JP3528749B2 - 積層セラミックコンデンサ - Google Patents

積層セラミックコンデンサ

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Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【発明の属する技術分野】本発明は、積層セラミックコ
ンデンサに関し、特に、耐回路基板伸縮性ならびに耐回
路基板曲げ性に優れる積層セラミックコンデンサに関す
る。 【0002】 【従来の技術】従来より積層セラミックコンデンサは、
例えばセラミック積層体と、内部電極と、外部電極とか
らなる。セラミック積層体は、例えば誘電体材料からな
る生のセラミック層が複数積層された生の積層体が焼成
されてなる。内部電極は、セラミック積層体内のセラミ
ック層間にあって、複数の生のセラミック層上に導電性
ペーストが印刷され、生のセラミック積層体と同時焼成
されてなり、内部電極のそれぞれの端縁は、上述のセラ
ミック層の何れかの端面に露出するように形成されてい
る。外部電極は、セラミック積層体の端面に露出した内
部電極の一端と接続されるように、導電性ペーストがセ
ラミック積層体の端面に塗布され焼付けられてなる。 【0003】外部電極形成用の導電性ペーストは、主に
導電成分と無機結合剤と有機ビヒクルとからなる。特
に、導電成分としてCuやNi等の卑金属を用いる場
合、導電成分の酸化を防止するためにN2雰囲気中で焼
付けが行われるが、このようにN2雰囲気中で焼付けを
行なうための無機結合剤として、実公昭58−1460
0号公報によればBaO系ガラスが、特公平4−156
06号公報によればZnO系ガラスが提案されている。 【0004】 【発明が解決しようとする課題】しかしながら、無機結
合剤として上述の公報に記載のガラスを用いた導電性ペ
ーストは、N2雰囲気中で焼付けが可能であるがセラミ
ック素体との接着力が小さく、このような導電性ペース
トを用いて外部電極を形成した積層セラミックコンデン
サを回路基板上に実装すると、周囲の温度が急激に変化
したりあるいは熱衝撃が加えられた場合に、回路基板の
伸縮応力あるいは外力による回路基板のたわみに起因す
る応力によって、積層セラミックコンデンサの内部にク
ラックが生じる恐れがある。近年、積層セラミックコン
デンサは厚みが0.3〜2.0mm前後まで薄形化し、
これに伴ってセラミック層の厚みは数μm〜30μm前
後、内部電極の厚みは0.5〜2.0μm前後まで薄く
なっている。このような積層セラミックコンデンサにと
って、内部クラックの発生は致命的な欠陥となる。 【0005】本発明の目的は、上述の問題点を解消すべ
くなされたもので、耐回路基板伸縮性ならびに耐回路基
板曲げ性に優れ、特に回路基板に実装する際の熱衝撃に
よる回路基板の伸縮や、外力による回路基板のたわみに
起因する応力に耐え得る機械的強度を備える積層セラミ
ックコンデンサを提供することにある。 【0006】 【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の積層セラミックコンデンサは、複数のセラ
ミック層が積層されてなる積層体と、それぞれの端縁が
セラミック層の何れかの端面に露出するようにセラミッ
ク層間に形成された複数の内部電極と、露出した内部電
極に接続されるように設けられた外部電極とを備え、外
