JP2681845B2 - 成形品良否判別方法及び装置 - Google Patents
成形品良否判別方法及び装置Info
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- JP2681845B2 JP2681845B2 JP25523990A JP25523990A JP2681845B2 JP 2681845 B2 JP2681845 B2 JP 2681845B2 JP 25523990 A JP25523990 A JP 25523990A JP 25523990 A JP25523990 A JP 25523990A JP 2681845 B2 JP2681845 B2 JP 2681845B2
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Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、射出成形機で成形される成形品の良否を射
出成形機を制御する制御装置が自動的に判別する成形品
良否判別方法に関する。
出成形機を制御する制御装置が自動的に判別する成形品
良否判別方法に関する。
従来の技術 射出成形機の各成形サイクルで成形される成形品の良
否を射出成形機を制御する制御装置によって各成形サイ
クル毎自動的に判別する方法はすでに公知である。例え
ば、射出工程における樹脂圧をサンプリングし、予め設
定されている基準となる各サンプリング時の樹脂圧と比
較し、この比較結果によって成形品の良否を判別する方
法が特開平２−48918号公報によって公知である。
否を射出成形機を制御する制御装置によって各成形サイ
クル毎自動的に判別する方法はすでに公知である。例え
ば、射出工程における樹脂圧をサンプリングし、予め設
定されている基準となる各サンプリング時の樹脂圧と比
較し、この比較結果によって成形品の良否を判別する方
法が特開平２−48918号公報によって公知である。
また、射出開始からの時間を計測し、設定された時間
に達したときのスクリュー位置が設定された範囲の位置
か否か、または、射出圧が設定された範囲内か否かによ
って成形品の良否を判別したり、射出時の設定されたス
クリュー位置におれる射出圧が設定範囲内にあるか否か
によって成形品の良否を判別する等の方法で成形品の良
否を判別する方法も特開平２−78516号公報で公知であ
る。
に達したときのスクリュー位置が設定された範囲の位置
か否か、または、射出圧が設定された範囲内か否かによ
って成形品の良否を判別したり、射出時の設定されたス
クリュー位置におれる射出圧が設定範囲内にあるか否か
によって成形品の良否を判別する等の方法で成形品の良
否を判別する方法も特開平２−78516号公報で公知であ
る。
さらに、成形サイクル中の各種動作状態を表す値を監
視項目とし、これら監視項目の値を各成形サイクル毎検
出し、夫々の項目に設定されている設定範囲内に検出値
があればその成形サイクルで成形された成形品を良品と
判断し、範囲外であれば、不良品と判別して成形品の良
否を判別する方法も公知である（例えば特公平２−1063
15号公報参照）。この場合、複数の監視項目の内一つで
も設定範囲内に検出値がないと不良と判断したり、すべ
ての監視項目において、検出値が各設定範囲内にあると
きのみ成形品を良品と判別する方法が採られていた。
視項目とし、これら監視項目の値を各成形サイクル毎検
出し、夫々の項目に設定されている設定範囲内に検出値
があればその成形サイクルで成形された成形品を良品と
判断し、範囲外であれば、不良品と判別して成形品の良
否を判別する方法も公知である（例えば特公平２−1063
15号公報参照）。この場合、複数の監視項目の内一つで
も設定範囲内に検出値がないと不良と判断したり、すべ
ての監視項目において、検出値が各設定範囲内にあると
きのみ成形品を良品と判別する方法が採られていた。
発明が解決しようとする課題 複数ある監視項目の内１つでもその監視項目に対して
設定されている設定範囲内に検出値がないとき、その成
形サイクルで成形された成形品を不良品とする場合、良
品を不良品と判別する場合がある。それは、成形動作に
おける各動作状態を表す値は相互に関係し合っているこ
とから、１つの監視項目が設定範囲内になくても、良品
の成形品が成形されることがあるからである。また、１
つの監視項目で良品と判別されても、不良品が成形され
る場合もある（他の監視項目の動作状態を表す値が適し
た値ではない）。
設定されている設定範囲内に検出値がないとき、その成
形サイクルで成形された成形品を不良品とする場合、良
品を不良品と判別する場合がある。それは、成形動作に
おける各動作状態を表す値は相互に関係し合っているこ
とから、１つの監視項目が設定範囲内になくても、良品
の成形品が成形されることがあるからである。また、１
つの監視項目で良品と判別されても、不良品が成形され
る場合もある（他の監視項目の動作状態を表す値が適し
た値ではない）。
また、すべての監視項目に対して検出値が設定範囲内
にないと判断されたとき成形品を不良品と判別するよう
にした場合、不良品でも良品と判別される確率が高くな
り、良否判別を誤る場合がでてくる。
にないと判断されたとき成形品を不良品と判別するよう
にした場合、不良品でも良品と判別される確率が高くな
り、良否判別を誤る場合がでてくる。
そこで、本発明の目的は複数の監視項目で成形品の良
否を判別する方法において極力判別誤りをなくした成形
品良否判別方法を提供することにある。
否を判別する方法において極力判別誤りをなくした成形
品良否判別方法を提供することにある。
課題を解決するための手段 成形品を成形する１サイクル中の各種動作状態を成形
