JP3443095B2 - 器 具 - Google Patents
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01M—PROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
- H01M10/00—Secondary cells; Manufacture thereof
- H01M10/42—Methods or arrangements for servicing or maintenance of secondary cells or secondary half-cells
- H01M10/425—Structural combination with electronic components, e.g. electronic circuits integrated to the outside of the casing
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/48—Biological material, e.g. blood, urine; Haemocytometers
- G01N33/483—Physical analysis of biological material
- G01N33/487—Physical analysis of biological material of liquid biological material
- G01N33/48785—Electrical and electronic details of measuring devices for physical analysis of liquid biological material not specific to a particular test method, e.g. user interface or power supply
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01M—PROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
- H01M50/00—Constructional details or processes of manufacture of the non-active parts of electrochemical cells other than fuel cells, e.g. hybrid cells
- H01M50/20—Mountings; Secondary casings or frames; Racks, modules or packs; Suspension devices; Shock absorbers; Transport or carrying devices; Holders
- H01M50/204—Racks, modules or packs for multiple batteries or multiple cells
- H01M50/207—Racks, modules or packs for multiple batteries or multiple cells characterised by their shape
- H01M50/213—Racks, modules or packs for multiple batteries or multiple cells characterised by their shape adapted for cells having curved cross-section, e.g. round or elliptic
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- H01M50/247—Mountings; Secondary casings or frames; Racks, modules or packs; Suspension devices; Shock absorbers; Transport or carrying devices; Holders specially adapted for portable devices, e.g. mobile phones, computers, hand tools or pacemakers
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
- H01R13/02—Contact members
- H01R13/22—Contacts for co-operating by abutting
- H01R13/24—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted
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- H01M50/50—Current conducting connections for cells or batteries
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
- Y02E60/10—Energy storage using batteries
Description
【０００１】（発明の背景）
本出願は、米国仮特許出願第60/067,512号（1997年12月
4日出願）発明の名称「器具」、同第60/067,499号（199
7年12月4日出願）発明の名称「器具のセットアップユテ
ィリティープログラム」、同第 号（本出願と同日
に出願）発明の名称「器具」、同第 号（本出願と
同日に出願）発明の名称「器具のセットアップユティリ
ティープログラム」に関連するものである。これら本出
願に関連する出願についても、本出願と同じ代理人を任
命するものとする。これらの出願の開示は、引用により
本明細書に含まれるものとする。
4日出願）発明の名称「器具」、同第60/067,499号（199
7年12月4日出願）発明の名称「器具のセットアップユテ
ィリティープログラム」、同第 号（本出願と同日
に出願）発明の名称「器具」、同第 号（本出願と
同日に出願）発明の名称「器具のセットアップユティリ
ティープログラム」に関連するものである。これら本出
願に関連する出願についても、本出願と同じ代理人を任
命するものとする。これらの出願の開示は、引用により
本明細書に含まれるものとする。
【０００２】本発明は、米国特許第4,963,814号、同第
4,999,582号、同第4,999,632号、同第5,288,636号、同
第5,366,609号、同第5,508,171号に記載されている一般
的なタイプの器具に加えた改良に関連するものである。
本発明は、状況に応じてそうした器具のために開示され
る。もっとも、本発明が他の出願にとっても有用なもの
であることは確かである。
4,999,582号、同第4,999,632号、同第5,288,636号、同
第5,366,609号、同第5,508,171号に記載されている一般
的なタイプの器具に加えた改良に関連するものである。
本発明は、状況に応じてそうした器具のために開示され
る。もっとも、本発明が他の出願にとっても有用なもの
であることは確かである。
【０００３】例えば、動物の体液に含まれるグルコース
や、血液等、医学上重要な成分の濃度等の、物理学的、
生物学的なパラメーターの測定には、一般にハンディー
式器具が広く利用されている。上記の各器具は、そうし
た性質をモニターしたり、治療したり、若しくは成分濃
度に望ましくない傾向が生じた際、それを食い止めた
り、好転させるために用いられるものである。糖尿病患
者を例に挙げれば、こうした正しい処置をとることは、
フルーツジュース等の特定の食物を摂取したり、インシ
ュリンを注射するのと同じくらい簡単なことであろう。
また、患者の血液凝固の性質のモニタリングを担当して
いる者にとっては、こうした正しい処置は、すなわち血
液濃度希釈物 (a blood thinner) や凝固因子を採取す
るなどといったことであろう。
や、血液等、医学上重要な成分の濃度等の、物理学的、
生物学的なパラメーターの測定には、一般にハンディー
式器具が広く利用されている。上記の各器具は、そうし
た性質をモニターしたり、治療したり、若しくは成分濃
度に望ましくない傾向が生じた際、それを食い止めた
り、好転させるために用いられるものである。糖尿病患
者を例に挙げれば、こうした正しい処置をとることは、
フルーツジュース等の特定の食物を摂取したり、インシ
ュリンを注射するのと同じくらい簡単なことであろう。
また、患者の血液凝固の性質のモニタリングを担当して
いる者にとっては、こうした正しい処置は、すなわち血
液濃度希釈物 (a blood thinner) や凝固因子を採取す
るなどといったことであろう。
【０００４】（発明の開示）
電力の供給に電池を用いる電気装置は、電池が本装置に
装填された際に、電池の装填された一方の端子と接続す
る第１コネクタと、電池の装填された他方の端子と接続
する第２コネクタとを含んでいる。第２コネクタは、装
置に固定されている基部、基部へ弾性的に接続したり離
れたりする第１脚部、第１脚部へ弾性的に接続したり離
れたりする第２脚部、および第２脚部へ弾性的に接続し
たり離れたりし、かつ第１脚部方向に向かって伸び出し
ている第３脚部を含んでいる。装置の中に電池を装填す
ると、他方の端子が第２脚部に弾性的に係合する。
装填された際に、電池の装填された一方の端子と接続す
る第１コネクタと、電池の装填された他方の端子と接続
する第２コネクタとを含んでいる。第２コネクタは、装
置に固定されている基部、基部へ弾性的に接続したり離
れたりする第１脚部、第１脚部へ弾性的に接続したり離
れたりする第２脚部、および第２脚部へ弾性的に接続し
たり離れたりし、かつ第１脚部方向に向かって伸び出し
ている第３脚部を含んでいる。装置の中に電池を装填す
ると、他方の端子が第２脚部に弾性的に係合する。
【０００５】本発明の態様に従いより詳しく説明する
と、第２脚部が基部からも遠ざかるように伸びている。
同様に本発明の態様に従いより詳しく説明すると、第３
脚部が弾性により基部から遠ざかるように伸びている延
長部を有している。また本発明の態様に従いより詳しく
説明すると、電気装置は、生物学的サンプルにおける医
療上有意な成分の濃度を測定する器具を含んでいる。
と、第２脚部が基部からも遠ざかるように伸びている。
同様に本発明の態様に従いより詳しく説明すると、第３
脚部が弾性により基部から遠ざかるように伸びている延
長部を有している。また本発明の態様に従いより詳しく
説明すると、電気装置は、生物学的サンプルにおける医
療上有意な成分の濃度を測定する器具を含んでいる。
【０００６】本発明の態様に従いより詳しく説明する
と、電池には乾電池を含んでいる。乾電池を装置に装填
すると一方の端子が第１コネクタへ係合する。さらに本
発明の態様に従いより詳しく説明すると、電気装置は乾
電池装填用のウェルを含んでいる。このウェルには開口
部があって、この開口部を通して第１コネクタが、ウェ
ルと開口部に隣接したボスに接触する。ボスは、乾電池
が間違った向きでウェルに装填された際に、他方の端子
が第１コネクタに係合することを防ぐものである。また
本発明の態様に従いより詳しく説明すると、電気装置は
回路基板を含んでおり、第２コネクタの基部はこの回路
基板に固定されている。
と、電池には乾電池を含んでいる。乾電池を装置に装填
すると一方の端子が第１コネクタへ係合する。さらに本
発明の態様に従いより詳しく説明すると、電気装置は乾
電池装填用のウェルを含んでいる。このウェルには開口
部があって、この開口部を通して第１コネクタが、ウェ
ルと開口部に隣接したボスに接触する。ボスは、乾電池
が間違った向きでウェルに装填された際に、他方の端子
が第１コネクタに係合することを防ぐものである。また
本発明の態様に従いより詳しく説明すると、電気装置は
回路基板を含んでおり、第２コネクタの基部はこの回路
基板に固定されている。
【０００７】本発明の態様に従いより詳しく説明する
と、第２コネクタの第１脚部は、基部の垂線に対して、
約５°〜約10°の角度をなして、基部からほぼ第１方向
へ伸び出している。第２脚部は、前記の垂線に対して、
約15°〜約25°の角度をなして、第１脚部から伸び出し
ているが、ほぼそれは第１方向とは反対の第２方向に向
かっている。第３脚部は、前記垂線に対して約40°〜50
°の角度をなして基部に向かって伸び出しているが、そ
れはほぼ第１方向である。
と、第２コネクタの第１脚部は、基部の垂線に対して、
約５°〜約10°の角度をなして、基部からほぼ第１方向
へ伸び出している。第２脚部は、前記の垂線に対して、
約15°〜約25°の角度をなして、第１脚部から伸び出し
ているが、ほぼそれは第１方向とは反対の第２方向に向
かっている。第３脚部は、前記垂線に対して約40°〜50
°の角度をなして基部に向かって伸び出しているが、そ
れはほぼ第１方向である。
【０００８】さらに本発明の態様に従いより詳しく説明
すると、第２コネクタはBeCu190合金を含んでいる。ま
た本発明の態様に従いより詳しく説明すると、第２コネ
クタは60/40のスズ／鉛でメッキされている。本発明の
態様に従いより詳しく説明すると、第２コネクタの各部
位の、それぞれ基部と第１脚部との間の部分、第１脚部
と第２脚部との間の部分、第２脚部と第３脚部との間の
部分の曲率半径は実質的に一定である。さらに本発明の
態様に従いより詳しく説明すると、第３脚部は、基部か
ら遠ざかるように伸びている延長部を有しており、また
第２コネクタの延長部と第３脚部との間における部分の
曲率半径も実質的に一定である。
すると、第２コネクタはBeCu190合金を含んでいる。ま
た本発明の態様に従いより詳しく説明すると、第２コネ
クタは60/40のスズ／鉛でメッキされている。本発明の
態様に従いより詳しく説明すると、第２コネクタの各部
位の、それぞれ基部と第１脚部との間の部分、第１脚部
と第２脚部との間の部分、第２脚部と第３脚部との間の
部分の曲率半径は実質的に一定である。さらに本発明の
態様に従いより詳しく説明すると、第３脚部は、基部か
ら遠ざかるように伸びている延長部を有しており、また
第２コネクタの延長部と第３脚部との間における部分の
曲率半径も実質的に一定である。
【０００９】本発明の別の態様によれば、生物学的サン
プルの医療上有意な成分の濃度を測定する装置は、操作
状態を表示するためのディスプレイを含んでおり、その
ディスプレイは、ポリウレタンで被覆された、実質的に
透明な基板から本質的になるレンズを有している。本発
明の態様に従いより詳しく説明すると、実質的に透明な
その基板はポリカーボネート樹脂から構成されている。
プルの医療上有意な成分の濃度を測定する装置は、操作
状態を表示するためのディスプレイを含んでおり、その
ディスプレイは、ポリウレタンで被覆された、実質的に
透明な基板から本質的になるレンズを有している。本発
明の態様に従いより詳しく説明すると、実質的に透明な
その基板はポリカーボネート樹脂から構成されている。
【００１０】本発明の別の態様によれば、生物学的サン
プルの医療上有意な成分の濃度を測定する装置は、第１
の部分及び第２の部分から成るハウジングを含んでお
り、すなわちそれは、ハウジングの各部のうちの一方か
ら伸びている、少なくとも１つの位置決めピンと、他方
のハウジング部から伸びている、少なくとも１つの相補
的なソケットを含んでいる。このソケットは、上記のピ
ンを受け入れ、第１の部分と第２の部分を組立状態に維
持するためのものである。
プルの医療上有意な成分の濃度を測定する装置は、第１
の部分及び第２の部分から成るハウジングを含んでお
り、すなわちそれは、ハウジングの各部のうちの一方か
ら伸びている、少なくとも１つの位置決めピンと、他方
のハウジング部から伸びている、少なくとも１つの相補
的なソケットを含んでいる。このソケットは、上記のピ
ンを受け入れ、第１の部分と第２の部分を組立状態に維
持するためのものである。
【００１１】本発明の態様に従いより詳しく説明する
と、位置決めピンと相補的なソケットは、その長手軸方
向に対して垂直な断面で実質的に円形をしている。さら
に本発明の態様に従いより詳しく説明すると、位置決め
ピンと相補的なソケットとの係合表面には、相補的なド
ラフト（draft）を備えていて、第１部分と第２部分の
係合時に、２つの部をしっかり一体化させるのに十分な
摩擦を供給している。
と、位置決めピンと相補的なソケットは、その長手軸方
向に対して垂直な断面で実質的に円形をしている。さら
に本発明の態様に従いより詳しく説明すると、位置決め
ピンと相補的なソケットとの係合表面には、相補的なド
ラフト（draft）を備えていて、第１部分と第２部分の
係合時に、２つの部をしっかり一体化させるのに十分な
摩擦を供給している。
【００１２】さらに本発明の態様に従いより詳しく説明
すると、本装置は少なくとも２つの位置決めピンと２つ
の相補的なソケットを含んでいる。本発明の態様に従い
より詳しく説明すると、これら２つの位置決めピンはど
ちらも第１ハウジング部に配置されており、一方２つの
相補的なソケットはどちらも第２ハウジング部に配置さ
れており、その結果第１ハウジング部と第２ハウジング
部を１つに組立てて一体化させた際に、２つの位置決め
ピンがそれぞれ対応する相補的なソケットに収容される
しくみになっている。
すると、本装置は少なくとも２つの位置決めピンと２つ
の相補的なソケットを含んでいる。本発明の態様に従い
より詳しく説明すると、これら２つの位置決めピンはど
ちらも第１ハウジング部に配置されており、一方２つの
相補的なソケットはどちらも第２ハウジング部に配置さ
れており、その結果第１ハウジング部と第２ハウジング
部を１つに組立てて一体化させた際に、２つの位置決め
ピンがそれぞれ対応する相補的なソケットに収容される
しくみになっている。
【００１３】本発明の別の態様によれば、生物学的サン
プルの医療上有意な成分の濃度を測定する装置は、本装
置の操作に使用する第１及び第２キーを含んでいる。こ
れらのキーは、本装置に取り付けられている共通の支持
から伸びている。２つのキーのそれぞれが、共通支持体
に隣接する部分の断面が小さくなっていて、第１キー、
第２キーそれぞれが実質的に独立して稼動できるように
なっている。
プルの医療上有意な成分の濃度を測定する装置は、本装
置の操作に使用する第１及び第２キーを含んでいる。こ
れらのキーは、本装置に取り付けられている共通の支持
から伸びている。２つのキーのそれぞれが、共通支持体
に隣接する部分の断面が小さくなっていて、第１キー、
第２キーそれぞれが実質的に独立して稼動できるように
なっている。
【００１４】本発明の態様に従いより詳しく説明する
と、本装置は、第１キーと第２キーの間に配置されてい
て装置の操作に使用される第３キーを含んでいる。この
第３キーもまた、本装置に取り付けられている第２支持
体に隣接する部分の断面が小さくなっている。
と、本装置は、第１キーと第２キーの間に配置されてい
て装置の操作に使用される第３キーを含んでいる。この
第３キーもまた、本装置に取り付けられている第２支持
体に隣接する部分の断面が小さくなっている。
【００１５】さらに本発明の態様に従いより詳しく説明
すると、共通支持体は、第２支持体を収容するためのリ
リーフ部 (relief portion)を有しており、これによっ
て本装置を組み立てた際には、これら３つのキーによっ
てほぼ１つの面が規定される。
すると、共通支持体は、第２支持体を収容するためのリ
リーフ部 (relief portion)を有しており、これによっ
て本装置を組み立てた際には、これら３つのキーによっ
てほぼ１つの面が規定される。
【００１６】また本発明の態様に従いより詳しく説明す
ると、本装置は第１の部分と第２の部分を備えている１
つのハウジングを含んでいる。本装置は、ハウジング部
の一方に取り付けられた３端子の回路を含んでいる。ま
た本装置は、第１ハウジング部と第２ハウジング部を組
み立てて一体化した際に、これらのキーを固定する手段
をさらに備えていて、これにより稼動時には、各キー
は、対応するそれぞれの端子を操作する。
ると、本装置は第１の部分と第２の部分を備えている１
つのハウジングを含んでいる。本装置は、ハウジング部
の一方に取り付けられた３端子の回路を含んでいる。ま
た本装置は、第１ハウジング部と第２ハウジング部を組
み立てて一体化した際に、これらのキーを固定する手段
をさらに備えていて、これにより稼動時には、各キー
は、対応するそれぞれの端子を操作する。
【００１７】本発明の態様に従いより詳しく説明する
と、本装置は、キーと回路の端子との間に設置された圧
縮性部材を含んでいる。
と、本装置は、キーと回路の端子との間に設置された圧
縮性部材を含んでいる。
【００１８】さらに本発明の態様に従いより詳しく説明
すると、この圧縮性部材は、端子を物理的に隔離できる
大きさの弾性パッドを含んでおり、器具の操作を妨害す
るような汚染物質が発生する可能性を低減している。
すると、この圧縮性部材は、端子を物理的に隔離できる
大きさの弾性パッドを含んでおり、器具の操作を妨害す
るような汚染物質が発生する可能性を低減している。
【００１９】また本発明の態様に従いより詳しく説明す
ると、キーを保護する手段として、他方のハウジング部
から伸びている複数のピンを含んでいる。これらのピン
をキー支持体に設置された対応する複数の開口に受け止
めて、他方のハウジング部と回路との間にある支持体を
保持するしくみとなっている。
ると、キーを保護する手段として、他方のハウジング部
から伸びている複数のピンを含んでいる。これらのピン
をキー支持体に設置された対応する複数の開口に受け止
めて、他方のハウジング部と回路との間にある支持体を
保持するしくみとなっている。
【００２０】本発明の別の態様によれば、生物学的サン
プルの医療上有意な成分の濃度を測定する装置は、スト
リップと器具を含んでいる。この器具は溝を含んでお
り、この溝を通してストリップが挿入される。ストリッ
プは少なくとも１つの電気接点を有していて、この上で
サンプルと連通する。この器具は、濃度測定のためにス
トリップを器具に挿入する際に、ストリップの電気接点
と係合する電気コネクタを含んでいる。この器具は、第
１及び第２ハウジング部を含んでいる。溝はハウジング
部のどちらか一方に設けられており、他方のハウジング
部には電気コネクタが取り付けられている。他方のハウ
ジング部には、部材が固定されていて、ハウジング部が
組み立てられ一体化した際には、コネクタがこの部材に
弾性的に係合する造りとなっていて、コネクタと溝との
位置合わせを容易にしている。
プルの医療上有意な成分の濃度を測定する装置は、スト
リップと器具を含んでいる。この器具は溝を含んでお
り、この溝を通してストリップが挿入される。ストリッ
プは少なくとも１つの電気接点を有していて、この上で
サンプルと連通する。この器具は、濃度測定のためにス
トリップを器具に挿入する際に、ストリップの電気接点
と係合する電気コネクタを含んでいる。この器具は、第
１及び第２ハウジング部を含んでいる。溝はハウジング
部のどちらか一方に設けられており、他方のハウジング
部には電気コネクタが取り付けられている。他方のハウ
ジング部には、部材が固定されていて、ハウジング部が
組み立てられ一体化した際には、コネクタがこの部材に
弾性的に係合する造りとなっていて、コネクタと溝との
位置合わせを容易にしている。
【００２１】本発明の態様に従いより詳しく説明する
と、本装置は、他方のハウジング部に取り付けられた回
路基板を含んでいる。回路基板上には電気コネクタが設
置されている。さらに本発明の態様に従いより詳しく説
明すると、溝は、ストリップを器具に挿入した際に、ス
トリップを誘導する補強リブ部を有しており、ストリッ
プの電気接点と器具の電気コネクタとの係合を容易にし
ている。
と、本装置は、他方のハウジング部に取り付けられた回
路基板を含んでいる。回路基板上には電気コネクタが設
置されている。さらに本発明の態様に従いより詳しく説
明すると、溝は、ストリップを器具に挿入した際に、ス
トリップを誘導する補強リブ部を有しており、ストリッ
プの電気接点と器具の電気コネクタとの係合を容易にし
ている。
【００２２】また本発明の態様に従いより詳しく説明す
ると、部材とコネクタとの弾性的な係合は、ほぼ第１方
向で、コネクタと溝との位置合わせを促進している。補
強リブ部は、第１方向にほぼ垂直な第２方向でストリッ
プを誘導する。
ると、部材とコネクタとの弾性的な係合は、ほぼ第１方
向で、コネクタと溝との位置合わせを促進している。補
強リブ部は、第１方向にほぼ垂直な第２方向でストリッ
プを誘導する。
【００２３】本発明の態様に従いより詳しく説明する
と、本装置は、２つのハウジング部を組み立てて一体化
させる際に、コネクタに弾性的に係合するための第２部
材を含んでいて、これは他方のハウジング部に固定され
ている。この第２部材は、前記第１部材と協同して、コ
ネクタと溝との位置合わせを促進している。本発明の別
の態様によれば、器具の操作方法が提供されている。器
具は、少なくとも複数の器具部品を収容するハウジング
を含んでいる。ハウジング内に収容された器具部品は、
少なくとも第１操作状態及び第２操作状態を有してい
る。器具部品は、器具が第１の操作状態にある時には第
１時間速度で (at a first time rate)熱を放出し、 第
２の操作状態にある時には第１時間速度で (at a secon
d time rate) 熱を放出する。器具部品には、コントロ
ーラが含まれている。コントローラは、前記の第１操作
状態および第２操作状態のそれぞれにおいて、操作した
時間を記録し、その記録から、前記の第１操作状態およ
び第２操作状態において器具を操作した結果生じるハウ
ジング内部の熱を計算する。
と、本装置は、２つのハウジング部を組み立てて一体化
させる際に、コネクタに弾性的に係合するための第２部
材を含んでいて、これは他方のハウジング部に固定され
ている。この第２部材は、前記第１部材と協同して、コ
ネクタと溝との位置合わせを促進している。本発明の別
の態様によれば、器具の操作方法が提供されている。器
具は、少なくとも複数の器具部品を収容するハウジング
を含んでいる。ハウジング内に収容された器具部品は、
少なくとも第１操作状態及び第２操作状態を有してい
る。器具部品は、器具が第１の操作状態にある時には第
１時間速度で (at a first time rate)熱を放出し、 第
２の操作状態にある時には第１時間速度で (at a secon
d time rate) 熱を放出する。器具部品には、コントロ
ーラが含まれている。コントローラは、前記の第１操作
状態および第２操作状態のそれぞれにおいて、操作した
時間を記録し、その記録から、前記の第１操作状態およ
び第２操作状態において器具を操作した結果生じるハウ
ジング内部の熱を計算する。
【００２４】本発明の態様に従いより詳しく説明する
と、器具内部に収容された器具部品は、温度の出力指示
を行なうデバイスを含んでいる。この方法は、ハウジン
グ内部の熱計算に基づく表示温度を調整する手段をさら
に含んでいる。さらに本発明の態様に従いより詳しく説
明すると、ハウジング内部の熱計算に基づく表示温度を
調整するこの手段は、表示温度から、ハウジング内部の
発熱の計算値を差し引く工程を含んでいる。
と、器具内部に収容された器具部品は、温度の出力指示
を行なうデバイスを含んでいる。この方法は、ハウジン
グ内部の熱計算に基づく表示温度を調整する手段をさら
に含んでいる。さらに本発明の態様に従いより詳しく説
明すると、ハウジング内部の熱計算に基づく表示温度を
調整するこの手段は、表示温度から、ハウジング内部の
発熱の計算値を差し引く工程を含んでいる。
【００２５】また本発明の態様に従いより詳しく説明す
ると、本器具は、サンプルの医療上有意な成分の濃度を
測定する器具を含んでいる。その方法は、ストリップを
供給し、ストリップへサンプルを適用し(dosing)、スト
リップを収容するためのポートを器具へ設け、ハウジン
グ内の周囲温度を測定し、前記の第１操作状態および第
２操作状態において器具が稼動した結果生じたハウジン
グ内部の熱に基づき、その測定した周囲温度を調整し、
さらにその調整された周囲温度に基づいて、サンプルの
医療上有意な成分の濃度を測定する機能をさらに含んで
いる。
ると、本器具は、サンプルの医療上有意な成分の濃度を
測定する器具を含んでいる。その方法は、ストリップを
供給し、ストリップへサンプルを適用し(dosing)、スト
リップを収容するためのポートを器具へ設け、ハウジン
グ内の周囲温度を測定し、前記の第１操作状態および第
２操作状態において器具が稼動した結果生じたハウジン
グ内部の熱に基づき、その測定した周囲温度を調整し、
さらにその調整された周囲温度に基づいて、サンプルの
医療上有意な成分の濃度を測定する機能をさらに含んで
いる。
【００２６】本発明の態様に従いより詳しく説明する
と、ストリップは、サンプルの医療上有意な成分に反応
し、ストリップの２つの端子を通じて反応の指標となる
シグナルを発生させる化学的性質を含有している。スト
リップのを適用させた後、そのストリップをポートへ収
容することにより、第１濃度の測定が可能になる。
と、ストリップは、サンプルの医療上有意な成分に反応
し、ストリップの２つの端子を通じて反応の指標となる
シグナルを発生させる化学的性質を含有している。スト
リップのを適用させた後、そのストリップをポートへ収
容することにより、第１濃度の測定が可能になる。
【００２７】さらに本発明の態様に従いより詳しく説明
すると、医療上有意な成分とはグルコースであり、化学
物質がグルコースと反応し、ストリップの端子間に、サ
ンプルのグルコース濃度の指標となる、電圧か電流の少
なくともどちらか一方を発生させる。
すると、医療上有意な成分とはグルコースであり、化学
