JP3268702B2 - A/d変換器 - Google Patents

A/d変換器

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JP3268702B2 JP04927394A JP4927394A JP3268702B2 JP 3268702 B2 JP3268702 B2 JP 3268702B2 JP 04927394 A JP04927394 A JP 04927394A JP 4927394 A JP4927394 A JP 4927394A JP 3268702 B2 JP3268702 B2 JP 3268702B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、アナログ信号をデジ
タル信号に変換するA/D変換器に関するものである。
【0002】近年、マイクロコンピュータやビデオカメ
ラ等の民生用機器に使用される半導体集積回路では、消
費電力の低減及び耐ノイズ性を向上させるために、電源
電圧の低電圧化が図られている。このような半導体集積
回路とともに使用されるA/D変換器においても低電源
電圧で確実に動作することが必要となっている。
【0003】
【従来の技術】従来の逐次比較型A/D変換器の一例を
図8に従って説明する。アナログ入力信号ANinはサン
プル・ホールド回路1に入力される。前記サンプル・ホ
ールド回路1はCMOS構成のトランスファーゲートで
構成されるスイッチ回路2と、容量3とから構成され
る。
【0004】前記サンプル・ホールド回路1の出力信号
はコンパレータ4の一方の入力端子に入力され、同コン
パレータ4の他方の入力端子にはD/Aコンバータ5か
ら出力されるアナログ基準電圧ANs が入力される。
【0005】そして、前記コンパレータ4は前記サンプ
ル・ホールド回路1から出力されるアナログ電圧と、前
記D/Aコンバータ5から出力されるアナログ基準電圧
ANs とを比較して、その比較結果を「1」若しくは
「0」のデジタル信号で逐次比較レジスタ6に出力す
る。
【0006】前記逐次比較レジスタ6は前記コンパレー
タ4から出力されるデジタル信号を格納するとともに、
D/Aコンバータ5に出力する。また、所定ビット数の
デジタル信号を格納すると、デジタル出力信号Dout を
出力する。
【0007】前記サンプル・ホールド回路1、D/Aコ
ンバータ5及び逐次比較レジスタ6の動作は、クロック
信号CLKに基づいて動作する制御回路7により制御さ
れる。
【0008】上記のように構成されたA/D変換器で
は、制御回路7の動作によりスイッチ回路2が所定時間
閉路されて、アナログ入力信号ANinの電圧レベルが容
量3にサンプリングされる。
【0009】次いで、制御回路7の動作に基づいてスイ
ッチ回路2が開路された後、容量3に充電されたサンプ
リング電圧と、D/Aコンバータ5から出力されるアナ
ログ基準電圧ANs とがコンパレータ4により比較さ
れ、その比較結果が逐次比較レジスタ6に格納される。
【0010】次いで、前記比較結果に基づいてD/Aコ
ンバータ5から出力されるアナログ基準電圧ANs が変
更され、そのアナログ基準電圧ANs と前記サンプリン
グ電圧とがコンパレータ4により比較され、その比較結
果が逐次比較レジスタ6に格納される。
【0011】このような動作が繰り返されて、逐次比較
レジスタ6に所定ビット数のデジタル信号が格納される
と、同逐次比較レジスタ6からデジタル出力信号Dout
が出力される。
【0012】上記のような逐次比較動作を図9に従って
説明すると、まずサンプリング動作が時間t1で行われ
る。次いで、最上位ビットNから最下位ビット0まで、
それぞれ比較時間t1で逐次比較動作が行われ、N+1
ビットの比較動作が終了した後に、データ転送動作が行
われる。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】上記のようなA/D変
換器では、サンプリング動作と、各ビットの逐次比較動
作とは、同一の時間t1で行われる。
【0014】このようなA/D変換器の電源電圧を低電
圧化すると、CMOS構成のスイッチ回路2の抵抗が相
対的に大きくなって、同スイッチ回路2を介して容量C
に流れる充電電流が少なくなる。
