JP3636736B2 - 電圧記憶回路 - Google Patents

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Description

【0001】
【産業上の利用分野】
本発明は、例えば、印加されるアナログ値をそのデジタル相当値に変換する前に記憶するためにアナログ・デジタル・コンバーターで使用する電圧記憶回路に関する。
【0002】
【従来の技術】
添付図面の図15は、入力スイッチエレメント1と、記憶コンデンサー2と、高インピーダンス単一利得増幅器エレメント3を搭載する従来の電圧記憶回路を示している。もともと、スイッチエレメント1が閉じた位置(以下、クローズ位置)の時に、回路の入力ターミナル間に印加されるアナログ入力電圧Vi は記憶コンデンサー2に印加されるので、記憶コンデンサーのプレート間の電位差は入力電圧Vi に追従する。時間tswitchで予め設定された瞬間に入力スイッチエレメント1は開いた位置(以下、オープン位置)に切り替えられるので、この切替直前のコンデンサーのプレート間の電位差は、入力スイッチエレメント1が再びクローズされる時間まで記憶される。スイッチエレメントがオープン位置にある期間に於いて、記憶される電圧は出力電圧VO として回路の出力ターミナルの間で再生され、増幅器エレメント3は出力ターミナルに接続されている回路に依る記憶コンデンサーのローディングを防止するように機能する。
【0003】
図16は増幅器エレメント3の入力部を更に詳細に示している。この入力部は、増幅器エレメントのプラス電源ラインVddに接続されているドレイン電極と、エレメントのマイナス電源ラインVssに電流ソース32を経由して接続されているソース電極と、記憶コンデンサー2の1つのプレート(図15の上部プレート)に接続されているゲート電極を備えたFET入力トランジスター33を搭載している。FET入力トランジスター33はいわゆるソースフォロア構成で接続されていることがわかる。
【0004】
図16には図示されていないが、FET入力トランジスター33のソース電極と増幅器エレメントの出力の間に、ソース電極電位をバッファして出力電位VO を生成するために、更に別の回路が普通は挿入される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
図16の増幅器エレメント3を使用すると、電流ソース32は電流がFET入力トランジスター33のドレイン─ソースチャンネルに流れるようにするので、そのソース電極電位VS はゲート電極電位すなわち記憶コンデンサー2の上部プレートの記憶されている電位VC に準じることになる。そこで、増幅器エレメント3の入力部は、実際にはソース電極電位VS が記憶コンデンサー2の上部プレートの電位VC より常に少し低いが、実質的に単一の電圧利得をもつことになる。
【0006】
入力部はゲート電流が非常に小さいFET入力トランジスターを採用しているので、増幅器エレメントの入力インピーダンスは非常に高い。従って、図15の電圧記憶回路の入力スイッチ・エレメント1がオープンされた後に、記憶コンデンサーは増幅器エレメント3に依っては十分なレベルに放電されないことになる。
【0007】
しかし、図16の増幅器エレメント3は、記憶コンデンサー2の上側プレートVC の電位が変動する時に、記憶コンデンサー2からその入力部に対する(または逆方向の)電荷流入が発生するという問題を有する。入力スイッチエレメント1がオープンされた後に、上側プレート電位のこの変動は普通は現れないが、本明細書で後で説明されるように、上部プレート電位VC は、入力スイッチエレメント1がオープンする瞬間のtswitchに於いて、入力スイッチ・エレメント1そのものに依るその瞬間時の電荷流入のために、どうしても変動する。入力スイッチエレメント1に依るこの電荷流入は、記憶コンデンサー2に記憶されている電圧に変動を誘導する。この変動は僅かであるが、高精度の場合には重大である。いいかえれば、スイッチエレメントがオープンされる瞬間のこの電荷流入は、或る変動をその上側プレートの電位VC に生じる。
【0008】
増幅器エレメント入力部に於ける電荷流入が、記憶コンデンサー2の上部プレート電位の変動に対応する理由が、ここで説明される。図16に図示されているように、FET入力トランジスター33は、どうしても僅かの寄生静電容量をその電極間にもっているので、ゲートとソース電極間にゲート・ソース寄生静電容量Cgs、ゲートとドレイン電極間にゲート・ドレイン寄生静電容量Cgd、ドレインとソース電極間にドレイン─ソース寄生静電容量Cdsが存在する。これらの3つの電極の電位が互いに相応して変動する時に、常に、電荷が寄生静電容量に流入または流出することになり、これらの電荷の流れの組み合わせが増幅器エレメント入力部に出入する電荷流入を生じることになる。
【0009】
図16の増幅器エレメントの場合、入力トランジスター33は前述のソースフォロア構成で接続されているので、そのゲートソース電位は、記憶コンデンサー2の上部プレート電位VC と関係なしに、実質的に一定になるので、ゲート─ソース寄生静電容量Cgssに起因する電荷流入は一般的に無視することができる。しかし、入力トランジスター33のゲート─ドレイン電位とドレイン─ソース電位は、各々Vdd−Vc とVdd−Vs であり、一定でないので、上部プレート電位Vc に基づいて変動する。そこで、Vc が変動されると、必ず、電荷はゲート─ドレイン寄生静電容量Cgdとドレイン─ソース寄生静電容量Cdsに流入または流出することになり、何れのケースでも電荷は増幅器エレメントの入力部に流入または流出することになる。
【0010】
入力スイッチエレメントがオープンしている時に、流れる電荷は、流れの方向に基づいて、記憶コンデンサー2を充電または放電しなければならない。この充電または放電が、記憶コンデンサー2のプレート間に記憶されている電圧に誤差を生じることになる。
増幅器エレメントの入力部の寄生静電容量の影響は、記憶コンデンサー2の静電容量が寄生静電容量そのものの静電容量に対して大きくない時に特に問題になり、それは、例えば、電圧記憶回路の達成時間を短縮することが必要な場合であると思われる。
【0011】
【課題を解決するための手段及び作用】
本発明の第1の態様によれば、電圧記憶回路は、記憶コンデンサーと増幅器エレメントを有する。記憶コンデンサーは、1つのプレートが入力スイッチ・エレメントを経由して回路の入力ターミナルに接続され、その他のプレートが回路の共通ターミナルに接続されていて、記憶される入力信号は回路が作動中の時に前記の入力と共通ターミナルの間に印加される。増幅器エレメントは、出力ターミナルと共通ターミナルの間で、記憶コンデンサーに記憶されている電圧に基づいて出力信号を与えるために、1つのプレートに接続される入力と回路の出力ターミナルに接続される出力を有している。そして、増幅器エレメントはデバイスの第1と第2の電流路電極のそれぞれの間に設けられている制御可能な電流路を備えていて、且つ電位が上記の電流路の電流の大きさを制御するために印加される制御電極も備えている電気入力デバイスを有していて、上記の制御電極は1つのプレートに接続されていて、なおかつ、第1と第2の電流路電極は第1電流路電極電位と第2電流路電極電位は共に制御電極電位に追従できように電位追従手段に接続されているので、電流は制御可能な電流路を流れるので、第1と第2の電流路電極の各々の電位は1つのプレートの電位に関して実質的に固定されたまま保持される。
【0012】
この設計の増幅器エレメントを使用すると、入力デバイスの制御電極、第1及び第2電流路の電極の電位は、回路が作動中の時に、相互に且つ1つのプレートに関して全て実質的に固定されるので、それらの電極間に存在する寄生静電容量は回路の動作にそれほど影響しない。これは、電荷が増幅器エレメントに流入または流出することを防止するので、結果的に記憶コンデンサーの上記の1つのプレートに接続されている増幅器エレメントの動作による記憶コンデンサーの充電/放電を防止することになる。このようにして、この充電/放電の結果として記憶されていた電圧に生じる誤差は解消される。
【0013】
電位追従手段は、第1電流路電極電位を制御電極電位に追従させるために前記の第1電流路電極に接続されている電流ソースと、第2電流路電極電位を第1電流路電極電位に追従させるために前記の第1と第2の電流路電極の間に機能的に接続されているアクティブフォロア手段を有していることが望ましい。
この構成に於いて、第1電流路電極は1つのプレート電位に自動的に追従させられるので、アクティブフォロア手段は、第1と第2の電流路電極の間で機能的に、すなわち入力デバイスの出力側で排他的に接続されて、第2電流路電極の要求される追従を達成することができる。
【0014】
前記の電気入力デバイスは、好ましくはFET入力トランジスターであり、前記の制御電極がFET入力トランジスターのゲート電極になり、第1電流路電極がFET入力トランジスターのソース電極になり、前記の第2電流路電極がFET入力トランジスターのドレイン電極になり、前記の制御可能な電流路がFET入力トランジスターのドレイン─ソースチャンネルに依って与えられる。
【0015】
このFET入力トランジスターは、入力スイッチエレメントがオープンされた後の記憶コンデンサーの放電を防止するような高入力インピーダンスを有する増幅器エレメントを有し、これによりFET入力トランジスターの不可避的に存在するゲート─ソース間、ゲート─ドレイン間、及びソース─ドレイン間の寄生静電容量が回路動作に影響しなくなる。
【0016】
入力デバイスがFETの時に、前記のアクティブフォロア手段は、そのドレイン─ソースチャンネルがFET入力トランジスターのドレイン─ソースチャンネルに直列に接続されているカスケード接続FETトランジスターを有するようにすることもでき、これによりカスケード接続トランジスターのソース電極電位はそのゲート電極電位に追従できる。なおかつ、前記のアクティブフォロア手段は、FET入力トランジスターのソース電極とカスケード接続トランジスターのゲート電極の間に機能的に接続されているバイアス発生器を、その間に実質的に一定の電位差を維持するために有することもできる。
【0017】
このカスケード接続構成は単純であるが効果的なので、カスケード接続FETトランジスターとFET入力トランジスターの直列接続は、カスケード接続トランジスターのソース電極電位がそのゲート電極に自動的に追従することを保証する。
増幅器エレメントは好都合に第1と第2の実質的に同じ回路部から構成されていて、第1の部分は前記の入力デバイスと前記のアクティブフォロア手段を有していて且つ第2の部分は前記の電流ソースを有している。
【0018】
この回路の対称性は、高い安定性と予測性を増幅器エレメントの動作時に、特に増幅器エレメントの入力と出力電位間の関係に関して提供できて、なおかつ、製造に好都合である。
前記の入力スイッチエレメントは、電気入力スイッチエレメントであることが好ましく、そのスイッチング電極の電位に基づいて動作し、回路は、入力スイッチエレメントがそのオン状態にある時にスイッチング電極電位を入力ターミナルに追従させるために接続されているスイッチ駆動手段を更に有しているのでスイッチング電極電位を入力ターミナル電位に関して実質的に固定された状態に保持し、なおかつ、スイッチング電極電位を入力ターミナル電位に相応して変動させるように動作するので、入力スイッチエレメントはそのオン状態からそのオフ状態に変更される。
【0019】
この回路に於いて、制御電極電位は入力ターミナル電位に関して固定されるので、オフ状態にスイッチングする瞬間に電気スイッチエレメントに流入される電荷量は入力信号のレベルと実質的に無関係になる。従って、この電荷流入に起因する記憶された電圧に於ける誤差は、異なる入力信号電圧に対して、実質的に一定、または少なくとも直線的になるので、適切な対策がこの誤差を補償するために施されることになる。
【0020】
前記のスイッチング電極電位は前記の出力信号から導かれるのが好ましく、この電位は入力信号をローディングまたは影響を与えずに達成されることができる。
前記のスイッチ駆動手段は、好ましくは、前記の出力ターミナルに動作的に接続されていて、なおかつ、そこで受信されるスイッチング信号に基づいて、前記のスイッチング電極に、オン電位を、前記の入力スイッチエレメントをそのオン状態に保持するために、または、オフ電位を、前記の入力スイッチエレメントをそのオフ状態に保持するために加えるように動作し、なおかつ、前記のオンとオフの電位は前記の出力ターミナル電位に関して各々実質的に固定されているが相互に予め設定された値に依って異なっている。
【0021】
この構成に於いて、オンとオフの電位は共に入力信号電位に関して固定されているので、入力スイッチエレメントに依る電荷流入は入力信号電位と関係せずに、実質的に一定になる。
電圧記憶回路も、各々第1と第2のバイアスラインが出力ターミナルの電位に対して各々固定されている電位とするために前記の出力ターミナルに機能的に接続され、第2バイアスラインの電位は前記のオンとオフの電位の1つと等しくて且つ前記の第1と第2のバイアスライン間の電位差は前記の予め設定された値より大きいか等しくなることができる。この場合、前記のスイッチ駆動手段は、その1つのプレートが前記のスイッチング電極電位を与えるために前記のスイッチング電極に接続されているブートストラップコンデンサーを有して、なおかつ、ブートストラップコンデンサーの両方のプレートと前記のバイアスラインに接続されていて且つ、スイッチング電極電位がそのオンとオフ電位の前記の1つからこれらの電位の他のものに変更される時に、ブートストラップコンデンサーの前記の1つのプレートを前記の第2バイアスラインに接続しその他のプレートを前記の第1バイアスラインに接続するように作動する充電構成から、前記の1つのプレートを第2バイアスラインから分離し前記の他のプレートを前記の第2バイアスラインに接続するように作動する浮遊構成に切り替わることができる接続手段も有しているので、前記の1つのプレートの電位を第2バイアスラインの電位からそれと異なる電位に前記の予め設定された値だけ変更させることができる。
【0022】
この構成に於いてオンとオフの電位の1つは、必要に応じて、回路の電源ラインの外側に位置することができる。
いずれにしろ、電圧記憶回路は、前記の出力ターミナルに機能的に接続されている各々第1、第2、第3のバイアスラインを、出力ターミナル電位に関して各々固定されている電位にするために有することができて、第3のバイアスライン電位は前記のオンとオフ電位の1つと等しくなり且つ前記の第1と第2ののバイアス・ライン間の電位差は前記の予め設定された値より大きいか等しくなる。この場合、前記のスイッチ駆動手段は、その1つのプレートが前記のスイッチング電極電位を与えるために前記のスイッチング電極に接続されているブートストラップコンデンサーを具備していて、なおかつ、ブートストラップコンデンサーの両方のプレートと前記のバイアスラインに接続されていて且つ、スイッチング電極電位がそのオンとオフ電位の前記の1つからこれらの電位の他のものに変更される時に、ブートストラップコンデンサーの前記の1つのプレートを前記の第3バイアスラインに接続するが他のプレートを前記の第1バイアスラインに接続するように作動する充電構成から、前記の1つのプレートを第3バイアスラインから分離するが前記の他のプレートを前記の第2バイアスラインに接続するように作動する浮遊構成に切り替わることができる接続手段も具備しているので、前記の1つのプレートの電位を第3バイアスライン電位からそれと異なる電位に前記の予め設定された値だけ変更させることができる。
【0023】
この例の場合、制御電極電位に於ける、スイッチエレメントがそのオンとオフ状態の1つにある時の前記の出力ターミナル電位から、スイッチエレメントがそのオンとオフ状態の別の状態にある時の前記の予め設定された値だけ出力ターミナル電位から異なる電位への要求される変更は、その電位がオンとオフ電位を直接与えるために適してないか又はその電位が出力ターミナル電位から予め設定された値より少なく異なっている状態或いはその両方の状態の内部バイアスラインを用いて達成されることができる。
【0024】
前記の電気入力スイッチエレメントはMOSFETトランジスターであることが好ましく、そのケースで前記のオンとオフ電位の1つは前記の出力ターミナル電位と実質的に同じになる。例えば、MOSFETトランジスターはn−チャンネルエンハンスメント型MOSFETの場合、オフ電位は出力ターミナル電位と実質的に同じなることができる。このMOSFETトランジスターを電気スイッチエレメントとして使用すると、適切なオンとオフ電位の生成は好ましいことに単純になり、特にオンとオフ電位が前記の1つのケースに於いては、出力ターミナル電位を制御電極に直接印加することに依って得られることができる。
【0025】
電圧記憶回路は、単一の基板上に形成されていて、増幅器エレメントの前記の入力スイッチエレメントと前記の入力デバイスは前記の基板を覆う材料の導電性と逆の導電性の1つまたは複数のウェルの内部に置かれていて、そのウェル或いは各ウェル電位を前記の1つのプレートの電位に追従させる手段があることが好ましい。ウェルの電位をこのように制御することに依って、回路の寄生静電容量(スイッチエレメントの静電容量と任意の内部接続部の静電容量を含めて)がブートストラップされることができる。ウェルは、例えば、回路の前記の出力ターミナルに電気的に接続されることができる。これは、ウェルの電位が出力ターミナル電位に追従することを可能にする。
【0026】
前記の記憶コンデンサーも該ウェルに置かれているので、それに付随される寄生静電容量をブートストラップすることができる。
1つまたは複数の導電性シールドがそれ或いは各々のウェルの部分を延長していて、なおかつ、そのシールド電位或いは各シールド電位を前記の1つのプレートの電位に追従させる手段があることが好ましい。これは、残留する寄生静電容量の影響を除去するうえで役に立つ。このケースに於いて、前記の導電性シールドも回路の前記の出力ターミナルに一般的に電気的に接続されているので、シールドの電位は出力ターミナルの電位に追従することができる。
【0027】
電圧記憶回路の増幅器エレメントが前述の2つの実質的に同じ回路部を有している時に、増幅器エレメントの前述の第1の部分は前記の1つまたは複数のウェルの内部に置かれていることが好ましく、なおかつ、増幅器エレメントの前記の第2の部分は1つまたは複数の更なるウェルの内部に形成されていて、導電性の各々が基質の周囲と反対側に位置していて、そのウェル或いは各更なるウェルの電位は回路の電源ラインの電位に関して実質的に固定される。
【0028】
電圧記憶回路は、前記の入力ターミナルと前記の入力スイッチエレメントの入力側の間に配置されていて、入力スイッチエレメントの入力側電位を、エレメントがオフ状態に変更された後に、記憶コンデンサーの前記の1つのプレートの電位に関して実質的に固定された状態に保持する、入力電位保持手段を更に搭載していることが好ましい。
【0029】
これにより、エレメントがオフに切り替えられた後に、入力信号電位が制御電極電位に相応して十分に変わる時に、入力スイッチエレメントが偶発的にオンに切り替えられることを防止することができる。
前記の入力電位保持手段は、前記の入力スイッチエレメントと直列に接続されていて、なおかつ、前記の入力スイッチ・エレメントがオフ状態に変更された後に、そのエレメントの入力側を前記の入力ターミナルから分離するように作動できるスイッチエレメントを更に有することもできる。このように、更なるスイッチエレメントのオープン後の入力信号電位の変動は入力スイッチエレメントの入力側電位に影響しない。
【0030】
前記の入力電位保持手段は、前記の入力スイッチエレメントの入力側と前記の記憶コンデンサーの他のプレートの間に接続されている補助コンデンサー、又は前記の増幅器エレメントと前記の入力スイッチエレメントの入力側の間に接続されていて、記憶コンデンサーの前記の1つのプレートの電位から誘導される電位をそこに印加するように動作でき、そのエレメントの入力側が分離されているフィードバックスイッチエレメントのいずれか又は両方を更に有することができる。
【0031】
前記の増幅器エレメントの利得は好都合なことに実質的に単位値になる。このケースでは、制御電極電位とウェル電位は出力ターミナル電位に好都合なことに「ブートストラップされる」ことができる、何故ならば、増幅器エレメントが実質的に単一の利得をもつ時に、バッファされる出力ターミナル電位は1つのプレートの電位/入力信号の電位と実質的に等しくなるからである。従って、要求される制御電極電位は入力信号に影響せずにバッファされる出力信号から誘導されることができる。
【0032】
前述の該電圧記憶回路(その増幅器エレメントが単位利得をもつ)は、電圧加算回路に有用な状態で搭載することができる。この電圧加算回路は、回路が動作中の時に第1と第2と第3の電位が印加される第1と第2と第3の入力ノードと、電圧記憶回路の出力ターミナルに接続される出力ノードと、前記の入力ノードと前記の電圧記憶回路に接続されているスイッチング手段を有する。このスイッチング手段は、電圧記憶回路の入力スイッチエレメントがオフ状態に変更された後に、入力構成から出力構成に切り替わることができて、前記の入力構成は、前記の第1と第2の入力ノードを電圧記憶回路の各々前記の入力と共通ターミナルに接続するように作動するので、電圧記憶回路の記憶コンデンサーの前記の第1と第2の電位の間の電位差の記憶を可能にし、なおかつ、前記の出力構成は、電圧記憶回路の共通ターミナルを前記の第3の入力ノードに接続するように作動するので、前記の出力ノードに於いて第3の電位および第1と第2の電位の間で記憶されている差の合計と実質的に等しい出力電位を生成することを可能にする。
