JP3931111B2 - Substrate holding device and substrate inspection device - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば大型の液晶ディスプレイ(LCD)やプラズマディスプレイパネル(PDP)などのフラットパネル等のガラス基板の欠陥検査を行うときにガラス基板を保持しすると共に揺動させえる基板保持装置及び検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、LCDやPDPといったフラットパネルディスプレイの分野では、画面の大型化やコスト削減といった要望に対応するために、フラットパネルディスプレイ製造工程において多面取りするためにガラス基板のサイズが益々大型化する傾向にある。
【0003】
このようなフラットパネルディスプレイ製造工程で製造された大型のガラス基板に対しては欠陥検査が行われており、この欠陥検査の一つの手法としてマクロ検査とミクロ検査とを併用することが行われている。マクロ検査は、ガラス基板に照明光を照射してガラス基板で反射する光を目視観察し、ミクロ検査は、マクロ検査で特定した欠陥部分を顕微鏡で拡大観察する。
【0004】
このような欠陥検査装置として例えば特開平11−94756号公報に記載された技術があり、この公報には、マクロ検査時にガラス基板をホルダ上に載せて観察者に向って起き上げて目視によるマクロ検査を行い、ミクロ検査時にガラス基板を水平状態に保持し、欠陥部分を顕微鏡で拡大観察することが記載されている。なお、マクロ検査時の照明は、例えば特開2000−146846に記載されている投光装置が用いられる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
フラットパネルディスプレイ製造工程で製造されるガラス基板のサイズは、画面の大型化やコスト削減といった要望に対応するために、益々大型化する傾向にあり、例えば1250×1100mmの大型サイズが出現している。
【0006】
このような大型のガラス基板を上記公報に記載されている欠陥検査装置を用いて欠陥検査すると、マクロ検査時に、ホルダの下辺を中心にして所定の傾斜角度に起がらせることになる。
【0007】
ところが、このホルダに保持された大型ガラス基板を起き上げると、起き上げたときの大型ガラス基板の上端部分が観察者の目の位置よりも高くなってしまい、観察者の目から大型ガラス基板の上端部分までの距離が遠くなり、大型ガラス基板の上端部分が見えにくくなる。
【0008】
又、大型ガラス基板を起き上げたときの大型ガラス基板の上端部分が高い位置になるために、大型ガラス基板の揺動に必要な高さ空間が増大し、装置が大型化する。
【0009】
そこで本発明は、大型ガラス基板を起き上げてもその上端部分が高くならず、省スペース化を実現できる基板保持装置及び基板検査装置を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】
本発明は、ベースと、前記ベース上に設けられ、大型基板を保持する基板ホルダと、
前記基板ホルダの両側に設けられた直線ガイドと、前記ベースの前側両端部に設けられ、前記直線ガイドをスライド移動可能に支持する揺動支点と、前記基板ホルダに連結し、前記揺動支点を支点として前記基板ホルダを起き上がらせるジャッキとを有し、前記直線ガイド、前記揺動支点及び前記ジャッキにより揺動機構を構成し、前記揺動機構は、前記ジャッキにより前記基板ホルダを前記揺動支点を支点として起き上がる方向に回動させることにより、この基板ホルダの回動に伴って前記直線ガイドが前記揺動支点に対してスライド移動すると共に、前記基板ホルダが前記揺動支点を支点として回動しながら前記ベースの前側縁部より前方にせり出すことを特徴とする基板保持装置である。
また、本発明は、ベースと、前記ベース上に設けられ、大型基板を保持する基板ホルダと、前記基板ホルダの両側に設けられた直線ガイドと、前記ベースの前側両端部に設けられ、前記直線ガイドをスライド移動可能に支持する揺動支点と、前記基板ホルダに連結し、前記揺動支点を支点として前記基板ホルダを起き上がらせるジャッキとを有し、前記ジャッキにより前記揺動支点を支点として前記基板ホルダを回動させると共に、前記直線ガイドを前記揺動支点に対してスライド移動させることにより、前記ベースに載置された水平状態と前記ベースの前方にせり出した垂直状態との角度範囲内で前記基板ホルダを回動移動させ、前記基板ホルダを略垂直方向に起こした状態で前記大型基板を載せ換え、前記基板ホルダ上に保持された前記大型基板を前記ベース上に搬送することを特徴とする基板保持装置である。
また、本発明は、ベースと、前記ベース上に設けられ、大型基板を保持する基板ホルダと、前記基板ホルダの両側に設けられた直線ガイドと、前記ベースの前側両端部に設けられ、前記直線ガイドをスライド移動可能に支持する揺動支点と、前記基板ホルダに連結し、前記揺動支点を支点にして前記基板ホルダを起き上がらせるジャッキと、前記基板ホルダに保持された前記大型基板の表面にマクロ照明光を照射するマクロ照明装置とを有し、前記直線ガイドにより前記基板ホルダの前側端部を前記ベース上面の前側縁部より下降させて前方にせり出させると共に、前記ベースの前側縁部に設けられた揺動支点を支点として前記基板ホルダを所定の角度に起き上がらせた状態で前記マクロ照明光を照射して前記大型基板上の欠陥を検査することを特徴とする基板検査装置である。
また、本発明は、ベースと、前記ベース上に設けられ、大型基板を保持する基板ホルダと、前記基板ホルダの両側に設けられた直線ガイドと、前記ベースの前側両端部に設けられ、前記直線ガイドをスライド移動可能に支持する揺動支点と、前記基板ホルダに連結し、前記揺動支点を支点にして前記基板ホルダを起き上がらせるジャッキと、前記ベース上に水平に置かれた前記基板ホルダの両側に沿って移動可能に設けられた門型アームと、前記門型アームの水平アームに沿って移動可能に設けられた顕微鏡と、前記基板ホルダの前側縁部にローラ付基準ピンを設け、前記基板ホルダの横側一端部に基準ピンを設け、前記基板ホルダの前記横側一端部と対向する横側他端部に押付けピンを設けてなる基板位置決め機構とを有し、前記ジャッキにより前記基板ホルダを略垂直に起こした状態で前記ローラ付基準ピンに前記大型基板を載せ、前記押付けピンにより前記大型基板を前記基準ピンに押し付けて位置決めた状態で前記ジャッキにより前記基板ホルダを前記ベース上に移動して水平に戻し、前記基板ホルダ上に位置決めされた前記大型基板を前記顕微鏡で検査することを特徴とする基板検査装置である。
