JP2000135579A - レーザ加工装置 - Google Patents
レーザ加工装置Info
- Publication number
- JP2000135579A JP2000135579A JP10324491A JP32449198A JP2000135579A JP 2000135579 A JP2000135579 A JP 2000135579A JP 10324491 A JP10324491 A JP 10324491A JP 32449198 A JP32449198 A JP 32449198A JP 2000135579 A JP2000135579 A JP 2000135579A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- laser
- power
- laser output
- lamp
- value
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/10—Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
- H01S3/102—Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating by controlling the active medium, e.g. by controlling the processes or apparatus for excitation
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Lasers (AREA)
- Laser Beam Processing (AREA)
Abstract
知する機能を有し、保守および生産管理を向上させる。 【解決手段】 パワーモニタモードでは、レーザ発振出
力中に、レーザ出力測定値、ランプ電圧測定値およびラ
ンプ電流測定値を取り込み(ステップJ1 )、レーザ出
力測定値の時間積分値を基にパルス1個分のエネルギー
を求める(ステップJ2 )。そして、一定時間Ta 毎に
パルス1個分のエネルギーの累積値を基にエネルギー平
均値およびレーザ出力平均値を求めて表示するととも
に、パルス1個分のランプ電力(SV ・SI )の累積値
を基にランプ電力平均値QM およびランプ電力投入率K
M を演算で求める(ステップJ5 )。「OFF」表示モ
ードでは、このランプ電力投入率KM を表示する。レー
ザ出力フィードバック制御の下では、レーザ発振部内の
経時劣化が増大するにつれて、ランプ電力投入率KM が
次第に上昇する。
Description
に光源を用いるレーザ加工装置に関する。
ーザ発振部は、固体レーザ媒体たとえばYAGロッド
と、励起用光源たとえば励起ランプと、固体レーザ媒体
の光軸上に配置された一対の光共振器ミラーとで構成さ
れる。
プが点灯すると、その光エネルギーでYAGロッドが励
起され、YAGロッドの両端面より光軸上に出た光が光
共振器ミラーの間で反射を繰り返して増幅されたのちレ
ーザ光として出力ミラーを抜け出る。出力ミラーより抜
け出たレーザ光は、所定の伝送光学系を介して加工場所
の出射ユニットへ送られ、出射ユニットより被加工物に
向けて照射されるようになっている。
振動作の回数を重ねるにつれて励起ランプの劣化やYA
Gロッドあるいは光共振器ミラーの汚れ等によりレーザ
発振効率が低下してくる。
してレーザ光のレーザ出力を設定値に維持するために
は、レーザ電源部にレーザ出力フィードバック機能を設
けるのが通例である。かかるフィードバック機能におい
ては、光センサ等を用いてレーザ光のレーザ出力(光強
度)を測定し、レーザ出力測定値をレーザ出力設定値に
一致させるように、励起ランプに供給する電力、電流ま
たは電圧を制御する。
力フィードバック機能により、レーザ発振部の経時劣化
が補償され、レーザ光のレーザ出力は設定値に維持され
る。
れて、レーザ発振部より発振出力されるレーザ光のレー
ザ出力とレーザ電源部より励起ランプに投入(供給)さ
れる電力とのギャップ(誤差)は拡大する。すなわち、
レーザ発振部の経時劣化を補償する分の電力が次第に増
大する。
きくなるにつれてランプ投入電力が増大するのである
が、励起ランプにも投入電力に限界値があり、この限界
値を越えると励起ランプが壊れ(通常はランプのガラス
管が割れ)、レーザ発振が停止する。
が行われる。このランプ交換では、旧励起ランプの割れ
たガラス管の破片をきれいに取り除かなければならず、
作業に大変手間がかかっていた。しかも、励起ランプの
破壊によってレーザ加工が予期せず突然に中断してしま
うため、生産性の低下を来していた。
されたもので、励起用光源の交換時機を適確に予測ない
し告知する機能を有し、保守および生産管理を向上させ
るレーザ加工装置を提供することを目的とする。
めに、本発明の第1のレーザ加工装置は、励起用光源よ
り発せられる光エネルギーで固体レーザ媒体を励起して
レーザ光を発振出力するレーザ発振部と、前記励起用光
源に電力を供給するレーザ電源部と、前記励起用光源に
供給される電力を測定する投入電力測定手段と、前記励
起用光源について投入電力の限界値を設定する投入電力
限界値設定手段と、前記投入電力測定手段より投入電力
測定値を受け取り、前記投入電力限界値に対する前記投
入電力測定値の比率を求める電力投入率演算手段と、前
記電力投入率演算手段で求められた前記比率を表示出力
する電力投入率表示手段とを具備する構成とした。
1のレーザ加工装置において、前記比率について所望の
上限値を設定するための電力投入率上限値設定手段と、
前記電力投入率演算手段で求められた前記比率が前記上
限値以上になった時に所定の警告信号を出力する警告信
号出力手段とを具備する構成とした。
2のレーザ加工装置において、前記警告信号に応じて所
定の警告情報を表示出力する警告表示手段を具備する構
成とした。
2のレーザ加工装置において、前記警告信号に応じてレ
ーザ発振を停止させるレーザ発振停止手段を具備する構
成とした。
1ないし第4のいずれかのレーザ加工装置において、前
記レーザ光について所望のレーザ出力を設定するレーザ
