JP3466329B2 - 半導体パワーモジュール - Google Patents

半導体パワーモジュール

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JP3466329B2
JP3466329B2 JP15053595A JP15053595A JP3466329B2 JP 3466329 B2 JP3466329 B2 JP 3466329B2 JP 15053595 A JP15053595 A JP 15053595A JP 15053595 A JP15053595 A JP 15053595A JP 3466329 B2 JP3466329 B2 JP 3466329B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、半導体パワーモジュ
ールに関し、特に、高い放熱特性と製造コストの簡素化
および低廉化とを両立的に実現するための改良に関す
る。
【0002】
【従来の技術】半導体パワーモジュールは、負荷への電
力の供給を担う主電流(負荷電流)を断続するなど主電
流の流れを変調制御する電力用半導体素子を備える主回
路と、この電力用半導体素子の動作を制御する制御回路
とが、1個の装置に組み込まれた半導体装置である。こ
の半導体パワーモジュールは、例えば、モータ等の動作
を制御するインバータ、あるいは無停電電源などに利用
が拡大しつつある。
【0003】主回路は電力回路であり、主電流が流れる
電力用半導体素子からの発熱が大きいために、放熱構造
が採用される。一方の制御回路は弱電回路であって、そ
の回路素子には微弱な電流しか流れないために、制御回
路それ自体には放熱構造は必要とされない。このよう
に、半導体パワーモジュールでは、熱的特性上要求され
る構造が相異なる2つの回路が一つの装置の中に同居し
ており、しかも、装置のサイズはできるだけ小さいこと
が求められている。
【0004】図28は、特開平5-129515号公報に開示さ
れる従来の半導体パワーモジュールの正面断面図であ
る。図28において、1はアルミベース板、2はアルミ
ベース板1の上に形成されたエポキシ系の耐熱性の絶縁
層、そして、3は絶縁層2の上に所定のパターンに形成
された銅箔層を代表例とする金属箔である。これらの部
材1〜3は、絶縁配線基板100を構成している。
【0005】さらに、5は金属箔3の上の所定の部位に
固定された電力用半導体素子、4は電力用半導体素子5
を金属箔3へ固着するハンダ、6は電力用半導体素子5
と金属箔3との間などを電気的に接続するアルミニウム
製のボンディングワイヤ、そして、101は絶縁配線基
板100の上の所定の領域を占めるように金属箔3の上
に固定された制御回路基板である。
【0006】制御回路基板101は、ガラスエポキシ
(ガラスファイバで強化されたエポキシ樹脂)で構成さ
れる電気絶縁性の制御回路基板本体9を有している。そ
して、制御回路基板本体9の下面すなわち絶縁配線基板
100に対向する面には、厚さ100μm程度の銅箔な
どの導電体から成るシールド層8が形成されており、他
方の面すなわち上面には、パターニングされた銅箔など
の導電体から成る配線10が形成されている。また、制
御回路基板本体9にはシールド層8と配線10とを電気
的に接続するスルーホール11が形成されている。
【0007】制御回路基板101のシールド層8と絶縁
配線基板100の金属箔3との間には、エポキシ系の接
着剤7が塗布されている。この接着剤7によって制御回
路基板101が絶縁配線基板100の上に固定されてい
る。配線10の上には、ハンダ12によって集積回路な
どの電子部品13(図28には代表例として集積回路が
描かれている)が固着されている。
【0008】また、絶縁配線基板100の金属箔3に
は、主電流を入力または出力するための銅製の複数の端
子14a(図28には代表として1本が描かれている)
が、ハンダ15aによって固着されている。さらに、制
御回路基板101の配線10の上には、信号を入力また
は出力するための銅製の複数の端子14b(図28には
代表として1本が描かれている)が、ハンダ15bによ
って固着されている。すなわち、制御回路基板101は
電子部品13などとともに制御回路を構成しており、絶
縁配線基板100は電力用半導体素子5、ボンディング
ワイヤ6などとともに主回路を構成している。
【0009】絶縁配線基板100にはその周囲を囲むよ
うに樹脂などの絶縁体で構成される枠状のケース16が
取り付けられている。絶縁配線基板100はケース16
の底部に係合しており、しかも、接着剤17で互いに接
合されている。すなわち、ケース16と絶縁配線基板1
00とは、あたかも上端が開口した箱の側面と底面とを
構成している。この箱の内部、すなわち、絶縁配線基板
100とケース16とで囲まれる内部には、電力用半導
体素子5などの保護を目的として封止樹脂18が充填さ
れている。
【0010】この装置は、つぎの手順で組み立てられ
る。まず、アルミベース板1の上に絶縁層2を形成し、
さらにその上に金属箔3を形成する。その後、金属箔3
を選択的にエッチングすることによって、パターニング
する。その結果、絶縁配線基板100が形成される。ま
た、それと前後して、あらかじめ入手した市販の基板の
一方主面の金属箔を配線10の形状にパターニングする
ことによって、制御回路基板101を形成する。
【0011】つぎに、シールド層8と金属箔3とを接着
剤7で接着することによって、制御回路基板101を絶
縁配線基板100の上に固定する。つぎに、電力用半導
体素子5をハンダ4で金属箔3の上の所定の部位にハン
ダ付けする。その後、電子部品13等をハンダ12で配
線10の上の所定の部位にハンダ付けすることによって
制御回路を形成する。つぎにアルミワイヤ6で電力用半
導体素子5と金属箔3の間等をワイヤボンディングする
ことによって、主回路を形成する。
【0012】その後、端子14a,14bを配線10お
よび金属箔3の所定の部位にそれぞれハンダ5a,5b
を用いてハンダ付けする。なお、ハンダ4、12、15
a、15bとして、それぞれ融点の異なるハンダを準備
し、前の工程でハンダ付けに供されたハンダを溶融しな
いようにする。その後、ケース16を絶縁配線基板10
0に接着剤17で固着し、最後にケース16と絶縁配線
基板100とで囲まれた内部を封止樹脂18で封止する
ことによって装置が完成する。
【0013】図29は、特開平7-22576号公報に開示さ
れるもう一つの従来の半導体パワーモジュールの正面断
面図である。図29において、符号が付された各部材
は、形状の差異を除いて、同一符号が付された図28の
装置の各部材と同一の材料で構成されるとともに同様の
機能を果たす部材であるので、その詳細な説明を略す
る。すなわち、この従来装置では、ケース16が、底面
部を有するとともにその底面部に開口部が設けられてい
る。そうして、底面部の上に接着剤7を用いて制御回路
基板101が固着されており、開口部には絶縁配線基板
100がはめ込まれている。絶縁配線基板100とケー
ス16の間は、接着剤17で接着されている。
【0014】この従来装置はつぎの手順で組み立てられ
る。まず、アルミベース板1の上に絶縁層2を形成す
る。さらに、絶縁層2の上に銅箔層3を形成し、その
後、銅箔層3を選択的にエッチングすることによってパ
ターニングする。その結果、絶縁配線基板100が形成
される。また、それと前後して、あらかじめ入手した市
販の基板の一方主面の金属箔を配線10の形状にパター
ニングすることによって、制御回路基板101を形成す
る。
【0015】つぎに、電力用半導体素子5をハンダ4で
金属箔3の上の所定の部位にハンダ付けする。それと同
時ないし前後して、電子部品13等をハンダ12で配線
10の上の所定の部位にハンダ付けすることによって、
制御回路を形成する。つぎに、絶縁配線基板100と制
御回路基板101とをケース16に、それぞれ接着剤1
7と接着剤7とで接着する。その後、アルミワイヤ6で
電力用半導体素子5と金属箔3の間等をワイヤボンディ
ングすることによって、主回路を形成する。
【0016】その後、端子14a,14bを配線10お
よび金属箔3の所定の部位にそれぞれハンダ5a,5b
を用いてハンダ付けする。なお、ハンダ4、12、15
a、15bとして、それぞれ融点の異なるハンダを準備
し、前の工程でハンダ付けに供されたハンダを溶融しな
いようにする点は、図28の装置と同様である。最後に
ケース16と絶縁配線基板100とで囲まれる内部を封
止樹脂18で封止することによって装置が完成する。
【0017】
【発明が解決しようとする課題】従来装置は、以上のよ
うに構成されていたので、つぎのような問題点を有して
いた。まず、図28の従来装置では、高価な絶縁配線基
板100の上に制御回路基板101が接着されているた
め、絶縁配線基板100の上に、主回路の部品を搭載で
きない領域が発生することが避けらない。このため、こ
の部分で高価な絶縁配線基板100が無駄となるという
問題点があった。
【0018】また、端子14a、14bが、独立した部
品として準備され、それらがハンダ付けによって基板1
00、101に取り付けられるので、ハンダ付けを実行
する際にはそれらの端子14a、14bを支持する治具
を必要とするという問題点があった。このことは、製造
工程を複雑かつ困難にするとともに、特に製造工程の自
動化を阻害する要因となっていた。
【0019】他方、図29の従来装置では、絶縁配線基
板100と制御回路基板101とを横に並べて配置して
いるため、絶縁配線基板100のサイズが小さく抑えら
れるという利点がある。しかしながら、基板を横に並べ
たため、それらの基板を固定するためにケース16が底
面部にも必要となった。すなわち、ケース16の構造が
複雑となるという別の問題が発生した。また、端子14
a、14bの構造が図28の従来装置と同様であるため
に、製造工程を自動化することが困難であった。
【0020】この発明は、従来の装置における上記した
問題点を解消するためになされたもので、主回路の放熱
効率を劣化させることなく、製造が容易で製造コストが
節減される半導体パワーモジュールを提供することを目
とする
【0021】
【0022】
【0023】第1の発明は、外部の負荷への電力の供給
を担う主電流の流れを制御する電力用半導体素子が搭載
された主回路基板と、当該電力用半導体素子の動作を制
御する制御回路素子が搭載される制御回路基板とが、電
気絶縁性の枠体を通じて固定的に連結されている半導体
パワーモジュールにおいて、外部との間で主電流および
電気信号の入出力を行うための複数の端子の各1が、前
記枠体に一部埋設されることによって当該枠体に固定さ
れており、前記主回路基板が、熱良導性の平坦な金属板
と、当該金属板の上に形成された絶縁層と、当該絶縁層
の上に配設された主回路配線パターンと、を備え、前記
電力用半導体素子は当該主回路配線パターンの所定部位
に固着されており、前記枠体は、上端が開放され側壁部
と底面部とを有する箱状であって、しかも当該底面部に
開口部を有しており、前記主回路基板は、前記電力用半
導体素子が前記枠体の内側に収納され前記金属板が外側
に露出する向きに、前記開口部に挿入されており、前記
制御回路基板は、電気絶縁性の制御回路基板本体と、当
該制御回路基板本体の少なくとも一方主面上に配設され
た制御回路配線パターンと、を備え、前記制御回路素子
は、前記一方主面上において前記制御回路配線パターン
の所定部位に接続されており、前記制御回路基板本体の
他方主面が前記枠体の内側表面に固着されることによっ
て、前記制御回路基板が前記枠体に固定されており、
記主回路基板は、前記金属板が前記枠体の底部の外側表
面よりも突出するように前記枠体に固定されていること
を特徴とする。
【0024】
【0025】
【0026】
【0027】第2の発明は、外部の負荷への電力の供給
を担う主電流の流れを制御する電力用半導体素子が搭載
された主回路基板と、当該電力用半導体素子の動作を制
御する制御回路素子が搭載される制御回路基板とが、電
気絶縁性の枠体を通じて固定的に連結されている半導体
パワーモジュールにおいて、外部との間で主電流および
電気信号の入出力を行うための複数の端子の各1が、前
記枠体に一部埋設されることによって当該枠体に固定さ
れており、前記主回路基板が、熱良導性の平坦な金属板
と、当該金属板の上に形成された絶縁層と、当該絶縁層
の上に配設された主回路配線パターンと、を備え、前記
電力用半導体素子は当該主回路配線パターンの所定部位
に固着されており、前記枠体は、上端が開放され側壁部
と底面部とを有する箱状であって、しかも当該底面部に
開口部を有しており、前記主回路基板は、前記電力用半
導体素子が前記枠体の内側に収納され前記金属板が外側
に露出する向きに、前記開口部に挿入されており、前記
制御回路基板は、電気絶縁性の制御回路基板本体と、当
該制御回路基板本体の少なくとも一方主面上に配設され
た制御回路配線パターンと、を備え、前記制御回路素子
は、前記一方主面上において前記制御回路配線パターン
の所定部位に接続されており、前記制御回路基板本体の
他方主面が前記枠体の内側表面に固着されることによっ
て、前記制御回路基板が前記枠体に固定されており、
記制御回路基板本体の前記他方主面は、前記側壁部の内
側表面に固着されていることを特徴とする。
【0028】第3の発明は、第の発明の半導体パワー
モジュールにおいて、前記複数の端子は前記底面部の内
