JP2944403B2 - 半導体装置 - Google Patents
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はモールド型半導体装置に
関し、特にマイクロ波帯域で使用されるモールド型半導
体装置及びモールド容器のリードフレームに関する。
関し、特にマイクロ波帯域で使用されるモールド型半導
体装置及びモールド容器のリードフレームに関する。
【0002】
【従来の技術】従来のマイクロ波帯半導体装置としてセ
ラミック容器で構成したものとモールド樹脂容器で構成
したものがある。前者のものは、例えば図6に示すよう
に、セラミック容器21にリードフレーム22がろう付
されており、このセラミック容器21に実装された半導
体チップ23をリードフレーム22にワイヤ24で電気
接続している。また、この回路における半導体チップの
接地は、ワイヤ24、接地用リード25を通じて誘電体
基板26に設けられた接地部27に半田等で接続され、
更にスルーホール28を介して接地金属膜29に接続さ
れることで行われている。このような構成では、接地ま
での距離は最短で最も低インピーダンスで接地されるた
め回路に及ぼす影響はほとんどないが、容器構造は複雑
になり、高価になる。
ラミック容器で構成したものとモールド樹脂容器で構成
したものがある。前者のものは、例えば図6に示すよう
に、セラミック容器21にリードフレーム22がろう付
されており、このセラミック容器21に実装された半導
体チップ23をリードフレーム22にワイヤ24で電気
接続している。また、この回路における半導体チップの
接地は、ワイヤ24、接地用リード25を通じて誘電体
基板26に設けられた接地部27に半田等で接続され、
更にスルーホール28を介して接地金属膜29に接続さ
れることで行われている。このような構成では、接地ま
での距離は最短で最も低インピーダンスで接地されるた
め回路に及ぼす影響はほとんどないが、容器構造は複雑
になり、高価になる。
【0003】また、後者のものは、例えば図7に示すよ
うに、リードフレーム31の接地用リード31aに半導
体チップ32を搭載しかつワイヤ33で電気接続し、ま
た他の電極を他のリード31bにワイヤ34で接続した
上で樹脂35によりモールドする。そして、半導体チッ
プ32の回路の接地はワイヤ33、接地用リード31a
を通じて実装回路基板36の接地部37に半田で接続さ
れ、更にスルーホール38を介して接地金属膜39に接
続される。この構造では、前者のセラミック容器のもの
に比較して容器構造が簡単になり、安価に構成できる利
点があるが、接地用リード31aの長さを短くするのが
困難なため、接地インピーダンスが大きくなる。したが
って、この種のモールド型半導体装置はマイクロ波帯域
で回路特性が劣化する。
うに、リードフレーム31の接地用リード31aに半導
体チップ32を搭載しかつワイヤ33で電気接続し、ま
た他の電極を他のリード31bにワイヤ34で接続した
上で樹脂35によりモールドする。そして、半導体チッ
プ32の回路の接地はワイヤ33、接地用リード31a
を通じて実装回路基板36の接地部37に半田で接続さ
れ、更にスルーホール38を介して接地金属膜39に接
続される。この構造では、前者のセラミック容器のもの
に比較して容器構造が簡単になり、安価に構成できる利
点があるが、接地用リード31aの長さを短くするのが
困難なため、接地インピーダンスが大きくなる。したが
って、この種のモールド型半導体装置はマイクロ波帯域
で回路特性が劣化する。
【0004】また、回路における接地として、スタブや
コンデンサを利用したものが提案されている。例えば、
図8(a)および(b)は特開平3−198402号公
報に記載されている例であり、ここでは回路基板41を
多数の絶縁層42と導電層43とで多層化し、その回路
の一部で先端開放スタブ44を形成し、導電層43の一
部に接続したものである。したがって、この回路基板4
1に半導体チップを搭載し、その接地電極を先端開放ス
タブ44に接続すれば接地を行うことができる。しかし
ながら、この構成は半導体チップを直接回路基板に搭載
する構成の混成集積回路装置等には有効であるが、前記
したようなディスクリート型の半導体装置に適用するこ
とは困難である。
コンデンサを利用したものが提案されている。例えば、
図8(a)および(b)は特開平3−198402号公
報に記載されている例であり、ここでは回路基板41を
多数の絶縁層42と導電層43とで多層化し、その回路
の一部で先端開放スタブ44を形成し、導電層43の一
部に接続したものである。したがって、この回路基板4
1に半導体チップを搭載し、その接地電極を先端開放ス
タブ44に接続すれば接地を行うことができる。しかし
ながら、この構成は半導体チップを直接回路基板に搭載
する構成の混成集積回路装置等には有効であるが、前記
したようなディスクリート型の半導体装置に適用するこ
とは困難である。
【0005】また、図9(a)に示されるように、半導
体チップ51の電源電極をワイヤ52でチップコンデン
サ53に接続し、さらにワイヤ54で基板55に接続す