品の良否を判別する監視項目として検出し、１サイクル
終了後射出成形機の制御装置が自動的に該監視項目の検
出値が夫々設定された範囲内にあるか否か判断して、各
成形品の良否を判別する成形品判別方法及び装置におい
て、本発明は、成形サイクル中に検出された各監視項目
の検出値が設定範囲内にあるか、該範囲より大きいか、
または該範囲より小さいかを判定する判定手段を設けて
判定し、全監視項目の判定結果の組み合わせに対応して
成形品の良否を記憶手段に予め記憶しておき、各成形サ
イクル終了後に、上記判定手段で判定された全監視項目
の判定結果の組み合わせに対応する成形品の良否を上記
記憶手段より読みだし、成形品の良否を判断する判断手
段を設けて、該判断手段より成形品良もしくは不良の信
号を送出することにより上記課題を解決した。
品の良否を判別する監視項目として検出し、１サイクル
終了後射出成形機の制御装置が自動的に該監視項目の検
出値が夫々設定された範囲内にあるか否か判断して、各
成形品の良否を判別する成形品判別方法及び装置におい
て、本発明は、成形サイクル中に検出された各監視項目
の検出値が設定範囲内にあるか、該範囲より大きいか、
または該範囲より小さいかを判定する判定手段を設けて
判定し、全監視項目の判定結果の組み合わせに対応して
成形品の良否を記憶手段に予め記憶しておき、各成形サ
イクル終了後に、上記判定手段で判定された全監視項目
の判定結果の組み合わせに対応する成形品の良否を上記
記憶手段より読みだし、成形品の良否を判断する判断手
段を設けて、該判断手段より成形品良もしくは不良の信
号を送出することにより上記課題を解決した。
また、上記各監視項目の設定範囲を複数のランクに分
け、各監視項目毎に当該監視項目の検出値がどのランク
に属するか判定する判定手段を設けてランクを判定し、
全監視項目の判定結果の組み合わせに対応して成形品の
良否を記憶手段に予め記憶しておき、各成形サイクル終
了後に、上記判定手段で判定された全監視項目の判定結
果の組み合わせに対応する成形品の良否を上記記憶手段
より読みだし、成形品の良否を判断する判断手段を設け
て、該判断手段より成形品良もしくは不良の信号を送出
することにより精度が高く成形品の良否を判別する。
け、各監視項目毎に当該監視項目の検出値がどのランク
に属するか判定する判定手段を設けてランクを判定し、
全監視項目の判定結果の組み合わせに対応して成形品の
良否を記憶手段に予め記憶しておき、各成形サイクル終
了後に、上記判定手段で判定された全監視項目の判定結
果の組み合わせに対応する成形品の良否を上記記憶手段
より読みだし、成形品の良否を判断する判断手段を設け
て、該判断手段より成形品良もしくは不良の信号を送出
することにより精度が高く成形品の良否を判別する。
作用 射出成形機の制御装置は各成形サイクル中に各監視項
目に対応する動作状態の値を検出し、各成形サイクル終
了後、上記判定手段はこの各検出値が夫々設定されてい
る設定範囲にあるか否か、設定範囲より大きいか、小さ
いかを判別し、全監視項目に対するこの判別結果の組み
合わせを得て、上記判断手段は上記記憶手段を検索して
得られた判定結果の組み合わせと一致する組み合わせを
を求め、該組み合わせに対して記憶されている成形品の
良否の情報によって成形品の良否を判別し、成形品良も
しくは不良の信号を送出する。または、各監視項目の設
定範囲を複数のランクに分け、監視項目の検出値が設定
範囲のどのランクに属するか判定し、全監視項目の判定
結果の組み合わせによって同様にして成形品の良否を判
別する。
目に対応する動作状態の値を検出し、各成形サイクル終
了後、上記判定手段はこの各検出値が夫々設定されてい
る設定範囲にあるか否か、設定範囲より大きいか、小さ
いかを判別し、全監視項目に対するこの判別結果の組み
合わせを得て、上記判断手段は上記記憶手段を検索して
得られた判定結果の組み合わせと一致する組み合わせを
を求め、該組み合わせに対して記憶されている成形品の
良否の情報によって成形品の良否を判別し、成形品良も
しくは不良の信号を送出する。または、各監視項目の設
定範囲を複数のランクに分け、監視項目の検出値が設定
範囲のどのランクに属するか判定し、全監視項目の判定
結果の組み合わせによって同様にして成形品の良否を判
別する。
実施例 以下、本発明の一実施例について説明する。
第２図は本発明の一実施例における射出成形機の制御
装置のブロック図で、本実施例においては、該制御装置
を数値制御装置（以下、NC装置という）10で構成してい
る。該NC装置10はNC用のマイクロプロセッサ（以下、CP
Uという）11とプログラマブルマシンコントローラ（以
下、PMCという）用のCPU12を有しており、PMC用CPU12に
は射出成形機のシーケンス動作を制御するシーケンスプ
ログラム等を記憶したROM18とデータの一時記憶、演算
等に用いられるRAM19が接続されている。
装置のブロック図で、本実施例においては、該制御装置
を数値制御装置（以下、NC装置という）10で構成してい
る。該NC装置10はNC用のマイクロプロセッサ（以下、CP
Uという）11とプログラマブルマシンコントローラ（以
下、PMCという）用のCPU12を有しており、PMC用CPU12に
は射出成形機のシーケンス動作を制御するシーケンスプ
ログラム等を記憶したROM18とデータの一時記憶、演算
等に用いられるRAM19が接続されている。
NC用CPU11には射出成形機を全体的に制御する管理プ
ログラムを記憶したROM14及び射出用，クランプ用，ス
クリュー回転用，エジェクタ用等の各軸のサーボモータ
を駆動制御するサーボ回路17がサーボインタフェイス16
を接続されている。また、20はバブルメモリやCMOSメモ
リで構成される不揮発性の共有RAMで、射出成形機の各