側表面において露出しており、前記制御回路配線パター
ンの所定部位と前記複数の端子の前記露出する部分の中
の所定部位とがハンダ付けされていることを特徴とす
る。
【0029】第4の発明は、第の発明の半導体パワー
モジュールにおいて、前記制御回路基板本体が樹脂製の
シート状であり、前記制御回路基板が柔軟に折り曲げ可
能であって、当該制御回路基板が前記側壁部を離れて前
記底面部の内側表面に沿う第1延長部を有し、当該第1
延長部における前記制御回路配線パターンの所定部位と
前記複数の端子の前記露出する部分の中の所定部位と
が、ハンダ付けされていることを特徴とする。
【0030】第5の発明は、第の発明の半導体パワー
モジュールにおいて、前記制御回路基板が、前記主回路
基板の前記主回路配線パターンが形成される側の主面に
対向するように前記側壁部を離れて前記第1延長部とは
反対側に延びた第2延長部を有することを特徴とする。
【0031】第6の発明は、外部の負荷への電力の供給
を担う主電流の流れを制御する電力用半導体素子が搭載
された主回路基板と、当該電力用半導体素子の動作を制
御する制御回路素子が搭載される制御回路基板とが、電
気絶縁性の枠体を通じて固定的に連結されている半導体
パワーモジュールにおいて、外部との間で主電流および
電気信号の入出力を行うための複数の端子の各1が、前
記枠体に一部埋設されることによって当該枠体に固定さ
れており、前記主回路基板が、熱良導性の平坦な金属板
と、当該金属板の上に形成された絶縁層と、当該絶縁層
の上に配設された主回路配線パターンと、を備え、前記
電力用半導体素子は当該主回路配線パターンの所定部位
に固着されており、前記枠体は、上端が開放され側壁部
と底面部とを有する箱状であって、しかも当該底面部に
開口部を有しており、前記主回路基板は、前記電力用半
導体素子が前記枠体の内側に収納され前記金属板が外側
に露出する向きに、前記開口部に挿入されており、前記
制御回路基板は、電気絶縁性の制御回路基板本体と、当
該制御回路基板本体の少なくとも一方主面上に配設され
た制御回路配線パターンと、を備え、前記制御回路素子
は、前記一方主面上において前記制御回路配線パターン
の所定部位に接続されており、前記制御回路基板本体の
他方主面が前記枠体の内側表面に固着されることによっ
て、前記制御回路基板が前記枠体に固定されており、
記複数の端子の中の、前記主回路配線パターンと電気的
に接続される端子が、前記開口部の内側へと突出してお
り、当該端子の突出した部分と前記主回路配線パターン
とが固着されることによって、双方の電気的接続がなさ
れるとともに前記主回路基板と前記枠体との間の固定が
なされていることを特徴とする。
【0032】第7の発明は、第の発明の半導体パワー
モジュールにおいて、前記枠体の内側に樹脂が充填され
ることによって、前記主回路基板、前記制御回路基板、
前記電力用半導体素子、および、前記制御回路素子が封
止されており、前記主回路基板の外周端面と前記開口部
の内周端面との間に間隙が設けられており、前記樹脂は
当該間隙をも充填していることを特徴とする。
【0033】
【0034】
【0035】第8の発明は、外部の負荷への電力の供給
を担う主電流の流れを制御する電力用半導体素子が搭載
された主回路基板と、当該電力用半導体素子の動作を制
御する制御回路素子が搭載される制御回路基板とを備え
る半導体パワーモジュールにおいて、前記制御回路基板
が主面中央部に開口部を有する平板状であって、前記主
回路基板が、前記開口部に挿入されて前記制御回路基板
に固着されており、外部との間で主電流および電気信号
の入出力を行うための複数の端子が、前記制御回路基板
に接続されており、前記主回路基板が、熱良導性の平坦
な金属板と、当該金属板の上に形成された絶縁層と、当
該絶縁層の上に配設された主回路配線パターンと、を備
え、前記電力用半導体素子は当該主回路配線パターンの
所定部位に固着されており、前記制御回路基板は、電気
絶縁性の板状の制御回路基板本体と、当該制御回路基板
本体の少なくとも一方主面上に配設された制御回路配線
パターンと、を備え、前記制御回路素子は、前記一方主
面上において前記制御回路配線パターンの所定部位に接
続されており、前記主回路基板の前記主回路配線パター
ンが形成される側の主面が前記制御回路基板本体の前記
一方主面と同一方向を向くように、前記主回路基板と前
記制御回路基板との間の固定がなされており、前記主回
路配線パターンの表面と前記制御回路配線パターンの表
面とが同一平面上に並ぶように、前記主回路基板と前記
制御回路基板との間の固定が行われており、前記主回路
基板の前記主面の反対側主面が、前記制御回路基板本体
の他方主面よりも突出するように、前記主回路基板の厚
さと前記制御回路基板の厚さの関係が設定されているこ
とを特徴とする。
【0036】第9の発明は、第の発明の半導体パワー
モジュールにおいて、前記複数の端子の外方先端部およ
び前記主回路基板の前記反対側主面が露出するように、
少なくとも前記主回路基板の前記主面、前記制御回路基
板本体の前記一方主面、前記電力用半導体素子、およ
び、前記制御回路素子が樹脂で封止されていることを特
徴とする。
【0037】第10の発明は、第の発明の半導体パワ
ーモジュールにおいて、前記制御回路基板の前記他方主
面と、当該他方主面から突出する前記主回路基板の外周
端面との間に接着剤を塗布することによって、前記主回
路基板と前記制御回路基板とが互いに固定されているこ
とを特徴とする。
【0038】第11の発明は、外部の負荷への電力の供
給を担う主電流の流れを制御する電力用半導体素子が搭
載された主回路基板と、当該電力用半導体素子の動作を
制御する制御回路素子が搭載される制御回路基板とを備
える半導体パワーモジュールにおいて、前記制御回路基
板が主面中央部に開口部を有する平板状であって、前記
主回路基板が、前記開口部に挿入されて前記制御回路基
板に固着されており、外部との間で主電流および電気信
号の入出力を行うための複数の端子が、前記制御回路基
板に接続されており、前記主回路基板が、熱良導性の平
坦な金属板と、当該金属板の上に形成された絶縁層と、
当該絶縁層の上に配設された主回路配線パターンと、を
備え、前記電力用半導体素子は当該主回路配線パターン
の所定部位に固着されており、前記制御回路基板は、電
気絶縁性の板状の制御回路基板本体と、当該制御回路基
板本体の少なくとも一方主面上に配設された制御回路配
線パターンと、を備え、前記制御回路素子は、前記一方
主面上において前記制御回路配線パターンの所定部位に
接続されており、前記主回路基板の前記主回路配線パタ
ーンが形成される側の主面が前記制御回路基板本体の前
記一方主面と同一方向を向くように、前記主回路基板と
前記制御回路基板との間の固定がなされており、前記主
回路配線パターンの表面と前記制御回路配線パターンの
表面とが同一平面上に並ぶように、前記主回路基板と前
記制御回路基板との間の固定が行われており、前記制御
回路配線パターンと前記複数の端子とが、それらの主面
が露出するように前記制御回路基板本体の前記一方主面
に埋設されることによって、当該制御回路基板本体に固
定されていることを特徴とする。
【0039】第12の発明は、第11の発明の半導体パ
ワーモジュールにおいて、前記複数の端子の中の、前記
主回路配線パターンと電気的に接続される端子が、前記
開口部の内側へと突出しており、当該端子の突出した部
分と前記主回路配線パターンとが固着されることによっ
て、双方の電気的接続がなされるとともに前記主回路基
板と前記制御回路基板との間の固定がなされていること
を特徴とする。
【0040】第13の発明は、第12の発明の半導体パ
ワーモジュールにおいて、前記複数の端子の外方先端部
および前記主回路基板の前記反対側主面が露出するよう
に、少なくとも前記主回路基板の前記主面、前記制御回
路基板本体の前記一方主面、前記電力用半導体素子、お
よび、前記制御回路素子が樹脂で封止されており、前記
主回路基板の外周端面と前記開口部の内周端面との間に
間隙が設けられており、前記樹脂は当該間隙をも充填し
ていることを特徴とする。
【0041】
【0042】第14の発明は、前記主回路基板の前記主
面の反対側主面と前記金属基材の他方主面とが同一平面
上に並ぶように、前記主回路基板と前記金属基材との間
の固定が行われていることを特徴とする。
【0043】第15の発明は、第14の発明の半導体パ
ワーモジュールにおいて、前記主回路配線パターンの表
面と前記制御回路配線パターンの表面とが同一平面上に
並ぶように、前記主回路基板、前記制御回路基板、およ
び、前記金属基材の厚さの関係が設定されていることを
特徴とする。
【0044】
【0045】
【0046】
【0047】
【0048】
【0049】
【0050】
【0051】
【0052】
【0053】
【0054】
【0055】
【0056】
【0057】
【0058】
【0059】
【0060】
【0061】
【0062】
【0063】
【0064】
【0065】
【0066】
【作用】第1、第2及び第6の各発明の半導体パワーモ
ジュールでは、複数の端子が枠体に固定されているの
で、装置を製造する際に、端子を制御回路基板等へハン
ダ付けによって固定するという従来装置で必要とされた
工程が必要でなくなる。
【0067】第1、第2及び第6の各発明の半導体パワ
ーモジュールでは、主回路基板が枠体の底面部の開口部
に固定的に挿入されており、制御回路基板が枠体の内側
表面に固着されている。すなわち、主回路基板と制御回
路基板とは互いに重ならないように配置されている。し
たがって、構造が複雑で高価な主回路基板が、不必要に
広く用いられることがない。また、主回路基板は、金属
板が外側に向くように開口部に挿入されているので、電
力用半導体素子で発生した熱が金属板を通じて効率よく
放散される。
【0068】第1の発明の半導体パワーモジュールで
は、主回路基板に備わる金属板が枠体の底部の外側表面
よりも突出するので、表面が平坦な通常の放熱板へ装置
を取り付けたときに、放熱板と金属板との間が密着す
る。
【0069】
【0070】
【0071】
【0072】第2の発明の半導体パワーモジュールで
は、制御回路基板が枠体の側壁部の内側表面に固着され
ているので、装置の底面積が縮小され装置が小型化され
る。
【0073】第3の発明の半導体パワーモジュールで
は、複数の端子が枠体の底面部の内側表面において露出
しており、制御回路配線パターンが、この露出部にハン
ダ付けされることによって、制御回路配線パターンと端
子との電気的接続がなされている。すなわち、制御回路
基板が枠体の側壁に取り付けられているためにボンディ
ングワイヤによる電気的接続が容易でない制御回路配線
パターンと端子との間の接続が容易に行ない得る。
【0074】第4の発明の半導体パワーモジュールで
は、制御回路基板が柔軟に折り曲げ可能で、枠体の側壁
部と底面部の双方に沿うように折り曲げられ、制御回路
配線パターンと底面部に露出する端子との間がハンダ付
けされる。このため、制御回路配線パターンと端子との
電気的接続が容易に行なわれる。
【0075】第5の発明の半導体パワーモジュールで
は、制御回路基板が側壁部を離れて主回路基板に覆いか
ぶさるように延びている。すなわち、制御回路基板と主
回路基板とが立体的に配置されるので、装置の寸法がさ
らに縮小される。
【0076】第6の発明の半導体パワーモジュールで
は、開口部の内側へと突出した端子に主回路配線パター
ンが固着されることによって、それらの間の電気的接続
と同時に主回路基板の枠体への固定がなされている。こ
のため、装置の製造工程において、接着剤等による主回
路基板の固定、ボンディングワイヤ等による電気的接続
を個別に行う必要がない。
【0077】第7の発明の半導体パワーモジュールで
は、枠体の内側に樹脂が充填されることによって、電力
用半導体素子等が封止されているので、電力用半導体素
子等の回路部品が外部から侵入する水分等から保護され
る。特に、主回路基板の外周端面と開口部の内周端面と
の間に間隙が設けられ、この間隙にも樹脂が充填されて
いるので、装置の底面からの水分等の侵入も防止され
る。
【0078】第8及び第11の各発明の半導体パワーモ
ジュールでは、主回路基板が制御回路基板の開口部に挿
入されて、互いに固着されているので、双方の基板を固
定的に連結するための枠体を必要としない。
【0079】第8及び第11の各発明の半導体パワーモ
ジュールでは、主回路配線パターンと制御回路配線パタ
ーンとが同一平面上に並ぶように、双方の基板が固定さ
れている。このため、電力用半導体素子および制御回路
素子を、主回路配線パターンおよび制御回路配線パター
ンにそれぞれ接続する際に、ハンダを一括的に印刷する
ことが可能である。
【0080】第8の発明の半導体パワーモジュールで
は、主回路基板と制御回路基板の厚さを調節すること
で、主回路基板の金属板が制御回路基板の他方主面より
も突出しているので、表面が平坦な通常の放熱板へ装置
を取り付けたときに、放熱板と金属板との間が密着す
る。
【0081】第9の発明の半導体パワーモジュールで
は、電力用半導体素子等が樹脂によって封止されている
ので、電力用半導体素子等の回路部品が外部から侵入す
る水分等から保護される。また、封止樹脂によって装置
の機械的強度が高くなる。さらに、主回路基板の反対側
主面すなわち金属板の表面が封止樹脂から露出している