【0011】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の第1の実施の形態について図面を参照して説明する。
【0012】
図1は本発明の基板保持装置を基板検査装置に適用した断面構成図である。架台1は、脚2及びこの脚2上に設けられたベース3からなっている。このベース3上に大型ガラス基板4を保持する基板ホルダ5が設けられている。この基板ホルダ5の水平状態の高さは、搬送ロボットの受け渡し高さに設定される。ベース3の上面は、水平に設けられている。
【0013】
基板ホルダ5には、図2に示すように開口部6が形成されると共に、この開口部6の各辺に沿って大型ガラス基板4の基準位置を決める各基準ピン7と、ローラ付基準ピン8と、押付けピン9とが設けられている。押付けピン9は、大型ガラス基板4を基準ピン7側に押し付ける方向に移動可能に設けられている。
【0014】
この基板ホルダ5は、ベース3の上面に対して、以下に説明する揺動機構(揺動支点であるヒンジ10、せり出し機構としての直線ガイド15、リンク機構17)によってヒンジ10を揺動軸として、基板ホルダ5を起き上げる又は水平状態に戻す方向(矢印イ方向)に揺動可能に設けられている。このヒンジ10は、基板保持装置を正面側から見てベース3の両端側にそれぞれ設けられている。
【0015】
ベース3に上面の正面側における縁部分11の両端には、図3に示すようにそれぞれヒンジ支持部材12が設けられている。これらヒンジ支持部材12には、それぞれ各ヒンジ10が回動自在に設けられている。これらヒンジ10の回動軸13は、基板ホルダ5を起き上げる又は水平状態に戻す方向(矢印イ方向)に揺動させるために正面側から見て水平方向(Y方向)に設けられている。
【0016】
ヒンジ10には、移動ブロック14が設けられている。この移動ブロック14には、基板ホルダ5の裏面に設けられた直線ガイド15に嵌合する摺動用溝16が形成されている。
【0017】
直線ガイド15は、基板ホルダ5を起き上げたときに摺動用溝16内を摺動して基板ホルダ5を正面側にせり出させ、ヒンジ10は回転軸13を支点として基板ホルダ5を揺動させることで、基板ホルダ5の下端をベース3上面の縁部分11よりも下降させるもので、直線ガイド15、ヒンジ10によりせり出し機構を構成する。
【0018】
この直線ガイド15は、基板ホルダ5の下面の両端側にそれぞれ設けられ、ベース3の両端の各移動ブロック14に形成された各摺動用溝16内に載っている。これら直線ガイド15は、基板ホルダ5を起き上げたときに摺動用溝16内を摺動して基板ホルダ5を正面側にせり出させ、かつ基板ホルダ5の下端側となる縁をベース3上面の縁部分11よりも下降させるのに十分必要な長さ、例えば基板ホルダ5の下端側から中央部よりやや上まで形成されている。
【0019】
これら直線ガイド15の上端側には、ストッパ15aが設けられている。これらストッパ15aは、基板ホルダ5を起き上げたときに、基板ホルダ5が予め設定された最大傾斜角度より傾き過ぎないように、基板ホルダ5の傾きを制限するために設けられている。
【0020】
リンク機構17は、基板ホルダ5をベース3上で水平状態又は起き上げ方向に揺動させる機能を有するもので、リンク18とジャッキ19とからなる。リンク18は、固定された長さに形成され、ベース3から下方に延出された延出端部20と基板ホルダ5の下部に設けられた支持部材21との間に設けられている。このリンク18は、延出端部20と支持部材21とに対してそれぞれ各支点22、23で回転可能となっている。
【0021】
ジャッキ19は、伸縮ロッド19aを有し、リンク18における支持部材21側と脚2の水平梁2aとの間に設けられている。このジャッキ19は、伸縮ロッド19aの先端がリンク18に対して支点24に回転可能に連結されると共に、ジャッキ19の下端が水平梁2aに対して支点25に回転可能に連結されている。
【0022】
リンク機構17は、基板保持装置を正面側から見て基板ホルダ5の両端側にそれぞれ設けられている。
【0023】
従って、ジャッキ19の伸縮ロッド19aが伸びると、このジャッキ19の伸縮ロッド19aの先端は、リンク18における支持部材21側に押圧を与える。このとき、ジャッキ19の他端が脚2の水平梁2aに設けられ、かつリンク18の長さが固定なので、ジャッキ19の伸縮ロッド19aが伸びるに従って、ジャッキ19は支点25を中心に回転すると共に、リンク18は、ジャッキ19の伸縮ロッド19aの伸びにより支点22を中心にして回転する。
【0024】
リンク18が支点22を中心にして回転すると、リンク18は長さが固定なので、リンク18と基板ホルダ5の支持部材21との間で連結される支点23は、リンク18の長さを半径として支点22を中心とした円弧上を移動する。
【0025】
従って、リンク18が支点22を中心として回転すると、基板ホルダ5は、ヒンジ10を揺動中心として矢印イ方向に起き上げられる。このような基板ホルダ5の起き上げが行われると、リンク18の両端部の各支点22、23の間隔は固定であり、かつリンク18の支点22とヒンジ10との間隔も固定である。これにより各支点22、23及びヒンジ10の3点からなる三角形を考えると、リンク18が支点22を中心として回転するに従って支点23とヒンジ10との間隔が次第に短くなることが分る。
【0026】
しかるに、支点23とヒンジ10との間隔が次第に短くなることから基板ホルダ5は、直線ガイド15上を正面側に摺動し、基板ホルダ5の下端側となる縁がベース3上面の縁部分11よりも正面側にせり出す。
【0027】
そして、ジャッキ19の伸縮ロッド19aの伸びが大きくなるに従って、リンク18の回転量が大きくなり、基板ホルダ5の起き上がり角度が大きくなるに従って、基板ホルダ5の下端側となる縁のベース3上面の縁部分11からのせり出量が大きくなる。
【0028】
このように基板ホルダ5の起き上がり角度が大きくなると、基板ホルダ5の下端側となる縁のせり出量が大きるなることから、基板ホルダ5の下端側となった縁は、ベース3上面の縁部分11よりも下降する。
【0029】
この基板ホルダ5の下端縁部分11の下降する距離は、リンク18の長さ、直線ガイド15の長さ、伸縮ロッド19aの伸びの長さを変更することで任意に設定される。
【0030】
すなわち、上記各支点22、23及びヒンジ10の3点からなる三角形を考えると、伸縮ロッド19aの伸びの長さに応じて各支点22、23を通る辺と支点23及びヒンジ10を通る辺との成す角度が小さくなる程、基板ホルダ5の起き上がり角度が大きくなり、当該角度や伸縮ロッド19aの伸びの長さを調整することで、基板ホルダ5の起き上がり角度及び基板ホルダ5の下端縁部分11の下降する距離を任意に設定できる。
【0031】