動作を制御するNCプログラム等を記憶するメモリ部，設
定された成形条件を記憶する成形条件メモリ部，各種監
視項目に対する設定範囲を記憶するメモリ部、及び後述
する各監視項目の設定範囲か、設定範囲より大きいか、
小さいかの組み合わせとその組み合わせのときは成形品
が良品か不良品かを記憶するテーブルを有している。
ログラムを記憶したROM14及び射出用，クランプ用，ス
クリュー回転用，エジェクタ用等の各軸のサーボモータ
を駆動制御するサーボ回路17がサーボインタフェイス16
を接続されている。また、20はバブルメモリやCMOSメモ
リで構成される不揮発性の共有RAMで、射出成形機の各
動作を制御するNCプログラム等を記憶するメモリ部，設
定された成形条件を記憶する成形条件メモリ部，各種監
視項目に対する設定範囲を記憶するメモリ部、及び後述
する各監視項目の設定範囲か、設定範囲より大きいか、
小さいかの組み合わせとその組み合わせのときは成形品
が良品か不良品かを記憶するテーブルを有している。
13はバスアービタコントローラ（以下、BACという）
で、該BAC13にはNC用CPU11及びPMC用CPU12,共有RAM20,
入力回路21,出力回路22の各バスが接続され、該BAC13に
よって使用するバスを制御するようになっている。入力
回路21には、射出成形機に設けた各種センサや周辺機器
からの入力線が接続され、出力回路22には射出成形機本
体の各種アクチュエイタや周辺機器への出力線が接続さ
れている。また、24はオペレータパネルコントローラ23
を介してBAC13に接続されたCRT表示装置付手動データ入
力装置（以下、CRT/MDIという）であり、ソフトキーや
テンキー等の各種操作キーを操作することにより様々な
指令及び設定データの入力ができるようになっている。
なお、15はNC用CPU11にバス接続されたRAMでデータの一
時記憶等に利用されるものである。
で、該BAC13にはNC用CPU11及びPMC用CPU12,共有RAM20,
入力回路21,出力回路22の各バスが接続され、該BAC13に
よって使用するバスを制御するようになっている。入力
回路21には、射出成形機に設けた各種センサや周辺機器
からの入力線が接続され、出力回路22には射出成形機本
体の各種アクチュエイタや周辺機器への出力線が接続さ
れている。また、24はオペレータパネルコントローラ23
を介してBAC13に接続されたCRT表示装置付手動データ入
力装置（以下、CRT/MDIという）であり、ソフトキーや
テンキー等の各種操作キーを操作することにより様々な
指令及び設定データの入力ができるようになっている。
なお、15はNC用CPU11にバス接続されたRAMでデータの一
時記憶等に利用されるものである。
以上の構成は、従来のNC装置で制御される射出成形機
の制御部（NC装置）と略同一である。
の制御部（NC装置）と略同一である。
第３図は、本実施例で使用する上記テーブルの一例
で、本実施例においては、監視項目として、クッション
量、射出時間、計量時間、計量位置、ピーク圧、Ｖ−Ｐ
位置（射出速度制御から保圧制御への切換位置）を用
い、上記テーブルには、該監視項目に対して設定された
範囲内か、範囲より大きいか小さいかの組み合わせに対
する成形品の良否判定を記憶している。第３図におい
て、監視項目に対して設定範囲内の時は「０」、設定値
より大きいときは「１」、設定値より小さいときは
「２」を記憶しており、判定の欄における「０」は成形
品が「良」、「１」は成形品が「不良」であることを示
している。例えば、ナンバーNa＝１のすべての監視項目
が設定範囲（「０」）であれば、成形品は良
（「０」）、ナンバーNa＝２のクッション量が設定範囲
より大きいく、他の監視項目が設定範囲内であれば、成
形品は「不良」（「１」）と記憶されている。また、ナ
ンバーNa＝４で示すように射出時間が設定範囲より大き
く、他の監視項目がすべて設定範囲内の時は成形品は
「不良」、しかしナンバーNa＝７のように射出時間が設
定範囲より小さくて他の監視項目が設定範囲内である場
合には、成形品は「良」と判定され、各監視項目の設定
範囲内かその範囲より大きいか小さいかの組み合わせに
よって成形品の良否判定を決めている。
で、本実施例においては、監視項目として、クッション
量、射出時間、計量時間、計量位置、ピーク圧、Ｖ−Ｐ
位置（射出速度制御から保圧制御への切換位置）を用
い、上記テーブルには、該監視項目に対して設定された
範囲内か、範囲より大きいか小さいかの組み合わせに対
する成形品の良否判定を記憶している。第３図におい
て、監視項目に対して設定範囲内の時は「０」、設定値
より大きいときは「１」、設定値より小さいときは
「２」を記憶しており、判定の欄における「０」は成形
品が「良」、「１」は成形品が「不良」であることを示
している。例えば、ナンバーNa＝１のすべての監視項目
が設定範囲（「０」）であれば、成形品は良
（「０」）、ナンバーNa＝２のクッション量が設定範囲
より大きいく、他の監視項目が設定範囲内であれば、成
形品は「不良」（「１」）と記憶されている。また、ナ
ンバーNa＝４で示すように射出時間が設定範囲より大き
く、他の監視項目がすべて設定範囲内の時は成形品は
「不良」、しかしナンバーNa＝７のように射出時間が設
定範囲より小さくて他の監視項目が設定範囲内である場
合には、成形品は「良」と判定され、各監視項目の設定
範囲内かその範囲より大きいか小さいかの組み合わせに
よって成形品の良否判定を決めている。
以下このテーブルには、各監視項目の設定範囲内か、
範囲より大きいか、小さいかの組み合わせ36＝729通り
と（Ｎ＝１〜729）、各組み合わせにおける成形品の良
否を記憶している。
