JP2967344B2 - 積層型半導体パッケージモジュール及び積層型半導体パッケージモジュールの製造方法 - Google Patents

積層型半導体パッケージモジュール及び積層型半導体パッケージモジュールの製造方法

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、ボールグ
リッドアレイ(Ball Grid Array ;以下、BGAと称
す)等の積層型半導体パッケージモジュール及びその製
造方法に関し、特に、半導体の高集積化を図る技術に関
する。
【0002】
【従来の技術】従来の半導体パッケージ、例えば、図5
に示すようなBGA半導体パッケージの構成において
は、非導電性の基板本体11の上面に、複数のチップパッ
ド(図示せず)を有する半導体チップ13が接着剤15によ
り付着される。基板本体11の内部には、半導体チップ13
への配線となる複数の電導線(図示せず)が内設され、
半導体チップ13のチップパッドと電導線の一端とが複数
の金属ワイヤ17により電気的に夫々接続される。また、
基板本体11の上面には、半導体チップ13と金属ワイヤ17
とを密封するエポキシ(EPOXY )化合物が盛上成形され
た成形部18が形成され、基板本体11の下面の各電導線の
他端に、複数のソルダーボール19が付着される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うに構成された半導体パッケージにおいては、基板本体
11の上面に成形部18を形成する構成であるため、半導体
パッケージを効率的に積層することができず、例えば、
高集積メモリモジュールの製造が困難であるという不具
合な点があった。
【0004】そこで、本発明はこのような従来の課題に
鑑み、基板本体に形成されたキャビティ内部に半導体チ
ップを収納すると共に、キャビティ内部に成形部を形成
するようにすることで、高集積化を図り得る積層型半導
体パッケージモジュール及び積層型半導体パッケージモ
ジュールの製造方法を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】このため、請求項1記載
の発明は、半導体チップと、該半導体チップが収納され
るキャビティが上面かつ略中央部に形成され、かつ、当
該半導体チップへの配線となる複数の電導線が内設され
た非導電性の基板本体と、前記半導体チップと電導線の
一端とを電気的に接続する導電性ワイヤと、前記基板本
体のキャビティに充填され、前記半導体チップと導電性
ワイヤとを密封する密封部材と、を含んで構成される半
導体パッケージを複数積層して形成された積層型半導体
パッケージモジュールであって、前記キャビティは、上
面が略水平に形成された段部を有する形状をなし、前記
キャビティ周囲の基板本体には、該基板本体の上面と下
面とを貫通する複数のビアホールが形成され、前記電導
線は、前記段部の上面とビアホール内部とを接続するよ
うに設けられたことを特徴とする。
【0006】かかる構成によれば、半導体パッケージを
複数積層して積層型半導体パッケージモジュールが形成
されるので、制限された面積内で高集積化が行われる。
また、上記のような段部及び電導線の構成は、従来より
もワイヤボンディング工程を容易にすると共に、ワイヤ
の高さ及び長さを縮小させる。
【0007】請求項2記載の発明は、前記複数のビアホ
ールの内部に充填された導電性物質と、該導電性物質と
電気的に接続しつつ、前記基板本体の上面及び下面に夫
々形成される導電性の外部端子と、をさらに含んだ構成
であることを特徴とする。
【0008】かかる構成によれば、導電性物質は基板本
体内に内設された各電導線の電気信号を基板本体の上面
及び下面に伝達する役割を行い、且つ、各外部端子は基
板本体を複層に積層するとき、或いは、印刷回路基板
(PCB)に実装するとき、各基板本体間、又は基板本
体と印刷回路基板間の電気的な接続を容易にさせる。
【0009】請求項3記載の発明は、半導体チップへの
配線となる複数の電導線が内設された非導電性の基板本
体を製作する工程と、該基板本体の上面かつ略中央部
に、上面が略水平に形成された段部を有し、かつ、前記
半導体チップが収納されるキャビティ(Cavity)を形成
する工程と、該キャビティ周囲の基板本体に、該基板本
体の上面と下面とを貫通する複数のビアホール(Via Ho
le)を夫々形成する工程と、前記キャビティ底面上に、
前記半導体チップを付着する工程と、該半導体チップと
前記電導線の一端とを複数の導電性ワイヤにより電気的
に夫々接続するワイヤボンディング工程と、前記キャビ
ティ内部に、前記半導体チップと導電性ワイヤとを密封
する密封部材を充填する工程と、を施して半導体パッケ
ージを製造した後、前記半導体パッケージの各ビアホー
ルが略一直線上に整列するように、該半導体パッケージ
を複数積層する工程と、該整列された各ビアホールの内
部に、導電性物質を充填する充填工程と、該導電性物質
と電気的に接続されるように、前記最上層の半導体パッ
ケージの上面と最下層の半導体パッケージの下面とに複
数の導電性の外部端子を夫々形成する端子形成工程と、
を含んで構成され、前記基板本体を製作する工程では、
前記電導線が前記キャビティの段部の上面とビアホール
の内部とを接続するように設けられることを特徴とす
る。
【0010】かかる構成によれば、制限された面積内で
高集積化した積層型半導体パッケージモジュールを製造
することが可能で、上記ビアホールにより各積層型半導
体パッケージを整列して積層することが一層容易にな
る。
【0011】請求項4記載の発明は、前記充填工程は、
前記整列された各ビアホールの内部に、ソルダーバー
(Solder Bar)を挿入する工程と、該ソルダーバーをリ
フロー(Reflow)させて凝固させる工程と、を含んだ構
成であることを特徴とする。
【0012】かかる構成によれば、半導体チップの電気
的信号が、ソルダーバーを介して外部に伝達される。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る積層型半導体
パッケージモジュール及び積層型半導体パッケージモジ
