JP4006298B2 - 振動量測定装置及びその方法並びに最小ループ利得測定方法 - Google Patents

振動量測定装置及びその方法並びに最小ループ利得測定方法 Download PDF

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は光ディスクドライブのフォーカス及びトラッキングループを最適に設計するために、フォーカス及びトラッキングループで生じる振動量を精度良く測定するための振動量測定装置及びその方法並びに最小ループ利得測定方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
光ディスクに記録されたデータを再生したり、あるいはそこにデータを記録する時、光ディスクドライブはフォーカスサーボをもってディスクの記録面に正確に焦点を合わせ、且つ、トラッキングサーボをもってピックアップをトラックに正確に追跡せしめる。正確なフォーカス及びトラッキングサーボの制御のために、フォーカス及びトラッキングループは正確にモデリングされる必要がある。そして、フォーカス及びトラッキングループの制御を司るフォーカス及びトラッキング制御器はドライブで生じるフォーカス及びトラッキング振動に対して所望の性能を満足可能に設計される必要がある。
【0003】
フォーカス及びトラッキングループを最適にモデリングするためには、光ディスクドライブで生じる振動量を正確に測定しなければならない。測定された振動量とフォーカス及びトラッキング許容誤差とによってループの利得が決まる。従って、周波数別に生じる振動量を正確に測定できなければ、振動量が許容エラーに同じくなるループ帯域の幅が決定できず、フォーカス及びトラッキングループを最適にモデリングすることができない。
【0004】
従来には、振動量を測定せずに、規格で与えられた最大振動量及び最大振動加速度をもって振動量を決めてループをモデリングしていた。最大振動量はドライブで発生可能な最大振動量であり、最大振動加速度は1倍速で発生可能な最大加速度である。このような規格はドライブで生じる振動量に対する規格であるというよりは、光ディスクが満足すべき規格であると言える。すなわち、ディスクを製造し、ドライブで1倍速で回転させた時に生じる最大振動量及び最大振動加速度が規格で定めた値よりも小さければ、製造されたディスクは正常なディスクと見なされる。規格を満足するすべてのディスクに対してフォーカス及びトラッキングループが性能を満足するように設計される必要があるが、大部分のディスク振動量は規格で定めた値よりもはるかに小さい。従って、かかる最大振動量及び最大振動加速度をもってフォーカス及びトラッキングループを設計すれば、必要以上に帯域幅が広くなったりループ利得が大きくなってフォーカス及びトラッキングループのあるブロックの出力が飽和されてフォーカス及びトラッキングループが不安になる場合がある。
【0005】
1倍速以外のn倍速における振動量を1倍速での方法によりモデリングするためには、n倍速で生じる最大振動加速度を知る必要がある。加速度は倍速の自乗に比例する。従って、n倍速の最大振動加速度を1倍速の最大振動加速度にnの自乗をかけて計算すれば、高倍速における最大振動加速度があまりにも大きくなってデータへの信頼性がほとんどなくなる。これを補完するために、ディスクだけ回転させた状態でレーザドップラーバイブロメータ(LDV: Laser Doppler Vibrometer)を使って倍速別フォーカス方向の最大振動加速度を測定してフォーカス振動量のモデリングに使えるものの、トラッキング方向の振動はLDVにより測定し難いため、倍速別最大振動加速度が測定できない。
【0006】
光ディスクドライブで生じる特定周波数の振動を下記[数1]のように正弦波d(w)で表わせば、最大加速度a(w)はd(w)を2回微分した最大値として求めることができ、最大加速度を使って、各周波数別振動量d(w)は最大加速度を周波数の自乗で割って求めることができる。
【数1】
Figure 0004006298
【0007】
一般に、規格で定めたDVDディスクのフォーカス最大振動量は±300μmであり、1倍速における最大振動加速度は8m/secである。そして、トラッキング最大振動量は±35μmであり、1倍速における最大振動加速度は1.1m/secである。最大振動加速度を特定周波数の自乗で割れば、特定周波数で生じる振動量を求めることができる。各周波数で計算した振動量は最大振動量を超えられないため、振動量の周波数特性は図1のようになる。前記[数1]により求めた振動量はループ設計のための最小ループ利得を求めるのに使われる。最小ループ利得は振動量を許容エラー値で割った値として定義されるが、最大振動量を許容エラーで割った低周波領域の最小ループ利得L及び最大振動加速度により求められた周波数別振動量を許容エラーで割った高周波領域の最小ループ利得Lは下記[数2]により計算でき、図1の如き周波数特性を持つ。
【数2】
Figure 0004006298
【0008】