ので、金属板を通じての放熱が封止樹脂によって妨げら
れない。
【0082】第10の発明の半導体パワーモジュールで
は、制御回路基板の他方主面と、これより突出する主回
路基板の外周端面との間に接着剤が塗布されるので、双
方の基板が強固に固着される。
【0083】第11の発明の半導体パワーモジュールで
は、制御回路配線パターンと複数の端子とが、制御回路
基板本体に埋設されることによって固定されているの
で、装置を製造する際に、端子を制御回路配線パターン
へハンダ付けによって固定する工程を必要としない。
【0084】第12の発明の半導体パワーモジュールで
は、開口部の内側へと突出した端子に主回路配線パター
ンが固着されることによって、それらの間の電気的接続
と同時に主回路基板の制御回路基板への固定がなされて
いる。このため、装置の製造工程において、接着剤等に
よる主回路基板の固定、ボンディングワイヤ等による電
気的接続を個別に行う必要がない。
【0085】第13の発明の半導体パワーモジュールで
は、電力用半導体素子等が樹脂で封止されているので、
電力用半導体素子等の回路部品が外部から侵入する水分
等から保護される。このため、装置の信頼性および寿命
が向上する。特に、主回路基板の外周端面と開口部の内
周端面との間に間隙が設けられ、この間隙にも樹脂が充
填されているので、装置の底面からの水分等の侵入も防
止される。
【0086】第14の発明の半導体パワーモジュールで
は、金属基材の開口部に主回路基板が挿入されて固着さ
れており、金属基材の主面上に制御回路基板が固着され
ている。すなわち、単純な形状の金属基材を通じて双方
の基板が固定的に連結している。このため、低コストで
しかも高い機械的強度が得られる。さらに、金属基材は
熱良導性であるために、電力用半導体素子で生じた熱
が、主回路基板の金属板からさらに金属基材へも伝わっ
て、外部へと放散されるので、高い放熱効率が得られ
る。
【0087】第14の発明の半導体パワーモジュールで
は、主回路基板の反対側主面すなわち金属板の表面と、
金属基材の他方主面とが、同一平面上に並ぶように、主
回路基板と金属基材との間の固定がなされている。この
ため、表面が平坦な通常の放熱板へ装置を取り付けたと
きに、金属板だけでなく金属基材も放熱板へ密着する。
【0088】第15の発明の半導体パワーモジュールで
は、主回路配線パターンの表面と制御回路配線パターン
の表面とが同一平面上に並ぶように、双方の基板と金属
基材の厚さの関係が設定されているので、電力用半導体
素子および制御回路素子を、主回路配線パターンおよび
制御回路配線パターンにそれぞれ接続する際に、ハンダ
を一括的に印刷することが可能である。
【0089】
【0090】
【0091】
【0092】
【0093】
【0094】
【0095】
【0096】
【0097】
【0098】
【0099】
【0100】
【0101】
【0102】
【0103】
【0104】
【0105】
【0106】
【0107】
【0108】
【0109】
【0110】
【0111】
【実施例】
<第1実施例>図1は第1実施例の半導体パワーモジュ
ールの正面断面図である。なお、以下の図において、図
28に示した従来装置と同一部材あるいは同一の材料で
構成され同様の機能を果たす部材については、同一符号
を付してその詳細な説明を略する。図1において、10
2は電気絶縁性の樹脂で構成され、端子14a、14b
を一体的に組み込むように成型された枠体である。枠体
102は、側壁部とともに底面部を有し、上端が開放さ
れた箱状をなしている。
【0112】図2は、枠体102と絶縁配線基板100
の輪郭形状を示す概略平面図である。上述した図1は、
図2におけるA−A切断線に沿った断面図である。図2
に示すように、枠体102の底面部の中央部には矩形の
開口部30が形成されており、この開口部30を埋める
ように矩形の絶縁配線基板100が枠体102に固定さ
れている。
【0113】図1に戻って、枠体102の開口部30に
は絶縁配線基板100が挿入されている。開口部30の
側壁(内周端面)の上端部には、内側に突出する突出部
30aが設けられており、絶縁配線基板100の上面端
縁部がこの突出部30aに当接することによって、絶縁
配線基板100の上下方向の位置が容易に定められる。
絶縁配線基板100は、装置の搬送時等において開口部
30から下方に脱落しないように、接着剤17によって
開口部30の側壁に固着されている。接着剤17は、開
口部30の側壁と配線10の外周端面とを互いに接着し
ている。
【0114】このとき、絶縁配線基板100の底面(言
い替えるとアルミベース板1の底面)が、枠体102の
底面よりも幾分下方に突出するように、絶縁配線基板1
00の厚さと枠体102の底面部における突出部30a
より下方の厚さとが調整されている。このため、この装
置を例えば表面が平坦な通常の放熱板へ取り付けたとき
に、枠体102をネジ等で放熱板へ固定することによっ
て、絶縁配線基板100の底面を放熱板へ密着させるこ
とが可能である。すなわち、装置の放熱効率を高めるこ
とができる。このとき、突出部30aは接着剤17とと
もに、絶縁配線基板100が開口部30を貫通して上方
へ不必要に浮き上がることを防止する働きをもなす。
【0115】図3は、制御回路基板101とその周辺部
を拡大して示す斜視断面図である。図3における断面
は、図2におけるA−A切断線に沿っている。図3に示
すように、端子14a、14bはともに枠体102に埋
め込まれている。すなわち、端子14a、14bは「L
字」型に折曲げられた平板状であり、その直立部は頭部
を残して枠体102の側壁部に埋め込まれており、頭部
が枠体102の側壁部の上端面から上方へ突出してい
る。他方の水平部はその上面が露出するとともに枠体1
02の底面部の上面と同一平面となるように、底面部に
埋設されている。
【0116】制御回路基板101は、接着剤7によって
枠体102の底面部の上面に固着されている。そうし
て、端子14bと制御回路基板101の上面に形成され
た配線10(図3では図示を略している)の所定の部位
とが、ボンディングワイヤ6によって電気的に接続され
ている。図1に示したように、この装置の例では、複数
個の制御回路基板101が同要領で取り付けられてい
る。端子14aと絶縁配線基板100の金属箔3の所定
の部位との間も、同じくボンディングワイヤ6で電気的
に接続されている(図1)。
【0117】このように、この実施例の装置では、端子
14a、14bが枠体102と一体的に成型されている
ために、装置を製造する際に、従来装置で必要とされた
端子14a、14bをハンダ付けによって固定する工程
が必要でなくなる。また、ワイヤボンディング等の量産
性に優れた方法によって制御回路基板101と端子14
bおよび、絶縁配線基板100と端子14aの電気的接
続を行うことが可能となる。したがって、製造工程が容
易化されるとともに製造コストが節減される。
【0118】また、この実施例の装置では、絶縁配線基
板100の上に、主回路の部品を搭載できない領域が発
生することない。すなわち、高価な絶縁配線基板100
が、主回路が占める領域を超えて、不必要に大きなサイ
ズで用いられることがない。このことも、製造コストの
節減に寄与する。
【0119】<第2実施例>図4は第2実施例の半導体
パワーモジュールの正面断面図である。この装置は、第
1実施例の装置とは、端子14aの水平部の先端部が開
口部30の端縁から内側に突出しており、代わりに突出
部30aは設けられない点が特徴的に異なっている。す
なわち、端子14aの先端部が、突出部30aに替わる
機能、すなわち、絶縁配線基板100の上下方向の位置
決め機能を果たしている。しかも、この先端部の底面
が、絶縁配線基板100の上面に形成された金属箔3の
所定部位に直接にハンダ付けあるいは溶接される。その
結果、ボンディングワイヤ6を用いて接続する方法に比
べて、はるかに容易かつ短時間で金属箔3が端子14a
に電気的に接続される。
【0120】また、端子14aの先端部と金属箔3との
ハンダ付け等を行うことで、電気的接続が実現すると同
時に、絶縁配線基板100が端子14aを介して枠体1
02に固定的に支持される。このため、絶縁配線基板1
00と枠体102との間に接着剤17を用いる必要がな
くなる。すなわち、二重の意味で、製造工程の省力化お
よび省時間化が得られる。
【0121】この装置の製造工程は、つぎの通りであ
る。まず、端子14a、14bが一体的に成型された枠
体102、金属箔3がパターニングされた絶縁配線基板
100、および配線10がパターニングされた制御回路
基板101を準備する。その後、電力用半導体素子5お
よび電子部品13を、絶縁配線基板100上の金属箔3
の所定部位および制御回路基板101上の配線10の所
定部位に、それぞれハンダ付けする。つぎに制御回路基
板101を枠体102の底面部の上面に接着剤7を用い
て固着する。
【0122】つぎに、絶縁配線基板100を枠体102
の開口部30の中へ底面側から挿入する。開口部30の
内側へと突出する端子14aの先端部の底面と絶縁配線
基板100の上の銅箔層3の所定部位とが当接した状態
で、それらの当接する部材の間を例えば局部ハンダ付け
装置を用いることによって接合する。互いに接合される
先端部と金属箔3との位置関係は、絶縁配線基板100
を開口部30へ挿入することで必然的に定まるので、そ
れらの位置合わせを特別に行う必要がない。
【0123】さらに、電力用半導体素子5と絶縁配線基
板100の上に形成された銅箔層3との間、端子14b
と制御回路基板101の上に形成された配線10の所定
部位との間等を、アルミワイヤ6でワイヤボンディング
する。最後に、枠体102と絶縁配線基板100とで囲
まれる内部を封止樹脂18で封止することによって装置
が完成する。封止樹脂18には、好ましくはエポキシ樹
脂が用いられる。
【0124】このとき、絶縁配線基板100と枠体10
2との間に間隙を設けることが好ましい。こうすること
によって、封止樹脂18が絶縁配線基板100と枠体1
02の間の間隙にまで容易に浸潤し、この間隙が封止樹
脂18によって確実に充填されるので、装置の外部から
内部への水分等の進入を防止することができる。また同
時に、枠体102と電力用半導体素子5などの発熱によ
って温度が上昇する絶縁配線基板100との間に熱応力
が発生することが防止されるので、熱応力に起因するそ
れらの接続部の破損事故が防止されるという利点も得ら
れる。すなわち、二重の意味で装置の信頼性が向上す
る。
【0125】なお、間隙の大きさは、封止樹脂18が確
実に充填されるとともに、熱応力の発生を抑える効果を
得る上で、200μm程度以上とすることが望ましい。
【0126】<第3実施例>第1実施例および第2実施
例では、絶縁配線基板100と制御回路基板101と
が、横に並列に配置されたが、それらを互いにある角度
をもって配置することによって、装置の高密度化を図る
ことが可能となる。ここでは、その一例について説明す
る。
【0127】図5はこの実施例の半導体パワーモジュー
ルの正面断面図である。この装置では、制御回路基板1
01が枠体102の側壁部の内側表面に取り付けられて
いる点が、第1実施例の装置とは特徴的に異なってい
る。制御回路基板101は、接着剤7で側壁部の内側に
固着されている。すなわち、絶縁配線基板100と制御
回路基板101は、直角の角度をもって互いに配置され
ている。
【0128】このように、枠体102の側壁が有効利用
されるので、枠体102の底面部が縮小される。すなわ
ち、装置の寸法上最も重要な装置の底面部の寸法が縮小
され、その結果、取扱いの容易な小型の装置が実現す
る。
【0129】図6は、制御回路基板101とその周辺部
を拡大して示す斜視断面図である。図6に示すように、
端子14bの水平部の先端部14cは直立するように折
曲げられている。そうして、制御回路基板101は、こ
の直立する先端部14cと枠体102の側壁との間に挟
み込まれるように取り付けられている。しかも、制御回
路基板101が備える配線10の所定の部位と先端部1
4cとが当接するように、制御回路基板101の位置決
めがなされている。
【0130】配線10の所定の部位と先端部14cと
は、ハンダ付けによって確実に電気的に接続されてい
る。このハンダ付けを行うには、制御回路基板101が
固定される前に、配線10の所定の部位と先端部14c
とに、それぞれ予備ハンダを塗布しておくとよい。そう
することによって、容易かつ確実にハンダ付けが行われ
る。このように、制御回路基板101が直立しているた
めにボンディングワイヤ6の使用が容易でない配線10
と端子14bとの間の電気的接続が、ハンダ付けによっ
て、直接に容易に行われる。
【0131】この実施例では、制御回路基板101が直
立する例を示したが、側壁部の内側表面が斜め上方を向
くように底面部に対して傾斜した枠体102を用い、制
御回路基板101を側壁部の内側表面に固着することに
よって、制御回路基板101を絶縁配線基板100に対
して斜めに傾斜するように配置してもよい。この場合に
も、傾斜の度合いに応じて、装置の底面部の寸法が縮小
される。
【0132】<第4実施例>つぎに、絶縁配線基板10
0と制御回路基板101とが互いにある角度をもって配
置された半導体パワーモジュールのもう一つの例につい
て説明する。図7は、この装置例における制御回路基板
とその周辺部分を拡大して示す斜視断面図である。ま
た、図8は、図7におけるB−B切断線に沿った断面図