【0033】
このような電圧加算回路は非常に高精度の電圧加算を行うことができるので、正確性は電圧記憶回路の寄生静電容量の影響が除去されることができる影響性だけに依って基本的に規定される。各電圧記憶回路に於いて、回路の種々の寄生静電容量(スイッチエレメントの静電容量、増幅器エレメント入力の静電容量、任意の内部接続部の静電容量)は前述の技術を用いてブートストラップされ、実質的には寄生静電容量の影響の除去に対する唯一の制約は増幅器エレメントの利得誤差から生じる。この利得誤差は、適切な設計の増幅器エレメントを採用することに依って非常に低いレベルに減少させることができる。
【0034】
第1と第2の電圧記憶回路についてはそれぞれ説明したが、それぞれ単位利得増幅器エレメントを持ち、電圧加算回路に有用な状態で搭載されることができる。電圧加算回路は、回路が作動中の時に、第1のペアの入力電圧は第1と第2の入力ノードに印加され、第2のペアの入力電圧は第3と第4の入力ノードに印加され、第3のペアの入力電圧は第5と第6の入力ノードに印加される第1、第2、第3、第4、第5、第6の入力ノードと、前記の第1と第2の電圧記憶回路の各出力ターミナルに接続されている第1と第2の出力ノードと、前記の入力ノードと前記の電圧記憶回路に接続されているスイッチング手段を有する。このスイッチング手段は、第1と第2の電圧記憶回路の各入力スイッチ・エレメントがオフ状態に変更された後に、入力構成から出力構成に切り替わることができて、前記の入力構成は、前記の第1と第2の入力ノードを前記の第1電圧記憶回路の各々前記の入力と共通ターミナルに接続し、なおかつ、前記の第3と第4の入力ノードを前記の第2電圧記憶回路のそれぞれの前記の入力と共通ターミナルにも接続するように作動するので、第1電圧記憶回路の前記の記憶コンデンサーに於いて、前記の第1のペアの2つの入力電圧間の第1の電位差の記憶を可能にし、なおかつ、第2電圧記憶回路の前記の記憶コンデンサーに於いて、前記の第2のペアの2つの入力電圧間の第2の電位差の記憶を可能にし、なおかつ、前記の出力構成は第1と第2の電圧記憶回路の各々共通ターミナルを第5と第6の入力ノードに各々接続するように作動するので、前記の第1と第2の出力ノードの間で、その間の電位差が前記の第3のペアの2つの入力電圧間の電位差と記憶されている第1と第2の電位差の合計と実質的に等しいペアの出力電圧を生成することを可能にする。
【0035】
2つの電圧記憶回路の逆並列接続に依って、その各々スイッチエレメントに依って流入される電荷の個々の(固定されている)量は、それらがオフ状態に切り替えられる瞬間に於いて、各々の回路として同じになるので、回路の入力と出力の違いを相互に効果的に解消することに注目すべきである。
第1と第2の電圧記憶回路については既に説明したが、それぞれは単位利得増幅器エレメントを持ち、別の好まれる実施事例に於いては、倍電圧回路に搭載されることができる。この倍電圧回路は、2倍にされ入力電圧が回路の作動中に印加される第1と第2の入力ノードと、第1と第2の電圧記憶回路の各々出力ターミナルに各々接続されている第1と第2の出力ノードと、前記の入力ノードと前記の電圧記憶回路に接続されているスイッチング手段とを有する。このスイッチング手段は、第1と第2の電圧記憶回路の各入力スイッチエレメントがオフ状態に変更された後に、入力構成から出力構成に切り替わることができて、前記の入力構成は、前記の第1入力ノードを前記の第1電圧記憶回路の前記の入力ターミナルと前記の第2電圧記憶回路の前記の共通ターミナルの両方に接続し、なおかつ、前記の第2入力ノードを前記の第2電圧記憶回路の前記の入力ターミナルと前記の第1電圧記憶回路の前記の共通ターミナルの両方に接続するように作動するので、前記の電圧記憶回路の各々記憶コンデンサーの各々が前記の入力電圧に充電されることを可能にし、なおかつ、前記の出力構成が第1と第2の電圧記憶回路の各々共通ターミナルを互いに接続するように作動して前記の記憶コンデンサーが前記の第1と第2の出力ノードの間で互いに直列に接続されるので、これらの出力ノードの間で、前記の入力電圧の実質的に2倍になる出力電圧を生成することを可能にする。
【0036】
また、2つの電圧記憶回路の逆並列接続は入力スイッチエレメントに依って流入される電荷を除去するので、2倍にされる電圧は非常に高精度になる。回路は、更に改善された速度/パワー/ノイズのつりあいを備えていて、同じ従来の提案より、おそらく10倍も優れていると思われる。
この倍電圧回路は、倍電圧動作をそれらの変換動作に於いて実施するアナログ・デジタル・コンバーター(A/D変換器)に搭載した場合に、特に有用である。このコンバーターは、電圧変換ステージに組み込まれる。この電圧変換ステージは、前述の倍電圧回路と、前記の入力電圧と等しい或いはそこから誘導される作動電圧を受信するために接続されていて且つ比較電位を受信するためにも接続されていて且つ比較をその作動電圧と前記の比較電位の間で実施し且つ比較の結果を示すデジタル・データを与えるように作動できる倍電圧回路と、前記の第1と第2の電圧記憶回路の各々共通ターミナルの間に接続されていて且つ、前記のスイッチング手段が前記の入力構成から前記の出力構成に切り替えられた後に、これらのターミナルの間で、前記のデジタルデータに依って、複数の予め設定された可能性のある値から選ばれた値をもつオフセット電圧を印加して、前記の出力ノードの間で前記の入力電圧の2倍から選ばれたオフセット電圧だけ異なるアナログ変換電圧を生成するように作動する電圧調整手段を有する。
【0037】
この電圧変換ステージに、前述の高精度倍電圧回路を使用すると、アナログ変換電圧は、2つの記憶コンデンサーを内部接続するために、複雑なスイッチング構成を使用せずに、入力電圧から好ましい高精度で誘導されることができる。このアナログ変換電圧は、例えば“3ステート・ロジック”タイプのアナログ・デジタル・コンバーターに要求されるように、入力電圧の大きさに基づいて選ばれた数多くの予め選択されたオフセット電圧の1つに依って、入力電圧の2倍からオフセットされることができる。前記の電圧調整手段は、前記の第1と第2の電圧記憶回路の各々共通ターミナルの間に接続されていて且つこれらのターミナルの間で前記のオフセット電圧を印加するように作動できる。このように、電圧調整手段は、選ばれたオフセット電圧と等しい電位差をコンデンサーの各々前記の他のプレートの間に存在させるために2つの記憶コンデンサーと直列に接続されていて、なおかつ、各々記憶コンデンサーはその各々プレートの間で入力電圧と等しい電位差をもつので、入力電圧の2倍からアナログ変換電圧の要求されるオフセットは、複雑で低精度の電圧加算器を使用せずに、単純に且つ高精度で達成される。
【0038】
好ましくは、前記のコンパレーター手段は前記の比較を実施するが、電圧記憶回路のスイッチング手段は前記の入力構成で高速オペレーションを提供する。
或る好ましい事例に於いて、前記のコンパレーター手段は前記の第1と第2の入力ノードに接続されているので、前記の入力電圧は、前記の作動電圧になり、なおかつ、前記の入力電圧がマイナスの前記の比較電位より低いか等しい時に該デジタル・データを提供し、なおかつ、比較電位が前記の入力電位より小さいか等しい時に第2のこのようなデジタルデータを提供し、なおかつ、第3の該デジタル・データを全ての他のケースに於いて提供し、なおかつ、そこでは、前記の第2のデジタルデータに依って選ばれたオフセット電圧が−Vref になり、+Vref が前記の第1のデジタルデータに依って選ばれるオフセット電圧になり、なおかつ、前記の第3のデジタルデータに依って選ばれるオフセット電圧はゼロになり、前記の比較電位はVref /4に実質的に等しくなる。
【0039】
コンパレーター手段のオフセット電圧から生じると思われるミスコードエラーに対するこの変換ステージで行われる変換演算の省略に依って、そのステージに依って実行される電圧変換動作の精度における改善は、全体的な変換精度の改善の形で得られる。
1つの特に優れたアナログ・デジタル・コンバーターは、各々が前述の電圧変換ステージであり、デジタル化されるアナログ電圧が一連の第1ステージの第1と第2の入力ノードの間に印加され、なおかつ、それぞれ次のステージの前述の第1と第2の入力ノードが直前のステージのそれぞれの第1と第2の出力ノードに接続されているN個のステージの列と、前記のステージの各々のスイッチング手段を次に前記の入力構成から前記の出力構成に切り替えさせるように作動できて、このスイッチングは、ステージの各々に於いて、第1ステージを除いて、直前のステージのスイッチング手段が出力構成にあるのでこのスイッチングの前に切り替えられるステージがその入力電圧としてその直前のステージに依って生成されるアナログ変換電圧を受信し且つそのアナログ変換電圧をそれに基づいてこのスイッチング後に生成する時に、行われるように制御する制御手段と、前記のN個のステージの列に依って与えられる前記のデジタルデータを受信するために接続されていて且つそこからデジタル出力ワードを誘導するように作動して、印加されたアナログ電圧の各々N+1ビットを比較するデータ処理手段とを有している。
【0040】
このアナログ・デジタル・コンバーターは、非常に瞬時に作動して、クロック周期の1つの完全なN+1ビット・デジタル出力ワードを生成できる。
好ましくは、このアナログ・デジタル・コンバーターは交互に第1と第2のクロック位相で作動し、なおかつ、前記の制御手段は、前記の第1クロック位相に於いて入力構成で列の奇数ステージの各々スイッチング手段を保持し、前記の出力構成で偶数ステージの各々スイッチング手段を保持するように作動するが、前記の第2クロック位相に於いて前記の入力構成で偶数ステージの各々スイッチング手段を保持し、出力構成で奇数ステージの各々スイッチング手段を保持するように作動する。
【0041】
この構成は、コンバーターが、ステージの制御を希望通りに単純に保ちながら、前述の高速で作動することを可能にする。
列の隣接するステージの少なくとも1つのペアに対して、ペアの第2ステージの前記の第1と第2の電圧記憶回路の各記憶コンデンサーが、ペアの第1ステージの同等の記憶コンデンサーより静電容量が小さくなり、1つ或いはこの各ペアの2つのステージの記憶コンデンサーの比率が約2:1になることが好ましい。これは、コンバーターの消費電力を低減する。
【0042】
列の隣接するステージの少なくとも1つのペアに対して、ペアの第2ステージの前記の第1と第2の電圧記憶回路の各々増幅器エレメント入力デバイスは、ペアの第1ステージの同等の入力デバイスより幅が狭くなることが好ましく、1つ或いは各ペアの2つのステージの入力デバイスの幅の比率が約2:1になれば、更に消費電力を低減することになる。
【0043】
更に、列の隣接するステージの少なくとも1つのペアに対して、ペアの第2ステージの前記の第1と第2の電圧記憶回路の増幅器エレメント入力デバイスの制御可能な電流路の各々電流はペアの第1ステージの同等の電流より小さくなり、1つ或いは各ペアの2つのステージの電流比は約2:1になることが好ましく、更に消費電力の低減を支援することができる。
【0044】
更に、コンバーターの第2からn番目のステージの各々に於いて、ここで2≦n≦Nの場合に、ステージの前記の第1と第2の電圧記憶回路の各記憶コンデンサーは、それぞれ直前のステージの同等の記憶コンデンサーの静電容量に対して、これらの第2からn番目のステージにかけて一定の第1スケーリングファクターに依って減少される静電容量をもつことが好ましい。静電容量を一定のスケーリングファクターに依ってこのようにスケーリングすると、コンバーターの消費電力を低減すること且つコンバーターの製造に要求されるチップ面積を減少することができる。
【0045】
前記の第1スケーリングファクターは2であることが好ましい。このスケーリングファクターの値は、低減される消費電力にとって最適なものになる。
更に、コンバーターの第2からn番目のステージの各々に於いて、すなわちここでは2≦n≦Nの場合であるが、ステージの各々の電圧記憶回路の増幅器エレメント入力デバイスは、直前のステージの同等の増幅器エレメント入力デバイスのチャンネル幅に対して、これらの第2からn番目のステージにかけて一定の第2スケーリングファクターに依って、減少されるチャンネル幅になることである。
【0046】
このように数多くの次のステージに対して一定のファクターでスケーリングすると、コンバーターの消費電力とそれに依って占められるチップ面積の減少にも貢献することができる。
前記の第2スケーリングファクターも2であることが好ましく、これにより最適な消費電力の減少を導くことになる。
【0047】
更に、コンバーターの第2からn番目のステージの各々に於いて、すなわちここでは2≦n≦Nの場合であるが、ステージの増幅器エレメント入力デバイスの前記の制御可能な電流路の各々の電流は、直前のステージの同等の制御可能な電流路の電流に対して、これらの第2からn番目のステージにかけて一定の第3スケーリングファクターに依って減少されるように制御されることが好ましい。
【0048】
このスケーリングはコンバーターの消費電力の低減に更に貢献することができる。
前記の第3スケーリングファクターも2であることが好ましい。この値は消費電力の低減に最適なものになる。
別の好ましい実施態様に於いて、列の隣接するステージの少なくとも1つのペアに対して、このペアの第2ステージにおけるオフセット電圧の前記の予め設定された可能性のある値の少なくとも1つは、このペアの第1ステージにおけるオフセット電圧の対応する予め設定された可能性のある値と比較されて部分的に調整される。
【0049】
この部分的な調整は、各ステージに用いられる増幅器エレメントの利得誤差の補正に使用されることができるので、これらの増幅器エレメントの不完全性にもかかわらず全体的なコンバーターの高精度の動作を維持することができる。
代わりに、または更に、前記のデータ処理手段は、これらの次のステージの電圧変換エラーの補正を推進するために、列の次のステージの各々のコンパレーター手段に依って与えられるデジタル・データを部分的に調整するように作動できる。
【0050】
別の優れたアナログ・デジタル・コンバーターは、各々が前述の電圧変換ステージである第1と第2のステージと、制御手段と、データ処理手段とを有している。これらの第1と第2のステージは、第1ステージの第1と第2の出力ノードが第2ステージの第1と第2の入力ノードにそれぞれ接続されていて且つ前記の第2ステージの第1と第2の出力ノードが第1のステージの第1と第2の入力ノードにそれぞれ接続されるように互いに接続されていて、なおかつ、デジタル化されたアナログ電圧が、コンバーターの反復変換動作の開始時に、前記の第1ステージの前記の第1と第2の入力ノードの間に印加される。前記の制御手段は、第1と第2のステージのスイッチング手段を、第1ステージから開始して、前記の入力構成から前記の出力構成に、交互に切り替えさせられるように作動し、この切替えは他のステージのスイッチング手段が出力構成にあるのでこのスイッチング前に或るステージはその入力電圧として他のステージに依って生成されたアナログ変換電圧を受信し且つそのアナログ変換電圧をそれに基づいてこのスイッチング後に生成する時に或るステージで行われるように制御する。データ処理手段は、前記の反復変換動作中に第1と第2のステージに依って交互に与えられる前記のデジタル・データを受信するために接続されていて且つ印加されるアナログ電圧の各々デジタル出力ワードをそこから誘導するように作動する。
【0051】
このアナログ・デジタル・コンバーターでは、2つのステージだけ変換動作を実施するために要求されるので、好ましいコンパクトで単純な設計になる。
本発明の第2の態様である電圧変換回路は、第1及び第2のクロック位相で交互に動作するものであり、コンバーターの動作中にデジタル化されるアナログ入力電圧が印加される第1及び第2入力ノードと、それぞれ第1及び第2記憶コンデンサーと入力及び出力ターミナルを有する単一の利得の増幅器エレメントとを含む第1及び第2の電圧記憶回路と、入力サンプリング手段と、第1及び第2の電圧記憶回路の増幅器エレメント出力ターミナルにそれぞれ接続された第1及び第2出力ノードと、コンパレーター手段と、電圧調整手段と、スイッチング手段と、データしょり手段とを備えている。第1及び第2の電圧記憶回路の増幅器エレメントは、デバイスの各第1及び第2電流路電極の間に設けられた制御可能な電流路とこの電流路における電流の大きさを制御するための電位が印加される制御電極とを有している電気的入力デバイスを備えており、この制御電極は増幅器エレメントの入力ターミナルに接続されており、第1及び第2電流路電極は電位追従手段に接続されて第1及び第2電流路電極の両方の電位が制御電極電位に追従するようになっている。この制御可能な電流路を電流が流れる間、第1及び第2電流路電極の各電位は入力ターミナルの電位に対して実質的に一定になるように維持される。入力サンプリング手段は、クロックの第1の位相の間、第1電圧記憶回路の入力ターミナルを第1入力ノードに接続し、第2電圧記憶回路の入力ターミナルを第2入力ノードに接続するように動作する。コンパレーター手段は、第1及び第2出力ノード更に比較電位を受けるように接続され、各クロック位相において、第1と第2出力ノード間の電位差と比較電位との比較を行い、比較結果を示すデジタルデータを与える。電圧調整手段は、1組の接続ターミナルを有しており、各クロック位相において、直前のクロック位相でコンパレーター手段によって与えられたデジタルデータに従って、複数のあらかじめ定められた値から選択した値を有するオフセット電圧を、これらのターミナル間に印加するように動作する。スイッチング手段は、クロックの第1位相において、2個の第1記憶コンデンサーと接続ターミナルを増幅器エレメントの各入力ターミナル間に直列に接続し、第2記憶コンデンサーを第1及び第2出力ノード間に互いに平行になるように接続するように動作し、クロックの第2位相においては、2個の第2記憶コンデンサーと接続ターミナルを増幅器エレメントの各入力ターミナル間に直列に接続し、第1記憶コンデンサーを第1及び第2出力ノード間に互いに平行になるように接続するように動作する。データ処理手段は、クロックの複数の位相に渡って、コンパレーター手段によって与えられたデジタルデータを受けるように接続されており、それから印加されたアナログ入力電圧を表すデジタル出力ワードを導出するように動作する。
【0052】
このようなアナログ・デジタル・コンバーターで変換動作を実行するには、1個のステージだけがあればよく、その結果特に小型化できる設計が可能になる。本発明の第3の態様のアナログ・デジタル・コンバーターは、1個のステージの出力は次のステージの入力になるように直列に接続された複数の相互に類似した電圧変換ステージを有しており、各ステージは、ステージの入力電圧を記憶するためにステージの入力に選択的に接続される記憶コンデンサーと、記憶された入力電圧に依存するステージの出力電圧を提供するために記憶コンデンサーとステージの出力間に選択的に接続される増幅器エレメントとを有している。列の最初のステージを除く少なくとも1ステージにおいては、記憶コンデンサー静電容量は直前のステージの記憶コンデンサー静電容量より小さいか、又は増幅器エレメントの入力トランジスターの幅は直前のステージの増幅器エレメントの入力トランジスターの幅より小さく、又は両方共に小さい。
【0053】
このような「スケール化された」電圧変換ステージの列を有するアナログ・デジタル・コンバーターは、全体として改善された雑音と消費電力の関係を適当にするトレードオフが行える。記憶コンデンサー静電容量又は入力トランジスタの幅又はその両方を1つのステージから次のステージへスケール化するファクター(スケーリングファクター)は、2に近似していることが望ましい。スケール化は、例えば、最初の6ステージについて順次スケール化し、残りのステージについては一定の大きさにするという具合に、最初の数ステージのみで止めてもよい。
【0054】
【実施例】
図1の電圧記憶回路は、好ましくはMOSFETトランジスターである電気スイッチエレメント1(以下、MOSFETトランジスターとする。)、記憶コンデンサー2、単位利得バッファ3、および出力ターミナル回路とMOSFETトランジスター1のゲート電極(制御電極)の間に接続されているブートストラップされるスイッチ駆動手段4,5を有している。
【0055】
図2は、図1の回路の増幅器エレメント3の構造の第1の例を示している。エレメント3は、2つの基本部、すなわちカスケードソースフォロア31と電流ソース32を搭載している。
カスケードソースフォロア31は、そのゲート電極が記憶コンデンサー2の1つのプレート(図1の上部プレート)に接続されているn−チャンネルMOSFET入力トランジスター33を搭載している。入力トランジスター33のドレイン─ソースチャンネルは、これからカスケードトランジスター34として引用される、更なるn−チャンネルMOSFETトランジスターのドレイン─ソースチャンネルと直列に接続されている。カスケードトランジスター34のドレイン電極は回路のプラスの電源ラインVddに接続されているが、入力トランジスター33のソース電極は回路の出力ターミナルOUTに接続されている。
