JP3252765B2 - プリント配線板の検査装置 - Google Patents
プリント配線板の検査装置Info
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は電子機器に用いられ
るプリント配線板におけるプリント配線や電極などの電
気的接続状態を検査するプリント配線板の検査装置に関
するものである。
るプリント配線板におけるプリント配線や電極などの電
気的接続状態を検査するプリント配線板の検査装置に関
するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来におけるこの種の検査装置を図面を
用いて説明する。図７は従来におけるプリント配線板の
検査装置の要部構成図であり、１２は絶縁体でなり上下
移動自在なホルダー、９は金属材でなりホルダー１２に
装着された複数の伸縮自在なスプリングプローブであ
る。
用いて説明する。図７は従来におけるプリント配線板の
検査装置の要部構成図であり、１２は絶縁体でなり上下
移動自在なホルダー、９は金属材でなりホルダー１２に
装着された複数の伸縮自在なスプリングプローブであ
る。
【０００３】スプリングプローブ９の被検査プリント配
線板２の電極３に当接する一方の先端は円錐状であり、
他端には導体材を絶縁材で被膜し柔軟性あるいは伸縮性
のある配線材８ａの一端が接続されており、その他端は
検査部１８に接続されている。
線板２の電極３に当接する一方の先端は円錐状であり、
他端には導体材を絶縁材で被膜し柔軟性あるいは伸縮性
のある配線材８ａの一端が接続されており、その他端は
検査部１８に接続されている。
【０００４】被検査プリント配線板２は、フェノール樹
脂、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂などの絶縁基材５の
片面に、導体材の銅箔などでなる配線パターンや複数の
電極３などにより形成されている。
脂、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂などの絶縁基材５の
片面に、導体材の銅箔などでなる配線パターンや複数の
電極３などにより形成されている。
【０００５】そして、被検査プリント配線板２の検査す
べき電極３の位置に、ホルダー１２を降下させてスプリ
ングプローブ９の先端を弾性をもって当接させ、配線材
８ａを介して接続された検査部１８により被検査プリン
ト配線板２の所定個所における電気的接続状態を測定検
査するように構成されている。
べき電極３の位置に、ホルダー１２を降下させてスプリ
ングプローブ９の先端を弾性をもって当接させ、配線材
８ａを介して接続された検査部１８により被検査プリン
ト配線板２の所定個所における電気的接続状態を測定検
査するように構成されている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来の構成では、電極３の密度が高いプリント配線板の検
査には、細くしたスプリングプローブ９を密集して装着
する必要があり、細いスプリングプローブ９は損傷しや
すく、また複数のスプリングプローブ９を確実に弾性を
もって当接することが困難であるという課題を有してい
た。
来の構成では、電極３の密度が高いプリント配線板の検
査には、細くしたスプリングプローブ９を密集して装着
する必要があり、細いスプリングプローブ９は損傷しや
すく、また複数のスプリングプローブ９を確実に弾性を
もって当接することが困難であるという課題を有してい
た。
【０００７】本発明は、前記従来の課題を解決しようと
するものであり、電極密度が高いプリント配線板の検査
を確実に行える検査装置を提供することを目的とするも
のである。
するものであり、電極密度が高いプリント配線板の検査
を確実に行える検査装置を提供することを目的とするも
のである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に本発明のプリント配線板の検査装置は、被検査プリン
ト配線板に形成された電極と対向した位置に接点部を、
他面に接点部から多層状に引出し配線する配線部を介し
て配線端子を設けた検査用基板と、検査用プレートに装
着され配線端子の一端と接続する伸縮自在な接続部と、
検査用基板と検査用プレートの間に装着した接点部を電
極に当接させるために押圧する上下移動自在の押圧部
と、接続部の他端が接続されて被検査プリント配線板の
電気的接続状態を測定検査する検査部とを含み、前記被
検査プリント配線板の電極側表面の凹形状に対応して前
記検査用基板の変形を抑制する突起を前記検査用基板の
前記接点部以外の面部分に設けてなる構成としたもので
ある。
に本発明のプリント配線板の検査装置は、被検査プリン
ト配線板に形成された電極と対向した位置に接点部を、
他面に接点部から多層状に引出し配線する配線部を介し
て配線端子を設けた検査用基板と、検査用プレートに装
着され配線端子の一端と接続する伸縮自在な接続部と、
検査用基板と検査用プレートの間に装着した接点部を電
極に当接させるために押圧する上下移動自在の押圧部
と、接続部の他端が接続されて被検査プリント配線板の
電気的接続状態を測定検査する検査部とを含み、前記被
検査プリント配線板の電極側表面の凹形状に対応して前
記検査用基板の変形を抑制する突起を前記検査用基板の
前記接点部以外の面部分に設けてなる構成としたもので
ある。
【０００９】本発明により、電極密度が高いプリント配
線板においても電気的接続状態を確実に検査することが
できる。
線板においても電気的接続状態を確実に検査することが
できる。
【００１０】
【発明の実施の形態】本発明の請求項１に記載の発明
は、被検査プリント配線板に形成された電極と対向した
位置に接点部を、他面に接点部から多層状に引出し配線
する配線部を介して配線端子を設けた検査用基板と、検
査用プレートに装着され配線端子の一端と接続する伸縮