ることで、図9(b)の回路図に示すように、コンデン
サ53の接続点Aにおいて高周波での接地がとれるよう
になっている。なお、L1,L2はワイヤ52,53の
寄生インダクタンスである。この例では、チップコンデ
ンサ53を使用するため、部品点数が増加し、コストが
高くなる。また、これを容器に入れて封止を行う場合に
は、コンデンサ53の接地を取るためにセラミック容器
を採用せざるを得ず、構造が複雑になり、かつ高価にな
る。
体チップ51の電源電極をワイヤ52でチップコンデン
サ53に接続し、さらにワイヤ54で基板55に接続す
ることで、図9(b)の回路図に示すように、コンデン
サ53の接続点Aにおいて高周波での接地がとれるよう
になっている。なお、L1,L2はワイヤ52,53の
寄生インダクタンスである。この例では、チップコンデ
ンサ53を使用するため、部品点数が増加し、コストが
高くなる。また、これを容器に入れて封止を行う場合に
は、コンデンサ53の接地を取るためにセラミック容器
を採用せざるを得ず、構造が複雑になり、かつ高価にな
る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】このように従来のセラ
ミック容器や外部回路を用いて半導体装置を構成する
と、構造が複雑となったり、部品点数が増えたりするの
で高価なものとなるという問題点があった。また、従来
のモールド容器を用いて半導体装置を構成すると、マイ
クロ波帯域ではリードのインピーダンスが大きくなり、
接地がうまくとれないため、回路の特性が劣化するとい
う問題点があった。本発明の目的は、構造の簡略化、低
価格化を図る一方で、好適な接地を確保して回路特性を
改善することが可能な半導体装置を提供することにあ
る。
ミック容器や外部回路を用いて半導体装置を構成する
と、構造が複雑となったり、部品点数が増えたりするの
で高価なものとなるという問題点があった。また、従来
のモールド容器を用いて半導体装置を構成すると、マイ
クロ波帯域ではリードのインピーダンスが大きくなり、
接地がうまくとれないため、回路の特性が劣化するとい
う問題点があった。本発明の目的は、構造の簡略化、低
価格化を図る一方で、好適な接地を確保して回路特性を
改善することが可能な半導体装置を提供することにあ
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体装置は、
使用帯域が14GHz付近のマイクロ波帯域である半導
体装置において、前記使用帯域の1/4波長の長さの先
端開放型スタブが半導体チップの接地電極または電源電
極に接続されているものである。また、前記半導体チッ
プ及び前記スタブはモールド樹脂により封止されている
ものである。また、前記スタブがワイヤを介して前記半
導体チップの前記接地電極または前記電源電極に接続さ
れているものである。また、前記スタブはリードフレー
ムの一部で形成されているものである。また、前記スタ
ブはつづら折り型又はスパイラル型に形成されているも
のである。
使用帯域が14GHz付近のマイクロ波帯域である半導
体装置において、前記使用帯域の1/4波長の長さの先
端開放型スタブが半導体チップの接地電極または電源電
極に接続されているものである。また、前記半導体チッ
プ及び前記スタブはモールド樹脂により封止されている
ものである。また、前記スタブがワイヤを介して前記半
導体チップの前記接地電極または前記電源電極に接続さ
れているものである。また、前記スタブはリードフレー
ムの一部で形成されているものである。また、前記スタ
ブはつづら折り型又はスパイラル型に形成されているも
のである。
【0008】
【作用】リードフレームの一部で先端開放スタブを形成
し、かつこの先端開放スタブをつづら折り型あるいはス
パイラル型に形成することで半導体チップと共にモール
ド樹脂に封止して半導体装置を構成でき、モールド樹脂
半導体装置の利点である構造の簡易化及び低価格化が得
られると共に、先端開放スタブの作用により好適な接地
が可能となり、回路特性が改善される。
し、かつこの先端開放スタブをつづら折り型あるいはス
パイラル型に形成することで半導体チップと共にモール
ド樹脂に封止して半導体装置を構成でき、モールド樹脂
半導体装置の利点である構造の簡易化及び低価格化が得
られると共に、先端開放スタブの作用により好適な接地
が可能となり、回路特性が改善される。
【0009】
【実施例】次に、本発明を図面を参照して説明する。図
1は本発明の半導体装置の内部構造の平面図である。リ
ードフレーム1は、半導体チップを搭載するタブ2と、
各種信号用のリード3とを備えるとともに、前記タブ2
に隣接する位置につづら折り型に形成した先端開放スタ
ブ4をタブ2と一体に設けている。そして、前記タブ2
には半導体チップ5が搭載され、その接地電極5aと前
記先端開放スタブ4の一端部とをワイヤ6により接続し
ている。また、半導体チップ5の各種信号電極5bと信
号用のリード3とをそれぞれワイヤ7により接続してい
る。そして、これらをモールド樹脂8により一体的に封
止してモールド樹脂容器を構成している。ここで、前記