物質がグルコースと反応し、ストリップの端子間に、サ
ンプルのグルコース濃度の指標となる、電圧か電流の少
なくともどちらか一方を発生させる。
【００２８】本発明の別の態様によれば、器具は、少な
くとも複数の器具部品を収納するハウジングを含んでい
る。ハウジング内に収納された器具部品は、少なくとも
第１および第２の操作状態を有している。器具部品は、
器具が第１の操作状態にある時には第１時間速度で (at
a first time rate)熱を放出し、 第２の操作状態にあ
る時には第２時間速度で (at a second time rate) 熱
を放出する。器具部品はコントローラを含んでおり、こ
のコントローラは、前記の第１操作状態および第２操作
状態のそれぞれにおいて、操作時間を記録し、その記録
から、前記の第１操作状態および第２操作状態において
器具が稼動した結果生じたハウジング内部の熱を計算す
る。
くとも複数の器具部品を収納するハウジングを含んでい
る。ハウジング内に収納された器具部品は、少なくとも
第１および第２の操作状態を有している。器具部品は、
器具が第１の操作状態にある時には第１時間速度で (at
a first time rate)熱を放出し、 第２の操作状態にあ
る時には第２時間速度で (at a second time rate) 熱
を放出する。器具部品はコントローラを含んでおり、こ
のコントローラは、前記の第１操作状態および第２操作
状態のそれぞれにおいて、操作時間を記録し、その記録
から、前記の第１操作状態および第２操作状態において
器具が稼動した結果生じたハウジング内部の熱を計算す
る。
【００２９】本発明の態様に従いより詳しく説明する
と、器具内部に収容された器具部品は、温度の指標とな
るデバイスを含んでいる。コントローラは、ハウジング
内部で計算された熱に基づき、表示温度を調整するため
に、デバイスに接続されていて、温度の指標となる出力
を行なう。さらに本発明の態様に従いより詳しく説明す
ると、コントローラはデバイスに接続していて、温度の
出力指示を行ない、表示された温度からハウジング内部
の発熱の計算値を差し引く。
と、器具内部に収容された器具部品は、温度の指標とな
るデバイスを含んでいる。コントローラは、ハウジング
内部で計算された熱に基づき、表示温度を調整するため
に、デバイスに接続されていて、温度の指標となる出力
を行なう。さらに本発明の態様に従いより詳しく説明す
ると、コントローラはデバイスに接続していて、温度の
出力指示を行ない、表示された温度からハウジング内部
の発熱の計算値を差し引く。
【００３０】また本発明の態様に従いより詳しく説明す
ると、本器具は、サンプルの医療上有意な成分の濃度を
測定する器具を含んでいる。本装置は、サンプルを適用
するためのストリップをさらに含んでいる。本器具はス
トリップを収容するためのポートを含んでいる。コント
ローラは、測定された周囲温度を、前記の第１操作状態
および第２操作状態のそれぞれにおいて、器具が稼動し
た結果生じたハウジング内部の熱に基づいて、適当な周
囲温度に調節する。そして本器具は、調節された周囲温
度に基づいて、医療上有意な成分の濃度を測定する。
ると、本器具は、サンプルの医療上有意な成分の濃度を
測定する器具を含んでいる。本装置は、サンプルを適用
するためのストリップをさらに含んでいる。本器具はス
トリップを収容するためのポートを含んでいる。コント
ローラは、測定された周囲温度を、前記の第１操作状態
および第２操作状態のそれぞれにおいて、器具が稼動し
た結果生じたハウジング内部の熱に基づいて、適当な周
囲温度に調節する。そして本器具は、調節された周囲温
度に基づいて、医療上有意な成分の濃度を測定する。
【００３１】本発明の態様に従いより詳しく説明する
と、ストリップは、サンプルの医療上有意な成分に反応
する化学物質と、少なくとも２つのストリップ端子を含
んでいる。ポートは少なくとも２つの相補的な器具端子
を含んでいる。ストリップがポートに挿入されると、ス
トリップ端子は、それぞれ対応する器具端子と接触す
る。化学物質は、サンプルの医療上有意な成分と反応
し、少なくとも２つのストップ端子間に、反応の指標と
なるシグナルを発生させる。ストリップをポート内へ収
容し、散布津を適用させることにより、第１濃度の測定
が可能になる。
と、ストリップは、サンプルの医療上有意な成分に反応
する化学物質と、少なくとも２つのストリップ端子を含
んでいる。ポートは少なくとも２つの相補的な器具端子
を含んでいる。ストリップがポートに挿入されると、ス
トリップ端子は、それぞれ対応する器具端子と接触す
る。化学物質は、サンプルの医療上有意な成分と反応
し、少なくとも２つのストップ端子間に、反応の指標と
なるシグナルを発生させる。ストリップをポート内へ収
容し、散布津を適用させることにより、第１濃度の測定
が可能になる。
【００３２】さらに本発明の態様に従いより詳しく説明
すると、医療上有意な成分とはグルコースであり、化学
物質がグルコースと反応し、ストリップ端子間に、電圧
と電流の少なくともどちらか一方を、サンプルのグルコ
ース濃度の指標として発生させる。
すると、医療上有意な成分とはグルコースであり、化学
物質がグルコースと反応し、ストリップ端子間に、電圧
と電流の少なくともどちらか一方を、サンプルのグルコ
ース濃度の指標として発生させる。
【００３３】本発明の別の態様によれば、サンプルの医
療上有意な成分の濃度を測定する器具は、コントローラ
と、コントローラに電力を供給する電源を含んでいる。
電源は、インダクタンス、インダクタンスを有する回路
に含まれる第１固体スイッチ、そして第１スイッチとイ
ンダクタンスのいずれか一方に発生する電圧変化を整流
したり、蓄積しておくための、第２回路に含まれる第１
整流器と第１キャパシタンスを含んでいる。コントロー
ラは、第１スイッチのための第１スイッチングシグナル
を発生する。
療上有意な成分の濃度を測定する器具は、コントローラ
と、コントローラに電力を供給する電源を含んでいる。
電源は、インダクタンス、インダクタンスを有する回路
に含まれる第１固体スイッチ、そして第１スイッチとイ
ンダクタンスのいずれか一方に発生する電圧変化を整流
したり、蓄積しておくための、第２回路に含まれる第１
整流器と第１キャパシタンスを含んでいる。コントロー
ラは、第１スイッチのための第１スイッチングシグナル
を発生する。
【００３４】本発明の態様に従いより詳しく説明する
と、本装置は、第１スイッチとインダクタンスのいずれ
か一方に発生する電圧変化を整流したり、蓄積しておく
ための、第３回路に含まれる第２整流器および第２キャ
パシタンスをさらに含んでいる。第２回路は、第１スイ
ッチとインダクタンスのいずれか一方に発生する第１極
性の電圧変化を蓄積するものであり、また第３回路は、
第１スイッチとインダクタンスのいずれか一方に発生す
る第反対の第２極性の電圧変化を蓄積するものである。
と、本装置は、第１スイッチとインダクタンスのいずれ
か一方に発生する電圧変化を整流したり、蓄積しておく
ための、第３回路に含まれる第２整流器および第２キャ
パシタンスをさらに含んでいる。第２回路は、第１スイ
ッチとインダクタンスのいずれか一方に発生する第１極
性の電圧変化を蓄積するものであり、また第３回路は、
第１スイッチとインダクタンスのいずれか一方に発生す
る第反対の第２極性の電圧変化を蓄積するものである。
【００３５】さらに本発明の態様に従いより詳しく説明
すると、本装置は、トランジスタ‐トランジスタ論理回
路型のRS-232 (TTL型RS-232)インターフェイスをさらに
含んでいる。このTTL型RS-232インターフェイスは、第
２回路および第３回路へと接続している。
すると、本装置は、トランジスタ‐トランジスタ論理回
路型のRS-232 (TTL型RS-232)インターフェイスをさらに
含んでいる。このTTL型RS-232インターフェイスは、第
２回路および第３回路へと接続している。
【００３６】また本発明の態様に従いより詳しく説明す
ると、本装置は、第３整流器と第３キャパシタンスをさ
らに含んでいる。第２、第３整流器および第２、第３キ
ャパシタンスは、電圧増倍器として設計されている第４
回路の中に含まれている。本発明の態様に従いより詳し
く説明すると、本装置は、第１キャパシタンスを有する
回路に第２スイッチをさらに含んでいる。コントローラ
は、第２スイッチのための第２スイッチイングシグナル
をさらに発生するものである。
ると、本装置は、第３整流器と第３キャパシタンスをさ
らに含んでいる。第２、第３整流器および第２、第３キ
ャパシタンスは、電圧増倍器として設計されている第４
回路の中に含まれている。本発明の態様に従いより詳し
く説明すると、本装置は、第１キャパシタンスを有する
回路に第２スイッチをさらに含んでいる。コントローラ
は、第２スイッチのための第２スイッチイングシグナル
をさらに発生するものである。
【００３７】さらに本発明の態様に従いより詳しく説明
すると、第２スイッチは、第２スイッチが第１状態にあ
る時に、第１キャパシタンスに発生する電圧を調節する
第２固体デバイスをさらに含んでいる。この第２固体デ
バイスは、第２スイッチが第２状態にある時には、第１
キャパシタンスに発生する電圧の調節を停止する。
すると、第２スイッチは、第２スイッチが第１状態にあ
る時に、第１キャパシタンスに発生する電圧を調節する
第２固体デバイスをさらに含んでいる。この第２固体デ
バイスは、第２スイッチが第２状態にある時には、第１
キャパシタンスに発生する電圧の調節を停止する。
【００３８】また本発明の態様に従いより詳しく説明す
ると、第１スイッチングシグナルにはパルス変調がなさ
れている。本発明の別の態様によれば、サンプルの医療
上有意な成分の濃度を測定する器具は、サンプルの医療
上有意な成分の濃度を測定するために、試験状態と試験
結果の少なくとも一方を表示するための、コントローラ
とディスプレイを含んでいる。コントローラはディスプ
レイに接続しており、このディスプレイは、共通する特
性を有する複数の結果からなる第１グループを同じに表
示させるものである。
ると、第１スイッチングシグナルにはパルス変調がなさ
れている。本発明の別の態様によれば、サンプルの医療
上有意な成分の濃度を測定する器具は、サンプルの医療
上有意な成分の濃度を測定するために、試験状態と試験
結果の少なくとも一方を表示するための、コントローラ
とディスプレイを含んでいる。コントローラはディスプ
レイに接続しており、このディスプレイは、共通する特
性を有する複数の結果からなる第１グループを同じに表
示させるものである。
【００３９】本発明の態様に従いより詳しく説明する
と、共通する特性とは、24時間以内に複数結果からなる
第１グループが得られたことを指す。さらに本発明の態
様に従いより詳しく説明すると、第１グループのテスト
結果は時系列に表示される。また本発明の態様に従いよ
り詳しく説明すると、コントローラは、第１グループの
結果と同様に24時間以内に収集された複数結果からなる
第２グループを表示させるディスプレイを有している。
と、共通する特性とは、24時間以内に複数結果からなる
第１グループが得られたことを指す。さらに本発明の態
様に従いより詳しく説明すると、第１グループのテスト
結果は時系列に表示される。また本発明の態様に従いよ
り詳しく説明すると、コントローラは、第１グループの
結果と同様に24時間以内に収集された複数結果からなる
第２グループを表示させるディスプレイを有している。
【００４０】本発明の態様に従いより詳しく説明する
と、第１グループの結果は、結果が表示される際には常
に時系列に表示され、また第２グループの結果について
も、結果が表示される際には常に時系列に表示される。
さらに本発明の態様に従いより詳しく説明すると、第１
グループの結果と、またそれが存在する場合の第２グル
ープの結果は、同様に24時間の期間内で、それぞれ対応
する時間間隔に割り当てられる。こうした時間間隔は、
ユーザー側で選択可能なものである。
と、第１グループの結果は、結果が表示される際には常
に時系列に表示され、また第２グループの結果について
も、結果が表示される際には常に時系列に表示される。
さらに本発明の態様に従いより詳しく説明すると、第１
グループの結果と、またそれが存在する場合の第２グル
ープの結果は、同様に24時間の期間内で、それぞれ対応
する時間間隔に割り当てられる。こうした時間間隔は、
ユーザー側で選択可能なものである。
【００４１】また本発明の態様に従いより詳しく説明す
ると、本器具は、第１グループのテスト結果または第２
グループのテスト結果のいずれかを、所定の時間に表示
するように、ユーザーに選択可能にさせるキーをさらに
含んでいる。本発明の別の態様によれば、サンプルの医
療上有意な成分の濃度を測定する器具は、ユーザーが情
報を入力するための少なくとも１つのキーと、少なくと
も２つの機能の群１つの機能を少なくとも１つのキーに
割り当てるためのコントローラと、少なくとも１つのキ
ーにコントローラによって割り当てられた機能をユーザ
ーに表示するためのディスプレイを含んでいる。
ると、本器具は、第１グループのテスト結果または第２
グループのテスト結果のいずれかを、所定の時間に表示
するように、ユーザーに選択可能にさせるキーをさらに
含んでいる。本発明の別の態様によれば、サンプルの医
療上有意な成分の濃度を測定する器具は、ユーザーが情
報を入力するための少なくとも１つのキーと、少なくと
も２つの機能の群１つの機能を少なくとも１つのキーに
割り当てるためのコントローラと、少なくとも１つのキ
ーにコントローラによって割り当てられた機能をユーザ
ーに表示するためのディスプレイを含んでいる。
【００４２】本発明の態様に従いより詳しく説明する
と、本装置は、サンプルを適用するためのストリップを
さらに含んでいる。本器具は、ストリップを収容するた
めのポートを含んでいて、サンプルの医療上有意な成分
濃度の測定を可能にしている。
と、本装置は、サンプルを適用するためのストリップを
さらに含んでいる。本器具は、ストリップを収容するた
めのポートを含んでいて、サンプルの医療上有意な成分
濃度の測定を可能にしている。
【００４３】さらに本発明の態様に従いより詳しく説明
すると、ストリップは、サンプルの医療上有意な成分と
反応する化学物質と、一対のストリップ端子を含んでい
る。このストリップ端子は、ストリップがポートに挿入
される際には、対応する器具端子と接触する。化学性質
はサンプルの医療上有意な成分と反応し、一対のストリ
ップ端子間に反応の指標となるシグナルを発生させる。
ストリップをポートへ収容し、ストリップをサンプルに
適用させることにより、第１濃度の測定を可能にするも
のである。
すると、ストリップは、サンプルの医療上有意な成分と
反応する化学物質と、一対のストリップ端子を含んでい
る。このストリップ端子は、ストリップがポートに挿入
される際には、対応する器具端子と接触する。化学性質
はサンプルの医療上有意な成分と反応し、一対のストリ
ップ端子間に反応の指標となるシグナルを発生させる。
ストリップをポートへ収容し、ストリップをサンプルに
適用させることにより、第１濃度の測定を可能にするも
のである。
【００４４】また本発明の態様に従いより詳しく説明す
ると、医療上有意な成分とはグルコースであり、化学物
質はグルコースと反応し、一対のストリップ端子を間
に、電圧か電流の少なくとも一方を、サンプルのグルコ
ース濃度の指標として発生させる。本発明の態様に従い
より詳しく説明すると、本器具は、サンプルのグルコー
ス濃度を測定するハンディー式の器具を含んでいる。
ると、医療上有意な成分とはグルコースであり、化学物
質はグルコースと反応し、一対のストリップ端子を間
に、電圧か電流の少なくとも一方を、サンプルのグルコ
ース濃度の指標として発生させる。本発明の態様に従い
より詳しく説明すると、本器具は、サンプルのグルコー
ス濃度を測定するハンディー式の器具を含んでいる。
【００４５】本発明の態様に従い詳しく説明すると、ス
トリップは、試料の医療上有意な成分と反応する化学物
質を有する。ポートは、試料の医療上有意な成分と化学
物質との反応を評価し、かつこの評価の指標となる信号
を生成するデバイスを含む。ストリップを適用し、これ
をポートに挿入すると濃度測定ができる。
トリップは、試料の医療上有意な成分と反応する化学物
質を有する。ポートは、試料の医療上有意な成分と化学
物質との反応を評価し、かつこの評価の指標となる信号
を生成するデバイスを含む。ストリップを適用し、これ
をポートに挿入すると濃度測定ができる。
【００４６】本発明の別の態様によると、試料の医療上
有意な成分の濃度を測定する器具はコントローラ、ユー
ザが情報を入力するための少なくとも１つのキー、なら
びに試料の医療上有意な成分の濃度の測定試験結果を表
示するディスプレーを含む。コントローラは少なくとも
１つのキーおよびディスプレーに連結しておりユーザは
試料の医療上有意な成分の濃度に関する値の最初の範囲
(a first range of values)をコントローラに入力でき
る。ディスプレーは値の最初の範囲を表示する。コント
ローラは、濃度測定の際、続いて入力した濃度が最初の
範囲に入るかどうかの指示を生成する。
有意な成分の濃度を測定する器具はコントローラ、ユー
ザが情報を入力するための少なくとも１つのキー、なら
びに試料の医療上有意な成分の濃度の測定試験結果を表
示するディスプレーを含む。コントローラは少なくとも
１つのキーおよびディスプレーに連結しておりユーザは
試料の医療上有意な成分の濃度に関する値の最初の範囲
(a first range of values)をコントローラに入力でき
る。ディスプレーは値の最初の範囲を表示する。コント
ローラは、濃度測定の際、続いて入力した濃度が最初の
範囲に入るかどうかの指示を生成する。
【００４７】本発明の態様に従いより詳しく説明する
と、この装置は試料のグルコース濃度を測定するための
ハンディ式の器具からなる。
と、この装置は試料のグルコース濃度を測定するための
ハンディ式の器具からなる。
【００４８】さらに本発明の態様に従い詳しく説明する
と、この装置はさらに試料に適用するためのストリップ
からなる。この器具は、試料の医療上有意な成分濃度の
測定を可能にするストリップを収容するポートを含む。
と、この装置はさらに試料に適用するためのストリップ
からなる。この器具は、試料の医療上有意な成分濃度の
測定を可能にするストリップを収容するポートを含む。
【００４９】またさらに本発明の態様に従い詳しく説明
すると、医療上有意な成分とはグルコースであり、化学
物質はグルコースと反応して試料のグルコース濃度の指
示が生成される。
すると、医療上有意な成分とはグルコースであり、化学
物質はグルコースと反応して試料のグルコース濃度の指
示が生成される。
【００５０】本発明の態様に従い詳しく説明すると、コ
ントローラによりユーザはさらに試料の医療上有意な成
分濃度について値の第二の範囲(a secnd range of valu
es)をコントローラに入力できる。ディスプレーはこの
第二の範囲を表示する。続いてコントローラは、濃度測
定の際、この濃度が第二の範囲に入るかどうかの指示を
生成する。
ントローラによりユーザはさらに試料の医療上有意な成
分濃度について値の第二の範囲(a secnd range of valu
es)をコントローラに入力できる。ディスプレーはこの
第二の範囲を表示する。続いてコントローラは、濃度測
定の際、この濃度が第二の範囲に入るかどうかの指示を
生成する。
【００５１】本発明は、下記の詳細な説明ならびに本発
明を例示する図面を参照することで最もよく理解される
であろう。
明を例示する図面を参照することで最もよく理解される
であろう。
【００５２】特に図１について説明すると、血中グルコ
ース濃度を測定する器具20は、上述した特許に記載の一
般的なタイプのいわゆるバイオセンサストリップ21(図1
3)と協働する。器具20は、器具20の残りの構成部品を収
容するケースの底部22（図1-4）ならびにケースの上部2
4（図1と図5-7）を含む。バッテリドア26（図1と図8）
は、底部22と係合し、底部22に配したバッテリウェル28
aと28ｂの二つを封入する。底部22と上部24とは、上部2
4の下側に成型したピン30の、底部22に成型した相補ソ
ケット31への摩擦係合により十分かつ独占的に保持しあ
う。例えばソケット32とピン30の有効高さ0.6ｍｍから
0.7ｍｍに沿うおよそ0.06ｍｍのすきま(slight draft)
があれば、上部24および底部22と器具20内に組立てた残
りの構成部品とを共に保持するのに十分な摩擦係合を保
ちながら、成型構成部品を鋳型から簡単に除去できる。
ース濃度を測定する器具20は、上述した特許に記載の一
般的なタイプのいわゆるバイオセンサストリップ21(図1
3)と協働する。器具20は、器具20の残りの構成部品を収
容するケースの底部22（図1-4）ならびにケースの上部2
4（図1と図5-7）を含む。バッテリドア26（図1と図8）
は、底部22と係合し、底部22に配したバッテリウェル28
aと28ｂの二つを封入する。底部22と上部24とは、上部2
4の下側に成型したピン30の、底部22に成型した相補ソ
ケット31への摩擦係合により十分かつ独占的に保持しあ
う。例えばソケット32とピン30の有効高さ0.6ｍｍから
0.7ｍｍに沿うおよそ0.06ｍｍのすきま(slight draft)
があれば、上部24および底部22と器具20内に組立てた残
りの構成部品とを共に保持するのに十分な摩擦係合を保
ちながら、成型構成部品を鋳型から簡単に除去できる。
【００５３】ウェルは、器具20内のプリント回路基板
（PCB）38の下側に取付けてある圧電式スピーカまたは
ブザー37(図14)のためのブラスコンタクトプレート(bra
ss contact plate) 36用に底部22内に配してある。ソケ
ット40は、液晶ディスプレー42に接続するようPCB38の
下側上に配してあり、そのピン44は、穴46を通じてソケ
ット40に挿入するようPCB38内に配してある。この配置
はPCB38の製造に都合がよく、製造コスト低減につなが
る。ディスプレー42は例えば102ｘ65ドットマトリクスL
CDである。フレキシブルシリコンボタンパッド48(図1お
よび図9)は、PCB38上の相補端子または相補コンタクト5
0a-cと接触するためにその下側上に端子またはコンタク
トを有する。ボタンパッド48の触知できるクッション部
52a-cは、器具20に入力するために、上部24に取付けた
三つのキー54a-c（図1および図10）と協働する。
（PCB）38の下側に取付けてある圧電式スピーカまたは
ブザー37(図14)のためのブラスコンタクトプレート(bra
ss contact plate) 36用に底部22内に配してある。ソケ
ット40は、液晶ディスプレー42に接続するようPCB38の
下側上に配してあり、そのピン44は、穴46を通じてソケ
ット40に挿入するようPCB38内に配してある。この配置
はPCB38の製造に都合がよく、製造コスト低減につなが
る。ディスプレー42は例えば102ｘ65ドットマトリクスL
CDである。フレキシブルシリコンボタンパッド48(図1お
よび図9)は、PCB38上の相補端子または相補コンタクト5
0a-cと接触するためにその下側上に端子またはコンタク
トを有する。ボタンパッド48の触知できるクッション部
52a-cは、器具20に入力するために、上部24に取付けた
三つのキー54a-c（図1および図10）と協働する。
【００５４】二つのアウターキー54aと54cは共に成型す
るが、それぞれ、リビングヒンジ(living hinge) 58aと
58cによって、その共通支持バー56に、接合する。リビ
ングヒンジ58aと58cは、成型プラスチックキー54aと54c
アセンブリの範囲である。成型プラスチックキー54aと5
4cアセンブリの範囲は、リビングヒンジ構造がない場合
に比べて、キー54aと54cがより接触感度がよくなるよう
に、またキー54aの押下とキー54ｃの押下とが一緒にな
らないように、幾分より薄く、低減した幅となってい
る。開口部60は、支持バー56内にあって、ここにキー54
aと54cアセンブリを挿入する上部24の下側から突出する
ピン62を挿入する。残りのキー54ｂは、同様の支持バー
64から同様のリビングヒンジ58bによって取付け、バー6
4が二つの中間ピン62の係合を可能にする。圧縮性シリ
コンパッド48、キー54aと54cアセンブリ、ならびにキー
54bを含むアセンブリは、上部24の下側とPCB38との間に
保持される。また、ピン62は、キー54bのバー64内の開
口部68に挿入するように、上部24の下側から突出する。
バー56の凹部69には、バー64を収容する。キー54bはキ
ー54aと54cとは別に組立ててキー54bの隣接面70とキー5
4a、54cとの間の空間を最小限にする。シリコンパッド4
8とキー54a-cの使用、ならびに隣接キー54a-cとb-c間の
空間を最小にすることで、器具20の操作を妨げる汚染物
質の可能性を低減する。
るが、それぞれ、リビングヒンジ(living hinge) 58aと
58cによって、その共通支持バー56に、接合する。リビ
ングヒンジ58aと58cは、成型プラスチックキー54aと54c
アセンブリの範囲である。成型プラスチックキー54aと5
4cアセンブリの範囲は、リビングヒンジ構造がない場合
に比べて、キー54aと54cがより接触感度がよくなるよう
に、またキー54aの押下とキー54ｃの押下とが一緒にな
らないように、幾分より薄く、低減した幅となってい
る。開口部60は、支持バー56内にあって、ここにキー54
aと54cアセンブリを挿入する上部24の下側から突出する
ピン62を挿入する。残りのキー54ｂは、同様の支持バー
64から同様のリビングヒンジ58bによって取付け、バー6
4が二つの中間ピン62の係合を可能にする。圧縮性シリ
コンパッド48、キー54aと54cアセンブリ、ならびにキー
54bを含むアセンブリは、上部24の下側とPCB38との間に
保持される。また、ピン62は、キー54bのバー64内の開
口部68に挿入するように、上部24の下側から突出する。
バー56の凹部69には、バー64を収容する。キー54bはキ
ー54aと54cとは別に組立ててキー54bの隣接面70とキー5
4a、54cとの間の空間を最小限にする。シリコンパッド4
8とキー54a-cの使用、ならびに隣接キー54a-cとb-c間の
空間を最小にすることで、器具20の操作を妨げる汚染物
質の可能性を低減する。
【００５５】ブラスバッテリコンタクト74（図1と11）
は、底部22の裏側の端部にある空間内に圧着させる。コ
ンタクト74は、器具20の電源、例えば1.5V、サイズAAA
の乾電池75(図14)、の互いに異なる二つの端子間を接続
する。乾電池75が器具20の回路に逆に接続されるのを防
ぐために、乾電池75を収容するウェル28a及び29bのコン
タクト74（第1コネクタ）側には開口部78を設けるとと
もに（図４）、開口部78のまわりの底部22にボス76を成
型してあり、これを通じてコンタクト74をウェル28a内
の乾電池の+端子と接触させる。ウェル28a内の乾電池75
は、乾電池がウェル28aに正しい方向で挿入されない限
り、開口部78を通じて回路に接触することはない。スプ
リングバッテリコンタクトクリップ80（図1、12、13）
は、28aと28b両方のバッテリウェルのコンタクト74とは
反対側の前端部にある。スプリングバッテリコンタクト
クリップ80はそれぞれPCB38に取付けたベース81を含
む。クリップ80は、PCB38から一定の半径、例えば0.75
ｍｍの弧部を通じて、第一脚部82に向かって下方に曲が
る。第一脚部82は、ベース部81に垂直な線に対しておよ
そ5°から10°の角度、例えばおよそ8°でPCB38から下
方に伸びる。クリップ80はさらに一定の半径、例えば1.
12ｍｍの弧部を通じて曲がり、バッテリ接触脚部84は上
方に伸びて、それ自身とベース81に対する垂直面との間
に、垂直面に対しておよそ15°から25°の間、例えば、
20°の角度で、境界を画定している。クリップ80はさら
に一定の半径、例えば1ｍｍで曲がり、脚部86は垂直面
に対しておよそ40°から50°、例えば45°の角度で下方
に伸びる。さらにクリップ80は、一定の半径、例えば0.
75ｍｍで曲がり、終端まで下方へ曲がっている。クリッ
プ80の全高さはおよそ8.8ｍｍである。この構造によ
り、ユーザが器具20を落とした場合に、クリップ80自身
が損傷を受ける可能性が低減される。クリップ80は例え
ば、腐食を防ぎはんだ接続を容易にする60/40すず／鉛
めっきにより、半硬性(half hardened) BeCu190合金か
ら構築する。
は、底部22の裏側の端部にある空間内に圧着させる。コ
ンタクト74は、器具20の電源、例えば1.5V、サイズAAA
の乾電池75(図14)、の互いに異なる二つの端子間を接続
する。乾電池75が器具20の回路に逆に接続されるのを防
ぐために、乾電池75を収容するウェル28a及び29bのコン
タクト74（第1コネクタ）側には開口部78を設けるとと
もに（図４）、開口部78のまわりの底部22にボス76を成
型してあり、これを通じてコンタクト74をウェル28a内
の乾電池の+端子と接触させる。ウェル28a内の乾電池75
は、乾電池がウェル28aに正しい方向で挿入されない限
り、開口部78を通じて回路に接触することはない。スプ
リングバッテリコンタクトクリップ80（図1、12、13）
は、28aと28b両方のバッテリウェルのコンタクト74とは
反対側の前端部にある。スプリングバッテリコンタクト
クリップ80はそれぞれPCB38に取付けたベース81を含
む。クリップ80は、PCB38から一定の半径、例えば0.75
ｍｍの弧部を通じて、第一脚部82に向かって下方に曲が
る。第一脚部82は、ベース部81に垂直な線に対しておよ
そ5°から10°の角度、例えばおよそ8°でPCB38から下
方に伸びる。クリップ80はさらに一定の半径、例えば1.