部電極は、導電成分と、P 25−Al23−Li2Oガ
ラスからなる無機結合剤を含有することを特徴とする。 【0007】 【発明の実施の形態】外部電極形成に用いられる導電性
ペーストに適用可能な無機結合剤としては、表1に示す
ようなガラスフリットが挙げられるが、本発明は、外部
電極形成用の導電性ペーストを構成する無機結合材とし
て、ヤング率の低いリン酸ガラス(より具体的には、P
25−Al23−Li2Oガラス)を用いることに特徴
がある。 【0008】 【表1】 【0009】また、導電成分は、特に限定はしないが、
例えばAg,Pd等の貴金属ならびにその合金、あるい
はNi,Cu等の卑金属ならびにその合金を適宜用いる
ことができる。 【0010】本発明の積層セラミックコンデンサの一つ
の実施形態について、図1に基づいて詳細に説明する。
積層セラミックコンデンサ1は、セラミック積層体2
と、内部電極3,3と、外部電極4,4とから主にな
る。セラミック積層体2は、BaTiO3を主成分とす
る誘電体材料からなるセラミック層2aが複数積層され
た生のセラミック積層体が焼成されてなる。内部電極
3,3は、セラミック積層体2内のセラミック層2a間
にあって、複数の生のセラミック層2a上に導電性ペー
ストが印刷され、生のセラミック積層体と同時焼成され
てなり、内部電極3,3のそれぞれの端縁は、セラミッ
ク層2の何れかの端面に露出するように形成されてい
る。外部電極4,4は、セラミック積層体2の端面に露
出した内部電極3,3の一端と接続されるように、導電
性ペーストがセラミック積層体2の端面に塗布され焼付
けられてなる。 【0011】なお、上述の実施形態において、セラミッ
ク積層体2の材料はBaTiO3を用いたが、本発明は
これに限定されることなく、例えばPbTiO3やPb
ZrO3等を適宜用いることができる。 【0012】また、内部電極3,3の積層枚数ならびに
外部電極4,4に電気的かつ機械的に接続される数につ
いても図1に示した実施形態に限定されることなく、ま
た、セラミック積層体2の外部に導出されない内部電極
を備えても構わない。 【0013】また、内部電極3,3の形成に用いる導電
性ペーストの導電成分は、特に限定はしないが、例えば
Ag,Pd等の貴金属ならびにその合金、あるいはN
i,Cu等の卑金属ならびにその合金を適宜用いること
ができる。 【0014】 【実施例】まず、BaTiO3を主成分とするセラミッ
ク粉末とバインダと可塑剤を混合し、これをボールミル
で分散させたセラミックスラリーを用いてドクターブレ
ード法によりセラミックグリーンシートを作製した。次
いで、セラミックグリーンシートを所定形状にカットし
た複数の生のセラミック層のうち所定枚数の表面に、N
iを導電成分とする導電性ペーストを塗布して電極膜を
形成し、電極膜を形成していない生のセラミック層とと
もに複数積層して複数の生のセラミック積層体を作製し
た。次いで、複数の生のセラミック積層体をN2雰囲気
中において1300℃で焼成して、複数のセラミック積
層体を作製した。 【0015】次いで、Cu粉末70重量%に対して、表
2に示したガラスフリット4.5重量%と、エチルセル
ロースとブチルカルビトールとテルピネオールを含有す
る有機ビヒクル25.5重量%を準備し、これらを混合
して混練して実施例1、2ならびに比較例1〜4の導電
性ペーストを作製した。 【0016】次いで、生のセラミック積層体の両端面に
