JP3441412B2 - 樹脂封止型半導体装置およびこれを用いた液晶表示モジュール - Google Patents

樹脂封止型半導体装置およびこれを用いた液晶表示モジュール

Info

Publication number
JP3441412B2
JP3441412B2 JP31043299A JP31043299A JP3441412B2 JP 3441412 B2 JP3441412 B2 JP 3441412B2 JP 31043299 A JP31043299 A JP 31043299A JP 31043299 A JP31043299 A JP 31043299A JP 3441412 B2 JP3441412 B2 JP 3441412B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
liquid crystal
semiconductor device
crystal display
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP31043299A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2001127216A (ja
Inventor
幹 藤▲吉▼
誠一 山本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP31043299A priority Critical patent/JP3441412B2/ja
Priority to TW089120664A priority patent/TW495947B/zh
Priority to DE60037383T priority patent/DE60037383T2/de
Priority to EP00123049A priority patent/EP1096565B1/en
Priority to CNB001319833A priority patent/CN1199253C/zh
Priority to US09/697,599 priority patent/US6388339B1/en
Priority to KR1020000063706A priority patent/KR20010060214A/ko
Publication of JP2001127216A publication Critical patent/JP2001127216A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3441412B2 publication Critical patent/JP3441412B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/02Containers; Seals
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/50Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
    • H01L21/56Encapsulations, e.g. encapsulation layers, coatings
    • H01L21/563Encapsulation of active face of flip-chip device, e.g. underfilling or underencapsulation of flip-chip, encapsulation preform on chip or mounting substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73201Location after the connecting process on the same surface
    • H01L2224/73203Bump and layer connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01078Platinum [Pt]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01079Gold [Au]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/013Alloys
    • H01L2924/0132Binary Alloys
    • H01L2924/01322Eutectic Alloys, i.e. obtained by a liquid transforming into two solid phases