なお、基板ホルダ5は、ヒンジ支持部材11、ヒンジ10及び移動ブロック14からなる部分と、支持部材21とによってベース3上に水平状態に載置されるものとなり、ヒンジ支持部材11、ヒンジ10及び移動ブロック14の高さと支持部材21の高さとが同一に形成されている。
【0032】
基板ホルダ5の上方には、マクロ照明装置30が設けられている。このマクロ照明装置30は、マクロ照明光を放射するマクロ光源31と、このマクロ光源31から放射されたマクロ照明光を反射する反射ミラー32と、この反射ミラー32で反射されたマクロ照明光を収束するフレネルレンズ33とからなる。マクロ光源31は例えば水平方向(X方向)にマクロ照明光を放射するように設けられ、反射ミラー32は水平方向に対して約50度に傾けて設けられ、照明光軸を起き上げた大型ガラス基板側に折り曲げる。
【0033】
ミクロ検査装置40は、ベース3上にX方向に移動可能に設けられた門型アーム41と、この門型アーム41の水平アームに沿ってY方向に移動可能に設けられた顕微鏡42とからなる。
【0034】
制御装置43は、ジャッキ19の伸縮動作を制御する機能と、マクロ光源31の点灯制御を行う機能と、顕微鏡ステージ41のX方向に対する移動制御と顕微鏡42のY方向に対する移動制御とを行って顕微鏡42の観察視野がマクロ検査で特定された大型ガラス基板4上の欠陥部分を捉える位置に移動させる機能とを有する。
【0035】
次に、上記の如く構成された装置の作用をマクロ検査及びミクロ検査の場合について説明する。
【0036】
検査開始前、ジャッキ19は縮んでおり、大型ガラス基板4を載置する基板ホルダ5は水平状態にある。
【0037】
マクロ検査を行う場合、制御装置43の制御によりジャッキ19の伸縮ロッド19aが伸び、リンク18が支点22を中心として回転する。このジャッキ19の伸縮ロッド19aの伸び及びリンク18の回転により、基板ホルダ5の起き上げが開始される。
【0038】
このとき、基板ホルダ5は、当該基板ホルダ5下面の各直線ガイド15が各摺動用溝16内を摺動し、図4に示すようにベース3の縁部分11よりも前方側にせり出されると共に、ヒンジ10を揺動中心として起き上げられる。
【0039】
さらに、ジャッキ19の伸縮ロッド19aが伸びるに従って基板ホルダ5は、起き上げられて下端側となった基板ホルダ5の縁がベース3上面の縁部分11よりも下降する。
【0040】
マクロ検査を行うときは、観察者によってジャッキ19の伸縮ロッド19aの伸びが調整され、基板ホルダ5がマクロ観察しやすい任意の起き上げ角度に調整される。
【0041】
このように起き上げられた基板ホルダ5は、その下端側となった縁がベース3上面の縁部分11よりも下降しているので、基板ホルダ5が架台1上に設けられていても、大型ガラス基板4の全面が観察者に近付き、特に大型ガラス基板4の上端部分の高さが従来よりも低くなり、大型ガラス基板4の上端部分と観察者との距離が短くなる。
【0042】
この状態に、マクロ光源31からマクロ照明光が放射されると、このマクロ照明光は、反射ミラー32で反射され、フレネルレンズ33により収束されて基板ホルダ5上の大型ガラス基板4に照射される。
【0043】
観察者は、大型ガラス基板4で反射する光を目視観察してマクロ検査するが、このとき大型ガラス基板4の上端部分の高さが従来よりも低いので、大型ガラス基板4の上端部分を見上げることなく、かつ大型ガラス基板4の全面に亘って、例えば傷やむらなどの欠陥部分の方向によって異なる反射方向の光を捉えて、大型ガラス基板4に存在する欠陥部分を確実に特定できる。
【0044】
又、マクロ検査を行うときには、例えば基板ホルダ5がマクロ観察しやすい任意の起き上げ角度に調整された状態で、かつ各ジャッキ19の伸縮ロッド19aが予め設定された伸縮長さで伸縮動作を繰り返す。この伸縮動作の繰り返しにより基板ホルダ5は、所定周期で矢印イ方向に連続して揺動する。
【0045】
この揺動する基板ホルダ5の起き上がり角度範囲は、制御装置43に予め設定しておく。この制御装置43は、予め設定された起き上がり角度範囲に応じて各ジャッキ19の伸縮ロッド19aの伸縮長さを決定する。
【0046】
このように基板ホルダ5が連続して揺動すれば、例えば傷やむらなどの欠陥部分の方向によって異なる反射方向の光が観察者の視界に入るようになり、観察者は視点の動きを少なくして上記例えば傷やむらなどの欠陥部分を特定できる。
【0047】
なお、マクロ検査により特定された大型ガラス基板4上の欠陥部分の座標データは、制御装置43にインプットされる。
【0048】
次に、ミクロ検査を行う。ジャッキ19は、制御装置43の制御により伸縮ロッド19aが縮み、これに応動してリンク18が支点22を中心として基板ホルダ5の起き上げ時とは逆方向に回転し、基板ホルダ5が元の水平状態に戻る。
【0049】
基板ホルダ5がベース3上に降りて水平状態になると、制御装置43は、マクロ検査時にインプットされた欠陥部分の座標データに基づいて顕微鏡ステージ41をX方向に移動制御すると共に、顕微鏡42を顕微鏡ステージ41上でY方向に移動制御し、顕微鏡42の観察視野をマクロ検査で特定された大型ガラス基板4上の欠陥部分を捉える位置に移動させる。顕微鏡42により拡大された欠陥部分の像は、例えばCCDカメラにより撮像され、モニタテレビジョンに表示される。観察者は、モニタテレビジョンに表示された欠陥部分の拡大像を観察する。
【0050】
なお、制御装置43は、顕微鏡ステージ41をX方向に移動制御すると共に、顕微鏡42を顕微鏡ステージ41上でY方向に移動制御し、顕微鏡42の観察視野を大型ガラス基板4の全面を走査するようにしてもよい。
【0051】
ミクロ検査のとき、基板ホルダ5は、ヒンジ支持部材11、ヒンジ10及び移動ブロック14からなる部分と、支持部材21とによってベース3上に載置されるので、外部からの振動の影響を受けずに基板ホルダ5の安定性が高くなる。
【0052】
本発明の基板保持装置は、マクロ検査時及びミクロ検査時に限らず、大型ガラス基板4を基板ホルダ5上に載置するときと、基板ホルダ5上から取り外すときの搬送装置としても使用できる。
【0053】
例えば、大型ガラス基板4を基板ホルダ5上に載置するとき、制御装置43の制御によりジャッキ19の伸縮ロッド19aを伸ばすことにより、基板ホルダ5は、図4に示すようにベース3の縁部分11よりも前方側にせり出しながらヒンジ10を揺動中心として起き上げられ、かつ基板ホルダ5の下端側となった縁がベース3上面の縁部分11よりも下降する。
【0054】
このように基板ホルダ5が起き上げられると、大型ガラス基板4は、略垂直方向(Z方向)に立てた状態で図2に示す各ローラ付基準ピン8上に載置され、押付けピン9により各基準ピン7に向って押し付けられ、基準位置にセットされる。この後、大型ガラス基板4は、基板ホルダ5に設けられた図示しない吸着孔からの吸引によって、基板ホルダ5表面上に吸着固定される。この後、ジャッキ19の伸縮ロッド19aを縮め、基板ホルダ5をベース3上に移動させる。