範囲より大きいか、小さいかの組み合わせ36＝729通り
と（Ｎ＝１〜729）、各組み合わせにおける成形品の良
否を記憶している。
そして、各監視項目の範囲を設定し上記共有RAM20に
記憶させておく。すなわち、クッション量の下限値CSL,
上限値CSH、射出時間の下限値ITL,上限値ITH、計量時間
の下限値ETL,上限値ETH、計量位置の下限値EPL,上限値E
PH、ピーク圧の下限値PPL,上限値PPH、Ｖ−Ｐ切換位置
（射出速度制御から保圧制御への切換位置）の下限値VP
L,上限値VPHを夫々設定し記憶させておく。
記憶させておく。すなわち、クッション量の下限値CSL,
上限値CSH、射出時間の下限値ITL,上限値ITH、計量時間
の下限値ETL,上限値ETH、計量位置の下限値EPL,上限値E
PH、ピーク圧の下限値PPL,上限値PPH、Ｖ−Ｐ切換位置
（射出速度制御から保圧制御への切換位置）の下限値VP
L,上限値VPHを夫々設定し記憶させておく。
第１図（ａ），（ｂ）は、本実施例における射出成形
機の制御装置10のPMC用CPU12が実施する各成形サイクル
の処理のフローチャートである。
機の制御装置10のPMC用CPU12が実施する各成形サイクル
の処理のフローチャートである。
型閉じ、射出、保圧、計量、型開きの各処理指令をPM
C用CPU12はNC用CPU11に共有RAM20を介して出力し、NC用
CPU11は各指令に応じて各処理を実行する（ステップS1
〜S5）。これらの処理は従来と同じであり、公知である
のでその説明を省略する。また、この型閉じから型開き
までの１成形サイクル中に、従来と同様にクッション量
CS,射出時間IT,計量時間ET,計量位置EP,ピーク圧PP,V−
Ｐ切換位置VPを計測する。すなわち、クッション量CSは
保圧完了時のスクリュー位置によって検出し、射出時間
ITは射出開始から計時を開始し射出速度制御から保圧へ
の切換位置にスクリューが達した時までの時間をタイマ
ー等で検出し、計量時間ETは計量開始から計量完了まで
の時間をタイマーで計時し、計量位置EPは計量完了時の
スクリュー位置より検出し、ピーク圧PPは射出中射出圧
力を検出し、前回記憶の射出圧力より大きい射出圧力に
なる毎にその射出圧力に書換え記憶し射出終了時におい
て記憶している射出圧力をピーク圧PPとして検出する。
また、Ｖ−Ｐ切換位置VPは射出速度制御から保圧に切換
えられた実際のスクリュー位置を検出することによって
検出する。これら監視項目の動作状態の検出は従来と同
じ方法で行うもので詳細は省略する。なお、例えば、特
願平２−228087号（特開平４−110125号公報）に示す方
法と同一である。
C用CPU12はNC用CPU11に共有RAM20を介して出力し、NC用
CPU11は各指令に応じて各処理を実行する（ステップS1
〜S5）。これらの処理は従来と同じであり、公知である
のでその説明を省略する。また、この型閉じから型開き
までの１成形サイクル中に、従来と同様にクッション量
CS,射出時間IT,計量時間ET,計量位置EP,ピーク圧PP,V−
Ｐ切換位置VPを計測する。すなわち、クッション量CSは
保圧完了時のスクリュー位置によって検出し、射出時間
ITは射出開始から計時を開始し射出速度制御から保圧へ
の切換位置にスクリューが達した時までの時間をタイマ
ー等で検出し、計量時間ETは計量開始から計量完了まで
の時間をタイマーで計時し、計量位置EPは計量完了時の
スクリュー位置より検出し、ピーク圧PPは射出中射出圧
力を検出し、前回記憶の射出圧力より大きい射出圧力に
なる毎にその射出圧力に書換え記憶し射出終了時におい
て記憶している射出圧力をピーク圧PPとして検出する。
また、Ｖ−Ｐ切換位置VPは射出速度制御から保圧に切換
えられた実際のスクリュー位置を検出することによって
検出する。これら監視項目の動作状態の検出は従来と同
じ方法で行うもので詳細は省略する。なお、例えば、特
願平２−228087号（特開平４−110125号公報）に示す方
法と同一である。
こうして、型開きが完了して、１成形サイクルが終了
するとPMC用CPU12はステップS6以下の処理を開始する。
するとPMC用CPU12はステップS6以下の処理を開始する。
まず、上記成形サイクルで検出されたＶ−Ｐ切換位置
VPが設定されたＶ−Ｐ切換位置の下限値VPL以上か否
か、上限値VPH以下か否か判断し、下限値VPLより小さい
ときにはレジスタＮに「486」（＝２×35）を設定し、
検出Ｖ−Ｐ切換位置VPが上限値VPHより大きいときに
は、レジスタＮに「243」（＝35）を設定し、検出Ｖ−
Ｐ切換位置VPが設定範囲内（VPL≦VP≦VPH）のときに
は、レジスタＮに「０」を設定する（ステップS6〜S1
0）。次に、検出ピーク圧PPが設定範囲内か否か判断
し、ピーク圧の設定下限値PPLより小さいときには、レ
ジスタＮに「162」（＝２×34）を加算し、ピーク圧の
設定上限値PPHより大きいときにはレジスタＮに「81」
（＝34）を加算し、上限値と下限値の範囲内であれば
（PPL≦PP≦PPH）、レジスタＮには何等加えずステップ
S15に進む（ステップS11〜S14）。
VPが設定されたＶ−Ｐ切換位置の下限値VPL以上か否
か、上限値VPH以下か否か判断し、下限値VPLより小さい
ときにはレジスタＮに「486」（＝２×35）を設定し、
検出Ｖ−Ｐ切換位置VPが上限値VPHより大きいときに
は、レジスタＮに「243」（＝35）を設定し、検出Ｖ−
Ｐ切換位置VPが設定範囲内（VPL≦VP≦VPH）のときに
は、レジスタＮに「０」を設定する（ステップS6〜S1
0）。次に、検出ピーク圧PPが設定範囲内か否か判断
し、ピーク圧の設定下限値PPLより小さいときには、レ
ジスタＮに「162」（＝２×34）を加算し、ピーク圧の
