JP3564652B2 - 位相差吸収回路及び位相差吸収システム - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は位相差吸収回路及び位相差吸収システムに関し、特にATM(Asynchronous Transfer Mode)伝送装置のパッケージ折り返し試験時の入出力フレーム(セル)位相差吸収回路及び位相差吸収システムに関する。
【0002】
【従来の技術】
例えば、ATM伝送方式に基づいた伝送機能を有し、かつクロスコネクト機能や終端機能等を有するATM伝送装置の構成パッケージ(PKG)のような入出力のインタフェースが同一であるPKGにおいて、例えば図5に示すような構成により、自PKG入出力折り返し試験をする際には、入力側と出力側のフレーム位相に図6に示すような差が生じる。
【0003】
すなわち、図5において、試験(しようとする)PKG10は、パッケージの機能を担うLSI(半導体集積回路)1〜3と、試験時の基準フレーム(パルス)位相FP1及び各LSI2,3のフレーム位相FP2,FP3を発生するフレーム位相信号生成部4とにより構成される。各LSI1〜3は、エラスティックストア(ES)11,21,31と、試験セル検証部(TEST CHK)16と、試験セル生成部(TEST INS)17等とにより構成される。
【0004】
この場合、図6に示すように、各フレーム位相FP1〜FP3や、LSI3出力c間には位相差が存在する。折り返しデータを取り込むためにはこの位相差を吸収する必要がある。ATM伝送の場合、データ(信号)は、例えば432ビットのセルを単位としている。一般にPKGにおいては、データはnビットの相(δ)にパラレル展開されている。すなわち、例えばn=16ビットにパラレル展開されているとすると、1セルは、432÷16=27ビット(b1〜b27)となり、27クロックの(セル)周期を持つ。
【0005】
ATM伝送装置のPKGにおいては、データはセルの(スタート)位相を基準にして処理される。従って、折り返しデータを取り込むためには、上述の位相差はセル周期の整数倍である必要がある。フレームパルス(FP)はセルのスタート位相に合致(同期)しており、1フレームは、例えば1000〜2000セルにより構成される。
【0006】
特開平5−160878号公報には、図7に示すような折り返し試験方式が提案されている。すなわち、図7に示す折り返し試験回路(伝送装置)50は、伝送装置5全体を制御する制御部51と、制御部51からの制御信号により遅延量を選択する遅延選択部52と、他方(下り)の伝送路の伝送信号とエラスティックストア53の出力信号とを選択して出力する選択部54と、試験信号を格納するエラスティックストア53とにより構成される。
【0007】
一方(上り)の伝送路から入力した試験信号を制御部51からの制御信号により所定量だけ遅延選択部52にて遅延させて出力する。エラスティックストア53では、遅延選択部52より出力された試験信号を入力して記憶し、他方(下り)の伝送路から入力した試験信号の制御信号にて決まるタイミングでもって読み出す。
【0008】
制御部51では、遅延選択部52にて所定量だけ遅延して、出力した試験信号のフレームパルス及び他方の伝送路から入力した試験信号の制御信号を比較し、その結果により遅延選択部52にて試険信号を所定量だけ遅延して出力するための制御信号を出力する。選択部54では、通常他方の伝送路から入力した信号を選択し、折り返し試験時には、エラスティックストア53から読み出した試験信号を選択して出力する。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
特開平5−160878号公報記載の提案では、対向する伝送装置より送出される試験信号を該伝送装置において、試験開始時及ぴ解除時に、回線異常警報を発出させることなく折り返すことを目的としている。そのため、伝送路上の信号からデータ、フレームパルス、試験データの有効範囲を示すイネーブルパルスの分離及び上り/下り方向のフレームパルスの比較等の制御を行っている。しかし、PKG単体での折り返し試験を行うことができないという問題がある。
【0010】
本発明の目的は、PKG単体での折り返し試験可能な入出力フレーム(セル)位相差吸収回路及び位相差吸収システムを提供することである。
【0011】
【課題を解決するための手段】
本発明による位相差吸収回路は、ATM伝送装置のパッケージの入出力を直接接続して折り返し試験をなす場合における前記パッケージ内部のデータ信号のセル位相差を吸収する位相差吸収回路であって、前記折り返し試験時に、前記データ信号のトータル遅延量がATMセル周期の整数倍になるように前記データ信号を遅延させるセル位相差吸収手段を、前記パッケージに付加したことを特徴とする。
【0012】
また、前記セル位相差吸収手段は、前記データ信号を一時格納するメモリーを有し、前記メモリーの書き込み及び読み出しアドレス信号間の位相差だけ前記データ信号を遅延させることを特徴とし、前記メモリーは、前記データ信号の最大遅延量に相当するデータ量が格納できるランダムアクセスメモリーであることを特徴とする。