出力設定手段と、前記レーザ光のレーザ出力を測定する
レーザ出力測定手段と、前記レーザ出力測定手段より得
られるレーザ出力測定値を前記レーザ出力設定手段より
与えられるレーザ出力設定値と比較して比較誤差を求め
るレーザ出力比較手段と、前記レーザ出力測定値が前記
レーザ出力設定値に一致するように前記比較誤差に応じ
て前記励起用光源に供給される電力、電流または電圧を
制御するレーザ出力制御手段とを具備する構成とした。
実施例を説明する。
るレーザ加工装置の外観の構成を示す。図1は装置全体
の斜視図、図2は装置操作パネルの部分拡大平面図であ
る。
部ユニット10と下部ユニット12を一体結合してな
る。上部ユニット10の内部には、レーザ発振部、制御
部、マルチポジション加工用のレーザ分岐部等が収納さ
れている。上部ユニット10の前面には、各種設定値、
測定値等を設定入力/表示出力するためのディスプレイ
および各種キースイッチ類を含む操作パネル14や電源
供給状態、高電圧供給状態、充電完了状態等を点灯表示
するためのLED群15等が設けられている。上部ユニ
ット10の上面には、マルチポジション加工用の複数本
の光ファイバ(図示せず)をそれぞれ通すための孔(開
口)16や光ファイバ取付作業用の開閉蓋18等が設け
られている。
力部、外部接続端子、ブレーカ、および冷却部のタン
ク、ポンプ、熱交換器、イオン交換樹脂、フィルタ、外
部配管接続端子等が収容されている。下部ユニット12
の前面パネル20は扉になっている。
フラットパネル型ディスプレイたとえば液晶表示ディス
プレイ22が配置され、その下に種々の機能キー24〜
38が配置されている。この実施例では、カーソル・キ
ー24(24a〜24d)、(+)キー26、(−)キ
ー28、書き込みキー30、メニュー・キー32、スタ
ート・ボタン34、リセット・ボタン36および非常停
止ボタン38が設けられている。
は、画面上でカーソルを上下左右方向に移動させるため
のキーであり、各キー24a〜24dを押すとそのキー
の示す矢印方向にカーソルが移動するようになってい
る。
ータ入力キーであり、後述するように、数値項目に対す
る数値(十進数)の入力、「ON/OFF」項目に対す
る「ON」または「OFF」の選択、「FIX/FRE
E」項目に対する「FIX」または「FREE」の選択
等で用いられる。
データを確定された設定データとして取り込むためのキ
ーである。メニュー・キー32は、装置の画面モードを
選択するためのキーである。
かけてパルスレーザ光を出射(発射)させるためのキー
である。リセット・ボタン36は、トラブル発生時にデ
ィスプレイ22に表示される『トラブル画面』(図示せ
ず)を解除するために使われる。ストップ・ボタン38
は非常時に操作されるボタンであり、このボタンが押さ
れると、高電圧が切られ、冷却部も停止するようになっ
ている。
ブロック図である。本実施例のレーザ加工装置は、レー
ザ発振部40、レーザ電源部42、レーザ冷却部44、
制御部46および入出力インタフェース部48から構成
されている。
置された励起用光源たとえば励起ランプ52およびレー
ザ媒体たとえばYAGロッド54と、チャンバ50の外
でYAGロッド54の光軸上に配置された一対の光共振
器ミラー56,58とを有している。
ルギーでYAGロッド54が励起され、YAGロッド5
4の両端面より光軸上に出た光が光共振器ミラー56,
58の間で反射を繰り返して増幅されたのちパルスレー
ザ光LBとして出力ミラー56を抜け出る。出力ミラー
56より抜け出たパルスレーザ光LBは、レーザ分岐部
(図示せず)へ送られ、そこで複数の分岐パルスレーザ
光に分割される。そして各々の分岐パルスレーザ光が各
光ファイバ(図示せず)を介して加工場所の各出射ユニ
ット(図示せず)へ送られ、各出射ユニットより被加工
物に向けて照射されるようになっている。
供給すべきレーザ発振用の電力を蓄積するコンデンサ6
0と、商用交流たとえば三相交流電源電圧(U,V,
W)を直流に変換してコンデンサ60を所定の直流電圧
に充電するための充電回路62と、コンデンサ60とレ
ーザ発振部40の励起ランプ52との間に接続されたス
イッチング素子たとえばトランジスタ64と、このトラ
ンジスタ64を高周波数(たとえば10kHz)でスイ
ッチング駆動する駆動回路66とを含んでいる。
励起ランプ52およびYAGロッド54より発生される
熱をレーザ発振部40の外へ放熱するためのもので、レ
ーザ発振部40に所定温度に温調された冷却媒体たとえ
ば冷却水cwを供給するように構成されている。
を制御するためのCPU(マイクロプロセッサ)70
と、このCPU70に所定の処理を行わせるための各種
プログラムおよび各種設定値または演算データを保持す
るためのメモリ72と、パルスレーザ光LBのレーザ出
力またはこれに対応するレーザ電源部42内の電気的パ
ラメータを計測するための各種計測手段74〜82等を
含んでいる。
74は、光共振器ミラー58の後方に漏れるレーザ光L
B’を受光するフォトセンサと、このフォトセンサより
出力される電気信号に基づいてパルスレーザ光LBのレ
ーザ出力を求める測定回路とを有しており、求めたレー
ザ出力測定値SL をCPU70に与える。
介して励起ランプ52の両端子に電気的に接続されてお
り、電源部42より励起ランプ52に印加される電圧
(ランプ電圧)をたとえば実効値で測定し、求めたラン
プ電圧測定値SV をCPU70に与える。また、電流測
定回路80は、電源部42のランプ電流供給回路に取付
されている電流センサたとえばホールCT82より電流
検出信号を受け取って、励起ランプ52に供給される電
流(ランプ電流)Iを実効値で測定し、求めたランプ電
流測定値SI をCPU70に与える。
ンデンサ60を設定電圧に充電させるための充電制御信
号CFを充電回路62に与えるとともに、波形制御用の
スイッチング制御信号SWを駆動回路66に与える。
は、レーザ出力測定部74からのレーザ出力測定値SL
、電圧測定回路76からのランプ電圧測定値SV また
は電流測定回路80からのランプ電流測定値SI 、ある
いはランプ電圧測定値SV およびランプ電流測定値SI
から求めたランプ電力測定値SP (SV ・SI )を予め
設定されている波形制御用の基準波形と比較して比較誤
