JP3758408B2 - セラミック電子部品 - Google Patents

セラミック電子部品 Download PDF

Info

Publication number
JP3758408B2
JP3758408B2 JP07553399A JP7553399A JP3758408B2 JP 3758408 B2 JP3758408 B2 JP 3758408B2 JP 07553399 A JP07553399 A JP 07553399A JP 7553399 A JP7553399 A JP 7553399A JP 3758408 B2 JP3758408 B2 JP 3758408B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electronic component
ceramic electronic
terminal
solder
main body
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP07553399A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2000082636A (ja
Inventor
卓二 中川
義一 高木
暁 中村
優 高橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Murata Manufacturing Co Ltd filed Critical Murata Manufacturing Co Ltd
Priority to JP07553399A priority Critical patent/JP3758408B2/ja
Priority to GB9913839A priority patent/GB2338829B/en
Priority to US09/337,835 priority patent/US6181544B1/en
Priority to DE19928788A priority patent/DE19928788B4/de
Publication of JP2000082636A publication Critical patent/JP2000082636A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3758408B2 publication Critical patent/JP3758408B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/002Details
    • H01G4/228Terminals
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/002Details
    • H01G4/228Terminals
    • H01G4/232Terminals electrically connecting two or more layers of a stacked or rolled capacitor
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/341Surface mounted components
    • H05K3/3421Leaded components
    • H05K3/3426Leaded components characterised by the leads
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
  • Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)
  • Details Of Resistors (AREA)
  • Ceramic Capacitors (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、セラミック電子部品に関するもので、特に、たとえば積層セラミックコンデンサのようにチップ状のセラミック電子部品本体を備えるセラミック電子部品の端子部分の構造に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
たとえば、熱放散性に優れたアルミニウムからなる配線基板上に積層セラミックコンデンサのようなセラミック電子部品を実装すると、アルミニウム基板とセラミック電子部品との熱膨張係数の差が大きいため、温度の上昇および下降を繰り返す温度サイクルにおいて、セラミック電子部品の破壊等を生じやすい、という問題がある。特に、電源市場で求められている高容量のPb系セラミック誘電体を用いた積層セラミックコンデンサの場合には、その抗折強度が比較的低いため、この問題がより生じやすい。
【0003】
上述の問題を解決するため、図5に示すような構造のセラミック電子部品1が提案され、実用に供されている。
【0004】
図5に示したセラミック電子部品1は、たとえば積層セラミックコンデンサを構成する、2つのチップ状のセラミック電子部品本体2を備え、各電子部品本体2の両端部には、端子電極3が形成されている。これら電子部品本体2は、上下に積み重ねられ、接着剤(図示せず。)により互いに接合されている。
【0005】
2つの電子部品本体2の各々の端子電極3に共通に端子部材4が取り付けられている。より詳細には、端子部材4は、金属板をもって構成される。端子部材4は、半田または導電性接着剤のような導電性接合材を用いて、その基部において各端子電極3に接続される。また、端子部材4の基部から張り出す部分が、基部に対して折り曲げられ、それによって、想像線で示す配線基板5への接続端子部6を与えている。この接続端子部6は、下方に位置する電子部品本体2の下方に向く側面7に対向するように位置している。
【0006】
