JPH11134777A - 光ディスク再生装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 耐振性能を、振動の周波数に依存することな
く、また、プレイアビリティーを劣化させずに向上させ
る。 【解決手段】 第１の振動検出回路４７は、トラッキン
グエラー検出回路からのトラッキングエラー信号の低域
成分から、低い周波数の振動によるトラックずれを検出
する。第２の振動検出回路４８は、振動センサ４８１を
備え、この振動センサ４８１の出力の高周波数成分か
ら、高い周波数の振動によるトラックずれを検出する。
これら第１および第２の振動検出回路の両出力に基づい
てトラッキングサーボゲインを制御する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、例えば携帯型の
コンパクトディスクプレーヤなどの光ディスク再生装置
に関し、特に、外部から振動あるいは衝撃が加わった場
合にもトラッキングサーボが外れないようにする技術部
分に関わる。

【０００２】

【従来の技術】コンパクトディスクや、ミニディスクな
どの光ディスクの再生装置として携帯型のものが広く普
及している。この種の光ディスク再生装置では、携帯時
に外部からの振動や衝撃があっても、再生音声が途切れ
ることなく再生が続くようにするために、トラッキング
サーボが工夫されている。

【０００３】このための回路は、アンチショック回路と
呼ばれており、振動や衝撃によってトラッキングエラー
が発生することを利用して、トラッキングエラーが、予
め定めたスレッショールド値以上になった際に、トラッ
キングサーボゲインを増加して、トラッキングサーボが
外れるのを防止するようにするものである。

【０００４】振動センサ（この明細書では衝撃センサを
含むものとする）の出力を増幅してトラッキングエラー
に加算することも行われている。この場合には、光ディ
スク再生装置に与えられた振動や衝撃がある大きさ以上
のとき、振動センサ出力が加算されたトラッキングエラ
ー信号はスレッショールド値を越え、トラッキングサー
ボゲインが増加して、トラッキングサーボが外れるのが
防止される。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】ところで、トラッキン
グエラーは、ディスクに傷が付いている場合にもレベル
が増加する。このため、傷がついているディスクの再生
時には、アンチショック回路が誤動作し易い欠点があっ
た。そして、ディスクの傷がある部分の再生時にトラッ
キングサーボゲインが増加すると、トラッキングの感度
が過度になりすぎ、再生性（プレイアビリティー）が劣
化するので、アンチショック回路は、トラッキングエラ
ーの低い周波数成分にだけ対応させて動作させるように
構成されている。

【０００６】しかしながら、このように、トラッキング
エラーの低い周波数成分にだけアンチショック回路を対
応させて動作させるようにした場合には、高い周波数の
振動に対してアンチショック回路が働かない問題があ
る。

【０００７】また、上述したように振動センサの出力を
増幅してトラッキングエラー信号に加算する方法でも、
基本的にはトラッキングエラーとスレッショールド値と
の比較であるため、上述した傷のある光ディスクの再生
時の問題は、解消できない。

【０００８】この発明は、以上の点にかんがみ、耐振性
能を、振動の周波数に依存することなく、また、プレイ
アビリティーを劣化させずに向上させることができる光
ディスク再生装置を提供することを目的とする。

【０００９】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、請求項１の発明による光ディスク再生装置は、光デ
ィスクに光ビームを照射し、前記目的トラックからの反
射光を受光する光ピックアップと、前記光ピックアップ
の前記光ビームの前記光ディスク上の照射位置を制御す
るトラッキング位置制御機構と、前記光ピックアップの
受光出力から、再生ＲＦ信号出力を得る回路と、前記光
ピックアップの受光出力からトラッキングエラー信号を
得るトラッキングエラー検出回路と、前記トラッキング
エラー検出回路で得られたトラッキングエラー信号に基
づき前記トラッキング位置制御機構を制御するトラッキ
ングサーボ駆動回路と、トラッキングサーボゲインを制
御するサーボゲイン制御回路と、前記トラッキングエラ
ー検出回路からのトラッキングエラー信号の低域成分か
ら、低い周波数の振動によるトラックずれを検出する第
１の振動検出回路と、振動センサを備え、この振動セン
サの出力の高周波数成分から、高い周波数の振動による
トラックずれを検出する第２の振動検出回路と、を備
え、前記第１および第２の振動検出回路の両出力に基づ
いて前記サーボゲイン制御回路を制御することを特徴と
する。