【0055】
一方、大型ガラス基板4を基板ホルダ5上から取り外すときは、上記載置するときと逆で、基板ホルダ5が起き上げられた状態に、大型ガラス基板4に対する吸着が解除され、大型ガラス基板4が略垂直方向(Z方向)に立てられて基板ホルダ5から取り外される。
【0056】
このような大型ガラス基板4の基板ホルダ5への載置又は取り外しのとき、基板ホルダ5は、その下端側の縁がベース3上面の縁部分11よりも下降しているので、大型ガラス基板4を基板ホルダ5上に載置する場合、大型ガラス基板4を高い位置まで持ち上げる必要がなく、容易に大型ガラス基板4を基板ホルダ5に載置又は取り外しができる。又、大型ガラス基板4を立てた状態で位置決めすることで、大型ガラス基板4の自重によりローラ付基準ピン8に下辺が位置決めされるので、ローラ付基準ピン8に対向する押付けピンを省くことができ、かつ大型ガラス基板4と基板ホルダ5との間の面接触抵抗が小さくなり、押付けピン9の押圧力を小さくできる。
【0057】
このように上記第1の実施の形態においては、架台1上で基板ホルダ5を水平状態又はジャッキ19の伸縮動作により起き上げ方向に揺動可能で、当該揺動により基板ホルダ5を起き上がらせると、基板ホルダ5は直線ガイド15のヒンジ10に設けられた移動ブロック14に対して摺動して、ベース3の縁部分11より前方にせり出し、かつ起き上がりにより下端側となる基板ホルダ5の縁を架台1のベース3の縁部分11よりも下降させるので、基板ホルダ5が架台1上に設けられていても、大型ガラス基板4の全面を観察者に近付けることができ、特に例えば1250×1100mmの大型ガラス基板4の上端部分の高さを従来よりも低くでき、大型ガラス基板4の上端部分と観察者との距離を短くでき、これによって観察者は大型ガラス基板4の上端部分を見上げることなく、かつ大型ガラス基板4の全面に亘って、例えば傷やむらなどの欠陥部分の方向によって異なる反射方向の光を捉えて、大型ガラス基板4に存在する欠陥部分を確実に特定できる。
【0058】
又、大型ガラス基板4を起き上げたときの上端部分を従来よりも低くでき、これによりマクロ照明装置30の設置位置も低くでき、基板検査装置全体の設置スペースを小さくできる。
【0059】
又、マクロ検査を行うときには、例えば基板ホルダ5がマクロ観察しやすい任意の起き上げ角度に調整された状態で、各ジャッキ19の伸縮ロッド19aの伸縮動作を連続して繰り返すことにより、観察者の視点の動きを少なくして、例えば傷やむらなどの欠陥部分の方向によって異なる反射方向の光を捉えてその欠陥部分を特定できる。この場合、基板ホルダ5を揺動させる角度範囲は、任意に制御装置43に設定できるので、例えば傷やむらなどに限らず、欠け、汚れ、ダストなどの多種多様な欠陥部分を特定することが可能である。
【0060】
ミクロ検査を行うときは、基板ホルダ5がヒンジ支持部材11、ヒンジ10及び移動ブロック14からなる部分と、支持部材21とによってベース3上に載置されるので、外部からの振動の影響を受けずに基板ホルダ5の安定性を高くでき、揺れのない顕微鏡42の拡大像で欠陥部分を観察できる。
【0061】
さらに、基板ホルダ5を起き上げて下端側となった縁をベース3の縁部分11よりも下降させた状態で、基板ホルダ5上に対して大型ガラス基板4の載置又は取り外し使用すれば、大型ガラス基板4を高い位置まで持ち上げる必要がなく、容易に大型ガラス基板4の基板ホルダ5への載置又は取り外しができる。
【0062】
又、基板ホルダ5をベース3の縁部分11より前方側でせり出しながら基板ホルダ5を起き上がらせるので、マクロ照明光を遮ることなくがない。
【0063】
揺動機構は、揺動支点であるヒンジ10、せり出し機構としての直線ガイド15、リンク機構17などにより安価に構成できる。
【0064】
次に、本発明の第2の実施の形態について図面を参照して説明する。なお、図1と同一部分には同一符号を付してその詳しい説明は省略する。
【0065】
図5は本発明の基板保持装置を基板検査装置に適用した構成図である。この基板保持装置において、ヒンジ10、ヒンジ支持部材12、移動ブロック14、直線ガイド15、リンク18、ジャッキ19、延出端部20及び支持部材21は、上記第1の実施の形態で説明したように正面側から見てY方向の両端側にそれぞれ1組ずつ設けられており、本実施の形態では、これらを各ヒンジ10,10’、各ヒンジ支持部材12,12’、各移動ブロック14,14’、各直線ガイド15,15’、各リンク18,18’、各ジャッキ19,19’及び各支持部材21,21’の各符号を付して示す。
【0066】
この基板保持装置には、図6に示すように基板ホルダ5の起き上げ方向での揺動の軸方向に対して垂直の軸方向で基板ホルダ5を揺動させる別方向揺動機構50が設けられている。この別方向揺動機構50には、基板ホルダ5の起き上げ方向の揺動軸方向に対して垂直な軸方向に回転(矢印ロ方向)させるヒンジユニット(回転支持部材)51が設けられている。このヒンジユニット51は、ヒンジ保持アーム52と、このヒンジ保持アーム52の両端にそれぞれ設けられた各ヒンジ支持片52a、52bと、ヒンジ保持アーム52の底面における略中央部に設けられた回転軸53とからなっている。このうち各ヒンジ支持片52a、52bには、それぞれ各ヒンジ13、13’が回転可能に設けられている。又、回転軸53は、ベース3の正面側における略中央部に形成された回転用穴54内に回転可能に設けられている。
【0067】
制御装置43は、各ジャッキ19、19’の各伸縮量をそれぞれ互いに異なる揺動量で制御する機能、例えば一方のジャッキ19又は19’を伸縮させずに他方のジャッキ19’又は19を伸縮させたり、又は一方のジャッキ19又は19’を伸ばし他方のジャッキ19’又は19を縮みさせる、さらにはこれらジャッキ19、19’の伸縮動作を同期して伸縮させる機能を有する。
【0068】
このような構成であれば、マクロ検査を行うときは、観察者によって各ジャッキ19、19’の各伸縮ロッド19a、19a’の各伸びが調整され、基板ホルダ5がマクロ観察しやすい任意の起き上げ角度に調整される。
【0069】
この状態で、各ジャッキ19、19’の各伸縮ロッド19a、19a’を同期させて伸縮動作を繰り返しすれば、この伸縮動作の繰り返しにより基板ホルダ5は、所定周期で矢印イ方向に連続して揺動する。
【0070】
又、各ジャッキ19、19’は、例えば一方のジャッキ19又は19’を伸縮させずに他方のジャッキ19’又は19を伸縮させたり、又は一方のジャッキ19又は19’を伸ばし他方のジャッキ19’又は19を縮みさせたり、さらにはこれらジャッキ19、19’の伸縮動作が連続して繰り返される。
