JP3837626B2 - レーザ加工装置 - Google Patents

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Description

【0010】
【発明の属する技術分野】
本発明は、レーザの励起手段に光源を用いるレーザ加工装置に関する。
【0020】
【従来の技術】
固体レーザを用いるレーザ加工装置のレーザ発振部は、固体レーザ媒体たとえばYAGロッドと、励起用光源たとえば励起ランプと、固体レーザ媒体の光軸上に配置された一対の光共振器ミラーとで構成される。
【0030】
レーザ電源部からの電力を受けて励起ランプが点灯すると、その光エネルギーでYAGロッドが励起され、YAGロッドの両端面より光軸上に出た光が光共振器ミラーの間で反射を繰り返して増幅されたのちレーザ光として出力ミラーを抜け出る。出力ミラーより抜け出たレーザ光は、所定の伝送光学系を介して加工場所の出射ユニットへ送られ、出射ユニットより被加工物に向けて照射されるようになっている。
【0040】
上記のようなレーザ発振部では、レーザ発振動作の回数を重ねるにつれて励起ランプの劣化やYAGロッドあるいは光共振器ミラーの汚れ等によりレーザ発振効率が低下してくる。
【0050】
レーザ発振部内のそのような経時劣化に対してレーザ光のレーザ出力を設定値に維持するためには、レーザ電源部にレーザ出力フィードバック機能を設けるのが通例である。かかるフィードバック機能においては、光センサ等を用いてレーザ光のレーザ出力(光強度)を測定し、レーザ出力測定値をレーザ出力設定値に一致させるように、励起ランプに供給する電力、電流または電圧を制御する。
【0060】
【発明が解決しようとする課題】
上記のようなレーザ出力フィードバック機能により、レーザ発振部の経時劣化が補償され、レーザ光のレーザ出力は設定値に維持される。
【0070】
しかしながら、経時劣化が大きくなるにつれて、レーザ発振部より発振出力されるレーザ光のレーザ出力とレーザ電源部より励起ランプに投入(供給)される電力とのギャップ(誤差)は拡大する。すなわち、レーザ発振部の経時劣化を補償する分の電力が次第に増大する。
【0080】
このように、レーザ発振部の経時劣化が大きくなるにつれてランプ投入電力が増大するのであるが、励起ランプにも投入電力に限界値があり、この限界値を越えると励起ランプが壊れ(通常はランプのガラス管が割れ)、レーザ発振が停止する。
【0090】
多くの場合、この時点で励起ランプの交換が行われる。このランプ交換では、旧励起ランプの割れたガラス管の破片をきれいに取り除かなければならず、作業に大変手間がかかっていた。しかも、励起ランプの破壊によってレーザ加工が予期せず突然に中断してしまうため、生産性の低下を来していた。
【0100】
本発明は、かかる従来の問題点に鑑みてなされたもので、励起用光源の交換時機を適確に予測ないし告知する機能を有し、保守および生産管理を向上させるレーザ加工装置を提供することを目的とする。
【0110】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するために、本発明の第1のレーザ加工装置は、励起用光源より発せられる光エネルギーで固体レーザ媒体を励起してレーザ光を発振出力するレーザ発振部と、前記励起用光源にスイッチング素子を介して電力を供給するレーザ電源部と、前記レーザ光の出力を測定するレーザ出力測定手段と、前記レーザ出力測定手段より得られるレーザ出力測定値を所望のレーザ出力設定値と比較し、比較誤差を零にするように前記スイッチング素子を所定の高周波数でスイッチング制御する制御手段と、前記励起用光源に供給される電力を測定する投入電力測定手段と、前記励起用光源について投入電力の限界値を設定する投入電力限界値設定手段と、前記投入電力測定手段より投入電力測定値を受け取り、前記投入電力限界値に対する前記投入電力測定値の比率を電力投入率として求める電力投入率演算手段と、前記電力投入率演算手段で求められた前記電力投入率を表示出力する電力投入率表示手段とを具備する。
【0120】
本発明の第2のレーザ加工装置は、励起用光源より発せられる光エネルギーで固体レーザ媒体を励起してパルスレーザ光を発振出力するパルスレーザ発振部と、前記励起用光源にスイッチング素子を介して電力を供給するパルスレーザ電源部と、前記パルスレーザ光の出力について所望の基準波形を設定する基準波形設定手段と、前記パルスレーザ光の出力を測定するレーザ出力測定手段と、前記レーザ出力測定手段より得られるレーザ出力測定値を前記基準波形と比較し、比較誤差を零にするように前記スイッチング素子を所定の高周波数でスイッチング制御する制御手段と、前記励起用光源に供給される電力を測定する投入電力測定手段と、前記励起用光源について投入電力の限界値を設定する投入電力限界値設定手段と、前記投入電力測定手段より投入電力測定値を受け取り、前記投入電力限界値に対する前記投入電力測定値の比率を電力投入率として求める電力投入率演算手段と、前記電力投入率演算手段で求められた前記電力投入率を表示出力する電力投入率表示手段とを具備する。好ましくは、さらに、前記レーザ出力測定手段より得られるレーザ出力測定値に基づいてパルス1個分のレーザエネルギーを求めるレーザエネルギー演算手段と、前記レーザエネルギー演算手段で求められた前記レーザエネルギーを前記電力投入率と一緒に表示出力するレーザエネルギー表示手段とを具備してよい。