先端開放スタブ4は使用する信号波長の1/4の長さの
ミアンダ型先端開放スタブとして構成されている。
1は本発明の半導体装置の内部構造の平面図である。リ
ードフレーム1は、半導体チップを搭載するタブ2と、
各種信号用のリード3とを備えるとともに、前記タブ2
に隣接する位置につづら折り型に形成した先端開放スタ
ブ4をタブ2と一体に設けている。そして、前記タブ2
には半導体チップ5が搭載され、その接地電極5aと前
記先端開放スタブ4の一端部とをワイヤ6により接続し
ている。また、半導体チップ5の各種信号電極5bと信
号用のリード3とをそれぞれワイヤ7により接続してい
る。そして、これらをモールド樹脂8により一体的に封
止してモールド樹脂容器を構成している。ここで、前記
先端開放スタブ4は使用する信号波長の1/4の長さの
ミアンダ型先端開放スタブとして構成されている。
【0010】また、前記半導体チップは、例えば図2
(a)〜(c)の破線内に示すスイッチ回路として構成
されている。即ち、2個のFET11,12を内蔵して
おり、これにつながる入力端子IN、出力端子OUT、
接地端子GNDを有している。この回路では、FET1
1がオン、FET12がオフのときスイッチオンの状態
であり、FET11がオフ、FET12がオンのときス
イッチオフとなる。
(a)〜(c)の破線内に示すスイッチ回路として構成
されている。即ち、2個のFET11,12を内蔵して
おり、これにつながる入力端子IN、出力端子OUT、
接地端子GNDを有している。この回路では、FET1
1がオン、FET12がオフのときスイッチオンの状態
であり、FET11がオフ、FET12がオンのときス
イッチオフとなる。
【0011】この回路において、理想的には、図2
(a)のように、FET12の接地Eが完全にとれてい
ることであり、このときのアイソレーション特性は図3
の(a)のように14GHZ 付近でも18dB程度取れ
ている。これに対して、仮に前記半導体チップを図7に
示したモールド樹脂半導体装置として構成した場合に
は、図2(b)の等価回路に示すように、接地端子Eの
リードは、先端短絡型スタブ13と等価なインピーダン
スを持ち、このときのアイソレーション特性は、図3の
(b)のように14GHZ 付近で、約8dBとなり、
(a)に比べて10dBも劣化されている。なお、等価
回路のスタブは、幅0.3mm、長さ1.0mm、対接地間
隔0.8mmで計算した。
(a)のように、FET12の接地Eが完全にとれてい
ることであり、このときのアイソレーション特性は図3
の(a)のように14GHZ 付近でも18dB程度取れ
ている。これに対して、仮に前記半導体チップを図7に
示したモールド樹脂半導体装置として構成した場合に
は、図2(b)の等価回路に示すように、接地端子Eの
リードは、先端短絡型スタブ13と等価なインピーダン
スを持ち、このときのアイソレーション特性は、図3の
(b)のように14GHZ 付近で、約8dBとなり、
(a)に比べて10dBも劣化されている。なお、等価
回路のスタブは、幅0.3mm、長さ1.0mm、対接地間
隔0.8mmで計算した。
【0012】図1に示した本発明のモールド樹脂半導体
装置では、半導体チップ5の接地はワイヤ6により先端
開放スタブ4と接続されており、等価回路は図2(c)
のようになる。FET12の接地は1/4波長の先端開
放スタブ4により、信号周波数帯域では十分接地が取れ
るので、アイソレーション特性は図3の(c)のように
14GHZ 付近で約18dBとなり、理想とした図3の
(a)の特性とほぼ同等になり、特性劣化を改善するこ
とが可能となる。また、この構成によりモールド樹脂半
導体装置が備える容器構造が簡単になり、安価に構成で
きる利点が得られることは言うまでもない。
装置では、半導体チップ5の接地はワイヤ6により先端
開放スタブ4と接続されており、等価回路は図2(c)
のようになる。FET12の接地は1/4波長の先端開
放スタブ4により、信号周波数帯域では十分接地が取れ
るので、アイソレーション特性は図3の(c)のように
14GHZ 付近で約18dBとなり、理想とした図3の
(a)の特性とほぼ同等になり、特性劣化を改善するこ
とが可能となる。また、この構成によりモールド樹脂半
導体装置が備える容器構造が簡単になり、安価に構成で
きる利点が得られることは言うまでもない。
【0013】図4は本発明の第2実施例の内部構造の平
面図であり、図1と等価な部分には同一符号を付してあ
る。この例では、前記実施例のつづら折り型の先端開放
スタブに代えて、リードフレームの一部でスパイラル型
先端開放スタブ4Aが形成され、このスタブ4Aの一端
は外部リード3Aに接続されている。この実施例に用い
られている半導体チップ5Aの回路は図5の破線内の増
幅器13であり、チップ内の電源端子Eはワイヤ9によ
り外部リード3Aに接続され、そこに並列に信号波長の
1/4の長さの先端開放スタブ4Aが接続されていて、
等価回路上、電源端子Eは信号周波数で接地された状態
となる。基本的に高周波回路の電源端子は、外部の影響
を受けにくくするため、設計上、等価回路で接地する場