【００１０】上述の請求項１の発明の構成によれば、サ
ーボゲイン制御回路を制御する信号は、低い周波数の振
動成分に関しては、トラッキングエラーから求め、高い
周波数の振動成分に関しては、振動センサから求める。
これにより、プレイアビリティーが劣化することがな
く、また、耐振性能として周波数依存性もなくなる。

【００１１】また、請求項２の発明の光ディスク再生装
置は、請求項１に記載の光ディスク再生装置において、
検出された振動の周波数帯域に応じて、前記トラッキン
グサーボゲインを制御する周波数帯域を制御するように
したことを特徴とする。

【００１２】この請求項２の発明の光ディスク再生装置
によれば、検出された振動成分の周波数に応じてトラッ
キングサーボゲインを増加する周波数帯域が変えられ
る。したがって、できるだけ傷などによるプレイアビリ
ティーの劣化を防ぐように再生動作させることができ
る。

【００１３】

【発明の実施の形態】以下、図を参照しながら、この発
明による光ディスク再生装置の実施の形態について説明
する。

【００１４】図１は、コンパクトディスクの再生装置
に、この発明を適用した実施の形態の全体の概要を示す
ブロック図である。この実施の形態は、例えば車載用の
光ディスク再生装置で、複数枚のディスク１の中から指
定された１枚を取り出して再生することができるいわゆ
るオートチェンジャー機能を備えたものである。

【００１５】図１において、搬送機構２０は、オートチ
ェンジャー機能を実行するためのもので、例えば１０枚
のディスク１が収納されたディスクマガジン２１を備
え、このディスクマガジン２１の中から１枚のディスク
１を取り出して、ディスク載置台に載置する。

【００１６】ディスク載置台に載置されたディスク１
は、スピンドルモータ２により回転駆動される。そし
て、このスピンドルモータ２は、サーボドライバ８から
の速度制御信号により、線速度が一定となるように回転
速度制御される。

【００１７】光学ヘッド３は、レーザ光源３１と、光学
レンズ３２と、フォトディテクタ３３とを備えるととも
に、光学レンズ３２をディスク１の半径方向に移動させ
て光ビームの走査位置をトラッキング制御するためのト
ラッキングコイル４を備える。また、図示は、省略した
が、光学レンズ３２を光軸方向に移動させてフォーカス
制御するためのアクチュエータなどのフォーカス制御手
段も光学ヘッド３は備える。

【００１８】この実施の形態では、トラッキングサーボ
に３ビーム法を用いるもので、このため、光学ヘッド３
からディスク１に照射される光ビームは、３本のビーム
ＳＰ１，ＳＰ２，ＳＰ３とされる。この場合、図２に示
すように、トラック延長方向に対して、メインビームＳ
Ｐ２がジャストトラックの状態となったときに、副ビー
ムＳＰ１およびＳＰ３は、トラックの延長方向に対して
直交する方向にずれた状態となるようにされる。

【００１９】そして、フォトディテクタ３３は、ＲＦ信
号およびフォーカスエラー信号を得るためのメインビー
ムＳＰ１によるディスク１からの反射光を受光する４個
のフォトダイオードＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄと、副ビームＳＰ２
によるディスク１からの反射光を受光するフォトダイオ
ードＥと、副ビームＳＰ３によるディスク１からの反射
光を受光するフォトダイオードＦとからなる。４個のフ
ォトダイオードＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄは、図示のように、一体
的に構成された４分割フォトディテクタの構成とされて
いる。

【００２０】また、光学ヘッド３は、スレッド機構５に
より、ディスク１の半径方向に移動するようにされてい
る。スレッド機構５はサーボドライバ８からのスレッド
制御信号により駆動されて、光学ヘッド３からのメイン
ビームが目的とするトラックの近傍位置となるように光
学ヘッド３のディスク半径方向位置を制御する。

【００２１】そして、この実施の形態では、目的トラッ
クに照射したレーザ光の反射光を検出することにより、
例えば非点収差法によりフォーカスエラーを検出し、ま
た、３ビーム法によりトラッキングエラーを検出すると
共に、目的トラックからの反射光の偏光角（カー回転
角）の違いを検出して、再生ＲＦ信号を出力する。

【００２２】光学ヘッド３の出力は、ＲＦアンプ／演算
回路６に供給される。ＲＦアンプ／演算回路６は、光学
ヘッド３の出力からフォーカスエラー信号ＦＥやトラッ
キングエラー信号ＴＥを生成してサーボプロセッサ７に
供給すると共に、再生ＲＦ信号をＥＦＭデコーダ９に供
給する。