12ｍｍの弧部を通じて曲がり、バッテリ接触脚部84は上
方に伸びて、それ自身とベース81に対する垂直面との間
に、垂直面に対しておよそ15°から25°の間、例えば、
20°の角度で、境界を画定している。クリップ80はさら
に一定の半径、例えば1ｍｍで曲がり、脚部86は垂直面
に対しておよそ40°から50°、例えば45°の角度で下方
に伸びる。さらにクリップ80は、一定の半径、例えば0.
75ｍｍで曲がり、終端まで下方へ曲がっている。クリッ
プ80の全高さはおよそ8.8ｍｍである。この構造によ
り、ユーザが器具20を落とした場合に、クリップ80自身
が損傷を受ける可能性が低減される。クリップ80は例え
ば、腐食を防ぎはんだ接続を容易にする60/40すず／鉛
めっきにより、半硬性(half hardened) BeCu190合金か
ら構築する。
【００５６】レンズ90(図1)は、LCD42上の上部24内の開
口部92にはめる。レンズ90は、使用にともないどのみち
避けられないレンズ90の傷によるレンズ90の透過性の劣
化を低減するよう、self-healingポリウレタンコーティ
ングを使ってポリカーボネート樹脂から構築できる。傷
を減らすために従来のhard coatingを用いてポリカーボ
ネート樹脂から構築したレンズも使用できる。
口部92にはめる。レンズ90は、使用にともないどのみち
避けられないレンズ90の傷によるレンズ90の透過性の劣
化を低減するよう、self-healingポリウレタンコーティ
ングを使ってポリカーボネート樹脂から構築できる。傷
を減らすために従来のhard coatingを用いてポリカーボ
ネート樹脂から構築したレンズも使用できる。
【００５７】上部24は、その前部にスロット94を含む。
このスロット94を通じてバイオセンサストリップ21を挿
入し、測定試験、特に血液試料中のグルコース濃度測定
を開始する。ストリップ21は例えば、ストリップ21にた
てに伸びるコンダクタの金属被覆二つを含み、これを通
じてストリップの化学物質と器具20の電気回路との間に
電気的接触がなされる。この接触がなされるソケット96
はPCB38上のスロット94の背部に直接取付ける。スロッ
ト94とソケット96とは、器具20の別々の構成部品上にあ
る、つまり上部24とPCB38上にあるので、スロット94と
ソケット96の相対的な位置には、製造許容差によるばら
つきがいくらか生じるのはさけられない。またリブ97
（図7）が組立てた器具20内のソケット96の場所に向か
って内側に伸びるため、側面から側面（器具の左右、横
幅）のばらつきが生じる。組立ての際に器具20の構成部
品を設計した場所に収めやくするため、リブ97の下方内
部領域99は、互いに離れるようにわずかに角度がついて
いる。スロット94、ソケット96、そしてストリップ21上
の電気導体金属被覆の幅は全て、許容差によるばらつき
に適応している。上下の許容差は一部、底部22内に成型
した一対のスプリングアーム98によるものである。スプ
リングアーム98は、上方へ向かって先細のいくらか弓形
な弾性部100と、組立てた器具20内のソケット96の下側
に接触する最上部のコンタクトパッド102とを含む。ア
ーム98は、スロット94に対してアップダウンする場所に
あるスロット96の許容差のばらつきを吸収し、組立て許
容差が低い場合に、ソケット96を静かに上に向かわせ
て、ストリップ21のソケット96からの出し入れを容易に
する。アーム98はまた、使用時の振動による衝撃に対し
てPCB38の前部を安定させる。
このスロット94を通じてバイオセンサストリップ21を挿
入し、測定試験、特に血液試料中のグルコース濃度測定
を開始する。ストリップ21は例えば、ストリップ21にた
てに伸びるコンダクタの金属被覆二つを含み、これを通
じてストリップの化学物質と器具20の電気回路との間に
電気的接触がなされる。この接触がなされるソケット96
はPCB38上のスロット94の背部に直接取付ける。スロッ
ト94とソケット96とは、器具20の別々の構成部品上にあ
る、つまり上部24とPCB38上にあるので、スロット94と
ソケット96の相対的な位置には、製造許容差によるばら
つきがいくらか生じるのはさけられない。またリブ97
（図7）が組立てた器具20内のソケット96の場所に向か
って内側に伸びるため、側面から側面（器具の左右、横
幅）のばらつきが生じる。組立ての際に器具20の構成部
品を設計した場所に収めやくするため、リブ97の下方内
部領域99は、互いに離れるようにわずかに角度がついて
いる。スロット94、ソケット96、そしてストリップ21上
の電気導体金属被覆の幅は全て、許容差によるばらつき
に適応している。上下の許容差は一部、底部22内に成型
した一対のスプリングアーム98によるものである。スプ
リングアーム98は、上方へ向かって先細のいくらか弓形
な弾性部100と、組立てた器具20内のソケット96の下側
に接触する最上部のコンタクトパッド102とを含む。ア
ーム98は、スロット94に対してアップダウンする場所に
あるスロット96の許容差のばらつきを吸収し、組立て許
容差が低い場合に、ソケット96を静かに上に向かわせ
て、ストリップ21のソケット96からの出し入れを容易に
する。アーム98はまた、使用時の振動による衝撃に対し
てPCB38の前部を安定させる。
【００５８】図14ならびに図15a-hを参照されたい。器
具20の電気回路は、マイクロコントローラ（μC）110
（図14と図15c）、特定用途向けIC（ASIC）112（図14と
図15a）、その他ディスクリート回路ならびに集積回路
部品を含む。特定ディスクリートや集積回路部品につい
ては以下に記す。また多くの事例におけるこうした部品
の特定ソースについて、これより特定する。回路は特に
特定した構成部品に関して、例えば端子名や端子数によ
る端子および／またはピン数により述べる。ここに述べ
る部品が特定ソースまたはその他、回路で必要な機能を
果たすソースから入手可能な構成部品のみであるとする
のは妥当ではない。特定したソースまたはその他必要な
機能を果たすソースから入手可能で、かつ適当なディス
クリート回路ならびに集積回路は通常、多数存在する。
こうした代替構成部品の中には、本明細書に記したのと
同じ端子／ピン識別子を用いることが考えられる。ただ
しこの他には異なる指定を行う。
具20の電気回路は、マイクロコントローラ（μC）110
（図14と図15c）、特定用途向けIC（ASIC）112（図14と
図15a）、その他ディスクリート回路ならびに集積回路
部品を含む。特定ディスクリートや集積回路部品につい
ては以下に記す。また多くの事例におけるこうした部品
の特定ソースについて、これより特定する。回路は特に
特定した構成部品に関して、例えば端子名や端子数によ
る端子および／またはピン数により述べる。ここに述べ
る部品が特定ソースまたはその他、回路で必要な機能を
果たすソースから入手可能な構成部品のみであるとする
のは妥当ではない。特定したソースまたはその他必要な
機能を果たすソースから入手可能で、かつ適当なディス
クリート回路ならびに集積回路は通常、多数存在する。
こうした代替構成部品の中には、本明細書に記したのと
同じ端子／ピン識別子を用いることが考えられる。ただ
しこの他には異なる指定を行う。
【００５９】特に図14ならびに図15aを参照されたい。
ソケット96は、EMIフィルタを通じて、ASIC112のSENSOR
EXCITing、SENSOR FeedBack、SENSOR INnput、CONTACT
２ INput 端子にそれぞれ連結される4つの端子96-1か
ら96-4を含む。これらの端子はすべて、個々のダイオー
ド114によって、≧6Vならびに≦ASICVDD+6Vに制限され
ている。ASICVDDは、39ΩレジスタならびにFET116のソ
ースおよびドレーンを通じて、システムVDDサプライか
ら供給される。FET116の実例としてはBSS84FETのタイプ
があげられる。端子96-3ならびに96-4は、またそれぞれ
直列10KΩレジスタおよび1μFコンデンサを通じて連結
されて、器具20のSTRIP IN EXCITe とSTRIP IN ChecK端
子を形成する。これらの端子は、器具20のオペレーティ
ングシステムにより使用され、バイオセンサストリップ
をスロット94に挿入すると反応して器具20をONにする。
端子96-3はまた、4.99KΩレジスタを通じてASIC112のCA
Librate Resistance EXCITe 端子に連結、また7.5KΩ
レジスタを通じてASIC112のIVAMPlifier FeedBack端子
に連結する。端子96-4はまた、49.9KΩレジスタを通じ
てアースに連結する。器具20のASIC CLocK PoWeRは、
インバータ117の電源端子に連結する。インバータ117の
入力端子は器具20のASIC CLocK 端子に連結する。イ
ンバータ117の出力端子は、100Ωレジスタを通じてASIC
112のXIN端子に連結する。ASICクロック周波数153.6KHz
はシステムクロック周波数（4.9152MHz）のサブマルチ
プル（1／32）であり、システムクロックに由来する。
インバータ117の実例としてはTC7SHU04インバータのタ
イプがあげられる。ASIC112のTEMPerature SIGnal INpu
t 端子は、例えばLT1004-1.235電圧基準ICによって、1.
235Vの電圧基準レベルに保たれる。ASIC112の実例とし
ては、Accu-ChekRAdvantageR器具（Boehringer Mannhei
m 社より入手可能。 9115 Hague Road, Indianapolis,I
ndiana 46250-0457）に使用されている同じタイプのASI
Cがあげられる。
ソケット96は、EMIフィルタを通じて、ASIC112のSENSOR
EXCITing、SENSOR FeedBack、SENSOR INnput、CONTACT
２ INput 端子にそれぞれ連結される4つの端子96-1か
ら96-4を含む。これらの端子はすべて、個々のダイオー
ド114によって、≧6Vならびに≦ASICVDD+6Vに制限され
ている。ASICVDDは、39ΩレジスタならびにFET116のソ
ースおよびドレーンを通じて、システムVDDサプライか
ら供給される。FET116の実例としてはBSS84FETのタイプ
があげられる。端子96-3ならびに96-4は、またそれぞれ
直列10KΩレジスタおよび1μFコンデンサを通じて連結
されて、器具20のSTRIP IN EXCITe とSTRIP IN ChecK端
子を形成する。これらの端子は、器具20のオペレーティ
ングシステムにより使用され、バイオセンサストリップ
をスロット94に挿入すると反応して器具20をONにする。
端子96-3はまた、4.99KΩレジスタを通じてASIC112のCA
Librate Resistance EXCITe 端子に連結、また7.5KΩ
レジスタを通じてASIC112のIVAMPlifier FeedBack端子
に連結する。端子96-4はまた、49.9KΩレジスタを通じ
てアースに連結する。器具20のASIC CLocK PoWeRは、
インバータ117の電源端子に連結する。インバータ117の
入力端子は器具20のASIC CLocK 端子に連結する。イ
ンバータ117の出力端子は、100Ωレジスタを通じてASIC
112のXIN端子に連結する。ASICクロック周波数153.6KHz
はシステムクロック周波数（4.9152MHz）のサブマルチ
プル（1／32）であり、システムクロックに由来する。
インバータ117の実例としてはTC7SHU04インバータのタ
イプがあげられる。ASIC112のTEMPerature SIGnal INpu
t 端子は、例えばLT1004-1.235電圧基準ICによって、1.
235Vの電圧基準レベルに保たれる。ASIC112の実例とし
ては、Accu-ChekRAdvantageR器具（Boehringer Mannhei
m 社より入手可能。 9115 Hague Road, Indianapolis,I
ndiana 46250-0457）に使用されている同じタイプのASI
Cがあげられる。
【００６０】図14および図15ｂを参照されたい。器具20
のV BATT端子を形成するバッテリ+コネクタ80bは、470
μHインダクタ119を通じて、切換調節トランジスタ120
のコレクタに連結する。トランジスタ120のエミッタは
バッテリ−コネクタ80a、すなわち器具20アースに連結
する。トランジスタ120のベースは、20KΩレジスタを通
じてアースに連結する。第二の機能として、トランジス
タ120のコレクタは、インバータ、ならびにダイオード1
21と123からなる乗算器に連結する。ダイオード121の陽
極は0.33μF導体を通じてトランジスタ120のコレクタに
連結し、陰極は、アースに連結する。ダイオード123の
カソードは、ダイオード121の陽極に連結し、陽極は、
0.33μFコンデンサを通じてアースに連結し、器具20のn
otVEE端子を形成する。端子80bはまた、インダクタ119
ならびに、5.1V Zener ダイオードとSchottkyダイオ
ードの並列の組み合わせを通じて連結して器具20のVDD
端子を形成する。10μFコンデンサはVDDとアースを渡っ
て連結する。インダクタ119を通じてVBATTのトランジス
タ120を切換えると、理論上はおよそ5.1VDCでVDDを実行
できる。トランジスタ122のエミッタはVDDに連結する。
そのコレクタは、5.1V Zenerダイオードを通じてアー
スに連結する。そのベースは、20KΩレジスタを通じてV
DDに、また2KΩレジスタを通じて器具20のnotCLAMP DRI
VE 端子に連結する。トランジスタ124のエミッタは2Ｋ
Ωレジスタを通じてVDDに連結する。そのコレクタはト
ランジスタ120のベースに連結する。トランジスタ124の
ベースは、20ＫΩレジスタを通じて器具20のnotSWitchi
ng REGulator DRIVE 端子に連結し、パルス幅変調波形
でトランジスタ120を駆動させ、電源電圧を調節する。P
WMパルス繰返し周波数は、システムクロック周波数（4.
9152MHz）のサブマルチプル（1/128）であり、これは器
具20の性能を損ねる可能性のあるビート周波数を最小限
にするために、システムクロックに由来する。電圧は、
μC110A/Dポートを通じてVDDおよびVBATT電圧を監視し
てモニターする。パルス幅は、所望の電圧を維持するた
めのクローズドループ制御ストラテジにおけるμC110に
よって変調する。トランジスタ120の実例としては2N390
4トランジスタのタイプがあげられる。トランジスタ122
と124の実例としては、MMBT3906トランジスタのタイプ
があげられる。
のV BATT端子を形成するバッテリ+コネクタ80bは、470
μHインダクタ119を通じて、切換調節トランジスタ120
のコレクタに連結する。トランジスタ120のエミッタは
バッテリ−コネクタ80a、すなわち器具20アースに連結
する。トランジスタ120のベースは、20KΩレジスタを通
じてアースに連結する。第二の機能として、トランジス
タ120のコレクタは、インバータ、ならびにダイオード1
21と123からなる乗算器に連結する。ダイオード121の陽
極は0.33μF導体を通じてトランジスタ120のコレクタに
連結し、陰極は、アースに連結する。ダイオード123の
カソードは、ダイオード121の陽極に連結し、陽極は、
0.33μFコンデンサを通じてアースに連結し、器具20のn
otVEE端子を形成する。端子80bはまた、インダクタ119
ならびに、5.1V Zener ダイオードとSchottkyダイオ
ードの並列の組み合わせを通じて連結して器具20のVDD
端子を形成する。10μFコンデンサはVDDとアースを渡っ
て連結する。インダクタ119を通じてVBATTのトランジス
タ120を切換えると、理論上はおよそ5.1VDCでVDDを実行
できる。トランジスタ122のエミッタはVDDに連結する。
そのコレクタは、5.1V Zenerダイオードを通じてアー
スに連結する。そのベースは、20KΩレジスタを通じてV
DDに、また2KΩレジスタを通じて器具20のnotCLAMP DRI
VE 端子に連結する。トランジスタ124のエミッタは2Ｋ
Ωレジスタを通じてVDDに連結する。そのコレクタはト
ランジスタ120のベースに連結する。トランジスタ124の
ベースは、20ＫΩレジスタを通じて器具20のnotSWitchi
ng REGulator DRIVE 端子に連結し、パルス幅変調波形
でトランジスタ120を駆動させ、電源電圧を調節する。P
WMパルス繰返し周波数は、システムクロック周波数（4.
9152MHz）のサブマルチプル（1/128）であり、これは器
具20の性能を損ねる可能性のあるビート周波数を最小限
にするために、システムクロックに由来する。電圧は、
μC110A/Dポートを通じてVDDおよびVBATT電圧を監視し
てモニターする。パルス幅は、所望の電圧を維持するた
めのクローズドループ制御ストラテジにおけるμC110に
よって変調する。トランジスタ120の実例としては2N390
4トランジスタのタイプがあげられる。トランジスタ122
と124の実例としては、MMBT3906トランジスタのタイプ
があげられる。
【００６１】端子80bはまた、2MΩレジスタを通じて電
圧モニタIC126のINput端子に連結する。IC126のOUTput
端子は器具20のμC110 notRESET端子を形成する。IC12
6のVCCとGrouND端子は、器具20のReal Time Clock VDD
とアース端子を渡って連結する。0.1μFコンデンサと2.
74MΩレジスタを含む並列RC回路は、IC126のINとGND端
子とを渡って連結する。IC126の実例としては、MAX836
電圧モニタICのタイプがあげられる。
圧モニタIC126のINput端子に連結する。IC126のOUTput
端子は器具20のμC110 notRESET端子を形成する。IC12
6のVCCとGrouND端子は、器具20のReal Time Clock VDD
とアース端子を渡って連結する。0.1μFコンデンサと2.
74MΩレジスタを含む並列RC回路は、IC126のINとGND端
子とを渡って連結する。IC126の実例としては、MAX836
電圧モニタICのタイプがあげられる。
【００６２】図14と図15dを参照されたい。器具20のリ
アルタイムクロックは、リアルタイムクロックIC128を
含む。このリアルタイムクロックIC128のVDDとGrouND端
子とは、RTC VDDとアースを渡って連結する。RTC VDD
は、IC128の周波数Output Enable端子に連結する。IC12
8の周波数SELect端子は、アースに連結する。直列して
いる1KΩレジスタ130、100KΩレジスタ132、FET134のド
レーン、FET134のソース、20KΩレジスタは、RTCVDDと
アースとの間で連結している。器具20のSuperCAPacitor
SAMPle端子は、FET134のソースに連結する。器具20のS
uperCAPacitor SWitch端子は、100KΩレジスタを通じて
FET134のゲートに連結する。この構成により、レジスタ
130、132とアース間に連結する0.047μFコンデンサ137
の負荷状態を管理できる。
アルタイムクロックは、リアルタイムクロックIC128を
含む。このリアルタイムクロックIC128のVDDとGrouND端
子とは、RTC VDDとアースを渡って連結する。RTC VDD
は、IC128の周波数Output Enable端子に連結する。IC12
8の周波数SELect端子は、アースに連結する。直列して
いる1KΩレジスタ130、100KΩレジスタ132、FET134のド
レーン、FET134のソース、20KΩレジスタは、RTCVDDと
アースとの間で連結している。器具20のSuperCAPacitor
SAMPle端子は、FET134のソースに連結する。器具20のS
uperCAPacitor SWitch端子は、100KΩレジスタを通じて
FET134のゲートに連結する。この構成により、レジスタ
130、132とアース間に連結する0.047μFコンデンサ137
の負荷状態を管理できる。
【００６３】コンデンサ137の電圧は、器具20を起動す
るたびに測定される。この際、ストリップの挿入、なら
びにレジスタ130と132の電圧分割ネットワークをONにし
た際に存在する電圧レベルが最小限であるかどうか確認
される。この電圧レベルが必要なレベルを下回ったら、
次にストリップを挿入して確認するまで、図15bの切換
調節をONにしておく。このストラテジーを実施する理由
は、操作状態の器具20においてバッテリ電圧が2.2VDCと
低いのに対し、リセットジェネレータ126とリアルタイ
ムクロック128には最小限、電圧2.5VDCの供給を要する
ためである。IC128のDATA端子、ClocK端子、 WRite端
子、 Chip Enable端子は、器具20のRTC DATA端子、RTC
CLK端子、RTC WR端子、RTC CE端子をそれぞれ形成す
る。IC128の周波数OUT端子は、直列反転増幅器 (serie
s inverting amplifiers) 140、142および100Ωレジス
タを通じて、μC110のXT2端子に連結する。インバータ1
40の出力端子は、100Ωレジスタを通じて、μC110のXT1
端子に連結する。IC128の実例としては、EpsonのRTC454
3SA32KHzリアルタイムクロックICがあげられる。
るたびに測定される。この際、ストリップの挿入、なら
びにレジスタ130と132の電圧分割ネットワークをONにし
た際に存在する電圧レベルが最小限であるかどうか確認
される。この電圧レベルが必要なレベルを下回ったら、
次にストリップを挿入して確認するまで、図15bの切換
調節をONにしておく。このストラテジーを実施する理由
は、操作状態の器具20においてバッテリ電圧が2.2VDCと
低いのに対し、リセットジェネレータ126とリアルタイ
ムクロック128には最小限、電圧2.5VDCの供給を要する
ためである。IC128のDATA端子、ClocK端子、 WRite端
子、 Chip Enable端子は、器具20のRTC DATA端子、RTC
CLK端子、RTC WR端子、RTC CE端子をそれぞれ形成す
る。IC128の周波数OUT端子は、直列反転増幅器 (serie
s inverting amplifiers) 140、142および100Ωレジス
タを通じて、μC110のXT2端子に連結する。インバータ1
40の出力端子は、100Ωレジスタを通じて、μC110のXT1
端子に連結する。IC128の実例としては、EpsonのRTC454
3SA32KHzリアルタイムクロックICがあげられる。
【００６４】図15aを再度参照されたい。器具20は、特
に器具20で現在使用されているバイオセンサストリップ
21用のロット特定パラメータを含む、ROMを有するキー
を受けるためのポート140を含む。ポート140には、端子
140-1から140-8が含まれる。端子140-1から140-8は、そ
れぞれ100Ωレジスタを通じて器具20のCode ROM CS端
子、CR ClocK端子、TXD1端子、RXD1端子、CR VCC端子に
それぞれ連結する。端子140-7はフェライトビーズを通
じてV BATTに連結する。端子140-5は、器具20のアース
に連結する。Code ROMキーの目的ならびに機能は、さら
に米国特許No.5,053,199に記載がある。そのポート140
を受信に適合させてある、キー上のCode ROMの実例とし
ては、National Semiconductor のNMC93C56またはC66
ROMのタイプがあげられる。
に器具20で現在使用されているバイオセンサストリップ
21用のロット特定パラメータを含む、ROMを有するキー
を受けるためのポート140を含む。ポート140には、端子
140-1から140-8が含まれる。端子140-1から140-8は、そ
れぞれ100Ωレジスタを通じて器具20のCode ROM CS端
子、CR ClocK端子、TXD1端子、RXD1端子、CR VCC端子に
それぞれ連結する。端子140-7はフェライトビーズを通
じてV BATTに連結する。端子140-5は、器具20のアース
に連結する。Code ROMキーの目的ならびに機能は、さら
に米国特許No.5,053,199に記載がある。そのポート140
を受信に適合させてある、キー上のCode ROMの実例とし
ては、National Semiconductor のNMC93C56またはC66
ROMのタイプがあげられる。
【００６５】キー54aからcは、それぞれμC110のポート
04から06に連結する(図14c)。ポート00から03は、それ
ぞれ器具20のASIC Code ROM Chip Select端子、ASIC EE
PROMChip Select端子、ASIC CR DATA OUT端子、232 IN
端子を形成する。インターリーブドコンダクタパターン
(interleaved conductor patterns) 144は、器具20の湿
度センサを形成する。インターリーブドコンダクタパタ
ーン144、1セットは、アースに連結する。その他のセッ
トは、μC110のポート17と、100KΩレジスタを通じてト
ランジスタ146のコレクタのところのマイクロ110のアナ
ログ基準入力に連結する。トランジスタ146のエミッタ
はV BATTに連結する。トランジスタ146のベースは、20K
Ωレジスタを通じてV BATTに、20KΩレジスタを通じて
μ110のポート127に連結する。100KΩレジスタによって
1.2V電圧基準147に下がったV BATTオペレーティングポ
テンシャルは、μC110のポート10から12に連結する。μ
C110のポート13と14はそれぞれ、器具20のSCAP SAMPとS
TRIP IN CK端子とを形成する。ポート15と16は、100KΩ
レジスタを通じて器具20のVDD SAMPle端子に連結する。
ポート20から23は、それぞれ器具20のRXD1 端子、TXD1
端子、CR CLK端子、CR CS端子を形成する。μC110の実
例としては、NECのμPD78P058−ビットマイクロコント
ローラがあげられる。トランジスタ146の実例として
は、MMBT3906のタイプがあげられる。
04から06に連結する(図14c)。ポート00から03は、それ
ぞれ器具20のASIC Code ROM Chip Select端子、ASIC EE
PROMChip Select端子、ASIC CR DATA OUT端子、232 IN
端子を形成する。インターリーブドコンダクタパターン
(interleaved conductor patterns) 144は、器具20の湿
度センサを形成する。インターリーブドコンダクタパタ
ーン144、1セットは、アースに連結する。その他のセッ
トは、μC110のポート17と、100KΩレジスタを通じてト
ランジスタ146のコレクタのところのマイクロ110のアナ
ログ基準入力に連結する。トランジスタ146のエミッタ
はV BATTに連結する。トランジスタ146のベースは、20K
Ωレジスタを通じてV BATTに、20KΩレジスタを通じて
μ110のポート127に連結する。100KΩレジスタによって
1.2V電圧基準147に下がったV BATTオペレーティングポ
テンシャルは、μC110のポート10から12に連結する。μ
C110のポート13と14はそれぞれ、器具20のSCAP SAMPとS
TRIP IN CK端子とを形成する。ポート15と16は、100KΩ
レジスタを通じて器具20のVDD SAMPle端子に連結する。
ポート20から23は、それぞれ器具20のRXD1 端子、TXD1
端子、CR CLK端子、CR CS端子を形成する。μC110の実
例としては、NECのμPD78P058−ビットマイクロコント
ローラがあげられる。トランジスタ146の実例として
は、MMBT3906のタイプがあげられる。
【００６６】器具20の内部はかなりの数の構成部品がつ
まっている。したがって、器具20をあるモードで長時間
稼動させると加温効果がおこる。標準的なバイオセンサ
ストリップ21に存在する化学物質はいくらか温度に依存
している。先行技術による器具の設計では、これを考慮
して温度センサとそのバイオセンサストリップ出力を周
囲温度に調節するアルゴリズムを備えている。しかしな
がら、器具20における温度調整はさらに有効である。詳
しく言うと、器具20があるモードで稼動すると、器具内
で温度が蓄積してゆく。これにより周囲温度と、器具20
内部のPCB38に取付けた温度計で測定する温度との間に
違いが生じる。ここで周囲温度とはすなわち、ストリッ
プ21の温度および正確なグルコース濃度を読み取るため
に補正されなくてはならないストリップ21の化学物質が
反応する温度である。μC110では、示された周囲温度に
対してより正確なグルコース濃度を測定するためにはど
の程度調整するのが適当かを算出するために、加温効果
を招く各種モードについて、器具20が最後にONされてか
ら、どのくらいの時間、器具20が稼動したかを考慮する
アルゴリズムを使用している。器具20の温度の蓄積に対
して、必要な調整量は0％からおよそ2.5％ぐらいの範囲
となる。このアルゴリズムについては後に詳しく記載す
る。温度センサ自体はデジタル温度計IC150（図14と図1
5a）を含む。デジタル温度計の実例としては、Dallas S
emiconductor DS1621C ICがあげられる。器具20のTEMPe
rature ClocK端子とTEMPerature DATA端子とは、それぞ
れ100Ωレジスタを通じてデジタル温度計150のSCL端子
とSDA端子に連結する。デジタル温度計150のSCL端子とS
DA端子はさらに、それぞれ直列EEPROM IC 152のSCL端子
とSDA端子に連結する。直列EEPROM 152の実例として
は、AtmelタイプのAT24C256直列EEPROM ICがあげられ
る。直列EEPROM152のWP端子は、100Ωレジスタを通じて
μC110のポート24に連結する。電源は100Ωレジスタを
通じて器具20のTEMPerature VCC 端子からIC150とIC152
に供給される。10KΩレジスタはIC150のVDD端子とSDA端
子との間に連結する。この構成では、デジタル温度計15
0とEEPROM 152が、μC110の同じバスに時分割多重化さ
れる。
まっている。したがって、器具20をあるモードで長時間
稼動させると加温効果がおこる。標準的なバイオセンサ
ストリップ21に存在する化学物質はいくらか温度に依存
している。先行技術による器具の設計では、これを考慮
して温度センサとそのバイオセンサストリップ出力を周
囲温度に調節するアルゴリズムを備えている。しかしな
がら、器具20における温度調整はさらに有効である。詳
しく言うと、器具20があるモードで稼動すると、器具内
で温度が蓄積してゆく。これにより周囲温度と、器具20
内部のPCB38に取付けた温度計で測定する温度との間に
違いが生じる。ここで周囲温度とはすなわち、ストリッ
プ21の温度および正確なグルコース濃度を読み取るため
に補正されなくてはならないストリップ21の化学物質が