合が多く、本発明では容易に高周波帯域での接地を実現
できる。
面図であり、図1と等価な部分には同一符号を付してあ
る。この例では、前記実施例のつづら折り型の先端開放
スタブに代えて、リードフレームの一部でスパイラル型
先端開放スタブ4Aが形成され、このスタブ4Aの一端
は外部リード3Aに接続されている。この実施例に用い
られている半導体チップ5Aの回路は図5の破線内の増
幅器13であり、チップ内の電源端子Eはワイヤ9によ
り外部リード3Aに接続され、そこに並列に信号波長の
1/4の長さの先端開放スタブ4Aが接続されていて、
等価回路上、電源端子Eは信号周波数で接地された状態
となる。基本的に高周波回路の電源端子は、外部の影響
を受けにくくするため、設計上、等価回路で接地する場
合が多く、本発明では容易に高周波帯域での接地を実現
できる。
【0014】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、使用帯域
が14GHz付近のマイクロ波帯域である半導体装置に
おいて、前記使用帯域の1/4波長の長さの先端開放型
スタブが半導体チップの接地電極または電源電極に接続
されていることにより、好適な接地が可能となり、回路
特性が改善される。特に、14GHz付近のマイクロ波
の使用帯域での接地が容易に実現でき、回路上の特性劣
化を最小限にできるという効果がある。また、半導体チ
ップ及び先端開放スタブはモールド樹脂により封止され
ているので、モールド樹脂半導体装置の利点である構造
の簡略化及び低価格化が図れる。また、先端開放スタブ
をつづら折り型或いはスパイラル型とすることで、スタ
ブを小型化でき、半導体装置の小型化が損なわれること
はない。
が14GHz付近のマイクロ波帯域である半導体装置に
おいて、前記使用帯域の1/4波長の長さの先端開放型
スタブが半導体チップの接地電極または電源電極に接続
されていることにより、好適な接地が可能となり、回路
特性が改善される。特に、14GHz付近のマイクロ波
の使用帯域での接地が容易に実現でき、回路上の特性劣
化を最小限にできるという効果がある。また、半導体チ
ップ及び先端開放スタブはモールド樹脂により封止され
ているので、モールド樹脂半導体装置の利点である構造
の簡略化及び低価格化が図れる。また、先端開放スタブ
をつづら折り型或いはスパイラル型とすることで、スタ
ブを小型化でき、半導体装置の小型化が損なわれること
はない。
【図1】本発明の第1実施例の内部構成を示す平面図で
ある。
ある。
【図2】理想回路、従来回路、本発明回路を比較して示
す等価回路図である。
す等価回路図である。
【図3】図2の各回路におけるアイソレーションを示す
図である。
図である。
【図4】本発明の第2実施例の内部構成を示す平面図で
ある。
ある。
【図5】図4の半導体装置の等価回路図である。
【図6】従来のセラミック容器半導体装置の一例の断面
図である。
図である。
【図7】従来のモールド樹脂半導体装置の一例の断面図
である。
である。
【図8】回路基板においてスタブで接地を行う構成例の
平面図と断面図である。
平面図と断面図である。
【図9】コンデンサを用いて接地を行う構成例の平面図
と等価回路図である。
と等価回路図である。
1 リードフレーム 3 リード 4,4A 先端開放スタブ 5 半導体チップ 8 モールド樹脂
Claims (5)
- 【請求項1】 使用帯域が14GHz付近のマイクロ波
帯域である半導体装置において、前記使用帯域の1/4
波長の長さの先端開放型スタブが半導体チップの接地電
極または電源電極に接続されていることを特徴とする半
導体装置。 - 【請求項2】 前記半導体チップ及び前記スタブはモー
ルド樹脂により封止されていることを特徴とする請求項
1記載の半導体装置。 - 【請求項3】 前記スタブがワイヤを介して前記半導体
チップの前記接地電極または前記電源電極に接続されて
いることを特徴とする請求項1記載の半導体装置。 - 【請求項4】 前記スタブはリードフレームの一部で形
成されていることを特徴とする請求項1記載の半導体装
置。 - 【請求項5】 前記スタブはつづら折り型又はスパイラ
ル型に形成されていることを特徴とする請求項1記載の
半導体装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5348271A JP2944403B2 (ja) | 1993-12-24 | 1993-12-24 | 半導体装置 |
US08/364,300 US5521431A (en) | 1993-12-24 | 1994-12-27 | Semiconductor device with lead frame of molded container |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5348271A JP2944403B2 (ja) | 1993-12-24 | 1993-12-24 | 半導体装置 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07193182A JPH07193182A (ja) | 1995-07-28 |