【0056】
カスケードソースフォロア31にも、バイアス発生器35が入力トランジスター33のソース電極とカスケードトランジスター34のゲート電極の間に接続されている。このバイアス発生器は、実質的に一定の電位差をカスケードトランジスターのゲート電極と入力トランジスター33のソース電極の間で、ソース電極電位の変動と関係なしに保持するように作動する。
【0057】
電流ソース32は、カスケードソースフォロア31と実質的に同様に構成されていて、回路の出力ターミナルOUTと回路のマイナス電源ラインVssの間に直列に接続されている、2つのn−チャンネルMOSFETトランジスター36と37(カスケードソースフォロア31のトランジスター33と34に各々対応している)と、実質的に一定の電位差をトランジスター37のゲート電極とトランジスター36のソース電極の間で保持するように作動する付随されるバイアス発生器38(カスケードソースフォロア31のバイアス発生器35に対応している)を有している。このケースで、トランジスター36のソース電極はマイナス電源ラインVssに直接接続されているので、トランジスター37のゲート電極電位はマイナス電源ラインに対して固定されている。電流ソース32はバイアス入力BIASがトランジスター36のゲート電極に接続されている。バイアス電位は、これから後で説明されるように、エレメントの動作を制御するために電流ソース32のバイアス入力に印加されることができる。
【0058】
電流ソース32はカスケードソースフォロア31に直列に接続されているので、それはプラスとマイナスの電源ラインVddとVssの間に電流路を完成させるように働く。
図2の増幅器エレメントの動作に関して、電流ソースは、実質的に一定の電流が前述の電流路すなわちカスケードソースフォロア31のトランジスター33と34の各々に流れるように作動する。これは入力トランジスター33のソース電極電位をそのゲート電極電位に追従させるので、出力ターミナルの電位VO は記憶コンデンサー2の上部プレートの電位Vcに追従することになる。そこで、エレメントの電圧利得は実質的に単位値になる。
【0059】
同様に、カスケードトランジスター34のソース電極電位はそのゲート電極電位に追従させられ、その電位は順にバイアス発生器35に依って入力トランジスター33のソース電極電位に対して実質的に固定されて保持される。そこで、入力トランジスター33のドレイン電極電位は、そのソース電極電位に追従し、記憶コンデンサー2の上部プレートの電位Vc にも追従することになる。
【0060】
明らかになるように、記憶コンデンサー2の上部プレートの電位Vc と関係なしに、入力トランジスター33のソースとドレインの電極電位は互いに且つその入力トランジスターのゲート電極電位に対して各々実質的に固定される。そこで、ゲート─ソース、ゲート─ドレイン、ドレイン─ソースの寄生静電容量Cgs、Cgd、Cdsは、記憶コンデンサー2の上部プレートの電位Vcが変動しても、充電または放電されないので、これらの寄生静電容量は記憶コンデンサー2に記憶されている電圧に対して実質的に影響しない。
【0061】
入力トランジスター3はFET入力トランジスターなので、ゲート電流は実質的にゼロになり、記憶コンデンサーに記憶されている電荷は、入力スイッチエレメント1がオープンされた後に増幅器エレメント3の動作に依って実質的に除去されない。
図2の増幅器エレメントの場合、実際の出力ターミナルの電位は、上部プレートの電位Vc と完全に等しくないが、次に示すように、トランジスター33がオンである時のゲート─ソース電圧差に従って少し低下される、
O =VC −(VT +VDSAT
ここで、VT は入力トランジスター33のしきい(スレショルド)電圧であり、VDSATは入力トランジスター33の飽和電圧である。
【0062】
図2から明らかになるように、カスケードソースフォロア31と電流ソース32は互いに実質的に同様に構成されている。従って、カスケードソースフォロア31の入力トランジスター33の対応部は電流ソース32でトランジスター36になり、そのトランジスター36に前述のバイアス電位が印加される。同じ電流がトランジスター33と36の各々のドレインソースチャンネルに流れ且つこれらのトランジスターは同じ寸法なので、トランジスター33のゲート─ソースの電位は、電流ソース32のトランジスター36のゲート─ソース電位を調整することに依って制御されることができる。このトランジスター36のゲート─ソースの電位はバイアス電位とマイナス電源ラインの電位の間の差に等しいので、適切な一定のバイアス電位をバイアスターミナルに加えると、出力ターミナルの電位Voと記憶コンデンサー2の上部プレートの電位VC の間の差は、望ましい小さい一定のレベルにセットされることができる。
【0063】
図2の増幅器エレメントの場合、トランジスター33、34、36、37はデプレションまたはエンハンスメント型にすることができる。
図3は、デプレション・タイプn−チャンネルMOSFETトランジスターを使用して高速動作を提供する、増幅器エレメント3の構造の更なる詳細な例を示している。図3の例の場合、増幅器エレメントは再びカスケードソースフォロア31と電流ソース32を搭載していて、なおかつ、カスケードソースフォロア31のFET入力トランジスター33は図4の引例を用いて既に説明されたカスケードソースフォロアの構成に再び接続されていて、トランジスター33のゲート電極は記憶コンデンサー2の上部プレートの電位VC を受信するように接続されていて、トランジスター33のソース電極は回路の出力ターミナルOUTに接続されていて、トランジスター33のドレイン電極は第1と第2のカスケードトランジスター341と342を経由して回路のプラスの電源ラインVddに接続されている。
【0064】
この場合、カスケードバイアス発生器35は適切なバイアス電位を第1と第2のカスケードトランジスター341と342の各々ゲート電極に加えるために接続されている3つの直列接続トランジスター351、352、353を搭載しているので、カスケードトランジスター341と342の各々ゲート電極は入力トランジスター33のソース電極電位に関して実質的に固定される電位に各々保持される。
【0065】
図3の増幅器エレメントの電流ソース32は、そのカスケードソースフォロア31と同様に構成されていて且つ、入力トランジスター31のソース電極とマイナス電源ラインVSSの間に接続されている、3つの直列接続トランジスター36、371、372(カスケードソースフォロア31のトランジスター33、341、342各々対応する)を搭載している。このケースで、トランジスター36のゲート電極電位(図2の増幅器エレメントのバイアス入力に加えられるバイアス電位と同じである)はマイナス電源ラインVSSから与えられるが、トランジスター371と372の各々のゲート電極電位は3つの直列接続トランジスター381乃至383を搭載するバイアス発生器38(カスケードソースフォロア31のバイアス発生器35と同様に構成されている)に依って与えられる。バイアス発生器35と38は、更なる電流路をその間に完成させるために、プラスとマイナスの電源ラインの間で互いに直列に接続されていることが分かる。
【0066】
図3の増幅器エレメントの場合、電流ソース32のトランジスター36のゲート電極がマイナス電源ラインVSSに直接接続されているので、トランジスター36のゲートとソースの電位は互いに等しい。同じドレイン−ソース電流があたかも電流ソース32の対応するトランジスター36に流れるように入力トランジスター33を流れ、なおかつ、カスケードソースフォロア31と電流ソース32は実質的に同じ構成になるので、カスケードソースフォロア31のゲートとソースの電位も電位的に互いに実質的に同じになる。そこで、図3の増幅器エレメントの電圧利得は図2の増幅器エレメントより単位値(約0.9995)に近くなる。図2の増幅器と同様に、図3の増幅器エレメントも高速動作を行うことができる。他の点では、しかし、図3のエレメントの動作は図2の増幅器エレメントと実質的に同じである。
【0067】
ここで図1に戻ると、ブートストラップされるスイッチ駆動手段は、回路の出力ターミナルに接続される入力を持ち且つその各々の出力でその各々が出力ターミナル電位と一定のオフセットを持つ電位VhighとVlow (Vhigh>Vlow )を与えるように作動する電位生成回路4を搭載している。これらの2つの電位は、MOSFET1のゲート電極に加えて、それをそのオンとオフ条件に保持するために適切なレベルでなければならない。
【0068】
2つの電位VhighとVlow は入力としてスイッチング信号CKも受信する選択(セレクター)エレメント5に印加される。セレクター回路5の出力は、MOSFETスイッチエレメント1のゲート電極に、その電位を制御するために接続されている。セレクターエレメント5はゲート電極電位を2つの電位VhighとVlow の間でスイッチング信号CKに基づいて切り替える。この信号CKは、電圧記憶回路の動作を制御するデジタル論理回路に依って与えられる論理信号になる。
【0069】
入力スイッチエレメントがオフする時に記憶コンデンサー2に対するMOSFET入力スイッチエレメント1に依る偶発的な電荷流入を防止するために、MOSFETのゲート電極に加えられる制御電位は、図4の引例を用いてこれから説明されるように、少なくともMOSFETがオンの時に、入力ターミナル電位に関して実質的に固定されなければならない。
【0070】
図4は、入力スイッチエレメント1、この例の場合n−チャンネルエンハンスメント型MOSFETを詳細に示している。MOSFET1は、スイッチエレメントの入力ターミナルINを与えるソース電極と、スイッチエレメントの出力ターミナルOUTを与えるドレイン電極と、2つの前述の制御電位VhighとVlow の間で交互に切り替えられるように接続されるゲート電極を搭載している。トランジスターのドレイン−ソースチャンネルは、そのゲートチャンネルの電位がゼロ(またはマイナス)の時に非導通状態になり、加えられる制御電位がVlow (≦VO )の時にスイッチエレメントの出力ターミナルはその入力ターミナルから分離され、この条件のスイッチエレメントのオフ抵抗(Roff )は一般的に10,000MΩより大きくなる。ゲート電位がVhigh(>VO )に充電されると、この条件のスイッチエレメントのオン抵抗(Ron)は10又は100sのオームの単位になる。
【0071】
図1に図示されているような電圧記憶回路を用いるアナログ・デジタル・コンバーターの場合、スイッチエレメント1の動作はコンバーターのデジタル論理回路に依って制御されることが普通要求され、なおかつ、部分的にこの理由のために、従来の提案では固定されるデジタル論理電位(例えば0ボルトと+Vddボルト)がエレメントのスイッチングを制御するためにゲートに便宜上加えられていた。
【0072】
しかし、このデジタル論理電位がここで説明されるようにして用いられる時に、問題が発生する。
図4のMOSFETスイッチエレメント1は、やむを得ず、寄生ゲート─チャンネル静電容量Cgsをそのゲート電極とそのドレイン─ソースチャンネルの間にもっている。この寄生静電容量は、ゲートとFETのチャンネル間の物理的なオーバーラップに起因する第1の成分と、FETがオン条件の時にチャンネルに記憶されている電荷に付随する第2の成分をもっている。この第2の成分はチャンネル電位と共に(すなわち切り替えられる信号の電位Vi と共に)しかし偶発的に変動する。
【0073】
ゲートチャンネルの静電容量は切り替わる瞬間tswitchに電荷流入をゲートからチャンネルに与え、これは順にエラーを記憶されている電圧に与える。前述のゲートチャンネルの静電容量の第1成分に起因する電荷流入は、tswitchに於けるゲート電圧△VG の変動に基本的に依存する(例えば0−VDD=−VDD)ので、tswitchに於けるチャンネル電位Vi に実質的に依存しない。しかし、ゲートチャンネルの静電容量の第2成分に起因する電荷流入は、スイッチングの瞬間のゲート電位に対応する入力信号の電位Vi に依って影響され、前述の電圧記憶回路の誤差及び動作における非直線性を生じる。
【0074】
このような電荷流入を、例えば僅かに調整できるコンデンサーを通るゲート信号の反転されたものを結合して補償することは現実的な方法でない、何故ならば、前述のゲートチャンネル静電容量の第2成分が的確に予測できないからである。
デジタル論理電位のように、固定される制御電位を使用する従来の提案の場合、切り替わる瞬間tswitchに於ける電荷流入の影響は、回路の達成時間を短縮するために小さい静電容量をもつ記憶コンデンサーを使用することが望まれる場合に大きくなる。
【0075】
しかし、図1のブートストラップされるスイッチ駆動手段4、5の場合、少なくともスイッチエレメント1に加えられる制御電位は、それをオン条件に保持するために、入力ターミナルの電位Vi に対して固定されるので、エレメント1に依って流入される電荷量は、それがオフに切り替えられる時に、入力ターミナルの電位と無関係に実質的に一定になる。この電荷流入は一定なので、それは一定の誤差を記憶されている電圧に導き、これは容易に補償されることができる。
【0076】
偶発的に、或る場合にスイッチエレメント1に加えられる制御電位は、図1のように入力電位Vi で変わるより、むしろ固定される(オンと逆に)オフ条件に保持される時に可能になる場合がある。これは、前述のゲートチャンネルの寄生静電容量Cgcの第1成分が直線性の特性であるためである。
要求される電位VhighとVlow はMOSFET1に用いられるMOSFETNO形式とスレショルド電圧に依存する。このスイッチエレメントはエンハンスメント型又はデプレション型であり、且つn−チャンネル又はp−チャンネルになる。n−チャンネルMOSFETの場合、Vhighがゲート電極に加えられるとMOSFETをオンにし(すなわちVhighがオン電位になる)、Vlow が加えられるとそれをオフにする(すなわちVlow がオフ電位になる)が、p−チャンネルMOSFETの場合、Vhighがゲート電極に加えられるとMOSFETをオフにする(すなわちVhighがオフ電位になる)、Vlow が加えられるとそれをオンにする(すなわちVlow がオン電位になる)。
【0077】
スレショルド電圧VT をもつn−チャンネルMOSFETの場合、低いオン抵抗の時に、
high−Vi ≧VT +Von
ここでVonは予め設定された電位差である。
同様に、高いオフ抵抗の時に、
low −Vi <VT +Voff
ここでVoff も予め設定された電位差である。
【0078】
オンとオフの電位の差は従ってVon+Voff になり、これは少なくとも数百mVでなければならない。
出力ターミナルの電位VO を用いて直接2つの電位VhighとVlow の1つを与えることができる。例えば、MOSFETスイッチエレメント1がn−チャンネルデプレション型スイッチエレメントの場合、Vhighは単純にVO になる。同様に、MOSFETスイッチエレメント1がn−チャンネルエンハンスメント型スイッチエレメントの場合、Vlow は出力ターミナルの電位VO になる。
【0079】
図1の電圧記憶回路に電位生成回路4が出力ターミナルとセレクター回路5の間に挿入されて図示されている。しかし、この回路4は、要求される電位VhighとVlow が回路の従来の内部バイアスライン上で、特に増幅器エレメント3の内部バイアスライン上で既に使用できる時に、一部のケースで省略される場合がある。代わりに、図7の例を用いて更に詳細に後で説明されるように、要求される電位VhighとVlow は、電位VhighとVlow を与えるために直接には適していない内部バイアスライン電位から導かれる場合がある。
【0080】
前述の増幅器エレメント3の的確な構成の例に於いて、増幅器エレメントは、ゲート電極バイアス電圧をエレメントの内部バイアスライン上で与えるバイアス発生器35と38を搭載していることは明らかである。これらのバイアス電圧は出力ターミナルの電位を追従する。
これらの内部バイアスラインの電位レベルは、要求されるオンとオフの電位を、スイッチエレメント1のスイッチングの制御に使用するために直接提供するのに適していて、その場合に図1の回路の電位生成回路4はもちろん全体的に省略されることができる。
【0081】
他のケースに於いて、増幅器エレメントはペアの内部バイアスラインを搭載していて、その間の電位差は要求されるオンとオフの電位間の差(Von+Voff )より大きいか等しくなると思われる。しかし、ペアの内部バイアスラインの各々の電位レベルは、オンとオフの電位を直接与えるのに必ずしも適していないと思われる。代わりに、要求されるオンとオフの電位の1つは、例えば、エンハンスメント型MOSFETスイッチエレメントの場合のオン電位またはデプレション型MOSFETスイッチエレメントの場合のオフ電位は、或る場合に回路の電源ラインの外部に位置する必要があるかも知れない。
【0082】
これらの難しい問題は、図5の引例を用いて次に説明される増幅器エレメント3とスイッチ駆動手段4、5に適した回路構成を採用することに依って解決されることができる。
図5の場合、増幅器エレメント3は、主としてエンハンスメント型n−チャンネルMOSFETトランジスターから作られているが、図2と3に図示されている例と類似の状態で構成される場合もあり、なおかつ、カスケードソースフォロア31と電流ソース32をプラスの電源ラインVddとマイナスの電源ラインVssの間で直列に接続されて搭載している。前述のように、カスケードソースフォロア31は、入力トランジスター33とカスケードトランジスター341を、更にプラスの電源ラインVddとトランジスター331のドレイン電極の間に接続されている、トランジスター342を加えて、またプラスの電源ラインVddと入力トランジスター33のソース電極の間に、更なるトランジスター353と共に、直列に接続されているトランジスター351と352を搭載するカスケードバイアス発生器35を搭載している。このケースで、回路の出力ターミナルOUTは、増幅器エレメントが作動中の時に、トランジスター33のゲート電極と実質的に同じ電位に、すなわちゲート電極に接続されている記憶コンデンサー2の上部プレートの電圧VC に保持される、トランジスター351のドレイン電極に接続されている。この点に関して、トランジスター342と353は、トランジスター351の電流が入力トランジスター33と同じであることを保証することに依って増幅器の利得エラーを減少するように機能するPMOSカレントミラーを構成するために選択され且つ接続されているので、出力電圧は入力電圧にほぼ追従する。しかし、PMOSカレント・ミラーのこの使用はオプションであることに注意すべきである。
【0083】
図5の増幅器エレメント3は、トランジスター31のソース電極に接続される第1内部バイアスラインL1を搭載している。電流が流れている時に、この内部バイアスラインは、トランジスター31のスレショルド電圧VT に等しい大きさだけコンデンサーの電圧VC より低い電位V1 、すなわち、V1 =VC −VT に保持される。
【0084】
増幅器エレメント3はカスケードバイアス発生器のトランジスター351のドレインに接続されている更なるバイアスラインL′を搭載していて、そこでは(前述の)バイアス・ラインは回路が作動中の時に実質的にコンデンサーの電圧VC 保持されているが、内部バイアスラインL1とL′間の電位差はスイッチエレメント1の制御に要求されるオンとオフの電位間の前述の電位差(Von+Voff )より小さい。しかし、カスケードバイアス発生器35のトランジスター351と352の間にあるトランジスター352は、エレメントの第2のバイアスラインL2に於いて、トランジスター352のスレショルド電圧VT と実質的に等しい大きさだけ、出力ターミナルの電位VO より常に大きさ電位V2 を生成するように作動する。第1と第2のバイアスラインL1とL2の間の電位差は2つのトランジスターのスレショルド電圧2VT と実質的に等しく、そこでは電位差はスイッチエレメント1のオンとオフの電位の間で要求される差(Von+Voff )より大きいか等しい。
【0085】
これらの電位V1 とV2 を使用して要求されるオンとオフの電位を生成できるスイッチ駆動手段4、5の例がここで説明される。この例で、スイッチエレメント1はn−チャンネルエンハンスメント型になるので、オフの電位Vlow は、こ出力ターミナルの電位VO そのものになり、オンの電位はVhigh≒Vlow +2VT になるこのオン電位は、この例におけるプラスの電源ラインVddより高くなることができる。
【0086】
図5に於いて、電位生成手段4は、ブートストラップコンデンサー44と、制御可能な接続をブートストラップコンデンサー44のプレートと内部バイアスラインL1とL2と出力ターミナルOUTの間で与えるために接続されているトランジスター451乃至453とを搭載する接続手段45を搭載している。
接続手段45のトランジスター451乃至453は、スイッチエレメント1がオフの時に論理レベルが高くなり且つスイッチエレメント1がオンの時に論理レベルが低くなる論理信号SWを各々受信する。
【0087】
論理信号SWはスイッチエレメント1の制御に用いられるスイッチング信号CKから導かれるので、スイッチング信号CKに基づいてそれを高い論理レベルから低い論理レベルに変更することができる。
トランジスター451は、p−型トランジスターなので、論理信号SWの論理レベルが低い時にオンになり、トランジスター452と453は、n−型トランジスターなので、論理信号SWの論理レベルが高い時にだけオンになる。