【００２３】サーボプロセッサ７は、前記フォーカスエ
ラー信号ＦＥが零になるように、サーボドライバ８を通
じて光学ヘッド３の光学系のフォーカス制御を行うと共
に、トラッキングエラー信号ＴＥが零になるように、サ
ーボドライバ８を通じて光学ヘッド３のトラッキングコ
イル４を駆動制御してトラッキング制御を行う。また、
コントローラ１４からの再生トラック位置の指示信号を
受けて、サーボプロセッサ７は、スレッド制御信号を生
成し、サーボドライバ８を通じてスレッド機構５の駆動
モータを制御して、再生トラック位置制御を行う。

【００２４】さらに、サーボプロセッサは、ＥＦＭデコ
ーダ９からの線速度エラー信号ＳＰＥを受けて、速度サ
ーボ信号を生成し、それをサーボドライバ８を通じてス
ピンドルモータ２に供給して、ディスク１の線速度一定
の速度サーボ制御を行う。この線速度エラー信号は、例
えば再生信号中のデューティ比が５０％の特定の信号部
分の、デューティ比５０％からのずれに応じて生成す
る。

【００２５】ＥＦＭデコーダ９は、再生ＲＦ信号を２値
化しデコードして、デジタルオーディオデータと、サブ
コードなどの制御データとを、順次に出力する。そし
て、ＥＦＭデコーダ９からのデジタルオーディオデータ
は、メモリコントローラ１０に供給される。また、サブ
コードなどの制御データは、例えばマイクロコンピュー
タからなるコントローラ１４に供給される。

【００２６】そして、例えばマイクロコンピュータから
なるコントローラ１４からの制御により、メモリコント
ローラ１０に入力されたデジタルオーディオデータは、
サブコードデータの同期信号であるＳＣＯＲ信号との同
期がとれていることが確認され次第、ＤＲＡＭ１１に一
時的に格納される。

【００２７】そして、ＤＲＡＭ１１に一時的に格納され
たデジタルオーディオデータは、コントローラ１４でサ
ブコードのＱコード（タイムコード）の連続性が確認さ
れ次第、コントローラ１４からの書き込み確定命令によ
って正規に格納される。また、コントローラ１４でサブ
コードのＱコードが不連続であると判定された場合に
は、一時的に格納されたデジタルデータは消去され、再
度、ディスク１からの読み込みが行われる。ＤＲＡＭ１
１にデータが一杯に格納された際には、デジタルオーデ
ィオデータの格納を中止して、再生走査位置の１トラッ
クジャンプを行って光学系の再配置を行う。

【００２８】以上のようにしてＤＲＡＭ１１に格納され
たデジタルオーディオデータは、メモリコントローラ１
０を通じてＤ／Ａ変換器１２に送られ、アナログオーデ
ィオ信号に変換されて、出力端子１３より出力される。

【００２９】［耐振動性能の向上のための第１の実施の
形態］次に、この実施の形態におけるトラッキング制御
系の詳細について、図３以下を参照しながら説明する。

【００３０】この実施の形態のトラッキング制御系の一
部を図３に示すとともに、その残部を図４に示す。

【００３１】図３において、フォトディテクタ回路４１
は、光学ヘッド３のディテクタ３３の出力部分である。
このフォトディテクタ回路４１の４個のフォトダイオー
ドＡ〜Ｄの受光出力は、ＲＦ加算アンプ４２により加算
されて、再生ＲＦ信号が得られる。また、２個のフォト
ダイオードＥ，Ｆの受光出力は、それぞれトラッキング
エラーアンプ４３に供給されて、差分がとられてトラッ
キングエラー信号ＴＥが生成される。このトラッキング
エラー信号ＴＥは、２個のスイッチ回路４５、４６を通
じてサーボドライバ回路８に供給される。

【００３２】サーボドライバ回路８では、トラッキング
エラー信号ＴＥは、ローパスフィルタ８１に供給され
て、適当な周波数成分のみとされ、トラッキングコイル
４を駆動する。また、ローパスフィルタ８１の出力は、
さらにローパスフィルタ８２に供給されて、帯域制限さ
れて、スレッド機構５のスレッドモータ５Ｍの駆動制御
用とされる。