【0013】
本発明による位相差吸収システムは、ATM伝送装置のパッケージの入出力を直接接続しての折り返し試験における前記パッケージ内部のデータ信号のセル位相差を吸収する位相差吸収システムであって、前記折り返し試験時に前記データ信号を一時格納するメモリーの読み出しアドレス信号に対し書き込みアドレス信号を遅延させることによって前記データ信号のトータル遅延量がATMセル周期の整数倍になるように前記データ信号を遅延させるようにしたことを特徴とする。
【0014】
本発明の作用は次の通りである。PKG内部で発生する位相差を吸収するために、LSI内部に書き込みと読み出しとを同時に行えるメモリー及びLSI外部より設定された任意の遅延量を基に入力したフレーム位相を遅延可能な遅延生成部を設ける。メモリーでは、折り返した主信号データに同期したフレームパルス(FP)により書き込み、フレーム位相信号生成部からのFPを基に読み出すことによって、折り返し時の位相差の吸収を行う。遅延生成部では、フレーム位相生成部からのFPを折り返しデータのFP位相と同相になるように制御後、そのFPをESに与えることにより折り返して来たデータの取り込みを行う。
【0015】
【発明の実施の形態】
以下に、本発明の実施例について図面を参照して説明する。
【0016】
図1は本発明による位相差吸収回路の実施例の構成を示すブロック図であり、図5,7と同等部分は同一符号にて示している。図1においては、図5に示した試験PKG10のうちLSI1についてのみ示しており、他のLSI2,3についても同様の構成であるものとする。
【0017】
図1を参照すると、LSI1は、試験(さるべき)PKG10のLSI1の一部をなしかつ入力データの位相変動を吸収するランダムアクセスメモリー(RAM)からなるエラスティックストア(ES)11と、試験PKG10の主機能の一部を分担する主信号ブロック12,14と、試験PKG内部で発生するフレーム(セル)位相差を吸収するフレーム位相差吸収部13と、外部から任意に遅延量が設定できる遅延生成部15とにより構成される。
【0018】
図1の回路の動作を図2の位相関係図により説明する。フレーム位相差吸収部13はメモリー(MEM)を主体とし、このメモリーからの読み出しはフレーム位相信号生成部4(図5参照)より送出されたフレーム位相信号(FP1/BUFF RFP)に同期して行われる。従って、フレーム位相差吸収部13以降のフレーム位相は、このフレーム位相信号(FP1/BUFF RFP)が基準位相となる。
【0019】
このフレーム位相はフレーム位相差吸収部13以降の各主信号ブロック14にて順次遅延するため、次段のLSI2,3の入力位相は、フレーム位相信号FP1より遅れた位相となる。従って、フレーム位相信号生成部4からLSI2,3へ送出するフレーム位相信号FP2,FP3は、フレーム位相信号(FP1/BUFF RFP)に対して各々一定量遅延した位相となる。
【0020】
ただし、PKGの通常動作時のFP1〜FP3の位相関係は折り返し試験時もそのまま保たれるので、PKGの通常動作時と折り返し試験時とにおいて切り替えの必要はない。
【0021】
なお、フレーム位相信号生成部4は、試験PKGが搭載される装置から基準クロック信号及び基準フレーム信号を受信し、自PKGが必要とするクロック、フレーム位相信号FP1〜FP3の生成を行う。フレーム位相信号生成部4では、出力するフレーム位相信号をフレーム位相一周期分の範囲内で遅延できるため、各LSI1〜3にて必要とする位相が生成可能である。
【0022】
LSI1〜3の入力部にあるES(エラスティックストア)11,21,31はRAMを主体としており、入力するデータのフレーム位相(ES WFP)に(てRAMに書き込み)、生じる数10クロック(図2のd)の変動を吸収し、LSI1〜3内部のフレーム位相(ES RFP)に(て、RAMから読み出し)、乗せ換えるものである。そのため、ES11,21,31の書き込みと、読み出し側のフレーム位相の差は上述の数10クロックdより小さくなければならない。
【0023】
しかし、自PKG内で折り返されてLSI1に入力されるデータcのフレーム位相は、上述のFP3の位相から、LSI3の内部にてさらに遅延した位相となる。従って、フレーム位相信号生成部4より送出されたフレーム位相信号FP1では、位相差が大き過ぎる(セル周期の整数倍になっていない)ため、ES11の読み出しフレーム位相としては使用することができない。
【0024】
そこで、遅延生成部15により入力するデータのフレーム位相(ES WFP)とES11の読み出しに使用されるフレーム位相(ES RFP)との差が上述の数10クロックd以内となるように、FP1を遅延させる。その際の遅延量aはLSI1外部より任意の値を設定できるものとする。これにより、ES11でのフレーム位相の乗せ換えを可能としている。なお、PKGの通常動作時は遅延量aを0とする。
【0025】
