JP3768663B2 - バーストモード制御信号を発生する半導体メモリ装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は半導体メモリ装置に係り、特に、バーストモードで動作する半導体メモリ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
一般に同期式メモリデバイスは、アドレッシング(Addressing)する方法によって幾つかの種類に分けられる。その中でバーストモード(Burst Mode)で動作するメモリ回路の場合は、書込(Write)又は読出(Read)動作時に入力される外部アドレスを基準としてメモリ装置内部で連続する幾つかのアドレスを生成し、これらに対して読出又は書込動作を行うように要求される。その際、連続したアドレスを内部的に生成するためにカウンタを使用する。このようにカウンタを使用するバーストモードメモリ装置は、任意の外部制御信号でカウンティング回数を調節して連続するアドレスの数が調節できる。
【0003】
要求されるバーストモード動作を行うための制御信号が、バーストモード制御信号ADV(Burst Address Advance)である。この信号は、外部のCPUによって生成され、メモリ装置で内部的に発生するアドレスを制御する。
【0004】
図1は、従来のバーストモードメモリ装置とCPUのブロック図である。CPU201から出力される書込及び読出制御信号ADSC、チップイネーブル信号CE、読出待ち時間(latency)信号RL、及びバーストモード制御信号ADVは、読出又は書込動作を開始させる制御信号である。図1のように従来のメモリ装置202は、CPU301からバーストモード制御信号ADVの印加を受けている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
上記のようにCPU201から出力されるバーストモード制御信号によってバーストモードの動作制御を行った場合、一定なサイクル回数の長さ、即ち常に決まった長さの制御信号パルスが発生されるだけであり、所望のバーストモード制御信号を生成することが出来ない。本発明は、バーストモード制御信号をメモリ装置の内部で生成でき、バーストモード制御信号のパルス長さが自在に調節できるる半導体メモリ装置を提供するものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】
このために本発明のバーストモードメモリ装置は、外部から提供される書込及び読出制御信号とチップイネーブル信号の第1レベルに応じて駆動信号を出力する第1論理回路と、該駆動信号をクロック信号のエッジに同期してシフトさせる1以上のシフトレジスタと、読出待ち時間制御信号に応じて前記シフトさせた駆動信号のいずれかを組み合わせることでバーストモード制御信号を出力する第2論理回路と、書込及び読出制御信号が第1レベルに遷移し、チップイネーブル信号が第2レベルに遷移する時、シフトレジスタを初期化するためのリセット信号を提供する第3論理回路と、を備える。第2論理回路は、読出待ち時間制御信号に応じて第1論理回路による駆動信号と最終段のシフトレジスタによる駆動信号とを選択するマルチプレクサと、該マルチプレクサの出力信号と該マルチプレクサで選択される駆動信号を除外したシフトレジスタによる駆動信号とを論理組合せてバーストモード制御信号を出力する論理手段で構成し、第3論理回路は、チップイネーブル信号を反転させるインバータと、書込及び読出制御信号とインバータの出力信号を入力としてリセット信号を提供するANDゲートとで構成することができる。
【0007】
【発明の実施の形態】
本発明の実施形態を図面を参照して説明する。
【0008】
外部から1番目のアドレスが与えられた後、常に一定数のアドレスに対してバーストモード動作を行うプロセッサの場合は、メモリチップ、即ちメモリ装置の内部で一番目の外部アドレスの印加を受けた後、一定なサイクルの回数だけ連続したアドレスを発生させるようにチップ内部的にバーストモード制御信号ADVを生成させることができる。
【0009】
図2は、本発明のバーストモードメモリ装置及びCPUのブロック図である。書込み及び読出制御信号ADSC、チップイネーブル信号CE、及び読出待ち時間(latency)信号RL等の制御信号は、従来と同様にCPU301から与えられ、読出又は書込動作を開始させる。