【0088】
p−型トランジスター451は第2のバイアスラインL2とブートストラップコンデンサー44のマイナスのプレートの間に接続されていて、n−型トランジスター452はそのプレートと第1のバイアスラインL1の間に接続されていて、n−型トランジスター453はブートストラップコンデンサー44のプラスのプレートと出力ターミナルOUTの間に接続されている。
【0089】
ブートストラップコンデンサー44のプラスのプレートはスイッチエレメント1のゲート電極に恒久的な構造で接続されている。
図5のスイッチ駆動手段4、5の動作は次のようになる。論理信号SWがスイッチエレメントをオフ条件にさせる高論理レベルの時に、n−型トランジスター452と453はオンに切り替えられるので、ブートストラップコンデンサー44のプラスのプレートとスイッチエレメント1のゲート電極は出力ターミナルVO (Vlow )の電位に保持されるが、コンデンサー44のマイナスのプレートは第1バイアスラインL1の電位V1 (=VO −VT )に保持される。そこで、ブートストラップコンデンサーはVT と実質的に等しい電位に充電される。
【0090】
論理信号SWがここで、スイッチング信号CKに対応して、高論理レベルから低論理レベルに変更されて、スイッチエレメントをオンにすると、n−型トランジスター452と453は共にオフに切り替えられ、p−型トランジスター451はオンに切り替えられる。そこで、ブートストラップコンデンサー44のマイナスのプレートは、そのプラスのプレートが出力ターミナルの電位VO から分離される時に電位をV1 からV2 に変えることになる。その結果、プラスのプレートの電位はマイナスのプレート電位の変動(V2 −V1 ≒2VT )にしたがって自由に変わり、プラスのプレート電位はV2 −V1 だけ変わる。その結果、スイッチ・エレメント1のゲートの電極電位は、たとえVO +2VT >Vddの場合でも、出力ターミナルの電位VO (=VLOW )からV+2VT (=Vhigh)に変わる。
【0091】
ブートストラップコンデンサー44の静電容量は、スイッチングの瞬間のブートストラップコンデンサー44のプラスのプレートの電位の変化の割合が、そのマイナスのプレートの電位で対応する変化に比べて不当に小さくならないようにするために、スイッチエレメント1のゲートの静電容量に比べて大きいことに注目されるべきである。
【0092】
前述のように、スイッチングを制御するために用いられるスイッチング信号CKに基づいて作動する、ブートストラップコンデンサーと適切な接続手段を使用すると、要求されるオンとオフの電位が回路の内部バイアス・ラインの電位から、これらのラインがこれらのオンとオフの電位を直接与えることに適している電位を備えていない時でも導かれることを可能にする。ブートストラップコンデンサー44は、これらのオンとオフの電位が回路の電源ラインの外部にくることも可能にする。更に、オンとオフの電位の生成時に回路に必ず既に存在する内部バイアス・ラインの使用は、要求される回路の大きさを大幅に節約する結果になる。
【0093】
好ましくは、図1の電圧記憶回路は、スイッチエレメント1の静電容量、増幅器エレメント3の入力静電容量、任意の内部接続部の静電容量を含めた、回路の全ての寄生静電容量のブートストラップを可能にするために、集積回路として構成されている。
この目的を達成するために、図1の回路のスイッチエレメント1、記憶コンデンサー2、増幅器エレメント3の部品は、基板の周囲の部材と逆の導電タイプのウェル(図1の7に表されている)に好都合に形成されている。例えば、集積回路はn−基板をもつCMOSタイプの時に、スイッチエレメント1、記憶コンデンサー2、バッファエレメント3が形成されるウェル7は、p−導電タイプになる。ウェルは、その電位が記憶コンデンサー2の上部プレートの電位VC に関して実質的に固定されるように接続されている。例えば、ウェルは、図1に図示されているように、回路の出力ターミナルに電気的に接続されることができる。
【0094】
図6は、該集積回路の内部に於いて、増幅器エレメント3が図2に図示されているように実質的に構成される時の図3の電圧記憶回路に関して、1つの考えられるレイアウトを示している。図6に図示されているように、スイッチエレメント1、記憶コンデンサー2、入力トランジスター33、増幅器エレメント3のカスケードトランジスター34は、n−基板8nで形成されるp−ウェル7pの内部に形成されている。電流ソース32、電流ソースバイアス発生器33(共に図6に図示されていない)、カスケードバイアス発生器35とスイッチ駆動手段4、5は、ウェル7pの外部に形成されている。カスケードバイアス発生器35とスイッチ駆動手段4、5は代わりにウェルの内部に位置することもできる。
【0095】
図6に詳細に図示されているように、図1の回路の入力電圧はその入力ターミナル(IN)11と共通ターミナル(COM)12の間に加えられ、共通ターミナル11は記憶コンデンサー2の下部プレート21に接続されている。記憶コンデンサー2の上部プレート22はトランジスター33のゲート電極33gとスイッチエレメント1のドレイン電極1dにも接続されている。スイッチエレメント1のソース電極1sは入力ターミナル(IN)11に接続されている。
【0096】
回路の出力ターミナル(OUT)13はトランジスター33のソース電極33sに接続されていて、トランジスター33は共通のチャンネル33cをカスケードトランジスター34と共に搭載して形成されている。カスケードトランジスター34のドレイン電極34dはプラスの電源レールVddに接続されていて、そのゲート電極34gは、カスケードバイアス発生器35を経由して、出力ターミナル13に接続されている。スイッチ駆動手段4、5は回路の出力ターミナル13とスイッチエレメント1のゲート電極1gの間に接続されている。
【0097】
p−ウェル7pは、図6の(B)に図示されているように、n+ チャンネル33cに隣接するその位置でp−ウェル7pの内部に与えられているp+ コンタクト部9に依って出力ターミナル13に電気的に接続されている。コンタクト10は、コンタクト部9を出力ターミナル13に、図6の(A)に図示されているようにして接続している。また、図6の(B)に図示されているように、シールド15がウェル内部のデバイスに対してオプションで与えられていて、そこでは、シールドは回路の出力ターミナル13にコンタクト16に依って電気的に接続されている。
【0098】
それらは図6に於いてp−ウェルで形成されているので、増幅器エレメント3のMOSFETスイッチエレメント1とトランジスター33と34はn−チャンネルタイプでなければならないことが認められる。
図3の増幅器エレメントの場合、カスケードソースフォロア31(FET入力トランジスター33、カスケードトランジスター341と342、カスケードバイアス・ゼネレーター35のトランジスター351乃至353を含めて)は記憶コンデンサー2とスイッチエレメント1を搭載する回路のp−ウェルの内部に全体的に形成されている。前述のように、ウェルは、例えば、回路の出力ターミナルOUTに電気的に接続されている。図3の増幅器エレメントの電流ソース32は、そこで、回路のポイントに電気的に接続されていなければならない、第2p−ウェルで形成される。その電位は、回路の電源ライン、例えば、マイナスの電源ラインそのものに対して固定されている。
【0099】
図1の回路の場合、スイッチエレメント1、記憶コンデンサー2、増幅器3が1つのウェルに互いに形成されることは不可欠の条件でない。図7の場合、例を用いて説明すると、スイッチエレメント1と記憶コンデンサー2と増幅器エレメント3は、それぞれ異なるp−ウェル71p、72p、73pで形成されている。
【0100】
p−ウェル71pは、補助バッファエレメント17とコンタクト18と19を経由して回路の出力ターミナル(OUT)13に電気的に接続されており、出力ターミナルに対して実質的に固定される電位にあり、従って記憶コンデンサー2の上部プレートの電位に対しても実質的に固定される電位にある。
p−ウェル72pは、スイッチエレメント1がオフ条件の時に、上部プレートの電位に対して実質的に固定される電位とするために、コンタクト23を経由して記憶コンデンサーの下部プレート21に電気的に接続されいる。
【0101】
p−ウェル73pはコンタクト18に依って回路の出力ターミナル(OUT)13に電気的に接続されいるので、それは記憶コンデンサー2の上部プレートの電位に対して実質的に固定される電位にもなる。
ウェル71P、72p、73pの外部にある回路エレメント1、2の間の内部接続部の部品14、24は、その電位がウェルの電位と同じに保持される内部接続シールド部151、152に延長しているので、内部接続部に付随する寄生静電容量を除去できる。
【0102】
記憶コンデンサー2のウェル72pはオプションである。
図1〜5を用いて既に説明された電圧記憶回路の特に優れたアプリケーションについて図8を用いてここで説明される。
図8は、図1を用いて既に説明されたようにして構成される電圧記憶回路を使用する電圧加算回路を示している。
【0103】
電圧加算回路は、図1の電圧記憶回路の構成部品のほかに、入力スイッチエレメント1と第1入力ノードI1 との間でそのエレメントに直列に接続されている入力絶縁スイッチエレメント46 、一方の側で、各々第2と第3の入力ノードI2 とI3 、他の側で、電圧記憶回路の共通ターミナルCOMの間に接続されている選択スイッチエレメント47と、電圧記憶回路の出力ターミナルOUTと入力スイッチエレメント1の入力側の間に接続されているフィードバックスイッチエレメント48とを搭載している。
【0104】
補助コンデンサー49も、入力スイッチエレメント1の入力側と電圧記憶回路の共通ターミナルCOMの間に接続されてオプションで与えられ、その場合にフィードバックスイッチエレメント48は省略されることができる。
図8の電圧加算回路を用いると、もともとスイッチエレメント1と46は共にオンに制御されるが、フィードバックスイッチエレメント48はオフに保持される。この時に、選択スイッチエレメント47は第2入力ノードI2 と電圧記憶回路の共通ターミナルCOMに接続するように構成されている。電圧回路の入力スイッチエレメント1はオフに切り替えられると、第1と第2の入力ノードI1 とI2 の間の電位差V1 −V2 は、スイッチングの瞬間に、電圧記憶回路の記憶コンデンサー2に記憶される結果になる。
【0105】
その後に、入力絶縁スイッチエレメント46もオフになり、フィードバックスイッチエレメント48はオンになる。その結果、スイッチエレメントオンの入力側の電位は、入力スイッチエレメント1がオフした後に、第1入力ノードの電位の次の変動にかかわらず、記憶コンデンサー2の上部プレートの電位VC に対して実質的に一定に保持される。
【0106】
補助コンデンサー49が入力スイッチエレメント1の入力側と電圧記憶回路のターミナルCOMの間にある時に、この補助コンデンサーは、代わりに、または更に、フィードバックスイッチエレメント48に対して、入力スイッチエレメント1がオフした後に、入力スイッチエレメント1の入力側の電位が記憶コンデンサー2の上部プレートの電位VC に対して実質的に一定に固定されるようにする。
【0107】
入力スイッチエレメント1がオフにスイッチングした後の入力側電位の保持性は、第1入力ノードの電位が入力スイッチエレメント1のゲート電極に加えられるオフ電位に対して十分に変わる時に、入力スイッチエレメント1が再びオンに切り替えられる可能性を防止することが望まれる。
入力絶縁スイッチエレメント46がオフになると同時に、またはその後に、選択スイッチエレメント47の構成は、第3入力ノードI3 を共通ターミナルCOMに第2入力ノードI2 の代わりに接続するために変えられる。
【0108】
その結果、出力ターミナルの電位は、第3の入力ノードの電位V3に、第1と第2の入力ノードの電位の間で記憶されていた差V1 −V2 をプラスした電位に実質的に等しくなる、すなわち、
O = V1 − V2 + V3 + Verror
ここでVerror は、オフになる瞬間に入力スイッチエレメント1に依る電荷流入に依って発生される記憶されていた電位差V1 −V2 の誤差(エラー)電圧である。前述のように、入力スイッチエレメント1に加えられるオン電位が入力ノードの電位に追従する時に、エラー電圧Verror は回路に加えられる電位にかかわらず実質的に一定になるので、このエラー電圧は望ましい単純な状態で補償されることができる。
【0109】
電圧記憶回路の寄生静電容量の影響を効果的に除去することに依って、記憶コンデンサーの下部プレートの電位は、記憶されている電位差に予測し難い状態で影響せずに、望まれる電位差の記憶後に、自由に変更されることができることが認められる。これは、図1で既に説明されたように構成される電圧記憶回路が特に高い精度を電圧加算アプリケーションに提供することを可能にする。
【0110】
図1の電圧記憶回路の更に優れたアプリケーションとして、図9は、第1と第2の電圧記憶回路VSC1 とVSC2 を搭載していて、各々が図1で既に説明されたように構成されている、倍電圧回路50を示している。
回路50は第1と第2の入力ノードI1 とI2 と第1と第2の出力ノードO1 とO2 を搭載している。第1の制御可能なスイッチエレメント51は第1電圧記憶回路VSC1 の第1入力ノードI1 と入力ターミナルIN1 の間に接続されている。第2の制御可能なスイッチエレメント52は第1電圧記憶回路VSC1 の第2入力ノードI2 と共通ターミナルCOM1 の間に接続されている。
【0111】
第3の制御可能なスイッチエレメント53は第2電圧記憶回路VSC2 の第1入力ノードI1 と共通ターミナルCOM2 の間に接続されている。第4の制御可能なスイッチエレメント54は第2電圧記憶回路VSC2 の第2入力ノードI2 と入力ターミナルIN2 の間に接続されている。
第5の制御可能なスイッチエレメント55は電圧記憶回路VSC1 とVSC2 の各々共通ターミナルCOM1 、COM2 の間に接続されている。
【0112】
第1と第2の電圧記憶回路VSC1 とVSC2 の各々の出力ターミナルOUT1 とOUT2 は、回路50の第1と第2の出力ノードO1 とO2 に各々接続されている。
回路50は、第1制御信号φ1 をスイッチエレメント51乃至54に且つ第2制御信号φ2 をスイッチエレメント55に印加する制御手段60を更に具備している。制御手段60は、電圧記憶回路VSC1 とVSC2 に電圧記憶回路の各々スイッチエレメント1のスイッチングの制御に用いられる前述のスイッチング信号CKも印加する。スイッチエレメント51乃至54は制御信号φ1 がアクティブの時にオン条件に制御され、なおかつ、スイッチエレメント55は制御信号φ2 がアクティブの時にオン条件に制御される。電圧記憶回路の各々のスイッチ・ドライブ手段4、5に印加されるスイッチング信号CKの生成は、制御スイッチエレメント51乃至55のスイッチングに制御手段60に依って同期されるので、電圧記憶回路VSC1 とVSC2 の各々スイッチエレメント1は、スイッチエレメント51乃至54が最初にオン条件の時にオン条件に保持されるが、これらのエレメント51乃至54がオフ条件に切り替えられる前にオフになる。
【0113】
図9の倍電圧回路の動作に於いて、制御信号φ1 は最初に作動され、制御可能なスイッチエレメント51乃至54が最初にオン条件に作動され、この時スイッチエレメント55はオフになる。そこで、φ1 が作動されると、スイッチエレメント51乃至55は、入力ノードI1 とI2 の間の入力電圧Viが各々の入力と電圧記憶回路VSC1 とVSC2 の各々の共通ターミナルの間に加えられることを可能にする入力構成になる。
【0114】
スイッチエレメント51乃至55がこの入力構成の間に、電圧記憶回路VSC1 とVSC2 の各々のスイッチエレメント1はオン条件のそれらの付随するスイッチ駆動手段4、5に依って制御される。その結果、その各々の記憶コンデンサー2は入力電圧Vi に各々充電される。この点に関して、入力電圧は第1電圧記憶回路VSC1 に対して第2電圧記憶回路VSC2 と逆の極性で印加されることが注目される。
【0115】
スイッチエレメント51乃至54がオンに切り替えられている間に、制御手段60は、電圧記憶回路の各々のスイッチエレメント1をオフに切り替えるために、電圧記憶回路の各々のスイッチ駆動手段4、5にスイッチング信号CKを印加する。その結果、スイッチングのtswitchの瞬間に於ける入力電圧Visは電圧記憶回路の各々の記憶コンデンサー2に記憶される。
【0116】
その後、制御手段60は、制御信号φ1 の作動をオフにするのでスイッチエレメント51〜54はオフに切り替えられ、次に制御信号φ2 を作動するのでスイッチエレメント55がオンに切り替えられる。この条件の時に、スイッチエレメント51乃至56は出力構成になる。この出力構成の時に、電圧記憶回路VSC1 とVSC2 の各々の記憶コンデンサー2は電圧記憶回路VSC1 とVSC2 の増幅器エレメント3の各々の入力の間で直列に接続されている。これらの電圧記憶回路の増幅器エレメント3はそれらの各々出力でそれらの入力の電位を再生するためにだけ機能するので、第1と第2の出力ノードO1 とO2 の間に生成される出力電圧VO は記憶されている入力電圧Vis、すなわち VO = 2Visの2倍と実質的に等しくなる。
【0117】
従って、回路50は、スイッチングのtswitchの瞬間に於いて印加される入力電圧Vi の実質的に2倍になる出力電圧VO を与えるように作動する。
図9の回路は、回路の寄生静電容量の影響が除去されるので、非常に高い精度を倍電圧に与えることができる。これは、前述の構成の電圧記憶回路に於いて、印加される入力信号に影響を与える寄生静電容量(すなわち、入力スイッチエレメント1の静電容量、増幅器エレメント3の入力の静電容量、電圧記憶回路の任意の内部接続部の静電容量)が全てブートストラップされることができるからである。電圧記憶回路が(電圧記憶回路の内部接続部の寄生静電容量のブートストラップを可能にするために)各々のウェルで好都合に形成される事実を考えると、全体的に倍電圧回路50は好都合に集積回路として形成されるべきである。
【0118】
この倍電圧のアプローチは、倍電圧を実施するために用いられている従来の切替式のコンデンサー回路に使用されているものと基本的に異なることに注目されるべきである。これらの従来の回路の場合、回路の動作は、回路の全てのノードが増幅器に依ってドライブされるか(寄生静電容量が増幅器出力に於いて充電され且つ影響を与えないようにするために)または全てのクロック位相で同じ電圧に常に戻される(“仮想グラウンド”なので実際の電荷は寄生静電容量に流入または流出しない)ことを保証することに依って、寄生静電容量に対して鈍感になるようにデザインされている。後者のアプローチの例はヨーロッパ特許公告公報214831号(EP−B −0214831 )に与えられている。
【0119】
回路が寄生静電容量に対して鈍感になるようにデザインすると、寄生静電容量に依って発生される問題は基本的に除去されるが、寄生の問題を除去することは、入力電圧を記憶し且つ2倍にするために用いられるコンデンサー間のやむを得ない不整合に付随する、別の問題を導き、これは望ましい高精度が達成されることを妨げることになる。
【0120】
この問題は、切り替えられるコンデンサーに基づく従来の倍電圧回路の場合、倍電圧の動作の過程で保たれる変動が図11の回路の電圧よりむしろ電荷(或るコンデンサーから別のコンデンサーに伝えられる)であるために発生する。
この問題を更に詳細に考えてみると、電荷が保たれている時に電圧を2倍にするために、数字2Cのコンデンサー(または、並列で、数字Cの各々、2つのコンデンサー)が入力電圧に充電され、次に全ての電荷が数字Cの1つのコンデンサー(最初に充電されるコンデンサーであってもなくても構わない)に伝えられる。電荷の保持は次に示す関係式を与える。
【0121】
2C・Vin=C・Vout
out =2Vin
しかし、実際の回路に於いて出力電圧Vout は正確に入力電圧Vinの2倍にならないことが認められ、これは倍電圧動作を実施するために用いられるコンデンサーの各々の静電容量の間の不整合のためである。この点に関して、入力電圧Vinに充電される2つのコンデンサーの各々の静電容量は各々C1 とC2 になり、なおかつ、これらの2つのコンデンサーに記憶されている組み合わされた電荷を受ける第3のコンデンサーの静電容量C3 はC3 になり、電荷の保持は次に示す関係式を与える。
【0122】
( C1 + C2)・Vin = C3 ・Vout
out = [( C1 + C2)/C3]Vin
公称では同じコンデンサーの間のランダムな不整合は一般的に0.1%(集積回路上で達成することが比較的容易)と0.01%(極度の注意が例えばユニット上に分割され挟み込まれる大きいコンデンサーに要求される)の間に存在する。該静電容量の不整合のエラーは同等のエラーを倍電圧に導く結果になり、なおかつ、倍電圧回路がアナログ・デジタル・コンバーターに例えば使用される時に、アナログ・デジタル・コンバーターの直線性は10と13ビットの間に該エラーに依って制限されることになる。
【0123】
倍電圧回路に基づく該従来の電荷伝搬に於ける静電容量不整合に起因する誤差(エラー)は、複雑なスイッチング構成を用いて除去されることができる。或る従来の方法は、コンデンサーC1 を入力電圧に充電し、電荷を記憶コンデンサーC2 に伝えて、電荷C1 を入力電圧に再び充電し、次に全ての電荷をC1 に戻している。これは、電荷が同じコンデンサーから始まって終了するので入力の正確な倍電圧を導く結果になるが、この方法は更に複雑で遅くなり(更にクロック位相に関連する)、なおかつ増幅器のスイッチング・ノイズに対して更に敏感になる。
【0124】
別の従来の方法は、“自動較正”を行うこと、すなわち、コンデンサーの不整合を測定して、それを調整する、更なる回路を備えている。この回路の構造は、しかし、回路を益々複雑にして、動作の速度を遅くする。
更に、電荷伝搬に依存する従来の倍電圧回路もコンデンサーの直線性に事実上依存するので、コンデンサーの電荷を2倍にすると、その電圧も必然的に2倍になる。コンデンサーの物理的な構造に基づいて、これらの従来の倍電圧回路に用いられているコンデンサーの非直線性は、倍電圧回路の直線性を全体的に制限することになる。
【0125】
図9の回路の場合、一方で、高い直線性で、高精度で整合されるコンデンサーの要求は解消される。2つのコンデンサーを並列に充電し、次にそれらを直列に接続すると、寄生静電容量の影響が満足できるレベルで除去されるならば、コンデンサーの整合性と直線性と関係なしに、入力電圧を常に正確に2倍にすることができる。
【0126】
図9の回路の場合、各々電圧記憶回路のスイッチ駆動手段4、5はスイッチエレメント1の電荷流入が一定に保持されることを保証するので、電圧記憶回路はその全ての寄生静電容量が増幅器エレメントの出力に依ってドライブされるようにデザインされているならば、実質的に動作の直線性に対する唯一の制約は増幅器エレメントの利得エラーだけになる。この原因は、電圧記憶回路の増幅器エレメントの利得が正確に単位値でない場合に、寄生静電容量の除去が十分に効果的に行われないことに依る。この正確な単位性からの利得エラーは従って最小限にされるべきである。
【0127】
実際に、この利得エラーは、特定の倍電圧アプリケーションの希望された精度に依って要求されるように、できるだけ小さく設定されることができる(最適の精度とするために、比較的複雑な増幅器エレメント構成が要求されるが)。適切な増幅器エレメント構成を使用することに依って、これは、少なくとも1ppmより優れている直線性が達成され、実際の特性の制約は増幅器と熱(kT/C)雑音に起因するランダムノイズに依存することを意味している。該倍電圧回路を使用するアナログ・デジタル・コンバーターの場合、直線性は20ビットを越えて保持されると思われる。
【0128】
結局、電圧記憶回路VSC1 とVSC2 の逆並列接続を図9の倍電圧回路50に用いることに依って、回路のスイッチエレメント1に依って流入される電荷の各々の量は、スイッチングの瞬間に於いて、効果的に除去され、回路を自己補償することになる。
図9に図示されているような倍電圧回路50を使用する1例が、ここで図10の引例を用いて説明される。
【0129】
図10は図9に図示されている倍電圧回路を使用するアナログ・デジタル・コンバーター(ADC)の一部を示している。図10のADCは“3ステート・ロジック”ADCである。
3ステート・ロジックADCは、各々倍電圧動作に関連する、印加されるアナログ入力電圧から始まる、シリーズの電圧変換動作を実施して、そのアナログ・デジタル変換を行う。デジタルデータは各々該電圧変換動作で生成され、次の変換動作のデジタルデータは印加されるアナログ入力電圧を示すデジタル出力ワードを生成するために結合される。
【0130】
3ステート・ロジックADCに依って行われる各々電圧変換動作の場合、動作の第1位相に於いて、アナログ入力電圧は、予め設定された比較電位Vr /4(Vr は予め設定された基準電位である)と比較されて、次の表1に図示されている3つのデジタルデータの値の1つを生成する。
【0131】
【表1】
Figure 0003636736
【0132】
次に、動作の第2位相に於いて、第1位相で生成されたデジタルデータに基づいて、入力電圧Vi は、次の表2に図示される式に依ってVi と関連するアナログ変換電圧VC を生成するために変換される。
【0133】
【表2】
Figure 0003636736
【0134】
次の変換動作で、このアナログ変換電圧VC はアナログ入力電圧として用いられ、変換電圧VC は次の該動作に於いてゼロに収斂する。各々次の変換動作は3ステート・ロジックデジタルデータ(+1、0、−1)の1つの“ビット”を生成す。通常の2進(2ステート)論理で表される出力ワードは適切なデジタル論理回路に依る組み合わせの3ステート・ビットの全てから導かれ、R・3ステート・ビットは(R+1)ビットから成る2進論理出力ワードを生成することができる。
【0135】
従来の3ステート・ロジックADCの動作の詳細な説明については、K. Gotoh とO.Kobayashi に依る“Fujitsu Fact: 3ステート・ロジックはMB87020に用いられているCMOSサイクルA/Dコンバーターを制御する”と前述のEP−B −0214831 に記載されていて、その文書は共にここで参照されている。
図10のADCは直列に接続されているN個の電圧変換ステージST1 、ST2 、…STN を搭載していて、その各々が表1と2から前述の電圧変換動作を行うことができる。ADCの最初の2つの該電圧変換ステージST1 とST2 だけ図10に図示されている。
【0136】
ステージSTi の各々は図9用いて既に説明されたように一般的に倍電圧回路50′に基づいていて、倍電圧回路50′の入力ノードI1 とI2 はステージの入力ノードを与え、倍電圧回路50′の入力ノードO1 とO2 は同様にステージの出力ノードを与える。
各々ステージSTi の倍電圧回路50′は、しかし、図9の回路の1つのスイッチエレメント55の代わりに、倍電圧回路50′が、回路の2つの電圧記憶回路VSC1 とVSC2 の各々の共通ターミナルCOM1 とCOM2 の間に直列に接続されている、2つの制御可能なスイッチエレメント55と56と電圧調整手段58を搭載しているところが、図9の倍電圧回路と異なっている。
【0137】
各々ステージSTi に於いて、スイッチエレメント51乃至56は前述の入力構成(スイッチエレメント55と56がオフ状態の時にスイッチエレメント51乃至54がオン状態)または出力構成(スイッチエレメント51乃至54がオフ状態の時にスイッチエレメント55と56がオン状態)になることができる。
図9の倍電圧回路50のケースのように、各々ステージSTi のスイッチエレメント51乃至56は制御信号φ1 とφ2 に依って制御される。しかし、図10のADCの場合、全てのステージに共通する制御手段60′は各ステージの第1と第2の制御信号を生成するために与えられていて、なおかつ、φ1 がアクティブの時に、スイッチエレメント51乃至56の奇数番号のステージST1 、ST3 、ST5 …は入力構成に保持されるが、スイッチエレメント51乃至56の偶数番号のステージST2 、ST4 、ST6 …は出力構成に保持され、なおかつ、φ2 がアクティブの時に逆になる。
【0138】
各々電圧変換ステージSTi は、ステージに加えられる入力電圧Vi を受けるためにステージの第1と第2の入力ノードI1 とI2 に接続されていて且つ前述の比較電位Vr /4を受けるためにも接続されている比較手段70を搭載している。比較手段70は、その出力に於いて3ステート・ロジックデジタルデータa(+1、0、−1)を与え、ステージのデジタル出力として、前述の表2に従って作動する。各々ステージのデジタルデータは、デジタル出力ワードを生成する処理のためにデータ処理手段80に加えられる。デジタルデータaはその動作を制御する電圧調整手段58にも加えられる。
【0139】
電圧調整手段は、スイッチエレメント55と56がオンの時に、ステージの電圧記憶回路の各々の共通ターミナルCOM1 とCOM2 の間で、3つの異なる可能性のある電圧の1つから、比較手段に依って生成されるデジタルデータに依って、選ばれたオフセット電圧VOSを加えるように作動する。a=+1のケース(Vr /4≦Vi のケースに対応している)の時に、選ばれたオフセット電圧は VOS=−Vr になる。a=0(−Vr /4≦Vi <Vr /4のケースに対応している)の時に、選ばれたオフセット電圧はVOS=0になる。a=−1 (Vi <−Vr /4のケースに対応している)の時に、選ばれたオフセット電圧はVOS=+ Vr になる。
【0140】
図10に図示されているADCの動作に於いて、デジタル化されるアナログ入力電圧Vi1は第1電圧比較ステージSTi の第1と第2の入力ノードI1 とI2 の間に加えられる。最初に、制御手段60′は制御信号φ1 を作動するので、第1電圧変換ステージSTi は入力構成(そのスイッチエレメント51乃至54がオン)に保持される。この構成に於いて、スイッチエレメント55と56は共にオフに保持されるので、電圧調整手段58は回路の残りの部分から分離される。
【0141】
φ1 がアクティブの間に、第1ステージSTi の比較手段70は、加えられる入力電圧Vi と比較電位Vr /4を比較して、3ステート・ロジックデジタルデータを比較の結果に基づいて生成する。
φ1 がアクティブの時の周期の終わりの前に、スイッチング信号CKは、制御手段60′に依って第1ステージSTi の各々スイッチ駆動手段4、5に印加されて、ステージSTi の電圧記憶回路VSC1 とVSC2 の各々のスイッチエレメント1がオフに切り替えられるようにするので、第1ステージSTi の入力電圧Vi1がこれらの回路の各々の記憶コンデンサー2の各々に記憶される結果になる。
【0142】
制御手段60′は、次にφ1 の作動をオフにしてφ2 を作動し第1ステージSTi を出力構成に切り替える。この構成に於いて、ステージのスイッチエレメント51乃至54はオフ条件になり、ステージのスイッチエレメント55と56はオン条件になる。電圧調整手段58は従って電圧記憶回路VSC1 とVSC2 の各々記憶コンデンサー2の間で直列に接続されるので、選ばれたオフセット電圧VOS(デジタルデータaに基づいて −Vr ,0,+Vr )が電圧記憶回路VSC1 とVSC2 の各々共通ターミナルCOM1 とCOM2 の間に加えられる。そこで、アナログ変換電圧VC は、電圧調整手段58に依って電圧記憶回路VSC1 とVSC2 の各々の共通ターミナルCOM1 とCOM2 の間に加えられる選ばれたオフセット電圧VOSに依って記憶されていた入力電圧Vi1の2倍と異なる(すなわち、VC1=2Vi1+VOS)ステージSTi の第1と第2の出力ノードO1 とO2 の間に生成される。
【0143】
従って、前述の表2に従って、電圧変換ステージSTi に依って生成される変換電圧VC1は、Vi1と比較電位Vr /4の間の比較の結果に基づいて、2Vi1−Vr 、2Vi1、または2Vi1+Vr になることができる。
図10に図示されているように、ADCの電圧変換ステージは直列に接続されているので、第2電圧変換ステージST2 はその入力電圧Vi2として第1電圧変換ステージSTi に依って生成されるアナログ変換電圧VC1を受ける。前述のように、第2ステージST2 のスイッチエレメント51乃至56は、第1ステージSTi のスイッチエレメント51乃至56が出力構成の時に入力構成にφ2 が制御されるので、第2ステージST2 は、第1ステージSTi に依って生成される比較電圧VC1のその比較動作を、遅れることなく始めることができる。第2ステージST2 のスイッチ駆動手段4乃至5のスイッチング信号CKは、(φ1 がアクティブの間のスイッチ駆動手段4、5のケースのような第1変換ステージSTi よりむしろ)そこでφ2 がアクティブの間に生成されるので、第1ステージSTi のアナログ変換電圧VC1が第2ステージST2 に記憶される。φ2 がアクティブの時の周期の終わりの後で、φ1 は、再びアクティブになり、第2ステージST2 を出力構成に切り替える。それは、従って、アナログ変換電圧VC2を前の(第1)ステージのアナログ変換電圧VC1に基づいて生成する。
【0144】
アナログ変換電圧VC2は、次のステージST3 の入力に加えられ且つ順に(φ1 がアクティブの次の周期に於いて)アナログ変換電圧VC3に変換される。次の電圧変換動作は従って制御信号φ1 とφ2 の作動の各々“スワップ”で行われる。制御信号φ1 とφ2 が各々アクティブの周期t1 とt2 はコンバーターの第1と第2のクロック位相を構成し、第2の位相はコンバーターの各々次のクロック周期の第1クロック位相の終わりの後に始まる。
【0145】
第1ステージSTi は第2ステージST2 が出力構成に切り替えられた後に(第1ステージに依って与えられたばかりのアナログ変換電圧VC1をアナログ変換電圧VC 2に変換するために)入力構成に切り替えられて戻るので、新しいアナログ入力電圧は、φ1 が再び作動されるたびに、コンバーターに依って受けられることができる。このようにして、ADCは新しい変換結果(N個の3ステート・ビットに基づくデジタル出力ワード)を全てのクロック周期に生成することができる。
【0146】
与えられたステージの比較手段70がステージの印加入力電圧と比較電位を直接比較することは不可欠な要素でない。比較は、一方で、コンパレーターの電位と、他方で、電圧記憶回路に記憶されている入力電圧、または比較の前にステージに依って与えられている初期アナログ変換電圧の間で行われると思われる(そこでアナログ変換電圧は補正される)。
【0147】
図10に用いられているN個のステージの代わりに、各々が交互に他の出力を抽出して繰り返し動作する、ちょうど2つの電圧変換ステージを代わりに使用できると思われる。この構成は、1つのクロック周期(すなわち2つのクロック位相)を用いて、3ステート・ロジック・デジタルデータの全ての2つのビットを生成することになる。従って、Nビット変換を行うために、構成はN/2クロック周期をとることになり、これはN個のステージを使用するコンバーターより遥かに遅くなる。要求される回路の大きさは、しかし小さくなると思われる。
【0148】
本発明の異なる態様では、反復して動作する1個の電圧変換ステージだけを有する3状態(3ステート)論理ADCを作ることも可能である。但しこの場合、以下に図11を参照して説明するように、電圧変換ステージは図10のADCの変換ステージSTi における電圧記憶回路とは異なる構成の電圧記憶回路を有する必要がある。
【0149】
図11において、3ステート論理ADCで使用される電圧変換ステージ90は、電圧変換ステージ90の第1及び第2入力ノードI1 とI2 にそれぞれ接続された第1及び第2の変形した電圧記憶回路VSC1 ′とVSC2 ′を有する。
各変形電圧記憶回路は、これまでに図1乃至図7を参照して説明した入力スイッチエレメント1と、単一利得の増幅器エレメント3と、ブートストラップスイッチ駆動手段4、5を有する。しかしながら、各変形電圧記憶回路は、図1の電圧記憶回路における1個のコンデンサー2の代わりに、第1の変形電圧記憶回路VSC1 ′の場合にはC1 とC3 のラベルを付けた2個のコンデンサーを、第2の変形電圧記憶回路VSC2 ′の場合にはC2 とC4の2個のコンデンサーを有する。コンデンサーC1 乃至C4は、通常同一の静電容量であるが、これは電圧変換ステージ90の正確な動作のために必須ではない。
【0150】
各変形電圧記憶回路は、更に数個のスイッチエレメント91乃至106を有し、コンデンサーC1 乃至C4のそれぞれに4個のスイッチエレメントが関係している。すなわち、スイッチエレメント91、92、95及び96はコンデンサーC1 に関係し、スイッチエレメント101、102、105及び106はコンデンサーC2 に関係し、スイッチエレメント93、94、97及び98はコンデンサーC3 に関係し、スイッチエレメント99、100、103及び104はコンデンサーC4に関係する。
【0151】
スイッチエレメント91乃至106は、以下により詳細に説明するように、ブートストラップスイッチ駆動手段により生成される制御信号φ1 とφ2 に応じてオン状態とオフ状態になる。
各電圧記憶回路VSC1 ′とVSC2 ′に関係して、入力スイッチエレメント1と電圧変換ステージ90の関連する入力ノードI1又はI2との間で、入力スイッチエレメントに直列に接続された入力分離スイッチエレメント46、及び(増幅器エレメント3の出力ターミナルの)変形電圧記憶回路の出力ノードと入力スイッチエレメント1の入力側との間に接続されたフィードバックスイッチエレメント48がある。入力分離スイッチエレメント46とフィードバックスイッチエレメント48は、図8の電圧加算回路における同一の名称及び参照番号のスイッチエレメントに対応し、同一の働きを行う。フィードバックスイッチエレメント48はいずれにしろ抵抗に置き換えることが可能である。
【0152】
電圧調整手段58は、ほぼ図10の電圧調整手段58に類似しており、第1及び第2変形電圧記憶回路VSC1 ′とVSC2 ′の間に接続される。更に、コンパレーター手段70は、図10の各電圧変換ステージSTi のコンパレーター手段に類似しており、変形電圧記憶回路の各出力ノード間に接続される。
電圧調整手段58は、更なる複数のスイッチエレメント581乃至588を有する。6個のスイッチエレメント582乃至584と、586乃至588はそれぞれペアでコンパレーター手段によって生成される3ステートデータ「ビット」a i の論理レベルに応じて活性化される。この場合、a i =−1の時に、スイッチエレメント582と586が活性化され、その結果電圧調整手段58の出力ターミナルの間に生成されるオフセット電圧VOSは、あらかじめ定められた基準電圧+Vr に等しくなる。a i =0の時に、スイッチエレメント583と587が活性化され、オフセット電圧VOSはゼロになる。a i =+1の時に、スイッチエレメント584と588が活性化され、オフセット電圧VOSは−Vr に等しくなる。
【0153】
ステージ90の第2及び第1入力ノードI2 とI1 にそれぞれ接続される電圧調整手段58の他の2個のスイッチエレメント581と585の活性化について、以下に説明する。
制御手段61は、図10の制御手段60′にほぼ類似しており、主(マスタ)制御信号φ1Mとφ2Mを生成するだけでなく、それぞれ更にマスタ制御信号SAMM とCONM も生成する。マスタ制御信号φ1M、φ2M及びSAMM は、各変形電圧記憶回路のブートストラップスイッチ駆動手段4、5に印加される。各変形電圧記憶回路のブートストラップスイッチ駆動手段は、マスタ制御信号φ1M、φ2M及びSAMM に対応し関連する変形電圧記憶回路のスイッチエレメントに印加されるブートストラップ制御信号φ1 、φ2 及びSAMPLEを発生させる。ブートストラップ制御信号の電位は、変形電圧記憶回路の増幅器エレメント3の出力ターミナル電位に追従する。変形電圧記憶回路に関係するフィードバックスイッチエレメント48を活性化するのに使用される制御信号CONVERTは、マスタ制御信号CONM から導出されるブートストラップ制御信号であってもよいが、それはブートストラップされるフィードバックスイッチエレメント48に印加される信号として基本的ではないため、マスタ制御信号CONM を直接与えることもできる。
【0154】
図11の電圧変換ステージ90による変換動作の開始時には、等価のデジタル信号に変換されるアナログ入力電圧が、電圧変換ステージ90の第1及び第2入力ノードI1 とI2 の間に印加される。印加されたアナログ電圧のサンプリングを容易にするために、制御手段61は、各変形電圧記憶回路において入力ノードI1 とI2 をスイッチエレメント1と46を介して変形電圧記憶回路の増幅エレメント3の各入力に接続させるように関係するブートストラップ制御信号SAMPLEを活性化させるマスタ制御信号SAMM を発生する。この時、CONVERT制御信号は非活性化され、フィードバックスイッチエレメント48はオフ状態である。
【0155】
電圧調整手段58のスイッチエレメント581と585は、更に制御信号SAMPLEによっても活性化され、電圧調整手段の出力ターミナル電位はそれぞれ第2及び第1入力ノードI2 とI1 の電位に等しい。この時、他のスイッチエレメント582乃至584と586乃至588は、オフ状態に保持される。
入力電圧のサンプリング中に制御信号φ1 が活性であると仮定すると、スイッチエレメント91、95、101及び105はオン状態であり、第1の変形電圧記憶回路VSC1 ′におけるコンデンサーC1 は、上側のプレートが第1入力ノードI1 に接続され、下側のプレートが第2入力ノードI2 に接続される。同様に、第2の変形電圧記憶回路VSC2 ′は、上側のプレートが第2入力ノードI2 に接続され、下側のプレートが第1入力ノードI1 に接続される。従って、各コンデンサーC1 とC2 は印加されたアナログ入力電圧のサンプリングを行うように印加されたアナログ入力電圧を記憶する。
【0156】
制御信号φ1 が活性である間、スイッチエレメント94、98、100及び104は、オン状態にあり、コンデンサーC3 とC4 は増幅器エレメント3の各出力ターミナルの間に交互に平行に接続される。増幅器エレメントは単一の利得を有しているため、サンプル化されたアナログ入力電圧はφ1 の間各コンデンサーC3 とC4 にも記憶される。
【0157】
次に、SAMPLE制御信号は入力電圧のサンプリングを終了するように非活性化され、制御信号φ1 は活性化されたままである。