ES11から読み出したフレーム位相(ES RFP)がES11からフレーム位相差吸収部13までの基準フレーム位相となる。従って、フレーム位相差吸収部13の書き込み側フレーム位相は、上述のES RFPにES11からフレーム位相差吸収部13までの主信号ブロック12により発生する遅延(遅延量X)が加算されたフレーム位相(BUFF WFP)となる。上述の各フレーム位相の位相関係を図2に示す。この場合の位相差τ+dがセル周期の整数倍になる必要がある。
【0026】
図3には、読み出しと書き込みが独立に行えるメモリーを用いたフレーム位相差吸収部13の構成図を示し、図4にはそのタイミング図を示す。書き込みあるいは読み出しアドレス生成部41,43にて生成されるアドレス値の上限Yは、データのパラレル数nにより決定される。例えばn=16とすると、1ATMセル当たり432÷16=27ビットとなり、アドレスは0から始まるため、上限Yは27−1=26となる。なお、432は試験データを構成するATMセルのビット数である。
【0027】
メモリー(例えばランダムアドレスメモリー;RAM)(MEM)42に対して書き込みアドレス生成部41の出力書き込みアドレスWAによって、データDiを書き込み、読み出しアドレス生成部43の出力読み出しアドレスRAによって、データDoを読み出すと、書き込みアドレスWAと読み出しアドレスRAとの位相差に相当するだけ読み出しデータDoを遅延させることができる。
【0028】
書き込みと読み出しのアドレス生成部41,43は、0〜Yまでのアドレスを上述のBUFF WFP,BUFF RFPの位相を基準として、繰り返し生成する。また、ATMセルはフレーム位相に対して一定周期にて間断なく、時分割多重されているため、ATMセルの書き込み位置と読み出し位置は図4に示すようになる。
【0029】
上述の動作により、フレーム位相に対するATMセルの相対位置は、書き込み側と読み出し側とで変化するが、ATMセルはそのシーケンーシャルな順序さえ守られれば、フレーム内の位置は自由である。従って、上述のように、セル単位のフレーム位相の乗せ換えが可能となる。
【0030】
ライン切り替え部(SEL)44は、PKGの通常動作時は、フレーム位相差吸収部13の入力から分岐された信号を選択し、(同時に遅延生成部15の遅延量aを0とし、)折り返し試験時は、折り返し試験開始信号を基にメモリー42から出力される信号を選択する。
【0031】
【発明の効果】
以上説明したように本発明は、RAMの書き込み及び読み出しアドレス差によりデータに遅延を与えるフレーム位相差吸収部を設けることにより、PKG折り返し時の入出力のフレーム(セル)周期差を吸収してPKGの折り返し試験を可能とする効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例のブロック図である。
【図2】本発明の実施例のフレーム位相関係説明図である。
【図3】フレーム位相差吸収部のブロック図である。
【図4】フレーム位相差吸収部のフレーム位相関係説明図である。
【図5】本発明の関連するPKG入出力折り返し試験時のブロック図である。
【図6】本発明の関連するPKG入出力折り返し試験時のフレーム位相関係説明図である。
【図7】従来の伝送装置の折り返し試験時のブロック図である。
【符号の説明】
1 LSI
10 試験PKG
11 エラスティックストア
12,14 主信号ブロック
13 フレーム位相差吸収部
15 遅延生成部
Claims (4)
- ATM伝送装置のパッケージの入出力を直接接続して折り返し試験をなす場合における前記パッケージ内部のデータ信号のセル位相差を吸収する位相差吸収回路であって、前記折り返し試験時に、前記データ信号のトータル遅延量がATMセル周期の整数倍になるように前記データ信号を遅延させるセル位相差吸収手段を、前記パッケージに付加したことを特徴とする位相差吸収回路。
- 前記セル位相差吸収手段は、前記データ信号を一時格納するメモリーを有し、前記メモリーの書き込み及び読み出しアドレス信号間の位相差だけ前記データ信号を遅延させることを特徴とする請求項1記載の位相差吸収回路。
- 前記メモリーは、前記データ信号の最大遅延量に相当するデータ量が格納できるランダムアクセスメモリーであることを特徴とする請求項2記載の位相差吸収回路。
- ATM伝送装置のパッケージの入出力を直接接続しての折り返し試験における前記パッケージ内部のデータ信号のセル位相差を吸収する位相差吸収システムであって、前記折り返し試験時に前記データ信号を一時格納するメモリーの読み出しアドレス信号に対し書き込みアドレス信号を遅延させることによって前記データ信号のトータル遅延量がATMセル周期の整数倍になるように前記データ信号を遅延させるようにしたことを特徴とする位相差吸収システム。
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JP07034998A JP3564652B2 (ja) | 1998-03-19 | 1998-03-19 | 位相差吸収回路及び位相差吸収システム |
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