【0015】すると、前記サンプリング時間t1ではア
ナログ入力信号ANinを充分にサンプリングできなくな
って、正確なA/D変換動作ができなくなる。また、上
記のようなA/D変換器では、各ビットの逐次比較動作
が、同一の時間t1で行われるが、下位ビットほど、微
細な電位差をコンパレータ4で比較する必要があるの
で、下位ビットほどコンパレータ4での逐次比較動作に
時間を要する。
【0016】このような状況で、電源電圧を低電圧化す
ると、コンパレータ4による下位ビットの逐次比較動作
にさらに長い時間を必要とするようになり、前記比較時
間t1では、確実な比較動作ができなくなる。
【0017】従って、上記A/D変換器では電源電圧を
低電圧化すると、正確なA/D変換動作ができなくなる
という問題点がある。また、上記A/D変換器を低電源
電圧でも確実に動作するように、前記サンプリング時間
及び各ビットの逐次比較時間をそれぞれ充分に長く設定
すると、通常の電源電圧で使用した場合に、A/D変換
の動作速度が無用に低下する。また、クロック信号の周
波数を変更する必要もある。
【0018】従って、電源電圧に応じたA/D変換器を
それぞれ設計する必要があって、コストが上昇するとい
う問題点がある。また、電源電圧を昇圧する昇圧回路を
上記A/D変換器と同一チップ上に形成すると、同昇圧
回路から発生するノイズにより、A/D変換動作に誤動
作が発生するという問題点がある。
【0019】この発明の目的は、異なる電源電圧が供給
されても安定して動作するA/D変換器を提供すること
にある。
【0020】
【課題を解決するための手段】図1に示すように、アナ
ログ入力信号ANinがサンプル・ホールド回路1でサン
プリングされ、前記サンプル・ホールド回路1の出力電
圧と、D/Aコンバータ5から順次出力される複数のア
ナログ基準電圧ANsとがコンパレータ4で逐次比較さ
れ、その比較結果が逐次比較レジスタ6に格納されてデ
ジタル出力信号Doutとして出力される。制御回路8に
より、前記サンプリング動作及び逐次比較動作が制御さ
れる。クロック信号選択回路9により、基準クロック信
号CLKに基づいて複数のクロック信号が生成され、複
数のクロック信号の中からいずれか一つのクロック信号
が選択されて、前記サンプリング動作用または前記逐次
比較動作用のため前記制御回路8に動作クロック信号C
LKMとして出力される。選択制御回路12により、電
源電圧に基づいて前記クロック信号選択回路9で選択さ
れるクロック信号が変更されて、サンプリング動作時間
及び逐次比較動作時間が変更される。
【0021】
【0022】
【0023】
【0024】
【0025】
【作用】低電源電圧動作時には、制御回路8に入力され
る動作クロック信号CLKMが変更されて、サンプリン
グ動作時間及び逐次比較動作時間が変更される。
【0026】
【0027】
【0028】
【0029】
【0030】
【実施例】図2は、この発明を具体化した逐次比較型A
/D変換器の第一の実施例を示す。なお、前記従来例と
同一構成部分は同一符号を付して説明する。
【0031】サンプル・ホールド回路1、コンパレータ
4、D/Aコンバータ5及び逐次比較レジスタ6は前記
従来例と同様に動作する。前記各回路は制御回路8によ
り制御される。基準クロック信号CLKは分周回路9に
入力される。前記分周回路9は分周器10とセレクタ1
1とから構成され、同分周器10に前記基準クロック信
号CLKが入力される。
【0032】前記分周器10は前記クロック信号CLK
を2種類の分周比で分周して、2種類のクロック信号C
LK1,CLK2をセレクタ11に出力する。なお、ク
ロック信号CLK1は前記従来例のクロック信号と同一
周波数であり、クロック信号CLK2はクロック信号C
LK1より低い周波数である。
【0033】前記セレクタ11はクロック信号CLK
1,CLK2のいずれかを選択して、動作クロック信号
CLKMとして前記制御回路8に出力する。前記制御回
路8は、前記サンプリング動作及び複数ビットのA/D
変換動作のいずれを行っているかを示す信号を分周制御
回路12に出力する。
【0034】前記分周制御回路12はデコーダ13と制
御レジスタ14とから構成される。前記制御回路8の複
数ビットの出力信号はデコーダ13に出力され、同デコ