ュールの製造方法を添付した図面に基づいて説明する。
本発明の一実施形態に係る半導体基板においては、図1
に示すように、パターン化された複数の電導線22(詳細
は後述する)が内設された非電導性の基板本体21が形成
され、該基板本体21の上面かつ略中央部に、上面が略水
平に形成された段部23を有するキャビティ(Cavity)24
が切刻形成されている。該キャビティ24の周囲の基板本
体11には、上記基板本体11の上面と下面とを貫通する複
数のビアホール(Via Hole)25が穿孔形成されている。
ここで、上記各電導線22は、その一端が上記段部23の上
面に露出され、その他端が上記各ビアホール25内に露出
するように内設されている。
【0014】また、上記各ビアホール25の内部は、ソル
ダーバーのような導電性物質からなる金属バー(Metal
Bar )26により充填され、上記基板本体21の上面及び下
面には、金属バー26の両端に夫々電気的に接続された電
導性の外部端子27が夫々付着されている。ここで、上記
金属バー26及び外部端子27は、必要に応じて選択的に構
成することができる。
【0015】又、本発明の一実施形態に係る半導体パッ
ケージは、上述した半導体基板を用いて半導体パッケー
ジをパッケージングしたもので、その構成においては、
図2に示すように、上記キャビティ24の底面上に、接着
剤等の接着部材31を媒介して付着された半導体チップ33
と、該半導体チップ33と上記各電導線22の一端とを電気
的に接続した複数の導電性ワイヤ35と、上記半導体チッ
プ33と上記各ワイヤ35とを密封すべく、上記キャビティ
24内に充填されたエポキシ(EPOXY )化合物等からなる
成形化合物37と、を含んで構成されている。
【0016】更に、図3(A)〜(D)に基づいて本発
明の一実施形態に係る半導体パッケージの製造方法を説
明すると、先ず、図3(A)に示すように、パターン化
された複数の電導線22が内設された非電導性の基板本体
21を製作し、該基板本体21の上面かつ略中央部に、上面
が略水平に形成された段部23を有したキャビティ24を切
刻形成した後、該キャビティ24の周囲の基板本体21に、
該基板本体21の上面と下面とを貫通する複数のビアホー
ル25を穿孔形成する。このとき、上記各電導線22は、そ
の一端が上記段部23の上面に露出され、その他端が上記
ビアホール25内に露出するようにパターニングされてい
る。
【0017】次いで、図3(B)に示すように、上記キ
ャビティ24の底面上に、接着剤等の接着部材31を媒介に
して半導体チップ33を付着し、該半導体チップ33と上記
各電導線22との間を導電性ワイヤ35により夫々電気的に
接続するワイヤボンディング工程を行う。次いで、図3
(C)に示すように、上記キャビティ24内に、成形化合
物37を充填し、上記半導体チップ33と上記各ワイヤ35と
を密封する成形工程を行う。
【0018】次いで、図3(D)に示すように、上記各
ビアホール25内に、ソルダーバーのような導電性物質か
らなる金属バー26を充填する充填工程並びに、上記各金
属バー26の両端に、電気的に接続するように上記基板本
体21の上面及び下面にソルダーボールのような導電性の
外部端子27を夫々付着する工程を選択的に施して構成す
ることもできる。上記充填工程は、上記各ビアホール25
内にソルダーバーを挿入する工程と、該ソルダーバーを
リフロー(Reflow)させて凝固させる工程と、を夫々施
すようになっている。
【0019】又、図4(A)〜(C)に基づいて本発明
の一実施形態に係る積層型半導体パッケージモジュール
の製造方法を説明すると、先ず、図4(A)に示すよう
に、図3(D)に図示された各半導体パッケージ100,11
0,120 を複層に積層するが、このとき、各半導体パッケ
ージ100、110、120 に穿孔形成された複数のビアホール25
を利用し正確に整列積層する。即ち、各半導体パッケー
ジ100、110、120 のビアホール25が略一直線上に整列する
ように、半導体パッケージ100、110、120 を積層すること
で、半導体パッケージ100、110、120 が正確に整列積層さ
れる。
【0020】次いで、図4(B)に示すように、上記整
列された各ビアホール25内に導電性物質からなる金属バ
ー26を夫々充填する充填工程を行うが、該充填工程は、
上記整列された各ビアホール25内にソルダーバーを挿入
する工程と、それらソルダーバーをリフローさせて凝固
させる工程と、を施すようになっている。最後に、図4
(C)に示すように、上記最上層の半導体パッケージ12
0 の上面及び最下層の半導体パッケージ100 の下面に、
上記各金属バー26の両端と電気的に接続するように、複
数の導電性の外部端子27を付着する工程を施して、本発
明に係る積層型半導体パッケージモジュールの製造を終
了する。
【0021】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る積層
型半導体パッケージモジュールによれば、半導体パッケ
ージを複数積層して積層型半導体パッケージモジュール
が形成されるので、制限された面積内で高集積化を行う
ことができる。また、本発明に係る半導体パッケージモ
ジュールの製造方法によれば、半導体パッケージモジュ
ールを容易に製造することができる。さらに、積層型半
導体パッケージモジュールを製造する際に、半導体パッ
ケージに穿孔形成された複数のビアホールが略一直線上
に整列するように積層すれば、各パッケージを正確に整
列積層することができると共に、ビアホール内に充填さ
れた導電性物質により各半導体チップを正確かつ簡単に
電気的に接続し得るという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の一実施形態に係る半導体基板を示し
た断面図
【図2】 本発明の一実施形態に係る半導体パッケージ
を示した断面図
【図3】 本発明の一実施形態に係る半導体パッケージ
の製造方法を示し、(A)は第1工程図、(B)は第2
工程図、(C)は第3工程図、(D)は第4工程図
【図4】 本発明の一実施形態に係る積層型半導体パッ
ケージモジュールの製造方法を示し、(A)は第1工程
