JP2862881B2 - 成形品の良否判別基準値自動設定方法及び装置 - Google Patents
成形品の良否判別基準値自動設定方法及び装置Info
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C45/00—Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor
- B29C45/17—Component parts, details or accessories; Auxiliary operations
- B29C45/76—Measuring, controlling or regulating
- B29C45/766—Measuring, controlling or regulating the setting or resetting of moulding conditions, e.g. before starting a cycle
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- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、射出成形機で成形される成形品の良否を判
別するための判別基準値を自動設定する方法及び装置に
関する。
別するための判別基準値を自動設定する方法及び装置に
関する。
従来の技術 射出成形機の各成形サイクルで成形された成形品の良
否を判別する方法として、クッション量、即ち保圧終了
時のスクリュー位置が、成形品を良品と判定できる設定
基準値内にあるか否かによって判別したり、さらには、
射出時間，計量時間が設定基準値内にあるか否かによっ
て判別する方法が知られている。また、ピーク射出圧力
によって成形品の良否の判別を行う方法も知られてい
る。さらには、射出開始から所定時間経過した時点にお
けるスクリュー位置が設定基準値内にあるか否かによっ
て成形品良品を判別する方法も提案されている。
否を判別する方法として、クッション量、即ち保圧終了
時のスクリュー位置が、成形品を良品と判定できる設定
基準値内にあるか否かによって判別したり、さらには、
射出時間，計量時間が設定基準値内にあるか否かによっ
て判別する方法が知られている。また、ピーク射出圧力
によって成形品の良否の判別を行う方法も知られてい
る。さらには、射出開始から所定時間経過した時点にお
けるスクリュー位置が設定基準値内にあるか否かによっ
て成形品良品を判別する方法も提案されている。
発明が解決しようとする課題 しかし、従来の方法はいずれも、成形品の良否を判別
するための基準値は、オペレータが手動入力によって設
定している。即ち、何回か成形品を製造し、そのとき得
られる成形品及び成形サイクルにおける成形品の良否を
判別するための変量データより、良品を得るための該変
量データの基準値の上限値，下限値を求め、これらの値
に基いて、オペレータの経験等により手動で射出成形機
に設定していた。例えば、成形品良否判別の変量データ
をクッション量とすると、何回か成形を行って良品の得
られるクッション量の上限，下限値を求めて、この上
限，下限値に基いて成形品良否判別のための基準値を設
定している。しかし、この方法ではオペレータの個人差
によって基準値にばらつきが生じ、また、最適な基準値
を決定するまでに手数を要するという欠点がある。
するための基準値は、オペレータが手動入力によって設
定している。即ち、何回か成形品を製造し、そのとき得
られる成形品及び成形サイクルにおける成形品の良否を
判別するための変量データより、良品を得るための該変
量データの基準値の上限値，下限値を求め、これらの値
に基いて、オペレータの経験等により手動で射出成形機
に設定していた。例えば、成形品良否判別の変量データ
をクッション量とすると、何回か成形を行って良品の得
られるクッション量の上限，下限値を求めて、この上
限，下限値に基いて成形品良否判別のための基準値を設
定している。しかし、この方法ではオペレータの個人差
によって基準値にばらつきが生じ、また、最適な基準値
を決定するまでに手数を要するという欠点がある。
そこで、本発明の目的は、上記成形品良否判別のため
の基準値を射出成形機自体が自動的に決定し、設定する
方法及び装置を提供することにある。
の基準値を射出成形機自体が自動的に決定し、設定する
方法及び装置を提供することにある。