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)
  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、樹脂封止型半導体
装置およびこれを用いた液晶表示モジュールに関し、特
に可撓性基板上にIC、チップ部品等を実装してなるい
わゆるCOF(Chip on flexible p
rinted circuit)およびこれを用いた液
晶表示モジュールに関する。
【0002】
【従来の技術】近年、例えば携帯情報端末などの電子機
器において、小型軽量薄型化が要求されている。これら
の機器の情報出力部として用いられる液晶表示モジュー
ルでも、小型軽量薄型化が要求されるとともに、機器へ
の組み込み易さの要求が高まっている。
【0003】ポリイミドフィルム等に導体パターンを形
成した可撓性基板に液晶駆動用IC及びチップ部品等を
搭載し、液晶表示素子と異方性導電膜を介して接続し
た、COF(Chip on flexible pr
inted circuit)液晶表示モジュールは、
上記要求を満たす液晶モジュールとして期待されてい
る。
【0004】図5は、COF液晶表示モジュールの平面
図を示す。図6は、COF液晶表示モジュールの側面図
を示す。
【0005】本明細書において「封止樹脂」とは、液晶
駆動用ICと可撓性基板との接続部分を保護するよう
に、液晶駆動用ICと可撓性基板との間に充填される樹
脂を意味する。
【0006】COF液晶表示モジュール400は、液晶
表示素子8とCOF300とを備える。COF300
は、液晶駆動用IC1とチップ部品10とを搭載した可
撓性基板9とを備える。
【0007】可撓性基板9は、例えば以下のように作製
される。厚さ2〜35μm程度の銅箔にポリイミドの前
駆体をコーティングし、硬化により厚さ10〜100μ
m程度のポリイミドフィルム基板を得るキャスティング
法により基板を作製する。基板を所望の導体パターンに
エッチングする。液晶駆動用IC1とチップ部品10と
を搭載する場所及び液晶表示素子8との接続部以外を、
ポリイミド樹脂あるいはエポキシ樹脂でコートする。導
体が露出した導体パターンをSnあるいはNi、Auな
どでメッキする。可撓性基板9は、以上のように作製さ
れる。
【0008】導体パターンを形成する方法として銅のス
パッタリング後にパターニングし、メッキにより銅を厚
膜化する、アディティブ法を使用することもできる。
【0009】COF300は、例えば以下のように作製
される。液晶駆動用IC1とチップ部品10とが、可撓
性基板9の導体パターン上に実装される。液晶駆動用I
C1が、フリップチップ実装される。
【0010】液晶駆動用IC1は、導体パターンと接続
されるAuバンプ(図示せず)を有する。Auバンプと
導体パターンとの接続方法として、例えばSn−Au合
金接続方法、異方性導電膜による接続方法が用いられ得
る。
【0011】Sn−Au合金接続方法を用いた場含に
は、液晶駆動用IC1のAuバンプがSnメッキされた
導体パターンとが接触するように、液晶駆動用IC1を
可撓性基板9上に配置し、可撓性基板9の裏面9A側か
ら加熱、加圧することにより、Auバンプと導体パター
ンとを接続する。次に、液晶駆動用IC1を封止樹脂4
で封止する。
【0012】異方性導電膜による接続方法を用いた場含
には、可撓性基板9と液晶駆動用IC1との間に異方性
導電膜を介在させた状態で、可撓性基板9の裏面9A側
から加熱、加圧することにより、 Auバンプと導体パ
ターンとの電気的接続及び異方性導電膜の硬化によるA
uバンプの固定が同時に行われる。
【0013】次に、前述のように作製されたCOF30
0を異方性導電膜などを用いて液晶表示素子8と導電接
続し、液晶表示モジュール400が完成する。
【0014】最近では、液晶表示の高精細化、液晶駆動
用IC1の小面積化により、液晶駆動用IC1のセグメ
ント出力端子であるAuバンプの狭ピッチ化が進んでい
る。
【0015】また、COF液晶表示モジュール400の
機器への組み込み易さの点から、液晶駆動用IC1と可
撓性基板9との破断強度の向上と液晶駆動用IC1を搭
載したCOF300の薄型化が望まれている。
【0016】
【発明が解決しようとする課題】本発明者らは、狭ピッ
チのAuバンプを有する液晶駆動用IC1をSn−Au
合金接続により可撓性基板9に実装したCOF300を
試作検討した。
【0017】その結果、 Auバンプのピッチが約70
μm以下(Auバンプ間の隙間が約30μm以下)の液