図、(B)は第2工程図、(C)は第3工程図
【図5】 従来のボールグリッドアレイ(BGA)半導
体パッケージの構成を示した断面図
【符号の説明】
21:基板本体 22:電導線 23:段部 24:キャビティ(Cavity) 25:ビアホール(Via Hole) 26:金属バー 27:外部端子 31:接着部材 33:半導体チップ 35:導電性ワイヤ 37:成形化合物 100、110、120:半導体パッケージ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平7−226456(JP,A) 特開 平8−204056(JP,A) 特開 平9−102559(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H01L 23/12 H01L 23/52

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】半導体チップと、 該半導体チップが収納されるキャビティが上面かつ略中
    央部に形成され、かつ、当該半導体チップへの配線とな
    る複数の電導線が内設された非導電性の基板本体と、 前記半導体チップと電導線の一端とを電気的に接続する
    導電性ワイヤと、 前記基板本体のキャビティに充填され、前記半導体チッ
    プと導電性ワイヤとを密封する密封部材と、 を含んで構成される半導体パッケージを複数積層して形
    成された積層型半導体パッケージモジュールであって、 前記キャビティは、上面が略水平に形成された段部を有
    する形状をなし、 前記キャビティ周囲の基板本体には、該基板本体の上面
    と下面とを貫通する複数のビアホールが形成され、 前記電導線は、前記段部の上面とビアホール内部とを接
    続するように設けられたこと を特徴とする積層型半導体
    パッケージモジュール。
  2. 【請求項2】前記複数のビアホールの内部に充填された
    導電性物質と、 該導電性物質と電気的に接続しつつ、前記基板本体の上
    面及び下面に夫々形成される導電性の外部端子と、 を含んだ構成である請求項1記載の積層型半導体パッケ
    ージモジュール
  3. 【請求項3】半導体チップへの配線となる複数の電導線
    が内設された非導電性の基板本体を製作する工程と、 該基板本体の上面かつ略中央部に、上面が略水平に形成
    された段部を有し、かつ、前記半導体チップが収納され
    るキャビティを形成する工程と、 該キャビティ周囲の基板本体に、該基板本体の上面と下
    面とを貫通する複数のビアホールを夫々形成する工程
    と、 前記キャビティ底面上に、前記半導体チップを付着する
    工程と、 該半導体チップと前記電導線の一端とを複数の導電性ワ
    イヤにより電気的に夫々接続するワイヤボンディング工
    程と、 前記キャビティ内部に、前記半導体チップと導電性ワイ
    ヤとを密封する密封部材を充填する工程と、 を施して半導体パッケージを製造した後、 前記半導体パッケージの各ビアホールが略一直線上に整
    列するように、該半導体パッケージを複数積層する工程
    と、 該整列された各ビアホールの内部に、導電性物質を充填
    する充填工程と、 該導電性物質と電気的に接続されるように、前記最上層
    の半導体パッケージの上面と最下層の半導体パッケージ
    の下面とに複数の導電性の外部端子を夫々形成する端子
    形成工程と、 を含んで構成され、 前記基板本体を製作する工程では、前記電導線が前記キ
    ャビティの段部の上面とビアホールの内部とを接続する
    ように設けられることを特徴とする積層型半導体パッケ
    ージモジュールの製造方法。
  4. 【請求項4】前記充填工程は、 前記整列された各ビアホールの内部に、ソルダーバーを
    挿入する工程と、 該ソルダーバーをリフローさせて凝固させる工程と、 を含んだ構成である請求項3記載の積層型半導体パッケ
    ージモジュールの製造方法。
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Families Citing this family (57)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6297548B1 (en) 1998-06-30 2001-10-02 Micron Technology, Inc. Stackable ceramic FBGA for high thermal applications
US6313522B1 (en) 1998-08-28 2001-11-06 Micron Technology, Inc. Semiconductor structure having stacked semiconductor devices
KR100302593B1 (ko) 1998-10-24 2001-09-22 김영환 반도체패키지및그제조방법
JP3538045B2 (ja) * 1998-12-09 2004-06-14 三菱電機株式会社 Rf回路モジュール
KR20010068781A (ko) * 2000-01-10 2001-07-23 윤종용 반도체 칩 패키지
JP4251421B2 (ja) * 2000-01-13 2009-04-08 新光電気工業株式会社 半導体装置の製造方法
AU2001234610A1 (en) * 2000-01-31 2001-08-07 Joseph L. Chovan Micro electro-mechanical component and system architecture
DE10007414B4 (de) 2000-02-18 2006-07-06 eupec Europäische Gesellschaft für Leistungshalbleiter mbH & Co. KG Verfahren zur Durchkontaktierung eines Substrats für Leistungshalbleitermodule durch Lot und mit dem Verfahren hergestelltes Substrat