このようなセラミック電子部品1は、各端子部材4の接続端子部6が半田8によって配線基板5に半田付けされることによって実装状態とされる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、端子部材4を取り付けた目的は、これら端子部材4の変形または動きによって、温度変化による配線基板5の膨張・収縮に基づいて生じる応力を吸収し、電子部品本体2が熱衝撃により破壊されることを防止しようとすることにあるにもかかわらず、実装のために付与される半田8は、このような目的に反する挙動を示すことがある。
【0008】
すなわち、半田8は、図5に示したように端子部材4の外側に向く面に付与されるだけでなく、端子部材4における基部から張り出した部分であって内側に向く面上にも付与され、この後者の半田8は電子部品本体2にまで届くことがある。
【0009】
そのため、半田8が、端子電極3と配線基板5とを直接接続し、温度変化による配線基板5の膨張・収縮に基づいて生じる応力を吸収するための端子部材4の変形または動きが阻害される状態となり、電子部品本体2が熱衝撃により破壊されることを防止しようとする端子部材4を設けた目的が適正に達成されないことがある。
【0010】
また、半田付け時の熱が、電子部品本体2に対して熱衝撃を与え、これによって、電子部品本体2が破壊されたり、その時点では破壊に至らなくても、後で及ぼされる温度変化によって破壊をもたらす可能性のある応力を電子部品本体2に与えてしまうことがある。
【0011】
これらの問題は、特に、熱膨張係数の大きいアルミニウム基板を配線基板5として用いた場合や、Pb系セラミック誘電体を用いた積層セラミックコンデンサのように抗折強度の比較的低い電子部品本体2を備える場合において、より深刻である。
【0012】
上述した問題を解決するためには、端子部材4における基部から張り出す部分の長さをより長くして接続端子部6を電子部品本体2の側面7から十分に離すことが有効である。しかしながら、このような解決手段を採用するときには、端子部材4を端子電極3に接続する工程において、端子部材4の基部から張り出す部分の長さをばらつきなく制御する必要があり、端子部材4と電子部品本体2との間での適正な位置合わせを行なうための位置決め機構等が複雑となるなどの問題に遭遇する。
【0013】
そこで、この発明の目的は、上述したような問題を解決し得るセラミック電子部品を提供しようとすることである。
【0014】
【課題を解決するための手段】
この発明の第1の実施態様は、相対向する2つの端面およびこれら2つの端面間を連結する側面を有し、かつ各端面上に端子電極が形成された、チップ状のセラミック電子部品本体と、金属板をもって構成され、かつその基部が各端子電極に接続されるとともに、基部から張り出す部分が、セラミック電子部品本体の側面に対向する方向へ基部に対して折り曲げられて配線基板への接続のための接続端子部を与える、端子部材とを備える、セラミック電子部品に向けられるものであって、上述した技術的課題を解決するため、基部は、配線基板側とは逆側の端部を折り返し部とするように折り曲げられて2重構造とされ、基部の、折り返し部を介して一方側が端子電極に接続され、かつ、基部の、折り返し部を介して他方側に連なるように、接続端子部が形成され、接続端子部には、金属板を加工することによって形成されたものであって、セラミック電子部品本体の側面に向かって突出する凸部が設けられ、端子電極は、セラミック電子部品本体の側面の一部にまで延びる側面延長部を備え、凸部は、この側面延長部に電気的導通状態で接触していることを特徴としている。
この発明の第2の実施態様は、相対向する2つの端面およびこれら2つの端面間を連結する側面を有し、かつ各端面上に端子電極が形成された、チップ状のセラミック電子部品本体と、金属板をもって構成され、かつその基部が各端子電極に接続されるとともに、基部から張り出す部分が、セラミック電子部品本体の側面に対向する方向へ基部に対して折り曲げられて配線基板への接続のための接続端子部を与える、端子部材とを備える、セラミック電子部品に向けられるものであって、上述した技術的課題を解決するため、基部は、配線基板側とは逆側の端部を折り返し部とするように折り曲げられて2重構造とされ、基部の、折り返し部を介して一方側が端子電極に接続され、かつ、基部の、折り返し部を介して他方側に連なるように、接続端子部が形成され、接続端子部には、金属板を加工することによって形成されたものであって、セラミック電子部品本体の側面に向かって突出する凸部が設けられ、端子部材の、折り曲げ状態において外側に向く面には、半田になじむ半田親和面が形成され、かつ、折り曲げ状態において内側に向く面には、半田になじまない半田非親和面が形成されていることを特徴としている。
【0015】
1の実施態様においても、端子部材の、折り曲げ状態において外側に向く面には、半田になじむ半田親和面が形成され、かつ、折り曲げ状態において内側に向く面には、半田になじまない半田非親和面が形成されていてもよい。
この発明において、凸部は、好ましくは、金属板を膨出加工することによって形成される。
【0020】
また、この発明に係るセラミック電子部品は、複数のセラミック電子部品本体を備え、これら複数のセラミック電子部品本体の各々の端子電極に端子部材が共通に取り付けられている構造を有していてもよい。
【0021】
また、この発明において、好ましくは、端子部材の基部には、端子電極側に向かって突出する膨出部が形成される。
【0022】
【発明の実施の形態】
図1は、この発明の一実施形態によるセラミック電子部品11を示す正面図である。
【0023】
図1を参照して、セラミック電子部品11は、たとえば積層セラミックコンデンサを構成する、2つのチップ状のセラミック電子部品本体12を備えている。電子部品本体12は、相対向する2つの端面を有し、各端面上には端子電極13が形成されている。端子電極13は、スパッタリング、蒸着、めっき等の薄膜形成技術により形成されても、導電性ペーストを付与し、焼き付ける厚膜形成技術により形成されても、さらには、厚膜形成技術により形成された厚膜上にめっきを施すことによって形成されてもよい。
【0024】