差を求め、この比較誤差を零にするように、たとえばパ
ルス幅制御信号からなるスイッチング制御信号SWを生
成する。
り、レーザ発振部40より発振出力されるパルスレーザ
光LBのレーザ出力またはこれに対応するレーザ電源部
42内の電気的パラメータ(ランプ電流、ランプ電力、
ランプ電圧)が各波形制御用の基準波形に倣うように制
御される。
84、表示部86および通信インタフェース回路(I/
F)88等を含んでいる。入力部84は操作パネル14
のキー・スイッチ群から構成され、表示部86は装置前
面部のLED群やディスプレイ22で構成されている。
I/F88は、外部の装置またはユニットとのデータ通
信に用いられる。
可能なユニット(プログラムユニット)として構成する
ことも可能である。その場合、このプログラムユニット
はCPU70、メモリ72、入力部84および表示部8
6を具備し、通信ケーブルを介して装置本体側と電気的
に接続されることになる。
びメモリ72によって構築される機能的手段の構成をブ
ロック図として示す。図示のように、入力バッファ部9
0、制御信号生成部92、演算部94、データ管理部9
6、測定値記憶部98、設定値記憶部100、画像フォ
ーマット記憶部102および表示出力部104がCPU
70およびメモリ72によって構成される。
されるデータ、たとえば入力部84からの設定データ、
通信インタフェース回路88からの外部データ、冷却部
44または計測回路74,76,80からの測定値デー
タ等を取り込んで一時的に保持する。
の演算処理を実行する。制御信号生成部92は、CPU
70から外部に対する一切の制御信号を発生する。デー
タ管理部96は、CPU70およびメモリ72内のデー
タの保存、移動の一切を管理する。
た測定値データを保持し、設定値記憶部100はCPU
70に入力された設定値データあるいはCPU70内で
演算により求められる設定値データを保持する。
スプレイ22で表示される種々の画面の中で表示内容が
固定されている定型部分の画像を表す画像データが蓄積
されている。表示出力部104は、画像フォーマット記
憶部102より与えられる定型画像にデータ管理部96
からの設定値等の変数の画像を重ね合わせて合成画面を
組み立て、この合成画面の画像データを表示部86に出
力する。
2で表示される主要な画面とそれら画面相互の切り換わ
りの関係を示す。
いて所望の設定値を入力させるための『スケジュール画
面』、装置内の主要なステータス情報を表示する『ス
テータス画面』、および直前に発射されたパルスレー
ザ光LBについてのレーザ出力測定値を表示する『パワ
ーモニタ画面』の3つが主要な画面であり、その中で
も『パワーモニタ』画面が特に重要な画面である。こ
れら3つのモードの画面,,は、メニュー・キー
32の操作により図5に示すように相互間で切換可能で
ある。
を示す。図7に、『スケジュール画面』のモードにおけ
るCPU70のメインの処理手順を示す。
面中で設定入力可能な項目を点線で囲んでいる。実際の
画面では、これらの点線は表示されない。また、中抜き
文字または太字で表示される数値は、各種測定値であ
り、キー入力で設定したり変更できるものではない。後
述する図8、図9および図10でも同様の図解がなされ
ている。
ケジュールモードの終了直前に表示されていた『スケジ
ュール画面』をディスプレイ22に表示する(ステップ
B1)。この表示された『スケジュール画面』におい
て、ユーザは、操作パネル14上のキー・ボタン群24
〜38からのキー入力により、所望の設定値入力や装置
への動作指示を行うことができる(ステップB2 )。
位置に移動させ(ステップB6 )、(+)キー26また
は(−)キー28を操作して所望の数値に合わせ(ステ
ップB3 ,B4 )、書き込みキー30を押せばよい。
CPU70は、カーソルで指示されている当該データ入
力位置の入力表示データの種類に応じたキー入力実行処
理を実行する(ステップB5 )。
定入力するために、レーザ出力基準値「PEAK」およ
び波形要素「↑SLOPE」、「FLASH1」、「F
LASH2」、「FLASH3」、「↓SLOPE」の
各項目に所望の数値データを設定入力するようになって
いる。
「PEAK」には、任意のレーザ出力値をkW単位で設
定入力できる。もっとも、普通は、当該スケジュールN
o.で発射させるべきパルスレーザ光LBに与えたいレ
ーザ出力の最大値付近で比率計算の基準に適した値(た
とえば10,20,50,100,1000等)が選ば
れてよい。
下げ区間「↓SLOPE」については時間↑t,↓tの
みが設定入力される。フラッシュ区間「FLASH
1」、「FLASH2」、「FLASH3」について
は、各区間の時間t1 ,t2 ,t3とともに、区間毎の
レーザ出力値がレーザ出力基準値「PEAK」に対する
比率の値p1 ,p2 ,p3 として設定入力される。
れる。ユーザは、カーソルを各項目のデータ入力位置に
移動させ、(+)キー26または(−)キー28を操作
して所望の数値に合わせ、書き込みキー30を押せばよ
い。それらのキー操作に応動して、CPU70は、数値
入力表示処理(ステップB3 ,B4 )および設定処理
(ステップB5 )を実行し、入力した各設定値のデータ
を設定値記憶部100内の所定の記憶番地に格納する。
「PEAK」を10.0(kW)に設定し、フラッシュ
区間「FLASH1」、「FLASH2」、「FLAS
H3」のレーザ出力比率p1 ,p2 ,p3 をそれぞれ1
00.0(%)、25.0(%)、50.0(%)に設
定している。kW換算値では、フラッシュ区間「FLA
SH1」、「FLASH2」、「FLASH3」のレー
ザ出力値(kw)をそれぞれ10.0(kW)、2.5
(kW)、5.0(kW)に設定したことになる。
の数値設定処理の中で、波形制御用の基準波形および表
示用の基準波形グラフを作成する。そして、生成した基
準波形グラフのデータを設定値記憶部100の所定の記
憶領域に蓄積する。さらに、基準波形グラフの各部のレ
ーザ出力比率(r)にレーザ出力基準値「PEAK」を
乗算(換算)して、波形制御用の本来の基準波形を求
め、この基準波形データも設定値記憶部100の所定の
記憶領域に蓄積する。
基準波形の設定入力だけでなく、パルスレーザ光LBの