JP2944403B2 true JP2944403B2 (ja) | 1999-09-06 |
Family
ID=18395916
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5348271A Expired - Fee Related JP2944403B2 (ja) | 1993-12-24 | 1993-12-24 | 半導体装置 |
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---|---|
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DE19639650A1 (de) * | 1996-09-26 | 1998-04-02 | Sican Gmbh | Integrierte Schaltung mit einem induktiven Bauelement und Verfahren zur Herstellung hierzu |
US6242800B1 (en) * | 1997-03-12 | 2001-06-05 | International Rectifier Corp. | Heat dissipating device package |
JP3328542B2 (ja) * | 1997-03-19 | 2002-09-24 | 富士通株式会社 | 高周波半導体集積回路装置 |
US5909050A (en) * | 1997-09-15 | 1999-06-01 | Microchip Technology Incorporated | Combination inductive coil and integrated circuit semiconductor chip in a single lead frame package and method therefor |
JP3709770B2 (ja) * | 2000-07-27 | 2005-10-26 | 株式会社村田製作所 | 半導体スイッチ回路および半導体装置 |
WO2002041335A2 (en) * | 2000-11-17 | 2002-05-23 | Conexant Systems, Inc. | High quality printed inductor on a package |
US20020089064A1 (en) * | 2001-01-08 | 2002-07-11 | Jiahn-Chang Wu | Flexible lead surface-mount semiconductor package |
JP3913574B2 (ja) * | 2002-02-27 | 2007-05-09 | 三洋電機株式会社 | 半導体装置 |
JP4083142B2 (ja) * | 2004-06-02 | 2008-04-30 | 富士通株式会社 | 半導体装置 |
JP4633455B2 (ja) * | 2004-12-24 | 2011-02-16 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 半導体装置 |
US20060214271A1 (en) * | 2005-03-23 | 2006-09-28 | Jeremy Loraine | Device and applications for passive RF components in leadframes |
US7358830B2 (en) * | 2005-06-14 | 2008-04-15 | Rockwell Scientific Licensing, Llc | Compact segmented stub |
US8318973B2 (en) | 2005-10-21 | 2012-11-27 | Bezwada Biomedical, Llc | Functionalized sinapic acid and methyl sinapate |
US8217134B2 (en) * | 2007-08-30 | 2012-07-10 | Bezwada Biomedical, Llc | Controlled release of biologically active compounds |
US8026285B2 (en) * | 2007-09-04 | 2011-09-27 | Bezwada Biomedical, Llc | Control release of biologically active compounds from multi-armed oligomers |
US8048980B2 (en) | 2007-09-17 | 2011-11-01 | Bezwada Biomedical, Llc | Hydrolysable linkers and cross-linkers for absorbable polymers |
