JP3256126B2 - オプトエレクトロニクス変換器 - Google Patents
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- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 title claims description 15
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 41
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 37
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 claims description 26
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 21
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 21
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 20
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 19
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 11
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 7
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 3
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims 1
- 238000005219 brazing Methods 0.000 description 6
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 3
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N Acetaminophen Chemical compound CC(=O)NC1=CC=C(O)C=C1 RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002313 adhesive film Substances 0.000 description 1
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 1
- 239000005388 borosilicate glass Substances 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- 239000005297 pyrex Substances 0.000 description 1
- 150000003376 silicon Chemical class 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/0248—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
- H01L31/0256—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by the material
- H01L31/0264—Inorganic materials
- H01L31/032—Inorganic materials including, apart from doping materials or other impurities, only compounds not provided for in groups H01L31/0272 - H01L31/0312
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/48—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
- H01L33/58—Optical field-shaping elements
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/24—Coupling light guides
- G02B6/42—Coupling light guides with opto-electronic elements
- G02B6/4201—Packages, e.g. shape, construction, internal or external details
- G02B6/4204—Packages, e.g. shape, construction, internal or external details the coupling comprising intermediate optical elements, e.g. lenses, holograms
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/0203—Containers; Encapsulations, e.g. encapsulation of photodiodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/0232—Optical elements or arrangements associated with the device
- H01L31/02325—Optical elements or arrangements associated with the device the optical elements not being integrated nor being directly associated with the device
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/32225—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
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- Led Devices (AREA)
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Description
いは受信する半導体デバイスと、該デバイスが取り付け
られる基板と、半導体デバイスに光学的に整列されたレ
ンズ装置に対する基板に結合されたスペーサとを有する
オプトエレクトロニクス変換器に関する。
55761号明細書あるいは特開平5−218463号
公報で知られている。その場合の主な問題は変換器を良
好な効率で作動することにある。これは、半導体デバイ
ス自体の特性は別として、レンズ装置が光学的に最適に
半導体デバイスに整列されることによって達成される。
この場合にのみ半導体デバイスからの光を高い効率で光
導体に送り出し、光導体から半導体デバイスに取り込む
ことができる。
作動中においても最適の調整状態が維持されることを保
証しなければならない。すなわち作動中に変換器が過熱
された際、効率を悪化するような調整状態の狂いを生じ
ることがある。
に述べた形式のオプトエレクトロニクス変換器を、温度
変化が半導体デバイスとレンズ装置との間の調整状態に