図1のように求めた最小ループ利得に基づき、フォーカス及びトラッキングループ利得は最小ループ利得よりも大きく、且つ、目的とする位相マージン及び利得マージンが確保されるように設計される。フォーカス及びトラッキングループの帯域幅は振動量が許容エラーに同じくなる周波数を表わすため、振動量を正確に測定しなければ、倍速の変化に応じて適切な帯域幅を持つフォーカス及びトラッキングループが設計できない。最大振動量及び最大振動加速度はディスクの製造のための規格であり、実際にドライブで生じる振動量とは関係ないため、フォーカス及びトラッキングループが必要とされる利得以上に設計される可能性が高い。そして、倍速が高くなるにつれて、最大振動加速度が正確にどこまで大きくなるかが分からないため、倍速が高くなる場合、最小ループ利得が計算できない。この理由から、実験を通じてのトライアンドエラー方法により目標性能を満足するまでフォーカス及びトラッキング制御器の設計を繰り返さざるを得ない。
【0009】
従来の最大振動量及び最大振動加速度により求めたフォーカス及びトラッキング振動量は同じ種類のディスクでは常に同じ値として計算されるため、ディスクの種類及びドライブに応じて振動量が相異なることから、信頼性あるデータであるとは言い難い。同じディスク及びドライブであるとしても、チャッキングやその他の原因によって生じる振動量が毎回異なってくるため、振動量をドライブが駆動されている状態で測定する必要がある。従来には、ループ利得が常に必要以上に設計される可能性が高かったため、フォーカス及びトラッキングループを再び設計しなければならないという困難さがあった。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
本発明が解決しようとする技術的課題は、最適のフォーカス及びトラッキングループを設計するための振動量測定装置を提供するところにある。
【0011】
本発明が解決しようとする他の技術的課題は、最適のフォーカス及びトラッキングループを設計するための振動量測定方法を提供するところにある。
【0012】
本発明が解決しようとするさらに他の技術的課題は、ドライブで生じる振動量を直接的に測定することにより、最適のフォーカス及びトラッキングループを設計するための最小ループ利得測定方法を提供するところにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】
前記技術的課題を解決するために、本発明に係る振動量測定装置は、ディスク回転によりフォーカス及びトラッキングループで振動が生じるあらゆるディスク記録及び再生装置において、前記ディスク回転時に生じるフォーカス及びトラッキングエラーの振幅が一定に維持されるように調整するエラー利得調整手段と、アクチュエータの利得偏差を補償するために、前記フォーカス及びトラッキングループの閉ループ位相と所定の公称閉ループ位相とを比較して前記フォーカス及びトラッキングループの利得を一定に調整するループ利得調整手段と、前記エラー利得調整手段及びループ利得調整手段により調整されたエラーと、このエラーにより補償された前記ディスクのフォーカス及びトラッキングを制御する制御器の出力とから振動量を計算して出力する測定手段とを含むことを特徴とする。
【0014】
前記他の技術的課題を解決するために、本発明に係る振動量測定方法は、(a)前記ディスク回転時に生じるフォーカス及びトラッキングエラーの振幅が一定に維持されるように調整して出力する段階と、(b)アクチュエータの利得偏差を補償するために前記フォーカス及びトラッキングループの閉ループ位相と公称閉ループ位相とを比較して前記フォーカス及びトラッキングループの利得を一定に調整して出力する段階と、(c)前記(a)段階で出力されるエラー及び前記(b)段階で出力されるループ利得と、前記エラーにより補償された前記ディスクのフォーカス及びトラッキングを制御する制御器の出力とから前記振動量を計算して出力する段階とを含むことを特徴とする。
【0015】
前記さらに他の技術的課題を解決するために、本発明に係る最小ループ利得測定方法は、ディスク回転によりフォーカス及びトラッキングループに振動が生じるあらゆるディスク再生及び記録装置の振動量から最小ループ利得を測定する方法において、(a)前記ディスク回転時に生じるフォーカス及びトラッキングエラーの振幅が一定に維持されるように調整して出力する段階と、(b)前記アクチュエータの利得偏差を補償するために、前記フォーカス及びトラッキングループの閉ループ位相と公称閉ループ位相とを比較して前記フォーカス及びトラッキングループの利得を一定に調整して出力する段階と、(c)前記(a)段階で出力されるエラー及び前記(b)段階で出力されるループ利得と、このエラーにより補償された前記ディスクのフォーカス及びトラッキングを制御する制御器の出力とから前記振動量を計算して出力する段階と、(d)前記振動量を所定の許容エラーで割って最小ループ利得を計算する段階と含むことを特徴とする。
【0016】
【発明の実施の形態】
以下、添付した図面に基づき、本発明を詳細に説明する。
【0017】
倍速が異なってくれば、振動量の周波数特性が異なってくるために、フォーカス及びトラッキングループを再び設計する必要がある。また、駆動するディスク(図示せず)が異なってくれば、ディスクの構造及び信号特性のために、フォーカス及びトラッキングループは再び設計する必要がある。このように、対応すべき倍速及びディスクの種類が多いドライブ(図示せず)では、ディスクの種類及び倍速に応じて制御器(図示せず)を再び設計する必要があり、設計したデータをマイコン(図示せず)で格納している必要がある。