課題を解決するための手段 本発明は、基準値設定モードに切換える手段と、該基
準値設定モードに切換えられたとき、設定数の成形サイ
クルで検出された変量データより、該変量データの平均
値及び標準偏差を求める手段と、求められた平均値と標
準偏差により成形品の良否を判別するための当該変量の
基準値としての最大値，最小値を自動的に設定する手段
とを設けることによって上記課題を解決した。
準値設定モードに切換えられたとき、設定数の成形サイ
クルで検出された変量データより、該変量データの平均
値及び標準偏差を求める手段と、求められた平均値と標
準偏差により成形品の良否を判別するための当該変量の
基準値としての最大値，最小値を自動的に設定する手段
とを設けることによって上記課題を解決した。
作用 基準値設定モードに切換えられた後、設定されている
数の成形サイクルにおいて検出される変量データより該
変量データの平均値、標準偏差を求め、該平均値、標準
偏差より、成形品の良否を判別するための当該変量の基
準値としての最大値，最小値を求め自動的に設定するよ
うにしたため、この最大値，最小値を基準値の最大値，
最小値として自動的に設定するから、オペレータの個人
差による設定値のばらつきや基準値設定のための判断，
設定手順等、面倒な操作を行う必要なく最適な基準値設
定が容易にできる。
数の成形サイクルにおいて検出される変量データより該
変量データの平均値、標準偏差を求め、該平均値、標準
偏差より、成形品の良否を判別するための当該変量の基
準値としての最大値，最小値を求め自動的に設定するよ
うにしたため、この最大値，最小値を基準値の最大値，
最小値として自動的に設定するから、オペレータの個人
差による設定値のばらつきや基準値設定のための判断，
設定手順等、面倒な操作を行う必要なく最適な基準値設
定が容易にできる。
実施例 第３図は、本発明の一実施例の射出成形機における制
御装置としてのNC装置の要部ブロック図で、NC装置１は
NC用のマイクロプロセッサ（以下、CPUという）２と、
プログラマブル・マシン・コントローラ（以下、PMCと
いう）用のCPU3を有しており、PMC用CPU3には射出成形
機のシーケンスプログラムを記憶したROM5、及び、デー
タの記憶演算等に利用されるRAM6が接続され、NC用CPU2
には射出成形機を全体的に制御する制御プログラムを記
憶したROM7,データの一時記憶，演算等に利用されるRAM
8及びサーボインタフェイス９を介して、射出用，クラ
ンプ用，スクリュー回転用，エジェクタ用の各軸のサー
ボモータを駆動制御するサーボ回路10〜13が接続され、
該サーボ回路10〜13には、各軸のサーボモータ及び各サ
ーボモータの回転位置を検出する検出器が接続され、ま
た、出力回路16から出力されるトルクリミッタ値を受信
し（第３図中では接続関係を省略）、サーボモータの位
置，速度，トルクを制御している。また、14はCMOSメモ
リやバブルメモリで構成される不揮発性の共有RAMで、
射出成形機の各動作を制御するNCプログラムや後述の各
種設定値等を記憶するものである。17はCRT表示装置付
手動データ入力装置（以下、CRT/MDIという）で、該CRT
/MDI17は、インタフェイス18を介してバスアービタコン
トローラ（以下、BACという）４に接続され、該BAC4に
はNC用CPU2及びPMC用CPU3,共有RAM14,入力回路15,出力
回路16の各バスが接続され、該BAC4によって使用するバ
スを制御するようになっている。入力回路15には射出成
形機に取付けられた各種センサが接続され、出力回路16
には各種アクチュエイタが接続されている。以上の構成
は、従来のNC装置で制御される射出成形機のNC装置の構
成と変るところはない。
御装置としてのNC装置の要部ブロック図で、NC装置１は
NC用のマイクロプロセッサ（以下、CPUという）２と、
プログラマブル・マシン・コントローラ（以下、PMCと
いう）用のCPU3を有しており、PMC用CPU3には射出成形
機のシーケンスプログラムを記憶したROM5、及び、デー
タの記憶演算等に利用されるRAM6が接続され、NC用CPU2
には射出成形機を全体的に制御する制御プログラムを記
憶したROM7,データの一時記憶，演算等に利用されるRAM
8及びサーボインタフェイス９を介して、射出用，クラ
ンプ用，スクリュー回転用，エジェクタ用の各軸のサー
ボモータを駆動制御するサーボ回路10〜13が接続され、
該サーボ回路10〜13には、各軸のサーボモータ及び各サ