同図においては外部から与えられる制御信号ADVは無く、一番目の外部アドレスの印加を受けた後、一定なサイクルの回数だけ連続したアドレスを発生させるようにチップ内部的にバーストモード制御信号ADVを生成する。このADVは、読出又は書込サイクルの次にどれだけ連続するアドレスに対して読出又は書込動作を続けるかを決定する。
【0010】
図3A及び図3Bは、本発明のバーストモード制御信号を発生させる回路図である。これは、読出又は書込動作を始めた後、3度のサイクルの間連続したアドレスを発生するようにカウンタを制御する制御信号ADVを生成させる回路構成となっている。図4は、図3A及び図3Bの出力タイミングチャートである。
【0011】
図3Aを参照すると、読出又は書込動作が始まる前は、ノードB,Q0,Q1,Q2が全て論理“ロウ”レベルに初期化されている。読出又は書込動作が始まると、ノードBが図4に示すように論理“ハイ”レベルに遷移する。このノードBは、シフトレジスタ102の入力端子に接続され、シフトレジスタ102の出力は、シフトレジスタ103の入力に接続され、シフトレジスタ103の出力は、シフトレジスタ104の入力に接続されることにより、シフトレジスタチェーンを構成する。全てのシフトレジスタ102,103,104は同一クロックCKによって同期し、リセット信号のノードRESETが論理“ハイ”レベルであればリセットされ、ノードQ0,Q1,Q2は論理“ロウ”レベルに初期化される。ノードRESETは、書込及び読出制御信号ADSCが論理“ハイ”レベル、チップイネーブル信号CEが論理“ロー”レベルの時にのみ論理“ハイ”レベルになり、これにより、全てのシフトレジスタ102,103、104をリセットする。
ノードBは、読出又は書込動作が始まると論理“ハイ”レベルになり、この論理“ハイ”レベルがクロックCKによってレジスタ102,103,104に移っていく。
【0012】
図3Bを参照すると、読出待ち時間信号RLが論理“ハイ”レベルの時は、ノードQ2に流入する信号を2×1マルチプレクサ(MUX)107を通じて出力し、その信号とノードQ0,Q1,Q2に流入する信号とをORゲート108で論理組合せてバーストモード制御信号ADVとして出力する。一方、読出待ち時間信号RLが論理“ロウ”レベルの時はノードB,Q0,Q1をORゲート108を通じてバーストモード制御信号ADVとして出力する。
【0013】
書込及び読出制御信号ADSCとチップイネーブル信号CEが同時に論理“ハイ”レベルでANDゲート101に入力された場合、読出又は書込動作を開始する。そして、この際、読み待ち時間制御信号RLが論理“ロウ”レベルか論理“ハイ”レベルかによって、バーストモード制御信号ADVを、読出又は書込動作を始めた後のサイクルから論理“ハイ”レベルにするか、それとも始めた後の1サイクルは、論理“ロウ”レベルに保持し、その次のサイクルからは論理“ハイ”レベルにするかを決定する。
【0014】
バーストモード制御信号ADVは、読出又は書込動作が始まらなければ、常に論理“ロウ”レベルである“0”の状態を保持し、どんな状態にあるかに関係なく、リセット信号RESET、即ち書込及び読出制御信号ADSCが論理“ハイ”レベル、チップイネーブル信号CEが論理“ロウ”レベルになると、やはり、バーストモード制御信号ADVも論理“ロウ”レベルに遷移して初期化状態になる。即ち、バーストモード制御信号ADVは、図3Aに示すように、チップイネーブル信号CEを反転させるインバータ105と、この反転したチップイネーブル信号CEと書込及び読出制御信号ADSCを入力とするANDゲート106から生成される信号によって初期化される。
【0015】
以上に示した実施形態は、読出又は書込動作を始めた後、3度のサイクルの間連続したアドレスを発生するようにカウンタを制御するバーストモード制御信号ADVを生成させるもので、シフトレジスタが3つの回路としたが、必要に応じてシフトレジスタを拡張することができる。つまり、レジスタ104の出力端子に続けてシフトレジスタを接続することにより、4度のサイクル以上の連続したアドレスを内部的に発生させるメモリ装置が実現可能である。シフトレジスタをn個まで拡張した場合、例えば図3BのQ2がQnになり、ORゲートの入力はQ0〜Qn−1までとなる。読出待ち時間信もORゲーティングするノードをマルチプレクサ107を通じて調整することにより容易に変更できる。
【0016】
【発明の効果】