【0018】
例えば、DVD記録媒体の場合、CD−ROM、CD−R、CD−RW、DVD−ROM、DVD−R及びDVD−RWなどのディスクを再生又は記録しなければならないために、設計すべきフォーカス及びトラッキングループがかなり多くなり、その結果、設計に長時間かかる。従って、フォーカス及びトラッキングループをできる限り速く、且つ最適に設計する方法は、ドライブに存在する振動量を直接的に測定し、これに基づきフォーカス及びトラッキング制御器を設計することである。従来の技術により、最大振動量及び最大振動加速度により振動量をモデリングしてフォーカス及びトラッキングループを設計すれば、必要以上に高いループ利得に設計されるため、ループ設計のマージンが小さい高倍速ではフォーカス及びトラッキングループを再び設計する必要がある。
【0019】
この理由から、本発明においては、従来の規格で定めている最大振動量及び最大振動加速度により振動量をモデリングする方法に代えて、光ディスクドライブを駆動させた状態でドライブで生じる振動量を直接的に測定する。既存の不正確なデータにより設計された制御器を実際のドライブに適用すれば、設計目標を満足するまで制御器の設計を繰り返す必要がある。しかし、本発明においては、ドライブで生じる振動量を直接的に測定して最適のフォーカス及びトラッキングループを設計でき、しかも設計マージンも最大限に確保できる。
【0020】
図2は、光学システムのフォーカス及びトラッキングループを示すブロック図であって、センサーK(s) 20、制御器C(s) 21、ドライバV(s) 22及びアクチュエータP(s) 23を含んでなる。
【0021】
センサーK(s) 20はディスクからピックアップされた信号を検出するフォトダイオード(PD)(図示せず)及びピックアップされた信号を増幅してトラッキング及びフォーカスエラーe(t)を出力するRFチップ(図示せず)を含む。フォーカス及びトラッキングエラーe(t)は光学システムの光ディスクドライブで生じる振動d(t)に対しピックアップ(図示せず)が正焦点位置やトラック中心から外れた度合いをPD(図示せず)により検出した後、RFチップの利得に増幅されて出力される。制御器C(s) 21はセンサーK(s) 20から出力されるフォーカス及びトラッキングエラーe(t)を補償し、制御器C(s) 21の出力u(t)はドライバV(s) 22を介してアクチュエータP(s) 23に印加される。
【0022】
光学システムの光ディスクドライブで生じる振動d(t)は、下記式(3−1)のように、ループで追跡できない振動量e(t)及びループで追跡した振動量y(t)の合計として表わされ、下記式(3−1)は、図3の振動量測定装置を用い、下記式(3−2)で表わされる。
【数3】
Figure 0004006298
【0023】
図3は、本発明に係る振動量測定装置の構成を示すブロック図であって、利得が(Ksensor) −1 であるセンサーK(s) −1 20a、ドライバV(s) 22、アクチュエータP(s) 23、第1演算部30、OFF(s) 31及び第2演算部32を含む。図3の振動量測定装置を用い、ループで追跡できなかった振動量e(t)はフォーカス及びトラッキングエラーe(t)とセンサーK(s) −1 20aで計算でき、ループで追跡した振動量y(t)はu(t)とドライバV(s) 22及びアクチュエータP(s) 23を使って計算できる。最終振動量d(t)はOFF(s) 31により計算された2つの振動量の合計からオフセット成分を除去して出力される。
【0024】
図3に示された振動量測定装置は、大きく3部分に分けて説明可能である。
1.ループで追跡できなかった振動量e(t)の計算
2.ループで追跡した振動量y(t)の計算
3.最終振動量d(t)の計算
【0025】
次に、図3の振動量測定装置について詳細に説明する。
1.ループで追跡できなかった振動量e(t)の計算
ループで追跡できなかった振動量e(t)は、フォーカス及びトラッキングエラーe(t)の振幅を一定にし、且つ、センサーK(s) 20の利得を一定にして計算する。ループで追跡できなかった振動量e(t)を正確に計算するためには、ディスクの反射率の変化を考慮しなければならない。
【0026】
ループで追跡できなかった振動量e(t)は、e(t)、K(s) −1 により計算できる。フォーカス及びトラッキングエラーe(t)は、光学システムにおいて測定される値である。センサーK(s) −1 20aはフォーカス及びトラッキングエラーe(t)を増幅し、その利得を一定に調整して出力する。
【0027】
フォーカス及びトラッキングエラーの利得を制御するセンサーK(s) −1 20aを通じてフォーカスエラーは図4の(A)のように、S字曲線として出力され、トラッキングエラーは図4の(B)のように、正弦波として出力される。フォーカスエラーの利得及びトラッキングエラーの利得の調整は線形区間でのみ可能であるため、センサーK(s) −1 20aで調整されるフォーカスエラーの利得及びトラッキングエラーの利得はフォーカスエラーのS字曲線のうち線形区間(2F)とトラッキングエラーの正弦波のうちトラックピッチPによって計算でき、下記の式のように表わされる。