自在な接続部と、検査用基板と検査用プレートの間に装
着した接点部を電極に当接させるために押圧する上下移
動自在の押圧部と、接続部の他端が接続されて被検査プ
リント配線板の電気的接続状態を測定検査する検査部と
を含み、前記被検査プリント配線板の電極側表面の凹形
状に対応して前記検査用基板の変形を抑制する突起を、
前記検査用基板の前記接点部以外の面部分に設けてなる
プリント配線板の検査装置としたものであり、電極密度
が高いプリント配線板の検査が容易で確実にできるとい
う作用を有する。
は、被検査プリント配線板に形成された電極と対向した
位置に接点部を、他面に接点部から多層状に引出し配線
する配線部を介して配線端子を設けた検査用基板と、検
査用プレートに装着され配線端子の一端と接続する伸縮
自在な接続部と、検査用基板と検査用プレートの間に装
着した接点部を電極に当接させるために押圧する上下移
動自在の押圧部と、接続部の他端が接続されて被検査プ
リント配線板の電気的接続状態を測定検査する検査部と
を含み、前記被検査プリント配線板の電極側表面の凹形
状に対応して前記検査用基板の変形を抑制する突起を、
前記検査用基板の前記接点部以外の面部分に設けてなる
プリント配線板の検査装置としたものであり、電極密度
が高いプリント配線板の検査が容易で確実にできるとい
う作用を有する。
【００１１】請求項２に記載の発明は、配線端子を被検
査プリント配線板の外形の外側に位置した検査用基板上
に配置してなる請求項１に記載のプリント配線板の検査
装置としたものであり、すべての接点部を電極に押圧
し、広いスペースで配線端子と接続部を確実に接続でき
るという作用を有する。
査プリント配線板の外形の外側に位置した検査用基板上
に配置してなる請求項１に記載のプリント配線板の検査
装置としたものであり、すべての接点部を電極に押圧
し、広いスペースで配線端子と接続部を確実に接続でき
るという作用を有する。
【００１２】請求項３に記載の発明は、各々２個の接続
部で対応する各配線端子と接続する構成でなる請求項１
に記載のプリント配線板の検査装置としたものであり、
検査部と接続部間の配線抵抗や配線端子と接続部間の接
触抵抗を低減できるという作用を有する。
部で対応する各配線端子と接続する構成でなる請求項１
に記載のプリント配線板の検査装置としたものであり、
検査部と接続部間の配線抵抗や配線端子と接続部間の接
触抵抗を低減できるという作用を有する。
【００１３】請求項４に記載の発明は、各々２個の接点
部で対向する各電極と当接する構成でなる請求項１に記
載のプリント配線板の検査装置としたものであり、検査
部と接点部間の配線抵抗や配線端子と接続部間の接続抵
抗および接点部と電極間の接触抵抗を低減できるという
作用を有する。
部で対向する各電極と当接する構成でなる請求項１に記
載のプリント配線板の検査装置としたものであり、検査
部と接点部間の配線抵抗や配線端子と接続部間の接続抵
抗および接点部と電極間の接触抵抗を低減できるという
作用を有する。
【００１４】請求項５に記載の発明は、先端形状が平
坦、曲面あるいは針状の１個あるいは複数の突起でなる
接点部とする請求項１に記載のプリント配線板の検査装
置としたものであり、接点部と電極との接触圧を高め、
あるいは接続点数を増加させることができるという作用
を有する。
坦、曲面あるいは針状の１個あるいは複数の突起でなる
接点部とする請求項１に記載のプリント配線板の検査装
置としたものであり、接点部と電極との接触圧を高め、
あるいは接続点数を増加させることができるという作用
を有する。
【００１５】請求項６に記載の発明は、突起の高さを
０．０１mm以上とする請求項５に記載のプリント配線板
の検査装置としたものであり、被検査プリント配線板に
うねりがあっても検査できるという作用を有する。
０．０１mm以上とする請求項５に記載のプリント配線板
の検査装置としたものであり、被検査プリント配線板に
うねりがあっても検査できるという作用を有する。
【００１６】請求項７に記載の発明は、弾性体の部材で
形成してなる押圧部とする請求項１に記載のプリント配
線板の検査装置としたものであり、押圧部にうねりがあ
っても、表面に凹凸を有した検査用基板との接触面を全
面加圧することができるという作用を有する。
形成してなる押圧部とする請求項１に記載のプリント配
線板の検査装置としたものであり、押圧部にうねりがあ
っても、表面に凹凸を有した検査用基板との接触面を全
面加圧することができるという作用を有する。
【００１７】請求項８に記載の発明は、検査用基板に当
接する部分的に突起を設けてなる押圧部とする請求項７
に記載のプリント配線板の検査装置としたものであり、
押圧部の突起が被検査プリント配線板の電極部分との接
触面を加圧するという作用を有する。
接する部分的に突起を設けてなる押圧部とする請求項７
に記載のプリント配線板の検査装置としたものであり、
押圧部の突起が被検査プリント配線板の電極部分との接
触面を加圧するという作用を有する。
【００１８】請求項９に記載の発明は、密閉された流体
で形成してなる押圧部とする請求項１に記載のプリント
配線板の検査装置としたものであり、押圧部にうねりが
あっても、表面に凹凸を有した検査用基板との接触面を
全面均一に加圧することができるという作用を有する。
で形成してなる押圧部とする請求項１に記載のプリント
配線板の検査装置としたものであり、押圧部にうねりが
あっても、表面に凹凸を有した検査用基板との接触面を
全面均一に加圧することができるという作用を有する。
【００１９】請求項１０に記載の発明は、押圧部が部分
的に突起可能の構造とする請求項９に記載のプリント配
線板の検査装置としたものであり、押圧部の突起が被検
査プリント配線板の電極部分との接触面を加圧するとい
う作用を有する。
的に突起可能の構造とする請求項９に記載のプリント配
線板の検査装置としたものであり、押圧部の突起が被検