反応する温度である。μC110では、示された周囲温度に
対してより正確なグルコース濃度を測定するためにはど
の程度調整するのが適当かを算出するために、加温効果
を招く各種モードについて、器具20が最後にONされてか
ら、どのくらいの時間、器具20が稼動したかを考慮する
アルゴリズムを使用している。器具20の温度の蓄積に対
して、必要な調整量は0％からおよそ2.5％ぐらいの範囲
となる。このアルゴリズムについては後に詳しく記載す
る。温度センサ自体はデジタル温度計IC150（図14と図1
5a）を含む。デジタル温度計の実例としては、Dallas S
emiconductor DS1621C ICがあげられる。器具20のTEMPe
rature ClocK端子とTEMPerature DATA端子とは、それぞ
れ100Ωレジスタを通じてデジタル温度計150のSCL端子
とSDA端子に連結する。デジタル温度計150のSCL端子とS
DA端子はさらに、それぞれ直列EEPROM IC 152のSCL端子
とSDA端子に連結する。直列EEPROM 152の実例として
は、AtmelタイプのAT24C256直列EEPROM ICがあげられ
る。直列EEPROM152のWP端子は、100Ωレジスタを通じて
μC110のポート24に連結する。電源は100Ωレジスタを
通じて器具20のTEMPerature VCC 端子からIC150とIC152
に供給される。10KΩレジスタはIC150のVDD端子とSDA端
子との間に連結する。この構成では、デジタル温度計15
0とEEPROM 152が、μC110の同じバスに時分割多重化さ
れる。
【００６７】再び図14、図15cに戻ると、μC110のポー
ト25、27が器具20のTEMP DATAとTEMPCLKターミナルを各
々形成する。ポート30〜36が器具20のnotSW REG DRIV
E、RTCCE、RTC WR、RTC CLK、RTC DATA、ASIC CLKと、
圧電BUZzer OUTputターミナルを各々形成する。ポート4
0〜R47は器具20のディスプレイ0〜ディスプレイ7ターミ
ナルを各々形成する。図14、図15Dを参照すると、ター
ミナルD0〜D7が、各々の100Ω抵抗器を介して、ソケッ
ト40のターミナル40-3〜40-10と結合している。器具20
のnotDISPlay Chip Select1、DISPlay A0、notReaD、no
tWRite、notDISPlay RESETターミナルが、各々の100Ω
抵抗器を介して、ソケット40のターミナル40-1、40-2、
40-11、40-12、40-13の各々と結合している。ディスプ
レイ42は、FET 153を介して電源供給され、そのソース
がVDDと結合しており、そのドレーンがソケット40の電
源供給ターミナル40-14、40-15と結合している。FET 15
3のゲートは100KΩ抵抗器を介して、器具20のnotDISPla
y ONターミナルと結合している。ディスプレイ42は、読
み易くするためにバックライトを当ててもよい。器具20
のnotBacKLight ONターミナルは、2KΩ抵抗器を介し
て、トランジスタ154のベースと結合している。トラン
ジスタ154のエミッタはV BATTと結合している。V BATT
は、2KΩ抵抗器を介して、トランジスタ154のベースと
結合している。トランジスタ154のコレクタはインバー
タ156の電源供給ターミナルと結合している。インバー
タ156の入力ターミナルは器具20のASIC CLKターミナル
と結合している。トランジスタ154のコレクタは、各々
の100Ω抵抗器を介して、ソケット40のターミナル40-1
8、40-19と結合している。インバータ156の出力ターミ
ナルは、100Ω抵抗器を介して、ソケット10のターミナ
ル40-19と結合している。FET 153は例証的に、タイプBS
S84 FETであり、トランジスタ154はタイプMMBT3906トラ
ンジスタであり、インバータ156は例証的にタイプTC7SH
U04 ICインバータである。
ト25、27が器具20のTEMP DATAとTEMPCLKターミナルを各
々形成する。ポート30〜36が器具20のnotSW REG DRIV
E、RTCCE、RTC WR、RTC CLK、RTC DATA、ASIC CLKと、
圧電BUZzer OUTputターミナルを各々形成する。ポート4
0〜R47は器具20のディスプレイ0〜ディスプレイ7ターミ
ナルを各々形成する。図14、図15Dを参照すると、ター
ミナルD0〜D7が、各々の100Ω抵抗器を介して、ソケッ
ト40のターミナル40-3〜40-10と結合している。器具20
のnotDISPlay Chip Select1、DISPlay A0、notReaD、no
tWRite、notDISPlay RESETターミナルが、各々の100Ω
抵抗器を介して、ソケット40のターミナル40-1、40-2、
40-11、40-12、40-13の各々と結合している。ディスプ
レイ42は、FET 153を介して電源供給され、そのソース
がVDDと結合しており、そのドレーンがソケット40の電
源供給ターミナル40-14、40-15と結合している。FET 15
3のゲートは100KΩ抵抗器を介して、器具20のnotDISPla
y ONターミナルと結合している。ディスプレイ42は、読
み易くするためにバックライトを当ててもよい。器具20
のnotBacKLight ONターミナルは、2KΩ抵抗器を介し
て、トランジスタ154のベースと結合している。トラン
ジスタ154のエミッタはV BATTと結合している。V BATT
は、2KΩ抵抗器を介して、トランジスタ154のベースと
結合している。トランジスタ154のコレクタはインバー
タ156の電源供給ターミナルと結合している。インバー
タ156の入力ターミナルは器具20のASIC CLKターミナル
と結合している。トランジスタ154のコレクタは、各々
の100Ω抵抗器を介して、ソケット40のターミナル40-1
8、40-19と結合している。インバータ156の出力ターミ
ナルは、100Ω抵抗器を介して、ソケット10のターミナ
ル40-19と結合している。FET 153は例証的に、タイプBS
S84 FETであり、トランジスタ154はタイプMMBT3906トラ
ンジスタであり、インバータ156は例証的にタイプTC7SH
U04 ICインバータである。
【００６８】図15g-hはLCDディスプレイモジュール略図
を図示している。例証的にSMOS SED1560であるディスプ
レイ157は、1μfの16 Vコンデンサを介してVCCと結合し
ている2セットのターミナルV1-V5、ピン6と46、5と47、
4と48、3と49、2と49、2と50を各々備えている。ディス
プレイコントローラ157のVDD、M/S、SCL、SI、P/S、CS
2、T2ターミナル、ピン7、8、10、11、12、14、35の各
々は、VCCと結合している。ディスプレイコントローラ1
57のC86、VSS、Clear、T1ターミナル、ピン15、19と3
7、32、36の各々は接地されている。ディスプレイコン
トローラ157のD0〜D7ターミナル、ピン20〜7の各々は、
システムD0〜D7ラインと結合している。OSC1、OSC2ター
ミナル、ピン34、33は、1MΩの1%抵抗器を介して、共に
結合している。CAP1+、CAP2−ターミナル、ピン38、39
は、1Μfの16Vコンデンサを介して、共に結合してい
る。CAP2＋、CAP2−ターミナル、ピン40、41は、1Μfの
16Vコンデンサを介して、共に結合している。VOUTター
ミナル、ピン42は、2.2Μfの16Vコンデンサを介して接
地されている。V5ターミナル、ピン43は、シリーズ340K
Ωの1%抵抗器、47KΩの抵抗器を介して、ディスプレイ
コントローラ157のVRターミナル、ピン44と結合してい
る。VRターミナルはさらに、102KΩの1%抵抗器を介し
て、VCCと結合している。VDDターミナル、ピン45はVCC
と結合している。コネクタ159のピン1〜13は、ディスプ
レイコントローラ157のnotCS1、A0、D0-D7、notReaD、n
otWRite、notRESetターミナル、ピン13、16、20−27、1
1、12、13の各々と結合している。VCCは、コネクタ159
のピン14、15と結合している。グラウンドはコネクタ15
のピン16、17と結合している。コネクタ159のピン18−2
0は、ディスプレイ42用のLEDバックライト接続用に確保
されている。これにより、2つのLEDバックライト陽極A
1、A2と共通LED陰極帰路Kとの接続が可能になる。コネ
クタ159のピン1−20は、ターミナル40‐1〜40−20と各
々結合している。あるいは、図15hに示すように、コネ
クタ159のピン18−20は、エレクトロルミネセント（E
L）バックライトを駆動するために使用することができ
る。この別例において、コネクタ159のピン18はEL VCC
ターミナルを形成し、ピン20はEL VCC接地ターミナルを
形成する。パラレル0.1μFおよび4.7μFバイパスコンデ
ンサは、ピン18、20間を結合している。ピン19は、例え
ばSP4422CAN ICのようなELバックライトドライバIC 161
のCAPacitor2ターミナルと結合している。150Pfコンデ
ンサは、ピン19に現れるELOSC周波数以外の周波数で動
作するように、任意でドライバ161のCAP2、CAP1ターミ
ナル間を結合していてもよい。ドライバ161のHON、VPP
ターミナルは、EL VCCと結合している。ドライバ161のC
OILターミナルは、例えば9 mHのシールドインダクタの
ようなインダクタを介して、EL VCCと結合している。ド
ライバ161のVSSターミナルはEL VCCグラウンドと結合し
ている。次に、ELバックライトはドライバ161のEL1、EL
2間を結合することができる。
を図示している。例証的にSMOS SED1560であるディスプ
レイ157は、1μfの16 Vコンデンサを介してVCCと結合し
ている2セットのターミナルV1-V5、ピン6と46、5と47、
4と48、3と49、2と49、2と50を各々備えている。ディス
プレイコントローラ157のVDD、M/S、SCL、SI、P/S、CS
2、T2ターミナル、ピン7、8、10、11、12、14、35の各
々は、VCCと結合している。ディスプレイコントローラ1
57のC86、VSS、Clear、T1ターミナル、ピン15、19と3
7、32、36の各々は接地されている。ディスプレイコン
トローラ157のD0〜D7ターミナル、ピン20〜7の各々は、
システムD0〜D7ラインと結合している。OSC1、OSC2ター
ミナル、ピン34、33は、1MΩの1%抵抗器を介して、共に
結合している。CAP1+、CAP2−ターミナル、ピン38、39
は、1Μfの16Vコンデンサを介して、共に結合してい
る。CAP2＋、CAP2−ターミナル、ピン40、41は、1Μfの
16Vコンデンサを介して、共に結合している。VOUTター
ミナル、ピン42は、2.2Μfの16Vコンデンサを介して接
地されている。V5ターミナル、ピン43は、シリーズ340K
Ωの1%抵抗器、47KΩの抵抗器を介して、ディスプレイ
コントローラ157のVRターミナル、ピン44と結合してい
る。VRターミナルはさらに、102KΩの1%抵抗器を介し
て、VCCと結合している。VDDターミナル、ピン45はVCC
と結合している。コネクタ159のピン1〜13は、ディスプ
レイコントローラ157のnotCS1、A0、D0-D7、notReaD、n
otWRite、notRESetターミナル、ピン13、16、20−27、1
1、12、13の各々と結合している。VCCは、コネクタ159
のピン14、15と結合している。グラウンドはコネクタ15
のピン16、17と結合している。コネクタ159のピン18−2
0は、ディスプレイ42用のLEDバックライト接続用に確保
されている。これにより、2つのLEDバックライト陽極A
1、A2と共通LED陰極帰路Kとの接続が可能になる。コネ
クタ159のピン1−20は、ターミナル40‐1〜40−20と各
々結合している。あるいは、図15hに示すように、コネ
クタ159のピン18−20は、エレクトロルミネセント（E
L）バックライトを駆動するために使用することができ
る。この別例において、コネクタ159のピン18はEL VCC
ターミナルを形成し、ピン20はEL VCC接地ターミナルを
形成する。パラレル0.1μFおよび4.7μFバイパスコンデ
ンサは、ピン18、20間を結合している。ピン19は、例え
ばSP4422CAN ICのようなELバックライトドライバIC 161
のCAPacitor2ターミナルと結合している。150Pfコンデ
ンサは、ピン19に現れるELOSC周波数以外の周波数で動
作するように、任意でドライバ161のCAP2、CAP1ターミ
ナル間を結合していてもよい。ドライバ161のHON、VPP
ターミナルは、EL VCCと結合している。ドライバ161のC
OILターミナルは、例えば9 mHのシールドインダクタの
ようなインダクタを介して、EL VCCと結合している。ド
ライバ161のVSSターミナルはEL VCCグラウンドと結合し
ている。次に、ELバックライトはドライバ161のEL1、EL
2間を結合することができる。
【００６９】図14、図15eに戻ると、器具20は、ターミ
ナル160−1〜160−3を備えたRS232 I/Oポート160を設け
ている。ターミナル160−1はグラウンドと結合してい
る。ターミナル160−3、器具20のRS232ポート受入れタ
ーミナルは、20KΩ抵抗器を介して、トランジスタのベ
ースと結合している。.001μFコンデンサと100KΩ抵抗
器とを備えた並列RC回路は、トランジスタ162とグラウ
ンドとの間で結合している。トランジスタ162のエミッ
タはグラウンドと接続している。そのコレクタは器具20
の232 INputターミナルを形成している。また、そのコ
レクタは20KΩの負荷抵抗器を介してVDDと結合してい
る。器具20の232 OUTputターミナルは、20KΩの抵抗器
を介してトランジスタ164のベースと結合している。ト
ランジスタのエミッタはVDDと結合している。トランジ
スタ164のコレクタは、トランジスタ166のベース、トラ
ンジスタ168のベースと結合している。トランジスタ166
と168のエミッタは合流している。トランジスタ166のコ
レクタはVDDと結合し、また、トランジスタ168のコレク
タは器具20のnotVEEターミナルと結合している。合流し
たトランジスタ166、168のエミッタは、100Ω抵抗器を
介して、ターミナル160−2、器具20のRS232ポート伝送
ターミナルと結合している。20KΩのプルアップ抵抗器
は、VDDとトランジスタ164のベースとの間で結合してい
る。10KΩのプルダウン抵抗器は、トランジスタ168のベ
ースとVEEとの間で結合している。例証的に、トランジ
スタ164、168はタイプMMBT3906のトランジスタである。
トランジスタ162、166は、例証的にタイプ2N3904のトラ
ンジスタである。
ナル160−1〜160−3を備えたRS232 I/Oポート160を設け
ている。ターミナル160−1はグラウンドと結合してい
る。ターミナル160−3、器具20のRS232ポート受入れタ
ーミナルは、20KΩ抵抗器を介して、トランジスタのベ
ースと結合している。.001μFコンデンサと100KΩ抵抗
器とを備えた並列RC回路は、トランジスタ162とグラウ
ンドとの間で結合している。トランジスタ162のエミッ
タはグラウンドと接続している。そのコレクタは器具20
の232 INputターミナルを形成している。また、そのコ
レクタは20KΩの負荷抵抗器を介してVDDと結合してい
る。器具20の232 OUTputターミナルは、20KΩの抵抗器
を介してトランジスタ164のベースと結合している。ト
ランジスタのエミッタはVDDと結合している。トランジ
スタ164のコレクタは、トランジスタ166のベース、トラ
ンジスタ168のベースと結合している。トランジスタ166
と168のエミッタは合流している。トランジスタ166のコ
レクタはVDDと結合し、また、トランジスタ168のコレク
タは器具20のnotVEEターミナルと結合している。合流し
たトランジスタ166、168のエミッタは、100Ω抵抗器を
介して、ターミナル160−2、器具20のRS232ポート伝送
ターミナルと結合している。20KΩのプルアップ抵抗器
は、VDDとトランジスタ164のベースとの間で結合してい
る。10KΩのプルダウン抵抗器は、トランジスタ168のベ
ースとVEEとの間で結合している。例証的に、トランジ
スタ164、168はタイプMMBT3906のトランジスタである。
トランジスタ162、166は、例証的にタイプ2N3904のトラ
ンジスタである。
【００７０】図15cに戻ると、μC 110のポート50〜53
は、器具20のASIC CR CLK、ASIC CR DATA IN、ASIC CLK
PWR、DROP DETECTターミナルを各々形成する。ポート5
5〜57、60は、器具20のnotDISPlay RESET、notDISPlay
Chip Ssect1、DISPlay A0、notBacKLight ONターミナル
を各々形成する。器具20のnotCLAMP DRIVEターミナル
は、μC 110のポート61〜63によって形成されている。
μC 110のポート64、65は、器具20のnotReaD、notWRite
ターミナルを形成している。μC 110のポート70、71
は、器具20の232 IN、232 OUTターミナルと各々結合し
ている。ポート120〜125は、器具20のTEMP VCC、VDD SA
MP、CR VCC、notASIC ON、SCAP SW、notDISP ONターミ
ナルを各々形成している。
は、器具20のASIC CR CLK、ASIC CR DATA IN、ASIC CLK
PWR、DROP DETECTターミナルを各々形成する。ポート5
5〜57、60は、器具20のnotDISPlay RESET、notDISPlay
Chip Ssect1、DISPlay A0、notBacKLight ONターミナル
を各々形成する。器具20のnotCLAMP DRIVEターミナル
は、μC 110のポート61〜63によって形成されている。
μC 110のポート64、65は、器具20のnotReaD、notWRite
ターミナルを形成している。μC 110のポート70、71
は、器具20の232 IN、232 OUTターミナルと各々結合し
ている。ポート120〜125は、器具20のTEMP VCC、VDD SA
MP、CR VCC、notASIC ON、SCAP SW、notDISP ONターミ
ナルを各々形成している。
【００７１】次に、図14、図15fを参照すると、μC 110
のポート126は、100KΩ抵抗器を介して、FET 17Oのゲー
トと結合している。FET 170のソースはVDDと結合してい
る。FET 170のドレーンは、1KΩの抵抗器を介して、ト
ランジスタのコレクタと結合している。トランジスタ17
2のエミッタは接地されている。トランジスタ172のベー
スは、20KΩ抵抗器を介して、器具20の圧電BUZzer OUTp
utターミナルと結合している。トランジスタ172のコレ
クタは、BUZzer OUTputターミナルの1つ174−1を形成し
ている。トランジスタ176のエミッタは、FET 170のドレ
ーンと結合している。トランジスタ176のコレクタは、1
KΩの抵抗器を介して接地されている。トランジスタ176
のベースは20KΩ抵抗器を介して、トランジスタ172のコ
レクタと結合している。トランジスタ176のコレクタ
は、その他のbuzzer 37出力ターミナル174−2を形成し
ている。ターミナル174−1、174−2は≧ - .6 Vおよび
≦VDD ＋ .6 Vにクランプされている。FET 170は、例証
的にタイプBSS84 FETである。トランジスタ172は、例証
的にタイプ2N3904 である。トランジスタ176は、例証的
にタイプMMBT3906である。
のポート126は、100KΩ抵抗器を介して、FET 17Oのゲー
トと結合している。FET 170のソースはVDDと結合してい
る。FET 170のドレーンは、1KΩの抵抗器を介して、ト
ランジスタのコレクタと結合している。トランジスタ17
2のエミッタは接地されている。トランジスタ172のベー
スは、20KΩ抵抗器を介して、器具20の圧電BUZzer OUTp
utターミナルと結合している。トランジスタ172のコレ
クタは、BUZzer OUTputターミナルの1つ174−1を形成し
ている。トランジスタ176のエミッタは、FET 170のドレ
ーンと結合している。トランジスタ176のコレクタは、1
KΩの抵抗器を介して接地されている。トランジスタ176
のベースは20KΩ抵抗器を介して、トランジスタ172のコ
レクタと結合している。トランジスタ176のコレクタ
は、その他のbuzzer 37出力ターミナル174−2を形成し
ている。ターミナル174−1、174−2は≧ - .6 Vおよび
≦VDD ＋ .6 Vにクランプされている。FET 170は、例証
的にタイプBSS84 FETである。トランジスタ172は、例証
的にタイプ2N3904 である。トランジスタ176は、例証的
にタイプMMBT3906である。
【００７２】図15cに戻ると、μC 110のポート130は、
器具20のSTRIP IN EXCITターミナルを形成する。4.9152
MHzの水晶クロックは、μC 110のポートX1〜X2に結合
している。μC 110のnotRESETポートは器具20のMPU RES
ETターミナルを形成し、また、10KΩ抵抗器を介してVDD
と結合している。
器具20のSTRIP IN EXCITターミナルを形成する。4.9152
MHzの水晶クロックは、μC 110のポートX1〜X2に結合
している。μC 110のnotRESETポートは器具20のMPU RES
ETターミナルを形成し、また、10KΩ抵抗器を介してVDD
と結合している。
【００７３】器具20の内部加熱アルゴリズムに戻ると、
内部加熱は以下に示す1次微分方程式によって説明する
ことができる。
内部加熱は以下に示す1次微分方程式によって説明する
ことができる。
【００７４】
【数１】
【００７５】ここで、τは、実験的に求められ、器具20
およびその他の要素の内部形状によって変化する加熱/
冷却時間定数であり、また、vは補正値であり、dv/dtは
時間に関連した補正値の変化率であり、T(Temp., Pwr)
はメータ外の周囲温度（すなわち、ストリップ21の温度
と、これらストリップ上の化学的性質である）と、デジ
タル温度計150が報告する器具20の内部温度との間の定
常状態の差である。方程式1は、以下に示す別の方程式
でも表すことができる。
およびその他の要素の内部形状によって変化する加熱/
冷却時間定数であり、また、vは補正値であり、dv/dtは
時間に関連した補正値の変化率であり、T(Temp., Pwr)
はメータ外の周囲温度（すなわち、ストリップ21の温度
と、これらストリップ上の化学的性質である）と、デジ
タル温度計150が報告する器具20の内部温度との間の定
常状態の差である。方程式1は、以下に示す別の方程式
でも表すことができる。
【００７６】
【数２】
【００７７】図示した器具20のために、τ（加熱）は20
分間、τ（冷却）は15分間、Δt（冷却）は2秒、Δt
（加熱）は1秒、「スリープ」状態にある器具20でのT(T
emp.,Pwr)は0であり（周囲温度とデジタル温度計150が
表示する温度との間の温度差が、スリープ状態における
時間の経過と共に0に近づくためである）、各器具20の
動態、加熱発展状態におけるT(Temp., Pwr)は、EEPROM
152内のルックアップテーブルに記憶される。方程式2は
方程式3に示したようにスケールされる。方程式3は、補
正要素を計算するために、器具20のファームウェア内で
実現される。
分間、τ（冷却）は15分間、Δt（冷却）は2秒、Δt
（加熱）は1秒、「スリープ」状態にある器具20でのT(T
emp.,Pwr)は0であり（周囲温度とデジタル温度計150が
表示する温度との間の温度差が、スリープ状態における
時間の経過と共に0に近づくためである）、各器具20の
動態、加熱発展状態におけるT(Temp., Pwr)は、EEPROM
152内のルックアップテーブルに記憶される。方程式2は
方程式3に示したようにスケールされる。方程式3は、補
正要素を計算するために、器具20のファームウェア内で
実現される。
【００７８】
【数３】
【００７９】T(Temp., Pwr)の値が3つの温度範囲、すな
わち、Temp. < 20℃；20℃ < Temp.<30℃；Temp. > 30
℃の各々について記憶され、また、4つの異なる電力消
費、すなわち、低電力消費（低クロック速度でバックラ
イトはオフ状態）；低クロック速度でバックライトはオ
ン状態；高クロック速度でバックライトはオフ状態；高
電力消費（高クロック速度でバックライトはオン状態）
の各々について記憶される。有効なメータ内部温度補正
値はこれらの値から求めることができる。図示した器具
のT(Temp., Pwr)値を以下の表に示す。しかし、これら
の値は器具の内部形状と操作パラメータによって変化す
ることを理解するべきである。
わち、Temp. < 20℃；20℃ < Temp.<30℃；Temp. > 30
℃の各々について記憶され、また、4つの異なる電力消
費、すなわち、低電力消費（低クロック速度でバックラ
イトはオフ状態）；低クロック速度でバックライトはオ
ン状態；高クロック速度でバックライトはオフ状態；高
電力消費（高クロック速度でバックライトはオン状態）
の各々について記憶される。有効なメータ内部温度補正
値はこれらの値から求めることができる。図示した器具
のT(Temp., Pwr)値を以下の表に示す。しかし、これら
の値は器具の内部形状と操作パラメータによって変化す
ることを理解するべきである。
【００８０】
【表１】
【００８１】図16は、μC 110の内部ROM内にプログラム
されたファームウェアの相互作用の動態モデルを示す図
である。円はμC 110の様々な状態を示している。ファ
ームウェアはまず割込み駆動される。μC 110が割込み
を行っていない、または保留のイベントを処理していな
い際に電池寿命を延ばすために、μC 110はアイドル状
態に維持される。μC 110がアイドル状態にある場合に
は、クロック速度は4.9152 MHzから30 KHzに減衰され
る。プログラムモニタがウェークアップ状態にある場合
には、ウェークアップ割込みをが生じた原因を決定して
いる。プログラムモニタがモニタ状態にある場合には、
シリアルコマンドの処理を実行している。レディ状態に
ある場合には、ユーザ入力を待っている。周期的なサー
ビス状態にある場合には、ストリップの挿入のチェック
や、器具20の温度経歴の更新といった周期的タスクを実
行しているということである。ASICサービス状態にある
場合には、EEPROM 152またはROMキー・インターフェー
ス140からのデータの要求といったASIC 112からの要求
を処理しているか、ASIC 112からの情報の受信を行って
いるということである。テスト状態にある場合には、血
糖の測定、コントロールグルコースの測定、またはチェ
ックストリップを用いた診断のいずれかを行っていると
いうことである。リセット状態にある場合は、電源オン
リセットの初期化を実行している。アイドル状態にある
場合には、ウェイクアップの待機を中止している。エラ
ー状態にある場合は、何らかのシステムエラーを処理し
ていることを示す。ユーザ・インターフェース・サービ
ス状態にある場合には、キー54を押したことに対する反
応を処理している。データ管理サービス状態にある場合
には、データの検索または記憶を行っている。
されたファームウェアの相互作用の動態モデルを示す図
である。円はμC 110の様々な状態を示している。ファ
ームウェアはまず割込み駆動される。μC 110が割込み
を行っていない、または保留のイベントを処理していな
い際に電池寿命を延ばすために、μC 110はアイドル状
態に維持される。μC 110がアイドル状態にある場合に
は、クロック速度は4.9152 MHzから30 KHzに減衰され
る。プログラムモニタがウェークアップ状態にある場合
には、ウェークアップ割込みをが生じた原因を決定して
いる。プログラムモニタがモニタ状態にある場合には、
シリアルコマンドの処理を実行している。レディ状態に
ある場合には、ユーザ入力を待っている。周期的なサー
ビス状態にある場合には、ストリップの挿入のチェック
や、器具20の温度経歴の更新といった周期的タスクを実
行しているということである。ASICサービス状態にある
場合には、EEPROM 152またはROMキー・インターフェー
ス140からのデータの要求といったASIC 112からの要求
を処理しているか、ASIC 112からの情報の受信を行って
いるということである。テスト状態にある場合には、血
糖の測定、コントロールグルコースの測定、またはチェ
ックストリップを用いた診断のいずれかを行っていると
いうことである。リセット状態にある場合は、電源オン
リセットの初期化を実行している。アイドル状態にある
場合には、ウェイクアップの待機を中止している。エラ
ー状態にある場合は、何らかのシステムエラーを処理し
ていることを示す。ユーザ・インターフェース・サービ
ス状態にある場合には、キー54を押したことに対する反
応を処理している。データ管理サービス状態にある場合
には、データの検索または記憶を行っている。
【００８２】様々な割込み、およびそれに対するμC 11
0の反応を図17aに示す。リセット割込みがリセット状態
へと指示する。ASIC 112 Code ROM Chip Select割込み
は、ASIC code ROM 140 のチップセレクトを処理する。
ルーチンが、ASICからコードROM 140アドレスを受信
し、特定のアドレスの内容を読出すためにこれをルーチ
ンへと向かわせ、その内容をASIC 112へと送信する。こ
の割込みは、ASIC 112がオンになっている場合のみに可
能である。この割込みは、器具20がテスト状態にある
か、または器具20がモニタ状態にあり、パススルーコマ
ンドが発行されている場合に起こる。
0の反応を図17aに示す。リセット割込みがリセット状態
へと指示する。ASIC 112 Code ROM Chip Select割込み
は、ASIC code ROM 140 のチップセレクトを処理する。
ルーチンが、ASICからコードROM 140アドレスを受信
し、特定のアドレスの内容を読出すためにこれをルーチ
ンへと向かわせ、その内容をASIC 112へと送信する。こ
の割込みは、ASIC 112がオンになっている場合のみに可
能である。この割込みは、器具20がテスト状態にある
か、または器具20がモニタ状態にあり、パススルーコマ
ンドが発行されている場合に起こる。
【００８３】ASIC 112 EEPROM 152 Chip Select割込み
が、ASIC 112からのEEPROM 152コマンドを処理する。ル
ーチンが読出しコマンド、イネーブル書込みコマンド、
または書込みコマンドを受信する。EEPROM読出しコマン