フォーカスエラー利得=Aπ/(2F)
ここで、Aは振幅であり、Fは線形区間内の焦点距離である。
トラッキングエラー利得=2πA/Pここで、Aは振幅であり、Pは線形区間内のトラック移動距離である。
【0028】
図4を通じて、センサーK(s) −1 20aはDC利得がKsensor −1 である2次ロウパスフィルタ(LPF)としてモデリングされるが、LPFの極点がループ帯域よりも大きい数十、数百Hzであるために、Ksensor −1 に近似化できる。
【0029】
レーザパワー及びディスクの反射率が異なってくれば、フォーカス及びトラッキングエラーの振幅が異なってくるため、センサーKs −1 20aの利得が異なってくる。しかし、このような変化にも拘わらず、フォーカス及びトラッキングループで追跡できなかった振動量e(t)を正確に計算するためには、フォーカス及びトラッキングエラーe(t)の振幅を一定に調整し、レーザパワーやディスク反射率の変化に対してもセンサーK(s) −1 20aの利得を常に一定にする必要がある。
【0030】
図3に示された各ブロックは公称パラメータにより公称モデルにモデリングされるため、センサーK(s) −1 20aの利得の変化によってモデリングエラーが起こる恐れがある。
【0031】
センサーK(s) −1 20aの利得の変化に影響を与えるのは、フォーカスエラーのS字曲線のうち線形区間(2F)やトラッキングエラーのトラックピッチ(P)の変化、レーザパワーの変化及びディスク反射率の変化等により起こるフォーカス及びトラッキングエラーの振幅の変化である。フォーカスエラーのS字曲線のうち線形区間(2F)は、レーザ波長や開口数によって決まる。ところで、レーザ波長は温度の変化に影響され、開口数は変化がないために、フォーカスエラーのS字曲線のうち線形区間(2F)はやや異なる場合がある。トラッキングエラーのトラックピッチPの場合、DVDディスクよりもCDディスクの方でトラックピッチの変化が相対的に大きいが、マージナル(marginal)ディスクを除いては、約10%以内の範囲でトラックピッチが変わる。
【0032】
レーザパワー及びディスク反射率の変化等によるフォーカス及びトラッキングエラーの振幅Aの変化は、センサーK(s) −1 20aの利得パラメータを調整して常に一定に維持できる。このように、センサーK(s) −1 20aの利得はドライブごとに違いがありうる。これを補償するために、フォーカストラッキングエラーの振幅Aを常に一定に維持するセンサーK(s) −1 20aの利得制御を行う。これにより、フォーカス及びトラッキングエラーの振幅Aを一定に維持した状態でセンサーK(s) −1 20aの利得は温度によるレーザ波長やトラックピッチによってのみ変わる。レーザ波長やトラックピッチの変化は相対的に少ないため、センサーK(s) −1 20aの利得の変化は少なくなる。
【0033】
前述の通り、利得の調整により新しくモデリングされたセンサーK(s) −1 20aにより増幅されて出力されるフォーカス及びトラッキングエラー信号をセンサー利得Ksensorで割った値がループで追跡できなかった振動量e(t)として計算されて出力される。
【0034】
2.ループで追跡した振動量y(t)の計算
ループで追跡した振動量y(t)は、フォーカス及びトラッキングループの利得を調整してアクチュエータP(s) 23の感度を調整して計算する。ループで追跡した振動量y(t)を正確に計算するためには、アクチュエータP(s)23の感度の変化を考慮しなければならない。
【0035】
ループで追跡した振動量y(t)、すなわち、アクチュエータP(s) 23で追跡した振動量y(t)はu(t)V(s)P(s)により計算される。u(t)は制御器C(s) 21の出力値であって、光学システムで測定でき、ドライブV(s) 22は1次LPFで正確にモデリング可能である。アクチュエータP(s) 23はDC感度、共振周波数、Q感度を使って2次線形システムとしてモデリングされる。
【0036】
しかし、ループで追跡した振動量y(t)の計算に際し、アクチュエータP(s) 23の感度の変化を考慮しなければならないため、このためにループ利得調整アルゴリズムを使う。ループ利得を一定に調整するループ利得調整アルゴリズムを通じて、アクチュエータP(s) 23が公称モデルに比べて利得の変化がいかほど起こったかが分かる。従って、ループ利得調整アルゴリズムを使ってアクチュエータP(s) 23を正確にモデリングできる。このように、アクチュエータP(s) 23の感度の変化を考慮してアクチュエータP(s) 23をモデリングすることにより、ループで追跡した振動量y(t)が正確に計算可能になる。
【0037】
図5は、アクチュエータP(s) 23の感度の変化を自動的に調整するためのフォーカス及びトラッキングループ利得調整アルゴリズムを説明するための図であって、制御器C(s) 21の利得がいかほど調整されたかによって、アクチュエータP(s) 23の感度の変化がいかほどであるかが分かる。フォーカス及びトラッキングループ利得の調整結果をアクチュエータP(s) 23のモデリングに取り入れることにより、ドライブ毎に違いがあるモデリングエラーに対しても測定できる信頼性が高められる。