【００３３】スイッチ回路４５は、ディスク１に傷があ
った場合に、その傷の部分でのトラッキングエラー信号
ＴＥが大きく変化しないようにするためのもので、スイ
ッチ回路４５は、通常は、端子ａ側に切り換えられて、
トラッキングエラー信号ＴＥをそのまま出力する。そし
て、傷の部分では、スイッチ回路４５は、端子ｂ側に切
り換えられて、コンデンサ４５ｃに保持されている直前
のトラッキングエラー信号ＴＥを出力するように制御さ
れる。

【００３４】このスイッチ回路４５の切り換え制御信号
は、傷部分等の検出回路４４から供給される。すなわ
ち、再生ＲＦ信号が、この傷部分等の検出回路４４に供
給される。この検出回路４４では、ディスク１の傷部分
をビームが走査すると、その部分で再生ＲＦ信号が欠落
するのでその部分を検出する。そして、その欠落検出出
力ＤＥＴを、スイッチ回路４５に供給して、傷部分で
は、スイッチ回路４５を端子ｂ側に切り換えるようにす
る。

【００３５】この検出回路４４の検出動作を図５のタイ
ムチャートをも参照して説明する。すなわち、図５
（ａ）に示すような再生ＲＦ信号は、検出回路４４の反
転アンプ４４１により反転されて、図５（ｂ）に示すよ
うな信号ＤＦとされる。この信号ＤＦは、時定数が異な
る２つのボトムホールド回路４４２および４４３に供給
されて、それぞれボトムホールドされる。

【００３６】この例の場合、ボトムホールド回路４４２
は、短い時定数のボトムホールドを行うもので、例えば
０．１ｍｓｅｃ以上のディスク１の鏡面欠陥で応答す
る。この例の場合、ボトムホールド回路４４２の出力Ｃ
Ｃ１は、図５（ｃ）の実線で示すようなものとなる。

【００３７】また、ボトムホールド回路４４３は、長い
時定数のもので、欠陥直前の鏡面レベルをホールドする
ものである。この例の場合、このボトムホールド回路４
４３の出力ＣＣ２は、図５（ｃ）で破線で示すようなも
のとなる。

【００３８】検出回路４４では、これらの２つのボトム
ホールド出力を、コンデンサ結合で、微分およびレベル
シフトして、比較器４４４で比較することにより、この
比較器４４４から、図５（ｄ）に示すような鏡面欠陥検
出信号ＤＥＴを得る。スイッチ回路４５は、この鏡面欠
陥検出信号ＤＥＴにより、この例では、この信号ＤＥＴ
のハイレベル部分である欠陥部分で、端子ｂ側に切り換
えられる。

【００３９】これにより、トラッキングエラー信号ＴＥ
としては、傷などの欠陥の検出部分では当該傷などの検
出直前のトラッキングエラーがホールドされることにな
る。したがって、傷などの部分にトラッキング制御が追
従してしまうことがなく、プレイアビリティーの劣化を
防止することができる。

【００４０】スイッチ回路４６は、トラッキングサーボ
ゲインを切り換えるためのもので、端子ｃに切り換えら
れているときには、通常のサーボゲインとされる。そし
て、後述するように所定の大きさ以上の振動があったと
きには、スイッチ回路４６は、端子ｄ側に切り換えて、
サーボゲインを上げるようにする。

【００４１】このスイッチ回路４６を切り換え制御する
ために、この実施の形態では、図４に示すように、低周
波数振動成分検出回路４７と、高周波数振動成分検出回
路４８とを設ける。そして、これら２つの検出回路４７
および４８の検出出力を、オアゲート４９を通じてスイ
ッチ回路４６に、その切り換え制御信号として供給す
る。

【００４２】低周波数振動成分検出回路４７は、トラッ
キングエラー信号の低域成分から所定の大きさ以上の振
動（衝撃）を検出する。このため、この検出回路４７に
は、トラッキングエラーアンプ４３からのトラッキング
エラー信号ＴＥが供給される。

【００４３】そして、検出回路４７では、トラッキング
エラー信号ＴＥがローパスフィルタ４７１に供給され
て、例えば数１０Ｈｚ以下の低周波数成分のみが抽出さ
れる。そして、このローパスフィルタ４７１の出力が比
較アンプ４７２および４７３に供給されて、それぞれ所
定のスレッショールド値と比較される。これら比較アン
プ４７２および４７３では、ローパスフィルタ４７１か
らのトラッキングエラーの低周波数成分の振幅が、予め
定められた所定の大きさを越えたときに、その区間を示
す検出出力を出力する。そして、これら比較回路４７２
および４７３の出力は、オアゲート４９を通じてスイッ
チ回路４６の切り換え制御信号として供給される。