査プリント配線板の電極部分との接触面を加圧するとい
う作用を有する。
【００２０】
【００２１】請求項１１に記載の発明は、検査用基板の
接点部をクリーニングする粘着フィルムあるいはブラシ
を付属してなる請求項１に記載のプリント配線板の検査
装置としたものであり、接点部に付着したゴミや異物な
どを除去できるという作用を有する。
接点部をクリーニングする粘着フィルムあるいはブラシ
を付属してなる請求項１に記載のプリント配線板の検査
装置としたものであり、接点部に付着したゴミや異物な
どを除去できるという作用を有する。
【００２２】以下、本発明の実施の形態について図面を
用いて説明する。なお、従来の技術で説明したものと同
じ構成部材には、同一の番号を付与し詳細な説明は省略
する。
用いて説明する。なお、従来の技術で説明したものと同
じ構成部材には、同一の番号を付与し詳細な説明は省略
する。
【００２３】図１は本発明の実施の形態におけるプリン
ト配線板の検査装置の要部断面図である。
ト配線板の検査装置の要部断面図である。
【００２４】図１において、３は電極、５は絶縁基材、
２は被検査プリント配線板である。１は検査用基板であ
り、片面に銅箔などの導体材でなる配線パターン７を形
成し、内部に銅、ニッケルなどからなる導電性物質６を
充填したスルーホールを設けた絶縁基材５ａを必要な枚
数積層し電気的に接続して形成している。
２は被検査プリント配線板である。１は検査用基板であ
り、片面に銅箔などの導体材でなる配線パターン７を形
成し、内部に銅、ニッケルなどからなる導電性物質６を
充填したスルーホールを設けた絶縁基材５ａを必要な枚
数積層し電気的に接続して形成している。
【００２５】導電性物質６と配線パターン７で多層状の
配線部２１を構成しており、１ｂは積層した絶縁基材５
ａの最下層である主面であり、下面にスルーホールの導
電性物質６と接続し、電極３と対向しかつほぼ同じ形状
の複数の接点部４を設けている。
配線部２１を構成しており、１ｂは積層した絶縁基材５
ａの最下層である主面であり、下面にスルーホールの導
電性物質６と接続し、電極３と対向しかつほぼ同じ形状
の複数の接点部４を設けている。
【００２６】また、１ｃは積層した絶縁基材５ａの最上
層である他面であり、スルーホールの導電性物質６と接
続した複数の導体材でなる配線端子８を上面に設けてい
る。
層である他面であり、スルーホールの導電性物質６と接
続した複数の導体材でなる配線端子８を上面に設けてい
る。
【００２７】なお、配線端子８は検査用基板１の主面１
ｂあるいは端面１ｄに形成することも可能である。
ｂあるいは端面１ｄに形成することも可能である。
【００２８】接点部４および配線パターン７は導体材の
銅箔をフォトエッチング加工などにより形成し、絶縁基
材５ａはフェノール、ポリイミド、エポキシ、ポリエス
テルなどの絶縁樹脂、あるいはその絶縁樹脂に紙、ガラ
ス繊維、アラミド繊維などの補強材を添加した材料を使
用している。
銅箔をフォトエッチング加工などにより形成し、絶縁基
材５ａはフェノール、ポリイミド、エポキシ、ポリエス
テルなどの絶縁樹脂、あるいはその絶縁樹脂に紙、ガラ
ス繊維、アラミド繊維などの補強材を添加した材料を使
用している。
【００２９】１１は上下移動自在な絶縁材でなる検査用
プレートであり、検査用基板１に設けた配線端子８に当
接する接続部１９に伸縮自在なスプリングプローブ９を
装着し、スプリングプローブ９の一端は配線材８ａによ
り検査部１８に接続されている。
プレートであり、検査用基板１に設けた配線端子８に当
接する接続部１９に伸縮自在なスプリングプローブ９を
装着し、スプリングプローブ９の一端は配線材８ａによ
り検査部１８に接続されている。
【００３０】１０はバネ、ゴムなどの弾性体でなる押圧
部材であり、検査用プレート１１と検査用基板１との間
に装着され押圧部２０を構成している。
部材であり、検査用プレート１１と検査用基板１との間
に装着され押圧部２０を構成している。
【００３１】なお、配線端子８は被検査プリント配線板
２の外形の外側に位置した検査用基板１上に配置されて
おり、押圧部材１０によりすべての接点部４を電極３に
押圧できるような構成となっている。
２の外形の外側に位置した検査用基板１上に配置されて
おり、押圧部材１０によりすべての接点部４を電極３に
押圧できるような構成となっている。
【００３２】また、接続部１９には各種の被検査プリン
ト配線板２の検査に対応できるように、スプリングプロ
ーブ９を使用して検査用基板１を取替え可能としている
が、スプリングプローブ９に代えてコネクターを使用し
てもよく、さらに、被検査プリント配線板２を１品種に
限定する場合には、柔軟性あるいは伸縮自在な配線材で
配線端子８と接続固着してもよい。
ト配線板２の検査に対応できるように、スプリングプロ
ーブ９を使用して検査用基板１を取替え可能としている
が、スプリングプローブ９に代えてコネクターを使用し
てもよく、さらに、被検査プリント配線板２を１品種に
限定する場合には、柔軟性あるいは伸縮自在な配線材で
配線端子８と接続固着してもよい。
【００３３】被検査プリント配線板２をセットした後、
検査用プレート１１を降下させてスプリングプローブ９
の先端を配線端子８と弾性をもって当接させ、続いて検
査用プレート１１および検査用基板１を同時に降下させ
て、接点部４が被検査プリント配線板２の電極３に当接
し、検査部１８により被検査プリント配線板２の所定の
電気的接続状態を測定し検査する。
検査用プレート１１を降下させてスプリングプローブ９
の先端を配線端子８と弾性をもって当接させ、続いて検
査用プレート１１および検査用基板１を同時に降下させ
て、接点部４が被検査プリント配線板２の電極３に当接
し、検査部１８により被検査プリント配線板２の所定の
電気的接続状態を測定し検査する。
【００３４】検査用基板１の構成例を図２の検査用基板
の構成要部断面図を用いて説明する。
の構成要部断面図を用いて説明する。
