JP2001144221A - 高周波回路 - Google Patents

高周波回路

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JP2001144221A
JP2001144221A JP32698499A JP32698499A JP2001144221A JP 2001144221 A JP2001144221 A JP 2001144221A JP 32698499 A JP32698499 A JP 32698499A JP 32698499 A JP32698499 A JP 32698499A JP 2001144221 A JP2001144221 A JP 2001144221A
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high frequency
ground
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microstrip line
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JP32698499A
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Takuya Suzuki
拓也 鈴木
Koichi Matsuo
浩一 松尾
Kazuyoshi Inami
和喜 稲見
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 多層高周波パッケージの外部回路との接続部
分において、多層高周波パッケージ内部の接地用スルー
ホールを介してグランド電流が流れた場合、高周波信号
電流とグランド電流の電気長差が高周波信号の波長の約
1/4或はその奇数倍の長さになる周波数において共振
を生じ、接続部における高周波信号の反射特性が大きく
劣化してしまう課題があった。 【解決手段】 マイクロストリップ線路パターンを多層
高周波パッケージの外部回路との接続部分において、第
1層の誘電体基板1aの基板部材1aa及び外表面のマ
イクロストリップ線路パターン2aを第1の接地導体4
aよりも内側に配置することにより、接続用基板104
を多層高周波パッケージ101aと外部回路101bと
の間に配置することでグランド電流11を最短距離で接
続でき、反射特性が良好で不要伝搬モードの発生を抑え
た高周波回路を得る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、主としてマイク
ロ波帯、及びミリ波帯用の半導体素子を搭載した多層高
周波パッケージから構成された高周波回路に関するもの
で、特に高周波回路の接続部における(高周波信号電流
とグランド電流の電気長の差により発生する)共振によ
る高周波信号の反射特性劣化の防止に関する。
【0002】
【従来の技術】図4は従来の1つの多層高周波パッケー
ジを示す透視斜視図である。図において、1a〜1cは
誘電体基板、2はマイクロストリップ線路パターン、3
a〜3cはバイアスパターン、4,5は接地導体、6は
バイアス接続用スルーホール、7はバイアス接続用スル
ーホールを貫通するために接地導体4に開けた穴、8は
接地用スルーホール、12a,12bは内層バイアスパ
ターン、13はオープンスタブパターンである。
【0003】誘電体基板1a〜1cは間に接地導体4や
内層バイアスパターン12a,12bやオープンスタブ
パターン13を挟んで積層されており、第1層の誘電体
基板1aの外上面にマイクロストリップ線路パターン2
及びバイアスパターン3a〜3cが設けられ、第3層の
誘電体基板1cの裏面に接地導体5が密着して設けられ
ている。また、内層バイアスパターン12a,12bに
はオープンスタブパターン13が設けられている。多層
高周波パッケージの外部回路との接続部分においては、
2つの接地導体4,5で挟まれた第2層から最下層まで
の多層高周波パッケージ内層に、接地導体4と接地導体
5を接続するための接地用スルーホール8を複数設けて
いる。
【0004】また、図5は複数の多層高周波パッケージ
から構成された従来の高周波回路(モジュール)における
多層高周波パッケージ間の接続部を示す断面図である。
図5において、図4と同一もしくは相当部分は同一符号
で示されている。100は2つの多層高周波パッケージ
を固定するためのキャリア、101a、101bは多層
高周波パッケージ、1a〜1dは誘電体基板(図4は3
層のもの、図5は4層のもの)、2a、2bはマイクロ
ストリップ線路パターン、4a、4b,5a、5bは接
地導体、8a,8bは接地用スルーホール、10はボン
ディングワイヤ、11はグランド電流である。
【0005】次に動作について説明する。多層高周波パ
ッケージ101a,101bは半田付けなどによってキ
ャリア100に固定されており、2つの多層高周波パッ
ケージのマイクロストリップ線路パターン2a,2bは
ボンディングワイヤ10によって電気的に接続されてい
る。このような多層高周波パッケージ内部においては、
高周波信号の電流は、第1層の誘電体基板1aの外表面
に配置されたマイクロストリップ線路パターン2a上を
流れ、それに伴うグランド電流が第1の接地導体4aを
流れる。
【0006】パッケージ間の接続部においては、マイク
ロストリップ線路パターンを流れる高周波信号の電流は
ボンディングワイヤ10を介して直接流れるが、第1の
接地導体4aを流れるグランド電流11は、図5に矢印
で示すように基板内層に設けられた接地用スルーホール
8aなどを流れて第2の接地導体5aに移り、キャリア
100を介して隣接の多層高周波パッケージ101bの