晶駆動用IC1を用いた場合には、60℃、湿度95%
の雰囲気下での耐湿信頼性試験においてAuバンプ間の
リークによる液晶表示異常が発生した。
【0018】この液晶表示異常の原因を調査した結果、
Auバンプ間にマイグレーションの発生が確認され
た。このマイグレーションは、元素分析によりAuのマ
イグレーションであることが判明した。
【0019】一般にAuのマイグレーションは、ハロゲ
ンと水分とに電界が加わることによって発生すると言わ
れている。
【0020】本発明の目的は、Auバンプ間でのマイグ
レーションの発生を抑制することができる樹脂封止型半
導体装置およびこれを用いた液晶表示モジュールを提供
することにある。
【0021】本発明の他の目的は、液晶駆動用ICと可
撓性基板との十分な接続強度を得ることができる樹脂封
止型半導体装置およびこれを用いた液晶表示モジュール
を提供することにある。
【0022】
【課題を解決するための手段】本発明に係る樹脂封止型
半導体装置は、基板と、前記基板に形成されたリード
と、前記リードにフリップチップボンディングされた半
導体素子とを含み、前記半導体素子は、前記リードと接
続される複数の端子を含み、前記複数の端子を保護する
ように形成される樹脂をさらに含む樹脂封止型半導体装
置であって、前記樹脂は、好ましくないマイグレーショ
ンが発生しない程度に十分低い弾性率を有し、そのこと
により上記目的が達成される。
【0023】前記弾性率が、実質的に1GPa以下であ
ってもよい。
【0024】前記弾性率が、実質的に0.07GPa以
上1GPa以下であってもよい。
【0025】前記樹脂は、熱硬化性樹脂、エポキシ樹脂
又は変性ポリイミド樹脂を含んでもよい。
【0026】前記樹脂は、エポキシ樹脂を含み、該エポ
キシ樹脂はビスフェノール型エポキシ樹脂を含んでもよ
い。
【0027】前記樹脂は変性ポリイミド樹脂を含み、該
変性ポリイミド樹脂は芳香族テトラカルボン酸と芳香族
ジアミンとを含んでもよい。
【0028】前記端子は、Auバンプを含んでもよい。
【0029】前記複数の端子のピッチが実質的に70μ
m以下であってもよい。
【0030】前記樹脂は、前記基板と前記前記半導体素
子との十分な接続強度を得ることができる程度に十分高
い弾性率を有してもよい。
【0031】本発明に係る液晶表示モジュールは、基板
と、前記基板に形成されたリードと、前記リードにフリ
ップチップボンディングされた半導体素子とを含み、前
記半導体素子は、前記リードと接続される複数の端子を
含み、前記複数の端子を保護するように形成される樹脂
をさらに含み、前記樹脂は、好ましくないマイグレーシ
ョンが発生しない程度に十分低い弾性率を有する樹脂封
止型半導体装置と、前記基板と接続される液晶表示素子
とを含み、そのことにより上記目的が達成される。
【0032】前記液晶表示モジュールは、前記基板と前
記液晶表示素子とを接続する異方性導電膜をさらに含ん
でもよい。
【0033】本発明者らがAuバンプにハロゲン化合物
を付着させて高温高湿下で再現実験を試みた結果、液晶
駆動用IC1を封止する封止樹脂4の弾性率を最適化す
ることにより、マイグレーションの発生を抑制でき、か
つ液晶駆動用IC1と可撓性基板9との十分な接続強度
が得られることを見出し、本発明に至った。
【0034】この構成により、半導体素子と可撓性回路
基板の耐熱衝撃性、耐湿性、密着性強度等の電気的接続
信頼性が向上し、かつマイグレーション発生を抑制でき
る。封止樹脂としてはエポキシ樹脂、または変性ポリイ
ミド樹脂を使用する。
【0035】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図面を参照
して説明する。
【0036】図1は、実施の形態に係るCOF液晶表示
モジュール200の平面図を示す。図2は、実施の形態
に係るCOF液晶表示モジュール200の側面図を示
す。前述したCOF液晶表示モジュール400の構成要
素と同一の構成要素には同一の参照符号を付している。
これらの構成要素の詳細な説明は省略する。
【0037】COF液晶表示モジュール200は、液晶
表示素子8とCOF100とを備える。COF100
は、液晶駆動用IC1とチップ部品10とを搭載した可
撓性基板9とを備える。
【0038】実施の形態に係るCOF液晶表示モジュー
ル200が、前述したCOF液晶表示モジュール400
と異なる点は、 COF液晶表示モジュール200で
は、封止樹脂4の代わりに弾性率を最適化した封止樹脂
12で液晶駆動用IC1を封止する点である。