【0130】
本発明のレーザ加工装置では、高周波数でスイッチング動作するスイッチング素子を用いてレーザ出力フィードバック制御が行なわれる。そして、レーザ電源部より励起用光源に供給される電力が投入電力測定手段によって測定され、電力投入率演算手段において投入電力限界値設定手段より与えられる投入電力限界値に対する投入電力測定値の比率(ランプ電力投入比率)が求められ、電力投入率表示手段においてランプ電力投入比率が表示出力される。これにより、ユーザは、レーザ発振部内の経時劣化が増大するにつれてランプ電力投入比率が経時的に増大する様子を電力投入率表示手段を通じて随時目視確認して、励起用光源の劣化の進行状況を適確に把握することが可能であり、励起用光源ないしレーザ発振部の部品交換修理またはクリーニング作業等を適切な時機に、しかもレーザ加工の合間の都合の良い時に行うことができる。
【0140】
上記第1または第2のレーザ加工装置においては、好ましくは、前記レーザ出力測定手段より得られるレーザ出力測定値の平均値を前記電力投入率と一緒に表示出力するレーザ出力測定値表示手段を設けてよい。ユーザにあっては、現時の電力投入率とレーザ出力測定値(平均値)とを同時に目視確認することで、励起用光源の劣化の進行状況をより適確に把握することができる。
【0150】
また、上記第1または第2のレーザ加工装置において、前記レーザ出力測定手段より得られるレーザ出力測定値に基づいて前記パルスレーザ光のレーザ出力波形を表示出力するレーザ出力波形表示手段を具備する構成も好ましい。
【0160】
【発明の実施の形態】
以下、添付図を参照して本発明の実施例を説明する。
【0170】
図1および図2に、本発明の一実施例によるレーザ加工装置の外観の構成を示す。図1は装置全体の斜視図、図2は装置操作パネルの部分拡大平面図である。
【0180】
図1において、このレーザ加工装置は、上部ユニット10と下部ユニット12を一体結合してなる。上部ユニット10の内部には、レーザ発振部、制御部、マルチポジション加工用のレーザ分岐部等が収納されている。上部ユニット10の前面には、各種設定値、測定値等を設定入力/表示出力するためのディスプレイおよび各種キースイッチ類を含む操作パネル14や電源供給状態、高電圧供給状態、充電完了状態等を点灯表示するためのLED群15等が設けられている。上部ユニット10の上面には、マルチポジション加工用の複数本の光ファイバ(図示せず)をそれぞれ通すための孔(開口)16や光ファイバ取付作業用の開閉蓋18等が設けられている。
【0190】
下部ユニット12の内部には、電源部の電力部、外部接続端子、ブレーカ、および冷却部のタンク、ポンプ、熱交換器、イオン交換樹脂、フィルタ、外部配管接続端子等が収容されている。下部ユニット12の前面パネル20は扉になっている。
【0200】
図2において、操作パネル14の中央部にフラットパネル型ディスプレイたとえば液晶表示ディスプレイ22が配置され、その下に種々の機能キー24〜38が配置されている。この実施例では、カーソル・キー24(24a〜24d)、(+)キー26、(−)キー28、書き込みキー30、メニュー・キー32、スタート・ボタン34、リセット・ボタン36および非常停止ボタン38が設けられている。
【0210】
カーソル・キー24(24a〜24d)は、画面上でカーソルを上下左右方向に移動させるためのキーであり、各キー24a〜24dを押すとそのキーの示す矢印方向にカーソルが移動するようになっている。
【0220】
(+)キー26および(−)キー28はデータ入力キーであり、後述するように、数値項目に対する数値(十進数)の入力、「ON/OFF」項目に対する「ON」または「OFF」の選択、「FIX/FREE」項目に対する「FIX」または「FREE」の選択等で用いられる。
【0230】
書き込みキー30は、カーソル位置の表示データを確定された設定データとして取り込むためのキーである。メニュー・キー32は、装置の画面モードを選択するためのキーである。
【0240】