ーダ13はその出力信号をデコードして、いずれか1ビ
ットがHレベルとなる複数ビットの信号を制御レジスタ
14に出力する。
【0035】前記制御レジスタ14には、このA/D変
換器に通常の電源電圧が供給されるときにはHレベル、
通常の電源電圧より低い電源電圧が供給されるときには
グランドGNDレベルが制御信号VLEVとして外部か
ら入力される。前記制御信号VLEVがHレベルとなる
と、前記制御レジスタ14はデコーダ13の出力信号に
関わらずHレベルの信号を出力する。
【0036】また、前記制御信号VLEVがLレベルと
なると、前記制御レジスタ14はデコーダ13の出力信
号に基づいて、サンプリング動作時にはLレベルの信号
を出力し、A/D変換動作時にはHレベルの信号を出力
する。
【0037】前記セレクタ回路11は、制御レジスタ1
4からのHレベルの出力信号に基づいて、クロック信号
CLK1を動作クロック信号CLKMとして前記制御回
路8に出力する。
【0038】また、前記セレクタ回路11は、制御レジ
スタ14からのLレベルの出力信号に基づいて、クロッ
ク信号CLK2を動作クロック信号CLKMとして前記
制御回路8に出力する。
【0039】このように構成された逐次比較型A/D変
換器を低電源電圧で使用するときには、制御信号VLE
VをLレベルとする。すると、前記制御回路8からデコ
ーダ13に出力される信号に基づいて、サンプリング動
作時には制御レジスタ14からLレベルの信号が出力さ
れる。
【0040】すると、セレクタ11はクロック信号CL
K2を動作クロック信号CLKMとして制御回路8に出
力する。そして、制御回路8はそのクロック信号CLK
2に基づいてサンプリング動作を行う。
【0041】また、サンプリング動作後のA/D変換動
作時には、制御レジスタ14からHレベルの信号が出力
される。すると、セレクタ11はクロック信号CLK1
を動作クロック信号CLKMとして制御回路8に出力す
る。そして、制御回路8はそのクロック信号CLK1に
基づいてA/D変換動作を行う。
【0042】従って、図3に示すように各ビットの逐次
比較動作は前記従来例と同様な時間t1で行われ、サン
プリング動作は各ビットの逐次比較動作より長い時間t
2で行われる。
【0043】この結果、低電源電圧においても、充分な
サンプリング時間を確保して、サンプリング動作を確実
に行うことができる。一方、このA/D変換器を通常の
電源電圧で使用する場合には、制御信号VELVをHレ
ベルとする。
【0044】すると、制御レジスタ14の出力信号は、
デコーダ13の出力信号に関わらずHレベルとなり、セ
レクタ11から制御回路8に出力される動作クロック信
号CLKMはクロック信号CLK1に固定される。
【0045】この状態では、サンプリング動作及び各ビ
ットの逐次比較動作は前記従来例と同様に同一の時間t
1で行われる。従って、このA/D変換器は、低電源電
圧で使用するときには、サンプリング時間を充分に確保
してサンプリング動作を確実に行うことができる。ま
た、通常電源で使用する場合には、前記従来例と同様に
動作させることができるので、動作速度が低下すること
もない。
【0046】次に、この発明を具体化した第二の実施例
を図4に従って説明する。この実施例は、制御レジスタ
14に入力される制御信号VLEVを、電源Vccの電圧
レベルを検出するレベル検出回路15で生成する構成と
したものであり、その他の構成は前記第一の実施例と同
様である。
【0047】すなわち、前記レベル検出回路15は基準
電圧生成回路16とコンパレータ17とから構成され、
同基準電圧生成回路16とコンパレータ17とに電源V
ccが供給される。
【0048】前記基準電圧生成回路16は電源Vccに基
づいて定電圧を生成し、前記コンパレータ17に出力す
る。前記コンパレータ17は前記基準電圧生成回路16
から出力される定電圧と、電源Vccとを比較し、電源V
ccがその定電圧より高ければHレベルの制御信号VLE
Vを前記制御レジスタ14に出力し、電源Vccがその定
電圧より低ければLレベルの制御信号VLEVを前記制
御レジスタ14に出力する。
【0049】前記定電圧は、通常の電源Vccの電圧レベ
ルより低く、前記低電源電圧より高いレベルに設定され
る。従って、制御信号VLEVは電源Vccが通常レベル