設定上限値PPHより大きいときにはレジスタＮに「81」
（＝34）を加算し、上限値と下限値の範囲内であれば
（PPL≦PP≦PPH）、レジスタＮには何等加えずステップ
S15に進む（ステップS11〜S14）。
次に検出計量位置EPが設定範囲内か否か判断し、検出
計量位置EPが設定下限値EPLより小さいときにはレジス
タＮに「54」（＝２×33）を加算し、設定上限値EPHよ
り大きいときにはレジスタＮに「27」（＝33）を加算
し、設定範囲内（EPL≦EP≦EPH）ならば、レジスタＮに
何等加算することなくステップS19に進む。
計量位置EPが設定下限値EPLより小さいときにはレジス
タＮに「54」（＝２×33）を加算し、設定上限値EPHよ
り大きいときにはレジスタＮに「27」（＝33）を加算
し、設定範囲内（EPL≦EP≦EPH）ならば、レジスタＮに
何等加算することなくステップS19に進む。
次に検出計量時間ETが設定範囲内か否か判断し、設定
された計量時間の下限値ETLより小さいときにはレジス
タＮに「18」（＝２×32）を加算し、設定上限値ETHよ
り大きいときにはレジスタＮに「９」（＝32）を加算
し、設定範囲内（ETL≦ET≦ERH）のときにはそのままス
テップS23に進む（ステップS19〜S22）。
された計量時間の下限値ETLより小さいときにはレジス
タＮに「18」（＝２×32）を加算し、設定上限値ETHよ
り大きいときにはレジスタＮに「９」（＝32）を加算
し、設定範囲内（ETL≦ET≦ERH）のときにはそのままス
テップS23に進む（ステップS19〜S22）。
同様に、検出射出時間ITが設定された射出時間の下限
値ITLより小さいときにはレジスタＮに「６」（＝２×3
1）を加算し、設定上限値ITHより大きいときにはレジス
タＮに「３」（＝31）を加算する。また、検出クッショ
ン量CSが設定されたクッション量下限値CSLより小さい
ときにはレジスタＮに「２」（＝２×30）、上限値CSH
より大きいときにはレジスタＮに「１」（＝30）を加算
し、検出射出時間IT,検出クッション量CSが設定範囲内
（ITL≦IT≦ITH,CSL≦CS≦CSH）ならば、レジスタＮの
値を変えない（ステップS23〜S30）。そして、最後にレ
ジスタＮに「１」加算して（ステップS31）、該レジス
タＮに記憶する値に対応するナンバーNaを上記テーブル
より読み該ナンバーNaに記憶された判定を読み出し、
「０」ならば成形品は良品、「１」ならば成形品は不良
品として、不良品の時のみ不良品信号を送出し（ステッ
プS32,S33）、当該成形サイクルを終了する。
値ITLより小さいときにはレジスタＮに「６」（＝２×3
1）を加算し、設定上限値ITHより大きいときにはレジス
タＮに「３」（＝31）を加算する。また、検出クッショ
ン量CSが設定されたクッション量下限値CSLより小さい
ときにはレジスタＮに「２」（＝２×30）、上限値CSH
より大きいときにはレジスタＮに「１」（＝30）を加算
し、検出射出時間IT,検出クッション量CSが設定範囲内
（ITL≦IT≦ITH,CSL≦CS≦CSH）ならば、レジスタＮの
値を変えない（ステップS23〜S30）。そして、最後にレ
ジスタＮに「１」加算して（ステップS31）、該レジス
タＮに記憶する値に対応するナンバーNaを上記テーブル
より読み該ナンバーNaに記憶された判定を読み出し、
「０」ならば成形品は良品、「１」ならば成形品は不良
品として、不良品の時のみ不良品信号を送出し（ステッ
プS32,S33）、当該成形サイクルを終了する。
例えば、各監視項目の動作状態を表す検出値がすべて
設定範囲内にあるときには、ステップS8でレジスタＮは
「０」に設定され、ステップS31で「１」加算されるだ
けであるから、レジスタＮの値は「１」となりテーブル
のナンバーNaの「１」の判定に記憶する「０」が読みと
られ、該成形サイクルで成形された成形品は「良」と判
定する。また、射出時間，計量時間，計量位置，ピーク
圧,V−Ｐ切換位置が設定範囲であり、クッション量CSが
設定されたクッション量の上限値CSHより大きいときに
はステップS29で「１」にセットされ、ステップS31で
「１」加算されるから、「２」となり、テーブルのナン
バーNaが「２」の判定が読み出され、「１」すなわち不
良品が読み出されるので不良品信号が送出される。同様
に検出クッション量CSが設定クッシヨン量の下限値CSL
より小さく、他の監視項目は設定範囲ないであれば、レ
ジスタＮにはステップS30で「２」、ステップS31で
「１」が加算されて「３」となるからテーブルのナンバ
ー３に記憶する「１」の判定が読み出され、不良品信号
を送出する。
設定範囲内にあるときには、ステップS8でレジスタＮは
「０」に設定され、ステップS31で「１」加算されるだ
けであるから、レジスタＮの値は「１」となりテーブル
のナンバーNaの「１」の判定に記憶する「０」が読みと
られ、該成形サイクルで成形された成形品は「良」と判
定する。また、射出時間，計量時間，計量位置，ピーク
圧,V−Ｐ切換位置が設定範囲であり、クッション量CSが
設定されたクッション量の上限値CSHより大きいときに
はステップS29で「１」にセットされ、ステップS31で
「１」加算されるから、「２」となり、テーブルのナン
バーNaが「２」の判定が読み出され、「１」すなわち不
良品が読み出されるので不良品信号が送出される。同様
に検出クッション量CSが設定クッシヨン量の下限値CSL
より小さく、他の監視項目は設定範囲ないであれば、レ
ジスタＮにはステップS30で「２」、ステップS31で
「１」が加算されて「３」となるからテーブルのナンバ
ー３に記憶する「１」の判定が読み出され、不良品信号
を送出する。
以下、検出射出時間ITが設定上限値ITHより大きく他