ドは、ASICからEEPROMアドレスを読出し、データをμC
110 RAMから検索し（このデータは、ファームウェアに
より事前にμC 110 RAMへと伝送されている）、これを
フォーマットし、ASIC112へと送信する。EEPROMイネー
ブル書込みコマンドは、ASIC 112からフルコマンドを読
出す。EEPROM書込みコマンドはEEPROM 152アドレスおよ
びASIC 112からのデータを入手し、このアドレスとデー
タをμC 110のRAM内に記憶する。ASIC 112がパワーアッ
プされる以前に、EEPROM 152の内容がμC 110のRAMにロ
ードされていることに留意しなければならない。ASIC 1
12 EEPROM CS割込みは、ASICが作動している際にのみ可
能である。この割込みは、器具20がテスト状態にある
か、またはメータがモニタ状態にあり、パススルーコマ
ンドが発行されている場合に起こる。
が、ASIC 112からのEEPROM 152コマンドを処理する。ル
ーチンが読出しコマンド、イネーブル書込みコマンド、
または書込みコマンドを受信する。EEPROM読出しコマン
ドは、ASICからEEPROMアドレスを読出し、データをμC
110 RAMから検索し（このデータは、ファームウェアに
より事前にμC 110 RAMへと伝送されている）、これを
フォーマットし、ASIC112へと送信する。EEPROMイネー
ブル書込みコマンドは、ASIC 112からフルコマンドを読
出す。EEPROM書込みコマンドはEEPROM 152アドレスおよ
びASIC 112からのデータを入手し、このアドレスとデー
タをμC 110のRAM内に記憶する。ASIC 112がパワーアッ
プされる以前に、EEPROM 152の内容がμC 110のRAMにロ
ードされていることに留意しなければならない。ASIC 1
12 EEPROM CS割込みは、ASICが作動している際にのみ可
能である。この割込みは、器具20がテスト状態にある
か、またはメータがモニタ状態にあり、パススルーコマ
ンドが発行されている場合に起こる。
【００８４】処理ASIC 112コードROM 140データ出力割
込みは、受信したASICシリアルデータを処理する。この
ルーチンは、コードROMおよびEEPROMチップセレクトが
選択されている場合、ASIC 112から受信したデータのみ
を処理する。このルーチンは、ASIC 112データを読出
し、受信したデータをμC 110のシリアルデータバッフ
ァに記憶するためのルーチンへと向かわせる。この割込
みにより、ASIC 112が保留コマンド用に予想されるデー
タが全て送信されたかどうかがわかり、送信されている
場合には、適切なイベントを送信する。この割込みは、
ASIC 112が作動している場合にのみ可能である。この割
込みは、器具20がテスト状態にあるか、器具がモニタ状
態にあり、パススルーコマンドが発行されている場合に
のみ起こる。
込みは、受信したASICシリアルデータを処理する。この
ルーチンは、コードROMおよびEEPROMチップセレクトが
選択されている場合、ASIC 112から受信したデータのみ
を処理する。このルーチンは、ASIC 112データを読出
し、受信したデータをμC 110のシリアルデータバッフ
ァに記憶するためのルーチンへと向かわせる。この割込
みにより、ASIC 112が保留コマンド用に予想されるデー
タが全て送信されたかどうかがわかり、送信されている
場合には、適切なイベントを送信する。この割込みは、
ASIC 112が作動している場合にのみ可能である。この割
込みは、器具20がテスト状態にあるか、器具がモニタ状
態にあり、パススルーコマンドが発行されている場合に
のみ起こる。
【００８５】外部データが入力された場合、処理RS−23
2cデータ入力割込みがμC 110をウェークアップする。
この機能は、RS-232Cポート160から、μC 110のビルド
インのＵＡＲＴ（Universal Asynchronous Receiver-Tr
ansmitter)を介してデータを受信するための適切なイベ
ントを設定する。この割込みは、器具20がアイドル状態
にある場合にのみ可能である。
2cデータ入力割込みがμC 110をウェークアップする。
この機能は、RS-232Cポート160から、μC 110のビルド
インのＵＡＲＴ（Universal Asynchronous Receiver-Tr
ansmitter)を介してデータを受信するための適切なイベ
ントを設定する。この割込みは、器具20がアイドル状態
にある場合にのみ可能である。
【００８６】処理ボタン割込みは、キー54a-cを押した
ことへの処理のための適切なイベントを設定する。この
割込みは、器具20がアイドル状態にあるか、または器具
20が作動しており、ディスプレイ42がユーザにソフトキ
ー54の選択をするように促している際に可能である。
ことへの処理のための適切なイベントを設定する。この
割込みは、器具20がアイドル状態にあるか、または器具
20が作動しており、ディスプレイ42がユーザにソフトキ
ー54の選択をするように促している際に可能である。
【００８７】処理UART受信エラー割込みは、UARTエラー
を処理する。エラーインジケータが消去され、UARTがリ
セットされる。μC 110のシリアルI/Oバッファが消去さ
れる。この割込みは、器具20がアイドル状態にある時以
外の場合に可能である。
を処理する。エラーインジケータが消去され、UARTがリ
セットされる。μC 110のシリアルI/Oバッファが消去さ
れる。この割込みは、器具20がアイドル状態にある時以
外の場合に可能である。
【００８８】処理UART受信完了割込みは、UARTを介して
受信したバイトを処理する。μC 110の状態、ファーム
ウェアのモニタ状態、受信したデータにより、データが
μC 110のシリアルI/Oバッファ内に記憶され、および/
または送信者へと返送される。この割込みは、器具20が
アイドル状態にある時以外の場合に可能である。
受信したバイトを処理する。μC 110の状態、ファーム
ウェアのモニタ状態、受信したデータにより、データが
μC 110のシリアルI/Oバッファ内に記憶され、および/
または送信者へと返送される。この割込みは、器具20が
アイドル状態にある時以外の場合に可能である。
【００８９】処理UART伝送完了割込みが、UARTを介して
データを送信し、シリアルI/Oバッファを管理する。こ
の割込みは、器具20がアイドル状態である時以外の場合
に可能である。
データを送信し、シリアルI/Oバッファを管理する。こ
の割込みは、器具20がアイドル状態である時以外の場合
に可能である。
【００９０】処理周期的ウェークアップタイマ割込み
が、器具20をアイドル状態から起こしてストリップ21の
挿入をチェックさせ、および/または適時に器具20の温
度経歴を更新させる。この割込みは、器具20がアイドル
状態である時以外の場合に可能である。
が、器具20をアイドル状態から起こしてストリップ21の
挿入をチェックさせ、および/または適時に器具20の温
度経歴を更新させる。この割込みは、器具20がアイドル
状態である時以外の場合に可能である。
【００９１】処理エラー割込みは使用するべきではな
い。しかしながら、もし使用する場合には、使用が可能
であるかどうかがユーザに通知される。次に、器具20が
エラー状態を設定し、電池75が器具20から除去され、リ
セットに電力供給するために再挿入されるか、新しい電
池と交換される。この割込みは常に可能である。
い。しかしながら、もし使用する場合には、使用が可能
であるかどうかがユーザに通知される。次に、器具20が
エラー状態を設定し、電池75が器具20から除去され、リ
セットに電力供給するために再挿入されるか、新しい電
池と交換される。この割込みは常に可能である。
【００９２】このファームウェアの機能的モデルを図17
bに示す。パワーオンリセットがリセット割込みを介し
て入力される。様々な機能の開始時における器具20の状
態がカッコ内に表示されている。器具20は以下によって
自己を初期化する：スタックポインタを初期化し；μC
110ポートをパワーアップリセット状態に再設定し；適
切な使用のためにポート/リソースを構築し；オペレー
ションに十分なだけあるかどうか確認するために電池レ
ベルをチェックし；μC 110ターミナルをパワーアップ
リセット状態に設定し；μC 110のRAMを初期化し；器具
20のコンポーネントをパワーアップレディ状態に初期化
し、器具の電力管理システムを初期化し；EEPROM 152の
コンテンツをμC 110 RAMにロードし；パワーアップリ
セットカウンタを増加させ；器具20の温度履歴を初期化
し；ROM 140の周期冗長検査をコーディングし；製造年
月日フラグが設定されていることをチェックして、これ
が正確であることを確認するためにEEPROM 152データ
（動的テキスト、現在の言語、等）をチェックし；パワ
ーアップリセット完了承認を送信し；パワーアップの完
了をユーザに知らせるために、スピーカ37に可聴ビープ
音を生じさせる。
bに示す。パワーオンリセットがリセット割込みを介し
て入力される。様々な機能の開始時における器具20の状
態がカッコ内に表示されている。器具20は以下によって
自己を初期化する：スタックポインタを初期化し；μC
110ポートをパワーアップリセット状態に再設定し；適
切な使用のためにポート/リソースを構築し；オペレー
ションに十分なだけあるかどうか確認するために電池レ
ベルをチェックし；μC 110ターミナルをパワーアップ
リセット状態に設定し；μC 110のRAMを初期化し；器具
20のコンポーネントをパワーアップレディ状態に初期化
し、器具の電力管理システムを初期化し；EEPROM 152の
コンテンツをμC 110 RAMにロードし；パワーアップリ
セットカウンタを増加させ；器具20の温度履歴を初期化
し；ROM 140の周期冗長検査をコーディングし；製造年
月日フラグが設定されていることをチェックして、これ
が正確であることを確認するためにEEPROM 152データ
（動的テキスト、現在の言語、等）をチェックし；パワ
ーアップリセット完了承認を送信し；パワーアップの完
了をユーザに知らせるために、スピーカ37に可聴ビープ
音を生じさせる。
【００９３】設定ウェークアップソース機能は、ポート
ターミナルおよびコンポーネントをパワーダウンターミ
ナル状態に設定し、割込みを使用可能なウェークアップ
に設定する。スリープ機能は、クロックを低クロック速
度に設定し、μC 110を停止モードにする。どのイベン
トがサービスを必要としているかを示すために、ウェー
クアップ機能が割込みを介して開始される。割込みルー
チン内に適切なイベントフラグが設定される。システム
OK?機能は、システムレベルフェ-ルセーフ：圧縮セン
サ；SuperCAPaciator状態；EEPROM 152周期冗長検査
（キャリブレーション、状態、セットアップおよびイン
シュリンポンプ）を実行する。この機能はまた、パワー
アップカウンタを増加させ、メインクロックを開始し、
スタックポインタを再設定することにより器具20をさら
なる処理に備えて準備し、電池レベルが十分であるかど
うかチェックする。
ターミナルおよびコンポーネントをパワーダウンターミ
ナル状態に設定し、割込みを使用可能なウェークアップ
に設定する。スリープ機能は、クロックを低クロック速
度に設定し、μC 110を停止モードにする。どのイベン
トがサービスを必要としているかを示すために、ウェー
クアップ機能が割込みを介して開始される。割込みルー
チン内に適切なイベントフラグが設定される。システム
OK?機能は、システムレベルフェ-ルセーフ：圧縮セン
サ；SuperCAPaciator状態；EEPROM 152周期冗長検査
（キャリブレーション、状態、セットアップおよびイン
シュリンポンプ）を実行する。この機能はまた、パワー
アップカウンタを増加させ、メインクロックを開始し、
スタックポインタを再設定することにより器具20をさら
なる処理に備えて準備し、電池レベルが十分であるかど
うかチェックする。
【００９４】先に述べたように、プロセスシステムエラ
ー割込みを使用する必要はないはずである。しかしなが
ら、もし使用する場合には、可能であればユーザに通知
を行う。次に、器具20が自己をエラー状態に設定する。
この状態では、器具20は電池が除去され、再挿入または
新しい電池に交換されるまで操作不可能である。
ー割込みを使用する必要はないはずである。しかしなが
ら、もし使用する場合には、可能であればユーザに通知
を行う。次に、器具20が自己をエラー状態に設定する。
この状態では、器具20は電池が除去され、再挿入または
新しい電池に交換されるまで操作不可能である。
【００９５】任意のイベントを保留？機能は、保留さ
れ、処理が必要なイベントがあるかどうかを調べる。保
留中のイベントがない場合には、μC 110がPWM電圧を監
視し、保留中のイベントまたはタイムアウトを待つ。Μ
C 110がユーザの入力またはシリアル入力、システムを
待っており、システムタイムアウトが経過する時間を待
っている場合には、μC 110はアイドル状態に戻る。
れ、処理が必要なイベントがあるかどうかを調べる。保
留中のイベントがない場合には、μC 110がPWM電圧を監
視し、保留中のイベントまたはタイムアウトを待つ。Μ
C 110がユーザの入力またはシリアル入力、システムを
待っており、システムタイムアウトが経過する時間を待
っている場合には、μC 110はアイドル状態に戻る。
【００９６】プロセス周期イベント機能は、例えば、Su
perCAPacatorの充電；温度サンプルの実行；温度経歴の
更新；内部自己加熱変数の調整；テストストリップ21の
挿入のチェックといった処理するべきイベントがあるか
どうかを調べる。
perCAPacatorの充電；温度サンプルの実行；温度経歴の
更新；内部自己加熱変数の調整；テストストリップ21の
挿入のチェックといった処理するべきイベントがあるか
どうかを調べる。
【００９７】無活動タイムアウト経過?機能は、ボタン
を押すのを待つ間、またはシリアルデータを待つ間に実
行される。この機能は、タイムアウトが生じたかどうか
を調べる。タイムアウトが生じた場合には、μC 110を
アイドル状態に戻す。
を押すのを待つ間、またはシリアルデータを待つ間に実
行される。この機能は、タイムアウトが生じたかどうか
を調べる。タイムアウトが生じた場合には、μC 110を
アイドル状態に戻す。
【００９８】処理保留イベント機能を図18に示す。以下
に示す動作は、μC 110が保留中のイベントを処理する
際に起こる。処理ボタンボタン押しイベント機能は、ボ
タンが押された際に呼出される。この機能は、ユーザが
2つ以上のボタンを同時に押すことができるようにする
ための遅れを設けている。次に、この機能がボタンの状
態をサンプリングし、そのボタンの状態を保存し、ユー
ザにどのボタンが押されたかについてのフィードバック
を提供する。現在の画面状態に基づいて、さらなる処理
のために適切な画面ハンドラルーチンが使用される。ボ
タンが押されていない場合には、ボタン押しイベントは
消去される。
に示す動作は、μC 110が保留中のイベントを処理する
際に起こる。処理ボタンボタン押しイベント機能は、ボ
タンが押された際に呼出される。この機能は、ユーザが
2つ以上のボタンを同時に押すことができるようにする
ための遅れを設けている。次に、この機能がボタンの状
態をサンプリングし、そのボタンの状態を保存し、ユー
ザにどのボタンが押されたかについてのフィードバック
を提供する。現在の画面状態に基づいて、さらなる処理
のために適切な画面ハンドラルーチンが使用される。ボ
タンが押されていない場合には、ボタン押しイベントは
消去される。
【００９９】処理ポーリングボタンイベント機能は、高
速キー54押し特徴を提供する。キー54a-cが押され、保
持される。高速モードが起動している場合には、各キー
54a-cの状態がポーリングされる。押されてキー54a-cが
高速モードにある場合には、ユーザへのフィードバック
が提供される。次に、適切な画面ハンドラルーチンが採
用される。キー54a-cが押されたが保持されていない場
合には、＋または−といった関連する機能が呼出され
る。
速キー54押し特徴を提供する。キー54a-cが押され、保
持される。高速モードが起動している場合には、各キー
54a-cの状態がポーリングされる。押されてキー54a-cが
高速モードにある場合には、ユーザへのフィードバック
が提供される。次に、適切な画面ハンドラルーチンが採
用される。キー54a-cが押されたが保持されていない場
合には、＋または−といった関連する機能が呼出され
る。
【０１００】RS-232Cウェークアップ割込みがトリガさ
れている場合には、処理シリアルウェークアップイベン
トが起こる。器具20の現在の状態がチェックされる。器
具20がアイドル状態にある場合には、器具20の状態がモ
ニタ状態に変更され、割込みソースに承認が送信され
る。器具20がアイドル状態にない場合には、ウェークア
ップは無視され、保留中のイベントが消去される。
れている場合には、処理シリアルウェークアップイベン
トが起こる。器具20の現在の状態がチェックされる。器
具20がアイドル状態にある場合には、器具20の状態がモ
ニタ状態に変更され、割込みソースに承認が送信され
る。器具20がアイドル状態にない場合には、ウェークア
ップは無視され、保留中のイベントが消去される。
【０１０１】UARTが完全な割込みを受信し、シリアルI/
Oバッファをさらに処理されるべきであると決定された
場合に、処理シリアルデータイベントが起こる。そのデ
ータが完全なコマンドである場合、UARTがデータブロッ
クの終了を検出するか、またはASICパススルーモードが
イネーブルになり、シリアルI/O内のデータを処理させ
るルーチンが呼出され、保留中のイベントが消去され
る。
Oバッファをさらに処理されるべきであると決定された
場合に、処理シリアルデータイベントが起こる。そのデ
ータが完全なコマンドである場合、UARTがデータブロッ
クの終了を検出するか、またはASICパススルーモードが
イネーブルになり、シリアルI/O内のデータを処理させ
るルーチンが呼出され、保留中のイベントが消去され
る。
【０１０２】処理ストリップ入力イベントは、ストリッ
プ21が挿入されたことを周期的タイマウェークアップが
決定した際に起こる。電力管理システムとLCDが初期化
され、安定化を許容される。グルコーステストを実施す
るためのルーチンが呼出される。保留中のイベントが消
去される。
プ21が挿入されたことを周期的タイマウェークアップが
決定した際に起こる。電力管理システムとLCDが初期化
され、安定化を許容される。グルコーステストを実施す
るためのルーチンが呼出される。保留中のイベントが消
去される。
【０１０３】処理周期的サービスイベントは、周期的タ
イマウェークアップが、温度サンプリングを実行する時
間、温度経歴を更新する時間、内部自己加熱変数を調整
する時間、電力管理を規制する（電力管理の状態を調
べ、必要に応じて調整を行う）時間、またはタイムアウ
トの発生を調べる時間であると決定した際に起こる。
イマウェークアップが、温度サンプリングを実行する時
間、温度経歴を更新する時間、内部自己加熱変数を調整
する時間、電力管理を規制する（電力管理の状態を調
べ、必要に応じて調整を行う）時間、またはタイムアウ
トの発生を調べる時間であると決定した際に起こる。
【０１０４】次に、図19〜73を参照しながら器具20のユ
ーザインターフェースについて説明する。特に図19を参
照すると、画面200が表示され、ユーザがキー54aを押
し、オプション1用の機能、例えば器具20の"RUN GLUCOS
E TEST"が実行される。画面200が表示され、ユーザがキ
ー54bを押した場合、器具20はオフになる。画面200が表
示され、ユーザがキー54cを押した場合、画面202にオプ
ション2、例えば"REVIEWMEMORY"が表示される。ユーザ
は同じ方法で、さらにオプション3例えば"EDIT/ENTER D
ATA"、オプション4例えば"SET DATE AND TIME"、オプシ
ョン5例えば"SETOPTIONS"、オプション6例えば"CHECK B
ETTERY"、というふうに、最終オプションが表示される
までスクロールしていく。
ーザインターフェースについて説明する。特に図19を参
照すると、画面200が表示され、ユーザがキー54aを押
し、オプション1用の機能、例えば器具20の"RUN GLUCOS
E TEST"が実行される。画面200が表示され、ユーザがキ
ー54bを押した場合、器具20はオフになる。画面200が表
示され、ユーザがキー54cを押した場合、画面202にオプ
ション2、例えば"REVIEWMEMORY"が表示される。ユーザ
は同じ方法で、さらにオプション3例えば"EDIT/ENTER D
ATA"、オプション4例えば"SET DATE AND TIME"、オプシ
ョン5例えば"SETOPTIONS"、オプション6例えば"CHECK B
ETTERY"、というふうに、最終オプションが表示される
までスクロールしていく。
【０１０５】次に図20を参照すると、最終オプションが
表示されている画面204が表示されていて、ユーザがキ
ー54aを押した場合、器具20の最終オプションの機能、
図示した例ではオプション6、が実行される。画面204が
表示されていて、ユーザがキー54bを押した場合、器具2
0がオフになる。画面204が表示されていて、ユーザがキ
ー54cを押した場合、オプションメニューがオプション1
にローリングし、画面20が表示される。
表示されている画面204が表示されていて、ユーザがキ
ー54aを押した場合、器具20の最終オプションの機能、
図示した例ではオプション6、が実行される。画面204が
表示されていて、ユーザがキー54bを押した場合、器具2
0がオフになる。画面204が表示されていて、ユーザがキ
ー54cを押した場合、オプションメニューがオプション1
にローリングし、画面20が表示される。
【０１０６】次に図21を参照し、器具20がオフ状態にあ
ると仮定した場合、器具20への電池75の挿入によって、
器具20がパワーリセット状態になる。図22を参照。周期
的ウェークアップ以前に時間が経過した場合には、器具
20はウェークアップ状態になる。図23を参照。ユーザが
任意のボタン54a-cを押した場合には、器具20はウェー
クアップ状態になる。図24を参照。器具20が、例えばポ
ート160からシリアルデータを検出した場合、器具20は
ウェークアップ状態になる。図25を参照。
ると仮定した場合、器具20への電池75の挿入によって、
器具20がパワーリセット状態になる。図22を参照。周期
的ウェークアップ以前に時間が経過した場合には、器具
20はウェークアップ状態になる。図23を参照。ユーザが
任意のボタン54a-cを押した場合には、器具20はウェー
クアップ状態になる。図24を参照。器具20が、例えばポ
ート160からシリアルデータを検出した場合、器具20は
ウェークアップ状態になる。図25を参照。
【０１０７】図25に示すように、パワーアップの直後
に、器具20はパワーアップチェックを実行する。パワー
アップチェックには、図27aに示すような電池レベルチ
ェックが含まれる。電池レベルが器具20を実行するのに
十分でない場合には、図27bに示した画面が表示され
る。この画面から、ユーザは、キー54bを押して電池の
サービスを行うまで器具20をオフにすることができる。
あるいは、タイムアウトインターバルの通過後に、器具
20が自己をオフにする。電池75レベルが警告しきい値よ
りも低い場合には、電池警告アイコンがディスプレイ42
に設定され、電池を交換する必要がある旨をユーザに通
知する。電池レベルチェックの実行後に、器具20が図28
aに示したメモリチェックを実行する。器具20がメモリ
チェックに失敗すると、図28bに示した画面が表示され
る。この画面から、ユーザは器具20がサービス状態にな
るまで器具20をオフにすることができる。あるいは、タ
イムアウトインターバルの通過後に、器具20が自己をオ
フにする。
に、器具20はパワーアップチェックを実行する。パワー
アップチェックには、図27aに示すような電池レベルチ
ェックが含まれる。電池レベルが器具20を実行するのに
十分でない場合には、図27bに示した画面が表示され
る。この画面から、ユーザは、キー54bを押して電池の
サービスを行うまで器具20をオフにすることができる。
あるいは、タイムアウトインターバルの通過後に、器具
20が自己をオフにする。電池75レベルが警告しきい値よ
りも低い場合には、電池警告アイコンがディスプレイ42
に設定され、電池を交換する必要がある旨をユーザに通
知する。電池レベルチェックの実行後に、器具20が図28
aに示したメモリチェックを実行する。器具20がメモリ
チェックに失敗すると、図28bに示した画面が表示され
る。この画面から、ユーザは器具20がサービス状態にな
るまで器具20をオフにすることができる。あるいは、タ
イムアウトインターバルの通過後に、器具20が自己をオ
フにする。
【０１０８】事前に言語が選択されている場合、メモリ
チェックの実行後に以下に示す選択を行う。事前に言語
が選択されていない場合には、器具が、ディスプレイを
行う言語のための言語選択ルーチンを実行する。このル
ーチンと、ユーザへのディスプレイプロンプトについて
は図29a-bを参照。表示用の言語が設定されると、器具
は、実時間クロックをリセットする必要があるかどうか
を決定する。必要な場合には適切なプロンプトが提供さ
れる。必要ない場合には制御がバックグラウンドプログ
ラムに戻る。
チェックの実行後に以下に示す選択を行う。事前に言語
が選択されていない場合には、器具が、ディスプレイを
行う言語のための言語選択ルーチンを実行する。このル
ーチンと、ユーザへのディスプレイプロンプトについて
は図29a-bを参照。表示用の言語が設定されると、器具
は、実時間クロックをリセットする必要があるかどうか
を決定する。必要な場合には適切なプロンプトが提供さ
れる。必要ない場合には制御がバックグラウンドプログ
ラムに戻る。
【０１０９】測定を実施する前に、器具20はポート140
内のコードROMキーをチェックし（図31a-fを参照）、温
度を読み、特定の自己診断テストを実行しなければなら
ない。図30aを参照。器具20は温度決定へと進む。周囲
温度が器具20のロックアウト制限外である場合、図30b
のエラーメッセージが表示される。このエラーメッセー
ジから、ユーザは器具20をオフにするか、メニューに戻
ることができる。次に、器具20は、温度が警告制限内に
あるかどうかを決定する。制限内にある場合には温度警
告アイコンが表示される。続いて、器具20は自己診断テ
ストへと進む。器具20がこれらのテストに合格すると、
ユーザにテストストリップ21を挿入するよう促す（図32
a-c参照）。合格しない場合は、図30cに示したエラー画
面を表示する。このエラーメッセージから、ユーザは器
具20をオフにするか、メニューに戻ることができる。
内のコードROMキーをチェックし（図31a-fを参照）、温
度を読み、特定の自己診断テストを実行しなければなら
ない。図30aを参照。器具20は温度決定へと進む。周囲
温度が器具20のロックアウト制限外である場合、図30b
のエラーメッセージが表示される。このエラーメッセー
ジから、ユーザは器具20をオフにするか、メニューに戻
ることができる。次に、器具20は、温度が警告制限内に
あるかどうかを決定する。制限内にある場合には温度警
告アイコンが表示される。続いて、器具20は自己診断テ
ストへと進む。器具20がこれらのテストに合格すると、
ユーザにテストストリップ21を挿入するよう促す（図32
a-c参照）。合格しない場合は、図30cに示したエラー画
面を表示する。このエラーメッセージから、ユーザは器
具20をオフにするか、メニューに戻ることができる。
【０１１０】次に図31a-fに進むと、コードROMキーがポ
ート140に挿入されているかどうかを調べるためにポー
ト140のチェックが行われる。挿入されていない場合に
は、図31bに示したミッシングコードキー画面が表示さ
れる。このエラーメッセージから、ユーザは器具20をオ
フにするか、メニューに戻ることができる。コードキー
がポート140にある場合、キーのタイプが決定される。
キーのタイプが不正確である場合、不正確コードキーメ
ッセージが表示される。図31cを参照。このエラーメッ
セージから、ユーザは器具20をオフにするか、またはメ
ニューに戻ることができる。正確なコードキーのタイプ
がポート140にある場合、コードキーのROMコンテンツの
保全性がチェックされる。コードキーROMコンテンツに
エラーがある場合、コードキー損傷メッセージが表示さ
れる。図31dを参照。このエラーメッセージから、ユー
ザは器具20をオフにするか、またはメニューに戻ること
ができる。コードキーROMコンテンツが実行可能である
場合、コードキーのコードナンバーが表示されるので、
ユーザはこのナンバーを、ストリップの小瓶に印刷され
たコードと比較することができる。ユーザは、このスト
リップの小瓶からグルコーステスト用のストリップ21を
取る。図31eを参照。次に、器具20は、コードキーROM内
の情報から、そのコードキーに関連したストリップ21が
失効しているかどうかを確かめる。失効している場合に
は、ストリップ失効メッセージが表示される。図31fを
参照。このエラーメッセージから、ユーザは器具20をオ
フにするか、メニューに戻るか、またはその失効したス
トリップ21を用いてテストを実行することができる。ユ
ーザが、失効したストリップ21を用いてテストを実行す
ることを選択すると、失効ストリップ警告アイコンがデ
ィスプレイ42上に配置され、器具20がバックグラウンド
ルーチンに戻る。ストリップが失効していない場合は、
器具20はバックグラウンドルーチンに戻る。
ート140に挿入されているかどうかを調べるためにポー
ト140のチェックが行われる。挿入されていない場合に
は、図31bに示したミッシングコードキー画面が表示さ
れる。このエラーメッセージから、ユーザは器具20をオ
フにするか、メニューに戻ることができる。コードキー
がポート140にある場合、キーのタイプが決定される。
キーのタイプが不正確である場合、不正確コードキーメ
ッセージが表示される。図31cを参照。このエラーメッ
セージから、ユーザは器具20をオフにするか、またはメ
ニューに戻ることができる。正確なコードキーのタイプ
がポート140にある場合、コードキーのROMコンテンツの
保全性がチェックされる。コードキーROMコンテンツに
エラーがある場合、コードキー損傷メッセージが表示さ
れる。図31dを参照。このエラーメッセージから、ユー
ザは器具20をオフにするか、またはメニューに戻ること
ができる。コードキーROMコンテンツが実行可能である
場合、コードキーのコードナンバーが表示されるので、
ユーザはこのナンバーを、ストリップの小瓶に印刷され
たコードと比較することができる。ユーザは、このスト
リップの小瓶からグルコーステスト用のストリップ21を
取る。図31eを参照。次に、器具20は、コードキーROM内
の情報から、そのコードキーに関連したストリップ21が
失効しているかどうかを確かめる。失効している場合に
は、ストリップ失効メッセージが表示される。図31fを