である。この装置では、制御回路基板101として、い
わゆるフレキシブル基板34が用いられている。
【0133】フレキシブル基板34は、代表的には0.1m
m程度の厚さのポリイミドなどの機械的強度の高い樹脂
で構成される基板本体32の片面ないし両面に、代表的
には0.05mm程度の厚さの導電性の金属箔33を付着させ
た構造の基板である。金属箔33が基板本体32の内部
の層にも形成された、多層基板の形態を有するものも周
知である。金属箔33は、通常の回路基板と同様に、目
的に応じてパターニングした上で使用に供される。フレ
キシブル基板34は、その厚さが小さいために、柔軟に
折曲げて使用可能である点、すなわち可とう性を有する
点が最も重要な特徴となっている。
【0134】図7および図8に示すように、制御回路基
板101としてのフレキシブル基板34の主要部が、枠
体102の内側の側壁に沿って接着剤7で貼着されてい
る。さらに、フレキシブル基板34の下端部は、枠体1
02の底面部の上面に沿うように折曲げられている。そ
して、この下端部の貼着面に形成される金属箔33の所
定の部位と端子14bとが互いに重なっており、それら
の間がハンダ付けによって電気的に接続されている。
【0135】以上のように、この実施例の装置では、制
御回路基板101として可とう性を有するフレキシブル
基板34が用いられるために、端子14bの水平部の先
端部を折曲げることなく、枠体102の側壁に沿って固
定された制御回路基板101と端子14bとの電気的接
続が容易に行われる。
【0136】<第5実施例>図9は、絶縁配線基板10
0と制御回路基板101とが互いにある角度をもって配
置された半導体パワーモジュールのさらに別の例を示す
正面断面図である。この装置においても、第4実施例の
装置と同様に、制御回路基板101としてフレキシブル
基板34が用いられている。この装置では、フレキシブ
ル基板34は、枠体102の側壁に貼着された部分から
さらに上方に長く延びており、しかもこの延長部は絶縁
配線基板100の上方を覆うように水平方向に折曲げら
れている。
【0137】そして、制御回路を構成する電子部品13
は、この水平方向に延びた延長部に取り付けられてい
る。すなわち、電子部品13が絶縁配線基板100の上
方に立体的に配置されている。このため、枠体102の
側壁の高さを低くすることによって、装置のさらなる小
型化が可能となる。
【0138】<第6実施例>図10は第6実施例の半導
体パワーモジュールの正面断面図である。図10に示す
ように、この装置では、枠体102が設けられず、制御
回路基板101に設けられた開口部40の側壁に、絶縁
配線基板100の外周端面が直接に接合されている。
【0139】図11は、制御回路基板101と絶縁配線
基板100の輪郭形状を示す概略平面図である。図10
は、図11におけるC−C切断線に沿った断面図であ
る。図11に示すように、制御回路基板101の中央部
には矩形の開口部40が形成されており、この開口部4
0に矩形の絶縁配線基板100が嵌め込まれている。
【0140】図10に戻って、開口部40に嵌合する絶
縁配線基板100の上面(電力用半導体素子5が取り付
けられる主面)と制御回路基板101の上面(電子部品
13が取り付けられる主面)とは、略同一平面となるよ
うに、双方の基板の上下方向の相対位置が定められてい
る。このため、双方の基板の上のハンダ4、12、15
a、15bを、一括的に印刷することが可能となる。す
なわち、製造工程において、双方の基板をあたかも平坦
な一つの基板であるかのように取り扱うことができる。
その結果、製造プロセスが簡素化されるという利点が得
られる。
【0141】絶縁配線基板100の厚さは、制御回路基
板101よりも大きく設定されている。このため、絶縁
配線基板100の底面(言い替えるとアルミベース板1
の底面)は、制御回路基板101の底面よりも下方に突
出する。その結果、制御回路基板101の底面における
開口部40の周辺部と絶縁配線基板100の外周端面と
の間に角(かど)部が形成される。この角部に接着剤1
7を供給することによって、絶縁配線基板100と制御
回路基板101とが強固に固着されている。すなわち、
双方の基板が互いに直接に固定されている。このため、
この装置では、枠体102等のケースが不要である。
【0142】制御回路基板101の上面の外周部には複
数の端子14a、14bが配設されている。端子14
a、14bは、制御回路基板101の上面に形成されて
いる配線10の所定の部位に、ハンダ15a、15bに
よってそれぞれハンダ付けされている。なお、図10に
は、これらの中の端子14b、ハンダ15bのみが、代
表として描かれている。
【0143】端子14a、14bの外側先端部と絶縁配
線基板100の底面部分とのみを残して、他のすべての
部材は封止樹脂18によって封止されている。これによ
って、装置の内部が保護されている。封止樹脂18は、
制御回路基板101の底面および接着剤17をも覆うよ
うに設けられる。絶縁配線基板100は、その底面が封
止樹脂18の底面よりもさらに下方へ突出するように、
その厚さが十分な大きさに設定されている。このため、
この装置を例えば表面が平坦な通常の放熱板へ取り付け
たときに、絶縁配線基板100の底面を放熱板へ密着さ
せることが可能である。
【0144】この装置の製造工程は、つぎの通りであ
る。まず、制御回路基板101と絶縁配線基板100を
準備する。そうして、絶縁配線基板100を制御回路基
板101の開口部40に嵌挿し、双方の上面を略同一平
面に揃えた状態で接着剤7を用いて双方の基板を接着す
る。
【0145】つぎに、ハンダ4、12、15a、15b
を、それぞれ所定の部位に一括的に印刷する。その後、
電力用半導体素子5、電子部品13、および端子14
a、14bを、ハンダが印刷によって塗布された所定の
部位に載置する。そうして、昇温と後続する冷却とを行
うことによって、電力用半導体素子5、電子部品13、
および端子14a、14bを、ハンダ4、12、15
a、15bによって所定の部位に固着する。
【0146】つぎに、電力用半導体素子5と金属箔3と
の間、金属箔3と配線10との間等を、アルミワイヤ6
でワイヤボンディングする。最後に、封止樹脂18で装
置の内部を封止することによって装置が完成する。この
装置においても、封止樹脂18には、電気絶縁性に加え
て耐熱性、機械的強度、封止の容易さ等に優れるエポキ
シ樹脂が適している。
【0147】<第7実施例>図12は第7実施例の半導
体パワーモジュールの断面図である。また、図13は、
この実施例の装置の制御回路基板101の斜視断面図で
ある。図12および図13に示すように、この装置で
は、配線10および端子14a、14bが制御回路基板
本体9の上面に埋め込まれている点が、第6実施例の装
置とは特徴的に異なっている。すなわち、この装置で
は、制御回路基板101としてインサート基板103が
用いられている。なお、図12および図13では、端子
14a、14bを代表して、端子14bのみが描かれて
いるが、端子14aも同様に制御回路基板本体9の上面
に埋め込まれている。
【0148】このように、端子14a、14bが制御回
路基板本体9と一体的に成型されたインサート基板10
3が用いられるために、端子14a、14bを配線10
の上にハンダ付けする必要がない。また、端子14a、
14bおよび配線10は、いずれもその上面が制御回路
基板本体9の上面と同一平面となるように、制御回路基
板本体9に埋設されている。このため、電子部品13を
配線10の上だけでなく、端子14a、14bの上にも
直接に固着することが可能である。すなわち、端子14
a、14bは、あたかも配線10の一部であるかのよう
に取り扱うことができる。
【0149】以上のように、この装置では製造工程が簡
略化され、その結果、製造コストも節減される。
【0150】<第8実施例>図14は、第8実施例の半
導体パワーモジュールの正面断面図である。この装置で
は、端子14aの先端部が開口部40の端縁から内側に
突出しており、その先端部の底面が、絶縁配線基板10
0の上面の金属箔3の所定部位に直接にハンダ付け、ろ
う付け、あるいは溶接されることによって、インサート
基板103と絶縁配線基板100とが互いに固定されて
いる点が、第7実施例の装置とは特徴的に異なってい
る。
【0151】したがって、ボンディングワイヤ6を用い
て接続する方法に比べて、はるかに容易かつ短時間で金
属箔3が端子14aに電気的に接続される。しかも、端
子14aの先端部と金属箔3とのハンダ付け等を行うこ
とで、電気的接続が実現すると同時に、絶縁配線基板1
00がインサート基板103に固定的に支持される。こ
のため、接着剤17を用いて長時間をかけて絶縁配線基
板100とインサート基板103とを接着する必要がな
くなる。すなわち、二重の意味で、製造工程の省力化お
よび省時間化が得られる。
【0152】端子14aと金属箔3との間の固着には、
電子部品13および電力用半導体素子5を固着するため
に用いられるハンダよりも融点の高いハンダ、あるいは
ハンダよりも融点の高いロウ材が用いられる。あるい
は、溶接によって固着してもよい。そうすることによっ
て、一体化された絶縁配線基板100とインサート基板
103との上に、ハンダを一括印刷して電力用半導体素
子5および電子部品13を同時に固着することが可能と
なる。すなわち、製造工程の簡略化を図ることができ
る。
【0153】この装置の製造工程は、つぎの通りであ
る。まず、配線10とともに端子14a、14bが一体
的に成型されたインサート基板10、および、金属箔3
がパターニングされた絶縁配線基板100を準備する。
【0154】つぎに、絶縁配線基板100をインサート
基板103の開口部40の中へ底面側から挿入する。開
口部40の内側へと突出する端子14aの先端部の底面
と絶縁配線基板100の上の銅箔層3の所定部位とが当
接した状態で、それらの当接する部材の間を、例えばレ
ーザ溶接を用いて固着する。その結果、金属箔3と端子
14aとの間の電気的接続と、双方の基板の間の固定と
が同時に実現する。互いに接合される端子14aの先端
部と金属箔3との位置関係は、絶縁配線基板100を開
口部40へ挿入することで必然的に定まるので、それら
の位置合わせを特別に行う必要がない。
【0155】つぎに、ハンダ4、12を、それぞれ所定
の部位に一括的に印刷する。その後、電力用半導体素子
5および電子部品13を、ハンダが印刷によって塗布さ
れた所定の部位に載置する。そうして、昇温と後続する
冷却とを行うことによって、これらの電力用半導体素子
5、電子部品13を、ハンダ4、12によって所定の部
位に固着する。
【0156】つぎに、電力用半導体素子5と銅箔層3と
の間、および金属箔3と配線10の間を、アルミワイヤ
6でワイヤボンディングする。最後に、封止樹脂18で
装置の内部を封止することによって装置が完成する。
【0157】なお、絶縁配線基板100と枠体102と
の間には、間隙を設けることが好ましい。こうすること
によって、封止樹脂18が絶縁配線基板100とインサ
ート基板103の間の間隙にまで容易に浸潤し、この間
隙が封止樹脂18によって確実に充填されるので、装置
の外部から内部への水分等の進入を防止することができ
る。また同時に、インサート基板103と電力用半導体
素子5などの発熱によって温度が上昇する絶縁配線基板
100との間に熱応力が発生することが防止されるの
で、熱応力に起因するそれらの接続部の破損事故が防止
されるという利点も得られる。すなわち、二重の意味で
装置の信頼性が向上する。
【0158】なお、間隙の大きさは、封止樹脂18が確
実に充填されるとともに、熱応力の発生を抑える効果を
得る上で、200μm程度以上とすることが望ましい。
【0159】<第9実施例>図15は、第9実施例の半
導体パワーモジュールの正面断面図である。図15に示
すように、この装置は、アルミニウム等の熱良導性の金
属で構成された金属基材104を備えている。
【0160】図16は、絶縁配線基板100と金属基材
104の輪郭形状を示す概略平面図である。図16に示
すように、金属基材104の中央部には矩形の開口部5
0が形成されており、この開口部50に矩形の絶縁配線
基板100が嵌め込まれている。上述した図15は、図
16におけるD−D切断線に沿った断面図である。
【0161】図15に戻って、開口部50に嵌挿された
アルミベース板1の外周端面が、接着剤で開口部50の
側壁(内周端面)に接着されることによって、絶縁配線
基板100と金属基材104とが互いに固定されてい
る。このため、アルミベース板1と金属基材104と
は、接着剤を介して互いに結合している。金属基材10
4の上には、制御回路基板101が設置されている。制
御回路基板101は接着剤7で金属基材104の上に固
着されている。
【0162】制御回路基板101の上面の外周部には複
数の端子14a、14bが配設されている。端子14
a、14bは、制御回路基板101の上面に形成されて
いる配線10の所定の部位に、ハンダ15a、15bに
よってそれぞれハンダ付けされている。図15には、こ
れらの中の端子14b、ハンダ15bのみが、代表とし
て描かれている。端子14a、14bの外側先端部、絶
縁配線基板100の底面部分、および、金属基材104
の底面部分のみを残して、他のすべての部材は封止樹脂
18によって封止されている。これによって、装置の内
部が保護されている。