【0039】図3は、実施の形態に係るCOF100主
要断面を示す。封止樹脂12は、液晶駆動用IC1を封
止する。
【0040】液晶駆動用IC1は、下面1Aに所定の電
子回路(図示せず)および電極パッド1Bが形成され
る。電極パッド1BにはAuバンプ3が形成される。外
形サイズが約2mm×20mm、バンプ高さHが約15
μm、最小のバンプピッチPが約80μmのAuバンプ
3の例を説明する。
【0041】可撓性基板9は、厚さ約20〜30μmの
ポリイミドフィルム2と、ポリイミドフィルム2上に形
成されるCuから成る導体パターン5と、液晶駆動用I
C1を搭載する部分、チップ部品10を搭載する部分、
及び液晶表示素子8とCOF100とを接続する接続端
子部9A以外の部分をコートするポリイミドから成るイ
ンクカバーレイ6と、導体パターン5をメッキするSn
メッキ7とを含む。
【0042】導体パターン5とAuバンプ3とが対向す
るように可撓性基板9と液晶駆動用IC1とは位置合わ
せされる。液晶駆動用IC1上面方向(矢印A方向)か
ら加熱、加圧し、導体パターン5とAuバンプ3とをS
n−Au合金接続させる。加熱温度は、Snメッキ7と
Auバンプ3とが共晶合金を形成する約280℃以上で
ある。
【0043】次に、液晶駆動用IC1と可撓性基板9と
の隙間に封止樹脂12を注入し、硬化させて封止を行
う。封止樹脂12は、好ましくないマイグレーションが
発生しない程度に十分低い弾性率を有する。
【0044】次に、ディスペンサーを用いて液晶駆動用
IC1の周囲に樹脂を塗布し、100℃で2時間、15
0℃で1時間の硬化を行う。
【0045】次に、液晶表示素子8の透明電極接続端子
8Aと可撓性基板9の接続端子部9Aとを異方性導電膜
を用いて電気的に接続し、液晶表示モジュール200を
作製する。
【0046】
【実施例】(実施例1)実施例1では、封止樹脂として
ビスフェノール型エポキシ樹脂を用いる。ビスフェノー
ル型エポキシ樹脂は、弾性率がそれぞれ0.005GP
a、0.07GPa、0.3GPa、1.0GPaの3
種類のビスフェノール型エポキシ樹脂を用いる。弾性率
は動的粘弾性法により測定する(室温:約25℃で測
定)。
【0047】弾性率がそれぞれ0.005GPa、0.
07GPa、0.3GPa、1.0GPaの3種類のビ
スフェノール型エポキシ樹脂毎に50台ずつ作製した液
晶表示モジュールを60℃、湿度95%に設定された耐
湿信頼性試験槽に入れ、1000時間経過後にマイグレ
ーションによるAuバンプ間のリークによる液晶表示異
常発生率を評価した。
【0048】図は、実施の形態に係るマイグレーショ
ンによるAuバンプ間のリークによる液晶表示異常発生
率を示すグラフである。図に示すように、実施例1で
封止樹脂12として用いたビスフェノール型エポキシ樹
脂ではマイグレーションによるAuバンプ間のリークに
よる液晶表示異常は発生しない。
【0049】また、液晶駆動用IC1と可撓性基板9と
の接続強度を評価するために、液晶駆動用IC1を固定
した状態で可撓性基板9を90度曲げ、液晶表示素子8
を表示させた状態で液晶駆動用IC1に荷重を加えて行
き、液晶表示素子8に表示異常が生じる時の荷重値を測
定した。
【0050】本発明者らの検討により、液晶表示素子8
に表示異常が生じる時の荷重値が500gf以上であれ
ば、COF液晶表示モジュールの機器への組み込み工程
で問題が発生しないという結果が得られている。
【0051】10台のCOF液晶表示モジュール200
を測定して得られた結果の平均値を表1に示す。表1
は、各弾性率における液晶表示素子に表示異常が生じる
時の荷重値を示す。
【0052】
【表1】
【0053】表1に示すように、弾性率が0.07GP
a以上1.0GPa以下のエポキシ樹脂を用いたCOF
液晶表示モジュール200では、500gf以上の荷重
値が得られる。弾性率が高い方が強度的に望ましい荷重
値が得られる。
【0054】また従来、我々が使用してきたより高弾性
率を有する封止樹脂と比べ、実施例1のエポキシ樹脂で
は硬化時間が短くなり、生産性が向上する。
【0055】(実施例2)実施例2では、封止樹脂とし
て、芳香族テトラカルボン酸と芳香族ジアミンを含む変
性ポリイミドを用いる。弾性率がそれぞれ0.45GP
aと0.65GPaとの2種類の変性ポリイミドを用い
る。弾性率は実施例1と同様に動的粘弾性法により測定
する(室温:約25℃で測定)。
【0056】弾性率がそれぞれ0.45GPaと0.6
5GPaとの2種類の変性ポリイミド毎に50台づつC
OF液晶表示モジュール200を実施例1と同様に作製