【0038】
図5は、アクチュエータの感度の変化を調整するためのフォーカス及びトラッキング利得の調整アルゴリズムを説明するための図である。これを参照すれば、本発明に係るアルゴリズムは、A/D 21−1と、第1レジスタ21−2と、第1演算部21−3と、正弦波発生部21−4と、第2演算部21−5と、BPF21−6と、位相比較部21−7と、判断及び調整部21−8と、デジタル制御部21−9と、第2レジスター21−10及びD/A 21−11を含む。
【0039】
A/D 21−1は、センサーK(s) 20から出力される振幅が一定に調整されたフォーカス及びトラッキング信号e(t)をデジタル信号に変換する。
【0040】
第1レジスタ21−2は、オフセット調整レジスタである。ドライブは、フォーカス及びトラッキング動作をしなくても、回路上フォーカス及びトラッキングエラーにオフセットが存在する場合があるが、エラー信号からオフセットを除去するために、フォーカス及びトラッキング制御を行う前に各エラー信号のオフセットを測定して第1レジスタ21−2に貯蔵する。
【0041】
第1演算部21−3は、デジタル信号に変換されたセンサーK(s) 20の出力信号であるe(t)から第1レジスタ21−2に貯蔵されたオフセット信号を除去する。
【0042】
正弦波発生部21−4は、フォーカス及びトラッキングループの利得を調整するための正弦波を生じる。正弦波発生部21−4は、普通687Hz、1.38Hz、2.76KHz、5.51KHzのうちいずれか一つを選択して出力し、印加される正弦波の振幅も調整できる。
【0043】
第2演算部21−5は、フォーカス及びトラッキングエラーに特定周波数の正弦波を合成する。フォーカス及びトラッキングエラーに加わった特定周波数の正弦波外乱はフォーカス及びトラッキングループを1回転し、次のサンプルでフォーカス及びトラッキングエラーに再び現れる。
【0044】
BPF 21−6は、1回転したフォーカス及びトラッキングエラーから正弦波外乱成分のみ抽出する。BPF 21−6に入力されるフォーカス及びトラッキングエラーはフォーカス及びトラッキングループを1回転したため、印加された周波数の閉ループ位相だけ位相が遅れる。
【0045】
位相比較部21−7は、正弦波発生部21−4から印加される正弦波とBPF21−7から出力される信号との位相差を比較し、閉ループ位相だけ位相差を生じる。
【0046】
判断及び調整部21−8は、位相比較部21−7から出力される位相差と公称モデルの位相差(基準位相差)とを比較し、その違いに応じてデジタル制御部21−9のDC利得を調整する。判断及び調整部21−8は、現在ループの利得が公称ループの利得よりも大きければデジタル制御部21−9の利得を小さくし、現在ループの利得が公称ループの利得よりも小さければデジタル制御部21−9の利得を大きくしてフォーカス及びトラッキングループ利得を常に一定に調整する。かかるループ利得の調整は、フォーカス及びトラッキングループの閉ループ位相が公称ループの閉ループ位相となるまで繰り返される。
【0047】
第2レジスタ21−10は、最終ループ利得の調整結果を貯蔵する。振動量の測定に際し、第2レジスタ21−10に貯蔵されたループ利得調整の結果値を読み込んでアクチュエータP(s) 23モデリングのDC利得を調整してアクチュエータP(s) 23の感度の変化を補償する。
【0048】
デジタル制御部21−9の出力は、D/A 21−11を通じてアナログ信号に変換されてドライバーV(s) 22に出力される。
【0049】
最終的に、ループで追跡した振動量y(t)は、制御器C(s) 21の出力u(t)がドライバV(s) 22及びDC利得が補償されたアクチュエータP(s) 23を通った出力となる。
【0050】
3.最終振動量d(t)の計算
第1演算部30は、ループで追跡できなかった振動量e(t)及びループで追跡した振動量y(t)を合成する。OFF(s) 31は、振動量d1(t)のDC成分を除去する。OFF(s) 31はDC LPFにより実現されてd1(t)信号をフィルタリングする。または、OFF(s) 31がプログラムにより実現される場合、第1演算部30の出力d1(t)の64及び128サンプルを平均してオフセット値を設定し、d1(t)のオフセット成分を除去して出力する。結果的に、最終振動量d(t)はオフセット成分が除去されたd1(t)となる。
【0051】
図6は、振動量周波数の特性を示す図であって、(A)は、偏向400μmディスクに対するフォーカス振動量の測定データを示す図であり、(B)は、偏心50μmディスクに対するトラッキング振動量測定データを示す図である。ディスク回転周波数で遥かに多い振動量が生じ、ディスク回転周波数の整数倍で相対的に多い振動量が生じる。
【0052】
図7は、本発明に係る振動量測定方法の動作を示すフローチャートであって、フォーカス及びトラッキングセンサーの利得パラメータを調整してフォーカス及びトラッキングエラー信号の振幅を一定に調整する段階(70)と、フォーカス及びトラッキングループの利得を一定に調整した結果を使ってアクチュエータのDC感度を補償する段階(71)と、オフセットを除去する段階(72)及び振動量を計算する段階(73)を含んでなる。
【0053】