実施例1、2ならびに比較例1〜4の導電性ペーストを
浸漬塗布し、150℃で10分間乾燥させた後、N2
囲気中で600℃、10分ピークの条件で焼付けし、内
部電極に接続された一対の外部電極を形成した。次に、
この一対の外部電極上にNiめっき膜を電界めっき処理
により形成し、さらにNiめっき膜上にSiめっき膜を
電解めっき処理により形成して、実施例1、2ならびに
比較例1〜4の積層セラミックコンデンサを作製した。 【0017】そこで、実施例1、2ならびに比較例1〜
4の積層セラミックコンデンサの外部電極にリード線を
半田付けし実施例1、2ならびに比較例1〜4の引張り
試験試料を作製し、半田付けされたリード線を100m
m/minの速度で引張り、セラミック積層体の界面か
ら外部電極が剥離破壊した時点の荷重を測定して、これ
を引張り強度として表2にまとめた。 【0018】また、実施例1、2ならびに比較例1〜4
の積層セラミックコンデンサを、長さ100mm×幅4
0mm×厚さ1.6mmのガラスエポキシ基板の中央部
にあるランド上にSn/Pb共晶半田を用いて実装し
て、実施例1、2ならびに比較例1〜4のたわみ試験試
料を作製し、たわみ強度を測定してこれを表2にまとめ
た。なお、たわみ強度は、EIAJ評価法に準拠して、
ガラスエポキシ基板の両端を支持し、ガラスエポキシ基
板の中央部裏面より押し棒を用いて表面方向に押圧する
ことで基板を撓ませ、ガラスエポキシ基板に実装された
実施例1、2ならびに比較例1〜4の積層セラミックコ
ンデンサにクラックが発生した時点での押し棒の移動距
離を測定するものである。 【0019】 【表2】 【0020】表2から明らかであるように、無機結合材
としてP 25−Al23−Li2Oガラスを用いた実施
例1、2の積層セラミックコンデンサは、引張り強度が
16.0〜18.6Nであり、たわみ強度が3.88〜
3.96mmで高く優れた。 【0021】これに対して、無機結合剤として硼珪酸バ
リウムまたは硼珪酸亜鉛ガラスを用いた比較例1〜4の
積層セラミックコンデンサは、引張り強度が8.0〜1
5.0Nであり、たわみ強度が1.53〜2.16mm
であり、何れも実施例1、2の積層セラミックコンデン
サよりも劣る結果となった。 【0022】 【発明の効果】以上のように本発明の積層セラミックコ
ンデンサによれば、複数のセラミック層が積層されてな
る積層体と、それぞれの端縁が前記セラミック層の何れ
かの端面に露出するように前記セラミック層間に形成さ
れた複数の内部電極と、露出した前記内部電極に接続さ
れるように設けられた外部電極とを備え、前記外部電極
は、導電成分と、P 25−Al23−Li2Oガラスか
らなる無機結合剤を含有することを特徴とすることによ
り、耐回路基板伸縮性ならびに耐回路基板曲げ性に優
れ、特に回路基板に実装する際の熱衝撃による回路基板
の伸縮や、外力による回路基板のたわみに起因する応力
に耐え得る機械的強度を備えるという優れた効果を享受
することができる。
【図面の簡単な説明】 【図1】本発明に係る一つの実施の形態の積層セラミッ
クコンデンサの断面図である。 【符号の説明】 1 積層セラミックコンデンサ 2 セラミック積層体 3 内部電極 4 外部電極
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01G 4/00 - 4/42