する。なお、封止樹脂の硬化は90℃で2時間、150
℃で2時間行う。
【0057】これらのCOF液晶表示モジュールに対
し、実施例1と同様の耐湿信頼性試験を行う。得られた
結果を図に示す。図に示すように、実施例2で封止
樹脂12として用いた変性ポリイミドでは、マイグレー
ションによるAuバンプ間のリークによる液晶表示異常
は発生しない。
【0058】表1に実施例1と同様の方法で液晶駆動用
IC1と可撓性基板9との接続強度を評価した結果を示
す。実施例2で封止樹脂12として用いた変性ポリイミ
ドでは、500gf以上の荷重値が得られる。変性ポリ
イミドでは、弾性率が0.07GPa以上1GPa以下
において、実施例1と同様の効果が得られる。
【0059】(従来例1)従来例1では、封止樹脂とし
て弾性率が2.5GPa、3.lGPaと実施例1およ
び2の封止樹脂の弾性率よりも高い弾性率を有する2種
類のエポキシ樹脂を用いる。
【0060】実施例1と同様に、各50台づつCOF液
晶表示モジュールを作製する。なお、封止樹脂の硬化は
120℃で2時間、150℃で2時間行う。これらCO
F液晶表示モジュールに対し、実施例1と同様の耐湿信
頼性試験を行う。
【0061】得られた結果を図に示す。図に示すよ
うに、実施例1および2の封止樹脂の弾性率よりも高い
弾性率を有する従来例1の封止樹脂では、マイグレーシ
ョンによるAuバンプ間のリークによる液晶表示異常が
発生する。
【0062】(従来例2)従来例2では、封止樹脂とし
て弾性率が0.0006GPaと実施例1および2の封
止樹脂の弾性率よりも低い弾性率を有するシリコン樹脂
を用いる。
【0063】実施例1と同様に、50台のCOF液晶表
示モジュール作製する。なお、封止樹脂の硬化は150
℃で4時間行う。これらCOF液晶表示モジュールに対
し、実施例1と同様の耐湿信頼性試験を行う。
【0064】得られた結果を図に示す。図に示すよ
うに、従来例2の封止樹脂では、マイグレーションによ
るAuバンプ間のリークによる液晶表示異常は発生しな
い。
【0065】表1に実施例1と同様の方法で液晶駆動用
IC1と可撓性基板9との接続強度を評価した結果を示
す。比較例2の樹脂では、500gf以上の荷重値が得
られない。
【0066】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、Auバン
プ間でのマイグレーションの発生を抑制することができ
る樹脂封止型半導体装置およびこれを用いた液晶表示モ
ジュールを提供することができる。
【0067】また本発明によれば、液晶駆動用ICと可
撓性基板との十分な接続強度を得ることができる樹脂封
止型半導体装置およびこれを用いた液晶表示モジュール
を提供することができる。
【0068】本発明に係る樹脂封止型半導体装置では、
半導体素子を保護する封止樹脂として、弾性率が0.0
7GPa以上1GPa以下であるエポキシ樹脂またば変
性ポリイミド樹脂を用いるので、 Auバンプ間のリー
クの原因となるマイグレーションの発生を抑制すること
ができ、かつ、半導体素子と可撓性基板との十分な接続
強度が得られるという点で、本発明は優れた特有の効果
を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施の形態に係るCOF液晶表示モジュールの
平面図。
【図2】実施の形態に係るCOF液晶表示モジュールの
側面図。
【図3】実施の形態に係るCOF主要断面。
【図4】実施の形態に係るマイグレーションによる表示
異常発生率を示すグラフ。
【図5】COF液晶表示モジュールの平面図。
【図6】COF液晶表示モジュールの側面図。
【符号の説明】
1 液晶駆動用IC 2 ポリイミドフィルム 3 Auバンプ 4 封止樹脂 5 導体パターン 6 インクカバーレイ 7 Snメッキ 8 液晶表示素子 9 可撓性基板 10 チップ部品
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI H01L 23/31 H01L 23/30 R H05K 1/18 (56)参考文献 特開 平9−18121(JP,A) 特開 平9−172110(JP,A) 特開 平11−274378(JP,A) 特開 平10−199936(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 23/29 G02F 1/1345 G09F 9/35 H01L 21/56 H01L 21/60 311 H01L 23/31 H05K 1/18