US6586836B1 (en) * 2000-03-01 2003-07-01 Intel Corporation Process for forming microelectronic packages and intermediate structures formed therewith
JP3722209B2 (ja) * 2000-09-05 2005-11-30 セイコーエプソン株式会社 半導体装置
JP2002305286A (ja) * 2001-02-01 2002-10-18 Mitsubishi Electric Corp 半導体モジュールおよび電子部品
US6734538B1 (en) 2001-04-12 2004-05-11 Bae Systems Information & Electronic Systems Integration, Inc. Article comprising a multi-layer electronic package and method therefor
JP3999945B2 (ja) * 2001-05-18 2007-10-31 株式会社東芝 半導体装置の製造方法
US6765287B1 (en) 2001-07-27 2004-07-20 Charles W. C. Lin Three-dimensional stacked semiconductor package
US6451626B1 (en) 2001-07-27 2002-09-17 Charles W.C. Lin Three-dimensional stacked semiconductor package
US20030042615A1 (en) 2001-08-30 2003-03-06 Tongbi Jiang Stacked microelectronic devices and methods of fabricating same
KR100435813B1 (ko) * 2001-12-06 2004-06-12 삼성전자주식회사 금속 바를 이용하는 멀티 칩 패키지와 그 제조 방법
US6971160B1 (en) 2002-01-03 2005-12-06 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Hybrid electrical circuit method with mated substrate carrier method
US6646336B1 (en) 2002-06-28 2003-11-11 Koninkl Philips Electronics Nv Wearable silicon chip
KR100608349B1 (ko) * 2002-09-11 2006-08-09 주식회사 하이닉스반도체 요철 형상의 스택기판을 사용한 bga 스택 패키지 및 그제조방법
KR20040026530A (ko) * 2002-09-25 2004-03-31 삼성전자주식회사 반도체 패키지 및 그를 이용한 적층 패키지
US7894203B2 (en) 2003-02-26 2011-02-22 Ibiden Co., Ltd. Multilayer printed wiring board
US7309923B2 (en) * 2003-06-16 2007-12-18 Sandisk Corporation Integrated circuit package having stacked integrated circuits and method therefor
US6984881B2 (en) 2003-06-16 2006-01-10 Sandisk Corporation Stackable integrated circuit package and method therefor
US7993983B1 (en) 2003-11-17 2011-08-09 Bridge Semiconductor Corporation Method of making a semiconductor chip assembly with chip and encapsulant grinding
US7227249B1 (en) 2003-12-24 2007-06-05 Bridge Semiconductor Corporation Three-dimensional stacked semiconductor package with chips on opposite sides of lead
US7613010B2 (en) * 2004-02-02 2009-11-03 Panasonic Corporation Stereoscopic electronic circuit device, and relay board and relay frame used therein
US7083425B2 (en) 2004-08-27 2006-08-01 Micron Technology, Inc. Slanted vias for electrical circuits on circuit boards and other substrates
US20060267173A1 (en) * 2005-05-26 2006-11-30 Sandisk Corporation Integrated circuit package having stacked integrated circuits and method therefor
US7795134B2 (en) 2005-06-28 2010-09-14 Micron Technology, Inc. Conductive interconnect structures and formation methods using supercritical fluids
KR100721353B1 (ko) * 2005-07-08 2007-05-25 삼성전자주식회사 칩 삽입형 매개기판의 구조와 제조 방법, 이를 이용한 이종칩의 웨이퍼 레벨 적층 구조 및 패키지 구조