であれば、Hレベルとなり、前記低電源電圧レベルであ
れば、Lレベルとなるため、この実施例のA/D変換器
でも前記第一の実施例と同様に動作する。
【0050】また、この実施例は、レベル検出回路15
で自動的に電源Vccの電圧レベルを検出して制御信号V
LEVを切り換えるので、制御信号VLEVを外部で設
定して入力する必要はない。
【0051】次に、この発明を具体化した第三の実施例
を図5〜図7に従って説明する。この実施例は、分周器
10から4種類のクロック信号CLK1〜CLK4がセ
レクタ回路11に出力され、制御レジスタ14の格納内
容を書換え回路18で書換え可能とし、同制御レジスタ
14の出力信号に基づいて、前記クロック信号CLK1
〜CLK4の中からいずれか一つをセレクタ11で選択
して、動作クロック信号CLKMとして制御回路8に出
力する構成としたものであり、その他の構成は前記実施
例と同様である。
【0052】前記書換え回路18は、活性化信号WEの
入力に基づいて活性化され、その状態でデータDATA
が入力されると、そのデータDATAが制御レジスタ1
4に書き込まれる。
【0053】前記制御レジスタ14の格納データの一例
を図6に示す。サンプリング動作時及び各ビットの逐次
比較動作時のクロック信号は、コマンドCOM1,CO
M2の2ビットのデータで設定される。
【0054】例えば、サンプリング動作時にはデコーダ
13の出力信号に基づいてコマンドCOM1,COM2
に設定された「00」のデータが読みだされ、その設定
データに基づいてセレクタ11でクロック信号CLK3
が選択される。
【0055】また、ビットNの逐次比較動作時にはデコ
ーダ13の出力信号に基づいてコマンドCOM1,CO
M2に設定された「01」のデータが読みだされ、その
設定データに基づいてセレクタ11でクロック信号CL
K1が選択される。
【0056】また、ビットN−1の逐次比較動作時には
デコーダ13の出力信号に基づいてコマンドCOM1,
COM2に設定された「10」のデータが読みだされ、
その設定データに基づいてセレクタ11でクロック信号
CLK2が選択される。
【0057】このようにして、ビット0の逐次比較動作
時にはデコーダ13の出力信号に基づいてコマンドCO
M1,COM2に設定された「11」のデータが読みだ
され、その設定データに基づいてセレクタ11でクロッ
ク信号CLK4が選択される。
【0058】このように構成されたA/D変換器では、
図7に示すようにサンプリング動作はクロック信号CL
K3に基づく時間t3で行われ、ビットNの逐次比較動
作はクロック信号CLK1に基づく時間t4で行われ
る。
【0059】また、ビットN−1,N−2の逐次比較動
作はクロック信号CLK2に基づく時間t5で行われ、
同様にしてビット1の逐次比較動作は時間t3で行わ
れ、ビット0の逐次比較動作はクロック信号CLK4に
基づく時間t6で行われる。なお、前記時間t3〜t6
はt4<t5<t3<t6の関係にある。
【0060】このような動作により、低電圧動作時には
時間t3で充分なサンプリング時間を確保することがで
き、逐次比較動作は最上位ビットから最下位ビットま
で、必要にして充分な時間を設定することができる。
【0061】従って、このA/D変換器を低電源電圧で
動作させても、動作速度を無用に低下させることなく、
A/D変換動作を確実に行うことができる。また、この
A/D変換器を通常電源で使用する場合には、制御レジ
スタ14の設定データを書き換えることにより、サンプ
リング時間及び各ビットの逐次比較動作時間を最適に設
定して、動作速度を向上させることができる。
【0062】
【発明の効果】以上詳述したように、この発明は異なる
電源電圧が供給されても安定して動作するA/D変換器
を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の原理説明図である。
【図2】第一の実施例を示すブロック図である。
【図3】第一の実施例のA/D変換動作を示す説明図で
ある。
【図4】第二の実施例を示すブロック図である。
【図5】第三の実施例を示すブロック図である。
【図6】制御レジスタの設定データを示す説明図であ
る。
【図7】第三の実施例のA/D変換動作を示す説明図で
ある。