参照。このエラーメッセージから、ユーザは器具20をオ
フにするか、メニューに戻るか、またはその失効したス
トリップ21を用いてテストを実行することができる。ユ
ーザが、失効したストリップ21を用いてテストを実行す
ることを選択すると、失効ストリップ警告アイコンがデ
ィスプレイ42上に配置され、器具20がバックグラウンド
ルーチンに戻る。ストリップが失効していない場合は、
器具20はバックグラウンドルーチンに戻る。
【０１１１】次に、図32aに示すストリッププロンプト
ルーチンに進むと、器具はまず、ストリップ21がすでに
ストリップポート96内にあるかどうかを確認する。ポー
ト96内にない場合は、ユーザはストリップを挿入するよ
うディスプレイ42によって促される。図32bを参照。ユ
ーザは、器具20をオフにすることにより、また、メニュ
ーに戻ることにより、図32bからさらに前進することが
できる。ストリップ21がすでにポート96内にある場合、
または、ユーザが図32bの表示に応じてストリップ21を
挿入した場合、器具20は次に、挿入されているストリッ
プのタイプを、ストリップの特定の電気特性に基づいて
決定する。このファームウェアは3つの可能性、すなわ
ち良質な診断またはチェックストリップ；良質なテスト
ストリップ；または粗悪なストリップを考慮する。器具
20によってストリップが粗悪であると判断された場合、
粗悪ストリップメッセージが表示される。図32cを参
照。このエラーメッセージから、ユーザは器具20をオフ
にするか、またはメニューに戻るか、あるいはそのスト
リップを除去することができ、この場合、器具20が再度
ストリップ20の挿入を促す。図32bを参照。
ルーチンに進むと、器具はまず、ストリップ21がすでに
ストリップポート96内にあるかどうかを確認する。ポー
ト96内にない場合は、ユーザはストリップを挿入するよ
うディスプレイ42によって促される。図32bを参照。ユ
ーザは、器具20をオフにすることにより、また、メニュ
ーに戻ることにより、図32bからさらに前進することが
できる。ストリップ21がすでにポート96内にある場合、
または、ユーザが図32bの表示に応じてストリップ21を
挿入した場合、器具20は次に、挿入されているストリッ
プのタイプを、ストリップの特定の電気特性に基づいて
決定する。このファームウェアは3つの可能性、すなわ
ち良質な診断またはチェックストリップ；良質なテスト
ストリップ；または粗悪なストリップを考慮する。器具
20によってストリップが粗悪であると判断された場合、
粗悪ストリップメッセージが表示される。図32cを参
照。このエラーメッセージから、ユーザは器具20をオフ
にするか、またはメニューに戻るか、あるいはそのスト
リップを除去することができ、この場合、器具20が再度
ストリップ20の挿入を促す。図32bを参照。
【０１１２】器具20が、挿入されたストリップ21が良質
であると判断すると、器具20はユーザに、ストリップの
ターゲットエリアに血液を付加するよう促す。図33a-b
を参照。ユーザは、器具20をオフにするか、またはメイ
ンメニューに戻ることでこれをかわすことでき、また、
ストリップ21に血液を付加することもできる。ユーザが
ストリップ21に血液を付加すると、器具20がテスト画面
を表示する。図33cを参照。この画面は、テストの完了
のおおよその割合と、プログラムされたヒントのライブ
ラリからのメッセージまたはヒントを示すグルコースを
含んでいる。これらのメッセージは、図示した器具20の
ディスプレイのメッセージラインをゆっくりと進む。器
具20はグルコース凝縮決定を実行する。この決定の実行
においてエラーが検出されると、エラーメッセージが表
示される。図33dを参照。このようなエラーの検出か
ら、ユーザは器具20をオフにするか、メインメニューに
戻るか、ストリップを除去することができる。ストリッ
プを除去した場合、図32a-bに示すストリッププロンプ
トが表示される。エラーが検出されなかった場合、器具
はその測定値をディスプレイ42上に表示する。図33eを
参照。ユーザは、器具20を自己タイムアウトさせてパワ
ーダウンさせるか、メインメニューにもどるか、ストリ
ップを除去するか、たった今完了した測定に関連した入
力イベントを選択するか、またはたった今完了した測定
の入力のためのダイアリを選択することにより、測定値
の表示に応じることができる。
であると判断すると、器具20はユーザに、ストリップの
ターゲットエリアに血液を付加するよう促す。図33a-b
を参照。ユーザは、器具20をオフにするか、またはメイ
ンメニューに戻ることでこれをかわすことでき、また、
ストリップ21に血液を付加することもできる。ユーザが
ストリップ21に血液を付加すると、器具20がテスト画面
を表示する。図33cを参照。この画面は、テストの完了
のおおよその割合と、プログラムされたヒントのライブ
ラリからのメッセージまたはヒントを示すグルコースを
含んでいる。これらのメッセージは、図示した器具20の
ディスプレイのメッセージラインをゆっくりと進む。器
具20はグルコース凝縮決定を実行する。この決定の実行
においてエラーが検出されると、エラーメッセージが表
示される。図33dを参照。このようなエラーの検出か
ら、ユーザは器具20をオフにするか、メインメニューに
戻るか、ストリップを除去することができる。ストリッ
プを除去した場合、図32a-bに示すストリッププロンプ
トが表示される。エラーが検出されなかった場合、器具
はその測定値をディスプレイ42上に表示する。図33eを
参照。ユーザは、器具20を自己タイムアウトさせてパワ
ーダウンさせるか、メインメニューにもどるか、ストリ
ップを除去するか、たった今完了した測定に関連した入
力イベントを選択するか、またはたった今完了した測定
の入力のためのダイアリを選択することにより、測定値
の表示に応じることができる。
【０１１３】次に、図34a-eを参照しながら測定の実施
について説明する。特に図34aを参照すると、器具20の
測定エンジンが始動し、この測定エンジンに温度データ
が提供され、グルコース測定が計算されて記憶され、制
御がバックグラウンドルーチンに戻る。測定実行の最中
に、ストリップ21がポート95から除去されるか、または
コードROMキーがポート140から除去されると、エラー画
面が表示される。図34b-dを参照。エラーのタイプが図3
4dのディスプレイに表示される。これが、図34dにある
複数のXの意味である。ユーザは、器具20をオフにする
か、メインメニューに戻ることによって、図34dの表示
に対応することができる。図34b-cを参照。測定実施中
にストリップ21が除去された場合、ディスプレイ42がユ
ーザにストリップ21を挿入するよう促す。測定の結果、
過剰グルコース凝縮指示が表示された場合、別の画面が
表示される。この画面は、図34eの、グルコースオーバ
ーフローエラー画面に図示されている。
について説明する。特に図34aを参照すると、器具20の
測定エンジンが始動し、この測定エンジンに温度データ
が提供され、グルコース測定が計算されて記憶され、制
御がバックグラウンドルーチンに戻る。測定実行の最中
に、ストリップ21がポート95から除去されるか、または
コードROMキーがポート140から除去されると、エラー画
面が表示される。図34b-dを参照。エラーのタイプが図3
4dのディスプレイに表示される。これが、図34dにある
複数のXの意味である。ユーザは、器具20をオフにする
か、メインメニューに戻ることによって、図34dの表示
に対応することができる。図34b-cを参照。測定実施中
にストリップ21が除去された場合、ディスプレイ42がユ
ーザにストリップ21を挿入するよう促す。測定の結果、
過剰グルコース凝縮指示が表示された場合、別の画面が
表示される。この画面は、図34eの、グルコースオーバ
ーフローエラー画面に図示されている。
【０１１４】次に、メインメニュー内で使用可能なオプ
ションに進み、図35a-cを参照すると、ユーザがメイン
メニューを選択することでメインメニュー画面が表示さ
れる。ユーザは、キー54cを押してメインメニュー上の
オプションをスクロールすることができる。画面は、ユ
ーザが選択可能な全ての使用可能オプションが表示され
るまでロールオーバーされ続ける。図35b-cを参照。ユ
ーザは、図35aに図示されたフローチャートに示されて
いるこれらの使用可能オプションから選択を行う。これ
らのオプションには以下が含まれる。グルコーステスト
の実行（図32a-c、33a-e、34a-e）；器具20のメモリの
コンテンツのレビュー（図36a-d）：メモリメニューを
編集し、これに対する入力（図46a-d）：日付と時間の
設定（図60a-c）：オプション（メニュー）の設定（図6
1a-c）、電池のチェック（図69a-b）。
ションに進み、図35a-cを参照すると、ユーザがメイン
メニューを選択することでメインメニュー画面が表示さ
れる。ユーザは、キー54cを押してメインメニュー上の
オプションをスクロールすることができる。画面は、ユ
ーザが選択可能な全ての使用可能オプションが表示され
るまでロールオーバーされ続ける。図35b-cを参照。ユ
ーザは、図35aに図示されたフローチャートに示されて
いるこれらの使用可能オプションから選択を行う。これ
らのオプションには以下が含まれる。グルコーステスト
の実行（図32a-c、33a-e、34a-e）；器具20のメモリの
コンテンツのレビュー（図36a-d）：メモリメニューを
編集し、これに対する入力（図46a-d）：日付と時間の
設定（図60a-c）：オプション（メニュー）の設定（図6
1a-c）、電池のチェック（図69a-b）。
【０１１５】グルコーステストの実行については既に述
べた。メモリのレビューについては、図36a-dに最良に
示している。ユーザがメモリのレビューを選ぶと、ユー
ザが様々なメモリファイルから選択をおこなうことがで
きる画面が表示される。図36b-cを参照。ユーザは、所
望のファイルがハイライトされるまで、様々なメモリフ
ァイルをスクロールダウンする。ファイルオプションの
1つは、メインメニューに戻るである。残りのファイル
オプションには以下のレビューが含まれる。ダイアリ；
以前のグルコーステスト結果；テスト結果トレンド；選
択したグルコーステスト結果のグラフ；グルコース範
囲；メモリに記憶された血糖減少のイベント；グルコー
ス平均；インシュリンポンプユーザ用のインシュリンポ
ンププロフィール。
べた。メモリのレビューについては、図36a-dに最良に
示している。ユーザがメモリのレビューを選ぶと、ユー
ザが様々なメモリファイルから選択をおこなうことがで
きる画面が表示される。図36b-cを参照。ユーザは、所
望のファイルがハイライトされるまで、様々なメモリフ
ァイルをスクロールダウンする。ファイルオプションの
1つは、メインメニューに戻るである。残りのファイル
オプションには以下のレビューが含まれる。ダイアリ；
以前のグルコーステスト結果；テスト結果トレンド；選
択したグルコーステスト結果のグラフ；グルコース範
囲；メモリに記憶された血糖減少のイベント；グルコー
ス平均；インシュリンポンプユーザ用のインシュリンポ
ンププロフィール。
【０１１６】ユーザがダイアリオプションのレビューを
選択すると、図37bに図示された画面が表示される。ユ
ーザは、各ダイアリ入力内の複数のイベントを見ること
ができ、また、最新の入力イベントが最初に表示され
る。ユーザは、以前に入力されたイベントをスクロール
アップすることができる。図37cを参照。イベントに
は、例えば：様々な形式のエクササイズのタイプと時間
の遅れ（図37d）；炭水化物の取入れ（図37e）；投入し
た複数の異なるタイプのインシュリンの各々の量（図37
f）；ストリップ21に付加したサンプル内で検出され
た、その他の特定の生物学的な顕著な構成物の量（図示
した例では、ケトン-図37g、グリコシル化したヘモグロ
ビン-図37h）が含まれる（当然のことながら、ストリッ
プ21は、器具20に対して、このような構成物についての
信用できる表示を提供することが可能である必要があ
る。）表示42では、制限外のあらゆる結果をエクスクラ
メーションマーク（！）で示している。
選択すると、図37bに図示された画面が表示される。ユ
ーザは、各ダイアリ入力内の複数のイベントを見ること
ができ、また、最新の入力イベントが最初に表示され
る。ユーザは、以前に入力されたイベントをスクロール
アップすることができる。図37cを参照。イベントに
は、例えば：様々な形式のエクササイズのタイプと時間
の遅れ（図37d）；炭水化物の取入れ（図37e）；投入し
た複数の異なるタイプのインシュリンの各々の量（図37
f）；ストリップ21に付加したサンプル内で検出され
た、その他の特定の生物学的な顕著な構成物の量（図示
した例では、ケトン-図37g、グリコシル化したヘモグロ
ビン-図37h）が含まれる（当然のことながら、ストリッ
プ21は、器具20に対して、このような構成物についての
信用できる表示を提供することが可能である必要があ
る。）表示42では、制限外のあらゆる結果をエクスクラ
メーションマーク（！）で示している。
【０１１７】ユーザがグルコースオプションのレビュー
を選択した場合、図38bに図示された画面が表示され
る。ユーザは、過去の読出しからデータをスクロールア
ップしたり、より最近の読出しへスクロールダウンする
こともできる。グルコース凝縮テスト結果以外の読出し
は、このオプションでは表示されない。測定時における
範囲外の温度、範囲外のグルコース凝縮、等のような任
意の適切な警告がグルコース読出しと共に表示される。
を選択した場合、図38bに図示された画面が表示され
る。ユーザは、過去の読出しからデータをスクロールア
ップしたり、より最近の読出しへスクロールダウンする
こともできる。グルコース凝縮テスト結果以外の読出し
は、このオプションでは表示されない。測定時における
範囲外の温度、範囲外のグルコース凝縮、等のような任
意の適切な警告がグルコース読出しと共に表示される。
【０１１８】ユーザがトレンドオプションのレビューを
選択すると、図39bに示した画面が表示される。この画
面は、読出しがメモリ内に記憶された日を示す行を備え
ている。読出しの記憶日は、1日24時間の複数のタイム
セグメントを示す複数のカラムに分割されている。図示
した器具20では、ユーザは、この記憶日を、ユーザの治
療レジメン、習慣等に従って8つのセグメントレジメン
に分割しているが、各日の24時間全体を考慮しなければ
ならない。図示した器具20では、8つのカラムが任意
で、BreaKfast; MidMOrning; LUNch; MidAFternoon; DI
Nner; EVEning; BEDtime; NiGhTtimeのいずれかに分類
されている。例証的に、関連する時間間隔は例えば：6:
00 am〜8:59 am; 9:00 am〜11:59 am; 12:00正午〜1:59
pm; 2:00pm〜4:59 pm; 5:00 pm〜7:59 pm;8:00 pm〜9:
59 pm; 10:00 pm〜2:49 am; 3:00am〜5:59 amであって
よい。先に述べたように、時間間隔の幅、各カラムの開
始時間および終了時間はユーザが選択することができ
る。これについて説明する。図示した器具20では、範囲
外の読出しが、暗い背景上に明るい数字で、リバースビ
デオで表示される。
選択すると、図39bに示した画面が表示される。この画
面は、読出しがメモリ内に記憶された日を示す行を備え
ている。読出しの記憶日は、1日24時間の複数のタイム
セグメントを示す複数のカラムに分割されている。図示
した器具20では、ユーザは、この記憶日を、ユーザの治
療レジメン、習慣等に従って8つのセグメントレジメン
に分割しているが、各日の24時間全体を考慮しなければ
ならない。図示した器具20では、8つのカラムが任意
で、BreaKfast; MidMOrning; LUNch; MidAFternoon; DI
Nner; EVEning; BEDtime; NiGhTtimeのいずれかに分類
されている。例証的に、関連する時間間隔は例えば：6:
00 am〜8:59 am; 9:00 am〜11:59 am; 12:00正午〜1:59
pm; 2:00pm〜4:59 pm; 5:00 pm〜7:59 pm;8:00 pm〜9:
59 pm; 10:00 pm〜2:49 am; 3:00am〜5:59 amであって
よい。先に述べたように、時間間隔の幅、各カラムの開
始時間および終了時間はユーザが選択することができ
る。これについて説明する。図示した器具20では、範囲
外の読出しが、暗い背景上に明るい数字で、リバースビ
デオで表示される。
【０１１９】ユーザがグラフオプションを選ぶと、結果
のグラフが表示される。図40bを参照。図示した器具20
では、x軸は6時間ごとに分割した48時間を示している。
y軸のスケールは、50〜350 mg/dLで、この範囲の各分割
は100 mg/dLである。後で説明するように、ユーザの通
常範囲を入力することができ、入力した場合、これが点
線で表示される。ユーザ範囲内の値は+記号で示され
る。器具20の読出し範囲低外の値は∨記号で示される。
器具20の読出し範囲高外の値は∧で示される。ユーザ
は、キー54cと54を各々用いて前後にスクロールを行う
ことができ、表示された48時間からの過去とこれからの
値がグラフ上に現れる。
のグラフが表示される。図40bを参照。図示した器具20
では、x軸は6時間ごとに分割した48時間を示している。
y軸のスケールは、50〜350 mg/dLで、この範囲の各分割
は100 mg/dLである。後で説明するように、ユーザの通
常範囲を入力することができ、入力した場合、これが点
線で表示される。ユーザ範囲内の値は+記号で示され
る。器具20の読出し範囲低外の値は∨記号で示される。
器具20の読出し範囲高外の値は∧で示される。ユーザ
は、キー54cと54を各々用いて前後にスクロールを行う
ことができ、表示された48時間からの過去とこれからの
値がグラフ上に現れる。
【０１２０】ユーザがグルコース範囲オプションを選ぶ
と、ユーザは、見たい記録の日付範囲を選択するように
聞かれる。図示した器具20でゃ、ユーザは過去30日間、
14日間、7日間、48時間を選択することができる。図41b
に図示した画面は、ディスプレイの頂部に表示された日
付範囲で表示される。このディスプレイは、血糖減少テ
スト結果の割合と、その日付範囲内におけるテスト結果
の総数を表示する。ユーザがキー54cを押すと、低読出
しの割合、通常範囲における読出しの割合、高読出しの
割合、そして再度、その日付範囲内におけるテスト結果
の総数を含む追加の記憶が表示される。図41cを参照。
日付範囲は、図42a-bに示すように選択される。ユーザ
は図42bに示した日付画面を選択し、キー54cを使って、
所望の日付範囲がハイライトされるまでスクロールダウ
ンする。次に、ユーザはキー54aを使って日付範囲を選
択する。すると、器具が図41aに示したルーチンへと戻
る。
と、ユーザは、見たい記録の日付範囲を選択するように
聞かれる。図示した器具20でゃ、ユーザは過去30日間、
14日間、7日間、48時間を選択することができる。図41b
に図示した画面は、ディスプレイの頂部に表示された日
付範囲で表示される。このディスプレイは、血糖減少テ
スト結果の割合と、その日付範囲内におけるテスト結果
の総数を表示する。ユーザがキー54cを押すと、低読出
しの割合、通常範囲における読出しの割合、高読出しの
割合、そして再度、その日付範囲内におけるテスト結果
の総数を含む追加の記憶が表示される。図41cを参照。
日付範囲は、図42a-bに示すように選択される。ユーザ
は図42bに示した日付画面を選択し、キー54cを使って、
所望の日付範囲がハイライトされるまでスクロールダウ
ンする。次に、ユーザはキー54aを使って日付範囲を選
択する。すると、器具が図41aに示したルーチンへと戻
る。
【０１２１】ユーザが血糖減少イベントオプションの数
を選択すると、ユーザは、血糖減少イベントを報告する
日付範囲を選択するよう聞かれる。図42a-bを参照。ユ
ーザが日付範囲を選択すると、図43bに図示した画面が
表示される。図示した器具では、血糖減少イベントの数
が時刻(time of day)によって報告される。図39a-bにつ
いての上記の説明を参照。ユーザはキー54cと54aの各々
を押すことにより、時刻によって報告された血糖減少イ
ベントの数の内でスクロールアップおよびダウンするこ
とができる。
を選択すると、ユーザは、血糖減少イベントを報告する
日付範囲を選択するよう聞かれる。図42a-bを参照。ユ
ーザが日付範囲を選択すると、図43bに図示した画面が
表示される。図示した器具では、血糖減少イベントの数
が時刻(time of day)によって報告される。図39a-bにつ
いての上記の説明を参照。ユーザはキー54cと54aの各々
を押すことにより、時刻によって報告された血糖減少イ
ベントの数の内でスクロールアップおよびダウンするこ
とができる。
【０１２２】ユーザが平均オプションのレビューを選ぶ
と、ユーザは平均を計算する日付範囲を指定するよう再
度促される。図42a-bを参照。ユーザが日付範囲を選択
すると、図44bに図示した画面が表示される。図示した
器具では、平均が時刻 (timeof day) で報告される。図
39a-bについての上記の説明を参照。ユーザはキー54a、
54cの各々を押すことにより、時刻で報告された平均間
をスクロールアップおよびダウンすることができる。
と、ユーザは平均を計算する日付範囲を指定するよう再
度促される。図42a-bを参照。ユーザが日付範囲を選択
すると、図44bに図示した画面が表示される。図示した
器具では、平均が時刻 (timeof day) で報告される。図
39a-bについての上記の説明を参照。ユーザはキー54a、
54cの各々を押すことにより、時刻で報告された平均間
をスクロールアップおよびダウンすることができる。
【０１２３】ユーザがインシュリンポンププロフィール
オプションのレビューを選ぶと、図45bに示した画面が
表示される。ダイアリのレビューを選ぶと、例えば一時
的基底値（temporary basal rate）、ボラスおよび方形
波ボラスのようなその他のインシュリンポンプ情報が、
別の情報と共に図示される。
オプションのレビューを選ぶと、図45bに示した画面が
表示される。ダイアリのレビューを選ぶと、例えば一時
的基底値（temporary basal rate）、ボラスおよび方形
波ボラスのようなその他のインシュリンポンプ情報が、
別の情報と共に図示される。
【０１２４】図35aに手短に戻ると、ユーザは、図46a-d
メインデータメニューにおいて編集および入力を行うこ
とができる。ユーザがこのオプションを選択すると、図
46bに示した画面が表示される。ユーザはキー54cを押す
ことで、メインデータメニュー上のオプションをスクロ
ールダウンすることができる。図46c-dを参照。最後の
画面に達すると、メニューがロールオーバする。ユーザ
は、キー54aを押して、ハイライトされたオプションを
選ぶ。図示した器具20でのオプションには、ダイアリ；
インシュリンのタイプ；インシュリンポンプ動作パラメ
ータ；炭水化物摂取；イベント；エクササイズ；ケト
ン；グリコシル化したヘモグロビン；メインメニューへ
戻る、が含まれる。
メインデータメニューにおいて編集および入力を行うこ
とができる。ユーザがこのオプションを選択すると、図
46bに示した画面が表示される。ユーザはキー54cを押す
ことで、メインデータメニュー上のオプションをスクロ
ールダウンすることができる。図46c-dを参照。最後の
画面に達すると、メニューがロールオーバする。ユーザ
は、キー54aを押して、ハイライトされたオプションを
選ぶ。図示した器具20でのオプションには、ダイアリ；
インシュリンのタイプ；インシュリンポンプ動作パラメ
ータ；炭水化物摂取；イベント；エクササイズ；ケト
ン；グリコシル化したヘモグロビン；メインメニューへ
戻る、が含まれる。
【０１２５】ダイアリの編集および入力を行うには、図
47aに図示したフローチャートが有用である。まず、日
付と時間を選択する。ユーザが挿入した日付と時間を選
択すると、その日付と時間用のダイアリー設定が表示さ
れる。その開始時のディスプレイを図47bに図示する。
ユーザはキー54c押して、その日付および時間用の様々
な画面を進んでいくことができる。図47c-fを参照。ユ
ーザは、キー54aを押してダイアリ入力を変更すること
ができ、次に、キー54bを押して変更する入力を選び、
その入力のハイライティングを進めることができる。図
47gを参照。変更する入力がハイライトされたら、ユー
ザは、適切な値が表示されるまで、キー54cを押してそ
の入力値を増やしたり、キー54aを押して減らしたりす
ることができる。図47h-kを参照。最終画面47fに保存キ
ーが表示される。全ての画面図47b-fが表示されるまで
は、ユーザは変更したデータを保存することができな
い。
47aに図示したフローチャートが有用である。まず、日
付と時間を選択する。ユーザが挿入した日付と時間を選
択すると、その日付と時間用のダイアリー設定が表示さ
れる。その開始時のディスプレイを図47bに図示する。
ユーザはキー54c押して、その日付および時間用の様々
な画面を進んでいくことができる。図47c-fを参照。ユ
ーザは、キー54aを押してダイアリ入力を変更すること
ができ、次に、キー54bを押して変更する入力を選び、
その入力のハイライティングを進めることができる。図
47gを参照。変更する入力がハイライトされたら、ユー
ザは、適切な値が表示されるまで、キー54cを押してそ
の入力値を増やしたり、キー54aを押して減らしたりす
ることができる。図47h-kを参照。最終画面47fに保存キ
ーが表示される。全ての画面図47b-fが表示されるまで
は、ユーザは変更したデータを保存することができな
い。
【０１２６】ユーザは、図48bに示した画面の表示によ
って日付と時間を選択するよう促される。キー54cを使
って過去の入力をスクロールアップすることができる。
図示した器具では、図46aに示したルーチンを入力した
際のみに図48bに示す画面が表示される。
って日付と時間を選択するよう促される。キー54cを使
って過去の入力をスクロールアップすることができる。
図示した器具では、図46aに示したルーチンを入力した
際のみに図48bに示す画面が表示される。
【０１２７】インシュリン設定を編集または入力するに
は、まず日付と時間を選択し（図47a-b）、次に、図49b
に図示したディスプレイ上で現在のインシュリン設定を
見る。キー54cを押すと表示された設定を保存する。こ
れらの設定を保存できるのはこの動作だけである。キー
54aを押すと、新規の設定を編集または入力することが
できる。ユーザはキー54bを押して、編集または入力す
る設定がハイライトされるまで選択する。キー54aを押
すと設定を減らすことができ、キー54cを押すと設定を
増やすことができる。
は、まず日付と時間を選択し（図47a-b）、次に、図49b
に図示したディスプレイ上で現在のインシュリン設定を
見る。キー54cを押すと表示された設定を保存する。こ
れらの設定を保存できるのはこの動作だけである。キー
54aを押すと、新規の設定を編集または入力することが
できる。ユーザはキー54bを押して、編集または入力す
る設定がハイライトされるまで選択する。キー54aを押
すと設定を減らすことができ、キー54cを押すと設定を
増やすことができる。
【０１２８】ユーザが図46aに示したインシュリンポン
プオプションを選択すると、ウ50bに示したインシュリ
ンポンプメニュー画面がディスプレイ42上に表示され
る。ユーザはキー54cを使って所望のオプションがハイ
ライトされるまでオプションをスクロールダウンするこ
とによりインシュリンポンプメニューオプションから選
び、次に、キー54aを押してそのオプションを選択す
る。次に、図51a-cに示すようにボラス設定内でデータ
を編集または入力することができ；図52a-cに示すよう
に一時的バサル設定内でデータを編集または入力するこ
とができ；図53a-cに示す方形波ボラス設定内でデータ
の編集または入力することができ；図54a-Iに示すよう
にバサルプロフィールを編集または入力することができ
る。
プオプションを選択すると、ウ50bに示したインシュリ
ンポンプメニュー画面がディスプレイ42上に表示され
る。ユーザはキー54cを使って所望のオプションがハイ
ライトされるまでオプションをスクロールダウンするこ
とによりインシュリンポンプメニューオプションから選
び、次に、キー54aを押してそのオプションを選択す
る。次に、図51a-cに示すようにボラス設定内でデータ
を編集または入力することができ；図52a-cに示すよう
に一時的バサル設定内でデータを編集または入力するこ
とができ；図53a-cに示す方形波ボラス設定内でデータ
の編集または入力することができ；図54a-Iに示すよう
にバサルプロフィールを編集または入力することができ
る。
【０１２９】ボラス設定の編集または入力を選択する
と、ユーザはまず、日付と時間を選択するよう促され
る。図48a-bを参照。次に、選択した日付および時間用
のボラス設定が表示される。図51bを参照。キー54cを押
すと表示された設定を保存する。この設定を保存できる
のはこの動作だけである。表示された設定を変更したい
場合には、キー54aを押す。するとその設定がハイライ
トされる。図51cを参照。キー54cを押して設定を増やす
か、キー54aを押して設定を減らす。所望の設定に達し
たら、キー54bを押し、次にキー54cを押して新規の設定
を入力する。
と、ユーザはまず、日付と時間を選択するよう促され
る。図48a-bを参照。次に、選択した日付および時間用
のボラス設定が表示される。図51bを参照。キー54cを押
すと表示された設定を保存する。この設定を保存できる
のはこの動作だけである。表示された設定を変更したい
場合には、キー54aを押す。するとその設定がハイライ
トされる。図51cを参照。キー54cを押して設定を増やす
か、キー54aを押して設定を減らす。所望の設定に達し
たら、キー54bを押し、次にキー54cを押して新規の設定
を入力する。
【０１３０】一時的バラス設定の編集または入力を選択
した場合、ユーザはまず日付と時間選択するよう促され
る。図48a-bを参照。次に、選択した日付および時間用
の一時的バサル設定が表示される。図52bを参照。キー5
4cを押すと表示された設定を保存できる。この設定を保
存できるのはこの動作だけである。表示された設定を変
更したい場合には、キー54aを押す。設定のフィールド
がハイライトされる。図52cを参照。ハイライトされた
フィールドはユーザが変更したいフィールドであり、ユ
ーザはキー54cを押して設定を増やしたり、キー54aを押
して設定を減らしたりする。所望の設定に達したら、キ
ー54bを押し、続けてキー54cを押して新規の設定を入力
する。ハイライトされたフィールドが変更したいフィー
ルドでない場合には、変更したい設定がハイライトされ
るまでキー54bを押し続けることで、フィールドを進め
ていくことができる。
した場合、ユーザはまず日付と時間選択するよう促され
る。図48a-bを参照。次に、選択した日付および時間用
の一時的バサル設定が表示される。図52bを参照。キー5
4cを押すと表示された設定を保存できる。この設定を保
存できるのはこの動作だけである。表示された設定を変
更したい場合には、キー54aを押す。設定のフィールド
がハイライトされる。図52cを参照。ハイライトされた
フィールドはユーザが変更したいフィールドであり、ユ
ーザはキー54cを押して設定を増やしたり、キー54aを押
して設定を減らしたりする。所望の設定に達したら、キ
ー54bを押し、続けてキー54cを押して新規の設定を入力
する。ハイライトされたフィールドが変更したいフィー
ルドでない場合には、変更したい設定がハイライトされ
るまでキー54bを押し続けることで、フィールドを進め
ていくことができる。
【０１３１】方形波ボラス設定の編集または入力を選択
した場合、ユーザはまず日付と時間を選択するよう促さ
れる。図48a-bを参照。次に、選択した日付と時間用の
方形波ボラス設定が表示される。図53bを参照。キー54c
を押すと表示された設定を保存する。この設定を保存で
きるのはこの動作だけである。表示された設定を変更し
たい場合には、キー54aを押す。すると、設定のフィー
ルドがハイライトされる。図53cを参照。ハイライトさ
れたフィールドが、ユーザが変更したいフィールドであ
る場合には、キー54cを押して設定を増やしたり、キー5
4aを押して設定を減らしたりする。所望の設定に達した
ら、ユーザは、図53bに示した画面が表示されるまでキ
ー54bを押し続け、次にキー54cを押して新規設定を入力
する。ハイライトされたフィールドがユーザが変更した
いフィールドでない場合には、所望の変更がハイライト
されるまでキー54bを押し続けることにより、変更した
いフィールドにまで進むことができる。
した場合、ユーザはまず日付と時間を選択するよう促さ
れる。図48a-bを参照。次に、選択した日付と時間用の
方形波ボラス設定が表示される。図53bを参照。キー54c
を押すと表示された設定を保存する。この設定を保存で
きるのはこの動作だけである。表示された設定を変更し
たい場合には、キー54aを押す。すると、設定のフィー
ルドがハイライトされる。図53cを参照。ハイライトさ
れたフィールドが、ユーザが変更したいフィールドであ
る場合には、キー54cを押して設定を増やしたり、キー5
4aを押して設定を減らしたりする。所望の設定に達した
ら、ユーザは、図53bに示した画面が表示されるまでキ
ー54bを押し続け、次にキー54cを押して新規設定を入力
する。ハイライトされたフィールドがユーザが変更した
いフィールドでない場合には、所望の変更がハイライト
されるまでキー54bを押し続けることにより、変更した
いフィールドにまで進むことができる。
【０１３２】バサルプロフィールの編集または入力を選
択した場合、ユーザはまず日付と時間を選択するよう促
される。図48a-bを参照。選択した日付と時間用のバサ
ルプロフィールが表示される。その開始時画面を図54b
に示す。ユーザは、キー54c、54bの各々を押すことで、
選択した日付と時間用のプロフィールを前後にスクロー
ルすることができる。最終画面が表示されたら、キー54
cを押して選択した日付用の現在の設定を保存すること
ができる。図54eを参照。この設定を保存できるのはこ
の動作だけである。現在の設定を変更するには、キー54
aを押す。すると、設定のフィールドがハイライトされ
る。図54fを参照。ハイライトされたフィールドがユー
ザが変更したいフィールドである場合には、キー54cを
押して設定を増やしたり、キー54aを押して設定を減ら
したりする。所望の設定に達したら、図54bに示した画
面が表示されるまでキー54bを押し続け、次に、図54c-e
に示す画面を介してキー54cを押すと新規設定が入力さ
れる。ハイライトされたフィールドが変更したいフィー
ルドでない場合には、変更したいフィールドがハイライ
トされるまでキー54bを押し続けて、所望のフィールド
へと進むことができる。
択した場合、ユーザはまず日付と時間を選択するよう促
される。図48a-bを参照。選択した日付と時間用のバサ
ルプロフィールが表示される。その開始時画面を図54b
に示す。ユーザは、キー54c、54bの各々を押すことで、
選択した日付と時間用のプロフィールを前後にスクロー
ルすることができる。最終画面が表示されたら、キー54
cを押して選択した日付用の現在の設定を保存すること
ができる。図54eを参照。この設定を保存できるのはこ
の動作だけである。現在の設定を変更するには、キー54
aを押す。すると、設定のフィールドがハイライトされ
る。図54fを参照。ハイライトされたフィールドがユー
ザが変更したいフィールドである場合には、キー54cを
押して設定を増やしたり、キー54aを押して設定を減ら
したりする。所望の設定に達したら、図54bに示した画
面が表示されるまでキー54bを押し続け、次に、図54c-e
に示す画面を介してキー54cを押すと新規設定が入力さ
れる。ハイライトされたフィールドが変更したいフィー
ルドでない場合には、変更したいフィールドがハイライ
トされるまでキー54bを押し続けて、所望のフィールド
へと進むことができる。
【０１３３】図46aに戻る。炭水化物オプションの編集/
入力を選択した場合、ユーザはまず日付と時間を選択す
るよう促される。図48a-bを参照。次に、選択した日付
と時間用の炭水化物設定が表示される。図55bを参照。
キー54cを押すと表示された設定を保存する。この設定
を保存できるのはこの動作だけである。表示された設定
を変更したい場合には、キー54aを押す。図55cに示した
画面が表示される。ユーザはキー54c押して設定を増や
したり、キー54aを押して減らしたりする。所望の設定
が表示されたら、キー54bを押して図55bに示した画面を
表示させ、次に、キー54cを押して変更した入力を保存
する。
入力を選択した場合、ユーザはまず日付と時間を選択す
るよう促される。図48a-bを参照。次に、選択した日付
と時間用の炭水化物設定が表示される。図55bを参照。
キー54cを押すと表示された設定を保存する。この設定
を保存できるのはこの動作だけである。表示された設定
を変更したい場合には、キー54aを押す。図55cに示した
画面が表示される。ユーザはキー54c押して設定を増や
したり、キー54aを押して減らしたりする。所望の設定
が表示されたら、キー54bを押して図55bに示した画面を
表示させ、次に、キー54cを押して変更した入力を保存
する。
【０１３４】図46aに戻る。イベントオプションの編集/
入力を選択した場合、ユーザはまず日付と時間を選択す
るよう促される。図48a-bを参照。次に、図56bに示した
画面が表示される。キー54cを押すとイベント画面を進
めることができる。画面56cが表示された時にキー54cを
押すと、表示された設定を保存することができる。この
設定を保存できるのはこの動作だけである。表示された
設定を変更したい場合には、キー54aを押す。すると、
図56dに示した画面が表示される。ハイライトされたフ
ィールドが変更したいフィールドである場合には、キー
54a、54cを押して、所望のものが表示されるまで様々な
使用可能なイベントテキストをスクロールし、次いで、
図56bに示したディスプレイが表示されるまでキー54bを
押し、変更した入力が保存されるまでキー54cを押す。
入力を選択した場合、ユーザはまず日付と時間を選択す
るよう促される。図48a-bを参照。次に、図56bに示した
画面が表示される。キー54cを押すとイベント画面を進
めることができる。画面56cが表示された時にキー54cを
押すと、表示された設定を保存することができる。この
設定を保存できるのはこの動作だけである。表示された
設定を変更したい場合には、キー54aを押す。すると、
図56dに示した画面が表示される。ハイライトされたフ
ィールドが変更したいフィールドである場合には、キー
54a、54cを押して、所望のものが表示されるまで様々な
使用可能なイベントテキストをスクロールし、次いで、
図56bに示したディスプレイが表示されるまでキー54bを
押し、変更した入力が保存されるまでキー54cを押す。
【０１３５】図46aに戻る。エクササイズオプションの
編集/入力を選択した場合、ユーザはまず日付と時間を
選択するよう促される。図48a-bを参照。次に、図57bに
示した画面が表示される。画面60bが表示されている時
にキー54cを押すと、表示された設定を保存する。この
設定を保存できるのはこの動作だけである。表示された
設定を変更したい場合には、キー54aを押すと図57cに示
した画面が表示される。ハイライトされたフィールドが
変更したいフィールドである場合には、キー54a、54cを
押して、所望のものが表示されるまで様々な使用可能な
エクササイズテキストをスクロールし、次にキー54bを
押して図57bに示したディスプレイへと戻る。続いて、
キー54cを押して変更した入力を保存する。
編集/入力を選択した場合、ユーザはまず日付と時間を
選択するよう促される。図48a-bを参照。次に、図57bに
示した画面が表示される。画面60bが表示されている時
にキー54cを押すと、表示された設定を保存する。この
設定を保存できるのはこの動作だけである。表示された
設定を変更したい場合には、キー54aを押すと図57cに示
した画面が表示される。ハイライトされたフィールドが
変更したいフィールドである場合には、キー54a、54cを
押して、所望のものが表示されるまで様々な使用可能な
エクササイズテキストをスクロールし、次にキー54bを
押して図57bに示したディスプレイへと戻る。続いて、
キー54cを押して変更した入力を保存する。
【０１３６】図46aへと戻る。ケトンオプションの編集/
入力を選択した場合、ユーザはまず日付と時間の選択を
促される。図48a-bを参照。図58bに示した画面が表示さ
れる。図58bに示した画面が表示されている時にキー54c
を押すと、表示された設定を保存する。この設定を保存
できるのはこの動作だけである。表示された設定を変更
したい場合には、キー54aを押すと図58cに示した画面が
表示される。キー54a、54cを押して、所望のものが表示
されるまで様々なケトンテキストをスクロールし、次
に、キー54bを押して図58bに示したディスプレイへと戻
る。続いて、キー54cを押して変更した入力を保存す
る。
入力を選択した場合、ユーザはまず日付と時間の選択を
促される。図48a-bを参照。図58bに示した画面が表示さ
れる。図58bに示した画面が表示されている時にキー54c
を押すと、表示された設定を保存する。この設定を保存
できるのはこの動作だけである。表示された設定を変更
したい場合には、キー54aを押すと図58cに示した画面が
表示される。キー54a、54cを押して、所望のものが表示
されるまで様々なケトンテキストをスクロールし、次
に、キー54bを押して図58bに示したディスプレイへと戻
る。続いて、キー54cを押して変更した入力を保存す
る。
【０１３７】図46aへ戻る。グリコシル化したヘモグロ
ビンの編集/入力を選択した場合、ユーザはまず、日付
と時間を選択するよう促される。図48a-bを参照。次
に、図59bに示す画面が表示される。図59bが表示されて
いる時にキー54cを押すと、表示された設定が保存され
る。この設定を保存できるのはこの動作だけである。表
示された設定を変更したい場合には、キー54aを押すと
図59cに示す画面が表示される。ユーザは、所望の入力
が表示されるまでキー54aと54cを押し、次にキー54bを
押して図59bに示す画面へと戻る。続いて、キー54cを押
して変更した入力を保存する。
ビンの編集/入力を選択した場合、ユーザはまず、日付
と時間を選択するよう促される。図48a-bを参照。次
に、図59bに示す画面が表示される。図59bが表示されて
いる時にキー54cを押すと、表示された設定が保存され
る。この設定を保存できるのはこの動作だけである。表
示された設定を変更したい場合には、キー54aを押すと
図59cに示す画面が表示される。ユーザは、所望の入力
が表示されるまでキー54aと54cを押し、次にキー54bを
押して図59bに示す画面へと戻る。続いて、キー54cを押
して変更した入力を保存する。
【０１３８】例えば、スーパーコンデンサを放電しなが
ら電池75が器具20から約1時間以上外されている場合、
ユーザは、正確な日付と時間を設定する必要がある。例
えば、ユーザが12時間クロックまたは24時間クロックを
好もうと、またはユーザが日、月、年、または月、日、
年と表示された日付を好もうと、ユーザはその他の日付
と時間パラメータも選択することができる。ユーザが、
図35bから日付と時間オプションの設定を選択した場
合、図60bに示す日付と時間画面が表示される。図60bに
示した画面が表示されているときにキー54を押すと、表
示された設定を保存する。この設定を保存できるのはこ
の動作だけである。表示された設定を変更したい場合に
は、キー54aを押すと図60cに示す画面が表示される。ハ
イライトされたフィールドが変更したいフィールドであ
れば、所望のフィールドが表示されるまでキー54a、54c
を押し続ける。次に、キー54bを押して図60bに示す画面
へと戻り、次に、キー54cを押して修正した日付と時間
を保存する。ハイライトされたフィールドが変更したい
フィールドでない場合は、所望のものがハイライトされ
るまでキー54bを押して、フィールドを進める。
ら電池75が器具20から約1時間以上外されている場合、
ユーザは、正確な日付と時間を設定する必要がある。例
えば、ユーザが12時間クロックまたは24時間クロックを
好もうと、またはユーザが日、月、年、または月、日、
年と表示された日付を好もうと、ユーザはその他の日付
と時間パラメータも選択することができる。ユーザが、
図35bから日付と時間オプションの設定を選択した場
合、図60bに示す日付と時間画面が表示される。図60bに
示した画面が表示されているときにキー54を押すと、表
示された設定を保存する。この設定を保存できるのはこ
の動作だけである。表示された設定を変更したい場合に
は、キー54aを押すと図60cに示す画面が表示される。ハ
イライトされたフィールドが変更したいフィールドであ
れば、所望のフィールドが表示されるまでキー54a、54c
を押し続ける。次に、キー54bを押して図60bに示す画面
へと戻り、次に、キー54cを押して修正した日付と時間
を保存する。ハイライトされたフィールドが変更したい
フィールドでない場合は、所望のものがハイライトされ
るまでキー54bを押して、フィールドを進める。
【０１３９】図35cからオプションメニューの設定を選
択した場合、図61bに示す画面が表示される。ユーザ
は、器具20に示されたいくつかのオプションから選択を
行う。これらのオプションには、メータオプション；イ
ンシュリン；インシュリンポンプ；グルコース範囲；タ
イムブロックの設定；ダイアリの設定；国（言語）オプ
ション、が含まれる。ユーザはキー54cを使って様々な
オプションをスクロールダウンできる。特定のオプショ
ンがハイライトされている時にキー54aを押すと、その
オプションを設定するルーチンに入力を行う。図62a-c
を参照すると、例えば、ユーザはブザー37に、電源スイ
ッチ170をイネーブルまたはディスエーブルにさせ、バ
ックライト電源スイッチ154をイネーブルまたはディス
エーブルにさせ、スクローリングメッセージまたはヒン
トをイネーブルまたはディスエーブルにさせることがで
きる。ユーザがメータオプションのビューを選択した場
合、図62bに示す画面が表示される。図62bに示す画面が
表示されている時にキー54cを押すと、現在のメータ設
定オプションを保存する。この設定を保存できるのはこ
の動作だけである。ユーザがメータ設定オプションを変
更したい場合には、キー54aを押す。これにより、図62c
に示す画面が表示される。キー54a、またはキー54cを押
すことにより、ハイライトされたオプションの設定を変
更することができる。残りのオプションの全てを介して
キー54bを押すと、図62bに示した画面へと戻る。キー54
cを押すと、変更した設定オプションを保存する。図62c
でのハイライトされたオプションがユーザが変更したい
オプションでない場合、変更したいものがハイライトさ
れるまでキー54bを押し続けて、使用可能なオプション
を進めることができる。
択した場合、図61bに示す画面が表示される。ユーザ
は、器具20に示されたいくつかのオプションから選択を
行う。これらのオプションには、メータオプション；イ
ンシュリン；インシュリンポンプ；グルコース範囲；タ
イムブロックの設定；ダイアリの設定；国（言語）オプ
ション、が含まれる。ユーザはキー54cを使って様々な
オプションをスクロールダウンできる。特定のオプショ
ンがハイライトされている時にキー54aを押すと、その
オプションを設定するルーチンに入力を行う。図62a-c
を参照すると、例えば、ユーザはブザー37に、電源スイ
ッチ170をイネーブルまたはディスエーブルにさせ、バ
ックライト電源スイッチ154をイネーブルまたはディス
エーブルにさせ、スクローリングメッセージまたはヒン
トをイネーブルまたはディスエーブルにさせることがで
きる。ユーザがメータオプションのビューを選択した場
合、図62bに示す画面が表示される。図62bに示す画面が
表示されている時にキー54cを押すと、現在のメータ設
定オプションを保存する。この設定を保存できるのはこ
の動作だけである。ユーザがメータ設定オプションを変
更したい場合には、キー54aを押す。これにより、図62c
に示す画面が表示される。キー54a、またはキー54cを押
すことにより、ハイライトされたオプションの設定を変
更することができる。残りのオプションの全てを介して
キー54bを押すと、図62bに示した画面へと戻る。キー54
cを押すと、変更した設定オプションを保存する。図62c
でのハイライトされたオプションがユーザが変更したい
オプションでない場合、変更したいものがハイライトさ
れるまでキー54bを押し続けて、使用可能なオプション
を進めることができる。
【０１４０】図61aからインシュリンオプションの設定
を選択すると、図63bに示す画面が表示される。キー54c
を押すと、図63cに示す画面が表示される。設定を保存
したい場合は、キー54cを押す。この設定を保存できる
のはこの動作だけである。これらの設定を変更したい場
合には、キー54aを押す。すると、図63dに示した画面が
表示される。ハイライトされた設定が変更したいもので
ある場合、設定が適切な新規の設定に変更されるまでキ
ー54a、54cを押し続ける。次に、図63bに示す画面が表
示されるまでキー54bを押し、続いて、新規の設定が保
存されるまでキー54cを押す。波依頼とされた設定が変
更したいものでない場合には、ハイライトされた設定が
所望のものになるまでキー54bを押し続ける。
を選択すると、図63bに示す画面が表示される。キー54c
を押すと、図63cに示す画面が表示される。設定を保存
したい場合は、キー54cを押す。この設定を保存できる
のはこの動作だけである。これらの設定を変更したい場
合には、キー54aを押す。すると、図63dに示した画面が
表示される。ハイライトされた設定が変更したいもので
ある場合、設定が適切な新規の設定に変更されるまでキ
ー54a、54cを押し続ける。次に、図63bに示す画面が表
示されるまでキー54bを押し、続いて、新規の設定が保
存されるまでキー54cを押す。波依頼とされた設定が変
更したいものでない場合には、ハイライトされた設定が
所望のものになるまでキー54bを押し続ける。
【０１４１】図61aからインシュリンポンプオプション
の設定を選択すると、図64bに示した画面が表示され
る。この設定を保存したい場合はキー54cを押す。この
設定を保存できるのはこの動作だけである。この設定を
変更したい場合にはキー54aを押す。すると設定が変更
される。キー54cを押すと変更した設定を保存する。
の設定を選択すると、図64bに示した画面が表示され
る。この設定を保存したい場合はキー54cを押す。この
設定を保存できるのはこの動作だけである。この設定を
変更したい場合にはキー54aを押す。すると設定が変更
される。キー54cを押すと変更した設定を保存する。
【０１４２】図61aからグルコース範囲オプションの設
定を選択すると、図65bに示す画面が表示される。この
設定を保存したい場合にはキー54cを押す。これらの設
定を保存できるのはこの動作だけである。これらの設定
を変更したい場合にはキー54aを押す。すると、図65cに
示す画面が表示される。ハイライトされた設定が変更し
たいものであれば、ハイライト範囲に所望の設定が現れ
るまでキー54a、54cを押し続けて設定を変更することが
できる。次に、ディスプレイが図65bに示す画面へと戻
るまでキー54bを押し続ける。次に、キー54cを押して修
正した設定を保存する。ハイライトされた設定が変更し
たいものでない場合には、ハイライトされた設定が変更
したいものになるまでキー54bを押し続け、上述したよ
うに続行する。
定を選択すると、図65bに示す画面が表示される。この
設定を保存したい場合にはキー54cを押す。これらの設
定を保存できるのはこの動作だけである。これらの設定
を変更したい場合にはキー54aを押す。すると、図65cに
示す画面が表示される。ハイライトされた設定が変更し
たいものであれば、ハイライト範囲に所望の設定が現れ
るまでキー54a、54cを押し続けて設定を変更することが
できる。次に、ディスプレイが図65bに示す画面へと戻
るまでキー54bを押し続ける。次に、キー54cを押して修
正した設定を保存する。ハイライトされた設定が変更し
たいものでない場合には、ハイライトされた設定が変更
したいものになるまでキー54bを押し続け、上述したよ
うに続行する。
【０１４３】図61aからタイムブロックオプションの設
定を選択すると、図66bに示す画面が表示される。ユー
ザは、図66bに示す画面が表示されている時にキー54cを
押して、また、画面66cの画面が表示されている時にキ
ー54bを押して、図66bに示す画面と図66cに示す画面と
の間を行き来して参照することができる。これらの設定
を保存できるのはこの動作だけである。ユーザが任意の
ブロック内の時間を変更したい場合には、キー54aを押
す。すると、図66dに示す画面が表示される。また、ハ
イライトされた入力を変更したい場合には、ハイライト
された範囲に所望の入力が現れるまでキー54a、54cを押
す。ユーザは、残りの入力を1度に１つずつ介して、第1
のハイライトされた入力に変更を行った時と同じ方法
で、残りの入力がハイライトされた時にその他のあらゆ
る所望の変更を行いながら前進することができる。図示
した器具20では、ユーザが選択を行えるのは様々なタイ
ムブロックの開始時のみである。次のタイムブロックの
開始1分前になると器具20が終了時間を計算し、これが
器具20によって自動的に入力される。最終入力がハイラ
イトされ、所望であれば変更を行った後に、キー54bを
押すと画面66bの表示へと戻る。変更を保存するには、
キー54cを押して画面66cを表示させ、再びキー54cを押
しすだけで変更を保存することができる。
定を選択すると、図66bに示す画面が表示される。ユー
ザは、図66bに示す画面が表示されている時にキー54cを
押して、また、画面66cの画面が表示されている時にキ
ー54bを押して、図66bに示す画面と図66cに示す画面と
の間を行き来して参照することができる。これらの設定
を保存できるのはこの動作だけである。ユーザが任意の
ブロック内の時間を変更したい場合には、キー54aを押
す。すると、図66dに示す画面が表示される。また、ハ
イライトされた入力を変更したい場合には、ハイライト
された範囲に所望の入力が現れるまでキー54a、54cを押
す。ユーザは、残りの入力を1度に１つずつ介して、第1
のハイライトされた入力に変更を行った時と同じ方法
で、残りの入力がハイライトされた時にその他のあらゆ
る所望の変更を行いながら前進することができる。図示
した器具20では、ユーザが選択を行えるのは様々なタイ
ムブロックの開始時のみである。次のタイムブロックの
開始1分前になると器具20が終了時間を計算し、これが
器具20によって自動的に入力される。最終入力がハイラ
イトされ、所望であれば変更を行った後に、キー54bを
押すと画面66bの表示へと戻る。変更を保存するには、
キー54cを押して画面66cを表示させ、再びキー54cを押
しすだけで変更を保存することができる。
【０１４４】図61aからダイアリデフォルトオプション
の設定を選ぶと、図67bに示した画面が表示される。キ
ー54cを押すと、変更するべきダイアリデフォルト設定
のタイムブロックがハイライトされるまで、ディスプレ
イがスクロールダウンする。ハイライトされたタイムブ
ロック用の任意のダイアリデフォルト設定を変更したい
場合には、キー54aを押す。すると、図67cに示す画面が
表示される。ユーザは、キー54cを押して図67c-gに示す
様々な画面を前後に移動し、次の画面（図67c-fのみ）
へと進み、また、キー54bを押して直前の画面（図67d-g
のみ）へと戻ることができる。図67gに示す画面が表示
されている時にキー54cを押すと、現在のダイアリデフ
ォルト設定を保存することができる。現在の設定を保存
できるのはこの動作だけである。現在の設定を変更した
い場合には、キー54aを押すだけで図67hに示す画面が表
示される。そこで、ハイライトされた入力が所望のもの
になるまでキー54a、54cを押し続け、ハイライトされた
入力を変更する。ハイライトされた入力が変更したいも
のでない場合には、変更する入力がハイライトされるま
でキー54bを押し続けることで入力を進めることができ
る。次に、その入力を上述した方法で変更する。図67l
に示す最終入力がハイライトされた後にキー54bを押す
と、図67cに示す画面へと戻る。次に、図67gに示す画面
へと進むことで、また、キー54cを押すことで、修正さ
れたダイアリデフォルト設定が保存される。
の設定を選ぶと、図67bに示した画面が表示される。キ
ー54cを押すと、変更するべきダイアリデフォルト設定
のタイムブロックがハイライトされるまで、ディスプレ
イがスクロールダウンする。ハイライトされたタイムブ
ロック用の任意のダイアリデフォルト設定を変更したい
場合には、キー54aを押す。すると、図67cに示す画面が
表示される。ユーザは、キー54cを押して図67c-gに示す
様々な画面を前後に移動し、次の画面（図67c-fのみ）
へと進み、また、キー54bを押して直前の画面（図67d-g
のみ）へと戻ることができる。図67gに示す画面が表示
されている時にキー54cを押すと、現在のダイアリデフ
ォルト設定を保存することができる。現在の設定を保存
できるのはこの動作だけである。現在の設定を変更した
い場合には、キー54aを押すだけで図67hに示す画面が表
示される。そこで、ハイライトされた入力が所望のもの
になるまでキー54a、54cを押し続け、ハイライトされた
入力を変更する。ハイライトされた入力が変更したいも
のでない場合には、変更する入力がハイライトされるま
でキー54bを押し続けることで入力を進めることができ
る。次に、その入力を上述した方法で変更する。図67l
に示す最終入力がハイライトされた後にキー54bを押す
と、図67cに示す画面へと戻る。次に、図67gに示す画面
へと進むことで、また、キー54cを押すことで、修正さ
れたダイアリデフォルト設定が保存される。
【０１４５】図61aから国オプションを選択すると、図6
8bに示す画面が表示される。設定を変更する必要がない
場合は、キー54cを押して設定を保存する。設定が保存
されたら、ユーザインターフェースに別の言語が設定さ
れていることを確かめるために、ルーチンがチェックを
実行する。そうでない場合には、制御が設定オプション
メニューへ戻る。別の言語が選択されている場合には、
器具20がパワーダンする。設定を変更したい場合にはキ
ー54aを押す。すると、図68cに示す画面が表示される。
所望のオプションが現れるまでキー54a、54cを押し続け
て、ハイライトされた設定のための使用可能なオプショ
ンを介して前進することができる。続いて、ユーザはキ
ー54bを押して次の設定をハイライトし、次のハイライ
トされたオプションに何か変更を加えたい場合にはキー
54a、54cを押す。ユーザは、キー54bを押すと図68bに示
す画面に戻るまでこれを続けることができる。次に、54
cを押して修正した設定を保存する。
8bに示す画面が表示される。設定を変更する必要がない
場合は、キー54cを押して設定を保存する。設定が保存
されたら、ユーザインターフェースに別の言語が設定さ
れていることを確かめるために、ルーチンがチェックを
実行する。そうでない場合には、制御が設定オプション
メニューへ戻る。別の言語が選択されている場合には、
器具20がパワーダンする。設定を変更したい場合にはキ
ー54aを押す。すると、図68cに示す画面が表示される。
所望のオプションが現れるまでキー54a、54cを押し続け
て、ハイライトされた設定のための使用可能なオプショ
ンを介して前進することができる。続いて、ユーザはキ
ー54bを押して次の設定をハイライトし、次のハイライ
トされたオプションに何か変更を加えたい場合にはキー
54a、54cを押す。ユーザは、キー54bを押すと図68bに示
す画面に戻るまでこれを続けることができる。次に、54
cを押して修正した設定を保存する。
【０１４６】図35a-cから電池チェックオプションを選
択すると、図69bに示す画面が表示される。画面上の電
池の陰影は、電池75の電圧に関連する。ユーザはこのデ
ィスプレイからメインメニューへと戻り、器具20をオフ
にするか、時間が経過して自然にオフになるのを待つ。
択すると、図69bに示す画面が表示される。画面上の電
池の陰影は、電池75の電圧に関連する。ユーザはこのデ
ィスプレイからメインメニューへと戻り、器具20をオフ
にするか、時間が経過して自然にオフになるのを待つ。
【０１４７】次に図70a-bを参照すると、図示した器具
はさらに、特定の追加イベントおよびパラメータを追跡
する。キー54a-cを同時に押すと、図70bに示す画面が表
示される。この画面は、器具20のシリアルナンバー（S:
sssssss）、器具20が動作しているファームウェアのバ
ージョン（V:v.vv）、器具20がパワーアップされた回数
（C1:11111）、器具20が実行したグルコース凝縮決定の
回数(C2:22222)、器具20がリセットされた回数（C3:333
33）を表示する。 ［図面の簡単な説明］
はさらに、特定の追加イベントおよびパラメータを追跡
する。キー54a-cを同時に押すと、図70bに示す画面が表
示される。この画面は、器具20のシリアルナンバー（S:
sssssss）、器具20が動作しているファームウェアのバ
ージョン（V:v.vv）、器具20がパワーアップされた回数
（C1:11111）、器具20が実行したグルコース凝縮決定の
回数(C2:22222)、器具20がリセットされた回数（C3:333
33）を表示する。 ［図面の簡単な説明］
【図１】図1は本発明に組み入れる器具の分解透視図。
【図２】図２は図1に示した器具の詳細な拡大透視図。
【図３】図３は、図２に詳細に示した図中断面線3-3に
沿った、さらなる拡大断面図。
沿った、さらなる拡大断面図。