【0163】絶縁配線基板100の上の金属箔3の所定
の部位には電力用半導体素子5が固着されている。電力
用半導体素子5は、ボンディングワイヤ6によって他の
配線部材と電気的に接続されるが、この装置では、電力
用半導体素子5がボンディングワイヤ6を通じて接続さ
れる配線部材は制御回路基板101の上の配線10に限
られる。すなわち、電力用半導体素子5はボンディング
ワイヤ6を介して配線10に直接に接続され、ボンディ
ングワイヤ6と配線10との間に金属箔3を介さない。
このため、金属箔3の面積は、電力用半導体素子5を固
着するのに必要な大きさに限られる。その結果、絶縁配
線基板100の面積が最小限に抑えられる。すなわち、
高価な絶縁配線基板100を最大限に節減することがで
きる。
【0164】絶縁配線基板100の面積が少なくなって
も、絶縁配線基板100のアルミベース板1と金属基材
104とは互いに固着されているために、電力用半導体
素子5からアルミベース板1へと伝わった熱が金属基材
104へとさらに伝わるので、放熱効率の低下を招かな
い。
【0165】また、好ましくは、図15に示すように、
絶縁配線基板100の底面と金属基材104の底面とが
同一平面上に並ぶように、双方の上下方向の相対位置が
定められる。そうすることで、金属基材104はアルミ
ベース板1とともに、表面が平坦な外部の放熱板等へ密
着可能となるので、電力用半導体素子5からアルミベー
ス板1へと伝わった熱が、金属基材104をも通じて放
熱板等へ放散される。その結果、放熱の効率がさらに高
まる。
【0166】絶縁配線基板100の上面と制御回路基板
101の上面とは、略同一平面となるように、絶縁配線
基板100、金属基材104、および制御回路基板10
1の厚さが最適化されている。例えば、絶縁配線基板1
00の底面と金属基材104の底面とを同一平面上に揃
えるときには、絶縁配線基板100の厚さは、金属基材
104の厚さと制御回路基板101の厚さの和に略一致
するように設定されている。
【0167】そうすることによって、絶縁配線基板10
0と制御回路基板101とを金属基材104に固定した
後に、双方の基板の上の所定の部位に、ハンダ4、1
2、15a、15bを、一括的に印刷することが可能と
なる。すなわち、製造プロセスが簡素化されるという利
点が得られる。
【0168】また、この実施例の装置では、絶縁配線基
板100と制御回路基板101とが金属基材104を通
じて結合するので、機械的強度が高いという利点があ
る。さらに、金属基材104は、単に開口部を有する平
板形状をなしており、その構造は単純である。すなわ
ち、金属基材104は、図29の従来装置におけるケー
ス16に比べて、製造が容易で、しかも製造コストが低
廉である。しかも、上述したように、金属基材104を
用いることによって、高価な絶縁配線基板100が節減
されるので、製造コストはさらに低廉となる。
【0169】<第10実施例>図17は、第10実施例
の半導体パワーモジュールの正面断面図である。図17
に示すように、この装置は、アルミニウム等の熱良導性
の金属で構成された金属基材105を備えている。そう
して、この金属基材105の上に、絶縁配線基板100
と制御回路基板101とが設置されている。
【0170】図18は、絶縁配線基板100と制御回路
基板101の輪郭形状を示す概略平面図である。図18
に示すように、矩形の金属基材105の上に、矩形の絶
縁配線基板100と同じく矩形の制御回路基板101と
が、互いに隣接するように横に並べられている。上述し
た図17は、図17におけるE−E切断線に沿った断面
図である。
【0171】図17に戻って、絶縁配線基板100の底
面と金属基材105の上面とが、接着剤19で接着され
ることによって、絶縁配線基板100は金属基材105
の上に固定されている。また、制御回路基板101の底
面と金属基材105の上面とが、接着剤7で接着される
ことによって、制御回路基板101は金属基材105の
上に固定されている。これらの接着剤の中で、少なくと
も接着剤19には、耐熱性に優れるとともに熱伝導性の
高い材料が選ばれる。
【0172】絶縁配線基板100の上面の制御回路基板
101と隣接する部分を除く外周部には、端子14aが
配設されている。端子14aは、絶縁配線基板100の
上面に形成されている金属箔3の所定の部位に、ハンダ
15aによってハンダ付けされている。同様に、制御回
路基板101の上面の絶縁配線基板100と隣接する部
分を除く外周部には、端子14bが配設されている。端
子14bは、制御回路基板101の上面に形成されてい
る配線10の所定の部位に、ハンダ15bによってハン
ダ付けされている。
【0173】端子14a、14bの外側先端部、およ
び、金属基材105の底面部分のみを残して、他のすべ
ての部材は封止樹脂18によって封止されている。これ
によって、装置の内部が保護されている。
【0174】絶縁配線基板100の上の金属箔3の所定
の部位には、電力用半導体素子5がハンダ4によって固
着されている。電力用半導体素子5は、ボンディングワ
イヤ6によって金属箔3と電気的に接続されている。ま
た、絶縁配線基板100の上の金属箔3の所定の部位
と、制御回路基板101の上の配線10の所定の部位と
の間も、ボンディングワイヤ6によって電気的に接続さ
れている。また、配線10の所定の部位には、電子部品
13がハンダ12によって固着されている。
【0175】絶縁配線基板100の上面と制御回路基板
101の上面とは、略同一平面となるように、絶縁配線
基板100、および制御回路基板101の厚さが調整さ
れている。そうすることによって、絶縁配線基板100
と制御回路基板101とを金属基材105に固定した後
に、双方の基板の上の所定の部位に、ハンダ4、12、
15a、15bを、一括的に印刷することが可能とな
る。その結果、製造プロセスが簡素化されるという利点
が得られる。
【0176】絶縁配線基板100の底面すなわちアルミ
ベース板1の底面は、金属基材105に固着されている
ので、電力用半導体素子5で発生した熱は、アルミベー
ス板1から、それよりも広い金属基材105へと伝わ
り、外部の放熱板等へと放散される。このため、良好な
放熱効率が得られるという利点がある。また、接着剤1
9が用いられるために、アルミベース板1から金属基材
105への熱の伝導を妨げることなく、絶縁配線基板1
00を金属基材105の上へ容易に固定することができ
る。また、接着剤19は耐熱性であるために、熱による
特性の劣化の恐れがない。
【0177】また、絶縁配線基板100と制御回路基板
101とが金属基材105を通じて結合するので、機械
的強度が高いという利点がある。さらに、金属基材10
5は、単なる平板形状の金属板であり、その構造はきわ
めて単純である。すなわち、金属基材105は、図29
の従来装置におけるケース16に比べて、製造が容易
で、しかも製造コストが低廉である。すなわち、低廉な
コストで高い機械的強度と良好な放熱効率とが得られる
という利点がある。
【0178】<第11実施例>図19は、第11実施例
の半導体パワーモジュールの一部を拡大して示す拡大断
面図である。この装置では、金属基材105の上面の一
部に凸部51が設けられている点、言い替えると金属基
材105の上面の一部が凸部51の形状に盛り上がって
いる点が、第10実施例の装置とは特徴的に異なってい
る。凸部51の上面は平坦である。他の部分の構成は、
第10実施例の装置と同様である。
【0179】凸部51は、絶縁配線基板100が固着さ
れる領域内の電力用半導体素子5の直下の部位に設けら
れている。そうすることによって、絶縁配線基板100
が金属基材105の上に接着剤19を介して固着される
ときに、大きな加圧力を印加することなく、電力用半導
体素子5の直下の接着剤19が容易にその周辺部へと流
出させ、電力用半導体素子5の直下の接着剤19の厚さ
を選択的に小さくすることができる。その結果、電力用
半導体素子5で発生した熱が、より効果的に金属基材1
05へと伝達するので、放熱効率が一層向上する。
【0180】<第12実施例>つぎに第12実施例の半
導体パワーモジュールについて説明する。この実施例の
装置では、金属基材105と絶縁配線基板100のアル
ミベース板1とが、一部において溶接されている点が、
第10実施例の装置とは特徴的に異なっており、他の部
分の構成は、第10実施例の装置と同様である。図20
および図21は、この実施例の装置の溶接される部位を
示す正面断面図および平面図である。図20は図21に
おけるF−F切断線に沿った断面図である。これらの図
において、42は溶接によって形成された金属の架橋で
ある。
【0181】これらの図に示すように、溶接は、絶縁配
線基板100の外周端面に沿った複数箇所(図21では
2箇所を例示している)において行われている。しか
も、金属架橋42が、アルミベース板1の底面と金属基
材105の上面との間にも形成されるように、溶接箇所
においては、接着剤19がアルミベース板1および金属
基材105の外周端面から、適度な深さに除去されてい
る。そうして、金属架橋42は、外周端面から内側へと
侵入するように形成されている。このため、高い溶接強
度が得られる。
【0182】このように、絶縁配線基板100と金属基
材105とが溶接されるために、アルミベース板1と金
属基材105との間の熱的接触が、長期的に保証され
る。すなわち、放熱効率に対して高い長期的信頼性が得
られる。特に、絶縁配線基板100を金属基材105へ
と加圧しつつ溶接を実行することによって、接着剤19
が常に加圧された状態に置かれるので、放熱効率に対し
て一層高い長期的信頼性が得られる。
【0183】<第13実施例>図22は、第13実施例
の半導体パワーモジュールの特徴部を示す断面図であ
る。図22において、43は溶接によって形成される金
属架橋である。この装置では、アルミベース板1と金属
基材105の外周端面の溶接箇所において、凹部が設け
られており、金属架橋43がこの凹部に形成されている
点が、第12実施例の装置とは特徴的に異なっており、
他の部分の構成は、第12実施例の装置と同様である。
【0184】この装置では、溶接箇所に凹部が設けられ
るので、溶接時の加圧および加熱に起因するアルミベー
ス板1および金属基材105の変形を、凹部に限定する
ことができる。その結果、金属基材105の底面の平坦
度が確保されるので、金属基材105の底面と外部の放
熱板との間の良好な熱的接触が保証されるという利点が
得られる。
【0185】<第14実施例>図23および図24は、
それぞれ第14実施例の半導体パワーモジュールの正面
断面図および斜視断面図である。この装置では、絶縁配
線基板100は用いられず、アルミニウム等の熱良導性
の金属で構成された金属基材107の上に、熱良導性の
接着剤19によってリードフレーム106が固着されて
おり、このリードフレーム106の上に、電力用半導体
素子5および制御回路基板101が固着されている。電
力用半導体素子5で発生する熱は、接着剤19および金
属基材107を効率よく伝わり、外部の放熱板等へと速
やかに放散される。すなわち、放熱効率が良好である。
【0186】また、リードフレーム106は、主回路の
配線パターンを構成するとともに、外部装置との主電流
の受け渡しを行うための端子14a、入出力信号の受け
渡しを行う端子14bをも構成している。すなわち、リ
ードフレーム106は、例えば第10実施例における金
属箔3と端子14a、14bとの双方を兼ねている。製
造工程で準備されるリードフレーム106には、図示し
ないタイバが周縁部に設けられており、このタイバを通
じて全体が一体的に連結されている。リードフレーム1
06は、金属基材107の上に固着された後に、タイバ
が切除されることによって、連結が解除され、複数の孤
立した部分へと切り離される。
【0187】電力用半導体素子5とリードフレーム10
6の所定の部位との間、および、制御回路基板101の
上の配線10とリードフレーム106の所定の部位との
間は、ボンディングワイヤ6で電気的に接続されてい
る。図23および図24には、制御回路基板101が、
二つの制御回路基板101a、101bに分割されてい
る例を示している。このように、制御回路基板101
は、複数の部分に分割されていてもよい。
【0188】端子14a、14bの外側先端部、およ
び、金属基材107の底面部分のみを残して、他のすべ
ての部材は封止樹脂18によって封止されている。これ
によって、装置の内部が保護されている。
【0189】この実施例の装置は、以上のように構成さ
れるので、端子14a、14bを別途準備した上で、金
属箔3あるいは配線10へとハンダ付けによって接続す
る必要がない。また、高価な絶縁配線基板100を用い
ることなく、良好な放熱特性が得られる。すなわち、製
造工程が簡略化されるとともに製造コストが節減され
る。さらに、主回路と制御回路とが、上下2層に配設さ
れるので、装置の高密度化、小型化が可能であるという
利点も得られる。
【0190】この装置の製造工程は、つぎの通りであ
る。はじめに、平板状の金属基材107とリードフレー
ム106とを準備する。リードフレーム106の周縁部
には、全体を一体的に連結する図示しないタイバが形成
されている。そうして、金属基材107の上に、接着剤
19を用いてリードフレーム106を固着する。その
後、タイバを切除して、リードフレーム106をいくつ
かの孤立した部分へと切り離す。