また、電子部品本体12は、上述の2つの端面間を連結する4つの側面14、15、16および17を有している。2つの電子部品本体12は、互いに同じ姿勢で配向されながら上下に積み重ねられ、たとえば接着剤18によって接合される。このとき、上の電子部品本体12の下方に向く側面16と下の電子部品本体12の上方に向く側面14とが互いに対向する状態となっている。
【0025】
上述した2つの電子部品本体12の各々の端子電極13に共通に端子部材19が取り付けられている。端子部材19は、単独で、図2に側面図で示され、また、図3に平面図で示されている。
【0026】
端子部材19は、金属板をもって構成される。端子部材19は、その基部20において、たとえば半田または導電性接着剤のような導電性接合材21によって、各端子電極13に取り付けられている。導電性接合材21として半田が用いられる場合、端子部材19を取り付けるため、半田浸漬法や半田リフロー法等を採用することができる。
【0027】
端子部材19の、基部20から張り出す部分は、下の電子部品本体12の下方に向く側面16に対向する方向へ基部20に対して折り曲げられて、配線基板(図示せず。)への接続のための接続端子部22を与えている。この接続端子部22には、端子部材19を構成する金属板をたとえばプレス金型等を用いて膨出加工することによって形成された凸部23が設けられている。これら凸部23は、下の電子部品本体12の下方に向く側面16に向かって突出している。
【0028】
凸部23は、たとえば100μm程度の突出高さを有していて、下の電子部品本体12の下方に向く側面16との間で所定の間隔を形成することを確実にし、また、電子部品本体12と端子部材19との位置合わせを容易にする。このような目的を達成する限り、凸部23の数、位置または形状は任意に変更することができ、また、凸部23を形成するための金属板の加工方法は、上述した膨出加工のほか、たとえば切り起こし加工等に置き換えられてもよい。
【0029】
また、図1に示すように、端子電極13は、電子部品本体12の側面14〜17の一部にまで延びる側面延長部13aを有している。この実施形態では、凸部23は、端子電極13の側面延長部13aには接触せず、下の電子部品本体12の側面16に接触している。このように、凸部23が電子部品本体12の側面16に接触するようにされると、端子部材19と電子部品本体12との間での位置合わせを、より容易に、より確実に、かつ、ばらつきなく、行なうことができる。
【0030】
なお、上述のように、凸部23が下の電子部品本体12の下方に向く側面16に接触することは必須ではないが、凸部23が下の電子部品本体12の側面16に接触する場合、凸部23は、たとえば点接触または線接触のように、できるだけ小さい面積で側面16に接触するようにすることが好ましい。
【0031】
この実施形態では、端子部材19の基部20は、配線基板(図示せず。)側とは逆側の端部を折り返し部とするようにU字状に折り曲げられて2重構造とされている。そして、端子部材19の、折り曲げ状態において外側に向く面には、半田になじむ半田親和面24が形成され、かつ、折り曲げ状態において内側に向く面には、半田になじまない半田非親和面25が形成されている。また、基部20の、折り返し部を介して一方側が端子電極13に接続され、かつ、基部20の、折り返し部を介して他方側に連なるように、前述した接続端子部22が形成される。
【0032】
上述のような半田親和面24および半田非親和面25を与えるため、一具体例では、端子部材19のための金属板として、たとえばステンレス鋼のような半田付け性の悪い金属材料からなるものが用いられ、この金属板の表面がそのまま半田非親和面25とされ、半田親和面24を与えるべき面には、たとえば、半田、銀、金、錫等からなる膜がめっき等により形成される。
【0033】
また、これに代えて、端子部材19のための金属板として、たとえば銅合金のような半田付け性の良好な金属材料からなるものが用いられ、半田親和面24は、このような金属板の表面自身によって与えられ、半田非親和面25は、この金属板の表面を半田になじまないように処理することによって与えられるようにしてもよい。金属板の表面を半田になじまないようにするための処理としては、たとえば、樹脂からなる膜またはコーティングを形成したり、金属板の表面を酸化するといった化学的処理を施したりする方法がある。
【0034】
また、この実施形態においては、図2および図3に示すように、端子部材19の基部20において、金属板をたとえば膨出加工することによって膨出部26が形成されている。膨出部26は、端子電極13側に向かって突出する形状を有している。このような膨出部26は、端子部材19の基部20と端子電極13との間に所定の間隔を確実に形成し、前述した導電性接合材21を、均一かつ所定の厚みをもって形成することを容易にする。
【0035】
また、上述した膨出部26は、この実施形態では、図2によく示されているように、端子部材19の折り曲げ線に対して、交差する方向、より特定的には、直交する方向に延びる長手のリブ状をなしている。したがって膨出部26は、端子部材19の強度を高め、不所望な変形が生じることを防止し、それゆえ、端子部材19を比較的薄い金属板をもって構成できるようにする。
【0036】
また、図示しないが、端子部材19の基部20において膨出部26が形成された部分と重なり合う部分においても、同様の膨出部が形成され、この膨出部と図示した膨出部26とが互いに嵌合するようにされてもよい。このような膨出部26の嵌合は、端子部材19の基部20における不所望な変形を防止するのに効果的である。
【0037】
上述した膨出部26は、凸部23と実質的に同じ加工方法によって同一工程で形成することができるので、端子部材19を得るための加工工程数が、膨出部26を形成することによって、増加することはない。
【0038】
このようなセラミック電子部品11は、各端子部材19の接続端子部22が配線基板(図示せず。)に半田付けされることによって、実装状態とされる。
【0039】