ーボモータの回転位置を検出する検出器が接続され、ま
た、出力回路16から出力されるトルクリミッタ値を受信
し（第３図中では接続関係を省略）、サーボモータの位
置，速度，トルクを制御している。また、14はCMOSメモ
リやバブルメモリで構成される不揮発性の共有RAMで、
射出成形機の各動作を制御するNCプログラムや後述の各
種設定値等を記憶するものである。17はCRT表示装置付
手動データ入力装置（以下、CRT/MDIという）で、該CRT
/MDI17は、インタフェイス18を介してバスアービタコン
トローラ（以下、BACという）４に接続され、該BAC4に
はNC用CPU2及びPMC用CPU3,共有RAM14,入力回路15,出力
回路16の各バスが接続され、該BAC4によって使用するバ
スを制御するようになっている。入力回路15には射出成
形機に取付けられた各種センサが接続され、出力回路16
には各種アクチュエイタが接続されている。以上の構成
は、従来のNC装置で制御される射出成形機のNC装置の構
成と変るところはない。
次に、成形品良否判別のための基準値設定処理につい
て、以下説明する。
て、以下説明する。
各種成形条件を調節し、良品の成形品が得られる安定
した状態になった後、CRT/MDI17を操作し、基準値設定
モードにして射出成形機を稼動させる。射出成形機は型
閉じ，型締，射出，保圧，計量，冷却，型開きの各工程
からなる成形サイクルを繰返し行い、成形品を成形す
る。そして、従来と同様、この成形サイクル中に成形品
の良否判別のための変量データ、例えばクッション量，
射出時間，計量時間、さらには、ピーク射出圧や計量完
了位置等を検出し、共有RAM14内に記憶する。一方、型
開きが完了し、一成形サイクルが終了すると、PMC用CPU
3は第１図に示す基準値設定または成形品良否判別の処
理を開始する。
した状態になった後、CRT/MDI17を操作し、基準値設定
モードにして射出成形機を稼動させる。射出成形機は型
閉じ，型締，射出，保圧，計量，冷却，型開きの各工程
からなる成形サイクルを繰返し行い、成形品を成形す
る。そして、従来と同様、この成形サイクル中に成形品
の良否判別のための変量データ、例えばクッション量，
射出時間，計量時間、さらには、ピーク射出圧や計量完
了位置等を検出し、共有RAM14内に記憶する。一方、型
開きが完了し、一成形サイクルが終了すると、PMC用CPU
3は第１図に示す基準値設定または成形品良否判別の処
理を開始する。
型開き完了信号が出され、一成形サイクルが終了する
と、PMC用CPU3は、まず、基準値設定モードか否か判断
し（ステップS1）、基準値設定モードに設定されている
と、基準値設定モードにおける成形サイクルを計数する
指標ｊを「１」インクリメントし（なお、この指標ｊは
射出成形機稼動開始時に初期設定され、「０」が設定さ
れている）、成形品の良否を判別するための変量を設定
する指標ｉ、及び、共有RAM14中に設けられた各変量デ
ータｉ（ｘ）（ｉ＝０〜（ｎ−１））の最大値，最小値
を記憶するレジスタR0（max）〜Ｒ（ｎ−１）（max）,R
0（min）〜Ｒ（ｎ−１）（min）及び変量データｉ
（ｘ）の加算値を記憶する加算レジスタR0（sum）〜Ｒ
（ｎ−１）（sum）を「０」にセットする（ステップS
2）。次に、成形サイクル中に検出され、共有RAM14内に
記憶されている当該成形サイクルの指標ｉ（＝０）で指
定される変量のデータｉ（ｘ）（例えばクッション量）
を読出し、該変量データｉ（ｘ）の最大値を記憶するレ
ジスタRi（max）と比較し（ステップS3）、検出変量デ
ータｉ（ｘ）が大きければ（始めは、Ri（max）＝０で
あり、変量データｉ（ｘ）の方が大きい）、最大値を記
憶するレジスタRi（max）にこの変量データｉ（ｘ）を
格納する（ステップS4）。なお、変量データｉ（ｘ）が
レジスタRi（max）の値以下であれば、このステップS4
の処理は行わない。
と、PMC用CPU3は、まず、基準値設定モードか否か判断
し（ステップS1）、基準値設定モードに設定されている
と、基準値設定モードにおける成形サイクルを計数する
指標ｊを「１」インクリメントし（なお、この指標ｊは
射出成形機稼動開始時に初期設定され、「０」が設定さ
れている）、成形品の良否を判別するための変量を設定
する指標ｉ、及び、共有RAM14中に設けられた各変量デ
ータｉ（ｘ）（ｉ＝０〜（ｎ−１））の最大値，最小値
を記憶するレジスタR0（max）〜Ｒ（ｎ−１）（max）,R