【００３５】図２（ａ）は接点部４が１個に対して配線
部２１の配線パターン７、スルーホールの導電性物質
６、および配線端子８を２個とした検査用基板１であ
り、これに対応して接続部１９も２個設けており、検査
測定において定電流回路と電圧測定回路の２回路に分離
することができるため、電圧測定回路における検査部１
８と接点部４の間の配線抵抗、および配線部２１の配線
端子８とスプリングプローブ９の間の接触抵抗を低減す
ることが可能となる。
部２１の配線パターン７、スルーホールの導電性物質
６、および配線端子８を２個とした検査用基板１であ
り、これに対応して接続部１９も２個設けており、検査
測定において定電流回路と電圧測定回路の２回路に分離
することができるため、電圧測定回路における検査部１
８と接点部４の間の配線抵抗、および配線部２１の配線
端子８とスプリングプローブ９の間の接触抵抗を低減す
ることが可能となる。
【００３６】図２（ｂ）は配線端子８をスプリングプロ
ーブ９の先端が２本弾性をもって当接できる形状にした
検査用基板１であり、配線部２１は１系統の配線であ
る。
ーブ９の先端が２本弾性をもって当接できる形状にした
検査用基板１であり、配線部２１は１系統の配線であ
る。
【００３７】本構成は１個の接点部４に対して接続部１
９を２個設けたものであり、検査測定において定電流回
路と電圧測定回路の２回路に分離することができるた
め、検査部１８と配線端子８の間の配線抵抗、および配
線端子８とスプリングプローブ９の間の接触抵抗を低減
することが可能となる。
９を２個設けたものであり、検査測定において定電流回
路と電圧測定回路の２回路に分離することができるた
め、検査部１８と配線端子８の間の配線抵抗、および配
線端子８とスプリングプローブ９の間の接触抵抗を低減
することが可能となる。
【００３８】なお、図２（ａ）と図２（ｂ）の構成を比
較した場合、図２（ａ）の構成は導電性物質６および配
線パターン７が増えるために複雑で製作価格が高価にな
るが、接点部４と配線端子８間の配線抵抗を低減でき、
図２（ｂ）の構成は配線端子８の形状を大きくするだけ
であり前記より簡単で安価に製作できる。
較した場合、図２（ａ）の構成は導電性物質６および配
線パターン７が増えるために複雑で製作価格が高価にな
るが、接点部４と配線端子８間の配線抵抗を低減でき、
図２（ｂ）の構成は配線端子８の形状を大きくするだけ
であり前記より簡単で安価に製作できる。
【００３９】なおまた、配線部２１すなわち絶縁基材５
ａにおける検査用基板１の内部で配線パターン７、スル
ーホールの導電性物質６による配線を分岐して、１個の
接点部４に対して接続部１９のスプリングプローブ９が
２個当接する構成にしてもよい。
ａにおける検査用基板１の内部で配線パターン７、スル
ーホールの導電性物質６による配線を分岐して、１個の
接点部４に対して接続部１９のスプリングプローブ９が
２個当接する構成にしてもよい。
【００４０】図２（ｃ）は電極３が１個に対して接点部
４を２個当接する構成の検査用基板１であり、接点部４
を１個の電極３に対して２個設けることにより、検査測
定において定電流回路と電圧測定回路の２回路に分離す
ることができるため、検査部１８と接点部４の間の配線
抵抗、配線部２１の配線端子８とスプリングプローブ９
の間の接触抵抗、および接点部４と電極３の間の接触抵
抗を低減することが可能となる。
４を２個当接する構成の検査用基板１であり、接点部４
を１個の電極３に対して２個設けることにより、検査測
定において定電流回路と電圧測定回路の２回路に分離す
ることができるため、検査部１８と接点部４の間の配線
抵抗、配線部２１の配線端子８とスプリングプローブ９
の間の接触抵抗、および接点部４と電極３の間の接触抵
抗を低減することが可能となる。
【００４１】接点部４の構造例を図３の接点部の要部断
面図を用いて説明する。図３（ａ）は接点部４の先端部
の高さが０．０１mm以上で下面が平坦な突起１３とした
ものであり、接触圧を上げたり、被検査プリント配線板
２にうねりがある部分でも確実に当接することができ
る。
面図を用いて説明する。図３（ａ）は接点部４の先端部
の高さが０．０１mm以上で下面が平坦な突起１３とした
ものであり、接触圧を上げたり、被検査プリント配線板
２にうねりがある部分でも確実に当接することができ
る。
【００４２】突起１３の形成は銅箔をフォトエッチング
加工して接点部４を形成し、突起１３を形成したい部分
のみを残存させるように感光性レジストで覆い、他の領
域を再エッチングすることによる形成や、メッキ処理に
よる形成、あるいはハンダバンプなどの後加工処理によ
り形成する。
加工して接点部４を形成し、突起１３を形成したい部分
のみを残存させるように感光性レジストで覆い、他の領
域を再エッチングすることによる形成や、メッキ処理に
よる形成、あるいはハンダバンプなどの後加工処理によ
り形成する。
【００４３】図３（ｂ）は接点部４の先端部を半田など
で形成する円錐の針状の突起１３ａとしたものであり、
突起１３ａは針状であるため、接触圧をさらに上げる事
が可能となる。
で形成する円錐の針状の突起１３ａとしたものであり、
突起１３ａは針状であるため、接触圧をさらに上げる事
が可能となる。
【００４４】図３（ｃ）は接点部４の先端部を曲面形状
の突起１３ｂとしたものであり、突起１３ｂの先端は曲
面であるために接触が確実で、かつ接触圧を上げる事が
可能となる。
の突起１３ｂとしたものであり、突起１３ｂの先端は曲
面であるために接触が確実で、かつ接触圧を上げる事が
可能となる。
【００４５】なお、先端が曲面形状の突起１３ｂは、突
起をソフトエッチングなどの化学研磨、あるいはサンド
ブラストやバフ研磨などの機械的研磨により形成する。
起をソフトエッチングなどの化学研磨、あるいはサンド
ブラストやバフ研磨などの機械的研磨により形成する。
【００４６】図３（ｄ）は接点部４の先端部を先端が平
坦、針状、あるいは曲面形状の複数の突起１３ｃとした
ものであり、複数の突起１３ｃとすることにより、電極
３との接触点の数が増え、当接すなわち接続の確実性が
向上する。
坦、針状、あるいは曲面形状の複数の突起１３ｃとした
ものであり、複数の突起１３ｃとすることにより、電極
３との接触点の数が増え、当接すなわち接続の確実性が
向上する。
【００４７】接点部４および押圧部２０の構成例を図４
の接点部および押圧部の構成要部断面図を用いて説明す
る。
の接点部および押圧部の構成要部断面図を用いて説明す
る。
【００４８】図４（ａ）は高さの不均一な接触面である
接点部および押圧部の構成要部断面図であり、接点部４
および電極３はフォトエッチング加工などにより形成さ
れるため、厳密には同一の高さで形成することは困難で
あり、基準より高さの低い接点部４ａあるいは電極３ａ
が形成されて存在する。
接点部および押圧部の構成要部断面図であり、接点部４
および電極３はフォトエッチング加工などにより形成さ
れるため、厳密には同一の高さで形成することは困難で
あり、基準より高さの低い接点部４ａあるいは電極３ａ
が形成されて存在する。
【００４９】検査する際には、高さにバラツキがあって
も、接点部４、４ａと電極３、３ａをすべて当接させる
必要がある。
も、接点部４、４ａと電極３、３ａをすべて当接させる
必要がある。
【００５０】図４（ｂ）は検査用プレート１１、検査用
基板１が降下し弾性体でなる押圧部材１０が変形して、
接点部４、４ａと電極３、３ａとが当接した状態の要部
断面図であり、バネやゴムなどの弾性体でなる押圧部材
１０を装着することにより検査用基板１との接触面を全
面加圧し、接点部４と電極３をすべて接触させることが
できる。
基板１が降下し弾性体でなる押圧部材１０が変形して、
接点部４、４ａと電極３、３ａとが当接した状態の要部
断面図であり、バネやゴムなどの弾性体でなる押圧部材
１０を装着することにより検査用基板１との接触面を全
面加圧し、接点部４と電極３をすべて接触させることが
できる。
【００５１】しかしながら、弾性体材料では加圧力が全
て一定に付加されることは困難であり、図４（ｃ）の構
成要部断面図に示すように、形状が可変自在な密閉容器
１０ａに充填された水、油、粉体、ペースト状材、空気
などの流体で押圧部材１０を構成すれば、検査用基板１
との接触面の全面をより均一に加圧することが可能にな
る。
て一定に付加されることは困難であり、図４（ｃ）の構
成要部断面図に示すように、形状が可変自在な密閉容器
１０ａに充填された水、油、粉体、ペースト状材、空気
などの流体で押圧部材１０を構成すれば、検査用基板１
との接触面の全面をより均一に加圧することが可能にな
る。
【００５２】また、図４（ｄ）は変形が発生した検査用
基板の要部断面図であり、電極３および接点部４が存在
しない部分で検査用基板１にたわみが発生して接点部４
間のピッチが変動して狭くなることがある。
基板の要部断面図であり、電極３および接点部４が存在
しない部分で検査用基板１にたわみが発生して接点部４
間のピッチが変動して狭くなることがある。
【００５３】したがって、図４（ｅ）の弾性体に突起を
設けた押圧部材でなる押圧部の要部断面図に示すよう
に、下面に部分的に突起１５を設けた形状の弾性体でな
る押圧部材１０を装着することにより、必要とする検査
用基板１との接触面を部分的に加圧することができる。
設けた押圧部材でなる押圧部の要部断面図に示すよう
に、下面に部分的に突起１５を設けた形状の弾性体でな
る押圧部材１０を装着することにより、必要とする検査
用基板１との接触面を部分的に加圧することができる。
【００５４】また、図４（ｆ）は密閉容器に流体を充填
し突起が形成可能な押圧部材でなる押圧部の要部断面図
であり、検査用プレート１１の下面に設置したメッシュ
ブロック１７の内部に、密閉容器１０ａに充填された流
体でなる押圧部材１０を装着し、部分的に発生する突起
１５ａを検査用基板１の接点部４の部分に当接させる押
圧部２０としたものであり、必要とする検査用基板１と
の接触面を部分的にかつ均一に加圧することが可能にな
る。
し突起が形成可能な押圧部材でなる押圧部の要部断面図
であり、検査用プレート１１の下面に設置したメッシュ
ブロック１７の内部に、密閉容器１０ａに充填された流
体でなる押圧部材１０を装着し、部分的に発生する突起
１５ａを検査用基板１の接点部４の部分に当接させる押
圧部２０としたものであり、必要とする検査用基板１と
の接触面を部分的にかつ均一に加圧することが可能にな
る。
【００５５】なお、メッシュブロック１７を用いずに複
数の密閉容器１０ａに充填された流体でなる押圧部材１
０の構成としてもよい。
数の密閉容器１０ａに充填された流体でなる押圧部材１
０の構成としてもよい。
【００５６】他の検査用基板の構成例を図５の検査用基
板の要部断面図を用いて説明する。図５（ａ）は突起部
を設けた検査用基板の要部断面図であり、被検査プリン
ト配線板２の表面は電極３がその厚み分突出しているた
め、検査用基板１における主面１ｂの下面の接点部４以
外の部分に、接点部４と電極３の厚みの和よりやや小さ
い厚みのレジストなどで形成された突起部２２を設ける
ことにより、検査用基板１が変形することが少なくな
る。
板の要部断面図を用いて説明する。図５（ａ）は突起部
を設けた検査用基板の要部断面図であり、被検査プリン
ト配線板２の表面は電極３がその厚み分突出しているた
め、検査用基板１における主面１ｂの下面の接点部４以
外の部分に、接点部４と電極３の厚みの和よりやや小さ
い厚みのレジストなどで形成された突起部２２を設ける
ことにより、検査用基板１が変形することが少なくな
る。
【００５７】図５（ｂ）は窪みを設けた検査用基板の要
部断面図であり、被検査プリント配線板２の表面にダブ
ルレジストや低背な微小部品搭載などで形成された突起
部２３の厚み分が突出している部分には、検査用基板１