繰り返し周波数「REPEAT」およびショット数「S
HOT」の設定入力も上記と同様のユーザ操作(キー入
力操作)および装置動作(設定処理)によって行われ
る。なお、ショット数とは、1回の起動信号に対して発
射される一連のパルスレーザ光LBの総数である。
を示す。『ステータス画面』では、マルチポジション加
工用の複数個たとえば6個の分岐パルスレーザ光(BEAM
-1〜BEAM-6)に対するシャッタのON/OFF状態、レ
ーザ出力波形制御で現在選択されているフィードバック
・パラメータ(レーザ出力(LASER POWER)/ランプ電力
(LAMP POWER)/ランプ電流(LAMP CURRENT))その他の主
要なステータス情報が表示される。
の表示内容例を示す。図11にパワーモニタモードにお
けるCPU70のメインの処理手順を示し、図12にパ
ワーモニタモードにおける『警報メッセージ画面』を示
す。
れたパルスレーザ光LBのエネルギー(J)、平均出力
(W)の測定値等が表示される。
し下げ操作に応動して、予めスケジュールモードで設定
された個数「SHOT」に達するまでパルスレーザ光L
Bが一定のサイクル「REPEAT」で繰り返し発射さ
れる。
4が押されると(ステップB7 )、あるいは外部装置
(図示せず)よりIF88を介して起動信号が入力され
ると、CPU70はパルスレーザ光LBの発射を開始す
る。外部装置からの起動信号はレーザ発射の開始を指示
すると同時に、スケジュールNo.を指定する。
96が、今回選択されたスケジュールNo.に係る各種
条件または項目の設定値およびステータス情報の各種設
定値を設定値記憶部100内の所定の記憶位置から読み
出して、各部の所定のレジスタ、カウンタ等にセットす
る。
フィードバック制御方式にしたがって、入力バッファ部
90、制御信号生成部92、演算部94等により所定の
高周波数でレーザ出力波形制御用のスイッチング制御信
号SWを生成し、駆動回路66を介してトランジスタ6
4をスイッチング制御する。
6のディスプレイ上には『パワーモニタ画面』が表示さ
れ、CPU70では演算部94、データ管理部96およ
び測定値記憶部98等により図11に示すような手順で
モニタリングが実行される。
は、レーザ発振部40よりパルスレーザ光LBが発振出
力されている間は、レーザ出力測定部74からのレーザ
出力測定値SL 、電圧測定回路76からのランプ電圧測
定値SV および電流測定回路80からのランプ電流測定
値SI を取り込み(ステップJ1 )、レーザ出力測定値
SL の時間積分値を基にパルス1個分のエネルギーを求
める(ステップJ2 )。
(ステップJ3 )、上記パルス1個分のエネルギーの累
積値を基にエネルギー平均値「ENERGY」およびレ
ーザ出力平均値「AVERAGE」を演算で求め、これ
らのモニタ値を『パワーモニタ画面』の左半分の領域内
で表示する(ステップJ4 )。さらに、上記パルス1個
分のランプ電力(SV ・SI )の累積値を基にランプ電
力平均値QM および電力投入率KM を演算で求める(ス
テップJ5 )。
2について予めメモリ72に設定(登録)されているラ
ンプ投入電力限界値QL に対するランプ電力平均値QM
の比率QM /QL で定義される。なお、本レーザ加工装
置の型式毎に励起ランプ52の種類が決まっており、そ
のランプ投入電力限界値QL も特定されている。
面最上段の行の波形選択項目「MW」で「ON」もしく
は「OFF」のいずれの表示モードが指示されているの
かを判別する(ステップJ6 )。
ときは、図10に示すように、画面の右半分の領域にエ
ネルギー平均値の上限および下限監視値「HIGH」、
「LOW」と一緒にランプ電力投入率「LAMP IN
PUT PWR」の項目を表示し、この「LAMP I
NPUT PWR」の測定値として上記ランプ電力投入
率KM を%値で表示する(ステップJ7 )。
プ電力投入率KM についてユーザの希望する任意の上限
値KS を「REFERENCE SET」項目に設定表
示する。ランプ電力投入率上限値KS の設定表示は、ス
ケジュールモードにおけるステップB2 〜B6 と同様の
手順で実行してよい。通常、ランプ電力投入率上限値K
s は、ランプ投入電力限界値QL に相当する最大値(1
00%)よりも幾らか低い値たとえば95%に選ばれて
よい。
M と上限値Ks との大小関係を判定する(ステップJ9
)。新しい励起ランプ52に交換してしばらくの間
は、フィードバック機能、特にレーザ出力フィードバッ
ク機能において、所望のレーザ出力を得るために励起ラ
ンプ52に投入される電力はレーザ出力設定値に近い値
を維持し、ランプ投入電力限界値QL よりかなり小さい
のが普通であり、したがってKM <Ks である。
きは、ランプ投入電力が安全範囲内にあると判断し、パ
ルスレーザ光LBの発射回数Nが設定数「SHOT」に
達するまで上記の処理(J1 〜J9 )を繰り返す(ステ
ップJ10,J11)。
発振の回数を重ねるとランプの劣化やYAGロッド54
あるいは共振器ミラー56,58の汚れ等によりレーザ
発振効率が次第に低下する。そして、レーザ出力フィー
ドバック機能の下では、そのようなレーザ発振部40内
の経時劣化が増大するにつれて、レーザ光LBのレーザ
出力を設定値に維持するためにレーザ電源部より励起ラ
ンプに投入(供給)される電力が次第に増大する。
化が増大するにつれてランプ電力投入率KM は次第に上
昇する。そして、遂にはKM が最大値(100%)の手
前で上限値Ks に達し、あるいはKs を越える。
ば、CPU70は直ちにレーザ発振を止める(ステップ
J9 ,J12)。したがって、この時点でレーザ加工も停
止することになる。
『パワーモニタ画面』を図12に示すような『警報メッ
セージ画面』に切り換える(ステップJ13)。この『警
報メッセージ画面』では、ユーザに停止の原因つまりラ
ンプ投入電力が限界値に近づいたことを知らせるととも
に、励起ランプ52の点検または交換を促す。
「MW」に「ON」が設定入力されたときは、図9に示
すように、画面の右半分の領域にパルスレーザ光LBの
レーザ出力波形(測定値)を表す波形図を表示する(ス
テップJ8 )。この波形図は、レーザ出力測定部74か
らのレーザ出力測定値SL を基にCPU70において演