0（min）〜Ｒ（ｎ−１）（min）及び変量データｉ
（ｘ）の加算値を記憶する加算レジスタR0（sum）〜Ｒ
（ｎ−１）（sum）を「０」にセットする（ステップS
2）。次に、成形サイクル中に検出され、共有RAM14内に
記憶されている当該成形サイクルの指標ｉ（＝０）で指
定される変量のデータｉ（ｘ）（例えばクッション量）
を読出し、該変量データｉ（ｘ）の最大値を記憶するレ
ジスタRi（max）と比較し（ステップS3）、検出変量デ
ータｉ（ｘ）が大きければ（始めは、Ri（max）＝０で
あり、変量データｉ（ｘ）の方が大きい）、最大値を記
憶するレジスタRi（max）にこの変量データｉ（ｘ）を
格納する（ステップS4）。なお、変量データｉ（ｘ）が
レジスタRi（max）の値以下であれば、このステップS4
の処理は行わない。
次に、基準値モードの成形サイクルを計数する指標ｊ
が「１」か否か判断し（ステップS5）、「１」ならば検
出変量データｉ（ｘ）を当該変量データの最小値を記憶
するレジスタRi（min）に格納する（ステップS7）。ま
た、指標ｊが「１」でなければ、既にレジスタRi（mi
n）には、当該成形サイクル前の最小値が記憶されてい
るので、当該サイクルの検出変量データｉ（ｘ）とレジ
スタRi（min）の値を比較し（ステップS6）、検出変量
データｉ（ｘ）が小さいときのみ、レジスタRi（min）
の値を検出変量データｉ（ｘ）に書き変える（ステップ
S7）。次に、各成形サイクルの当該変量データｉ（ｘ）
の合計を記憶する加算レジスタRi（sum）に変量データ
ｉ（ｘ）を加算し（ステップS8）、指標ｊ、即ち加算レ
ジスタRi（sum）に変量データｉ（ｘ）を加算した数
（成形サイクルの数）で加算レジスタRi（sum）を除
し、当該変量データｉ（ｘ）の平均値を記憶するレジス
タｉに書込む（ステップS9）。そして、指標ｉを
「１」インクリメントし（ステップS10）、該指標ｉが
良否判別のために使用する変量の数ｎ以上か否か判断し
（ステップS11）、小さければ再びステップS3以下の処
理を行う。即ち、良否判別を１つの変量データ、例えば
クッション量で行うとすればｎ＝１であり、ステップS1
1でｉ＝ｎ＝１と判断され、この処理は終了する。その
結果、クッション量の最大値，最小値，平均値がレジス
タR0（max）,R0（min），０に格納されていることと
なる。また、良否判別のための変量が、例えば、クッシ
ョン量，射出時間，計量時間の３つであると、ｎ＝３で
各変量の最大値，最小値，平均値がレジスタR0（max）
〜R2（max）,R0（min）〜R2（min），０〜２に格納
されることとなる。
が「１」か否か判断し（ステップS5）、「１」ならば検
出変量データｉ（ｘ）を当該変量データの最小値を記憶
するレジスタRi（min）に格納する（ステップS7）。ま
た、指標ｊが「１」でなければ、既にレジスタRi（mi
n）には、当該成形サイクル前の最小値が記憶されてい
るので、当該サイクルの検出変量データｉ（ｘ）とレジ
スタRi（min）の値を比較し（ステップS6）、検出変量
データｉ（ｘ）が小さいときのみ、レジスタRi（min）
の値を検出変量データｉ（ｘ）に書き変える（ステップ
S7）。次に、各成形サイクルの当該変量データｉ（ｘ）
の合計を記憶する加算レジスタRi（sum）に変量データ
ｉ（ｘ）を加算し（ステップS8）、指標ｊ、即ち加算レ
ジスタRi（sum）に変量データｉ（ｘ）を加算した数
（成形サイクルの数）で加算レジスタRi（sum）を除
し、当該変量データｉ（ｘ）の平均値を記憶するレジス
タｉに書込む（ステップS9）。そして、指標ｉを
「１」インクリメントし（ステップS10）、該指標ｉが
良否判別のために使用する変量の数ｎ以上か否か判断し
（ステップS11）、小さければ再びステップS3以下の処
理を行う。即ち、良否判別を１つの変量データ、例えば
クッション量で行うとすればｎ＝１であり、ステップS1
1でｉ＝ｎ＝１と判断され、この処理は終了する。その
結果、クッション量の最大値，最小値，平均値がレジス
タR0（max）,R0（min），０に格納されていることと
なる。また、良否判別のための変量が、例えば、クッシ
ョン量，射出時間，計量時間の３つであると、ｎ＝３で
各変量の最大値，最小値，平均値がレジスタR0（max）
〜R2（max）,R0（min）〜R2（min），０〜２に格納
されることとなる。
以下、成形サイクル終了する毎にステップS1〜S11の
処理を繰返し、基準値設定モードにおける現在までの各