Claims (1)

  1. (57)【特許請求の範囲】 【請求項1】 複数のセラミック層が積層されてなる積
    層体と、それぞれの端縁が前記セラミック層の何れかの
    端面に露出するように前記セラミック層間に形成された
    複数の内部電極と、露出した前記内部電極に接続される
    ように設けられた外部電極とを備え、前記外部電極は、
    導電成分と、P 25−Al23−Li2Oガラスからな
    る無機結合剤を含有することを特徴とする、積層セラミ
    ックコンデンサ。
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Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101053079B1 (ko) * 2003-03-26 2011-08-01 쿄세라 코포레이션 적층형 전자부품 및 그 제조방법
JP4093188B2 (ja) * 2003-05-27 2008-06-04 株式会社村田製作所 積層セラミック電子部品とその実装構造および実装方法
CN101512796A (zh) * 2006-08-17 2009-08-19 萤火虫能源公司 包括导电磷酸盐玻璃部件的电池
US7915527B1 (en) 2006-08-23 2011-03-29 Rockwell Collins, Inc. Hermetic seal and hermetic connector reinforcement and repair with low temperature glass coatings
US8581108B1 (en) 2006-08-23 2013-11-12 Rockwell Collins, Inc. Method for providing near-hermetically coated integrated circuit assemblies
US8076185B1 (en) 2006-08-23 2011-12-13 Rockwell Collins, Inc. Integrated circuit protection and ruggedization coatings and methods
US8084855B2 (en) 2006-08-23 2011-12-27 Rockwell Collins, Inc. Integrated circuit tampering protection and reverse engineering prevention coatings and methods
US8617913B2 (en) 2006-08-23 2013-12-31 Rockwell Collins, Inc. Alkali silicate glass based coating and method for applying
US8637980B1 (en) 2007-12-18 2014-01-28 Rockwell Collins, Inc. Adhesive applications using alkali silicate glass for electronics
JP5289794B2 (ja) * 2007-03-28 2013-09-11 株式会社村田製作所 積層型電子部品およびその製造方法
US7545626B1 (en) * 2008-03-12 2009-06-09 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Multi-layer ceramic capacitor
US8119040B2 (en) 2008-09-29 2012-02-21 Rockwell Collins, Inc. Glass thick film embedded passive material
KR101751079B1 (ko) * 2012-06-28 2017-06-26 삼성전기주식회사 적층 세라믹 전자부품 및 이의 제조방법
KR101452048B1 (ko) * 2012-11-09 2014-10-22 삼성전기주식회사 적층 세라믹 커패시터, 적층 세라믹 커패시터의 회로 기판 실장 구조 및 적층 세라믹 커패시터의 포장체
KR102086480B1 (ko) * 2013-01-02 2020-03-09 삼성전기주식회사 적층 세라믹 커패시터 및 적층 세라믹 커패시터의 실장 기판
KR101462746B1 (ko) * 2013-01-02 2014-11-17 삼성전기주식회사 적층 세라믹 커패시터 및 적층 세라믹 커패시터의 실장 기판
US9287049B2 (en) 2013-02-01 2016-03-15 Apple Inc. Low acoustic noise capacitors
KR101412940B1 (ko) * 2013-03-29 2014-06-26 삼성전기주식회사 적층 세라믹 커패시터 및 적층 세라믹 커패시터의 실장 기판
KR101654886B1 (ko) 2016-03-18 2016-09-06 이광성 양자 에너지와 음이온 방사 온열장치
US10957488B2 (en) * 2018-04-20 2021-03-23 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Multilayer ceramic electronic component

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3902102A (en) 1974-04-01 1975-08-26 Sprague Electric Co Ceramic capacitor with base metal electrodes
US4246625A (en) * 1978-11-16 1981-01-20 Union Carbide Corporation Ceramic capacitor with co-fired end terminations
JPS5814600A (ja) 1981-07-17 1983-01-27 富士通テン株式会社 電子機器のシ−ルド板取付け装置
US4687540A (en) * 1985-12-20 1987-08-18 Olin Corporation Method of manufacturing glass capacitors and resulting product
KR880011838A (ko) * 1987-03-30 1988-10-31 서주인 적층 세라믹 콘덴서의 외부전극 형성방법
JPH0415606A (ja) 1990-05-09 1992-01-21 Toto Ltd 光コネクタ用セラミックフェルールの射出成形用金型
JP3152065B2 (ja) * 1994-06-20 2001-04-03 株式会社村田製作所 導電性ペーストおよび積層セラミックコンデンサ
JP3582927B2 (ja) * 1996-03-18 2004-10-27 三菱マテリアル株式会社 チップ型サーミスタ
JPH1083933A (ja) * 1996-09-06 1998-03-31 Matsushita Electric Ind Co Ltd セラミック電子部品の製造方法
JP3363369B2 (ja) * 1998-01-30 2003-01-08 京セラ株式会社 積層セラミックコンデンサ

Also Published As

Publication number Publication date
US20010030493A1 (en) 2001-10-18
JP2001267173A (ja) 2001-09-28
KR100400155B1 (ko) 2003-10-01
KR20010091929A (ko) 2001-10-23
DE10112861C2 (de) 2003-11-06
CN1314686A (zh) 2001-09-26
DE10112861A1 (de) 2002-07-04
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CN1251260C (zh) 2006-04-12

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