ほとんど影響を与えないように改良することにある。更
にこのようなオプトエレクトロニクス変換器の簡単な製
造方法を提供することにある。
は、基板、スペーサおよびレンズ装置が熱膨張係数が少
なくとも近似している材料から成ることによって解決さ
れる。
の請求項2から請求項9に、オプトエレクトロニクス変
換器の有利な製造方法は請求項10及び11に記載され
ている。
細に説明する。
器11は基板1上に据え付けられている。基板1の上側
面に凹所2が設けられている。凹所2の両側に帯状隆起
部3が設けられている。凹所2の中にビームを受信ある
いは発信する半導体デバイス6が金属層5を介して取り
付けられている。これは例えばフォトダイオードないし
発光ダイオード(LED)あるいはバーチカル・キャビ
ティ・サーフェイス・エミッタ・レーザー(VCSE
L)である。金属層5は更に半導体デバイス6に給電す
るために使用される。半導体デバイス6の上側面に第2
の接点が設けられている。
ーサ7が取り付けられている。スペーサ7上にこれと材
料的に結合されたレンズ装置8が設けられている。レン
ズ装置8と凹所2の底との間隔は金属層5を加えた半導
体デバイス6の厚さより大きい。
多結晶あるいは単結晶でも良い。基板1に対してシリコ
ンの代わりに適当な熱膨張係数をした他の材料を使用す
ることもできる。
8はシリコンあるいはガラスから成っている。半導体デ
バイス6とレンズ装置8との間にガラスから成るスペー
サが配置されていることが重要である。その部品の僅か
な熱伝導値は、半導体デバイス6から基板1に導出され
る熱がレンズ装置8に達することを阻止する。シリコン
から成る基板1はその良好な熱伝導率のために特にビー
ム発信半導体デバイスにおいて利用される。これはビー
ム発信半導体デバイスの場合に変換出力が一般にビーム
を受信する場合よりも大きいからである。ビーム受信器
の場合、基板1はガラスで、スペーサ7はシリコンで、
レンズ装置8はシリコンあるいはガラスで作られる。こ
れらのいずれの場合においても、ビームがシリコンを透
過する波長を有しているとき、レンズ装置にシリコンを
利用することが有利である。これは1.1μmより大き
な波長の場合に当てはまる。
互いに接着剤および/又はろう9で結合される。シリコ
ン面とガラス面が互いに接触しているとき、これらは陽
極ボンドでも結合できる。この技術は既に知られてい
る。その場合互いに結合すべき部品は例えば400°C
の温度のもとで押し合わされ、例えば−1000Vの電
圧がガラスに印加される。この結合技術は再現性が非常
に良好であるので、基板1およびレンズ装置8がガラス
から成っている場合もスペーサ7をシリコンで作ること
が推奨される。スペーサ7とレンズ装置8をろう付け又
は接着する際、両方の部品の間にろう層あるいは接着剤
層が入れられる。ろう層は例えば蒸着することができ
る。
数を有するものが利用される。このために例えばホウケ
イ酸ガラスが適しており、これは例えばコーニング( C
orning)社の商品名「Pyrex 7740」あるいはショット
( Schott )社の商品名「Tempax」で市販されている。
な静電容量を有すべきときには、シリコン基板の代わり
にガラス基板を利用することが推奨される。しかし良好
に放熱する理由からシリコン基板が必要とされるとき、
このシリコン基板は薄く作られ、その背面にガラス板1
0が結合される(図2参照)。ガラス板10はシリコン
基板1に陽極ボンド、ろうあるいは接着剤によって結合
される。
はベース14と蓋15を有するハウジングの中にはめ込
まれる(図5参照)。変換器11は蓋15に設けられた
窓16に対して調整され、ベース14に取り付けられて
いる。継手20を介してハウジングに結合されている光
波導体(図示せず)が窓16に突き当っている。半導体
デバイス6自体は金属層5および半導体デバイス6の上
側面に配置された接点を介して二つの接続端子21、2
2に電気接続され、これらの接続端子21、22を介し
て作動電圧が導入されるか、電気信号が送り出される。
ニクス変換器11を多数同時に製造するために、まずガ
ラス基板あるいはシリコン基板1に複数の凹所2が設け
られる(図3参照)。これらの凹所2は半導体デバイス
を収容するために使用され、それに応じて幅が決められ
ている。それぞれ二つの凹所2の間に帯状隆起部3が残
されている。これらの隆起部3は好適には別の凹所12
によって分割され、これによって最終的な隆起部3が生
じさせられる。凹所2、12は例えばフォトリソグラフ
エッチング法あるいは鋸びき法によって作られる。鋸び
き法の際は互いに平行な隆起部3が生じさせられ、エッ
チング法の際は隆起部3は任意の形状例えば格子形状を
とることができる。
スから成るプレート17が置かれ、上述したように隆起
部3に陽極ボンド、接着剤あるいはろうによって結合さ
れる。それからプレート17は隆起部3間に位置し基板
1に結合されていない部分が除去されるように鋸びき切
断される。そして隆起部3に結合されたスペーサ7が生
じる(図4参照)。続いて半導体デバイス6が凹所2の
中の所定のフレームに応じて取り付けられる。
シリコンあるいはガラスから成るプレート18がスペー
サ7の上に置かれる。レンズ装置8は基板1上に取り付
けられた半導体デバイス6のフレームに相応したフレー
ムでプレート18上に配置されている。レンズ装置8は
光学的に半導体デバイス6に整列され、続いてプレート
18はスペーサ7に上述の陽極ボンドあるいはろう付け
によって結合される。これによって基板1、半導体デバ
イス6、スペーサ7およびプレート18から成り多数の
半導体デバイスとレンズ装置とを持った複合体が生ず
る。この複合体は隆起部3間に位置する鋸切込み部13
およびそれに対して直角の紙面に対して平行に位置する
他の鋸切込み部によって分離される。その際に生ずる各
ユニット11が上述したようにハウジングの中にはめ込
まれる。
半導体技術において古くから知られており、上述の複合
体を細分化する際にも利用できる。すなわち複合体は鋸
びき、スクライブおよび破断によって分離される。この
場合普通は複合体を弾性接着フィルムに固定する。フィ
ルムは後続のすべての工程において担体として使用され
る。
フあるいは機械的に凹所2および隆起部3を形成し、そ
れから上述したようにスペーサを設けることもできる。
多数のレンズ装置を備えたプレート18の代わりに個々
のレンズ装置を光学的に半導体デバイスに整列してスペ
ーサ7に結合することもできる。
の実施例の概略断面図。
の異なる実施例の断面図。
の製造工程の説明図。
ロニクス変換器の概略断面図。
Claims (10)
- 【請求項1】 ビームを発信あるいは受信する半導体デ
バイス(6)が取り付けられている基板(1)と、半導
体デバイス(6)に光学的に整列されたレンズ装置
(8)に対する基板に結合されたスペーサ(7)とを有
し、基板(1)、スペーサ(7)およびレンズ装置
(8)が熱膨張係数が少なくとも近似している材料から
成っているオプトエレクトロニクス変換器において、半
導体デバイス(6)とレンズ装置(8)との間にガラス
から成るスペーサ(7)が配置され、このスペーサ
(7)により半導体デバイス(6)から基板に導出され
る熱がレンズ装置(8)に達するのを変換器の作動中に
阻止するようにしたことを特徴とするオプトエレクトロ
ニクス変換器。 - 【請求項2】 基板(1)およびレンズ装置(8)がシ
リコンから、スペーサ(7)がガラスからそれぞれ成る
ことを特徴とする請求項1記載の変換器。 - 【請求項3】 基板(1)が金属層(5)を備え、この
金属層(5)上に半導体デバイス(6)が取り付けられ
ていることを特徴とする請求項1または2記載の変換
器。 - 【請求項4】 スペーサがシリコンから成る部品に陽極