【0191】つぎに、電力用半導体素子5を、リードフ
レーム106の上の所定の部位に、ハンダ4でハンダ付
けする。その後、電子部品13があらかじめ搭載された
制御回路基板101を、接着剤7を用いてリードフレー
ム106の上に固着する。つづいて、ボンディングワイ
ヤ6を用いて、電力用半導体素子5とリードフレーム1
06の所定の部位との間、および、制御回路基板101
の上の配線10とリードフレーム106の所定の部位と
の間を電気的に接続する。最後に、封止樹脂18で装置
の内部を封止することによって装置が完成する。
【0192】金属基材107とリードフレーム106と
を接着する接着剤19として、絶縁体の微粒子が混入さ
れた接着剤を用いるのが望ましい。そうすることによっ
て、接着剤19の厚さが所定の大きさに容易に調整され
るので、金属基材107とリードフレーム106との間
に、高い熱伝導性とともに、所望の高さの絶縁耐圧が容
易に確保される。混入する微粒子として、微粒子の径よ
りも結晶粒径の小さいAlN(窒化アルミニウム)が、
特に適している。
【0193】<第15実施例>図25は、第15実施例
の半導体パワーモジュールの正面断面図である。この装
置では、絶縁配線基板100の上に形成された金属箔3
に、電力用半導体素子5とリードフレーム108とが固
着されている。電力用半導体素子5はハンダ4で固着さ
れており、他方のリードフレーム108は、例えばエポ
キシ系接着剤などの安価な接着剤20で固着されてい
る。
【0194】この装置では、リードフレーム108は、
制御回路の配線パターン、主回路の配線パターン、およ
び外部装置との電気的接続のための端子を構成してい
る。このため、絶縁配線基板100の上に形成される金
属箔3を少なくして、高価な絶縁配線基板100の面積
を縮小することができる。また、制御回路の電子部品1
3は、リードフレーム108の上の所定部位にハンダ付
けされる。電子部品13は、ベアチップ部品(樹脂等で
モールドされない裸のチップから成る回路素子)であっ
てもよい。電力用半導体素子5は、ボンディングワイヤ
6によって、リードフレーム108の所定の部位に電気
的に接続されている。
【0195】リードフレーム108の端子に相当する部
分の先端部、および、絶縁配線基板100を構成するア
ルミベース板1の底面部分のみを残して、他のすべての
部材は封止樹脂18によって封止されている。これによ
って、装置の内部が保護されている。
【0196】この実施例の装置は、以上のように構成さ
れるので、端子を別途準備した上で、金属箔3等へとハ
ンダ付けする必要がない。また、制御回路基板101を
準備する必要もない。さらに、上述したように、高価な
絶縁配線基板100を節減することができる。このた
め、製造工程が簡略化されるとともに製造コストが節減
される。また、接着剤20として、テープ状接着剤を用
いることによって、製造工程の作業性を、さらに改善す
ることができる。
【0197】この装置の製造工程は、つぎの通りであ
る。はじめに、絶縁配線基板100の上に形成されてい
る金属箔3の上の所定部位に、ハンダ4を用いて電力用
半導体素子5をハンダ付けする。つぎに、あらかじめベ
アチップ部品などの電子部品13が搭載されたリードフ
レーム108を、接着剤20で金属箔3の上の所定部位
に固着する。
【0198】リードフレーム108は、その周縁部に設
けられるタイバ(図示を略する)によって、全体が一体
的に連結している。そして、金属箔3の上に固着した後
に、タイバを切除して、リードフレーム108をいくつ
かの孤立した部分へと切り離す。その後、ボンディング
ワイヤ6を用いて、電力用半導体素子5とリードフレー
ム108の所定部位との間、および電子部品13とリー
ドフレーム108の所定部位との間を電気的に接続す
る。最後に、封止樹脂18で装置の内部を封止すること
によって装置が完成する。
【0199】以上のように、一体的に連結したリードフ
レーム108を、絶縁配線基板100の上に固定し、そ
の後、タイバカットを行うことによって、主回路の配線
パターン、制御回路の配線パターン、および端子を同時
に形成できるので、作業の能率が高いという利点があ
る。
【0200】また、製造工程の順序を一部入れ換えて、
電子部品13が搭載されないリードフレーム108を、
金属箔3の所定部位に固着した後に、電力用半導体素子
5と電子部品13とを同時に、金属箔3およびリードフ
レーム108の所定部位にそれぞれ固着してもよい。そ
うすることによって、ハンダの一括印刷が可能になるの
で、工程がさらに簡略となる。また、電子部品13とし
てベアチップ部品を使用した場合に、機械的強度の低い
ベアチップ部品をリードフレーム108の上に搭載した
状態で搬送する必要がないので、搬送時の破損、損傷を
回避することができる。
【0201】<第16実施例>図26は、第16実施例
の装置のリードフレームの斜視図である。この装置で
は、リードフレーム108の代わりに、厚さが全体にわ
たって一定ではなく、流れる電流の大きさに応じて各部
分毎に異なっているリードフレーム109が用いられて
いる点が、第15実施例の装置とは特徴的に異なってお
り、その他の部分は、第15実施例の装置と同様であ
る。すなわち、リードフレーム109の中で、主電流が
流れる主回路の配線パターン109aおよび端子14a
は、微弱な電流のみが流れる制御回路の配線パターン1
09bおよび端子14bよりも、厚く形成されている。
例えば、前者は300μmの厚さに形成され、後者は1
50μmの厚さに形成される。
【0202】この実施例の装置は、このように構成され
るので、制御回路の配線パターン109bを微細化する
ことによって、制御回路を高密度化することができ、そ
の結果、装置を小型化することができる。
【0203】厚さが一定でないリードフレーム109を
容易に形成するために、例えば、厚い部分である配線パ
ターン109a、端子14aと、薄い部分である配線パ
ターン109b、端子14bとを個別に形成して、両者
を重ね合わせて接着するとよい。
【0204】図27は、厚さが一定でないリードフレー
ム108を形成するための別の方法を示す工程図であ
る。この方法では、はじめに、図27(a)に示すよう
に、主回路の配線パターン110aおよびこれに連結す
る端子と、制御回路の配線パターン110bおよびこれ
に連結する端子とを、一定の厚さで構成するリードフレ
ーム110を準備する。リードフレーム110の厚さ
は、例えば150μmである。
【0205】同時に、主回路の配線パターン110aお
よびこれに連結する端子とを構成するもう一つのリード
フレーム111を準備する。リードフレーム111の厚
さは、例えば150μmであり、その平面形状は、配線
パターン110aと同一である。
【0206】つぎに、図27(b)に示すように、リー
ドフレーム110の上にリードフレーム111を重ね、
ハンダ付けする。ハンダ付けは、互いに接触する配線パ
ターン110aとリードフレーム111の双方の表面に
あらかじめハンダメッキを施した後に、重ねて加熱する
ことによって容易に実行可能である。その結果、配線パ
ターン110aとリードフレーム111とによって、厚
い配線パターン109aが形成され、配線パターン11
0bは、そのまま薄い配線パターン109bとなる。
【0207】以上のように、図27の方法では、あらか
じめ薄いリードフレームのみが準備されるので、リード
フレームの加工が容易であるという利点がある。すなわ
ち、装置の製造工程における作業性が向上するという利
点がある。
【0208】<変形例>以上の実施例では、絶縁配線基
板100においてアルミベース板1と金属箔3との間に
介挿される絶縁層2の材料として、エポキシ系樹脂を例
示したが、耐熱性に優れた絶縁材であれば、他の樹脂で
あってもよい。また、樹脂に限らず、例えばセラミクス
であってもよい。例えば、セラミクスの絶縁層2の両面
に金属を接合してなる周知の絶縁配線基板を使用するこ
とも可能である。
【0209】
【発明の効果】第1、第2及び第6の各発明の半導体パ
ワーモジュールでは、複数の端子が枠体に固定されてい
るので、装置を製造する際に、端子を制御回路基板等へ
ハンダ付けによって固定する工程が必要でなくなる。ま
た、ワイヤボンディング等の量産性に優れた方法によっ
て、複数の端子と制御回路基板、および主回路基板との
間の電気的接続を行うことも可能となる。すなわち、製
造工程の容易化と製造コストの節減とがもたらされる。
【0210】第1、第2及び第6の各発明の半導体パワ
ーモジュールでは、主回路基板と制御回路基板とは互い
に重ならないように配置されているので、構造が複雑で
高価な主回路基板が、不必要に広く用いられることがな
い。このため、装置が安価となる。また、主回路基板
は、金属板が外側に向くように開口部に挿入されている
ので、電力用半導体素子で発生した熱が金属板を通じて
外部の放熱板等へ効率よく放散される。すなわち、放熱
効率が良好である。
【0211】第1の発明の半導体パワーモジュールで
は、主回路基板に備わる金属板が枠体の底部の外側表面
よりも突出するので、表面が平坦な通常の放熱板へ装置
を取り付けたときに、放熱板と金属板との間が密着す
る。このため、良好な放熱効率を得るために、表面が平
坦な通常の放熱板を使用することが可能である。
【0212】
【0213】
【0214】
【0215】第2の発明の半導体パワーモジュールで
は、制御回路基板が枠体の側壁部の内側表面に固着され
ているので、装置の底面積が縮小され装置が小型化され
る。
【0216】第3の発明の半導体パワーモジュールで
は、複数の端子が枠体の底面部の内側表面において露出
しており、制御回路配線パターンが、この露出部にハン
ダ付けされることによって、制御回路配線パターンと端
子との電気的接続がなされている。すなわち、制御回路
基板が枠体の側壁に取り付けられているためにボンディ
ングワイヤによる電気的接続が容易でない制御回路配線
パターンと端子との間の接続が容易に行ない得る。
【0217】第4の発明の半導体パワーモジュールで
は、制御回路基板が柔軟に折り曲げ可能で、枠体の側壁
部と底面部の双方に沿うように折り曲げられ、制御回路
配線パターンと底面部に露出する端子との間がハンダ付
けされる。このため、制御回路配線パターンと端子との
電気的接続が容易に行われる。
【0218】第5の発明の半導体パワーモジュールで
は、制御回路基板が側壁部を離れて主回路基板に覆いか
ぶさるように延びることで、制御回路基板と主回路基板
とが立体的に配置されるので、装置の寸法がさらに縮小
される。
【0219】第6の発明の半導体パワーモジュールで
は、開口部の内側へと突出した端子に主回路配線パター
ンが固着されることによって、それらの間の電気的接続
と同時に主回路基板の枠体への固定がなされている。こ
のため、装置の製造工程において、接着剤等による主回
路基板の固定、ボンディングワイヤ等による電気的接続
を個別に行う必要がなく、製造工程が簡略化される。
【0220】第7の発明の半導体パワーモジュールで
は、枠体の内側に樹脂が充填されることによって、電力
用半導体素子等が封止されているので、電力用半導体素
子等の回路部品が外部から侵入する水分等から保護され
る。このため、装置の信頼性および寿命が向上する。特
に、主回路基板の外周端面と開口部の内周端面との間に
間隙が設けられ、この間隙にも樹脂が充填されているの
で、装置の底面からの水分等の侵入も防止される。
【0221】第8及び第11の各発明の半導体パワーモ
ジュールでは、主回路基板が制御回路基板の開口部に挿
入されて、互いに固着されているので、双方の基板を固
定的に連結するための枠体を必要としない。すなわち、
装置の構造が簡単となる。
【0222】第8及び第11の各発明の半導体パワーモ
ジュールでは、主回路配線パターンと制御回路配線パタ
ーンとが同一平面上に並ぶように、双方の基板が固定さ
れている。このため、電力用半導体素子および制御回路
素子を、主回路配線パターンおよび制御回路配線パター
ンにそれぞれ接続する際に、ハンダを一括的に印刷する
ことが可能である。すなわち、製造が容易となり、コス
トが節減される。
【0223】第8の発明の半導体パワーモジュールで
は、主回路基板の金属板が制御回路基板の他方主面より
も突出しているので、表面が平坦な通常の放熱板へ装置
を取り付けたときに、放熱板と金属板との間が密着す
る。このため、良好な放熱効率を得るために、表面が平
坦な通常の放熱板を使用することが可能である。
【0224】第9の発明の半導体パワーモジュールで
は、電力用半導体素子等が樹脂によって封止されている
ので、電力用半導体素子等の回路部品が外部から侵入す
る水分等から保護される。このため、装置の信頼性およ
び寿命が向上する。また、封止樹脂によって装置の機械
的強度が高くなる。さらに、主回路基板を構成する金属
板の表面が露出しているので、高い放熱効率が得られ
る。
【0225】第10の発明の半導体パワーモジュールで
は、制御回路基板の他方主面と、これより突出する主回
路基板の外周端面との間に接着剤が塗布されるので、双
方の基板が強固に固着される。
【0226】第11の発明の半導体パワーモジュールで
は、制御回路配線パターンと複数の端子とが、制御回路
基板本体に固定されているので、装置を製造する際に、
端子を制御回路配線パターンへハンダ付けによって固定
する工程を必要としない。また、制御回路配線パターン
とともに複数の端子の主面が露出しているので、ワイヤ