【0071】
このように各ジャッキ19、19’の伸縮動作を変えることにより基板ホルダ5は、図6に示すヒンジユニット51が回転軸53を中心として矢印ロ方向に回転することにより、正面側から見て左右方向(以下、首振り方向と称する)に揺動する。図7は一方のジャッキ19又は19’を伸縮させずに他方のジャッキ19’又は19を伸縮させて基板ホルダ5を正面側から見て左側に首振りした状態を示す。この首振り方向の揺動範囲は、制御装置43に予め設定しておいてもよいし、観察者の操作で任意に設定してもよい。
【0072】
このように上記第2の実施の形態によれば、基板ホルダ5を首振り方向に揺動して任意の首振り角度に設定したり、又は連続して揺動することができてマクロ検査のバリエーションを増やすことができ、これにより起き上がり方向(矢印イ方向)での揺動で検出できなかった傷やむらなどの欠陥部分からの反射光を観察者により検出でき、当該欠陥部分を特定できる。
【0073】
又、基板ホルダ5の起き上がり方向の揺動と首振り方向の揺動とを同時に動作させて、基板ホルダ5をあらゆる角度方向に設定したり、連続的にあらゆる角度方向に揺動させてマクロ検査できる。
【0074】
なお、本発明は、上記第1及び第2の実施の形態に限定されるものでなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で種々に変形することが可能である。
【0075】
さらに、上記実施形態には、種々の段階の発明が含まれており、開示されている複数の構成要件における適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出できる。例えば、実施形態に示されている全構成要件から幾つかの構成要件が削除されても、発明が解決しようとする課題の欄で述べた課題が解決でき、発明の効果の欄で述べられている効果が得られる場合には、この構成要件が削除された構成が発明として抽出できる。
【0076】
例えば、上記第1及び第2の実施の形態では、基板ホルダ5を起き上がらせるとき、基板ホルダ5をベース3の縁部分11より前方にせり出しながら基板ホルダ5の下側となる縁を架台1のベース3の縁部分11よりも下降させているが、これに限らず、先ずは基板ホルダ5をベース3の縁部分11より前方にせり出させ、この後に基板ホルダ5をヒンジ10の回転軸13を中心にして回動させてベース3の縁部分11よりも下降させてもよく、とにかく基板ホルダ5を水平状態から所定の傾斜角度に起き上がらせたときに、基板ホルダ5の下側となる縁をベース3の縁部分11よりも下降させるように揺動させればよい。このような基板ホルダ5の揺動動作は、揺動機構の構成を種々変形することにより可能である。
【0077】
又、各リンク18、18’の長さは、例えばジャッキに代えてもよく、これらジャッキに代えることにより、基板ホルダ5を起き上げた状態で当該ジャッキを伸縮させると、基板ホルダ5を上下方向に移動させることができ、大型ガラス基板上の目視観察したい領域を、観察者のマクロ検査し易い高さ位置に配置できる。
【0078】
揺動機構は、揺動支点であるヒンジ10、せり出し機構としての直線ガイド15、リンク機構17などから構成したが、これに限らず、他の如何なる機構を用いてもよく、例えば、基板ホルダ5の揺動支点となる各ヒンジ10,10’に揺動とスライド機能とを兼ね備えた構成にしてもよく、又、基板ホルダ5を円弧状の移動させる揺動機構を用いてもよい。
【0079】
又、本発明の基板保持装置は、例えばフラットパネルディスプレイ製造工程で用いる基板検査装置に適用してマクロ検査とミクロ検査とを複合した構成について説明したが、これに限らず、マクロ検査の単体で用いてもよく、さらには大型ガラス基板4上の膜厚測定やパターン検査などの各種基板の検査装置に適用して、大型ガラス基板4の保持や大型ガラス基板4への載置、取り出しに用いることができる。
【0080】
【発明の効果】
以上詳記したように本発明によれば、基板ホルダが揺動支点を支点として起き上がる方向にジャッキにより基板ホルダを回動させると、直線ガイドが基板ホルダの回動に伴って揺動支点に対してスライド移動すると共に、基板ホルダが揺動支点を支点として回動しながらベースの前側縁部より前方にせり出すので、大型ガラス基板を起き上げてもその上端部分が高くならず、省スペース化を実現できる基板保持装置及び基板検査装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係わる基板保持装置の第1の実施の形態を示す構成図。
【図2】本発明に係わる基板保持装置の第1の実施の形態における基板ホルダの正面構成図。
【図3】本発明に係わる基板保持装置の第1の実施の形態におけるヒンジ部分の拡大図。
【図4】本発明に係わる基板保持装置の第1の実施の形態における基板ホルダの起き上がり動作を示す図。
【図5】本発明に係わる基板保持装置の第2の実施の形態を示す構成図。
【図6】本発明に係わる基板保持装置の第2の実施の形態における別方向揺動機構の構成図。
【図7】本発明に係わる基板保持装置の第2の実施の形態における基板ホルダの首振り方向の揺動を示す図。
【符号の説明】
1:架台
2:脚
2a:水平梁
3:ベース
4:大型ガラス基板
5:基板ホルダ
6:開口部
7:基準ピン
8:ローラ付基準ピン
9:押付けピン
10,10’:ヒンジ
11:縁部分
12,12’:ヒンジ支持部材
13:回動軸
14,14’:移動ブロック
15,15’:直線ガイド
15a:ストッパ
16:摺動用溝
17:リンク機構
18,18’:リンク
19,19’:ジャッキ
19a:伸縮ロッド
20:延出端部
21,21’:支持部材
22,23:支点
24,25:支点
30:マクロ照明装置
31:マクロ光源
32:反射ミラー
33:フレネルレンズ
40:ミクロ検査装置
41:門型アーム
42:顕微鏡
43:制御装置
50:別方向揺動機構
51:ヒンジユニット
52:ヒンジ保持アーム
52a,52b:ヒンジ支持片
53:回転軸
54:回転用穴[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a substrate holding device that holds and swings a glass substrate when performing a defect inspection of the glass substrate such as a flat panel such as a large liquid crystal display (LCD) or a plasma display panel (PDP). And inspection equipment About.
[0002]
[Prior art]
In recent years, in the field of flat panel displays such as LCDs and PDPs, the size of glass substrates tends to increase more and more in order to meet the demands for larger screens and cost reductions in the flat panel display manufacturing process. is there.
[0003]
Defect inspection is performed on a large glass substrate manufactured in such a flat panel display manufacturing process, and a combination of macro inspection and micro inspection is performed as one method of this defect inspection. Yes. In the macro inspection, the glass substrate is irradiated with illumination light and the light reflected on the glass substrate is visually observed. In the micro inspection, the defect portion specified in the macro inspection is enlarged and observed with a microscope.
[0004]
As such a defect inspection apparatus, for example, there is a technique described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 11-94756. In this publication, a glass substrate is placed on a holder at the time of macro inspection, is raised toward an observer, and is macroscopically observed. It describes that inspection is performed, the glass substrate is held in a horizontal state at the time of micro inspection, and the defect portion is enlarged and observed with a microscope. For the illumination during the macro inspection, for example, a light projecting device described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-146846 is used.
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
The size of the glass substrate manufactured in the flat panel display manufacturing process tends to increase in size in order to meet the demands for larger screens and cost reductions. For example, a large size of 1250 × 1100 mm has appeared. .
[0006]
When such a large glass substrate is subjected to defect inspection using the defect inspection apparatus described in the above publication, it is caused to rise at a predetermined inclination angle around the lower side of the holder during macro inspection.
[0007]
However, when the large glass substrate held by the holder is raised, the upper end portion of the large glass substrate when raised is higher than the position of the observer's eyes. The distance to the upper end becomes longer, and the upper end of the large glass substrate becomes difficult to see.
[0008]
In addition, since the upper end portion of the large glass substrate when the large glass substrate is raised becomes a high position, the height space necessary for swinging the large glass substrate is increased, and the apparatus is increased in size.
[0009]
Accordingly, the present invention provides a substrate holding device that can realize space saving because the upper end portion of the large glass substrate is not raised even when the large glass substrate is raised. And board inspection equipment The purpose is to provide.
[0010]
[Means for Solving the Problems]
The present invention includes a base, a substrate holder provided on the base and holding a large substrate,
A linear guide provided on both sides of the substrate holder; a swing fulcrum provided at both front ends of the base for supporting the linear guide so as to be slidable; and connected to the substrate holder; And a jack that raises the substrate holder as a fulcrum, and the linear guide, the swing fulcrum and the jack constitute a swing mechanism, and the swing mechanism causes the substrate holder to be moved by the jack. As the substrate holder rotates, the linear guide slides with respect to the swing fulcrum, and the substrate holder rotates with the swing fulcrum as a fulcrum. In this case, the substrate holding device protrudes forward from the front edge of the base.
The present invention also provides a base, a substrate holder provided on the base and holding a large substrate, linear guides provided on both sides of the substrate holder, and both ends of the base on the front side. A swing fulcrum for slidably supporting the guide; and a jack that is connected to the substrate holder and raises the substrate holder with the swing fulcrum as a fulcrum. The substrate holder is rotated and the linear guide is slid relative to the swing fulcrum, so that an angle range between a horizontal state placed on the base and a vertical state protruding forward of the base is obtained. The substrate holder is rotated, and the large substrate is replaced with the substrate holder raised in a substantially vertical direction. Board holder The substrate holding apparatus is characterized in that the large substrate held on the substrate is transported onto the base.
The present invention also provides a base, a substrate holder provided on the base and holding a large substrate, linear guides provided on both sides of the substrate holder, and both ends of the base on the front side. A swing fulcrum that supports the guide in a slidable manner, a jack that is connected to the substrate holder and raises the substrate holder with the swing fulcrum as a fulcrum, and a surface of the large substrate held by the substrate holder A macro illumination device that irradiates macro illumination light, and the front end of the substrate holder is lowered from the front edge of the upper surface of the base by the linear guide and protrudes forward, and the front edge of the base Inspecting the defects on the large substrate by irradiating the macro illumination light in a state where the substrate holder is raised at a predetermined angle with the swing fulcrum provided on the fulcrum. A substrate inspection apparatus according to claim.
The present invention also provides a base, a substrate holder provided on the base and holding a large substrate, linear guides provided on both sides of the substrate holder, and both ends of the base on the front side. A swing fulcrum that supports the guide in a slidable manner, a jack that is connected to the substrate holder and raises the substrate holder using the swing fulcrum as a fulcrum, and a substrate holder that is horizontally placed on the base. A portal arm provided movably along both sides, a microscope movably provided along a horizontal arm of the portal arm, and a reference pin with a roller on the front edge of the substrate holder, A board positioning mechanism provided with a reference pin at one lateral end of the substrate holder and a pressing pin at the other lateral end opposite to the lateral end of the substrate holder; The large-sized substrate is placed on the reference pin with a roller in a state where the substrate holder is raised substantially vertically, and the large-sized substrate is pressed against the reference pin by the pressing pin and positioned with the jack. It is a board | substrate inspection apparatus characterized by moving on a base, returning horizontally, and inspect | inspecting the said large sized board | substrate positioned on the said board | substrate holder with the said microscope.
[0011]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
[0012]
FIG. 1 is a cross-sectional configuration diagram in which a substrate holding apparatus of the present invention is applied to a substrate inspection apparatus. The
[0013]
The
[0014]
The
[0015]
As shown in FIG. 3, hinge support members 12 are respectively provided at both ends of the
[0016]
The
[0017]
The
[0018]
The linear guides 15 are provided on both ends of the lower surface of the
[0019]
A
[0020]
The
[0021]
The
[0022]
The
[0023]
Therefore, when the
[0024]
When the
[0025]
Accordingly, when the
[0026]
However, since the distance between the fulcrum 23 and the
[0027]
As the extension of the
[0028]
When the rising angle of the
[0029]
The distance by which the lower
[0030]
That is, when considering a triangle composed of the three
[0031]
The
[0032]
A
[0033]
The
[0034]
The
[0035]
Next, the operation of the apparatus configured as described above will be described in the case of macro inspection and micro inspection.