算部94により所要のデータ処理を行って得られるもの
であり、測定値記憶部98に蓄積されている。
投入率KM および上限値KS のいずれも表示されない。
しかし、両者(KM ,Ks )の大小関係の判定は行われ
る(ステップJ9 )。したがって、KM ≧Ks の判定結
果が得られた時は、上記「OFF」表示モードの場合と
同様に直ちにレーザ発振が停止し(ステップJ12)、図
12の『警報メッセージ画面』が表示される(ステップ
J16)。
ザ光LBが発振出力されるとき、使用中の励起ランプ5
2におけるランプ投入電力の限界値QL に対する現時の
レーザ出力平均値QM の比率(ランプ電力投入比率)K
M が一定期間Ta 毎に求められる。
が増大するにつれてランプ電力投入比率KM が次第に上
昇する様子を『パワーモニタ画面』の「OFF」表示モ
ードで目視確認(認識)することができる。特に、レー
ザ出力フィードバック機能においてランプ電力投入比率
KM が顕著に上昇する様子を認識することができる。
己の設定した上限値Ks に到達する前の程よい頃合で、
レーザ加工の合間にでも、励起ランプ52の交換を行う
ことができる。これにより、励起ランプ52の破壊を防
止し、予期しない突然のレーザ発振の停止およびレーザ
加工の停止を回避することができる。なお、ランプ交換
の際には、YAGロッド54の端面や光共振器ミラー5
6,58等のクリーニングも併せて行われる。
ってランプ電力投入比率KM が次第に上昇するのをその
まま放置または看過していても、ランプ電力投入比率K
M がランプ投入電力限界値QL に相当する最大値(10
0%)に達する手前の上限値Ks に達した時点で、装置
が自動的にレーザ発振を停止し、停止の原因を知らせる
警告メッセージを表示するようにしたので、励起ランプ
52の破壊を招くことなく、ユーザにランプ交換を促す
ことができる。
ンプ投入電力平均値QM をランプ電力投入比率KM を求
めるためのランプ投入電力測定値としたが、ランプ投入
電力の移動平均値をランプ投入電力測定値としてもよ
く、あるいはランプ投入電力の実効値や全レーザ発振期
間の平均値等を用いてもよい。
ケジュール単位で管理しており、『スケジュール画面』
または『パワーモニタ画面』でスケジュール項目「SC
H.#」に設定入力するスケジュール番号を変えると、
レーザ加工条件とりわけレーザ出力設定値が変わり、
『パワーモニタ画面』で表示されるランプ電力投入比率
KM 「LAMP INPUT PWR」の値が切り替わ
ることがある。
励起ランプ52に投入される電力もそれに比例して増え
るため、ランプ電力投入比率KM は上昇する。逆に、レ
ーザ出力設定値が低くなると、励起ランプ52に投入さ
れる電力もそれに比例して減少して、ランプ電力投入比
率KM は下がる。
の下では、レーザ発振部40の経時劣化の増大につれて
ランプ電力投入比率KM は単調増加する。したがって、
ユーザは、KM の値が増加する様子を監視することで、
励起ランプ52ないしレーザ発振部40の部品交換修理
またはクリーニング作業等を適切な時機に、かつレーザ
加工の合間の都合の良い時に行うことができる。
を%数値でディジタル表示したが、アナログ表示も可能
であり、あるいは図形型式で表示することも可能であ
る。ランプ電力投入比率上限値Ks についても同様であ
る。また、図12の『警告メッセージ画面』の表示内容
は一例で、種々の変形が可能であり、メッセージに代え
て所定の警報ランプを点灯する構成としてもよい。
の表示内容も一例であり、表示内容だけでなくレーザ出
力波形の設定方法についても種々の変形が可能である。
等を使用可能である。レーザ発振部における励起光源は
励起ランプに限定されるものではなく、たとえば半導体
レーザであってもよい。
一例であり、レーザ発振部からのレーザ光を分岐せずに
そのまま光ファイバに入射してもよい。上記実施例では
パルスレーザ加工装置に係るものであったが、本発明は
連続発振のレーザ加工装置や波形制御機能を持たないレ
ーザ加工装置等にも適用可能である。
工装置によれば、レーザ発振部内の励起用光源について
投入電力の限界値に対する投入電力測定値の比率(電力
投入率)を求め、この求めた比率を表示出力することに
より、励起用光源の交換時機を適確に予測ないし告知
し、励起用光源等の保守管理およびレーザ加工の生産管
理を大きく向上させることができる。
を示す斜視図である。
の外観を拡大して示す部分拡大平面図である。
ロック図である。
メモリによって構築される機能手段の構成を示すブロッ
ク図である。
互の切り替わりの関係を示す図である。
を示す図である。
メインの処理手順を示す図である。
示す図である。
N」表示モードの表示例を示す図である。
FF」表示モードの表示例を示す図である。
のメインの処理手順を示す図である。
示例を示す図である。
Claims (5)
- 【請求項1】 励起用光源より発せられる光エネルギー
で固体レーザ媒体を励起してレーザ光を発振出力するレ
ーザ発振部と、 前記励起用光源に電力を供給するレーザ電源部と、 前記励起用光源に供給される電力を測定する投入電力測
定手段と、 前記励起用光源について投入電力の限界値を設定する投
入電力限界値設定手段と、 前記投入電力測定手段より投入電力測定値を受け取り、
前記投入電力限界値に対する前記投入電力測定値の比率
を求める電力投入率演算手段と、 前記電力投入率演算手段で求められた前記比率を表示出
力する電力投入率表示手段とを具備するレーザ加工装
置。 - 【請求項2】 前記比率について所望の上限値を設定す
るための電力投入率上限値設定手段と、 前記電力投入率演算手段で求められた前記比率が前記上
限値以上になった時に所定の警告信号を出力する警告信
号出力手段とを具備する請求項1に記載のレーザ加工装
置。 - 【請求項3】 前記警告信号に応じて所定の警告情報を
表示出力する警告表示手段を具備する請求項2に記載の
レーザ加工装置。 - 【請求項4】 前記警告信号に応じてレーザ発振を停止
させるレーザ発振停止手段を具備する請求項2に記載の
レーザ加工装置。 - 【請求項5】 前記レーザ光について所望のレーザ出力
を設定するレーザ出力設定手段と、 前記レーザ光のレーザ出力を測定するレーザ出力測定手