ボンディング等の量産性に優れた方法によって、制御回
路素子と端子との間の電気的接続を行うことも可能とな
る。
【0227】第12の発明の半導体パワーモジュールで
は、開口部の内側へと突出した端子に主回路配線パター
ンが固着されることによって、それらの間の電気的接続
と同時に主回路基板の制御回路基板への固定がなされて
いる。このため、装置の製造工程において、接着剤等に
よる主回路基板の固定、ボンディングワイヤ等による電
気的接続を個別に行う必要がない。
【0228】第13の発明の半導体パワーモジュールで
は、電力用半導体素子等が樹脂で封止されているので、
電力用半導体素子等の回路部品が外部から侵入する水分
等から保護される。このため、装置の信頼性および寿命
が向上する。特に、主回路基板の外周端面と開口部の内
周端面との間に間隙が設けられ、この間隙にも樹脂が充
填されているので、装置の底面からの水分等の侵入も防
止される。
【0229】第14の発明の半導体パワーモジュールで
は、単純な形状の金属基材を通じて主回路基板と制御回
路基板とが固定的に連結している。このため、複雑な形
状の枠体を有する従来装置に比べて、低コストでしかも
高い機械的強度が得られる。さらに、金属基材は熱良導
性であるために、電力用半導体素子で生じた熱が、主回
路基板の金属板からさらに金属基材へも伝わって、外部
へと放散されるので、高い放熱効率が得られる。
【0230】第14の発明の半導体パワーモジュールで
は、金属板と金属基材の表面が、同一平面上に並んでい
るので、表面が平坦な通常の放熱板へ装置を取り付けた
ときに、金属板だけでなく金属基材も放熱板へ密着す
る。このため、平坦な放熱板を用いることで、さらに良
好な放熱効率が得られる。
【0231】第15の発明の半導体パワーモジュールで
は、主回路配線パターンの表面と制御回路配線パターン
の表面とが同一平面上に並んでいるので、電力用半導体
素子および制御回路素子を、主回路配線パターンおよび
制御回路配線パターンにそれぞれ接続する際に、ハンダ
を一括的に印刷することが可能である。すなわち製造が
容易であり、その結果、装置が安価となる。
【0232】
【0233】
【0234】
【0235】
【0236】
【0237】
【0238】
【0239】
【0240】
【0241】
【0242】
【0243】
【0244】
【0245】
【0246】
【0247】
【0248】
【0249】
【0250】
【0251】
【0252】
【0253】
【図面の簡単な説明】
【図1】 第1実施例の装置の正面断面図である。
【図2】 第1実施例の絶縁配線基板と枠体の平面図で
ある。
【図3】 第1実施例の枠体の斜視断面図である。
【図4】 第2実施例の装置の正面断面図である。
【図5】 第3実施例の装置の正面断面図である。
【図6】 第3実施例の枠体の斜視断面図である。
【図7】 第4実施例の枠体の斜視断面図である。
【図8】 第4実施例の枠体の正面断面図である。
【図9】 第5実施例の装置の正面断面図である。
【図10】 第6実施例の装置の正面断面図である。
【図11】 第6実施例の絶縁配線基板と制御回路基板
の平面図である。
【図12】 第7実施例の装置の正面断面図である。
【図13】 第7実施例のインサート基板の斜視断面図
である。
【図14】 第8実施例の装置の正面断面図である。
【図15】 第9実施例の装置の正面断面図である。
【図16】 第9実施例の絶縁配線基板と金属基材の平
面図である。
【図17】 第10実施例の装置の正面断面図である。
【図18】 第10実施例の絶縁配線基板と金属基材の
平面図である。
【図19】 第11実施例の装置の一部の拡大断面図で
ある。
【図20】 第12実施例の装置の一部の正面断面図で
ある。
【図21】 第12実施例の絶縁配線基板と制御回路基
板の平面図である。
【図22】 第13実施例の装置の一部の正面断面図で
ある。
【図23】 第14実施例の装置の正面断面図である。
【図24】 第14実施例の装置の斜視断面図である。
【図25】 第15実施例の装置の正面断面図である。
【図26】 第16実施例のリードフレームの斜視図で
ある。
【図27】 第16実施例のリードフレームの別の例の
斜視図である。
【図28】 第1従来例の装置の正面断面図である。
【図29】 第2従来例の装置の正面断面図である。
【符号の説明】
1 アルミベース板(金属板)、2 絶縁層、3 金属
箔(主回路配線パターン)、5 電力用半導体素子、9
制御回路基板本体、10 配線(制御回路配線パター
ン)、13 電子部品(制御回路素子)、14a,14
b 端子、17,19 接着剤、18 封止樹脂(樹
脂)、30 開口部、30a 突出部、32 基板本体
(制御回路基板本体)、33 金属箔(制御回路配線パ
ターン)、34 フレキシブル基板(制御回路基板)、
40,50 開口部、42,43金属架橋、100 絶
縁配線基板(主回路基板)、101 制御回路基板、1
02 枠体、104,105 金属基材、106,10
8 リードフレーム、109a 配線パターン(第1リ
ードフレーム材)、109b 配線パターン(第2リー
ドフレーム材)、110 リードフレーム(第1リード
フレーム材)、111 リードフレーム(第2リードフ
レーム材)。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 加柴 良裕 兵庫県尼崎市塚口本町八丁目1番1号 三菱電機株式会社 生産技術センター内 (72)発明者 中出口 真治 兵庫県尼崎市塚口本町八丁目1番1号 三菱電機株式会社 生産技術センター内 (72)発明者 藤原 通雄 兵庫県尼崎市塚口本町八丁目1番1号 三菱電機株式会社 生産技術センター内 (56)参考文献 特開 平5−304248(JP,A) 特開 平4−354362(JP,A) 特開 平6−188363(JP,A) 特開 平7−263621(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 25/00 - 25/18

Claims (15)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 外部の負荷への電力の供給を担う主電流
    の流れを制御する電力用半導体素子が搭載された主回路
    基板と、当該電力用半導体素子の動作を制御する制御回
    路素子が搭載される制御回路基板とが、電気絶縁性の枠
    体を通じて固定的に連結されている半導体パワーモジュ
    ールにおいて、 外部との間で主電流および電気信号の入出力を行うため
    の複数の端子の各1が、前記枠体に一部埋設されること
    によって当該枠体に固定されており、 前記主回路基板が、熱良導性の平坦な金属板と、当該金
    属板の上に形成された絶縁層と、当該絶縁層の上に配設
    された主回路配線パターンと、を備え、 前記電力用半導体素子は当該主回路配線パターンの所定
    部位に固着されており、 前記枠体は、上端が開放され側壁部と底面部とを有する
    箱状であって、しかも当該底面部に開口部を有してお
    り、 前記主回路基板は、前記電力用半導体素子が前記枠体の
    内側に収納され前記金属板が外側に露出する向きに、前
    記開口部に挿入されており、 前記制御回路基板は、電気絶縁性の制御回路基板本体
    と、当該制御回路基板本体の少なくとも一方主面上に配
    設された制御回路配線パターンと、を備え、 前記制御回路素子は、前記一方主面上において前記制御
    回路配線パターンの所定部位に接続されており、 前記制御回路基板本体の他方主面が前記枠体の内側表面
    に固着されることによって、前記制御回路基板が前記枠
    体に固定されており、 前記主回路基板は、前記金属板が前記枠体の底部の外側
    表面よりも突出するように前記枠体に固定されているこ
    とを特徴とする、 半導体パワーモジュール。
  2. 【請求項2】 外部の負荷への電力の供給を担う主電流
    の流れを制御する電力用半導体素子が搭載された主回路
    基板と、当該電力用半導体素子の動作を制御する制御回
    路素子が搭載される制御回路基板とが、電気絶縁性の枠
    体を通じて固定的に連結されている半導体パワーモジュ
    ールにおいて、 外部との間で主電流および電気信号の入出力を行うため
    の複数の端子の各1が 、前記枠体に一部埋設されること
    によって当該枠体に固定されており、 前記主回路基板が、熱良導性の平坦な金属板と、当該金
    属板の上に形成された絶縁層と、当該絶縁層の上に配設
    された主回路配線パターンと、を備え、 前記電力用半導体素子は当該主回路配線パターンの所定
    部位に固着されており、 前記枠体は、上端が開放され側壁部と底面部とを有する
    箱状であって、しかも当該底面部に開口部を有してお
    り、 前記主回路基板は、前記電力用半導体素子が前記枠体の
    内側に収納され前記金属板が外側に露出する向きに、前
    記開口部に挿入されており、 前記制御回路基板は、電気絶縁性の制御回路基板本体
    と、当該制御回路基板本体の少なくとも一方主面上に配
    設された制御回路配線パターンと、を備え、 前記制御回路素子は、前記一方主面上において前記制御
    回路配線パターンの所定部位に接続されており、 前記制御回路基板本体の他方主面が前記枠体の内側表面
    に固着されることによって、前記制御回路基板が前記枠
    体に固定されており、 前記制御回路基板本体の前記他方主面は、前記側壁部の
    内側表面に固着されていることを特徴とする、半導体パ
    ワーモジュール。
  3. 【請求項3】 請求項に記載の半導体パワーモジュー
    ルにおいて、 前記複数の端子は前記底面部の内側表面において露出し
    ており、前記制御回路配線パターンの所定部位と前記複
    数の端子の前記露出する部分の中の所定部位とがハンダ
    付けされていることを特徴とする、半導体パワーモジュ
    ール。
  4. 【請求項4】 請求項に記載の半導体パワーモジュー
    ルにおいて、 前記制御回路基板本体が樹脂製のシート状であり、前記
    制御回路基板が柔軟に折り曲げ可能であって、当該制御
    回路基板が前記側壁部を離れて前記底面部の内側表面に
    沿う第1延長部を有し、当該第1延長部における前記制
    御回路配線パターンの所定部位と前記複数の端子の前記
    露出する部分の中の所定部位とが、ハンダ付けされてい
    ることを特徴とする、半導体パワーモジュール。
  5. 【請求項5】 請求項に記載の半導体パワーモジュー
    ルにおいて、 前記制御回路基板が、前記主回路基板の前記主回路配線
    パターンが形成される側の主面に対向するように前記側
    壁部を離れて前記第1延長部とは反対側に延びた第2延
    長部を有することを特徴とする半導体パワーモジュー
    ル。
  6. 【請求項6】 外部の負荷への電力の供給を担う主電流
    の流れを制御する電力用半導体素子が搭載された主回路
    基板と、当該電力用半導体素子の動作を制御する制御回
    路素子が搭載される制御回路基板とが、電気絶縁性の枠
    体を通じて固定的に連結されている半導体パワーモジュ
    ールにおいて、 外部との間で主電流および電気信号の入出力を行うため
    の複数の端子の各1が、前記枠体に一部埋設されること
    によって当該枠体に固定されており、 前記主回路基板が、熱良導性の平坦な金属板と、当該金
    属板の上に形成された絶縁層と、当該絶縁層の上に配設
    された主回路配線パターンと、を備え、 前記電力用半導体素子は当該主回路配線パターンの所定
    部位に固着されており、 前記枠体は、上端が開放され側壁部と底面部とを有する
    箱状であって、しかも当該底面部に開口部を有してお
    り、 前記主回路基板は、前記電力用半導体素子が前記枠体の
    内側に収納され前記金属板が外側に露出する向きに、前
    記開口部に挿入されており、 前記制御回路基板は、電気絶縁性の制御回路基板本体
    と、当該制御回路基板本体の少なくとも一方主面上に配
    設された制御回路配線パターンと、を備え、 前記制御回路素子は、前記一方主面上において前記制御
    回路配線パターンの所定部位に接続されており、 前記制御回路基板本体の他方主面が前記枠体の内側表面
    に固着されることによって、前記制御回路基板が前記枠
    体に固定されており、 前記複数の端子の中の、前記主回路配線パターンと電気
    的に接続される端子が、前記開口部の内側へと突出して
    おり、当該端子の突出した部分と前記主回路配線パター
    ンとが固着されることによって、双方の電気的接続がな
    されるとともに前記主回路基板と前記枠体との間の固定
    がなされていることを特徴とする、半導体パワーモジュ
    ール。
  7. 【請求項7】 請求項に記載の半導体パワーモジュー
    ルにおいて、 前記枠体の内側に樹脂が充填されることによって、前記
    主回路基板、前記制御回路基板、前記電力用半導体素
    子、および、前記制御回路素子が封止されており、 前記主回路基板の外周端面と前記開口部の内周端面との
    間に間隙が設けられており、前記樹脂は当該間隙をも充
    填していることを特徴とする、半導体パワーモジュー