の監視項目は設定範囲内であるときには、レジスタＮの
値は「４」となり、射出時間ITが上限値ITHより大きく
クッション量CSが上限値CSHより大きいく他の監視項目
は設定範囲内であるときにはレジスタＮの値は「５」と
なる。以下同様であり、すべての監視項目において設定
下限値より検出値がそれぞれ小さいときには、ステップ
S10,S14,S18,S22,S26,S30,S31の処理によりレジスタＮ
の値は729（＝486＋162＋54＋18＋６＋２＋１）とな
り、上記ステップS6〜S31の処理によって729通りの組み
合わせが求められ、各監視項目の範囲内か設定値より大
きいか小さいかの組み合わせによって夫々の組み合わせ
における成形品の良か不良かが検出される。
の監視項目は設定範囲内であるときには、レジスタＮの
値は「４」となり、射出時間ITが上限値ITHより大きく
クッション量CSが上限値CSHより大きいく他の監視項目
は設定範囲内であるときにはレジスタＮの値は「５」と
なる。以下同様であり、すべての監視項目において設定
下限値より検出値がそれぞれ小さいときには、ステップ
S10,S14,S18,S22,S26,S30,S31の処理によりレジスタＮ
の値は729（＝486＋162＋54＋18＋６＋２＋１）とな
り、上記ステップS6〜S31の処理によって729通りの組み
合わせが求められ、各監視項目の範囲内か設定値より大
きいか小さいかの組み合わせによって夫々の組み合わせ
における成形品の良か不良かが検出される。
上述した説明からも分かるように、テーブルには、必
ずしも各監視項目の範囲内にあるか範囲より大きいか小
さいかを記憶させておく必要はなく、これら監視項目の
設定範囲内か、範囲より大きいか小さいかの組み合わせ
のナンバーNaをコードとして記憶し、かつこのコードに
対して成形品が良か不良かを記憶すればよい。この場
合、不良品となる組み合わせのコード（ナンバー）のみ
を記憶し、各監視項目の検出値が設定範囲内か範囲より
大きいか小さいかの組み合わせに対するコード（ナンバ
ーNa）を上述した処理で求め、該コードが不良品のコー
ドとして記憶したものにあるか否か判断し、あれば不良
品信号を送出し、なければ良品とすればよい。また、逆
に、良品になるときの組み合わせのコードのみを記憶し
ておき、各監視項目の検出値から夫々の設定範囲内か、
範囲より大きいか小さいかの組み合わせに対するコード
を上述のようにして求め、求められたコードが良品とし
て記憶されたコード内にないときのみ不良品コードを送
出するようにしてもよい。
ずしも各監視項目の範囲内にあるか範囲より大きいか小
さいかを記憶させておく必要はなく、これら監視項目の
設定範囲内か、範囲より大きいか小さいかの組み合わせ
のナンバーNaをコードとして記憶し、かつこのコードに
対して成形品が良か不良かを記憶すればよい。この場
合、不良品となる組み合わせのコード（ナンバー）のみ
を記憶し、各監視項目の検出値が設定範囲内か範囲より
大きいか小さいかの組み合わせに対するコード（ナンバ
ーNa）を上述した処理で求め、該コードが不良品のコー
ドとして記憶したものにあるか否か判断し、あれば不良
品信号を送出し、なければ良品とすればよい。また、逆
に、良品になるときの組み合わせのコードのみを記憶し
ておき、各監視項目の検出値から夫々の設定範囲内か、
範囲より大きいか小さいかの組み合わせに対するコード
を上述のようにして求め、求められたコードが良品とし
て記憶されたコード内にないときのみ不良品コードを送
出するようにしてもよい。
さらに、コード（ナンバーNa）を用いずに、上記テー
ブル、すなわち、各監視項目のそれぞれの設定範囲内か
範囲より大きいか小さいかを記憶しておき、各監視項目
毎に検出値が設定範囲内か範囲より大きいか小さいかを
記憶するレジスタを設け、このレジスタの値の組み合わ
せと一致するテーブルの各監視項目の値の組み合わせを
検索し、検索されたものに対して記憶している成形品良
か不良かの情報を読み出し成形品が良か不良か判断する
ようにしてもよい。この場合、上記第１図に示すフロー
チャートにおいて、ステップS8,S9,S10では、Ｖ−Ｐ切
換位置が設定範囲内であれば、「０」設定範囲より大き
いときには「１」設定範囲より小さいときには「２」
が、Ｖ−Ｐ切換位置用レジスタに格納されることにな
り、同様に他の監視項目においても、夫々の監視項目に
対応して設けられたレジスタに設定範囲内であれば、
「０」設定範囲より大きければ「１」、小さければ
「２」が記憶され、最後に各レジスタの記憶値の組み合
わせと一致する組み合わせを上記テーブルより検索し、
検索された組み合わせに対する成形品良か不良かの情報
により成形品の良か不良かを判別するようにする。ま
た、この場合にも、成形品を不良とする上記レジスタの
値の組み合わせもしくは、成形品を良とする組み合わせ
のみを記憶しておき、各監視項目の検出値より得られた
レジスタの値の組み合わせが、この記憶したものの中に
あるか否かによって成形品の良否を判別するようにして
もよい。
ブル、すなわち、各監視項目のそれぞれの設定範囲内か
範囲より大きいか小さいかを記憶しておき、各監視項目
毎に検出値が設定範囲内か範囲より大きいか小さいかを
記憶するレジスタを設け、このレジスタの値の組み合わ
せと一致するテーブルの各監視項目の値の組み合わせを
検索し、検索されたものに対して記憶している成形品良
か不良かの情報を読み出し成形品が良か不良か判断する
ようにしてもよい。この場合、上記第１図に示すフロー
チャートにおいて、ステップS8,S9,S10では、Ｖ−Ｐ切
換位置が設定範囲内であれば、「０」設定範囲より大き
いときには「１」設定範囲より小さいときには「２」
が、Ｖ−Ｐ切換位置用レジスタに格納されることにな
り、同様に他の監視項目においても、夫々の監視項目に
対応して設けられたレジスタに設定範囲内であれば、
「０」設定範囲より大きければ「１」、小さければ
「２」が記憶され、最後に各レジスタの記憶値の組み合
わせと一致する組み合わせを上記テーブルより検索し、
検索された組み合わせに対する成形品良か不良かの情報
により成形品の良か不良かを判別するようにする。ま
た、この場合にも、成形品を不良とする上記レジスタの
値の組み合わせもしくは、成形品を良とする組み合わせ
のみを記憶しておき、各監視項目の検出値より得られた
レジスタの値の組み合わせが、この記憶したものの中に
あるか否かによって成形品の良否を判別するようにして
もよい。
さらに、上記実施例では各監視項目に対しては設定範
囲をある１つの幅に設定したが、この設定範囲を複数の
ランクに別けて設けてもよい。例えばランク1,ランク2,
ランク３と分けたとき、ランク１の幅＞ランク２の幅＞
ランク３の幅とし、ランク１の上限値＞ランク２の上限
値＞ランク３の上限値、ランク１の下限値＜ランク２の
下限値＜ランク３の下限値とする。
囲をある１つの幅に設定したが、この設定範囲を複数の
ランクに別けて設けてもよい。例えばランク1,ランク2,
ランク３と分けたとき、ランク１の幅＞ランク２の幅＞
ランク３の幅とし、ランク１の上限値＞ランク２の上限
値＞ランク３の上限値、ランク１の下限値＜ランク２の
下限値＜ランク３の下限値とする。
そして、各監視項目の各ランクの範囲内か範囲より大
きいか小さいかの組み合わせに対する成形品の良否の情
報を記憶しておき、各監視項目に対して検出された値が
各ランクの範囲内か範囲より大きいか小さいかを求め、
求められた各監視項目の各ランクの範囲内か、範囲より
大きいか小さいかの組み合わせに対応する成形品良否の
情報より成形品良否判別を行うようにしてもよい。
きいか小さいかの組み合わせに対する成形品の良否の情
報を記憶しておき、各監視項目に対して検出された値が
各ランクの範囲内か範囲より大きいか小さいかを求め、
求められた各監視項目の各ランクの範囲内か、範囲より
大きいか小さいかの組み合わせに対応する成形品良否の
情報より成形品良否判別を行うようにしてもよい。
また、良否判別の監視項目として、サイクルタイム，
最小クッション量，シリンダ温度，ノズル温度，樹脂供
給口の温度，金型温度，プラテン温度，周囲温度，ヒー
ターのON/OFF時間の比，射出開始後所定時間が経過した
ときの圧力とスクリュー位置などを用いてもよい。
最小クッション量，シリンダ温度，ノズル温度，樹脂供
給口の温度，金型温度，プラテン温度，周囲温度，ヒー
ターのON/OFF時間の比，射出開始後所定時間が経過した
ときの圧力とスクリュー位置などを用いてもよい。
発明の効果 本発明においては、成形サイクルで検出された各監視
項目の検出値に対して、夫々設定された範囲内にあるか
否か及び範囲より大きいか小さいかの組み合わせによっ
てその成形サイクルで成形された成形品が良品か不良品
か判別するようにしているので、１つの監視項目におい
て設定範囲内にない場合でも他の監視項目の検出値の状
態で良成形品が成形されていると判断されるような場合
には、成形品良と判別することができるので、良成形品
を不良成形品とすることが少なくなる。また、成形品の
良否判別をきめ細かく判別するので、良品を不良品、ま
た不良品を良品と判別することが少なくなる。
項目の検出値に対して、夫々設定された範囲内にあるか
否か及び範囲より大きいか小さいかの組み合わせによっ
てその成形サイクルで成形された成形品が良品か不良品
か判別するようにしているので、１つの監視項目におい
て設定範囲内にない場合でも他の監視項目の検出値の状
態で良成形品が成形されていると判断されるような場合
には、成形品良と判別することができるので、良成形品
を不良成形品とすることが少なくなる。また、成形品の
良否判別をきめ細かく判別するので、良品を不良品、ま
た不良品を良品と判別することが少なくなる。
第１図（ａ），（ｂ）は、本発明の一実施例の動作処理
フローチャート、第２図は、同実施例を実施する射出成
形機の制御装置の要部ブロック図、第３図は、同実施例
における成形品の良否を判別するためのテーブルの説明
図である。 10……数値制御装置（NC装置）、 CSL……クッション量の下限値、CSH……クッション量の
上限値、ITL……射出時間の下限値、 ITH……射出時間の上限値、ETL……計量時間の下限値、
ETH……計量時間の上限値、EPL……計量位置の下限値、
EPH……計量位置の上限値、 PPL……ピーク圧の下限値、PPH……ピーク圧の上限値、
VPL……Ｖ−Ｐ切換位置の下限値、 VPH……Ｖ−Ｐ切換位置の上限値、CS……検出クッショ
ン良の値、IT……検出射出時間の値、 ET……検出計量時間の値、EP……検出計量位置の値、PP
……検出ピーク圧の値、VP……検出Ｖ−Ｐ切換位置の値
である。
フローチャート、第２図は、同実施例を実施する射出成
形機の制御装置の要部ブロック図、第３図は、同実施例
における成形品の良否を判別するためのテーブルの説明
図である。 10……数値制御装置（NC装置）、 CSL……クッション量の下限値、CSH……クッション量の
上限値、ITL……射出時間の下限値、 ITH……射出時間の上限値、ETL……計量時間の下限値、
ETH……計量時間の上限値、EPL……計量位置の下限値、
EPH……計量位置の上限値、 PPL……ピーク圧の下限値、PPH……ピーク圧の上限値、
VPL……Ｖ−Ｐ切換位置の下限値、 VPH……Ｖ−Ｐ切換位置の上限値、CS……検出クッショ
ン良の値、IT……検出射出時間の値、 ET……検出計量時間の値、EP……検出計量位置の値、PP
……検出ピーク圧の値、VP……検出Ｖ−Ｐ切換位置の値
である。
フロントページの続き (72)発明者 根子 哲明 山梨県南都留郡忍野村忍草字古馬場3580 番地 ファナック株式会社商品開発研究 所内 (56)参考文献 特開 平２−106315（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−209917（ＪＰ，Ａ)
Claims (4)
- 【請求項１】成形品を成形する１成形サイクル中の各種
動作状態を成形品の良否を判別する監視項目として検出
し、１成形サイクル終了後射出成形機の制御装置が自動
的に該監視項目の検出値が夫々設定された範囲内にある
か否か判断して、各成形品の良否を判別する成形品判別
方法において、１成形サイクル終了後に該サイクル中に
検出された各監視項目の検出値が設定範囲内にあるか、
該範囲より大きいか、または該範囲より小さいかを判定
して、各監視項目毎に判定結果を得て、該判定結果の全
監視項目についての組み合わせと、予め記憶した全監視
項目についての判定結果の組み合わせに対応する成形品
の良否とによって、成形品の良否を判断し、該判断結果
に基づいて成形品良もしくは不良の信号を送出するよう
にした成形品良否判別方法。 - 【請求項２】成形品を成形する１成形サイクル中の各種
動作状態を成形品の良否を判別する監視項目として検出
し、１成形サイクル終了後射出成形機の制御装置が自動
的に該監視項目の検出値が夫々設定された範囲内にある
か否か判断して、各成形品の良否を判別する成形品判別
方法において、各監視項目に対して設定する範囲を複数
ランクに分けて設定し、１成形サイクル終了後に該サイ
クル中に検出された各監視項目の検出値がどのランクに
属するか判定し、各監視項目毎に判定結果を得て、該判
定結果の全監視項目についての組み合わせと、予め記憶
した全監視項目についての判定結果の組み合わせに対応
する成形品の良否とによって、成形品の良否を判断し、
該判断結果に基づいて成形品良もしくは不良の信号を送
出するようにした成形品良否判別方法。 - 【請求項３】成形品を成形する１サイクル中の各種動作
状態を成形品の良否を判別する監視項目として検出し、
１サイクル終了後自動的に該監視項目の検出値が夫々設
定された範囲内にあるか否か判断して、各成形品の良否
を判別する成形品判別装置において、成形サイクル中に
検出された各監視項目の検出値が設定範囲内にあるか、
該範囲より大きいか、または該範囲より小さいかを判定
する判定手段と、全監視項目の判定結果の組み合わせに
対応して成形品の良否を記憶した記憶手段と、各成形サ
イクル終了後に、上記判定手段で判定された全監視項目
の判定結果の組み合わせに対応する成形品の良否を上記
記憶手段より読みだし、成形品の良否を判断し成形品良
もしくは不良の信号を送出する成形品判断手段とを備え
た成形品良否判別装置。 - 【請求項４】成形品を成形する１サイクル中の各種動作
状態を成形品の良否を判別する監視項目として検出し、
１サイクル終了後自動的に該監視項目の検出値が夫々設
定された範囲内にあるか否か判断して、各成形品の良否
を判別する成形品判別装置において、各監視項目に対し
て設定する範囲を複数ランクに分けて設定し、成形サイ
クル中に検出された各監視項目の検出値がどのランクに
属するか判定する判定手段と、全監視項目の判定結果の
組み合わせに対応して成形品の良否を記憶した記憶手段
と、各成形サイクル終了後に、上記判定手段で判定され
た全監視項目の判定結果の組み合わせに対応する成形品
の良否を上記記憶手段より読みだし、成形品の良否を判
断し成形品良もしくは不良の信号を送出する成形品判断
手段とを備えた成形品良否判別装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25523990A JP2681845B2 (ja) | 1990-09-27 | 1990-09-27 | 成形品良否判別方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25523990A JP2681845B2 (ja) | 1990-09-27 | 1990-09-27 | 成形品良否判別方法及び装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04135727A JPH04135727A (ja) | 1992-05-11 |
| JP2681845B2 true JP2681845B2 (ja) | 1997-11-26 |
Family
ID=17275970
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25523990A Expired - Fee Related JP2681845B2 (ja) | 1990-09-27 | 1990-09-27 | 成形品良否判別方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2681845B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5301935B2 (ja) * | 2008-09-25 | 2013-09-25 | ファナック株式会社 | 射出成形機の良否判別装置 |
-
1990
- 1990-09-27 JP JP25523990A patent/JP2681845B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04135727A (ja) | 1992-05-11 |
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