段と、 前記レーザ出力測定手段より得られるレーザ出力測定値
を前記レーザ出力設定手段より与えられるレーザ出力設
定値と比較して比較誤差を求めるレーザ出力比較手段
と、 前記レーザ出力測定値が前記レーザ出力設定値に一致す
るように前記比較誤差に応じて前記励起用光源に供給さ
れる電力、電流または電圧を制御するレーザ出力制御手
段とを具備する請求項1〜4のいずれかに記載のレーザ
加工装置。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32449198A JP3837626B2 (ja) | 1998-10-29 | 1998-10-29 | レーザ加工装置 |
US09/422,464 US6355905B1 (en) | 1998-10-29 | 1999-10-21 | Laser processing apparatus |
KR1019990046758A KR100657044B1 (ko) | 1998-10-29 | 1999-10-27 | 레이저 가공장치 |
DE69908737T DE69908737T2 (de) | 1998-10-29 | 1999-10-28 | Laserbearbeitungsvorrichtung |
EP99308534A EP0997224B1 (en) | 1998-10-29 | 1999-10-28 | Laser processing apparatus |
CN99125991A CN1253867A (zh) | 1998-10-29 | 1999-10-29 | 激光加工设备 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32449198A JP3837626B2 (ja) | 1998-10-29 | 1998-10-29 | レーザ加工装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000135579A true JP2000135579A (ja) | 2000-05-16 |
JP3837626B2 JP3837626B2 (ja) | 2006-10-25 |
Family
ID=18166407
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP32449198A Expired - Fee Related JP3837626B2 (ja) | 1998-10-29 | 1998-10-29 | レーザ加工装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6355905B1 (ja) |
EP (1) | EP0997224B1 (ja) |
JP (1) | JP3837626B2 (ja) |
KR (1) | KR100657044B1 (ja) |
CN (1) | CN1253867A (ja) |
DE (1) | DE69908737T2 (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003275881A (ja) * | 2002-01-16 | 2003-09-30 | Ricoh Microelectronics Co Ltd | ビーム加工装置 |
JP2006294839A (ja) * | 2005-04-11 | 2006-10-26 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | トリガコントローラ及びレーザ加工装置 |
JP2007141879A (ja) * | 2005-11-14 | 2007-06-07 | Fanuc Ltd | レーザ発振器及びレーザ発振器の劣化部品判定方法 |
JP2009166115A (ja) * | 2008-01-21 | 2009-07-30 | Nippon Avionics Co Ltd | 半導体レーザ溶着装置 |
WO2014156227A1 (ja) * | 2013-03-25 | 2014-10-02 | 株式会社フジクラ | 光増幅装置における出力光パワー低下の判定方法及び光増幅システム |
JP2015032766A (ja) * | 2013-08-06 | 2015-02-16 | キヤノン株式会社 | 被検体情報取得装置、レーザー装置および医療装置 |
WO2018047574A1 (ja) * | 2016-09-07 | 2018-03-15 | 住友重機械工業株式会社 | レーザ光源およびそれを用いたレーザ加工装置 |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2812227A1 (fr) * | 2000-07-28 | 2002-02-01 | Spie Capag S A | Procede et installation de soudage par laser d'un pipeline |
US7333521B1 (en) * | 2003-12-04 | 2008-02-19 | National Semiconductor Corporation | Method of sensing VCSEL light output power by monitoring electrical characteristics of the VCSEL |
US7630422B1 (en) | 2005-01-14 | 2009-12-08 | National Semiconductor Corporation | Driver for vertical-cavity surface-emitting laser and method |
US20060159140A1 (en) * | 2005-01-17 | 2006-07-20 | Fanuc Ltd | Laser oscillator and method of estimating the lifetime of a pump light source |
JP2007059690A (ja) * | 2005-08-25 | 2007-03-08 | Fanuc Ltd | 高周波放電励起ガスレーザ発振器 |