スタート・ボタン34は、本装置に起動をかけてパルスレーザ光を出射(発射)させるためのキーである。リセット・ボタン36は、トラブル発生時にディスプレイ22に表示される『トラブル画面』(図示せず)を解除するために使われる。ストップ・ボタン38は非常時に操作されるボタンであり、このボタンが押されると、高電圧が切られ、冷却部も停止するようになっている。
【0250】
図3は、このレーザ加工装置の構成を示すブロック図である。本実施例のレーザ加工装置は、レーザ発振部40、レーザ電源部42、レーザ冷却部44、制御部46および入出力インタフェース部48から構成されている。
【0260】
レーザ発振部40は、チャンバ50内に配置された励起用光源たとえば励起ランプ52およびレーザ媒体たとえばYAGロッド54と、チャンバ50の外でYAGロッド54の光軸上に配置された一対の光共振器ミラー56,58とを有している。
【0270】
励起ランプ52が点灯すると、その光エネルギーでYAGロッド54が励起され、YAGロッド54の両端面より光軸上に出た光が光共振器ミラー56,58の間で反射を繰り返して増幅されたのちパルスレーザ光LBとして出力ミラー56を抜け出る。出力ミラー56より抜け出たパルスレーザ光LBは、レーザ分岐部(図示せず)へ送られ、そこで複数の分岐パルスレーザ光に分割される。そして各々の分岐パルスレーザ光が各光ファイバ(図示せず)を介して加工場所の各出射ユニット(図示せず)へ送られ、各出射ユニットより被加工物に向けて照射されるようになっている。
【0280】
レーザ電源部42は、レーザ発振部40に供給すべきレーザ発振用の電力を蓄積するコンデンサ60と、商用交流たとえば三相交流電源電圧(U,V,W)を直流に変換してコンデンサ60を所定の直流電圧に充電するための充電回路62と、コンデンサ60とレーザ発振部40の励起ランプ52との間に接続されたスイッチング素子たとえばトランジスタ64と、このトランジスタ64を高周波数(たとえば10kHz)でスイッチング駆動する駆動回路66とを含んでいる。
【0290】
レーザ冷却部44は、レーザ発振部40の励起ランプ52およびYAGロッド54より発生される熱をレーザ発振部40の外へ放熱するためのもので、レーザ発振部40に所定温度に温調された冷却媒体たとえば冷却水cwを供給するように構成されている。
【0300】
制御部46は、装置全体ないし各部の動作を制御するためのCPU(マイクロプロセッサ)70と、このCPU70に所定の処理を行わせるための各種プログラムおよび各種設定値または演算データを保持するためのメモリ72と、パルスレーザ光LBのレーザ出力またはこれに対応するレーザ電源部42内の電気的パラメータを計測するための各種計測手段74〜82等を含んでいる。
【0310】
これら計測手段のうち、レーザ出力測定部74は、光共振器ミラー58の後方に漏れるレーザ光LB’を受光するフォトセンサと、このフォトセンサより出力される電気信号に基づいてパルスレーザ光LBのレーザ出力を求める測定回路とを有しており、求めたレーザ出力測定値SL をCPU70に与える。
【0320】
電圧測定回路76は、電圧センス線78を介して励起ランプ52の両端子に電気的に接続されており、電源部42より励起ランプ52に印加される電圧(ランプ電圧)をたとえば実効値で測定し、求めたランプ電圧測定値SV をCPU70に与える。また、電流測定回路80は、電源部42のランプ電流供給回路に取付されている電流センサたとえばホールCT82より電流検出信号を受け取って、励起ランプ52に供給される電流(ランプ電流)Iを実効値で測定し、求めたランプ電流測定値SI をCPU70に与える。
【0330】
CPU70は、電源部42に対しては、コンデンサ60を設定電圧に充電させるための充電制御信号CFを充電回路62に与えるとともに、波形制御用のスイッチング制御信号SWを駆動回路66に与える。
【0340】
本実施例の波形制御において、CPU70は、レーザ出力測定部74からのレーザ出力測定値SL 、電圧測定回路76からのランプ電圧測定値SV または電流測定回路80からのランプ電流測定値SI 、あるいはランプ電圧測定値SV およびランプ電流測定値SI から求めたランプ電力測定値SP (SV ・SI )を予め設定されている波形制御用の基準波形と比較して比較誤差を求め、この比較誤差を零にするように、たとえばパルス幅制御信号からなるスイッチング制御信号SWを生成する。
【0350】
このようなフィードバック制御方式により、レーザ発振部40より発振出力されるパルスレーザ光LBのレーザ出力またはこれに対応するレーザ電源部42内の電気的パラメータ(ランプ電流、ランプ電力、ランプ電圧)が各波形制御用の基準波形に倣うように制御される。
【0360】
入出力/インタフェース部48は、入力部84、表示部86および通信インタフェース回路(I/F)88等を含んでいる。入力部84は操作パネル14のキー・スイッチ群から構成され、表示部86は装置前面部のLED群やディスプレイ22で構成されている。I/F88は、外部の装置またはユニットとのデータ通信に用いられる。