US8053591B2 (en) | 2007-09-26 | 2011-11-08 | Bezwada Biomedical, Llc | Functionalized biodegradable triclosan monomers and oligomers for controlled release |
US8367747B2 (en) | 2008-05-23 | 2013-02-05 | Bezwada Biomedical, Llc | Bioabsorbable polymers from bioabsorbable polyisocyanates and uses thereof |
JP5749066B2 (ja) * | 2011-05-02 | 2015-07-15 | 新電元工業株式会社 | インダクタ一体型リードフレーム、並びに、電子回路モジュール及びその製造方法 |
JP6091239B2 (ja) * | 2013-02-13 | 2017-03-08 | キヤノン株式会社 | プリント回路板、プリント配線板および電子機器 |
US9666509B2 (en) * | 2015-01-16 | 2017-05-30 | New Japan Radio Co., Ltd. | Semiconductor device |
US9543238B1 (en) * | 2015-07-24 | 2017-01-10 | Fitipower Integrated Technology, Inc. | Semiconductor device |
CN110010509B (zh) * | 2018-01-05 | 2023-10-20 | 光宝新加坡有限公司 | 双引线架磁耦合封装结构及其制造方法 |
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---|---|---|---|---|
JPS60187045A (ja) * | 1984-03-07 | 1985-09-24 | Hitachi Ltd | リ−ドフレ−ム |
US4780795A (en) * | 1986-04-28 | 1988-10-25 | Burr-Brown Corporation | Packages for hybrid integrated circuit high voltage isolation amplifiers and method of manufacture |
JP2706077B2 (ja) * | 1988-02-12 | 1998-01-28 | 株式会社日立製作所 | 樹脂封止型半導体装置及びその製造方法 |
JPH03198402A (ja) * | 1989-12-26 | 1991-08-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | マイクロ波回路、バイアス回路及び帯域阻止フィルタ |
JPH045656U (ja) * | 1990-04-28 | 1992-01-20 | ||
JPH0445566A (ja) * | 1990-06-13 | 1992-02-14 | Hitachi Ltd | リードフレーム及びこれを用いた半導体装置 |
JPH0494565A (ja) * | 1990-08-10 | 1992-03-26 | Toshiba Corp | 半導体装置 |
US5276352A (en) * | 1990-11-15 | 1994-01-04 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Resin sealed semiconductor device having power source by-pass connecting line |
JPH05251629A (ja) * | 1992-03-05 | 1993-09-28 | Hitachi Ltd | 混成半導体集積回路 |
JP2721093B2 (ja) * | 1992-07-21 | 1998-03-04 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置 |
JPH06104372A (ja) * | 1992-09-22 | 1994-04-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体装置 |
-
1993
- 1993-12-24 JP JP5348271A patent/JP2944403B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1994
- 1994-12-27 US US08/364,300 patent/US5521431A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH07193182A (ja) | 1995-07-28 |
US5521431A (en) | 1996-05-28 |
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