変量データの最大値，最小値，平均値がレジスタRi（ma
x）,Ri（min），ｉに記憶されることとなる。
処理を繰返し、基準値設定モードにおける現在までの各
変量データの最大値，最小値，平均値がレジスタRi（ma
x）,Ri（min），ｉに記憶されることとなる。
基準値設定モードで成形サイクルを適当な回数行い、
オペレータが基準値設定モードをオフにし、通常の成形
モードにすると、以後は、各成形サイクルが終了する毎
にステップS1からステップS12へ移行し、変量データの
指標ｉを「０」にセットし、当該成形サイクルで検出さ
れた指標ｉで示される変量データｉ（ｘ）の値が、共有
RAM14内の当該変量データの最大値，最小値を記憶する
レジスタRi（min）,Ri（max）で示される範囲内にある
か否か、即ち、Ri（min）≦ｉ（ｘ）≦Ri（max）である
か否か判断され（ステップS13）、範囲内にあれば指標
ｉを「１」インクリメントし、次の変量データも、当該
変量データの最大値Ri（max），最小値Ri（min）内にあ
るか否か判断され、指標ｉが変量の数ｎになるまで（ス
テップS15）、ステップS13〜S15の処理が行われ、その
間１つでも検出変量データｉ（ｘ）が最大値，最小値内
にないとき（Ri（min）≦ｉ（ｘ）≦Ri（max）でないと
き）、CRT/MDI17のCRT画面に不良品である旨の表示を行
う（ステップS16）。
オペレータが基準値設定モードをオフにし、通常の成形
モードにすると、以後は、各成形サイクルが終了する毎
にステップS1からステップS12へ移行し、変量データの
指標ｉを「０」にセットし、当該成形サイクルで検出さ
れた指標ｉで示される変量データｉ（ｘ）の値が、共有
RAM14内の当該変量データの最大値，最小値を記憶する
レジスタRi（min）,Ri（max）で示される範囲内にある
か否か、即ち、Ri（min）≦ｉ（ｘ）≦Ri（max）である
か否か判断され（ステップS13）、範囲内にあれば指標
ｉを「１」インクリメントし、次の変量データも、当該
変量データの最大値Ri（max），最小値Ri（min）内にあ
るか否か判断され、指標ｉが変量の数ｎになるまで（ス
テップS15）、ステップS13〜S15の処理が行われ、その
間１つでも検出変量データｉ（ｘ）が最大値，最小値内
にないとき（Ri（min）≦ｉ（ｘ）≦Ri（max）でないと
き）、CRT/MDI17のCRT画面に不良品である旨の表示を行
う（ステップS16）。
以下、成形サイクルが終了する毎に、ステップS1,S12
〜S16の処理を行い、成形品の良否判別を行うこととな
る。
〜S16の処理を行い、成形品の良否判別を行うこととな
る。
なお、ステップS9で変量データｉ（ｘ）の平均値ｉ
を求めたが、これは、変量データｉ（ｘ）の平均値とし
て表示するためのもので、成形品の良否判別には使用し
ない。そのため、ステップS8,S9の処理は本発明におい
ては直接必要としていない。
を求めたが、これは、変量データｉ（ｘ）の平均値とし
て表示するためのもので、成形品の良否判別には使用し
ない。そのため、ステップS8,S9の処理は本発明におい
ては直接必要としていない。
上記実施例では、基準値設定モードにおける全成形サ
イクル内での変量データの最大値，最小値を求めて、こ
れを当該変量データの基準値としたが、変量データが正
規分布すると考え、各変量データ毎、その平均値及び標
準偏差を求め、これにより、各変量データの基準値の最
大値，最小値を求めてもよい。即ち、１種類の変量デー
タｘ、例えば、クッション量に対しｊ個のデータを求め
たとすると、その平均は、＝x/jとして求められ、
また、標準偏差σは次式で求められる。
イクル内での変量データの最大値，最小値を求めて、こ
れを当該変量データの基準値としたが、変量データが正
規分布すると考え、各変量データ毎、その平均値及び標
準偏差を求め、これにより、各変量データの基準値の最
大値，最小値を求めてもよい。即ち、１種類の変量デー
タｘ、例えば、クッション量に対しｊ個のデータを求め
たとすると、その平均は、＝x/jとして求められ、
また、標準偏差σは次式で求められる。
そこで、各成形サイクルで検出されたデータｘを順次
レジスタR1に加算し、また、該データの２乗x2をレジス
タR2に加算するとすれば、即ち、 とすれば、第（１）式は、 となり、正規分布では（−３σ）と（＋３σ）の間
に99.7％のデータが含まれることとなるから、この（
−３σ），（＋３σ）を当該変量データの最小値，最