Claims (10)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 リードを有する基板と、 複数の端子を有し、該複数の端子が前記基板のリードに
    フリップチップボンディングされた半導体素子と、 前記複数の端子を封止して保護するように前記基板と前
    記半導体素子との間に設けられた封止樹脂とを有する樹
    脂封止型半導体装置であって、 前記封止樹脂は、前記端子のマイグレーションによる端
    子間のリークを防止するために、動的粘弾性法によって
    測定された弾性率が1GPa以下になっていることを特
    徴とする 樹脂封止型半導体装置。
  2. 【請求項2】 前記弾性率が、0.07GPa以上であ
    る、請求項1記載の樹脂封止型半導体装置。
  3. 【請求項3】 前記封止樹脂は、熱硬化性樹脂、エポキ
    シ樹脂又は変性ポリイミド樹脂である、請求項1又は2
    記載の樹脂封止型半導体装置。
  4. 【請求項4】 前記封止樹脂は、ビスフェノール型エポ
    キシ樹脂である、請求項3記載の樹脂封止型半導体装
    置。
  5. 【請求項5】 前記封止樹脂は、芳香族テトラカルボン
    酸と芳香族ジアミンとを含む変性ポリイミド樹脂であ
    る、請求項3記載の樹脂封止型半導体装置。
  6. 【請求項6】 前記端子は、Auバンプである、請求項
    1記載の樹脂封止型半導体装置。
  7. 【請求項7】 前記複数の端子は、70μm以下のピッ
    チで設けられている、請求項1記載の樹脂封止型半導体
    装置。
  8. 【請求項8】 請求項1に記載の樹脂封止型半導体装置
    と、該樹脂封止型半導体装置に設けられた半導体素子に
    よって駆動されるように該樹脂封止型半導体装置の基板
    に接続された液晶表示素子とを有することを特徴とする
    液晶表示モジュール。
  9. 【請求項9】 前記樹脂封止型半導体装置の基板と前記
    液晶表示素子とが、異方性導電膜によって接続されてい
    る、請求項8記載の液晶表示モジュール。
  10. 【請求項10】 前記封止樹脂の接続強度を示す荷重値
    が500gf以上になるように、前記封止樹脂の弾性率
    が0.07GPa以上、1GPa以下になっ ている請求
    項8記載の液晶表示モジュール。
JP31043299A 1999-10-29 1999-10-29 樹脂封止型半導体装置およびこれを用いた液晶表示モジュール Expired - Fee Related JP3441412B2 (ja)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP31043299A JP3441412B2 (ja) 1999-10-29 1999-10-29 樹脂封止型半導体装置およびこれを用いた液晶表示モジュール
TW089120664A TW495947B (en) 1999-10-29 2000-10-04 Sealed-by-resin type semiconductor device and liquid crystal display module including the same
EP00123049A EP1096565B1 (en) 1999-10-29 2000-10-24 Sealed-by-resin type semiconductor device and liquid crystal display module including the same
DE60037383T DE60037383T2 (de) 1999-10-29 2000-10-24 Harzversiegelte Halbleitervorrichtung und dieselbe enthaltendes Flüssigkristallanzeigemodul
CNB001319833A CN1199253C (zh) 1999-10-29 2000-10-26 树脂密封型半导体器件及液晶显示组件
US09/697,599 US6388339B1 (en) 1999-10-29 2000-10-27 Sealed-by-resin type semiconductor device and liquid crystal display module including the same
KR1020000063706A KR20010060214A (ko) 1999-10-29 2000-10-28 수지봉입형 반도체장치 및 이를 포함한 액정표시모듈