US20070061245A1 (en) * | 2005-09-14 | 2007-03-15 | Jorey Ramer | Location based presentation of mobile content |
CN101486278B (zh) * | 2008-01-14 | 2012-05-23 | Axt公司 | 激光可调节深度标记系统和方法 |
JP5789527B2 (ja) * | 2012-01-18 | 2015-10-07 | 株式会社アマダホールディングス | レーザ加工装置及びレーザ発振制御方法 |
JP6382901B2 (ja) * | 2016-09-29 | 2018-08-29 | ファナック株式会社 | レーザー加工システム |
JP6363680B2 (ja) * | 2016-11-16 | 2018-07-25 | ファナック株式会社 | レーザ装置 |
JP6957113B2 (ja) * | 2018-01-30 | 2021-11-02 | 住友重機械工業株式会社 | レーザ制御装置 |
KR102013791B1 (ko) * | 2018-05-17 | 2019-08-23 | 허진 | 레이저 조사 장치 |
CN109014196B (zh) * | 2018-08-14 | 2020-11-06 | 厦门五星珑科技有限公司 | 3d金属打印机的维护系统以及方法 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56116452A (en) * | 1980-02-15 | 1981-09-12 | Asahi Optical Co Ltd | Laser output meter for laser knife |
US4564012A (en) * | 1981-09-28 | 1986-01-14 | Hitachi, Ltd. | Laser surgical equipment |
JPS6110292A (ja) * | 1984-06-26 | 1986-01-17 | Toshiba Corp | レ−ザ装置 |
JP2804027B2 (ja) * | 1987-07-13 | 1998-09-24 | ファナック 株式会社 | レーザ出力補正方式 |
JP2536900B2 (ja) * | 1988-04-22 | 1996-09-25 | ファナック株式会社 | Ncレ―ザ装置 |
JPH02241071A (ja) * | 1989-03-15 | 1990-09-25 | Fanuc Ltd | Ncレーザ装置 |
JP2830671B2 (ja) * | 1993-01-07 | 1998-12-02 | 三菱電機株式会社 | レーザ発振器の出力制御装置 |
KR100186272B1 (ko) * | 1994-03-25 | 1999-05-15 | 츠찌야 히로오 | 가스의 적외선 분광 분석방법 및 이것에 사용되는 장치 |
JPH09130605A (ja) * | 1995-10-31 | 1997-05-16 | Fuji Photo Film Co Ltd | 網点画像出力方法およびその装置 |
JPH10263859A (ja) * | 1997-03-19 | 1998-10-06 | Miyachi Technos Corp | レーザモニタ装置及びレーザ装置 |
-
1998
- 1998-10-29 JP JP32449198A patent/JP3837626B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1999
- 1999-10-21 US US09/422,464 patent/US6355905B1/en not_active Expired - Fee Related
- 1999-10-27 KR KR1019990046758A patent/KR100657044B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1999-10-28 EP EP99308534A patent/EP0997224B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1999-10-28 DE DE69908737T patent/DE69908737T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1999-10-29 CN CN99125991A patent/CN1253867A/zh active Pending
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003275881A (ja) * | 2002-01-16 | 2003-09-30 | Ricoh Microelectronics Co Ltd | ビーム加工装置 |
JP2006294839A (ja) * | 2005-04-11 | 2006-10-26 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | トリガコントローラ及びレーザ加工装置 |
JP4647372B2 (ja) * | 2005-04-11 | 2011-03-09 | 住友重機械工業株式会社 | レーザ加工装置 |
JP2007141879A (ja) * | 2005-11-14 | 2007-06-07 | Fanuc Ltd | レーザ発振器及びレーザ発振器の劣化部品判定方法 |
JP4676314B2 (ja) * | 2005-11-14 | 2011-04-27 | ファナック株式会社 | レーザ発振器及びレーザ発振器の劣化部品判定方法 |
JP2009166115A (ja) * | 2008-01-21 | 2009-07-30 | Nippon Avionics Co Ltd | 半導体レーザ溶着装置 |
WO2014156227A1 (ja) * | 2013-03-25 | 2014-10-02 | 株式会社フジクラ | 光増幅装置における出力光パワー低下の判定方法及び光増幅システム |