SAMPLE制御信号が非活性化された後、CONVERT制御信号は変換動作の残りの部分のために、活性化される。単位利得の増幅器エレメント3の入力及び出力ターミナル電位は常に等しいため、入力スイッチエレメント1の入力側及び出力側ターミナルは、同一電位に保持され、エレメント1は、関係する入力ノードI1 又はI2 の電位で付随して生じる変化にかかわらず、オフ状態に安定的に保持される。
【0158】
コンデンサーC3 とC4 で保持されるサンプル化された入力電圧は、コンパレーター手段70により、図10のADCにおけるのと同様の方法で、あらかじめ定められた比較電位Vr /4と比較される。3ステート論理デジタルデータ(+1、0、−1)の第1ビットa1 は、コンパレーター手段70により比較結果に基づいて生成される(表1参照のこと。)。
【0159】
第1データビットa1 が得られた後、電圧調整手段58のスイッチエレメント582乃至584と586乃至588の各ペアは、第1データビットa1 に従って活性化される。このようにして、電圧調整手段58は、出力ターミナルの間に、あらかじめ定められたオフセット電圧VOS(デジタルデータビットa1 に対応した−Vr ,0,+Vr )の1つを生成する。制御信号φ1 はまだ活性化したままであり、スイッチエレメント91、95、101、及び105はすべてオン状態のままであり、スイッチエレメント3の各入力ターミナルの間に、第1の列の接続が存在することになる。この第1の列がコンデンサーC1 、電圧調整手段58及びコンデンサーC2 を構成する。このように、増幅器エレメント3の各入力ターミナルの間の電圧は、コンデンサーC1 とC2 に記憶されたサンプル化されたアナログ入力電圧に第1データビットa1 により選択されたオフセット電圧VOSを加えたものの2倍に等しい第1変換電圧VC1である。このように、電圧変換動作は、表2に従って行われる。
【0160】
増幅器エレメント3の入力ターミナル電位は、増幅器エレメント3によってバッファされており、第1の変換電圧VC1が増幅器エレメント3の各出力ターミナルの間に再生される。
スイッチエレメント94、98、100及び104はすべてオン状態のままであり、コンデンサーC3 とC4 は増幅器エレメント3の各出力ターミナル間に相互に平行に接続され、それぞれが第1の変換電圧VC1を記憶する。
【0161】
第1の変換電圧VC1は、コンパレーター70によって基準電位Vr /4と比較され、第2データビットa2 が比較結果に応じて生成される。
次に、制御手段は制御信号φ1 を非活性化し、制御信号φ2 を活性化する。同時に、第2データビットa2 が電圧調整手段に印加され、このデータビットa2 に応じて新しいオフセット電圧VOSが選択される。制御信号φ2 を活性化することにより、スイッチエレメント93、97、99及び103がオン状態になる。その結果コンデンサーC3 とC4 は電圧調整手段58に直列に接続され、増幅器エレメント3の各入力ターミナルの間に第2の列接続(C3 −VOS− C4 )が形成され、上記の第1の列接続(C1 −VOS− C2 )と置き換わる。従って、この結果得られる増幅器エレメント3の各出力ターミナルの間に生成される新しい変換電圧VC2は、第1の変換電圧VC1に新しく選択されたオフセット電圧VOSを加えた値の2倍に等しくなる。制御信号φ2 を活性化することにより、スイッチエレメント92、96、102及び106はオン状態になり、この新しい変換電圧VC2は増幅器エレメント3の各出力ターミナル間に平行に接続されるコンデンサーC1 とC2 に記憶される。
【0162】
新しい変換電圧VC2は、コンパレーター手段70で基準電位VR /4と比較され、次のデータビットa3 を生成する。次いで、制御信号φ2 は非活性化され、制御信号φ1 が活性化され、更に、データビットa3 が電圧調整手段に印加され、新しいオフセット電圧VOSが選択される。制御信号φ1 が活性化されるので、第1の列接続(C1 −VOS− C2 )が増幅器エレメント入力ターミナルの間の第2の列接続(C3 −VOS− C4 )に置き換わり、コンデンサーC3 とC4 はその結果得られる新しい変換電圧VC3を記憶する。
【0163】
その後、制御信号φ1 とφ2 が交互に活性化され、新しいデータビットai と新しい変換電圧がそれぞれ連続した制御信号位相の間生成される。
図10をを参照して説明したように、データビットai はADCのデータ処理手段80(図示せず)に印加され、もともと印加されたアナログ電圧を表すデジタル出力ワードを生成するように処理される。図11の電圧変換ステージは、N個の3ステートビットに基づくデジタル出力ワードを生成するのにN個のクロック位相が必要であることがわかる。
【0164】
各増幅器エレメント3において、入力ターミナル電位は出力ターミナル電位に等しいため、制御信号φ1 又はφ2 のいずれかが活性である時には、第1変形電圧記憶回路VSC1 ′のスイッチエレメント1、48、91、92、93及び94、及び第2変形電圧記憶回路VSC2 ′の対応するスイッチエレメント1、48、103、104、105及び106の各スイッチエレメントは、2個のターミナルにわたって電圧を有しないことが理解される。
【0165】
コンデンサーの上側のプレートに接続されるスイッチエレメント91乃至94と103乃至106は、オーバーラップ無しに切り換えできる(すなわち、スイッチオフの後遅延無しに切り換えられる。例えば、スイッチエレメント92がオンになる前にスイッチエレメント92はオフする。)。これは、これらのスイッチエレメントが接続される4個のノード(増幅器エレメントの入力ターミナル、増幅器エレメントの出力ターミナル、及び2個のコンデンサーのそれぞれの上側のプレート)は、切り換えの前後(すなわち、各制御信号位相がφ1 からφ2 に変化する等)で同一の電圧を有するためである。この上側のプレートに関係するスイッチ91乃至94と103乃至106がオーバーラップすることなしに切り換わることにより、制御信号の発生が簡単になる。
【0166】
ここで、コンデンサーの下側のプレートに接続されるスイッチ95乃至102は、電荷注入効果を避けるため、コンデンサーの上側のプレートに接続されるスイッチエレメント91乃至94と103乃至106の切り換えの後、所定の短時間で切り換えられることが重要である。この所定の短時間は、この時間の間各増幅器エレメント3の入力ターミナルが他の増幅器エレメント3の出力ターミナルに効果的に組み合わされるという観点から最小化され、正のフィードバックが生じる。この正のフィードバックの効果は、増幅器エレメントが単位利得を有する場合にはあまり重要でないが、電圧変換ステージ90をこの状態にする必要がある絶対的に必要な時間より長くこの状態にするのを避けるのが望ましい。これにより、上側のプレートに接続されるスイッチエレメント91乃至94と103乃至106が設定されると同時に、下側のプレートに接続されるスイッチエレメント95乃至102が切り換わる。
【0167】
第1の変形電圧記憶回路VSC1 ′は、基板を覆う材料の導電性と逆の導電性の1個以上のウエルに形成されることが望ましく、そのウエル又は各ウエルの電位は第1の変形電圧記憶回路の増幅器エレメント3の出力ターミナル電位に対して固定される。これと同様のことが、第2の変形電圧記憶回路のVSC2 ′のスイッチエレメント1と103乃至106にも適用される。このスイッチエレメントの配置により、図1乃至図7の電圧記憶回路に関連して既に説明したのと同一の基本的な方法で、変形電圧記憶回路の寄生静電容量をブートストラップすることが可能になる。
【0168】
図12の電圧変換ステージでは、第1の電圧変換動作が、最初のクロック位相中にアナログ入力電圧がサンプリングされ、このサンプリングは直ちに終了する。これにより、変換動作が高速化されるが、サンプリング中にコンデンサーC1 とC2 の下側のプレートを入力ノード電位に充電するためのべつのスイッチエレメント(電圧調整手段58と一体に示されているエレメント581と585)を備える必要がある。これらのスイッチエレメント581と585を除いて単に最初のクロック位相で(a1 を得るために)比較動作を行うことも可能であり、第1の電圧変換動作は次のクロック位相で実行される。
【0169】
図10又は11を参照して既に説明した電圧変換ステージは、適当な変形を加えることにより、倍電圧及びオフセット動作を必要とするほかのアナログ・デジタル・コンバーターに適用可能である。
図10を参照して既に説明した電圧変換ステージの列を有するADCでの電力消費を最低にするため、「スケール化」した連続ステージにするのが効果がある。この点は、図12を参照してより詳しく説明される。
【0170】
図12に、図10に図示されているADCの最初の3つのステージが概略的に描かれている。第1ステージの記憶コンデンサー2は各々静電容量Cをもっていて、増幅器エレメント3のトランジスターは各々チャンネル幅Wであり、増幅器エレメント3のこれらのトランジスターの各々に流れる電流はIである。
第2ステージに於いて、記憶コンデンサー2は各々静電容量がKCであり、ここで1/kが予め設定されたスケーリング・ファクター(k<1)の時に、増幅器エレメント3のトランジスターは各々幅がkWであり、各々トランジスターを流れる電流はkIになる。同様に、第3ステージに於いて、静電容量はk2 C、トランジスター・チャンネル幅はk2 W、トランジスターの電流はk2 Iになる。
【0171】
従って、各々次のステージは、少なくともこれらの3つのパラメータがスケーリング・ファクター1/kに依って関係されている限りスケールされる。その結果、第1ステージで消費される電流に関して表される、デバイスで消費される総電流は、1+k+k2 +k3 +…… になる。
各々ステージは1/kのノイズパワーをその自らの入力にもっているが、しかし、ADCの入力ターミナルに対して、これは前のステージの利得の積に依って減少される。例えば、第2ステージのノイズパワー=1/k、前のステージの電圧利得(このケースでは第1ステージの電圧利得)=2、従ってノイズパワーは、入力ノイズパワーに対して、1/kになる。
【0172】
従って、全てのステージの入力の総ノイズパワーは、1+1/4k+1/16k2 +1/64k3 +……になる。例えば、k=1/2の時には、総ノイズ=1+1/2+1/4+1/8+……=2になる。
同様に、k=1/2を前述の総電流の式に代入すると、総電流=1+1/2+1/4+1/8+……=2になる。
【0173】
全パワー一定の場合、全てのサイズはパワー加算の結果に依って割り算されなければならない、すなわち、入力ノイズは同じファクターで掛け算され、次式のように表される。
【0174】
【数1】
Figure 0003636736
【0175】
入力ノイズは、m=1、すなわちk=1/2の時に最小になる。
前述の分析から、ADCの最小総消費電力の最適のスケーリング・ファクターは2になることが明らかである。これは、最小ノイズレベルを与えられた消費電力に、または最小消費電力レベルを与えられノイズレベルに提供する。従って、各々ステージは前のステージのサイズの実質的に半分になる。この場合、総消費電力は第1ステージの消費電力の2倍に等しくなり、なおかつ、総ノイズパワーは第1ステージのノイズパワーの2倍に等しくなる。
【0176】
図13は、16ステージADCの場合にスケーリング・ファクター1/kをもつ総電流とノイズの変化の様子を示している。図13に示すように、与えられたパワー消費に対して最小のノイズと与えられノイズレベルに対して最小のパワー消費は各々スケーリング・ファクター1/k=2の時に現れる。
前述の分析は変換ステージのスケーリングがADCの全てのステージに適用されることを示しているが、実際に、ステージのスケーリングは、16ステージ列(17ビットADC)の場合、これは、最後のステージが第1ステージのサイズの1/216=1/65536倍だったことを意味しているので、最終ステージまで続けることができない。
【0177】
シリーズの特定のステージに於いて、ステージ・サイズが適度に小さくなる時に、全ての次のステージは同じサイズにされる、すなわち、これは、ノイズを少し大きくするが、広い範囲のサイズが要求されないことを意味している。
例えば、スケーリングが6つのステージの後に停止する場合、最小ステージのサイズ(6番目と全ての次のステージに用いられる)は第1ステージのサイズに対して1/32になる。この場合、全パワー=1+1/2+1/4+1/8+1/16+1/32+1/32+1/32+……になる。
【0178】
いちど最小ステージサイズが選択されると、該サイズのステージは、最大のステージを形成するために平行にされる(またはレイアウトで“ストレッチされる”)ことができる“ユニット”ステージとしてデザインされることができる。例えば、ユニットステージが第1ステージに対して1/32のサイズになる場合、第1ステージ=32の平行ユニット、第2ステージ=16の平行ユニット、第3ステージ=8の平行ユニットになる。
【0179】
サイズが 1/32 のユニットステージを使用するADCのチップに関して1つの考えられるレイアウトが図14に図示されている。
表3は与えられた最小サイズのステージの場合、最適スケーリング・ファクター1/kは、15ステージADC(16ビット)のケースの異なる最小ステージに最適のスケーリング・ファクターを示す表である。表3から明らかなように、最適のスケーリング・ファクターは非常に2に近い。
【0180】
【表3】
Figure 0003636736
【0181】
スケーリングが停止されない時の最適ノイズパワー値4.0と比べると、1/32の最小ステージサイズは約10%または0.46dBの全てのパワーの増加またはノイズの増加の結果になるが、1/16の最小ステージサイズは、パワーまたはノイズを約25%または0.99dBだけ増加する結果になる。これらの2つの最小ステージ・サイズは好ましい対策になると思われる。
【0182】
前述のようなスケーリングは、本発明の別の態様に於いて、電圧変換ステージの列を有する任意の適切なタイプのアナログ・デジタル・コンバーターに効果的に応用されることができる。例えば、スケーリングを前述のEP−B −0214831 に説明されている電圧変換回路に、その文献に前述の複数のステージが直列に互いに接続されていたケースに、応用することも可能と思われる。
【0183】
図10のADCに依って費やされる電流は、記憶コンデンサー2の静電容量に直接比例し且つ変換率に逆比例する。これは、高い分解能と高い変換率に対してもパワーがとうぜん増加されることを意味している。しかし、16ビット10Ms/sのコンバーターは0.5W未満しか消費しないことが推定される。これは、変換率を1Ms/sに下げると、パワーは50mWまたは100ks/sで5mWに減少されることを示唆している。
【0184】
低い分解能(例えば12ビット)の場合、パワーと面積は、静電容量が非常に小さいので急激に減少する。12ビット50Ms/sのコンバーターは、異なる変換ステージに依って与えられるデジタルデータを処理するために要求されるデジタル論理回路の消費電力を含めて200mWを消費すると推定される。
これは、従来のコンバーターと比べると遥かに改善された電力/速度のつりあいのとれた関係を示している。その1つの主な理由は、直列の各々ステージが、前のステージのサイズと電力の半分になり、第1ステージの約2倍となるコンバーターの総電力を与えることができるためである。これは大幅な減少をチップサイズに提供し、16ビットMs/sのコンバーターは適切な処理で10mm2 より狭い面積しか占めないと推定される。
【0185】
倍電圧回路と比較手段に他に、Nビット出力ワードのADCのデジタル論理回路は(N−1)2 のD型タイプ・フリップフロップと(N−1)フルアダーを搭載していて、全てが変換率でクロック計時される。16ビット分解能の場合、これは、約2000の基本セル・カウントと、16ビット分解能で推定アナログ消費電力の約25%の消費電力を5Vと10MHzで与える(15ビット分解能の場合、アナログ消費電力は4のファクターだけ減少されると思われる)。
【0186】
前述のように、ADCの電圧変換ステージの増幅器エレメント3の各々の利得は完全に単位値になる。そうでない場合、利得エラーを伝搬機能に導くこととは別に、更なる利得エラーが、寄生静電容量が完全にブートストラップされないので生じる結果になる。これらのエラーに起因する非直線性は、各々ステージで用いられる基準電圧Vr を列のステージと共に少し調整すれば補正されることができる。例えば、0.1%の利得エラーを補正するには、Vr を各々次のステージに対して0.1%だけ減少すればよい。
【0187】
代わりに、または更に、デジタルデータを各々ステージから受けるデジタルデータ処理手段80は、次のステージのデジタルデータを機能的に調整すれば、アナログ回路の電圧変換エラーに対して任意に要求される補正を実施できる。
高速動作が可能なADCを生成するには、スイッチエレメントおよびステージの増幅器エレメントの動作が十分に高速であることが基本条件になる。単位利得増幅器エレメント3は通常の演算増幅器より遥かに高速にデザインされることができて、なおかつ、SPICEシミュレーションは50nsの安定時間(10Ms/sの変換率に対応している)は適切な処理で16ビットの精度に具体的に相応していることを示していた。デプレションモードNMOSバッファを用いて且つ一部の分解能を犠牲にすると、10nsの安定時間が、12ビットの精度に対して可能になる。これは、図10のデザインに基づくADCはHDTVのようなアプリケーションに使用可能であることを示唆している。
【0188】
回路のノイズは図10のADCでは重要な問題でない、何故ならば、増幅器エレメントに起因するノイズは、それが増幅器エレメントに達する前に、アナログ入力電圧の倍圧に依って効果的に減少されるからである。増幅器エレメントは、それらが kT/C ノイズより少ないノイズに関連するようにデザインされることができるが考えられる。この kT/C ノイズは、任意に切り替えられるコンデンサー回路に於いて与えられ記憶されている電圧サンプルの精度を制約する熱ノイズが原因であり、なおかつ、非常に小さいコンデンサーが用いられることを妨げる。16ビットの信号とノイズの比率の場合、少なくとも10pFの記憶コンデンサーが次のステージに要求され、各々後のステージで半分に減少することが推定される。
【0189】
最高の特性とするために、図10のADCは、p−ウェル(n−基板)CMOSプロセスに依って、望ましくはデプレション・モード・デバイスを用いて好都合に生成される。
十分に大きい電圧スイングを得ることは単独の5V電源を用いても難しい(小さい電圧スイングは、低いノイズ・レベルが異なるステージを形成する回路に要求されることを意味している)、なおかつ、この問題は3.3Vのような低い電源電圧で益々難しくなる。
【0190】
しかし、ADCのデバイスは、それらが直列に接続されているので、完全に電源電圧に印加されるわけでない。すなわち、ソース/ドレイン・ダイオードだけが高電圧に印加されるが、これでさえも電源電圧と同じ大きさでない。最大電圧(5V)はウェル基板の接合部に生成される。この観点から、±3V(または±3.3V)正負両電源を、0V〜+3Vの範囲で作動する(最小限の幾何学的形状の)デジタル回路と、±3Vを使用するアナログ回路と共に使用することが望ましいと思われる。この正負両電源アプローチは、入力信号が0Vの何れかの側にスイングできるので直流結合されることができる大きな長所も有している。デジタルの消費電力も実効デジタル論理電源電圧の低下に従って減少され、なおかつ、これは十分な減少を総消費電力に与えると思われる。
【0191】
より小規模の幾何学的形状は、最大クロック周波数の向上を、これがアナログ消費電力に依って制限されない場合でも可能にすることができる。分割式電源装置の主な長所は、従って、ADCの動作の最高速度を向上すると思われる向上されるデジタル速度と減少される消費電力にある。
【0192】
【発明の効果】
本発明により、増幅器エレメントの浮遊容量のために生じるコンデンサと増幅器エレメントとの間の電流が低減されるため、コンデンサに蓄積される電荷により生じる電圧の変動が低減され、電圧記憶回路の精度が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を具体的に実施する電圧記憶回路の回路図を示している。
【図2】図1の回路に搭載されている増幅器エレメントの1つの設計例を示している。
【図3】図1の回路で使用している増幅器エレメントの別の設計例を示している。
【図4】図1の回路に搭載されている入力スイッチ・エレメントを更に詳細に示している。
【図5】増幅器エレメントの別の設計を、図1の回路で使用している、スイッチ・ドライブ手段の事例と共に示している。
【図6】図1の回路の集積回路基板上での考えられるレイアウトの1つを示す図であり、(A)が平面図を、(B)が断面図を示している。
【図7】図1の回路の集積回路基板上での考えられるレイアウトの別つの例を示す図であり、(A)が平面図を、(B)が断面図を示している。
【図8】図1に図示されている電圧記憶回路を使用する電圧加算回路の回路図を示している。
【図9】図1に図示されている2つの電圧記憶回路を使用する倍電圧回路の回路図を示している。
【図10】複数の変換ステージを備えていて、各々が図9の倍電圧回路に基づいている、アナログ・デジタル・コンバーターの一部の回路図を示している。