第2の接地導体5bに流れ、再び接地用スルーホール8
bを流れて第1の接地導体4bに流れる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】従来の高周波回路は以
上のように構成されており、図5に示すように多層高周
波パッケージ内部の接地用スルーホール8a,8bを介
してグランド電流が流れた場合、グランド電流11の流
れる電気長(接地用スルーホール8a,8bからそれぞ
れ基板端面までの長さと接地用スルーホール8a,8b
間の長さの和)が高周波信号の波長のおよそ1/4の長
さ、あるいはその奇数倍の長さになる周波数において共
振を生じて、接続部における高周波信号の反射特性が大
きく劣化してしまうという問題があった。
【0008】また、接地用スルーホール8a,8bは高
周波信号に対してインダクタンス成分を有するため、2
つの接地導体の間(4aと5aの間、及び4bと5bの
間)には高周波信号の電位差が生じる。特に高周波信号
の周波数が高い場合や多層高周波パッケージの厚さが厚
い場合、スルーホールの高周波信号に対するインピーダ
ンスは高くなるため、2つの接地導体の間の電位差は大
きくなる。2つの接地導体の間に電位差が生じると、2
つの接地導体で挟まれた基板内層に不要伝搬モードが励
振され、高周波回路の特性を劣化させてしまうという問
題もあった。
【0009】この発明は上記のような問題点を解決する
ためになされたもので、多層高周波パッケージの接続部
における共振による高周波信号の反射特性劣化および不
要伝搬モードの励振を抑制した高周波回路を得ることを
目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、この発明は、多層高周波パッケージの外部との電
気的接続を、外表面にマイクロストリップ線路パター
ン、裏面に接地導体を設けた接続用基板により行ったこ
とを特徴とする高周波回路にある。
【0011】また、多層高周波パッケージの第1層の誘
電体基板の外表面に設けられたマイクロストリップ線路
パターンおよび第1層の誘電体基板の基板部材の端が第
1層の誘電体基板の裏面の接地導体および第2層以下の
誘電体基板の端より内側にあり、上記接続用基板が上記
多層高周波パッケージ上に露出した上記接地導体上に裏
面の接地導体の一部が接触するように配置され、多層高
周波パッケージと接続用基板のマイクロストリップ線路
パターン同士が電気的に接続されることを特徴とする上
記高周波回路にある。
【0012】
【発明の実施の形態】図1はこの発明の一実施の形態に
よる高周波回路を構成する多層高周波パッケージの概観
を示す斜視図であり、モノリシックマイクロ波集積回路
(以下、MMICと呼ぶ)などの半導体素子を実装した
ものが開示されている。図2は図1の多層高周波パッケ
ージの上面パターン図であり、半導体素子等は実装され
ていない状態のものである。
【0013】両図において、従来のものと同一もしくは
相当部分は同一符号で示す。101は多層高周波パッケ
ージ、1a〜1dは誘電体基板、2a,2bはマイクロ
ストリップ線路パターン、3はバイアスパターン、4,
5は接地導体、6はバイアス接続用スルーホール、7は
接地導体4に開けあられた穴、8は接地導体4と接地導
体5を短絡するための接地用スルーホール、9は第1層
の誘電体基板1aをくりぬいて形成されたキャビティで
ある。MMICなどの半導体素子102やキャパシタチ
ップ103などを実装するために誘電体基板1aをくり
ぬいて形成されたキャビティ9の底面には接地導体4が
露出している。
【0014】多層高周波パッケージ101上の高周波回
路を外部回路と接続する部分において(例えば図示の多
層高周波パッケージ101の両側)、第1層の誘電体基
板1aの大きさを第2層から最下層の誘電体基板1b、
1c、1dより小さくすることにより、第1層の誘電体
基板1aの外表面のマイクロストリップ線路パターン2
a,2bを第1の接地導体4よりも内側に配置してい
る。これにより、マイクロストリップ線路パターン2
a,2bおよび第1層の誘電体基板1aの基板部材1a
aの端が第2層から最下層の誘電体基板1b、1c、1
dの端より内側にあり、最上層の第1の接地導体4が表
面に露出している。
【0015】図3は図1および図2に示す多層高周波パ
ッケージを複数搭載して構成したこの発明による高周波
回路(モジュール)における多層高周波パッケージ間の接
続部を示す断面図である。なお、この発明は多層高周波
パッケージ間の接続に限定されるものではない。図3に
おいて、図1および図2と同一もしくは相当部分は同一
符号で示されている。1aaは第1層の誘電体基板1a
の基板部材、4a,4bは第1の接地導体、5a,5b
は第2の接地導体、8a,8bは接地用スルーホール、
10はボンディングワイヤ、11はグランド電流、10
0は2つの多層高周波パッケージを固定するためのキャ
リア、101a,101bは多層高周波パッケージで、
104は2つの多層高周波パッケージを接続する同様の
誘電体基板からなる接続用基板であり、外表面に高周波
信号を伝送するマイクロストリップ線路パターン105
を、裏面に接地導体106を設けている。
【0016】次に動作について説明する。多層高周波パ
ッケージ101a,101bは半田付けなどによってキ
ャリア100に固定されており、2つの多層高周波パッ
ケージのマイクロストリップ線路パターン2a,2bは
第1の接地導体4a、4b上に固定された接続用基板1
04上のマイクロストリップ線路パターン105とボン
ディングワイヤ10によって電気的に接続されている。
また、接続用基板104の裏面の接地導体106は、多
層高周波パッケージ101a,101bの接地導体4