[0036]
Before the start of the inspection, the
[0037]
When performing a macro inspection, the
[0038]
At this time, each
[0039]
Further, as the
[0040]
When performing the macro inspection, the observer adjusts the extension of the
[0041]
Since the edge of the
[0042]
In this state, when the macro illumination light is emitted from the macro
[0043]
The observer visually observes the light reflected by the
[0044]
Further, when performing the macro inspection, for example, the expansion / contraction operation is repeated with the expansion /
[0045]
The range of the rising angle of the swinging
[0046]
If the
[0047]
The coordinate data of the defective portion on the
[0048]
Next, a micro inspection is performed. In the
[0049]
When the
[0050]
The
[0051]
At the time of the micro inspection, the
[0052]
The substrate holding device of the present invention can be used not only at the time of macro inspection and at the time of micro inspection, but also as a transport device when placing the
[0053]
For example, when the
[0054]
When the
[0055]
On the other hand, when removing the
[0056]
When the
[0057]
As described above, in the first embodiment, the
[0058]
In addition, the upper end portion when the
[0059]
Further, when performing the macro inspection, for example, the expansion and contraction operation of the
[0060]
When performing the micro inspection, the
[0061]
Furthermore, if the large-
[0062]
Further, since the
[0063]
The swing mechanism can be constructed at a low cost by the
[0064]
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. The same parts as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted.
[0065]
FIG. 5 is a configuration diagram in which the substrate holding device of the present invention is applied to a substrate inspection device. In this substrate holding device, the
[0066]
As shown in FIG. 6, this substrate holding device is provided with another direction swing mechanism 50 for swinging the
[0067]
The
[0068]
With such a configuration, when performing a macro inspection, the observer adjusts each extension of the
[0069]
In this state, if the
[0070]
Each
[0071]
In this way, by changing the expansion / contraction operation of each
[0072]
As described above, according to the second embodiment, the
[0073]
In addition, the
[0074]
In addition, this invention is not limited to the said 1st and 2nd embodiment, In the implementation stage, it can change variously in the range which does not deviate from the summary.
[0075]
Furthermore, the above embodiments include inventions at various stages, and various inventions can be extracted by appropriately combining a plurality of disclosed constituent requirements. For example, even if some constituent elements are deleted from all the constituent elements shown in the embodiment, the problem described in the column of the problem to be solved by the invention can be solved, and is described in the column of the effect of the invention. If the effect is obtained, a configuration from which this configuration requirement is deleted can be extracted as an invention.
[0076]
For example, in the first and second embodiments described above, when the
[0077]
Further, the length of each
[0078]
The swing mechanism is composed of the
[0079]
In addition, the substrate holding apparatus of the present invention has been described with respect to a configuration in which macro inspection and micro inspection are combined by applying to a substrate inspection apparatus used in, for example, a flat panel display manufacturing process. Furthermore, it may be used for inspection of various substrates such as film thickness measurement and pattern inspection on the
[0080]
【The invention's effect】
As detailed above, according to the present invention, When the substrate holder is rotated by the jack in the direction in which the substrate holder rises with the swing fulcrum as a fulcrum, the linear guide slides with respect to the swing fulcrum as the substrate holder rotates, and the substrate holder also swings. Because it protrudes forward from the front edge of the base while rotating around Even when a large glass substrate is raised, the upper end portion thereof is not raised, and a substrate holding device and a substrate inspection device capable of realizing space saving can be provided.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a configuration diagram showing a first embodiment of a substrate holding apparatus according to the present invention.
FIG. 2 is a front configuration diagram of a substrate holder in the first embodiment of the substrate holding apparatus according to the present invention.
FIG. 3 is an enlarged view of a hinge portion in the first embodiment of the substrate holding apparatus according to the present invention.
FIG. 4 is a view showing a rising operation of the substrate holder in the first embodiment of the substrate holding apparatus according to the present invention.
FIG. 5 is a configuration diagram showing a second embodiment of a substrate holding apparatus according to the present invention.
FIG. 6 is a configuration diagram of another direction swing mechanism in the second embodiment of the substrate holding apparatus according to the present invention.
FIG. 7 is a diagram showing the swinging of the substrate holder in the swing direction in the second embodiment of the substrate holding apparatus according to the present invention.
[Explanation of symbols]
1: Mount
2: Leg
2a: Horizontal beam
3: Base
4: Large glass substrate
5: Substrate holder
6: Opening
7: Reference pin
8: Reference pin with roller
9: Push pin
10, 10 ': Hinge
11: Edge part
12, 12 ': Hinge support member
13: Rotating shaft
14, 14 ': Moving block
15, 15 ': Straight guide
15a: Stopper
16: Sliding groove
17: Link mechanism
18, 18 ': Link
19, 19 ': Jack
19a: telescopic rod
20: Extension end
21, 21 ': Support member
22, 23: fulcrum
24, 25: fulcrum
30: Macro lighting device
31: Macro light source
32: Reflection mirror
33: Fresnel lens
40: Micro inspection device
41: Portal arm
42: Microscope
43: Control device
50: Separate direction swing mechanism
51: Hinge unit
52: Hinge holding arm
52a, 52b: Hinge support piece
53: Rotating shaft
54: Hole for rotation
Claims (12)
前記ベース上に設けられ、大型基板を保持する基板ホルダと、
前記基板ホルダの両側に設けられた直線ガイドと、
前記ベースの前側両端部に設けられ、前記直線ガイドをスライド移動可能に支持する揺動支点と、
前記基板ホルダに連結し、前記揺動支点を支点として前記基板ホルダを起き上がらせるジャッキとを有し、
前記直線ガイド、前記揺動支点及び前記ジャッキにより揺動機構を構成し、
前記揺動機構は、前記ジャッキにより前記基板ホルダを前記揺動支点を支点として起き上がる方向に回動させることにより、この基板ホルダの回動に伴って前記直線ガイドが前記揺動支点に対してスライド移動すると共に、前記基板ホルダが前記揺動支点を支点として回動しながら前記ベースの前側縁部より前方にせり出す、
ことを特徴とする基板保持装置。Base and
A substrate holder provided on the base and holding a large substrate;
Linear guides provided on both sides of the substrate holder;
A swing fulcrum provided at both front ends of the base and supporting the linear guide so as to be slidable;
A jack that is connected to the substrate holder and raises the substrate holder with the swing fulcrum as a fulcrum;
A rocking mechanism is constituted by the linear guide, the rocking fulcrum and the jack,
The swing mechanism rotates the substrate holder in the direction of rising with the swing fulcrum as a fulcrum by the jack, so that the linear guide slides with respect to the swing fulcrum as the substrate holder rotates. While moving, the substrate holder protrudes forward from the front edge of the base while rotating about the swing fulcrum.
A substrate holding device.
前記揺動機構は、前記基板ホルダの両側にそれぞれ前記ジャッキを連結し、前記各ジャッキの各伸縮量を制御して前記基板ホルダを左右方向に揺動させる別方向揺動機構を有する、
ことを特徴とする請求項1記載の基板保持装置。The substrate holder is supported so as to be swingable in the left-right direction by a rotation axis orthogonal to the rotation axis of the swing fulcrum,
The swing mechanism includes a different-direction swing mechanism that connects the jacks to both sides of the substrate holder, and controls the expansion / contraction amount of each jack to swing the substrate holder in the left-right direction.