大値と設定するようにしてもよい。
レジスタR1に加算し、また、該データの２乗x2をレジス
タR2に加算するとすれば、即ち、 とすれば、第（１）式は、 となり、正規分布では（−３σ）と（＋３σ）の間
に99.7％のデータが含まれることとなるから、この（
−３σ），（＋３σ）を当該変量データの最小値，最
大値と設定するようにしてもよい。
上記第１の実施例が成形条件を設定し、安定した成形
が得られる状態で基準値設定モードにして、最大値，最
小値を求めたことに対し、この平均と標準偏差により最
大値，最小値を基準値として設定する方法は、成形条件
を設定した後、直ちに基準値設定モードにして、第１の
実施例より基準値設定モードでの成形サイクルの数を多
くするようにすればよい。
が得られる状態で基準値設定モードにして、最大値，最
小値を求めたことに対し、この平均と標準偏差により最
大値，最小値を基準値として設定する方法は、成形条件
を設定した後、直ちに基準値設定モードにして、第１の
実施例より基準値設定モードでの成形サイクルの数を多
くするようにすればよい。
この平均と標準偏差による基準値設定方法を第２の実
施例として第２図に示す。
施例として第２図に示す。
まず、第１の実施例と同様に、成形サイクルが終了す
る毎に第２図に示す処理を行い、基準値設定モードであ
れば（ステップS21）、基準値設定モードにおける成形
サイクルの数を計数する指標ｊを「１」インクリメント
し（なお、初期値は第１の実施例と同様に「０」であ
る）、変量を示す指標ｉ、及び、変量データｉ（ｘ）の
加算値及び変量データの２乗ｉ（ｘ）２の加算値を記憶
するレジスタRi1,Ri2（ｉ＝１〜（ｎ−１））を「０」
にセットする（ステップS22）。そして、当該成形サイ
クルで検出した変量データｉ（ｘ）及びその２乗ｉ
（ｘ）２を各々レジスタRi1,Ri2に加算し（ステップS2
3,S24）、指標ｊが「１」か否か判断し（ステップS2
5）、「１」ならば、標準偏差，平均は求める必要がな
いからステップS30へ移行し、「１」でなければ第
（４）式で示す演算を当該変量ｉに対して行い、当該変
量ｉの標準偏差σｉを求める（ステップS26）。次に、
当該変量ｉの平均Ri1/j＝ｉを求め、求めた平均ｉ
に標準偏差σｉの３倍を加算した値を当該変量ｉの最大
値としてレジスタRi（max）に書込む（ステップS28）。
また、平均ｉから標準偏差σｉの３倍を減じた値を最
小値としてレジスタRi（min）に書込む（ステップ2
9）。そして、指標ｉを「１」インクリメントし（ステ
ップS30）、指標ｉが変量の数ｎに達してなければ（ス
テップS31）、達するまでステップS23〜S31の処理を繰
返し、ｉ＝ｎとなる当該処理を終了する。以下、各成形
サイクルが終了する毎にステップS21〜S31の処理を行
い、各変量ｉの最大値，最小値をレジスタRi（max）,Ri
（min）に記憶させる。
る毎に第２図に示す処理を行い、基準値設定モードであ
れば（ステップS21）、基準値設定モードにおける成形
サイクルの数を計数する指標ｊを「１」インクリメント
し（なお、初期値は第１の実施例と同様に「０」であ
る）、変量を示す指標ｉ、及び、変量データｉ（ｘ）の
加算値及び変量データの２乗ｉ（ｘ）２の加算値を記憶
するレジスタRi1,Ri2（ｉ＝１〜（ｎ−１））を「０」
にセットする（ステップS22）。そして、当該成形サイ
クルで検出した変量データｉ（ｘ）及びその２乗ｉ
（ｘ）２を各々レジスタRi1,Ri2に加算し（ステップS2
3,S24）、指標ｊが「１」か否か判断し（ステップS2
5）、「１」ならば、標準偏差，平均は求める必要がな
いからステップS30へ移行し、「１」でなければ第
（４）式で示す演算を当該変量ｉに対して行い、当該変
量ｉの標準偏差σｉを求める（ステップS26）。次に、
当該変量ｉの平均Ri1/j＝ｉを求め、求めた平均ｉ
に標準偏差σｉの３倍を加算した値を当該変量ｉの最大
値としてレジスタRi（max）に書込む（ステップS28）。
また、平均ｉから標準偏差σｉの３倍を減じた値を最
小値としてレジスタRi（min）に書込む（ステップ2
9）。そして、指標ｉを「１」インクリメントし（ステ
ップS30）、指標ｉが変量の数ｎに達してなければ（ス
テップS31）、達するまでステップS23〜S31の処理を繰
返し、ｉ＝ｎとなる当該処理を終了する。以下、各成形
サイクルが終了する毎にステップS21〜S31の処理を行
い、各変量ｉの最大値，最小値をレジスタRi（max）,Ri