第70段階は、ループで追跡できなかった振動量e(t)を計算するために、フォーカス及びトラッキングセンサーK(s) 20の利得を一定に調整する段階であり、第71段階は、ループで追跡した振動量y(t)を計算するために、アクチュエータP(s) 23のDC感度を補償する段階である。第72段階はe(t)及びy(t)を合成してオフセットを除去する段階であり、第73段階は最終振動量を測定する段階である。
【0054】
フォーカス及びトラッキングエラーの振幅を一定に調整するために、センサーK(s) 20の利得を調整する(第70段階)。センサーK(s) 20の利得調整の結果は、前記式4の通りである。S字曲線として出力されるフォーカスエラー信号の利得は、線形区間内において振幅をフォーカス線形区間で割った値に調整される。正弦波曲線として出力されるトラッキングエラー信号の利得は、線形区間内において振幅をトラックピッチで割った値に調整される。
【0055】
アクチュエータP(s) 23の感度を補償するために、利得が調整されたフォーカス及びトラッキング信号を使ってフォーカス及びトラッキングループの利得を調整する(第71段階)。フォーカス及びトラッキングループの利得を調整するために、図5のループ調整アルゴリズムを使う。これを説明すれば、ループ利得調整用正弦波をフォーカス及びトラッキングエラー信号に加える。次に、フォーカス及びトラッキングループを1回転したフォーカス及びトラッキングエラー信号の正弦波外乱周波数成分と印加された正弦波外乱周波数の位相とを比較して位相差を求め、これを使ってフォーカス及びトラッキングループの閉ループ位相を計算する。求めた閉ループ位相と公称閉ループ位相とを比較し、2つの位相が同じくなるまでフォーカス及びトラッキング制御器C(s) 21の利得を調整する。フォーカス及びトラッキングループ利得調整の結果に基づき、アクチュエータP(s) 23の利得は正確にモデリングされる。
【0056】
センサーK(s) 20の利得調整及びアクチュエータP(s) 23の利得調整を通じて、センサーK(s) 20及びアクチュエータP(s) 23を正確にモデリングした後に振動量を計算する。センサーK(s) 20の利得調整により調整されたフォーカス及びトラッキングエラー信号をセンサー利得Ksensorで割った値と、制御器C(s) 21の出力がドライバーV(s) 22及びアクチュエータP(s) 23を通った出力値とを合成する。
【0057】
合成信号のDC値を除去するために、64及び128サンプルを平均してオフセット値を計算するか、あるいはDCを除去するフィルタを使う(第72段階)。
【0058】
この合成信号からオフセットを除去すれば、最終振動量が出力される(第73段階)。
【0059】
図8は、本発明に係る最小ループ利得測定方法を利用したサーボループの設計手順を示すフローチャートであって、フォーカス及びトラッキングセンサーの利得を調整してフォーカス及びトラッキング信号の振幅を一定に調整する段階(80)と、フォーカス及びトラッキングループの利得を調整してアクチュエータを正確にモデリングする段階(81)と、オフセットを除去する段階(82)と、振動量を計算する段階(83)と、振動量を許容エラーで割ってループ利得を計算する段階(84)及び目標性能を満足する制御器を設計する段階85を含む。
【0060】
最小ループ利得測定方法を利用したサーボループの設計手順は、振動量測定に基づきなされるため、振動量を測定する段階に当たる80段階〜83段階は図7と同一である。従って、これに関する説明を省く。振動量が測定されれば、測定された振動量を許容エラーで割って最小のループ利得を求める(第84段階)。
【0061】
最小ループ利得を持ち、且つ目標性能を満足する制御器を設計する(第85段階)。
【0062】
本発明は前述した実施形態に限定されることなく、本発明の思想内であれば、当業者による変形が可能であるということは言うまでもない。
【0063】
【発明の効果】
以上述べたように、本発明によれば、再生及び記録するディスクの種類ごとに、且つ、駆動すべき倍速ごとにドライブで生じるフォーカス及びトラッキングの振動量が測定でき、これに基づき、最適のフォーカス及びトラッキング制御器が設計できることから、設計時間を大幅に短縮できると共に、設計の正確度を高めることができる。もし、測定された振動量がサーボで耐えられる範囲を超えれば、デッキに振動量データをフィートバックして、サーボの設計の上で考慮できる振動量が生じるようにデッキの設計のためのデータとして使われる。そして、測定された振動量からフォーカス及びトラッキング制御を安定的に行うためのピックアップのDC感度やAC感度がいかほどであるかに対するアクチュエータの設計スペックが設定可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 振動量及び許容エラーを通じて計算できる最小サーボループ利得を示す波形図である。
【図2】 フォーカストラッキングループを示すブロック図である。
【図3】 本発明に係る振動量測定装置の構成を示すブロック図である。
【図4】 フォーカスセンサー利得及びトラッキングセンサー利得のモデリングのための波形図である。
【図5】 アクチュエータの感度の変化を調整するためのフォーカス及びトラッキング利得調整アルゴリズムを説明するための図である。
【図6】 振動量測定データの第1及び第2実施の形態を示す波形図である。
【図7】 本発明に係る振動量測定方法の動作を示すフローチャートである。
【図8】 本発明に係る最小ループ利得測定方法を利用したサーボループの設計手順を示すフローチャートである。
【符号の説明】
20 センサー
21 制御器C(s)
22 ドライバV(s)
23 アクチュエータP(s)
30 第1演算部
31 OFF(s)
32 第2演算部
21−1 A/D
21−2 第1レジスタ
21−3 第1演算部
21−4 正弦波発生部
21−5 第2演算部
21−6 BPF
21−7 位相比較部
21−8 判断及び調整部
21−9 デジタル制御部
21−10 第2レジスター
21−11 D/A

Claims (22)

  1. ディスク回転によりフォーカス及びトラッキングループで振動が生じるあらゆるディスク記録及び再生装置において、
    前記ディスク回転時に生じるフォーカス及びトラッキングエラーの振幅が一定に維持されるように調整するエラー利得調整手段と、
    アクチュエータの利得偏差を補償するために、前記フォーカス及びトラッキングループの閉ループ位相と所定の公称閉ループ位相とを比較して前記フォーカス及びトラッキングループの利得を一定に調整するループ利得調整手段と、
    前記エラー利得調整手段及びループ利得調整手段により調整されたエラーと、このエラーにより補償された前記ディスクのフォーカス及びトラッキングを制御する制御器の出力とから振動量を計算して出力する測定手段と
    を含む振動量測定装置。
  2. 前記エラー利得調整手段のフォーカスエラーは、下記式により利得が調整されることを特徴とする請求項1に記載の振動量測定装置。
    フォーカスエラー利得=Aπ/(2F)
    ここで、Aは振幅であり、Fは線形区間内の焦点距離である。
  3. 前記エラー利得調整手段のトラッキングエラーは、下記式により利得が調整されることを特徴とする請求項1に記載の振動量測定装置。
    トラッキングエラー利得=2πA/P
    ここで、Aは振幅であり、Pはトラックピッチである。
  4. 前記ループ利得調整手段は、
    前記ループ利得を調整するための所定の正弦波信号を生じる正弦波発生部と、
    前記フォーカス及びトラッキングエラー信号内の正弦波外乱成分と印加された正弦波の位相とを比較して閉ループ位相を出力する位相信号処理部と、
    前記閉ループ位相と公称閉ループ位相とを比較して前記フォーカス及びトラッキングループの利得を一定に調整し、調整された結果に基づき前記アクチュエータの利得をモデリングする利得調整部と
    を含むことを特徴とする請求項1に記載の振動量測定装置。
  5. 前記位相信号処理部は、
    前記フォーカス及びトラッキングループからフィードバックされるフォーカス及びトラッキングエラー信号から正弦波外乱成分のみ抽出する外乱抽出部と、
    前記外乱抽出部の出力と前記印加された正弦波の位相とを比較して位相差を出力する位相比較部と
    を含むことを特徴とする請求項4に記載の振動量測定装置。
  6. 前記利得調整部は、前記利得が公称位相差となるように前記フォーカス及びトラッキング制御器の利得を調整し、前記調整された制御器の利得だけ前記アクチュエータの利得を補償することを特徴とする請求項4に記載の振動量測定装置。
  7. 前記振動量測定手段は、
    前記フォーカス及びトラッキングエラー信号をセンサー利得で割って第1振動量を測定する第1振動量測定部と、
    前記利得偏差が補償されたアクチュエータを含む前記フォーカス及びトラッキングループの出力信号から第2振動量を測定する第2振動量測定部と、
    前記第1振動量及び第2振動量を合成し、該合成信号を所定時間平均した値に基づき前記合成信号のオフセットを調整するオフセット調整部と
    を含むことを特徴とする請求項1に記載の振動量測定装置。
  8. 前記オフセット調整部は、前記合成信号を所定の帯域をもってフィルタリングするフィルタリング部であることを特徴とする請求項7に記載の振動量測定装置。
  9. ディスク回転によりフォーカス及びトラッキングループに振動が生じるあらゆるディスク再生及び記録装置の振動量を測定する方法において、
    (a)前記ディスク回転時に生じるフォーカス及びトラッキングエラーの振幅が一定に維持されるように調整して出力する段階と、
    (b)アクチュエータの利得偏差を補償するために前記フォーカス及びトラッキングループの閉ループ位相と公称閉ループ位相とを比較して前記フォーカス及びトラッキングループの利得を一定に調整して出力する段階と、
    (c)前記(a)段階で出力されるエラー及び前記(b)段階で出力されるループ利得と、前記エラーにより補償された前記ディスクのフォーカス及びトラッキングを制御する制御器の出力とから前記振動量を計算して出力する段階と
    を含むことを特徴とする振動量測定方法。
  10. 前記(a)段階でS字曲線として出力されるフォーカスエラー信号の利得は線形区間内において振幅をフォーカス線形区間で割った値に基づき調整されることを特徴とする請求項9に記載の振動量測定方法。