US7262134B2 (en) 2005-09-01 2007-08-28 Micron Technology, Inc. Microfeature workpieces and methods for forming interconnects in microfeature workpieces
US7863187B2 (en) 2005-09-01 2011-01-04 Micron Technology, Inc. Microfeature workpieces and methods for forming interconnects in microfeature workpieces
US20070045120A1 (en) * 2005-09-01 2007-03-01 Micron Technology, Inc. Methods and apparatus for filling features in microfeature workpieces
US7888185B2 (en) * 2006-08-17 2011-02-15 Micron Technology, Inc. Semiconductor device assemblies and systems including at least one conductive pathway extending around a side of at least one semiconductor device
US7902643B2 (en) * 2006-08-31 2011-03-08 Micron Technology, Inc. Microfeature workpieces having interconnects and conductive backplanes, and associated systems and methods
US7811863B1 (en) 2006-10-26 2010-10-12 Bridge Semiconductor Corporation Method of making a semiconductor chip assembly with metal pillar and encapsulant grinding and heat sink attachment
SG149710A1 (en) * 2007-07-12 2009-02-27 Micron Technology Inc Interconnects for packaged semiconductor devices and methods for manufacturing such devices
US7781877B2 (en) 2007-08-07 2010-08-24 Micron Technology, Inc. Packaged integrated circuit devices with through-body conductive vias, and methods of making same
KR100881400B1 (ko) 2007-09-10 2009-02-02 주식회사 하이닉스반도체 반도체 패키지 및 이의 제조 방법
US20090140408A1 (en) * 2007-11-30 2009-06-04 Taewoo Lee Integrated circuit package-on-package system with stacking via interconnect
US7884015B2 (en) 2007-12-06 2011-02-08 Micron Technology, Inc. Methods for forming interconnects in microelectronic workpieces and microelectronic workpieces formed using such methods
SG142321A1 (en) * 2008-04-24 2009-11-26 Micron Technology Inc Pre-encapsulated cavity interposer
US8310835B2 (en) 2009-07-14 2012-11-13 Apple Inc. Systems and methods for providing vias through a modular component
US7923304B2 (en) * 2009-09-10 2011-04-12 Stats Chippac Ltd. Integrated circuit packaging system with conductive pillars and method of manufacture thereof
US8350381B2 (en) * 2010-04-01 2013-01-08 Infineon Technologies Ag Device and method for manufacturing a device
US8847376B2 (en) * 2010-07-23 2014-09-30 Tessera, Inc. Microelectronic elements with post-assembly planarization
CN102738120B (zh) * 2012-07-09 2016-01-20 日月光半导体制造股份有限公司 半导体封装件及其制造方法
CN103632988B (zh) * 2012-08-28 2016-10-19 宏启胜精密电子(秦皇岛)有限公司 层叠封装结构及其制作方法
US8860202B2 (en) * 2012-08-29 2014-10-14 Macronix International Co., Ltd. Chip stack structure and manufacturing method thereof
CN103413795B (zh) * 2013-08-28 2016-12-28 天津大学 半导体器件的封装结构和半导体器件的封装工艺流程
