JP4463457B2 - 固体撮像装置及び測距装置 - Google Patents

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Description

【発明の属する技術分野】
【0001】
本発明は、光検出素子に入射する光のうち背景光成分を除去して信号光成分のみを検出する固体撮像装置に関するものである。
【従来の技術】
【0002】
固体撮像装置は、1次元状または2次元状に配列された複数の光検出素子を有しており、各光検出素子が出力した信号電流を積分回路により積分して、その積分結果である信号電圧を出力する。また、固体撮像装置によっては、アナログ信号である上記信号電圧をデジタル信号に変換(A/D変換)して、このデジタル信号を出力するものもある。もし、このA/D変換の際に信号電圧が所定値を越える場合には、その信号電圧に基づいてA/D変換され出力されるデジタル信号は、その所定値に対応する値となって飽和し、その結果、正確な光検出ができないという問題点がある。そこで、従来では、上記信号電圧の予想される最大値またはそれ以上の値を上記所定値として設定することにより、上記のような飽和が起こらないようにしていた。また、対数圧縮等のテクニックを用いてダイナミックレンジを拡げる場合もあった。
【0003】
また、固体撮像装置は、例えばカメラに組み込まれる測距装置に用いられている。この測距装置では、発光ダイオード等の投光手段から被写体に投光されたスポット光の反射を2つの固体撮像装置それぞれにより撮像し、撮像された2つの像に基づいて測距が行われる。このとき、スポット光成分(信号光成分)を撮像する際には背景光成分も重畳されて撮像されることから、スポット光が投光されていないときに2つの固体撮像装置それぞれにより背景光成分のみを撮像して、両者の差分をとることでスポット光成分のみの像を得て、測距精度の向上を図っている。
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
しかし、従来の固体撮像装置における積分回路では、積分回路の要素回路である増幅器が有する熱雑音等の各積分動作毎に異なる値の雑音成分に対して対策を施していないことから、ノイズ誤差が生じる可能性がある。したがって、この各積分動作毎に異なるノイズ成分により、光検出素子に入射する光の強度すなわち上記信号電圧の値が小さい場合には、光検出のS/N比は悪い。
【0005】
また、従来の固体撮像装置におけるA/D変換では、飽和が起こらないようにするために上記所定値として大きな値を設定することから、光検出素子に入射する光の強度すなわち上記信号電圧の値が小さい場合には、出力されるデジタル信号の分解能は悪くなる。
【0006】
さらに、固体撮像装置が測距装置に用いられる場合のように、スポット光成分および背景光成分の撮像結果から背景光成分の撮像結果を差し引くことによりスポット光成分のみの像を得る場合には、以下のような問題点がある。すなわち、スポット光成分に比べて背景光成分が大きい場合には、その背景光成分が重畳されたスポット光成分が入射したときの上記信号電圧が非常に大きくなり、それ故、飽和が起こらないようにするために上記所定値として更に大きな値を設定する必要がある。したがって、差し引いた結果として得られるスポット光成分に基づいて出力されるデジタル信号は分解能が更に悪くなる。
【0007】
以上のように、従来の固体撮像装置ではS/N比が悪く、また、A/D変換する場合には出力されるデジタル信号の分解能が悪い。そこで、本発明は、上記問題点を解消する為になされたものであり、S/N比が優れ、A/D変換する場合に、入射光強度が大きくても飽和することなく、入射光強度が小さくても分解能が優れた固体撮像装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0008】
本発明に係る固体撮像装置は、(1) 入射光量に応じた信号電流を出力するN(N≧2)個の光検出素子と、(2) N個の光検出素子それぞれに対応して設けられ、各光検出素子から出力された信号電流に応じて電荷を蓄積して、その蓄積された電荷の量に応じた信号電圧を出力するN個の積分回路と、(3) N個の積分回路それぞれに対応して設けられ、各積分回路から出力された信号電圧を入力する入力端と出力端との間に順に設けられた第1の容量素子および増幅器と、増幅器の入出力間に並列的に設けられ容量値が互いに等しい第2の容量素子および第3の容量素子と、第2および第3の容量素子のうち何れか一方を選択して信号電圧の変化量に応じた電荷量を蓄積させるスイッチ手段と、を有するN個のCDS回路と、(4) N個のCDS回路それぞれに対応して設けられ、各CDS回路の第2および第3の容量素子それぞれに蓄積されている電荷量の差分を求め、その差分に応じた差信号電圧を出力するN個の差分演算回路と、(5) N個の差分演算回路それぞれに対応して設けられ、各差分演算回路により得られた差信号電圧を保持して出力するN個のホールド回路と、(6) 時間に応じて単調に値が増加する基準信号電圧を出力する基準信号電圧発生回路と、(7) N個の差分演算回路それぞれに対応して設けられ、各差分演算回路により得られた差信号電圧の値と、基準信号電圧発生回路から出力される基準信号電圧の値とを比較し、両者が一致するタイミングを示す一致信号を出力するN個の比較回路と、(8) N個の比較回路それぞれから出力される一致信号を入力し、これらの一致信号が示すタイミングのうち最も遅いタイミングを示す最終一致信号を出力する最終一致判定回路と、(9) 最終一致判定回路から出力される最終一致信号と、基準信号電圧発生回路から出力される基準信号電圧とを入力し、最終一致信号が示すタイミングにおける基準信号電圧の値を保持し出力する基準電圧保持回路と、(10)基準電圧保持回路から出力される基準信号電圧の値に基づいてA/D変換レンジを設定し、N個のホールド回路それぞれから出力される差信号電圧を順次に入力し、その差信号電圧をデジタル信号に変換して、そのデジタル信号を出力するA/D変換回路と、を備えることを特徴とする。
【0009】
この固体撮像装置は、光検出素子、積分回路、CDS回路、差分演算回路、ホールド回路および比較回路をNユニット備えている。各ユニットにおいては、入射光量に応じた信号電流が光検出素子から出力され、積分回路では、光検出素子から出力された信号電流に応じて電荷が蓄積されて、その蓄積された電荷の量に応じた信号電圧が出力される。CDS(相関二重サンプリング、Correlated Double Sampling)回路では、積分回路から出力される信号電圧が第1の容量素子に入力し、スイッチ手段により選択された第2および第3の容量素子のうち何れか一方に、その入力した信号電圧の変化量に応じた電荷量が蓄積される。そして、差分演算回路では、CDS回路の第2および第3の容量素子それぞれに蓄積されている電荷量の差分が求められ、その差分に応じた差信号電圧が出力される。この差信号電圧がホールド回路により保持される。また、比較回路では、差分演算回路により得られた差信号電圧の値と、基準信号電圧発生回路から出力される単調に値が増加する基準信号電圧の値とが比較され、両者が一致するタイミングを示す一致信号が出力される。
【0010】
最終一致判定回路では、N個の比較回路それぞれから出力される一致信号が示すタイミングのうち、最も遅いタイミングを示す最終一致信号が出力される。基準電圧保持回路では、最終一致信号が示すタイミングにおける基準信号電圧の値が保持され出力される。この保持された基準信号電圧の値は、N個のホールド回路それぞれにより保持されている差信号電圧のうちの最大値である。そして、A/D変換回路では、基準電圧保持回路から出力される基準信号電圧の値に基づいてA/D変換レンジが設定され、N個のホールド回路それぞれから出力される差信号電圧が順次に入力され、その差信号電圧がデジタル信号に変換されて、そのデジタル信号が出力される。
【0011】