【図8】従来例を示すブロック図である。
【図9】従来例のA/D変換動作を示す説明図である。
【符号の説明】
1 サンプル・ホールド回路 4 コンパレータ 5 D/Aコンバータ 6 逐次比較レジスタ 8 制御回路 9ロック信号選択回 12択制御回 ANin アナログ入力信号 Dout デジタル出力信号 CLK 基準クロック信号 CLKM 動作クロック信号
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平6−85672(JP,A) 特開 平1−152820(JP,A) 特開 平4−290310(JP,A) 特開 平4−129332(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H03M 1/00 - 1/88

Claims (5)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 アナログ入力信号をサンプリングするサ
    ンプル・ホールド回路と、 アナログ基準電圧を生成するD/Aコンバータと、 前記サンプル・ホールド回路からの出力電圧と前記アナ
    ログ基準電圧とを比較するコンパレータと、 前記コンパレータからの比較結果を格納してデジタル出
    力信号として出力する逐次比較レジスタと、 前記サンプル・ホールド回路のサンプリング動作と前記
    コンパレータの比較動作とを制御する制御回路とを備え
    たA/D変換器において、 通常の電源電圧動作時には基準クロック信号を前記制御
    回路へ出力し、 前記通常の電源電圧より低い電源電圧動作時には前記基
    準クロック信号より周波数の低いクロック信号を、前記
    サンプリング動作用または前記比較動作用クロックとし
    前記制御回路へ出力するクロック信号選択回路を設け
    たことを特徴とするA/D変換器。
  2. 【請求項2】 アナログ入力信号をサンプリングするサ
    ンプル・ホールド回路と、 アナログ基準電圧を生成するD/Aコンバータと、 前記サンプル・ホールド回路からの出力電圧と前記アナ
    ログ基準電圧とを比較するコンパレータと、 前記コンパレータからの比較結果を格納してデジタル出
    力信号として出力する逐次比較レジスタと、 前記サンプル・ホールド回路のサンプリング動作と前記
    コンパレータの比較動作とを制御する制御回路とを備え
    たA/D変換器において、 通常の電源電圧動作時には基準クロック信号を前記制御
    回路へ出力し、 前記通常の電源電圧より低い電源電圧動作時には前記基
    準クロック信号より周波数の低いクロック信号を、前記
    サンプリング動作用または前記比較動作用クロ ックとし
    前記制御回路へ出力するクロック信号選択回路を設
    け、 前記通常の電源電圧より低い電源電圧動作時に前記サン
    プリング動作用または前記比較動作用クロックとして
    力されるクロック信号には、周波数が異なる複数のクロ
    ック信号があり、前記比較動作のビット位置が上位ビッ
    トである場合に比べ下位ビットの方が周波数の低いクロ
    ック信号を出力することを特徴とするA/D変換器。
  3. 【請求項3】 前記クロック信号選択回路は、 基準クロック信号に基づいて複数のクロック信号を生成
    し、該複数のクロック信号のいずれのクロック信号を選
    択するかを制御する選択制御回路からの出力信号に基づ
    いて前記複数のクロック信号から一つのクロック信号を
    選択して出力することを特徴とする請求項1、2記載の
    A/D変換器。
  4. 【請求項4】 前記選択制御回路は、レベル検出回路か
    ら供給される信号に基づいて前記クロック信号選択回路
    を制御することを特徴とする請求項3記載のA/D変換
    器。
  5. 【請求項5】 前記選択制御回路は、書き換え回路によ
    って内容が書き換えられる制御レジスタを有し、前記制
    御レジスタの内容に基づいて前記クロック信号選択回路
    を制御することを特徴とする請求項3記載のA/D変換
    器。
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