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP31043299A JP3441412B2 (ja) 1999-10-29 1999-10-29 樹脂封止型半導体装置およびこれを用いた液晶表示モジュール

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001127216A JP2001127216A (ja) 2001-05-11
JP3441412B2 true JP3441412B2 (ja) 2003-09-02

Family

ID=18005186

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP31043299A Expired - Fee Related JP3441412B2 (ja) 1999-10-29 1999-10-29 樹脂封止型半導体装置およびこれを用いた液晶表示モジュール

Country Status (7)

Country Link
US (1) US6388339B1 (ja)
EP (1) EP1096565B1 (ja)
JP (1) JP3441412B2 (ja)
KR (1) KR20010060214A (ja)
CN (1) CN1199253C (ja)
DE (1) DE60037383T2 (ja)
TW (1) TW495947B (ja)

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4002112B2 (ja) * 2001-03-22 2007-10-31 シチズンホールディングス株式会社 液晶表示装置
JP4880838B2 (ja) * 2001-09-05 2012-02-22 株式会社東芝 液晶表示装置の組立て方法及び組立て装置
US6969914B2 (en) * 2002-08-29 2005-11-29 Micron Technology, Inc. Electronic device package
JP2004327920A (ja) * 2003-04-28 2004-11-18 Sharp Corp 半導体装置の製造方法、フレキシブル基板及び半導体装置
US7646095B2 (en) * 2003-09-30 2010-01-12 Panasonic Corporation Semiconductor device
KR101075599B1 (ko) * 2004-06-23 2011-10-20 삼성전자주식회사 표시장치
JP2006216720A (ja) 2005-02-02 2006-08-17 Sharp Corp 半導体装置及びその製造方法
KR101119153B1 (ko) 2005-02-07 2012-03-19 삼성전자주식회사 표시장치
JP5057321B2 (ja) 2006-03-14 2012-10-24 株式会社ジャパンディスプレイウェスト 表示装置の製造方法
JP5014945B2 (ja) * 2007-10-17 2012-08-29 シャープ株式会社 半導体装置
TWI400509B (zh) * 2008-06-13 2013-07-01 Prime View Int Co Ltd 可撓性顯示模組及其製作方法
TWI476738B (zh) * 2010-09-07 2015-03-11 Ind Tech Res Inst 軟性顯示面板及其組裝方法
WO2012067003A1 (ja) * 2010-11-17 2012-05-24 シャープ株式会社 回路基板とその製造方法
JP5296116B2 (ja) * 2011-02-16 2013-09-25 シャープ株式会社 半導体装置
JP6055275B2 (ja) * 2012-11-05 2016-12-27 ローム株式会社 半導体集積回路装置および電子機器
JP6478449B2 (ja) 2013-08-21 2019-03-06 キヤノン株式会社 装置の製造方法及び機器の製造方法
JP6519112B2 (ja) * 2014-07-24 2019-05-29 Tdk株式会社 薄膜キャパシタ
CN109897599B (zh) * 2015-11-09 2020-09-01 积水化学工业株式会社 液晶显示元件用密封剂、上下导通材料和液晶显示元件
CN112909062B (zh) * 2021-02-03 2024-03-15 京东方科技集团股份有限公司 一种显示模组的制备方法