上述の半田付けにおいて付与される半田(図示せず。)は、接続端子部22と配線基板とを接続するように回り込み、所望の電気的接続および機械的固定を達成する。このとき、凸部23の存在により、接続端子部22と下の電子部品本体12の下方に向く側面16との間に所定以上の間隔が確実に形成されているので、上述の半田が下の電子部品本体12にまで届くことを確実に防止することができる。
【0040】
したがって、たとえば、接続端子部22と端子電極13との間で半田からなるブリッジ等が生じることを確実に防止でき、応力を吸収するための端子部材19の変形または動きが阻害される状態がもたらされることがなく、端子部材19を設けた目的が適正に達成されるとともに、半田が電子部品本体12に対して熱衝撃を与えることも防止される。
【0041】
また、この実施形態では、前述したように、端子部材19の基部20がU字状に折り曲げられ、この折り曲げ状態において外側に向く面に半田親和面24が形成され、かつ、内側に向く面に半田非親和面25が形成されている。
【0042】
したがって、接続端子部22においては、配線基板側に向く面が半田親和面24となり、凸部23が設けられた面が半田非親和面25となっている。このことも、また、不所望な部分への半田の流動を防止するのに寄与している。すなわち、半田は、半田非親和面25の形成のために、接続端子部22における凸部23が設けられた側には、回り込みにくく、それゆえ、下の電子部品本体12にまで届きにくい。他方、接続端子部22における配線基板に対向する面には半田親和面24が形成されているので、接続端子部22と配線基板との間への半田の迅速な回り込みを可能にする。
【0043】
また、端子部材19の基部20にあっては、折り曲げ状態において内側に向く面が半田非親和面25となっているので、半田は、基部20の内側に向く面の間には回り込みにくく、それゆえ、この部分で半田からなるブリッジ等が生じることがない。したがって、端子部材19における基部20での動きも阻害されず、基部20においても応力を有利に吸収し得る状態に保つことができる。
【0044】
図4は、この発明の他の実施形態によるセラミック電子部品11aを示す正面図である。図4は、前述の図1に相当する図であるが、図4に示したセラミック電子部品11aは、図1に示したセラミック電子部品11と共通する多くの要素を備えているので、図4において、図1に示した要素に相当する要素には同様の参照符号を付し、重複する説明は省略する。
【0045】
図4に示したセラミック電子部品11aにおいては、端子部材19の接続端子部22に形成された凸部23が、下の電子部品本体12の端子電極13の側面延長部13aに向かって突出するように位置されていることを特徴としている。また、本質的な特徴ではないが、端子電極13の側面延長部13aは、図1に示したセラミック電子部品11の場合に比べて、より広い領域にわたって電子部品本体12の側面14〜17上に形成されている。
【0046】
このように、凸部23を端子電極13の側面延長部13aに向かって突出するように位置させることによって、各端子部材19の接続端子部22の長さを短くすることができ、そのため、2つの端子部材19の各々の接続端子部22の間の距離を短くすることができる。その結果、セラミック電子部品11aの耐電圧を向上させることができる。
【0047】
上述のように、凸部23を端子電極13の側面延長部13aに向かって突出するように位置させても、このような凸部23と下の電子部品本体12の端子電極13との間に半田からなるブリッジ等が生じることはない。なぜなら、前述したように、端子部材19の凸部23が設けられた側は、半田親和面24を形成しているからである。したがって、応力を吸収するための端子部材19の変形または動きが阻害される状態がもたらされることがなく、端子部材19を設けた目的が適正に達成されるとともに、半田が電子部品本体12に対して熱衝撃を与えることも防止される。
【0048】
また、この実施形態によれば、端子部材19の接続端子部22と下の電子部品本体12の下方に向く側面16との間に所定以上の間隔を形成しようとするとき、図1に示したセラミック電子部品11の場合に比べて、端子電極13の側面延長部13aの厚み分だけ凸部23の高さを低くすることができる。そのため、凸部23を形成するための加工を含む、端子部材19を製造するためのたとえばプレス加工等が容易になる。
【0049】
また、この実施形態では、図4に示すように、凸部23は下の電子部品本体12の端子電極13の側面延長部13aに当接している。このように、凸部23が端子電極13の側面延長部13aに接触するようにされると、図1に示したセラミック電子部品11の場合と同様、端子部材19と電子部品本体12との間での位置合わせを、より容易に、より確実に、かつ、ばらつきなく、行なうことができるばかりでなく、配線基板上での実装状態において、端子電極13から配線基板上の導電ランドへの導電経路がより短くなり、等価直列抵抗をより低くすることができる。
【0050】
なお、上述のような利点を望まないならば、凸部23は、下の電子部品本体12の端子電極13の側面延長部13aに当接していなくてもよい。
【0051】
以上、この発明を図示した実施形態に関連して説明したが、この発明の範囲内において、その他、種々の変形例が可能である。
【0052】
たとえば、図示のセラミック電子部品11または11aは、2つの電子部品本体12を備えていたが、電子部品本体の数は任意に変更でき、3つ以上であっても、単に1つであってもよい。
【0053】
また、電子部品本体12は、積層セラミックコンデンサを構成するものであったが、他の機能を有するセラミック電子部品のための電子部品本体を構成するものであってもよい。また、図示の電子部品本体12は、相対向する2つの端面上に端子電極13を形成するものであったが、さらに、中間部等の他の部分に端子電極を形成するものでもよい。
【0054】
また、図示の端子部材19は、基部20においてU字状に折り曲げられて2重構造とされたが、単に1重の構造であってもよい。
【0055】
【発明の効果】
以上のように、この発明によれば、金属板をもって構成された端子部材が、その基部において、チップ状のセラミック電子部品本体の各端面上に形成された各端子電極に接続されるとともに、この端子部材の基部から張り出す部分が、セラミック電子部品本体の側面に対向する方向へ基部に対して折り曲げられて配線基板への接続のための接続端子部とされ、この接続端子部には、セラミック電子部品本体の側面に向かって突出する凸部が設けられているので、この凸部の存在により、接続端子部とセラミック電子部品本体の側面との間に所定以上の間隔を確実に形成することができる。
【0056】
その結果、セラミック電子部品を配線基板上に実装した状態を得るため、接続端子部に付与される半田が、セラミック電子部品本体にまで届くことを防止できる。したがって、この半田によって接続端子部とセラミック電子部品本体との間でブリッジ等を形成し、それによって、応力を吸収するための端子部材の変形または動きが阻害されたり、セラミック電子部品本体が熱衝撃により破壊されたりすることを有利に防止できる。
【0057】
また、接続端子部に設けられた凸部は、端子部材をセラミック電子部品本体に位置合わせすることを容易にし、そのため、これらの間での位置合わせのための位置決め機構等を簡単な構成とすることができる。
【0058】
また、接続端子部に設けられた凸部は、端子部材を構成する金属板を加工することによって形成されるものであるので、たとえばプレス金型等を用いて容易に形成することができる。
【0059】
この発明において、凸部が、金属板を膨出加工することによって形成されるようにすると、凸部を簡単な加工方法によって形成できるようになる。
【0060】
また、この発明において、上述の凸部がセラミック電子部品本体の側面に接触するようにされると、端子部材とセラミック電子部品本体との間での位置合わせを、より容易に、より確実に、かつ、ばらつきなく、行なうことができる。
【0061】
また、この発明において、端子部材の、折り曲げ状態において外側に向く面に、半田になじむ半田親和面が形成され、かつ、内側に向く面に、半田になじまない半田非親和面が形成されると、接続端子部における凸部を設けた面を半田非親和面とすることができるので、この半田非親和面の作用によっても、半田が接続端子部とセラミック電子部品本体との間に回り込むことを防止できる。また、それにもかかわらず、接続端子部における配線基板側に向く面は半田親和面となるので、接続端子部と配線基板との間に半田を迅速に回り込ませることができ、これらの間での所望の電気的接続および機械的固定を良好に達成することができる。また、端子部材が折り曲げられて2重構造とされた場合には、端子部材の基部においては、半田非親和面が折り曲げ状態において内側に向く面に形成されているので、これら内側に向く面の間に半田が入り込むことがなく、したがって、応力吸収のための端子部材の動きまたは変形がこのような半田によって阻害されることも防止できる。
【0062】
また、上述のように、端子部材の、折り曲げ状態において外側に向く面に半田親和面が形成され、かつ、折り曲げ状態において内側に向く面に半田非親和面が形成される、といった構成が採用されるときには、凸部を、端子電極の側面延長部に向かって突出するように位置させても、凸部と端子電極との間に半田が回り込むことが防止され、端子部材の本来の機能が阻害されることがなく、また、半田が電子部品本体に対して熱衝撃を与えることも防止される。また、各端子部材の接続端子部の長さを短くすることができ、そのため、2つの端子部材の各々の接続端子部の間の距離を短くすることができ、その結果、セラミック電子部品の耐電圧を向上させることができる。さらに、端子部材の接続端子部と電子部品本体の下方に向く側面との間に所定以上の間隔を形成するために必要とする凸部の高さを、端子電極の側面延長部の厚み分だけ低くすることができ、そのため、端子部材を製造するための加工を容易にすることができる。
【0063】
また、上述のように、凸部が、端子電極の側面延長部に向かって突出するように位置しているとき、凸部をこの側面延長部に当接させるようにすると、凸部が電子部品本体の側面に当接している場合と同様、端子部材と電子部品本体との間での位置合わせを、より容易に、より確実に、かつ、ばらつきなく、行なうことができるばかりでなく、配線基板上での実装状態において、端子電極から配線基板上の導電ランドへの導電経路がより短くなり、等価直列抵抗をより低くすることができる。
【0064】
また、この発明に係るセラミック電子部品が複数のセラミック電子部品本体を備え、これら複数の電子部品本体の各々の端子電極に端子部材が共通に取り付けられていると、端子部材によって、これら電子部品本体相互を電気的に接続し、かつ機械的に固定する機能をも果たさせることができる。
【0065】
また、この発明において、端子部材の基部に、端子電極側に向かって突出する膨出部が設けられていると、端子部材を端子電極に取り付けるための導電性接合材は、この膨出部の突出により規定される間隔に付与されることになるので、導電性接合材を均一かつ所定の厚みをもって容易に形成できるようになる。また、この膨出部は、凸部と実質的に同じ加工方法によって同一工程で容易に形成することができるので、端子部材を得るための加工工程数が、膨出部を形成することによって、増加することはない。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施形態によるセラミック電子部品11の外観を示す正面図である。
【図2】図1に示した端子部材19を示す側面図である。
【図3】図1に示した端子部材19を示す平面図である。
【図4】この発明の他の実施形態によるセラミック電子部品11aの外観を示す正面図である。
【図5】この発明にとって興味ある従来のセラミック電子部品1の外観を示す斜視図であり、想像線で配線基板5への実装状態を併せて示している。
【符号の説明】
11,11a セラミック電子部品
12 セラミック電子部品本体
13 端子電極
13a 側面延長部
14〜17 側面
19 端子部材
20 基部
21 導電性接合材
22 接続端子部
23 凸部
24 半田親和面
25 半田非親和面
26 膨出部

Claims (6)

  1. 相対向する2つの端面および前記2つの端面間を連結する側面を有し、かつ各前記端面上に端子電極が形成された、チップ状のセラミック電子部品本体と、
    金属板をもって構成され、かつその基部が各前記端子電極に接続されるとともに、前記基部から張り出す部分が、前記セラミック電子部品本体の前記側面に対向する方向へ前記基部に対して折り曲げられて配線基板への接続のための接続端子部を与える、端子部材とを備え、
    前記基部は、前記配線基板側とは逆側の端部を折り返し部とするように折り曲げられて2重構造とされ、前記基部の、前記折り返し部を介して一方側が前記端子電極に接続され、かつ、前記基部の、前記折り返し部を介して他方側に連なるように、前記接続端子部が形成され、
    前記接続端子部には、前記金属板を加工することによって形成されたものであって、前記セラミック電子部品本体の前記側面に向かって突出する凸部が設けられ、
    前記端子電極は、前記セラミック電子部品本体の前記側面の一部にまで延びる側面延長部を備え、前記凸部は、前記側面延長部に電気的導通状態で接触している、
    セラミック電子部品。
  2. 前記端子部材の、折り曲げ状態において外側に向く面には、半田になじむ半田親和面が形成され、かつ、折り曲げ状態において内側に向く面には、半田になじまない半田非親和面が形成されている、請求項1に記載のセラミック電子部品。
  3. 相対向する2つの端面および前記2つの端面間を連結する側面を有し、かつ各前記端面上に端子電極が形成された、チップ状のセラミック電子部品本体と、
    金属板をもって構成され、かつその基部が各前記端子電極に接続されるとともに、前記基部から張り出す部分が、前記セラミック電子部品本体の前記側面に対向する方向へ前記基部に対して折り曲げられて配線基板への接続のための接続端子部を与える、端子部材とを備え、
    前記基部は、前記配線基板側とは逆側の端部を折り返し部とするように折り曲げられて2重構造とされ、前記基部の、前記折り返し部を介して一方側が前記端子電極に接続され、かつ、前記基部の、前記折り返し部を介して他方側に連なるように、前記接続端子部が形成され、
    前記接続端子部には、前記金属板を加工することによって形成されたものであって、前記セラミック電子部品本体の前記側面に向かって突出する凸部が設けられ、
    前記端子部材の、折り曲げ状態において外側に向く面には、半田になじむ半田親和面が形成され、かつ、折り曲げ状態において内側に向く面には、半田になじまない半田非親和面が形成されている、
    セラミック電子部品
  4. 前記凸部は、前記金属板を膨出加工することによって形成されたものである、請求項1ないしのいずれかに記載のセラミック電子部品。
  5. 複数の前記セラミック電子部品本体を備え、前記複数のセラミック電子部品本体の各々の前記端子電極に前記端子部材が共通に取り付けられている、請求項1ないしのいずれかに記載のセラミック電子部品。
  6. 前記端子部材の前記基部には、前記端子電極側に向かって突出する膨出部が形成される、請求項1ないしのいずれかに記載のセラミック電子部品。
JP07553399A 1998-06-24 1999-03-19 セラミック電子部品 Expired - Lifetime JP3758408B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP07553399A JP3758408B2 (ja) 1998-06-24 1999-03-19 セラミック電子部品
GB9913839A GB2338829B (en) 1998-06-24 1999-06-14 Ceramic electronic component
US09/337,835 US6181544B1 (en) 1998-06-24 1999-06-22 Ceramic electronic component
DE19928788A DE19928788B4 (de) 1998-06-24 1999-06-23 Elektronisches Keramikbauelement

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10-177772 1998-06-24
JP17777298 1998-06-24
JP07553399A JP3758408B2 (ja) 1998-06-24 1999-03-19 セラミック電子部品

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000082636A JP2000082636A (ja) 2000-03-21
JP3758408B2 true JP3758408B2 (ja) 2006-03-22

Family

ID=26416661

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP07553399A Expired - Lifetime JP3758408B2 (ja) 1998-06-24 1999-03-19 セラミック電子部品

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6181544B1 (ja)
JP (1) JP3758408B2 (ja)
DE (1) DE19928788B4 (ja)
GB (1) GB2338829B (ja)

Families Citing this family (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB9814317D0 (en) * 1997-07-23 1998-09-02 Murata Manufacturing Co Ceramic electronic part and method for producing the same
DE69936008T2 (de) * 1998-01-07 2008-01-10 Tdk Corp. Keramischer Kondensator
JP2000235932A (ja) * 1999-02-16 2000-08-29 Murata Mfg Co Ltd セラミック電子部品
JP3376971B2 (ja) * 1999-09-09 2003-02-17 株式会社村田製作所 セラミック電子部品
JP2001189233A (ja) * 1999-12-28 2001-07-10 Murata Mfg Co Ltd 積層コンデンサ
US7576968B2 (en) * 2002-04-15 2009-08-18 Avx Corporation Plated terminations and method of forming using electrolytic plating
US7463474B2 (en) * 2002-04-15 2008-12-09 Avx Corporation System and method of plating ball grid array and isolation features for electronic components
US7152291B2 (en) 2002-04-15 2006-12-26 Avx Corporation Method for forming plated terminations
US6958899B2 (en) * 2003-03-20 2005-10-25 Tdk Corporation Electronic device
JP2006295076A (ja) * 2005-04-14 2006-10-26 Rohm Co Ltd セラミック製チップ型電子部品とその製造方法
JP4665966B2 (ja) * 2005-05-23 2011-04-06 株式会社村田製作所 セラミック電子部品およびその製造方法
CN102456958A (zh) * 2010-10-23 2012-05-16 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 电连接器及其制造方法
US9142932B2 (en) 2010-04-20 2015-09-22 Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. Socket connector with contact terminal having oxidation-retarding preparation adjacent to solder portion perfecting solder joint
US8902565B2 (en) * 2010-05-26 2014-12-02 Kemet Electronics Corporation Electronic component termination and assembly by means of transient liquid phase sintering and polymer solder pastes
US10381162B2 (en) 2010-05-26 2019-08-13 Kemet Electronics Corporation Leadless stack comprising multiple components
US10366836B2 (en) 2010-05-26 2019-07-30 Kemet Electronics Corporation Electronic component structures with reduced microphonic noise
US9472342B2 (en) 2010-05-26 2016-10-18 Kemet Electronics Corporation Leadless multi-layered ceramic capacitor stacks
US9881744B2 (en) 2010-05-26 2018-01-30 Kemet Electronics Corporation Electronic component termination and assembly by means of transient liquid phase sintering metalurgical bonds
US8787003B2 (en) 2011-10-12 2014-07-22 Infineon Technologies Ag Low inductance capacitor module and power system with low inductance capacitor module
JP5664597B2 (ja) * 2012-06-12 2015-02-04 株式会社村田製作所 実装構造及び実装方法
US8873219B2 (en) * 2012-06-26 2014-10-28 Kemet Electronics Corporation Method for stacking electronic components
JP5700721B2 (ja) * 2012-08-30 2015-04-15 太陽誘電株式会社 端子板付き電子部品
EP2923366B1 (en) * 2012-11-26 2017-09-20 Kemet Electronics Corporation Leadless multi-layered ceramic capacitor stacks
JP2015008270A (ja) * 2013-05-27 2015-01-15 株式会社村田製作所 セラミック電子部品
KR101508539B1 (ko) * 2013-07-09 2015-04-07 삼성전기주식회사 적층 세라믹 커패시터 및 그 실장 기판
KR101434107B1 (ko) * 2013-07-17 2014-08-25 삼성전기주식회사 기판 내장용 적층 세라믹 커패시터, 그 제조 방법 및 임베디드 기판의 제조 방법
JP2016535445A (ja) 2013-10-29 2016-11-10 ケメット エレクトロニクス コーポレーション 改良されたリード設計を有するセラミックコンデンサー
KR102048094B1 (ko) * 2014-10-08 2019-11-22 삼성전기주식회사 전자 부품 및 이의 제조 방법
JP6443104B2 (ja) * 2015-02-13 2018-12-26 株式会社村田製作所 コイル部品
JP6776582B2 (ja) * 2016-03-31 2020-10-28 Tdk株式会社 電子部品
JP7025687B2 (ja) 2017-09-11 2022-02-25 Tdk株式会社 電子部品の製造方法および電子部品
JP2019062042A (ja) * 2017-09-26 2019-04-18 太陽誘電株式会社 金属端子付き電子部品および電子部品実装回路基板
KR102150550B1 (ko) 2018-10-10 2020-09-01 삼성전기주식회사 적층 세라믹 전자부품 집합체

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4247883A (en) * 1978-07-31 1981-01-27 Sprague Electric Company Encapsulated capacitor
US4578736A (en) * 1984-08-28 1986-03-25 At&T Technologies, Inc. Surface mounted electrical components and method of fabrication
ATE51462T1 (de) * 1985-12-17 1990-04-15 Siemens Bauelemente Ohg Elektrisches bauelement in chip-bauweise.
US4740863A (en) * 1987-05-15 1988-04-26 Sfe Technologies Current-limiting thin film termination for capacitors
JPH01144611A (ja) 1987-11-30 1989-06-06 Murata Mfg Co Ltd キャップ付きセラミック電子部品
JPH01144612A (ja) 1987-11-30 1989-06-06 Murata Mfg Co Ltd キャップ付きセラミック電子部品
JPH05283280A (ja) * 1992-02-25 1993-10-29 Nec Kansai Ltd チップ型積層セラミックコンデンサ
JPH0817679A (ja) * 1994-06-30 1996-01-19 Kyocera Corp 複合セラミックコンデンサ
KR19990081968A (ko) * 1996-01-22 1999-11-15 데이비드 제이.크루에거 피티씨소자를 포함하는 표면실장형 전기장치
JPH09298127A (ja) * 1996-05-09 1997-11-18 Murata Mfg Co Ltd 積層コンデンサ
JP2956619B2 (ja) * 1996-11-06 1999-10-04 日本電気株式会社 Iii−v族化合物半導体結晶の成長方法
JP3458625B2 (ja) * 1996-11-13 2003-10-20 ソニー株式会社 半導体の成長方法
JPH113837A (ja) * 1997-06-12 1999-01-06 Hyogo Nippon Denki Kk 積層セラミックコンデンサー結合体
GB9814317D0 (en) * 1997-07-23 1998-09-02 Murata Manufacturing Co Ceramic electronic part and method for producing the same
US5963416A (en) * 1997-10-07 1999-10-05 Taiyo Yuden Co., Ltd. Electronic device with outer electrodes and a circuit module having the electronic device

Also Published As

Publication number Publication date
US6181544B1 (en) 2001-01-30
GB2338829A (en) 1999-12-29
JP2000082636A (ja) 2000-03-21
GB2338829B (en) 2001-07-18
GB9913839D0 (en) 1999-08-11
DE19928788A1 (de) 1999-12-30
DE19928788B4 (de) 2006-07-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3758408B2 (ja) セラミック電子部品
US6438827B1 (en) Ceramic electronic part and method for producing the same
JP3536722B2 (ja) チップ形固体電解コンデンサおよびその製造方法
US6518632B1 (en) Ceramic electronic part
US4578737A (en) Synthetic resin film wound capacitor
US6201683B1 (en) Ceramic electronic part and mounting structure for the same
JPH11251176A (ja) セラミック電子部品
JP4431756B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置
JP3358499B2 (ja) セラミック電子部品
JP3624740B2 (ja) セラミック電子部品
JP3770022B2 (ja) 電子部品
JP3255106B2 (ja) セラミック電子部品
JP3606215B2 (ja) 電子部品への端子板部材の取付方法
JP4329187B2 (ja) 半導体素子
JP2000223358A (ja) 面実装型セラミック電子部品
JP2000021675A (ja) リードフレームおよびそれを用いた電子部品の製造方法
JPH0528752Y2 (ja)
JPH0236265Y2 (ja)
JP2782640B2 (ja) 半導体装置の内部接続構造
JPH0711462Y2 (ja) 電子部品用端子板
JP3777608B2 (ja) 電子部品のリード端子構造
JPH0519291B2 (ja)
JPH0353481Y2 (ja)
JP3084757B2 (ja) 気密端子およびその製造方法
JPH11233372A (ja) セラミック電子部品

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20051116

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20051226

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090113

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100113

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110113

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110113

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120113

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120113

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130113

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130113

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140113

Year of fee payment: 8

EXPY Cancellation because of completion of term