CN103904057B (zh) * 2014-04-02 2016-06-01 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 PoP封装结构及制造工艺
TWM499394U (zh) * 2014-12-19 2015-04-21 Bothhand Entpr Inc 電子裝置之封裝盒
US10741498B2 (en) * 2018-07-12 2020-08-11 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor package
CN109326580A (zh) * 2018-11-20 2019-02-12 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所南昌研究院 一种多芯片封装互联结构及多芯片封装互联方法
CN111739871A (zh) * 2020-05-15 2020-10-02 甬矽电子(宁波)股份有限公司 双面芯片封装结构和双面芯片封装工艺
US11388811B1 (en) 2021-05-21 2022-07-12 Amulaire Thermal Technology, Inc. Heat-dissipating substrate structure with built-in conductive circuits

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61101067A (ja) * 1984-10-24 1986-05-19 Nec Corp メモリモジユ−ル
JPH0430561A (ja) * 1990-05-28 1992-02-03 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置およびその実装構造
US5241456A (en) * 1990-07-02 1993-08-31 General Electric Company Compact high density interconnect structure
US5043794A (en) * 1990-09-24 1991-08-27 At&T Bell Laboratories Integrated circuit package and compact assemblies thereof
US5241454A (en) * 1992-01-22 1993-08-31 International Business Machines Corporation Mutlilayered flexible circuit package
DE4303734C2 (de) * 1993-02-03 1996-07-18 Deutsches Elektronen Synchr Chipträger
US5355283A (en) * 1993-04-14 1994-10-11 Amkor Electronics, Inc. Ball grid array with via interconnection
JPH07226456A (ja) * 1993-04-23 1995-08-22 Nippon Micron Kk Icパッケージ及びその製造方法
US5455385A (en) * 1993-06-28 1995-10-03 Harris Corporation Multilayer LTCC tub architecture for hermetically sealing semiconductor die, external electrical access for which is provided by way of sidewall recesses
JPH07231049A (ja) * 1994-02-17 1995-08-29 Fujitsu Ltd セラミックス多層基板の製造方法及びセラミックス多層基板
US5380681A (en) * 1994-03-21 1995-01-10 United Microelectronics Corporation Three-dimensional multichip package and methods of fabricating
US5579207A (en) * 1994-10-20 1996-11-26 Hughes Electronics Three-dimensional integrated circuit stacking
JPH08186196A (ja) * 1994-12-27 1996-07-16 Casio Comput Co Ltd 半導体装置の実装構造
JPH08186192A (ja) * 1994-12-27 1996-07-16 Matsushita Electric Works Ltd 多層プリント配線板の製造方法
US5835061A (en) * 1995-06-06 1998-11-10 Wayport, Inc. Method and apparatus for geographic-based communications service
US5861666A (en) * 1995-08-30 1999-01-19 Tessera, Inc. Stacked chip assembly
US5838060A (en) * 1995-12-12 1998-11-17 Comer; Alan E. Stacked assemblies of semiconductor packages containing programmable interconnect
US5798564A (en) * 1995-12-21 1998-08-25 Texas Instruments Incorporated Multiple chip module apparatus having dual sided substrate

Also Published As

Publication number Publication date
DE19802347A1 (de) 1999-04-08
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