【0370】
なお、操作パネル14を装置本体から分離可能なユニット(プログラムユニット)として構成することも可能である。その場合、このプログラムユニットはCPU70、メモリ72、入力部84および表示部86を具備し、通信ケーブルを介して装置本体側と電気的に接続されることになる。
【0380】
図4に、本実施例においてCPU70およびメモリ72によって構築される機能的手段の構成をブロック図として示す。図示のように、入力バッファ部90、制御信号生成部92、演算部94、データ管理部96、測定値記憶部98、設定値記憶部100、画像フォーマット記憶部102および表示出力部104がCPU70およびメモリ72によって構成される。
【0390】
入力バッファ部90は、CPU70に入力されるデータ、たとえば入力部84からの設定データ、通信インタフェース回路88からの外部データ、冷却部44または計測回路74,76,80からの測定値データ等を取り込んで一時的に保持する。
【0400】
演算部94はCPU70に求められる一切の演算処理を実行する。制御信号生成部92は、CPU70から外部に対する一切の制御信号を発生する。データ管理部96は、CPU70およびメモリ72内のデータの保存、移動の一切を管理する。
【0410】
測定値記憶部98はCPU70に入力された測定値データを保持し、設定値記憶部100はCPU70に入力された設定値データあるいはCPU70内で演算により求められる設定値データを保持する。
【0420】
画像フォーマット記憶部102には、ディスプレイ22で表示される種々の画面の中で表示内容が固定されている定型部分の画像を表す画像データが蓄積されている。表示出力部104は、画像フォーマット記憶部102より与えられる定型画像にデータ管理部96からの設定値等の変数の画像を重ね合わせて合成画面を組み立て、この合成画面の画像データを表示部86に出力する。
【0430】
図5に、本実施例においてディスプレイ22で表示される主要な画面とそれら画面相互の切り換わりの関係を示す。
【0440】
本実施例では、ユーザに各種設定項目について所望の設定値を入力させるための『スケジュール画面』▲1▼、装置内の主要なステータス情報を表示する『ステータス画面』▲2▼、および直前に発射されたパルスレーザ光LBについてのレーザ出力測定値を表示する『パワーモニタ画面』▲3▼の3つが主要な画面であり、その中でも『パワーモニタ』画面▲3▼が特に重要な画面である。これら3つのモードの画面▲1▼,▲2▼,▲3▼は、メニュー・キー32の操作により図5に示すように相互間で切換可能である。
【0450】
図6に『スケジュール画面』の表示内容例を示す。図7に、『スケジュール画面』のモードにおけるCPU70のメインの処理手順を示す。
【0460】
なお、図6では、図解の容易化のため、画面中で設定入力可能な項目を点線で囲んでいる。実際の画面では、これらの点線は表示されない。また、中抜き文字または太字で表示される数値は、各種測定値であり、キー入力で設定したり変更できるものではない。後述する図8、図9および図10でも同様の図解がなされている。
【0470】
スケジュールモードでは、先ず、前回のスケジュールモードの終了直前に表示されていた『スケジュール画面』をディスプレイ22に表示する(ステップB1 )。この表示された『スケジュール画面』において、ユーザは、操作パネル14上のキー・ボタン群24〜38からのキー入力により、所望の設定値入力や装置への動作指示を行うことができる(ステップB2 )。
【0480】
すなわち、カーソルを各項目のデータ入力位置に移動させ(ステップB6 )、(+)キー26または(−)キー28を操作して所望の数値に合わせ(ステップB3 ,B4 )、書き込みキー30を押せばよい。
【0490】
書き込みキー30のキー入力に応動して、CPU70は、カーソルで指示されている当該データ入力位置の入力表示データの種類に応じたキー入力実行処理を実行する(ステップB5 )。
【0500】
図示の例では、波形制御用の基準波形を設定入力するために、レーザ出力基準値「PEAK」および波形要素「↑SLOPE」、「FLASH1」、「FLASH2」、「FLASH3」、「↓SLOPE」の各項目に所望の数値データを設定入力するようになっている。
【0510】
これらの項目のうち、レーザ出力基準値「PEAK」には、任意のレーザ出力値をkW単位で設定入力できる。もっとも、普通は、当該スケジュールNo.で発射させるべきパルスレーザ光LBに与えたいレーザ出力の最大値付近で比率計算の基準に適した値(たとえば10,20,50,100,1000等)が選ばれてよい。
【0520】
