン、
(i)任意成分として、加水分解性シラン又はその部分加水分解縮合物、
(j)任意成分として、縮合反応触媒
からなる縮合硬化型シリコーンゴム組成物である請求項1記載の電極回路保護用シリコーンゴム組成物。 - (B)成分が、アンチモン非含有の、ビスマス系、アルミニウム系又はジルコニウム系無機イオン交換体である請求項1乃至4のいずれか1項記載の電極回路保護用シリコーンゴム組成物。
- 請求項1乃至5のいずれか1項記載の電極回路保護用シリコーンゴム組成物の硬化物からなる電極回路保護材。
- 請求項1乃至6のいずれか1項記載の電極回路保護用シリコーンゴム組成物の硬化物により電極回路が被覆保護された電気・電子部品。
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