（min）に記憶させる。
そして、基準値設定モードで成形サイクルを適当回数
行い、通常の成形モードに切替えると、PMC用CPU3はス
テップS21からステップS32へ移行し、成形品の良否判断
を行うこととなる。この良否判断処理（ステップS32）
は第１の実施例と同様で、第１図のステップS12〜S16の
処理であり、説明は省略する。
行い、通常の成形モードに切替えると、PMC用CPU3はス
テップS21からステップS32へ移行し、成形品の良否判断
を行うこととなる。この良否判断処理（ステップS32）
は第１の実施例と同様で、第１図のステップS12〜S16の
処理であり、説明は省略する。
なお、上記第２の実施例において、最大値，最小値を
平均に標準偏差σの３倍を加算又は減算して求めた
が、成形状態の安定度等を考慮して平均に標準偏差σ
の２倍を加算又は減算して求めてもよい（Ri（max）＝
ｉ＋２σ,Ri（min＝ｉ−２σ）。
平均に標準偏差σの３倍を加算又は減算して求めた
が、成形状態の安定度等を考慮して平均に標準偏差σ
の２倍を加算又は減算して求めてもよい（Ri（max）＝
ｉ＋２σ,Ri（min＝ｉ−２σ）。
なお、この場合は、データが正規分布すると考えれ
ば、95％のデータがこの最大値，最小値間に含まれるこ
ととなる。
ば、95％のデータがこの最大値，最小値間に含まれるこ
ととなる。
発明の効果 本発明は、基準値設定モードに切換えられた後の設定
数の成形サイクルで得られた変量データの平均値及び標
準偏差を求め、この平均値及び標準偏差より、成形品の
良否を判別するための該変量データの上限値、下限値と
なる基準値を自動的に設定するようにしたから、射出成
形機自体が自動的に基準値を決定し設定するので成形品
の良否を判別するための基準値設定がより適確にかつ簡
単になる。又、変量データの平均値及び標準偏差に基づ
いて基準値が決定されるから、成形品の良否判別の基準
値が厳しすぎることも、又甘すぎることもなく最適なも
のに設定するこができる。そのため、従来のように人間
が基準値を設定する場合には、一度設定しても、それが
最適か否か再度検討する必要があるが、本発明において
は再度検討する必要がなく、基準値設定の手数が非常に
簡単となる。
数の成形サイクルで得られた変量データの平均値及び標
準偏差を求め、この平均値及び標準偏差より、成形品の
良否を判別するための該変量データの上限値、下限値と
なる基準値を自動的に設定するようにしたから、射出成
形機自体が自動的に基準値を決定し設定するので成形品
の良否を判別するための基準値設定がより適確にかつ簡
単になる。又、変量データの平均値及び標準偏差に基づ
いて基準値が決定されるから、成形品の良否判別の基準
値が厳しすぎることも、又甘すぎることもなく最適なも
のに設定するこができる。そのため、従来のように人間
が基準値を設定する場合には、一度設定しても、それが
最適か否か再度検討する必要があるが、本発明において
は再度検討する必要がなく、基準値設定の手数が非常に
簡単となる。
第１図は、本発明の第１の実施例の動作処理フローチャ
ート、第２図は、同第２の実施例の動作処理フローチャ
ート、第３図は、同各実施例を実施する射出成形機の制
御部の要部ブロック図である。 １……射出成形機。
ート、第２図は、同第２の実施例の動作処理フローチャ
ート、第３図は、同各実施例を実施する射出成形機の制
御部の要部ブロック図である。 １……射出成形機。
Claims (2)
- 【請求項１】各成形サイクル中に成形品の良否を判別す
るための変量データを検出し、検出変量データと当該変
量に対する基準値を比較し成形品の良否を判別する射出
成形機における上記基準値の設定方法において、基準値
設定モードで稼動された射出成形機の各成形サイクルで
検出された上記変量データの平均値及び標準偏差を求
め、該平均値と標準偏差により当該変量の基準値として
の最大値，最小値を自動的に設定するようにした成形品
の良否判別基準値自動設定方法。 - 【請求項２】各成形サイクル中に成形品の良否を判別す
るための変量データを検出し、検出変量データと当該変
量に対する基準値を比較し成形品の良否を判別する射出
成形機における良否判別基準値自動設定装置であって、
基準値設定モードに切換える手段と、該基準値設定モー
ドに切換えられた後に設定数の成形サイクルで検出され
た上記変量データより、該変量データの平均値及び標準
偏差を求める手段と、求められた平均値と標準偏差によ
り成形品の良否を判別するための当該変量の基準値とし