【００４４】高周波数振動成分検出回路４８は、振動セ
ンサ（衝撃センサ）４８１を備え、この振動センサ４８
１で検出された振動の高周波数成分から所定の大きさ以
上の振動（衝撃）を検出する。このため、振動センサ４
８１からの振動検出出力は、アンプ４８２を通じてハイ
パスフィルタ４８３に供給されて、例えば数１０Ｈｚ以
上の高周波数の振動成分のみが抽出される。そして、こ
のハイパスフィルタ４８３の出力が比較アンプ４８５、
４８６およびアンドゲート４８７を通じてスイッチ回路
４６に、その切り換え制御信号としてに供給される。

【００４５】したがって、スイッチ回路４６は、低周波
数の振動だけではなく、高周波数の振動に対しても動作
し、耐振動特性が、従来のような周波数依存性を持つこ
とはない。そして、トラッキングエラーの大きさに基づ
くサーボゲインの増加は、低周波数の振動成分について
のみ行われるので、プレイアビリティーが劣化すること
が防止される。

【００４６】また、この実施の形態では、スイッチ回路
４５により、ディスク１に傷があったときには、その傷
などの検出直前のトラッキングエラーがホールドされる
ことになるので、傷などの部分にトラッキング制御が追
従してしまうことがなく、さらに、プレイアビリティー
の劣化を防止することができる。

【００４７】なお、図３および図４において、ＲＦ加算
アンプ４２、トラッキングエラーアンプ４３の部分は、
ＲＦアンプ／演算回路６に含まれ、検出回路４４、スイ
ッチ回路４５および４６、さらに、検出回路４７および
４８は、サーボプロセッサ７に搭載されているものであ
る。

【００４８】［耐振動性能の向上のための第２の実施の
形態］図６および図７は、この発明による耐振動性能の
向上のための第２の実施の形態の要部を示すトラッキン
グ制御系の詳細を示すものである。この第２の実施の形
態においては、トラッキングサーボゲインを切り換える
スイッチ回路４６の代わりに、図６に示すように、耐シ
ョック回路５０を設けると共に、図７に示すように、低
周波数振動成分検出回路４７の検出出力および高周波数
振動成分検出回路４８の検出出力は、コントローラ５１
を通じて耐ショック回路５０に供給するように構成す
る。その他は、第１の実施の形態の図３および図４に示
したものとまったく同様に構成する。

【００４９】この第２の実施の形態の耐ショック回路５
０は、コントローラ５１からの制御に応じて、トラッキ
ングサーボループゲインを、周波数特性を持って制御す
るようにする。図８は、この第２の実施の形態の場合の
ゲイン制御の例を示すものである。この例においては、
コントローラ５１により、耐ショック回路５０のサーボ
ゲイン特性を、図８に示す４通りに制御するものであ
る。

【００５０】すなわち、低周波数振動成分検出回路４７
で低周波数の一定以上の大きさの振動を検出したときに
は、コントローラ５１の制御により、耐ショック回路５
０は、対応して低周波数域でのサーボゲインを大きく
し、また、高周波数振動成分検出回路４８で高周波数の
振動成分を検出したときには、耐ショック回路５０は、
対応して、高周波数域でのサーボゲインを大きくし、両
検出回路４７および４８で、それぞれの振動成分を検出
したときには、全帯域に渡ってサーボゲインを大きくす
るように、それぞれ設定するものである。

【００５１】すなわち、図８のケースは、両検出回路
４７および４８で、それぞれの振動成分を検出したとき
であり、ケースは低周波数振動成分検出回路４７での
み低周波数の一定以上の大きさの振動を検出したときで
あり、ケースは高周波数振動成分検出回路４８で高周
波数の振動成分を検出したときである。また、ケース
は、トラック外れを生じるような振動成分を検出しなか
った場合であり、この場合には、予め適切に定められた
ノーマルトラッキングサーボゲインが、コントローラ５
１の制御に従い、耐ショック回路により設定される。