The substrate holding apparatus according to claim 1.
前記ベース上に設けられ、大型基板を保持する基板ホルダと、
前記基板ホルダの両側に設けられた直線ガイドと、
前記ベースの前側両端部に設けられ、前記直線ガイドをスライド移動可能に支持する揺動支点と、
前記基板ホルダに連結し、前記揺動支点を支点として前記基板ホルダを起き上がらせるジャッキとを有し、
前記ジャッキにより前記揺動支点を支点として前記基板ホルダを回動させると共に、前記直線ガイドを前記揺動支点に対してスライド移動させることにより、前記ベースに載置された水平状態と前記ベースの前方にせり出した垂直状態との角度範囲内で前記基板ホルダを回動移動させ、前記基板ホルダを略垂直方向に起こした状態で前記大型基板を載せ換え、前記基板ホルダ上に保持された前記大型基板を前記ベース上に搬送する、
ことを特徴とする基板保持装置。Base and
A substrate holder provided on the base and holding a large substrate;
Linear guides provided on both sides of the substrate holder;
A swing fulcrum provided at both front ends of the base and supporting the linear guide so as to be slidable;
A jack that is connected to the substrate holder and raises the substrate holder with the swing fulcrum as a fulcrum;
The jack rotates the substrate holder around the swing fulcrum and slides the linear guide with respect to the swing fulcrum so that the horizontal state placed on the base and the front of the base The large substrate held on the substrate holder by rotating the substrate holder within an angular range from the protruding vertical state and replacing the large substrate with the substrate holder raised in a substantially vertical direction. Transporting onto the base,
A substrate holding device.
前記基板ホルダを略垂直に起こした状態で前記ローラ付基準ピンに前記大型基板を載せ、前記押付けピンにより前記大型基板を前記基準ピンに押付けて前記大型基板を位置決めする、
ことを特徴とする請求項7記載の基板保持装置。The substrate holder includes a reference pin with a roller provided at a front edge of the substrate holder, a reference pin provided at a lateral end of the substrate holder, and the lateral end of the substrate holder provided with the reference pin A pressing pin provided at a lateral end of the substrate holder facing the portion,
The large substrate is placed on the reference pin with roller in a state where the substrate holder is raised substantially vertically, and the large substrate is positioned by pressing the large substrate against the reference pin by the pressing pin.
The substrate holding device according to claim 7.
前記ベース上に設けられ、大型基板を保持する基板ホルダと、
前記基板ホルダの両側に設けられた直線ガイドと、
前記ベースの前側両端部に設けられ、前記直線ガイドをスライド移動可能に支持する揺動支点と、
前記基板ホルダに連結し、前記揺動支点を支点にして前記基板ホルダを起き上がらせるジャッキと、
前記基板ホルダに保持された前記大型基板の表面にマクロ照明光を照射するマクロ照明装置とを有し、
前記直線ガイドにより前記基板ホルダの前側端部を前記ベース上面の前側縁部より下降させて前方にせり出させると共に、前記ベースの前側縁部に設けられた揺動支点を支点として前記基板ホルダを所定の角度に起き上がらせた状態で前記マクロ照明光を照射して前記大型基板上の欠陥を検査する、
ことを特徴とする基板検査装置。Base and
A substrate holder provided on the base and holding a large substrate;
Linear guides provided on both sides of the substrate holder;
A swing fulcrum provided at both front ends of the base and supporting the linear guide so as to be slidable;
A jack that is connected to the substrate holder and raises the substrate holder around the swing fulcrum;
A macro illumination device that irradiates macro illumination light onto the surface of the large substrate held by the substrate holder;
The linear guide lowers the front end of the substrate holder from the front edge of the upper surface of the base and protrudes forward, and the substrate holder is supported using a swing fulcrum provided at the front edge of the base as a fulcrum. Inspecting the defects on the large substrate by irradiating the macro illumination light in a state where it is raised at a predetermined angle,
A substrate inspection apparatus.
ことを特徴とする請求項9記載の基板検査装置。The substrate holder is supported so as to be movable in the left-right direction by a rotation axis orthogonal to the rotation axis of the swing fulcrum, and the jacks are respectively connected to both sides of the substrate holder to control the expansion and contraction amounts of these jacks. The substrate holder is set in any angular direction between the front-rear direction and the left-right direction, and the macro-illumination light is used to macro-inspect defects on the large substrate,
The substrate inspection apparatus according to claim 9.
前記ベース上に設けられ、大型基板を保持する基板ホルダと、
前記基板ホルダの両側に設けられた直線ガイドと、
前記ベースの前側両端部に設けられ、前記直線ガイドをスライド移動可能に支持する揺動支点と、
前記基板ホルダに連結し、前記揺動支点を支点にして前記基板ホルダを起き上がらせるジャッキと、
前記ベース上に水平に置かれた前記基板ホルダの両側に沿って移動可能に設けられた門型アームと、
前記門型アームの水平アームに沿って移動可能に設けられた顕微鏡と、
前記基板ホルダの前側縁部にローラ付基準ピンを設け、前記基板ホルダの横側一端部に基準ピンを設け、前記基板ホルダの前記横側一端部と対向する横側他端部に押付けピンを設けてなる基板位置決め機構とを有し、
前記ジャッキにより前記基板ホルダを略垂直に起こした状態で前記ローラ付基準ピンに前記大型基板を載せ、前記押付けピンにより前記大型基板を前記基準ピンに押し付けて位置決めた状態で前記ジャッキにより前記基板ホルダを前記ベース上に移動して水平に戻し、前記基板ホルダ上に位置決めされた前記大型基板を前記顕微鏡で検査する、
ことを特徴とする基板検査装置。Base and
A substrate holder provided on the base and holding a large substrate;
Linear guides provided on both sides of the substrate holder;
A swing fulcrum provided at both front ends of the base and supporting the linear guide so as to be slidable;
A jack that is connected to the substrate holder and raises the substrate holder around the swing fulcrum;
A gate-type arm provided so as to be movable along both sides of the substrate holder placed horizontally on the base;
A microscope movably provided along the horizontal arm of the portal arm;
A reference pin with a roller is provided at the front edge of the substrate holder, a reference pin is provided at one end of the substrate holder, and a pressing pin is provided at the other end of the substrate holder opposite to the one end of the substrate. A board positioning mechanism provided,
The substrate holder is moved by the jack in a state where the large substrate is placed on the reference pin with the roller while the substrate holder is raised substantially vertically by the jack, and the large substrate is pressed and positioned by the pressing pin. Is moved to the base and returned horizontally, and the large substrate positioned on the substrate holder is inspected with the microscope.
A substrate inspection apparatus.
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