ての最大値，最小値を自動的に設定する手段とを備える
ことを特徴とする良否判別基準値自動設定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63257350A JP2862881B2 (ja) | 1988-10-14 | 1988-10-14 | 成形品の良否判別基準値自動設定方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63257350A JP2862881B2 (ja) | 1988-10-14 | 1988-10-14 | 成形品の良否判別基準値自動設定方法及び装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02106315A JPH02106315A (ja) | 1990-04-18 |
| JP2862881B2 true JP2862881B2 (ja) | 1999-03-03 |
Family
ID=17305160
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63257350A Expired - Fee Related JP2862881B2 (ja) | 1988-10-14 | 1988-10-14 | 成形品の良否判別基準値自動設定方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2862881B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06510495A (ja) * | 1991-09-12 | 1994-11-24 | エンゲル・マシネンバウ・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング | 製品を製造するための機械を制御する方法、特に射出成形機を制御する方法 |
| JP3756872B2 (ja) | 2002-11-07 | 2006-03-15 | 日精樹脂工業株式会社 | 成形品の判別条件設定方法 |
| JP5155432B1 (ja) * | 2011-10-18 | 2013-03-06 | ファナック株式会社 | 射出成形機の異常検出装置 |
| JP5155439B1 (ja) * | 2011-12-20 | 2013-03-06 | ファナック株式会社 | 射出成形機の異常検出装置 |
| US20230367293A1 (en) | 2020-10-05 | 2023-11-16 | Fanuc Corporation | State determination device and state determination method |
| DE112021005268T5 (de) | 2020-10-05 | 2023-08-03 | Fanuc Corporation | Zustandsbestimmungsvorrichtung und zustandsbestimmungsverfahren |
| JP7525631B2 (ja) | 2020-10-05 | 2024-07-30 | ファナック株式会社 | 状態判定装置及び状態判定方法 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6024915A (ja) * | 1983-07-20 | 1985-02-07 | Nissei Plastics Ind Co | 成形機の監視方法 |
| JPS61229523A (ja) * | 1985-04-04 | 1986-10-13 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 射出圧力の自動監視方法 |
| JPH0692106B2 (ja) * | 1987-03-05 | 1994-11-16 | 宇部興産株式会社 | 成形監視デ−タ処理システム |
-
1988
- 1988-10-14 JP JP63257350A patent/JP2862881B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02106315A (ja) | 1990-04-18 |
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