立ち上げ区間「↑SLOPE」および立ち下げ区間「↓SLOPE」については時間↑t,↓tのみが設定入力される。フラッシュ区間「FLASH1」、「FLASH2」、「FLASH3」については、各区間の時間t1 ,t2 ,t3 とともに、区間毎のレーザ出力値がレーザ出力基準値「PEAK」に対する比率の値p1 ,p2 ,p3 として設定入力される。
【0530】
基準波形設定用の各項目には数値が入力される。ユーザは、カーソルを各項目のデータ入力位置に移動させ、(+)キー26または(−)キー28を操作して所望の数値に合わせ、書き込みキー30を押せばよい。それらのキー操作に応動して、CPU70は、数値入力表示処理(ステップB3 ,B4 )および設定処理(ステップB5 )を実行し、入力した各設定値のデータを設定値記憶部100内の所定の記憶番地に格納する。
【0540】
図6に示す設定例では、レーザ出力基準値「PEAK」を10.0(kW)に設定し、フラッシュ区間「FLASH1」、「FLASH2」、「FLASH3」のレーザ出力比率p1 ,p2 ,p3 をそれぞれ100.0(%)、25.0(%)、50.0(%)に設定している。kW換算値では、フラッシュ区間「FLASH1」、「FLASH2」、「FLASH3」のレーザ出力値(kw)をそれぞれ10.0(kW)、2.5(kW)、5.0(kW)に設定したことになる。
【0550】
CPU70は、上記のような波形要素項目の数値設定処理の中で、波形制御用の基準波形および表示用の基準波形グラフを作成する。そして、生成した基準波形グラフのデータを設定値記憶部100の所定の記憶領域に蓄積する。さらに、基準波形グラフの各部のレーザ出力比率(r)にレーザ出力基準値「PEAK」を乗算(換算)して、波形制御用の本来の基準波形を求め、この基準波形データも設定値記憶部100の所定の記憶領域に蓄積する。
【0560】
『スケジュール』画面では、上記のような基準波形の設定入力だけでなく、パルスレーザ光LBの繰り返し周波数「REPEAT」およびショット数「SHOT」の設定入力も上記と同様のユーザ操作(キー入力操作)および装置動作(設定処理)によって行われる。なお、ショット数とは、1回の起動信号に対して発射される一連のパルスレーザ光LBの総数である。
【0570】
図8に、『ステータス画面』の表示内容例を示す。『ステータス画面』では、マルチポジション加工用の複数個たとえば6個の分岐パルスレーザ光(BEAM-1〜BEAM-6)に対するシャッタのON/OFF状態、レーザ出力波形制御で現在選択されているフィードバック・パラメータ(レーザ出力(LASER POWER)/ランプ電力(LAMP POWER)/ランプ電流(LAMP CURRENT))その他の主要なステータス情報が表示される。
【0580】
図9および図10に『パワーモニタ画面』の表示内容例を示す。図11にパワーモニタモードにおけるCPU70のメインの処理手順を示し、図12にパワーモニタモードにおける『警報メッセージ画面』を示す。
【0590】
『パワーモニタ』画面では、直前に発射されたパルスレーザ光LBのエネルギー(J)、平均出力(W)の測定値等が表示される。
【0600】
普通は、一回のスタート・ボタン34の押し下げ操作に応動して、予めスケジュールモードで設定された個数「SHOT」に達するまでパルスレーザ光LBが一定のサイクル「REPEAT」で繰り返し発射される。
【0610】
スケジュールモードでスタート・ボタン34が押されると(ステップB7 )、あるいは外部装置(図示せず)よりIF88を介して起動信号が入力されると、CPU70はパルスレーザ光LBの発射を開始する。外部装置からの起動信号はレーザ発射の開始を指示すると同時に、スケジュールNo.を指定する。
【0620】
CPU70においては、先ずデータ管理部96が、今回選択されたスケジュールNo.に係る各種条件または項目の設定値およびステータス情報の各種設定値を設定値記憶部100内の所定の記憶位置から読み出して、各部の所定のレジスタ、カウンタ等にセットする。
【0630】
そして、『ステータス画面』で指定されたフィードバック制御方式にしたがって、入力バッファ部90、制御信号生成部92、演算部94等により所定の高周波数でレーザ出力波形制御用のスイッチング制御信号SWを生成し、駆動回路66を介してトランジスタ64をスイッチング制御する。
【0640】
このような波形制御と並行して、表示部86のディスプレイ上には『パワーモニタ画面』が表示され、CPU70では演算部94、データ管理部96および測定値記憶部98等により図11に示すような手順でモニタリングが実行される。
【0650】
このモニタリングにおいて、CPU70は、レーザ発振部40よりパルスレーザ光LBが発振出力されている間は、レーザ出力測定部74からのレーザ出力測定値SL 、電圧測定回路76からのランプ電圧測定値SV および電流測定回路80からのランプ電流測定値SI を取り込み(ステップJ1 )、レーザ出力測定値SL の時間積分値を基にパルス1個分のエネルギーを求める(ステップJ2 )。
【0660】
そして、一定時間Ta たとえば1秒置きに(ステップJ3 )、上記パルス1個分のエネルギーの累積値を基にエネルギー平均値「ENERGY」およびレーザ出力平均値「AVERAGE」を演算で求め、これらのモニタ値を『パワーモニタ画面』の左半分の領域内で表示する(ステップJ4 )。さらに、上記パルス1個分のランプ電力(SV ・SI )の累積値を基にランプ電力平均値QM および電力投入率KM を演算で求める(ステップJ5 )。
【0670】
ここで、電力投入率KM は、励起ランプ52について予めメモリ72に設定(登録)されているランプ投入電力限界値QL に対するランプ電力平均値QM の比率QM /QL で定義される。なお、本レーザ加工装置の型式毎に励起ランプ52の種類が決まっており、そのランプ投入電力限界値QL も特定されている。
【0680】
本実施例の『パワーモニタ画面』では、画面最上段の行の波形選択項目「MW」で「ON」もしくは「OFF」のいずれの表示モードが指示されているのかを判別する(ステップJ6 )。
【0690】
「OFF」の表示モードが指示されているときは、図10に示すように、画面の右半分の領域にエネルギー平均値の上限および下限監視値「HIGH」、「LOW」と一緒にランプ電力投入率「LAMP INPUT PWR」の項目を表示し、この「LAMP INPUT PWR」の測定値として上記ランプ電力投入率KM を%値で表示する(ステップJ7 )。
【0700】
さらに、この「OFF」モードでは、ランプ電力投入率KM についてユーザの希望する任意の上限値KS を「REFERENCE SET」項目に設定表示する。ランプ電力投入率上限値KS の設定表示は、スケジュールモードにおけるステップB2 〜B6 と同様の手順で実行してよい。通常、ランプ電力投入率上限値Ks は、ランプ投入電力限界値QL に相当する最大値(100%)よりも幾らか低い値たとえば95%に選ばれてよい。
【0710】
上記の表示に加えて、ランプ電力投入率KM と上限値Ks との大小関係を判定する(ステップJ9 )。新しい励起ランプ52に交換してしばらくの間は、フィードバック機能、特にレーザ出力フィードバック機能において、所望のレーザ出力を得るために励起ランプ52に投入される電力はレーザ出力設定値に近い値を維持し、ランプ投入電力限界値QL よりかなり小さいのが普通であり、したがってKM <Ks である。
【0720】
この判定結果(KM <Ks )が得られたときは、ランプ投入電力が安全範囲内にあると判断し、パルスレーザ光LBの発射回数Nが設定数「SHOT」に達するまで上記の処理(J1 〜J9 )を繰り返す(ステップJ10,J11)。
【0730】
しかし、励起ランプ52の交換後にレーザ発振の回数を重ねるとランプの劣化やYAGロッド54あるいは共振器ミラー56,58の汚れ等によりレーザ発振効率が次第に低下する。そして、レーザ出力フィードバック機能の下では、そのようなレーザ発振部40内の経時劣化が増大するにつれて、レーザ光LBのレーザ出力を設定値に維持するためにレーザ電源部より励起ランプに投入(供給)される電力が次第に増大する。
【0740】
したがって、レーザ発振部40内の経時劣化が増大するにつれてランプ電力投入率KM は次第に上昇する。そして、遂にはKM が最大値(100%)の手前で上限値Ks に達し、あるいはKs を越える。
【0750】
この条件(KM ≧Ks )が成立したならば、CPU70は直ちにレーザ発振を止める(ステップJ9 ,J12)。したがって、この時点でレーザ加工も停止することになる。
【0760】
次いで、表示部86のディスプレイ上で『パワーモニタ画面』を図12に示すような『警報メッセージ画面』に切り換える(ステップJ13)。この『警報メッセージ画面』では、ユーザに停止の原因つまりランプ投入電力が限界値に近づいたことを知らせるとともに、励起ランプ52の点検または交換を促す。
【0770】
『パワーモニタ画面』で、波形選択項目「MW」に「ON」が設定入力されたときは、図9に示すように、画面の右半分の領域にパルスレーザ光LBのレーザ出力波形(測定値)を表す波形図を表示する(ステップJ8 )。この波形図は、レーザ出力測定部74からのレーザ出力測定値SL を基にCPU70において演算部94により所要のデータ処理を行って得られるものであり、測定値記憶部98に蓄積されている。
【0780】
この「ON」表示モードでは、ランプ電力投入率KM および上限値KS のいずれも表示されない。しかし、両者(KM ,Ks )の大小関係の判定は行われる(ステップJ9 )。したがって、KM ≧Ks の判定結果が得られた時は、上記「OFF」表示モードの場合と同様に直ちにレーザ発振が停止し(ステップJ12)、図12の『警報メッセージ画面』が表示される(ステップJ16)。
【0790】
上記のように、本実施例では、パルスレーザ光LBが発振出力されるとき、使用中の励起ランプ52におけるランプ投入電力の限界値QL に対する現時のレーザ出力平均値QM の比率(ランプ電力投入比率)KM が一定期間Ta 毎に求められる。
【0800】
ユーザは、レーザ発振部40内の経時劣化が増大するにつれてランプ電力投入比率KM が次第に上昇する様子を『パワーモニタ画面』の「OFF」表示モードで目視確認(認識)することができる。特に、レーザ出力フィードバック機能においてランプ電力投入比率KM が顕著に上昇する様子を認識することができる。
【0810】
したがって、ランプ電力投入比率KM が自己の設定した上限値Ks に到達する前の程よい頃合で、レーザ加工の合間にでも、励起ランプ52の交換を行うことができる。これにより、励起ランプ52の破壊を防止し、予期しない突然のレーザ発振の停止およびレーザ加工の停止を回避することができる。なお、ランプ交換の際には、YAGロッド54の端面や光共振器ミラー56,58等のクリーニングも併せて行われる。
【0820】
また、レーザ発振部40内の経時劣化に伴ってランプ電力投入比率KM が次第に上昇するのをそのまま放置または看過していても、ランプ電力投入比率KM がランプ投入電力限界値QL に相当する最大値(100%)に達する手前の上限値Ks に達した時点で、装置が自動的にレーザ発振を停止し、停止の原因を知らせる警告メッセージを表示するようにしたので、励起ランプ52の破壊を招くことなく、ユーザにランプ交換を促すことができる。
【0830】
上記した実施例では、一定期間Ta 毎のランプ投入電力平均値QM をランプ電力投入比率KM を求めるためのランプ投入電力測定値としたが、ランプ投入電力の移動平均値をランプ投入電力測定値としてもよく、あるいはランプ投入電力の実効値や全レーザ発振期間の平均値等を用いてもよい。
【0840】
上記した実施例では、レーザ加工条件をスケジュール単位で管理しており、『スケジュール画面』または『パワーモニタ画面』でスケジュール項目「SCH.#」に設定入力するスケジュール番号を変えると、レーザ加工条件とりわけレーザ出力設定値が変わり、『パワーモニタ画面』で表示されるランプ電力投入比率KM 「LAMP INPUT PWR」の値が切り替わることがある。
【0850】
つまり、レーザ出力設定値が高くなると、励起ランプ52に投入される電力もそれに比例して増えるため、ランプ電力投入比率KM は上昇する。逆に、レーザ出力設定値が低くなると、励起ランプ52に投入される電力もそれに比例して減少して、ランプ電力投入比率KM は下がる。
【0860】
いずれにしても、同一のレーザ出力設定値の下では、レーザ発振部40の経時劣化の増大につれてランプ電力投入比率KM は単調増加する。したがって、ユーザは、KM の値が増加する様子を監視することで、励起ランプ52ないしレーザ発振部40の部品交換修理またはクリーニング作業等を適切な時機に、かつレーザ加工の合間の都合の良い時に行うことができる。
【0870】
上記実施例では、ランプ電力投入比率KM を%数値でディジタル表示したが、アナログ表示も可能であり、あるいは図形型式で表示することも可能である。ランプ電力投入比率上限値Ks についても同様である。また、図12の『警告メッセージ画面』の表示内容は一例で、種々の変形が可能であり、メッセージに代えて所定の警報ランプを点灯する構成としてもよい。
【0880】
上記実施例における『スケジュール画面』の表示内容も一例であり、表示内容だけでなくレーザ出力波形の設定方法についても種々の変形が可能である。
【0890】
設定値入力手段としてマウスやタブレット等を使用可能である。レーザ発振部における励起光源は励起ランプに限定されるものではなく、たとえば半導体レーザであってもよい。
【0900】
上記したマルチポジション加工システムは一例であり、レーザ発振部からのレーザ光を分岐せずにそのまま光ファイバに入射してもよい。上記実施例ではパルスレーザ加工装置に係るものであったが、本発明は連続発振のレーザ加工装置や波形制御機能を持たないレーザ加工装置等にも適用可能である。
【0910】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明のレーザ加工装置によれば、レーザ発振部内の励起用光源について投入電力の限界値に対する投入電力測定値の比率(電力投入率)を求めて表示出力することにより、ユーザに励起用光源の劣化の進行状況を適確に知らせて、励起用光源の交換時機を適確に予測ないし告知し、励起用光源等の保守管理およびレーザ加工の生産管理を改善することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例によるレーザ加工装置の外観を示す斜視図である。