における主面１ｂの下面の接点部４以外の部分に窪み２
２ａを設けることにより、検査用基板１が変形すること
が少なくなる。
部断面図であり、被検査プリント配線板２の表面にダブ
ルレジストや低背な微小部品搭載などで形成された突起
部２３の厚み分が突出している部分には、検査用基板１
における主面１ｂの下面の接点部４以外の部分に窪み２
２ａを設けることにより、検査用基板１が変形すること
が少なくなる。
【００５８】検査用基板のクリーニングに関して、図６
の検査用基板のクリーニングの要部構成図を用いて説明
する。
の検査用基板のクリーニングの要部構成図を用いて説明
する。
【００５９】図６（ａ）は検査用基板のクリーニング用
に粘着テープを用いた要部構成図であり、巻出リール２
４に巻回された粘着テープ１４を供出し、モータなどの
駆動機構（図示せず）と連結した巻取リール２５で巻取
る間で、粘着テープ１４の粘着面が接点部４の接触面に
当接するようにクリーニング部２８が構成されている。
に粘着テープを用いた要部構成図であり、巻出リール２
４に巻回された粘着テープ１４を供出し、モータなどの
駆動機構（図示せず）と連結した巻取リール２５で巻取
る間で、粘着テープ１４の粘着面が接点部４の接触面に
当接するようにクリーニング部２８が構成されている。
【００６０】クリーニング部２８は被検査プリント配線
板２の検査を行っていない時に、検査用基板１の接点部
４の接触面を粘着テープ１４の粘着面に接触させてクリ
ーニングを行い、検査中には検査用基板１より離脱させ
て巻取リール２５を回転させ使用済みの粘着テープ１４
を巻取る。
板２の検査を行っていない時に、検査用基板１の接点部
４の接触面を粘着テープ１４の粘着面に接触させてクリ
ーニングを行い、検査中には検査用基板１より離脱させ
て巻取リール２５を回転させ使用済みの粘着テープ１４
を巻取る。
【００６１】クリーニング部２８の粘着テープ１４の粘
着面により、検査用基板１の接点部４に付着したゴミや
異物などを除去し、接点部４と電極３の接触すなわち接
続を確実にすることができる。
着面により、検査用基板１の接点部４に付着したゴミや
異物などを除去し、接点部４と電極３の接触すなわち接
続を確実にすることができる。
【００６２】図６（ｂ）は検査用基板のクリーニング用
にブラシを設置した要部構成図であり、クリーニング部
２８は、直動案内レール２７に移動自在に載置されたブ
ラケット２６と、ブラケット２６に回転自在に保持され
モータなどの駆動機構（図示せず）と連結した円形状の
ブラシ１６で構成されている。
にブラシを設置した要部構成図であり、クリーニング部
２８は、直動案内レール２７に移動自在に載置されたブ
ラケット２６と、ブラケット２６に回転自在に保持され
モータなどの駆動機構（図示せず）と連結した円形状の
ブラシ１６で構成されている。
【００６３】クリーニング部２８は、被検査プリント基
板２の検査を行っていない時に、検査用基板１の接点部
４の接触面がブラシ１６の円周端に接触するように配置
し、ブラシ１６が回転しながら直動案内レール２７に案
内されて移動し、全ての接点部４の接触面をブラッシン
グする。
板２の検査を行っていない時に、検査用基板１の接点部
４の接触面がブラシ１６の円周端に接触するように配置
し、ブラシ１６が回転しながら直動案内レール２７に案
内されて移動し、全ての接点部４の接触面をブラッシン
グする。
【００６４】クリーニング部２８のブラシ１６によるブ
ラッシングにより、検査用基板１の接点部４に付着した
ゴミや異物などを除去し、接点部４と電極３間の接続を
確実にすることができる。
ラッシングにより、検査用基板１の接点部４に付着した
ゴミや異物などを除去し、接点部４と電極３間の接続を
確実にすることができる。
【００６５】以上、被検査プリント配線板２の片面に複
数の電極３を有する場合を説明したが、両面に複数の電
極３を有する場合には、前記と同じ検査用基板１を２枚
として被検査用プリント配線板２を挟持するように設置
し、２枚の検査用基板１を一体化して移動動作させて検
査を行うのである。
数の電極３を有する場合を説明したが、両面に複数の電
極３を有する場合には、前記と同じ検査用基板１を２枚
として被検査用プリント配線板２を挟持するように設置
し、２枚の検査用基板１を一体化して移動動作させて検
査を行うのである。
【００６６】なお、押圧部２０は被検査プリント配線板
２の下面に配置し被検査プリント配線板２を押圧するよ
うにしてもよく、また、検査用基板１の方を絶縁体ある
いは金属体などの剛体に固定し、被検査プリント配線板
２の方を移動動作させて検査を行ってもよく、さらにま
た、検査用基板１の配線端子８は主面１ｂに設け、下方
に接続部１９を配置することも可能である。
２の下面に配置し被検査プリント配線板２を押圧するよ
うにしてもよく、また、検査用基板１の方を絶縁体ある
いは金属体などの剛体に固定し、被検査プリント配線板
２の方を移動動作させて検査を行ってもよく、さらにま
た、検査用基板１の配線端子８は主面１ｂに設け、下方
に接続部１９を配置することも可能である。
【００６７】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、電極密度
が高いプリント配線板の検査を容易に、かつ確実に行う
ことができるという有利な効果が得られる。
が高いプリント配線板の検査を容易に、かつ確実に行う
ことができるという有利な効果が得られる。
【図１】本発明の実施の形態におけるプリント配線板の
検査装置の要部断面図
検査装置の要部断面図
【図２】（ａ）配線部および配線端子を２個とした被検
査用基板の構成要部断面図 （ｂ）２個のスプリングプローブが弾接できる配線端子
形状の検査用基板の構成要部断面図 （ｃ）２個の接点部が電極に当接する形状の検査用基板
の構成要部断面図
査用基板の構成要部断面図 （ｂ）２個のスプリングプローブが弾接できる配線端子
形状の検査用基板の構成要部断面図 （ｃ）２個の接点部が電極に当接する形状の検査用基板
の構成要部断面図
【図３】（ａ）先端が平面の突起でなる接点部の要部断
面図 （ｂ）先端が針状の突起でなる接点部の要部断面図 （ｃ）先端が曲面の突起でなる接点部の要部断面図 （ｄ）先端が複数の突起でなる接点部の要部断面図
面図 （ｂ）先端が針状の突起でなる接点部の要部断面図 （ｃ）先端が曲面の突起でなる接点部の要部断面図 （ｄ）先端が複数の突起でなる接点部の要部断面図
【図４】（ａ）高さの不均一な接触面である接点部の構
成要部断面図 （ｂ）弾性体の材料でなる押圧部の構成要部断面図 （ｃ）流体でなる押圧部の構成要部断面図 （ｄ）変形状態の検査基板の要部断面図 （ｅ）突起を設けた弾性体の材料でなる押圧部の構成要
部断面図 （ｆ）突起が形成可能な密閉された流体でなる押圧部の
構成要部断面図
成要部断面図 （ｂ）弾性体の材料でなる押圧部の構成要部断面図 （ｃ）流体でなる押圧部の構成要部断面図 （ｄ）変形状態の検査基板の要部断面図 （ｅ）突起を設けた弾性体の材料でなる押圧部の構成要
部断面図 （ｆ）突起が形成可能な密閉された流体でなる押圧部の
構成要部断面図
【図５】（ａ）部分的に突起を設けた検査用基板の要部
断面図 （ｂ）部分的に窪みを設けた検査用基板の要部断面図
断面図 （ｂ）部分的に窪みを設けた検査用基板の要部断面図
【図６】（ａ）粘着テープでクリーニングを行う検査用
基板の要部断面図（ｂ）ブラシでクリーニングを行う検
査用基板の要部断面図
基板の要部断面図（ｂ）ブラシでクリーニングを行う検
査用基板の要部断面図
【図７】従来におけるプリント配線板の検査装置の要部
構成図
構成図
１ 検査用基板 １ｂ 主面 １ｃ 他面 １ｄ 端面 ２ 被検査プリント配線板 ３，３ａ 電極 ４，４ａ 接点部 ５，５ａ 絶縁基材 ６ 導電性物質 ７ 配線パターン ８ 配線端子 ９ スプリングプローブ １０ 押圧部材 １０ａ 密閉容器 １１ 検査用プレート １２ ホルダー １３，１３ａ，１３ｂ，１３ｃ 突起 １４ 粘着テープ １５，１５ａ 突起 １６ ブラシ １７ メッシュブロック １８ 検査部 １９ 接続部 ２０ 押圧部 ２１ 配線部 ２２，２３ 突起部 ２２ａ 窪み ２４ 巻出リール ２５ 巻取リール ２６ ブラケット ２７ 直動案内レール ２８ クリーニング部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−25564（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−34372（ＪＰ，Ａ) 特開 平７−128368（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−188085（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−2945（ＪＰ，Ａ) 特開 平７−55839（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−302377（ＪＰ，Ａ) 特開 平７−270474（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−308159（ＪＰ，Ａ) 特開 昭54−29053（ＪＰ，Ａ) 特開 平９−211073（ＪＰ，Ａ) 特開 平11−40293（ＪＰ，Ａ) 実開 平７−6777（ＪＰ，Ｕ) 実開 平４−76040（ＪＰ，Ｕ) 特公 昭63−14307（ＪＰ，Ｂ１) 特公 平４−7475（ＪＰ，Ｂ２) 実公 平４−5022（ＪＰ，Ｙ２) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01R 31/02 G01R 1/073 G01R 31/28
Claims (11)
- 【請求項１】 被検査プリント配線板に形成された電極
と対向した位置に接点部を、他面に接点部から多層状に
引出し配線する配線部を介して配線端子を設けた検査用
基板と、検査用プレートに装着され配線端子の一端と接
続する伸縮自在な接続部と、検査用基板と検査用プレー
トの間に装着した接点部を電極に当接させるために押圧
する上下移動自在の押圧部と、接続部の他端が接続され
て被検査プリント配線板の電気的接続状態を測定検査す
る検査部とを含み、前記被検査プリント配線板の電極側
表面の凹形状に対応して前記検査用基板の変形を抑制す
る突起を前記検査用基板の前記接点部以外の面部分に設
けてなるプリント配線板の検査装置。 - 【請求項２】 配線端子を被検査プリント配線板の外形
の外側に位置した検査用基板上に配置してなる請求項１
に記載のプリント配線板の検査装置。 - 【請求項３】 各々２個の接続部で対応する各配線端子
と接続する構成でなる請求項１に記載のプリント配線板
の検査装置。 - 【請求項４】 各々２個の接点部で対向する各電極と当
接する構成でなる請求項１に記載のプリント配線板の検
査装置。 - 【請求項５】 先端形状が平坦、曲面あるいは針状の１
個あるいは複数の突起でなる接点部とする請求項１に記
載のプリント配線板の検査装置。 - 【請求項６】 突起の高さを０．０１ｍｍ以上とする請
求項５に記載のプリント配線板の検査装置。 - 【請求項７】 弾性体の部材で形成してなる押圧部とす
る請求項１に記載のプリント配線板の検査装置。 - 【請求項８】 検査用基板に当接する部分的に突起を設
けてなる押圧部とする請求項７に記載のプリント配線板
の検査装置。 - 【請求項９】 密閉された流体で形成してなる押圧部と
する請求項１に記載のプリント配線板の検査装置。 - 【請求項１０】 押圧部が部分的に突起可能の構造とす
る請求項９に記載のプリント配線板の検査装置。 - 【請求項１１】 検査用基板の接点部をクリーニングす
る粘着フィルムあるいはブラシを付属してなる請求項１
に記載のプリント配線板の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20883397A JP3252765B2 (ja) | 1997-08-04 | 1997-08-04 | プリント配線板の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20883397A JP3252765B2 (ja) | 1997-08-04 | 1997-08-04 | プリント配線板の検査装置 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28558599A Division JP3269492B2 (ja) | 1999-10-06 | 1999-10-06 | プリント配線板の検査装置および検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1151998A JPH1151998A (ja) | 1999-02-26 |
| JP3252765B2 true JP3252765B2 (ja) | 2002-02-04 |
Family
ID=16562871
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20883397A Expired - Fee Related JP3252765B2 (ja) | 1997-08-04 | 1997-08-04 | プリント配線板の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
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| JP4410026B2 (ja) * | 2003-07-10 | 2010-02-03 | 株式会社東芝 | 電子部品複合体，電子部品のテスト方法，および電子部品の製造方法 |
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|---|---|---|---|---|
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| JPS5654096A (en) * | 1979-10-05 | 1981-05-13 | Nippon Electric Co | Device for inspecting printed board |
| JPS59163967U (ja) * | 1983-04-20 | 1984-11-02 | 株式会社フジクラ | プリント回路板検査装置 |
| JPS59206776A (ja) * | 1983-05-10 | 1984-11-22 | Ibiden Co Ltd | プリント配線板の検査装置 |
| DE8617408U1 (de) * | 1986-06-30 | 1986-08-21 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Kontaktiervorrichtung für zu prüfende Bauelemente der Mikroelektronik |
| JP2585597B2 (ja) * | 1987-06-02 | 1997-02-26 | 東京エレクトロン株式会社 | 回路基板検査装置 |
| JPH022945A (ja) * | 1988-06-14 | 1990-01-08 | Toppan Printing Co Ltd | 検査位置変換装置 |
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| JPH0534372A (ja) * | 1991-08-02 | 1993-02-09 | Japan Synthetic Rubber Co Ltd | 回路基板の検査装置 |
| JPH05188085A (ja) * | 1992-01-09 | 1993-07-27 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 回路検査装置 |
| JPH06308159A (ja) * | 1993-04-22 | 1994-11-04 | Nitto Denko Corp | テストヘッド構造およびその製造方法 |
| JPH076777U (ja) * | 1993-06-28 | 1995-01-31 | サワダエステイビー株式会社 | コンタクトプローブのクリーニング装置 |
| JPH0755839A (ja) * | 1993-08-11 | 1995-03-03 | Nitto Denko Corp | プローブ構造 |
| JPH07128368A (ja) * | 1993-10-30 | 1995-05-19 | Suzuki Motor Corp | コンタクトピン清掃シート |
| JPH07270474A (ja) * | 1994-03-31 | 1995-10-20 | Hitachi Ltd | テスト治具 |
| JPH09211073A (ja) * | 1996-01-31 | 1997-08-15 | Nec Corp | フリップチップ接続基板の検査装置 |
| JPH1140293A (ja) * | 1997-07-23 | 1999-02-12 | Jsr Corp | 積層型コネクターおよび回路基板検査用アダプター装置 |
-
1997
- 1997-08-04 JP JP20883397A patent/JP3252765B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| JPH1151998A (ja) | 1999-02-26 |
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