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60238817A (ja) * 1984-05-12 1985-11-27 Citizen Watch Co Ltd 液晶表示装置
US4917466A (en) * 1987-08-13 1990-04-17 Shin-Etsu Polymer Co., Ltd. Method for electrically connecting IC chips, a resinous bump-forming composition used therein and a liquid-crystal display unit electrically connected thereby
JPH0193155A (ja) 1987-10-05 1989-04-12 Sumitomo Bakelite Co Ltd 樹脂封止型半導体装置
JPH03125443A (ja) * 1989-10-09 1991-05-28 Sharp Corp 実装基板の電極及び該実装基板の電極を有する液晶表示装置
JPH06236899A (ja) 1992-09-29 1994-08-23 Toshiba Corp 樹脂封止型半導体装置
JPH06224239A (ja) 1993-01-21 1994-08-12 Toshiba Corp 樹脂封止型半導体装置の製造方法
JPH0897334A (ja) 1994-09-29 1996-04-12 Hitachi Ltd 樹脂封止型半導体装置
US5864178A (en) * 1995-01-12 1999-01-26 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor device with improved encapsulating resin
JP3284262B2 (ja) * 1996-09-05 2002-05-20 セイコーエプソン株式会社 液晶表示装置及びそれを用いた電子機器
EP0959498B1 (en) * 1996-10-08 2008-06-18 Hitachi Chemical Company, Ltd. Semiconductor device, semiconductor chip mounting substrate, methods of manufacturing the device and substrate, adhesive, and adhesive double coated film
TW383435B (en) * 1996-11-01 2000-03-01 Hitachi Chemical Co Ltd Electronic device
JP3689518B2 (ja) * 1997-02-18 2005-08-31 新日鐵化学株式会社 電子材料用樹脂溶液組成物
TW459032B (en) * 1998-03-18 2001-10-11 Sumitomo Bakelite Co An anisotropic conductive adhesive and method for preparation thereof and an electronic apparatus using said adhesive
US6108210A (en) * 1998-04-24 2000-08-22 Amerasia International Technology, Inc. Flip chip devices with flexible conductive adhesive

Also Published As

Publication number Publication date
DE60037383T2 (de) 2008-12-04
KR20010060214A (ko) 2001-07-06
TW495947B (en) 2002-07-21
DE60037383D1 (de) 2008-01-24
EP1096565A3 (en) 2003-01-08
JP2001127216A (ja) 2001-05-11
EP1096565A2 (en) 2001-05-02
US6388339B1 (en) 2002-05-14
CN1199253C (zh) 2005-04-27
EP1096565B1 (en) 2007-12-12
CN1303086A (zh) 2001-07-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3441412B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置およびこれを用いた液晶表示モジュール
KR100408616B1 (ko) 반도체 장치, 전자 기기의 제조 방법, 전자 기기 및 휴대정보 단말
KR100324708B1 (ko) 반도체장치
TWI289920B (en) Packages, methods for fabricating the same, anisotropic conductive films, and conductive particles utilized therein
US6518649B1 (en) Tape carrier type semiconductor device with gold/gold bonding of leads to bumps
JP5398455B2 (ja) 異方性導電フィルム及びその製造方法
JP3278055B2 (ja) 電子回路装置
JP3436170B2 (ja) 異方性導電フィルム、これを用いた半導体装置及びその製造方法
JPH0432541B2 (ja)
JPS63150930A (ja) 半導体装置
JPH04137641A (ja) 半導体装置
JP3162068B2 (ja) 半導体チップの実装方法
JP3464826B2 (ja) 半導体装置
JPH11121892A (ja) 可撓性回路基板
JP2000067200A (ja) Icカード
JP3422243B2 (ja) 樹脂フィルム
JPH0340458A (ja) 半導体装置およびその製造方法
KR100833937B1 (ko) 이방성 도전 접착제
JP3447569B2 (ja) 異方性導電膜およびそれを用いた電極接続構造
KR100310037B1 (ko) 복수개의집적회로칩을연성인쇄회로기판상에실장히기위한방법
JPS62161187A (ja) 液晶表示装置
KR0171099B1 (ko) 반도체 기판 범프 및 그 제조방법
JP2000183111A (ja) 半導体素子の実装方法
JPS60120588A (ja) 印刷配線板
JPH0267522A (ja) 電子装置

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20030605

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 3441412

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090620

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100620

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100620

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110620

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120620

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120620

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130620

Year of fee payment: 10

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R3D04

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees