JP3060673B2 - 半導体集積回路 - Google Patents

半導体集積回路

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JP3060673B2 JP3324089A JP32408991A JP3060673B2 JP 3060673 B2 JP3060673 B2 JP 3060673B2 JP 3324089 A JP3324089 A JP 3324089A JP 32408991 A JP32408991 A JP 32408991A JP 3060673 B2 JP3060673 B2 JP 3060673B2
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  • Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体集積回路に関し、
特にチャネル型およびチャネルレス型のCMOSゲート
アレイおよびスタンダートセルの基本トランジスタ(以
後、Trと称する。)に関する。
【0002】
【従来の技術】図5は、従来の半導体集積回路を示した
図である。
【0003】従来のTrは、図に示すようにP型半導体
基板6(以後、基板と称する。)にN型ウェル領域7
(以後、Nウェルと称する。)およびP型ウェル領域8
(以後、Pウェルと称する。)が形成され、Nウェル
内、その周辺に設けたN+ 型ガード領域4−1と4−2
(以後、N+ ガードと称する。)とをはさんでP+ 型ソ
ースおよびドレイン領域1(以後、P+ フィールドと称
する。)およびゲート電極3(以後、ゲートと称す
る。)を形成したPチャネルMOSトランジスタ(以
後、PchTrと称する)を有しPウェル内、その周辺
に設けたP+ 型ガード領域5−1と5−2(以後、P+
ガードと称する。)とをはさんでN+ 型ソースおよびド
レイン領域2(以後、N+ フィールドと称する。)およ
びPchTrのゲートと同電位の該ゲート3を形成した
NチャネルMOSトランジスタ(以後、NchTrと称
する。)を有している。
【0004】また、レイアウト上各端子の接続にはコン
タクト(スルーホールを含む)およびアルミ合金の配線
(以後配線と称する。)を用いるが現状CADを使い自
動配線を行うので、該コンタクトおよび配線はある一定
の格子上の間隔で設置される。y軸方向上のm,m+
1,m+2…の格子上とx軸方向上にn,n+1…の格
子上に該コンタクトおよび配線が配置される。したがっ
て、1つのゲート3として、配線と接続する為のコンタ
クトはy軸方向のm格子上にしか設置できず、格子交点
(m,n,n+1)9で2ケ所のうちのどれかでコンタ
クトを設置するしかなかった。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】従来の図5に示すよう
な基本トランジスタ形状での簡易なインバータは図6に
従来のインバータの構成をして示すように、VDD電源
配線10を(n+4)のx軸方向の格子上に走らせ、
(m+1)のy軸方向の格子との交点にコンタクト12
−1を置き、(n−3)のx軸方向の格子上にGND電
源配線11を走らせ、(m+1)のy軸方向の格子との
交点にコンタクト12−2の置き、(m)のy軸方向の
格子上で(n+3),(n+2),(n−1),(n−
2)のx軸方向の格子との交点にコンタクト12−3〜
12−6を置き、該コンタクト12−3〜12−6を配
線13で結線した構成を有する。
【0006】これより、ゲート3の格子交点9が他の配
線で覆われてしまっているので、他のブロックの端子と
結線が不可能になってしまっていた。
【0007】図7は、従来のインバータの別の構成図で
ある。他方で、ゲート3の格子交点9を配線で覆われず
にコンタクト12−3,12−4とコンタクト12−
5,12−6と結線するには、図7に示すように隣の格
子へう回しながら結線13するしかなかった。しかし、
y軸方向の格子を1格子分多く使用するので配線効率が
悪くなるという課題があった。
【0008】本発明は上述の課題に鑑みてなされたもの
であり、配線効率上問題となる迂回路結線などは行わず
コンタクトを設置できる半導体集積回路を提供すること
を目的としている。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体集積回路
は、第1の極性を有する半導体基板に第2の極性を有す
るウェル領域が形成され前記第2の極性を有するウェル
領域内その周辺に設けた第2の極性を有するガード領域
と、第1の極性を有するソースおよびドレイン領域およ
びゲート電極とを形成した第1の極性を有するチャネル
型MOSトランジスタを有し、該半導体基板内の前記ウ
ェル領域外に設けた第1の極性を有するガード領域と、
第2の極性を有するソースおよびドレイン領域および前
記ゲート電極と同電位のゲート電極とを形成した第2の
極性を有するチャネル型MOSトランジスタを有する、
チャネル型およびチャネルレス型のCMOSゲートアレ
イおよびスタンダードセルの内部基本トランジスタにお
いて、前記ゲート電極はx軸方向およびy軸方向のどち
らか一方上で自動配線に使用される格子の交点すなわち
コンタクトを3点以上設置確保可能な面積のゲートパッ
ドを有することを特徴とする。
【0010】
【作用】上記の構成によれば、第1の極性を同一半導体
基板上に形成された同電位のゲート電極を有する第1の
極性を有するチャネル型MOSトランジスタと第2の極
性を有するチャネル型MOSトランジスタのCMOSゲ
ートアレイのゲート電極は、自動配線に使用するx軸y
軸どちらか一方向上で格子の交点となるコンタクトを3
点以上設置確保可能な面積のゲートパッドを備えるの
で、CADによる自動配線効率を上げることができる。
【0011】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。
【0012】図1は本発明の一実施例の半導体集積回路
を示した図である。
【0013】図1において、基板6にNウェル7および
Pウェル8が形成され、Nウェル7内(第2の極性)そ
の周辺に設けたN+ ガード4−1と4−2とをはさんで
+ フィールド1およびゲート3を形成したPchTr
(第1の極性)を有し、Pウェル8内その周辺に設けた
+ ガード5−1と5−2とをはさんでN+ フィールド
2およびPchTrのゲートと同電位の該ゲート3を形
成したNchTrを有している。
【0014】前記述のゲート3は、x軸方向に格子交点
を3点設置可能な面積のゲートパッド14を有する。
【0015】図2は、本発明のTrによるインバータの
構成図である。
【0016】図3は本発明のゲートパッドの拡大図であ
る。図3のゲートパッド14によって、図2に示すよう
に1つのy軸方向の格子上でP+ フィールド1とN+
ィールド2とを配線したとしても、他の格子交点(m−
1,n+1)を有するゲートパッド14が残っているの
でゲート3への配線が可能となる。一方従来例で図7で
示すようにy軸方向の格子も2本使用しているので、例
えばインバータを数多く使用している回路であるほどP
chTrおよびNchTr領域内のy軸方向の格子が少
なくなっていく方向にあった。
【0017】以上、本発明の一実施例であるTrは、P
+ フィールド1とN+ フィールド2を同一格子上で配線
を必要とする素子が多い回路において、CADによる自
動配線時による未接続配線の発生率を低く抑える効果を
有することになる。
【0018】つぎに本発明の第2の実施例を示す。
【0019】図4は、本発明の第2実施例による半導体
集積回路を示した図である。第2の実施例の場合は図4
に示すようにゲート3におけるゲートパッド14の余裕
が、第1の実施例の場合より広く、コンタクトの格子交
点は(m−1,n),(m,n+1)を含め4点とって
いる。
【0020】他の構成,効果については第1の実施例と
同様であるので説明は省略する。
【0021】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、基板6に
Nウェル7およびPウェル8が形成され、Nウェル内そ
の周辺にN+ ガード4−1と4−2とをはさんでP+
ィールド1およびゲート3を形成したPchTrを有
し、Pウェル8内その周辺に設けたP+ ガード5−1と
5−2とをはさんでN+ フィールド2およびPchTr
のゲートと同電位の該ゲート3を形成したNchTrを
有したTrにおいて、前記述のゲート3はx軸方向に格
子交点を複数点設置可能な面積のゲートパッドを有する
ので、P+ フィールドとN+ フィールド2とを同一格子