【００５２】以上のようにして、この第２の実施の形態
においては、検出された振動成分の周波数に応じてトラ
ッキングサーボゲインを増加する周波数帯域を変えるこ
とにより、できるだけ傷などによるプレイアビリティー
の劣化を防ぐように再生動作させることができる。

【００５３】なお、第１および第２の実施の形態におい
て、傷などの欠陥の検出回路４４の検出出力により、ス
イッチ回路４６を切り換えるか否かの制御したり、コン
トローラ５１を介しての耐ショック回路５０の制御をさ
せるか否かを制御するようにしてもよい。例えば、第１
の実施の形態の場合であれば、検出回路４４で欠陥が検
出されたときには、その検出区間では、スイッチ回路４
６は、切り換え動作させないようにしてもよい。また、
第２の実施の形態の場合であれば、検出回路４４で欠陥
が検出されたときには、その検出区間では、ケースの
ように、低周波数域でのみサーボゲインを上げるよう
に、制御してもよい。

【００５４】以上の実施の形態は、コンパクトディスク
の再生装置の場合を例にとって説明したが、この発明
は、ミニディスクなどの他の光ディスクの再生装置や、
記録再生装置の再生系にも適用可能であることはいうま
でもない。

【００５５】

【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、耐振性能を、振動の周波数に依存することなく、ま
た、プレイアビリティーを劣化させることなく、向上さ
せることができる光ディスク再生装置を提供することが
できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明による光ディスク再生装置の実施の形
態の全体構成例を示すブロック図である。

【図２】図１の一部を説明するための図である。

【図３】この発明による光ディスク再生装置の耐振動特
性の改善の第１の実施の形態を説明するためのトラッキ
ング制御系の一部を示す図である。

【図４】この発明による光ディスク再生装置の耐振動特
性の改善の第１の実施の形態を説明するためのトラッキ
ング制御系の一部を示す図である。

【図５】図３の一部回路の動作説明に使用するタイムチ
ャートである。

【図６】この発明による光ディスク再生装置の耐振動特
性の改善の第２の実施の形態を説明するためのトラッキ
ング制御系の一部を示す図である。

【図７】この発明による光ディスク再生装置の耐振動特
性の改善の第２の実施の形態を説明するためのトラッキ
ング制御系の一部を示す図である。

【図８】この発明による光ディスク再生装置の耐振動特
性の改善の第２の実施の形態の要部を説明するための図
である。

【符号の説明】

１…光ディスク、２…スピンドルモータ、３…光学ヘッ
ド、４…トラッキングコイル、５…スレッド機構、６…
ＲＦアンプ／演算回路、７…サーボプロセッサ、８…サ
ーボドライバ、４１…フォトディテクタ回路、４２…Ｒ
Ｆ加算アンプ、４３…トラッキングエラーアンプ、４４
…傷などの欠陥の検出回路、４５…スイッチ回路、４６
…サーボゲイン切り換え用のスイッチ回路、４７…低周
波数振動成分検出回路、４８…高周波数振動成分検出回
路、５０…耐ショック回路、５１…コントローラ

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】光ディスクに光ビームを照射し、前記目的
   トラックからの反射光を受光する光ピックアップと、 前記光ピックアップの前記光ビームの前記光ディスク上
   の照射位置を制御するトラッキング位置制御機構と、 前記光ピックアップの受光出力から、再生ＲＦ信号出力
   を得る回路と、 前記光ピックアップの受光出力からトラッキングエラー
   信号を得るトラッキングエラー検出回路と、 前記トラッキングエラー検出回路で得られたトラッキン
   グエラー信号に基づき前記トラッキング位置制御機構を
   制御するトラッキングサーボ駆動回路と、 トラッキングサーボゲインを制御するサーボゲイン制御
   回路と、 前記トラッキングエラー検出回路からのトラッキングエ
   ラー信号の低域成分から、低い周波数の振動によるトラ
   ックずれを検出する第１の振動検出回路と、 振動センサを備え、この振動センサの出力の高周波数成
   分から、高い周波数の振動によるトラックずれを検出す
   る第２の振動検出回路と、 を備え、前記第１および第２の振動検出回路の両出力に
   基づいて前記サーボゲイン制御回路を制御することを特
   徴とする光ディスク再生装置。
2. 【請求項２】請求項１に記載の光ディスク再生装置にお
   いて、検出された振動の周波数帯域に応じて、前記トラ
   ッキングサーボゲインを制御する周波数帯域を制御する
   ようにしたことを特徴とする光ディスク再生装置。