本発明によれば、任意の個数のシフトレジスタ回路をチップ内部に装備することでメモリ装置内部で任意のパルス長さを有するバーストモード制御信号を発生する回路が形成でき、メタルオプション等の技法によりユーザーの必要に応じてバーストモード制御信号を調節できる。即ち、メモリ装置の内部からバーストモード制御信号が提供され、バーストモード制御信号のパルス長さを自在に調節することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来のバーストモードメモリ装置及びCPUのブロック図。
【図2】本発明のバーストモードメモリ装置及びCPUのブロック図。
【図3】分図Aはバーストモード制御信号を発生するための回路図、分図Bはバーストモード制御信号を発生するための回路図。
【図4】図3A及び図3Bの回路の出力タイミングチャート。
【符号の説明】
101,106 ANDゲート
102〜104 シフトレジスタ
105 インバータ
107 2X1マルチプレクサ
108 ORゲート
Claims (12)
- バーストモードで動作する半導体メモリ装置において、外部から提供される書込及び読出制御信号とチップイネーブル信号の第1レベルに応じて駆動信号を出力する第1論理回路と、該駆動信号をクロック信号のエッジに同期してシフトさせる1以上のシフトレジスタと、読出待ち時間制御信号に応じて前記シフトさせた駆動信号のいずれかを組み合わせることでバーストモード制御信号を出力する第2論理回路と、書込及び読出制御信号が第1レベルに遷移し、チップイネーブル信号が第2レベルに遷移する時、シフトレジスタを初期化するためのリセット信号を提供する第3論理回路とを備えることを特徴とする半導体メモリ装置。
- 第3論理回路は、チップイネーブル信号を反転させるインバータと、書込及び読出制御信号とインバータの出力信号を入力としてリセット信号を提供するANDゲートと、から構成される請求項1記載の半導体メモリ装置。
- 第1論理回路は、ANDゲートである請求項1又は2に記載の半導体メモリ装置。
- 第2論理回路は、読出待ち時間制御信号に応じて第1論理回路による駆動信号と最終段のシフトレジスタによる駆動信号とを選択するマルチプレクサと、該マルチプレクサの出力信号と該マルチプレクサで選択される駆動信号を除外したシフトレジスタによる駆動信号とを論理組合せてバーストモード制御信号を出力する論理手段と、から構成される請求項1〜3のいずれかに記載の半導体メモリ装置。
- 論理手段は、ORゲートである請求項4記載の半導体メモリ装置。
- クロック信号の立ち上がりエッジでシフトレジスタが動作する請求項1〜5のいずれかに記載の半導体メモリ装置。
- バーストモードで動作する半導体メモリ装置において、外部から提供される書込及び読出制御信号とチップイネーブル信号の第1レベルへの遷移に応じて駆動信号を出力する第1論理ゲートと、前記駆動信号をクロック信号の立ち上がりエッジに同期してシフトさせる1以上のシフトレジスタと、読出待ち時間制御信号に応じて前記駆動信号と前記シフトレジスタの最終段の出力信号を選択するマルチプレクサと、前記マルチプレクサの出力信号と残りの前記シフトレジスタの出力信号とを論理組合せてバーストモード制御信号を出力する第2論理ゲートと、前記書込及び読出制御信号が第1レベルに遷移し、前記チップイネーブル信号が第2レベルに遷移するとき、前記シフトレジスタを初期化するためのリセット信号を提供する論理回路と、を備えることを特徴とする半導体メモリ装置。
- 第1論理ゲートは、ANDゲートである請求項7記載の半導体メモリ装置。
- 第2論理ゲートは、ORゲートである請求項7記載の半導体メモリ装置。
- 論理回路は、チップイネーブル信号を反転させるインバータと、書込及び読出制御信号と前記インバータの出力信号とを入力として、リセット信号を提供するANDゲートと、から構成される請求項7記載の半導体メモリ装置。
- 半導体メモリ装置内に設けられるバーストモード制御信号発生回路であって、外部から印加されるメモリ制御信号を論理組合せて駆動信号を生成する駆動信号発生部と、縦列接続された多数のレジスタを含み、印加されるクロック信号に応答して前記の駆動信号をラッチ出力することによりシフトさせていくシフトレジスタと、読出待ち時間制御信号に従って前記最初の駆動信号または最終シフト出力の駆動信号のいずれかを選択し、その選択した信号と残りのシフト出力の駆動信号とを論理組合せて、所望のバーストモード制御信号を発生するゲーティング部と、を有することを特徴とするバーストモード制御信号発生回路。
- バーストモード制御信号の活性化期間は、読出待ち時間制御信号の論理レベルに従って調節される請求項11記載のバーストモード制御信号発生回路。
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