【図11】単一の変換ステージを有する前述の本発明の第2の態様のアナログ・デジタル・コンバーターの部分的な回路図を示す図である。
【図12】図10のコンバーターにおいてステージを或る値から次の値にスケーリング・ファクターに依ってスケーリングする長所を示す、図10のコンバーターの部品の略図である。
【図13】 16のステージをもつ図10に図示されているコンバーターのケースに於いて、コンバーターの総消費電力とスケーリング・ファクターの間の関係と、コンバーターの総ノイズ量とスケーリング・ファクターの間の関係を示すグラフである。
【図14】チップに関して図10のコンバーターのレイアウトの1つの例を示す略図である。
【図15】従来の電圧記憶回路の回路図を示している。
【図16】図15の従来例の回路に搭載されている増幅器エレメントを更に詳細に示している。
【符号の説明】
1…スイッチエレメント
2…記憶コンデンサー
3…増幅器エレメント
4…電位生成回路(スイッチ駆動手段)
5…セレクター回路(スイッチ駆動手段)
31…カスケードソースフォロア
32…電流ソース
33…入力トランジスター
34…カスケードトランジスター
35…バイアス発生器
44…ブートストラップコンデンサー

Claims (42)

  1. 一つの基板上に形成された電圧記憶回路であって、
    前記電圧記憶回路の入力ターミナルに入力スイッチエレメントを介して接続された第1プレートと、前記電圧記憶回路の共通ターミナルに接続された第2プレートとを有し、前記電圧記憶回路が作動中に前記入力ターミナルと前記共通ターミナル間の電圧を蓄える記憶コンデンサーと、
    前記第1プレートに接続された入力と、前記電圧記憶回路の出力ターミナルに接続された出力を有し、前記記憶コンデンサーに蓄えられた電圧に基づいて出力信号を出す増幅器エレメントとを備え、
    前記増幅器エレメントは、前記第1プレートに接続されたゲート電極を有したFET入力トランジスタと、
    前記FET入力トランジスタのソース電極に接続された電流ソースと、
    前記FET入力トランジスタのドレイン電極に直列に接続されるカスケードFETトランジスタと、
    前記FET入力トランジスタのソース電極と前記カスケードFETトランジスタのゲート電極との間に接続され、該電極間の電位差を実質的に一定に維持するバイアス生成器とを含み、
    前記入力スイッチエレメントと前記FET入力トランジスタは、基板周囲の導電型と逆の導電型であるウェル内に配置され、前記ウェルは回路動作中に第1プレートの電位に追従する電位に保たれる電圧記憶回路。
  2. 前記入力スイッチエレメントのスイッチング電極の電位を変化させ、オン状態とオフ状態を切り換える信号を出力するスイッチ駆動手段を更に備える請求項1に記載の電圧記憶回路。
  3. 前記入力ターミナルと前記入力スイッチエレメントの入力側の間に挿入されていて、入力スイッチエレメントの入力側の電位を、前記入力スイッチエレメントがオフ状態に変えられた後に、記憶コンデンサーの前記第1プレートの電位に対して実質的に固定して保持するための入力電位保持手段を更に備える請求項2に記載の電圧記憶回路。
  4. 電圧記憶回路であって、
    前記電圧記憶回路の入力ターミナルに入力スイッチエレメントを介して接続された第1プレートと、前記電圧記憶回路の共通ターミナルに接続された第2プレートとを有し、前記電圧記憶回路が作動中に前記入力ターミナルと前記共通ターミナル間の電圧を蓄える記憶コンデンサーと、
    前記入力スイッチエレメントのスイッチング電極の電位を変化させ、オン状態とオフ状態を切り換える信号を出力するスイッチ駆動手段と、
    前記入力ターミナルと前記入力スイッチエレメントの入力側の間に挿入されていて、入力スイッチエレメントの入力側の電位を、前記入力スイッチエレメントがオフ状態に変えられた後に、記憶コンデンサーの前記第1プレートの電位に対して実質的に固定して保持するための入力電位保持手段と、
    前記第1プレートに接続された入力と、前記電圧記憶回路の出力ターミナルに接続された出力を有し、前記記憶コンデンサーに蓄えられた電圧に基づいて出力信号を出す増幅器エレメントとを備え、
    前記増幅器エレメントは、前記第1プレートに接続されたゲート電極を有したFET入力トランジスタと、
    前記FET入力トランジスタのソース電極に接続された電流ソースと、
    前記FET入力トランジスタのドレイン電極に直列に接続されるカスケードFETトランジスタと、
    前記FET入力トランジスタのソース電極と前記カスケードFETトランジスタのゲート電極との間に接続され、該電極間の電位差を実質的に一定に維持するバイアス生成器とを含む電圧記憶回路。
  5. 一つの基板の上に形成されていて、前記入力スイッチエレメントと前記増幅器エレメントの入力デバイスは前記の基板を周囲の導電型とは逆の導電型の一つまたは複数のウェルの内部に配置されていて、前記ウェルの電位を前記第1プレートの電位に追従させる手段を備える請求項4に記載の電圧記憶回路。
  6. 前記スイッチング電極電位は前記出力信号から導出される請求項2乃至5の何れか1項に記載の電圧記憶回路。
  7. 前記スイッチ駆動手段は、前記出力ターミナルに接続されていて、受信されるスイッチング信号に基づいて、前記入力スイッチエレメントをオン状態に保持するためにはオン電位を、又は前記の入力スイッチエレメントをオフ状態に保持するためにはオフ電位を、前記スイッチング電極に加えるように動作し、前記オンとオフの電位は前記出力ターミナルの電位に対してそれぞれ実質的に固定されるが互いに予め設定された値だけ異なる請求項6に記載の電圧記憶回路。
  8. 前記出力ターミナルの電位に対してそれぞれ固定された電位となるために前記出力ターミナルに接続されている第1と第2バイアスラインを備え、第2バイアスラインの電位は前記オンとオフの電位の一つと等しくて且つ前記第1と第2バイアスライン間の電位差は前記予め設定された値より大きいか或いは等しく、
    前記スイッチ駆動手段は、ブートストラップコンデンサーを備えており、該ブートストラップコンデンサーの一つのプレートは、前記スイッチング電極電位を与えるようにスイッチング電極に接続されていて、且つ前記ブートストラップコンデンサーの両方のプレートと前記バイアスラインに接続されている接続手段も備えており、
    該接続手段は、スイッチング電極電位がオンとオフの電位の一つからこれらの電位の他のものに変えられる時に、前記ブートストラップコンデンサーの前記一つのプレートを前記第2バイアスラインに接続し、前記ブートストラップコンデンサーの他方のプレートを前記第2バイアスラインに接続するように作動する充電構成から、前記一つのプレートを第2バイアスラインから分離し、前記他方のプレートを前記第2バイアスラインに接続するように作動する浮遊構成に切り替えることができ、これにより前記一つのプレートの電位が第2バイアスラインの電位から前記予め設定された値だけ異なる電位に変えられることを可能にした請求項7に記載の電圧記憶回路。
  9. 前記出力ターミナルの電位に対してそれぞれ固定された電位となるために前記出力ターミナルに接続されている第1と第2と第3のバイアスラインを備え、該第3バイアスラインの電位は前記オンとオフの電位の一つと等しく且つ前記第1と第2バイアスライン間の電位差は前記の予め設定された値より大きいか或いは等しく、
    前記スイッチ駆動手段は、ブートストラップコンデンサーを備えており、該ブートストラップコンデンサーの前記一つのプレートは前記スイッチング電極電位を与えるように前記スイッチング電極に接続されており、且つ前記ブートストラップコンデンサーの両方のプレートと前記バイアスラインに接続されている接続手段も備えており、
    該接続手段は、スイッチング電極電位がオン状態とオフ状態の電位の一つからこれらの電位の他のものに変えられる時に、前記ブートストラップコンデンサーの前記一つのプレートを前記第3バイアスラインに接続し、前記ブートストラップコンデンサーの前記他方のプレートを前記第1バイアスラインに接続するように作動する充電構成から、前記ブートストラップコンデンサーの前記一つのプレートを第3バイアスラインから分離し、前記他方のプレートを前記第2バイアスラインに接続するように作動する浮遊構成に切り替えることができ、これにより前記一つのプレートの電位が第3バイアスラインの電位から前記の予め設定された値だけそれと異なる電位に変えられることが可能である請求項7に記載の電圧記憶回路。
  10. 前記電気入力スイッチエレメントはMOSFETトランジスターであり、且つ前記のオンとオフの電位の一つが前記出力ターミナルの電位と実質的に同じである請求項7、8又は9の何れか1項に記載の電圧記憶回路。
  11. 1つまたは複数の導電性シールドがそのウェル或いは各ウェルの部分に延長されていて、なおかつ、そのシールド或いは各シールドの電位を前記第1のプレートの電位に追従させる手段も備えている請求項1、2、3又は5に記載の電圧記憶回路。
  12. 前記増幅器エレメントは、実質的に同一な第1回路部と第2回路部からなり、
    前記第1回路部は、前記FET入力トランジスタと前記カスケードFETトランジスタを含み、
    前記第2回路部は、前記電流ソースを含む請求項1から10の何れか1項に記載の電圧記憶回路。
  13. 前記増幅器エレメントは、実質的に同一な第1回路部と第2回路部からなり、
    前記第1回路部は、前記FET入力トランジスタと前記カスケードFETトランジスタを含み、
    前記第2回路部は、前記電流ソースを含み、
    前記第1回路部は前記ウェルの内部に配置され、前記第2回路部は基板周囲の導電型とは逆の導電型を有する更なるウェルの内部に形成され、該ウェルの電位は回路の電源ラインの電位に対して実質的に固定されている請求項1、2、3、5、又は12の何れか1項に記載の電圧記憶回路。
  14. 前記入力電位保持手段は、前記入力スイッチエレメントと直列に接続されていて、なおかつ、前記入力スイッチエレメントがオフ状態に変えられた後に、そのエレメントの入力側を前記入力ターミナルから分離するように作動できる更なるスイッチエレメントを備えている請求項3、4又は5の何れか1項に記載の電圧記憶回路。
  15. 前記入力電位保持手段は前記入力スイッチエレメントの入力側と前記記憶コンデンサーの前記第2プレートの間に接続されている補助コンデンサーを更に備えている請求項14に記載の電圧記憶回路。
  16. 前記入力電位保持手段は、前記増幅器エレメントと前記入力スイッチエレメントの入力側の間に接続されているフィードバックスイッチエレメントを更に備え、該フィードバックスイッチエレメントは、前記入力スイッチエレメントの入力側が分離されている間に、記憶コンデンサーの前記第1プレートの電位から導出された電位を加えるように作動するフィードバックスイッチエレメントを更に備えている請求項14又は15に記載の電圧記憶回路。
  17. 前記増幅器エレメントが実質的に単一の利得を備えている請求項1乃至16の何れか1項に記載の電圧記憶回路。
  18. 作動中に、第1と第2と第3の電位が加えられる第1と第2と第3の入力ノードと、
    圧記憶回路と、
    該電圧記憶回路の出力ターミナルに接続されている出力ノードと、
    前記入力ノードと前記電圧記憶回路に接続されていて、電圧記憶回路の入力スイッチエレメントがオフ状態に変えられた後に、入力構成から出力構成に切り替わることができるスイッチング手段とを備える電圧加算回路であって、
    前記電圧記憶回路は、
    前記電圧記憶回路の入力ターミナルに入力スイッチエレメントを介して接続された第1プレートと、前記電圧記憶回路の共通ターミナルに接続された第2プレートとを有する記憶コンデンサーと、
    前記第1プレートに接続された入力と、前記電圧記憶回路の出力ターミナルに接続された出力を有し、前記電圧記憶回路の差動中に、前記出力ターミナルの電位が前記1プレートの電位に実質的に等しい単一ゲインの増幅器エレメントとを備え、
    前記増幅器エレメントは、前記第1プレートに接続されたゲート電極を有したFET入力トランジスタと、
    前記FET入力トランジスタのソース電極に接続された電流ソースと、
    前記FET入力トランジスタのドレイン電極に直列に接続されるカスケードFETトラ ンジスタと、
    前記FET入力トランジスタのソース電極と前記カスケードFETトランジスタのゲート電極との間に接続され、該電極間の電位差を実質的に一定に維持するバイアス生成器とを含み、
    前記スイッチング手段の前記入力構成は、前記第1と第2の入力ノードを電圧記憶回路の各入力ターミナルと共通ターミナルに接続して、前記電圧記憶回路の記憶コンデンサーの前記第1と第2の電位間の電位差の記憶を可能にし、前記の出力構成は前記電圧記憶回路の共通ターミナルを前記第3入力ノードに接続して、前記出力ノードに於いて前記第3の電位と前記第1と第2の電位間の記憶されている差の合計と実質的に等しい出力電位を生成する電圧加算回路。
  19. 作動中に、第1のペアの入力電圧が加えられる第1と第2の入力ノード、第2のペアの入力電圧が加えられる第3と第4の入力ノード、及び第3のペアの入力電圧が加えられる第5と第6の入力ノードと、
    1及び第2電圧記憶回路と、
    前記第1及び第2電圧記憶回路の各出力ターミナルに接続されている第1と第2の出力ノードと、
    前記入力ノードと前記第1及び第2電圧記憶回路に接続されていて、前記第1及び第2電圧記憶回路のそれぞれの入力スイッチエレメントがオフ状態に変えられた後に、入力構成から出力構成に切り替わることができるスイッチング手段とを備える電圧加算回路であって、
    前記第1及び第2の各電圧記憶回路は、
    前記電圧記憶回路の入力ターミナルに入力スイッチエレメントを介して接続された第1プレートと、前記電圧記憶回路の共通ターミナルに接続された第2プレートとを有する記憶コンデンサーと、
    前記第1プレートに接続された入力と、前記電圧記憶回路の出力ターミナルに接続された出力を有し、前記電圧記憶回路の差動中に、前記出力ターミナルの電位が前記1プレートの電位に実質的に等しい単一ゲインの増幅器エレメントとを備え、
    前記増幅器エレメントは、前記第1プレートに接続されたゲート電極を有したFET入力トランジスタと、
    前記FET入力トランジスタのソース電極に接続された電流ソースと、
    前記FET入力トランジスタのドレイン電極に直列に接続されるカスケードFETトランジスタと、
    前記FET入力トランジスタのソース電極と前記カスケードFETトランジスタのゲート電極との間に接続され、該電極間の電位差を実質的に一定に維持するバイアス生成器とを含み、
    前記スイッチング手段の前記入力構成は、前記第1と第2の入力ノードを前記第1電圧記憶回路の各入力ターミナルと共通ターミナルに接続し且つ前記の第3と第4の入力ノードを前記第2電圧記憶回路の各入力ターミナルと共通ターミナルにも接続して、前記第1電圧記憶回路の前記記憶コンデンサーに於いて、前記第1ペアの2つの入力電圧の間の第1の電位差の記憶を可能にし、前記第2電圧記憶回路の前記記憶コンデンサーに於いて、前記第2ペアの2つの入力電圧の間の第2の電位差の記憶を可能にし、なおかつ、前記出力構成は第1と第2の電圧記憶回路の各々共通ターミナルを第5と第6の入力ノードにそれぞれ接続して、前記第1と第2の出力ノードの間でペアの出力電圧を生成し、その間の電位差は前記第3ペアの2つの入力電圧間の電位差と記憶されている第1と第2の電位差の間の差との合計に実質的に等しい電圧加算回路。
  20. 作動中に、2倍にされる入力電圧がその間に加えられる第1と第2の入力ノードと、
    1及び第2電圧記憶回路と、
    該第1及び第2の電圧記憶回路の各出力ターミナルにそれぞれ接続されている第1及び第2の出力ノードと、
    前記入力ノードと前記第1及び第2電圧記憶回路に接続されていて、前記第1及び第2電圧記憶回路のそれぞれの入力スイッチエレメントがオフ状態に変えられた後に、入力構成から出力構成に切り替わることができるスイッチング手段とを備える倍電圧回路であって、
    前記第1及び第2の各電圧記憶回路は、
    前記電圧記憶回路の入力ターミナルに入力スイッチエレメントを介して接続された第1プレートと、前記電圧記憶回路の共通ターミナルに接続された第2プレートとを有する記憶コンデンサーと、
    前記第1プレートに接続された入力と、前記電圧記憶回路の出力ターミナルに接続された出力を有し、前記電圧記憶回路の差動中に、前記出力ターミナルの電位が前記1プレートの電位に実質的に等しい単一ゲインの増幅器エレメントとを備え、
    前記増幅器エレメントは、前記第1プレートに接続されたゲート電極を有したFET入力トランジスタと、
    前記FET入力トランジスタのソース電極に接続された電流ソースと、
    前記FET入力トランジスタのドレイン電極に直列に接続されるカスケードFETトランジスタと、
    前記FET入力トランジスタのソース電極と前記カスケードFETトランジスタのゲート電極との間に接続され、該電極間の電位差を実質的に一定に維持するバイアス生成器とを含み、
    前記スイッチング手段の前記入力構成は、前記第1入力ノードを前記第1電圧記憶回路の前記入力ターミナルと前記第2電圧記憶回路の前記共通ターミナルの両方に接続し且つ前記第2入力ノードを前記第2電圧記憶回路の前記入力ターミナルと前記第1電圧記憶回路の前記共通ターミナルの両方に接続して、前記電圧記憶回路の各記憶コンデンサーをそれぞれ前記の入力電圧に充電させることができ、前記出力構成は、第1と第2の電圧記憶回路の各共通ターミナルを互いに接続して前記記憶コンデンサーは前記第1と第2の出力ノードの間で互いに直列に接続され、これらの出力ノードの間で前記入力電圧の実質的に2倍になる出力電圧を生成する倍電圧回路。
  21. 請求項20に記載の倍電圧回路と、
    前記入力電圧と等しいか或いはそれから誘導される作動電圧を受けるように接続され且つ比較電位を受けるように接続されていて且つ前記作動電圧と前記比較電位を比較して比較の結果を示すデジタルデータを出力するコンパレーター手段と、
    前記第1と第2の電圧記憶回路の各共通ターミナルの間に接続されていて、なおかつ、前記のスイッチング手段が前記入力構成から前記出力構成に切り替えられた後に、これらのターミナルの間に、前記デジタルデータに依って、複数の予め設定された値から選択された値をもつオフセット電圧を印加して、前記出力ノードの間に、前記入力電圧の2倍から選択されたオフセット電圧だけ異なるアナログ変換電圧を生成する電圧調整手段とを備えている電圧変換ステージ。
  22. 前記電圧記憶回路のスイッチング手段が前記入力構成にある間に、前記コンパレーター手段が前記比較を実行する請求項21に記載の電圧変換ステージ。
  23. 前記コンパレーター手段は、前記第1と第2の入力ノードに接続され、前記入力電圧は前記作動電圧になり、
    前記入力電圧が前記比較電位×(−1)より小さい時に第1のデジタルデータを与え、
    前記入力電圧が前記比較電位より大きいか等しい時に第2のデジタルデータを与え、
    前記入力電圧が前記比較電位より小さく且つ前記比較電位×(−1)より大きいか等しい時に第3のデジタルデータを与え、
    ここで、前記第1のデジタルデータによって選択されたオフセット電圧は+Vrefであり、
    前記第2のデジタルデータによって選択されたオフセット電圧は−Vrefであり、
    前記第3のデジタルデータによって選択されたオフセット電圧はゼロであり、
    また、前記比較電位は実質的にVref/4である請求項21又は22に記載の電圧変換ステージ。
  24. 各々が請求項21から23の何れか1項に記載の電圧変換ステージであって、デジタル化されるアナログ電圧が列の第1ステージの前記第1と第2の入力ノードの間に加えられ、それぞれ後のステージの前記第1と第2の入力ノードは直前のステージの第1と第2の出力ノードにそれぞれ接続されている列状に接続されたN個のステージと、
    連続した前記ステージの各スイッチング手段を前記入力構成から前記出力構成に切り替えさせるように作動し、該切り替えは、ステージのそれぞれに於いて、第1ステージを除いて、直前のステージのスイッチング手段は出力構成にあるので前記切り替えの前にステージはその入力電圧としてその直前のステージに依って生成されたアナログ変換電圧を受信し、それに基づいたアナログ変換電圧をスイッチング後に生成するように制御する制御手段と、
    前記N個のステージに依って与えられた前記デジタル・データを受信するように接続されていて、そこから加えられたアナログ電圧を表す、N+1ビットのデジタル出力ワードを導出するように作動するデータ処理手段を備えるアナログ・デジタル・コンバーター。
  25. 交互に第1と第2のクロック位相で作動、前記制御手段は、前記第1クロック位相に於いて列の奇数ステージの各スイッチング手段を入力構成に保持し、偶数ステージの各スイッチング手段を前記の出力構成に保持するが、前記の第2クロック位相に於いては、偶数ステージの各スイッチング手段を前記入力構成に保持し、奇数ステージの各スイッチング手段を出力構成に保持するように作動する請求項24に記載のアナログ・デジタル・コンバーター。
  26. 列の隣接するステージの少なくとも1つのペアに対して、ペアの第2ステージの前記第1と第2の電圧記憶回路の各記憶コンデンサーは、ペアの第1ステージの同等の記憶コンデンサーより静電容量が小さい請求項24または25に記載のアナログ・デジタル・コンバーター。
  27. 或るペア或いは各ペアの2つのステージの記憶コンデンサーの静電容量の比率が約2:1である請求項26に記載のアナログ・デジタル・コンバーター。
  28. 列の隣接するステージの少なくとも1つのペアに対して、ペアの第2ステージの前記第1と第2の電圧記憶回路の各増幅器エレメントの入力トランジスタは、ペアの第1ステージの同等の入力トランジスタより幅が狭い請求項25または27の何れか1項に記載のアナログ・デジタル・コンバーター。
  29. 或るペア或いは各ペアの2つのステージの入力トランジスタの幅の比率が約2:1である請求項28に記載のアナログ・デジタル・コンバーター。
  30. 列の隣接するステージの少なくとも1つのペアに対して、ペアの第2ステージの前記第1と第2の電圧記憶回路の増幅器エレメントの入力トランジスタの制御可能な電流路の各電流はペアの第1ステージの同等の電流より小さい請求項24から29の何れか1項に記載のアナログ・デジタル・コンバーター。
  31. 或るペア或いは各ペアの2つのステージの電流比が約2:1である請求項30に記載のアナログ・デジタル・コンバーター。
  32. コンバーターの2番目からn番目のステージの各々に於いて、ステージの前記第1と第2の電圧記憶回路の各記憶コンデンサーは、それぞれ直前のステージの同等の記憶コンデンサーの静電容量に対して、これらの2番目からn番目のステージにかけて一定である第1スケーリングファクターに依って減少される請求項24または25に記載のアナログ・デジタル・コンバーター。
  33. 前記の第1スケーリングファクターが約2である請求項32に記載のアナログ・デジタル・コンバーター。
  34. 2番目からn番目のステージの各々に於いて、ステージの各電圧記憶回路の増幅器エレメントの入力デバイスは、直前のステージの同等の増幅器エレメントの入力デバイスのチャンネル幅に対して、これらの2番目からn番目のステージにかけて一定である第2スケーリングファクターに依って減少されるチャンネル幅となる請求項24、25、32又は33のいずれか1項に記載のアナログ・デジタル・コンバーター。
  35. 前記の第2スケーリングファクターが約2である請求項34に記載のアナログ・デジタル・コンバーター。
  36. コンバーターの2番目からn番目のステージの各々に於いて、ここで2≦n≦Nの時に、ステージの増幅器エレメントの入力デバイスの前記の制御可能な電流路の各々の電流は、直前のステージの同等の制御可能な電流路の電流に対して、これらの2番目からn番目のステージにかけて一定である第3スケーリング・ファクターに依って減少されるように制御される、請求項24、26、32、33、34、又は35のいずれか1項に記載のアナログ・デジタル・コンバーター。
  37. 前記の第3スケーリングファクターが約2である請求項36に記載のアナログ・デジタル・コンバーター。
  38. 列の隣接するステージの少なくとも1つのペアに対して、ぺアの第2ステージにおけるオフセット電圧の前記の予め設定された値の少なくとも1つが、ペアの第1ステージのオフセット電圧の対応する予め設定された値と比較されて部分的に調整される請求項24から37のいずれか1項に記載のアナログ・デジタル・コンバーター。
  39. 前記のデータ処理手段が、シリーズの後のステージの各コンパレーター手段に依って与えられるデジタルデータを、これらの後のステージに於ける電圧変換エラーの補正を促すために、部分的に調整するように作動する請求項24から38のいずれかに記載のアナログ・デジタル・コンバーター。
  40. それぞれが請求項21から23のいずれか1項に記載の電圧変換ステージであり、第1ステージの前記第1と第2の出力ノードは第2ステージのそれぞれの第1と第2の入力ノードに接続されていて且つ前記の第2ステージの前記第1と第2の出力ノードは第1ステージのそれぞれの第1と第2の入力ノードに接続されるように互いに接続されていて、デジタル化されたアナログ電圧は、コンバーターの反復変換動作の開始時に、前記の第1ステージの第1と第2の入力ノードの間に加えられる第1と第2のステージと、
    該第1と第2のステージのスイッチング手段が、第1ステージから始まって、前記入力構成から前記出力構成に交互に切り替えられるように作動し、前記スイッチングは他のステージのスイッチング手段が出力構成にある時に或るステージで行われるように制御されるのでこのスイッチングの前に切り替えられた或るステージはその入力電圧として他のステージに依って生成されたアナログ変換電圧を受信し且つそのアナログ変換電圧をそれに基づいてこのスイッチング後に生成するようにする制御手段と、
    前記の反復変換動作の過程で第1と第2のステージに依って交互に与えられる前記のデジタル・データを受信するために接続されていて且つそこから加えられたアナログ電圧を示すデジタル出力ワードを導くように作動するデータ処理手段とを備えるアナログ・デジタル・コンバーター。
  41. 第1及び第2のクロック位相で交互に動作するアナログ・デジタル・コンバーターであって、
    コンバーターの動作中にデジタル化されるアナログ入力電圧が印加される第1及び第2入力ノードと、
    それぞれ第1及び第2記憶コンデンサーと入力及び出力ターミナルを有する単位利得の増幅器エレメントとを含む第1及び第2の電圧記憶回路と、
    クロックの第1の位相の間、前記第1電圧記憶回路の入力ターミナルを第1入力ノードに接続し、前記第2電圧記憶回路の入力ターミナルを第2入力ノードに接続するように動作する入力サンプリング手段と、
    第1及び第2の電圧記憶回路の増幅器エレメント出力ターミナルにそれぞれ接続された第1及び第2出力ノードと、
    第1及び第2出力ノードに接続され、更に比較電位を受けるように接続され、各クロック位相において、第1と第2出力ノード間の電位差と比較電位との比較を行い、比較結果を示すデジタルデータを与えるコンパレーター手段と、
    1組の接続ターミナルを有しており、各クロック位相において、直前のクロック位相で前記コンパレーター手段によって与えられたデジタルデータに従って、複数のあらかじめ定められた値から選択した値を有するオフセット電圧を、これらのターミナル間に印加するように動作する電圧調整手段と、
    クロックの第1位相において、2個の第1記憶コンデンサーと接続ターミナルを前記増幅器エレメントの各入力ターミナル間に直列に接続し、第2記憶コンデンサーを第1及び第2出力ノード間に互いに平行になるように接続するように動作し、クロックの第2位相においては、2個の第2記憶コンデンサーと接続ターミナルを増幅器エレメントの各入力ターミナル間に直列に接続し、第1記憶コンデンサーを第1及び第2出力ノード間に互いに平行になるように接続するように動作するスイッチング手段と、
    クロックの複数の位相に渡って、前記コンパレーター手段によって与えられたデジタルデータを受けるように接続されており、それから印加されたアナログ入力電圧を表すデジタル出力ワードを導出するように動作するデータ処理手段とを備え
    前記第1及び第2の各電圧記憶回路は、
    前記電圧記憶回路の入力ターミナルに入力スイッチエレメントを介して接続された第1プレートと、前記電圧記憶回路の共通ターミナルに接続された第2プレートとを有する記憶コンデンサーと、
    前記第1プレートに接続された入力と、前記電圧記憶回路の出力ターミナルに接続された出力を有し、前記電圧記憶回路の差動中に、前記出力ターミナルの電位が前記1プレートの電位に実質的に等しい単一ゲインの増幅器エレメントとを備え、
    前記増幅器エレメントは、前記第1プレートに接続されたゲート電極を有したFET入力トランジスタと、
    前記FET入力トランジスタのソース電極に接続された電流ソースと、
    前記FET入力トランジスタのドレイン電極に直列に接続されるカスケードFETトランジスタと、
    前記FET入力トランジスタのソース電極と前記カスケードFETトランジスタのゲート電極との間に接続され、該電極間の電位差を実質的に一定に維持するバイアス生成器とを含むアナログ・デジタル・コンバーター。
  42. 1個のステージの出力は次のステージの入力になるように直列に接続された複数の相互に類似した電圧変換ステージを備えており、各ステージは、ステージの入力電圧を記憶するためにステージの入力に接続されるか又は選択的に接続される記憶コンデンサーと、記憶された入力電圧に依存するステージの出力電圧を提供するために記憶コンデンサーとステージの出力間に選択的に接続される増幅器エレメントとを有しており、列の最初のステージを除く少なくとも1ステージにおいては、記憶コンデンサー静電容量は直前のステージの記憶コンデンサー静電容量より小さいか、又は増幅器エレメントの入力トランジスターの幅は直前のステージの増幅器エレメントの入力トランジスターの幅より小さく、又は両方共に小さいことを特徴とするアナログ・デジタル・コンバーター。
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Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3413664B2 (ja) * 1993-08-12 2003-06-03 ソニー株式会社 電荷転送装置
DE4423955A1 (de) * 1994-07-07 1996-01-11 Bosch Gmbh Robert Verfahren zum Analog-/Digital-Wandeln eines elektrischen Signals und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
US6072355A (en) * 1998-01-22 2000-06-06 Burr-Brown Corporation Bootstrapped CMOS sample and hold circuitry and method
US6188274B1 (en) 1999-06-04 2001-02-13 Sharp Laboratories Of America, Inc. Bootstrap capacitor power supply for low voltage mobile communications power amplifier
GB2356304B (en) * 1999-11-10 2003-11-19 Fujitsu Ltd Switch driver circuitry
GB2373654B (en) 2001-03-21 2005-02-09 Fujitsu Ltd Reducing jitter in mixed-signal integrated circuit devices
US6577113B2 (en) * 2001-06-06 2003-06-10 Tokyo Electron Limited Apparatus and method for measuring substrate biasing during plasma processing of a substrate
JP3801882B2 (ja) * 2001-07-11 2006-07-26 シャープ株式会社 充電回路および/または放電回路ならびにそれを用いるキャリア検出回路
JP3999168B2 (ja) * 2003-07-04 2007-10-31 シャープ株式会社 キャリア検出回路およびそれを用いる赤外線通信装置
US20060192546A1 (en) * 2003-08-04 2006-08-31 Koninklijke Philips Electronics N.V. Track-and-hold circuit
US7289055B2 (en) * 2004-02-05 2007-10-30 Sanyo Electric Co., Ltd. Analog-digital converter with gain adjustment for high-speed operation
GB2449276A (en) * 2007-05-15 2008-11-19 Thomas William Bach A low-capacitance transmit-receive switch for an EIT electrode
US8149605B2 (en) * 2007-11-28 2012-04-03 Nxp B.V. Compact and accurate analog memory for CMOS imaging pixel detectors
GB2466776A (en) * 2008-12-30 2010-07-07 Wolfson Microelectronics Plc Bootstrapping to reduce the effect of bond pad parasitic capacitance in a MEMS microphone circuit
US8674863B2 (en) * 2011-06-07 2014-03-18 Microchip Technology Incorporated Distributed bootstrap switch
US11092988B2 (en) * 2018-09-25 2021-08-17 Invensense, Inc. Start-up speed enhancement circuit and method for lower-power regulators
CN111367339B (zh) * 2018-12-26 2022-03-01 北京兆易创新科技股份有限公司 降低晶体管的阈值电压的电路、放大器和nand闪存
CN112040157B (zh) * 2019-06-04 2023-11-28 半导体元件工业有限责任公司 具有减少的信号采样反冲的图像传感器
US12388420B2 (en) * 2022-06-01 2025-08-12 Mediatek Inc. Noise filter circuit with controllable transistor off-resistance and associated noise filtering method

Family Cites Families (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE228131C (ja) *
DE1283367B (de) * 1966-04-28 1968-11-21 Boelkow Gmbh Verfahren und Schaltungsanordnung zur Analog-Digital-Umsetzung eines Messwertes
US3521141A (en) * 1967-10-30 1970-07-21 Ibm Leakage controlled electric charge switching and storing circuitry
CA1056951A (en) * 1976-01-22 1979-06-19 Miles A. Copeland Analog signal processor
US4136335A (en) * 1977-04-18 1979-01-23 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Semiconductor charge coupled device analog to digital converter
JPS55163694A (en) * 1979-06-01 1980-12-19 Fujitsu Ltd Sample holding circuit
FR2462822A1 (fr) * 1979-08-01 1981-02-13 Feldmann Michel Convertisseur analogique-numerique utilisant un dispositif a transfert de charges
EP0024277B1 (en) * 1979-08-17 1983-01-26 Toray Industries, Inc. Process for the manufacture of graphite fibres
US4276513A (en) * 1979-09-14 1981-06-30 John Fluke Mfg. Co., Inc. Auto-zero amplifier circuit with wide dynamic range
US4467227A (en) * 1981-10-29 1984-08-21 Hughes Aircraft Company Channel charge compensation switch with first order process independence
US4439693A (en) * 1981-10-30 1984-03-27 Hughes Aircraft Co. Sample and hold circuit with improved offset compensation
US4570121A (en) * 1983-06-16 1986-02-11 At&T Bell Laboratories Video wave codec
GB8323268D0 (en) * 1983-08-31 1983-10-05 British Aerospace Analog to digital conversion
DD228131A1 (de) * 1984-10-04 1985-10-02 Univ Dresden Tech Integrierter a/d-wandler mit kapazitaetsnetzwerk
JPS61105929A (ja) * 1984-10-30 1986-05-24 Nec Corp A/d変換装置
US4611196A (en) * 1985-04-08 1986-09-09 Rca Corporation Pipelined successive approximation analog-to-digital converter
JPS6256023A (ja) * 1985-09-02 1987-03-11 Fujitsu Ltd A/d変換器
JPH0770239B2 (ja) * 1986-02-24 1995-07-31 ソニー株式会社 サンプルホ−ルド回路
FR2625388A1 (fr) * 1987-12-29 1989-06-30 Thomson Hybrides Microondes Procede de rattrapage d'erreur dans un convertisseur analogique numerique (can) et can utilisant ce procede
US4922130A (en) * 1988-05-26 1990-05-01 Hewlett-Packard Company High performance track/hold for a digital multimeter
US4894657A (en) * 1988-11-25 1990-01-16 General Electric Company Pipelined analog-to-digital architecture with parallel-autozero analog signal processing
US5164616A (en) * 1989-12-29 1992-11-17 Xerox Corporation Integrated sample and hold circuit with feedback circuit to increase storage time
US5291074A (en) * 1990-04-05 1994-03-01 Vanguard Semiconductor, A Division Of Ca Micro Devices BiCMOS track and hold amplifier
US5084634A (en) * 1990-10-24 1992-01-28 Burr-Brown Corporation Dynamic input sampling switch for CDACS
JPH04371025A (ja) * 1991-06-19 1992-12-24 Nec Corp A/d変換回路
JPH0554689A (ja) * 1991-08-22 1993-03-05 Mitsubishi Electric Corp サンプルホールド回路およびバツフア回路およびそれらを用いたサンプルホールド装置
US5172019A (en) * 1992-01-17 1992-12-15 Burr-Brown Corporation Bootstrapped FET sampling switch

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Publication number Publication date
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FR2695505A1 (fr) 1994-03-11
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