ボンドによって結合されていることを特徴とする請求項
1ないし3のいずれか1つに記載の変換器。 - 【請求項5】 スペーサがシリコンから成る部品にろう
付けあるいは接着されていることを特徴とする請求項1
ないし3のいずれか1つに記載の変換器。 - 【請求項6】 半導体デバイス(6)が基板(1)の凹
所(2)の中に置かれていることを特徴とする請求項1
ないし5のいずれか1つに記載の変換器。 - 【請求項7】 基板(1)がシリコンから成り、その半
導体デバイス(6)と反対側面がガラス板(10)に結
合されていることを特徴とする請求項1ないし6のいず
れか1つに記載の変換器。 - 【請求項8】 ベース(14)と窓(16)を備えた蓋
(15)とを有するハウジングが設けられ、変換器(1
1)が蓋(16)に対して調節されてベース(14)に
取り付けられ、ハウジングが光導波体のための継手(2
0)を有することを特徴とする請求項1ないし7のいず
れか1つに記載の変換器。 - 【請求項9】a) 基板(1)に半導体デバイス(6)
を収容するための複数の凹所(2)が形成され、各凹所
(2)の少なくとも片側に帯状隆起部(3)が設けら
れ、 b) 帯状隆起部(3)上に基板(1)と同じ大きさの
プレート(17)が置かれ、隆起部(3)に材料的に結
合され、 c) このプレート(17)の隆起部(3)間の部分が
除去されて、基板(1)に結合されたスペーサ(7)が
生じさせられ、 d) 凹所(2)の中に所定の網目クレームに応じて半
導体デバイス(6)がはめ込まれて基板(1)に結合さ
れ、 e) 半導体デバイス(6)の数に相応した数のレンズ
装置(8)が半導体デバイス(6)と同じフレームで配
置されて設けられている別のプレート(18)が担体上
に置かれ、 f) このプレート(18)が担体に関して各レンズ装
置(8)が各半導体デバイス(6)に整列されるように
調整され、 g) プレート(18)が担体上に取り付けられ、 h) 基板(1)、半導体デバイス(6)、スペーサ
(7)およびプレート(18)から成る複合体が第1の
平行な切断部(13)およびこれに対して直角な第2の
切断部によって分割されて、それぞれ基板(1)、半導
体デバイス(6)、スペーサ(7)およびレンズ装置
(8)を含むユニット(11)が生じさせられる、 ことを特徴とする請求項1記載のオプトエレクトロニク
ス変換器の製造方法。 - 【請求項10】 各ユニット(11)が気密ハウジング
(14、15)の中にはめ込まれることを特徴とする請
求項9記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19508222.2 | 1995-03-08 | ||
DE19508222A DE19508222C1 (de) | 1995-03-08 | 1995-03-08 | Optoelektronischer Wandler und Herstellverfahren |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08264843A JPH08264843A (ja) | 1996-10-11 |
JP3256126B2 true JP3256126B2 (ja) | 2002-02-12 |
Family
ID=7756033
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7321896A Expired - Fee Related JP3256126B2 (ja) | 1995-03-08 | 1996-03-04 | オプトエレクトロニクス変換器 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5981945A (ja) |
EP (1) | EP0731509B1 (ja) |
JP (1) | JP3256126B2 (ja) |
KR (1) | KR960036157A (ja) |
CN (1) | CN1135660A (ja) |
DE (2) | DE19508222C1 (ja) |
ES (1) | ES2158166T3 (ja) |
TW (1) | TW366599B (ja) |
Families Citing this family (79)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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- 1996-03-04 EP EP96103353A patent/EP0731509B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1996-03-04 JP JP7321896A patent/JP3256126B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1996-03-04 ES ES96103353T patent/ES2158166T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1996-03-04 DE DE59607023T patent/DE59607023D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1996-03-07 KR KR1019960005882A patent/KR960036157A/ko not_active Application Discontinuation
- 1996-03-08 CN CN96101887A patent/CN1135660A/zh active Pending
- 1996-03-08 US US08/614,836 patent/US5981945A/en not_active Expired - Lifetime
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EP0731509B1 (de) | 2001-06-06 |
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CN1135660A (zh) | 1996-11-13 |
ES2158166T3 (es) | 2001-09-01 |
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TW366599B (en) | 1999-08-11 |
US5981945A (en) | 1999-11-09 |
KR960036157A (ko) | 1996-10-28 |
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Legal Events
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---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
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|
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R250 | Receipt of annual fees |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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