a,4b、およびキャリア100に例えば半田付け等に
より固定されている。
【0017】このような多層高周波パッケージ内部にお
いては、高周波信号の電流は、第1層の誘電体基板1a
の外表面に配置されたマイクロストリップ線路パターン
2a上を流れ、それに伴うグランド電流が第1の接地導
体4aを流れる。多層高周波パッケージ間の接続部にお
いては、多層高周波パッケージ101a上の高周波信号
の電流は、第1層の誘電体基板1aの外表面に配置され
たマイクロストリップ線路パターン2a上を流れ、ボン
ディングワイヤ10及び接続用基板104の外表面のマ
イクロストリップ線路パターン105を介して他方の多
層高周波パッケージ101b上のマイクロストリップ線
路パターン2bに接続される。
【0018】一方、第1の接地導体4aを流れるグラン
ド電流11は、矢印が示すように、接続用基板104裏
面の接地用導体106を介して接続する他方の多層高周
波パッケージ101bの第1の接地導体4bに流れる。
従って、このような構造の多層高周波パッケージを他の
多層高周波パッケージ等の外部回路と接続した場合、高
周波信号の電流とグランド電流の電気長の差が殆ど生じ
ないために、接続部における高周波信号の良好な通過特
性(反射特性)が得られる。また、接続部分におけるグラ
ンド電流によっては基板内層に不要伝搬モードはほとん
ど励振されず、高周波回路の特性の劣化も抑えられる。
【0019】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、多層
高周波パッケージの外部との電気的接続を、外表面にマ
イクロストリップ線路パターン、裏面に接地導体を設け
た接続用基板により行ったことにより、接続用基板を多
層高周波パッケージと外部回路との間に配置することで
グランドを最短距離で接続でき、高周波信号の電流とグ
ランド電流の電気長の差が殆ど生じないために、接続部
における反射特性が良好で、かつ接続部における不要伝
搬モードの発生を少なくできる高周波回路を得ることが
できる。
【0020】また、上記高周波回路において、多層高周
波パッケージの第1層の誘電体基板の外表面に設けられ
たマイクロストリップ線路パターンおよび第1層の誘電
体基板の基板部材の端が第1層の誘電体基板の裏面の接
地導体および第2層以下の誘電体基板の端より内側にあ
り、上記接続用基板が上記多層高周波パッケージ上に露
出した上記接地導体上に裏面の接地導体の一部が接触す
るように配置され、多層高周波パッケージと接続用基板
のマイクロストリップ線路パターン同士を電気的に接続
するようにしたので、容易に接続が行える。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の一実施の形態による高周波回路を
構成する多層高周波パッケージの概観を示す斜視図であ
る。
【図2】 図1の多層高周波パッケージの上面パターン
図である。
【図3】 図1および図2に示す多層高周波パッケージ
を複数搭載して構成したこの発明による高周波回路(モ
ジュール)における多層高周波パッケージ間の接続部を
示す断面図である。
【図4】 従来の1つの多層高周波パッケージを示す透
視斜視図である。
【図5】 複数の多層高周波パッケージから構成された
従来の高周波回路(モジュール)における多層高周波パッ
ケージ間の接続部を示す断面図である。
【符号の説明】
1a〜1d 誘電体基板、1aa 基板部材、2a〜2
c マイクロストリップ線路パターン、3 バイアスパ
ターン、4,4a,4b 第1の接地導体、5,5a,
5b 第2の接地導体、6 バイアス接続用スルーホー
ル、7 穴、8,8a,8b 接地用スルーホール、9
キャビティ、10 ボンディングワイヤ、11 グラ
ンド電流、100 キャリア、101a,101b 多
層高周波パッケージ、102 半導体素子(MMICな
ど)、103 キャパシタチップ、104 接続用基
板、105 マイクロストリップ線路パターン、106
接地導体。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 稲見 和喜 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 Fターム(参考) 5J014 CA09 CA14 CA23 CA42 CA56

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 多層高周波パッケージの外部との電気的
    接続を、外表面にマイクロストリップ線路パターン、裏
    面に接地導体を設けた接続用基板により行ったことを特
    徴とする高周波回路。
  2. 【請求項2】 多層高周波パッケージの第1層の誘電体
    基板の外表面に設けられたマイクロストリップ線路パタ
    ーンおよび第1層の誘電体基板の基板部材の端が第1層
    の誘電体基板の裏面の接地導体および第2層以下の誘電
    体基板の端より内側にあり、上記接続用基板が上記多層
    高周波パッケージ上に露出した上記接地導体上に裏面の
    接地導体の一部が接触するように配置され、多層高周波
    パッケージと接続用基板のマイクロストリップ線路パタ
    ーン同士が電気的に接続されることを特徴とする請求項
    1に記載の高周波回路。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101938882A (zh) * 2009-06-30 2011-01-05 日立电线株式会社 高速传输用电路板的连接结构

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