また、本発明に係る固体撮像装置は、N個の積分回路、N個のCDS回路、N個の差分演算回路、N個のホールド回路、基準信号電圧発生回路、N個の比較回路、最終一致判定回路、基準電圧保持回路およびA/D変換回路それぞれの動作を制御するタイミング制御回路を更に備え、被写体に向けてスポット光を投光する投光手段とともに用いられる固体撮像装置であって、タイミング制御回路は、(1) 投光手段により被写体にスポット光が投光されている第1の期間に、光検出素子に当該スポット光成分および背景光成分が入射したときに積分回路が出力した信号電圧の変化量に応じた電荷量をCDS回路の第2の容量素子に蓄積させ、(2) 投光手段により被写体にスポット光が投光されていない第2の期間に、光検出素子に背景光成分が入射したときに積分回路が出力した信号電圧の変化量に応じた電荷量をCDS回路の第3の容量素子に蓄積させ、(3) 第1および第2の期間の後の第3の期間に、CDS回路の第2および第3の容量素子それぞれに蓄積されている電荷量の差分を差分演算回路に演算させて、その差分に応じた差信号電圧を差分演算回路から出力させるとともに、その差信号電圧をホールド回路に保持させ、(4) 第3の期間の後の第4の期間に、時間に応じて単調に値が増加する基準信号電圧を基準信号電圧発生回路から出力させるとともに、差信号電圧および基準信号電圧それぞれの値の比較に基づいて両者が一致するタイミングを示す一致信号を比較回路から出力させ、この一致信号が示すタイミングのうち最も遅いタイミングを示す最終一致信号を最終一致判定回路から出力させ、この最終一致信号が示すタイミングにおける基準信号電圧の値を基準電圧保持回路に保持させ、この保持された基準信号電圧の値に基づいてA/D変換回路のA/D変換レンジを設定させ、(5) 第4の期間の後の第5の期間に、N個のホールド回路それぞれから出力される差信号電圧を順次にA/D変換回路に入力させて、その差信号電圧をデジタル信号に変換させて該デジタル信号をA/D変換回路から出力させる、ことを特徴とする。
【0012】
この場合には、タイミング制御回路による制御の下に、第1の期間に、光検出素子にスポット光成分および背景光成分が入射したときに積分回路が出力した信号電圧の変化量に応じた第1の電荷量がCDS回路の第2の容量素子に蓄積される。また、第2の期間に、光検出素子に背景光成分が入射したときに積分回路が出力した信号電圧の変化量に応じた第2の電荷量がCDS回路の第3の容量素子に蓄積される。第1および第2の期間のうち何れが先であってもよい。そして、第1および第2の期間の後の第3の期間に、CDS回路の第2および第3の容量素子それぞれに蓄積されている電荷量の差分が差分演算回路により求められて、その差分に応じた差信号電圧が差分演算回路から出力されホールド回路に保持される。このホールド回路に保持された差信号電圧は、スポット光成分に応じたものとなる。
【0013】
続いて第4の期間に、単調に値が増加する基準信号電圧が基準信号電圧発生回路から出力される。比較回路からは、差信号電圧および基準信号電圧それぞれの値の比較に基づいて両者が一致するタイミングを示す一致信号が出力される。最終一致判定回路からは、この一致信号が示すタイミングのうち最も遅いタイミングを示す最終一致信号が出力されて、基準電圧保持回路により、この最終一致信号が示すタイミングにおける基準信号電圧の値が保持される。この保持された基準信号電圧の値に基づいて、A/D変換回路のA/D変換レンジが設定される。そして、第4の期間の後の第5の期間に、N個のホールド回路それぞれから出力される差信号電圧が順次にA/D変換回路に入力して、その差信号電圧がデジタル信号に変換されて該デジタル信号がA/D変換回路から出力される。
【0014】
上記装置を換言すれば、上記固体撮像装置は、複数の回路列の出力信号が順次入力されるA/D変換回路を備える固体撮像装置において、前記回路列のそれぞれは、光検出素子と、光検出素子の出力に応じた信号(差分演算回路の出力信号)と時間に応じて単調増加する電圧(基準信号電圧発生回路の出力)とが入力され、両者の電圧値が一致するタイミングを示す一致信号を出力する比較回路とを備え、この固体撮像装置は、それぞれの比較回路から出力される複数の一致信号が入力され、これらの一致信号が示すタイミングのうち最も遅いタイミングを示す最終一致信号を出力する最終一致判定回路を備え、A/D変換回路のA/Dレンジは、最終一致信号が出力された時の単調増加する電圧(基準信号電圧発生回路500の出力)の値に応じて設定されることを特徴とする。
【0015】
この最終一致信号は、上記光検出素子PDの出力に応じた信号のうちで、最も入射光強度(光強度)が大きいものに対応する。したがって、これに基づいてA/D変換レンジを設定すれば、入射光強度が大きくても飽和することなく、入射光強度が小さくても分解能が優れたものとなる。
【発明の実施の形態】
【0016】
以下、添付図面を参照して本発明の実施の形態を詳細に説明する。なお、図面の説明において同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。また、Nは2以上の整数であり、添え字nは特に明示しない限り1からNまでの任意の整数を示すものとする。
【0017】
(第1の実施形態)
【0018】
先ず、第1の実施形態に係る固体撮像装置の構成について、図1〜図9を用いて説明する。図1は本実施形態に係る固体撮像装置の全体の概略構成図である。本実施形態に係る固体撮像装置は、N個のユニット1001〜100N、最終一致判定回路200、基準電圧保持回路300、A/D変換回路400、基準信号電圧発生回路500、タイミング制御回路600および、シフトレジスタ700を備えて構成されている。各ユニット100nは、フォトダイオードPD、積分回路10、CDS回路20、差分演算回路30、ホールド回路40、比較回路50およびスイッチ素子SW6を含む。各ユニット100nの積分回路10は互いに同様の構成であり、各ユニット100nのCDS回路20は互いに同様の構成であり、各ユニット100nの差分演算回路30は互いに同様の構成であり、各ユニット100nのホールド回路40は互いに同様の構成であり、また、各ユニット100nの比較回路50は互いに同様の構成である。したがって、N個のユニット1001〜100Nは互いに同様の構成である。
【0019】
各ユニット100nのフォトダイオードPDは、アノード端子が接地され、カソード端子が積分回路10の入力端子に接続されている。フォトダイオードPDは、入射光量に応じた信号電流を、アノード端子から積分回路10の入力端子へ出力する。各ユニット100nのフォトダイオードPDは、1次元状または2次元状に配置されており、1次元像または2次元像を撮像する。なお、フォトダイオードPDの数はN個であり、N個の光検出素子はアレイを構成している。
【0020】
図2は本実施形態に係る固体撮像装置の積分回路10の回路図である。各ユニット100nの積分回路10は、入力端子と出力端子との間に互いに並列にアンプA1、容量素子C1およびスイッチ素子SW1が接続されている。積分回路10は、スイッチ素子SW1が閉じているときには、容量素子C1を放電して初期化する。一方、積分回路10は、スイッチ素子SW1が開いているときには、フォトダイオードPDから入力端子に入力した電荷を容量素子C1に蓄積して、その蓄積された電荷に応じた信号電圧を出力端子から出力する。スイッチ素子SW1は、タイミング制御回路600から出力される制御信号に基づいて開閉する。
【0021】
図3は本実施形態に係る固体撮像装置のCDS回路20の回路図である。各ユニット100nのCDS回路20は、入力端子と出力端子との間に順に第1の容量素子C21およびアンプA2を有している。また、スイッチ素子SW21、互いに縦続接続された第2の容量素子C22およびスイッチ素子SW22、ならびに、互いに縦続接続された第3の容量素子C23およびスイッチ素子SW23が、アンプA2の入出力間に互いに並列的に接続されている。容量素子C22およびC23それぞれの容量は互いに等しい。
【0022】
CDS回路20は、スイッチ素子SW21〜SW23が閉じているときには、容量素子C22およびC23それぞれを放電して初期化する。スイッチ素子SW21およびSW23が開きスイッチ素子SW22が閉じているときには、積分回路10から容量素子C21を経て入力した第1の電荷を容量素子C22に蓄積して、その蓄積された電荷に応じた信号電圧を出力端子から出力する。スイッチ素子SW21およびSW22が開きスイッチ素子SW23が閉じているときには、積分回路10から容量素子C21を経て入力した第2の電荷を容量素子C23に蓄積して、その蓄積された電荷に応じた信号電圧を出力端子から出力する。スイッチ素子SW21,SW22およびSW23それぞれは、タイミング制御回路600から出力される制御信号に基づいて開閉する。
【0023】
図4は第1の実施形態に係る固体撮像装置の差分演算回路30および比較回路50の回路図である。各ユニット100nの差分演算回路30は、入力端子と出力端子との間に順に容量素子C3およびアンプA3を有し、容量素子C3とアンプA3との接続点がスイッチ素子SW3を介して基準信号電圧発生回路500と接続されている。差分演算回路30は、基準信号電圧発生回路500からスイッチ素子SW3へ入力する基準信号電圧が一定電位(例えば接地電位)であるときには、スイッチ素子SW3を閉じているときに容量素子C3に電荷Q1だけ充電し、スイッチ素子SW3を開いているときに容量素子C3から電荷Q2を放電し、このようにして、CDS回路20から入力する電荷Q1と電荷Q2との差分すなわち電荷(Q1−Q2)を容量素子C3に蓄積して、その蓄積された電荷(Q1−Q2)に応じた差信号電圧Vn3をアンプA3から出力する。また、差分演算回路30は、スイッチ素子SW3を閉じているときに、基準信号電圧発生回路500からスイッチ素子SW3へ入力する単調に値が増加する基準信号電圧をアンプA3に入力する。スイッチ素子SW3は、タイミング制御回路600から出力される制御信号に基づいて開閉する。
【0024】
各ユニット100nの比較回路50は、入力端子と出力端子との間に順に容量素子C5およびインバータINVを有し、このインバータINVの入出力間にスイッチ素子SW5が接続されている。スイッチ素子SW5は、タイミング制御回路600から出力される制御信号に基づいて開閉する。比較回路50は、スイッチ素子SW5が閉じているときには、インバータINVから中間電位(電源電位および接地電位の中間値)Vmidを出力し、その電圧Vn1が容量素子C5の片側に保持される。その時、容量素子C5の反対側の端子には、差分演算回路30から出力された信号電圧の値Vn2が保持される。その結果、この電圧値Vn1とVn2の差分の電位に容量素子C5の容量値を掛け合わせた電荷量が、容量素子C5に保持されることになる。
【0025】
その後、差分演算回路30のスイッチ素子SW3が閉じると、この時点で、容量素子C5の片側の電位Vn2が基準電位レベルまで急降下する。それと同時に、比較回路50のスイッチ素子SW5も開くと、電圧値Vn1の電位はハイインピーダンス状態であることから、電圧値Vn2の変動分だけ、電圧値Vn1も同じだけ変動して急降下する。そして、基準信号電圧発生回路500の基準信号電圧は単調に増加して行くと、上記電圧値Vn1およびVn2もこれに比例して、ゆっくりと上昇して行く。こうして、電圧値Vn1が中間電位Vmidに達した瞬間、上記インバータINVの出力は急反転する。この作用により、差分演算回路30の出力電圧値の大きさが基準電圧と比較されることになる。なお、基準信号電圧発生回路500は時間に対して電圧が三角状に変化する三角波を発生していることとなる。
【0026】
以上のように、比較回路50は、基準信号電圧発生回路500から出力され差分演算回路30のアンプA3を経て入力した基準信号電圧の値と、容量素子C5に保持された電圧値とを比較して、その比較結果を示す論理信号を出力する。比較回路50から出力される論理信号(一致信号)は、基準信号電圧の値と容量素子C5に保持された電圧値とが一致したタイミングで論理が反転する。
【0027】
図5は本実施形態に係る固体撮像装置のホールド回路40の回路図である。各ユニット100nのホールド回路40は、入力端子と出力端子との間に順にスイッチ素子SW41および容量素子C4を有し、スイッチ素子SW41と容量素子C4との接続点がスイッチ素子SW42を介して接地され、容量素子C4と出力端子との間の点がスイッチ素子SW43を介して接地されている。ホールド回路40は、スイッチ素子SW41およびSW43が閉じているときに、差分演算回路30から出力された差信号電圧Vn3を容量素子C4に記憶し、スイッチ素子SW41が開いた後も、容量素子C4の信号電圧Vn3を保持する。スイッチ素子SW41〜SW43は、タイミング制御回路600から出力される制御信号に基づいて開閉する。各ユニット100nのスイッチ素子SW6はシフトレジスタ700により制御されて順次に閉じ、スイッチ素子SW42も閉じて、スイッチドキャパシタと同様の原理で、ホールド回路40から出力される差信号電圧Vn3情報を電荷の形でA/D変換回路400に順次に入力させる。
【0028】
図6は本実施形態に係る固体撮像装置の最終一致判定回路200の回路図である。最終一致判定回路200は、NMOSトランジスタT1〜TNおよび抵抗器R200を備える。各トランジスタTnのソース端子は接地され、各トランジスタTnのドレイン端子は、抵抗器R200を介して電源電圧Vddに共通に接続されている。各トランジスタTnのゲート端子は、ユニット100nの比較回路50の出力端子と接続されており、比較回路50から出力される論理信号が入力する。この最終一致判定回路200では、各ユニット100nの比較回路50から出力された論理信号(一致信号)がトランジスタTnのゲート端子に入力され、全ての論理信号が論理Lとなったときに、論理Hの論理信号が出力端子から基準電圧保持回路300へ出力される。この最終一致判定回路200から出力される論理信号(最終一致信号)は、各ユニット100nの比較回路50から出力される論理信号(一致信号)が論理反転するタイミングのうち最も遅いタイミングで論理が反転する。このように構成される最終一致判定回路200は、回路サイズが小さい点で好適である。なお、最終一致判定回路200は、N入力のNOR論理回路であってもよく、この場合には、正確な論理レベル値を出力することが可能であり、誤動作し難く、消費電力が小さい点で好適である。
【0029】
図7は本実施形態に係る固体撮像装置の基準電圧保持回路300の回路図である。基準電圧保持回路300は、入力端子と出力端子との間に順にスイッチ素子SW300およびアンプA300を有し、スイッチ素子SW300とアンプA300との接続点が容量素子C300を介して接地されている。基準電圧保持回路300は、最終一致判定回路200から出力される論理信号(最終一致信号)が論理HとなったときにスイッチSW300を開き、そのときの基準信号電圧発生回路500から出力されている基準信号電圧の値を容量素子C300に保持しアンプA300より出力する。
【0030】
図8は本実施形態に係る固体撮像装置のA/D変換回路400の回路図である。A/D変換回路400は、基準電圧保持回路300から出力される基準電圧値情報を電荷の形で入力し、この基準電圧値をA/D変換レンジとする。そして、A/D変換回路400は、各ユニット100nのホールド回路40から出力される差信号電圧Vn3をスイッチ素子SW6を介して順次に入力し、その信号電圧(アナログ信号)をデジタル信号に変換して出力する。A/D変換回路400は、可変容量積分回路410、比較回路A402、容量制御部420および読み出し部430を備える。
【0031】
可変容量積分回路410は、アンプA401、可変容量部C400およびスイッチ素子SW401を備える。アンプA401は、各ユニット100nのホールド回路40から出力されスイッチ素子SW6を介して順次に到達した差信号電圧Vn3に比例する電荷量を反転入力端子に入力する。アンプA401の非反転入力端子は接地されている。可変容量部C400は、容量が可変であって制御可能であり、アンプA401の反転入力端子と出力端子との間に設けられ、入力した信号電圧に応じて電荷を蓄える。スイッチ素子SW401は、アンプA401の反転入力端子と出力端子との間に設けられ、開いているときには可変容量部C400に電荷の蓄積を行わせ、閉じているときには可変容量部C400における電荷蓄積をリセットする。そして、可変容量積分回路410は、各ユニット100nから順次に出力された信号電圧を入力し、可変容量部C400の容量に応じて積分し、積分した結果である積分信号を出力する。
【0032】
比較回路A402は、可変容量積分回路410から出力された積分信号を反転入力端子に入力し、基準電圧保持回路300から出力された基準電圧値を非反転入力端子に入力し、これら2つの入力信号の値を大小比較して、その大小比較の結果である比較結果信号を出力する。
【0033】
容量制御部420は、比較回路A402から出力された比較結果信号を入力し、この比較結果信号に基づいて可変容量部C400の容量を制御する容量指示信号Cを出力するとともに、この比較結果信号に基づいて積分信号の値と基準電圧値とが所定の分解能で一致していると判断した場合に可変容量部C400の容量値に応じた第1のデジタル信号を出力する。
【0034】
読み出し部430は、容量制御部420から出力された第1のデジタル信号を入力し、この第1のデジタル信号に対応する第2のデジタル信号を出力する。第2のデジタル信号は、第1のデジタル信号の値から可変容量積分回路410のオフセット値を除去した値を示すものである。読み出し部430は、例えば記憶素子であり、第1のデジタル信号をアドレスとして入力し、記憶素子のそのアドレスに記憶されているデータを第2のデジタル信号として出力する。この第2のデジタル信号は、本実施形態に係る固体撮像装置から出力される光検出信号となる。
【0035】
図9はA/D変換回路400中の可変容量積分回路410の詳細な回路図である。この図では、1/24=1/16の分解能を有するA/D変換機能を備える回路構成を示し、以下、この回路構成で説明する。
【0036】
この図に示すように、可変容量部C400は、容量素子C411〜C414、スイッチ素子SW411〜SW414およびスイッチ素子SW421〜SW424を備える。容量素子C411およびスイッチ素子SW411は、互いに縦続接続されて、アンプA401の反転入力端子と出力端子との間に設けられており、スイッチ素子SW421は、容量素子C411およびスイッチ素子SW411の接続点と接地電位との間に設けられている。容量素子C412およびスイッチ素子SW412は、互いに縦続接続されて、アンプA401の反転入力端子と出力端子との間に設けられており、スイッチ素子SW422は、容量素子C412およびスイッチ素子SW412の接続点と接地電位との間に設けられている。容量素子C413およびスイッチ素子SW413は、互いに縦続接続されて、アンプA401の反転入力端子と出力端子との間に設けられており、スイッチ素子SW423は、容量素子C413およびスイッチ素子SW413の接続点と接地電位との間に設けられている。また、容量素子C414およびスイッチ素子SW414は、互いに縦続接続されて、アンプA401の反転入力端子と出力端子との間に設けられており、スイッチ素子SW424は、容量素子C414およびスイッチ素子SW414の接続点と接地電位との間に設けられている。
【0037】
スイッチ素子SW411〜SW414それぞれは、容量制御部420から出力された容量指示信号CのうちC11〜C14に基づいて開閉する。スイッチ素子SW421〜SW424それぞれは、容量制御部420から出力された容量指示信号CのうちC21〜C24に基づいて開閉する。また、容量素子C411〜C414の容量値をC411〜C414で表すとすれば、これらは、
411=2C412=4C413=8C414 …(1)
411+C412+C413+C414=C0 …(2)
なる関係を満たす。
【0038】
基準信号電圧発生回路500は、基準信号電圧を発生して、この基準信号電圧を各ユニット100nの比較回路50に与え、また、この基準信号電圧を基準電圧保持回路300に与える。なお、本実施形態では、基準信号電圧は、差分演算回路30のアンプA3を介して間接的に比較回路50に与えられる。この基準信号電圧は、差分演算回路30が差分演算を行いホールド回路40がその結果を保持するまでは一定電位(例えば接地電位)であり、その後は電圧値が単調に増加する。シフトレジスタ700は、この基準信号電圧の単調増加が終了した後に各ユニット100nのスイッチ素子SW6を順次に閉じる。タイミング制御回路600は、その他のスイッチ素子の開閉を制御し、基準信号電圧発生回路500からの基準信号電圧の出力を制御する。
【0039】
次に、本実施形態に係る固体撮像装置の動作について説明する。 図10A、図10B、図10C、図10D、図10E、図10F、図10G、図10H、図10I、図10J、図10K、図10L、図10M、図10N、図10O、図10Pは本実施形態に係る固体撮像装置の動作を説明するためのタイミングチャートである。なお、以下では、本実施形態に係る固体撮像装置が発光ダイオード等の投光手段LED(図14参照)とともに測距装置を構成する場合について説明する。すなわち、以下に説明する動作は、背景光成分を除去して、発光ダイオードから被写体に投光されたスポット光成分(信号光成分)のみについての光検出信号を出力するものである。
【0040】
時刻t1に、積分回路10のスイッチ素子SW1が閉じて、容量素子C1が放電され初期化される。また、CDS回路20のスイッチ素子SW21が閉じて、CDS回路20におけるCDS動作が停止される。時刻t2に、積分回路10のスイッチ素子SW1が開く。そして、時刻t2以降、フォトダイオードPDから出力された電荷が容量素子C1に蓄積されていき、積分回路10の出力端子から出力される信号電圧は次第に大きくなっていく。この時刻t2では、CDS回路20のスイッチ素子SW21は閉じたままであり、同時にスイッチ素子SW22が閉じて容量素子C22の残留電荷を放電する。スイッチ素子SW23は開いている。時刻t3に、CDS回路20のスイッチ素子SW21が開き、スイッチ素子SW22は閉じたままである。そして、時刻t3から一定時間T経過後の時刻t4に、CDS回路20のスイッチ素子SW21が閉じ、スイッチ素子SW22が開く。
【0041】
時刻t2〜t4の期間では、発光ダイオードから被写体にスポット光が投光されている。したがって、発光ダイオードから投光され被写体により反射されたスポット光成分および背景光成分の双方がフォトダイオードPDに入射して、それによって発生した信号電流がフォトダイオードPDから出力される。そして、その信号電流を入力した積分回路10では、容量素子C1に電荷が蓄積され、その蓄積された電荷の量に応じた信号電圧が積分回路10から出力される。また、時刻t3〜t4の期間(第1の期間)では、積分回路10の出力端子から出力される信号電圧がCDS回路20に入力して、時刻t3以降の入力信号電圧の変化分に相当する電荷が容量素子C22に蓄積され、その蓄積された電荷の量に応じた信号電圧がCDS回路20から出力される。したがって、時刻t4にCDS回路20から出力される信号電圧は、時刻t3および時刻t4それぞれに積分回路10から出力される信号電圧の差に相当する電圧値Vn1となり、積分回路10にて生じるノイズ成分が除去されたものとなる。
【0042】
時刻t4に、スイッチ素子SW22が開いて、その時点でのCDS結果が電荷量として、これ以降、容量素子C22に保持され続ける。さらに、その直後に積分回路10のスイッチ素子SW1が閉じて、容量素子C1が放電され初期化される。また、CDS回路20のスイッチ素子SW21が閉じて、CDS回路20におけるCDS動作が停止される。同時に、スイッチ素子SW23が閉じて、容量素子C23の残留電荷を放電する。時刻t5に、積分回路10のスイッチ素子SW1が開く。そして、時刻t5以降、フォトダイオードPDから出力された電荷が容量素子C1に蓄積されていき、積分回路10の出力端子から出力される信号電圧は次第に大きくなっていく。この時刻t5では、CDS回路20のスイッチ素子SW21は閉じたままであり、スイッチ素子SW22は開いている。時刻t6に、CDS回路20のスイッチ素子SW21が開き、スイッチ素子SW23は閉じたままである。そして、時刻t6から一定時間経過後の時刻t7にスイッチ素子SW23が開いて、その時点でのCDS結果が、これ以降、スイッチ素子SW23に電荷の形で保持される。その後、CDS回路20のスイッチ素子SW21が閉じて、次の動作に備える。
【0043】
時刻t5〜t7の期間では、発光ダイオードから被写体にスポット光が投光されていない。したがって、背景光成分のみがフォトダイオードPDに入射して、それによって発生した信号電流がフォトダイオードPDから出力される。そして、その信号電流を入力した積分回路10では、容量素子C1に電荷が蓄積され、その蓄積された電荷の量に応じた信号電圧が積分回路10から出力される。また、時刻t6〜t7の期間(第2の期間)では、積分回路10の出力端子から出力される信号電圧がCDS回路20に入力して、時刻t6以降の入力信号電圧の変化分に相当する電荷が容量素子C23に蓄積され、その蓄積された電荷の量に応じた信号電圧がCDS回路20から出力される。したがって、時刻t7にCDS回路20から出力される信号電圧は、時刻t6および時刻t7それぞれに積分回路10から出力される信号電圧の差に相当する電圧値Vn2となり、積分回路10にて生じるノイズ成分が除去されたものとなる。
【0044】
時刻t7以降では、CDS回路20の容量素子C22に蓄積されている電荷は、スポット光成分と背景光成分とを加算したものに相当するものであり、CDS回路20の容量素子C23に蓄積されている電荷は、背景光成分のみに相当するものである。また、時刻t3〜t4までの期間(第1の期間)と時刻t6〜t7までの期間(第2の期間)とは互いに等しい時間Tであり、容量素子C22およびC23それぞれの容量値は互いに等しいので、電圧値Vn1は、スポット光成分と背景光成分とを加算したものに相当するものであり、電圧値Vn2は、背景光成分のみに相当するものであり、したがって、これら間の電圧差Vn3=(Vn1−Vn2)は、スポット光成分のみに相当するものである。そこで、時刻t8以降では、この電圧差Vn3が差分演算回路30により以下のようにして求められる。
【0045】
時刻t7〜t11の期間(第3の期間)では、積分回路10のスイッチ素子SW1が閉じて、容量素子C1が放電され初期化状態が維持される。また、CDS回路20のスイッチ素子SW21が開いたままである。この第3の期間に、差分演算回路30は、CDS回路20の容量素子C22およびC23それぞれに蓄積されている電荷量の差分を求めて、その差分に応じた差信号電圧を出力し、ホールド回路40は、この差分演算回路30から出力された差信号電圧を保持する。
【0046】
時刻t8〜t9の期間に、CDS回路20のスイッチ素子SW22が閉じる。このとき、差分演算回路30のスイッチ素子SW3は閉じている。この期間にCDS回路20の出力端子から出力される信号電圧は、容量素子C22に蓄積された電荷の量に応じた電圧値Vn1であり、この電圧値Vn1が差分演算回路30の容量素子C3に保持される。
【0047】
時刻t10〜時刻t11の期間に、CDS回路20のスイッチ素子SW23が閉じる。このとき、差分演算回路30のスイッチ素子SW3は開いている。この期間にCDS回路20の出力端子から出力される信号電圧は、容量素子C23に蓄積された電荷の量に応じた電圧値Vn2である。このとき、差分演算回路30のスイッチ素子SW3は開いているので、差分演算回路30の容量素子C3には、電圧値Vn2と電圧値Vn1との差Vn3が保持され、この電圧値Vn3がアンプA3を介して出力される。この電圧値Vn3は、スポット光成分のみに相当するものである。
【0048】
そして、ホールド回路40のスイッチ素子SW41およびSW43が閉じると、差分演算回路30の容量素子C3に保持されている電圧値Vn3は、差分演算回路30のアンプA3およびホールド回路40のスイッチ素子SW41を経て、ホールド回路40の容量素子C4に保持される。スイッチ素子SW41が開いた後も、ホールド回路40の容量素子C4に保持された電圧値Vn3の情報は、容量素子C4に蓄積された電荷量の形で保持され続ける。
【0049】
時刻t11までは、比較回路50のスイッチ素子SW5は閉じており、比較回路50のインバータINVの入力電圧レベルおよび出力電圧レベルはともに中間電位である。また、比較回路50の容量素子C5には、差分演算回路30により求められた差信号電圧Vn3の値が保持される。時刻t11の後に、差分演算回路30のスイッチ素子SW3が閉じて、比較回路50のスイッチ素子SW5が開くと、差分演算回路30からの出力電圧レベルは電圧値Vn3から−Vn3だけ低下するとともに、比較回路50のインバータINVの入力電圧レベルは中間電位から−Vn3だけ低下し、比較回路50から出力される信号は論理Hの論理信号となる。
【0050】
時刻t12以降(第4の期間)では、基準信号電圧発生回路500から出力される基準信号電圧は単調に値が増加していく。各ユニット100nの比較回路50では、差分演算回路30により求められて容量素子C5に保持されている電圧値Vn3と、基準信号電圧発生回路500から出力され差分演算回路30のアンプA3を経て入力する基準信号電圧の値との比較が行われ、両者が一致すると論値Lの論理信号(一致信号)が出力される。比較回路50から出力される論理信号の論理Lへの変化は、両者が一致するタイミングを示す。
【0051】
最終一致判定回路200では、各ユニット100nの比較回路50から出力される論理信号の全てが論理Lとなると、論理Hの論理信号(最終一致信号)が出力される。最終一致判定回路200から出力される論理信号の論理Hへの変化は、各ユニット100nの比較回路50から出力される論理信号が論理Lとなるタイミングのうち最も遅いタイミングを示す。なお、最終一致判定回路200から出力される論理信号が論理Hへ変化した時点で、基準信号電圧発生回路500から出力される基準信号電圧の値の増加を終了してよい。
【0052】
基準電圧保持回路300では、最終一致判定回路200から出力される論理信号が論理Hとなったタイミングでスイッチ素子SW300が開いて、そのタイミングにおける基準信号電圧発生回路500からの基準信号電圧の値(基準電圧値Vref)が容量素子C300に保持され、その後もアンプA300を介して基準電圧値Vrefが出力される。この基準電圧値Vrefは、各ユニット100nの差分演算回路30により求められホールド回路40に保持された差信号電圧Vn3の最大値を表している。そして、この基準電圧保持回路300により保持された基準電圧値Vrefに基づいてA/D変換回路400のA/D変換レンジが設定される。
【0053】
A/D変換回路400のA/D変換レンジが設定された後の期間(第5の期間)では、各ユニット100nのスイッチ素子SW6がシフトレジスタ700により順次に閉じられる。各ユニット100nのホールド回路40から出力された差信号電圧Vn3に比例する電荷量は、スイッチ素子SW401が一旦閉じて可変容量部C400の電荷を全て放電してリセット状態とした後に、更にスイッチ素子SW401を開いてからスイッチ素子SW6およびスイッチ素子SW42を同時に開くと、可変容量部C400に転送される。このようにして、差信号電圧Vn3に相当する電圧が、A/D変換回路400の可変容量部C400に順次に電荷の形で入力された後、デジタル信号に変換されて、該デジタル信号がA/D変換回路400から出力される。
【0054】
続いて、図11A、図11B、図11C、図11Dを用いて、A/D変換回路400の動作を説明する。時刻t13においては、可変容量積分回路410のスイッチ素子SW401は閉じられ、可変容量積分回路410はリセット状態とされている。また、可変容量積分回路410のスイッチ素子SW411〜SW414それぞれが閉じられ、スイッチ素子SW421〜SW424それぞれが開かれて、可変容量部C400の容量値がC0に設定されている。
【0055】
そして、時刻t13以降の或る時刻に、A/D変換回路400のスイッチ素子SW401が開かれ、第1番目のユニット1001のスイッチ素子SW6が閉じられる。ユニット1001のホールド回路40の容量素子C4に蓄積されている電荷量Qは、スイッチ素子SW41およびSW43が開きスイッチ素子SW42が閉じると、スイッチ素子SW6を介して、A/D変換回路400の可変容量部410に入力する。可変容量積分回路410に電荷量Qが入力すると、信号電圧V13の値と可変容量部C400の容量値C0とに応じた電荷Qが可変容量部C400に流入する(図11A参照)。このとき、可変容量積分回路410から出力される積分信号の値Vsaは、
sa=V13=Q/C0 …(3)
なる式で表される。
【0056】
引き続き、容量制御部420は、可変容量部C400のスイッチ素子SW412〜SW414を開いた後、スイッチ素子SW422〜SW424を閉じる(図11B参照)。この結果、可変容量部C400の容量値はC411となり、可変容量積分回路410から出力される積分信号の値Vsbは、
sb=Q/C411 …(4)
となる。この積分信号は、比較回路A402に入力し、その値が基準電圧値Vrefと大小比較される。
【0057】
もし、Vsb>Vrefであれば、この比較結果を受けて容量制御部420は、さらに、可変容量部C400のスイッチ素子SW422を開いた後に、スイッチ素子SW412を閉じる(図11C参照)。この結果、可変容量部C400の容量値はC411+C412となり、可変容量積分回路410から出力される積分信号の値Vscは、
sc=Q/(C411+C412) …(5)
となる。この積分信号は、比較回路A402に入力し、その値が基準電圧値Vrefと大小比較される。
【0058】
また、Vsb<Vrefであれば、この比較結果を受けて容量制御部420は、さらに、可変容量部C400のスイッチ素子SW411およびSW422を開いた後に、スイッチ素子SW412およびSW421を閉じる(図11D参照)。この結果、可変容量部C400の容量値はC412となり、可変容量積分回路410から出力される積分信号の値Vsdは、
sd=Q/C412 …(6)
となる。この積分信号は、比較回路A402に入力し、その値が基準電圧値Vrefと大小比較される。
【0059】
以後、同様にして、可変容量積分回路410、比較回路A402および容量制御部420からなるフィードバックループにより、積分信号の値と基準電位Vrefとが所定の分解能で一致していると容量制御部420により判断されるまで、可変容量部C400の容量値の設定、および、積分信号の値と基準電圧値Vrefとの大小比較を繰り返す。容量制御部420は、このようにして可変容量部C400の容量素子C411〜C414の全てについて容量制御を終了すると、可変容量部C400の最終的な容量値に応じたデジタル信号を読み出し部430へ向けて出力する。
【0060】
読み出し部430では、容量制御部420から出力されたデジタル信号をアドレスとして入力し、記憶素子のそのアドレスに記憶されているデジタルデータを、本実施形態に係る固体撮像装置の光検出信号として出力する。以上のようにして、第1番目のユニット1001のフォトダイオードPDに入射したスポット光の光量に応じた信号電圧V13は、A/D変換回路400によりデジタル信号に変換され、そのデジタル信号が光検出信号として出力される。以降同様にして、第2番目以降のユニット100nのフォトダイオードPDに入射したスポット光の光量に応じた差信号電圧Vn3は、A/D変換回路400によりデジタル信号に変換され、そのデジタル信号が光検出信号として順次に出力される。
【0061】
可変容量積分回路410に入力する各信号電圧Vn3の最大値が基準電圧値Vrefであり、可変容量部C400の容量値の最大値がC0であることから、上記(3)式より、可変容量部C400に流入する電荷Qの最大値はVref・C0である。そして、或る第n番目の信号電圧Vn3が基準電圧値Vrefであるときには、可変容量部C400のスイッチ素子SW411〜SW414の全てが閉じられて可変容量部C400の容量値はC0となる。一方、他の或る第n番目の信号電圧Vn3が基準電圧値Vrefより小さい値であるときには、可変容量部C400に流入する電荷QはVref・C0より小さいので、可変容量部C400のスイッチ素子SW411〜SW414のうち何れかが開くことにより、可変容量積分回路410から出力される積分信号は基準電圧値Vrefと等しくなる。
【0062】
以上のように、基準電圧保持回路300から出力され比較回路A402に入力される基準電圧値Vrefは、A/D変換回路400が飽和することなくA/D変換することができる差信号電圧Vn3の最大値すなわちA/D変換レンジを規定している。しかも、A/D変換回路400に入力する各信号電圧Vn3のうち何れかの値は必ず基準電圧値Vrefであるから、上記A/D変換レンジの全ての範囲を有効に活用することができる。すなわち、本実施形態に係る固体撮像装置は、入射光強度が大きくても飽和することなく、且つ、入射光強度が小さくてもA/D変換の分解能が優れたものとなる。
【0063】
また、固体撮像装置が測距装置に用いられる場合のように、スポット光成分および背景光成分の撮像結果から背景光成分の撮像結果を差し引くことによりスポット光成分のみの像を得る場合であって、フォトダイオードPDに入射する光のうちスポット光成分に比べて背景光成分が大きい場合であっても、その差し引いた結果として得られるスポット光成分に基づいてA/D変換回路400から出力されるデジタル信号は、分解能が優れたものとなる。
【0064】
さらに、本実施形態では、スポット光成分および背景光成分の双方がフォトダイオードPDにより受光されているときに、一定時間Tにおける積分回路10から出力される信号電圧の変動分Vn1がCDS回路20の容量素子C22に保持される。また、背景光成分のみがフォトダイオードPDにより受光されているときに、一定時間Tにおける積分回路10から出力される信号電圧の変動分Vn2がCDS回路20の容量素子C23に保持される。そして、その後に、電圧値Vn1と電圧値Vn2との差に相当する差信号電圧Vn3が、差分演算回路30により求められ、ホールド回路40から出力される。したがって、CDS回路20から出力される電圧値Vn1および電圧値Vn2や、ホールド回路40から出力される差信号電圧Vn3は、積分回路10にて生じるノイズ成分が除去されたものとなる。
【0065】
(第2の実施形態)
【0066】
次に、第2の実施形態に係る固体撮像装置の構成について説明する。第2の実施形態に係る固体撮像装置は、第1の実施形態の場合と比較すると、差分演算回路30および比較回路50それぞれの回路構成が異なる。図12は第2の実施形態に係る固体撮像装置の差分演算回路30および比較回路50の回路図である。
【0067】
各ユニット100nの差分演算回路30は、入力端子と出力端子との間に順に容量素子C3およびアンプA3を有し、容量素子C3とアンプA3との接続点がスイッチ素子SW3を介して接地されている。差分演算回路30は、スイッチ素子SW3を閉じているときに容量素子C3に電荷Q1だけ充電し、スイッチ素子SW3を開いているときに容量素子C3から電荷Q2を放電し、このようにして、CDS回路20から入力する電荷Q1と電荷Q2との差分すなわち電荷(Q1−Q2)を容量素子C3に蓄積して、その蓄積された電荷(Q1−Q2)に応じた信号電圧をアンプA3から出力する。スイッチ素子SW3は、タイミング制御回路600から出力される制御信号に基づいて開閉する。
【0068】
各ユニット100nの比較回路50は、2つの入力端子および1つの出力端子を有している。第1(第2)の入力端子と出力端子との間に順にスイッチ素子SW52(SW53)、容量素子C5およびインバータINVを有し、このインバータINVの入出力間にスイッチ素子SW51が接続されている。スイッチ素子SW51〜SW53は、タイミング制御回路600から出力される制御信号に基づいて開閉する。
【0069】
CDS回路20の容量素子C22およびC23それぞれに蓄積されている電荷量の差分を差分演算回路30で求めて該差分をホールド回路40で保持する第3の期間では、比較回路50は、スイッチ素子SW51を閉じてインバータINVから中間電位を出力し、また、スイッチ素子SW52を閉じスイッチ素子SW53を開いて、差分演算回路30から出力された電圧値Vn3を容量素子C3に保持する。この第3の期間に続く第4の期間では、比較回路50は、スイッチ素子SW51およびSW52を開きスイッチ素子SW53を閉じて、基準信号電圧発生回路500から出力される基準信号電圧の値と、容量素子C5に保持された電圧値Vn3とを比較して、その比較結果を示す論理信号を出力する。比較回路50から出力される論理信号は、基準信号電圧の値と容量素子C5に保持された電圧値Vn3とが一致したタイミングで論理が反転する。
【0070】
本実施形態に係る固体撮像装置の動作および効果は、第1の実施形態の場合と同様である。
【0071】
(第3の実施形態)
【0072】
次に、第3の実施形態に係る固体撮像装置の構成について説明する。第3の実施形態に係る固体撮像装置は、第2の実施形態の場合と比較すると、比較回路50の回路構成が異なる。図13は第3の実施形態に係る固体撮像装置の差分演算回路30および比較回路50の回路図である。
【0073】
各ユニット100nの比較回路50は、2つの入力端子および1つの出力端子を有し、スイッチ素子SW5、容量素子C5および差動型コンパレータCOMPを有している。差動型コンパレータCOMPの非反転入力端子は、容量素子C5を介して接地され、また、差分演算回路30から出力される信号電圧を入力する第1の入力端子とスイッチ素子SW5を介して接続されている。差動型コンパレータCOMPの反転入力端子は、基準信号電圧発生回路500から出力される基準信号電圧を入力する第2の入力端子と接続されている。スイッチ素子SW5は、タイミング制御回路600から出力される制御信号に基づいて開閉する。
【0074】
CDS回路20の容量素子C22およびC23それぞれに蓄積されている電荷量の差分を差分演算回路30で求めて該差分をホールド回路40で保持する第3の期間では、比較回路50は、スイッチ素子SW5を閉じて、差分演算回路30から出力された電圧値Vn3を容量素子C3に保持する。この第3の期間に続く第4の期間では、比較回路50は、スイッチ素子SW5を開いて、基準信号電圧発生回路500から出力される基準信号電圧の値と、容量素子C5に保持された電圧値Vn3とを差動型コンパレータCOMPで比較して、その比較結果を示す論理信号を出力する。比較回路50から出力される論理信号は、基準信号電圧の値と容量素子C5に保持された電圧値Vn3とが一致したタイミングで論理が反転する。
【0075】
本実施形態に係る固体撮像装置の動作および効果は、第1の実施形態の場合と同様である。特に、本実施形態では、キャパシタ入力に頼ることなく差動型コンパレータCOMPで比較しているので、寄生容量の影響が小さく、比較の精度が優れる。
【0076】
図14は上述の固体撮像装置が実装された撮像装置を搭載した測距装置の斜視図である。図1に示した固体撮像装置は半導体チップSCからなり、本撮像装置においては、半導体チップSCをセラミック製のパッケージPKG内に収納している。A/D変換回路400は半導体チップSC内に形成してもよいが、半導体チップSCの外側に接続してもよい。半導体チップSCがA/D変換回路400を含む場合には、パッケージPKGの側面には、A/D変換回路400の出力端子TMが設けられ、含まない場合にはA/D変換回路400へ入力される信号を出力するための出力端子TMが設けられる。
【0077】
パッケージPKGは凹部を有しており、半導体チップSCは当該凹部内に配置されている。この凹部の内壁には段部STPが形成されており、この段部STP上にフィルタFが配置され、フィルタFによってパッケージPKGの凹部は閉塞されている。なお、フィルタFとパッケージPKGとの隙間には接着剤AHVが介在している。フィルタFは赤外線を選択的に透過する赤外線フィルタであり、Siからなる。なお、半導体チップSCの構成材料もSiである。
【0078】
フィルタFを透過した赤外線は半導体チップSCの表面に設けられたホトダイオードPDのアレイに入射し、この入射画像に対応した画像信号は出力端子TMから出力される。
【0078】
本撮像装置は回路基板CB上に搭載されている。すなわち、回路基板CB上にはソケットSKTが固定されており、ソケットSKTの内面に端子TMが接触するように、撮像装置がソケットSKTに嵌め込まれる。回路基板CB上には光源LEDも配置される。すなわち、本装置は、固体撮像装置SCへ入射する光を提供する光源LEDを備え、固体撮像装置SC及び光源LEDは同一の回路基板CB上に固定されている。
【0079】
入射画像が、固定位置に配置された赤外線光源LEDからの光スポットである場合には、上記画像信号に基づいて光スポットの入射位置を検出することができる。すなわち、光源LEDから対象物に赤外線を出射し、対象物による反射光をレンズLSによって集光することにより半導体チップSC上に光スポットを形成し、基準位置からの光スポットの距離(入射位置)を画像信号に基づいて求め、この入射位置に基づいて対象物までの距離を演算する。なお、レンズLSは回路基板CBに対して固定される。
【0080】
この演算には三角測量法の原理を用いることができる。すなわち、光スポットの入射位置は、光源LEDと半導体チップSCとの間の距離に応じて変化するので、本装置は測距装置に用いることができることとなる。なお、この演算は、回路基板CB上に搭載されたデジタルプロセッサによって行われる。
【0081】
以上、詳細に説明したとおり、本発明によれば、N個のユニットそれぞれにおいては、入射光量に応じた信号電流が光検出素子から出力され、積分回路では、光検出素子から出力された信号電流に応じて電荷が蓄積されて、その蓄積された電荷の量に応じた信号電圧が出力される。CDS回路では、積分回路から出力される信号電圧が第1の容量素子に入力し、スイッチ手段により選択された第2および第3の容量素子のうち何れか一方に、その入力した信号電圧の変化量に応じた電荷量が蓄積される。そして、差分演算回路では、CDS回路の第2および第3の容量素子それぞれに蓄積されている電荷量の差分が求められ、その差分に応じた差信号電圧が出力される。この差信号電圧がホールド回路により保持される。また、比較回路では、差分演算回路により得られた差信号電圧の値と、基準信号電圧発生回路から出力される単調に値が増加する基準信号電圧の値とが比較され、両者が一致するタイミングを示す一致信号が出力される。
【0082】
さらに本発明によれば、最終一致判定回路では、N個の比較回路それぞれから出力される一致信号が示すタイミングのうち、最も遅いタイミングを示す最終一致信号が出力される。基準電圧保持回路では、最終一致信号が示すタイミングにおける基準信号電圧の値が保持され出力される。この保持された基準信号電圧の値は、N個のホールド回路それぞれにより保持されている差信号電圧のうちの最大値である。そして、A/D変換回路では、基準電圧保持回路から出力される基準信号電圧の値に基づいてA/D変換レンジが設定され、N個のホールド回路それぞれから出力される差信号電圧が順次に入力され、その差信号電圧がデジタル信号に変換されて、そのデジタル信号が出力される。
【0083】
したがって、積分回路が各積分動作毎に異なるノイズばらつきを有していても、CDS回路によりノイズ誤差が解消される。また、入射光強度が大きくても飽和することなく、入射光強度が小さくても分解能が優れたものとなる。
【0084】
また、第1の期間に、CDS回路の第2および第3の容量素子のうち一方にスポット光成分(信号光成分)および背景光成分に応じた電荷が蓄積され、第2の期間に、他方に背景光成分に応じた電荷が蓄積され、そして、第3の期間に両者の差分(信号光成分)が差分演算回路で求められホールド回路に保持される。続いて第4の期間に、単調に値が増加する基準信号電圧が基準信号電圧発生回路から出力される。比較回路からは、差信号電圧および基準信号電圧それぞれの値の比較に基づいて両者が一致するタイミングを示す一致信号が出力される。最終一致判定回路からは、この一致信号が示すタイミングのうち最も遅いタイミングを示す最終一致信号が出力されて、基準電圧保持回路により、この最終一致信号が示すタイミングにおける基準信号電圧の値が保持される。この保持された基準信号電圧の値に基づいて、A/D変換回路のA/D変換レンジが設定される。そして、第5の期間に、N個のホールド回路それぞれから出力される差信号電圧が順次にA/D変換回路に入力して、その差信号電圧がデジタル信号に変換されて該デジタル信号がA/D変換回路から出力される。このようにすることで、背景光成分が除去されて信号光成分についての光検出のS/N比は優れたものとなる。
【0085】
また、上記固体撮像装置は、複数の回路列(PD、10、20、30、50、40、SW)の出力信号が順次入力されるA/D変換回路400を備える固体撮像装置において、前記回路列のそれぞれは、光検出素子PDと、光検出素子PDの出力に応じた信号(差分演算回路30の出力信号)と単調増加する電圧(基準信号電圧発生回路500の出力)とが入力され、両者が一致するタイミングを示す一致信号を出力する比較回路50とを備え、この固体撮像装置は、それぞれの比較回路50から出力される複数の一致信号が入力され、これらの一致信号が示すタイミングのうち最も遅いタイミングを示す最終一致信号を出力する最終一致判定回路200を備え、A/D変換回路400のA/D変換レンジは、最終一致信号が出力された時の単調増加する電圧(基準信号電圧発生回路500の出力)の値に応じて設定されることを特徴とする。
【0086】
最終一致信号は、上記光検出素子PDの出力に応じた信号のうちで、最も入射光強度(光強度)が大きいものに対応する。したがって、これに基づいてA/D変換レンジを設定すれば、入射光強度が大きくても飽和することなく、入射光強度が小さくても分解能が優れたものとなる。
産業上の利用可能性
【0087】
本発明は、固体撮像装置及び測距装置に利用することができる。
【発明の効果】
【0088】
本発明によれば、S/N比が優れ、A/D変換する場合に、入射光強度が大きくても飽和することなく、入射光強度が小さくても分解能が優れた固体撮像装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【0089】
【図1】 本実施形態に係る固体撮像装置の全体の概略構成図である。
【図2】 本実施形態に係る固体撮像装置の積分回路の回路図である。
【図3】 本実施形態に係る固体撮像装置のCDS回路の回路図である。
【図4】 第1の実施形態に係る固体撮像装置の差分演算回路および比較回路の回路図である。
【図5】 本実施形態に係る固体撮像装置のホールド回路の回路図である。
【図6】 本実施形態に係る固体撮像装置の最終一致判定回路の回路図である。
【図7】 本実施形態に係る固体撮像装置の基準電圧保持回路の回路図である。
【図8】 本実施形態に係る固体撮像装置のA/D変換回路の回路図である。
【図9】 A/D変換回路中の可変容量積分回路の詳細な回路図である。
【図10A】 本実施形態に係る固体撮像装置の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図10B】 本実施形態に係る固体撮像装置の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図10C】 本実施形態に係る固体撮像装置の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図10D】 本実施形態に係る固体撮像装置の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図10E】 本実施形態に係る固体撮像装置の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図10F】 本実施形態に係る固体撮像装置の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図10G】 本実施形態に係る固体撮像装置の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図10H】 本実施形態に係る固体撮像装置の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図10I】 本実施形態に係る固体撮像装置の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図10J】 本実施形態に係る固体撮像装置の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図10K】 本実施形態に係る固体撮像装置の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図10L】 本実施形態に係る固体撮像装置の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図10M】 本実施形態に係る固体撮像装置の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図10N】 本実施形態に係る固体撮像装置の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図10O】 本実施形態に係る固体撮像装置の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図10P】 本実施形態に係る固体撮像装置の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図11A】 A/D変換回路の動作を説明する図である。
【図11B】 A/D変換回路の動作を説明する図である。
【図11C】 A/D変換回路の動作を説明する図である。
【図11D】 A/D変換回路の動作を説明する図である。
【図12】 第2の実施形態に係る固体撮像装置の差分演算回路および比較回路の回路図である。
【図13】 第3の実施形態に係る固体撮像装置の差分演算回路および比較回路の回路図である。
【図14】 固体撮像装置が実装された撮像装置の斜視図である。
【符号の説明】
【0090】
PD・・・フォトダイオード、10・・積分回路、20・・・CDS回路、30・・・差分演算回路、40・・・ホールド回路、100 n ・・・ユニット、50・・・比較回路、200・・・最終一致判定回路、300・・・基準電圧保持回路、400・・・A/D変換回路。

Claims (4)

  1. 複数の回路列の出力信号が順次入力されるA/D変換回路を備える固体撮像装置において、
    前記回路列のそれぞれは、光検出素子と、前記光検出素子の出力に応じた信号と時間に応じて単調増加する電圧とが入力され、両者の電圧値が一致するタイミングを示す一致信号を出力する比較回路とを備え、
    前記固体撮像装置は、それぞれの前記比較回路から出力される複数の一致信号が入力され、これらの一致信号が示すタイミングのうち最も遅いタイミングを示す最終一致信号を出力する最終一致判定回路を備え、
    前記A/D変換回路のA/D変換レンジは、前記最終一致信号が出力された時の前記単調増加する電圧の値に応じて設定されることを特徴とする固体撮像装置。
  2. 入射光量に応じた信号電流を出力するN(N≧2)個の光検出素子と、
    前記N個の光検出素子それぞれに対応して設けられ、各光検出素子から出力された信号電流に応じて電荷を蓄積して、その蓄積された電荷の量に応じた信号電圧を出力するN個の積分回路と、
    前記N個の積分回路それぞれに対応して設けられ、各積分回路から出力された信号電圧を入力する入力端と出力端との間に順に設けられた第1の容量素子および増幅器と、前記増幅器の入出力間に並列的に設けられ容量値が互いに等しい第2の容量素子および第3の容量素子と、前記第2および前記第3の容量素子のうち何れか一方を選択して前記信号電圧の変化量に応じた電荷量を蓄積させるスイッチ手段と、を有するN個のCDS回路と、
    前記N個のCDS回路それぞれに対応して設けられ、各CDS回路の前記第2および前記第3の容量素子それぞれに蓄積されている電荷量の差分を求め、その差分に応じた差信号電圧を出力するN個の差分演算回路と、
    前記N個の差分演算回路それぞれに対応して設けられ、各差分演算回路により得られた差信号電圧を保持して出力するN個のホールド回路と、
    時間に応じて単調に値が増加する基準信号電圧を出力する基準信号電圧発生回路と、
    前記N個の差分演算回路それぞれに対応して設けられ、各差分演算回路により得られた差信号電圧の値と、前記基準信号電圧発生回路から出力される基準信号電圧の値とを比較し、両者が一致するタイミングを示す一致信号を出力するN個の比較回路と、
    前記N個の比較回路それぞれから出力される一致信号を入力し、これらの一致信号が示すタイミングのうち最も遅いタイミングを示す最終一致信号を出力する最終一致判定回路と、
    前記最終一致判定回路から出力される最終一致信号と、前記基準信号電圧発生回路から出力される基準信号電圧とを入力し、前記最終一致信号が示すタイミングにおける前記基準信号電圧の値を保持し出力する基準電圧保持回路と、
    前記基準電圧保持回路から出力される前記基準信号電圧の値に基づいてA/D変換レンジを設定し、前記N個のホールド回路それぞれから出力される差信号電圧を順次に入力し、その差信号電圧をデジタル信号に変換して、そのデジタル信号を出力するA/D変換回路と、
    を備えることを特徴とする固体撮像装置。
  3. 前記N個の積分回路、前記N個のCDS回路、前記N個の差分演算回路、前記N個のホールド回路、前記基準信号電圧発生回路、前記N個の比較回路、前記最終一致判定回路、前記基準電圧保持回路および前記A/D変換回路それぞれの動作を制御するタイミング制御回路を更に備え、被写体に向けてスポット光を投光する投光手段とともに用いられる固体撮像装置であって、
    前記タイミング制御回路は、
    前記投光手段により前記被写体に前記スポット光が投光されている第1の期間に、前記光検出素子に当該スポット光成分および背景光成分が入射したときに前記積分回路が出力した信号電圧の変化量に応じた電荷量を前記CDS回路の前記第2の容量素子に蓄積させ、
    前記投光手段により前記被写体に前記スポット光が投光されていない第2の期間に、前記光検出素子に前記背景光成分が入射したときに前記積分回路が出力した信号電圧の変化量に応じた電荷量を前記CDS回路の前記第3の容量素子に蓄積させ、
    前記第1および前記第2の期間の後の第3の期間に、前記CDS回路の前記第2および前記第3の容量素子それぞれに蓄積されている電荷量の差分を前記差分演算回路に演算させて、その差分に応じた差信号電圧を前記差分演算回路から出力させるとともに、その差信号電圧を前記ホールド回路に保持させ、
    前記第3の期間の後の第4の期間に、時間に応じて単調に値が増加する基準信号電圧を前記基準信号電圧発生回路から出力させるとともに、前記差信号電圧および前記基準信号電圧それぞれの値の比較に基づいて両者が一致するタイミングを示す一致信号を前記比較回路から出力させ、この一致信号が示すタイミングのうち最も遅いタイミングを示す最終一致信号を前記最終一致判定回路から出力させ、この最終一致信号が示すタイミングにおける前記基準信号電圧の値を前記基準電圧保持回路に保持させ、この保持された前記基準信号電圧の値に基づいて前記A/D変換回路のA/D変換レンジを設定させ、
    前記第4の期間の後の第5の期間に、前記N個のホールド回路それぞれから出力される差信号電圧を順次に前記A/D変換回路に入力させて、その差信号電圧をデジタル信号に変換させて該デジタル信号を前記A/D変換回路から出力させることを特徴とする請求項2に記載の固体撮像装置。
  4. 請求項2に記載の固体撮像装置と、前記固体撮像装置へ入射する光を提供する光源とを備え、前記固体撮像装置及び前記光源は同一の回路基板上に固定されていることを特徴とする測距装置。
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