  11. 前記(a)段階で正弦波曲線として出力されるトラッキングエラー信号の利得は線形区間内において振幅をトラックピッチで割った値に基づき調整されることを特徴とする請求項9に記載の振動量測定方法。
  12. 前記(b)段階は、
    (b−1)前記ループ利得調整用正弦波を入力したトラッキング及びフォーカスエラー信号から正弦波外乱成分のみ抽出する段階と、
    (b−2)前記フォーカス及びトラッキングエラー信号から抽出した正弦波外乱成分と前記印加された正弦波の位相とを比較して閉ループ位相を出力する段階と、
    (b−3)前記閉ループ位相と公称閉ループ位相とを比較して前記フォーカス及びトラッキングループの利得を調整する制御信号を出力し、前記制御信号に基づき前記アクチュエータの利得調整信号を出力する段階と
    を含むことを特徴とする請求項9に記載の振動量測定方法。
  13. 前記(b−3)段階は、公称閉ループ位相となるように前記フォーカス及びトラッキングループの利得を調整し、前記調整された利得だけ前記アクチュエータの利得を補償することを特徴とする請求項12に記載の振動量測定方法。
  14. 前記(c)段階は、
    (c−1)前記フォーカス及びトラッキングエラー信号を前記(a)段階で調整されたセンサー利得で割って第1振動量を測定する段階と、
    (c−2)前記(b)段階で利得偏差が補償されたアクチュエータを含む前記フォーカス及びトラッキングループの出力信号から第2振動量を測定する段階と、
    (c−3)前記第1振動量及び第2振動量を合成し、該合成信号を所定時間平均した値に基づき前記合成信号のオフセットを調整する段階と
    を含むことを特徴とする請求項9に記載の振動量測定方法。
  15. 前記(c−3)段階は、前記合成信号を所定の帯域をもってフィルタリングする段階であることを特徴とする請求項14に記載の振動量測定方法。
  16. ディスク回転によりフォーカス及びトラッキングループに振動が生じるあらゆるディスク再生及び記録装置の振動量から最小ループ利得を測定する方法において、
    (a)前記ディスク回転時に生じるフォーカス及びトラッキングエラーの振幅が一定に維持されるように調整して出力する段階と、
    (b)前記アクチュエータの利得偏差を補償するために、前記フォーカス及びトラッキングループの閉ループ位相と公称閉ループ位相とを比較して前記フォーカス及びトラッキングループの利得を一定に調整して出力する段階と、
    (c)前記(a)段階で出力されるエラー及び前記(b)段階で出力されるループ利得と、このエラーにより補償された前記ディスクのフォーカス及びトラッキングを制御する制御器の出力とから前記振動量を計算して出力する段階と、
    (d)前記振動量を所定の許容エラーで割って最小ループ利得を計算する段階と
    を含む最小ループ利得測定方法。
  17. 前記(a)段階でS字曲線として出力されるフォーカスエラー信号の利得は線形区間内において振幅をフォーカス線形区間で割った値に基づき調整されることを特徴とする請求項16に記載の最小ループ利得測定方法。
  18. 前記(a)段階で正弦波曲線として出力されるトラッキングエラー信号の利得は線形区間内において振幅をトラックピッチで割った値に基づき調整されることを特徴とする請求項16に記載の最小ループ利得測定方法。
  19. 前記(b)段階は、
    (b−1)前記ループ利得調整用正弦波を入力したトラッキング及びフォーカスエラー信号から正弦波外乱を抽出する段階と、
    (b−2)前記フォーカス及びトラッキングエラー信号から抽出した正弦波外乱成分と前記印加された正弦波の位相とを比較して閉ループ位相を出力する段階と、
    (b−3)前記閉ループ位相と公称閉ループ位相とを比較して前記フォーカス及びトラッキングループの利得を調整する制御信号を出力し、前記制御信号を前記アクチュエータの利得調整信号として出力する段階と
    を含むことを特徴とする請求項16に記載の最小ループ利得測定方法。
  20. 前記(b−3)段階は、閉ループ位相が公称閉ループ位相となるように前記フォーカス及びトラッキングループの利得を調整し、前記調整された利得だけ前記アクチュエータの利得を補償することを特徴とする請求項19に記載の最小ループ利得測定方法。
  21. 前記(c)段階は、
    (c−1)前記フォーカス及びトラッキングエラー信号を前記(a)段階で調整されたエラー利得で割って第1振動量を測定する段階と、
    (c−2)前記(b)段階で利得偏差が補償されたアクチュエータを含む前記フォーカス及びトラッキングループの出力信号を第2振動量として測定する段階と、
    (c−3)前記第1振動量及び第2振動量を合成し、該合成信号を所定時間平均した値に基づき前記合成信号のオフセットを調整する段階と
    を含むことを特徴とする請求項16に記載の最小ループ利得測定方法。
  22. 前記(c−3)段階は、前記合成信号を所定の帯域をもってフィルタリングする段階であることを特徴とする請求項21に記載の最小ループ利得測定方法。
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