    ル。
  8. 【請求項8】 外部の負荷への電力の供給を担う主電流
    の流れを制御する電力用半導体素子が搭載された主回路
    基板と、当該電力用半導体素子の動作を制御する制御回
    路素子が搭載される制御回路基板とを備える半導体パワ
    ーモジュールにおいて、 前記制御回路基板が主面中央部に開口部を有する平板状
    であって、 前記主回路基板が、前記開口部に挿入されて前記制御回
    路基板に固着されており、 外部との間で主電流および電気信号の入出力を行うため
    の複数の端子が、前記制御回路基板に接続されており、 前記主回路基板が、熱良導性の平坦な金属板と、当該金
    属板の上に形成された絶縁層と、当該絶縁層の上に配設
    された主回路配線パターンと、を備え、 前記電力用半導体素子は当該主回路配線パターンの所定
    部位に固着されており、 前記制御回路基板は、電気絶縁性の板状の制御回路基板
    本体と、当該制御回路基板本体の少なくとも一方主面上
    に配設された制御回路配線パターンと、を備え、 前記制御回路素子は、前記一方主面上において前記制御
    回路配線パターンの所定部位に接続されており、 前記主回路基板の前記主回路配線パターンが形成される
    側の主面が前記制御回路基板本体の前記一方主面と同一
    方向を向くように、前記主回路基板と前記制御回路基板
    との間の固定がなされており、 前記主回路配線パターンの表面と前記制御回路配線パタ
    ーンの表面とが同一平面上に並ぶように、前記主回路基
    板と前記制御回路基板との間の固定が行われており、 前記主回路基板の前記主面の反対側主面が、前記制御回
    路基板本体の他方主面よりも突出するように、前記主回
    路基板の厚さと前記制御回路基板の厚さの関係が設定さ
    れていることを特徴とする、半導体パワーモジュール。
  9. 【請求項9】 請求項に記載の半導体パワーモジュー
    ルにおいて、 前記複数の端子の外方先端部および前記主回路基板の前
    記反対側主面が露出するように、少なくとも前記主回路
    基板の前記主面、前記制御回路基板本体の前記一方主
    面、前記電力用半導体素子、および、前記制御回路素子
    が樹脂で封止されていることを特徴とする、半導体パワ
    ーモジュール。
  10. 【請求項10】 請求項に記載の半導体パワーモジュ
    ールにおいて、 前記制御回路基板の前記他方主面と、当該他方主面から
    突出する前記主回路基板の外周端面との間に接着剤を塗
    布することによって、前記主回路基板と前記制御回路基
    板とが互いに固定されていることを特徴とする、半導体
    パワーモジュール。
  11. 【請求項11】 外部の負荷への電力の供給を担う主電
    流の流れを制御する電力用半導体素子が搭載された主回
    路基板と、当該電力用半導体素子の動作を制御する制御
    回路素子が搭載される制御回路基板とを備える半導体パ
    ワーモジュールにおいて、 前記制御回路基板が主面中央部に開口部を有する平板状
    であって、 前記主回路基板が、前記開口部に挿入されて前記制御回
    路基板に固着されており、 外部との間で主電流および電気信号の入出力を行うため
    の複数の端子が、前記制御回路基板に接続されており、 前記主回路基板が、熱良導性の平坦な金属板と、当該金
    属板の上に形成された絶縁層と、当該絶縁層の上に配設
    された主回路配線パターンと、を備え、 前記電力用半導体素子は当該主回路配線パターンの所定
    部位に固着されており、 前記制御回路基板は、電気絶縁性の板状の制御回路基板
    本体と、当該制御回路基板本体の少なくとも一方主面上
    に配設された制御回路配線パターンと、を備え、 前記制御回路素子は、前記一方主面上において前記制御
    回路配線パターンの所定部位に接続されており、 前記主回路基板の前記主回路配線パターンが形成される
    側の主面が前記制御回路基板本体の前記一方主面と同一
    方向を向くように、前記主回路基板と前記制御回路基板
    との間の固定がなされており、 前記主回路配線パターンの表面と前記制御回路配線パタ
    ーンの表面とが同一平面上に並ぶように、前記主回路基
    板と前記制御回路基板との間の固定が行われており、 前記制御回路配線パターンと前記複数の端子とが、それ
    らの主面が露出するように前記制御回路基板本体の前記
    一方主面に埋設されることによって、当該制御回路基板
    本体に固定されていることを特徴とする、半導体パワー
    モジュール。
  12. 【請求項12】 請求項11に記載の半導体パワーモジ
    ュールにおいて、 前記複数の端子の中の、前記主回路配線パターンと電気
    的に接続される端子が、前記開口部の内側へと突出して
    おり、当該端子の突出した部分と前記主回路配線パター
    ンとが固着されることによって、双方の電気的接続がな
    されるとともに前記主回路基板と前記制御回路基板との
    間の固定がなされていることを特徴とする、半導体パワ
    ーモジュール。
  13. 【請求項13】 請求項12に記載の半導体パワーモジ
    ュールにおいて、 前記複数の端子の外方先端部および前記主回路基板の前
    記反対側主面が露出するように、少なくとも前記主回路
    基板の前記主面、前記制御回路基板本体の前記一方主
    面、前記電力用半導体素子、および、前記制御回路素子
    が樹脂で封止されており、 前記主回路基板の外周端面と前記開口部の内周端面との
    間に間隙が設けられており、前記樹脂は当該間隙をも充
    填していることを特徴とする、半導体パワーモジュー
    ル。
  14. 【請求項14】 外部の負荷への電力の供給を担う主電
    流の流れを制御する電力用半導体素子が搭載された主回
    路基板と、当該電力用半導体素子の動作を制御する制御
    回路素子が搭載される制御回路基板とを備える半導体パ
    ワーモジュールにおいて、 前記主回路基板が、熱良導性の平坦な金属板と、当該金
    属板の上に形成された絶縁層と、当該絶縁層の上に配設
    された主回路配線パターンと、を備え、 前記電力用半導体素子は当該主回路配線パターンの所定
    部位に固着されており、 前記制御回路基板は、電気絶縁性の制御回路基板本体
    と、当該制御回路基板本体の少なくとも一方主面上に配
    設された制御回路配線パターンと、を備え、 前記制御回路素子は、前記一方主面上において前記制御
    回路配線パターンの所定部位に接続されており、 外部との間で主電流および電気信号の入出力を行うため
    の複数の端子が、前記制御回路基板に接続されており、 前記制御回路基板本体の他方主面が、主面中央部に開口
    部を有する熱良導性の平板状の金属基材の一方主面の上
    に、固着されることによって、前記制御回路基板が前記
    金属基材に固定されており、 前記主回路基板は、前記主回路配線パターンが配設され
    る側の主面が前記制御回路基板の前記一方主面と同一方
    向を向くように、前記開口部に挿入されており、 しかも、前記金属板の外周端面と前記開口部の内周端面
    とが互いに固着されており、 前記主回路基板の前記主面の反対側主面と前記金属基材
    の他方主面とが同一平面上に並ぶように、前記主回路基
    板と前記金属基材との間の固定が行われていることを特
    徴とする、半導体パワーモジュール。
  15. 【請求項15】 請求項14に記載の半導体パワーモジ
    ュールにおいて、 前記主回路配線パターンの表面と前記制御回路配線パタ
    ーンの表面とが同一平面上に並ぶように、前記主回路基
    板、前記制御回路基板、および、前記金属基材の厚さの
    関係が設定されていることを特徴とする、半導体パワー
    モジュール。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20200395278A1 (en) * 2018-03-14 2020-12-17 Mitsubishi Electric Corporation Semiconductor power module and power conversion device

Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6147869A (en) * 1997-11-24 2000-11-14 International Rectifier Corp. Adaptable planar module
JP2001015681A (ja) * 1999-06-28 2001-01-19 Hitachi Ltd パワー回路基板
US6362964B1 (en) * 1999-11-17 2002-03-26 International Rectifier Corp. Flexible power assembly
FR2801763B1 (fr) * 1999-11-30 2002-02-15 Sagem Module electronique de puissance et procede de fabrication d'un tel module
KR100403608B1 (ko) * 2000-11-10 2003-11-01 페어차일드코리아반도체 주식회사 스택구조의 인텔리젠트 파워 모듈 패키지 및 그 제조방법
US7046518B2 (en) * 2001-04-02 2006-05-16 International Rectifier Corporation Power module
JP2002353404A (ja) * 2001-05-22 2002-12-06 Taiheiyo Seiko Kk インテリジェントパワースイッチ装置
KR100442847B1 (ko) * 2001-09-17 2004-08-02 페어차일드코리아반도체 주식회사 3차원 구조를 갖는 전력 반도체 모듈 및 그 제조방법
KR100843734B1 (ko) * 2001-09-27 2008-07-04 페어차일드코리아반도체 주식회사 반도체 전력용 모듈 및 그 제조방법
JP4100332B2 (ja) * 2003-11-12 2008-06-11 株式会社デンソー 電子装置およびその製造方法
DE102006040435B3 (de) * 2006-08-29 2008-01-31 Infineon Technologies Ag Anordnung und Verfahren zur Montage eines Leistungshalbleitermoduls
JP5076440B2 (ja) * 2006-10-16 2012-11-21 富士電機株式会社 半導体装置及び半導体装置の製造方法
JP2009130007A (ja) * 2007-11-21 2009-06-11 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置及びその製造方法
JP2013073949A (ja) * 2011-09-26 2013-04-22 Daikin Ind Ltd 電力変換装置及びそれを備えた冷凍装置
JP5851599B2 (ja) * 2012-05-18 2016-02-03 三菱電機株式会社 パワーモジュール
JP5986488B2 (ja) * 2012-11-21 2016-09-06 日本インター株式会社 パワー半導体モジュールおよびその製造方法
JP6107362B2 (ja) 2013-04-18 2017-04-05 富士電機株式会社 半導体装置の製造方法及び半導体装置
DE112014000756B4 (de) 2013-06-10 2023-06-29 Fuji Electric Co., Ltd. Halbleitervorrichtung und Verfahren zum Herstellen derselben
WO2017163583A1 (ja) * 2016-03-22 2017-09-28 富士電機株式会社 半導体装置および半導体装置の製造方法
JP7172338B2 (ja) * 2018-09-19 2022-11-16 富士電機株式会社 半導体装置及び半導体装置の製造方法
WO2023243306A1 (ja) * 2022-06-13 2023-12-21 ローム株式会社 半導体装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20200395278A1 (en) * 2018-03-14 2020-12-17 Mitsubishi Electric Corporation Semiconductor power module and power conversion device
US11916001B2 (en) * 2018-03-14 2024-02-27 Mitsubishi Electric Corporation Semiconductor power module and power conversion device

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