【図４】図４は、図２に詳細に示した図中断面線4-4に
沿った、さらなる拡大断面図。
沿った、さらなる拡大断面図。
【図５】図５は、図1に示した器具の詳細な拡大透視
図。
図。
【図６】図６は、図５に詳細に示した図中断面線6-6に
沿った、さらなる拡大断面図。
沿った、さらなる拡大断面図。
【図７】図７は、図５の断面線7-7に沿った、図5に詳細
に示したもののさらなる拡大断面図。
に示したもののさらなる拡大断面図。
【図８】図８は、図１に示した器具の詳細な拡大透視
図。
図。
【図９】図９は、図１に示した器具の詳細な拡大透視
図。
図。
【図１０】図10は、図１に示した器具の詳細な拡大透視
図。
図。
【図１１】図11は、図１に示した器具の詳細な拡大透視
図。
図。
【図１２】図12は、図１に示した器具の詳細な拡大透視
図。
図。
【図１３】図13は、図１に示した器具の詳細な拡大透視
図。
図。
【図１４】図14は、本発明に従い構築した器具に有用な
電気回路のブロック図。
電気回路のブロック図。
【図１５】図15a-hは、図14にブロック図の形式で示し
た電気回路の部分的ブロック図ならびに部分的概略図。
た電気回路の部分的ブロック図ならびに部分的概略図。
【図１６】図16は、図１に示した器具の操作に有用なフ
ァームウェア(firmware)の動的モデル。
ァームウェア(firmware)の動的モデル。
【図１７】図17aは、図１に示した器具の操作に有用な
ファームウェアにより実行される割込み処理ルーチン。
図17bは、図１に示した器具の操作に有用なファームウ
ェアの機能的モデル。
ファームウェアにより実行される割込み処理ルーチン。
図17bは、図１に示した器具の操作に有用なファームウ
ェアの機能的モデル。
【図１８】図18は、図17に示したモデルの詳細。
【図１９】図19は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
フェース。
【図２０】図20は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
フェース。
【図２１】図21は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
フェース。
【図２２】図22は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
フェース。
【図２３】図23は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
フェース。
【図２４】図24は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
フェース。
【図２５】図25は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
フェース。
【図２６】図26は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
フェース。
【図２７】図27は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
フェース。
【図２８】図28は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
フェース。
【図２９】図29は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
フェース。
【図３０】図30は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
フェース。
【図３１】図31は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
フェース。
【図３２】図32は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
フェース。
【図３３】図33は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
フェース。
【図３４】図34は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
フェース。
【図３５】図35は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
フェース。
【図３６】図36は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
フェース。
【図３７】図37は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
フェース。
【図３８】図38は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
フェース。
【図３９】図39は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
フェース。
【図４０】図40は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
フェース。
【図４１】図41は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
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【図４２】図42は、図１に示した器具のユーザインター
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【図４３】図43は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
フェース。
【図４４】図44は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
フェース。
【図４５】図45は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
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【図４６】図46は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
フェース。
【図４７】図47は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
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【図４８】図48は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
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【図４９】図49は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
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【図５０】図50は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
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【図５１】図51は、図１に示した器具のユーザインター
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【図５２】図52は、図１に示した器具のユーザインター
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【図５３】図53は、図１に示した器具のユーザインター
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【図５４】図54は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
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【図５５】図55は、図１に示した器具のユーザインター
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【図５６】図56は、図１に示した器具のユーザインター
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【図５７】図57は、図１に示した器具のユーザインター
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【図５８】図58は、図１に示した器具のユーザインター
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【図５９】図59は、図１に示した器具のユーザインター
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【図６０】図60は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
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【図６１】図61は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
フェース。
【図６２】図62は、図１に示した器具のユーザインター
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【図６３】図63は、図１に示した器具のユーザインター
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【図６４】図64は、図１に示した器具のユーザインター
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【図６５】図65は、図１に示した器具のユーザインター
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【図６６】図66は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
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【図６７】図67は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
フェース。
【図６８】図68は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
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【図６９】図69は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
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【図７０】図70は、図１に示した器具のユーザインター
フェース。
フェース。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 カーペンター，グレッグ，ポール
アメリカ合衆国 46220 インディアナ
州，インディアナポリス，ウィンスロッ
プ アベニュー 6159
(72)発明者 デイヴィス，ロバート，グレン
アメリカ合衆国 46032 インディアナ
州，カーメル，ホィートフィールド レ
ーン 14934
(72)発明者 カスル，リチャード，ジェイ.
アメリカ合衆国 46280 インディアナ
州，インディアナポリス，イースト 99
ティーエイチ ストリート 2215
(72)発明者 クレム，カート，ジェラルド
アメリカ合衆国 46228 インディアナ
州，インディアナポリス，コールド ス
プリング ロード 4325
(72)発明者 パークス，ロバート，アンソニー
アメリカ合衆国 47386 インディアナ
州，スプリングポート，イー カウンテ
ィー ロード 750エヌ 1447
(72)発明者 ランネイ，ティモシー，エル.
アメリカ合衆国 46052 インディアナ
州，レバノン，イースト ステート ロ
ード 32 4990
(72)発明者 ブラザーズ，ウィリアム
アメリカ合衆国 47905 インディアナ
州，ラファイエット，サウス ブロック
フィールド ドライブ 112
(72)発明者 ベリスレ，クリフトファー，ルイス
アメリカ合衆国 54025 ウィスコンシ
ン州，サマーセット，192 アベニュー
499
(72)発明者 レイ，マイケル，スティーブン
アメリカ合衆国 54025 ウィスコンシ
ン州，サマーセット，57ティーエイチ
ストリート 1615
(72)発明者 ヴェトシュ，レオナルド，アレン
アメリカ合衆国 54739 ウィスコンシ
ン州，エルク モウンド，730ティーエ
イチ ストリート エヌ5290
(72)発明者 グラス，マーヴィン，ダブリュ.
アメリカ合衆国 37334 テネシー州,
ファイヤットヴィル，サイモンズ ロー
ド イースト 26
(72)発明者 ウィルソン，リチャード，ダブリュ.
アメリカ合衆国 46060 インディアナ
州，ノーブルスヴィル，イースト 166
ティーエイチ ストリート 13440
(72)発明者 パーカー，ジェイムズ，アール.
アメリカ合衆国 46032−9321 インデ
ィアナ州，カーメル，ウェストン ドラ
イブ 10807
(72)発明者 スヴェトニク，ウラジミール
アメリカ合衆国 46032 インディアナ
州，カーメル，シダー レイク コート
539
(72)発明者 スリー，リン，デニス
アメリカ合衆国 46038 インディアナ
州，フィッシャーズ，ヒッコリー ウッ
ズ ドライブ 11334
(72)発明者 リチャーズ，サンディー，マーク
アメリカ合衆国 47370 インディアナ
州，パーシング，メイン 319
(72)発明者 バヤード，ナンシー，ケネディー
アメリカ合衆国 46038 インディアナ
州，フィッシャーズ，チャルディーン
サークル 9758
(72)発明者 ホプキンソン，パトリシア，エー.
アメリカ合衆国 12946 ニューヨーク
州，レイク プラシド，エイチシーアー
ル ナンバー１ ボックス 11
(56)参考文献 実開 昭63−43355（ＪＰ，Ｕ)
実開 昭58−174860（ＪＰ，Ｕ)
実開 平４−23054（ＪＰ，Ｕ)
実開 昭62−202774（ＪＰ，Ｕ)
実開 昭61−120174（ＪＰ，Ｕ)
Claims (12)
- 【請求項１】 電力の供給に電池を用いる電気装置であ
って、前記電池は２つの端子を有し、前記装置は、電池
を装置に装填した際に一方の端子と接触する第１コネク
タと他方の端子と接触する第２コネクタとを含み、前記
第２コネクタは、前記装置に固定された基部、基部へ弾
性的に接続されかつ基部から伸び出しているほぼ平面状
の第１脚部、ほぼ平面状の第１脚部へ弾性的に接続され
かつほぼ平面状の第１脚部から伸び出しているほぼ平面
状の第２脚部、および、ほぼ平面状の第２脚部へ弾性的
に接続されかつほぼ平面状の第２脚部からほぼ平面状の
第１脚部へ向かって伸び出しているほぼ平面状の第３脚
部を含み、前記電池を前記装置へ装填することで、前記
他方の端子をほぼ平面状の第２脚部へ弾性的に係合させ
る、前記電気装置。 - 【請求項２】 前記ほぼ平面状の第２脚部が、基部から
も遠ざかるように伸びている、請求項１記載の電気装
置。 - 【請求項３】 前記ほぼ平面状の第３脚部が、基部から
遠ざかるように伸びている延長部を有する、請求項２記
載の電気装置。 - 【請求項４】 生物学的サンプルの医療上有意な成分の
濃度を測定する器具を含んでなる、請求項１記載の電気
装置。 - 【請求項５】 乾電池をさらに含んでなり、前記乾電池
を装置へ装填することで一方の端子を第１コネクタへ係
合させる、請求項１記載の電気装置。 - 【請求項６】 前記電池を収容し、かつ第１コネクタを
ウェルへ露出させる開口部を含むウェルと、前記開口部
に隣接し、かつ電池を前記ウェルへ間違った向きに装填
した際に他方の端子が第１コネクタに係合するのを防ぐ
ボスとを含んでなる、請求項１記載の電気装置。 - 【請求項７】 前記第２コネクタの基部を固定する回路
基板を含んでなる、請求項１記載の電気装置。 - 【請求項８】 前記第２コネクタのほぼ平面状の第１脚
部が基部から、基部に垂直な線に対して約５°〜約10°
の角度でほぼ第１方向へ伸び出しており、前記ほぼ平面
状の第２脚部がほぼ平面状の第１脚部から、前記垂直線
に対して約15°〜約25°の角度でほぼ第１方向とは反対
の第２方向へ伸び出しており、前記ほぼ平面状の第３脚
部が基部へ向かって、前記垂直線に対して約40°〜約50
°の角度でほぼ第１の方向へ伸び出している、請求項２
記載の電気装置。 - 【請求項９】 前記第２コネクタが、BeCu 190合金から
なる、請求項８記載の電気装置。 - 【請求項１０】 前記第２コネクタが、60/40のスズ／
鉛でメッキされている、請求項９記載の電気装置。 - 【請求項１１】 前記第２コネクタの、基部とほぼ平面
状の第１脚部との間の部分、ほぼ平面状の第１脚部とほ
ぼ平面状の第２脚部との間の部分、およびほぼ平面状の
第２脚部とほぼ平面状の第３脚部との間の部分の曲率半
径が、実質的に一定である、請求項８記載の電気装置。 - 【請求項１２】 前記ほぼ平面状の第３脚部が、基部か
ら遠ざかるように伸びている延長部を有し、前記第２コ
ネクタの前記延長部とほぼ平面状の第３脚部との間の部
分の曲率半径も実質的に一定である、請求項１１記載の
電気装置。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US6751297P | 1997-12-04 | 1997-12-04 | |
| US60/067,512 | 1997-12-04 | ||
| PCT/US1998/025863 WO1999028736A1 (en) | 1997-12-04 | 1998-12-04 | Instrument |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001150114A Division JP2002062224A (ja) | 1997-12-04 | 2001-05-18 | 器 具 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001525588A JP2001525588A (ja) | 2001-12-11 |
| JP3443095B2 true JP3443095B2 (ja) | 2003-09-02 |
Family
ID=22076477
Family Applications (10)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000523544A Expired - Lifetime JP3443095B2 (ja) | 1997-12-04 | 1998-12-04 | 器 具 |
| JP2001150114A Pending JP2002062224A (ja) | 1997-12-04 | 2001-05-18 | 器 具 |
| JP2002121795A Expired - Lifetime JP4280459B2 (ja) | 1997-12-04 | 2002-04-24 | 器具 |
| JP2002121794A Expired - Lifetime JP4280458B2 (ja) | 1997-12-04 | 2002-04-24 | 器具 |
| JP2002121797A Pending JP2003010156A (ja) | 1997-12-04 | 2002-04-24 | 器 具 |
| JP2002121796A Pending JP2002350433A (ja) | 1997-12-04 | 2002-04-24 | 器 具 |
| JP2002121792A Expired - Lifetime JP4253162B2 (ja) | 1997-12-04 | 2002-04-24 | 器具 |
| JP2002121798A Expired - Lifetime JP4282947B2 (ja) | 1997-12-04 | 2002-04-24 | 器具 |
| JP2002121799A Expired - Lifetime JP4393036B2 (ja) | 1997-12-04 | 2002-04-24 | 器具 |
| JP2002121793A Expired - Lifetime JP4282946B2 (ja) | 1997-12-04 | 2002-04-24 | 器具 |
Family Applications After (9)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001150114A Pending JP2002062224A (ja) | 1997-12-04 | 2001-05-18 | 器 具 |
| JP2002121795A Expired - Lifetime JP4280459B2 (ja) | 1997-12-04 | 2002-04-24 | 器具 |
| JP2002121794A Expired - Lifetime JP4280458B2 (ja) | 1997-12-04 | 2002-04-24 | 器具 |
| JP2002121797A Pending JP2003010156A (ja) | 1997-12-04 | 2002-04-24 | 器 具 |
| JP2002121796A Pending JP2002350433A (ja) | 1997-12-04 | 2002-04-24 | 器 具 |
| JP2002121792A Expired - Lifetime JP4253162B2 (ja) | 1997-12-04 | 2002-04-24 | 器具 |
| JP2002121798A Expired - Lifetime JP4282947B2 (ja) | 1997-12-04 | 2002-04-24 | 器具 |
| JP2002121799A Expired - Lifetime JP4393036B2 (ja) | 1997-12-04 | 2002-04-24 | 器具 |
| JP2002121793A Expired - Lifetime JP4282946B2 (ja) | 1997-12-04 | 2002-04-24 | 器具 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6635167B1 (ja) |
| EP (2) | EP1036316B1 (ja) |
| JP (10) | JP3443095B2 (ja) |
| AU (1) | AU737787B2 (ja) |
| CA (4) | CA2547296C (ja) |
| NZ (4) | NZ524206A (ja) |
| WO (1) | WO1999028736A1 (ja) |
Families Citing this family (145)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6826827B1 (en) | 1994-12-29 | 2004-12-07 | Tessera, Inc. | Forming conductive posts by selective removal of conductive material |
| US8071384B2 (en) | 1997-12-22 | 2011-12-06 | Roche Diagnostics Operations, Inc. | Control and calibration solutions and methods for their use |
| US8346337B2 (en) | 1998-04-30 | 2013-01-01 | Abbott Diabetes Care Inc. | Analyte monitoring device and methods of use |
| US6175752B1 (en) | 1998-04-30 | 2001-01-16 | Therasense, Inc. | Analyte monitoring device and methods of use |
| US8480580B2 (en) | 1998-04-30 | 2013-07-09 | Abbott Diabetes Care Inc. | Analyte monitoring device and methods of use |
| US8688188B2 (en) | 1998-04-30 | 2014-04-01 | Abbott Diabetes Care Inc. | Analyte monitoring device and methods of use |
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| CN104069567A (zh) | 2007-03-19 | 2014-10-01 | 茵苏莱恩医药有限公司 | 药物输送设备 |
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-
1998
- 1998-12-04 NZ NZ524206A patent/NZ524206A/en not_active IP Right Cessation
- 1998-12-04 CA CA2547296A patent/CA2547296C/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-12-04 JP JP2000523544A patent/JP3443095B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1998-12-04 US US09/555,659 patent/US6635167B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-12-04 NZ NZ524204A patent/NZ524204A/en not_active IP Right Cessation
- 1998-12-04 WO PCT/US1998/025863 patent/WO1999028736A1/en active IP Right Grant
- 1998-12-04 CA CA002547684A patent/CA2547684C/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-12-04 CA CA002312756A patent/CA2312756C/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-12-04 AU AU18055/99A patent/AU737787B2/en not_active Expired
- 1998-12-04 EP EP98962920A patent/EP1036316B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-12-04 NZ NZ504879A patent/NZ504879A/en not_active IP Right Cessation
- 1998-12-04 EP EP10011398.4A patent/EP2270481B1/en not_active Revoked
- 1998-12-04 CA CA002547299A patent/CA2547299C/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-12-04 NZ NZ524205A patent/NZ524205A/en not_active IP Right Cessation
-
2001
- 2001-05-18 JP JP2001150114A patent/JP2002062224A/ja active Pending
-
2002
- 2002-04-24 JP JP2002121795A patent/JP4280459B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 2002-04-24 JP JP2002121794A patent/JP4280458B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 2002-04-24 JP JP2002121797A patent/JP2003010156A/ja active Pending
- 2002-04-24 JP JP2002121796A patent/JP2002350433A/ja active Pending
- 2002-04-24 JP JP2002121792A patent/JP4253162B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 2002-04-24 JP JP2002121798A patent/JP4282947B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 2002-04-24 JP JP2002121799A patent/JP4393036B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 2002-04-24 JP JP2002121793A patent/JP4282946B2/ja not_active Expired - Lifetime
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090620 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090620 Year of fee payment: 6 |
|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090620 Year of fee payment: 6 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100620 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110620 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130620 Year of fee payment: 10 |
|
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| R250 | Receipt of annual fees |
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