【図2】実施例におけるレーザ加工装置の操作パネル部の外観を拡大して示す部分拡大平面図である。
【図3】実施例におけるレーザ加工装置の構成を示すブロック図である。
【図4】実施例におけるレーザ加工装置のCPUおよびメモリによって構築される機能手段の構成を示すブロック図である。
【図5】実施例の装置で表示される主な画面とそれら相互の切り替わりの関係を示す図である。
【図6】実施例における『スケジュール画面』の表示例を示す図である。
【図7】実施例のスケジュールモードにおけるCPUのメインの処理手順を示す図である。
【図8】実施例における『ステータス画面』の表示例を示す図である。
【図9】実施例における『パワーモニタ画面』の「ON」表示モードの表示例を示す図である。
【図10】実施例における『パワーモニタ画面』の「OFF」表示モードの表示例を示す図である。
【図11】実施例のパワーモニタモードにおけるCPUのメインの処理手順を示す図である。
【図12】実施例における『警報メッセージ画面』の表示例を示す図である。
【符号の説明】
14 操作パネル
22 液晶表示ディスプレイ
40 レーザ発振部
42 レーザ電源部
46 制御部
48 入出力インタフェース部
74 レーザ出力測定部
76 電圧測定回路
80 電流測定回路
82 電流センサ
92 制御信号生成部
94 演算部
96 データ管理部
98 測定値記憶部
100 設定値記憶部
102 画像フォーマット記憶部
104 表示出力部

Claims (5)

  1. 励起用光源より発せられる光エネルギーで固体レーザ媒体を励起してレーザ光を発振出力するレーザ発振部と、
    前記励起用光源にスイッチング素子を介して電力を供給するレーザ電源部と、
    前記レーザ光の出力を測定するレーザ出力測定手段と、
    前記レーザ出力測定手段より得られるレーザ出力測定値を所望のレーザ出力設定値と比較し、比較誤差を零にするように前記スイッチング素子を所定の高周波数でスイッチング制御する制御手段と、
    前記励起用光源に供給される電力を測定する投入電力測定手段と、
    前記励起用光源について投入電力の限界値を設定する投入電力限界値設定手段と、
    前記投入電力測定手段より投入電力測定値を受け取り、前記投入電力限界値に対する前記投入電力測定値の比率を電力投入率として求める電力投入率演算手段と、
    前記電力投入率演算手段で求められた前記電力投入率を表示出力する電力投入率表示手段と
    を具備するレーザ加工装置。
  2. 励起用光源より発せられる光エネルギーで固体レーザ媒体を励起してパルスレーザ光を発振出力するパルスレーザ発振部と、
    前記励起用光源にスイッチング素子を介して電力を供給するパルスレーザ電源部と、
    前記パルスレーザ光の出力について所望の基準波形を設定する基準波形設定手段と、
    前記パルスレーザ光の出力を測定するレーザ出力測定手段と、
    前記レーザ出力測定手段より得られるレーザ出力測定値を前記基準波形と比較し、比較誤差を零にするように前記スイッチング素子を所定の高周波数でスイッチング制御する制御手段と、
    前記励起用光源に供給される電力を測定する投入電力測定手段と、
    前記励起用光源について投入電力の限界値を設定する投入電力限界値設定手段と、
    前記投入電力測定手段より投入電力測定値を受け取り、前記投入電力限界値に対する前記投入電力測定値の比率を電力投入率として求める電力投入率演算手段と、
    前記電力投入率演算手段で求められた前記電力投入率を表示出力する電力投入率表示手段と
    を具備するレーザ加工装置。
  3. 前記レーザ出力測定手段より得られるレーザ出力測定値に基づいてパルス1個分のレーザエネルギーを求めるレーザエネルギー演算手段と、
    前記レーザエネルギー演算手段で求められた前記レーザエネルギーを前記電力投入率と一緒に表示出力するレーザエネルギー表示手段と
    を具備する請求項2に記載のレーザ加工装置。
  4. 前記レーザ出力測定手段より得られるレーザ出力測定値の平均値を前記電力投入率と一緒に表示出力するレーザ出力測定値表示手段を具備する請求項1〜3のいずれか一項に記載のレーザ加工装置。
  5. 前記レーザ出力測定手段より得られるレーザ出力測定値に基づいて前記パルスレーザ光のレーザ出力波形を表示出力するレーザ出力波形表示手段を具備する請求項1〜4のいずれか一項に記載のレーザ加工装置。
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