上で配線を必要とする素子が多い回路においてCADに
よる自動配線時による未接続配線の発生率を低く抑える
効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例による半導体集積回路を示し
た図である。
【図2】本発明のTrによるインバータの構成図であ
る。
【図3】本発明のゲートパッドの拡大図である。
【図4】本発明の第2の実施例による半導体集積回路を
示した図である。
【図5】従来の半導体集積回路を示した図である。
【図6】従来のTrによるインバータの構成図である。
【図7】従来のインバータの別の構成図である。
【符号の説明】
1 P+ 型ソースおよびドレイン領域 2 N+ 型ソースおよびドレイン領域 3 ゲート電極 4−1,4−2 N+ 型ガード領域 5−1,5−2 P+ 型ガード領域 6 P型半導体基板 7 N型ウェル領域 8 P型ウェル領域 9 格子交点 10 VDD電源配線 11 GND電源配線 12−1〜12−6 コンタクト 13 配線 14 ゲートパッド
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 27/092 H01L 21/82 H01L 27/118

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1の極性を有する半導体基板に第2の
    極性を有するウェル領域が形成され、前記第2の極性を
    有するウェル領域内にゲート電極および第1の極性を有
    するソースおよびドレイン領域を形成した第1の極性を
    有するチャネル型MOSトランジスタを有し、該半導体
    基板内の前記ウェル領域外にコンタクトを介することな
    く前記ゲート電極と接続されたゲート電極および第2の
    極性を有するソースおよびドレイン領域を形成した第2
    の極性を有するチャネル型MOSトランジスタを有する
    チャネル型またはチャネルレス型のCMOSゲートアレ
    又はスタンダードセルの内部基本トランジスタにおい
    て、 前記ゲート電極はゲートパッドを有し、自動配線に使用
    されると共にコンタクトを設置可能な格子の交点とし
    て、前記内部基本トランジスタのチャンネル幅方向に直
    交するx軸方向および前記x軸に直交するy軸方向に各
    々複数の前記格子の交点を前記ゲートパッド領域内に含
    むことを特徴とする半導体集積回路。
  2. 【請求項2】 第1の極性を有する半導体基板に第2の
    極性を有するウェル領域が形成され、前記第2の極性を
    有するウェル領域内にゲート電極および第1の極性を有
    するソースおよびドレイン領域を形成した第1の極性を
    有するチャネル型MOSトランジスタを有し、 該半導体基板内の前記ウェル領域外にコンタクトを介す
    ることなく前記ゲート電極と接続されたゲート電極およ
    び第2の極性を有するソースおよびドレイン領域を形成
    した第2の極性を有するチャネル型MOSトランジスタ
    を有するチャネル型またはチャネルレス型のCMOSゲ
    ートアレイ又はスタンダードセルの内部基本トランジス
    タにおいて、 前記ゲート電極はゲートパッドを有し、自動配線に使用
    されると共にコンタクトを設置可能な格子の交点とし
    て、前記内部基本トランジスタのチャンネル幅方向に直
    交するx軸方向に3点および前記x軸方向に直交する
    軸方向に2点の前記格子の交点を前記ゲートパッド領域
    内に含むことを特徴とする半導体集積回路。
  3. 【請求項3】 前記x軸方向に3点の格子の交点のうち
    中心に位置する格子の交点よりy軸方向に2点の前記格
    子の交点を有することを特徴とする請求項2記載の半導
    体集積回路。
  4. 【請求項4】 前記x軸方向に3点の格子の交点のうち
    前記内部基本トランジスタの内側から外側に向かってx
    軸方向に2点目及び3点目の格子の交点よりy軸方向に
    各々2点の前記格子の交点を有することを特徴とする請
    求項2記載の半導体集積回路。
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