JP2014187279A (ja) * | 2013-03-25 | 2014-10-02 | Fujikura Ltd | 光増幅装置における出力光パワー低下の判定方法及び光増幅システム |
US9373930B2 (en) | 2013-03-25 | 2016-06-21 | Fujikura Ltd. | Method of determining decrease of optical output power in optical amplifier apparatus and optical amplifier system |
JP2015032766A (ja) * | 2013-08-06 | 2015-02-16 | キヤノン株式会社 | 被検体情報取得装置、レーザー装置および医療装置 |
US9819138B2 (en) | 2013-08-06 | 2017-11-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Object information acquiring apparatus, laser apparatus, and medical apparatus |
WO2018047574A1 (ja) * | 2016-09-07 | 2018-03-15 | 住友重機械工業株式会社 | レーザ光源およびそれを用いたレーザ加工装置 |
JP2018039032A (ja) * | 2016-09-07 | 2018-03-15 | 住友重機械工業株式会社 | レーザ光源およびそれを用いたレーザ加工装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1253867A (zh) | 2000-05-24 |
EP0997224B1 (en) | 2003-06-11 |
DE69908737T2 (de) | 2004-04-29 |
KR100657044B1 (ko) | 2006-12-15 |
KR20000029336A (ko) | 2000-05-25 |
JP3837626B2 (ja) | 2006-10-25 |
EP0997224A1 (en) | 2000-05-03 |
US6355905B1 (en) | 2002-03-12 |
DE69908737D1 (de) | 2003-07-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2000135579A (ja) | レーザ加工装置 | |
EP2136439B1 (en) | Fiber laser processing method and fiber laser processing apparatus | |
JP3315556B2 (ja) | レーザ加工装置 | |
JPH11320147A (ja) | レーザ加工装置 | |
JP5260097B2 (ja) | レーザ加工装置 | |
JP2009248157A (ja) | レーザ加工方法及びレーザ加工装置 | |
JPH10263859A (ja) | レーザモニタ装置及びレーザ装置 | |
EP0797279B1 (en) | Laser apparatus and method of controlling the same | |
EP1577990A2 (en) | Laser unit | |
JP2009066625A (ja) | レーザマーキング装置 | |
JP2009248155A (ja) | レーザ加工方法及びレーザ加工装置 | |
JP2012079966A (ja) | ファイバレーザ加工装置及び励起用レーザダイオード電源装置 | |
JP4742323B2 (ja) | レーザ発振器およびレーザ発振器制御方法 | |
JPH0423373A (ja) | レーザ制御装置 | |
JP2005251855A (ja) | レーザ装置 | |
JP4832730B2 (ja) | 励起用半導体レーザ装置 | |
JPH11243245A (ja) | レーザ加工装置 | |
JP2010240689A (ja) | レーザ加工方法及びレーザ加工装置 | |
JP2013004597A (ja) | レーザ装置、該レーザ装置を備えた露光装置及び検査装置 | |
JP3362721B2 (ja) | レーザ電源供給方法及びレーザ電源装置 | |
JP2005327839A (ja) | 高調波レーザ発生方法及び高調波レーザ装置 | |
KR19990026819A (ko) | 레이저 발진기 구조 | |
JP2002246675A (ja) | レーザ発振装置とその制御方法 | |
JPH03111038A (ja) | レーザ装置 | |
JPH06114579A (ja) | レーザ装置の制御方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20031226 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20040108 |
|
A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20040227 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20060718 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100811 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110811 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120811 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130811 Year of fee payment: 7 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |